KR102605535B1 - 3차원 물체 검출 방법, 장치, 전자 기기 및 판독 가능 저장 매체 - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 본 출원의 실시예에서 제공하는 3차원 물체 검출 방법의 흐름도이고;
도 2는 본 출원의 실시예에서 제공하는 물체 검출 프레임의 개략도이며;
도 3은 본 출원의 실시예에서 제공하는 3차원 물체 검출 방법의 흐름도이고;
도 4는 본 출원의 실시예에서 제공하는 3차원 물체 검출 방법의 흐름도이며;
도 5는 본 출원의 실시예에서 제공하는 3차원 물체 검출 방법의 흐름도이고;
도 6은 본 출원의 실시예에서 제공하는 3차원 물체 검출 장치의 구조 개략도이며;
도 7은 본 출원의 실시예의 3차원 물체 검출 방법을 구현하는 전자 기기의 블록도이다.
Claims (22)
- 3차원 물체 검출 방법에 있어서,
단안 카메라에 의해 수집된 타겟 물체 이미지에 따라, 타겟 물체의 2차원 이미지 파라미터 및 초기 3차원 이미지 파라미터를 결정하는 단계 - 상기 2차원 이미지 파라미터는 이미지 좌표계에서의 상기 타겟 물체의 2차원 검출 프레임의 파라미터를 가리키고, 상기 초기 3차원 이미지 파라미터는 이미지 좌표계에서의 상기 타겟 물체의 3차원 검출 프레임의 초기 파라미터를 가리킴 -;
3차원 파라미터 섭동 범위 및 상기 타겟 물체의 초기 3차원 이미지 파라미터에 따라, 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터를 결정하는 단계; 및
상기 2차원 이미지 파라미터에 따라, 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터에서 타겟 물체의 타겟 3차원 이미지 파라미터를 선택하고, 상기 타겟 3차원 이미지 파라미터에 따라, 상기 타겟 물체의 3차원 검출 결과를 결정하는 단계를 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제1항에 있어서,
상기 2차원 이미지 파라미터에 따라, 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터에서 타겟 물체의 타겟 3차원 이미지 파라미터를 선택하는 단계는,
물체 저면 정점의 직각 제약에 기반하여, 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터를 선별하는 단계; 및
물체 저면 정점에서 2차원 검출 프레임 사이의 거리 제약에 기반하여, 상기 2차원 이미지 파라미터에 따라, 직각 제약을 만족시키는 후보 3차원 이미지 파라미터에서 상기 타겟 3차원 이미지 파라미터를 선택하는 단계를 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제2항에 있어서,
상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터는 상기 3차원 검출 프레임 중의 후보 저면 정점의 이미지 위치이고;
상응하게, 물체 저면 정점의 직각 제약에 기반하여, 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터를 선별하는 단계는,
상기 후보 저면 정점의 이미지 위치를 지면 좌표계로 변환시켜 상기 후보 저면 정점의 지면 위치를 획득하는 단계; 및
상기 후보 저면 정점의 지면 위치에 따라, 물체 저면 정점의 직각 제약을 만족시키는 후보 저면 정점 그룹을 선택하는 단계를 포함하며;
상기 후보 저면 정점 그룹은 적어도 3개의 후보 저면 정점을 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제3항에 있어서,
상기 후보 저면 정점의 이미지 위치를 지면 좌표계로 변환시켜 상기 후보 저면 정점의 지면 위치를 획득하는 단계는,
카메라 내부 파라미터에 따라, 상기 후보 저면 정점의 이미지 위치를 카메라 좌표계로 변환시켜 상기 후보 저면 정점의 카메라 위치를 획득하는 단계; 및
