KR102601828B1 - 유기 발광 표시 장치 및 그 동작 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 다수의 게이트 라인, 다수의 데이터 라인, 및 다수의 센싱 라인의 교차 영역에 형성된 다수의 화소를 포함하는 표시 패널, 상기 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동부, 상기 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동부 및 상기 게이트 구동부 및 상기 데이터 구동부 중 적어도 하나를 제어하는 제어 신호를 생성하는 타이밍 제어부를 포함하고, 상기 데이터 구동부는, 제1 센싱 모드시 상기 다수의 데이터 라인으로 제1 센싱 데이터 전압을 공급하는 데이터 전압 생성부; 및 상기 다수의 센싱 라인을 통해 상기 제1 센싱 데이터 전압에 의한 피드백 데이터를 수신하고, 상기 표시 패널 내의 커팅 영역에 대한 보상 데이터를 생성하는 보상 데이터 생성부를 포함하고, 상기 보상 데이터 생성부는 상기 타이밍 제어부로 상기 보상 데이터를 전달하는 유기 발광 표시 장치 및 그 구동 방법에 관한 것이다.

Description

유기 발광 표시 장치 및 그 동작 방법{ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE DISPLAY AND METHOD FOR DRIVING THE SAME}

본 발명은 유기 발광 표시 장치 및 그 동작 방법에 관한 것이다.

최근, 표시 장치는 멀티미디어의 발달과 함께 그 중요성이 증대되고 있다. 이에 부응하여 액정 표시 장치, 플라즈마 표시 장치, 유기 발광 표시 장치 등의 표시 장치가 상용화되고 있다. 이러한, 표기 장치 중에서 유기 발광 표시 장치는 고속의 응답 속도를 가지며, 소비 전력이 낮고, 자체 발광이므로 시야각에 문제가 없어 차세대 표시 장치로 주목받고 있다.

일반적인 유기 발광 표시 장치는 트랜지스터, 커패시터 및 유기 발광 소자를 포함하는 화소들을 포함한다. 최근에는 사용자의 편의성을 위하여 유기 발광 표시 장치의 화질 특성 향상이 요구되고 있다. 또한, 최근에는 종래의 사각형의 형상에서 벗어난 다양한 형상을 갖는 표시 영역을 포함하는 유기 발광 표시 장치가 개발되고 있으며, 이러한 표시 영역에서의 형상의 변화는 유기 발광 표시 장치의 화질 특성에 특히 영향을 미칠 수 있다.

따라서, 이형 유기 발광 표시 장치에서 균일한 화질을 구현하기 위해 이형 영역에서의 센싱 데이터를 보정함으로써, 휘도의 균일성을 향상시킬 수 있는 유기 발광 표시 장치 및 그의 동작 방법이 요구된다.

본 발명의 다양한 실시 예들은 이형 표시 장치에서 발생하는 센싱 오차를 보정하고, 이를 통해 화질 저하를 최소화할 수 있는 유기 발광 표시 장치 및 그 동작 방법에 대해 개시한다.

또한, 본 발명의 다양한 실시 예들은 표시 장치의 각 화소로부터 센싱되는 트랜지스터 또는 커패시터의 특성 변화를 입력 데이터에 반영하고, 이에 대해 주기적 또는 실시간으로 보상함으로써, 표시 장치의 휘도의 균일도를 향상시킬 수 있는 유기 발광 표시 장치 및 그 동작 방법에 대해 개시한다.

본 문서에서 이루고자 하는 기술적 과제는 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

일 실시 예에 따른 유기 발광 표시 장치는, 다수의 게이트 라인, 다수의 데이터 라인, 및 다수의 센싱 라인의 교차 영역에 형성된 다수의 화소를 포함하는 표시 패널; 상기 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동부; 상기 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동부; 및 상기 게이트 구동부 및 상기 데이터 구동부 중 적어도 하나를 제어하는 제어 신호를 생성하는 타이밍 제어부를 포함하고, 상기 데이터 구동부는, 제1 센싱 모드시 상기 다수의 데이터 라인으로 제1 센싱 데이터 전압을 공급하는 데이터 전압 생성부; 및 상기 다수의 센싱 라인을 통해 상기 제1 센싱 데이터 전압에 의한 피드백 데이터를 수신하고, 상기 표시 패널 내의 커팅 영역에 대한 보상 데이터를 생성하는 보상 데이터 생성부를 포함하고, 상기 보상 데이터 생성부는 상기 타이밍 제어부로 상기 보상 데이터를 전달할 수 있다.

상기 보상 데이터 생성부는, 상기 제1 센싱 모드 이후의 제2 센싱 모드시, 상기 커팅 영역 내의 화소별 데이터 라인으로 제2 센싱 데이터 전압을 공급하도록 상기 보상 데이터를 생성할 수 있다.

상기 제2 센싱 데이터 전압은 상기 제1 센싱 데이터 전압보다 낮은 전압 레벨로 형성될 수 있다.

상기 제2 센싱 데이터 전압을 공급하는 시간은 상기 제1 센싱 데이터 전압을 공급하는 시간보다 짧게 형성될 수 있다.

상기 보상 데이터 생성부는, 상기 피드백 데이터에서 특정 시점에 상기 커팅 영역 내의 화소별 센싱 라인으로 인가되는 피드백 전압을 추출하고, 이를 기초로 보상 데이터를 생성할 수 있다.

상기 보상 데이터 생성부는, 상기 피드백 데이터에서 상기 커팅 영역 내의 화소별 센싱 라인에 인가되는 피드백 전압과 기설정된 피드백 전압 간의 차이값을 산출하고, 상기 커팅 영역 내의 화소별 데이터 라인으로 상기 차이값을 반영한 데이터 전압을 공급하도록 상기 보상 데이터를 생성할 수 있다.

상기 기설정된 피드백 전압은 상기 표시 패널 내의 정상 영역에서의 화소별 센싱 라인에 인가되는 피드백 전압과 동일한 전압 레벨인 것을 특징으로 할 수 있다.

상기 커팅 영역 내에 포함된 각 화소는 수직 방향으로 동일한 데이터 라인 또는 동일한 센싱 라인을 통해 연결될 수 있다.

상기 커팅 영역은 상기 표시 패널에서 이형 변을 갖는 영역을 포함할 수 있다.

상기 이형 변은 상기 표시 패널의 가장자리를 소정의 형태로 커팅하여 형성될 수 있다.

일 실시 예에 따른 표시 장치의 동작 방법은, 표시 패널에 정의된 다수의 화소에 대하여, 다수의 데이터 라인을 통해 제1 센싱 데이터 전압을 공급하는 동작; 다수의 센싱 라인을 통해 상기 제1 센싱 데이터 전압에 의한 피드백 데이터를 수신하는 동작; 상기 피드백 데이터를 기초로 상기 표시 패널을 정상 영역 및 커팅 영역으로 분류하고, 상기 커팅 영역에 대한 보상 데이터를 생성하는 동작; 및 상기 보상 데이터를 기초로 센싱 모드시 상기 커팅 영역 내의 화소별 데이터 라인으로 제2 센싱 데이터 전압을 공급하는 동작을 포함한다.

상기 제2 센싱 데이터 전압은 상기 제1 센싱 데이터 전압보다 낮은 전압 레벨로 형성된다.

상기 제2 센싱 데이터 전압을 공급하는 시간은 상기 제1 센싱 데이터 전압을 공급하는 시간보다 짧게 형성된다.

