KR102623649B1 - Apparatus for diagnosing supply source and Method for estimating effectiveness of diagnostic information - Google Patents

Apparatus for diagnosing supply source and Method for estimating effectiveness of diagnostic information Download PDF

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Abstract

예상치 못한 외부적 요인으로 제어기 전원에 장애가 발생할 경우, 비휘발성 메모리에 저장한 플래그를 비교하는 것을 통하여 전원 장애 여부를 진단할 수 있는 공급 전원 이상 진단 장치가 개시된다. 상기 공급 전원 이상 진단 장치는, 비휘발성 메모리, 및 매 운전주기마다 진단을 수행하여 공급 전원이 차단되기 전에 상기 비휘발성 메모리에 진단 정보를 운전 주기 시그니처로 저장하고 상기 공급 전원이 다시 개시되면 저장된 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 운전주기에 따라 생성되는 현재의 운전 주기 시그니처를 비교하여, 비교결과에 따라 상기 진단정보의 유효성을 진단하는 MCU(Micro Control Unit)를 포함하는 것을 특징으로 한다.A supply power failure diagnosis device is disclosed that can diagnose a power failure by comparing flags stored in a non-volatile memory when a failure occurs in the controller power due to unexpected external factors. The supply power abnormality diagnosis device performs diagnosis in a non-volatile memory and every driving cycle, stores diagnostic information in the non-volatile memory as a driving cycle signature before the supply power is cut off, and stores the previously stored diagnostic information as a driving cycle signature when the supply power is restarted. It is characterized by comprising an MCU (Micro Control Unit) that compares the driving cycle signature of and the current driving cycle signature generated according to the driving cycle, and diagnoses the validity of the diagnostic information according to the comparison result.

Description

공급 전원 이상 진단 장치 및 이를 이용한 진단 정보 유효성 판단 방법{Apparatus for diagnosing supply source and Method for estimating effectiveness of diagnostic information}Apparatus for diagnosing supply power failure and method for determining effectiveness of diagnostic information using the same {Apparatus for diagnosing supply source and Method for estimating effectiveness of diagnostic information}

본 발명은 공급 전원 이상 진단 기술에 관한 것으로서, 더 상세하게는 비휘발성 메모리 정보를 이용한 차량 제어기의 공급 전원 이상을 진단하는 진단 장치 및 이를 이용한 진단 정보 유효성 판단 방법에 대한 것이다.The present invention relates to a technology for diagnosing power supply abnormalities, and more specifically, to a diagnostic device for diagnosing power supply abnormalities in a vehicle controller using non-volatile memory information and a method for determining the validity of diagnostic information using the same.

차량 제어기는 차량 진단 표준인 ISO14229-1 에서 정의하고 있는 진단 정보를 차량의 수명 기간 동안 지속적으로 관리하고 매 운전 주기마다 비휘발성 메모리에 저장하여야 한다. The vehicle controller must continuously manage the diagnostic information defined in ISO14229-1, the vehicle diagnostic standard, throughout the life of the vehicle and store it in non-volatile memory every driving cycle.

하지만, EEPROM(Electrically Erasable PROM)과 같은 비휘발성 메모리는 지우기와 쓰기 동작을 수행할 때마다 물리적 손상을 입게 되기 때문에 횟수에 제한이 있으며 잦은 메모리 접근은 메모리의 수명을 단축시키게 된다. However, non-volatile memory such as EEPROM (Electrically Erasable PROM) is physically damaged every time erase and write operations are performed, so the number of times is limited, and frequent memory access shortens the lifespan of the memory.

따라서, 차량 제어기는 진단 정보를 저장할 시에 주기적으로 저장 동작을 수행하지 않고 키 오프를 통한 제어기 셧다운 동작 시에만 저장 동작을 수행하는 경우가 많다. Therefore, when storing diagnostic information, the vehicle controller often does not perform a save operation periodically, but only performs a save operation when the controller is shut down through a key off.

키 오프를 통한 제어기 셧다운 동작 시에만 진단 정보를 EEPROM 저장 동작을 수행하면 EEPROM의 수명을 최대한 길게 유지할 수 있다. 하지만, 정상적인 키 오프 동작이 아닌 외부적인 요인으로 제어기 공급 전원이 차단되는 경우, 해당 운전 주기의 진단 정보가 저장되지 않고 종료된다.If diagnostic information is stored in the EEPROM only when the controller is shut down through key off, the lifespan of the EEPROM can be maintained as long as possible. However, if the power supply to the controller is cut off due to an external factor other than a normal key-off operation, the diagnostic information for the corresponding operation cycle is not saved and is terminated.

따라서, 해당 운전 주기의 진단 정보가 전혀 저장되지 않으므로 차량 고장 코드(DTC: Diagnostic Trouble Code)의 업데이트가 무시되거나 여러 진단 카운터들이 업데이트되지 않아 차량 진단 정보가 왜곡될 수 있다.Therefore, since no diagnostic information for the corresponding driving cycle is stored, updates to the vehicle diagnostic trouble code (DTC) may be ignored or various diagnostic counters may not be updated, thereby distorting vehicle diagnostic information.

1. 대한민국 공개특허번호 제10-2020-0072906호1. Republic of Korea Patent No. 10-2020-0072906

본 발명은 위 배경기술에 따른 문제점을 해소하기 위해 제안된 것으로서, 예상치 못한 외부적 요인으로 제어기 전원에 장애가 발생할 경우, 비휘발성 메모리에 저장한 플래그를 비교하는 것을 통하여 전원 장애 여부를 진단할 수 있는 공급 전원 이상 진단 장치 및 이를 이용한 진단 정보 유효성 판단 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention was proposed to solve the problems caused by the above background technology, and when a power failure occurs in the controller due to unexpected external factors, the power failure can be diagnosed by comparing flags stored in non-volatile memory. The purpose is to provide a device for diagnosing power supply abnormalities and a method for determining the validity of diagnostic information using the same.

또한, 본 발명은 비휘발성 메모리에 저장된 정보의 유효성을 판별할 수 있는 공급 전원 이상 진단 장치 및 이를 이용한 진단 정보 유효성 판단 방법을 제공하는데 다른 목적이 있다.Another object of the present invention is to provide a power supply abnormality diagnostic device capable of determining the validity of information stored in a non-volatile memory and a method for determining the validity of diagnostic information using the same.

