KR102563643B1

KR102563643B1 - Pin board

Info

Publication number: KR102563643B1
Application number: KR1020210075541A
Authority: KR
Inventors: 박종현; 백건욱; 허형택
Original assignee: 주식회사 프로이천
Priority date: 2021-06-10
Filing date: 2021-06-10
Publication date: 2023-08-04
Also published as: KR20220166597A

Abstract

본 발명은 핀 보드에 관한 것으로서, 몸체를 이루는 바디; 상기 바디와 결합되고, 검사장비 본체와 연결되는 기판; 상기 바디의 저면에 결합되고, 상기 기판과 접속되는 연성회로; 상기 연성회로가 상기 바디와의 사이에 개재되도록 상기 바디와 착탈 가능하게 결합되고, 상부로부터 개방되는 다수의 슬릿이 형성된 슬릿몸체; 및 상기 슬릿몸체의 다수의 상기 슬릿에 상부로부터 다수가 끼워져 상기 연성회로과 연결되는 프로브핀;을 포함하여 이루어지며, 검사 대상물과 접하는 프로브핀의 선단이 검사 대상물에 물려있을 때, 핀 보드를 검사 대상물로부터 멀어지도록 하여도, 프로브핀을 슬릿몸체의 슬릿의 상부로부터 끼워, 프로브핀의 선단과 연결된 프로브핀의 탄력을 가지는 부분의 가동 범위가 작아지도록 그 저면을 슬릿몸체의 일면과 인접하여 결합하므로, 프로브핀의 탄력을 가지는 부분의 저면이 슬릿몸체의 일면에 접한 상태로 더 움직이지 못하고, 따라서 프로브핀이 과하게 늘어지지 않고 검사 대상물과 프로브핀의 선단이 분리될 수 있어 프로브핀이 휘거나 파손되지 않아 프로브핀의 수명이 상승하는 이점이 있다.The present invention relates to a pin board, comprising: a body constituting a body; a substrate coupled to the body and connected to the main body of the inspection equipment; a flexible circuit coupled to the lower surface of the body and connected to the board; a slit body detachably coupled to the body so that the flexible circuit is interposed between the body and formed with a plurality of slits open from an upper portion; and a plurality of probe pins inserted into the plurality of slits of the slit body from above and connected to the flexible circuit. Even if it is away from the slit body, the probe pin is inserted from the upper part of the slit of the slit body so that the movable range of the elastic part of the probe pin connected to the tip of the probe pin is reduced. The bottom surface of the elastic part of the probe pin is in contact with one surface of the slit body and cannot move further, so the probe pin does not droop excessively and the test object and the tip of the probe pin can be separated, so the probe pin is not bent or damaged. There is an advantage of increasing the lifetime of the probe pin.

Description

Pin board {Pin board}

본 발명은 핀 보드에 관한 것으로서, 프로브핀을 슬릿몸체의 슬릿에 상부로부터 삽입하고 프로브핀의 저면이 받쳐지도록 하여, 검사 대상물과 접하는 프로브핀의 선단이 검사 대상물에 물린 상태에서 핀 보드를 상승시켰을 때 프로브핀의 선단이 슬릿의 내부에서 이탈하지 않도록 하면서도, 슬릿몸체를 하우징 없이 핀 보드의 몸체인 바디에 직접 착탈 가능하도록 결합하여 조립이 간편하도록 하는 핀 보드에 관한 것이다.The present invention relates to a pin board, wherein a probe pin is inserted into a slit of a slit body from above and the bottom surface of the probe pin is supported so that the tip of the probe pin in contact with the test object is bitten by the test object, and the pin board is raised. The present invention relates to a pin board in which a slit body is directly detachably coupled to a body, which is a body of a pin board, without a housing, so as to simplify assembly while preventing the tip of the probe pin from escaping from the inside of the slit.

일반적으로 핀 보드(Pin Board)는 전자 패널을 제조하는 과정에서 대상물을 검사하기 위해 사용되는 것으로서, 검사 대상물의 일부분에 배치된 접촉부에 핀 보드의 핀을 접속하여 검사를 지시하는 및 모니터링하는 검사장비 본체와 검사 대상물을 연결할 수 있도록 한다.In general, a pin board is used to inspect an object in the process of manufacturing an electronic panel. Inspection equipment instructs and monitors the inspection by connecting pins of the pin board to a contact part disposed on a part of the object to be inspected. It allows the main body and the inspection object to be connected.

