KR102613398B1 - Apparatus for inspecting optical film adhesion - Google Patents
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Abstract
본 발명은 광학 필름 접착 검사 장치에 관한 것으로, 특히, 백 라이트와 링 라이트를 광학 필름이 접착된 글라스에 동시에 조사하고, 카메라 촬영을 통해 광학 필름이 글라스 표면의 정위치에 접착되었는지 검사하는 광학 필름 접착 검사 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름 접착 검사 장치는, 상기 광학 필름이 부착된 글라스의 하부에서 상기 글라스를 향해 빛을 조사하는 백 라이트와, 상면에서 빛을 분산시키는 디퓨저를 갖는 백 라이트 유닛, 상기 백 라이트 유닛에서 발광된 빛이 통과하는 중앙 영역을 가지며, 내측면에는 소정 각도로 경사진 링 라이트가 결합한 링 라이트 유닛, 상기 백 라이트와 상기 링 라이트의 빛이 조사되는 상기 글라스와 광학 필름을 촬영하는 카메라, 및 상기 카메라에서 촬영된 상기 글라스와 광학 필름의 엣지 영역을 검출하여, 상기 광학 필름이 상기 글라스 내의 정위치에 접착되었는지 여부를 판단하는 검사 유닛을 포함한다.The present invention relates to an optical film adhesion inspection device, and in particular, an optical film that irradiates a back light and a ring light simultaneously to the glass to which the optical film is adhered and inspects whether the optical film is adhered to the correct position on the glass surface through camera photography. It relates to an adhesion inspection device. An optical film adhesion inspection device according to an embodiment of the present invention includes a backlight unit having a backlight that irradiates light toward the glass from the bottom of the glass to which the optical film is attached, and a diffuser that disperses the light on the upper surface; A ring light unit having a central area through which light emitted from the back light unit passes and a ring light inclined at a predetermined angle is combined on the inner side, and the glass and optical film through which light from the back light and the ring light are irradiated. It includes a camera that takes pictures, and an inspection unit that detects an edge area of the glass and the optical film photographed by the camera and determines whether the optical film is adhered to the correct position in the glass.
Description
본 발명은 광학 필름 접착 검사 장치에 관한 것으로, 특히, 백 라이트와 링 라이트를 광학 필름이 접착된 글라스에 동시에 조사하고, 카메라 촬영을 통해 광학 필름이 글라스의 정위치에 접착되었는지 검사하는 광학 필름 접착 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an optical film adhesion inspection device, and in particular, an optical film adhesion device that simultaneously irradiates a back light and a ring light to the glass to which the optical film is adhered and inspects whether the optical film is adhered to the correct position on the glass through camera photography. It concerns inspection devices.
글라스 표면에 광학 필름을 접착한 부품이 각종 전자 장치에 응용된다. 상기 부품을 대량 생산하면서, 불량품을 검출하기 위해 광학 필름이 정위치에 접착되었는지 검사를 실시해야 한다. Components made by attaching an optical film to a glass surface are used in various electronic devices. While mass producing the above components, it is necessary to inspect whether the optical film is adhered in the correct position to detect defective products.
검사를 위해, 종래에는 광학 필름이 접착된 글라스에 대해 상부에서 빛을 조사하면서, 광학 필름이 접착된 영역을 추출하여, 광학 필름이 정위치에 접착하였는지 여부를 검사하였다. For inspection, conventionally, light was radiated from the top to the glass to which the optical film was attached, the area where the optical film was attached was extracted, and it was inspected whether the optical film was attached in the correct position.
그러나, 글라스에 접착되는 광학 필름의 두께가 점차 얇아지고, 크기도 작아지면서, 기존의 조명 조건 하에서, 광학 필름이 접착된 영역을 추출하는데 한계가 있다. However, as the thickness of the optical film attached to the glass gradually becomes thinner and its size becomes smaller, there is a limit to extracting the area where the optical film is attached under existing lighting conditions.
따라서, 글라스 표면에 접착되는 광학 필름을 보다 정밀하게 검출하기 위한 방안에 대한 연구 개발의 필요성이 있다.Therefore, there is a need for research and development on methods for more precisely detecting optical films adhered to the glass surface.
본 발명은 상기한 사정을 감안하여 창출된 것으로서, 본 발명의 목적은 백 라이트와 링 라이트를 동시에 조사하여, 광학 필름이 접착된 글라스의 엣지 영역을 정밀하게 검출함으로써, 글라스 표면의 정위치에 광학 필름이 접착되었는지 여부를 검사할 수 있는 광학 필름 접착 검사 장치를 제공하는 것이다.The present invention was created in consideration of the above circumstances, and the purpose of the present invention is to simultaneously irradiate the back light and the ring light to precisely detect the edge area of the glass to which the optical film is attached, thereby positioning the optical device at the correct position on the glass surface. The object is to provide an optical film adhesion inspection device that can inspect whether the film is adhered.