본 발명은 위에서 제시된 과제를 달성하기 위해, 예상치 못한 외부적 요인으로 제어기 전원에 장애가 발생할 경우, 비휘발성 메모리에 저장한 플래그를 비교하는 것을 통하여 전원 장애 여부를 진단할 수 있는 공급 전원 이상 진단 장치를 제공한다.In order to achieve the task presented above, the present invention provides a supply power failure diagnosis device that can diagnose power failure by comparing flags stored in non-volatile memory when a failure occurs in the controller power due to unexpected external factors. to provide.

상기 공급 전원 이상 진단 장치는,The device for diagnosing power supply abnormalities,

비휘발성 메모리; 및non-volatile memory; and

매 운전주기마다 진단을 수행하여 공급 전원이 차단되기 전에 상기 비휘발성 메모리에 진단 정보를 운전 주기 시그니처로 저장하고 상기 공급 전원이 다시 개시되면 저장된 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 운전주기에 따라 생성되는 현재의 운전 주기 시그니처를 비교하여, 비교결과에 따라 상기 진단정보의 유효성을 진단하는 MCU(Micro Control Unit);를 포함하는 것을 특징으로 한다.Diagnosis is performed every driving cycle, and the diagnostic information is stored as a driving cycle signature in the non-volatile memory before the supply power is cut off. When the supply power is restarted, the previous driving cycle signature stored and the current generated according to the driving cycle are generated. It is characterized in that it includes an MCU (Micro Control Unit) that compares the driving cycle signatures and diagnoses the validity of the diagnostic information according to the comparison result.

또한, 상기 장치는, 상기 공급 전원 이상을 감지하여 감지 신호를 상기 MCU에 전송하는 전력 관리 모듈;을 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the device is characterized by including a power management module that detects an abnormality in the supplied power and transmits a detection signal to the MCU.

또한, 상기 MCU는 상기 공급 전원 이상이 발생하기 전에 미리 외부 입력 인터럽트로 상기 진단 정보를 상기 비휘발성 메모리에 저장하는 것을 특징으로 한다.In addition, the MCU is characterized by storing the diagnostic information in the non-volatile memory through an external input interrupt in advance before the supply power failure occurs.

또한, 상기 MCU는 급격한 전원 장애 또는 쇼트로 인한 공급 전원 차단일 경우, 상기 비휘발성 메모리에 상기 진단 정보를 저장하는 저장 동작을 수행하기 전에 셧다운하는 것을 특징으로 한다.Additionally, in the event of a sudden power failure or short circuit, the MCU is shut down before performing a save operation to store the diagnostic information in the non-volatile memory.

또한, 상기 운전 주기 시그니처는 상기 진단 정보의 저장 시작을 나타내는 저장 시작 플래그, 상기 진단 정보의 저장 완료를 나타내는 중간 저장 완료 플래그 및 상기 진단 정보의 최종 저장 완료를 나타내는 최종 저장 완료 플래그 중 어느 하나인 것을 특징으로 한다.In addition, the driving cycle signature is one of a storage start flag indicating the start of storage of the diagnostic information, an intermediate storage completion flag indicating completion of storage of the diagnostic information, and a final storage completion flag indicating final storage completion of the diagnostic information. It is characterized by

또한, 상기 MCU는 상기 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 현재의 운전 주기 시그니처 중 플래그가 동일하면 상기 진단 정보를 신뢰 정보로 분류하는 것을 특징으로 한다.In addition, the MCU is characterized in classifying the diagnostic information as trust information if the flags of the previous driving cycle signature and the current driving cycle signature are the same.

또한, 상기 MCU는 상기 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 현재의 운전 주기 시그니처 중 동일하지 않은 플래그가 있다면 상기 진단 정보를 신뢰 불가 정보로 분류하는 것을 특징으로 한다.Additionally, the MCU is characterized in classifying the diagnostic information as unreliable information if there is a flag that is not the same between the previous driving cycle signature and the current driving cycle signature.

또한, 상기 MCU는 상기 신뢰 불가 정보로 분류된 상기 진단 정보가 공급 전원 관련 정보인지를 확인하여 상기 공급 전원 관련 정보로 상기 진단 정보를 업데이트하는 것을 특징으로 한다.In addition, the MCU is characterized in that it checks whether the diagnostic information classified as unreliable information is supply power-related information and updates the diagnostic information with the supply power-related information.

다른 한편으로, 본 발명의 다른 일실시예는, MCU(Micro Control Unit)가 매 운전주기마다 진단을 수행하여 공급 전원이 차단되기 전에 상기 비휘발성 메모리에 진단 정보를 운전 주기 시그니처로 저장하는 저장 단계; 상기 MCU가 상기 공급 전원이 다시 개시되면 저장된 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 운전주기에 따라 생성되는 현재의 운전 주기 시그니처를 비교하는 비교 단계; 및 상기 MCU가 상기 비교결과에 따라 상기 진단 정보의 유효성을 진단하는 유효성 진단 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 진단 정보 유효성 판단 방법을 제공한다.On the other hand, in another embodiment of the present invention, a storage step in which an MCU (Micro Control Unit) performs a diagnosis every driving cycle and stores the diagnostic information as a driving cycle signature in the non-volatile memory before the supply power is cut off. ; A comparison step in which the MCU compares a current driving cycle signature generated according to the driving cycle with a previous stored driving cycle signature when the supply power is restarted; and a validity diagnosis step in which the MCU diagnoses the validity of the diagnostic information according to the comparison result.

이때, 상기 방법은, 상기 저장 단계 이전에, 전력 관리 모듈이 상기 공급 전원 이상을 감지하여 감지 신호를 상기 MCU에 전송하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.At this time, the method may include, before the storage step, a power management module detecting an abnormality in the supplied power and transmitting a detection signal to the MCU.

또한, 상기 방법은, 상기 저장 단계 이전에, 상기 MCU가 상기 공급 전원 이상이 발생하기 전에 미리 외부 입력 인터럽트로 상기 진단 정보를 상기 비휘발성 메모리에 저장하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the method may include, before the storing step, the MCU storing the diagnostic information in the non-volatile memory through an external input interrupt in advance before the supply power failure occurs.

