KR102658557B1 - 라이다 시스템 및 작동 방법. - Google Patents

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Abstract

라이다 시스템은 광학 에미터, 광학 검출기, 비임 디렉터, 및/또는 프로세싱 모듈 중 하나 또는 그 이상을 바람직하게 포함한다. 라이다 시스템의 작동 방법은 신호를 결정하는 단계, 신호를 출력하는 단계, 리턴 신호를 수신하는 단계, 및/또는 리턴 신호를 분석하는 단계를 바람직하게 포함한다.

Description

라이다 시스템 및 작동 방법.
본 출원은 2018년 10월 24일에 제출된 미국 가특허출원 제62/749,795호 및 2018년 10월 24일에 제출된 미국 가특허출원 제62/750,058호의 이익을 주장하며, 그 각각은 그 전체가 여기에 참조 인용되었다.
본 발명은 일반적으로 물체 검출 및/또는 영상화(imaging) 분야에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 물체 검출 및/또는 영상화 분야에서 신규하고 유용한 라이다(lidar) 시스템 및 작동 방법에 관한 것이다.
전형적인 라이다 시스템 및 사용 방법은 고정된 범위, 해상도, 및/또는 정확도를 갖는다. 또한, 이들 메트릭스에 대한 그 성능은, 전형적으로 다음 광 펄스를 방출하기 전에 각각의 광 펄스가 복귀할 때까지 기다릴 필요가 있기 때문에, 상당히 제한되어 있다. 따라서 물체 검출 분야에서는 신규하고 유용한 라이다 시스템 및 작동 방법을 생성할 필요가 있다.
도 1a-1b는 방법의 실시예 및 상기 실시예의 예의 각각의 흐름도이다.
도 2a는 시스템의 실시예의 개략도이다.
도 2b는 사용 중인 시스템의 실시예의 개략도이다.
도 3a-3b는 신호를 결정하는 예의 개략도이다.
도 4a-4b는 리턴 신호(return signal)를 분석하는 예의 개략도이다.
도 5는 리턴 신호를 분석하는 특정 예의 개략도이다.
본 발명의 바람직한 실시예의 이하의 설명은 본 발명을 이들 바람직한 실시예로 제한하려는 것이 아니라, 오히려 본 기술분야의 숙련자가 본 발명을 제작하고 사용할 수 있도록 하기 위한 것이다.
1. 개요.
라이다 시스템 작동 방법(100)은 신호를 결정하는 단계(S110); 신호를 출력하는 단계(S120); 리턴 신호를 수신하는 단계(S130); 및/또는 상기 리턴 신호(S140)를 분석하는 단계를 바람직하게 포함한다(예를 들어, 도 1a-1b에 도시된 바와 같이). 그러나 상기 방법(100)은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 적절한 방식으로 수행되는 임의의 다른 적절한 요소를 포함할 수 있다. 상기 방법(100)은 라이다 시스템(200)을 사용하여 바람직하게 수행되지만, 그러나 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 시스템(들)을 사용하여 수행될 수 있다.
2. 시스템.
상기 라이다 시스템(200)은 광학 에미터(optical emitter)(210); 광학 검출기(220); 비임 디렉터(beam director)(230); 및/또는 프로세싱 모듈(240)(예를 들어, 도 2a에 도시된 바와 같이) 중 하나 또는 둘 이상을 바람직하게 포함한다. 그러나 상기 시스템(200)은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 요소를 임의의 적절한 배열로 포함할 수 있다.
상기 광학 에미터(들)(210)는 하나 또는 그 이상의 광학 신호를 방출하도록 바람직하게 기능한다(예를 들어, 작동할 수 있다). 상기 광학 신호는 비임과 유사한 것(예를 들어, 레이저 비임)이 바람직하지만, 그러나 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 광학 특성을 가질 수 있다.
상기 광학 에미터는 하나 또는 그 이상의 레이저(예를 들어, 다이오드 레이저)를 바람직하게 포함한다. 상기 레이저는, 예를 들어 엣지-방출(edge-emitting) 레이저, 표면-방출 레이저(예를 들어, VCSEL), 섬유 결합 레이저, 및/또는 임의의 다른 적절한 타입의 레이저를 포함할 수 있다. 상기 레이저는 연속파 레이저[예를 들어, 실질적으로 연속파 방사선을 방출하도록 작동 가능하고 및/또는 연속파를 방출하도록 구성되는]가 바람직하지만, 그러나 추가적으로 또는 대안적으로, 펄스형 레이저(예를 들어, 방사선 펄스를 방출하도록 작동 가능하고 및/또는 방사선 펄스를 방출하도록 구성되는) 및/또는 임의의 다른 적절한 레이저를 포함할 수 있다. 제1 특정 예에 있어서, 하나 또는 그 이상의 레이저는 실질적으로 900 nm(예를 들어, 890-910 nm, 875-925 nm, 등)의 파장을 갖는 광을 방출한다. 제2 특정 예에 있어서, 하나 또는 그 이상의 레이저는 실질적으로 1550 nm(예를 들어, 1540-1560 nm, 1525-1575 nm, 등)의 파장을 갖는 광을 방출한다. 제3 특정 예에 있어서, 하나 또는 그 이상의 레이저는 실질적으로 835 nm(예를 들어, 820-850 nm, 800-870 nm, 등)의 파장을 갖는 광을 방출한다. 레이저에 의해 방출되는 광도(light intensity)는 규제 표준(예를 들어, 레이저가 IEC-60825, IEC-62471, 등을 준수할 수 있음)에 규정된 한계보다 더 낮거나 또는 이와 동일한 것이 바람직하지만, 그러나 대안적으로 이 보다 더 높을 수 있다. 신호 전력(signal power)은 규제 한계 내에 있을 수 있고(예를 들어, 5 W, 2 W, 1 W, 500 mW, 200 mW, 100 mW, 50 mW, 20 mW, 10 mW, 5 mW, 2 mW, 1 mW, 0.5 mW, 0.2 mW, 또는 0.1 mW, 등), 바람직하게는 1 mW 미만이지만, 그러나 대안적으로 이보다 더 높거나 또는 더 낮을 수 있다. 그러나 레이저는, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 레이저를 포함할 수 있다.
각각의 광학 에미터(210)는 하나 또는 그 이상의 변조기를 바람직하게 포함한다. 각각의 변조기는 에미터에 의해 방출되는 광의 하나 또는 그 이상의 양태(예를 들어, 위상, 강도, 파장, 등)를 변조하도록 바람직하게 작동 가능하다. 그러나 상기 시스템(200)은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 광학 에미터를 포함할 수 있다.
광학 검출기(들)(220)는 광학 검출(예를 들어, 검출된 광학 신호를 나타내는)에 응답하여 전기 신호(예를 들어, 전류, 전압, 등)를 생성하도록 바람직하게 기능하지만(예를 들어, 작동 가능하지만), 그러나 광학 신호 검출에 응답하여 추가적으로 또는 대안적으로 임의의 다른 적절한 신호(예를 들어, 상기 검출된 광학 신호를 나타내는)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 상기 광학 검출기는 하나 또는 그 이상의 포토다이오드(예를 들어, 애벌랜치 포토다이오드)를 포함할 수 있다. 상기 광학 검출기(들)(220)는 변조기에 상보적인 복조기와 같은 하나 또는 그 이상의 복조기(예를 들어, 연산 가능하게-구현된 복조기와 같은 디지털 복조기; 아날로그 복조기 회로; 등)를 선택적으로 포함할 수 있다(및/또는 이에 의해 보완될 수 있다)(예를 들어, 인코딩된 신호를 본래의 시컨스로 다시 변환하도록 구성될 수 있다). 그러나 상기 시스템(200)은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 광학 검출기를 포함할 수 있다.
상기 비임 디렉터(들)(230)는 시스템(200)의 양태와 외부 환경 사이에서 광학 신호(들)를 지향시키도록 바람직하게 기능한다. 예를 들어, 비임 디렉터(230)는 광학 에미터(210)로부터 방출된 광학 신호(예를 들어, 비임)를 외부 위치(30)(외부 환경 내)로 지향시킬 수 있으며, 여기서 상기 광학 신호는 외부 위치(30)(및/또는 다른 외부 위치)를 반사시킨다. 광학 신호는 반사된 신호를 광학 검출기(220)로 지향시키는 비임 디렉터(230)로 다시 바람직하게 반사된다. 그러나 광학 신호는, 추가적으로 또는 대안적으로, 또 다른 비임 디렉터(230)로[예를 들어, 신호를 광학 검출기(220)로 지향시키는], 광학 검출기(220)로, 및/또는 시스템(200)의 임의의 다른 적절한 요소(들)로 반사될 수 있다. 각각의 비임 디렉터(230)는 하나 또는 그 이상의 방출된 신호 및 하나 또는 그 이상의 반사된 신호를 지향시킬 수 있으며, 또한 상기 신호를 하나 또는 그 이상의 광학 에미터, 외부 위치(30), 및/또는 광학 검출기(220)사이로 지향시킬 수 있다(예를 들어, 도 2b에 도시된 바와 같이). 일 예에 있어서, 상기 비임 디렉터(230)는 하나 또는 그 이상의 미러(mirror), 바람직하게는 회전하는(예를 들어, 연속적으로 회전하는) 미러 및/또는 MEMS-기반 미러(예를 들어, 제어 입력에 응답하여 이동하도록 구성되는)와 같은 바람직하게 이동하는 및/또는 이동 가능한 미러를 포함하며, 이는 시간이 지남에 따라 광학 신호를 많은 외부 위치(30)로 지향시킬 수 있다(예를 들어, 미러가 회전할 때 위치에 대해 비임을 스캐닝한다). 그러나 상기 시스템(200)은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 비임 디렉터를 포함할 수 있으며, 또는 비임 디렉터를 포함하지 않을 수 있다.
