KR102594096B1 - 단락 검출 회로 및 이를 포함하는 표시 장치 - Google Patents

단락 검출 회로 및 이를 포함하는 표시 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR102594096B1
KR102594096B1 KR1020160020939A KR20160020939A KR102594096B1 KR 102594096 B1 KR102594096 B1 KR 102594096B1 KR 1020160020939 A KR1020160020939 A KR 1020160020939A KR 20160020939 A KR20160020939 A KR 20160020939A KR 102594096 B1 KR102594096 B1 KR 102594096B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
short
circuit detection
circuit
comparison
Prior art date
Application number
KR1020160020939A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20170099421A (ko
Inventor
강현석
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020160020939A priority Critical patent/KR102594096B1/ko
Priority to US15/433,936 priority patent/US20170245379A1/en
Publication of KR20170099421A publication Critical patent/KR20170099421A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102594096B1 publication Critical patent/KR102594096B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0084—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring voltage only
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/10—Measuring sum, difference or ratio
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16528—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values using digital techniques or performing arithmetic operations
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G01R19/1659—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 to indicate that the value is within or outside a predetermined range of values (window)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10—Regulating voltage or current
    • G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H1/00—Details of emergency protective circuit arrangements
    • H02H1/0007—Details of emergency protective circuit arrangements concerning the detecting means
    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H3/00—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection
    • H02H3/16—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection responsive to fault current to earth, frame or mass
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K5/00—Casings, cabinets or drawers for electric apparatus
    • H05K5/0017—Casings, cabinets or drawers for electric apparatus with operator interface units
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/02—Details of power systems and of start or stop of display operation
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/02—Details of power systems and of start or stop of display operation
    • G09G2330/028—Generation of voltages supplied to electrode drivers in a matrix display other than LCD
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/04—Display protection
    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H3/00—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection
    • H02H3/20—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection responsive to excess voltage
    • H02H3/202—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection responsive to excess voltage for dc systems
    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H7/00—Emergency protective circuit arrangements specially adapted for specific types of electric machines or apparatus or for sectionalised protection of cable or line systems, and effecting automatic switching in the event of an undesired change from normal working conditions
    • H02H7/20—Emergency protective circuit arrangements specially adapted for specific types of electric machines or apparatus or for sectionalised protection of cable or line systems, and effecting automatic switching in the event of an undesired change from normal working conditions for electronic equipment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Protection Of Static Devices (AREA)

Abstract

단락 검출 회로는 전원 전압을 기초로 기준 전압을 생성하는 기준 전압 생성부, 기준 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부, 단락 검출 대상 전압을 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부, 및 비교 결과 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함한다. 이에, 단락 검출 회로는 표시 장치 내 미세 이물에 의한 단락을 정확하게 검출할 수 있다.