카메라 좌표계와 지면 좌표계 사이의 변환 관계에 따라, 상기 후보 저면 정점의 카메라 위치를 지면 좌표계로 변환시켜 상기 후보 저면 정점의 지면 위치를 획득하는 단계를 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제3항에 있어서,
상기 후보 저면 정점의 지면 위치에 따라, 물체 저면 정점의 직각 제약을 만족시키는 후보 저면 정점 그룹을 선택하는 단계는,
상기 후보 저면 정점의 지면 위치에 따라, 상기 후보 저면 정점 그룹의 저면 정점의 협각을 결정하는 단계; 및
상기 후보 저면 정점 그룹의 저면 정점의 협각과 직각 사이의 차이값이 각도 역치보다 작을 경우, 상기 후보 저면 정점 그룹이 물체 저면 정점의 직각 제약을 만족시키는 것을 결정하는 단계를 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제5항에 있어서,
상기 초기 3차원 이미지 파라미터는 상기 타겟 물체의 3차원 검출 프레임 중의 초기 저면 정점의 이미지 위치이고;
상응하게, 상기 방법은,
상기 초기 저면 정점의 이미지 위치에 따라, 상기 초기 저면 정점의 깊이를 결정하는 단계; 및
상기 초기 저면 정점의 깊이에 따라, 상기 각도 역치를 결정하는 단계를 더 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제2항에 있어서,
상기 타겟 물체의 2차원 이미지 파라미터는 상기 타겟 물체의 2차원 검출 프레임의 이미지 경계이고; 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터는 상기 3차원 검출 프레임 중의 후보 저면 정점의 이미지 위치이며;
상응하게, 물체 저면 정점에서 2차원 검출 프레임 사이의 거리 제약에 기반하여, 상기 2차원 이미지 파라미터에 따라, 직각 제약을 만족시키는 후보 3차원 이미지 파라미터에서 상기 타겟 3차원 이미지 파라미터를 선택하는 단계는,
직각 제약을 만족시키는 매 하나의 후보 저면 정점 그룹 중의 후보 저면 정점의 이미지 위치와 상기 2차원 검출 프레임의 이미지 경계에 따라, 상기 후보 저면 정점 그룹에서 상기 2차원 검출 프레임까지의 거리를 결정하는 단계; 및
거리가 가장 짧은 후보 저면 정점 그룹을 타겟 저면 정점 그룹으로 하고, 상기 타겟 저면 정점 그룹 중의 타겟 저면 정점의 이미지 위치에 따라, 상기 타겟 3차원 이미지 파라미터를 결정하는 단계를 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제1항에 있어서,
3차원 파라미터 섭동 범위 및 상기 타겟 물체의 초기 3차원 이미지 파라미터에 따라, 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터를 결정하는 단계 이전에,
단안 카메라에 의해 수집된 샘플 물체 이미지에 따라, 샘플 물체의 초기 3차원 이미지 파라미터를 결정하는 단계; 및
상기 샘플 물체의 초기 3차원 이미지 파라미터 및 라벨 3차원 이미지 파라미터에 따라, 상기 3차원 파라미터 섭동 범위를 결정하는 단계를 더 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제1항에 있어서,
3차원 파라미터 섭동 범위 및 상기 타겟 물체의 초기 3차원 이미지 파라미터에 따라, 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터를 결정하는 단계는,
타겟 물체의 섭동 스텝 길이를 결정하는 단계; 및
상기 타겟 물체의 초기 3차원 이미지 파라미터, 상기 섭동 스텝 길이 및 상기 3차원 파라미터 섭동 범위에 따라, 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터를 결정하는 단계를 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제9항에 있어서,
상기 초기 3차원 이미지 파라미터는 상기 타겟 물체의 3차원 검출 프레임 중의 초기 저면 정점의 이미지 위치이고;
상응하게, 타겟 물체의 섭동 스텝 길이를 결정하는 단계는,
상기 초기 저면 정점의 이미지 위치에 따라, 상기 초기 저면 정점의 깊이를 결정하는 단계; 및