프로세싱 모듈(들)(240)은 광학 에미터(210)(예를 들어, 광학 방출 및/또는 변조를 제어하는) 및/또는 비임 디렉터(230)(예를 들어, 비임의 방향을 제어하는)와 같은 시스템(200)의 다른 요소를 제어하도록; 광학 검출기(220)(예를 들어, 광 검출과 관련된 신호를 수신하는)와 같은 시스템(200)의 다른 요소로부터 데이터를 수신하도록; 및/또는 외부 환경[예를 들어, 외부 위치(30)의 위치]에 관한 정보를 결정하기 위해 상기 수신된 데이터를 프로세싱하도록(예를 들어, 해석하도록) 바람직하게 기능한다. 상기 프로세싱 모듈(240)은 광학 에미터(210), 광학 검출기(220), 비임 디렉터(230), 및/또는 시스템의 임의의 다른 적절한 요소에 통신 가능하게(예를 들어, 전자적으로) 바람직하게 결합된다. 프로세싱 모듈(240)은 하나 또는 그 이상의 프로세서(예를 들어, CPU, GPU, 마이크로프로세서, FPGA, ASIC, 등) 및/또는 저장 유닛(예를 들어, 플래시, RAM, 등)을 바람직하게 포함하지만, 그러나 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 요소를 포함할 수 있다. 일부 변형예에 있어서, 상기 프로세싱 모듈(240)(및/또는 보조 프로세싱 모듈)은, 라이다 시스템의 다른 요소로부터 물리적으로 분리될 수 있다(예를 들어, 라이다 시스템은 상기 프로세싱 모듈과 통신하도록 구성된, 무선 통신 모듈과 같은 통신 모듈을 포함한다). 예를 들어, 프로세싱 모듈(240)은 원격 컴퓨팅 시스템(예를 들어, 인터넷에 연결된 서버)일 수 있으며, 라이다 시스템이 상기 원격 컴퓨팅 시스템과 통신할 수 있다(예를 들어, 방법의 일부 또는 전부의 연산은 원격 컴퓨팅 시스템에 의해 수행된다). 그러나 상기 시스템(200)은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 프로세싱 모듈을 포함할 수 있다.
3. 방법.
3.1 신호 결정 단계.
신호 결정 단계(S110)는 라이다 시스템이 출력하는 신호를 결정하도록 바람직하게 기능하며, 이는 물체 검출 성능의 다양한 양태를 제어하도록 기능할 수 있다. 신호 결정 단계(S110)는 시컨스 길이를 결정하는 단계(S111), 시컨스를 결정하는 단계(S112), 및/또는 시컨스를 인코팅하는 단계(S113)를 포함하며(예를 들어, 도 3a에 도시된 바와 같이)를 바람직하게 포함하며, 추가적으로 또는 대안적으로 임의의 다른 적절한 요소를 포함할 수 있다.
시컨스 길이를 결정하는 단계(S111)는, 다양한 시스템 성능 메트릭스 사이의 트레이드오프(tradeoff)를 제어하도록 바람직하게 기능한다(예를 들어, 이하에 보다 상세히 기재되는 바와 같이). 시컨스 길이는 비트-길이가 바람직하지만(예를 들어, 여기서 시컨스는 2진 시컨스이다), 그러나 추가적으로 또는 대안적으로, 시컨스 크기와 관련된 임의의 다른 적절한 메트릭스일 수 있다. 동일한 시컨스 길이는, 동시에-방출되는 시컨스(예를 들어, 시스템의 상이한 광학 에미터에 의한 각각의 출력과 같이, 다수의 시컨스가 실질적으로 동시에 출력되며; 도 3b에 도시된 예) 및/또는 직렬 시컨스(예를 들어, 시스템의 단일 광학 에미터에 의해 방출되는 다중 시컨스의 시계열)와 같은, 다중 시컨스에 바람직하게 사용된다. 대안적으로, 단일의 연속적인 신호 및/또는 다중의 동시-방출 신호에 대해서는 상이한 시컨스 길이가 사용될 수 있다.
시컨스 길이는 하나 또는 그 이상의 원하는 성능 메트릭스에 기초하여 바람직하게 결정된다(예를 들어, 제1 메트릭스 세트에 대해 적어도 최소 성능 레벨을 달성하기 위해, 제2 메트릭스 세트에 따른 성능을 최대화하기 위해, 등). 시컨스 길이는 지리적 위치, 시스템 운동학(예를 들어, 속도, 가속도), 주어진 물리적 범위 내에서 검출된 물체의 존재, 성능 메트릭 값과 같은 작동 상황, 및/또는 기타 상황 변수에 기초하여 자동으로 결정될 수 있으며(예를 들어, 선택될 수 있고, 계산될 수 있다, 등); 표적 성능 메트릭 값 세트(예를 들어, 사용자로부터 수신되어, 작동 상황에 따라 결정되는)에 기초하여 자동으로 결정될 수 있으며; 수동으로 결정될 수 있으며; 및/또는 달리 결정될 수 있다. 예를 들어, 상기 방법은 하나 또는 그 이상의 성능 메트릭스에 대한 표적 값을 수신하는 단계, 및 상기 수신된 성능 메트릭스 표적 값과 관련된 시컨스 길이를 선택하는 단계를 포함할 수 있다(예를 들어, 시컨스 길이-성능 메트릭 값 표 또는 다른 데이터 구조로부터). 상기 성능 메트릭스 값과 시컨스 길이 사이의 연관성은 미리 결정될 수 있고(예를 들어, 계산될 수 있고, 테스트될 수 있고), 반복적으로 결정될 수 있으며, 및/또는 달리 결정될 수 있다. 또 다른 예에 있어서, 상기 방법은 성능 메트릭스가 성능 메트릭스 표적 값 세트를 만족할 때까지, 시컨스 길이를 조정하는 단계를 포함할 수 있다. 그러나 시컨스 길이는 달리 결정될 수 있다.
상기 성능 메트릭스는 정확도, 범위, 해상도, 레이턴시(latency), 전력 소비, 및/또는 임의의 다른 적절한 메트릭스를 포함할 수 있다.
정확도는 검출 실패 확률[예를 들어, 부록에 보다 상세히 기재된 "완전한 미스(complete miss)"], 검출된 거리 정확도[예를 들어, "크레이머-라오 하한(Cramer-Rao lower bound)" 또는 "CRLB"], 및/또는 임의의 다른 적절한 정확도 메트릭스를 포함할 수 있다. 정확도는 전형적으로 더 긴 시컨스로 향상된다. 일부 예에 있어서, 시컨스 길이는 CRLB 가 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 15, 20, 30, 50, 100, 0.01-0.1, 0.1-1, 1-3, 3-7, 7-20, 20-100, 또는 100-1000 cm와 같은 임계 거리 불확실성보다 작거나, 크지 않거나, 및/또는 실질적으로 동일하도록 선택된다. 특정 예에 있어서, 상기 임계 거리 불확실성은 5 cm이다(예를 들어, 시컨스 길이는 5 cm 보다 작거나 또는 이와 동일한 CRLB 를 달성하도록 선택된다).
범위는 바람직하게는, 방법(200)을 구현할 동안, 물체가 신뢰성 있게 검출될 수 있는 최대 거리이다[예를 들어, 출력 신호의 주기성(periodicity)으로부터 발생되는 바와 같은 에일리어싱(aliasing) 및/또는 범위 모호성(ambiguity)이라는 가능성 없이; 0.1%, 0.2%, 0.5%, 1%, 2%, 5%, 또는 10% 미만 완료 실패 확률, 바람직하게는 1% 완료 실패 확률 미만과 같은 임계값 미만의 실패 확률을 유지할 동안; 방을 신뢰성 있게 수행할 수 있을 정도로 충분히 강한 리턴 신호를 수신할 동안; 등]. 신호 주기가 전형적으로 시컨스 길이에 따라 증가하기 때문에(예를 들어, 고정된 심볼 속도에 대해서는 선형적으로 증가한다), 범위는 전형적으로 더 긴 시컨스로 증가한다[예를 들어, 잠재적인 주기적 범위 모호성을 피하기 위해, 상기 범위는 최대-범위 물체를 반사하는 신호의 왕복(round-trip) 전파 시간에 대응하는, 신호의 하나의 주기 동안 신호가 전파되는 거리의 절반 이하이다]. 추가적으로 또는 대안적으로, 유효 범위는 시스템에 의해 수신된 리턴 신호의 강도에 의해 제한될 수 있다(예를 들어, 환경에서 보다 멀리 있는 물체로부터 반사된 리턴 신호는, 더 가까운 물체로부터 반사된 것보다 더 약할 수 있다). 증가된 시컨스 길이는 정합된 필터의 식별력을 증가시킬 수 있고 및/또는 검출 통합 시간을 증가시킬 수 있으며, 이는 환경에서 보다 멀리 있는 물체(및/또는 기타 약하게-돌아오는 물체)를 보다 안정적으로 검출할 수 있게 한다. 일부 예에 있어서, 상기 시컨스 길이(및/또는 심볼 속도와 같은 다른 신호 파라미터)는, 범위(예를 들어, 모호성-제한 범위, 리턴 신호 강도-제한 범위, 등)가 50, 100, 150, 200, 250, 275, 300, 325, 350, 400, 450, 500, 600, 10-50, 50-150, 150-450, 또는 450-1000 m 과 같은 임계 거리보다 더 크거나, 이보다 작지 않거나, 및/또는 실질적으로 이와 동일하도록 선택된다. 제1 특정 예에 있어서, 상기 임계 거리는 300 m이다. 제2 특정 예에 있어서, 상기 임계 거리는 200 m이고, 리턴 신호 강도에 의해 제한되며, 이는 1-5 km(예를 들어, 약 2km)의 모호성-제한 범위를 가능하게 하는 시컨스 길이에 대응할 수 있다.