이러한 핀 보드는 일측에 검사 대상물과 접속되는 프로브핀이 결합되고, 타측에 검사장비 본체와 연결되는 기판이 형성되는데, 최근에는 다양한 패널을 검사하기 위해, 기판이 결합된 바디, 바디에 결합되는 하우징, 슬릿에 프로브핀이 끼워지고 하우징에 착탈 가능하게 결합되는 슬릿몸체, 일측이 기판과 연결되고 타측이 바디와 하우징 사이에 끼워져 프로브핀과 접하는 연성회로로 구성되어, 슬릿몸체를 바디에서 착탈 가능한 구조로 형성해 검사 대상물에 따라 슬릿몸체를 교체할 수 있도록 하고, 프로브핀이 파손 또는 마모되면 슬릿몸체에서 쉽게 교환 가능하도록 하였다.In this pin board, a probe pin connected to an inspection object is coupled to one side, and a board connected to the main body of the inspection equipment is formed on the other side. A slit body in which a probe pin is inserted into the slit and detachably coupled to the housing, one side is connected to the board and the other side is sandwiched between the body and the housing and is composed of a flexible circuit in contact with the probe pin, so that the slit body can be detached from the body. , so that the slit body can be replaced according to the object to be inspected, and the slit body can be easily replaced when the probe pin is damaged or worn.

그 일 예로서, 도 1에 도시된 "핀 보드"는 몸체를 이루는 바디(110)의 후방에 검사장비 본체와 연결되고 연성회로(140)의 일측과 연결되는 기판(120)을 결합하고, 도 2와 같이 바디(110)의 전면과 하우징(130)의 사이에 연성회로(140)의 타측이 개재되도록 위치시켜 바디(110)의 전면에 하우징(130)을 결합하며, 슬릿몸체(150)의 하부로부터 다수의 슬릿(151)에 다수의 프로브핀(160)을 끼워 결합하고, 슬릿몸체(150)를 도 2에 도시된 바와 같이, 프로브핀(160)이 연성회로(140)와 접하도록 하우징(130)에 착탈 가능하게 결합하였다.As an example, the "pin board" shown in FIG. 1 combines the board 120 connected to the test equipment body at the rear of the body 110 constituting the body and connected to one side of the flexible circuit 140, FIG. 2, the other side of the flexible circuit 140 is interposed between the front of the body 110 and the housing 130 so that the housing 130 is coupled to the front of the body 110, and the slit body 150 A plurality of probe pins 160 are inserted and coupled to a plurality of slits 151 from the bottom, and the slit body 150 is placed in a housing so that the probe pins 160 come into contact with the flexible circuit 140, as shown in FIG. (130) is detachably coupled.

그러나, 위와 같은 핀 보드(100)는 검사 대상물을 검사할 때, 프로브핀(160)이 검사 대상물과 연결된 상태로 장기간 유지되는 등의 이유로 인해 프로브핀(160)의 선단이 검사 대상물에 물리게 되면, 슬릿몸체(150)의 하부에 슬릿(151)을 형성해 프로브핀(160)을 하부로부터 결합하였기 때문에 핀 보드(100)를 검사 대상물과 떼어내려고 해도, 프로브핀(160)의 일부분의 탄력에 의해 검사 대상물에 선단이 물린 상태로 일부분만 상승하여 프로브핀(160)의 선단부분 주변이 슬릿(151)에서 빠지게 되며, 물려있는 선단을 억지로 빼내려고 할 때 탄력을 가지도록 얇게 형성된 부분이 휘거나 파손되는 문제점이 있었다.However, when the above pin board 100 is inspecting an object to be inspected, when the tip of the probe pin 160 is bitten by the object to be inspected due to reasons such as the probe pin 160 being maintained in a state connected to the object for a long period of time, Since the slit 151 is formed in the lower part of the slit body 150 and the probe pin 160 is coupled from the lower part, even if the pin board 100 is to be separated from the test object, the inspection is performed by the elasticity of a part of the probe pin 160. Only a portion of the tip is raised while the tip is bitten by the object, and the area around the tip of the probe pin 160 is pulled out of the slit 151, and when trying to forcibly pull out the tip that is bitten, the thinned portion to have elasticity is bent or damaged There was a problem.

또한, 슬릿(151)에서 빠진 프로브핀(160)의 선단부분 주변이 탄력에 의해 다시 슬릿(151) 내부로 복귀되어야 하는데, 탄력을 가지는 부분이 휘거나 슬릿(151)의 외부에 걸려 다시 내부로 복귀되지 않게 되어, 연속된 검사 작업에서 장착한 프로브핀(160)을 지속적으로 사용할 수 없는 문제점이 있었다.In addition, the periphery of the tip of the probe pin 160 missing from the slit 151 should be returned to the inside of the slit 151 by elasticity, but the portion having elasticity is bent or caught on the outside of the slit 151 and returned to the inside. Since it is not returned, there is a problem in that the probe pin 160 mounted in the continuous inspection work cannot be continuously used.

또한, 검사 대상물에 따라 슬릿몸체를 교체할 수 있도록 하기 위해, 하우징(130)을 필수로 제조하여 조립하여야 하기 때문에, 하우징(130)을 제조하기 위한 재료와 인력에 대한 비용이 낭비되는 문제점이 있었다.In addition, since the housing 130 must be manufactured and assembled in order to replace the slit body according to the object to be inspected, there is a problem in that costs for materials and labor for manufacturing the housing 130 are wasted. .