Description

단락 검출 회로 및 이를 포함하는 표시 장치{SHORT DETECTION CIRCUIT AND DISPLAY DEVICE INCLUDING THE SAME}
본 발명은 표시 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본 발명은 표시 장치 내 미세 이물에 의한 단락(short)을 검출할 수 있는 단락 검출 회로 및 이를 포함하는 표시 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 표시 장치는 표시 패널의 크랙(crack)이나 내부 회로의 손상(damage)을 모니터링하고, 크랙 또는 손상이 검출되는 경우 표시 패널, 구동 집적 회로 및 전원 공급 회로 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시켜 크랙 또는 손상에 기인하는 추가적인 손상을 방지하는 기능을 가지고 있다. 이러한 기능을 수행하기 위해, 표시 장치는 전원 공급 회로(예를 들어, DC-DC 컨버터 등)에서 출력되는 전압들이나 구동 집적 회로에서 출력되는 전압들을 모니터링하고 있다. 하지만, 미세 이물에 의한 단락은 동일하거나 유사한 전압을 전달하는 라인들 사이에 발생하기 때문에, 상기 라인들의 전압 변화가 작은 경우 종래의 단락 검출 방식으로는 미세 이물에 의한 단락을 검출할 수 없었다. 예를 들어, 유기 발광 표시 장치에서 초기화 전압(VINT)이 -3.5V이고, 저전원 전압(ELVSS)이 -3V 내지 -3.5V이라고 가정하면, 초기화 전압(VINT)을 전달하는 초기화 전압 라인과 저전원 전압(ELVSS)을 전달하는 저전원 전압 라인 사이에 미세 이물에 의한 단락이 발생하더라도, 초기화 전압(VINT)과 저전원 전압(ELVSS)은 크게 변하지 않는다. 즉, 종래의 단락 검출 방식으로는 미세 이물에 의한 단락을 검출하기 어렵고, 그에 따라, 표시 장치에 상기 단락에 기인하는 추가적인 손상이 발생하고 있다.
본 발명의 일 목적은 표시 장치 내 미세 이물에 의한 단락을 정확하게 검출할 수 있는 단락 검출 회로를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 단락 검출 회로를 포함함으로써 미세 이물에 의한 단락에 기인하는 추가적인 손상을 방지할 수 있는 표시 장치를 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상술한 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 단락 검출 회로는 전원 전압을 기초로 기준 전압을 생성하는 기준 전압 생성부, 상기 기준 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부, 상기 단락 검출 대상 전압을 상기 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부, 및 상기 비교 결과 전압을 기초로 상기 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 기준 전압 생성부는 벅-부스트(buck-boost) 컨버터로 구현되고, 상기 벅-부스트 컨버터는 상기 전원 전압을 감압 또는 승압하여 상기 기준 전압을 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전원 전압은 패널 전원 전압 또는 로직 전원 전압일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 비교 전압 생성부는 상기 기준 전압을 복수의 가변 저항들을 이용하여 전압 분배함으로써 상기 비교 전압을 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전압 비교부는 연산 증폭기로 구현되고, 상기 단락 검출 대상 전압은 상기 연산 증폭기의 양의 단자에 입력되며, 상기 비교 전압은 상기 연산 증폭기의 음의 단자에 입력되고, 상기 비교 결과 전압은 상기 연산 증폭기의 출력 단자에서 출력될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 단락 검출부는, 상기 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위 내에 있으면 상기 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호를 출력하고, 상기 비교 결과 전압이 상기 전압 범위 밖에 있으면 상기 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호를 출력할 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 단락 검출 회로는 전원 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부, 상기 단락 검출 대상 전압을 상기 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부, 및 상기 비교 결과 전압을 기초로 상기 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 비교 전압 생성부는 상기 전원 전압을 복수의 가변 저항들을 이용하여 전압 분배함으로써 상기 비교 전압을 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전압 비교부는 연산 증폭기로 구현되고, 상기 단락 검출 대상 전압은 상기 연산 증폭기의 양의 단자에 입력되며, 상기 비교 전압은 상기 연산 증폭기의 음의 단자에 입력되고, 상기 비교 결과 전압은 상기 연산 증폭기의 출력 단자에서 출력될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 단락 검출부는, 상기 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위 내에 있으면 상기 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호를 출력하고, 상기 비교 결과 전압이 상기 전압 범위 밖에 있으면 상기 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호를 출력할 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 화소 회로들을 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널을 구동하는 구동 집적 회로, 상기 표시 패널 및 상기 구동 집적 회로에 제공되는 전원 전압 및 단락 검출 대상 전압을 생성하는 전원 공급 회로, 및 상기 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하고 상기 대상 라인이 단락된 것으로 판단되면 상기 표시 패널, 상기 구동 집적 회로 및 상기 전원 공급 회로 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시키는 단락 검출 회로를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 단락 검출 회로는 상기 전원 전압을 기초로 기준 전압을 생성하는 기준 전압 생성부, 상기 기준 전압을 기초로 상기 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부, 상기 단락 검출 대상 전압을 상기 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부, 및 상기 비교 결과 전압을 기초로 상기 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전원 전압은 패널 전원 전압 또는 로직 전원 전압이고, 상기 기준 전압 생성부는 벅-부스트(buck-boost) 컨버터로 구현되며, 상기 벅-부스트 컨버터는 상기 전원 전압을 감압 또는 승압하여 상기 기준 전압을 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 비교 전압 생성부는 상기 기준 전압을 복수의 가변 저항들을 이용하여 전압 분배함으로써 상기 비교 전압을 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전압 비교부는 연산 증폭기로 구현되고, 상기 단락 검출 대상 전압은 상기 연산 증폭기의 양의 단자에 입력되며, 상기 비교 전압은 상기 연산 증폭기의 음의 단자에 입력되고, 상기 비교 결과 전압은 상기 연산 증폭기의 출력 단자에서 출력될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 단락 검출부는, 상기 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위 내에 있으면 상기 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호를 출력하고, 상기 비교 결과 전압이 상기 전압 범위 밖에 있으면 상기 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호를 출력할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 단락 검출 회로는 상기 전원 전압을 기초로 상기 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부, 상기 단락 검출 대상 전압을 상기 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부, 및 상기 비교 결과 전압을 기초로 상기 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 비교 전압 생성부는 상기 전원 전압을 복수의 가변 저항들을 이용하여 전압 분배함으로써 상기 비교 전압을 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전압 비교부는 연산 증폭기로 구현되고, 상기 단락 검출 대상 전압은 상기 연산 증폭기의 양의 단자에 입력되며, 상기 비교 전압은 상기 연산 증폭기의 음의 단자에 입력되고, 상기 비교 결과 전압은 상기 연산 증폭기의 출력 단자에서 출력될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 단락 검출부는, 상기 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위 내에 있으면 상기 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호를 출력하고, 상기 비교 결과 전압이 상기 전압 범위 밖에 있으면 상기 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호를 출력할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 단락 검출 회로는 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하고, 단락 검출 대상 전압을 비교 전압과 비교하여 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단함으로써 표시 장치 내 미세 이물에 의한 단락을 정확하게 검출할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 상기 단락 검출 회로를 포함함으로써 미세 이물에 의한 단락이 발생하는 경우 표시 패널, 구동 집적 회로 및 전원 공급 회로 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시켜 상기 단락에 기인하는 추가적인 손상을 방지할 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 단락 검출 회로를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 단락 검출 회로에 포함되는 비교 전압 생성부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1의 단락 검출 회로에 포함되는 전압 비교부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 1의 단락 검출부가 미세 이물에 의한 단락이 발생되었는지 여부를 판단하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 단락 검출 회로를 나타내는 블록도이다.
도 6은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 7은 도 6의 표시 장치에서 미세 이물에 의한 단락에 기인하는 추가적인 손상이 방지되는 과정을 나타내는 순서도이다.
도 8은 도 6의 표시 장치에서 미세 이물에 의한 단락이 검출되는 과정을 나타내는 순서도이다.
도 9는 도 6의 표시 장치에서 미세 이물에 의한 단락이 발생되었는지 여부가 판단되는 과정을 나타내는 순서도이다.
도 10은 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기를 나타내는 블록도이다.