본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름 접착 검사 장치는, 글라스 표면에 접착되는 광학 필름의 정위치를 검사하는 장치로서, 상기 광학 필름이 부착된 글라스의 하부에서 상기 글라스를 향해 빛을 조사하는 백 라이트와, 상면에서 빛을 분산시키는 디퓨저를 갖는 백 라이트 유닛, 상기 백 라이트 유닛에서 발광된 빛이 통과하는 중앙 영역을 가지며, 내측면에는 소정 각도로 경사진 링 라이트가 결합한 링 라이트 유닛, 상기 백 라이트와 상기 링 라이트의 빛이 조사되는 상기 글라스와 광학 필름을 촬영하는 카메라, 및 상기 카메라에서 촬영된 상기 글라스와 광학 필름의 엣지 영역을 검출하여, 상기 광학 필름이 상기 글라스 내의 정위치에 접착되었는지 여부를 판단하는 검사 유닛을 포함한다. An optical film adhesion inspection device according to an embodiment of the present invention is a device that inspects the correct position of an optical film adhered to a glass surface, and is a bag that irradiates light toward the glass from the bottom of the glass to which the optical film is attached. A back light unit having a light and a diffuser that disperses light on the upper surface, a ring light unit having a central area through which light emitted from the back light unit passes, and a ring light inclined at a predetermined angle on the inner surface, the back light unit, the bag A light and a camera for photographing the glass and optical film illuminated by the light of the ring light, and detecting the edge area of the glass and optical film photographed by the camera to determine whether the optical film is adhered in the correct position within the glass. Includes an inspection unit that determines whether or not
일 실시예에서, 상기 광학 필름의 소정 영역에는 특정 패턴이 형성되며, 상기 검사 유닛은 상기 특정 패턴의 위치를 검출하여, 상기 글라스의 중심을 지나는 기준선에 대해 상기 광학 필름이 회전한 각도를 산출할 수 있다. In one embodiment, a specific pattern is formed in a predetermined area of the optical film, and the inspection unit detects the position of the specific pattern and calculates a rotation angle of the optical film with respect to a reference line passing through the center of the glass. You can.
일 실시예에서, 상기 검사 유닛은, 상기 카메라를 통해 촬영된 상기 글라스의 중심에 대한 상기 광학 필름의 중심의 X축과 Y축에 대한 편차를 산출하고, 상기 X축 편차, 상기 Y축 편차 및 상기 광학 필름의 회전 각도가 미리 설정된 기준을 이탈하면, 상기 글라스 표면에 접착되는 광학 필름이 정위치를 벗어난 것으로 판단할 수 있다. In one embodiment, the inspection unit calculates a deviation of the center of the optical film from the center of the glass captured by the camera about the If the rotation angle of the optical film deviates from a preset standard, it may be determined that the optical film adhered to the glass surface is out of position.
일 실시예에서, 상기 백 라이트 유닛은, 상기 디퓨저의 표면에 배치되는 가림막을 구비하며, 상기 가림막의 외경 크기는 상기 광학 필름의 외경 크기 이상이며 상기 글라스의 외경 크기 이하가 되도록 구성될 수 있다.In one embodiment, the back light unit includes a screen disposed on the surface of the diffuser, and the screen may be configured to have an outer diameter greater than or equal to the outer diameter of the optical film and less than or equal to the outer diameter of the glass.
일 실시예에서, 상기 백 라이트 유닛을 구성하는 각각의 광원의 발광 각도는 20도 내지 40도이며, 상기 가림막의 외경 크기는 상기 광원의 발광 각도에 따라 가변될 수 있다.In one embodiment, the emission angle of each light source constituting the back light unit is 20 degrees to 40 degrees, and the outer diameter size of the screen may vary depending on the emission angle of the light source.
일 실시예에서, 상기 링 라이트 유닛은, 상기 링 라이트와 백 라이트로부터 조사되는 빛에 대해 소정 영역의 빛만 상기 카메라로 입사되도록 저부에 차단턱을 구비할 수 있다. In one embodiment, the ring light unit may be provided with a blocking ledge at the bottom so that only light from a predetermined area of the light emitted from the ring light and back light enters the camera.
일 실시예에서, 상기 백 라이트 유닛과 상기 링 라이트 유닛은 상기 글라스와 광학 필름을 향해 동시에 빛을 조사할 수 있다. In one embodiment, the back light unit and the ring light unit may simultaneously irradiate light toward the glass and the optical film.
일 실시예에서, 상기 광학 필름이 접착된 글라스는, 상기 백 라이트 유닛의 표면으로부터 수직 거리로 5mm 이하의 이격된 위치에서 검사가 실행될 수 있다. In one embodiment, the glass to which the optical film is attached may be inspected at a vertical distance of 5 mm or less from the surface of the back light unit.
일 실시예에서, 상기 검사 유닛은, 상기 카메라에서 촬영된 상기 글라스의 중심을 지나는 2 이상의 직경 크기를 산출하여, 상기 글라스의 불량 여부를 판단할 수 있다. In one embodiment, the inspection unit may determine whether the glass is defective by calculating two or more diameters passing through the center of the glass captured by the camera.
일 실시예에서, 상기 검사 유닛은, 상기 글라스의 외주와 상기 광학 필름의 제2 단부 간의 길이(L1), 상기 글라스의 외주와 상기 광학 필름의 제1 단부 간의 길이(L2), 기준선을 따라 제1 방향에서 상기 글라스의 외주와 상기 광학 필름의 외주 간의 길이(L3), 기준선을 따라 제2 방향에서 상기 글라스의 외주와 상기 광학 필름의 외주 간의 길이(L4), 상기 글라스의 중심과 상기 광학 필름의 제2 단부 간의 길이(L5), 또는 상기 글라스의 중심과 상기 광학 필름의 외주 간의 길이(L6) 중 하나 이상의 길이를 추가로 검사하여, 상기 광학 필름이 상기 글라스 표면의 정위치에 접착되었는지 여부를 판단할 수 있다.In one embodiment, the inspection unit includes a length (L1) between the outer periphery of the glass and the second end of the optical film, a length (L2) between the outer periphery of the glass and the first end of the optical film, and a A length (L3) between the outer periphery of the glass and the outer periphery of the optical film in one direction, a length (L4) between the outer periphery of the glass and the outer periphery of the optical film in a second direction along the reference line, and the center of the glass and the optical film. By additionally inspecting one or more of the length between the second ends of the glass (L5) or the length between the center of the glass and the outer periphery of the optical film (L6), whether the optical film is adhered to the correct position on the glass surface can be judged.