본 발명은 위와 같은 종래의 핀 보드가 가지고 있는 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 그 목적은 프로브핀의 선단이 검사 대상물에 물려있을 때, 핀 보드를 검사 대상물로부터 멀어지도록 하여도 프로브핀이 물린상태로 힘을 받아 휘거나 파손되는 것을 방지할 수 있는 핀 보드를 제공함에 있다.The present invention has been proposed to solve the above problems of the conventional pin board, and its purpose is to prevent the probe pin from being bitten even if the pin board is moved away from the inspection object when the tip of the probe pin is bitten by the inspection object. It is an object of the present invention to provide a pin board capable of preventing bending or breakage under force in a state.

본 발명의 다른 목적은 프로브핀의 선단이 슬릿몸체의 슬릿에 삽입된 상태로 외부로 빠져나오는 것을 방지할 수 있는 핀 보드를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a pin board capable of preventing the tip of a probe pin from coming out to the outside while being inserted into a slit of a slit body.

본 발명의 또 다른 목적은 슬릿몸체를 결합하기 위한 하우징을 별도로 구비하지 않아도 바디에 슬릿몸체를 결합할 수 있는 핀 보드를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a pin board capable of coupling a slit body to a body without separately providing a housing for coupling the slit body.

이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 핀 보드는, 몸체를 이루는 바디; 상기 바디와 결합되고, 검사장비 본체와 연결되는 기판; 상기 바디의 저면에 결합되고, 상기 기판과 접속되는 연성회로; 상기 연성회로가 상기 바디와의 사이에 개재되도록 상기 바디와 착탈 가능하게 결합되고, 상부로부터 개방되는 다수의 슬릿이 형성된 슬릿몸체; 및 상기 슬릿몸체의 다수의 상기 슬릿에 상부로부터 다수가 끼워져 상기 연성회로과 연결되는 프로브핀;을 포함하여 이루어진다.A pin board according to the present invention for achieving this object includes a body constituting a body; a substrate coupled to the body and connected to the main body of the inspection equipment; a flexible circuit coupled to the lower surface of the body and connected to the board; a slit body detachably coupled to the body so that the flexible circuit is interposed between the body and formed with a plurality of slits open from an upper portion; and a plurality of probe pins inserted into the plurality of slits of the slit body from above and connected to the flexible circuit.

또한, 상기 슬릿몸체는, 상기 프로브핀의 저면 일부분에 인접하고, 상기 프로브핀의 일부분이 끼움결합되도록 홈부를 구비하는 받침부; 및 상기 받침부의 상면에서 돌출형성되어, 상기 프로브핀이 상기 받침부의 상부로부터 이격되어 끼워지도록 서로 이격된 다수의 삽입슬릿이 형성되는 돌출부;를 포함하여 이루어지는 것이 바람직하다.In addition, the slit body may include a support portion adjacent to a portion of the bottom surface of the probe pin and having a groove portion to allow a portion of the probe pin to be fitted; and a protrusion protruding from the upper surface of the supporting portion and having a plurality of insertion slits spaced apart from each other so that the probe pin is spaced apart from the upper portion of the supporting portion and inserted therein.

또한, 상기 슬릿몸체는 상기 받침부의 전면에 돌출형성되고, 상기 프로브핀의 검사 대상물과 접속되는 방향에 위치한 전방부가 정렬되어 상부로부터 삽입되도록 다수의 정렬슬릿이 형성되는 정렬부를 더 포함하는 것이 바람직하다.In addition, the slit body preferably further includes an alignment unit protruding from the front surface of the support unit and having a plurality of alignment slits formed so that the front unit located in the direction in which the probe pin is connected to the test object is aligned and inserted from the top. .

또한, 상기 프로브핀은, 상기 슬릿에 끼워질 때, 상기 받침부의 홈부에 끼움결합되는 결합부; 상기 결합부의 상측에 위치하며, 상기 바디와 상기 슬릿몸체 및 상기 연성회로가 결합된 때, 상기 연성회로의 저면과 접하는 눌림부; 상기 결합부와 상기 눌림부로부터 가로로 연장되어 탄력을 가지도록 형성되고, 저면이 상기 받침부의 상면과 인접하는 탄력부; 상기 탄력부의 연장된 끝단에 형성되어, 말단에 검사 대상물과 접속되는 선단이 형성되는 전방부; 및 상기 연성회로과 접속되는 후단이 형성되는 후방부;를 포함하여 이루어지는 것이 바람직하다.In addition, when the probe pin is inserted into the slit, the coupling portion fitted into the groove portion of the receiving portion; a pressing portion located on an upper side of the coupling portion and contacting a bottom surface of the flexible circuit when the body, the slit body, and the flexible circuit are coupled; an elastic part extending horizontally from the coupling part and the pressing part to have elasticity, the lower surface of which is adjacent to the upper surface of the supporting part; a front portion formed at the extended end of the elastic portion and having a front end connected to the test object at the end; and a rear portion in which a rear end connected to the flexible circuit is formed.