도 11은 도 10의 전자 기기가 텔레비전으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.
도 12는 도 10의 전자 기기가 스마트폰으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면 상의 동일한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 사용하고 동일한 구성 요소에 대해서 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 단락 검출 회로를 나타내는 블록도이고, 도 2는 도 1의 단락 검출 회로에 포함되는 비교 전압 생성부의 일 예를 나타내는 도면이며, 도 3은 도 1의 단락 검출 회로에 포함되는 전압 비교부의 일 예를 나타내는 도면이고, 도 4는 도 1의 단락 검출부가 미세 이물에 의한 단락이 발생되었는지 여부를 판단하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 단락 검출 회로(100)는 기준 전압 생성부(120), 비교 전압 생성부(140), 전압 비교부(160) 및 단락 검출부(180)를 포함할 수 있다. 단락 검출 회로(100)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하고, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락된 것으로 판단되면 표시 장치 내 표시 패널, 구동 집적 회로 및 전원 공급 회로 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시킬 수 있다.
기준 전압 생성부(120)는 전원 전압(VPOW)을 수신하고, 전원 전압(VPOW)에 기초하여 기준 전압(VREF)을 생성하며, 기준 전압(VREF)을 비교 전압 생성부(140)에 제공할 수 있다. 실시예에 따라, 전원 전압(VPOW)은 표시 패널을 구동하기 위한 전원 전압인 패널 전원 전압(VCI) 또는 구동 집적 회로 내부의 로직 회로들을 구동하기 위한 전원 전압인 로직 전원 전압(VDDI)일 수 있다. 다만, 이것은 예시적인 것으로서, 전원 전압(VPOW)이 그에 한정되지는 않는다. 일 실시예에서, 기준 전압 생성부(120)는 벅-부스트 컨버터로 구현될 수 있다. 따라서, 기준 전압 생성부(120)는 전원 전압(VPOW)을 감압 또는 승압하여 기준 전압(VREF)을 생성할 수 있다. 다른 실시예에서, 기준 전압(VREF)이 전원 전압(VPOW)보다 높은 전압으로만 결정되는 경우, 기준 전압 생성부(120)는 부스트 컨버터로 구현될 수 있다. 따라서, 기준 전압 생성부(120)는 전원 전압(VPOW)을 승압하여 기준 전압(VREF)을 생성할 수 있다. 또 다른 실시예에서, 기준 전압(VREF)이 전원 전압(VPOW)보다 낮은 전압으로만 결정되는 경우, 기준 전압 생성부(120)는 벅 컨버터로 구현될 수 있다. 따라서, 기준 전압 생성부(120)는 전원 전압(VPOW)을 감압하여 기준 전압(VREF)을 생성할 수 있다.
비교 전압 생성부(140)는 기준 전압 생성부(120)로부터 기준 전압(VREF)을 수신하고, 기준 전압(VREF)에 기초하여 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압(VCOM)을 생성하며, 비교 전압(VCOM)을 전압 비교부(160)에 제공할 수 있다. 이 때, 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압은 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았을 때의 단락 검출 대상 전압(VTAR)을 의미한다. 예를 들어, 조절 전압이 0.05V로 설정되는 경우, 비교 전압(VCOM)은 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압보다 0.05V만큼 높거나 낮은 전압일 수 있다. 이에, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 미세 이물에 의한 단락에 의해 소폭으로 흔들리는 경우에도, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 비교 전압(VCOM)과 비교되어 상기 단락이 검출되기 때문에, 단락 검출 회로(100)는 상기 단락을 정확하게 검출할 수 있다. 한편, 상기 조절 전압은 미세 이물에 의한 단락을 검출하는 데에 요구되는 조건에 따라 다양하게 설정될 수 있다. 실시예에 따라, 단락 검출 대상 전압(VTAR)은 표시 장치(예를 들어, 유기 발광 표시 장치 등)의 화소 회로들을 초기화시키기 위한 초기화 전압(VINT) 또는 표시 장치의 계조 전압을 생성하기 위한 래더(ladder) 저항의 기준 전압(VREG1OUT)일 수 있다. 다만, 이것은 예시적인 것으로서, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 그에 한정되지는 않는다. 일 실시예에서, 도 2에 도시된 바와 같이, 비교 전압 생성부(140)는 가변 저항 조절부(142) 및 가변 저항부(144)를 포함하고, 가변 저항부(144)는 복수의 가변 저항들(VR1, VR2)을 포함할 수 있다. 다만, 도 2에는 가변 저항부(144)가 2개의 가변 저항들(VR1, VR2)을 포함하는 것으로 도시되어 있으나, 가변 저항부(144)에 포함되는 가변 저항들(VR1, VR2)의 개수는 그에 한정되지 않는다. 가변 저항 조절부(142)는 가변 저항 조절 신호(VRC)을 출력하여 가변 저항들(VR1, VR2)의 저항 값들을 조절할 수 있다. 즉, 가변 저항 조절부(142)는 가변 저항부(144)로 하여금 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압보다 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압(VCOM)을 출력하게 만들 수 있다. 가변 저항부(144)는 가변 저항 조절부(142)에 의해 결정된 저항 값들을 갖는 가변 저항들(VR1, VR2)을 이용하여 기준 전압(VREF)을 전압 분배함으로써 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압(VCOM)을 생성할 수 있다. 이 때, 가변 저항들(VR1, VR2) 각각의 저항 값은 비교 전압(VCOM)을 생성하기 위한 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압, 기준 전압(VREF) 및 조절 전압에 기초하여 결정될 수 있다.
전압 비교부(160)는 단락 검출 대상 전압(VTAR) 및 비교 전압(VCOM)을 수신하고, 단락 검출 대상 전압(VTAR)을 비교 전압(VCOM)과 비교함으로써 비교 결과 전압(VRES)을 생성할 수 있다. 일 실시예에서, 도 3에 도시된 바와 같이, 전압 비교부(160)는 연산 증폭기(162)로 구현될 수 있다. 이 때, 단락 검출 대상 전압(VTAR)은 연산 증폭기(162)의 양의 단자(+)에 입력되고, 비교 전압(VCOM)은 연산 증폭기(162)의 음의 단자(-)에 입력되며, 비교 결과 전압(VRES)은 연산 증폭기(162)의 출력 단자에서 출력될 수 있다. 이 경우, 비교 결과 전압(VRES)은 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하고, 상기 값은 연산 증폭기(162)에 공급되는 최대 구동 전압(VHIGH)(예를 들어, 로직 전원 전압(VDDI))과 최소 구동 전압(VLOW)(예를 들어, 그라운드 전압(GND)) 사이에서 결정될 수 있다. 다시 말하면, 도 4에 도시된 바와 같이, 비교 결과 전압(VRES)은 최대 구동 전압(VHIGH)과 최소 구동 전압(VLOW) 사이의 전압이고, 비교 결과 전압(VRES)이 제1 단락 구간(EOR-H), 미단락 구간(TOR) 및 제2 단락 구간(EOR-L) 중에서 어느 구간에 속하는지 여부에 따라 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인의 단락 여부가 결정될 수 있다.
단락 검출부(180)는 전압 비교부(160)로부터 비교 결과 전압(VRES)을 수신하고, 비교 결과 전압(VRES)에 기초하여 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단할 수 있다. 구체적으로, 단락 검출부(180)는, 비교 결과 전압(VRES)이 기 설정된 전압 범위(즉, 미단락 구간(TOR)) 내에 있으면 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호(VREP1)를 출력하고, 비교 결과 전압(VRES)이 기 설정된 전압 범위 밖에 있으면 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호(VREP2)를 출력할 수 있다. 예를 들어, 단락 검출부(180)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인의 단락 여부를 나타내는 제1 모니터링 신호(VREP1)와 제2 모니터링 신호(VREP2)를 출력하기 위해 레지스터(register), 플래그 핀(flag pin) 등을 이용할 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)은 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락된 것으로 판단하게 되는 제1 단락 구간(EOR-H)과 제2 단락 구간(EOR-L) 및 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않은 것으로 판단하게 되는 미단락 구간(TOR) 중에서 하나의 구간에 속할 수 있다.
구체적으로, 미단락 구간(TOR)은 제1 단락 구간(EOR-H)과 제2 단락 구간(EOR-L) 사이에 위치할 수 있다. 즉, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않으면 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 변하지 않고, 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압(VCOM)은 고정되어 있으므로, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않은 경우, 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)은 일정한 값(VOR)을 갖는다. 하지만, 다양한 환경 요인들에 의해 비교 결과 전압(VRES)에 소정의 오차가 발생할 수 있으므로, 상기 값(VOR)을 기준으로 소정의 범위를 둠으로써 미단락 구간(TOR)이 설정될 수 있다. 제1 단락 구간(EOR-H)은 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)이 미단락 구간(TOR)보다 높은 전압을 갖는 구간이다. 이 때, 연산 증폭기(162)가 연산 증폭기(162)에 공급되는 최대 구동 전압(VHIGH)보다 높은 전압을 출력할 수 없으므로, 제1 단락 구간(EOR-H)은 미단락 구간(TOR)과 최대 구동 전압(VHIGH) 사이에 위치할 수 있다. 제2 단락 구간(EOR-L)은 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)이 미단락 구간(TOR)보다 낮은 전압을 갖는 구간이다. 이 때, 연산 증폭기(162)가 연산 증폭기(162)에 공급되는 최소 구동 전압(VLOW)보다 낮은 전압을 출력할 수 없으므로, 제2 단락 구간(EOR-L)은 미단락 구간(TOR)과 최소 구동 전압(VLOW) 사이에 위치할 수 있다. 따라서, 단락 검출부(180)는, 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)이 미단락 구간(TOR)에 속하는 경우, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호(VREP1)를 출력하고, 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)이 제1 단락 구간(EOR-H) 또는 제2 단락 구간(EOR-L)에 속하는 경우, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호(VREP2)를 출력할 수 있다.
