KR102553444B1 - Automatic test device and automatic test method of substation diagnostic system - Google Patents

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Abstract

실시 예들은 정상 모드에서 센서와 로컬 유닛을 서로 연결하고, 시험 모드에서 상기 센서와 상기 로컬 유닛의 연결을 단절하는 적어도 하나의 스위치 및 시험 모드에서 상기 센서 및 상기 로컬 유닛으로 모의 신호를 전송하고, 상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 반사 신호를 분석하여 진단 시스템의 이상 여부를 시험하는 제어기를 포함하는, 자동 시험 장치에 관한 것이다. Embodiments include at least one switch that connects a sensor and a local unit in a normal mode and disconnects the connection between the sensor and the local unit in a test mode and transmits a simulated signal to the sensor and the local unit in a test mode, It relates to an automatic testing device including a controller that analyzes a reflected signal received in response to the simulated signal to test whether or not a diagnostic system is abnormal.

Description

변전소 진단 시스템의 자동 시험 장치 및 자동 시험 방법{Automatic test device and automatic test method of substation diagnostic system}Automatic test device and automatic test method of substation diagnostic system

본 발명은 변전소 진단 시스템의 자동 시험 장치 및 자동 시험 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an automatic testing device and an automatic testing method for a substation diagnosis system.

일반적인 변전소 시스템은 GIS(Gas Insulated Switchgear)를 개폐장치로 사용한다. 이러한 변전소 시스템은 진단 시스템을 통해 GIS의 부분 방전(Partial Discharge; PD) 등과 같은 상태 정보를 모니터링하고, GIS 내부의 이상 유무를 진단한다. A typical substation system uses GIS (Gas Insulated Switchgear) as a switchgear. This substation system monitors status information such as partial discharge (PD) of the GIS through a diagnosis system, and diagnoses the presence or absence of abnormalities in the GIS.

진단 시스템이 올바르게 동작하기 위해서는, 진단 시스템을 구성하는 센서, 케이블, 로컬 유닛 및 진단 유닛을 주기적으로 검사하여 올바르게 작동하고 있는지 시험해야 한다.In order for the diagnostic system to operate properly, the sensors, cables, local units, and diagnostic units constituting the diagnostic system must be periodically inspected to test whether or not they are operating correctly.

현재 진단 시스템의 시험은 수작업으로 진행되기 때문에 효율성과 신뢰도가 낮으며, 시스템의 불량 여부를 실시간으로 인지하지 못하여 정상적인 기능에 공백이 생길 수 있다. 또한, 시험 인력 및 시험 시간이 과다하게 소요되고, 안전 사고를 유발할 수 있어 문제된다. Since the tests of the current diagnosis system are performed manually, efficiency and reliability are low, and defects in the system cannot be recognized in real time, so there may be gaps in normal functions. In addition, there is a problem in that test personnel and test time are excessively consumed and safety accidents may be caused.

실시 예들은 수작업으로 진행되던 진단 시스템의 검사를 자동화할 수 있는 변전소 진단 시스템의 자동 시험 장치 및 자동 시험 방법을 제공한다. Embodiments provide an automatic test device and an automatic test method of a substation diagnosis system capable of automating the inspection of a diagnosis system that was previously performed manually.

일 실시 예에 따른 변전소 진단 시스템은, 설비로부터 상태 정보에 관한 측정 신호를 수집하는 센서, 상기 센서를 통해 수집된 상기 측정 신호를 기설정된 전송 프로토콜에 따라 처리하여 출력하는 로컬 유닛 및 상기 로컬 유닛으로부터 출력된 상기 측정 신호를 분석하여 상기 설비의 상태를 진단하는 진단 유닛을 포함할 수 있다.A substation diagnosis system according to an embodiment includes a sensor that collects measurement signals related to state information from facilities, a local unit that processes and outputs the measurement signals collected through the sensors according to a predetermined transmission protocol, and from the local unit A diagnosis unit configured to analyze the output measurement signal and diagnose the state of the facility may be included.

상기 변전소 진단 시스템의 상기 자동 시험 장치는, 정상 모드에서 상기 센서와 상기 로컬 유닛을 서로 연결하고, 시험 모드에서 상기 센서와 상기 로컬 유닛의 연결을 단절하는 적어도 하나의 스위치 및 상기 시험 모드에서 상기 센서 및 상기 로컬 유닛으로 모의 신호를 전송하고, 상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 반사 신호를 분석하여 상기 진단 시스템의 이상 여부를 시험하는 제어기를 포함할 수 있다. The automatic testing device of the substation diagnosis system includes at least one switch that connects the sensor and the local unit in a normal mode and disconnects the connection between the sensor and the local unit in a test mode and the sensor in the test mode. and a controller configured to transmit a simulated signal to the local unit and analyze a reflected signal received in response to the simulated signal to test whether the diagnosis system is abnormal.

상기 제어기는, 상기 모의 신호를 생성하여 출력하는 신호 발생기 및 상기 반사 신호를 분석하여 상기 진단 시스템의 이상 여부를 판단하는 프로세서를 포함할 수 있다.The controller may include a signal generator that generates and outputs the simulated signal and a processor that analyzes the reflected signal to determine whether the diagnosis system is abnormal.

상기 스위치는, 케이블을 통해 상기 센서에 연결되고, 상기 정상 모드에서 상기 센서와 제2 스위치를 연결하며, 상기 시험 모드에서 상기 센서와 상기 신호 발생기를 연결하는 제1 스위치 및 상기 정상 모드에서 상기 로컬 유닛과 상기 제1 스위치를 연결하고, 상기 시험 모드에서 상기 로컬 유닛과 상기 신호 발생기를 연결하는 상기 제2 스위치를 포함할 수 있다. The switch is connected to the sensor through a cable, connects the sensor and the second switch in the normal mode, and connects the first switch and the signal generator to the sensor in the test mode and the local switch in the normal mode. and the second switch connecting the unit and the first switch and connecting the local unit and the signal generator in the test mode.

상기 로컬 유닛은, 상기 측정 신호로부터 고주파 및 저주파 노이즈를 제거하기 위한 적어도 하나의 필터를 포함하고, 상기 제2 스위치는, 상기 로컬 유닛의 상기 필터에 연결될 수 있다.The local unit may include at least one filter for removing high frequency and low frequency noise from the measurement signal, and the second switch may be connected to the filter of the local unit.