또한, 상기 전방부는 하방으로 연장형성되어, 상기 정렬부의 상기 정렬슬릿에 상부로부터 삽입되는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the front part extends downward and is inserted into the aligning slit of the aligning part from the top.

본 발명의 핀 보드에 따르면, 검사 대상물과 접하는 프로브핀의 선단이 검사 대상물에 물려있을 때, 핀 보드를 검사 대상물로부터 멀어지도록 하여도, 프로브핀을 슬릿몸체의 슬릿의 상부로부터 끼워, 프로브핀의 선단과 연결된 프로브핀의 탄력을 가지는 부분의 가동 범위가 작아지도록 그 저면을 슬릿몸체의 일면과 인접하여 결합하므로, 프로브핀의 탄력을 가지는 부분의 저면이 슬릿몸체의 일면에 접한 상태로 더 움직이지 못하고, 따라서 프로브핀이 과하게 늘어지지 않고 검사 대상물과 프로브핀의 선단이 분리될 수 있어 프로브핀이 휘거나 파손되지 않아 프로브핀의 수명이 연장되는 이점이 있다.According to the pin board of the present invention, when the tip of the probe pin in contact with the object to be inspected is bitten by the object to be inspected, the probe pin is sandwiched from the top of the slit of the slit body even if the pin board is moved away from the object to be inspected, The lower surface of the elastic part of the probe pin connected to the tip is coupled adjacent to one surface of the slit body so that the range of motion of the elastic part of the probe pin is reduced, so that the lower surface of the elastic part of the probe pin is in contact with one surface of the slit body and does not move further. Therefore, since the probe pin is not excessively stretched and the test object and the tip of the probe pin can be separated, the probe pin is not bent or damaged, and thus the life of the probe pin is extended.

또한, 프로브핀의 탄력을 가지는 탄력부가 과하게 늘어나지 않으므로 슬릿몸체의 슬릿에서 프로브핀의 선단이 외부로 이탈하는 것을 방지할 수 있게 되므로, 프로브핀의 선단이 슬릿 내에 정위치하여 정렬된 상태로 연속된 검사 작업을 지속해서 할 수 있어 핀 보드의 검사 시 신뢰도가 상승하는 이점이 있다.In addition, since the elastic part having the elasticity of the probe pin is not excessively stretched, it is possible to prevent the tip of the probe pin from escaping to the outside from the slit of the slit body, so that the tip of the probe pin is positioned in the slit and continues in an aligned state. Since inspection work can be performed continuously, reliability increases during pin board inspection.

또한, 프로브핀을 슬릿몸체의 상부로부터 슬릿에 삽입하고 슬릿몸체를 핀 보드의 몸체를 이루는 바디에 직접 결합하여, 슬릿몸체와 바디의 사이에 개재시킨 연성회로에 프로브핀이 연결될 수 있도록 하므로, 하우징을 별도로 구비하지 않아도 바디에 슬릿몸체를 착탈 가능하게 결합할 수 있어, 핀 보드의 전체 부품이 줄어 조립이 간편해지고, 하우징을 만드는데 필요했던 재료 및 인력에 관한 비용을 절감할 수 있는 이점이 있다.In addition, since the probe pin can be connected to the flexible circuit interposed between the slit body and the body by inserting the probe pin into the slit from the top of the slit body and directly coupling the slit body to the body constituting the body of the pin board, the housing Since the slit body can be detachably coupled to the body without having to separately provide, there is an advantage in that all parts of the pin board are reduced, simplifying assembly, and reducing the cost of materials and manpower required to make the housing.

도 1은 종래의 핀 보드의 단면도.
도 2는 도 1의 A 부분을 확대하여 도시한 종단면도.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 보드의 사시도.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 보드를 위에서 본 모습을 도시한 분해사시도.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 보드를 아래에서 본 모습을 도시한 분해시시도.
도 6은 도 3의 AA단면도.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 보드의 슬릿몸체와 프로브핀의 사시도.1 is a cross-sectional view of a conventional pin board.
Figure 2 is a longitudinal cross-sectional view showing an enlarged portion A of Figure 1;
3 is a perspective view of a pin board according to an embodiment of the present invention;
4 is an exploded perspective view showing a top view of a pin board according to an embodiment of the present invention;
5 is an exploded perspective view showing a pin board according to an embodiment of the present invention viewed from below;
Figure 6 is a AA cross-sectional view of Figure 3;
7 is a perspective view of a slit body of a pin board and a probe pin according to an embodiment of the present invention;

이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 보드를 첨부 도면을 참조로 상세히 설명한다.Hereinafter, a pin board according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명은 전자 패널 등을 검사하기 위해 검사장비 본체와 검사 대상물이 연결되도록 검사 대상물에 접하는 핀 보드에 관한 것으로서, 핀 보드는 도 3 및 도 5에 도면부호 1로 도시된 바와 같이, 크게 바디(10), 기판(20), 연성회로(30), 슬릿몸체(40) 및 프로브핀(50)을 포함하여 이루어진다.The present invention relates to a pin board in contact with an inspection object so that a test equipment body and an inspection object are connected in order to inspect an electronic panel, etc., and the pin board, as shown by reference numeral 1 in FIGS. 10), a substrate 20, a flexible circuit 30, a slit body 40, and a probe pin 50.

