KR102648759B1 - 강판의 도유량 측정 장치 - Google Patents

강판의 도유량 측정 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR102648759B1
KR102648759B1 KR1020210100590A KR20210100590A KR102648759B1 KR 102648759 B1 KR102648759 B1 KR 102648759B1 KR 1020210100590 A KR1020210100590 A KR 1020210100590A KR 20210100590 A KR20210100590 A KR 20210100590A KR 102648759 B1 KR102648759 B1 KR 102648759B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
value
oil
temperature
steel plate
oil amount
Prior art date
Application number
KR1020210100590A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20230018722A (ko
Inventor
이원희
Original Assignee
이원희
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 이원희 filed Critical 이원희
Priority to KR1020210100590A priority Critical patent/KR102648759B1/ko
Publication of KR20230018722A publication Critical patent/KR20230018722A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102648759B1 publication Critical patent/KR102648759B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/022—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/045—Correction of measurements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0003—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiant heat transfer of samples, e.g. emittance meter
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/80—Calibration
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • G01N2021/8427—Coatings

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명은, 강판 표면의 굴곡율, 색상값, 명도값, 조도값, 백색도율을 CCD 적용 카메라를 이용한 이미지로부터 분석하는 표면상태 검출부;
상기 강판의 표면의 온도에 따른 편차를 감소하기 위해 비접촉 적외선 온도검출기를 장치에 내장하여 온도를 검출하는 적외선 온도 검출부;
상기 강판에 자외선 또는 적외선을 조사하여 도유량을 검출하는 도유량 검출부; 및
상기 표면상태 검출부를 통해 검출한 표면상태 검출값과 적외선 온도 검출부를 통해 검출한 온도 검출값에 의해 상기 도유량 검출부로 측정된 도유량값에 대하여 보정을 수행하는 연산 제어부를 포함하는 강판의 도유량 측정 장치를 제공한다.