상기 모의 신호는, 연속파(Continuous Wave) 및 펄스 신호 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The simulated signal may include at least one of a continuous wave and a pulse signal.

상기 신호 발생기는, 상기 시험 모드에서 상기 센서로 상기 모의 신호를 출력하고, 상기 프로세서는, 상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 상기 반사 신호의 주파수 대역별 반사 계수를 분석하여 상기 센서 및 상기 케이블의 이상 여부를 판단할 수 있다.The signal generator outputs the simulated signal to the sensor in the test mode, and the processor analyzes a reflection coefficient for each frequency band of the reflected signal received in response to the simulated signal to detect abnormalities in the sensor and the cable. can determine whether

상기 신호 발생기는, 상기 시험 모드에서 상기 필터로 상기 모의 신호를 출력하고, 상기 프로세서는, 상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 상기 반사 신호의 주파수 특성 및 펄스 감도 중 적어도 하나를 분석하여 상기 로컬 유닛의 이상 여부를 판단할 수 있다. The signal generator outputs the simulated signal to the filter in the test mode, and the processor analyzes at least one of a frequency characteristic and a pulse sensitivity of the reflection signal received in response to the simulated signal to determine the local unit. abnormalities can be judged.

일 실시 예에 따른, 자동 시험 장치의 자동 시험 방법은, 정상 모드에서 상기 변전소 진단 시스템의 센서와 로컬 유닛을 서로 연결하는 단계, 시험 모드의 제1 모드에서 상기 센서와 상기 로컬 유닛의 연결을 단절하고, 상기 센서로 모의 신호를 전송하는 단계, 상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 반사 신호를 분석하여 상기 센서의 이상 여부를 시험하는 단계, 상기 시험 모드의 제2 모드에서 상기 센서와 상기 로컬 유닛의 연결을 단절하고, 상기 로컬 유닛으로 상기 모의 신호를 전송하는 단계 및 상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 반사 신호를 분석하여 상기 로컬 유닛의 이상 여부를 시험하는 단계를 포함할 수 있다. According to an embodiment, the automatic test method of the automatic test device includes connecting a sensor and a local unit of the substation diagnosis system in a normal mode, and disconnecting the sensor and the local unit in a first mode of a test mode. and transmitting a simulated signal to the sensor, analyzing a reflected signal received in response to the simulated signal to test whether or not the sensor is abnormal, in the second mode of the test mode, the sensor and the local unit Disconnecting the connection, transmitting the simulated signal to the local unit, and analyzing a reflected signal received in response to the simulated signal to test whether the local unit is abnormal.

상기 진단 시스템의 센서와 로컬 유닛을 서로 연결하는 단계는, 제1 스위치가 상기 센서 및 제2 스위치에 연결되도록 제어하는 단계 및 상기 제2 스위치가 상기 제1 스위치 및 상기 로컬 유닛에 연결되도록 제어하는 단계를 포함할 수 있다.The step of connecting the sensor and the local unit of the diagnostic system to each other includes controlling the first switch to be connected to the sensor and the second switch, and controlling the second switch to be connected to the first switch and the local unit. steps may be included.

상기 센서로 상기 모의 신호를 전송하는 단계는, 상기 제1 스위치가 상기 센서 및 신호 발생기에 연결되도록 제어하는 단계 및 상기 신호 발생기가 상기 모의 신호를 출력하도록 제어하는 단계를 포함할 수 있다. Transmitting the mock signal to the sensor may include controlling the first switch to be connected to the sensor and the signal generator, and controlling the signal generator to output the mock signal.

상기 로컬 유닛으로 상기 모의 신호를 전송하는 단계는, 상기 제2 스위치가 상기 로컬 유닛 및 신호 발생기에 연결되도록 제어하는 단계 및 상기 신호 발생기가 상기 모의 신호를 출력하도록 제어하는 단계를 포함할 수 있다. Transmitting the mock signal to the local unit may include controlling the second switch to be connected to the local unit and the signal generator, and controlling the signal generator to output the mock signal.

상기 센서의 이상 여부를 시험하는 단계는, 상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 반사 신호의 주파수 대역별 반사 계수를 분석하는 단계 및 상기 분석 결과에 기초하여 상기 센서의 이상 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다. Testing whether the sensor is abnormal may include analyzing a reflection coefficient for each frequency band of a reflection signal received in response to the simulated signal, and determining whether the sensor is abnormal based on the analysis result. can

상기 로컬 유닛의 이상 여부를 시험하는 단계는, 상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 상기 반사 신호의 주파수 특성 및 펄스 감도 중 적어도 하나를 분석하는 단계 및 상기 분석 결과에 기초하여 상기 로컬 유닛의 이상 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.The step of testing whether the local unit is abnormal may include analyzing at least one of a frequency characteristic and a pulse sensitivity of the reflection signal received in response to the simulated signal, and determining whether the local unit is abnormal based on the analysis result. It may include a judgment step.

실시 예들에 따른 변전소 진단 시스템의 자동 시험 장치 및 자동 시험 방법은, 설비 진단 시스템을 자동화하여 업무 효율 및 신뢰도를 향상시킬 수 있다. An automatic test apparatus and an automatic test method of a substation diagnosis system according to embodiments may improve work efficiency and reliability by automating a facility diagnosis system.

또한, 실시 예들에 따른 변전소 진단 시스템의 자동 시험 장치 및 자동 시험 방법은, 시험 비용 및 필요 인력을 감소시키고, 안전 사고 발생을 차단할 수 있다. In addition, the automatic test apparatus and automatic test method of the substation diagnosis system according to the embodiments can reduce test costs and required manpower, and prevent safety accidents from occurring.

또한, 실시 예들에 따른 변전소 진단 시스템의 자동 시험 장치 및 자동 시험 방법은, 예방 진단 시스템의 불량 여부를 실시간으로 인지하여 대응할 수 있게 한다. In addition, the automatic test apparatus and automatic test method of the substation diagnosis system according to the embodiments enable to respond by recognizing in real time whether or not the preventive diagnosis system is defective.