상기 보상 데이터를 생성하는 동작은, 상기 피드백 데이터에서 특정 시점에 상기 커팅 영역 내의 화소별 센싱 라인으로 인가되는 피드백 전압을 추출하는 동작; 및 상기 추출된 피드백 전압을 기초로 상기 보상 데이터를 생성하는 동작을 포함한다.

상기 보상 데이터를 생성하는 동작은, 상기 피드백 데이터에서 상기 커팅 영역 내의 화소별 센싱 라인에 인가되는 피드백 전압과 기설정된 피드백 전압 간의 차이값을 산출하는 동작; 상기 산출된 차이값을 기초로 상기 보상 데이터를 생성하는 동작을 포함한다.

상기 기설정된 피드백 전압은 상기 표시 패널 내의 정상 영역에서의 화소별 센싱 라인에 인가되는 피드백 전압과 동일한 전압 레벨인 것을 특징으로 한다.

상기 커팅 영역은 상기 표시 패널에서 이형 변을 갖는 영역을 포함한다.

상기 이형 변은 상기 표시 패널의 가장자리를 소정의 형태로 커팅하여 형성되는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 다양한 실시 예들에 따른 유기 발광 표시 장치 및 그 동작 방법은 이형 표시 장치에서 발생하는 센싱 오차를 보정하고, 이를 통해 화질 저하를 최소화할 수 있다.

또한, 본 발명의 다양한 실시 예들에 따른 유기 발광 표시 장치 및 그 동작 방법은 표시 장치의 각 화소로부터 센싱되는 트랜지스터 또는 커패시터의 특성 변화를 입력 데이터에 반영하고, 이에 대해 주기적 또는 실시간으로 보상함으로써, 표시 장치의 휘도의 균일도를 향상시킬 수 있다.

본 발명에서 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

도 1은 일 실시 예에 따른 유기 발광 표시 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시된 화소의 일 실시 예를 나타낸 회로도이다.
도 3은 도 1에 도시된 유기 발광 표시 장치의 일 실시 예에 따른 사시도이다.
도 4는 도 1에 도시된 유기 발광 표시 장치의 일 실시 예에 따른 전면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 유기 발광 표시 장치의 제1 센싱 모드시 구동 파형을 나타내는 파형도이다.
도 6은 도 1에 도시된 데이터 구동부를 설명하기 위한 블록도이다.
도 7 및 도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 유기 발광 표시 장치에 있어서, 제2 센싱 모드시 보상 데이터(Dsen)에 의한 구동 파형을 나타내는 파형도이다.
도 9 및 도 10은 본 발명의 일 실시 예에 따른 유기 발광 표시 장치에 있어서, 센싱 모드에서 보상 데이터(Dsen)을 생성하기 위한 구동 파형을 나타내는 파형도이다.

이하, 도면을 참조하여 다양한 실시 예들을 설명한다. 본 명세서에서, 어떤 구성 요소(또는 영역, 층, 부분 등)가 다른 구성 요소 "상에 있다.", "연결된다.", 또는 "결합된다."고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성 요소 상에 직접 연결/결합될 수 있거나 또는 그들 사이에 제3의 구성 요소가 배치될 수도 있다는 것을 의미한다.

동일한 도면 부호는 동일한 구성 요소를 지칭한다. 또한, 도면들에 있어서, 구성요소들의 두께, 비율, 및 치수는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. "및/또는"은 연관된 구성들이 정의할 수 있는 하나 이상의 조합을 모두 포함한다.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 다양한 실시 예들의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성 요소는 제2 구성 요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성 요소도 제1 구성 요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.

"아래에", "하측에", "위에", "상측에" 등의 용어는 도면에 도시된 구성들의 연관관계를 설명하기 위해 사용된다. 상기 용어들은 상대적인 개념으로, 도면에 표시된 방향을 기준으로 설명된다.

"포함하다." 또는 "가지다." 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

도 1은 일 실시 예에 따른 유기 발광 표시 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.

도 1을 참조하면, 유기 발광 표시 장치(1)는 타이밍 제어부(10), 게이트 구동부(20), 데이터 구동부(30), 전원 공급부(40) 및 표시 패널(50)을 포함한다.

타이밍 제어부(10)는 외부로부터 영상 신호(RGB) 및 제어 신호(CS)를 포함하는 입력 데이터를 수신할 수 있다. 영상 신호(RGB)는 복수의 계조 데이터를 포함할 수 있다. 제어 신호(CS)는 예를 들어, 수평 동기 신호, 수직 동기 신호 및 메인 클럭 신호를 포함할 수 있다.

타이밍 제어부(10)는 데이터 구동부(30)로부터 보상 데이터(Dsen)를 수신할 수 있다. 보상 데이터(Dsen)는 이형 형상을 갖는 표시 패널(50)에서 발생하는 센싱 오차를 보상하기 위한 보상 데이터(Dsen)를 포함할 수 있으며, 보상 데이터(Dsen)에 대한 구체적인 설명은 이하에서 보다 상술하기로 한다.

타이밍 제어부(10)는 입력되는 데이터를 기반으로 영상 신호(RGB) 및 제어 신호(CS)를 표시 패널(50)의 동작 조건에 적합하도록 처리하고, 영상 데이터(DATA), 게이트 구동 제어 신호(CONT1), 데이터 구동 제어 신호(CONT2) 및 전원 공급 제어 신호(CONT3)를 생성 및 출력할 수 있다.

게이트 구동부(20)는 복수의 게이트 라인들(GL1, GL2~GLn)을 통해 표시 패널(50)의 화소(PX)들과 연결될 수 있다. 게이트 구동부(20)는 타이밍 제어부(10)로부터 출력되는 게이트 구동 제어 신호(CONT1)에 기초하여, 게이트 신호들을 생성할 수 있다. 게이트 구동부(20)는 생성된 게이트 신호들을 복수의 게이트 라인들(GL1, GL2~GLn)을 통해 화소(PX)들에 개별적으로 제공할 수 있다.

데이터 구동부(30)는 복수의 데이터 라인들(DL1~DLm)을 통해 표시 패널(50)의 화소(PX)들과 연결될 수 있다. 데이터 구동부(30)는 타이밍 제어부(10)로부터 출력되는 영상 데이터(DATA) 및 데이터 구동 제어 신호(CONT2)에 기초하여, 데이터 신호들을 생성할 수 있다. 데이터 신호는 데이터 전압(Vdata), 센싱 데이터 전압(Vsen)을 포함할 수 있다. 각 데이터 라인들(DL1~DLm)에는 데이터 신호가 개별적으로 공급된다. 데이터 구동부(30)는 생성된 데이터 신호들을 복수의 데이터 라인들(DL1~DLm)을 통해 화소(PX)들에 제공할 수 있다.

데이터 구동부(30)는 복수의 센싱 라인들(SL1~SLm)을 통해 표시 패널(50)의 화소(PX)들과 연결될 수 있다. 데이터 구동부(30)는 복수의 데이터 라인들(DL1~DLm)을 통해 화소(PX)들에 제공되는 데이터 신호에 기초하여, 복수의 센싱 라인들(SL1~SLm)로부터 피드백되는 데이터를 수신할 수 있다. 피드백 데이터는 복수의 센싱 라인들(SL1~SLm)에 각각 인가되는 피드백 전압(V_feedback, V_feedback')을 포함할 수 있다.