Description

강판의 도유량 측정 장치{APPARATUS FOR MEASURING OIL FILM THICKNESS OF COIL STRIP}
본 발명은 강판의 도유량 측정 장치에 관한 것이다.
일반적으로 강판의 압연공정시 강판의 녹의 방지를 위하여 방청유를 도포 한다.
도포공정시 방청유량의 미도유, 과도유는 제품의 도유 품질에 불량 요인으로 작용 하여 도유 강판의 소비자 불만이 증가 되며 산업의 자동화 공정에 미도유와 과도유로 막대한 영향을 주어 생산하는 제품의 품질 및 생산성을 저해 하고 있다.
이를 위해, 종래에는 강판의 도유량을 측정하였으나, 검량선 값 산출 작업을 위해서는 모든 품종 및 재질의 강판에 대한 샘플을 확보하여 수작업으로 하거나 반사율을 이용한 기술들을 적용하여 검량선 편차를 보정 하고 측정 하였으니 판의 진동,설비의 진동 등으로 인하여 안정된 반사량 값을 검출 할 수 없고 그로 인한 편차가 발생하여 도유량 측정장치 정합성 유지에 한계가 있다
대한민국 등록특허공보 10-2245235호
본 발명의 일 실시예에 따르면, 강판의 재질,강종에 따른 도유량 검출값의 변화를보정할 수 있는 강판의 도유량 측정 장치가 제공 된다.
상술한 본 발명의 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 실시 예에 따라 강판 표면의 굴곡율, 색상값, 명도값, 조도값, 백색도율을 CCD 적용 카메라를 이용한 이미지로부터 분석하는 표면상태 검출부; 상기 강판의 표면의 온도에 따른 편차를 감소하기 위해 비접촉 적외선 온도검출기를 장치에 내장하여 온도를 검출하는 적외선 온도 검출부; 상기 강판에 자외선 또는 적외선을 조사하여 도유량을 검출하는 도유량 검출부; 및 상기 표면상태 검출부를 통해 검출한 표면상태 검출값과 적외선 온도 검출부를 통해 검출한 온도 검출값에 의해 상기 도유량 검출부로 측정된 도유량값에 대하여 보정을 수행하는 연산 제어부를 포함하는 강판의 도유량 측정 장치를 제공한다.
또한, 상기 연산 제어부는 유종검량선, 굴곡율, 색상값, 명도값, 조도값, 백색도율 및 온도 검출값을 보정계수를 설정하여 수행되어지는 것을 특징으로 하는 도유량 측정 장치를 제공한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 도유된 강판의 표면 상태와 상관없이 항상 일정한 도유 측정 결과를 얻을 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 강판의 도유량 측정 장치의 개략적인 구성도 이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 강판의 도유량 측정 장치의 도유량 검출부 및 강판의 이미지검출부, 강판의 온도검출부의 검출 값을 신호처리부를 통하여 도유량을 측정 하는 개략적인 구성도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 강판의 도유량 측정 장치의 도유량 검출부 및 이미지,온도 검출부의 실물 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 강판의 도유량 측정 장치의 이미지 및 온도 검량선 보정계수 파라메터를 나타내는 표이다.
첨부된 도면을 참조 하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용의하게 실시 할 수 있도록 실시예를 상세히 설명 한다.
도1은 본 발명의 일 실시예에 따른 강판의 도유량 측정 장치의 개략적인 구성도 이다.
본 발명의 검출부 3개의 부분으로 구성되어지며 자외선 또는 적외선 램프(112), 제어부(111), 카메라(120), 이미지 검출부(121), 적외선 온도 검출기(130) 및 온도 검출부(131)로 구성되어진다.
도3은 일 실시 예에 따른 강판의 도유량 측정 장치의 도유량 검출부 및 이미지 검출부, 온도 검출부의 실물 도면이다.
자외선 또는 적외선램프(112)는 제어부(111)에 의하여 조사되어지는 자외선 또는 적외선램프(112)를 안정되게 제어하여 일정한 검출값을 검출하도록 되어지는 부분이다.
검출된 검출값은 제어부(111)를 통하여 신호 처리부(140)로 전송한다.
이때 신호 처리부(140)의 측정값만으로는 도유량의 정합성이 확보되지 않는다.
통상적인 실험실 조건에서는 주변 환경과 측정값 일정하나 여러 공장에서 생산 되어지는 강판의 종류는 업체별 표면의 물리적 상태가 상이하므로 제어부(111)에서 검출된 값을 정확한 도유량값으로 표현하기에는 어렵다.
실제 도유량이 동일하더라도 강판의 도금량, 도금형태, 탄소성분의 함량, 산세공정에서의 탈색 정도와 같은 강판 표면의 물리적 특성에 따라 상이한 자외선 또는 적외선의 검출값에 따른 도유량을 검출값으로 가지게 된다.
본 발명은 이러한 문제점들을 해결하기 위하여 카메라(120) 및 적외선 온도 검출기(130)를 적용하여 강판의 물리적 상태를 비접촉으로 분석할 수 있도록 하였다.
적외선 온도 검출기(130)는 자외선 또는 적외선의 검출에 따른 도유량 검출값을 보정하기 위한 것으로서, 이는 온도에 따라 분자의 활성도가 상이한 특성을 보완하기 위한 것이다.
동일한 양의 오일을 반복 측정 시 온도의 변화를 가하면 그 검출값이 상이하게 검출됨으로 온도의 보상값을 보정해주어야 정확한 도유량값을 검출할 수 있다.
CCD를 적용한 카메라(120)는 강판의 표면을 정지영상 또는 동영상으로 이미지를 연속 저장 하여 이미지 검출부(121)로 전송하게 되어지며 이미지 검출부(121)는 획득한 영상의 픽셀의 정보를 이용, 국제조명위원회 CIE Lab에 의거 굴곡율, 색상값, 명도값, 조도값, 백색도율을 추출하여 강판 표면의 물리적 특성을 실시간으로 신호 처리부(140)로 전송한다.
적외선 온도 검출기(130)는 강판의 온도를 비접촉으로 실시간으로 측정하여 온도 검출부(131)를 통하여 신호 처리부(140)로 전송한다.
연산 제어부(150)는 이미 실험실에서 확보한 유종의 검량선값과 3개의 부분(자외선 또는 적외선검출부(110), 카메라(120), 적외선 온도 검출기(130)) 검출값으로부터 도4와 같이 보정계수를 설정하여 도유량 측정값을 보정 한다.
즉, 도4를 참조하면 알 수 있는 바와 같이, 보정계수는 유종검량선, 굴곡율, 색상값, 명도값, 조도값, 백색도율, 온도 검출값의 함수로 정하여진다.
삭제
삭제
항목별 파라메타값에 따라 검량선 보정값이 증감 하도록 구성되어진다.
100 : 도유량측정장치
110 : 자외선 또는 적외선 검출부
111 : 제어부
112 : 광원
120 : 카메라
121 : 이미지 검출부
130 : 적외선 온도 검출기
131 : 온도 검출부
140 : 신호 처리부
150 : 연산 제어부

Claims (2)