바디(10)는 핀 보드(1)의 몸체를 이루는 것으로서, 도 3에 도시된 바와 같이, 기판(20)이 후면에 결합되고, 도 4에 도시된 바와 같이, 연성회로(30)와 슬릿몸체(40)가 저면에 결합된다.The body 10 constitutes the body of the pin board 1, and as shown in FIG. 3, the substrate 20 is coupled to the rear surface, and as shown in FIG. 4, the flexible circuit 30 and the slit body (40) is coupled to the bottom.

기판(20)은 검사장비 본체와 핀 보드를 전기적으로 직접 연결하는 것으로서, PCB(Printed Circuit Board)로 형성되며, 도 3에 도시된 바와 같이, 바디(10)의 후방 하단에 결합되어, 검사장비 본체와 유선으로 연결된다.The substrate 20 electrically directly connects the test equipment body and the pin board, is formed of a printed circuit board (PCB), and is coupled to the lower rear of the body 10 as shown in FIG. It is connected to the main body by wire.

연성회로(30)는 기판(20)과 프로브핀(50)을 전기적으로 연결하는 것으로서, 도 4에 도시된 바와 같이, 일단이 기판(20)과 결합되어 접속되고, 타단 방향 일부분이 바디(10)의 저면에 결합되어, 프로브핀(50)이 연성회로(30)에 접할 수 있도록 위치한다.The flexible circuit 30 electrically connects the substrate 20 and the probe pin 50, and as shown in FIG. 4, one end is coupled to and connected to the substrate 20, and a portion of the other end toward the body 10 ), and is positioned so that the probe pin 50 can come into contact with the flexible circuit 30.

슬릿몸체(40)는 슬릿몸체(40)는 도 3에 도시된 바와 같이, 상부로부터 개방되어 형성된 다수의 슬릿(80)에 프로브핀(50)을 수용하여 다수의 프로브핀(50)을 정렬하는 것으로서, 검사하는 검사 대상물의 형태 즉, 검사 대상물의 접촉부분의 형태에 따라서 프로브핀(50)의 배치를 다르게 형성하기 위해 전체 형상을 다르게 형성할 수 있으며, 연성회로(30)가 바디(10)와의 사이에 개재되도록 바디(10)와 착탈 가능하게 결합되며, 이로인해 검사 대상물에 맞는 형태를 선택적으로 결합하여 사용할 수 있다.As shown in FIG. 3, the slit body 40 accommodates the probe pins 50 in the plurality of slits 80 formed by opening from the top to align the plurality of probe pins 50. As such, the overall shape can be formed differently in order to differently form the arrangement of the probe pins 50 according to the shape of the object to be inspected, that is, the shape of the contact portion of the object to be inspected, and the flexible circuit 30 is the body 10 It is detachably coupled with the body 10 so as to be interposed between the and, thereby, it is possible to selectively combine and use a shape suitable for an object to be inspected.

또한, 슬릿몸체(40)는 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 받침부(41), 돌출부(42)를 포함하여 이루어진다.In addition, as shown in FIGS. 6 and 7 , the slit body 40 includes a supporting portion 41 and a protruding portion 42 .

받침부(41)는 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 슬릿몸체(40)의 하부를 이루는 것으로서, 도 6에 도시된 바와 같이, 프로브핀(50)이 검사 대상물에 물려있는 상태로 핀 보드(1)를 검사 대상물로부터 멀어지도록 하였을 때, 프로브핀(50)의 저면 일부분과 인접하도록 위치하여, 프로브핀(50)이 과도하게 휘지 않고 프로브핀(50)의 저면이 받침부(41)에 받쳐져 슬릿(80)에서 이탈하지 않도록 한다.As shown in FIGS. 6 and 7, the supporting portion 41 constitutes the lower part of the slit body 40, and as shown in FIG. When the board 1 is moved away from the test object, it is positioned so as to be adjacent to a part of the bottom surface of the probe pin 50, so that the probe pin 50 is not excessively bent and the bottom surface of the probe pin 50 is at the support part 41 It is supported on so that it does not escape from the slit 80.

또한, 슬릿(80)에 삽입되는 프로브핀(50)의 일부분이 끼움결합되도록 일부분에 홈부(41a)가 형성되어, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 프로브핀(50)이 슬릿몸체(40)에 견고하게 결합되도록 한다.In addition, a groove 41a is formed in a portion of the probe pin 50 inserted into the slit 80 so that a portion thereof is fitted, and as shown in FIGS. 6 and 7, the probe pin 50 is formed on the slit body ( 40) to be firmly attached.