또한, 상기 방법은 상기 저장 단계 이전 내지 상기 유효성 진단 단계 중 하나에서, 상기 MCU가 급격한 전원 장애 또는 쇼트로 인한 공급 전원 차단일 경우, 상기 비휘발성 메모리에 상기 진단 정보를 저장하는 저장 동작을 수행하기 전에 셧다운하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the method performs a storage operation to store the diagnostic information in the non-volatile memory when the MCU is cut off from supply power due to a sudden power failure or short circuit before the storage step or in one of the validity diagnosis steps. Characterized in that it includes a step of shutting down before.

또한, 상기 유효성 진단 단계는, 상기 MCU가 상기 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 현재의 운전 주기 시그니처 중 플래그가 동일하면 상기 진단 정보를 신뢰 정보로 분류하는 분류 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the validity diagnosis step may include a classification step in which the MCU classifies the diagnostic information as trust information if the flags of the previous driving cycle signature and the current driving cycle signature are the same.

이때, 상기 분류 단계는, 상기 MCU가 상기 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 현재의 운전 주기 시그니처 중 동일하지 않은 플래그가 있다면 상기 진단 정보를 신뢰 불가 정보로 분류하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.At this time, the classification step may include, by the MCU, classifying the diagnostic information as unreliable information if there is a flag that is not the same among the previous driving cycle signature and the current driving cycle signature.

또한, 상기 분류 단계는, 상기 MCU가 상기 신뢰 불가 정보로 분류된 상기 진단 정보가 공급 전원 관련 정보인지를 확인하여 상기 공급 전원 관련 정보로 상기 진단 정보를 업데이트하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the classification step includes the step of the MCU checking whether the diagnostic information classified as unreliable information is supply power-related information and updating the diagnostic information with the supply power-related information. .

본 발명에 따르면, 전원 이상 관련 진단이 이전 주기에서 저장되지 않았을 시에 다음 운전 주기에서 오류로 인식하여 전원 관련 장애를 진단할 수 있고 관련 진단 정보를 업데이트할 수 있다.According to the present invention, when the power failure-related diagnosis is not stored in the previous cycle, it is recognized as an error in the next operation cycle, the power-related failure can be diagnosed, and the related diagnostic information can be updated.

또한, 본 발명의 다른 효과로서는 비정상적인 전원 장애 혹은 셧다운이 발생하였을 시에 진단 정보와 함께 저장된 플래그의 값을 확인함으로써 저장된 값의 유효성을 확인할 수 있다는 점을 들 수 있다.Additionally, another effect of the present invention is that when an abnormal power failure or shutdown occurs, the validity of the stored value can be confirmed by checking the value of the flag stored along with the diagnostic information.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 공급 전원 이상 진단 장치의 구성 블럭도이다.
도 2는 도 1에 도시된 MCU의 세부 구성 블럭도이다.
도 3은 도 1에 도시된 MCU(Micro Control Unit)으로의 외부 공급 전원상에 장애가 있는 상태를 보여주는 개념도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 운전 주기 시작시 업데이트 영역의 정보를 보여주는 도면이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 비휘발성 메모리의 저장 영역을 보여주는 개념도이다.
도 6은 공급 전원 이상에 따른 진단 정보를 저장하는 과정을 보여주는 흐름도이다.
도 7은 도 5에 따른 운전 주기 시작에 따른 자동 메커니즘을 보여주는 흐름도이다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 운전 주기 시작시 비휘발성 메모리의 저장 영역을 보여주는 예시이다.
도 9는 도 8에 따른 운전 주기 시작후 정상동작중 전원 장애 인터럽트 발생시 비휘발성 메모리의 저장 영역을 보여주는 예시이다.
도 10은 도 9에 따른 정상동작중 전운 장애 인터럽트 발생후 키온후 다음 운전주기 시작시 비휘발성 메모리의 저장 영역을 보여주는 예시이다.
1 is a block diagram of a device for diagnosing a supply power failure according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a detailed block diagram of the MCU shown in FIG. 1.
FIG. 3 is a conceptual diagram showing a state in which there is a failure in the external power supply to the MCU (Micro Control Unit) shown in FIG. 1.
Figure 4 is a diagram showing information in an update area at the start of a driving cycle according to an embodiment of the present invention.
Figure 5 is a conceptual diagram showing a storage area of a non-volatile memory according to an embodiment of the present invention.
Figure 6 is a flowchart showing the process of storing diagnostic information according to power supply abnormality.
Figure 7 is a flow chart showing the automatic mechanism following the start of the driving cycle according to Figure 5.
Figure 8 is an example showing a storage area of a non-volatile memory at the start of an operation cycle according to an embodiment of the present invention.
FIG. 9 is an example showing the storage area of the non-volatile memory when a power failure interrupt occurs during normal operation after the start of the operation cycle according to FIG. 8.
FIG. 10 is an example showing the storage area of the non-volatile memory at the start of the next operation cycle after turning on the power failure interrupt during normal operation according to FIG. 9.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 구체적으로 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야한다.Since the present invention can be modified in various ways and can have various embodiments, specific embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and should be understood to include all changes, equivalents, and substitutes included in the spirit and technical scope of the present invention.

각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용한다.When describing each drawing, similar reference numerals are used for similar components.

제 1, 제 2등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. Terms such as first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제 1 구성요소는 제 2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제 2 구성요소도 제 1 구성요소로 명명될 수 있다. "및/또는" 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.For example, a first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may be referred to as a first component without departing from the scope of the present invention. The term “and/or” includes any of a plurality of related stated items or a combination of a plurality of related stated items.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미가 있다. Unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as generally understood by a person of ordinary skill in the technical field to which the present invention pertains.

일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않아야 한다.Terms defined in commonly used dictionaries should be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the related technology, and unless clearly defined in the present application, should not be interpreted in an ideal or excessively formal sense. It shouldn't be.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 공급 전원 이상 진단 장치 및 이를 이용한 진단 정보 유효성 판단 방법을 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, with reference to the attached drawings, a device for diagnosing a power supply abnormality according to an embodiment of the present invention and a method for determining the validity of diagnostic information using the same will be described in detail.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 공급 전원 이상 진단 장치(100)의 구성 블럭도이다. 도 1을 참조하면, 공급 전원 이상 진단 장치(100)는 매 운전주기마다 진단을 수행하여 공급 전원이 차단되기 전에 비휘발성 메모리에 진단 정보를 저장하고 공급 전원이 다시 개시되면 저장된 진단 정보와 현재 진단 정보를 비교하여, 비교결과에 따라 공급 전원 이상을 진단하는 제어기(110) 및 진단 결과를 출력하는 진단 테스터(120) 등을 포함하여 구성될 수 있다.Figure 1 is a block diagram of a power supply abnormality diagnosis device 100 according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, the supply power failure diagnosis device 100 performs diagnosis at every operation cycle and stores diagnostic information in non-volatile memory before the supply power is cut off. When the supply power is restarted, the stored diagnostic information and the current diagnosis are stored. It may be configured to include a controller 110 that compares information and diagnoses a power supply abnormality according to the comparison result, and a diagnostic tester 120 that outputs a diagnosis result.