도 1은 일 실시 예에 따른 변전소 진단 시스템의 구조를 나타낸 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 자동 시험 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 일 실시 예에 따른 자동 시험 방법을 나타낸 순서도이다.
도 4는 일 실시 예에 따른 센서 및 케이블의 진단 결과 화면을 나타낸다.
도 5는 일 실시 예에 따른 로컬 유닛 및 진단 유닛의 진단 결과 화면을 나타낸다.1 is a diagram showing the structure of a substation diagnosis system according to an embodiment.
FIG. 2 is a diagram schematically showing the configuration of the automatic testing device shown in FIG. 1 .
3 is a flowchart illustrating an automatic test method according to an embodiment.
4 shows a diagnosis result screen of a sensor and a cable according to an embodiment.
5 illustrates diagnosis result screens of a local unit and a diagnosis unit according to an exemplary embodiment.

이하, 도면을 참조하여 실시 예들을 설명한다. 본 명세서에서, 어떤 구성 요소(또는 영역, 층, 부분 등)가 다른 구성 요소 "상에 있다.", "연결된다.", 또는 "결합된다."고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성 요소 상에 직접 연결/결합될 수 있거나 또는 그들 사이에 제3의 구성 요소가 배치될 수도 있다는 것을 의미한다.Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. In this specification, when an element (or region, layer, section, etc.) is referred to as being “on,” “connected to,” or “coupled to” another element, it is on the other element. This means that they can be directly connected/coupled or a third component may be placed between them.

동일한 도면 부호는 동일한 구성 요소를 지칭한다. 또한, 도면들에 있어서, 구성요소들의 두께, 비율, 및 치수는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. "및/또는"은 연관된 구성들이 정의할 수 있는 하나 이상의 조합을 모두 포함한다.Like reference numerals designate like components. Also, in the drawings, the thickness, ratio, and dimensions of components are exaggerated for effective description of technical content. “And/or” includes any combination of one or more that the associated elements may define.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 실시 예들의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성 요소는 제2 구성 요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성 요소도 제1 구성 요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.Terms such as first and second may be used to describe various components, but the components are not limited by the terms. These terms are only used for the purpose of distinguishing one component from another. For example, a first component may be referred to as a second component without departing from the scope of the present embodiments, and similarly, the second component may also be referred to as a first component. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise.

"아래에", "하측에", "위에", "상측에" 등의 용어는 도면에 도시된 구성들의 연관관계를 설명하기 위해 사용된다. 상기 용어들은 상대적인 개념으로, 도면에 표시된 방향을 기준으로 설명된다.Terms such as "below", "lower side", "above", and "upper side" are used to describe the relationship between components shown in the drawings. The above terms are relative concepts and will be described based on the directions shown in the drawings.

"포함하다." 또는 "가지다." 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다."include." or "to have." The terms such as are intended to specify that there is a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification, but one or more other features or numbers, steps, operations, components, parts, or It should be understood that it does not preclude the possibility of existence or addition of combinations thereof.

도 1은 일 실시 예에 따른 변전소 진단 시스템의 구조를 나타낸 도면이다.1 is a diagram showing the structure of a substation diagnosis system according to an embodiment.

도 1을 참조하면, 일 실시 예에 따른 변전소 진단 시스템(1)은 설비(100), 센서(200), 로컬 유닛(300) 및 진단 유닛(400)을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 1 , a substation diagnosis system 1 according to an embodiment may include a facility 100, a sensor 200, a local unit 300, and a diagnosis unit 400.

설비(100)는 관내 변전소의 동작을 위해 설치되는 장치로 개폐 장치일 수 있으며, 특히, GIS(Gas Insulated Switchgear)일 수 있다. The facility 100 is a device installed for the operation of an in-pipe substation, and may be a switchgear, in particular, a gas insulated switchgear (GIS).

센서(200)는 설비에 내장되거나 또는 설비 외부에 부착되어, 설비의 상태 정보를 포함하는 측정 신호를 수집할 수 있다. 예를 들어, 센서(200)는 GIS의 부분 방전과 관련된 정보를 수집할 수 있다. 그러나 본 실시 예가 이로써 한정되지 않는다.The sensor 200 may be embedded in the facility or attached to the outside of the facility to collect a measurement signal including state information of the facility. For example, the sensor 200 may collect information related to partial discharge of the GIS. However, this embodiment is not limited thereto.

로컬 유닛(300)은 센서(200)와 케이블(210)(예를 들어, 동축 케이블)을 통해 연결될 수 있다. 로컬 유닛(300)은 케이블(210)을 통해 센서(200)로부터 수집된 측정 신호를 수신할 수 있다. 로컬 유닛(300)에서 수신되는 측정 신호는, 예를 들어 아날로그 신호일 수 있다. 일 실시 예에서, 로컬 유닛(300)은 수신된 측정 신호를 디지털 신호로 변환할 수 있다. 그러나 본 실시 예가 이로써 한정되지 않는다. The local unit 300 may be connected to the sensor 200 through a cable 210 (eg, a coaxial cable). The local unit 300 may receive measurement signals collected from the sensor 200 through the cable 210 . The measurement signal received by the local unit 300 may be, for example, an analog signal. In one embodiment, the local unit 300 may convert the received measurement signal into a digital signal. However, this embodiment is not limited thereto.

로컬 유닛(300)은 변환된 측정 신호를 기설정된 전송 프로토콜에 따라 진단 유닛(400)으로 전송할 수 있다. 전송 프로토콜은 예를 들어, IEC61850일 수 있다.The local unit 300 may transmit the converted measurement signal to the diagnosis unit 400 according to a predetermined transmission protocol. The transport protocol may be, for example, IEC61850.

다양한 실시 예에서, 로컬 유닛(300)은 케이블(210)을 통해 로컬 유닛(300)으로 유기되는 서지로부터 로컬 유닛(300)을 보호하기 위한 서지 보호기(surge protector)를 포함할 수 있다. 또한, 로컬 유닛(300)은 측정 신호로부터 고주파 및/또는 저주파 노이즈를 제거하기 위한 적어도 하나의 필터(예를 들어, 통과 대역 필터(Band Pass Filter; BPF)) 및 신호를 증폭하기 위한 증폭기를 더 포함할 수 있다. 다만, 로컬 유닛(30)의 구성은 상술한 것으로 한정되지 않는다. In various embodiments, the local unit 300 may include a surge protector to protect the local unit 300 from a surge induced to the local unit 300 through the cable 210 . In addition, the local unit 300 further includes at least one filter (eg, a band pass filter (BPF)) for removing high-frequency and/or low-frequency noise from the measurement signal and an amplifier for amplifying the signal. can include However, the configuration of the local unit 30 is not limited to the above.