돌출부(42)는 도 7에 도시된 바와 같이, 받침부(41)의 상면에서 상측으로 돌출형성되어 슬릿(80)이 형성되는 부분으로서, 상부로부터 개방되어 다수의 프로브핀(50)이 받침부(41)의 상부로부터 이격되어 끼워지도록 서로 이격된 다수의 삽입슬릿(81)이 형성된다.As shown in FIG. 7, the protruding portion 42 protrudes upward from the upper surface of the supporting portion 41 to form a slit 80, and is opened from the upper portion so that a plurality of probe pins 50 are formed in the supporting portion. A plurality of insertion slits 81 spaced apart from each other are formed so as to be spaced apart from the top of 41 and fitted.

한편, 슬릿몸체(40)는 프로브핀(50)의 검사 대상물과 접하는 부분이 정렬될 수 있도록 정렬부(43)를 더 포함할 수 있는데, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 정렬부(43)는 받침부(41)의 전면에 돌출형성되고, 프로브핀(50)의 검사 대상물과 접속되는 방향에 위치한 전방부(54)가 상부로부터 삽입되도록 상하로 관통되어 다수의 정렬슬릿(82)이 형성되어, 프로브핀(50)의 전방부(54)가 정렬된 상태로 유지되어 검사 대상물과 접할 수 있게 된다.On the other hand, the slit body 40 may further include an alignment unit 43 so that a portion of the probe pin 50 in contact with the test object can be aligned. As shown in FIGS. 6 and 7, the alignment unit ( 43) protrudes from the front surface of the support portion 41, and penetrates vertically so that the front portion 54 located in the direction in which the probe pin 50 is connected to the test object is inserted from the top to form a plurality of alignment slits 82 This is formed so that the front part 54 of the probe pin 50 is maintained in an aligned state so that it can come into contact with the test object.

따라서, 위와 같이 슬릿몸체(40)를 형성하여 바디(10)와 결합하면, 슬릿몸체(40)를 교체 가능하도록 슬릿몸체(40)의 외형에 맞는 별도의 하우징을 바디(10)에 결합할 필요가 없고, 하우징 없이 연성회로(30)와 프로브핀(50)을 접촉시킬 수 있는 구조로 형성되므로, 핀 보드(1)의 부품이 줄어 조립이 간편해지고, 하우징을 만드는데 필요했던 재료 및 인력에 관한 비용을 절감할 수 있게 된다.Therefore, when the slit body 40 is formed and combined with the body 10 as above, it is necessary to combine a separate housing suitable for the outer shape of the slit body 40 with the body 10 so that the slit body 40 can be replaced. Since there is no housing and it is formed in a structure that can contact the flexible circuit 30 and the probe pin 50 without a housing, the number of parts of the pin board 1 is reduced, simplifying assembly, and related to the materials and manpower required to make the housing. You can cut costs.

프로브핀(50)은 검사 대상물의 접촉부분과 연성회로와 접하여, 검사장비 본체와 검사 대상물을 전기적으로 연결하는 것으로서, 다양한 형상으로 형성될 수 있는데, 그 일 예로서, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 결합부(51), 눌림부(52), 탄력부(53), 전방부(54) 및 후방부(55)를 포함하여 이루어진다.The probe pin 50 is in contact with the contact portion of the test object and the flexible circuit to electrically connect the test equipment body and the test object, and may be formed in various shapes, as examples thereof, shown in FIGS. 6 and 7 As described above, it includes a coupling part 51, a pressing part 52, an elastic part 53, a front part 54 and a rear part 55.

결합부(51)는 프로브핀(50)이 슬릿(80)에 끼워질 때 받침부(41)의 홈부(41a)에 끼움결합되는 부분으로서, 도 6에 도시된 바와 같이, 홈부(41a)에 끼워질 수 있는 크기로 형성되어 홈부(41a)에 끼워져 프로브핀(50)이 슬릿몸체(40)에서 이탈하지 않도록 한다.The coupling part 51 is a part fitted into the groove part 41a of the supporting part 41 when the probe pin 50 is inserted into the slit 80, and as shown in FIG. 6, the groove part 41a It is formed to a size that can be fitted and is inserted into the groove portion 41a to prevent the probe pin 50 from being separated from the slit body 40.

눌림부(52)는 프로브핀(50)이 바디(10)의 저면에 결합된 연성회로(30)와, 슬릿몸체(40)의 받침부(41)의 사이에 개재되도록 바디(10)의 저면이 누르는 부분으로서, 연성회로(30)의 저면 일부분과 접하는 상태로 바디(10)의 저면이 도 6에 도시된 바와 같이, 골고루 힘이 분산되도록 좌우로 넓게 연장된 눌림부(52)를 누름으로써, 홈부(41a)에 끼워진 결합부(51)가 외력에 의해 이탈하지 않도록 하면서 받침부(41)와 바디(10)의 사이에 개재되어 고정되도록 한다.The pressing part 52 is the bottom surface of the body 10 so that the probe pin 50 is interposed between the flexible circuit 30 coupled to the bottom surface of the body 10 and the support part 41 of the slit body 40. As this pressing part, as shown in FIG. 6, the bottom surface of the body 10 in contact with a part of the bottom surface of the flexible circuit 30 presses the pressing part 52 extending widely to the left and right so that the force is evenly distributed. , The coupling part 51 inserted into the groove part 41a is interposed between the support part 41 and the body 10 so as to be fixed while preventing it from being separated by an external force.