실시예에 따라, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되면 라인 배치에 의해 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압에 비해 낮아지기만 하는 경우, 전압 비교부(160)의 연산 증폭기(162)는 비교기로 동작하도록 설계되고, 전압 비교부(160)의 연산 증폭기(162)에 인가되는 최소 구동 전압(VLOW)은 0V로 설정되며, 비교 전압(VCOM)은 단락 검출 대상 전압(VTAR)보다 낮게 설정될 수 있다. 이 경우, 전압 비교부(160)로부터 출력되는 비교 결과 전압(VRES)이 0V이면, 단락 검출부(180)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었다고 판단하여 제2 모니터링 신호(VREP2)를 출력할 수 있다. 반면에, 전압 비교부(160)로부터 출력되는 비교 결과 전압(VRES)이 0V이 아닌 경우, 단락 검출부(180)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았다고 판단하여 제1 모니터링 신호(VREP1)를 출력할 수 있다. 실시예에 따라, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되면 라인 배치에 의해 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압에 비해 높아지기만 하는 경우, 전압 비교부(160)의 연산 증폭기(162)는 비교기로 동작하도록 설계되고, 전압 비교부(160)의 연산 증폭기(162)에 인가되는 최대 구동 전압(VHIGH)은 소정의 전압으로 설정되며, 비교 전압(VCOM)은 단락 검출 대상 전압(VTAR)보다 높게 설정될 수 있다. 이 경우, 전압 비교부(160)로부터 출력되는 비교 결과 전압(VRES)이 소정의 전압이면, 단락 검출부(180)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었다고 판단하여 제2 모니터링 신호(VREP2)를 출력할 수 있다. 반면에, 전압 비교부(160)로부터 출력되는 비교 결과 전압(VRES)이 소정의 전압이 아닌 경우, 단락 검출부(180)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았다고 판단하여 제1 모니터링 신호(VREP1)를 출력할 수 있다.
이와 같이, 단락 검출 회로(100)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압(VCOM)을 생성하고, 단락 검출 대상 전압(VTAR)을 비교 전압(VCOM)과 비교하여 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단함으로써 표시 장치 내 미세 이물에 의한 단락을 정확하게 검출할 수 있다. 또한, 단락 검출 회로(100)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 변경되더라도(예를 들어, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 초기화 전압(VINT)에서 래더 저항의 기준 전압(VREG1OUT)으로 변경 등) 다른 추가적인 설계 변경 없이 그에 적합한 비교 전압(VCOM)을 생성할 수 있으므로, 표시 장치 내 다양한 전압들을 단락 검출 대상 전압(VTAR)으로 선택하여 미세 이물에 의한 단락을 광범위하게 검출할 수 있다. 나아가, 단락 검출 회로(100)는 제1 모니터링 신호(VREP1) 또는 제2 모니터링 신호(VREP2)를 출력함으로써, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락된 것으로 판단되면 표시 장치 내 표시 패널, 구동 집적 회로 및 전원 공급 회로 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시킬 수 있다. 그 결과, 단락 검출 회로(100)를 포함한 표시 장치는 미세 이물에 의한 단락에 기인하는 추가적인 손상을 방지할 수 있다. 한편, 도 4에는 제1 단락 구간(EOR-H), 미단락 구간(TOR) 및 제2 단락 구간(EOR-L)이 도시되어 있지만, 실시예에 따라, 제1 단락 구간(EOR-H), 미단락 구간(TOR) 및 제2 단락 구간(EOR-L) 중에서 일부는 생략될 수 있다. 예를 들어, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인에 인접하는 라인들이 무엇이냐에 따라 단락 시에 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압에 비해 높아지기만 하거나 낮아지기만 하는 경우, 제1 단락 구간(EOR-H) 또는 제2 단락 구간(EOR-L)은 생략될 수 있다. 또한, 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)에 소정의 오차를 고려할 필요가 없는 경우, 미단락 구간(TOR)은 생략될 수 있다.
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 단락 검출 회로를 나타내는 블록도이다.
도 5를 참조하면, 단락 검출 회로(200)는 비교 전압 생성부(240), 전압 비교부(260) 및 단락 검출부(280)를 포함할 수 있다. 단락 검출 회로(200)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하고, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락된 것으로 판단되면 표시 장치 내 표시 패널, 구동 집적 회로 및 전원 공급 회로 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시킬 수 있다.
비교 전압 생성부(240)는 전원 전압(VPOW)을 수신하고, 전원 전압(VPOW)에 기초하여 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압(VCOM)을 생성하며, 비교 전압(VCOM)을 전압 비교부(260)에 제공할 수 있다. 실시예에 따라, 전원 전압(VPOW)은 표시 패널을 구동하기 위한 전원 전압인 패널 전원 전압(VCI) 또는 구동 집적 회로 내부의 로직 회로들을 구동하기 위한 전원 전압인 로직 전원 전압(VDDI)일 수 있다. 이 때, 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압은 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았을 때의 단락 검출 대상 전압(VTAR)을 의미한다. 예를 들어, 조절 전압이 0.05V로 설정되는 경우, 비교 전압(VCOM)은 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압보다 0.05V만큼 높거나 낮은 전압일 수 있다. 이에, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 미세 이물에 의한 단락에 의해 소폭으로 흔들리는 경우에도, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 비교 전압(VCOM)과 비교되어 상기 단락이 검출되기 때문에, 단락 검출 회로(200)는 상기 단락을 정확하게 검출할 수 있다. 한편, 상기 조절 전압은 미세 이물에 의한 단락을 검출하는 데에 요구되는 조건에 따라 다양하게 설정될 수 있다. 실시예에 따라, 단락 검출 대상 전압(VTAR)은 표시 장치의 화소 회로들을 초기화시키기 위한 초기화 전압(VINT) 또는 표시 장치의 계조 전압을 생성하기 위한 래더 저항의 기준 전압(VREG1OUT)일 수 있다. 다만, 이것은 예시적인 것으로서, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 그에 한정되지는 않는다. 일 실시예에서, 비교 전압 생성부(240)는 가변 저항 조절부 및 가변 저항부를 포함하고, 가변 저항부는 복수의 가변 저항들을 포함할 수 있다. 가변 저항 조절부는 가변 저항 조절 신호을 출력하여 가변 저항들의 저항 값들을 조절할 수 있다. 즉, 가변 저항 조절부는 가변 저항부로 하여금 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압보다 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압(VCOM)을 출력하게 만들 수 있다. 가변 저항부는 가변 저항 조절부에 의해 결정된 저항 값들을 갖는 가변 저항들을 이용하여 전원 전압(VPOW)을 전압 분배함으로써 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압(VCOM)을 생성할 수 있다. 이 때, 가변 저항들 각각의 저항 값은 비교 전압(VCOM)을 생성하기 위한 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압, 전원 전압(VPOW) 및 조절 전압에 기초하여 결정될 수 있다.
전압 비교부(260)는 단락 검출 대상 전압(VTAR) 및 비교 전압(VCOM)을 수신하고, 단락 검출 대상 전압(VTAR)을 비교 전압(VCOM)과 비교함으로써 비교 결과 전압(VRES)을 생성할 수 있다. 일 실시예에서, 전압 비교부(260)는 연산 증폭기로 구현될 수 있다. 이 때, 단락 검출 대상 전압(VTAR)은 연산 증폭기의 양의 단자에 입력되고, 비교 전압(VCOM)은 연산 증폭기의 음의 단자에 입력되며, 비교 결과 전압(VRES)은 연산 증폭기의 출력 단자에서 출력될 수 있다. 이 경우, 비교 결과 전압(VRES)은 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하고, 상기 값은 연산 증폭기에 공급되는 최대 구동 전압(예를 들어, 로직 전원 전압(VDDI))과 최소 구동 전압(예를 들어, 그라운드 전압(GND)) 사이에서 결정될 수 있다. 다시 말하면, 비교 결과 전압(VRES)은 최대 구동 전압과 최소 구동 전압 사이의 전압이고, 비교 결과 전압(VRES)이 제1 단락 구간, 미단락 구간 및 제2 단락 구간 중에서 어느 구간에 속하는지 여부에 따라 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인의 단락 여부가 결정될 수 있다.
단락 검출부(280)는 전압 비교부(260)로부터 비교 결과 전압(VRES)을 수신하고, 비교 결과 전압(VRES)에 기초하여 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단할 수 있다. 구체적으로, 단락 검출부(280)는, 비교 결과 전압(VRES)이 기 설정된 전압 범위(즉, 미단락 구간) 내에 있으면 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호(VREP1)를 출력하고, 비교 결과 전압(VRES)이 기 설정된 전압 범위 밖에 있으면 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호(VREP2)를 출력할 수 있다. 예를 들어, 단락 검출부(280)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인의 단락 여부를 나타내는 제1 모니터링 신호(VREP1)와 제2 모니터링 신호(VREP2)를 출력하기 위해 레지스터, 플래그 핀 등을 이용할 수 있다. 상술한 바와 같이, 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)은 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락된 것으로 판단하게 되는 제1 단락 구간과 제2 단락 구간 및 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않은 것으로 판단하게 되는 미단락 구간 중에서 하나의 구간에 속할 수 있다.
구체적으로, 미단락 구간은 제1 단락 구간과 제2 단락 구간 사이에 위치할 수 있다. 즉, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않으면 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 변하지 않고, 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압(VCOM)은 고정되어 있으므로, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않은 경우, 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)은 일정한 값을 갖는다. 하지만, 다양한 환경 요인들에 의해 비교 결과 전압(VRES)에 소정의 오차가 발생할 수 있으므로, 상기 값을 기준으로 소정의 범위를 둠으로써 미단락 구간이 설정될 수 있다. 제1 단락 구간은 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)이 미단락 구간보다 높은 전압을 갖는 구간이다. 이 때, 연산 증폭기가 연산 증폭기에 공급되는 최대 구동 전압보다 높은 전압을 출력할 수 없으므로, 제1 단락 구간은 미단락 구간과 최대 구동 전압 사이에 위치할 수 있다. 제2 단락 구간은 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)이 미단락 구간보다 낮은 전압을 갖는 구간이다. 이 때, 연산 증폭기가 연산 증폭기에 공급되는 최소 구동 전압보다 낮은 전압을 출력할 수 없으므로, 제2 단락 구간은 미단락 구간과 최소 구동 전압 사이에 위치할 수 있다. 따라서, 단락 검출부(280)는, 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)이 미단락 구간에 속하는 경우, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호(VREP1)를 출력하고, 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)이 제1 단락 구간 또는 제2 단락 구간에 속하는 경우, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호(VREP2)를 출력할 수 있다.