본 발명에 따른 광학 필름 접착 검사 장치는, 백 라이트와 링 라이트를 동시에 조사하여, 광학 필름이 접착된 글라스의 엣지 영역을 정밀하게 검출할 수 있는 효과가 있다. The optical film adhesion inspection device according to the present invention has the effect of being able to precisely detect the edge area of the glass to which the optical film is attached by simultaneously irradiating the back light and the ring light.
또한, 본 발명에 따른 광학 필름 접착 검사 장치는, 글라스 표면의 정위치에 광학 필름이 접착되었는지 여부를 신속, 정확하게 파악할 수 있으며, 글라스 자체의 불량 여부도 판단할 수 있는 효과가 있다.In addition, the optical film adhesion inspection device according to the present invention can quickly and accurately determine whether the optical film is adhered to the correct position on the glass surface, and can also determine whether the glass itself is defective.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름 접착 검사 장치의 구성을 도시한 도면이다.
도 2는 도 1의 백 라이트 유닛의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 3a 및 도 3b는 백 라이트 유닛의 동작 조건을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 도 1의 링 라이트 유닛의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 5a 및 도 5b는 광학 필름이 부착된 글라스를 도시하는 도면들이다.
도 6은 도 5a의 광학 필름이 부착된 글라스의 모식도이다.1 is a diagram showing the configuration of an optical film adhesion inspection device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram for explaining the configuration of the back light unit of FIG. 1.
3A and 3B are diagrams for explaining operating conditions of the back light unit.
FIG. 4 is a diagram for explaining the configuration of the ring light unit of FIG. 1.
FIGS. 5A and 5B are diagrams showing glass with an optical film attached thereto.
Figure 6 is a schematic diagram of the glass to which the optical film of Figure 5a is attached.
이하에서는, 본 발명의 일 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail through exemplary drawings. When adding reference numerals to components in each drawing, it should be noted that identical components are given the same reference numerals as much as possible even if they are shown in different drawings. Additionally, in describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description will be omitted.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 필름 접착 검사 장치의 구성을 도시한 도면이다.1 is a diagram showing the configuration of an optical film adhesion inspection device according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 본 발명의 광학 필름 접착 검사 장치(100)는 글라스(10) 표면에 접착되는 광학 필름(20)의 정위치를 검사하는 장치로서, 백 라이트 유닛(110), 링 라이트 유닛(120), 카메라(130) 및 검사 유닛(미도시)을 포함한다. Referring to Figure 1, the optical film adhesion inspection device 100 of the present invention is a device for inspecting the correct position of the optical film 20 adhered to the surface of the glass 10, and includes a back light unit 110 and a ring light unit. (120), including a camera 130 and an inspection unit (not shown).
백 라이트 유닛(110)은 광학 필름(20)이 부착된 글라스(10)의 하부에서 글라스(10)를 향해 빛을 조사하는 백 라이트(112)와, 상면에서 빛을 분산시키는 디퓨저(114)를 가질 수 있다.The back light unit 110 includes a back light 112 that irradiates light toward the glass 10 from the bottom of the glass 10 to which the optical film 20 is attached, and a diffuser 114 that disperses the light on the upper surface. You can have it.
링 라이트 유닛(120)은 백 라이트 유닛(110)에서 발광된 빛이 통과하는 중앙 영역(C)을 가지며, 내측면에는 소정 각도로 경사진 링 라이트(122)가 결합할 수 있다.The ring light unit 120 has a central area C through which light emitted from the back light unit 110 passes, and a ring light 122 inclined at a predetermined angle may be coupled to the inner surface.
카메라(130)는 백 라이트(112)와 링 라이트(122)의 빛이 조사되는 글라스(10)와 광학 필름(20)을 촬영할 수 있다. The camera 130 can photograph the glass 10 and the optical film 20 to which light from the back light 112 and the ring light 122 is irradiated.
검사 유닛은 카메라(130)에서 촬영된 글라스(10)와 광학 필름(20)의 엣지(edge) 영역을 검출하여, 광학 필름(20)이 글라스(10) 내의 정위치에 접착되었는지 여부를 판단할 수 있다. The inspection unit detects the edge area of the glass 10 and the optical film 20 photographed by the camera 130, and determines whether the optical film 20 is adhered to the correct position within the glass 10. You can.
검사 유닛은 카메라(130)와 일체로 형성될 수 있으며, 또는, 카메라(130)의 외부에서 카메라(130)로부터 전송되는 영상/이미지를 분석할 수 있다.The inspection unit may be formed integrally with the camera 130, or may analyze the video/image transmitted from the camera 130 from outside the camera 130.
도 2는 도 1의 백 라이트 유닛의 구성을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 2 is a diagram for explaining the configuration of the back light unit of FIG. 1.
도 2를 참조하면, 백 라이트 유닛(110)은 백 라이트(112), 디퓨저(114) 및 가림막(116)을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 2 , the back light unit 110 may include a back light 112, a diffuser 114, and a shield 116.
백 라이트(112)는 복수의 광원으로 이루어질 수 있으며, 각각의 광원의 발광 각도는 20도 내지 40도가 될 수 있으며, 반각(half angle)(θ1)은 10도 내지 20도가 될 수 있다. The backlight 112 may be comprised of a plurality of light sources, and the emission angle of each light source may be 20 to 40 degrees, and the half angle (θ1) may be 10 to 20 degrees.