전원 공급부(40)는 복수의 전원 라인들(PL1, PL2)을 통해 표시 패널(50)의 화소(PX)들과 연결될 수 있다. 전원 공급부(40)는 전원 공급 제어 신호(CONT3)에 기초하여 표시 패널(50)에 제공될 구동 전압을 생성할 수 있다. 구동 전압은 예를 들어, 고전위 구동 전압(ELVDD) 및 저전위 구동 전압(ELVSS)을 포함할 수 있다. 전원 공급부(40)는 생성된 구동 전압들(ELVDD, ELVSS)에 대응되는 전원 라인(PL1, PL2)을 통해 화소(PX)들에 제공할 수 있다.

표시 패널(50)에는 복수의 화소(PX)(또는, 서브 화소로 명명됨)들이 배치된다. 화소(PX)들은 예를 들어, 표시 패널(50) 상에 매트릭스 형태로 배열될 수 있다.

화소(PX)들 각각은 게이트 라인들(GL1, GL2~GLn), 데이터 라인들(DL1~DLm), 센싱 라인들(SL1~SLm) 중 어느 하나와 전기적으로 연결될 수 있다. 복수의 데이터 라인들(DL1~DLm) 및 복수의 센싱 라인들(SL1~SLm)은 복수의 게이트 라인들(GL1, GL2~GLn)과 교차하여 배치된다. 복수의 데이터 라인들(DL1~DLm)과 복수의 센싱 라인들(SL1~SLm)은 서로 평행하여 배치된다. 화소(PX)들은 게이트 라인들(GL1, GL2~GLn) 및 데이터 라인들(DL1~DLm)을 통해 공급되는 게이트 신호 및 데이터 신호에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다.

각각의 화소(PX)는 제1 내지 제3 색 중 어느 하나의 색을 표시할 수 있다. 일 실시 예에서, 각각의 화소(PX)는 레드, 그린 및 블루 중 어느 하나의 색을 표시할 수 있다. 다른 실시 예에서, 각각의 화소(PX)는 시안, 마젠타 및 옐로우 중 어느 하나의 색을 표시할 수 있다. 다양한 실시 예에서, 화소(PX)들은 4개 이상의 색들 중 어느 하나를 표시하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 각각의 화소(PX)는 레드, 그린, 블루 및 화이트 중 어느 하나의 색을 표시할 수도 있다.

타이밍 제어부(10), 게이트 구동부(20), 데이터 구동부(30) 및 전원 공급부(40)는 각각 별개의 집적 회로(Integrated Circuit; IC)로 구성되거나 적어도 일부가 통합된 집적 회로로 구성될 수 있다. 예를 들어, 데이터 구동부(30) 및 전원 공급부(40) 중 적어도 하나가 타이밍 제어부(10)와 통합된 집적 회로로 구성될 수 있다.

또한, 도 1에서는 게이트 구동부(20)와 데이터 구동부(30)가 표시 패널(50)과 별개의 구성 요소로 도시되지만, 게이트 구동부(20) 및 데이터 구동부(30) 중 적어도 하나는 표시 패널(50)과 일체로 형성되는 인 패널(In Panel) 방식으로 구성될 수 있다. 예를 들어, 게이트 구동부(20)는 게이트 인 패널(Gate In Panel; GIP) 방식에 따라 표시 패널(50)과 일체로 형성될 수 있다.

도 2는 도 1에 도시된 화소의 일 실시 예를 나타낸 회로도이다. 도 2는 i번째 게이트 라인(GLi), j번째 게이트 라인(GLj), j번째 데이터 라인(DLj), 및 j번째 센싱 라인(SLj)에 각각 연결되는 화소(PXij)를 예로써 도시한다.

도 2를 참조하면, 화소(PX)는 제1 스위칭 트랜지스터(ST1), 구동 트랜지스터(DT), 제2 스위칭 트랜지스터(ST2), 스토리지 커패시터(Cst) 및 발광 소자(LD)를 포함한다.

제1 스위칭 트랜지스터(ST1)의 제1 전극(예를 들어, 소스 전극)은 j번째 데이터 라인(DLj)과 전기적으로 연결되고, 제2 전극(예를 들어, 드레인 전극)은 제1 노드(N1)와 전기적으로 연결된다. 제1 스위칭 트랜지스터(ST1)의 게이트 전극은 i번째 게이트 라인(GLi)과 전기적으로 연결된다. 제1 스위칭 트랜지스터(ST1)는 i번째 게이트 라인(GLi)으로 게이트 온 레벨의 게이트 신호가 인가될 때 턴 온되어, j번째 데이터 라인(DLj)으로 인가되는 데이터 신호를 제1 노드(N1)로 전달한다.

제2 스위칭 트랜지스터(ST2)의 제1 전극(예를 들어, 소스 전극)은 j번째 센싱 라인(SLj)과 전기적으로 연결되고, 제2 전극(예를 들어, 드레인 전극)은 제2 노드(N2)와 전기적으로 연결된다. 제2 스위칭 트랜지스터(ST2)의 게이트 전극은 j번째 게이트 라인(GLj)과 전기적으로 연결된다. 제2 스위칭 트랜지스터(ST2)는 j번째 게이트 라인(GLj)으로 게이트 온 레벨의 게이트 신호가 인가될 때 턴 온되어, 제2 노드(N2)를 통해 j번째 센싱 라인(SLj)으로 인가되는 피드백 전압(V_feedback)을 데이터 구동부(30)로 전달한다. 제2 스위칭 트랜지스터(ST2)는 j번째 게이트 라인(GLj)에 공급되는 게이트 온 레벨에 따라 j번째 센싱 라인(SLj)에 인가되는 피드백 전압(V_feedback)을 제2 노드(N2) 즉, 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 전극으로 전달한다.

스토리지 커패시터(Cst)의 제1 전극은 제1 노드(N1)와 전기적으로 연결되고, 제2 전극은 제2 노드(N2)와 전기적으로 연결된다. 스토리지 커패시터(Cst)는 제1 노드(N1)에 인가되는 전압과 제2 노드(N2)에 인가되는 전압 차이에 대응하는 전압을 충전할 수 있다. 충전 모드시 스토리지 커패시터(Cst)에 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2)에 인가되는 전압 차이에 대응하는 전압을 충전할 수 있다.

구동 트랜지스터(DT)의 제1 전극(예를 들어, 소스 전극)은 고전위 구동 전압(ELVDD)을 제공받도록 구성되고, 제2 전극(예를 들어, 드레인 전극)은 제2 노드(N2)를 통해 발광 소자(LD)의 제1 전극(예를 들어, 애노드 전극)에 전기적으로 연결된다. 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극은 제1 노드(N1)에 전기적으로 연결된다. 표시 모드시 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극과 제1 전극 간에 접속된 스토리지 커패시터(Cst)의 충전 전압에 따라 고전위 구동 전압(ELVDD)으로부터 구동 트랜지스터(DT)를 통해 저전위 구동 전압(ELVSS)으로 흐르는 구동 전류의 양을 제어할 수 있다.