탄력부(53)는 프로브핀(50)의 전방부(54)에 탄력에 의해 검사 대상물의 접촉면과 탄력적으로 접촉할 수 있도록 하는 부분으로서, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 받침부(41)와 인접하여 결합부(51)와 눌림부(52)의 사이로부터 가로로 연장되어 형성되며, 일부분이 타공되어 얇은 두께를 가지도록 형성하므로, 엷은 두께로 복수의 줄이 연장형성되므로 탄력을 가지게 된다.The elastic part 53 is a part that allows the front part 54 of the probe pin 50 to elastically contact the contact surface of the test object by elasticity, and as shown in FIGS. 6 and 7, the support part ( 41) and is formed to extend horizontally from between the coupling part 51 and the pressing part 52, and a part is perforated to form a thin thickness, so that a plurality of lines are formed to extend with a thin thickness, so elasticity have

또한, 프로브핀(50)의 전방부(54)가 검사 대상물에 물려있는 상태로 핀 보드(1)를 검사 대상물로부터 멀어지도록 하였을 때, 도 6에 도시된 바와 같이, 탄력부(53)의 저면과 인접하도록 위치하므로, 탄력부(53)가 과도하게 휘지 않고 탄력부(53)의 저면이 받침부(41)에 받쳐져 슬릿(80)에서 이탈하지 않게 된다.In addition, when the pin board 1 is moved away from the test object in a state where the front portion 54 of the probe pin 50 is bitten by the test object, as shown in FIG. 6, the bottom surface of the elastic portion 53 Since it is positioned adjacent to, the elastic part 53 is not excessively bent and the bottom surface of the elastic part 53 is supported by the supporting part 41 so that it does not escape from the slit 80.

전방부(54)는 검사 대상물과 가장 가깝게 위치하여 검사 대상물의 접촉부분과 접하게 되는 부분으로서, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 탄력부(53)의 연장된 끝단에 형성되며, 말단에는 검사 대상물과 접속되는 선단(54a)이 형성된다.The front part 54 is a part that is located closest to the test object and comes into contact with the contact portion of the test object, and is formed at the extended end of the elastic part 53, as shown in FIGS. 6 and 7, at the end A front end 54a connected to the test object is formed.

또한, 전방부(54)는 슬릿몸체(40)의 정렬부(43)의 정렬슬릿(82)에 삽입되는데, 정렬부(43)는 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 받침부(41)보다 낮은 위치에 형성되, 정렬슬릿(82)이 상하로 관통되어 형성되므로, 전방부(54)가 탄력부(53)의 끝단에서 하방으로 연장형성되어, 정렬부(43)의 정렬슬릿(82)에 상부로부터 삽입되며, 따라서, 선단(54a)이 검사 대상물에 물렸을 때, 검사 대상물로부터 핀 보드(1)를 멀어지게 하여 전방부(54)가 하측으로 당겨지도록 하여도, 전방부(54)가 상하로 관통된 정렬슬릿(82)에 하방으로 삽입되어있기 때문에 정렬슬릿(82)에서 빠지지 않아 선단(54a)이 외부로 이탈하는 것을 방지할 수 있게 되므로, 전방부(54)가 정렬슬릿(82) 내에 정위치하여 선단(54a)이 정렬된 상태로 연속된 검사 작업을 지속해서 할 수 있어 핀 보드의 검사 시 신뢰도가 상승하게 된다.In addition, the front portion 54 is inserted into the alignment slit 82 of the alignment portion 43 of the slit body 40, the alignment portion 43, as shown in FIGS. 6 and 7, the supporting portion 41 ), since the alignment slit 82 penetrates vertically, the front portion 54 extends downward from the end of the elastic portion 53, and the alignment slit 82 of the alignment portion 43 ) is inserted from the top, and therefore, when the tip 54a is bitten by the test object, even if the front portion 54 is pulled downward by moving the pin board 1 away from the test object, the front portion 54 Since is inserted downward into the alignment slit 82 penetrating vertically, it does not fall out of the alignment slit 82 and it is possible to prevent the front end 54a from escaping to the outside, so that the front portion 54 is aligned with the alignment slit ( 82), continuous inspection work can be continuously performed with the front end 54a aligned, thereby increasing reliability during inspection of the pin board.

후방부(55)는 도 6에 도시된 바와 같이, 연성회로(30)와 접속되는 부분으로서, 말단에 형성된 후단(55a)이 연성회로(30)와 접속되어 연결되도록 하며, 따라서, 검사 대상물과 접속된 선단(54a)으로부터 프로브핀(50) 전체를 통해 후단(55a)에서 연성회로(30)로, 혹은 그 반대 순서로 전기적 신호가 전달되도록 한다.As shown in FIG. 6, the rear part 55 is a part connected to the flexible circuit 30, and the rear end 55a formed at the end is connected to the flexible circuit 30 so that it is connected. An electrical signal is transmitted from the connected front end 54a through the entire probe pin 50 to the flexible circuit 30 at the rear end 55a or in the reverse order.