실시예에 따라, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되면 라인 배치에 의해 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압에 비해 낮아지기만 하는 경우, 전압 비교부(260)의 연산 증폭기는 비교기로 동작하도록 설계되고, 전압 비교부(260)의 연산 증폭기에 인가되는 최소 구동 전압은 0V로 설정되며, 비교 전압(VCOM)은 단락 검출 대상 전압(VTAR)보다 낮게 설정될 수 있다. 이 경우, 전압 비교부(260)로부터 출력되는 비교 결과 전압(VRES)이 0V이면, 단락 검출부(280)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었다고 판단하여 제2 모니터링 신호(VREP2)를 출력할 수 있다. 반면에, 전압 비교부(260)로부터 출력되는 비교 결과 전압(VRES)이 0V이 아닌 경우, 단락 검출부(280)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았다고 판단하여 제1 모니터링 신호(VREP1)를 출력할 수 있다. 실시예에 따라, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되면 라인 배치에 의해 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압에 비해 높아지기만 하는 경우, 전압 비교부(260)의 연산 증폭기는 비교기로 동작하도록 설계되고, 전압 비교부(260)의 연산 증폭기에 인가되는 최대 구동 전압은 소정의 전압으로 설정되며, 비교 전압(VCOM)은 단락 검출 대상 전압(VTAR)보다 높게 설정될 수 있다. 이 경우, 전압 비교부(260)로부터 출력되는 비교 결과 전압(VRES)이 소정의 전압이면, 단락 검출부(280)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었다고 판단하여 제2 모니터링 신호(VREP2)를 출력할 수 있다. 반면에, 전압 비교부(260)로부터 출력되는 비교 결과 전압(VRES)이 소정의 전압이 아닌 경우, 단락 검출부(280)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았다고 판단하여 제1 모니터링 신호(VREP1)를 출력할 수 있다.
이와 같이, 단락 검출 회로(200)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압(VCOM)을 생성하고, 단락 검출 대상 전압(VTAR)을 비교 전압(VCOM)과 비교하여 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단함으로써 표시 장치 내 미세 이물에 의한 단락을 정확하게 검출할 수 있다. 또한, 단락 검출 회로(200)는 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 변경되더라도(예를 들어, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 초기화 전압(VINT)에서 래더 저항의 기준 전압(VREG1OUT)으로 변경 등) 다른 추가적인 설계 변경 없이 그에 적합한 비교 전압(VCOM)을 생성할 수 있으므로, 표시 장치 내 다양한 전압들을 단락 검출 대상 전압(VTAR)으로 선택하여 미세 이물에 의한 단락을 광범위하게 검출할 수 있다. 나아가, 단락 검출 회로(200)는 제1 모니터링 신호(VREP1) 또는 제2 모니터링 신호(VREP2)를 출력함으로써, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인이 단락된 것으로 판단되면 표시 장치 내 표시 패널, 구동 집적 회로 및 전원 공급 회로 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시킬 수 있다. 그 결과, 단락 검출 회로(200)를 포함한 표시 장치는 미세 이물에 의한 단락에 기인하는 추가적인 손상을 방지할 수 있다. 한편, 실시예에 따라, 제1 단락 구간, 미단락 구간 및 제2 단락 구간 중에서 일부는 생략될 수 있다. 예를 들어, 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 전달되는 대상 라인에 인접하는 라인들이 무엇이냐에 따라 단락 시에 단락 검출 대상 전압(VTAR)이 단락 검출 대상 전압(VTAR)의 정상 상태 전압에 비해 높아지기만 하거나 낮아지기만 하는 경우, 제1 단락 구간 또는 제2 단락 구간은 생략될 수 있다. 또한, 단락 검출 대상 전압(VTAR)과 비교 전압(VCOM)의 차이가 증폭된 값에 해당하는 비교 결과 전압(VRES)에 소정의 오차를 고려할 필요가 없는 경우, 미단락 구간은 생략될 수 있다.
도 6은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이고, 도 7은 도 6의 표시 장치에서 미세 이물에 의한 단락에 기인하는 추가적인 손상이 방지되는 과정을 나타내는 순서도이며, 도 8은 도 6의 표시 장치에서 미세 이물에 의한 단락이 검출되는 과정을 나타내는 순서도이고, 도 9는 도 6의 표시 장치에서 미세 이물에 의한 단락이 발생되었는지 여부가 판단되는 과정을 나타내는 순서도이다.
도 6 내지 도 9를 참조하면, 표시 장치(500)는 표시 패널(510), 구동 집적 회로(520), 전원 공급 회로(530) 및 단락 검출 회로(540)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(500)는 유기 발광 표시 장치 또는 액정 표시 장치일 수 있으나, 표시 장치(500)가 그에 한정되는 것은 아니다.
표시 패널(510)은 복수의 화소 회로들을 포함할 수 있다. 이 때, 화소 회로들은 표시 패널(510) 내에서 매트릭스 형태로 배열될 수 있다. 구동 집적 회로(520)는 표시 패널(510)을 구동할 수 있다. 이를 위해, 표시 패널(510)은 다양한 라인들을 통해 구동 집적 회로(520)에 연결될 수 있다. 구체적으로, 구동 집적 회로(520)는 스캔 드라이버, 구동 드라이버, 타이밍 컨트롤러 등을 포함할 수 있다. 이 경우, 표시 패널(510)은 복수의 스캔 라인들을 통해 스캔 드라이버에 연결될 수 있고, 복수의 데이터 라인들을 통해 데이터 드라이버에 연결될 수 있다. 스캔 드라이버는 복수의 스캔 라인들을 통해 표시 패널(510)에 스캔 신호를 제공할 수 있다. 데이터 드라이버는 복수의 데이터 라인들을 통해 표시 패널(510)에 데이터 신호를 제공할 수 있다. 실시예에 따라, 표시 장치(500)가 발광 제어 기능을 수행하는 유기 발광 표시 장치인 경우, 구동 집적 회로(520)는 발광 제어 드라이버를 더 포함할 수 있고, 표시 패널(510)은 복수의 발광 제어 라인들을 통해 발광 드라이버에 연결될 수 있다. 이 경우, 발광 제어 드라이버는 복수의 발광 제어 라인들을 통해 표시 패널(510)에 발광 제어 신호를 제공할 수 있다. 한편, 타이밍 컨트롤러는 복수의 제어 신호들을 생성하여 스캔 드라이버, 데이터 드라이버, 발광 제어 드라이버 등을 제어할 수 있다. 전원 공급 회로(530)는 표시 장치(500)의 동작에 필요한 다양한 전압들을 공급할 수 있다. 즉, 전원 공급 회로(530)는 표시 패널(510) 및 구동 집적 회로(520)에 제공되는 전원 전압 및 단락 검출 대상 전압을 포함하는 다양한 전압들을 생성할 수 있다. 단락 검출 회로(540)는 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하고, 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락된 것으로 판단되면 표시 패널(510), 구동 집적 회로(520) 및 전원 공급 회로(530) 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시킬 수 있다. 즉, 도 7에 도시된 바와 같이, 단락 검출 회로(540)는 표시 장치(500) 내 미세 이물에 의한 단락을 검출(S120)하면, 표시 패널(510), 구동 집적 회로(520) 및 전원 공급 회로(530) 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운(S140)시킴으로써 상기 단락에 기인하는 추가적인 손상을 방지할 수 있다. 이 때, 단락 검출 대상 전압은 표시 장치(500)의 화소 회로들을 초기화시키기 위한 초기화 전압(VINT) 또는 표시 장치(500)의 계조 전압을 생성하기 위한 래더 저항의 기준 전압(VREG1OUT)일 수 있으나, 표시 장치(500) 내 미세 이물에 의한 단락을 검출하기 위한 단락 검출 대상 전압은 그에 한정되지 않는다.
상술한 바와 같이, 단락 검출 회로(540)는 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하고, 단락 검출 대상 전압을 비교 전압과 비교하여 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단함으로써 표시 장치 내 미세 이물에 의한 단락을 정확하게 검출할 수 있다. 즉, 도 8에 도시된 바와 같이, 단락 검출 회로(540)는 표시 장치(500)의 동작에 필요한 다양한 전압들 중에서 단락 우려가 있는 전압을 단락 검출 대상 전압으로 선정(S220)하고, 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성(S240)하며, 단락 검출 대상 전압을 비교 전압과 비교하여 비교 결과 전압을 생성(S260)하고, 비교 결과 전압에 기초하여 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단(S280)할 수 있다. 이 때, 도 9에 도시된 바와 같이, 단락 검출 회로(540)는 비교 결과 전압을 생성(S320)한 후, 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위(즉, 미단락 구간) 내에 있는지 여부를 판단(S340)할 수 있다. 이 때, 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위 내에 있으면, 단락 검출 회로(540)는 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았다고 판단(S360)할 수 있다. 즉, 단락 검출 회로(540)는 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호를 출력할 수 있다. 반면에, 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위 밖에 있으면, 단락 검출 회로(540)는 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었다고 판단(S380)할 수 있다. 즉, 단락 검출 회로(540)는 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호를 출력할 수 있다. 이 경우, 단락 검출 회로(540)는 제2 모니터링 신호에 응답하여 표시 패널(510), 구동 집적 회로(520) 및 전원 공급 회로(530) 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시켜 상기 단락에 기인하는 추가적인 손상을 방지할 수 있다.