제어기(110)는 비휘발성 메모리(111), MCU(Micro Control Unit)(112) 등을 포함하여 구성될 수 있다. 비휘발성 메모리(111)는 EEPROM(Electrically erasable programmable read-only memory)이 주로 사용되나, 이에 한정되지는 않으며, SRAM(Static RAM), FRAM (Ferro-electric RAM), PRAM (Phase-change RAM), MRAM(Magnetic RAM) 등과 같은 비휘발성 메모리 및/또는 DRAM(Dynamic Random Access Memory), SDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory), DDR-SDRAM(Double Data Rate-SDRAM) 등도 사용될 수 있다.The controller 110 may include a non-volatile memory 111, a micro control unit (MCU) 112, and the like. The non-volatile memory 111 is mainly used as EEPROM (Electrically erasable programmable read-only memory), but is not limited to SRAM (Static RAM), FRAM (Ferro-electric RAM), PRAM (Phase-change RAM), Non-volatile memory such as MRAM (Magnetic RAM) and/or DRAM (Dynamic Random Access Memory), SDRAM (Synchronous Dynamic Random Access Memory), DDR-SDRAM (Double Data Rate-SDRAM), etc. may also be used.

MCU(112)는 마이콤, 마이크로프로세서 등이 될 수 있다. 따라서, MCU(112)는 비휘발성 메모리(111)에 진단 정보를 기록(write)하여 저장할 수도 있고, 비휘발성 메모리(111)로부터 저장된 진단 정보를 읽어 드릴 수도 있다.The MCU 112 may be a microcomputer, microprocessor, etc. Accordingly, the MCU 112 may write and store diagnostic information in the non-volatile memory 111 or read the stored diagnostic information from the non-volatile memory 111.

또한, MCU(112)는 통신을 통해 연결된 진단 테스터(120)에 진단 정보, 진단 결과를 등을 전송할 수 있다. 통신은 CAN 통신이 주로 이용될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, LIN(Local Interconnect Network), PLC(Power Line Communication), FlexRay, CP(Control Pilot), ZigBee, 및 블루투스 등이 될 수 있다.Additionally, the MCU 112 may transmit diagnostic information, diagnostic results, etc. to the diagnostic tester 120 connected through communication. CAN communication may be mainly used, but is not limited to this and may include LIN (Local Interconnect Network), PLC (Power Line Communication), FlexRay, CP (Control Pilot), ZigBee, and Bluetooth.

진단 테스터(120)는 ECU(Electronic Control Unit) 등과 같은 제어기(110)으로부터 생성되는 차량 고장 코드(DTC: Diagnostic Trouble Code)를 이용하여 진단 데이터를 생성하는 기능을 수행한다. The diagnostic tester 120 performs the function of generating diagnostic data using a vehicle trouble code (DTC: Diagnostic Trouble Code) generated by the controller 110, such as an Electronic Control Unit (ECU).

물론, 진단 데이터를 이용하여 알림 정보를 생성할 수도 있다. 일반적으로 차량 제조사가 자동차 전장 표준을 기반으로 ECU 등과 같은 제어기를 제작하고 있음으로, 소프트웨어 구조 또한 표준에 따라 적용될 수 있도록 구성되어 있다. 따라서, 진단통신, 진단 이벤트 처리 등이 가능하다. 전장 표준은 ISO14229, OBD(On Board Diagnostics) 표준등이 될 수 있다.Of course, notification information can also be generated using diagnostic data. In general, vehicle manufacturers produce controllers such as ECUs based on automotive electronics standards, and the software structure is also structured so that it can be applied according to the standards. Therefore, diagnostic communication, diagnostic event processing, etc. are possible. Electrical standards can be ISO14229, OBD (On Board Diagnostics) standards, etc.

도 2는 도 1에 도시된 MCU(112)의 세부 구성 블럭도이다. 도 2를 참조하면, MCU(112)는 진단 정보를 판독하는 판독부(210), 판독된 진단 정보와 현재 진단 정보를 비교하는 비교부(220), 비교 결과에 따라 공급 전원 이상을 판단하는 판단부(230) 등을 포함하여 구성될 수 있다.FIG. 2 is a detailed block diagram of the MCU 112 shown in FIG. 1. Referring to FIG. 2, the MCU 112 includes a reading unit 210 that reads diagnostic information, a comparator 220 that compares the read diagnostic information with the current diagnostic information, and a judgment device that determines an abnormality in the supplied power according to the comparison result. It may be configured to include a unit 230 and the like.

도 2에 도시된 판독부(210), 비교부(220), 및 판단부(230)는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 소프트웨어 및/또는 하드웨어로 구현될 수 있다. 하드웨어 구현에 있어, 상술한 기능을 수행하기 위해 디자인된 ASIC(application specific integrated circuit), DSP(digital signal processing), PLD(programmable logic device), FPGA(field programmable gate array), 프로세서, 마이크로프로세서, 다른 전자 유닛 또는 이들의 조합으로 구현될 수 있다. The reading unit 210, comparison unit 220, and determination unit 230 shown in FIG. 2 refer to units that process at least one function or operation, and may be implemented in software and/or hardware. In hardware implementation, an application specific integrated circuit (ASIC), digital signal processing (DSP), programmable logic device (PLD), field programmable gate array (FPGA), processor, microprocessor, and other devices designed to perform the above-described functions. It may be implemented as an electronic unit or a combination thereof.