  1. 강판 표면의 굴곡율, 색상값, 명도값, 조도값 및 백색도율을 CCD 적용 카메라를 이용한 이미지로부터 분석하는 표면상태 검출부;
    상기 강판의 표면의 온도에 따른 편차를 감소하기 위해 비접촉 적외선 온도검출기를 장치에 내장하여 온도를 검출하는 적외선 온도 검출부;
    상기 강판에 자외선 또는 적외선을 조사하여 도유량을 검출하는 도유량 검출부; 및
    상기 표면상태 검출부를 통해 검출한 표면상태 검출값과 적외선 온도 검출부를 통해 검출한 온도 검출값에 의해 상기 도유량 검출부로 측정된 도유량값에 대하여 보정을 수행하는 연산 제어부를 포함하되,
    상기 연산 제어부는 유종검량선, 굴곡율, 색상값, 명도값, 조도값, 백색도율 및 온도 검출값을 보정계수를 설정하여 수행되어지는 것을 특징으로 하는 강판의 도유량 측정 장치.
  2. 삭제
KR1020210100590A 2021-07-30 2021-07-30 강판의 도유량 측정 장치 KR102648759B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210100590A KR102648759B1 (ko) 2021-07-30 2021-07-30 강판의 도유량 측정 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210100590A KR102648759B1 (ko) 2021-07-30 2021-07-30 강판의 도유량 측정 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20230018722A KR20230018722A (ko) 2023-02-07
KR102648759B1 true KR102648759B1 (ko) 2024-03-19

Family

ID=85253082

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210100590A KR102648759B1 (ko) 2021-07-30 2021-07-30 강판의 도유량 측정 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102648759B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102660681B1 (ko) * 2023-10-05 2024-04-25 이원희 백색도를 이용한 강판의 도유량 측정 장치

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100797260B1 (ko) * 2005-12-26 2008-01-23 주식회사 포스코 강판의 도유량 측정방법

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102251855B1 (ko) * 2019-09-25 2021-05-13 주식회사 코아칩스 열화상을 이용한 도장 품질 관리 장치 및 방법
KR102245235B1 (ko) 2019-12-16 2021-04-28 주식회사 포스코 강판의 도유량 측정 장치

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100797260B1 (ko) * 2005-12-26 2008-01-23 주식회사 포스코 강판의 도유량 측정방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20230018722A (ko) 2023-02-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
AU2010251867B2 (en) Methods and instruments for measurement of paint sample characteristics
KR102648759B1 (ko) 강판의 도유량 측정 장치
NL9301577A (nl) Het monitoren van dunne filmdikte.
CN110027738B (zh) 小盒烟包热封方法
US8394449B2 (en) Differential coat weight measurement by means of nuclear or X-ray gauges
US9612213B2 (en) Automatic z-correction for basis weight sensors
KR102245235B1 (ko) 강판의 도유량 측정 장치
US20140096925A1 (en) Yankee drier profiler and control
KR102660681B1 (ko) 백색도를 이용한 강판의 도유량 측정 장치
MX2019001420A (es) Aparato de inspeccion de defectos de lamina de acero y metodo de inspeccion de defectos de lamina de acero.
US10024775B2 (en) Method and device for determining the abrasion properties of a coated flat product
JP7405844B2 (ja) 産業亜鉛めっきラインにおいて塗装重量均一性を制御する方法
CN106767451A (zh) 带有滚筒的纺织设备及其带宽测量机构
US5796856A (en) Gap measuring apparatus and method
US20210180941A1 (en) Methods and systems for real-time, in-process measurement of powder coatings on metal substrates of appliances
JP6874845B2 (ja) 樹脂製品の製造方法および樹脂製品の製造装置
KR20210147894A (ko) 필름 검사 시스템, 도포 시공 장치, 및 필름의 제조 방법
JP3331169B2 (ja) 鋼板表面の塗油量測定方法
CN111103214A (zh) 涂层面密度检测装置和方法
JPS61155714A (ja) 表面色調制御方法及び装置
Johnson Defect and thickness inspection system for cast thin films using machine vision and full-field transmission densitometry
Lopera et al. Measuring Steel Strip Cleanliness: A Sensor System Based on Optics Phenomena
JPH0999271A (ja) ロールコータ型塗装装置における塗膜厚制御方法
JP2023120491A (ja) 放射温度計の校正方法及び校正装置
TWI496624B (zh) 塗油量量測方法與應用此塗油量量測方法之塗油方法

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
X091 Application refused [patent]
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant