KR102545144B1 - Apparatus and method for providing defective product inspection solution based on deep learning algorithm - Google Patents

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KR102545144B1
KR102545144B1 KR1020230005285A KR20230005285A KR102545144B1 KR 102545144 B1 KR102545144 B1 KR 102545144B1 KR 1020230005285 A KR1020230005285 A KR 1020230005285A KR 20230005285 A KR20230005285 A KR 20230005285A KR 102545144 B1 KR102545144 B1 KR 102545144B1
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고현준
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이기배
장성국
박병기
방성덕
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Abstract

불량품 검사 솔루션 제공 장치로서, 적어도 하나의 클라이언트 서버와 통신을 수행하는 통신부, 및 프로세서를 포함하고, 프로세서는, 통신부를 통해 적어도 하나의 클라이언트 서버로부터 데이터 수집을 요청하는 신호가 수신된 경우, 적어도 하나의 클라이언트 서버로 검사 대상의 이미지 촬영을 요청하는 신호를 전송하고, 이미지 촬영 요청에 대한 응답으로, 통신부를 통해 적어도 하나의 클라이언트 서버로부터 촬영된 검사 대상의 이미지가 수신된 경우, 수신된 검사 대상 이미지에 대하여 지정된 방식에 따른 데이터 전처리를 수행하고, 전처리된 이미지 데이터에 기반하여 불량 유형에 따른 딥러닝 알고리즘에 기반한 딥러닝 인공지능 모델을 생성하고, 통신부를 통해 생성된 인공지능 모델을 적어도 하나의 클라이언트 서버에 제공하도록 설정되는 것을 특징으로 한다.An apparatus for providing a defective product inspection solution, including a communication unit that communicates with at least one client server, and a processor, wherein the processor, when a signal requesting data collection is received from the at least one client server through the communication unit, at least one transmits a signal for requesting image capture of the test target to the client server of the image capture request, and when an image of the test target captured from at least one client server is received through the communication unit in response to the image capture request, the received image of the test target Performs data pre-processing according to a specified method for the pre-processed image data, generates a deep learning artificial intelligence model based on a deep learning algorithm according to a defect type based on the pre-processed image data, and transmits the generated artificial intelligence model through the communication unit to at least one client It is characterized in that it is set to provide to the server.

Description

딥러닝 알고리즘에 기반한 불량품 검사 솔루션 제공 장치 및 그 방법 {APPARATUS AND METHOD FOR PROVIDING DEFECTIVE PRODUCT INSPECTION SOLUTION BASED ON DEEP LEARNING ALGORITHM}DEFECTIVE PRODUCT INSPECTION SOLUTION BASED ON DEEP LEARNING ALGORITHM}

본 개시는 불량품 검사 솔루션 제공 방법 및 이를 구현하는 시스템에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본 개시는 딥러닝 알고리즘에 기반한 불량품 검사 솔루션 제공 방법 및 이를 구현하는 시스템에 관한 것이다.The present disclosure relates to a method for providing a defective product inspection solution and a system implementing the same. More specifically, the present disclosure relates to a method for providing a defective product inspection solution based on a deep learning algorithm and a system implementing the same.

종래 생산 현장에서 생산품의 불량 검사는 검수자들의 육안을 이용한 판단에 의존하여 왔다. 기존 육안 검사는 높은 비용이 들고 일정한 검사 품질을 유지하는 것이 어려운 문제가 있다.In the conventional production field, inspection of defects in products has been dependent on judgment using the eyes of inspectors. Existing visual inspection is expensive and it is difficult to maintain a constant inspection quality.

육안 검사의 문제를 해결하기 위하여 머신 러닝 기법을 이용한 불량품 검사 솔루션들이 제안되고 있다. 머신 러닝 기법은 규칙 기반 알고리즘에 기반할 수 있다. 규칙 기반 알고리즘의 경우 관리자가 치수 등 명확한 기준을 설정해주어야 하고, 비정형 불량의 검사에는 제약이 큰 문제가 있다.In order to solve the problem of visual inspection, defective product inspection solutions using machine learning techniques have been proposed. Machine learning techniques may be based on rule-based algorithms. In the case of a rule-based algorithm, a manager must set clear standards such as dimensions, and there are significant limitations in inspecting atypical defects.

따라서, 비정형 불량에도 최적화된 검사 성능을 보이는 불량품 검사 솔루션의 제공 방법이 고안되고 있다.Therefore, a method of providing a defective product inspection solution showing optimized inspection performance even for atypical defects has been devised.

한국등록특허공보 제10-1237998호 (등록일: 2013년 02월 21일)Korean Registered Patent Publication No. 10-1237998 (registration date: February 21, 2013)

본 개시에 개시된 실시예는 클라이언트의 데이터 수집 요청에 대응하여 딥러닝 알고리즘에 기반한 인공지능 모델 등을 제공하는데 그 목적이 있다.An embodiment disclosed in the present disclosure aims to provide an artificial intelligence model based on a deep learning algorithm in response to a data collection request of a client.

본 개시가 해결하고자 하는 과제들은 이상에서 언급된 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems to be solved by the present disclosure are not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description below.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 개시에 일 측면에 따른 불량품 검사 솔루션 제공 장치는 적어도 하나의 클라이언트 서버와 통신을 수행하는 통신부, 및 프로세서를 포함하고, 프로세서는, 통신부를 통해 적어도 하나의 클라이언트 서버로부터 데이터 수집을 요청하는 신호가 수신된 경우, 적어도 하나의 클라이언트 서버로 검사 대상의 이미지 촬영을 요청하는 신호를 전송하고, 이미지 촬영 요청에 대한 응답으로, 통신부를 통해 적어도 하나의 클라이언트 서버로부터 촬영된 검사 대상의 이미지가 수신된 경우, 수신된 검사 대상 이미지에 대하여 지정된 방식에 따른 데이터 전처리를 수행하고, 전처리된 이미지 데이터에 기반하여 불량 유형에 따른 딥러닝 알고리즘에 기반한 딥러닝 인공지능 모델을 생성하고, 통신부를 통해 생성된 인공지능 모델을 적어도 하나의 클라이언트 서버에 제공하도록 설정될 수 있다. An apparatus for providing a defective product inspection solution according to an aspect of the present disclosure for achieving the above technical problem includes a communication unit that communicates with at least one client server, and a processor, wherein the processor includes at least one client server through the communication unit. When a signal requesting data collection is received from the at least one client server, a signal requesting capturing an image of the inspection target is transmitted, and in response to the image capturing request, the captured image is captured from the at least one client server through the communication unit. When the image of the inspection target is received, data pre-processing is performed on the received inspection target image according to a designated method, and based on the pre-processed image data, a deep learning artificial intelligence model based on a deep learning algorithm according to the type of defect is created. , It can be set to provide the artificial intelligence model generated through the communication unit to at least one client server.

이 외에도, 본 개시를 구현하기 위한 실행하기 위한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 저장된 컴퓨터 프로그램이 더 제공될 수 있다.In addition to this, a computer program stored in a computer readable recording medium for execution to implement the present disclosure may be further provided.

이 외에도, 본 개시를 구현하기 위한 방법을 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 기록하는 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체가 더 제공될 수 있다.In addition to this, a computer readable recording medium recording a computer program for executing a method for implementing the present disclosure may be further provided.

본 개시의 전술한 과제 해결 수단에 의하면, 클라이언트 서버가 촬영한 이미지를 이용하여 생성된 인공지능 모델을 제공함으로써, 클라이언트에 최적화된 불량품 검사 솔루션을 제공하는 효과를 제공한다.According to the above-described problem solving means of the present disclosure, an artificial intelligence model generated using an image captured by a client server is provided, thereby providing an effect of providing a defective product inspection solution optimized for a client.

본 개시의 효과들은 이상에서 언급된 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects of the present disclosure are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description below.

도 1은 본 개시의 일 실시 예에 따른 불량품 검사 솔루션 제공 시스템을 도시한 것이다.
도 2는 본 개시의 일 실시 예에 따른 마스터 서버 및 클라이언트 서버를 도시한 블록도이다.
도 3은 본 개시의 일 실시 예에 따른 불량품 검사 솔루션 제공 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 4는 본 개시의 일 실시 예에 따른 딥러닝 알고리즘의 종류를 도시한 것이다.
도 5는 본 개시의 일 실시 예에 따른, 하드웨어를 포함하는 불량품 검사 솔루션 제공 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 6a는 본 개시의 일 실시 예에 따른, 클라우드 서버를 도시한 블록도이다.
도 6b는 본 개시의 일 실시 예에 따른, 클라우드 서버의 데이터 베이스를 이용한 불량품 검사 솔루션 방법을 도시한 것이다.
도 7은 본 개시의 일 실시 예에 따른, 복수의 그룹으로 구성된 인공지능 모델을 도시한 것이다.
도 8은 본 개시의 일 실시 예에 따른, CCTV를 통한 생산 환경 모니터링을 도시한 것이다.
1 illustrates a system for providing a defective product inspection solution according to an embodiment of the present disclosure.
2 is a block diagram illustrating a master server and a client server according to an embodiment of the present disclosure.
3 is a flowchart illustrating a method of providing a defective product inspection solution according to an embodiment of the present disclosure.
4 illustrates types of deep learning algorithms according to an embodiment of the present disclosure.
5 is a flowchart illustrating a method of providing a defective product inspection solution including hardware, according to an embodiment of the present disclosure.
6A is a block diagram illustrating a cloud server according to an embodiment of the present disclosure.
6B illustrates a defective product inspection solution method using a database of a cloud server according to an embodiment of the present disclosure.
7 illustrates an artificial intelligence model composed of a plurality of groups according to an embodiment of the present disclosure.
8 illustrates production environment monitoring through CCTV according to an embodiment of the present disclosure.

본 개시 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성요소를 지칭한다. 본 개시가 실시예들의 모든 요소들을 설명하는 것은 아니며, 본 개시가 속하는 기술분야에서 일반적인 내용 또는 실시예들 간에 중복되는 내용은 생략한다. 명세서에서 사용되는 '부, 모듈, 부재, 블록'이라는 용어는 소프트웨어 또는 하드웨어로 구현될 수 있으며, 실시예들에 따라 복수의 '부, 모듈, 부재, 블록'이 하나의 구성요소로 구현되거나, 하나의 '부, 모듈, 부재, 블록'이 복수의 구성요소들을 포함하는 것도 가능하다. Like reference numbers designate like elements throughout this disclosure. The present disclosure does not describe all elements of the embodiments, and general content or overlapping content between the embodiments in the technical field to which the present disclosure belongs is omitted. The term 'unit, module, member, or block' used in the specification may be implemented as software or hardware, and according to embodiments, a plurality of 'units, modules, members, or blocks' may be implemented as one component, It is also possible that one 'part, module, member, block' includes a plurality of components.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우 뿐 아니라, 간접적으로 연결되어 있는 경우를 포함하고, 간접적인 연결은 무선 통신망을 통해 연결되는 것을 포함한다.Throughout the specification, when a part is said to be "connected" to another part, this includes not only the case of being directly connected but also the case of being indirectly connected, and indirect connection includes being connected through a wireless communication network. do.

또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.In addition, when a certain component is said to "include", this means that it may further include other components without excluding other components unless otherwise stated.

명세서 전체에서, 어떤 부재가 다른 부재 "상에" 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 존재하는 경우도 포함한다.Throughout the specification, when a member is said to be located “on” another member, this includes not only a case where a member is in contact with another member, but also a case where another member exists between the two members.

제 1, 제 2 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위해 사용되는 것으로, 구성요소가 전술된 용어들에 의해 제한되는 것은 아니다. Terms such as first and second are used to distinguish one component from another, and the components are not limited by the aforementioned terms.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 예외가 있지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.Expressions in the singular number include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise.

각 단계들에 있어 식별부호는 설명의 편의를 위하여 사용되는 것으로 식별부호는 각 단계들의 순서를 설명하는 것이 아니며, 각 단계들은 문맥상 명백하게 특정 순서를 기재하지 않는 이상 명기된 순서와 다르게 실시될 수 있다. In each step, the identification code is used for convenience of description, and the identification code does not explain the order of each step, and each step may be performed in a different order from the specified order unless a specific order is clearly described in context. there is.

이하 첨부된 도면들을 참고하여 본 개시의 작용 원리 및 실시예들에 대해 설명한다.Hereinafter, the working principle and embodiments of the present disclosure will be described with reference to the accompanying drawings.

본 명세서에서 '본 개시에 따른 장치'는 연산처리를 수행하여 사용자에게 결과를 제공할 수 있는 다양한 장치들이 모두 포함된다. 예를 들어, 본 개시에 따른 장치는, 컴퓨터, 서버 장치 및 휴대용 단말기를 모두 포함하거나, 또는 어느 하나의 형태가 될 수 있다.In this specification, the 'apparatus according to the present disclosure' includes all various devices capable of providing results to users by performing calculation processing. For example, a device according to the present disclosure may include a computer, a server device, and a portable terminal, or may be in any one form.

여기에서, 상기 컴퓨터는 예를 들어, 웹 브라우저(WEB Browser)가 탑재된 노트북, 데스크톱(desktop), 랩톱(laptop), 태블릿 PC, 슬레이트 PC 등을 포함할 수 있다.Here, the computer may include, for example, a laptop computer, a desktop computer, a laptop computer, a tablet PC, a slate PC, and the like equipped with a web browser.

상기 서버 장치는 외부 장치와 통신을 수행하여 정보를 처리하는 서버로써, 애플리케이션 서버, 컴퓨팅 서버, 데이터베이스 서버, 파일 서버, 게임 서버, 메일 서버, 프록시 서버 및 웹 서버 등을 포함할 수 있다.The server device is a server that processes information by communicating with an external device, and may include an application server, a computing server, a database server, a file server, a game server, a mail server, a proxy server, and a web server.

상기 휴대용 단말기는 예를 들어, 휴대성과 이동성이 보장되는 무선 통신 장치로서, PCS(Personal Communication System), GSM(Global System for Mobile communications), PDC(Personal Digital Cellular), PHS(Personal Handyphone System), PDA(Personal Digital Assistant), IMT(International Mobile Telecommunication)-2000, CDMA(Code Division Multiple Access)-2000, W-CDMA(W-Code Division Multiple Access), WiBro(Wireless Broadband Internet) 단말, 스마트 폰(Smart Phone) 등과 같은 모든 종류의 핸드헬드(Handheld) 기반의 무선 통신 장치와 시계, 반지, 팔찌, 발찌, 목걸이, 안경, 콘택트 렌즈, 또는 머리 착용형 장치(head-mounted-device(HMD) 등과 같은 웨어러블 장치를 포함할 수 있다.The portable terminal is, for example, a wireless communication device that ensures portability and mobility, and includes a Personal Communication System (PCS), a Global System for Mobile communications (GSM), a Personal Digital Cellular (PDC), a Personal Handyphone System (PHS), and a PDA. (Personal Digital Assistant), IMT (International Mobile Telecommunication)-2000, CDMA (Code Division Multiple Access)-2000, W-CDMA (W-Code Division Multiple Access), WiBro (Wireless Broadband Internet) terminal, smart phone ) and wearable devices such as watches, rings, bracelets, anklets, necklaces, glasses, contact lenses, or head-mounted-devices (HMDs). can include

도 1은 본 개시의 일 실시 예에 따른 불량품 검사 솔루션 제공 시스템을 도시한 것이다.1 illustrates a system for providing a defective product inspection solution according to an embodiment of the present disclosure.