소프트웨어 구현에 있어, 소프트웨어 구성 컴포넌트(요소), 객체 지향 소프트웨어 구성 컴포넌트, 클래스 구성 컴포넌트 및 작업 구성 컴포넌트, 프로세스, 기능, 속성, 절차, 서브 루틴, 프로그램 코드의 세그먼트, 드라이버, 펌웨어, 마이크로 코드 , 데이터, 데이터베이스, 데이터 구조, 테이블, 배열 및 변수를 포함할 수 있다. 소프트웨어, 데이터 등은 메모리에 저장될 수 있고, 프로세서에 의해 실행된다. 메모리나 프로세서는 당업자에게 잘 알려진 다양한 수단을 채용할 수 있다.In software implementation, software composition components (elements), object-oriented software composition components, class composition components and task composition components, processes, functions, properties, procedures, subroutines, segments of program code, drivers, firmware, microcode, and data. , databases, data structures, tables, arrays, and variables. Software, data, etc. can be stored in memory and executed by a processor. The memory or processor may employ various means well known to those skilled in the art.

도 3은 도 1에 도시된 MCU(Micro Control Unit)으로의 외부 공급 전원상에 장애가 있는 상태를 보여주는 개념도이다. 도 3을 참조하면, 전력 관리 모듈(310)은 필요한 공급 전원을 MCU(112)에 공급하며, 상기 공급 전원 이상을 감지하여 감지 신호를 전송하는 기능을 수행한다. 즉, 외부 전원 장애시 H/W(Hardware) 트리거 신호를 전송한다. 이를 위해, 전력 관리 모듈(310)은 전류 센서, 전압 센서, 레귤레이터, AC/DC(Alternating Current/Direct Current) 컨버터, DC/DC 컨버터, 마이크로프로세서, 메모리 등이 구성될 수 있다.FIG. 3 is a conceptual diagram showing a state in which there is a failure in the external power supply to the MCU (Micro Control Unit) shown in FIG. 1. Referring to FIG. 3, the power management module 310 supplies the necessary supply power to the MCU 112, detects an abnormality in the supply power, and transmits a detection signal. In other words, in the event of an external power failure, an H/W (Hardware) trigger signal is transmitted. To this end, the power management module 310 may include a current sensor, voltage sensor, regulator, AC/DC (Alternating Current/Direct Current) converter, DC/DC converter, microprocessor, memory, etc.

MCU(112)는 공급 전원에 이상이 생기기 전에 미리 외부 입력 인터럽트로 EEPROM 저장 동작을 수행할 수 있다. 물론, MCU(112)는 급격한 전원 장애 혹은 쇼트로 인한 공급 전원 차단일 경우 인터럽트 동작을 수행하기 전에 비휘발성 메모리(111)에 저장 동작을 수행하기 전에 셧다운 될 수도 있다The MCU 112 may perform an EEPROM storage operation using an external input interrupt in advance before a problem occurs in the supplied power. Of course, the MCU 112 may be shut down before performing the save operation to the non-volatile memory 111 before performing the interrupt operation in the event of a sudden power failure or short circuit.

도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 운전 주기 시작시 업데이트 영역의 정보를 보여주는 도면이다. 도 4를 참조하면, 운전주기 시작시 업데이트 영역에 해당하는 운전 주시 시그니처(400)이다. 이 운전 주기 시그니처(400)는 진단 정보를 저장할때 생성된다.Figure 4 is a diagram showing information in an update area at the start of a driving cycle according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 4, the driving attention signature 400 corresponds to the update area at the start of the driving cycle. This driving cycle signature 400 is generated when storing diagnostic information.

도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 비휘발성 메모리(111)의 저장 영역을 보여주는 개념도이다. 도 5를 참조하면, 운전 주기 종료후 진단정보의 비휘발성 메모리(111)의 저장 영역이다. 즉, 운전 주기 시그니처(400)를 아래와 같이 각 플래그(510,520,530,540)에 저장된다. Figure 5 is a conceptual diagram showing the storage area of the non-volatile memory 111 according to an embodiment of the present invention. Referring to Figure 5, this is the storage area of the non-volatile memory 111 of diagnostic information after the end of the driving cycle. That is, the driving cycle signature 400 is stored in each flag 510, 520, 530, and 540 as shown below.

즉, 상기 진단 정보의 저장 시작을 나타내는 저장 시작 플래그(510), 상기 진단 정보의 저장을 나타내는 중간 저장 완료 플래그(520,530) 및 상기 진단 정보의 최종 저장을 나타내는 최종 저장 완료 플래그(540) 등이 구성된다. That is, it includes a storage start flag 510 indicating the start of storage of the diagnostic information, intermediate storage completion flags 520 and 530 indicating storage of the diagnostic information, and a final storage completion flag 540 indicating final storage of the diagnostic information. do.

도 5를 참조하면, [A] 저장 시작 플래그에 따라 진단정보 #1이 저장되고, 진단정보#1이 저장완료되면, [B] 진단정보#1 저장완료 플래그가 생성되고, 진단정보#2가 저장되고, 진단정보#2가 저장완료되면, 다시 진단정보가 저정된다. 최종적으로 저장할 진단정보가 없으면, 최종 저장을 알리는 [C] 최종 저장 완료 플래그가 생성된다.Referring to FIG. 5, diagnostic information #1 is stored according to the [A] storage start flag, and when diagnostic information #1 is saved, [B] diagnostic information #1 storage complete flag is generated, and diagnostic information #2 is stored. It is saved, and when diagnostic information #2 is saved, the diagnostic information is saved again. If there is no diagnostic information to be finally saved, the [C] final save completion flag indicating final save is generated.

이 플래그를 통하여 도중에 전원이 셧다운되어 중단되더라도 어느 영역까지 저장이 완료되었는지 판별할 수 있다. 또한, 이전 주기에서 전원 장애, 비정상 셧다운 발생 여부를 알 수 있다.Through this flag, it is possible to determine which area has been saved even if the power is shut down in the middle of the operation. Additionally, it is possible to determine whether a power failure or abnormal shutdown occurred in the previous cycle.

도 6은 공급 전원 이상에 따른 진단 정보를 저장하는 과정을 보여주는 흐름도이다. 도 6을 참조하면, 공급 전원 이상 인터럽트가 발생하면, MCU(112)는 공급 전원 관련 진단 정보를 업데이트하고, 운전 주기 종료 절차를 시작한다(단계 S610,S620)Figure 6 is a flowchart showing the process of storing diagnostic information according to power supply abnormality. Referring to FIG. 6, when a power supply abnormality interrupt occurs, the MCU 112 updates diagnostic information related to the supply power and starts the operation cycle termination procedure (steps S610 and S620).