레이턴시는 바람직하게는 스위프당 시간의 양[예를 들어, 프로브된(probed) 모든 외부 위치에서의 비임 출력에 대응하는 바와 같은, 특별한 비임 배향에서 연속적인 신호 출력들 사이의 시간]이다. 레이턴시는 전형적으로 시컨스가 길수록 더 나빠진다(더 커진다). 예를 들어, 해상도가 고정된 경우, 증가된 신호 주기(예를 들어, 고정된 심볼 속도에 대해서는 시컨스 길이에 따라 선형적으로 증가한다)는, 각각의 비임 배향에서의 드웰 시간(dwell time)에 대응하며, 따라서 레이턴시의 증가에 대응한다.
해상도는 바람직하게는 인접한 비임 방향들 사이의 각도 간격이다(예를 들어, 광학 에미터로부터 2개의 인접한 외부 위치들 각각으로의 벡터들 사이에 정의된 각도이다). 시컨스가 길어지면, 전형적으로 해상도가 더 나빠진다(예를 들어, 포인트들 사이의 간격이 더 커진다). 예를 들어 고정된 레이턴시의 경우, 증가된 신호 주기는 스위프당 더 적은 비임 배향에 대응한다(예를 들어, 스위프당 시간이 적어도 스위프당 비임 배향 수와 신호 주기의 곱(product)과 동일해야만 하기 때문에).
일부 실시예에 있어서, 시컨스 길이는 10-10,000 비트(예를 들어, 100 내지 5000 비트) 범위에 있도록 선택된다. 그러나 S111 은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 적절한 방식으로 임의의 다른 적절한 시컨스 길이(들)를 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
시컨스를 결정하는 단계(S112)는 시컨스 길이에 기초하여 하나 또는 그 이상의 고유 시컨스를 결정하도록 바람직하게 기능한다(예를 들어, 각각의 시컨스는 S111 에서 결정된 길이를 갖는다). 각각의 시컨스는 2진 시컨스와 같은 디지털 시컨스가 바람직하지만, 그러나 상기 시컨스는 추가적으로 또는 대안적으로 임의의 다른 적절한 시컨스를 포함할 수 있다.
상기 시컨스는 고도의 직교성(orthogonality)(예를 들어, 상이한 시컨스들 사이의 직교성, 상이한 시컨스에 대응하는 인코딩된 신호들 사이의 직교성, 환경 노이즈에 대한 직교성, 등)을 달성하도록 바람직하게 결정된다. 따라서 상기 시컨스는 이하에 기재되는 기준들(및/또는 기준들의 서브세트)을 충족하도록 바람직하게 결정된다.
첫 번째로, 각각의 시컨스(및/또는 대응하는 인코딩된 신호, 바람직하게는 주기적으로 반복되는 신호)는, 제로 시간 지연에서(그리고 대응하는 인코딩된 신호에 대해, 바람직하게는 상기 인코딩된 신호 주기의 정수 배수와 동일한 지연에서) 그리고 제로 시간 지연으로부터 낮은[예를 들어, 실질적으로 0; 제로 시간 지연 자기-상관(auto-correlation)에 대한 바와 같은 임계량 미만; 등] 자기-상관에서 높은 자기-상관을 바람직하게 갖는다(예를 들어, 임계 시간 지연 이상으로; 대응의 인코딩된 신호에 대해, 바람직하게는 인코딩된 신호 주기의 정수배의 임계 시간 내와 같은, 동일하거나 및/또는 이에 가까운 시간 지연을 배제한다).
두 번째로, 각각의 시컨스(및/또는 대응하는 인코딩된 신호, 바람직하게는 주기적으로 반복되는 신호)는, 시스템의 환경에 존재하는 다른 신호와의 낮은(예를 들어, 실질적으로 0; 임계량 미만, 바람직하게는 제로 시간 지연 자기-상관 및/또는 기준값의 0.1%, 0.2%, 0.5%, 1%, 2%, 5%, 10%, 20%, 30%, 또는 50% 미만과 같은 임의의 다른 적절한 기준값에 대해, 등) 상관 관계(cross-correlation)(예를 들어, 검출기에 의해 검출될 수 있는 신호; 다른 그러한 시컨스에 대응하는 신호와 같은, 상기 시스템에 의해 출력되는 다른 신호; 정상 상태 광원으로부터의 일정한 및/또는 실질적으로 일정한 신호, 등)를 바람직하게 갖는다. 이런 낮은 상관 관계는 코드 분할 다중 액세스(CDMA) 기술(예를 들어, 비동기식 CDMA) 및/또는 다른 기술에 의해 검출된 신호들(예를 들어, 외부 위치에서 출력 신호의 이어지는 반사) 사이의 구별을 가능하게 할 수 있다.
일부 실시예에 있어서, S112 는 동일한 시컨스 길이(예를 들어, S111 에서 결정된 단일의 시컨스 길이)를 바람직하게 각각 갖는, 다중 시컨스(예를 들어, 시스템의, 상이한 시스템의 상이한 에미터와 같이, 상이한 에미터와 각각 연관되는)를 결정하는 단계를 포함한다. 이러한 실시예에 있어서, 시컨스는 상기 기준들을 모두 만족시키도록 바람직하게 결정된다. 제1 예에 있어서, 시컨스는 골드 코드 세트(a set of Gold code) 및/또는 높은 직교성을 갖는 다른 소정의 시컨스로부터 선택된다. 특정 예에 있어서, 상기 시컨스는 주어진 시컨스 길이(예를 들어, 주어진 시컨스 길이를 갖는 직교 시컨스 또는 골드 코드)에 대해 미리 소정의 시컨스 세트로부터 선택되며, 여기서 상기 시컨스 길이는 표적 성능 메트릭스에 기초하여 결정될 수 있다. 이런 예에 있어서, 시스템은 다수의 시컨스 길이 각각에 대해 직교 시컨스 세트의 데이터 베이스를 유지할 수 있다. 상기 데이터 베이스는 각각의 직교 시컨스 세트(예를 들어, 각각의 시컨스 및/또는 대응하는 인코딩된 신호의 퓨리에 변환 및/또는 이산 퓨리에 변환)에 대한 정합 필터 세트를 선택적으로 포함할 수 있다. 제2 예에 있어서, 상기 시컨스는 최대 길이 시컨스와 같은, 의사 랜덤 시컨스(예를 들어, 의사 랜덤 2진 시컨스)이다. 제3 예에 있어서, 상기 시컨스는 하나 또는 그 이상의 기준에 기초하여[바람직하게는, 모든 기준과 관련된 비용 함수(cost function)에 기초하여] 하나 또는 그 이상의 최적화 기술[예를 들어, 시뮬레이션된 어닐링(annealing)과 같은 확률적 최적화 기술]을 사용하여 결정된다. 상기 제3 예의 특정 예에 있어서, 최적화 기술의 반복은 모든 시컨스(및/또는 대응의 인코딩된 신호)가 최소 임계 직교도(degree of orthogonality)를 달성할 때까지 적용된다. 그러나 상기 시컨스는, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 방식으로 결정될 수 있다.
시컨스를 인코딩하는 단계(S113)는, 시컨스에 기초하여 인코딩된 신호를 생성하도록 바람직하게 기능한다(예를 들어, S112 에서 결정된 각각의 시컨스에 대해, 대응하는 인코딩된 신호의 생성). 생성된 신호는 인코딩된 시컨스를 반복하는 주기적인 것이 바람직하며, 보다 바람직하게는 시컨스 반복들 사이에 시간적 갭이 없는(또는 실질적으로 없는) 것이다(예를 들어, 인코딩된 시컨스는 이전의 반복이 끝나자마자 다시 시작된다).
상기 시컨스는 변조 방법(또는 다중 방법), 바람직하게는 디지털 변조 방법을 사용하여 (예를 들어, 정현파와 같은 반송파 신호로) 인코딩될 수 있다. 상기 변조 방법은 위상-시프트 키잉(phase-shift keying)(예를 들어, BPSK, QPSK, 8-PSK, 고차 PSK, 등)이 바람직하지만, 그러나 추가적으로 또는 대안적으로, QAM(quadrature amplitude modulation), FSK(frequency-shift keying), 진폭-시프트 키잉(amplitude-shift keying)(ASK) 및/또는 임의의 다른 적절한 변조 방법을 포함할 수 있다. 대안적으로, 반송파 신호 및/또는 변조 방법이 사용될 수 없다(예를 들어, 0 비트를 낮거나 또는 실질적으로 0 인 강도로 매핑하고 그리고 1 비트를 높은 강도로 매핑하는 바와 같이, 비트 및/또는 심볼을 출력 강도로 직접적으로 매핑; 등).