일 실시예에서, 단락 검출 회로(540)는 전원 전압을 기초로 기준 전압을 생성하는 기준 전압 생성부, 기준 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부, 단락 검출 대상 전압을 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부, 및 비교 결과 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 전원 전압은 패널 전원 전압(VCI) 또는 로직 전원 전압(VDDI)일 수 있으나, 전원 전압은 그에 한정되지 않는다. 일 실시예에서, 기준 전압 생성부는 벅-부스트 컨버터로 구현될 수 있다. 따라서, 기준 전압 생성부는 전원 전압을 감압 또는 승압하여 기준 전압을 생성할 수 있다. 다른 실시예에서, 기준 전압이 전원 전압보다 높은 전압으로만 결정되는 경우, 기준 전압 생성부는 부스트 컨버터로 구현될 수 있다. 따라서, 기준 전압 생성부는 전원 전압을 승압하여 기준 전압을 생성할 수 있다. 또 다른 실시예에서, 기준 전압이 전원 전압보다 낮은 전압으로만 결정되는 경우, 기준 전압 생성부는 벅 컨버터로 구현될 수 있다. 따라서, 기준 전압 생성부는 전원 전압을 감압하여 기준 전압을 생성할 수 있다. 일 실시예에서, 비교 전압 생성부는 가변 저항 조절부 및 가변 저항부를 포함하고, 가변 저항부는 복수의 가변 저항들을 포함할 수 있다. 따라서, 비교 전압 생성부는 기준 전압을 가변 저항들을 이용하여 전압 분배함으로써 비교 전압을 생성할 수 있다. 일 실시예에서, 전압 비교부는 연산 증폭기로 구현될 수 있다. 이 때, 단락 검출 대상 전압은 연산 증폭기의 양의 단자에 입력되고, 비교 전압은 연산 증폭기의 음의 단자에 입력되며, 비교 결과 전압은 연산 증폭기의 출력 단자에서 출력될 수 있다. 일 실시예에서, 단락 검출부는, 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위 내에 있으면 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호를 출력하고, 비교 결과 전압이 상기 전압 범위 밖에 있으면 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호를 출력할 수 있다. 따라서, 단락 검출부에서 제2 모니터링 신호가 출력되면, 표시 패널(510), 구동 집적 회로(520) 및 전원 공급 회로(530) 중에서 적어도 하나 이상이 셧-다운될 수 있다. 반면에, 단락 검출부에서 제1 모니터링 신호가 출력되면, 단락 검출 대상 전압은 계속적으로 모니터링될 수 있다.
다른 실시예에서, 단락 검출 회로(540)는 전원 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부, 단락 검출 대상 전압을 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부, 및 비교 결과 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함할 수 있다. 즉, 본 실시예의 단락 검출 회로(540)는 비교 전압을 생성하기 위한 기준 전압을 생성하지 않고, 전원 공급 회로(530)에서 공급되는 전원 전압을 이용하여 비교 전압을 직접 생성할 수 있다. 실시예에 따라, 전원 전압은 패널 전원 전압(VCI) 또는 로직 전원 전압(VDDI)일 수 있으나, 전원 전압은 그에 한정되지 않는다. 일 실시예에서, 비교 전압 생성부는 가변 저항 조절부 및 가변 저항부를 포함하고, 가변 저항부는 복수의 가변 저항들을 포함할 수 있다. 따라서, 비교 전압 생성부는 전원 전압을 가변 저항들을 이용하여 전압 분배함으로써 비교 전압을 생성할 수 있다. 일 실시예에서, 전압 비교부는 연산 증폭기로 구현될 수 있다. 이 때, 단락 검출 대상 전압은 연산 증폭기의 양의 단자에 입력되고, 비교 전압은 연산 증폭기의 음의 단자에 입력되며, 비교 결과 전압은 연산 증폭기의 출력 단자에서 출력될 수 있다. 일 실시예에서, 단락 검출부는, 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위 내에 있으면 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호를 출력하고, 비교 결과 전압이 상기 전압 범위 밖에 있으면 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호를 출력할 수 있다. 따라서, 단락 검출부에서 제2 모니터링 신호가 출력되면, 표시 패널(510), 구동 집적 회로(520) 및 전원 공급 회로(530) 중에서 적어도 하나 이상이 셧-다운될 수 있다. 반면에, 단락 검출부에서 제1 모니터링 신호가 출력되면, 단락 검출 대상 전압은 계속적으로 모니터링될 수 있다. 이와 같이, 표시 장치(500)는 단락 검출 회로(540)를 포함함으로써 미세 이물에 의한 단락이 발생하는 경우 표시 패널(510), 구동 집적 회로(520) 및 전원 공급 회로(530) 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시켜 상기 단락에 기인하는 추가적인 손상을 방지할 수 있다.
도 10은 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기를 나타내는 블록도이고, 도 11은 도 10의 전자 기기가 텔레비전으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이며, 도 12는 도 10의 전자 기기가 스마트폰으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.
도 10 내지 도 12를 참조하면, 전자 기기(1000)는 프로세서(1010), 메모리 장치(1020), 스토리지 장치(1030), 입출력 장치(1040), 파워 서플라이(1050) 및 표시 장치(1060)를 포함할 수 있다. 이 때, 표시 장치(1060)는 도 6의 표시 장치(500)에 상응할 수 있다. 전자 기기(1000)는 비디오 카드, 사운드 카드, 메모리 카드, USB 장치 등과 통신하거나, 또는 다른 시스템들과 통신할 수 있는 여러 포트(port)들을 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 도 11에 도시된 바와 같이, 전자 기기(1000)는 텔레비전으로 구현될 수 있다. 다른 실시예에서, 도 12에 도시된 바와 같이, 전자 기기(1000)는 스마트폰으로 구현될 수 있다. 다만, 이것은 예시적인 것으로서 전자 기기(1000)가 그에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 전자 기기(1000)는 휴대폰, 비디오폰, 스마트패드(smart pad), 스마트 워치(smart watch), 태블릿(tablet) PC, 차량용 네비게이션 시스템, 컴퓨터 모니터, 노트북, 헤드 마운트 디스플레이(head mounted display; HMD) 등으로 구현될 수도 있다.
프로세서(1010)는 특정 계산들 또는 태스크(task)들을 수행할 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(1010)는 마이크로프로세서(micro processor), 중앙 처리 유닛(central processing unit; CPU), 어플리케이션 프로세서(application processor; AP) 등일 수 있다. 프로세서(1010)는 어드레스 버스(address bus), 제어 버스(control bus) 및 데이터 버스(data bus) 등을 통해 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(1010)는 주변 구성 요소 상호 연결(Peripheral Component Interconnect; PCI) 버스와 같은 확장 버스에도 연결될 수 있다. 메모리 장치(1020)는 전자 기기(1000)의 동작에 필요한 데이터들을 저장할 수 있다. 예를 들어, 메모리 장치(1020)는 이피롬(Erasable Programmable Read-Only Memory; EPROM) 장치, 이이피롬(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory; EEPROM) 장치, 플래시 메모리 장치(flash memory device), 피램(Phase Change Random Access Memory; PRAM) 장치, 알램(Resistance Random Access Memory; RRAM) 장치, 엔에프지엠(Nano Floating Gate Memory; NFGM) 장치, 폴리머램(Polymer Random Access Memory; PoRAM) 장치, 엠램(Magnetic Random Access Memory; MRAM), 에프램(Ferroelectric Random Access Memory; FRAM) 장치 등과 같은 비휘발성 메모리 장치 및/또는 디램(Dynamic Random Access Memory; DRAM) 장치, 에스램(Static Random Access Memory; SRAM) 장치, 모바일 DRAM 장치 등과 같은 휘발성 메모리 장치를 포함할 수 있다. 스토리지 장치(1030)는 솔리드 스테이트 드라이브(Solid State Drive; SSD), 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive; HDD), 씨디롬(CD-ROM) 등을 포함할 수 있다. 입출력 장치(1040)는 키보드, 키패드, 터치패드, 터치스크린, 마우스 등과 같은 입력 수단 및 스피커, 프린터 등과 같은 출력 수단을 포함할 수 있다. 파워 서플라이(1050)는 전자 기기(1000)의 동작에 필요한 파워를 공급할 수 있다.
표시 장치(1060)는 상기 버스들 또는 다른 통신 링크를 통해서 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 실시예에 따라, 표시 장치(1060)는 입출력 장치(1040)에 포함될 수도 있다. 상술한 바와 같이, 표시 장치(1060)는 표시 장치(1060)는 미세 이물에 의한 단락이 발생하는 경우 표시 패널, 구동 집적 회로 및 전원 공급 회로 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시켜 상기 단락에 기인하는 추가적인 손상을 방지할 수 있다. 이를 위해, 표시 장치(1060)는 복수의 화소 회로들을 포함하는 표시 패널, 표시 패널을 구동하는 구동 집적 회로, 표시 패널과 구동 집적 회로에 제공되는 전원 전압과 단락 검출 대상 전압을 생성하는 전원 공급 회로, 및 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하고, 대상 라인이 단락된 것으로 판단되면 표시 패널, 구동 집적 회로 및 전원 공급 회로 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시키는 단락 검출 회로를 포함할 수 있다. 이 때, 단락 검출 회로는 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하고, 단락 검출 대상 전압을 비교 전압과 비교하여 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단함으로써 표시 장치 내 미세 이물에 의한 단락을 정확하게 검출할 수 있다. 일 실시예에서, 단락 검출 회로는 전원 전압을 기초로 기준 전압을 생성하는 기준 전압 생성부, 기준 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부, 단락 검출 대상 전압을 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부, 및 비교 결과 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함할 수 있다. 다른 실시예에서, 단락 검출 회로는 전원 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부, 단락 검출 대상 전압을 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부, 및 비교 결과 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함할 수 있다. 다만, 이에 대해서는 상술한 바 있으므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
본 발명은 표시 장치 및 이를 포함하는 다양한 전자 기기들에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 휴대폰, 스마트폰, 비디오폰, 스마트패드, 스마트 워치, 태블릿 PC, 차량용 네비게이션 시스템, 텔레비전, 컴퓨터 모니터, 노트북, 헤드 마운트 디스플레이 등에 적용될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 예시적인 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100: 단락 검출 회로 120: 기준 전압 생성부
140: 비교 전압 생성부 160: 전압 비교부
180: 단락 검출부 500: 표시 장치
510: 표시 패널 520: 구동 집적 회로
530: 전원 공급 회로 540: 단락 검출 회로
1000: 전자 기기 1010: 프로세서
1020: 메모리 장치 1030: 스토리지 장치
1040: 입출력 장치 1050: 파워 서플라이
1060: 표시 장치