발광 소자(LD)는 구동 전류에 대응하는 광을 출력한다. 발광 소자(LD)는 레드, 그린 및 블루 중 어느 하나의 색에 대응하는 광을 출력할 수 있다. 발광 소자(LD)는 구동 트랜지스터(DT)로부터 공급되는 구동 전류에 의해 발광하여 데이터 전류에 대응되는 휘도를 가지는 광을 방출한다. 발광 소자(LD)는 제2 노드(N2)에 접속된 애노드 전국, 애노드 전극 상에 형성된 유기층, 및 유기층 상에 형성되는 저전위 구동 전압(ELVSS)이 공급되는 캐소드 전극을 포함한다. 유기층은 정공 수송층, 유기 발광층, 전자 수송층의 구조 또는 정공 주입층, 정공 수송층, 유기 발광층, 전자 수송층, 전자 주입층의 구조로 형성될 수 있다. 유기층은 유기 발광층의 발광 효율, 수명, 등을 향상시키기 위한 기능층을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(LD)는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode; OLED), 또는 마이크로 내지 나노 스케일 범위의 크기를 가지는 초소형 무기 발광 다이오드일 수 있으나, 본 실시 예가 이에 한정되지 않는다. 이하에서는, 발광 소자(LD)가 유기 발광 다이오드로 구성되는 실시 예를 설명한다.

도 2에서는 제1 스위칭 트랜지스터(ST1), 제2 스위칭 트랜지스터(ST2), 및 구동 트랜지스터(DT)가 NMOS 트랜지스터인 예가 도시되지만, 본 실시 예가 이로써 한정되지 않는다. 예를 들어, 각각의 화소(PX)를 구성하는 트랜지스터들 중 적어도 일부 또는 전부는 PMOS 트랜지스터로 구성될 수 있다. 다양한 실시 예에서, 제1 스위칭 트랜지스터(ST1), 제2 스위칭 트랜지스터(ST2), 및 구동 트랜지스터(DT) 각각은 저온 폴리 실리콘(Low Temperature Poly Silicon; LTPS) 박막 트랜지스터, 산화물 박막 트랜지스터 또는 저온 폴리 옥사이드(Low Temperature Polycrystalline Oxide; LTPO) 박막 트랜지스터로 구현될 수 있다.

도 3은 도 1에 도시된 유기 발광 표시 장치의 일 실시 예에 따른 사시도이다. 도 3을 도 1 및 도 2와 결부하여 유기 발광 표시 장치(1)의 구성 요소들을 보다 구체적으로 설명한다.

유기 발광 표시 장치(1)는 영상을 표시하기 위한 장치로서, 자발광성 표시 장치로 구현된다.

일 실시 예에 따라, 유기 발광 표시 장치(1)는 적어도 일 영역에 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역을 포함한다. 이형 변(C)은 유기 발광 표시 장치(1)의 표시 패널(50)의 가장자리를 소정의 형태로 커팅(cutting)하여 형성된다. 예를 들어, 이형 변(C)은 표시 패널(50)의 가장자리로부터 표시 패널(50)의 내측 방향으로 반원형 형태로 커팅하여 형성된다. 그러나 본 실시 예가 이로써 한정되지 않으며, 이형 변(C)은 사각형, 원형, 타원형, 브이형, 등 다양한 형태를 가지고 표시 패널(50)의 가장자리를 커팅하여 형성될 수 있다.

또한, 유기 발광 표시 장치(1)는 전체 또는 일부가 가요성(flexibility)을 가질 수 있다.

유기 발광 표시 장치(1)는 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역 및 이형 변(C)을 갖지 않는 정상 영역으로 구성된다. 커팅 영역은 이형 변(C)의 테두리를 따라 배치되는 화소(PX)와, 상기 이형 변(C)의 테두리를 따라 배치되는 화소(PX)와 동일한 데이터 라인(DL) 또는 동일한 센싱 라인(SL)을 통해 연결되는 화소(PX)들을 포함한다. 정상 영역은 유기 발광 표시 장치(1)의 표시 패널(50) 상에서 커팅 영역을 제외한 나머지 영역을 포괄적으로 의미할 수 있다.

표시 패널(50)의 적어도 일 영역에는 화소(PX)를 구동하기 위한 구동부로써, 예를 들어 게이트 구동부(20)가 마련될 수 있다. 게이트 구동부(20)는 도 3에 도시된 것과 같이 표시 패널(50)에 게이트 인 패널 방식으로 형성될 수 있다. 그러나, 다른 실시 예에서, 게이트 구동부(20)는 구동 칩으로 제작되어 연성 필름 등에 실장되거나, 또는 TAB(Tape Automated Bonding) 방식으로 표시 패널(50)에 부착될 수 있다.

또한, 표시 패널(50)의 적어도 일 영역에는 복수의 패드(미도시)들이 마련될 수 있다. 패드들은 절연층에 의해 덮이지 않고 표시 패널(50)의 외부로 노출되어, 후술되는 데이터 구동부(30) 및 회로 보드(70) 등과 전기적으로 연결될 수 있다.

표시 패널(50)은 화소(PX)들로 전기적 신호를 공급하기 위한 배선들을 포함할 수 있다. 배선들은 예를 들어, 게이트 라인들(GL1, GL2~GLn), 데이터 라인들(DL1~DLm), 센싱 라인들(SL1~SLm), 및 전원 라인들(PL1, PL2)을 포함할 수 있다.

전원 라인들(PL1, PL2)은 연결된 패드들을 통해 전원 공급부(40)(또는 타이밍 제어부(10))와 전기적으로 연결되며, 전원 공급부(40)(또는 타이밍 제어부(10))로부터 제공되는 고전위 구동 전원(ELVDD) 및 저전위 구동 전원(ELVSS)을 화소(PX)들에 제공할 수 있다.

연성 필름(60)은 일단이 표시 패널(50)에 부착되고 타단이 회로 보드(70)에 부착되어, 표시 패널(50)과 회로 보드(70)를 전기적으로 연결할 수 있다. 연성 필름(60)은 패드들과 회로 보드(70)의 배선들을 전기적으로 연결하기 위한 복수의 배선들을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 연성 필름(60)은 이방성 도전 필름(antisotropic conducting film; ACF)을 통해 패드들 상에 부착될 수 있다.

데이터 구동부(30)가 구동 칩으로 제작되는 경우, 데이터 구동부(30)는 COF(Chip On Film) 또는 COP(Chip On Plastic) 방식으로 연성 필름(60)에 실장될 수 있다. 데이터 구동부(30)는 타이밍 제어부(10)로부터 수신되는 영상 데이터(DATA) 및 데이터 구동 제어 신호(CONT2)에 기초하여 데이터 신호를 생성하고, 연결된 패드를 통해 데이터 라인들(DL1~DLm)로 출력할 수 있다.

회로 보드(70)에는 구동 칩들로 구현된 다수의 회로들이 실장될 수 있다. 회로 보드(70)는 인쇄 회로 보드(printed circuit board) 또는 연성 인쇄 회로 보드(flexible printed circuit board)일 수 있으나, 회로 보드(70)의 종류가 이로써 한정되지는 않는다.

회로 보드(70)는 집적 회로 형태로 실장된 타이밍 제어부(10) 및 전원 공급부(40)를 포함할 수 있다. 도 3에서는 타이밍 제어부(10)와 전원 공급부(40)가 별개의 구성 요소인 것으로 도시되지만, 본 실시 예가 이로써 한정되지 않는다.

즉, 다양한 실시 예에서, 전원 공급부(40)는 타이밍 제어부(10)와 일체로 형성되거나 타이밍 제어부(10)가 전원 공급부(40)의 기능을 수행하도록 구성될 수 있다.