진단 유닛(400)은 로컬 유닛(300)으로부터 수신된 상태 정보를 관리, 선별 및 분석하여, 설비의 상태를 검사 및 진단할 수 있다. 일 실시 예에서, 진단 유닛(400)은 진단 프로그램을 구동하고, 디스플레이 등을 통해 설비의 상태 및 장애 여부 등을 정보로서 표시할 수 있다. The diagnosis unit 400 may manage, select, and analyze the state information received from the local unit 300 to inspect and diagnose the state of the facility. In one embodiment, the diagnostic unit 400 may drive a diagnostic program and display the status of facilities and failures as information through a display or the like.

본 실시 예에서, 진단 시스템(1)은 상기와 같은 구성 요소들의 동작 상태를 자동으로 시험하기 위한 자동 시험 장치(500)를 더 포함한다. 자동 시험 장치(500)는 도시된 것과 같이, 로컬 유닛(300) 내부에 내장되거나, 다른 구성 요소들과 별개의 독립적인 장치로 마련될 수 있다. In this embodiment, the diagnostic system 1 further includes an automatic test device 500 for automatically testing the operating states of the components as described above. As shown, the automatic test device 500 may be built into the local unit 300 or provided as an independent device separate from other components.

자동 시험 장치(500)는 상술한 센서(200), 케이블(210), 로컬 유닛(300) 및 진단 유닛(400)에 전기적으로 연결되어, 이들의 상태를 시험하고 검사할 수 있다. 자동 시험 장치(500)는 본 실시 예에 따른 자동 검사 방법을 수행하기 위한 소프트웨어, 프로그램, 애플리케이션 등을 저장하고, 이를 구동하여 기설정된 알고리즘에 따라 자동 검사를 수행할 수 있다. 이하에서 자동 시험 장치(500)의 구성 및 자동 검사 방법에 대해 보다 구체적으로 설명한다.The automatic test device 500 is electrically connected to the above-described sensor 200, cable 210, local unit 300, and diagnosis unit 400, and can test and inspect their states. The automatic test apparatus 500 may store software, programs, applications, etc. for performing the automatic test method according to the present embodiment, and may perform an automatic test according to a predetermined algorithm by driving the software. Hereinafter, the configuration of the automatic test device 500 and the automatic test method will be described in more detail.

도 2는 도 1에 도시된 자동 시험 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.FIG. 2 is a diagram schematically showing the configuration of the automatic testing device shown in FIG. 1 .

도 2를 참조하면, 자동 시험 장치(500)는 케이블(210)을 통해 센서(200)와 연결되고, 또한 로컬 유닛(300)에 연결될 수 있다. 이러한 자동 시험 장치(500)는 케이블(210)을 통해 센서(200)에 연결되는 제1 스위치(SW1), 로컬 유닛(300)에 연결되는 제2 스위치(SW2) 및 제1 스위치(SW1)와 제2 스위치(SW2)에 연결되는 제어기(510)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 스위치(SW2)는 로컬 유닛(300)에 마련되는 필터(310)에 연결될 수 있다. 그러나 본 실시 예가 이로써 한정되지 않는다. Referring to FIG. 2 , the automatic test device 500 may be connected to the sensor 200 through a cable 210 and also to the local unit 300 . The automatic test device 500 includes a first switch SW1 connected to the sensor 200 through a cable 210, a second switch SW2 connected to the local unit 300, and a first switch SW1. A controller 510 connected to the second switch SW2 may be included. In one embodiment, the second switch SW2 may be connected to the filter 310 provided in the local unit 300. However, this embodiment is not limited thereto.

제1 스위치(SW1)는 제1 상태(S1)에서 케이블(210)과 제2 스위치(SW2) 사이를 연결한다. 그러면, 센서(200)로부터 케이블(210)을 통해 전송되는 측정 신호가 제1 스위치(SW1)를 경유하여 제2 스위치(SW2)로 전달될 수 있다. The first switch SW1 connects the cable 210 and the second switch SW2 in the first state S1. Then, the measurement signal transmitted from the sensor 200 through the cable 210 may be transferred to the second switch SW2 via the first switch SW1.

제1 스위치(SW1)는 제2 상태(S2)에서 케이블(210)과 제어기(510) 사이를 연결한다. 그러면, 제어기(510)에서 생성되는 모의 신호가 제1 스위치(SW1) 및 케이블(210)을 경유하여 센서(200)로 전달될 수 있다.The first switch SW1 connects the cable 210 and the controller 510 in the second state S2. Then, the simulated signal generated by the controller 510 may be transmitted to the sensor 200 via the first switch SW1 and the cable 210 .

제2 스위치(SW2)는 제3 상태(S3)에서 제1 스위치(SW1)와 로컬 유닛(300) 사이를 연결한다. 그러면, 기설정된 전송 프로토콜에 따라 제1 스위치(SW1)를 경유하여 전송된 측정 신호가 제2 스위치(SW2)를 경유하여 로컬 유닛(300)으로 전달될 수 있다. The second switch SW2 connects the first switch SW1 and the local unit 300 in the third state S3. Then, the measurement signal transmitted via the first switch SW1 according to the preset transmission protocol may be transferred to the local unit 300 via the second switch SW2.

제2 스위치(SW2)는 제4 상태(S4)에서 제어기(510)와 로컬 유닛(300) 사이를 연결한다. 그러면, 제어기(510)에서 생성되는 모의 신호가 제2 스위치(SW2)를 경유하여 로컬 유닛(300)(예를 들어, 로컬 유닛(300)의 필터(310))으로 전달될 수 있다. The second switch SW2 connects the controller 510 and the local unit 300 in the fourth state S4. Then, the simulated signal generated by the controller 510 may be transferred to the local unit 300 (eg, the filter 310 of the local unit 300) via the second switch SW2.

일 실시 예에서, 관내 변전소에 복수 개의 설비(100)들에 대한 복수 개의 센서(200)들 및 이들에 대응하는 복수 개의 로컬 유닛(300)들이 마련되는 경우, 각각의 센서(200) 및 로컬 유닛(300)에 대해 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2) 쌍이 연결될 수 있다. In one embodiment, when a plurality of sensors 200 for a plurality of facilities 100 and a plurality of local units 300 corresponding to them are provided in an in-pipe substation, each sensor 200 and the local unit For 300 , a pair of a first switch SW1 and a second switch SW2 may be connected.