Claims (20)

  1. 전원 전압을 기초로 기준 전압을 생성하는 기준 전압 생성부;
    상기 기준 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부;
    상기 단락 검출 대상 전압을 상기 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부; 및
    상기 비교 결과 전압을 기초로 상기 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함하고,
    상기 비교 전압 생성부는 상기 기준 전압을 복수의 가변 저항들을 이용하여 전압 분배함으로써 상기 비교 전압을 생성하며,
    상기 전압 비교부는 연산 증폭기로 구현되고, 상기 단락 검출 대상 전압은 상기 연산 증폭기의 양의 단자에 입력되며, 상기 비교 전압은 상기 연산 증폭기의 음의 단자에 입력되고, 상기 비교 결과 전압은 상기 연산 증폭기의 출력 단자에서 출력되는 것을 특징으로 하는 단락 검출 회로.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 기준 전압 생성부는 벅-부스트(buck-boost) 컨버터로 구현되고, 상기 벅-부스트 컨버터는 상기 전원 전압을 감압 또는 승압하여 상기 기준 전압을 생성하는 것을 특징으로 하는 단락 검출 회로.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 전원 전압은 패널 전원 전압 또는 로직 전원 전압인 것을 특징으로 하는 단락 검출 회로.
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 단락 검출부는, 상기 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위 내에 있으면 상기 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호를 출력하고, 상기 비교 결과 전압이 상기 전압 범위 밖에 있으면 상기 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 단락 검출 회로.
  7. 전원 전압을 기초로 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부;
    상기 단락 검출 대상 전압을 상기 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부; 및
    상기 비교 결과 전압을 기초로 상기 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함하고,
    상기 비교 전압 생성부는 상기 전원 전압을 복수의 가변 저항들을 이용하여 전압 분배함으로써 상기 비교 전압을 생성하며,
    상기 전압 비교부는 연산 증폭기로 구현되고, 상기 단락 검출 대상 전압은 상기 연산 증폭기의 양의 단자에 입력되며, 상기 비교 전압은 상기 연산 증폭기의 음의 단자에 입력되고, 상기 비교 결과 전압은 상기 연산 증폭기의 출력 단자에서 출력되는 것을 특징으로 하는 단락 검출 회로.
  8. 삭제
  9. 삭제
  10. 제 7 항에 있어서, 상기 단락 검출부는, 상기 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위 내에 있으면 상기 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호를 출력하고, 상기 비교 결과 전압이 상기 전압 범위 밖에 있으면 상기 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 단락 검출 회로.
  11. 삭제
  12. 복수의 화소 회로들을 포함하는 표시 패널;
    상기 표시 패널을 구동하는 구동 집적 회로;
    상기 표시 패널 및 상기 구동 집적 회로에 제공되는 전원 전압 및 단락 검출 대상 전압을 생성하는 전원 공급 회로; 및
    상기 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하고, 상기 대상 라인이 단락된 것으로 판단되면 상기 표시 패널, 상기 구동 집적 회로 및 상기 전원 공급 회로 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시키는 단락 검출 회로를 포함하고,
    상기 단락 검출 회로는
    상기 전원 전압을 기초로 기준 전압을 생성하는 기준 전압 생성부;
    상기 기준 전압을 기초로 상기 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부;
    상기 단락 검출 대상 전압을 상기 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부; 및
    상기 비교 결과 전압을 기초로 상기 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함하며,
    상기 비교 전압 생성부는 상기 기준 전압을 복수의 가변 저항들을 이용하여 전압 분배함으로써 상기 비교 전압을 생성하고,
    상기 전압 비교부는 연산 증폭기로 구현되고, 상기 단락 검출 대상 전압은 상기 연산 증폭기의 양의 단자에 입력되며, 상기 비교 전압은 상기 연산 증폭기의 음의 단자에 입력되고, 상기 비교 결과 전압은 상기 연산 증폭기의 출력 단자에서 출력되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  13. 제 12 항에 있어서, 상기 전원 전압은 패널 전원 전압 또는 로직 전원 전압이고, 상기 기준 전압 생성부는 벅-부스트(buck-boost) 컨버터로 구현되며, 상기 벅-부스트 컨버터는 상기 전원 전압을 감압 또는 승압하여 상기 기준 전압을 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  14. 삭제
  15. 삭제
  16. 제 12 항에 있어서, 상기 단락 검출부는, 상기 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위 내에 있으면 상기 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호를 출력하고, 상기 비교 결과 전압이 상기 전압 범위 밖에 있으면 상기 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  17. 복수의 화소 회로들을 포함하는 표시 패널;
    상기 표시 패널을 구동하는 구동 집적 회로;
    상기 표시 패널 및 상기 구동 집적 회로에 제공되는 전원 전압 및 단락 검출 대상 전압을 생성하는 전원 공급 회로; 및
    상기 단락 검출 대상 전압이 전달되는 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하고, 상기 대상 라인이 단락된 것으로 판단되면 상기 표시 패널, 상기 구동 집적 회로 및 상기 전원 공급 회로 중에서 적어도 하나 이상을 셧-다운시키는 단락 검출 회로를 포함하고,
    상기 단락 검출 회로는
    상기 전원 전압을 기초로 상기 단락 검출 대상 전압의 정상 상태 전압보다 기 설정된 조절 전압만큼 높거나 낮은 비교 전압을 생성하는 비교 전압 생성부;
    상기 단락 검출 대상 전압을 상기 비교 전압과 비교함으로써 비교 결과 전압을 생성하는 전압 비교부; 및
    상기 비교 결과 전압을 기초로 상기 대상 라인이 단락되었는지 여부를 판단하는 단락 검출부를 포함하며,
    상기 비교 전압 생성부는 상기 전원 전압을 복수의 가변 저항들을 이용하여 전압 분배함으로써 상기 비교 전압을 생성하고,
    상기 전압 비교부는 연산 증폭기로 구현되고, 상기 단락 검출 대상 전압은 상기 연산 증폭기의 양의 단자에 입력되며, 상기 비교 전압은 상기 연산 증폭기의 음의 단자에 입력되고, 상기 비교 결과 전압은 상기 연산 증폭기의 출력 단자에서 출력되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  18. 삭제
  19. 삭제
  20. 제 17 항에 있어서, 상기 단락 검출부는, 상기 비교 결과 전압이 기 설정된 전압 범위 내에 있으면 상기 대상 라인이 단락되지 않았음을 나타내는 제1 모니터링 신호를 출력하고, 상기 비교 결과 전압이 상기 전압 범위 밖에 있으면 상기 대상 라인이 단락되었음을 나타내는 제2 모니터링 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
KR1020160020939A 2016-02-23 2016-02-23 단락 검출 회로 및 이를 포함하는 표시 장치 KR102594096B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160020939A KR102594096B1 (ko) 2016-02-23 2016-02-23 단락 검출 회로 및 이를 포함하는 표시 장치
US15/433,936 US20170245379A1 (en) 2016-02-23 2017-02-15 Short detection circuit and display device including the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160020939A KR102594096B1 (ko) 2016-02-23 2016-02-23 단락 검출 회로 및 이를 포함하는 표시 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170099421A KR20170099421A (ko) 2017-09-01
KR102594096B1 true KR102594096B1 (ko) 2023-10-26