반각(θ1)이 10도 보다 작게 되면, 디퓨저(114)에 의한 빛의 분산 효과가 떨어지며, 반각(θ1)이 20도 보다 크게 되면, 빛이 퍼지는 범위가 넓어져 관심 영역 이외의 빛이 카메라(130)로 입사될 수 있으므로, 반각(half angle)(θ1)은 10도 내지 20도가 바람직하다. If the half angle (θ1) is less than 10 degrees, the dispersion effect of light by the diffuser 114 decreases, and if the half angle (θ1) is larger than 20 degrees, the range in which the light spreads widens, so that light outside the area of interest is transmitted to the camera ( 130), the half angle (θ1) is preferably 10 to 20 degrees.
디퓨저(114)는 백 라이트(112)의 점 광원 또는 선 광원에서 나오는 직진성이 강한 빛을 면을 따라 확산시킬 수 있다. 이에 따라, 글라스(10)와 광학 필름(20)을 지나는 빛이 특정 영역에 집중되지 않고, 고르게 퍼지면서, 카메라(130)가 글라스(10)와 광학 필름(20)의 엣지 영역을 촬영할 수 있다.The diffuser 114 can diffuse light with strong linearity coming from a point light source or a line light source of the back light 112 along the surface. Accordingly, the light passing through the glass 10 and the optical film 20 is not concentrated in a specific area but is spread evenly, allowing the camera 130 to photograph the edge area of the glass 10 and the optical film 20. .
디퓨저(114)의 재질은, 예를 들어, PET, PC(Poly carbonate), PS 또는 PMMA가 될 수 있으며, 이에 제한되지 않는다. The material of the diffuser 114 may be, for example, PET, poly carbonate (PC), PS, or PMMA, but is not limited thereto.
백 라이트 유닛(110)은 디퓨저(114)의 표면에 배치되는 가림막(116)을 구비할 수 있으며, 가림막(116)의 직하에 있는 광원의 빛은 가림막(116)에 의해 차단되어 글라스(10)와 광학 필름(20)을 투과할 수 없다.The back light unit 110 may be provided with a screen 116 disposed on the surface of the diffuser 114, and the light from the light source directly below the screen 116 is blocked by the screen 116, thereby forming the glass 10. and cannot penetrate the optical film 20.
가림막(116)의 외경 크기는 광학 필름(20)의 외경 크기 이상이며 글라스(10)의 외경 크기 이하가 되도록 구성될 수 있다.The outer diameter of the shield 116 may be configured to be greater than or equal to the outer diameter of the optical film 20 and less than or equal to the outer diameter of the glass 10.
가림막(116)의 외경 크기가 너무 작으면, 글라스(10)의 중심을 지나는 빛의 양이 많아져서 글라스(10)의 중심 영역이 밝아지므로, 상대적으로 광학 필름(20)의 엣지 영역에 대한 식별력이 낮아질 수 있다. If the outer diameter of the screen 116 is too small, the amount of light passing through the center of the glass 10 increases and the central area of the glass 10 becomes bright, so the discrimination ability of the edge area of the optical film 20 is relatively poor. This may be lowered.
또한, 가림막(116)의 외경 크기가 너무 크면, 글라스(10)와 광학 필름(20)을 지나는 빛의 양이 적어져서, 글라스(10)와 광학 필름(20)의 엣지 영역이 어둡게 촬영되므로, 엣지 영역의 구분이 어려워질 수 있다. In addition, if the outer diameter of the shield 116 is too large, the amount of light passing through the glass 10 and the optical film 20 is reduced, so that the edge area of the glass 10 and the optical film 20 is photographed darkly. Distinguishing edge areas may become difficult.
일 실시예에서, 가림막(116)의 외경 크기는 백 라이트(112)를 구성하는 광원의 발광 각도에 따라 가변될 수 있다. In one embodiment, the outer diameter size of the shield 116 may vary depending on the light emission angle of the light source constituting the backlight 112.
광원의 발광 각도가 작다면, 상대적으로 가림막(116)의 외경 크기를 작게 구성할 수 있으며, 광원의 발광 각도가 크다면, 상대적으로 가림막(116)의 외경 크기를 크게 구성할 수 있다. If the light emission angle of the light source is small, the outer diameter of the shield 116 can be configured to be relatively small, and if the emission angle of the light source is large, the outer diameter of the shield 116 can be configured to be relatively large.
광학 필름(20)이 접착된 글라스(10)는, 백 라이트 유닛(110)의 표면으로부터 수직 거리(H)로 5mm 이하의 이격된 위치에서 검사가 실행될 수 있다. The glass 10 to which the optical film 20 is attached may be inspected at a position spaced apart from the surface of the back light unit 110 by a vertical distance (H) of 5 mm or less.
광학 필름(20)이 접착된 글라스(10)가 백 라이트 유닛(110)으로부터 멀어질 수록 글라스(10)의 중심 영역으로 빛이 투과하는 것을 차단하기 위한 가림막(116)의 효과가 떨어지므로, 백 라이트 유닛(110)의 표면으로부터 수직 거리(H)로 5mm 이하의 이격된 위치에서 검사가 실행되는 것이 바람직하다. As the glass 10 to which the optical film 20 is attached moves further away from the back light unit 110, the effectiveness of the shield 116 for blocking light from penetrating into the central area of the glass 10 decreases. It is preferable that the inspection is performed at a vertical distance (H) of 5 mm or less from the surface of the light unit 110.
다른 실시예에서, 가림막(116)을 배치하는 대신 가림막(116)의 배치되는 영역의 바로 아래에 있는 광원들을 제거하여 백 라이트(112)를 구성함으로써, 글라스(10)의 중심 영역을 투과하는 빛의 양을 감소시킬 수도 있다. In another embodiment, instead of arranging the screen 116, the backlight 112 is formed by removing the light sources immediately below the area where the screen 116 is placed, so that the light that passes through the central area of the glass 10 The amount may also be reduced.
도 3a 및 도 3b는 백 라이트 유닛의 동작 조건을 설명하기 위한 도면이다. 3A and 3B are diagrams for explaining operating conditions of the back light unit.