시컨스를 인코딩하는 단계(S113)는, 인코딩 주파수(예를 들어, 심볼 속도)를 결정하는 단계를 선택적으로 포함할 수 있다. 예를 들어, 인코딩 주파수를 감소시키는 단계는 상기 방법의 요소와 관련된 연산 부하를 감소시킬 수 있고(예를 들어, S140 및/또는 S150), 이에 의해 전력 소비를 감소시키고 및/또는 성능이 떨어지는 프로세싱 모듈의 사용을 가능하게 할 수 있다(예를 들어, 또는 다중의 상이한 프로세싱 모듈을 포함하고 또는 포함할 수 있고; 인코딩 주파수의 영구적 감소에 대응하여 덜 비싸거나 및/또는 복잡한 하드웨어를 사용할 수 있게 한다). 그러나 인코딩 주파수를 감소시키는 단계는 다른 성능 메트릭스에도 영향을 끼칠 수 있다. 예를 들어, 고정된 시컨스 길이가 주어졌다면, 감소된 인코딩 주파수는 전형적으로 더 나쁜 CRLB, 해상도, 및/또는 레이턴시로 나타날 것이다(그러나 각각의 비임 배향에서 드웰 시간의 증가로 인해, 증가된 범위로 나타날 수도 있다). S113 에서 수행되는 모든 시컨스 인코딩에 동일한 인코딩 주파수가 바람직하게 사용되지만, 그러나 대안적으로 상이한 인코딩 주파수를 사용하여 상이한 시컨스가 인코딩될 수 있다. 제1 예에 있어서, 인코딩 주파수를 결정하는 단계는 고성능 주파수(예를 들어, 50, 75, 100, 125, 150, 200, 500, 1000, 50-200, 200-1000, 또는 1000-5000 MHz) 또는 저전력 주파수(예를 들어, 5, 10, 20, 50, 75, 100, 1-10, 10-60, 또는 60-200 MHz)와 같은, 2개의 주파수 중 하나를 선택하는 단계를 포함한다. 제2 예에 있어서, 인코딩 주파수를 결정하는 단계는 고성능 주파수와 저전력 주파수 사이의 범위에서 주파수를 선택하는 단계를 포함한다. 대안적으로, 고정된 100 MHz 주파수와 같은 고정된 인코딩 주파수(예를 들어, 10, 20, 50, 75, 100, 125, 150, 200, 500, 1000, 1-10, 10-60, 60-200, 200-1000, 또는 1000-5000 MHz)가 사용될 수 있고, 및/또는 상기 인코딩 주파수(또는 주파수들)는 임의의 다른 적절한 방식으로 결정될 수 있다.
그러나 S110 은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 방식으로 신호(들)를 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
3.2 신호 출력 단계.
신호를 출력하는 단계(S120)는 출력될 신호(예를 들어, S110 에서 결정된 신호)를 포함하는 출력(예를 들어, 비임, 바람직하게는 광의 비임)을 방출하도록 바람직하게 기능한다. S120 은 신호를 출력하기 위해 변환기(transducer), 바람직하게는 전술한 바와 같은 광학 에미터(예를 들어, 레이저)를 제어하는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 신호를 출력에 포함시키기 위해 변조기[예를 들어, 시스템(200)과 관련하여 전술한 바와 같이]가 사용될 수 있다. S120 은 신호(예를 들어, 주기적 신호에 대해)를 연속적으로 출력하는 단계를 바람직하게 포함하지만, 그러나 대안적으로 임의의 적절한 타이밍으로 신호를 한 번에 및/또는 임의의 다른 적절한 횟수로 출력하는 단계를 포함할 수 있다. 다중 변환기(예를 들어, 다중 레이저와 같은 다중 광학 에미터)를 포함하는 실시예에 있어서, S120 은 다중 출력을 방출하는 단계를 바람직하게, 보다 바람직하게는 동시에 또는 실질적으로 동시에 방출하는 단계를 포함한다(예를 들어, 모든 출력을 연속적으로 또는 실질적으로 연속적으로 방출하는 단계, 펄스형의 및/또는 산발적인 출력을 서로 실질적으로 동시에 방출하는 단계, 등). 그러나 상기 다중 출력은, 추가적으로 또는 대안적으로, 다른 적절한 타이밍으로 방출될 수 있다.
S120 중, 비임 디렉터는 출력 신호를 하나 또는 그 이상의 외부 위치(30)를 향해 지향시키도록 바람직하게 제어된다[예를 들어, 시스템(200)과 관련하여 전술한 바와 같이]. 외부 위치(들)에 도달함에 따라, 비임이 반사될 수 있다(예를 들어, 시스템을 향해 다시). 일 예에 있어서, 상기 비임 디렉터는 제1 드웰 시간 간격에 걸쳐(예를 들어, 신호의 하나의 주기와 실질적으로 동일한) 실질적으로 제1 방향으로, 그 후 제2 드웰 시간 간격에 걸쳐 제2 방향으로 비임을 지향하도록 제어될 수 있으며, 바람직하게는 제1 드웰 시간 간격과 실질적으로 동일한 지속 시간으로 등, 결국에는 실질적으로 제1 방향으로 복귀하고 그리고 연속적으로 반복해서(예를 들어, 시컨스 길이, 해상도, 심볼 속도 등과 같은 출력 매개 변수가 변경될 때까지) 제어될 수 있다.
그러나 S120 은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 방식으로 신호(들)를 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
3.3 리턴 신호 수신 단계.
리턴 신호를 수신하는 단계(S130)는 출력 신호의 하나 또는 그 이상의 반사를 검출하도록 바람직하게 기능한다[예를 들어, 외부 위치(들)에 있는 물체처럼, 시스템을 둘러싸는 환경 내의 하나 또는 그 이상의 물체로부터]. 상기 신호는 시스템(200)에 관해 전술한 바와 같은 변환기(예를 들어, 시스템의 광학 에미터 또는 다른 출력 변환기에 가깝거나 및/또는 달리 위치된 바와 같은, 시스템의), 바람직하게는 광학 검출기[예를 들어, 애벌랜치 포토다이오드(avalanche photodiode)(APD)와 같은 포토다이오드, 등]에서 수신될 수 있다. 일부 실시예에 있어서(예를 들어, 다중 신호가 실질적으로 동시에 출력되는), 다중 신호(예를 들어, 상이한 출력 신호의 반사, 단일 출력 신호의 상이한 반사, 등)는, S130 중 변환기에서 수신될 수 있다(예를 들어, 실질적으로 동시에 및/또는 달리 일시적으로 중첩되어). 상기 리턴 신호는 출력 신호의 반사(예를 들어, 직접 반사, 정반사, 등)인 것이 바람직하다. 그러나 S130 은, 추가적으로 또는 대안적으로, 상기 출력 신호와 관련된(예를 들어, 이에 의해 유도된) 임의의 리턴 신호를 수신하는 단계 및/또는 임의의 다른 적절한 신호를 수신하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 수신된 신호(들)는 예상 신호(들)의 대역폭의 적어도 2배의 속도로 샘플링하는 바와 같이, 신호(들)를 분해하기에 충분한 속도로 바람직하게 샘플링된다[예를 들어, 상기 수신된 신호의 수신에 응답하여 변환기에 의해 발생되는 전류 및/또는 전압과 같은, 상기 변환기의 전기적 출력을 샘플링하는, 아날로그-디지털 변환기 회로와 같은 회로에 의해]. 일 예에 있어서, 상기 수신된 신호는 출력 신호의 심볼 속도의 적어도 2.5배의 속도로 샘플링된다(예를 들어, 125 MHz 출력 신호 대역폭에 대응하는 100 MHz 심볼 속도로, 적어도 250 MHz의 속도로 샘플링된다).
그러나 리턴 신호는, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 방식으로 수신될 수 있다.
3.4 리턴 신호 분석.
리턴 신호를 분석하는 단계(S140)는, 시스템에 대해 하나 또는 그 이상의 외부 위치(예를 들어, 신호가 반사된 위치)의 위치를 결정하도록 바람직하게 기능한다. 리턴 신호를 분석하는 단계(S140)는, 리턴 신호로부터 샘플을 선택하는 단계(S141), 상기 샘플을 필터링하는 단계(S142), 및/또는 상기 신호에 기초하여 정보를 결정하는 단계(S143)를 바람직하게 포함한다(예를 들어, 도 4a에 도시된 바와 같이). 그러나 리턴 신호를 분석하는 단계(S140)는, 추가적으로 또는 대안적으로, 추가 정보 및/또는 임의의 다른 적절한 요소를 결정하는 단계(S144)를 포함할 수 있다.
상기 리턴 신호로부터 샘플을 선택하는 단계(S141)는 분석을 위해 리턴 신호의 일부를 선택하도록 바람직하게 기능한다. 선택된 샘플은 바람직하게는 수신된 신호의 연속적인 윈도우이다. 상기 샘플 윈도우는 출력 신호의 전체 주기를 캡처하기에 충분히 긴 지속 시간이 바람직하다. 일 예에 있어서, 샘플 지속 시간은 신호 주기(예를 들어, 시스템을 둘러싸는 환경에서 광의 속도와 같은, 신호 전파의 속도로 나눈 범위의 2배와 동일함, 이는 상기 범위와 동일한 거리에서 외부 위치를 반사되는 출력 신호의 왕복 전파 시간에 대응한다)의 합보다 작지 않은 것이 바람직하다. 그러나 S141 은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 지속 시간의 윈도우를 선택하는 단계 및/또는 임의의 다른 적절한 샘플을 선택하는 단계를 포함할 수 있다.