제어기(510)는 진단 시스템(1)을 시험하기 위한 모의 신호를 생성하여 출력하는 신호 발생기(511) 및 시험용 소프트웨어를 구동하고 기설정된 알고리즘에 따라 진단 시스템(1)의 구성 요소들의 이상 여부를 판단하는 프로세서(512)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 프로세서(512)는 진단 유닛(400)에 내장될 수 있다. 예를 들어, 진단 유닛(400)에 구비되는 프로세서 상에서 시험용 소프트웨어가 구동되어 자동 시험 장치(500)의 프로세서(512)로 기능할 수 있다. The controller 510 drives a signal generator 511 that generates and outputs simulated signals for testing the diagnostic system 1 and software for testing, and determines whether the components of the diagnostic system 1 are abnormal according to a preset algorithm. It may include a processor 512 that does. In one embodiment, processor 512 may be embedded in diagnostic unit 400 . For example, software for testing may be driven on a processor provided in the diagnosis unit 400 to function as the processor 512 of the automatic test device 500 .

신호 발생기(511)는 모의 신호로서, CW(Continuous Wave; 연속파) 신호 및/또는 펄스 신호를 생성하여 출력할 수 있다. 또한, 신호 발생기(511)는 CW 신호 및/또는 펄스 신호에 응답하여 수신되는 신호(예를 들어, 반사되는 신호)를 프로세서(512)로 전달할 수 있다. The signal generator 511 may generate and output a continuous wave (CW) signal and/or a pulse signal as a simulated signal. Also, the signal generator 511 may transfer a received signal (eg, a reflected signal) to the processor 512 in response to the CW signal and/or the pulse signal.

프로세서(512)는 기설정된 알고리즘에 따라 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)를 제어하여 진단 시스템(1)을 정상 모드로 가동하거나, 시험 모드로 가동할 수 있다. 또한, 프로세서(512)는 신호 발생기(511)를 제어하여 진단 시스템(1)을 시험 모드로 가동하는 동안, 모의 신호를 생성하게 할 수 있다. The processor 512 may control the first switch SW1 and the second switch SW2 according to a preset algorithm to operate the diagnosis system 1 in a normal mode or in a test mode. Also, the processor 512 may control the signal generator 511 to generate a simulated signal while the diagnostic system 1 operates in a test mode.

정상 모드에서, 제1 스위치(SW1)는 제1 상태(S1)로 제어되고, 제2 스위치(SW2)는 제3 상태(S3)로 제어될 수 있다. 그러면, 센서(200)에서 수집되고 케이블(210)을 통해 전송된 측정 신호가 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)를 경유하여 로컬 유닛(300)으로 전송될 수 있다.In the normal mode, the first switch SW1 can be controlled in the first state S1 and the second switch SW2 can be controlled in the third state S3. Then, the measurement signal collected by the sensor 200 and transmitted through the cable 210 may be transmitted to the local unit 300 via the first switch SW1 and the second switch SW2.

시험 모드에서, 제1 스위치(SW1)는 제2 상태(S2)로 제어되고, 제2 스위치(SW2)는 제4 상태(S4)로 제어될 수 있다. In the test mode, the first switch SW1 may be controlled in the second state S2 and the second switch SW2 may be controlled in the fourth state S4.

센서(200) 및 케이블(210)의 상태를 시험하고자 할 때, 프로세서(512)는 신호 발생기(511)가 모의 신호를 생성 및 출력하도록 제어할 수 있다. 그러면, 신호 발생기(511)에서 생성된 모의 신호가 제1 스위치(SW1)를 경유하여 케이블(210) 및 센서(200)로 전송될 수 있다. 이때, 모의 신호는, 예를 들어 500MHz~1500MHz 대역의 CW 신호일 수 있다. When testing the state of the sensor 200 and the cable 210, the processor 512 may control the signal generator 511 to generate and output a simulated signal. Then, the simulated signal generated by the signal generator 511 may be transmitted to the cable 210 and the sensor 200 via the first switch SW1. At this time, the simulated signal may be, for example, a CW signal in a band of 500 MHz to 1500 MHz.

유사하게, 로컬 유닛(300)의 상태를 시험하고자 할 때, 프로세서(512)는 신호 발생기(511)가 모의 신호를 생성 및 출력하도록 제어할 수 있다. 그러면, 신호 발생기(511)에서 생성된 모의 신호가 제2 스위치(SW2)를 경유하여 로컬 유닛(300)으로 전송될 수 있다. 이때, 모의 신호는, 예를 들어 연속 신호 및 펄스 신호일 수 있다. Similarly, when testing the state of the local unit 300, the processor 512 may control the signal generator 511 to generate and output a simulated signal. Then, the simulated signal generated by the signal generator 511 may be transmitted to the local unit 300 via the second switch SW2. At this time, the simulated signal may be, for example, a continuous signal or a pulse signal.

프로세서(512)는 모의 신호에 응답하여 센서(200), 케이블(210) 및/또는 로컬 유닛(300)으로부터 수신되는 신호(예를 들어, 반사된 신호)를 분석하고, 진단 시스템(1)의 시험 결과를 판정(즉, 이상 발생 여부를 판단)할 수 있다. 구체적으로, 프로세서(512)는 반사된 신호의 크기, 파형 및 오차 범위 등을 모의 신호와 비교하여 이상 발생 여부를 판단할 수 있다. 다양한 실시 예에서, 프로세서(512)는 센서(200)의 반사 계수(Return loss) 및 케이블(210)의 손실(Cable loss), 통신 상태, 연결 상태 등을 판단할 수 있다. 또한, 프로세서(512)는 로컬 유닛(300), 예를 들어 필터(310)의 펄스 감도, 주파수 특성 등을 판단할 수 있다. The processor 512 analyzes signals (eg, reflected signals) received from the sensors 200, cables 210 and/or local unit 300 in response to the simulated signals, and the diagnosis system 1 The test result can be judged (that is, whether or not an abnormality has occurred) can be determined. Specifically, the processor 512 may compare the size, waveform, and error range of the reflected signal with a simulated signal to determine whether an abnormality has occurred. In various embodiments, the processor 512 may determine a return loss of the sensor 200 and a cable loss of the cable 210, a communication state, a connection state, and the like. Also, the processor 512 may determine pulse sensitivity and frequency characteristics of the local unit 300, for example, the filter 310.