이후, MCU(112)는 진단 정보를 비휘발성 메모리(111)에 저장을 시작하고, 운전 주기 시그니처 [S]를 저장 시작 플래그 [A]로 하여 진단정보를 저장한다(단계 S630,S640).Afterwards, the MCU 112 starts storing the diagnostic information in the non-volatile memory 111 and stores the diagnostic information using the driving cycle signature [S] as the storage start flag [A] (steps S630 and S640).

이후, MCU(112)는 모든 진단정보가 저장완료되었는지를 확인한다(단계 S650). 즉, 진단정보가 계속 발생하는지를 확인한다.Afterwards, the MCU 112 checks whether all diagnostic information has been saved (step S650). In other words, check whether diagnostic information continues to be generated.

단계 S650에서, 확인결과, 모든 진단정보가 저장완료된 것으로 확인되면, MCU(112)는 운전 주기 시그니처 [S]를 [C] 최종 저장 완료 플래그로 저장하고 운전주기를 종료한다(단계 S660).In step S650, if it is determined that all diagnostic information has been saved, the MCU 112 stores the operation cycle signature [S] as the [C] final storage completion flag and ends the operation cycle (step S660).

이와 달리, 단계 S650에서, 확인결과, 모든 진단정보가 저장완료된 것으로 확인되지 않으면, 진단정보 저장을 진행하고, 운전 주기 시그니처 [S]를 저장 완료 플래그 [B]로 하여 저장하고, 단계 S650으로 진행된다(단계 S651,S653).On the other hand, in step S650, if it is not confirmed that all diagnostic information has been saved as a result of the confirmation, proceed to save the diagnostic information, save the operation cycle signature [S] as the storage completion flag [B], and proceed to step S650. (steps S651, S653).

도 7은 도 5에 따른 운전 주기 시작에 따른 자동 메커니즘을 보여주는 흐름도이다. 도 7을 참조하면, 차량의 키 온 혹은 해당 제어기의 운전 주기가 시작되면, MCU(112)는 비휘발성 메모리(111)로부터 운전 주기 시그니처, 이전 운전 주기 진단 정보를 읽어드린다(단계 S710,S720).Figure 7 is a flow chart showing the automatic mechanism following the start of the driving cycle according to Figure 5. Referring to FIG. 7, when the vehicle key is turned on or the driving cycle of the corresponding controller begins, the MCU 112 reads the driving cycle signature and previous driving cycle diagnosis information from the non-volatile memory 111 (steps S710 and S720). .

운전 주기 시그니처[S]가 최종 저장 완료 플래그[C]인지를 확인한다(단계 S730).Check whether the operation cycle signature [S] is the final storage completion flag [C] (step S730).

확인 결과, 단계 S730에서, 운전 주기 시그니처[S]가 최종 저장 완료 플래그[C]이면, 모든 진단 정보에 대한 신뢰가 가능하고, 운전 주기 시그니처의 변경을 업데이트하여 운전 주기 정상 동작을 시작한다(단계 S750,S760). 부연하면, 모든 진단 정보 저장 플래그가 기존 운전 주기 시그니처와 동일하다면 모든 진단 정보를 신뢰할 수 있다고 판단한다.As a result of confirmation, in step S730, if the driving cycle signature [S] is the last saved flag [C], all diagnostic information can be trusted, and the change in the driving cycle signature is updated to start the driving cycle normal operation (step S750,S760). In other words, if all diagnostic information storage flags are the same as the existing driving cycle signature, it is determined that all diagnostic information can be trusted.

이와 달리, 확인 결과, 단계 S730에서, 운전 주기 시그니처[S]가 최종 저장 완료 플래그[C]가 아니면, 각 진단 정보 영역 저장 완료 플래그[B]가 운전 주기 시그니처[S]인지를 확인한다(단계 S740). 즉, In contrast, as a result of the confirmation, in step S730, if the driving cycle signature [S] is not the final storage completion flag [C], it is checked whether each diagnostic information area storage completion flag [B] is the driving cycle signature [S] (step S740). in other words,

확인 결과, 단계 S740에서, 운전 주기 시그니처[S]가 최종 저장 완료 플래그[C]이면, 정상 진단 정보로 분류하고 운전 주기 시그니처를 변경하여 업데이트한다(단계 S741,S760).As a result of the confirmation, in step S740, if the driving cycle signature [S] is the final storage completion flag [C], it is classified as normal diagnosis information and the driving cycle signature is changed and updated (steps S741 and S760).

이와 달리, 확인 결과, 운전 주기 시그니처[S]가 최종 저장 완료 플래그[C]가 아니면, 신뢰 불가 정보로 분류하고, 이 진단 정보가 공급 전원 관련 정보인 지를 판단한다(단계 S743,S745).On the other hand, as a result of the confirmation, if the operation cycle signature [S] is not the final storage completion flag [C], it is classified as unreliable information, and it is determined whether this diagnostic information is information related to supply power (steps S743 and S745).

단계 S745에서, 판단결과, 신뢰 불가 진단 정보로 분류된 진단 정보가 전원 관련 정보로 판단되면, 이전 운전 주기 공급 전원 이상을 판단하여 진단 정보를 업데이트하고 비휘발성 메모리에 저장한다(단계 S747,S760).In step S745, as a result of the determination, if the diagnostic information classified as unreliable diagnostic information is determined to be power-related information, a power supply abnormality in the previous driving cycle is determined, the diagnostic information is updated, and stored in the non-volatile memory (steps S747, S760). .

부연하면, 이전 주기에서 전원 관련 장애가 있었고 전원 관련 진단 정보가 신뢰 불가로 판단된다면 이 단계에서 진단 정보를 업데이트 할 수 있다. 또한, 판단이 완료되면 새로운 운전 주기가 시작하므로 시그니처를 변경하여 비휘발성 메모리를 업데이트한다.In other words, if there was a power-related failure in the previous cycle and the power-related diagnostic information is determined to be unreliable, the diagnostic information can be updated at this stage. Additionally, when the judgment is completed, a new operation cycle begins, so the non-volatile memory is updated by changing the signature.

도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 운전 주기 시작시 비휘발성 메모리의 저장 영역을 보여주는 예시이다. 도 8을 참조하면, 운전 주기 시작이면 운전 주기 시그니처[S]는 값에 1이 추가 된다. 즉, S = 0x1111 + 1 => S = 0x1112이다.Figure 8 is an example showing a storage area of a non-volatile memory at the start of an operation cycle according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 8, when the driving cycle starts, 1 is added to the driving cycle signature [S] value. That is, S = 0x1111 + 1 => S = 0x1112.