도 4는 도 1에 도시된 유기 발광 표시 장치의 일 실시 예에 따른 전면도이다. 도 4를 도 1 및 도 2와 결부하여 유기 발광 표시 장치(1)의 표시 패널(50)의 구성을 설명하면 다음과 같다

도 4를 참조하면, 표시 패널(50)은 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역과, 이형 변(C)을 갖지 않는 정상 영역을 포함하여 구성될 수 있다. 이형 변(C)은 표시 패널(50)의 가장자리로부터 내측 방향으로 반원형 형태로 커팅(cutting)하여 형성될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 다양한 형태로 커팅하여 형성될 수 있다.

커팅 영역은 이형 변(C)의 테두리를 따라 배치되는 화소(PX)와, 상기 이형 변(C)의 테두리를 따라 배치되는 화소(PX)와 동일한 데이터 라인(DL) 또는 동일한 센싱 라인(SL)을 통해 공통적으로 연결된 화소(PX)들을 포함할 수 있다. 즉, 커팅 영역은 도 4에 도시된 바와 같이, 이형 변(C)의 테두리를 따라 동일 열을 이루는 화소(PX)들을 포함하여 구성될 수 있다. 정상 영역은 표시 패널(50) 상에서 커팅 영역을 제외한 나머지 영역을 포괄적으로 의미할 수 있다.

커팅 영역 및 정상 영역의 각 화소(PX)들에 공급되는 데이터 전압(Vdata)은 해당 화소(PX)의 구동 트랜지스터(DT)의 특성이 반영된 전압 레벨을 가질 수 있다. 구동 트랜지스터(DT)의 특성은 구동 트랜지스터(DT)의 문턱 전압, 이동도, 등을 포함한다.

일 실시 예에 따라, 이형 변(C)을 갖는 표시 패널(50)은 커팅 영역과 정상 영역에서의 내부 부하(load)가 상이하게 형성된다. 예를 들어, 정상 영역에서의 내부 부하(load)는 일정하게 유지됨에 반해, 커팅 영역에서는 이형 변(C)의 커팅으로 인해 내부 부하(load)가 감소된다. 따라서, 센싱 모드시 커팅 영역에 포함된 화소(PX)들은 오버 센싱되어 정상 영역에 포함된 화소(PX)들 보다 낮은 데이터 전압(Vdata)이 공급된다. 즉, 커팅 영역의 화소(PX)들에 공급된 데이터 전압(Vdata')은 정상 영역에 포함된 화소(PX)들에 공급된 데이터 전압(Vdata) 보다 낮은 전압 레벨로 출력되어 표시 패널(50)의 휘도 불균일 현상을 발생시킨다.

이를 해결하기 위해, 데이터 보상부(30)는 센싱 모드시 표시 패널(50) 내의 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역을 검출하고, 상기 커팅 영역에 대한 보상 데이터(Dsen)를 생성함으로써, 유기 발광 표시 장치(1)의 화질 저하를 개선할 수 있다. 이에 대해서는 이하에서 보다 상술하기로 한다.

도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 유기 발광 표시 장치의 제1 센싱 모드시 구동 파형을 나타내는 파형도이다. 도 5를 도 1 및 도 2와 결부하여 센싱 모드시 i번째 센싱 라인(SLi)에 접속된 하나의 화소(PXi)와 j번째 센싱 라인(SLj)에 접속된 하나의 화소(PXj)의 동작을 설명하면 다음과 같다. 참고로, i번째 센싱 라인(SLi)에 접속된 화소(PXi)는 정상 영역에 포함된 적어도 하나의 화소를 의미하고, j번째 센싱 라인(SLj)에 접속된 화소(PXj)는 커팅 영역에 포함된 적어도 하나의 화소를 의미한다.

도 5를 참조하면, 제1 센싱 모드시 타이밍 제어부(10)는 표시 패널(50)의 각 화소(PX)들에 센싱 데이터 전압(Vsen)을 공급하기 위한 제어 신호(CS)를 처리하고, 게이트 구동 제어 신호(CONT1), 데이터 구동 제어 신호(CONT2) 및 전원 공급 제어 신호(CONT3)를 생성 및 출력한다.

제1 센싱 모드는 제1 센싱 시간(t1) 및 제2 센싱 시간(t2)을 포함한다. 제1 센싱 시간(t1) 동안 제1 센싱 데이터 전압(Vsen)을 복수의 데이터 라인(DL1~DLm)에 공급한다. 제2 센싱 시간(t2) 동안 표시 패널(50)의 화소(PX)들의 구동 트랜지스터(DT)에 흐르는 전류에 대응되는 피드백 전압(V_feedback, V_feedback')이 복수의 센싱 라인(SL1~SLm)에 인가되도록 상기 복수의 센싱 라인(SL1~SLm)을 플로팅(floating) 시킬 수 있다. 즉, 제2 센싱 시간(t2) 동안 표시 패널(50)의 화소별 센싱 라인(SL1~SLm)에는 피드백 전압(V_feedback, V_feedback')이 공급된다.

제1 센싱 모드시, 데이터 구동부(30)는 복수의 센싱 라인(SL1~SLm)에 충전되는 피드백 전압(V_feedback, V_feedback')을 검출하고, 검출된 피드백 전압(V_feedback, V_feedback')을 기초로 표시 패널(50) 내의 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역에 대한 보상 데이터(Desn)를 생성한다. 보상 데이터(Dsen)에 대해서는 후술하기로 한다.

게이트 구동부(20)는 타이밍 제어부(10)로부터 공급된 게이트 구동 제어 신호(CONT1)에 따라 제1 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1)동안 게이트 온 전압 레벨의 게이트 전압을 생성하여 각 화소(PX)들의 게이트 라인(GL1, GL2~Gn)에 공급한다.

데이터 구동부(30)는 타이밍 제어부(10)로부터 공급된 데이터 구동 제어 신호(CONT2)에 기초하여, 제1 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1)동안 각 화소(PX)들의 데이터 라인(DL1~DLm)에 제1 센싱 데이터 전압(Vsen)을 공급한다. 제1 센싱 데이터 전압(Vsen)은 표시 패널(50)에서 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역을 검출 및 분류하기 위한 센싱 데이터 전압(Vsen)을 포함한다.

전원 공급부(40)는 타이밍 제어부(10)로부터 공급된 전원 공급 제어 신호(CONT3)에 기초하여, 제1 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1) 동안 표시 패널(50)의 각 화소(PX)들에 고전위 구동 전압(ELVDD)을 공급한다. 이때, 저전위 구동 전압(ELVSS)는 표시 패널(50)의 각 화소(PX)들에 공급되지 않는다.

데이터 구동부(30)는 제1 센싱 모드의 제2 센싱 시간(t2) 동안 복수의 센싱 라인(SL1~SLm)을 플로팅(floating)시키고, 표시 패널(50)의 화소(PX)들과 연결된 복수의 센싱 라인(SL1~SLm)으로부터 피드백 데이터를 수신한다. 피드백 데이터는 복수의 센싱 라인(SL1~SLm)에 인가되는 피드백 전압(V_feedback, V_feedback')을 포함한다. 피드백 전압(V_feedback, V_feedback')은 시간 변화에 따른 구동 트랜지스터(DT)에 흐르는 전류와 어느 하나의 센싱 라인(SLj)의 정전 용량 간의 비율로 결정된다.