일 실시 예에서, 불량품 검사 솔루션 제공 시스템(10)은 마스터 서버(100), 클라이언트 서버(110), 및/또는 네트워크(120)를 포함할 수 있다. 마스터 서버(100)는 네트워크(120)를 통해 클라이언트 서버(110)와 통신할 수 있다. 일 실시 예에서, 불량품 검사 솔루션 제공 시스템(10)은 복수의 클라이언트 서버(미도시)를 포함할 수 있다. In one embodiment, the defective product inspection solution providing system 10 may include a master server 100 , a client server 110 , and/or a network 120 . Master server 100 may communicate with client server 110 via network 120 . In one embodiment, the defective product inspection solution providing system 10 may include a plurality of client servers (not shown).

일 실시 예에서, 마스터 서버(100)는 클라이언트 서버(110)의 요청에 따라 불량품 검사 솔루션을 생성하고, 이를 클라이언트 서버(110)에 제공할 수 있다. In one embodiment, the master server 100 may create a defective product inspection solution according to the request of the client server 110 and provide it to the client server 110 .

일 실시 예에서, 클라이언트 서버(110)는 불량품 검사를 수행하는 클라이언트(예: 공장, 고객사)의 생산 현장에 위치한 서버일 수 있다. 다른 실시 예에서, 클라이언트 서버(110)는 생산 현장과 물리적으로 다른 위치에서 생산 현장의 불량품 검사 작업을 관리하는 서버일 수 있다. In one embodiment, the client server 110 may be a server located at a production site of a client (eg, a factory or a customer company) performing defective product inspection. In another embodiment, the client server 110 may be a server that manages inspection of defective products at a production site at a location physically different from the production site.

일 실시 예에서, 클라이언트 서버(110)는 마스터 서버(100)로 데이터 수집을 요청할 수 있다. 마스터 서버(100)는 클라이언트 서버(110)에 이미지 촬영을 요청할 수 있다. 마스터 서버(100)는 클라이언트 서버(110)로 검사 대상의 이미지 촬영을 요청할 수 있다. 예를 들어, 검사 대상은 클라이언트의 생산 현장에서 생산된 생산품(예: 볼트, 너트, 섀시)일 수 있다. 생산품은 양품 및 불량품을 포함할 수 있다. In one embodiment, the client server 110 may request data collection from the master server 100 . The master server 100 may request image capture from the client server 110 . The master server 100 may request image capture of the examination target to the client server 110 . For example, the inspected object may be a product (e.g. bolts, nuts, chassis) produced at the client's production site. Products may include good and defective products.

일 실시 예에서, 클라이언트 서버(110)는 검사 대상의 이미지를 촬영하고, 촬영된 이미지를 마스터 서버(100)로 전송할 수 있다. 마스터 서버(100)는 지정된 방식에 따라 검사 대상 이미지에 데이터 전처리를 수행할 수 있다. 예를 들어, 지정된 방식은 지도 방식 또는 비지도 방식일 수 있다. In one embodiment, the client server 110 may capture an image of an examination target and transmit the captured image to the master server 100 . The master server 100 may perform data pre-processing on the inspection target image according to a designated method. For example, the designated method may be a supervised method or an unsupervised method.

일 실시 예에서, 마스터 서버(100)는 전처리된 이미지 데이터에 기반하여 불량 유형에 따른 딥러닝 알고리즘에 기반한 딥러닝 인공지능 모델을 생성할 수 있다. 불량 유형은 검사 대상의 재질, 표면 패턴 등에 기반할 수 있다. 본 개시의 불량 유형은 정형적이거나 비정형적일 수 있다. In one embodiment, the master server 100 may generate a deep learning artificial intelligence model based on a deep learning algorithm according to a defect type based on preprocessed image data. The type of defect may be based on the material of the inspection target, the surface pattern, and the like. The defect types of this disclosure can be formal or atypical.

일 실시 예에서, 마스터 서버(100)는 생성된 인공지능 모델을 클라이언트 서버(110)에 제공할 수 있다. In one embodiment, the master server 100 may provide the generated artificial intelligence model to the client server 110 .

일 실시 예에서, 불량품 검사 솔루션 제공 시스템(10)은 클라우드 서버(130)를 더 포함할 수 있다. 마스터 서버(100)가 생성한 인공지능 모델은 SAAS(software as a service) 형태로 클라우드 서버(130)를 통해 제공될 수 있다. 적어도 하나의 클라이언트 서버(예: 클라이언트 서버(110))는 클라우드 서버(130)를 통해 불량품 검사 솔루션을 제공 받을 수 있다. In one embodiment, the defective product inspection solution providing system 10 may further include a cloud server 130 . The artificial intelligence model generated by the master server 100 may be provided through the cloud server 130 in the form of software as a service (SAAS). At least one client server (eg, the client server 110) may receive a defective product inspection solution through the cloud server 130.

도 2는 본 개시의 일 실시 예에 따른 마스터 서버 및 클라이언트 서버를 도시한 블록도이다. 도 2에 도시된 구성요소들은 본 개시에 따른 마스터 서버(100) 및/또는 클라이언트 서버(110)를 구현하는데 있어서 필수적인 것은 아니어서, 본 명세서 상에서 설명되는 마스터 서버(100) 및/또는 클라이언트 서버(110)는 위에서 열거된 구성요소들 보다 많거나, 또는 적은 구성요소들을 가질 수 있다.2 is a block diagram illustrating a master server and a client server according to an embodiment of the present disclosure. The components shown in FIG. 2 are not essential to implement the master server 100 and / or client server 110 according to the present disclosure, so the master server 100 and / or client server ( 110) may have more or fewer components than those listed above.

일 실시 예에서, 마스터 서버(100)는 프로세서(200), 및 통신부(210)를 포함할 수 있다. 프로세서(200)는 데이터 전처리부(220), 및/또는 딥러닝 인공지능 모델 생성부(230)를 포함할 수 있다. In one embodiment, the master server 100 may include a processor 200 and a communication unit 210 . The processor 200 may include a data preprocessor 220 and/or a deep learning artificial intelligence model generator 230 .

일 실시 예에서, 프로세서(200)는 마스터 서버(100)의 구성요소들의 동작을 제어하기 위한 알고리즘 또는 알고리즘을 재현한 프로그램에 대한 데이터를 저장하는 메모리, 및 메모리에 저장된 데이터를 이용하여 전술한 동작을 수행하는 적어도 하나의 프로세서(미도시)로 구현될 수 있다. 이때, 메모리와 프로세서는 각각 별개의 칩으로 구현될 수 있다. 또는, 메모리와 프로세서는 단일 칩으로 구현될 수도 있다.In one embodiment, the processor 200 may perform the above operations using a memory for storing data for an algorithm or a program for reproducing the algorithm for controlling the operation of components of the master server 100, and the data stored in the memory. It may be implemented with at least one processor (not shown) that performs. In this case, the memory and the processor may be implemented as separate chips. Alternatively, the memory and the processor may be implemented as a single chip.

일 실시 예에서, 상기 구성요소들 중 통신부(210)는 외부 장치와 통신을 가능하게 하는 하나 이상의 구성 요소를 포함할 수 있으며, 예를 들어, 방송 수신 모듈, 유선통신 모듈, 무선통신 모듈, 근거리 통신 모듈, 위치정보 모듈 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. In one embodiment, among the components, the communication unit 210 may include one or more components enabling communication with an external device, for example, a broadcast receiving module, a wired communication module, a wireless communication module, and a short-distance communication module. It may include at least one of a communication module and a location information module.