한편, 본 발명의 핀 보드(1)는 도 3 내지 도 6에 도시된 바와 같이, 슬롯몸체(30)의 전면에 보호판(90)을 더 결합할 수 있는데, 보호판(90)을 결합하면, 도 6에 도시된 바와 같이, 정렬부(43)의 상단에 접한 상태로 위치하여 정렬부(43)의 상측에서 외부로 노출되는 프로브핀(50)의 전방부(54)를 보호한다,Meanwhile, in the pin board 1 of the present invention, as shown in FIGS. 3 to 6, a protective plate 90 can be further coupled to the front surface of the slot body 30. When the protective plate 90 is combined, FIG. As shown in Fig. 6, the front part 54 of the probe pin 50 exposed to the outside from the upper side of the aligning part 43 is protected by being positioned in contact with the top of the aligning part 43.

또한, 보호판(90)은 전방부(54)의 선단(54a)이 검사 대상물과 접촉할 때, 선단(54a)이 가압되어 들어올려지게 되면, 탄력부(53)에 의해 정렬슬릿(82)에서 전방으로 과도하게 들어올려질 수 있으므로, 도 6에 도시된 바와 같이, 전방부(54)의 전면 일부분을 막아 정렬슬릿(82) 내에서 전방으로 과도하게 들어올려지는 것을 방지하도록 한다.In addition, when the front end 54a of the front part 54 is in contact with the test object, the protective plate 90 is lifted by pressing the front end 54, in the alignment slit 82 by the elastic part 53. Since it can be excessively lifted forward, as shown in FIG. 6, a front portion of the front portion 54 is blocked to prevent excessive forward lifting within the alignment slit 82.

이상에서 본 발명의 구체적인 실시를 예로 들어 설명하였으나, 이들은 단지 설명의 목적을 위한 것으로 본 발명의 보호 범위를 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.In the above, specific implementations of the present invention have been described as examples, but these are for illustrative purposes only and are not intended to limit the scope of protection of the present invention. It will be apparent to those skilled in the art that various substitutions, modifications and changes are possible within the scope of the technical spirit of the present invention.

1: 핀 보드 10: 바디
20: 기판 30: 슬릿몸체
40: 연성회로 50: 프로브핀
80: 슬릿1: pin board 10: body
20: substrate 30: slit body
40: flexible circuit 50: probe pin
80: slit

Claims

delete

Body 10 constituting the body;
A substrate 20 coupled to the body 10 and connected to the main body of the inspection equipment;
a flexible circuit 30 coupled to the lower surface of the body 10 and connected to the substrate 20;
a slit body 40 detachably coupled to the body 10 so that the flexible circuit 30 is interposed between the body 10 and having a plurality of slits 80 open from the top; and
A plurality of probe pins 50 inserted into the plurality of slits 80 of the slit body 40 from the top and connected to the flexible circuit 30;
The slit body 40,
a support portion 41 adjacent to a portion of the bottom surface of the probe pin 50 and having a groove portion 41a so that a portion of the probe pin 50 is fitted; and
A protrusion 42 protruding from the upper surface of the supporting portion 41 and forming a plurality of insertion slits 81 spaced apart from each other so that the probe pin 50 is spaced apart from the upper portion of the supporting portion 41 and fitted therein A pin board comprising ;

The method of claim 2,
The slit body 40 protrudes from the front surface of the support part 41, and a plurality of alignment slits so that the front part 54 located in the direction in contact with the test object of the probe pin 50 is aligned and inserted from the top The pin board characterized in that it further comprises an alignment portion (43) on which (82) is formed.

The method of claim 3,
The probe pin 50,
When fitted into the slit 80, the coupling portion 51 is fitted into the groove portion 41a of the supporting portion 41;
Located on the upper side of the coupling part 51, when the body 10, the slit body 40, and the flexible circuit 30 are coupled, the pressing portion 52 in contact with the bottom surface of the flexible circuit 30 );
an elastic part 53 extending horizontally from the coupling part 51 and the pressing part 52 to have elasticity and having a lower surface adjacent to an upper surface of the supporting part 41;
A front portion 54 formed at the extended end of the elastic portion 53 and having a front end 54a connected to the test object at the end thereof; and
A pin board characterized in that it comprises a rear part (55) in which a rear end (55a) connected to the flexible circuit (30) is formed.

The method according to any one of claims 3 and 4,
The pin board, characterized in that the front portion (54) extends downward and is inserted into the alignment slit (82) of the alignment portion (43) from above.

The method according to any one of claims 2 to 4,
It is coupled to the front surface of the slit body 40 to protect a part of the probe pin 50 that is exposed to the outside from the front surface of the slit body 40, and the probe pin 50 is attached to the slit body 40. A pin board characterized in that it further comprises a protective plate 90 preventing excessive lifting from within.