표시 패널(50)의 커팅 영역은 이형 변(C)의 커팅으로 인해 내부 부하(load)가 감소하므로, 정상 영역 보다 오버 센싱된 피드백 데이터가 수신된다. 즉, 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역의 화소별 센싱 라인(SLj)에 인가되는 피드백 전압(V_feedback')은 도 5에 도시되는 바와 같이, 정상 영역에 포함된 화소별 센싱 라인(SLi)에 인가되는 피드백 전압(V_feedback)보다 높게 형성될 수 있다.

데이터 구동부(30)는 복수의 센싱 라인(SL1~SLm)을 통해 수신된 피드백 데이터에 기초하여, 커팅 영역에 대한 보상 데이터(Dsen)를 생성하고, 생성된 보상 데이터(Dsen)를 타이밍 제어부(10)에 전달할 수 있다. 이를 통해, 표시 패널(50) 내의 화소별 센싱 라인(SL1~SLm)에 인가되는 피드백 전압을 일정하게 유지시킴으로써, 유기 발광 표시 장치(1)의 휘도 불균일 현상을 개선할 수 있다.

도 6은 유기 발광 표시 장치(1)에서 휘도 불균일 현상을 개선하기 위한 데이터 구동부(30)의 블록도이다. 도 6을 도 1과 결부하면, 데이터 구동부(30)는 데이터 전압 생성부(31), 및 보상 데이터 생성부(32)를 포함하여 구성된다.

데이터 전압 생성부(31)는 타이밍 제어부(10)로부터 공급된 데이터 구동 제어 신호(CONT2)에 기초하여, 각 화소(PXij)들의 데이터 라인(DL1~DLm)에 데이터 전압(Vdata) 또는 센싱 데이터 전압(Vsen)을 공급한다.

데이터 전압 생성부(31)는 샘플링 신호를 생성하는 쉬프트 레지스터, 샘플링 신호에 따라 화소 데이터(DATA)를 래치하는 래치부, 복수의 기준 감마 전압을 이용하여 복수의 계조 전압을 생성하는 계조 전압 생성부, 복수의 계조 전압 중에서 래치된 화소 데이터(DATA)에 대응되는 계조 전압을 데이터 전압(Vdata)으로 선택하여 출력하는 디지털-아날로그 변환부, 및 데이터 전압(Vdata)를 출력하는 출력부를 포함하여 구성될 수 있다.

보상 데이터 생성부(32)는 센싱 모드시, 복수의 센싱 라인(SL1~SLm)에 인가되는 피드백 전압(V_feedback, V_feedback')을 검출하고, 검출된 피드백 전압(V_feedback, V_feedback')를 기초로 보상 데이터(Dsen)를 생성한다. 보상 데이터(Dsen)는 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역에 대한 보상 데이터(Dsen)을 포함할 수 있으며, 커팅 영역 내의 화소별 구동 트랜지스터(DT)에 대한 문턱 전압, 이동도 등에 대응되는 정보를 포함한다. 보상 데이터 생성부(32)는 타이밍 제어부(10)로 보상 데이터(Dsen)를 전달한다.

도 7 및 도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 유기 발광 표시 장치에 있어서, 제2 센싱 모드시 보상 데이터(Dsen)에 의한 구동 파형을 나타내는 파형도이다. 도 7 및 도 8은 도 1 및 도 2와 결부하여 제2 센싱 모드시 j번째 센싱 라인(SLj)에 접속된 하나의 화소(PXj)의 동작을 설명하면 다음과 같다. 이하에서, 제2 센싱 모드는 제1 센싱 모드 이후의 제2 센싱 모드를 의미하며, 제1 센싱 시간(t1) 및 제2 센싱 시간(t2)을 포함한다. 참고로, j번째 센싱 라인(SLj)에 접속된 화소(PXj)는 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역에 포함된 어느 하나의 화소(PXj)를 의미한다.

먼저, 도 7을 참조하면, 보상 데이터 생성부(32)는 제2 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1) 동안 커팅 영역 내의 화소(PXj)별 데이터 라인(DL1~DLm)들로 제2 센싱 데이터 전압(Vsen')을 공급하도록 보상 데이터(Dsen)를 생성할 수 있다. 제2 센싱 데이터 전압(Vsen')은 제1 센싱 데이터 전압(Vsen) 보다 낮은 전압 레벨로 형성된다.

타이밍 제어부(10)는 보상 데이터 생성부(32)로부터 전달된 보상 데이터(Dsen)에 기초하여, 변경된 제어 신호(CS)를 생성 및 출력한다. 타이밍 제어부(10)는 제2 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1) 동안 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역 내의 화소(PXj)별 데이터 라인(DL1~DLm)들로 제1 센싱 데이터 전압(Vsen) 보다 낮은 제2 센싱 데이터 전압(Vsen')을 공급하도록 데이터 구동 제어 신호(CONT2)를 생성 및 출력할 수 있다.

데이터 구동부(30)는 타이밍 제어부(10)로부터 출력되는 영상 데이터(DATA) 및 데이터 구동 제어 신호(CONT2)에 기초하여, 커팅 영역 내의 화소(PXj)별 데이터 라인(DL1~DLm)들로 제2 센싱 데이터 전압(Vsen')을 공급할 수 있다.

즉, 보상 데이터 생성부(32)는 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역 내의 화소(PXj)별 데이터 라인(DL1~DLm)들로 오버 센싱된 제1 센싱 데이터 전압(Vsen) 대비 소정의 크기만큼 감소된 제2 센싱 데이터 전압(Vsen')을 공급하도록 보상 데이터(Dsen)를 생성하고, 타이밍 제어부(10)로 전달할 수 있다. 이를 통해, 보상 데이터 생성부(32)는 제2 센싱 모드의 제2 센싱 시간(t2) 동안 커팅 영역 내의 화소(PXj)별 센싱 라인(SL1~SLm)들로 인가되는 피드백 전압(V_feedback)을 조정할 수 있다.

제2 센싱 모드시, 게이트 구동부(20) 및 전원 공급부(40) 중 적어도 하나는 제1 센싱 모드와 동일한 동작 조건 하에 구동된다. 예를 들어, 제2 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1)동안 게이트 구동부(20)는 게이트 온 전압 레벨의 게이트 전압을 생성하여 커팅 영역 내의 화소(PXj)별 게이트 라인(GL1, GL2~GLn)에 공급하고, 전원 공급부(40)는 표시 패널(50)의 각 화소(PX)들에 고전위 구동 전압(ELVDD)을 공급한다.

다음으로, 도 8을 참조하면, 보상 데이터 생성부(32)는 제2 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1')을 제1 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1) 대비 단축하도록 보상 데이터(Dsen)를 생성할 수 있다. 제2 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1')은 제1 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1) 보다 짧게 형성된다.

타이밍 제어부(10)는 보상 데이터 생성부(32)를 통해 전달된 보상 데이터(Dsen)에 기초하여, 변경된 제어 신호(CS)를 생성 및 출력한다. 타이밍 제어부(10)는 제2 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1')동안 커팅 영역 내의 화소별(PXj) 데이터 라인(DL1~DLm)으로 제1 센싱 데이터 전압(Vsen)과 동일한 전압 레벨을 갖는 제2 센싱 데이터 전압(Vsen)을 공급하도록 데이터 구동 제어 신호(CONT2)를 생성 및 출력할 수 있다.