도 3a에서, 디퓨저(114)의 표면에는 가림막(116)이 배치되지 않으며, 백 라이트(112)로 인해 글라스(10)의 중심 영역이 밝게 촬영되어, 광학 필름(20)의 엣지 영역의 식별이 어려워진다. In FIG. 3A, the shield 116 is not disposed on the surface of the diffuser 114, and the central area of the glass 10 is brightly photographed due to the back light 112, making it possible to identify the edge area of the optical film 20. It gets difficult.
도 3b에서, 디퓨저(114)의 표면에는 가림막(116)이 배치되며, 백 라이트(112)로부터 글라스(10)의 중심 영역을 투과하는 빛의 양이 적어지므로, 글라스(10)의 중심 영역이 어둡게 촬영되어, 상대적으로, 광학 필름(20)의 엣지 영역의 식별이 쉬워진다. In Figure 3b, a shield 116 is disposed on the surface of the diffuser 114, and the amount of light passing through the central area of the glass 10 from the back light 112 is reduced, so the central area of the glass 10 is Because the image is taken darkly, identification of the edge area of the optical film 20 becomes relatively easy.
도 4는 도 1의 링 라이트 유닛의 구성을 설명하기 위한 도면이다. FIG. 4 is a diagram for explaining the configuration of the ring light unit of FIG. 1.
도 4를 참조하면, 링 라이트 유닛(120)은 내측면에 소정 각도(θ2)로 경사진 링 라이트(122)를 구비하며, 링 라이트(122)는 복수의 광원으로 이루어질 수 있다. Referring to FIG. 4, the ring light unit 120 includes a ring light 122 inclined at a predetermined angle θ2 on its inner surface, and the ring light 122 may be made of a plurality of light sources.
각각의 광원의 발광 각도는 20도 내지 40도가 될 수 있으며, 반각(half angle)(θ1)은 10도 내지 20도가 될 수 있다. The emission angle of each light source may be 20 to 40 degrees, and the half angle (θ1) may be 10 to 20 degrees.
글라스(10)에 접착된 광학 필름(20)의 두께, 형태, 크기 등에 따라 링 라이트(122)의 경사진 각도(θ2)는 설계 변경될 수 있다. The inclined angle θ2 of the ring light 122 may be changed depending on the thickness, shape, size, etc. of the optical film 20 attached to the glass 10.
링 라이트 유닛(110)은 저부에 차단턱(124)을 구비할 수 있으며, 링 라이트(122)와 백 라이트(112)로부터 조사되는 빛에 대해 소정 영역의 빛만 카메라(130)로 입사될 수 있다. The ring light unit 110 may be provided with a blocking ledge 124 at the bottom, and with respect to the light emitted from the ring light 122 and the back light 112, only light in a predetermined area may be incident on the camera 130. .
차단턱(124)으로 인해 촬영하고자 하는 관심 영역 이외의 영역에서 빛이 카메라(130)로 입사되는 것을 차단할 수 있으므로, 글라스(10)와 광학 필름(20)의 엣지 영역이 보다 정밀하게 촬영될 수 있다. Because the blocking ledge 124 can block light from entering the camera 130 in areas other than the area of interest to be captured, the edge areas of the glass 10 and the optical film 20 can be photographed more precisely. there is.
도 5a 및 도 5b는 광학 필름이 부착된 글라스를 도시하는 도면들이며, 도 6은 도 5a의 광학 필름이 부착된 글라스의 모식도이다. FIGS. 5A and 5B are diagrams showing glass with an optical film attached, and FIG. 6 is a schematic diagram of the glass with the optical film of FIG. 5A attached.
도 5a에서 글라스(10) 표면에 광학 필름(20)이 접착된다. In Figure 5a, the optical film 20 is adhered to the surface of the glass 10.
도 5b는 도 5a의 중앙부를 확대한 도면이며, 광학 필름(20)의 엣지 영역이 표시된다. 광학 필름(20)의 엣지 영역은 백 라이트 유닛(110)과 링 라이트 유닛(120)에서 동시에 조사된 빛에 의해 카메라(130)로 촬영될 수 있다. FIG. 5B is an enlarged view of the central portion of FIG. 5A, and the edge area of the optical film 20 is displayed. The edge area of the optical film 20 may be photographed by the camera 130 using light simultaneously emitted from the back light unit 110 and the ring light unit 120.
광학 필름(20)은 전체적으로 원형이며, 상부와 하부에 특정 패턴이 형성될 수 있다. 특정 패턴은 광학 필름(20)의 내측으로 형성된 제1 단부(22)와, 제1 단부(22)보다 더 내측에 형성된 제2 단부(24)를 포함할 수 있다. The optical film 20 has an overall circular shape, and specific patterns may be formed on the top and bottom. The specific pattern may include a first end 22 formed inside the optical film 20 and a second end 24 formed further inside the first end 22.
검사 유닛은 광학 필름(20)의 특정 패턴의 위치를 검출하여, 글라스(10)의 중심을 지나는 기준선(R1 또는 R2)에 대해 광학 필름(20)이 회전한 각도를 산출할 수 있다. The inspection unit may detect the position of a specific pattern on the optical film 20 and calculate the angle at which the optical film 20 is rotated with respect to the reference line (R1 or R2) passing through the center of the glass 10.
일 실시예에서, 검사 유닛은, 카메라(130)를 통해 촬영된 글라스(10)의 중심에 대한 광학 필름(20)의 중심의 X축과 Y축에 대한 편차를 산출하고, X축 편차, Y축 편차 및 광학 필름(20)의 회전 각도가 미리 설정된 기준을 이탈하면, 글라스(10) 표면에 접착되는 광학 필름(20)이 정위치를 벗어난 것으로 판단할 수 있다. In one embodiment, the inspection unit calculates a deviation about the X and Y axes of the center of the optical film 20 with respect to the center of the glass 10 captured through the camera 130, If the axis deviation and rotation angle of the optical film 20 deviate from a preset standard, it may be determined that the optical film 20 adhered to the surface of the glass 10 is out of position.
