KR102564852B1

KR102564852B1 - Display Device And Method Of Driving The Same

Info

Publication number: KR102564852B1
Application number: KR1020160176629A
Authority: KR
Inventors: 정호진
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2016-12-22
Filing date: 2016-12-22
Publication date: 2023-08-07
Also published as: KR20180073125A

Abstract

본 발명은, 표시장치 및 그 구동방법에 관한 것이다. 구동부와, 표시영역과, 표시영역 외측에 배치되는 비표시영역을 포함하고, 영상을 표시하는 표시패널과, 표시패널의 표시영역에 배치되고, 서로 교차하여 화소를 정의하는 게이트배선 및 데이터배선과, 표시패널의 비표시영역에 배치되고, 데이터배선에 연결되고, 검사구간 동안 동시에 턴-온 되고, 구동구간 동안 교대로 턴-온 및 턴-오프 되는 제1 및 제2검사 박막트랜지스터를 포함하는 표시장치를 제공한다. 검사구간 동안 비표시영역의 제1 및 제2검사 박막트랜지스터를 동시에 턴-온 시키는 단계와, 검사구간 동안 턴-온 된 제1 및 제2검사 박막트랜지스터를 통하여 표시영역의 화소에 검사신호를 인가하는 단계와, 구동구간 동안 비표시영역의 제1 및 제2검사 박막트랜지스터를 교대로 턴-온 및 턴-오프 시키는 단계와, 구동구간 동안 화소에 데이터신호를 인가하는 단계를 포함하는 표시장치의 구동방법을 제공한다. 구동구간에서 각 검사배선에 연결되는 1쌍의 검사 박막트랜지스터를 교대로 턴-온 및 턴-오프 함으로써, 1쌍의 검사 박막트랜지스터의 열화가 방지되고 얼룩 또는 선결함과 같은 불량이 방지되어 영상의 표시품질이 개선된다. The present invention relates to a display device and a driving method thereof. A display panel including a driver, a display area, and a non-display area disposed outside the display area and displaying an image; a gate wire and data wire disposed in the display area of the display panel and crossing each other to define pixels; , It is disposed in the non-display area of the display panel, is connected to the data line, is simultaneously turned on during the inspection period, and is alternately turned on and off during the driving period. display device is provided. Simultaneously turning on the first and second inspection thin film transistors in the non-display area during the inspection period, and applying inspection signals to pixels in the display area through the first and second inspection thin film transistors turned on during the inspection period. A display device comprising the steps of: turning on and off the first and second inspection thin film transistors in the non-display area alternately during the driving period; and applying a data signal to the pixels during the driving period. Provides a driving method. By alternately turning on and off a pair of inspection thin film transistors connected to each inspection wiring in the driving section, deterioration of the pair of inspection thin film transistors is prevented and defects such as stains or line defects are prevented, thereby improving image quality. Display quality is improved.

Description

Display device and its driving method {Display Device And Method Of Driving The Same}

본 발명은 표시장치에 관한 것으로, 특히 각 검사배선에 연결되는 1쌍의 검사 박막트랜지스터를 포함하는 표시장치 및 그 구동방법에 관한 것이다.The present invention relates to a display device, and more particularly, to a display device including a pair of test thin film transistors connected to each test wire and a method for driving the same.

근래에 들어 사회가 본격적인 정보화 시대로 접어듦에 따라 대량의 정보를 처리 및 표시하는 표시장치 분야가 급속도로 발전해 왔고, 이에 부응하여 여러 가지 다양한 평판표시장치(flat display panel: FPD)가 개발되어 각광받고 있다. In recent years, as society has entered the information age in earnest, the field of display devices that process and display large amounts of information has developed rapidly. are receiving

이 같은 평판표시장치의 구체적인 예로는, 액정표시장치(liquid crystal display: LCD), 플라즈마표시장치(plasma display panel: PDP), 전계방출표시장치(field emission display: FED), 유기발광다이오드 표시장치(organic light emitting diode: OLED) 등을 들 수 있는데, 이들 평판표시장치는 박형화, 경량화, 저소비전력화의 우수한 성능을 보여 기존의 브라운관(cathode ray tube: CRT)을 빠르게 대체하고 있다.Specific examples of such a flat panel display device include a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), a field emission display (FED), an organic light emitting diode display ( organic light emitting diode (OLED) and the like, and these flat panel display devices are rapidly replacing the existing cathode ray tube (CRT) by showing excellent performance in thinning, light weight, and low power consumption.

이러한 평판표시장치는, 영상을 표시하는 표시패널과, 표시패널에 다수의 신호를 공급하는 구동부를 포함하는데, 일반적으로 표시패널 완성 후 표시패널의 양불을 판정하기 위한 검사단계를 진행하고, 양품 판정을 받은 표시패널에 대하여 선택적으로 구동부를 연결한다.Such a flat panel display device includes a display panel for displaying images and a driving unit for supplying a plurality of signals to the display panel. In general, after the display panel is completed, an inspection step is performed to determine whether the display panel is good or bad, and the good product is determined. Selectively connect the driving part to the display panel receiving the

표시패널에 대한 검사단계는 표시패널에 형성되는 다수의 검사 박막트랜지스터를 이용하여 진행되는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다. The inspection step for the display panel is performed using a plurality of inspection thin film transistors formed on the display panel, which will be described with reference to the drawings.

도 1은 종래의 표시장치의 표시패널의 검사부를 도시한 도면이고, 도 2는 종래의 표시장치의 표시패널의 검사부와 관련되는 신호를 도시한 도면이다. 1 is a diagram showing an inspection unit of a display panel of a conventional display device, and FIG. 2 is a diagram showing signals related to the inspection unit of a display panel of a conventional display device.

도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, 종래의 표시장치의 표시패널(미도시)의 검사부(52)는, 다수의 검사배선(TL)과, 다수의 검사배선(TL)에 각각 연결되는 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)를 포함한다. As shown in FIGS. 1 and 2 , the inspection unit 52 of the display panel (not shown) of the conventional display device includes a plurality of inspection lines TL and a plurality of inspection lines TL connected to each. It includes an inspection thin film transistor (Tt) of.

표시장치의 제조에 있어서, 표시패널 완성 후 검사구간(PT) 동안 검사부(52)를 이용하여 표시패널의 양불을 검사하고, 양품 판정을 받은 표시패널에 구동부를 연결한 후 구동구간(PD) 동안 구동부를 이용하여 영상을 표시하는데, 구동구간(PD)에서는 검사부(52)에 의한 다수의 검사신호의 공급을 중지한다. In manufacturing the display device, after the completion of the display panel, the quality of the display panel is inspected using the inspection unit 52 during the inspection period (PT), and after connecting the driving unit to the display panel that has been judged as a good product, during the driving period (PD). An image is displayed using the driving unit, and in the driving section PD, supply of a plurality of inspection signals by the inspection unit 52 is stopped.

즉, 검사구간(PT) 동안, 다수의 검사배선(TL)에는 각각 제1 및 제2전압(V1, V2) 사이의 제1적, 제1녹, 제1청, 제2적, 제2녹 및 제2청 검사신호(RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2)가 공급되고, 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)의 게이트에는 제4전압(V4)의 검사 인에이블신호(ET)가 인가되어 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)가 턴-온(turn-on) 되므로, 제1 및 제2전압(V1, V2) 사이의 제1적, 제1녹, 제1청, 제2적, 제2녹 및 제2청 검사신호(RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2)가 각각 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)를 통하여 표시패널의 화소에 데이터신호(Vdata)로 인가되고, 각 화소의 동작을 검사하여 표시패널의 양불을 판정한다. That is, during the inspection period PT, the plurality of inspection wires TL have first red, first green, first blue, second red, and second green between the first and second voltages V1 and V2, respectively. and the second agency inspection signals (RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2) are supplied, and the inspection enable signal (ET) of the fourth voltage (V4) is applied to the gates of the plurality of inspection thin film transistors (Tt). and the plurality of inspection thin film transistors (Tt) are turned on, the first product, the first green, the first blue, the second product, and the second product between the first and second voltages (V1, V2). The second green and second blue test signals (RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2) are respectively applied as data signals (Vdata) to the pixels of the display panel through a plurality of test thin film transistors (Tt), and each pixel Operation is inspected to determine pass/fail of the display panel.