샘플을 필터링하는 단계(S142)는 대응의 출력 신호와 관련된(예를 들어, 실질적으로 일치하는) 샘플의 일부를 격리시키도록 바람직하게 기능한다. S142 는 프로세싱 모듈(예를 들어, 전술한 바와 같이)에 의해 구현되는 바와 같은, 디지털 필터링 프로세스(예를 들어, 연산 가능하게 수행됨)를 수행하는 단계를 바람직하게 포함한다. 그러나 S142 는, 추가적으로 또는 대안적으로, 필터링 프로세스(예를 들어, 필터 회로에 의해 구현되는 바와 같은 아날로그 및/또는 디지털 필터링 프로세스)를 수행하는 단계를 포함할 수 있다. 샘플에 적용되는 필터는 바람직하게는 대응하는 출력 신호에 대한 정합 필터(또는 실질적으로 정합 필터)이지만, 추가적으로 또는 대안적으로 임의의 다른 적절한 필터일 수 있다.
일 실시예에 있어서, S142 는 출력 신호의 샘플과의 콘볼루션(예를 들어, 원형 콘볼루션)을 결정하는 단계를 포함하며, 바람직하게는 여기서 둘 중 하나는 주기적 출력 신호의 시간-반전된(time-reversed) 버전의 샘플과의 원형 콘볼루션(예를 들어, 주기적 출력 신호의 시간-반전된 버전의 샘플과의 콘볼루션, 또는 주기적 출력 신호의 샘플의 시간-반전된 버전과의 콘볼루션)처럼, 시간-반전된다. 예를 들어, 콘볼루션을 결정하는 단계는: 샘플의 퓨리에 변환(예를 들어, FFT 와 같은 이산 퓨리에 변환)을 결정하는 단계, 출력 신호의 퓨리에 변환(예를 들어, 이산 퓨리에 변환)을 결정하는 단계(및/또는 S142 의 이전 반복에 대해 결정된 바와 같은, 출력 신호의 이전에 결정된 퓨리에 변환을 검색하는 단계), 변환된 출력 신호에 변환된 샘플을 곱하는 단계, 및 상기 곱의 역 퓨리에 변환(예를 들어, 역 이산 퓨리에 변환)을 결정하는 단계(예를 들어, 이는 2개의 콘볼루션이다)를 포함할 수 있다.
S142 는 지연 시간의 함수인 필터링된 샘플을 바람직하게 생성한다. 상기 필터링된 샘플은 전형적으로 이산 함수(예를 들어, 샘플 및/또는 출력 신호는 시간상 이산 포인트에서만 데이터를 포함하며, 계산은 지연 시간의 이산 포인트에서 수행됨, 등)이지만, 그러나 대안적으로 연속 함수 및/또는 다른 적절한 함수일 수 있다.
S142 는 샘플을 제로- 패딩(zero-padding)하는 단계를 선택적으로 포함할 수 있다(예를 들어, 여기서 하나 또는 그 이상의 제로값 포인트는, S130 에서 결정된 샘플의 각각의 관찰 포인트 사이처럼 샘플에 삽입된다). 상기 샘플은 필터링을 수행하기 전에 제로-패딩될 수 있고, 및/또는 상기 필터링된 샘플은 필터링 후 제로-패딩될 수 있다.
그러나 S142 는, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 방식으로 샘플을 필터링하는 단계를 포함할 수 있다.
신호에 기초하여 정보를 결정하는 단계(S143)는, 환경(예를 들어, 출력 신호가 반사되는 외부 위치)에서 물체의 존재 및/또는 부재를 검출하도록(및/또는 거리, 광학 특성, 등과 같은 정보를 결정하도록) 바람직하게 기능한다. S143 은 S142 에서 생성된 필터링된 샘플에 기초하여 바람직하게 수행되지만, 그러나 추가적으로 또는 대안적으로, S141 에서 선택된 수신된 샘플 및/또는 신호와 관련된 다른 적절한 정보(예를 들어, 수신된 신호)를 사용하여 수행될 수 있다.
S143 은 샘플의 노이즈 플로어를 결정하는 단계를 선택적으로 포함할 수 있다. 노이즈 플로어는 S141 에서 선택된 샘플에 기초하여, 바람직하게는 출력 신호가 방출되지 않을 동안(예를 들어, 다른 모든 출력 신호가 방출되었을 때, 출력 신호가 방출되지 않을 동안, 등) 수집된 교정 샘플에 기초하여, 추정된((예를 들어, 전형적인 조건에 기초하여) 임의의 다른 적절한 샘플에 기초하여 결정될 수 있으며, 및/또는 임의의 다른 적절한 방식으로 결정될 수 있다. 상기 노이즈 플로어는 노이즈 플로어(예를 들어, S141 에서 선택한 샘플, 교정 샘플, 등)를 결정하는 데 사용된 샘플의 파워 스펙트럼의 측정값[예를 들어, 중간값, 평균값, 알파 트리밍 평균값, 사분위 범위(inter-quartile) 평균값, 등]에 기초하여(예를 들어, 동일하게) 결정될 수 있다.
S143 은 데이터의 극한값(예를 들어, 최대 샘플, 바람직하게는 필터링된 샘플)에 대응하는 지연 시간을 결정하는 단계를 바람직하게 포함한다. 이런 지연 시간은 하나 또는 그 이상의 보간 기술을 사용하여 바람직하게 결정된다(예를 들어, 결정된 지연 시간은 최대값의 보간된 포인트에 대응한다). 이러한 보간은, 예를 들어 검출 정확도를 개선하고 및/또는 CRLB 추정을 활성화하는 단계를 포함하여, 여러 가지 이점을 가질 수 있다.
예를 들어, S143 은 연속 곡선 보간[예를 들어, 포물선 보간, 2, 3, 4, 5, 6, 7-10 차수 또는 임의의 다른 적절한 차수 다항식, sinc 함수 보간, 테일러-시리즈(Taylor-series) 보간, 등의 다항식을 사용하는 바와 같은 다항식 보간(polynomial interpolation)], 이산 퓨리에 변환-기반 보간(예를 들어, 데이터의 이산 퓨리에 변환과 관련된 주파수 스펙트럼의 제로-패딩, sinc 함수 커널과 같은 보간 커널을 갖는 제로-패딩된 주파수 스펙트럼을 콘볼루션, 및 콘볼루션의 역 이산 퓨리에 변환을 결정함으로써 보간된 시간 도메인 데이터 생성), 및/또는 임의의 다른 적절한 보간 기술(들)을 수행함으로써, 보간된 지연 시간(예를 들어, 보간된 데이터의 극한값에 대응하는)을 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 보간은 단지(또는 실질적으로만) 선형 연산 동작을 사용하여 바람직하게 수행되며, 이는 빠른 연산을 가능하게 할 수 있지만, 그러나 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 동작을 사용하여 수행될 수 있다. 지연 시간은, 추가적으로 또는 대안적으로, 하나 또는 그 이상의 회귀(regression) 기술을 사용하여 결정될 수 있다(예를 들어, 데이터 또는 상기 극한값에 가까운 서브세트와 같은 그 서브세트를 피팅하는, 보간에 관해 전술한 타입들 중 하나의 곡선과 같은 연속적인 곡선 및/또는 임의 다른 적절한 타입의 곡선을 결정하기 위해)
S143 은 지연 시간 정정을 적용하는 단계를 선택적으로 포함할 수 있다(예를 들어, 보간 및/또는 회귀 후). 예를 들어, 상기 방법은 분석 곡선과 관련된 관계(예를 들어, 2, 3, 4, 5, 6, 7-10 차수의 다항식, 또는 임의의 다른 적절한 차수의 다항식) 및/또는 수치 관계(예를 들어, 조회 테이블에 저장된)와 같은, 보간된 지연 시간과 보정된 지연 시간 사이의 보정 관계(예를 들어, 이러한 모든 시스템에 대해 고정된, 시스템 교정 중 결정된 바와 같은 소정의 관계, 등)에 기초하여 보간된 지연 시간을 보정하는 단계를 포함할 수 있다.
일 예에 있어서, 상기 보간된 지연 시간은 3개의 데이터 포인트, 즉 극한 데이터 포인트 및 양 측부 상의 극한 데이터 포인트에 인접하는 포인트를 사용하여 포물선 보간을 수행함으로써 결정된다. 이런 예의 변형예에 있어서, 상기 보간된 지연 시간은 다항식 보정 관계(예를 들어, 보간된 지연 시간의 6차 다항식과 관련된)에 기초하여 보정된다.
그러나 S143 은 대안적으로 보간 없이 지연 시간을 결정하는 단계(예를 들어, 결정된 지연 시간은 샘플의 최대 이산화된 포인트에 대응하는 시간이다) 및/또는 임의의 다른 적절한 방식으로 지연 시간을 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 노이즈 플로어가 결정되는 실시예에 있어서, 결정된 지연 시간이 노이즈 플로어를 초과하는 포인트에 대응한다면(예를 들어, 노이즈 플로어보다 더 크다면, 노이즈 플로어에 비례하는 값이라면, 임계값보다 더 크다면, 등; 단일 포인트, 적어도 임계 포인트 수를 포함하는 피크 등을 고려하여), 지연 시간은 리턴(예를 들어, 검출 이벤트)을 나타내는 것으로 간주될 수 있는 반면에, 노이즈 플로어를 초과하지 않는 포인트는 리턴을 나타내는 것으로 간주되지 않는 것이 바람직하다. 노이즈 플로어가 결정되지 않았다면, 여기에 기재된 바와 같이 결정된 지연 시간은 리턴을 나타내는 것으로 간주되는 것이 바람직하다.
이런 지연 시간(예를 들어, 복귀를 나타내는 것으로 간주되었다면)은 출력 신호의 전파 시간(예를 들어, 광학 에미터로부터의 방출과 광학 검출기에서의 수신 사이의 시간)에 대응한다. 따라서 상기 지연 시간은 전형적으로 비임이 반사된 외부 위치까지의 거리에 대응한다(예를 들어, 상기 지연 시간은 신호 전파 속도로 나눈 거리, 전형적으로는 빛의 속도의 2배와 동일하다).