글라스(10) 표면의 정위치에 광학 필름(20)이 접착된 경우, 글라스(10)의 중심과 광학 필름(20)의 중심은 일치하나, 그렇지 않은 경우, X축과 Y축을 따라 중심의 편차가 발생한다. When the optical film 20 is attached to the surface of the glass 10 in a fixed position, the center of the glass 10 and the center of the optical film 20 coincide, but otherwise, there is a deviation of the center along the X and Y axes. occurs.
허용 가능한 X축 편차, Y축 편차 정보가 각각 미리 설정될 수 있으며, 글라스(10)의 중심으로부터 X축 편차와 Y축 편차가 조합된 정보가 미리 설정될 수도 있다. Allowable X-axis deviation and Y-axis deviation information may be set in advance, respectively, and information combining the X-axis deviation and Y-axis deviation from the center of the glass 10 may be preset.
또한, 글라스(10)의 중심을 지나는 기준선(R1 또는 R2)에 대해 허용 가능한 광학 필름(20)의 회전 각도가 미리 설정될 수 있으며, 상기 미리 설정된 X축 편차, Y축 편차 정보와 조합하여, 광학 필름(20)이 글라스(10) 표면의 정위치에 접착되었는지 여부를 판단할 수 있다. In addition, the allowable rotation angle of the optical film 20 with respect to the reference line (R1 or R2) passing through the center of the glass 10 may be preset, and in combination with the preset X-axis deviation and Y-axis deviation information, It can be determined whether the optical film 20 is adhered to the correct position on the surface of the glass 10.
일 실시예에서, 검사 유닛은, 카메라(130)에서 촬영된 글라스(10)의 중심을 지나는 2 이상의 직경 크기를 산출하여, 글라스(10)의 불량 여부를 판단할 수 있다. In one embodiment, the inspection unit may determine whether the glass 10 is defective by calculating a diameter size of two or more passing through the center of the glass 10 photographed by the camera 130.
글라스(10)는 원형이 될 수 있으며, 카메라(130)에서 촬영된 영상/이미지 분석을 통해 글라스(10)의 중심을 지나는 복수의 직경 크기를 산출하여, 특정 방향에서 직경 크기의 오차가 발생하면, 글라스(10) 자체가 불량인 것으로 판단할 수 있다. The glass 10 may be circular, and a plurality of diameter sizes passing through the center of the glass 10 are calculated through analysis of video/images captured by the camera 130. If an error in the diameter size occurs in a specific direction, , it can be determined that the glass 10 itself is defective.
일 실시예에서, 검사 유닛은, 글라스(10)의 외주와 광학 필름(20)의 제2 단부(24) 간의 길이(L1), 글라스(10)의 외주와 광학 필름(20)의 제1 단부(22) 간의 길이(L2), 기준선(R2)을 따라 제1 방향에서 글라스(10)의 외주와 광학 필름(20)의 외주 간의 길이(L3), 기준선(R2)을 따라 제2 방향에서 글라스(10)의 외주와 광학 필름(20)의 외주 간의 길이(L4), 글라스(10)의 중심과 광학 필름(20)의 제2 단부(24) 간의 길이(L5), 또는 글라스(10)의 중심과 광학 필름(20)의 외주 간의 길이(L6) 중 하나 이상의 길이를 추가로 검사하여, 광학 필름(20)이 글라스(10) 표면의 정위치에 접착되었는지 여부를 판단할 수 있다.In one embodiment, the inspection unit has a length L1 between the outer periphery of the glass 10 and the second end 24 of the optical film 20, the outer periphery of the glass 10 and the first end 24 of the optical film 20. (22) the length L2 between the outer periphery of the glass 10 and the outer periphery of the optical film 20 in the first direction along the reference line R2, the length L3 between the outer periphery of the optical film 20, the glass in the second direction along the reference line R2 The length (L4) between the outer periphery of (10) and the outer periphery of the optical film (20), the length (L5) between the center of the glass (10) and the second end (24) of the optical film (20), or the length (L5) of the glass (10) By additionally inspecting one or more of the lengths L6 between the center and the outer periphery of the optical film 20, it can be determined whether the optical film 20 is adhered to the correct position on the surface of the glass 10.
카메라(130)에서 촬영된 영상/이미지를 분석하여, 글라스(10)와 광학 필름(20) 간의 위치 관계에 관한 다양한 수치 정보를 조합하여, 광학 필름(20)의 접착 작업에 대한 불량 여부를 보다 정밀하게 파악할 수 있다. By analyzing the video/image captured by the camera 130, various numerical information regarding the positional relationship between the glass 10 and the optical film 20 are combined to determine whether the adhesion work of the optical film 20 is defective. It can be detected precisely.
이상에서 설명된 실시예들은 하드웨어 구성요소, 소프트웨어 구성요소, 및/또는 하드웨어 구성요소 및 소프트웨어 구성요소의 어셈블리로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치, 방법 및 구성요소는, 예를 들어, 프로세서, 컨트롤러, ALU(arithmetic logic unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로 컴퓨터, FPGA(field programmable gate array), PLU(programmable logic unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 상기 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 애플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 컨트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서 (parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.The embodiments described above may be implemented as hardware components, software components, and/or assemblies of hardware components and software components. For example, the devices, methods, and components described in the embodiments may include, for example, a processor, a controller, an arithmetic logic unit (ALU), a digital signal processor, a microcomputer, and a field programmable gate (FPGA). It may be implemented using one or more general-purpose or special-purpose computers, such as an array, programmable logic unit (PLU), microprocessor, or any other device capable of executing and responding to instructions. A processing device may execute an operating system (OS) and one or more software applications that run on the operating system. Additionally, a processing device may access, store, manipulate, process, and generate data in response to the execution of software. For ease of understanding, a single processing device may be described as being used; however, those skilled in the art will understand that a processing device includes multiple processing elements and/or multiple types of processing elements. It can be seen that it may include. For example, a processing device may include multiple processors or one processor and one controller. Additionally, other processing configurations, such as parallel processors, are possible.