유선 통신 모듈은, 지역 통신(Local Area Network; LAN) 모듈, 광역 통신(Wide Area Network; WAN) 모듈 또는 부가가치 통신(Value Added Network; VAN) 모듈 등 다양한 유선 통신 모듈뿐만 아니라, USB(Universal Serial Bus), HDMI(High Definition Multimedia Interface), DVI(Digital Visual Interface), RS-232(recommended standard232), 전력선 통신, 또는 POTS(plain old telephone service) 등 다양한 케이블 통신 모듈을 포함할 수 있다. Wired communication modules include not only various wired communication modules such as Local Area Network (LAN) modules, Wide Area Network (WAN) modules, or Value Added Network (VAN) modules, but also USB (Universal Serial Bus) ), high definition multimedia interface (HDMI), digital visual interface (DVI), recommended standard 232 (RS-232), power line communication, or plain old telephone service (POTS).

무선 통신 모듈은 와이파이(Wifi) 모듈, 와이브로(Wireless broadband) 모듈 외에도, GSM(global System for Mobile Communication), CDMA(Code Division Multiple Access), WCDMA(Wideband Code Division Multiple Access), UMTS(universal mobile telecommunications system), TDMA(Time Division Multiple Access), LTE(Long Term Evolution), 4G, 5G, 6G 등 다양한 무선 통신 방식을 지원하는 무선 통신 모듈을 포함할 수 있다.In addition to the WiFi module and the WiBro module, wireless communication modules include global system for mobile communication (GSM), code division multiple access (CDMA), wideband code division multiple access (WCDMA), and universal mobile telecommunications system (UMTS). ), time division multiple access (TDMA), long term evolution (LTE), and a wireless communication module supporting various wireless communication schemes such as 4G, 5G, and 6G.

근거리 통신 모듈은 근거리 통신(Short range communication)을 위한 것으로서, 블루투스(Bluetooth™), RFID(Radio Frequency Identification), 적외선 통신(Infrared Data Association; IrDA), UWB(Ultra Wideband), ZigBee, NFC(Near Field Communication), Wi-Fi(Wireless-Fidelity), Wi-Fi Direct, Wireless USB(Wireless Universal Serial Bus) 기술 중 적어도 하나를 이용하여, 근거리 통신을 지원할 수 있다.The short-range communication module is for short-range communication, and includes Bluetooth™, Radio Frequency Identification (RFID), Infrared Data Association (IrDA), Ultra Wideband (UWB), ZigBee, and Near Field Communication (NFC). Communication), Wi-Fi (Wireless-Fidelity), Wi-Fi Direct, and wireless USB (Wireless Universal Serial Bus) technologies may be used to support short-distance communication.

일 실시 예에서, 데이터 전처리부(220)는 기지정된 방식에 따라 검사 대상의 이미지를 전처리할 수 있다. 예를 들어, 기정된 방식은 지도 학습 방식 또는 비지도 학습 방식일 수 있다. 기지정된 방식은 불량 유형에 따른 딥러닝 알고리즘에 기반할 수 있다. 딥러닝 알고리즘에 대하여 후술한다.In one embodiment, the data pre-processing unit 220 may pre-process the image of the inspection target according to a predetermined method. For example, the predetermined method may be a supervised learning method or an unsupervised learning method. The predetermined method may be based on a deep learning algorithm according to a defect type. The deep learning algorithm will be described later.

일 실시 예에서, 딥러닝 인공지능 모델 생성부(230)는 전처리된 이미지를 이용하여 딥러닝 인공지능 모델을 생성할 수 있다. 딥러닝 인공지능 모델은 적어도 하나의 딥러닝 알고리즘을 이용할 수 있다. 일 실시 예에서, 딥러닝 인공지능 모델은 제1 그룹 및 제2 그룹을 포함할 수 있다. 제1 그룹 및 제2 그룹에는 각각 복수의 인공지능 모델이 포함될 수 있다. 클라이언트 서버(110)에서의 인공지능 모델의 성능에 따라 제1 그룹 및 제2 그룹의 구성이 변경될 수 있다. In one embodiment, the deep learning artificial intelligence model generating unit 230 may generate a deep learning artificial intelligence model using a preprocessed image. The deep learning artificial intelligence model may use at least one deep learning algorithm. In one embodiment, the deep learning artificial intelligence model may include a first group and a second group. Each of the first group and the second group may include a plurality of artificial intelligence models. Configurations of the first group and the second group may be changed according to the performance of the artificial intelligence model in the client server 110 .

또한, 프로세서는 이하의 도 2 내지 도 N에서 설명되는 본 개시에 따른 다양한 실시 예들을 본 장치 상에서 구현하기 위하여, 위에서 살펴본 구성요소들을 중 어느 하나 또는 복수를 조합하여 제어할 수 있다.In addition, the processor may control any one or a combination of the components described above in order to implement various embodiments according to the present disclosure described in FIGS. 2 through N below on the present device.

일 실시 예에서, 클라이언트 서버(110)는 프로세서(250), 통신부(260), 및/또는 이미지 획득부(270)를 포함할 수 있다. 프로세서(250) 및 통신부(260)에 대한 설명은 각각 프로세서(200) 및 통신부(210)에 대한 설명에 의해 참조될 수 있다. In one embodiment, the client server 110 may include a processor 250, a communication unit 260, and/or an image acquisition unit 270. Descriptions of the processor 250 and the communication unit 260 may be referenced by descriptions of the processor 200 and the communication unit 210, respectively.

일 실시 예에서, 이미지 획득부(270)는 검사 대상을 촬영하기 위한 카메라를 포함할 수 있다. 카메라는 촬영 모드에서 이미지 센서에 의해 얻어지는 정지영상 또는 동영상 등의 화상 프레임을 처리한다. 처리된 화상 프레임은 디스플레이부에 표시되거나 메모리에 저장될 수 있다. In one embodiment, the image acquisition unit 270 may include a camera for photographing the inspection target. A camera processes an image frame such as a still image or a moving image obtained by an image sensor in a photographing mode. The processed image frame may be displayed on a display unit or stored in a memory.

한편, 상기 카메라가 복수개일 경우, 매트릭스 구조를 이루도록 배치될 수 있으며, 이와 같이 매트릭스 구조를 이루는 카메라들을 통해 다양한 각도 또는 초점을 갖는 복수의 영상정보가 입력될 수 있고, 또한 상기 카메라들은 3차원의 입체영상을 구현하기 위한 좌 영상 및 우 영상을 획득하도록, 스트레오 구조로 배치될 수도 있다.On the other hand, when there are a plurality of cameras, they can be arranged to form a matrix structure, and a plurality of image information having various angles or focal points can be input through the cameras forming the matrix structure, and the cameras form a three-dimensional image. It may be arranged in a stereo structure so as to obtain left and right images for realizing a stereoscopic image.