프로세서(512)는 판정 결과를 기록하거나, 필요한 경우(예를 들어, 이상이 발생한 경우) 경보, 알람, 알림 등을 원격의 장치로 출력할 수 있다. 프로세서(512)는 자동 시험 장치(500), 진단 유닛(400) 또는 외부의 다른 관리 장치에 마련되는 디스플레이 등을 통해, 시험 결과를 표시하거나 경보, 알람, 알림 등을 출력할 수 있다. The processor 512 may record the determination result or, if necessary (eg, when an abnormality occurs), may output an alert, alarm, notification, or the like to a remote device. The processor 512 may display a test result or output an alarm, alarm, notification, or the like through a display provided in the automatic test device 500, the diagnosis unit 400, or another external management device.

일 실시 예에서, 관내 변전소에 복수 개의 설비(100)들에 대한 복수 개의 센서(200)들 및 복수 개의 필터(310)가 마련되는 경우, 각각의 센서(200) 및 로컬 유닛(300)에 대한 시험이 순차로 진행될 수 있다. 예를 들어, 첫 번째 센서(200)에 연결된 제1 스위치(SW1)가 제어되어 첫 번째 센서(200)에 대한 시험이 완료된 후, 두 번째 센서(200)에 연결된 제1 스위치(SW1)가 제어되어 두 번째 센서(200)에 대한 시험이 진행될 수 있다. 유사하게, 첫 번째 필터(310)에 연결된 제2 스위치(SW2)가 제어되어 첫 번째 필터(310)에 대한 시험이 완료된 후, 두 번째 필터(310)에 연결된 제2 스위치(SW2)가 제어되어 두 번째 필터(310)에 대한 시험이 진행될 수 있다.In one embodiment, when a plurality of sensors 200 and a plurality of filters 310 for a plurality of facilities 100 are provided in an in-pipe substation, for each sensor 200 and the local unit 300 The tests may be run sequentially. For example, after the first switch SW1 connected to the first sensor 200 is controlled and the test on the first sensor 200 is completed, the first switch SW1 connected to the second sensor 200 is controlled. Thus, the test of the second sensor 200 may proceed. Similarly, after the test on the first filter 310 is completed by controlling the second switch SW2 connected to the first filter 310, the second switch SW2 connected to the second filter 310 is controlled A test on the second filter 310 may be performed.

도 3은 일 실시 예에 따른 자동 시험 방법을 나타낸 순서도이다. 3 is a flowchart illustrating an automatic test method according to an embodiment.

도 3을 참조하면, 일 실시 예에 따른 자동 시험 장치(500)는 시험 모드로 동작할 수 있다. Referring to FIG. 3 , the automatic test apparatus 500 according to an embodiment may operate in a test mode.

자동 시험 장치(500)는 먼저 시험 모드의 제1 모드, 예를 들어 센서(200)의 반사 계수 시험 모드로 진입할 수 있다(11). 그에 따라, 자동 시험 장치(500)는 시험 대상 센서(200)에 연결된 제1 스위치(SW1)를 제어하여(12), 센서(200)와 제어기(510)를 연결할 수 있다. 이후에, 자동 시험 장치(500)는 신호 발생기(511)를 제어하여 모의 신호(예를 들어, CW 신호)를 출력할 수 있다(13). 모의 신호가 센서(200)로 전송되고, 그에 응답하여 반사 신호가 수신되면, 자동 시험 장치(500)는 반사 신호의 주파수 대역별 반사 계수를 측정할 수 있다(14). 이후에, 자동 시험 장치(500)는 측정된 반사 계수를 분석하여(15), 판정 및 그에 따른 시험 보고서를 생성할 수 있다(16).The automatic test device 500 may first enter a first mode of test mode, for example, a reflection coefficient test mode of the sensor 200 (11). Accordingly, the automatic test apparatus 500 may connect the sensor 200 and the controller 510 by controlling the first switch SW1 connected to the sensor 200 to be tested (12). Thereafter, the automatic test device 500 may control the signal generator 511 to output a simulated signal (eg, CW signal) (13). When the simulated signal is transmitted to the sensor 200 and a reflected signal is received in response thereto, the automatic test apparatus 500 may measure a reflection coefficient for each frequency band of the reflected signal (14). Thereafter, the automatic test device 500 may analyze the measured reflection coefficient (15) and generate a judgment and a test report accordingly (16).

이후에 자동 시험 장치(500)는 시험 모드의 제2 모드, 예를 들어 필터(310) 및 부분 방전 보드의 주파수 특성 및 펄스 감도 시험 모드로 진입할 수 있다(21). 그에 따라, 자동 시험 장치(500)는 시험 대상 로컬 유닛(300)에 연결된 제2 스위치(SW2)를 제어하여, 로컬 유닛(300)과 제어기(510)를 연결할 수 있다(22). 이후에, 자동 시험 장치(500)는 신호 발생기(511)를 제어하여 모의 신호(예를 들어, CW 신호 및 펄스 신호)를 출력할 수 있다(23). 모의 신호가 필터(310)로 전송되고, 그에 응답하여 반사 신호가 수신되면, 자동 시험 장치(500)는 반사 신호의 주파수 특성 및 펄스 감도 신호를 분석할 수 있다(24). 이후에, 자동 시험 장치(500)는 분석 결과에 따라 판정 및 시험 보고서를 생성할 수 있다(25).Thereafter, the automatic test apparatus 500 may enter a second mode of the test mode, for example, a frequency characteristic and pulse sensitivity test mode of the filter 310 and the partial discharge board (21). Accordingly, the automatic test apparatus 500 may connect the local unit 300 and the controller 510 by controlling the second switch SW2 connected to the local unit 300 under test (22). Thereafter, the automatic test device 500 may control the signal generator 511 to output simulated signals (eg, CW signals and pulse signals) (23). When the simulated signal is transmitted to the filter 310 and a reflected signal is received in response thereto, the automatic testing device 500 may analyze the frequency characteristics of the reflected signal and the pulse sensitivity signal (24). Thereafter, the automatic test device 500 may determine and generate a test report according to the analysis result (25).