여기서, 제1 및 제2전압(V1, V2)은 각각 약 +5.1V 및 약 -5.1V 일 수 있고, 제4전압(V4)은 약 30V 일 수 있다.Here, the first and second voltages V1 and V2 may be about +5.1V and about -5.1V, respectively, and the fourth voltage V4 may be about 30V.

그리고, 양품 판정을 받은 표시패널에 구동부를 연결하여 표시장치를 완성한 후, 표시장치를 구동한다.Then, after completing the display device by connecting the drive unit to the display panel that has received a good product judgment, the display device is driven.

이러한 구동구간(PD) 동안, 다수의 검사배선(TL)에는 각각 제3전압(V3)의 제1적, 제1녹, 제1청, 제2적, 제2녹 및 제2청 검사신호(RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2)가 공급되고, 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)의 게이트에는 제5전압(V5)의 검사 인에이블신호(ET)가 인가되어 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)가 턴-오프(turn-off) 되므로, 제3전압(V3)의 제1적, 제1녹, 제1청, 제2적, 제2녹 및 제2청 검사신호(RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2)는 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)에 의하여 차단되어 표시패널의 화소에 인가되지 않고, 구동부의 제1 및 제2전압(V1, V2) 사이의 데이터신호(Vdata)가 표시패널의 화소에 인가되어 영상을 표시한다. During this driving period PD, the first red, the first green, the first blue, the second red, the second green, and the second blue test signals ( RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2) are supplied, and the test enable signal ET of the fifth voltage V5 is applied to the gates of the plurality of test thin film transistors (Tt), so that the plurality of test thin film transistors ( Since Tt) is turned off, the first product, first green, first blue, second red, second green, and second blue inspection signals (RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2) are blocked by a plurality of inspection thin film transistors (Tt) and are not applied to the pixels of the display panel, and the data signal (Vdata) between the first and second voltages (V1, V2) of the driver is applied to the pixels of the display panel to display an image.

여기서, 제3전압(V3)은 약 0V 일 수 있고, 제5전압(V5)은 약 -12V 일 수 있다. Here, the third voltage V3 may be about 0V, and the fifth voltage V5 may be about -12V.

이와 같이, 검사구간(PT) 동안 다수의 검사신호를 표시패널에 공급하는 검사부(52)는, 구동구간(PD) 동안 표시패널에 대한 다수의 검사신호의 공급을 중지하는데, 이를 위하여 구동구간(PD) 동안 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)는 지속적으로 턴-오프 상태를 유지한다.As such, the inspection unit 52 supplying a plurality of inspection signals to the display panel during the inspection period PT stops supplying the plurality of inspection signals to the display panel during the driving period PD. To this end, the driving period ( During PD), the plurality of test thin film transistors Tt are continuously turned off.

그런데, 지속적으로 턴-오프 상태를 유지하는 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)의 게이트에는 지속적으로 음의 스트레스(negative stress)에 대응되는 전압이 인가되므로, 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)의 문턱전압(threshold voltage)이 음의 방향으로 이동(negative shift)할 수 있으며, 그 결과 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)의 누설전류(leakage current)가 증가하고, 구동부의 데이터신호의 전류가 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)를 통하여 누설되어, 표시장치의 얼룩 또는 선결함(line defect)과 같은 불량이 발생하는 문제가 있다. However, since a voltage corresponding to negative stress is continuously applied to the gates of the plurality of inspection thin film transistors Tt that are continuously turned off, the threshold voltage of the plurality of inspection thin film transistors Tt is continuously applied. (threshold voltage) may shift in a negative direction, and as a result, the leakage current of the plurality of inspection thin film transistors (Tt) increases, and the current of the data signal of the driving unit is There is a problem that leakage occurs through the transistor Tt and defects such as stains or line defects of the display device occur.

특히, 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)를 산화물 반도체(oxide semiconductor)로 구성할 경우, 이러한 문턱전압의 음의 방향으로의 이동은 더 심화될 수 있다. In particular, when the plurality of test thin film transistors Tt are formed of oxide semiconductors, the movement of the threshold voltage in the negative direction may be further intensified.

또한, 이러한 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)의 열화를 방지하기 위해서는, 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt) 각각의 크기, 즉 채널의 폭(W) 및 길이(L)를 증가시켜야 하는데, 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)의 크기가 증가하면 다수의 검사 박막트랜지스터(Tt)를 턴-온 하기 위한 검사 인에이블신호(ET)의 절대값도 증가시켜야 하는데, 이 경우 검사 인에이블신호(ET)가 검사에 대한 잡음(noise)로 작용하여 검사단계의 신뢰성이 저하되는 문제가 있다. In addition, in order to prevent deterioration of the plurality of inspection thin film transistors (Tt), the size of each of the plurality of inspection thin film transistors (Tt), that is, the width (W) and length (L) of the channel must be increased. If the size of the thin film transistor (Tt) increases, the absolute value of the test enable signal (ET) for turning on the plurality of test thin film transistors (Tt) must also be increased. In this case, the test enable signal (ET) is There is a problem in that the reliability of the inspection step is lowered by acting as noise for .

본 발명은, 이러한 문제점을 해결하기 위하여 제시된 것으로, 구동구간에서 각 검사배선에 연결되는 1쌍의 검사 박막트랜지스터를 교대로 턴-온 및 턴-오프 함으로써, 1쌍의 검사 박막트랜지스터의 열화가 방지되고 얼룩 또는 선결함과 같은 불량이 방지되어 영상의 표시품질이 개선되는 표시장치 및 그 구동방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention has been proposed to solve this problem, and prevents deterioration of a pair of inspection thin film transistors by alternately turning on and off a pair of inspection thin film transistors connected to each inspection wiring in a driving section. It is an object of the present invention to provide a display device and a driving method thereof in which display quality of an image is improved by preventing defects such as stains or line defects.

그리고, 본 발명은, 구동구간에서 각 검사배선에 연결되고 크기가 최소화 된 1쌍의 검사 박막트랜지스터를 교대로 턴-온 및 턴-오프 함으로써, 1쌍의 검사 박막트랜지스터의 열화가 방지됨과 동시에 검사 인에이블신호가 최소화 되어 검사단계의 신뢰성이 개선되는 표시장치 및 그 구동방법을 제공하는 것을 다른 목적으로 한다. In addition, in the present invention, by alternately turning on and off a pair of inspection thin film transistors connected to each inspection wiring and having a minimized size in the driving section, deterioration of the pair of inspection thin film transistors is prevented and at the same time inspection is performed. Another object of the present invention is to provide a display device and a method of driving the display device in which an enable signal is minimized and reliability of an inspection step is improved.

위와 같은 과제의 해결을 위해, 본 발명은, 게이트신호 및 데이터신호를 공급하는 구동부와, 화소를 포함하는 표시영역과, 상기 표시영역 외측에 배치되는 비표시영역을 포함하고, 상기 게이트신호 및 상기 데이터신호를 이용하여 영상을 표시하는 표시패널과, 상기 표시패널의 상기 표시영역에 배치되고, 서로 교차하여 상기 화소를 정의하는 게이트배선 및 데이터배선과, 상기 표시패널의 상기 비표시영역에 배치되고, 상기 데이터배선에 연결되고, 검사구간 동안 동시에 턴-온 되고, 구동구간 동안 교대로 턴-온 및 턴-오프 되는 제1 및 제2검사 박막트랜지스터를 포함하는 표시장치를 제공한다. In order to solve the above problems, the present invention includes a driver for supplying a gate signal and a data signal, a display area including pixels, and a non-display area disposed outside the display area, and the gate signal and the display area. A display panel for displaying an image using a data signal, a gate wire and a data wire disposed in the display area of the display panel and crossing each other to define the pixel, and disposed in the non-display area of the display panel; , It provides a display device including first and second inspection thin film transistors connected to the data line, turned on simultaneously during an inspection period, and alternately turned on and off during a driving period.