일 실시 예에서, 마스터 서버(100)의 프로세서(200)는 통신부(210)를 통해 클라이언트 서버(110)로부터 데이터 수집을 요청하는 신호가 수신된 경우, 클라이언트 서버(110)로 검사 대상의 이미지 촬영을 요청하는 신호를 전송하고, 이미지 촬영 요청에 대한 응답으로, 통신부(210)를 통해 클라이언트 서버(110)로부터 촬영된 검사 대상의 이미지가 수신된 경우, 수신된 검사 대상 이미지에 대하여 지정된 방식에 따른 데이터 전처리를 수행하고, 전처리된 이미지 데이터에 기반하여 불량 유형에 따른 딥러닝 알고리즘에 기반한 딥러닝 인공지능 모델을 생성하고, 통신부(210)를 통해 생성된 인공지능 모델을 클라이언트 서버에 제공하도록 설정될 수 있다. 예를 들어, 촬영된 이미지는 클라이언트 서버(110)의 클라이언트가 검사 중인 생산품의 이미지, 클라이언트가 규칙 기반 알고리즘에 사용 중인 이미지, 및 증강된(augmented) 이미지를 포함할 수 있다. 예를 들어, 지정된 방식은 지도 학습 방식 및 비지도 학습 방식을 포함할 수 있다. In one embodiment, when a signal requesting data collection is received from the client server 110 through the communication unit 210, the processor 200 of the master server 100 captures an image of the test target with the client server 110. transmits a signal requesting an image capture, and when an image of an examination target photographed from the client server 110 is received through the communication unit 210 in response to the image capture request, according to a method specified for the received examination target image It is set to perform data preprocessing, generate a deep learning artificial intelligence model based on a deep learning algorithm according to the type of defect based on the preprocessed image data, and provide the generated artificial intelligence model to the client server through the communication unit 210. can For example, the captured image may include an image of a product being inspected by a client of the client server 110, an image being used by the client in a rule-based algorithm, and an augmented image. For example, the designated method may include a supervised learning method and an unsupervised learning method.

도 2에 도시된 구성 요소들의 성능에 대응하여 적어도 하나의 구성요소가 추가되거나 삭제될 수 있다. 또한, 구성 요소들의 상호 위치는 시스템의 성능 또는 구조에 대응하여 변경될 수 있다는 것은 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 용이하게 이해될 것이다.At least one component may be added or deleted corresponding to the performance of the components shown in FIG. 2 . In addition, it will be easily understood by those skilled in the art that the mutual positions of the components may be changed corresponding to the performance or structure of the system.

한편, 도 2에서 도시된 각각의 구성요소는 소프트웨어 및/또는 Field Programmable Gate Array(FPGA) 및 주문형 반도체(ASIC, Application Specific Integrated Circuit)와 같은 하드웨어 구성요소를 의미한다.Meanwhile, each component shown in FIG. 2 means software and/or hardware components such as a Field Programmable Gate Array (FPGA) and Application Specific Integrated Circuit (ASIC).

도 3은 본 개시의 일 실시 예에 따른 불량품 검사 솔루션 제공 방법을 나타내는 흐름도이다.3 is a flowchart illustrating a method of providing a defective product inspection solution according to an embodiment of the present disclosure.

단계 S300에서, 클라이언트 서버(110)는 마스터 서버(100)에 데이터 수집을 요청할 수 있다. 이하에서, 클라이언트 서버(110)에 의해 요청된 데이터는 기준 데이터로 참조될 수 있다. In step S300, the client server 110 may request data collection from the master server 100. Hereinafter, data requested by the client server 110 may be referred to as reference data.

단계 S305에서, 마스터 서버(100)는 클라이언트 서버(110)에 이미지 촬영을 요청할 수 있다. In step S305, the master server 100 may request image capture to the client server 110.

단계 S310에서, 클라이언트 서버(110)는 검사 대상의 이미지를 촬영할 수 있다. 일 실시 예에서, 검사 대상은 클라이언트의 생산 현장에서 생산된 생산품일 수 있다. 생산품은 양품 및 불량품을 포함할 수 있다. In step S310, the client server 110 may capture an image of the examination target. In one embodiment, the inspection target may be a product produced at a client's production site. Products may include good and defective products.

단계 S315에서, 클라이언트 서버(110)는 마스터 서버(100)에 촬영된 이미지를 전달할 수 있다. 일 실시 예에서, 촬영된 이미지는 클라이언트가 검사 중인 생산품의 이미지, 클라이언트가 규칙 기반 알고리즘에 사용 중인 이미지, 및 증강된(augmented) 이미지를 포함할 수 있다.In step S315, the client server 110 may transmit the captured image to the master server 100. In one embodiment, the captured image may include an image of the product being inspected by the client, an image the client is using in a rule-based algorithm, and an augmented image.

단계 S320에서, 마스터 서버(100)는 전달받은 이미지를 이용하여 기설정된 방식에 따라 데이터 전처리를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 지정된 방식은 지도 학습 방식 또는 비지도 학습 방식일 수 있다. 예를 들어, 지도 방식인 경우, 클라이언트 서버(130)의 담당자가 촬영된 이미지에 대한 라벨링 작업을 수행할 수 있다. In step S320, the master server 100 may perform data pre-processing according to a predetermined method using the received image. In one embodiment, the designated method may be a supervised learning method or an unsupervised learning method. For example, in the case of a map method, a person in charge of the client server 130 may perform a labeling task for a photographed image.

단계 S325에서, 마스터 서버(100)는 전처리된 이미지에 기반하여 불량 유형에 따른 딥러닝 인공지능 모델을 생성할 수 있다. 불량 유형은 검사 대상의 재질, 표면 패턴 등에 기반하여 결정될 수 있다. 본 개시의 불량 유형은 정형적이거나 비정형적일 수 있다. 딥러닝 인공지능 모델은 도 4에 따른 적어도 하나의 딥러닝 알고리즘에 기반할 수 있다. In step S325, the master server 100 may generate a deep learning artificial intelligence model according to the defect type based on the preprocessed image. The defect type may be determined based on the material and surface pattern of the inspection target. The defect types of this disclosure can be formal or atypical. The deep learning artificial intelligence model may be based on at least one deep learning algorithm according to FIG. 4 .

단계 S330에서, 마스터 서버(100)는 생성된 인공지능 모델을 클라이언트 서버(110)에 제공할 수 있다. 클라이언트 서버(110)는 제공 받은 인공지능 모델에 기반하여 불량품 검사를 수행할 수 있다. In step S330, the master server 100 may provide the generated artificial intelligence model to the client server 110. The client server 110 may perform defective product inspection based on the provided artificial intelligence model.

도 4는 본 개시의 일 실시 예에 따른 딥러닝 알고리즘의 종류를 도시한 것이다.4 illustrates types of deep learning algorithms according to an embodiment of the present disclosure.

일 실시 예에서, 딥러닝 알고리즘은 지도 학습(400) 및 비지도 학습(410)을 포함할 수 있다.In one embodiment, the deep learning algorithm may include supervised learning (400) and unsupervised learning (410).

일 실시 예에서, 지도 학습(400)은 제1 알고리즘(402), 제2 알고리즘(404), 및 제3 알고리즘(406)으로 분류될 수 있다. In one embodiment, supervised learning 400 can be categorized into a first algorithm 402 , a second algorithm 404 , and a third algorithm 406 .

일 실시 예에서, 제1 알고리즘(402)은 딥러닝 알고리즘일 수 있다. 예를 들어, 영상 처리 분야의 딥러닝 알고리즘은 세그멘테이션(segmentation), 객체 감치(object detection), 및 분류(classification) 알고리즘을 포함할 수 있다. 세그멘테이션 알고리즘의 이미지의 경계선 및 내부 형상을 인식하는데 이용될 수 있다. 객체 감지 알고리즘은 이미지의 센터 값 및 사각형의 바운딩 박스(bounding box)를 인식하는데 이용될 수 있다. 분류 알고리즘은 이미지의 카테고리를 식별하는데 이용될 수 있다. In one embodiment, the first algorithm 402 may be a deep learning algorithm. For example, deep learning algorithms in the field of image processing may include segmentation, object detection, and classification algorithms. The segmentation algorithm can be used to recognize the boundary and inner shape of an image. An object detection algorithm can be used to recognize the center value of an image and the bounding box of a rectangle. Classification algorithms may be used to identify categories of images.