데이터 구동부(30)는 타이밍 제어부(10)로부터 출력되는 영상 데이터(DATA) 및 데이터 구동 제어 신호(CONT2)에 기초하여, 제2 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1')동안 커팅 영역 내의 화소(PXj)별 데이터 라인(DL1~DLm)들로 제2 센싱 데이터 전압(Vsen)을 공급할 수 있다.

보상 데이터 생성부(32)는 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역에 대하여, 제1 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1) 대비 제2 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1')을 단축하도록 보상 데이터(Dsen)를 생성함으로써, 커팅 영역 내의 화소별 센싱 라인(SL1~SLm)들로 인가되는 피드백 전압(V_feedback)을 조정할 수 있다. 제2 센싱 모드시, 게이트 구동부(20) 및 전원 공급부(40) 중 적어도 하나는 제1 센싱 모드와 동일한 동작 조건 하에 구동된다. 이 경우, 제2 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1')은 제1 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1) 보다 단축될 수 있다.

이를 통해, 보상 데이터 생성부(32)는 커팅 영역 및 정상 영역 내의 화소(PX)들에 공급되는 데이터 전압(Vdata) 또는 피드백 전압(V_feedback)이 일정하게 유지되도록 보상 데이터(Dsen)를 생성하고, 생성된 보상 데이터(Dsen)를 타이밍 제어부(10)로 전달함으로써, 이형 변(C)을 갖는 표시 패널(50)에서의 균일한 화질을 구현할 수 있다.

도 9 및 도 10은 본 발명의 일 실시 예에 따른 유기 발광 표시 장치에 있어서, 센싱 모드에서 보상 데이터(Dsen)을 생성하기 위한 구동 파형을 나타내는 파형도이다. 도 9 및 도 10은 도 1 및 도 2와 결부하여 센싱 모드시 j번째 센싱 라인(SLj)에 접속된 하나의 화소(PXj)의 동작을 설명하면 다음과 같다. 참고로, j번째 센싱 라인(SLj)에 접속된 화소(PXj)는 이형 변(C)을 갖는 커팅 영역에 포함된 어느 하나의 화소(PXj)를 의미한다.

도 9를 참조하면, 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1) 동안 데이터 구동부(30)를 통해 표시 패널(50)의 각 화소(PX)들의 데이터 라인(DL1~DLm)들로 제1 센싱 데이터 전압(Vsen)을 공급하면, 센싱 모드의 제2 센싱 시간(t2) 동안 표시 패널(50)의 커팅 영역 내의 화소(PXi)별 센싱 라인(SL1~SLm)으로 오버 센싱된 피드백 전압(V_feedback')이 인가된다.

이 경우, 보상 데이터 생성부(32)는 커팅 영역 내의 화소(PXi)별 센싱 라인(SL1~SLm)으로 기설정된 피드백 전압(V_feedback)이 인가되는 특정한 시점(예를 들어, a시점)을 추출하고, 추출된 특정한 시점에서의 전압을 기초로 보상 데이터(Dsen)를 생성할 수 있다.

즉, 보상 데이터 생성부(32)는 센싱 모드의 제2 센싱 시간(t2) 동안 커팅 영역 내의 화소(PXi)별 센싱 라인(SL1~SLm)으로 인가되는 피드백 전압(V_feedback')이 오버 센싱 되기 이전에 특정한 시점(예를 들어, a시점)에서의 피드백 전압(V_feedback)으로 충전되도록 제1 센싱 시간(t1) 및 제2 센싱 시간(t2) 중 적어도 하나를 조절하는 보상 데이터(Dsen)를 생성할 수 있다.

기설정된 피드백 전압(V_feedback)은 센싱 모드의 제2 센싱 시간(t2) 동안 표시 패널(50)의 정상 영역 내의 화소별 센싱 라인(SL1~SLm)에 충전되는 피드백 전압(V_feedback) 또는 사용자에 의해 미리 설정한 피드백 전압(V_feedback)일 수 있다.

다음으로, 도 10을 참조하면, 센싱 모드의 제1 센싱 시간(t1) 동안 데이터 구동부(30)를 통해 표시 패널(50)의 각 화소(PX)들의 데이터 라인들(DL1~DLm)들로 제1 센싱 데이터 전압(Vsen)을 공급하면, 센싱 모드의 제2 센싱 시간(t2) 동안 표시 패널(50)의 커팅 영역 내의 화소별 센싱 라인(SL1~SLm)으로 오버 센싱된 피드백 전압(V_feedback')이 인가된다.

이 경우, 보상 데이터 생성부(32)는 커팅 영역의 화소(PXj)별 센싱 라인(SL1~SLm)에 인가된 피드백 전압(V_feedback')과 특정한 시점(예를 들어, b시점)에서의 피드백 전압(V_feedback)의 차이값(α)을 산출하고, 산출한 차이값(α)을 기초로 보상 데이터(Dsen)를 생성할 수 있다.

특정한 시점(예를 들어, b시점)에서의 피드백 전압(V_feedback)은 센싱 모드의 제2 센싱 시간(t2) 동안 표시 패널(50)의 정상 영역 내의 화소별 센싱 라인(SL1~SLm)에 충전되는 피드백 전압(V_feedback) 또는 사용자에 의해 미리 설정한 피드백 전압(V_feedback)일 수 있다.

즉, 보상 데이터 생성부(32)는 센싱 모드의 제2 센싱 시간(t2) 동안 커팅 영역 내의 화소(PXj)별 센싱 라인(SL1~SLm)에 인가되는 피드백 전압(V_feedback')과 특정한 시점(예를 들어, b시점)에서의 피드백 전압(V_feedback)의 차이값(α)을 산출하여 저장하고, 센싱 모드 이후의 표시 모드(또는 센싱 모드)시 커팅 영역 내의 화소(PXj)별 데이터 라인(DL1~DLm)으로 공급되는 데이터 전압(Vdata) 또는 피드백 전압(V_feedback)에 저장된 차이값(α)을 반영하도록 보상 데이터(Dsen)을 생성할 수 있다.

따라서, 보상 데이터(Dsen)에 기반하여 커팅 영역 내의 화소(PXj)별 데이터 라인(DL1~DLm)으로 일정한 데이터 전압(Vdata) 또는 일정한 피드백 전압(V_feedback)을 공급함으로써, 이형 변(C)을 갖는 표시 패널(50)에서의 휘도 균일도를 향상시킬 수 있다.

상술한 바와 같이, 본 발명의 다양한 실시 예들에 따른 유기 발광 표시 장치 및 그 동작 방법은 이형 표시 장치에서 발생하는 센싱 오차를 보정하고, 이를 통해 화질 저하를 최소화할 수 있다.

또한, 본 발명의 다양한 실시 예들에 따른 유기 발광 표시 장치 및 그 동작 방법은 표시 장치의 각 화소로부터 센싱되는 트랜지스터 또는 커패시터의 특성 변화를 입력 데이터에 반영하고, 이에 대해 주기적 또는 실시간으로 보상함으로써, 표시 장치의 휘도의 균일도를 향상시킬 수 있다.