지금까지 본 발명을 바람직한 실시 예를 참조하여 상세히 설명하였지만, 본 발명이 상기한 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 이하의 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 또는 수정이 가능한 범위까지 본 발명의 기술적 사상이 미친다 할 것이다.Although the present invention has been described in detail with reference to preferred embodiments so far, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and the technical field to which the present invention pertains without departing from the gist of the present invention as claimed in the following claims. Anyone skilled in the art will recognize that the technical idea of the present invention extends to the extent that various changes or modifications can be made.
10: 글라스 20: 광학 필름
22: 제1 단부 24: 제2 단부
100: 광학 필름 접착 검사 장치 110: 백 라이트 유닛
112: 백 라이트 114: 디퓨저
116: 가림막 120: 링 라이트 유닛
122: 링 라이트 124: 차단턱
130: 카메라10: Glass 20: Optical film
22: first end 24: second end
100: Optical film adhesion inspection device 110: Back light unit
112: back light 114: diffuser
116: Screen 120: Ring light unit
122: Ring light 124: Barrier
130: camera
Claims (10)
상기 광학 필름이 부착된 글라스의 하부에서 상기 글라스를 향해 빛을 조사하는 백 라이트와, 상면에서 빛을 분산시키는 디퓨저를 갖는 백 라이트 유닛;
상기 백 라이트 유닛에서 발광된 빛이 통과하는 중앙 영역을 가지며, 내측면에는 소정 각도로 경사진 링 라이트가 결합한 링 라이트 유닛;
상기 백 라이트와 상기 링 라이트의 빛이 조사되는 상기 글라스와 광학 필름을 촬영하는 카메라; 및
상기 카메라에서 촬영된 상기 글라스와 광학 필름의 엣지 영역을 검출하여, 상기 광학 필름이 상기 글라스 내의 정위치에 접착되었는지 여부를 판단하는 검사 유닛;을 포함하고,
상기 백 라이트 유닛은,
상기 디퓨저의 표면에 배치되는 가림막을 구비하며, 상기 가림막의 외경 크기는 상기 광학 필름의 외경 크기 이상이며 상기 글라스의 외경 크기 이하인, 광학 필름 접착 검사 장치.A device for inspecting the correct position of an optical film adhered to a glass surface,
a backlight unit having a backlight that irradiates light toward the glass from a lower portion of the glass to which the optical film is attached and a diffuser that disperses light on an upper surface;
a ring light unit having a central area through which light emitted from the back light unit passes and a ring light inclined at a predetermined angle coupled to an inner surface;
a camera that photographs the glass and optical film illuminated by light from the back light and the ring light; and
It includes an inspection unit that detects the edge area of the glass and the optical film photographed by the camera and determines whether the optical film is adhered to the correct position in the glass,
The back light unit is,
An optical film adhesion inspection device comprising a screen disposed on the surface of the diffuser, wherein the screen has an outer diameter greater than or equal to the outer diameter of the optical film and less than or equal to the outer diameter of the glass.
상기 광학 필름의 소정 영역에는 특정 패턴이 형성되며, 상기 검사 유닛은 상기 특정 패턴의 위치를 검출하여, 상기 글라스의 중심을 지나는 기준선에 대해 상기 광학 필름이 회전한 각도를 산출하는, 광학 필름 접착 검사 장치. According to paragraph 1,
A specific pattern is formed in a predetermined area of the optical film, and the inspection unit detects the position of the specific pattern and calculates a rotation angle of the optical film with respect to a reference line passing through the center of the glass. Device.
상기 검사 유닛은,
상기 카메라를 통해 촬영된 상기 글라스의 중심에 대한 상기 광학 필름의 중심의 X축과 Y축에 대한 편차를 산출하고, 상기 X축 편차, 상기 Y축 편차 및 상기 광학 필름의 회전 각도가 미리 설정된 기준을 이탈하면, 상기 글라스 표면에 접착되는 광학 필름이 정위치를 벗어난 것으로 판단하는, 광학 필름 접착 검사 장치. According to paragraph 2,
The inspection unit is,
Calculate the deviation of the X-axis and Y-axis of the center of the optical film with respect to the center of the glass photographed through the camera, and the X-axis deviation, the Y-axis deviation, and the rotation angle of the optical film are set to a preset standard. An optical film adhesion inspection device that determines that the optical film adhered to the glass surface is out of position.
상기 백 라이트 유닛을 구성하는 각각의 광원의 발광 각도는 20도 내지 40도이며, 상기 가림막의 외경 크기는 상기 광원의 발광 각도에 따라 가변하는, 광학 필름 접착 검사 장치. According to paragraph 1,
The light emission angle of each light source constituting the backlight unit is 20 to 40 degrees, and the outer diameter size of the screen varies depending on the light emission angle of the light source.
상기 링 라이트 유닛은,
상기 링 라이트와 백 라이트로부터 조사되는 빛에 대해 소정 영역의 빛만 상기 카메라로 입사되도록 저부에 차단턱을 구비하는, 광학 필름 접착 검사 장치.According to paragraph 1,
The ring light unit,
An optical film adhesion inspection device comprising a blocking ledge at the bottom so that only light from a predetermined area is incident on the camera with respect to the light emitted from the ring light and the back light.