도 4는 일 실시 예에 따른 센서 및 케이블의 진단 결과 화면을 나타내고, 도 5는 일 실시 예에 따른 로컬 유닛 및 진단 유닛의 진단 결과 화면을 나타낸다.4 shows a diagnosis result screen of a sensor and a cable according to an embodiment, and FIG. 5 shows a diagnosis result screen of a local unit and a diagnosis unit according to an embodiment.

도 4의 (a)는 센서(200) 및 케이블(210)이 정상 상태일 때의 측정 데이터를 나타내고, (b)는 센서(200) 및 케이블(210)이 불량 상태일 때의 측정 데이터를 나타낸다. 여기서 측정 데이터는 케이블(210)을 경유하여 센서(200)로 전송된 모의 신호에 대한 반사 신호의 반사 계수일 수 있다. 자동 시험 장치(500)는 도시된 것과 같이 반사 신호의 반사 계수 파형 분석을 통해 센서(200) 및 케이블(210)의 이상 유무를 판단할 수 있다. (a) of FIG. 4 shows measurement data when the sensor 200 and cable 210 are in a normal state, and (b) shows measurement data when the sensor 200 and cable 210 are in a bad state. . Here, the measurement data may be a reflection coefficient of a reflection signal for a simulated signal transmitted to the sensor 200 via the cable 210 . As illustrated, the automatic test device 500 may determine whether the sensor 200 and the cable 210 have abnormalities through analysis of the reflection coefficient waveform of the reflected signal.

도 5의 (a)는 로컬 유닛(300)이 정상 상태일 때의 측정 데이터를 나타내고, (b)는 로컬 유닛(300)이 불량 상태일 때의 측정 데이터를 나타낸다. 여기서 측정 데이터는 로컬 유닛(300)의 필터(310)로 전송된 모의 신호에 대한 반사 신호의 주파수 특성 및/또는 펄스 감도일 수 있다. 자동 시험 장치(500)는 도시된 것과 같이 반사 신호의 파형 분석을 통해 필터(310)의 주파수 특성 및 펄스 감도 이상 유무를 판단할 수 있다. 5 (a) shows measurement data when the local unit 300 is in a normal state, and (b) shows measurement data when the local unit 300 is in a defective state. Here, the measurement data may be a frequency characteristic and/or a pulse sensitivity of a reflected signal for a simulated signal transmitted to the filter 310 of the local unit 300 . As illustrated, the automatic test device 500 may determine whether or not the frequency characteristics and pulse sensitivity of the filter 310 are abnormal through waveform analysis of the reflected signal.

본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구의 범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구의 범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Those skilled in the art to which the present invention pertains will understand that the present invention can be embodied in other specific forms without changing its technical spirit or essential features. Therefore, the embodiments described above should be understood as illustrative in all respects and not limiting. The scope of the present invention is indicated by the claims to be described later rather than the detailed description above, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and equivalent concepts thereof are included in the scope of the present invention. should be interpreted

1: 진단 시스템
100: 설비
200: 센서
210: 케이블
300: 로컬 유닛
310: 필터
400: 진단 유닛
500: 자동 시험 장치
SW1: 제1 스위치
SW2: 제2 스위치
510: 제어기
511: 신호 발생기
512: 프로세서1: Diagnostic system
100: facilities
200: sensor
210: cable
300: local unit
310: filter
400: diagnostic unit
500: automatic test device
SW1: first switch
SW2: second switch
510: controller
511 signal generator
512: processor

Claims (13)