Family

ID=59629638

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020160020939A KR102594096B1 (ko) 2016-02-23 2016-02-23 단락 검출 회로 및 이를 포함하는 표시 장치

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20170245379A1 (ko)
KR (1) KR102594096B1 (ko)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014169145A1 (en) 2013-04-10 2014-10-16 Setpoint Medical Corporation Closed-loop vagus nerve stimulation
US11471681B2 (en) 2016-01-20 2022-10-18 Setpoint Medical Corporation Batteryless implantable microstimulators
JP6903398B2 (ja) * 2016-01-27 2021-07-14 三菱電機株式会社 駆動装置および液晶表示装置
WO2018017088A1 (en) * 2016-07-21 2018-01-25 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Circuit for dynamically adjusting a threshold output current based on an input voltage
EP3668402A4 (en) 2017-08-14 2021-05-19 Setpoint Medical Corporation VAGUS NERVOUS STIMULATION PRE-SCREENING TEST
KR102451951B1 (ko) 2017-11-23 2022-10-06 주식회사 엘엑스세미콘 디스플레이 구동 장치
CN108700624A (zh) * 2018-03-23 2018-10-23 深圳市锐明技术股份有限公司 一种汽车及其车载监控设备、车辆信号检测电路
US10838016B2 (en) * 2018-07-06 2020-11-17 Texas Instruments Incorporated Short detect scheme for an output pin
US11260229B2 (en) 2018-09-25 2022-03-01 The Feinstein Institutes For Medical Research Methods and apparatuses for reducing bleeding via coordinated trigeminal and vagal nerve stimulation
CN110264925B (zh) * 2019-06-11 2021-11-05 惠科股份有限公司 显示装置及其短路检测方法
KR20210014819A (ko) * 2019-07-30 2021-02-10 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이를 포함하는 가상 현실 표시 시스템
KR20230012585A (ko) 2020-05-21 2023-01-26 더 파인스타인 인스티튜츠 포 메디칼 리서치 미주 신경 자극을 위한 시스템들 및 방법들
KR20220033618A (ko) 2020-09-08 2022-03-17 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 구동 방법
US11252822B1 (en) * 2020-11-16 2022-02-15 Himax Technologies Limited Flexible printed circuit board and display apparatus having the same
CN115691442A (zh) 2021-07-30 2023-02-03 蓝碧石科技株式会社 显示驱动器和显示装置
US11668761B2 (en) * 2021-10-06 2023-06-06 Dell Products, L.P. Adaptive short circuit detection system and method for an information handling system (IHS)
KR20230064045A (ko) * 2021-11-02 2023-05-10 삼성디스플레이 주식회사 전원 제공부 및 이를 포함하는 표시 장치

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100207797A1 (en) * 2009-02-18 2010-08-19 Freescale Semiconductor, Inc. Digitally adjustable quantization circuit
US20160007415A1 (en) * 2013-02-27 2016-01-07 Koninklijke Philips N.V. Detection of a hazard condition of a load

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4166439A (en) * 1977-10-21 1979-09-04 Hanan Golan Modified engine controlling system
US6529190B2 (en) * 1998-09-30 2003-03-04 Sony Corporation Method and apparatus for monitoring/shutting down a power line within a display device
US8817429B2 (en) * 2010-11-23 2014-08-26 Samsung Display Co., Ltd. Power converter, display device including power converter, system including display device, and method of driving display device
KR101254263B1 (ko) * 2010-11-23 2013-04-12 삼성디스플레이 주식회사 전원 변환기, 직류-직류 변환기를 포함하는 표시 장치, 표시 장치를 포함하는 시스템 및 표시 장치의 구동 방법
KR101860739B1 (ko) * 2011-05-18 2018-05-25 삼성디스플레이 주식회사 전원 변환기, 이를 포함하는 디스플레이 장치 및 구동 전압 제어 방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100207797A1 (en) * 2009-02-18 2010-08-19 Freescale Semiconductor, Inc. Digitally adjustable quantization circuit
US20160007415A1 (en) * 2013-02-27 2016-01-07 Koninklijke Philips N.V. Detection of a hazard condition of a load

Also Published As

Publication number Publication date
KR20170099421A (ko) 2017-09-01
US20170245379A1 (en) 2017-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102594096B1 (ko) 단락 검출 회로 및 이를 포함하는 표시 장치
US10483755B2 (en) Display device including power converter
KR102401858B1 (ko) 저전력 모드를 지원하는 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법
US11972709B2 (en) Power converter, display device including power converter, system including display device, and method of driving display device
US9058773B2 (en) DC-DC converter, display device including the same and method of controlling a driving voltage
KR102229371B1 (ko) 로딩 이펙트 제어 장치 및 이를 포함하는 유기 발광 표시 장치
US20160104418A1 (en) Timing controller, organic light-emitting diode (oled) display having the same and method for driving the oled display
US10935823B2 (en) Short-circuit detection circuit and display device including the same
KR102046429B1 (ko) 픽셀 휘도 보상 유닛, 이를 구비하는 평판 표시 장치 및 픽셀 휘도 커브 조절 방법
US11990106B2 (en) Screen saver controller, display device including the screen saver controller, and method of driving a display device including the screen saver controller
KR20200021570A (ko) 단선 검출 회로 및 이를 포함하는 유기 발광 표시 장치
US20230317013A1 (en) Display device and method of performing an over-current protecting operation thereof
KR102660588B1 (ko) 표시 장치 및 이의 구동 방법
KR102305356B1 (ko) 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기
KR102438167B1 (ko) 타이밍 컨트롤러 리셋 회로 및 이를 포함하는 표시 장치
KR102652770B1 (ko) 표시 장치
KR20240081615A (ko) 전원 전압 생성부, 드라이버 ic, 및 표시 장치
KR102560302B1 (ko) 게이트 구동 장치 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20240044559A (ko) 전원 전압 생성부 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20230120164A (ko) 화소 회로 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20220064468A (ko) 표시 장치 및 이의 구동 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right