그리고, 상기 제1 및 제2검사 박막트랜지스터는, 상기 구동구간 동안 1 이상의 프레임 별로 교대로 턴-온 및 턴-오프 될 수 있다.Also, the first and second inspection thin film transistors may be alternately turned on and off for each one or more frames during the driving period.

또한, 상기 제1 및 제2검사 박막트랜지스터는, 산화물 반도체로 이루어지는 액티브층을 포함할 수 있다.In addition, the first and second inspection thin film transistors may include an active layer made of an oxide semiconductor.

그리고, 상기 표시장치는, 상기 표시패널의 상기 비표시영역에 배치되고, 상기 검사구간 동안 상기 제1 및 제2검사 박막트랜지스터를 통하여 상기 화소에 검사신호를 공급하는 검사배선을 더 포함할 수 있다.The display device may further include an inspection line disposed in the non-display area of the display panel and supplying inspection signals to the pixels through the first and second inspection thin film transistors during the inspection period. .

또한, 상기 제1검사 박막트랜지스터의 게이트에는 제1검사 인에이블신호가 인가되고, 상기 제1검사 박막트랜지스터의 드레인은 상기 검사배선에 연결되고, 상기 제1검사 박막트랜지스터의 소스는 상기 제2검사 박막트랜지스터의 드레인에 연결되고, 상기 제2검사 박막트랜지스터의 게이트에는 제2검사 인에이블신호가 인가되고, 상기 제2검사 박막트랜지스터의 소스는 상기 데이터배선에 연결될 수 있다.In addition, a first inspection enable signal is applied to a gate of the first inspection thin film transistor, a drain of the first inspection thin film transistor is connected to the inspection wiring, and a source of the first inspection thin film transistor is connected to the second inspection line. A drain of the thin film transistor may be connected, a second test enable signal may be applied to a gate of the second test thin film transistor, and a source of the second test thin film transistor may be connected to the data line.

그리고, 상기 검사신호는, 상기 검사구간 동안 절대값이 서로 동일하고 극성이 서로 반대인 제1 및 제2전압 사이에서 변동하는 값을 갖고, 상기 구동구간 동안 상기 제1 및 제2전압 사이의 제3전압을 갖고, 상기 제1검사 인에이블신호는, 상기 검사구간 동안 상기 제1검사 박막트랜지스터를 턴-온 시키는 제4전압을 갖고, 상기 구동구간의 홀수 프레임 동안 상기 제1검사 박막트랜지스터를 턴-오프 시키는 제5전압을 갖고, 상기 구동구간의 짝수 프레임 동안 상기 제5전압과 절대값이 동일하고 극성이 반대인 제6전압을 갖고, 상기 제2검사 인에이블신호는, 상기 검사구간 동안 상기 제2검사 박막트랜지스터를 턴-온 시키는 상기 제4전압을 갖고, 상기 구동구간의 상기 짝수 프레임 동안 상기 제2검사 박막트랜지스터를 턴-오프 시키는 상기 제5전압을 갖고, 상기 구동구간의 상기 홀수 프레임 동안 상기 제6전압을 가질 수 있다.The inspection signal has a value varying between first and second voltages having the same absolute value and opposite polarities during the inspection period, and a first voltage between the first and second voltages during the driving period. 3 voltage, the first inspection enable signal has a fourth voltage for turning on the first inspection thin film transistor during the inspection period, and turns on the first inspection thin film transistor during odd frames of the driving period -Has a fifth voltage to be turned off, has a sixth voltage having the same absolute value as the fifth voltage and opposite polarity to the fifth voltage during even-numbered frames of the driving section, and the second test enable signal having the fourth voltage for turning on the second inspection thin film transistor, and having the fifth voltage for turning off the second inspection thin film transistor during the even frames of the driving period, and having the odd number frames of the driving period may have the sixth voltage during.

또한, 상기 표시장치는, 상기 표시패널의 상기 비표시영역에 배치되고, 상기 제1 및 제2검사 박막트랜지스터와 상기 화소 사이에 배치되는 정전방지부를 더 포함할 수 있다.The display device may further include an anti-static unit disposed in the non-display area of the display panel and disposed between the first and second inspection thin film transistors and the pixel.

그리고, 상기 표시장치는, 상기 표시패널의 상기 비표시영역에 배치되고, 상기 제1 및 제2검사 박막트랜지스터 사이에 배치되는 정전방지부를 더 포함할 수 있다.The display device may further include an anti-static unit disposed in the non-display area of the display panel and disposed between the first and second inspection thin film transistors.

한편, 본 발명은, 검사구간 동안 표시패널의 비표시영역의 제1 및 제2검사 박막트랜지스터를 동시에 턴-온 시키는 단계와, 상기 검사구간 동안 턴-온 된 상기 제1 및 제2검사 박막트랜지스터를 통하여 상기 표시패널의 표시영역의 화소에 검사신호를 인가하는 단계와, 구동구간 동안 상기 표시패널의 상기 비표시영역의 상기 제1 및 제2검사 박막트랜지스터를 교대로 턴-온 및 턴-오프 시키는 단계와, 상기 구동구간 동안 상기 화소에 데이터신호를 인가하는 단계를 포함하는 표시장치의 구동방법을 제공한다.Meanwhile, the present invention includes the steps of simultaneously turning on the first and second inspection thin film transistors in the non-display area of the display panel during the inspection period, and the first and second inspection thin film transistors turned on during the inspection period and applying an inspection signal to pixels in the display area of the display panel through the step of turning on and off the first and second inspection thin film transistors in the non-display area of the display panel alternately during a driving period. and applying a data signal to the pixel during the driving period.

또한, 상기 제1 및 제2검사 박막트랜지스터는 각각 제1 및 제2검사 인에이블신호에 따라 턴-온 및 턴-오프 될 수 있다.Also, the first and second inspection thin film transistors may be turned on and off according to the first and second inspection enable signals, respectively.

본 발명은, 구동구간에서 각 검사배선에 연결되는 1쌍의 검사 박막트랜지스터를 교대로 턴-온 및 턴-오프 함으로써, 1쌍의 검사 박막트랜지스터의 열화가 방지되고 얼룩 또는 선결함과 같은 불량이 방지되어 영상의 표시품질이 개선되는 효과를 갖는다. In the present invention, by alternately turning on and off a pair of inspection thin film transistors connected to each inspection wiring in a driving section, deterioration of the pair of inspection thin film transistors is prevented and defects such as stains or line defects are prevented. This has the effect of improving the display quality of the image.

그리고, 본 발명은, 구동구간에서 각 검사배선에 연결되고 크기가 최소화 된 1쌍의 검사 박막트랜지스터를 교대로 턴-온 및 턴-오프 함으로써, 1쌍의 검사 박막트랜지스터의 열화가 방지됨과 동시에 검사 인에이블신호가 최소화 되어 검사단계의 신뢰성이 개선되는 효과를 갖는다. In addition, in the present invention, by alternately turning on and off a pair of inspection thin film transistors connected to each inspection wiring and having a minimized size in the driving section, deterioration of the pair of inspection thin film transistors is prevented and at the same time inspection is performed. Since the enable signal is minimized, the reliability of the inspection step is improved.

도 1은 종래의 표시장치의 표시패널의 검사부를 도시한 도면.
도 2는 종래의 표시장치의 표시패널의 검사부와 관련되는 신호를 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치를 도시한 평면도.
도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 표시패널의 검사부를 도시한 도면.
도 5는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 표시패널의 검사부와 관련되는 신호를 도시한 도면.
도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 표시장치의 표시패널의 검사부 및 정전방지부를 도시한 도면.1 is a view showing an inspection unit of a display panel of a conventional display device;
2 is a diagram showing signals related to an inspection unit of a display panel of a conventional display device;
3 is a plan view illustrating a display device according to a first embodiment of the present invention;
4 is a diagram illustrating an inspection unit of a display panel of a display device according to a first embodiment of the present invention;
5 is a diagram illustrating signals related to an inspection unit of a display panel of a display device according to a first embodiment of the present invention;
6 is a diagram illustrating an inspection unit and an antistatic unit of a display panel of a display device according to a second embodiment of the present invention.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 표시장치 및 그 구동방법을 설명하는데, 액정표시장치를 예로 들어 설명한다. Hereinafter, a display device and a driving method thereof according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings, taking a liquid crystal display as an example.