상기 초기 저면 정점의 깊이에 따라, 상기 타겟 물체의 섭동 스텝 길이를 결정하는 단계를 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제1항에 있어서,
단안 카메라에 의해 수집된 타겟 물체 이미지에 따라, 타겟 물체의 2차원 이미지 파라미터 및 초기 3차원 이미지 파라미터를 결정하는 단계는,
단안 카메라에 의해 수집된 타겟 물체 이미지를 이미지 검출 모델의 입력으로 하여 상기 타겟 물체의 2차원 이미지 파라미터 및 3차원 검출 파라미터를 획득하는 단계 - 상기 3차원 검출 파라미터는 상기 타겟 물체의 크기, 상기 타겟 물체의 중심점이 카메라 좌표계에서의 중심점 카메라 위치와 방향각을 포함함 -; 및
상기 3차원 검출 파라미터에 따라, 상기 타겟 물체의 3차원 검출 프레임이 이미지 좌표계에서의 정점 위치를 상기 초기 3차원 이미지 파라미터로 결정하는 단계를 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제11항에 있어서,
상기 3차원 검출 파라미터에 따라, 상기 타겟 물체의 3차원 검출 프레임이 이미지 좌표계에서의 정점 위치를 결정하는 단계는,
상기 중심점 카메라 위치 및 카메라 좌표계와 지면 좌표계 사이의 변환 관계에 따라, 지면 좌표계에서의 중심점 지면 위치를 결정하는 단계;
상기 타겟 물체의 크기에 따라, 상기 타겟 물체의 정점과 상기 중심점 사이의 상대적 위치를 결정하는 단계;
상기 타겟 물체의 회전 각도에 따라, 회전 행렬을 구축하는 단계; 및
상기 중심점 지면 위치, 상기 상대적 위치 및 상기 회전 행렬에 따라, 상기 타겟 물체의 3차원 검출 프레임이 이미지 좌표계에서의 정점 위치를 결정하는 단계를 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제4항에 있어서,
상기 방법은,
지면 방정식 및 카메라 좌표계 x축에서의 임의의 위치에 따라, 상기 카메라 좌표계와 지면 좌표계 사이의 변환 관계를 결정하는 단계를 더 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 제1항에 있어서,
상기 타겟 3차원 이미지 파라미터에 따라, 상기 타겟 물체의 3차원 검출 결과를 결정하는 단계는,
카메라 내부 파라미터에 따라, 상기 타겟 3차원 이미지 파라미터를 카메라 좌표계로 변환시켜 타겟 3차원 카메라 파라미터를 획득하여 상기 타겟 물체의 3차원 검출 결과로 하는 단계를 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 방법. - 3차원 물체 검출 장치에 있어서,
단안 카메라에 의해 수집된 타겟 물체 이미지에 따라, 타겟 물체의 2차원 이미지 파라미터 및 초기 3차원 이미지 파라미터를 결정하기 위한 초기 3차원 파라미터 모듈 - 상기 2차원 이미지 파라미터는 이미지 좌표계에서의 상기 타겟 물체의 2차원 검출 프레임의 파라미터를 가리키고, 상기 초기 3차원 이미지 파라미터는 이미지 좌표계에서의 상기 타겟 물체의 3차원 검출 프레임의 초기 파라미터를 가리킴 -;
3차원 파라미터 섭동 범위 및 상기 타겟 물체의 초기 3차원 이미지 파라미터에 따라, 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터를 결정하기 위한 후보 3차원 파라미터 모듈; 및
상기 2차원 이미지 파라미터에 따라, 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터에서 타겟 물체의 타겟 3차원 이미지 파라미터를 선택하고, 상기 타겟 3차원 이미지 파라미터에 따라, 상기 타겟 물체의 3차원 검출 결과를 결정하기 위한 3차원 최적화 모듈을 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 장치. - 제15항에 있어서,
상기 3차원 최적화 모듈은,
물체 저면 정점의 직각 제약에 기반하여, 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터를 선별하기 위한 직접 제약 선별 유닛; 및