S143 에서 결정된 정보(예를 들어, 각각의 복귀에 대응하는 지연 시간 및/또는 거리)는 시스템에 대해 검출된 물체 배향(예를 들어, 비임 방향)과 관련된 정보와 관련하여 바람직하게 저장된다. 예를 들어, 시스템에 대한 물체의 상대 위치는, 3차원 공간에서의 포인트로 저장되는 바와 같이(예를 들어, 공간의 원점이 시스템을 나타냄), 저장될 수 있다(예를 들어, 이러한 많은 리턴은 시스템을 둘러싸고 있는 환경을 나타내는 포인트 클라우드(point cloud)의 결정 및/또는 저장으로 나타난다). 선택적으로, 대응하는 값(예를 들어, 원래의 및/또는 보간된 샘플의), 위상 정보, 및/또는 임의의 다른 적절한 정보와 같은 다른 정보가 이런 정보와 관련하여 저장될 수 있다.
그러나 S143 은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 방식으로 임의의 다른 적절한 정보를 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
S140 은 추가 정보를 결정하는 단계(S144)를 선택적으로 포함할 수 있다. 일부 실시예에 있어서, S144 는 단일의 샘플에서 다중 극한값(예를 들어, 다중 반사에 대응하는)을 검출하도록 기능할 수 있다. 예를 들어, S144 는 "멀티 리턴" 이벤트의 인식을 가능하게 할 수 있다(예를 들어, 비임이 물체의 엣지에 입사되고, 따라서 비임의 제2 부분이 가능하기로는 제2 물체에 의해 계속 반사되는 물체에 의해 비임의 제1 부분이 반사되며; 여기서 비임은 반투명 물체 상에 입사되고, 따라서 비임은 물체에 의해 부분적으로 반사되고, 물체를 부분적으로 투과하여, 가능하기로는 제2 물체에 의해 반사될 수 있다). 바람직하게는, S144 는 모든 식별 가능한 관심 극한값(예를 들어, 노이즈 플로어 위의 최대값)을 검출하는 단계를 포함한다.
일 실시예에 있어서, S144 는 S143 을 수행한 후 S143 에서 결정된 지연 시간을 포함하는 피크를 제거하도록 샘플(예를 들어, 필터링된 샘플)을 변경하는 단계를 포함한다(예를 들어, 도 5에 도시된 바와 같음). 제1 예에 있어서, 피크를 제거하는 단계는 결정된 지연 시간(최대값에 대응하는)의 각각의 측부 상에서 가장 가까운 로컬 최소값을 찾고, 이들 최소값 사이의 모든 데이터를 변경함으로써(예를 들어, 최소값 사이의 모든 값들을 0 으로 설정하고, 최소값들 사이를 선형 보간함으로써), 피크를 선택하는 단계를 포함한다. 제2 예에 있어서, 피크를 제거하는 단계는 피크를 선택하도록 피크-피팅(peak-fitting) 절차를 수행하는 단계[예를 들어, 피크에 대응하는 피크 피트 함수(peak fit functioin)를 결정하는 단계], 그 후 샘플의 대응 포인트로부터 피크 피트값(예를 들어, 피크 피트 함수의 값)을 빼는 단계를 포함한다. 제3 예에 있어서, 피크를 제거하는 단계는 결정된 지연 시간(바람직하게는 결정된 지연 시간에 포인트를 포함하는)의 각각의 측부 상에서 포인트의 윈도우(예를 들어, 소정 개수의 포인트, 소정의 지연 시간 윈도우, 등)를 선택하고, 윈도우 내의 모든 데이터를 변경함으로써(예를 들어, 최소값 사이의 모든 값을 0 으로 설정하고, 윈도우의 양 측부의 바로 외측의 포인트들 사이를 선형으로 보간함으로써, 등), 피크의 선택을 근사화하는 단계를 포함한다. 그러나 상기 피크는, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 다른 적절한 방식으로 제거될 수 있다(및/또는 달리 감소될 수 있고, 무시되도록 표시될 수 있다).
이런 실시예에 있어서, 피크를 제거한 후, S143 은 변경된 샘플을 이용하여 반복된다(예를 들어, S143 의 이런 반복은 상기 변경된 샘플의 최대값에 대응하는 제2 지연 시간을 결정할 수 있다). 피크를 제거하고 그 후 새롭게 변경된 샘플을 이용하여 S143 을 반복하는 프로세스는, 추가적인 리턴이 발견되지 않을 때까지 반복되는 것이 바람직하다(예를 들어, 노이즈 플로어를 초과하는 모든 피크가 제거된다).
제2 실시예에 있어서, S144 는 다중 극한값(예를 들어, 필터링된 샘플에서) 및/또는 관련 지연 시간이 실질적으로 동시에 결정되는 S143 의 수정된 버전을 수행하는 단계를 포함한다(예를 들어, 필터링된 샘플을 통한 단일 통과 중 모두 결정됨). 이런 실시예에 있어서, S144 는 바람직하게는 S143 대신 수행되지만, 그러나 추가적으로 또는 대안적으로, S143 이후에 및/또는 임의의 다른 적절한 타이밍으로 수행될 수 있다. 이런 실시예에 있어서, S144 는 로컬 극한값(바람직하게는 최대값이지만, 그러나 선택적으로 최소값)에 대해 필터링된 샘플을 검색하는 단계를 바람직하게 포함하며, 여기서 처음 몇 개 또는 상부의(예를 들어, 가장 큰 또는 가장 작은 크기) 여러 개의 극한값이 저장된다. 이런 실시예의 예에 있어서, 극한값과 관련된 정보(예를 들어, 지연 시간, 크기, 등)를 저장하기 위해 특정 수의 버퍼가 지정된다. 극한값을 찾음에 따라, 관련 정보가 빈 버퍼에 저장된다. 제1 변형예에 있어서, 빈 버퍼가 남아 있지 않다면, 극한값에 대한 검색이 종료된다(예를 들어, S144 가 완료된다). 제2 변형예에 있어서, 비어 있는 버퍼가 남아 있지 않다면, 현재 극한값의 크기가 최소의 상당한(예를 들어, 최대, 최소, 크기의 경우) 저장된 극한값과 비교되며; 현재 극한값이 더 중요하다면, 그 관련 데이터가 버퍼에 저장되어, 덜 중요한 극한값과 관련된 이전에 저장된 정보를 대체한다.
그러나 S144 는, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 적절한 방식으로 임의의 다른 적절한 정보를 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
다중 신호가 동시에 및/또는 제 시간에 가깝게 출력되는 실시예에 있어서(예를 들어, 여기서는 이러한 여러 개의 신호가 S130 에서 동시에 수신될 수 있음), S140 은 이러한 각각의 출력 신호에 대해 바람직하게 수행된다(예를 들어, 도 4b에 도시된 바와 같이). 예를 들어(예를 들어, 모든 신호에 대한 시컨스 길이 및 심볼 속도가 동일하다면), 이러한 모든 출력 신호에 대해 단일 샘플이 선택될 수 있으며(S141 과 관련하여 전술한 바와 같이), 그 후 S140 의 일부 또는 모든 나머지 요소(예를 들어, S142, S143, S144, 등)는 동일한 샘플을 사용하여 각각의 출력 신호에 대해 수행될 수 있다(예를 들어, 독립적으로). 상이한 출력 신호들이 바람직하게는 높은 상호 직교성을 갖고 있기 때문에(예를 들어, 전술한 바와 같이), 상이한 출력 신호들 사이의 높은 수준의 구별이 이런 방법에 의해 가능해질 수 있다(예를 들어, 다른 출력 신호와 관련된 대부분의 노이즈는 S142 에서 필터링된다). 방법의 실시예는, 추가적으로 또는 대안적으로, 특히 더 긴 시컨스 길이에 대해 높은 상호 간섭 내성(예를 들어, 다른 라이다 시스템 및/또는 임의의 다른 적절한 에미터와 같은 다른 소스로부터 발생하는 노이즈로부터의 간섭에 대한 내성)을 달성할 수 있는데, 그 이유는 이들 노이즈 소스 또한 전형적으로 라이다 시스템에서 사용되는 출력 신호에 대해 합리적인 높은 직교성을 가질 것이기 때문이다.
그러나 S140 은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 적절한 방식으로 수행되는 임의의 다른 적절한 요소를 포함할 수 있다.
3.5 방법의 요소를 반복하는 단계.
상기 방법(100)은 전술한 요소들 중 하나 또는 그 이상을 반복하는 단계를 선택적으로 포함할 수 있다. 일 실시예는 바람직하게는 S140 을 반복하고 및/또는 비임 방향을 변경할 동안(예를 들어, 전술한 바와 같이 환경 주위에서 비임을 스위핑할 동안), S120 및/또는 S130 을 수행하는 단계(예를 들어, S120 및 S130 을 연속적으로, 바람직하게는 실질적으로 동시에 수행하는 단계)를 포함한다. 이런 실시예에 있어서, S130 에서 수신된 모든 또는 실질적으로 모든 신호는 S140 의 반복에 따라 바람직하게 분석된다(예를 들어, S140 의 각각의 반복에 대해, 수신된 신호의 상이한 샘플, 바람직하게는 이전 샘플 바로 다음의 샘플이 사용된다).