본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구의 범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구의 범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

1: 유기 발광 표시 장치
10: 타이밍 제어부
20: 게이트 구동부
30: 데이터 구동부
31: 데이터 전압 생성부
32: 보상 데이터 생성부
40: 전원 공급부
50: 표시 패널

Claims (18)

1. 다수의 게이트 라인, 다수의 데이터 라인, 및 다수의 센싱 라인의 교차 영역에 형성된 다수의 화소를 포함하는 표시 패널;
   상기 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동부;
   상기 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동부; 및
   상기 게이트 구동부 및 상기 데이터 구동부 중 적어도 하나를 제어하는 제어 신호를 생성하는 타이밍 제어부를 포함하고,
   상기 화소는 제1 전극이 상기 데이터 라인에 연결되고, 제2 전극이 제1 노드에 연결된 제1 스위칭 트랜지스터,
   제1 전극이 상기 센싱 라인에 연결되고, 제2 전극이 제2 노드에 연결된 제2 스위칭 트랜지스터, 및
   게이트 전극이 상기 제1 노드에 연결되고, 제2 전극이 상기 제2 노드에 연결된 구동 트랜지스터를 포함하고,
   상기 데이터 구동부는,
   제1 센싱 모드시 상기 다수의 데이터 라인으로 제1 센싱 데이터 전압을 공급하는 데이터 전압 생성부; 및
   상기 다수의 센싱 라인을 통해 상기 제1 센싱 데이터 전압에 의한 피드백 데이터를 수신하고, 상기 표시 패널 내의 커팅 영역에 대한 보상 데이터를 생성하는 보상 데이터 생성부를 포함하고,
   상기 보상 데이터 생성부는 상기 타이밍 제어부로 상기 보상 데이터를 전달하고,
   상기 보상 데이터 생성부는,
   상기 피드백 데이터에서 특정 시점에 상기 커팅 영역 내의 화소별 센싱 라인으로 인가되는 피드백 전압을 추출하고, 이를 기초로 보상 데이터를 생성하고,
   상기 피드백 전압은 상기 구동 트랜지스터에 흐르는 전류에 대응되고,
   상기 커팅 영역은 상기 표시 패널의 일 영역에 이형 변을 갖는 영역이고,
   상기 보상 데이터는 상기 커팅 영역을 포함하는 상기 표시 패널에서 발생하는 센싱 오차를 보상하기 위한 것인 유기 발광 표시 장치.
   
2. 제1항에 있어서, 상기 보상 데이터 생성부는,
   상기 제1 센싱 모드 이후의 제2 센싱 모드시, 상기 커팅 영역 내의 화소별 데이터 라인으로 제2 센싱 데이터 전압을 공급하도록 상기 보상 데이터를 생성하는, 유기 발광 표시 장치.
   
3. 제2항에 있어서,
   상기 제2 센싱 데이터 전압은 상기 제1 센싱 데이터 전압보다 낮은 전압 레벨로 형성되는, 유기 발광 표시 장치.
   
4. 제2항에 있어서,
   상기 제2 센싱 데이터 전압을 공급하는 시간은 상기 제1 센싱 데이터 전압을 공급하는 시간보다 짧게 형성되는, 유기 발광 표시 장치.
   
5. 삭제
6. 제1항에 있어서, 상기 보상 데이터 생성부는,
   상기 피드백 데이터에서 상기 커팅 영역 내의 화소별 센싱 라인에 인가되는 피드백 전압과 기설정된 피드백 전압 간의 차이값을 산출하고,
   상기 커팅 영역 내의 화소별 데이터 라인으로 상기 차이값을 반영한 데이터 전압을 공급하도록 상기 보상 데이터를 생성하는, 유기 발광 표시 장치.
   
7. 제6항에 있어서,
   상기 기설정된 피드백 전압은 상기 표시 패널 내의 정상 영역에서의 화소별 센싱 라인에 인가되는 피드백 전압과 동일한 전압 레벨인 것을 특징으로 하는, 유기 발광 표시 장치.
   
8. 제1항에 있어서,
   상기 커팅 영역 내에 포함된 각 화소는 수직 방향으로 동일한 데이터 라인 또는 동일한 센싱 라인을 통해 연결되는, 유기 발광 표시 장치.
   
9. 삭제
10. 제1항에 있어서,
    상기 이형 변은 상기 표시 패널의 가장자리를 소정의 형태로 커팅하여 형성되는, 유기 발광 표시 장치.
    
11. 유기 발광 표시 장치의 동작 방법에 있어서,
    표시 패널에 정의된 다수의 화소에 대하여, 다수의 데이터 라인을 통해 제1 센싱 데이터 전압을 공급하는 동작;
    다수의 센싱 라인을 통해 상기 제1 센싱 데이터 전압에 의한 피드백 데이터를 수신하는 동작;
    상기 피드백 데이터를 기초로 상기 표시 패널을 정상 영역 및 커팅 영역으로 분류하고, 상기 커팅 영역에 대한 보상 데이터를 생성하는 동작; 및
    상기 보상 데이터를 기초로, 센싱 모드시 상기 커팅 영역 내의 화소별 데이터 라인으로 제2 센싱 데이터 전압을 공급하는 동작을 포함하고,
    상기 화소는 제1 전극이 상기 데이터 라인에 연결되고, 제2 전극이 제1 노드에 연결된 제1 스위칭 트랜지스터,
    제1 전극이 상기 센싱 라인에 연결되고, 제2 전극이 제2 노드에 연결된 제2 스위칭 트랜지스터, 및
    게이트 전극이 상기 제1 노드에 연결되고, 제2 전극이 상기 제2 노드에 연결된 구동 트랜지스터를 포함하고,
    상기 보상 데이터를 생성하는 동작은,
    상기 피드백 데이터에서 특정 시점에 상기 커팅 영역 내의 화소별 센싱 라인으로 인가되는 피드백 전압을 추출하는 동작; 및
    상기 추출된 피드백 전압을 기초로 상기 보상 데이터를 생성하는 동작을 포함하고,
    상기 피드백 전압은 상기 구동 트랜지스터에 흐르는 전류에 대응되고,
    상기 커팅 영역은 상기 표시 패널의 일 영역에 이형 변을 갖는 영역이고,
    상기 보상 데이터는 상기 커팅 영역을 포함하는 상기 표시 패널에서 발생하는 센싱 오차를 보상하기 위한 것인 유기 발광 표시 장치의 동작 방법.
    
12. 제11항에 있어서,
    상기 제2 센싱 데이터 전압은 상기 제1 센싱 데이터 전압보다 낮은 전압 레벨로 형성되는, 유기 발광 표시 장치의 동작 방법.
    
13. 제11항에 있어서,
    상기 제2 센싱 데이터 전압을 공급하는 시간은 상기 제1 센싱 데이터 전압을 공급하는 시간보다 짧게 형성되는, 유기 발광 표시 장치의 동작 방법.
    
14. 삭제
15. 제11항에 있어서, 상기 보상 데이터를 생성하는 동작은,
    상기 피드백 데이터에서 상기 커팅 영역 내의 화소별 센싱 라인에 인가되는 피드백 전압과 기설정된 피드백 전압 간의 차이값을 산출하는 동작; 및
    상기 산출된 차이값을 기초로 상기 보상 데이터를 생성하는 동작을 포함하는, 유기 발광 표시 장치의 동작 방법.
    
16. 제15항에 있어서,
    상기 기설정된 피드백 전압은 상기 표시 패널 내의 정상 영역에서의 화소별 센싱 라인에 인가되는 피드백 전압과 동일한 전압 레벨인 것을 특징으로 하는, 유기 발광 표시 장치의 동작 방법.
    
17. 삭제
18. 제11항에 있어서,
    상기 이형 변은 상기 표시 패널의 가장자리를 소정의 형태로 커팅하여 형성되는 것을 특징으로 하는, 유기 발광 표시 장치의 동작 방법.
    
    

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