일 실시 예에서, 제2 알고리즘(404)은 검출력 향상을 위한 학습 알고리즘일 수 있다. 예를 들어, 제2 알고리즘(404)은 다채널 이미지(multi-channel image), 이미지 비교(image comparison), 및 GAN 기반 합성 이미지 생성(GAN-based synthetic image generation) 알고리즘을 포함할 수 있다. 다채널 이미지 알고리즘은 이미지 데이터를 융합하여 학습량을 증폭시켜, 검출 성능을 향상시키는 알고리즘으로 이해될 수 있다. 이미지 비교 알고리즘은 양품 및 불량 이미지 간의 차이점에 집중하여 학습하는 알고리즘으로 이해될 수 있다. GAN 기반 합성 이미지 생성 알고리즘은 양품 시료 이미지 위에 불량 영역을 임의로 배치하여 실제로 유사한 불량 이미지를 생성 및 학습하는 알고리즘으로 이해될 수 있다. In one embodiment, the second algorithm 404 may be a learning algorithm for improving detectability. For example, the second algorithm 404 may include multi-channel image, image comparison, and GAN-based synthetic image generation algorithms. A multi-channel image algorithm can be understood as an algorithm that improves detection performance by fusing image data to amplify a learning amount. The image comparison algorithm can be understood as an algorithm that learns by focusing on differences between good and bad images. A GAN-based synthetic image generation algorithm may be understood as an algorithm that randomly places a defective region on a good sample image to generate and learn a similar defective image.

일 실시 예에서, 제3 알고리즘(406)은 학습 생산성 향상을 위한 알고리즘일 수 있다. 예를 들어, 제3 알고리즘(406)은 오토 레이블링(auto-labeling) 및 레이블링 어시스턴트(labeling assistant) 알고리즘을 포함할 수 있다. 오토 레이블링 알고리즘은 전처리 기술을 활용하여 불량으로 간주되는 영역을 미리 레이블링하는 알고리즘으로 이해될 수 있다. 레이블링 어시스턴트 알고리즘은 레이블링 시 소수의 포인트만 수작업으로 지정하면, 객체의 레이블을 자동으로 생성할 수 있는 알고리즘으로 이해될 수 있다. In one embodiment, the third algorithm 406 may be an algorithm for improving learning productivity. For example, the third algorithm 406 may include auto-labeling and labeling assistant algorithms. An auto-labeling algorithm may be understood as an algorithm that pre-labels a region that is considered to be defective by using a pre-processing technique. The labeling assistant algorithm can be understood as an algorithm that can automatically generate labels for objects by manually specifying only a small number of points during labeling.

일 실시 예에서, 비지도 학습(410)은 비지도 이상 탐지(unsupervised anomaly detection) 알고리즘을 포함할 수 있다. 비지도 이상 탐지 알고리즘은 양품 시료만을 활용하여 학습한 모델로 불량을 검출하는 알고리즘일 수 있다. In one embodiment, unsupervised learning 410 may include an unsupervised anomaly detection algorithm. The unsupervised anomaly detection algorithm may be an algorithm that detects defects with a model learned using only good samples.

도 5는 본 개시의 일 실시 예에 따른, 하드웨어를 포함하는 불량품 검사 솔루션 제공 방법을 나타내는 흐름도이다.5 is a flowchart illustrating a method of providing a defective product inspection solution including hardware, according to an embodiment of the present disclosure.

단계 S500에서, 클라이언트 서버(110)는 마스터 서버(100)에 데이터 수집 및 하드웨어를 요청할 수 있다. In step S500, the client server 110 may request data collection and hardware from the master server 100.

단계 S510에서, 마스터 서버(100)는 불량 유형에 기반하여 불량품 검출을 위한 하드웨어를 결정할 수 있다. In step S510, the master server 100 may determine hardware for detecting defective products based on the defective type.

단계 S520에서, 마스터 서버(100)는 클라이언트 서버(110)에 인공지능 모델 및 하드웨어를 제공할 수 있다. 인공지능 모델은 도 3의 실시 예에 따라 생성될 수 있다. 예를 들어, 하드웨어는 딥러닝 인공지능 모델이 탑재된 광학 장치를 포함할 수 있다. 예를 들어, 하드웨어는 인공지능 모델에 최적화되도록 설계될 수 있다. In step S520, the master server 100 may provide the artificial intelligence model and hardware to the client server 110. The artificial intelligence model may be created according to the embodiment of FIG. 3 . For example, the hardware may include optics loaded with deep learning artificial intelligence models. For example, hardware can be designed to be optimized for artificial intelligence models.

일 실시 예에서, 마스터 서버(100)는 단계 S520에서와 같이, 클라이언트 서버(110)에 딥러닝 인공지능 모델 및 하드웨어를 턴 키(turn key) 방식으로 공급함으로써, 인공지능 모델의 성능을 극대화하고 클라이언트에 최적화된 솔루션을 제공할 수 있다. In one embodiment, the master server 100 maximizes the performance of the artificial intelligence model by supplying the deep learning artificial intelligence model and hardware to the client server 110 in a turn-key manner, as in step S520. We can provide a solution optimized for the client.

도 6a는 본 개시의 일 실시 예에 따른, 클라우드 서버를 도시한 블록도이다.6A is a block diagram illustrating a cloud server according to an embodiment of the present disclosure.

일 실시 예에서, 클라우드 서버(130)는 프로세서(600), 통신부(610), 및/또는 데이터베이스(620)를 포함할 수 있다. 프로세서(600) 및 통신부(610)에 대한 설명은 각각 도 2의 프로세서(200) 및 통신부(210)에 대한 설명에 의해 참조될 수 있다. In one embodiment, the cloud server 130 may include a processor 600, a communication unit 610, and/or a database 620. Descriptions of the processor 600 and the communication unit 610 may be referenced by the description of the processor 200 and the communication unit 210 of FIG. 2 , respectively.

일 실시 예에서, 클라우드 서버(130)는 통신부(610)를 통해 마스터 서버(100) 및 복수의 클라이언트 서버(예: 클라이언트 서버(110))와 통신할 수 있다. 일 실시 예에서, 마스터 서버(100)는 클라우드 서버(130)를 통해 복수의 클라이언트 서버에 인공지능 모델을 Saas(Software as a Service) 형태로 제공할 수 있다. 마스터 서버(100)는 클라우드 서버(130)에 데이터 베이스(620)를 구축하고, 복수의 클라이언트 서버에 제공한 인공지능 모델을 복수의 클라이언트 서버가 요청한 복수의 기준 데이터들과 연계하여 데이터 베이스(620)에 저장할 수 있다. 예를 들어, 복수의 기준 데이터들은 복수의 클라이언트 서버가 불량품 검사를 위하여 마스터 서버(100)에 요청한 불량품과 관련된 데이터를 의미할 수 있다. 예를 들어, 복수의 기준 데이터들은 복수의 클라이언트 서버에서 촬영한 생산품 이미지 및/또는 불량 유형 데이터를 포함할 수 있다. In one embodiment, the cloud server 130 may communicate with the master server 100 and a plurality of client servers (eg, the client server 110) through the communication unit 610. In one embodiment, the master server 100 may provide the artificial intelligence model to a plurality of client servers in the form of software as a service (Saas) through the cloud server 130 . The master server 100 builds the database 620 in the cloud server 130, and connects the artificial intelligence model provided to the plurality of client servers with the plurality of reference data requested by the plurality of client servers to form the database 620. ) can be stored. For example, the plurality of reference data may refer to data related to defective products requested by the plurality of client servers to the master server 100 to inspect defective products. For example, the plurality of reference data may include product images and/or defect type data captured by a plurality of client servers.

도 6b는 본 개시의 일 실시 예에 따른, 클라우드 서버의 데이터 베이스를 이용한 불량품 검사 솔루션 방법을 도시한 것이다.6B illustrates a defective product inspection solution method using a database of a cloud server according to an embodiment of the present disclosure.