상기 광학 필름이 부착된 글라스의 하부에서 상기 글라스를 향해 빛을 조사하는 백 라이트와, 상면에서 빛을 분산시키는 디퓨저를 갖는 백 라이트 유닛;
상기 백 라이트 유닛에서 발광된 빛이 통과하는 중앙 영역을 가지며, 내측면에는 소정 각도로 경사진 링 라이트가 결합한 링 라이트 유닛;
상기 백 라이트와 상기 링 라이트의 빛이 조사되는 상기 글라스와 광학 필름을 촬영하는 카메라; 및
상기 카메라에서 촬영된 상기 글라스와 광학 필름의 엣지 영역을 검출하여, 상기 광학 필름이 상기 글라스 내의 정위치에 접착되었는지 여부를 판단하는 검사 유닛;을 포함하고,
상기 백 라이트 유닛과 상기 링 라이트 유닛은 상기 글라스와 광학 필름을 향해 동시에 빛을 조사하는, 광학 필름 접착 검사 장치. A device for inspecting the correct position of an optical film adhered to a glass surface,
a backlight unit having a backlight that irradiates light toward the glass from a lower portion of the glass to which the optical film is attached and a diffuser that disperses light on an upper surface;
a ring light unit having a central area through which light emitted from the back light unit passes and a ring light inclined at a predetermined angle coupled to an inner surface;
a camera that photographs the glass and optical film illuminated by light from the back light and the ring light; and
It includes an inspection unit that detects the edge area of the glass and the optical film photographed by the camera and determines whether the optical film is adhered to the correct position in the glass,
The back light unit and the ring light unit simultaneously radiate light toward the glass and the optical film.
상기 광학 필름이 접착된 글라스는, 상기 백 라이트 유닛의 표면으로부터 수직 거리로 5mm 이하의 이격된 위치에서 검사가 실행되는, 광학 필름 접착 검사 장치.According to paragraph 1,
An optical film adhesion inspection device in which the glass to which the optical film is adhered is inspected at a vertical distance of 5 mm or less from the surface of the back light unit.
상기 광학 필름이 부착된 글라스의 하부에서 상기 글라스를 향해 빛을 조사하는 백 라이트와, 상면에서 빛을 분산시키는 디퓨저를 갖는 백 라이트 유닛;
상기 백 라이트 유닛에서 발광된 빛이 통과하는 중앙 영역을 가지며, 내측면에는 소정 각도로 경사진 링 라이트가 결합한 링 라이트 유닛;
상기 백 라이트와 상기 링 라이트의 빛이 조사되는 상기 글라스와 광학 필름을 촬영하는 카메라; 및
상기 카메라에서 촬영된 상기 글라스와 광학 필름의 엣지 영역을 검출하여, 상기 광학 필름이 상기 글라스 내의 정위치에 접착되었는지 여부를 판단하는 검사 유닛;을 포함하고,
상기 검사 유닛은,
상기 카메라에서 촬영된 상기 글라스의 중심을 지나는 2 이상의 직경 크기를 산출하여, 상기 글라스의 불량 여부를 판단하는, 광학 필름 접착 검사 장치.A device for inspecting the correct position of an optical film adhered to a glass surface,
a backlight unit having a backlight that irradiates light toward the glass from a lower portion of the glass to which the optical film is attached and a diffuser that disperses light on an upper surface;
a ring light unit having a central area through which light emitted from the back light unit passes and a ring light inclined at a predetermined angle coupled to an inner surface;
a camera that photographs the glass and optical film illuminated by light from the back light and the ring light; and
It includes an inspection unit that detects the edge area of the glass and the optical film photographed by the camera and determines whether the optical film is adhered to the correct position in the glass,
The inspection unit is,
An optical film adhesion inspection device that determines whether the glass is defective by calculating two or more diameters passing through the center of the glass photographed by the camera.
상기 검사 유닛은,
상기 글라스의 외주와 상기 광학 필름의 제2 단부 간의 길이(L1), 상기 글라스의 외주와 상기 광학 필름의 제1 단부 간의 길이(L2), 기준선을 따라 제1 방향에서 상기 글라스의 외주와 상기 광학 필름의 외주 간의 길이(L3), 기준선을 따라 제2 방향에서 상기 글라스의 외주와 상기 광학 필름의 외주 간의 길이(L4), 상기 글라스의 중심과 상기 광학 필름의 제2 단부 간의 길이(L5), 또는 상기 글라스의 중심과 상기 광학 필름의 외주 간의 길이(L6) 중 하나 이상의 길이를 추가로 검사하여, 상기 광학 필름이 상기 글라스 표면의 정위치에 접착되었는지 여부를 판단하는, 광학 필름 접착 검사 장치.According to paragraph 1,
The inspection unit is,
A length (L1) between the outer periphery of the glass and the second end of the optical film, a length (L2) between the outer periphery of the glass and the first end of the optical film, and the outer periphery of the glass and the optical film in a first direction along the reference line. A length between the outer periphery of the film (L3), a length between the outer periphery of the glass and the outer periphery of the optical film in a second direction along the reference line (L4), a length between the center of the glass and the second end of the optical film (L5), Or, an optical film adhesion inspection device that determines whether the optical film is adhered to the correct position on the glass surface by additionally inspecting one or more lengths (L6) between the center of the glass and the outer periphery of the optical film.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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|---|---|---|---|---|
| KR20080001543A (en) * | 2006-06-29 | 2008-01-03 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | Test apparatus for liquid crystal display panel |
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-
2022
- 2022-09-22 KR KR1020220119994A patent/KR102613398B1/en active IP Right Grant
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