도 9는 도 8에 따른 운전 주기 시작후 정상동작중 전원 장애 인터럽트 발생시 비휘발성 메모리의 저장 영역을 보여주는 예시이다. 도 9를 참조하면, 공급 전원 차단이 발생하고, 값의 증가가 진단정보#2 저장 완료 플래그에서 중단된다. 즉, 진단정보#2 저장 완료 플래그는 S = 0x1111으로 중지된다. 즉, 진단정보#2 저장 완료 플래그 및 최종 저장 완료 플래그도 값이 S = 0x1111로 유지된채 비휘발성 메모리에 저장된다.FIG. 9 is an example showing the storage area of the non-volatile memory when a power failure interrupt occurs during normal operation after the start of the operation cycle according to FIG. 8. Referring to FIG. 9, the supply power is cut off, and the increase in value stops at the diagnostic information #2 storage completion flag. In other words, the diagnostic information #2 storage completion flag is stopped at S = 0x1111. That is, the diagnostic information #2 storage completion flag and the final storage completion flag are also stored in the non-volatile memory with the value maintained at S = 0x1111.

도 10은 도 9에 따른 정상동작중 전운 장애 인터럽트 발생후 키온후 다음 운전주기 시작시 비휘발성 메모리의 저장 영역을 보여주는 예시이다. 도 10을 참조하면, 이전 주기 비정상 전원 차단으로 진단 & 플래그 값이 다른 진단 정보는 정확하지 않은 정보로 판단한다.FIG. 10 is an example showing the storage area of the non-volatile memory at the start of the next operation cycle after turning on the power failure interrupt during normal operation according to FIG. 9. Referring to FIG. 10, diagnostic information with different diagnosis & flag values due to an abnormal power cut in the previous cycle is determined to be inaccurate information.

또한, 여기에 개시된 실시형태들과 관련하여 설명된 방법 또는 알고리즘의 단계들은, 마이크로프로세서, 프로세서, CPU(Central Processing Unit) 등과 같은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 (명령) 코드, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. Additionally, the steps of the method or algorithm described in relation to the embodiments disclosed herein are implemented in the form of program instructions that can be executed through various computer means such as a microprocessor, processor, CPU (Central Processing Unit), etc., and are computer readable. Can be recorded on any available medium. The computer-readable medium may include program (instruction) codes, data files, data structures, etc., singly or in combination.

상기 매체에 기록되는 프로그램 (명령) 코드는 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프 등과 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD, 블루레이 등과 같은 광기록 매체(optical media) 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 (명령) 코드를 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 반도체 기억 소자가 포함될 수 있다. The program (instruction) code recorded on the medium may be specially designed and constructed for the present invention, or may be known and usable by those skilled in the art of computer software. Examples of computer-readable recording media include magnetic media such as hard disks, floppy disks, and magnetic tapes, optical media such as CD-ROM, DVD, and Blu-ray, and ROM and RAM. Semiconductor memory elements specially configured to store and execute program (instruction) code, such as RAM, flash memory, etc., may be included.

여기서, 프로그램 (명령) 코드의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.Here, examples of program (instruction) code include not only machine language code such as that created by a compiler, but also high-level language code that can be executed by a computer using an interpreter or the like. The hardware devices described above may be configured to operate as one or more software modules to perform the operations of the present invention, and vice versa.

100: 공급 전원 이상 진단 장치
110: 제어기
111: 비휘발성 메모리 112: MCU(Micro Control Unit)
120: 진단 테스터
210: 판독부 220: 비교부
230: 판단부
310: 전력 관리 모듈
100: Supply power failure diagnosis device
110: controller
111: Non-volatile memory 112: MCU (Micro Control Unit)
120: diagnostic tester
210: reading unit 220: comparison unit
230: Judgment unit
310: Power management module

Claims (16)