도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치를 도시한 평면도이다.3 is a plan view illustrating a display device according to a first embodiment of the present invention.

도 3에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치(110)는, 타이밍제어부(120), 데이터구동부(130), 게이트구동부(140) 및 표시패널(150)을 포함한다.As shown in FIG. 3 , the display device 110 according to the first embodiment of the present invention includes a timing controller 120, a data driver 130, a gate driver 140, and a display panel 150. .

타이밍제어부(120)는, 그래픽카드 또는 TV시스템과 같은 외부시스템으로부터 전달되는 영상신호(IS)와 데이터인에이블신호(DE), 수평동기신호(HSY), 수직동기신호(VSY), 클럭(CLK) 등의 다수의 타이밍신호를 이용하여, 게이트제어신호(GCS), 데이터제어신호(DCS) 및 영상데이터(RGB)를 생성하고, 생성된 데이터제어신호(DCS) 및 영상데이터(RGB)는 데이터구동부(130)에 공급하고, 생성된 게이트제어신호(GCS)는 게이트구동부(140)에 공급한다. The timing controller 120 includes a video signal IS, a data enable signal DE, a horizontal synchronization signal HSY, a vertical synchronization signal VSY, and a clock signal CLK transmitted from an external system such as a graphic card or a TV system. ) are used to generate a gate control signal (GCS), a data control signal (DCS), and image data (RGB), and the generated data control signal (DCS) and image data (RGB) are data is supplied to the driver 130, and the generated gate control signal GCS is supplied to the gate driver 140.

데이터구동부(130)는, 타이밍제어부(120)로부터 공급되는 데이터제어신호(DCS) 및 영상데이터(RGB)를 이용하여 데이터신호(데이터전압)를 생성하고, 생성된 데이터신호를 표시패널(150)의 데이터배선(DL)에 공급한다. The data driver 130 generates a data signal (data voltage) using the data control signal (DCS) and the image data (RGB) supplied from the timing controller 120, and sends the generated data signal to the display panel 150. is supplied to the data line (DL) of

게이트구동부(140)는, 타이밍제어부(120)로부터 공급되는 게이트제어신호(GCS)를 이용하여 게이트신호(게이트전압)를 생성하고, 생성된 게이트신호를 표시패널(150)의 게이트배선(GL)에 공급한다. The gate driver 140 generates a gate signal (gate voltage) using the gate control signal (GCS) supplied from the timing controller 120, and sends the generated gate signal to the gate line (GL) of the display panel 150. supply to

표시패널(120)은, 영상을 표시하고 다수의 화소(P)를 포함하는 표시영역(DA)과, 표시영역(DA) 외측의 비표시영역(NDA)으로 구분될 수 있다. The display panel 120 may be divided into a display area DA that displays an image and includes a plurality of pixels P, and a non-display area NDA outside the display area DA.

이러한 표시패널(150)의 표시영역(DA)은, 게이트신호 및 데이터신호를 이용하여 영상을 표시하는데, 서로 교차하여 화소(P)를 정의하는 게이트배선(GL) 및 데이터배선(DL)과, 각 화소(P)에 배치되어 게이트배선(GL) 및 데이터배선(DL)에 연결되는 화소 박막트랜지스터(Tp), 화소 박막트랜지스터(Tp)에 연결되는 액정 커패시터(Cl) 및 스토리지 커패시터(Cs)를 포함한다.The display area DA of the display panel 150 displays an image using a gate signal and a data signal, and includes a gate line GL and a data line DL that cross each other to define a pixel P; A pixel thin film transistor (Tp) disposed in each pixel (P) and connected to the gate line (GL) and data line (DL), a liquid crystal capacitor (Cl) and a storage capacitor (Cs) connected to the pixel thin film transistor (Tp). include

여기서, 화소 박막트랜지스터(Tp)는 산화물 반도체(oxide semiconductor)로 이루어지는 액티브층을 포함할 수 있다.Here, the pixel thin film transistor Tp may include an active layer made of an oxide semiconductor.

도시하지는 않았지만, 표시패널(150)은, 서로 마주보며 이격되는 제1 및 제2기판과, 제1 및 제2기판 사이의 액정층을 포함할 수 있고, 게이트배선(GL), 데이터배선(DL) 및 화소 박막트랜지스터(Tp)는 제1기판 내면에 배치될 수 있고, 액정 커패시터(Cl)는, 제1기판 내면의 화소전극과, 제2기판 내면의 공통전극과, 화소전극 및 공통전극 사이의 액정층을 포함할 수 있다. Although not shown, the display panel 150 may include first and second substrates facing each other and spaced apart from each other, and a liquid crystal layer between the first and second substrates, and may include a gate line GL and a data line DL. ) and the pixel thin film transistor Tp may be disposed on the inner surface of the first substrate, and the liquid crystal capacitor Cl is between the pixel electrode on the inner surface of the first substrate, the common electrode on the inner surface of the second substrate, and the pixel electrode and the common electrode. It may include a liquid crystal layer of.

다른 실시예에서는, 게이트구동부(140)가 표시패널(150)에 집적되는 게이트-인-패널(gate-in-panel) 타입으로 표시패널(150)을 형성할 수도 있다.In another embodiment, the display panel 150 may be formed in a gate-in-panel type in which the gate driver 140 is integrated into the display panel 150 .

한편, 표시패널(150)의 비표시영역(NDA)에는 검사부(152) 및 정전방지부(154)가 형성된다. Meanwhile, an inspection unit 152 and an antistatic unit 154 are formed in the non-display area NDA of the display panel 150 .

검사부(152)는, 데이터구동부(137)에 연결되는 비표시영역(NDA)의 다수의 검사배선(TL)을 통하여 다수의 검사신호를 공급받고, 표시영역(DA)의 데이터배선(DL)에 연결되어 다수의 검사신호를 데이터신호로서 각 화소(P)에 공급할 수 있다.The inspection unit 152 receives a plurality of inspection signals through a plurality of inspection lines TL of the non-display area NDA connected to the data driver 137, and transmits them to the data lines DL of the display area DA. It is connected to supply a plurality of inspection signals as data signals to each pixel (P).

정전방지부(154)는 표시패널(150)의 내부 및 외부에서 발생하는 정전기로부터 각 화소(P)를 보호하는 역할을 할 수 있다. The anti-static unit 154 may serve to protect each pixel P from static electricity generated inside and outside the display panel 150 .

도시하지는 않았지만, 검사부(152)는 제1기판 내면에 배치될 수 있으며, 표시영역(DA)의 게이트배선(GL)에 연결되어 다수의 검사신호를 게이트신호로서 각 화소(P)에 공급할 수도 있으며, 다른 실시예에서는 표시영역(DA)의 우측변에 게이트배선(GL)에 연결되고 다수의 검사신호를 게이트신호로서 공급하는 별도의 검사부를 배치할 수도 있다. Although not shown, the inspection unit 152 may be disposed on the inner surface of the first substrate, and may be connected to the gate line GL of the display area DA to supply a plurality of inspection signals as gate signals to each pixel P. , In another embodiment, a separate inspection unit connected to the gate line GL and supplying a plurality of inspection signals as gate signals may be disposed on the right side of the display area DA.

이러한 표시장치(110)는, 화소 박막트랜지스터(Tp), 액정 커패시터(Cl) 및 스토리지 커패시터(Cs)를 포함하는 표시패널(150) 완성 후, 검사부(152)를 이용하여 표시패널(150)의 양불을 검사하는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다. In such a display device 110, after completing the display panel 150 including the pixel thin film transistor (Tp), the liquid crystal capacitor (Cl), and the storage capacitor (Cs), the inspection unit 152 is used to determine the quality of the display panel 150. A good payment is inspected, which will be described with reference to the drawings.