물체 저면 정점에서 2차원 검출 프레임 사이의 거리 제약에 기반하여, 상기 2차원 이미지 파라미터에 따라, 직각 제약을 만족시키는 후보 3차원 이미지 파라미터에서 상기 타겟 3차원 이미지 파라미터를 선택하기 위한 거리 제약 선별 유닛을 포함하는 것을
특징으로 하는 3차원 물체 검출 장치. - 제16항에 있어서,
상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터는 상기 3차원 검출 프레임 중의 후보 저면 정점의 이미지 위치이고;
상응하게, 상기 직접 제약 선별 유닛은,
상기 후보 저면 정점의 이미지 위치를 지면 좌표계로 변환시켜 상기 후보 저면 정점의 지면 위치를 획득하기 위한 지면 위치 서브 유닛; 및
상기 후보 저면 정점의 지면 위치에 따라, 물체 저면 정점의 직각 제약을 만족시키는 후보 저면 정점 그룹을 선택하기 위한 직접 제약 선별 서브 유닛을 포함하고; 상기 후보 저면 정점 그룹은 적어도 3개의 후보 저면 정점을 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 장치. - 제16항에 있어서,
상기 타겟 물체의 2차원 이미지 파라미터는 상기 타겟 물체의 2차원 검출 프레임의 이미지 경계이고; 상기 타겟 물체의 후보 3차원 이미지 파라미터는 상기 3차원 검출 프레임 중의 후보 저면 정점의 이미지 위치이며;
상응하게, 상기 거리 제약 선별 유닛은,
직각 제약을 만족시키는 매 하나의 후보 저면 정점 그룹 중의 후보 저면 정점의 이미지 위치와 상기 2차원 검출 프레임의 이미지 경계에 따라, 상기 후보 저면 정점 그룹에서 상기 2차원 검출 프레임까지의 거리를 결정하기 위한 거리 결정 서브 유닛; 및
거리가 가장 짧은 후보 저면 정점 그룹을 타겟 저면 정점 그룹으로 하고, 상기 타겟 저면 정점 그룹 중의 타겟 저면 정점의 이미지 위치에 따라, 상기 타겟 3차원 이미지 파라미터를 결정하기 위한 거리 제약 서브 유닛을 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 장치. - 제15항에 있어서,
상기 장치는 섭동 범위 모듈을 더 포함하고, 상기 섭동 범위 모듈은 구체적으로,
단안 카메라에 의해 수집된 샘플 물체 이미지에 따라, 샘플 물체의 초기 3차원 이미지 파라미터를 결정하기 위한 샘플 초기 파라미터 유닛; 및
상기 샘플 물체의 초기 3차원 이미지 파라미터 및 라벨 3차원 이미지 파라미터에 따라, 상기 3차원 파라미터 섭동 범위를 결정하기 위한 섭동 범위 유닛을 포함하는
것을 특징으로 하는 3차원 물체 검출 장치. - 전자 기기에 있어서,
적어도 하나의 프로세서; 및
상기 적어도 하나의 프로세서와 통신 가능하게 연결되는 메모리를 포함하되;
상기 메모리에는 상기 적어도 하나의 프로세서에 의해 실행 가능한 명령이 저장되어 있고, 상기 명령이 상기 적어도 하나의 프로세서에 의해 실행되어, 상기 적어도 하나의 프로세서에 의해 제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 따른 방법이 수행되도록 하는
것을 특징으로 하는 전자 기기. - 컴퓨터 명령이 저장되어 있는 비일시적 컴퓨터 판독 가능 저장 매체에 있어서,
상기 컴퓨터 명령은 컴퓨터로 하여금 제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 따른 방법을 수행하도록 하는
것을 특징으로 하는 컴퓨터 명령이 저장되어 있는 비일시적 컴퓨터 판독 가능 저장 매체. - 컴퓨터 판독 가능 저장 매체에 저장되어 있는 컴퓨터 프로그램에 있어서,
상기 컴퓨터 프로그램중의 명령이 실행될 경우, 제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 따른 방법이 실행되는,
것을 특징으로 하는 컴퓨터 판독 가능 저장 매체에 저장되어 있는 컴퓨터 프로그램.
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