비휘발성 메모리; 및
매 운전주기마다 진단을 수행하여 공급 전원이 차단되기 전에 상기 비휘발성 메모리에 진단 정보를 운전 주기 시그니처로 저장하고 상기 공급 전원이 다시 개시되면 저장된 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 운전주기에 따라 생성되는 현재의 운전 주기 시그니처를 비교하여, 비교결과에 따라 상기 진단 정보의 유효성을 진단하는 MCU(Micro Control Unit);를 포함하며, 상기 운전 주기 시그니처는 상기 진단 정보의 저장 시작을 나타내는 저장 시작 플래그, 상기 진단 정보의 저장 완료를 나타내는 중간 저장 완료 플래그 및 상기 진단 정보의 최종 저장 완료를 나타내는 최종 저장 완료 플래그 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 공급 전원 이상 진단 장치.
non-volatile memory; and
Diagnosis is performed every driving cycle, and the diagnostic information is stored as a driving cycle signature in the non-volatile memory before the supply power is cut off. When the supply power is restarted, the previous driving cycle signature stored and the current generated according to the driving cycle are generated. An MCU (Micro Control Unit) that compares the driving cycle signature and diagnoses the validity of the diagnostic information according to the comparison result, wherein the driving cycle signature includes a storage start flag indicating the start of storage of the diagnostic information, and the diagnostic information. A supply power failure diagnosis device, characterized in that it is one of an intermediate storage completion flag indicating completion of storage of information and a final storage completion flag indicating completion of final storage of the diagnostic information.
제 1 항에 있어서,
상기 공급 전원 이상을 감지하여 감지 신호를 상기 MCU에 전송하는 전력 관리 모듈;을 포함하는 것을 특징으로 하는 공급 전원 이상 진단 장치.
According to claim 1,
A power management module that detects an abnormality in the supplied power and transmits a detection signal to the MCU.
제 1 항에 있어서,
상기 MCU는 상기 공급 전원 이상이 발생하기 전에 미리 외부 입력 인터럽트로 상기 진단 정보를 상기 비휘발성 메모리에 저장하는 것을 특징으로 하는 공급 전원 이상 진단 장치.
According to claim 1,
The MCU is a supply power failure diagnosis device characterized in that the diagnostic information is stored in the non-volatile memory in advance by an external input interrupt before the supply power failure occurs.
제 1 항에 있어서,
상기 MCU는 급격한 전원 장애 또는 쇼트로 인한 공급 전원 차단일 경우, 상기 비휘발성 메모리에 상기 진단 정보를 저장하는 저장 동작을 수행하기 전에 셧다운하는 것을 특징으로 하는 공급 전원 이상 진단 장치.
According to claim 1,
The MCU is a supply power failure diagnosis device characterized in that when the supply power is cut off due to a sudden power failure or short circuit, the MCU is shut down before performing a storage operation for storing the diagnostic information in the non-volatile memory.
삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 MCU는 상기 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 현재의 운전 주기 시그니처 중 플래그가 동일하면 상기 진단 정보를 신뢰 정보로 분류하는 것을 특징으로 하는 공급 전원 이상 진단 장치.
According to claim 1,
The MCU classifies the diagnostic information as trust information if the flags of the previous driving cycle signature and the current driving cycle signature are the same.
제 1 항에 있어서,
상기 MCU는 상기 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 현재의 운전 주기 시그니처 중 동일하지 않은 플래그가 있다면 상기 진단 정보를 신뢰 불가 정보로 분류하는 것을 특징으로 하는 공급 전원 이상 진단 장치.
According to claim 1,
The MCU classifies the diagnostic information as unreliable information if there is a flag that is not the same between the previous driving cycle signature and the current driving cycle signature.
제 7 항에 있어서,
상기 MCU는 상기 신뢰 불가 정보로 분류된 상기 진단 정보가 공급 전원 관련 정보인지를 확인하여 상기 공급 전원 관련 정보로 상기 진단 정보를 업데이트하는 것을 특징으로 하는 공급 전원 이상 진단 장치.
According to claim 7,
The MCU checks whether the diagnostic information classified as unreliable information is supply power-related information and updates the diagnostic information with the supply power-related information.
MCU(Micro Control Unit)가 매 운전주기마다 진단을 수행하여 공급 전원이 차단되기 전에 비휘발성 메모리에 진단 정보를 운전 주기 시그니처로 저장하는 저장 단계;
상기 MCU가 상기 공급 전원이 다시 개시되면 저장된 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 운전주기에 따라 생성되는 현재의 운전 주기 시그니처를 비교하는 비교 단계; 및
상기 MCU가 상기 비교결과에 따라 상기 진단 정보의 유효성을 진단하는 유효성 진단 단계;를 포함하며,
상기 운전 주기 시그니처는 상기 진단 정보의 저장 시작을 나타내는 저장 시작 플래그, 상기 진단 정보의 저장 완료를 나타내는 중간 저장 완료 플래그 및 상기 진단 정보의 최종 저장 완료를 나타내는 최종 저장 완료 플래그 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 진단 정보 유효성 판단 방법.
A storage step in which an MCU (Micro Control Unit) performs diagnosis at every operation cycle and stores the diagnosis information as an operation cycle signature in non-volatile memory before the supply power is cut off;
A comparison step in which the MCU compares a stored previous driving cycle signature with a current driving cycle signature generated according to the driving cycle when the supply power is restarted; and
A validity diagnosis step in which the MCU diagnoses the validity of the diagnostic information according to the comparison result,
The driving cycle signature is characterized in that it is one of a storage start flag indicating the start of storage of the diagnostic information, an intermediate storage completion flag indicating completion of storage of the diagnostic information, and a final storage completion flag indicating final storage completion of the diagnostic information. A method of determining the validity of diagnostic information.
제 9 항에 있어서,
상기 저장 단계 이전에, 전력 관리 모듈이 상기 공급 전원 이상을 감지하여 감지 신호를 상기 MCU에 전송하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 진단 정보 유효성 판단 방법.
According to clause 9,
Before the storage step, a power management module detects an abnormality in the supplied power and transmits a detection signal to the MCU.
제 9 항에 있어서,
상기 저장 단계 이전에, 상기 MCU가 상기 공급 전원 이상이 발생하기 전에 미리 외부 입력 인터럽트로 상기 진단 정보를 상기 비휘발성 메모리에 저장하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 진단 정보 유효성 판단 방법.
According to clause 9,
Before the storage step, the MCU stores the diagnostic information in the non-volatile memory through an external input interrupt in advance before the supply power failure occurs.
제 9 항에 있어서,
상기 저장 단계 이전 내지 상기 유효성 진단 단계 중 어느 하나에서, 상기 MCU가 급격한 전원 장애 또는 쇼트로 인한 공급 전원 차단일 경우, 상기 비휘발성 메모리에 상기 진단 정보를 저장하는 저장 동작을 수행하기 전에 셧다운하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 진단 정보 유효성 판단 방법.
According to clause 9,
In any one of the storage step or the validity diagnosis step, if the MCU is cut off from supply due to a sudden power failure or short circuit, shutting down before performing a storage operation to store the diagnostic information in the non-volatile memory. A method for determining the validity of diagnostic information, comprising:
삭제delete 제 9 항에 있어서,
상기 유효성 진단 단계는, 상기 MCU가 상기 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 현재의 운전 주기 시그니처 중 플래그가 동일하면 상기 진단 정보를 신뢰 정보로 분류하는 분류 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 진단 정보 유효성 판단 방법.
According to clause 9,
The validity diagnosis step includes a classification step in which the MCU classifies the diagnostic information as trust information if the flags of the previous driving cycle signature and the current driving cycle signature are the same. method.
제 14 항에 있어서,
상기 분류 단계는, 상기 MCU가 상기 이전의 운전 주기 시그니처와 상기 현재의 운전 주기 시그니처 중 동일하지 않은 플래그가 있다면 상기 진단 정보를 신뢰 불가 정보로 분류하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 진단 정보 유효성 판단 방법.
According to claim 14,
The classification step includes, by the MCU, classifying the diagnostic information as unreliable information if there is a flag that is not the same between the previous driving cycle signature and the current driving cycle signature. How to judge.
제 15 항에 있어서,
상기 분류 단계는, 상기 MCU가 상기 신뢰 불가 정보로 분류된 상기 진단 정보가 공급 전원 관련 정보인지를 확인하여 상기 공급 전원 관련 정보로 상기 진단 정보를 업데이트하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 진단 정보 유효성 판단 방법.
According to claim 15,
The classification step includes the MCU checking whether the diagnostic information classified as unreliable information is information related to supply power and updating the diagnostic information with the information related to supply power. How to determine effectiveness.
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