도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 표시패널의 검사부 및 정전방지부를 도시한 도면이고, 도 5는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 표시패널의 검사부와 관련되는 신호를 도시한 도면으로, 도 3을 함께 참조하여 설명한다. 4 is a view showing an inspection unit and an antistatic unit of a display panel of a display device according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a view related to the inspection unit of a display panel of a display device according to the first embodiment of the present invention A diagram showing a signal, which will be described with reference to FIG. 3 .

도 4 및 도 5에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치(110)의 표시패널(150)의 검사부(152)는, 다수의 검사배선(TL)과, 게이트에 제1검사 인에이블신호(ET1)가 인가되고 다수의 검사배선(TL)에 각각 드레인이 연결되는 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와, 게이트에 제2검사 인에이블신호(ET2)가 인가되고 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)의 소스에 각각 드레인이 연결되는 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)를 포함하는데, 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)의 소스는 각각 데이터배선(DL)에 연결될 수 있다. 4 and 5, the inspection unit 152 of the display panel 150 of the display device 110 according to the first embodiment of the present invention includes a plurality of inspection wires TL and a gate The first inspection enable signal ET1 is applied and the second inspection enable signal ET2 is applied to the gates and first inspection thin film transistors Tt1 having drains connected to the plurality of inspection lines TL, respectively. A plurality of second inspection thin film transistors Tt2 having drains connected to sources of the plurality of first inspection thin film transistors Tt1 are respectively connected. ) can be connected to

여기서, 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)는 산화물 반도체로 이루어지는 액티브층을 포함할 수 있다.Here, the plurality of first inspection thin film transistors Tt1 and the plurality of second inspection thin film transistors Tt2 may include an active layer made of an oxide semiconductor.

그리고, 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치(110)의 표시패널(150)의 정전방지부(154)는, 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2) 각각의 소스와 데이터배선(DL)에 연결되는 제1 및 제2다이오드(D1, D2)를 포함하는데, 제1다이오드(D1)의 음극은 고전위전압(Vdd)에 연결되고, 제1다이오드(D1)의 양극과 제2다이오드(D2)의 음극은 데이터배선(DL)에 연결되고, 제2다이오드(D2)의 양극은 저전위전압(Vss)에 연결될 수 있다.In addition, the anti-static unit 154 of the display panel 150 of the display device 110 according to the first embodiment of the present invention includes a source and data line DL of each of the plurality of second inspection thin film transistors Tt2. It includes first and second diodes (D1, D2) connected to, the cathode of the first diode (D1) is connected to the high potential voltage (Vdd), the anode of the first diode (D1) and the second diode ( A cathode of D2) may be connected to the data line DL, and an anode of the second diode D2 may be connected to the low potential voltage Vss.

정전방지부(154)의 제1 및 제2다이오드(D1, D2)는 고전위전압(Vdd) 및 저전위전압(Vss) 사이에 역방향으로 연결되어 있으므로 정전기가 발생하지 않은 경우에는 제1 및 제2다이오드(D1, D2)로 전류가 흐르지 않는 반면, 표시패널(150)의 내부 또는 외부에서 고전압의 정전기가 발생한 경우에는 정전기의 발생원으로부터 제1다이오드(D1)를 통하여 고전위전압(Vdd)으로 전류가 흘러나가서 표시영역(DA)의 화소(P)와 비표시영역(NDA)의 검사부(152)가 보호될 수 있다.Since the first and second diodes D1 and D2 of the anti-static unit 154 are connected in opposite directions between the high potential voltage Vdd and the low potential voltage Vss, when static electricity is not generated, the first and second diodes D1 and D2 are connected in opposite directions. While current does not flow through the two diodes D1 and D2, when high voltage static electricity is generated inside or outside the display panel 150, the static electricity is generated from a source of static electricity to a high potential voltage Vdd through the first diode D1. As the current flows out, the pixel P of the display area DA and the inspection unit 152 of the non-display area NDA can be protected.

이러한 표시장치(110)의 제조에 있어서, 표시패널(150) 완성 후 검사구간(PT) 동안 검사부(152)를 이용하여 표시패널(150)의 양불을 검사하고, 양품 판정을 받은 표시패널(150)에 타이밍제어부(120), 데이터구동부(130) 및 게이트구동부(140)의 구동부를 연결한 후 구동구간(PD) 동안 구동부를 이용하여 영상을 표시하는데, 구동구간(PD)에서는 검사부(152)에 의한 다수의 검사신호의 공급을 중지한다. In manufacturing such a display device 110, after the completion of the display panel 150, the quality of the display panel 150 is inspected using the inspection unit 152 during the inspection period PT, and the display panel 150 that has been judged as a good product After connecting the timing controller 120, the data driver 130, and the driver of the gate driver 140 to ), the image is displayed using the driver during the driving period (PD). Stop supplying a plurality of test signals by

즉, 검사구간(PT) 동안, 다수의 검사배선(TL)에는 각각 제1 및 제2전압(V1, V2) 사이에서 변동하는 제1적, 제1녹, 제1청, 제2적, 제2녹 및 제2청 검사신호(RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2)가 공급되고, 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)의 게이트에는 제4전압(V4)의 제1검사 인에이블신호(ET1)가 인가되어 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)가 턴-온(turn-on) 되고, 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)의 게이트에는 제4전압(V4)의 제2검사 인에이블신호(ET2)가 인가되어 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)가 턴-온(turn-on) 되므로, 제1 및 제2전압(V1, V2) 사이의 제1적, 제1녹, 제1청, 제2적, 제2녹 및 제2청 검사신호(RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2)가 각각 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)를 통하여 표시패널(150)의 화소(P)에 데이터신호(Vdata)로서 인가되고, 각 화소(P)의 정상동작 여부를 시각적으로 검사하여 표시패널(150)의 양불을 판정한다. That is, during the inspection period PT, the first red, the first green, the first blue, the second product, and the second voltage fluctuate between the first and second voltages V1 and V2 in the plurality of inspection wires TL, respectively. 2 green and 2nd blue inspection signals (RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2) are supplied, and the first inspection enable of the fourth voltage (V4) to the gates of the plurality of first inspection thin film transistors (Tt1) When the signal ET1 is applied, the plurality of first inspection thin film transistors Tt1 are turned on, and the gates of the plurality of second inspection thin film transistors Tt2 are supplied with the second voltage of the fourth voltage V4. Since the inspection enable signal ET2 is applied and the plurality of second inspection thin film transistors Tt2 are turned on, the first product between the first and second voltages V1 and V2, the first Green, 1st blue, 2nd red, 2nd green and 2nd blue inspection signals (RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2) are respectively a plurality of first inspection thin film transistors (Tt1) and a plurality of second inspection The data signal Vdata is applied to the pixels P of the display panel 150 through the thin film transistor Tt2, and the normal operation of each pixel P is visually inspected to determine whether the display panel 150 is good or bad. do.

도 4의 제1실시예에서는 6개의 검사신호(RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2)를 예로 들었으나, 다른 실시예에서는 6개보다 작거나 6개보다 큰 개수의 다수의 검사신호를 이용할 수도 있다. In the first embodiment of FIG. 4, 6 test signals (RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2) are taken as an example, but in another embodiment, a plurality of test signals smaller than or greater than 6 are used. can also be used

또한, 도 4의 제1실시예에서는 1쌍의 검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)가 하나의 데이터배선(DL)에 연결되는 것을 예로 들었으나, 다른 실시예에서는 1쌍의 검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)가 2개 이상의 데이터배선(DL)에 연결되어 동일한 검사신호를 대응되는 화소에 인가할 수도 있다. In addition, in the first embodiment of FIG. 4, a pair of test thin film transistors Tt1 and Tt2 are connected to one data line DL as an example, but in another embodiment, a pair of test thin film transistors Tt1 and Tt2 are connected to one data line DL. Tt2) may be connected to two or more data lines DL to apply the same inspection signal to corresponding pixels.