이런 실시예의 변형예에 있어서, S110 의 일부 또는 모든 요소는 선택적으로 반복될 수 있다(예를 들어, 주기적으로, 예를 들어 시간의 임계 주기 후, S140 의 임계 반복 횟수, 비임의 임계 스위프 횟수, 등; 산발적으로, 트리거에 대한 응답; 등), 여기서 S120, S130, 및/또는 S140 은 계속 수행될 수 있다[예를 들어, S110 의 가장 최근의 반복 시 결정된 새로운 시컨스(들)에 기초하여]. 이런 변형예의 제1 예에 있어서, S112 에 관해 전술한 바와 같이, 새로운 시컨스 길이가 선택되며(예를 들어, 정확도, 범위, 해상도, 레이턴시, 등과 같은 성능 메트릭스의 일부 또는 전부를 변경하기 위해), 그 후 새로운 시컨스 길이에 기초하여 S112 가 수행된다. 제2 예에 있어서, 이전과 동일한 시컨스 길이를 사용하여, 새로운 시컨스(또는 시컨스들)가 선택된다(예를 들어, S112 에 대해 전술한 바와 같이). 이런 제2 예는 시컨스 직교성(예를 들어, 다른 라이다 시스템으로부터 노이즈와 같은 외부 노이즈 소스에 대한)이 빈약하다고 의심되는 경우에(예를 들어, 신호 식별 성능이 빈약한 경우에), 선택적으로 수행할 수 있다. 예를 들어, 근처의 또 다른 라이다 시스템(예를 들어, 현재의 라이다 시스템 근처에서 작동하는 차량에 장착되어 있는)이 현존의 라이다 시스템의 현재 출력 신호 중 하나 또는 그 이상과 유사한(예를 들어, 충분히 직교하지 않은) 하나 또는 그 이상의 출력 신호를 사용하고 있다면, 상기 방법은 이런 간섭원(interference source)에 대해 충분한 내성을 달성하지 못할 수 있다. 따라서 시컨스(들)를 변경함으로써, 더 큰 상호 간섭 내성이 달성될 수 있다. 이런 제2 예는 주기적으로, 산발적으로, 및/또는 임의의 다른 적절한 타이밍으로(예를 들어, 시스템이 원하는 대로 작동하는지의 여부를 진단하기 위한 작동 변경) 추가적으로 또는 대안적으로 수행될 수 있으며, 및/또는 임의의 다른 적절한 이유로 수행될 수 있다.
그러나 상기 방법(100)은, 추가적으로 또는 대안적으로, 임의의 적절한 타이밍으로 임의의 다른 적절한 요소를 반복하는 단계를 포함할 수 있다.
대안적인 실시예는 컴퓨터-판독 가능한 명령을 저장하는 컴퓨터-판독 가능한 매체에서 상기 방법의 일부 또는 전부를 바람직하게 구현한다. 상기 명령은 통신 라우팅 시스템과 바람직하게 통합된 컴퓨터-실행 가능한 구성요소에 의해 바람직하게 실행된다. 상기 통신 라우팅 시스템은 통신 시스템, 라우팅 시스템, 및 가격 설정 시스템(pricing system)을 포함할 수 있다. 상기 컴퓨터-판독 가능한 매체는 RAM, ROM, 플래시 메모리, EEPROM, 광학 디바이스(CD 또는 DVD), 하드 드라이브, 플로피 드라이브, 또는 임의의 적절한 디바이스와 같은, 임의의 적절한 컴퓨터 판독 가능한 매체에 저장될 수 있다. 상기 컴퓨터-실행 가능한 구성요소는 프로세서가 바람직하지만, 그러나 대안적으로 또는 추가적으로 임의의 적절한 전용 하드웨어 디바이스에 의해 명령이 실행될 수 있다.
간결함을 위해 생략되었지만, 시스템 및/또는 방법의 실시예는 다양한 시스템 구성요소 및 다양한 방법 프로세스의 모든 조합 및 순열을 포함할 수 있으며, 여기에 기재된 방법 및/또는 프로세스의 하나 또는 그 이상의 사례는 여기에 기재된 시스템, 요소, 및/또는 독립체의 하나 또는 그 이상의 사례를 사용함으로써 비동기식으로(예를 들어, 연속적으로), 동시에(예를 들어, 병렬로), 또는 임의의 다른 적절한 순서로 수행될 수 있다.
도면들은 바람직한 실시예, 예시적인 구성, 및 그 변형예에 따른 시스템 및/또는 방법의 가능한 구현의 아키텍처, 기능, 및 동작을 도시하고 있다. 또한, 일부 대안적인 구현에 있어서, 블록에 언급된 기능은 도면에 언급된 순서를 벗어나서 발생할 수 있음을 인식해야 한다. 예를 들어, 연속적으로 도시된 2개의 블록은 실제로는 실질적으로 동시에 실행될 수 있으며, 또는 관련된 기능에 따라 역순으로 실행될 수도 있다. 또한, 블록도 및/또는 흐름도의 각각의 블록, 및 블록도 및/또는 흐름도의 블록들의 조합은, 지정된 기능 또는 동작을 수행하는 특수 목적 하드웨어 기반 시스템에 의해, 또는 특수 목적 하드웨어 및 컴퓨터 명령의 조합에 의해 구현될 수 있다.
본 기술분야의 숙련자라면 이전의 상세한 설명 및 도면 및 청구범위로부터 이하의 청구범위에 정의된 본 발명의 범주로부터의 일탈 없이 본 발명의 바람직한 실시예에 대한 수정 및 변경이 이루어질 수 있음을 인식할 것이다.

Claims (21)

  1. 환경 매핑을 위한 방법으로서:
    ● 코드 시컨스를 인코딩하는 출력 신호를 나타내는 레이저 출력을 생성하는 단계 - 상기 코드 시컨스에 기초하여 반송파 신호를 변조하는 단계를 포함함 -;
    ● 일정 기간 동안, 상기 레이저 출력을 환경에 전송하는 단계;
    ● 상기 일정 기간 동안, 광학 검출기에서, 상기 환경 내의 제1 물체로부터 상기 레이저 출력의 제1 반사 및 상기 환경 내의 제2 물체로부터 상기 레이저 출력의 제2 반사를 포함하는 리턴 신호를 수신하는 단계;
    ● 상기 리턴 신호의 연속적인 시간 윈도우를 나타내는 샘플을 결정하는 단계;
    ● 필터링된 샘플을 생성하는 단계 - 상기 코드 시컨스에 기초하여 상기 샘플을 필터링하는 단계를 포함함 -;
    ● 상기 필터링된 샘플에 기초하여:
    ● 상기 필터링된 샘플의 제1 극한값을 결정하는 단계;
    ● 상기 제1 극한값과 관련된 제1 지연 시간을 결정하는 단계;
    ● 상기 제1 극한값과 관련된 제1 피크 영역을 결정하는 단계;
    ● 상기 필터링된 샘플의 제2 극한값을 결정하는 단계 - 상기 제2 극한값은 상기 제1 피크 영역 내에 있지 않으며, 상기 제1 극한값의 크기는 상기 제2 극한값의 크기보다 더 큼 -; 및
    ● 상기 제2 극한값에 기초하여 제2 지연 시간을 결정하는 단계;
    ● 상기 제1 지연 시간에 기초하여, 상기 제1 물체의 상대 위치를 결정하는 단계; 및
    ● 상기 제2 지연 시간에 기초하여, 상기 제2 물체의 상대 위치를 결정하는 단계;
    를 포함하는, 환경 매핑을 위한 방법.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 코드 시컨스는 2진 코드 시컨스인, 환경 매핑을 위한 방법.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 코드 시컨스에 기초하여 상기 반송파 신호를 변조하는 단계는,
    ● 상기 코드 시컨스의 0-값 비트들을 제1 강도에 매핑하는 단계; 및
    ● 상기 코드 시컨스의 1-값 비트들을 상기 제1 강도와 다른 제2 강도에 매핑하는 단계,
    를 포함하는, 환경 매핑을 위한 방법.
  4. 청구항 3에 있어서,
    상기 제1 강도는 상기 제2 강도 보다 작은, 환경 매핑을 위한 방법.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 제1 강도는 0인, 환경 매핑을 위한 방법.
  6. 청구항 1에 있어서,
    ● 상기 광학 검출기에서, 상기 리턴 신호를 수신한 후, 상기 환경 내의 제3 물체로부터, 상기 레이저 출력의 제3 반사를 포함하는 제2 리턴 신호를 수신하는 단계;
    ● 상기 제2 리턴 신호의 제2 연속 시간 윈도우를 나타내는 제2 샘플을 결정하는 단계;
    ● 제2 필터링된 샘플을 생성하는 단계 - 상기 코드 시컨스에 기초하여, 상기 제2 샘플을 필터링하는 단계를 포함함 -;
    ● 상기 제2 필터링된 샘플에 기초하여, 상기 제2 필터링된 샘플의 제3 극한값과 관련된 제3 지연 시간을 결정하는 단계; 및
    ● 상기 제3 지연 시간에 기초하여, 상기 제3 물체의 상대 위치를 결정하는 단계를 더 포함하는, 환경 매핑을 위한 방법.
  7. 청구항 1에 있어서,
    ● 제2 출력 신호를 인코딩하는 제2 레이저 출력을 생성하는 단계 - 제2 코드 시컨스에 기초하여 제2 반송파 신호를 변조하는 단계를 포함함 -;
    ● 상기 일정 기간 동안, 상기 제2 레이저 출력을 상기 환경에 전송하는 단계;
    ● 제2 필터링된 샘플을 생성하는 단계 - 상기 제2 코드 시컨스에 기초하여 상기 샘플을 필터링하는 단계를 포함하고, 상기 리턴 신호는 상기 환경 내의 제3 물체로부터 상기 제2 레이저 출력의 제3 반사를 더 포함하는, 단계;
    ● 상기 제2 필터링된 샘플에 기초하여:
    ● 상기 제2 필터링된 샘플의 제3 극한값을 결정하는 단계; 및
    ● 상기 제3 극한값과 관련된 제3 지연 시간을 결정하는 단계; 및
    ● 상기 제3 지연 시간에 기초하여, 상기 제3 물체의 상대 위치를 결정하는 단계를 더 포함하는, 환경 매핑을 위한 방법.