변전소 진단 시스템의 자동 시험 장치로,
상기 변전소 진단 시스템은,
설비로부터 상태 정보에 관한 측정 신호를 수집하는 센서;
상기 센서를 통해 수집된 상기 측정 신호를 기설정된 전송 프로토콜에 따라 처리하여 출력하는 로컬 유닛; 및
상기 로컬 유닛으로부터 출력된 상기 측정 신호를 분석하여 상기 설비의 상태를 진단하는 진단 유닛을 포함하고,
상기 자동 시험 장치는,
정상 모드에서 상기 센서와 상기 로컬 유닛을 서로 연결하고, 시험 모드에서 상기 센서와 상기 로컬 유닛의 연결을 단절하는 적어도 하나의 스위치; 및
상기 시험 모드에서 상기 센서 및 상기 로컬 유닛으로 모의 신호를 전송하고, 상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 반사 신호를 분석하여 상기 진단 시스템의 이상 여부를 시험하는 제어기를 포함하되,
상기 제어기는,
상기 모의 신호를 생성하여 상기 센서 또는 상기 로컬 유닛의 필터로 출력하는 신호 발생기; 및
상기 반사 신호를 분석하여 상기 진단 시스템의 이상 여부를 판단하는 프로세서를 포함하고,
상기 프로세서는,
센서의 반사 계수 시험 모드에서는, 상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 상기 반사 신호의 주파수 대역별 반사 계수를 분석하여 상기 센서 및 케이블의 이상 여부를 판단하고,
필터 및 부분 방전 보드의 주파수 특성 및 펄스 감도 시험 모드에서는 상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 상기 반사 신호의 주파수 특성 및 펄스 감도 중 적어도 하나를 분석하여 상기 로컬 유닛의 이상 여부를 판단하는, 자동 시험 장치.
As an automatic test device for substation diagnosis systems,
The substation diagnosis system,
A sensor that collects measurement signals related to state information from equipment;
a local unit that processes and outputs the measurement signal collected through the sensor according to a predetermined transmission protocol; and
A diagnosis unit configured to analyze the measurement signal output from the local unit to diagnose the state of the facility;
The automatic test device,
at least one switch that connects the sensor and the local unit in a normal mode and disconnects the connection between the sensor and the local unit in a test mode; and
In the test mode, a controller transmits a simulated signal to the sensor and the local unit and analyzes a reflected signal received in response to the simulated signal to test whether the diagnosis system is abnormal,
The controller,
a signal generator for generating the simulated signal and outputting the simulated signal to the sensor or a filter of the local unit; and
A processor analyzing the reflected signal to determine whether the diagnosis system is abnormal;
the processor,
In the sensor reflection coefficient test mode, the reflection coefficient for each frequency band of the reflection signal received in response to the simulated signal is analyzed to determine whether the sensor and cable are abnormal,
In the frequency characteristics and pulse sensitivity test mode of the filter and partial discharge board, an automatic test device for determining whether the local unit is abnormal by analyzing at least one of the frequency characteristics and pulse sensitivity of the reflected signal received in response to the simulated signal. .
 삭제delete 제1항에 있어서, 상기 스위치는,
케이블을 통해 상기 센서에 연결되고, 상기 정상 모드에서 상기 센서와 제2 스위치를 연결하며, 상기 시험 모드에서 상기 센서와 상기 신호 발생기를 연결하는 제1 스위치; 및
상기 정상 모드에서 상기 로컬 유닛과 상기 제1 스위치를 연결하고, 상기 시험 모드에서 상기 로컬 유닛과 상기 신호 발생기를 연결하는 상기 제2 스위치를 포함하는, 자동 시험 장치. The method of claim 1, wherein the switch,
a first switch connected to the sensor through a cable, connecting the sensor and the second switch in the normal mode, and connecting the sensor and the signal generator in the test mode; and
and the second switch connecting the local unit and the first switch in the normal mode and connecting the local unit and the signal generator in the test mode. 제3항에 있어서, 상기 로컬 유닛은,
상기 측정 신호로부터 고주파 및 저주파 노이즈를 제거하기 위한 적어도 하나의 필터를 포함하고,
상기 제2 스위치는,
상기 로컬 유닛의 상기 필터에 연결되는, 자동 시험 장치.The method of claim 3, wherein the local unit,
At least one filter for removing high and low frequency noise from the measurement signal;
The second switch,
An automatic test device connected to the filter of the local unit. 제4항에 있어서, 상기 모의 신호는,
연속파(Continuous Wave) 및 펄스 신호 중 적어도 하나를 포함하는, 자동 시험 장치.The method of claim 4, wherein the simulated signal,
An automatic test device comprising at least one of a continuous wave and a pulse signal. 삭제delete 삭제delete 변전소 진단 시스템을 시험하는 자동 시험 장치의 자동 시험 방법으로,
정상 모드에서 상기 변전소 진단 시스템의 센서와 로컬 유닛을 서로 연결하는 단계;
시험 모드의 제1 모드에서 상기 센서와 상기 로컬 유닛의 연결을 단절하고, 상기 센서로 모의 신호를 전송하는 단계;
상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 반사 신호를 분석하여 상기 센서의 이상 여부를 시험하는 단계;
상기 시험 모드의 제2 모드에서 상기 센서와 상기 로컬 유닛의 연결을 단절하고, 상기 로컬 유닛으로 상기 모의 신호를 전송하는 단계; 및
상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 반사 신호를 분석하여 상기 로컬 유닛의 이상 여부를 시험하는 단계를 포함하되,
센서의 반사 계수 시험 모드로서 상기 센서의 이상 여부를 시험하는 단계는,
상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 반사 신호의 주파수 대역별 반사 계수를 분석하는 단계; 및
상기 분석 결과에 기초하여 상기 센서의 이상 여부를 판단하는 단계를 포함하고,
필터 및 부분 방전 보드의 주파수 특성 및 펄스 감도 시험 모드로서 상기 로컬 유닛의 이상 여부를 시험하는 단계는,
상기 모의 신호에 응답하여 수신되는 상기 반사 신호의 주파수 특성 및 펄스 감도 중 적어도 하나를 분석하는 단계; 및
상기 분석 결과에 기초하여 상기 로컬 유닛의 이상 여부를 판단하는 단계를 포함하는, 자동 시험 방법. As an automatic test method of an automatic test device that tests the substation diagnosis system,
connecting a sensor and a local unit of the substation diagnostic system to each other in a normal mode;
Disconnecting the connection between the sensor and the local unit in a first mode of a test mode, and transmitting a simulated signal to the sensor;
analyzing a reflection signal received in response to the simulated signal to test whether the sensor is abnormal;
disconnecting the connection between the sensor and the local unit in a second mode of the test mode, and transmitting the simulated signal to the local unit; and
Analyzing a reflected signal received in response to the simulated signal to test whether the local unit is abnormal,
The step of testing whether the sensor is abnormal in the reflection coefficient test mode of the sensor,
analyzing a reflection coefficient for each frequency band of a reflection signal received in response to the simulated signal; and
Determining whether the sensor is abnormal based on the analysis result;
The step of testing whether the local unit is abnormal as a frequency characteristic and pulse sensitivity test mode of the filter and partial discharge board,
analyzing at least one of a frequency characteristic and a pulse sensitivity of the reflected signal received in response to the simulated signal; and
And determining whether the local unit is abnormal based on the analysis result. 제8항에 있어서, 상기 진단 시스템의 센서와 로컬 유닛을 서로 연결하는 단계는,
제1 스위치가 상기 센서 및 제2 스위치에 연결되도록 제어하는 단계; 및
상기 제2 스위치가 상기 제1 스위치 및 상기 로컬 유닛에 연결되도록 제어하는 단계를 포함하는, 자동 시험 방법.The method of claim 8, wherein the step of connecting the sensor and the local unit of the diagnostic system to each other,
controlling a first switch to be connected to the sensor and a second switch; and
And controlling the second switch to be connected to the first switch and the local unit. 제9항에 있어서, 상기 센서로 상기 모의 신호를 전송하는 단계는,
상기 제1 스위치가 상기 센서 및 신호 발생기에 연결되도록 제어하는 단계; 및
상기 신호 발생기가 상기 모의 신호를 출력하도록 제어하는 단계를 포함하는, 자동 시험 방법. The method of claim 9, wherein transmitting the simulated signal to the sensor comprises:
controlling the first switch to be connected to the sensor and the signal generator; and
and controlling the signal generator to output the simulated signal. 제9항에 있어서, 상기 로컬 유닛으로 상기 모의 신호를 전송하는 단계는,
상기 제2 스위치가 상기 로컬 유닛 및 신호 발생기에 연결되도록 제어하는 단계; 및
상기 신호 발생기가 상기 모의 신호를 출력하도록 제어하는 단계를 포함하는, 자동 시험 방법. 10. The method of claim 9, wherein transmitting the simulated signal to the local unit comprises:
controlling the second switch to be connected to the local unit and the signal generator; and
and controlling the signal generator to output the simulated signal. 삭제delete 삭제delete
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