여기서, 제1 및 제2전압(V1, V2)은 절대값이 동일하고 극성이 반대인 전압으로, 예를 들어 각각 약 +5.1V 및 약 -5.1V 일 수 있고, 제4전압(V4)은 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)를 각각 턴-온 시키는 전압으로, 예를 들어 약 20V 내지 약 25V 일 수 있다.Here, the first and second voltages V1 and V2 are voltages having the same absolute value and opposite polarities, and may be, for example, about +5.1V and about -5.1V, respectively, and the fourth voltage V4 is The voltage for turning on the plurality of first inspection thin film transistors Tt1 and the plurality of second inspection thin film transistors Tt2, respectively, may be, for example, about 20V to about 25V.

그리고, 양품 판정을 받은 표시패널(150)에 타이밍제어부(120), 데이터구동부(130) 및 게이트구동부(140)의 구동부를 연결하여 표시장치(110)를 완성한 후, 표시장치(110)를 구동한다.Then, the display device 110 is completed by connecting the timing controller 120, the data driver 130, and the gate driver 140 drivers to the display panel 150 that has been judged to be good, and then the display device 110 is driven. do.

이러한 구동구간(PD) 동안, 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)는 프레임(frame) 별로 교대로 턴-온 및 턴-오프 된다. During this driving period PD, the plurality of first inspection thin film transistors Tt1 and the plurality of second inspection thin film transistors Tt2 are alternately turned on and off for each frame.

구체적으로, 구동구간(PD) 동안, 다수의 검사배선(TL)에는 각각 제3전압(V3)의 제1적, 제1녹, 제1청, 제2적, 제2녹 및 제2청 검사신호(RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2)가 공급된다.Specifically, during the drive section PD, the plurality of inspection wires TL are inspected for the first red, first green, first blue, second red, second green, and second blue of the third voltage V3, respectively. Signals RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2 are supplied.

그리고, 구동구간(PD)의 제1 및 제3프레임(F1, F3) 동안, 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)의 게이트에는 제5전압(V5)의 제1검사 인에이블신호(ET1)가 인가되어 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)가 턴-오프 되고, 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)의 게이트에는 제6전압(V6)의 제2검사 인에이블신호(ET2)가 인가되어 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)가 턴-온 되므로, 제3전압(V3)의 제1적, 제1녹, 제1청, 제2적, 제2녹 및 제2청 검사신호(RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2)는 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)에 의하여 차단되어 표시패널(150)의 화소(P)에 인가되지 않고, 데이터구동부(130)의 제1 및 제2전압(V1, V2) 사이의 데이터신호(Vdata)가 표시패널(150)의 화소(P)에 인가되어 영상을 표시한다. Also, during the first and third frames F1 and F3 of the driving period PD, the first inspection enable signal ET1 of the fifth voltage V5 is applied to the gates of the plurality of first inspection thin film transistors Tt1. is applied to turn off the plurality of first inspection thin film transistors Tt1, and apply the second inspection enable signal ET2 of the sixth voltage V6 to the gates of the plurality of second inspection thin film transistors Tt2. and the plurality of second inspection thin film transistors Tt2 are turned on, the first red, first green, first blue, second red, second green, and second blue inspection signals of the third voltage V3 ( RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2) are blocked by the plurality of first inspection thin film transistors Tt1 and are not applied to the pixels P of the display panel 150, and the first and the data signal Vdata between the second voltages V1 and V2 is applied to the pixel P of the display panel 150 to display an image.

그리고, 구동구간(PD)의 제2 및 제4프레임(F2, F4) 동안, 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)의 게이트에는 제6전압(V6)의 제1검사 인에이블신호(ET1)가 인가되어 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)가 턴-온 되고, 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)의 게이트에는 제5전압(V5)의 제2검사 인에이블신호(ET2)가 인가되어 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)가 턴-오프 되므로, 제3전압(V3)의 제1적, 제1녹, 제1청, 제2적, 제2녹 및 제2청 검사신호(RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2)는 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)에 의하여 차단되어 표시패널(150)의 화소(P)에 인가되지 않고, 데이터구동부(130)의 제1 및 제2전압(V1, V2) 사이의 데이터신호(Vdata)가 표시패널(150)의 화소(P)에 인가되어 영상을 표시한다.During the second and fourth frames F2 and F4 of the driving period PD, the first inspection enable signal ET1 of the sixth voltage V6 is applied to the gates of the plurality of first inspection thin film transistors Tt1. is applied, the plurality of first inspection thin film transistors Tt1 are turned on, and the second inspection enable signal ET2 of the fifth voltage V5 is applied to the gates of the plurality of second inspection thin film transistors Tt2. and the plurality of second inspection thin film transistors Tt2 are turned off, the first red, first green, first blue, second red, second green, and second blue inspection signals of the third voltage V3 ( RT1, GT1, BT1, RT2, GT2, BT2) are blocked by the plurality of second inspection thin film transistors Tt2 and are not applied to the pixels P of the display panel 150, and the first and the data signal Vdata between the second voltages V1 and V2 is applied to the pixel P of the display panel 150 to display an image.

여기서, 제3전압(V3)은 제1 및 제2전압(V1, V2) 사이의 전압으로, 예를 들어 약 0V 일 수 있고, 제5전압(V5)은 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)를 각각 턴-오프 시키는 전압으로, 예를 들어 약 -10V 내지 약 -8V 일 수 있고, 제6전압(V6)은 제5전압(V5)과 절대값이 동일하고 극성이 반대인 전압으로, 예를 들어 약 +8V 내지 약 +10V 일 수 있다.Here, the third voltage (V3) is a voltage between the first and second voltages (V1, V2), for example, may be about 0V, and the fifth voltage (V5) is a plurality of first inspection thin film transistors (Tt1) ) and the plurality of second inspection thin film transistors (Tt2), each of which is turned off, may be, for example, about -10V to about -8V, and the sixth voltage (V6) is the fifth voltage (V5) and absolute Voltages having the same value and opposite polarities, for example, may be about +8V to about +10V.

이러한 제6전압(V6)은 제5전압(V5)에 의한 음의 스트레스와 반대인 양의 스트레스(positive stress)를 가지므로, 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)의 게이트에 대한 제5 및 제6전압(V5, V6)의 프레임 별 교대 인가에 의하여 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)에 가해지는 스트레스트가 완화되고, 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)의 문턱전압의 이동(threshold voltage shift)이 최소화 되어 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)의 누설전류가 최소화 된다. Since the sixth voltage (V6) has a positive stress opposite to the negative stress caused by the fifth voltage (V5), a plurality of first inspection thin film transistors (Tt1) and a plurality of second inspection thin films applied to the plurality of first inspection thin film transistors Tt1 and the plurality of second inspection thin film transistors Tt2 by alternately applying the fifth and sixth voltages V5 and V6 to the gate of the transistor Tt2 for each frame The stress stress is relieved, and the threshold voltage shift between the plurality of first inspection thin film transistors (Tt1) and the plurality of second inspection thin film transistors (Tt2) is minimized, thereby increasing the number of first inspection thin film transistors (Tt1). and the leakage current of the plurality of second inspection thin film transistors Tt2 is minimized.

또한, 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)의 문턱전압 이동이 최소화 되므로, 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)의 크기(채널의 폭 및 길이)를 최적화 하여 제1 및 제2검사 인에이블신호(ET1, ET2)의 절대값, 즉 제4 내지 제6전압(V4 내지 V6)의 절대값을 종래에 비하여 감소시켜 검사단계의 잡음이 감소되고 신뢰성이 개선된다. In addition, since the threshold voltage shift between the plurality of first inspection thin film transistors Tt1 and the plurality of second inspection thin film transistors Tt2 is minimized, the plurality of first inspection thin film transistors Tt1 and the plurality of second inspection thin film transistors ( By optimizing the size (width and length of the channel) of Tt2), the absolute values of the first and second test enable signals ET1 and ET2, that is, the absolute values of the fourth to sixth voltages V4 to V6 are conventionally noise in the inspection step is reduced and reliability is improved.

여기서, 프레임은 영상을 표시하는 최소 단위로서 약 60Hz의 구동주파수에 대해서 약 16.7msec의 길이를 갖는다. Here, a frame is a minimum unit for displaying an image and has a length of about 16.7 msec with respect to a driving frequency of about 60 Hz.