  8. 청구항 1에 있어서,
    상기 광학 검출기는 애벌랜치 포토다이오드를 포함하는, 환경 매핑을 위한 방법.
  9. 청구항 1에 있어서,
    상기 레이저 출력을 생성하기 전에, 상기 출력 신호와 상기 광학 검출기에서 수신된 다른 광학 신호 사이의 상관 관계가 임계값 미만이 되도록, 상기 코드 시컨스를 결정하는 단계를 더 포함하는, 환경 매핑을 위한 방법.
  10. 청구항 9에 있어서,
    상기 코드 시컨스를 결정하기 전에:
    ● 후보 코드 시컨스를 선택하는 단계;
    ● 상기 후보 코드 시컨스를 인코딩하는 후보 출력 신호를 나타내는 후보 레이저 출력을 생성하는 단계;
    ● 상기 후보 레이저 출력을 전송하는 단계;
    ● 상기 광학 검출기에서 테스트 신호를 수신하는 단계; 및
    ● 상기 테스트 신호에 기초하여, 상기 후보 출력 신호와 상기 다른 광학 신호 사이의 테스트 상관 관계가 상기 임계값보다 더 큰지의 여부를 결정하는 단계를 포함하며,
    ● 상기 코드 시컨스는 상기 테스트 상관 관계가 상기 임계값보다 더 크다는 결정에 응답하여 결정되는, 환경 매핑을 위한 방법.
  11. 청구항 1에 있어서,
    ● 상기 일정 기간 전에:
    ● 원하는 성능 메트릭스들의 제1 세트에 기초하여, 제1 시컨스 길이를 결정하는 단계 - 상기 원하는 성능 메트릭스들의 제1 세트는 정확도, 범위, 해상도, 또는 레이턴시 중 적어도 하나를 포함함 -; 및
    ● 상기 제1 시컨스 길이에 기초하여, 상기 코드 시컨스를 결정하는 단계 - 상기 코드 시컨스의 길이는 상기 제1 시컨스 길이와 동일함 -;
    ● 상기 리턴 신호에 기초하여, 제2 시컨스 길이를 결정하는 단계;
    ● 상기 제2 시컨스 길이에 기초하여, 제2 코드 시컨스를 결정하는 단계 - 상기 제2 코드 시컨스의 길이는 상기 제2 시컨스 길이와 동일함 -;
    ● 상기 제2 코드 시컨스를 인코딩하는 제2 출력 신호를 나타내는 제2 레이저 출력을 생성하는 단계 - 상기 제2 코드 시컨스에 기초하여 상기 반송파 신호를 변조하는 단계를 포함함 -;
    ● 상기 일정 기간에 이어지는 제2 일정 기간 동안, 상기 제2 레이저 출력을 상기 환경에 지속적으로 전송하는 단계;
    ● 상기 제2 일정 기간 동안, 상기 광학 검출기에서, 상기 물체로부터 상기 제2 레이저 출력의 제3 반사를 포함하는 제2 리턴 신호를 수신하는 단계;
    ● 상기 제2 리턴 신호의 제2 연속적인 시간 윈도우를 나타내는 제2 샘플을 결정하는 단계;
    ● 제2 필터링된 샘플을 생성하는 단계 - 상기 제2 코드 시컨스에 기초하여 상기 제2 샘플을 필터링하는 단계를 포함함 -;
    ● 상기 제2 필터링된 샘플에 기초하여:
    ● 상기 제2 필터링된 샘플의 제3 극한값을 결정하는 단계; 및
    ● 상기 제3 극한값과 관련된 제3 지연 시간을 결정하는 단계; 및
    ● 상기 제3 지연 시간에 기초하여, 상기 물체의 업데이트된 상대 위치를 결정하는 단계를 포함하는, 환경 매핑을 위한 방법.
  12. 환경 매핑을 위한 방법으로서:
    ● 제1 출력 신호를 나타내는 제1 광학 출력을 생성하는 단계 - 제1 코드 시컨스에 기초하여 제1 반송파 신호를 변조하는 단계를 포함함 -;
    ● 제2 출력 신호를 나타내는 제2 광학 출력을 생성하는 단계 - 제2 코드 시컨스에 기초하여 제2 반송파 신호를 변조하는 단계를 포함함 -;
    ● 일정 기간 동안, 상기 제1 및 제2 광학 출력을 환경에 지속적으로 전송하는 단계;
    ● 상기 일정 기간 동안, 광학 검출기에서, 상기 환경 내의 제1 물체로부터 상기 제1 광학 출력의 제1 반사 및 상기 환경 내의 제2 물체로부터 상기 제2 광학 출력의 제2 반사를 포함하는 리턴 신호를 수신하는 단계;
    ● 상기 리턴 신호의 연속적인 시간 윈도우를 선택함으로써 샘플을 결정하는 단계;
    ● 제1 필터링된 샘플을 생성하는 단계 - 상기 제1 코드 시컨스에 기초하여 상기 샘플을 필터링하는 단계를 포함함 -;
    ● 상기 제1 필터링된 샘플과 관련된 제1 지연 시간을 결정하는 단계;
    ● 상기 제1 지연 시간에 기초하여, 상기 제1 물체의 상대 위치를 결정하는 단계;
    ● 제2 필터링된 샘플을 생성하는 단계 - 상기 제2 코드 시컨스에 기초하여 상기 샘플을 필터링하는 단계를 포함함 -;
    ● 상기 제2 필터링된 샘플과 관련된 제2 지연 시간을 결정하는 단계; 및
    ● 상기 제2 지연 시간에 기초하여, 상기 제2 물체의 상대 위치를 결정하는 단계를 포함하는, 환경 매핑을 위한 방법.
  13. 청구항 12에 있어서,
    상기 제1 코드 시컨스는 제1 2진 코드 시컨스이고, 상기 제2 코드 시컨스는 제2 2진 코드 시컨스인, 환경 매핑을 위한 방법.
  14. 청구항 13에 있어서,
    상기 제1 코드 시컨스에 기초하여 상기 제1 반송파 신호를 변조하는 단계는,
    ● 상기 제1 코드 시컨스의 0-값 비트들을 제1 강도에 매핑하는 단계; 및
    ● 상기 제1 코드 시컨스의 1-값 비트들을 상기 제1 강도와 다른 제2 강도에 매핑하는 단계를 포함하고,
    상기 제2 코드 시컨스에 기초하여 상기 제2 반송파 신호를 변조하는 단계는,
    ● 상기 제2 코드 시컨스의 0-값 비트들을 상기 제1 강도에 매핑하는 단계; 및
    ● 상기 제2 코드 시컨스의 1-값 비트들을 상기 제2 강도에 매핑하는 단계를 포함하는,
    환경 매핑을 위한 방법.
  15. 청구항 12에 있어서,
    상기 일정 기간 전에, 상기 제1 및 제2 출력 신호 사이의 상관 관계가 0 이 되도록 상기 제1 및 제2 코드 시컨스를 결정하는 단계를 더 포함하는, 환경 매핑을 위한 방법.
  16. 청구항 15에 있어서,
    상기 일정 기간 전에, 시컨스 길이를 결정하는 단계를 더 포함하며, 상기 제1 및 제2 코드 시컨스의 길이는 각각 상기 시컨스 길이와 동일한, 환경 매핑을 위한 방법.
  17. 청구항 12에 있어서,
    상기 일정 기간 전에, 코드 시컨스들의 세트를 결정하는 단계를 더 포함하며, 상기 코드 시컨스들의 세트의 각각의 코드 시컨스는 상기 코드 시컨스를 인코딩하는 각각의 출력 신호와 관련되어 있으며,
    ● 상기 코드 시컨스들의 세트를 결정하는 단계는, 상기 코드 시컨스들의 세트의 각 코드 시컨스 쌍에 대해, 상기 코드 시컨스 쌍의 코드 시컨스들과 관련된 상기 각각의 출력 시컨스들 사이의 각각의 상관 관계가 임계값보다 작도록, 확률적 최적화를 수행하는 단계를 포함하며; 및
    ● 상기 코드 시컨스들의 세트는 상기 제1 및 제2 코드 시컨스를 포함하는, 환경 매핑을 위한 방법.
  18. 청구항 12에 있어서,
    ● 상기 제1 광학 출력은 제1 레이저에 의해 상기 환경으로 전송되고; 및
    ● 상기 제2 광학 출력은 제2 레이저에 의해 상기 환경으로 전송되는,
    환경 매핑을 위한 방법.
  19. 청구항 12에 있어서,
    상기 광학 검출기는 포토다이오드를 포함하고, 상기 리턴 신호는 상기 포토다이오드에서 수신되는, 환경 매핑을 위한 방법.
  20. 청구항 19에 있어서,
    상기 제1 및 제2 반사는 상기 포토다이오드에서 동시에 수신되는, 환경 매핑을 위한 방법.
  21. 에미터 및 검출기를 포함하는 라이다 시스템으로서,
    상기 라이다 시스템은 청구항 1 내지 청구항 20 중 어느 하나의 청구항의 환경 매핑을 위한 방법을 수행하도록 구성되는, 라이다 시스템.
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