도 5의 제1실시예에서는 1 프레임 별로 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 교대로 턴-온 및 턴-오프 하는 것으로 예로 들었으나, 다른 실시예에서는 2 이상의 프레임 별로 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 교대로 턴-온 및 턴-오프 할 수도 있다. 예를 들어, 제1 및 제2프레임과 제5 및 제6프레임 동안 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 턴-온 및 턴-오프 하고, 제3 및 제4프레임과 제7 및 제8프레임 동안 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 턴-오프 및 턴-온 할 수도 있다. In the first embodiment of FIG. 5, the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 are alternately turned on and off for each frame, but in another embodiment, the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 are turned on and off for each frame. And the second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 may be alternately turned on and off. For example, during the first and second frames and the fifth and sixth frames, the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 are turned on and off, and the third and fourth frames and the seventh And during the eighth frame, the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 may be turned off and on.

이상과 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치(110)에서는, 검사배선(TL) 및 데이터배선(DL) 사이에 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 연결하고, 검사구간(PT) 동안 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 턴-온 하고, 구동구간(PD) 동안 1 이상의 프레임 별로 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 교대로 턴-온 및 턴-오프 함으로써, 구동구간(PD) 동안 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)에 인가되는 스트레스를 완화하여 문턱전압 이동을 최소화 하고, 누설전류를 방지하여 얼룩 또는 선결함과 같은 불량을 방지하고 표시장치(110)의 표시품질을 개선할 수 있다. As described above, in the display device 110 according to the first embodiment of the present invention, the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 are connected between the inspection line TL and the data line DL, During the inspection period (PT), the first and second inspection thin film transistors (Tt1, Tt2) are turned on, and during the driving period (PD), the first and second inspection thin film transistors (Tt1, Tt2) are alternately turned on for each frame. By turning on and off with the controller, the stress applied to the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 during the driving period PD is relieved to minimize the threshold voltage shift and prevent leakage current to prevent staining or Defects such as line defects may be prevented and display quality of the display device 110 may be improved.

그리고, 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)의 문턱전압 이동이 최소화 되므로, 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2) 크기, 즉 채널의 폭(W) 및 길이(L)를 최소화 할 수 있으며, 그 결과 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 턴-온 또는 턴-오프 하기 위한 제1 및 제2검사 인에이블신호(ET1, ET2)의 절대값을 감소시켜 잡음(noise)을 최소화하고 검사단계의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. In addition, since the threshold voltage shift of the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 is minimized, the size of the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2, that is, the width (W) and length (L) of the channel can be minimized, and as a result, the absolute values of the first and second inspection enable signals ET1 and ET2 for turning on or off the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 are reduced. This can minimize noise and improve the reliability of the inspection step.

또한, 정전방지부(154)가 표시영역(DA)의 화소(P)와 검사부(152) 사이에 배치되므로, 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 표시패널(150) 내부의 정전기, 신호 또는 잡음으로부터 안전하게 보호할 수 있다.In addition, since the antistatic unit 154 is disposed between the pixel P of the display area DA and the inspection unit 152, the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 are disposed inside the display panel 150. It can be safely protected from static electricity, signal or noise.

제1실시예에서는 검사부(152)의 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 정전방지부(154)의 제1 및 제2다이오드(D1, D2) 외측에 배치하였으나, 다른 실시예에서는 정전방지부의 제1 및 제2다이오드를 검사부의 제1 및 제2검사 박막트랜지스터 사이에 배치할 수도 있는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다.In the first embodiment, the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 of the inspection unit 152 are disposed outside the first and second diodes D1 and D2 of the antistatic unit 154, but in other embodiments In , the first and second diodes of the anti-static unit may be disposed between the first and second inspection thin film transistors of the inspection unit, which will be described with reference to the drawings.

도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 표시장치의 표시패널의 검사부 및 정전방지부를 도시한 도면으로, 제1실시예와 동일한 부분에 대한 설명은 생략한다.6 is a diagram illustrating an inspection unit and an anti-static unit of a display panel of a display device according to a second embodiment of the present invention, and descriptions of the same parts as those of the first embodiment are omitted.

도 6에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 표시장치의 표시패널의 검사부(252)는, 다수의 검사배선(TL)과, 게이트에 제1검사 인에이블신호(ET1)가 인가되고 다수의 검사배선(TL)에 각각 드레인이 연결되는 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)와, 게이트에 제2검사 인에이블신호(ET2)가 인가되고 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)의 소스에 각각 드레인이 연결되는 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)를 포함하는데, 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)의 소스는 각각 데이터배선(DL)에 연결될 수 있다. As shown in FIG. 6 , the inspection unit 252 of the display panel of the display device according to the second embodiment of the present invention has a plurality of inspection lines TL and a first inspection enable signal ET1 at a gate. and a plurality of first inspection thin film transistors Tt1 having drains connected to a plurality of inspection lines TL, respectively, and a plurality of first inspection thin film transistors Tt1 having a second inspection enable signal ET2 applied to their gates ) includes a plurality of second inspection thin film transistors Tt2 having drains connected to sources thereof, and sources of the plurality of second inspection thin film transistors Tt2 may be respectively connected to data lines DL.

그리고, 본 발명의 제2실시예에 따른 표시장치의 표시패널의 정전방지부(254)는, 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1) 각각의 소스와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2) 각각의 드레인 사이에 연결되는 제1 및 제2다이오드(D1, D2)를 포함하는데, 제1다이오드(D1)의 음극은 고전위전압(Vdd)에 연결되고, 제1다이오드(D1)의 양극과 제2다이오드(D2)의 음극은 다수의 제1검사 박막트랜지스터(Tt1) 각각의 소스와 다수의 제2검사 박막트랜지스터(Tt2) 각각의 드레인에 연결되고, 제2다이오드(D2)의 양극은 저전위전압(Vss)에 연결될 수 있다.In addition, the antistatic unit 254 of the display panel of the display device according to the second embodiment of the present invention is a source of each of the plurality of first inspection thin film transistors Tt1 and each of a plurality of second inspection thin film transistors Tt2. It includes first and second diodes (D1, D2) connected between the drain of the first diode (D1), the cathode of the first diode (D1) is connected to the high potential voltage (Vdd), the anode of the first diode (D1) and the second The cathode of the second diode D2 is connected to the source of each of the plurality of first inspection thin film transistors Tt1 and the drain of each of the plurality of second inspection thin film transistors Tt2, and the anode of the second diode D2 has a low potential. It can be connected to the voltage (Vss).

정전방지부(254)의 제1 및 제2다이오드(D1, D2)는 고전위전압(Vdd) 및 저전위전압(Vss) 사이에 역방향으로 연결되어 있으므로 정전기가 발생하지 않은 경우에는 제1 및 제2다이오드(D1, D2)로 전류가 흐르지 않는 반면, 표시패널의 내부 또는 외부에서 고전압의 정전기가 발생한 경우에는 정전기의 발생원으로부터 제1다이오드(D1)를 통하여 고전위전압(Vdd)으로 전류가 흘러나가서 표시영역(DA)의 화소(P)와 비표시영역(NDA)의 검사부(252)가 보호될 수 있다.Since the first and second diodes D1 and D2 of the antistatic unit 254 are connected in opposite directions between the high potential voltage Vdd and the low potential voltage Vss, when static electricity does not occur, the first and second diodes D1 and D2 While current does not flow to the two diodes D1 and D2, when high voltage static electricity is generated inside or outside the display panel, current flows from the source of static electricity to the high potential voltage Vdd through the first diode D1. Furthermore, the pixel P of the display area DA and the inspection unit 252 of the non-display area NDA can be protected.

특히, 표시패널의 외부에서 정전기가 발생한 경우에는 제1검사 박막트랜지스터(Tt1)가 정전기에 대한 1차 차단수단으로 작동하고, 표시패널의 내부에서 정전기가 발생한 경우에는 제2검사 박막트랜지스터(Tt2)가 정전기에 대한 1차 차단수단으로 작동하므로, 정전방지부(254)의 정전기 방지기능이 더 향상되며, 정전기에 대한 1차 차단수단으로 작동한 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1) 중 하나가 단락 되더라도, 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1) 중 나머지 하나를 이용하여 검사단계를 수행할 수 있다.In particular, when static electricity is generated outside the display panel, the first inspection thin film transistor (Tt1) acts as a primary blocking means for static electricity, and when static electricity is generated inside the display panel, the second inspection thin film transistor (Tt2) Since acts as a primary blocking means for static electricity, the anti-static function of the anti-static unit 254 is further improved, and one of the first and second inspection thin film transistors Tt1 operating as a primary blocking means for static electricity Even if is short-circuited, the inspection step can be performed using the other one of the first and second inspection thin film transistors Tt1.

이러한 표시장치의 제조에 있어서, 표시패널 완성 후 검사구간 동안 검사부를 이용하여 표시패널의 양불을 검사하고, 양품 판정을 받은 표시패널에 타이밍제어부, 데이터구동부 및 게이트구동부의 구동부를 연결한 후 구동구간 동안 구동부를 이용하여 영상을 표시하는데, 구동구간에서는 검사부에 의한 다수의 검사신호의 공급을 중지한다.In manufacturing such a display device, after the completion of the display panel, the quality of the display panel is inspected by using the inspection unit during the inspection period, and after connecting the driving unit of the timing control unit, data driving unit, and gate driving unit to the display panel that has been judged to be good, the driving section While an image is displayed using the driving unit, supply of a plurality of inspection signals by the inspection unit is stopped in the driving section.

이상과 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 표시장치에서는, 검사배선(TL) 및 데이터배선(DL) 사이에 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 연결하고, 검사구간 동안 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 턴-온 하고, 구동구간 동안 1 이상의 프레임 별로 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 교대로 턴-온 및 턴-오프 함으로써, 구동구간 동안 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)에 인가되는 스트레스를 완화하여 문턱전압 이동을 최소화 하고, 누설전류를 방지하여 얼룩 또는 선결함과 같은 불량을 방지하고 표시장치의 표시품질을 개선할 수 있다. As described above, in the display device according to the second embodiment of the present invention, the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 are connected between the inspection line TL and the data line DL, and during the inspection period By turning on the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 and alternately turning on and off the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 for each one or more frames during the driving period. During the driving period, the stress applied to the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 is relieved to minimize the threshold voltage movement, and leakage current is prevented to prevent defects such as stains or line defects, and display of the display device quality can be improved.

또한, 정전방지부(254)가 검사부(252)의 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2) 사이에 배치되므로, 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 표시패널(150) 내부의 정전기, 신호 또는 잡음으로부터 안전하게 보호할 수 있고, 정전방지부(254)의 정전기 방지기능을 더 향상시킬 수 있다.In addition, since the antistatic unit 254 is disposed between the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 of the inspection unit 252, the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 are connected to the display panel 150. ) can be safely protected from internal static electricity, signals, or noise, and the anti-static function of the anti-static unit 254 can be further improved.

본 발명의 제1 및 제2실시예에서는 액정표시장치를 예로 들었으나, 다른 실시예에서는 유기발광다이오드 표시장치에 제1 및 제2검사 박막트랜지스터(Tt1, Tt2)를 적용할 수도 있다.In the first and second embodiments of the present invention, a liquid crystal display device is taken as an example, but in other embodiments, the first and second inspection thin film transistors Tt1 and Tt2 may be applied to an organic light emitting diode display device.

그리고, 본 발명의 제1 및 제2실시예에서는 정전방지부를 데이터배선(DL)에 연결되는 제1 및 제2다이오드(D1, D2)로 구성하였으나, 다른 실시예에서는 정전방지부를 음극이 데이터배선에 연결되고 양극이 접지되는 하나의 다이오드로 구성할 수도 있다.And, in the first and second embodiments of the present invention, the anti-static unit is composed of the first and second diodes D1 and D2 connected to the data line DL, but in other embodiments, the negative electrode of the anti-static unit is connected to the data line DL. It can also be configured as a single diode connected to and the anode is grounded.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the above has been described with reference to preferred embodiments of the present invention, those skilled in the art will variously modify and change the present invention within the scope not departing from the technical spirit and scope of the present invention described in the claims below. You will understand that it can be done.

110: 표시장치 150: 표시패널
152: 검사부 TL: 검사배선
Tt1, Tt2: 제1 및 제2검사 박막트랜지스터
ET1, ET2: 제1 및 제2검사 인에이블신호
PT: 검사구간 PD: 구동구간110: display device 150: display panel
152: inspection unit TL: inspection wiring
Tt1, Tt2: first and second inspection thin film transistors
ET1, ET2: first and second test enable signals
PT: inspection section PD: driving section

Claims

a driver supplying a gate signal and a data signal;
a display panel including a display area including pixels and a non-display area disposed outside the display area, and displaying an image using the gate signal and the data signal;
a gate line and a data line disposed in the display area of the display panel and crossing each other to define the pixel;
First and second inspection thin films disposed in the non-display area of the display panel, connected in series to the data line, simultaneously turned on during an inspection period, and alternately turned on and off during a driving period. transistor
A display device including a.

According to claim 1,
The first and second inspection thin film transistors are alternately turned on and off for each one or more frames during the driving period.

According to claim 1,
The first and second inspection thin film transistors include an active layer made of an oxide semiconductor.

According to claim 1,
and an inspection wire disposed in the non-display area of the display panel and supplying inspection signals to the pixels through the first and second inspection thin film transistors during the inspection period.

According to claim 4,
A first inspection enable signal is applied to a gate of the first inspection thin film transistor;
A drain of the first inspection thin film transistor is connected to the inspection wiring,
The source of the first inspection thin film transistor is connected to the drain of the second inspection thin film transistor;
A second inspection enable signal is applied to the gate of the second inspection thin film transistor;
A source of the second inspection thin film transistor is connected to the data line.

According to claim 5,
The inspection signal has a value varying between first and second voltages having the same absolute value and opposite polarities during the inspection period, and a third voltage between the first and second voltages during the driving period. have
The first inspection enable signal has a fourth voltage for turning on the first inspection thin film transistor during the inspection period, and a fifth voltage for turning off the first inspection thin film transistor during odd frames of the driving period. voltage, and has a sixth voltage having the same absolute value as the fifth voltage and an opposite polarity to the fifth voltage during even-numbered frames of the driving section;
The second inspection enable signal has the fourth voltage for turning on the second inspection thin film transistor during the inspection period, and turns off the second inspection thin film transistor during the even frames of the driving period. A display device having the fifth voltage and having the sixth voltage during the odd-numbered frames of the driving section.

According to claim 1,
The display device further includes an anti-static unit disposed in the non-display area of the display panel and disposed between the first and second inspection thin film transistors and the pixel.

According to claim 1,
The display device further includes an anti-static unit disposed in the non-display area of the display panel and disposed between the first and second inspection thin film transistors.

simultaneously turning on first and second inspection thin film transistors of the non-display area connected in series to the data wire of the display area of the display panel during the inspection period;
applying an inspection signal to pixels in a display area of the display panel through the first and second inspection thin film transistors turned on during the inspection period;
turning on and off the first and second inspection thin film transistors alternately during a driving period;
Applying a data signal to the pixel during the driving period
A method of driving a display device comprising a.

According to claim 9,
The first and second inspection thin film transistors are alternately turned on and off for each one or more frames during the driving period.

According to claim 9,
The first and second inspection thin film transistors are turned on and off according to the first and second inspection enable signals, respectively.

According to claim 11,
The inspection signal has a value varying between first and second voltages having the same absolute value and opposite polarities during the inspection period, and a third voltage between the first and second voltages during the driving period. have
The first inspection enable signal has a fourth voltage for turning on the first inspection thin film transistor during the inspection period, and a fifth voltage for turning off the first inspection thin film transistor during odd frames of the driving period. voltage, and has a sixth voltage having the same absolute value as the fifth voltage and an opposite polarity to the fifth voltage during even-numbered frames of the driving section;
The second inspection enable signal has the fourth voltage for turning on the second inspection thin film transistor during the inspection period, and turns off the second inspection thin film transistor during the even frames of the driving period. A method of driving a display device having the fifth voltage and having the sixth voltage during the odd-numbered frames of the driving section.