일 실시 예에서, 데이터 베이스(620)에는 복수의 기준 데이터들이 각각의 복수의 기준 데이터들에 최적화된 인공지능 모델과 연계하여 저장될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 인공지능 모델(655)은 제1 기준 데이터(650)에, 제2 인공지능 모델(665)은 제2 기준 데이터(660)에, 제3 인공지능 모델(675)은 제3 기준 데이터(670)에 각각 최적화된 인공지능 모델일 수 있다. In one embodiment, a plurality of reference data may be stored in the database 620 in association with an artificial intelligence model optimized for each of the plurality of reference data. In one embodiment, the first artificial intelligence model 655 is the first reference data 650, the second artificial intelligence model 665 is the second reference data 660, the third artificial intelligence model 675 is It may be an artificial intelligence model optimized for each of the third reference data 670 .

일 실시 예에서, 마스터 서버(100)는 신규 클라이언트 서버(110)로부터 데이터 수집을 요청 받을 수 있다. 마스터 서버(100)는 클라우드 서버(130)의 데이터 베이스(620)에 저장된 복수의 기준 데이터들(650, 660, 670)과 신규 클라이언트 서버(110)가 요청한 데이터의 유사도를 계산할 수 있다. 유사도는 수학식 1에 기반하여 계산될 수 있다.In one embodiment, the master server 100 may receive a data collection request from the new client server 110 . The master server 100 may calculate a similarity between the plurality of reference data 650 , 660 , and 670 stored in the database 620 of the cloud server 130 and data requested by the new client server 110 . Similarity can be calculated based on Equation 1.

Figure 112023004906480-pat00001
Figure 112023004906480-pat00001

마스터 서버(100)는 신규 클라이언트 서버(110)가 요청한 데이터와 유사도가 높은 기준 데이터에 최적화된 인공지능 모델을 신규 클라이언트 서버(110)에 제공할 수 있다.The master server 100 may provide the new client server 110 with an artificial intelligence model optimized for reference data having a high similarity to data requested by the new client server 110 .

다른 실시 예에서, 마스터 서버(100)는 신규 클라이언트 서버(110)로부터 데이터 수집을 요청 받을 수 있다. 마스터 서버(100)는 신규 클라이언트 서버(110)로부터 수신한 검사 대상의 이미지 데이터를 이용하여 데이터 베이스(620)에 저장된 적어도 하나의 인공지능 모델(예: 제1 인공지능 모델(655), 제2 인공지능 모델(665), 제3 인공지능 모델(675))을 각각 학습시킬 수 있다. In another embodiment, the master server 100 may receive a data collection request from the new client server 110 . The master server 100 uses at least one artificial intelligence model (eg, the first artificial intelligence model 655, the second artificial intelligence model 655) stored in the database 620 using the image data of the examination target received from the new client server 110. The artificial intelligence model 665 and the third artificial intelligence model 675 may be trained respectively.

마스터 서버(100)는 학습된 적어도 하나의 인공지능 모델 중 성능이 가장 높은 인공지능 모델을 식별하고, 식별된 인공지능 모델을 전처리된 데이터를 이용하여 추가 학습시킬 수 있다. 마스터 서버(100)는 학습이 완료된 인공지능 모델의 성능이 기준 값(reference value) 이상이면, 해당 인공지능 모델을 신규 클라이언트 서버(110)에 제공할 수 있다.The master server 100 may identify an artificial intelligence model having the highest performance among at least one learned artificial intelligence model, and additionally train the identified artificial intelligence model using preprocessed data. The master server 100 may provide the artificial intelligence model to the new client server 110 if the performance of the artificial intelligence model that has been trained is equal to or greater than a reference value.

도 7은 본 개시의 일 실시 예에 따른, 복수의 그룹으로 구성된 인공지능 모델을 도시한 것이다.7 illustrates an artificial intelligence model composed of a plurality of groups according to an embodiment of the present disclosure.

일 실시 예에서, 마스터 서버(100)가 클라이언트 서버(110)에 제공하는 인공지능 모델은 복수의 그룹(제1 그룹, 제2 그룹)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 그룹에는 지정된 개수의 인공지능 모델(700, 710, 720)이 포함될 수 있다. 제2 그룹에는 지정된 개수의 인공지능 모델(750, 760, 770)이 포함될 수 있다. In one embodiment, the artificial intelligence model provided by the master server 100 to the client server 110 may include a plurality of groups (first group and second group). In one embodiment, the first group may include a specified number of artificial intelligence models 700 , 710 , and 720 . The second group may include a specified number of AI models 750, 760, and 770.

일 실시 예에서, 클라이언트 서버(110)는 제1 그룹에 포함된 인공지능 모델(700, 710, 720)의 성능을 측정하고 기 설정된 기준을 기반으로 성능이 낮은 인공지능 모델을 제2 그룹으로 강등시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 클라이언트 서버(110)는 제2 그룹에 포함된 인공지능 모델(750, 760, 770)의 성능을 측정하고 기 설정된 기준을 기반으로 성능이 높은 인공지능 모델을 제1 그룹으로 승격시킬 수 있다. 예를 들어, 기 설정된 기준은 클라이언트 서버(110)의 관리자가 설정한 성능 지표일 수 있다.In one embodiment, the client server 110 measures the performance of the artificial intelligence models 700, 710, and 720 included in the first group and demotes the artificial intelligence model with low performance to the second group based on a predetermined criterion. can make it In one embodiment, the client server 110 measures the performance of the artificial intelligence models 750, 760, and 770 included in the second group and promotes the artificial intelligence model with high performance to the first group based on predetermined criteria. can make it For example, the predetermined criterion may be a performance indicator set by a manager of the client server 110 .

도 8은 본 개시의 일 실시 예에 따른, CCTV를 통한 생산 환경 모니터링을 도시한 것이다.8 illustrates production environment monitoring through CCTV according to an embodiment of the present disclosure.

일 실시 예에서, 클라이언트 서버(110)는 CCTV(closed circuit television, 800)와 전기적으로 연결될 수 있다. CCTV는 클라이언트의 생산 환경(810)의 영상을 촬영할 수 있다. In one embodiment, the client server 110 may be electrically connected to a closed circuit television (CCTV) 800. The CCTV may capture images of the client's production environment 810 .

일 실시 예에서, 마스터 서버(100)는 상기 CCTV 영상에 기반하여 생산 환경(810) 내 작업자들에 대한 객체 감지, 행동 인지, 및 자세 측정 중 적어도 하나를 수행할 수 있다. 일 실시 예에서, 마스터 서버(100)는 작업자들의 근무 및 휴식 시간을 추적하여 생산에 필요한 최적 인원수 데이터를 산출할 수 있다. In one embodiment, the master server 100 may perform at least one of object detection, action recognition, and posture measurement for workers in the production environment 810 based on the CCTV image. In one embodiment, the master server 100 may track the working and resting time of the workers to calculate the optimal number of people data required for production.

한편, 개시된 실시예들은 컴퓨터에 의해 실행 가능한 명령어를 저장하는 기록매체의 형태로 구현될 수 있다. 명령어는 프로그램 코드의 형태로 저장될 수 있으며, 프로세서에 의해 실행되었을 때, 프로그램 모듈을 생성하여 개시된 실시예들의 동작을 수행할 수 있다. 기록매체는 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체로 구현될 수 있다.Meanwhile, the disclosed embodiments may be implemented in the form of a recording medium storing instructions executable by a computer. Instructions may be stored in the form of program codes, and when executed by a processor, create program modules to perform operations of the disclosed embodiments. The recording medium may be implemented as a computer-readable recording medium.

컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체로는 컴퓨터에 의하여 해독될 수 있는 명령어가 저장된 모든 종류의 기록 매체를 포함한다. 예를 들어, ROM(Read Only Memory), RAM(Random Access Memory), 자기 테이프, 자기 디스크, 플래쉬 메모리, 광 데이터 저장장치 등이 있을 수 있다. Computer-readable recording media include all types of recording media in which instructions that can be decoded by a computer are stored. For example, there may be read only memory (ROM), random access memory (RAM), magnetic tape, magnetic disk, flash memory, optical data storage device, and the like.

이상에서와 같이 첨부된 도면을 참조하여 개시된 실시예들을 설명하였다. 본 개시가 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 개시의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고도, 개시된 실시예들과 다른 형태로 본 개시가 실시될 수 있음을 이해할 것이다. 개시된 실시예들은 예시적인 것이며, 한정적으로 해석되어서는 안 된다.As above, the disclosed embodiments have been described with reference to the accompanying drawings. Those skilled in the art to which the present disclosure pertains will understand that the present disclosure may be implemented in a form different from the disclosed embodiments without changing the technical spirit or essential features of the present disclosure. The disclosed embodiments are illustrative and should not be construed as limiting.

Claims (10)

적어도 하나의 클라이언트 서버와 통신을 수행하는 통신부; 및
상기 통신부를 통해 상기 적어도 하나의 클라이언트 서버로부터 데이터 수집을 요청하는 신호가 수신된 경우, 상기 적어도 하나의 클라이언트 서버로 검사 대상의 이미지 촬영을 요청하는 신호를 전송하고, 상기 이미지 촬영 요청에 대한 응답으로, 상기 통신부를 통해 상기 적어도 하나의 클라이언트 서버로부터 촬영된 검사 대상의 이미지가 수신된 경우, 상기 수신된 검사 대상 이미지에 대하여 지정된 방식에 따른 데이터 전처리를 수행하고, 상기 전처리된 이미지 데이터에 기반하여 불량 유형에 따른 딥러닝 알고리즘에 기반한 딥러닝 인공지능 모델을 생성하고, 상기 통신부를 통해 상기 생성된 인공지능 모델을 상기 적어도 하나의 클라이언트 서버에 제공하도록 설정되는 프로세서;를 포함하고,
상기 프로세서는, 상기 불량 유형에 기반하여 상기 클라이언트에 하드웨어를 제공하도록 더 설정되고,
상기 인공지능 모델은 Saas(Software as a Service)에 기반한 클라우드 서버를 통해 제공되고,
상기 프로세서는, 상기 클라우드 서버에 데이터베이스를 구축하도록 더 설정되고, 상기 데이터베이스에는 상기 적어도 하나의 클라이언트 서버에서 요청한 데이터가 복수의 기준 데이터들로 저장되고, 상기 복수의 기준 데이터들에 최적화된 인공지능 모델이 상기 복수의 기준 데이터들과 연계하여 저장되며,
상기 프로세서는, 신규 클라이언트 서버로부터 데이터 수집이 요청된 경우, 상기 신규 클라이언트 서버의 요청 데이터 및 상기 데이터베이스에 저장된 상기 복수의 기준 데이터들의 유사도를 계산하고, 상기 복수의 기준 데이터들 중 상기 계산된 유사도가 높은 기준 데이터에 최적화된 인공지능 모델을 상기 신규 클라이언트 서버에 제공하도록 더 설정된,
불량품 검사 솔루션 제공 장치.
a communication unit that communicates with at least one client server; and
When a signal requesting data collection is received from the at least one client server through the communication unit, a signal requesting capturing an image of an examination target is transmitted to the at least one client server, and in response to the image capturing request , When an image of an inspection target photographed from the at least one client server is received through the communication unit, data pre-processing is performed on the received inspection target image according to a designated method, and a defect is obtained based on the pre-processed image data. A processor configured to generate a deep learning artificial intelligence model based on a deep learning algorithm according to a type and provide the generated artificial intelligence model to the at least one client server through the communication unit;
the processor is further configured to provide hardware to the client based on the defect type;
The artificial intelligence model is provided through a cloud server based on Saas (Software as a Service),
The processor is further configured to build a database in the cloud server, wherein data requested by the at least one client server is stored as a plurality of reference data, and an artificial intelligence model optimized for the plurality of reference data. This is stored in association with the plurality of reference data,
The processor, when data collection is requested from the new client server, calculates the similarity of the requested data of the new client server and the plurality of reference data stored in the database, and the calculated similarity among the plurality of reference data Further configured to provide the new client server with an artificial intelligence model optimized for high reference data,
Defective product inspection solution provider.
제1 항에 있어서,
상기 촬영된 이미지는 상기 클라이언트 서버의 클라이언트가 검사 중인 생산품의 이미지, 상기 클라이언트가 규칙 기반 알고리즘에 사용 중인 이미지, 및 증강된(augmented) 이미지를 포함하는,
불량품 검사 솔루션 제공 장치.
According to claim 1,
The captured image includes an image of a product being inspected by a client of the client server, an image being used by the client in a rule-based algorithm, and an augmented image.
Defective product inspection solution provider.
제2 항에 있어서,
상기 지정된 방식은 지도 학습 방식 및 비지도 학습 방식을 포함하는,
불량품 검사 솔루션 제공 장치.
According to claim 2,
The designated method includes a supervised learning method and an unsupervised learning method,
Defective product inspection solution provider.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1 항에 있어서,
상기 프로세서에 의해 제공되는 인공지능 모델은, 제1 그룹 및 제2 그룹을 포함하고,
상기 제1 그룹 및 상기 제2 그룹은, 각각 지정된 개수의 인공지능 모델을 포함하고,
상기 제1 그룹의 인공지능 모델 중 기 설정된 기준을 기반으로 성능이 낮은 인공지능 모델은, 상기 클라이언트 서버에 의해 상기 제2 그룹으로 강등되고,
상기 제2 그룹의 인공지능 모델 중 상기 기 설정된 기준을 기반으로 성능이 높은 인공지능 모델은, 상기 클라이언트 서버에 의해 상기 제1 그룹으로 승격되는,
불량품 검사 솔루션 제공 장치.
According to claim 1,
The artificial intelligence model provided by the processor includes a first group and a second group,
The first group and the second group each include a specified number of artificial intelligence models,
Among the artificial intelligence models of the first group, an artificial intelligence model having low performance based on a predetermined criterion is demoted to the second group by the client server;
Among the artificial intelligence models of the second group, an artificial intelligence model having high performance based on the preset criteria is promoted to the first group by the client server.
Defective product inspection solution provider.
제1 항에 있어서,
상기 클라이언트 서버는, CCTV(closed circuit television)와 전기적으로 연결되고,
상기 프로세서는,
상기 CCTV에 의해 촬영된 영상에 기반하여 상기 클라이언트 서버의 생산 환경 내 작업자들에 대한 객체 감지, 행동 인지, 및 자세 측정 중 적어도 하나를 수행하도록 더 설정된,
불량품 검사 솔루션 제공 장치.
According to claim 1,
The client server is electrically connected to a closed circuit television (CCTV),
the processor,
Further configured to perform at least one of object detection, action recognition, and posture measurement for workers in the production environment of the client server based on the image taken by the CCTV,
Defective product inspection solution provider.
적어도 하나의 클라이언트 서버와 통신을 수행하는 마스터 서버에 의해 수행되는 불량품 검사 솔루션 제공 방법에 있어서,
상기 적어도 하나의 클라이언트 서버로부터 데이터 수집이 요청된 경우, 상기 적어도 하나의 클라이언트 서버로 검사 대상의 이미지 촬영을 요청하는 단계;
상기 요청에 대한 응답으로, 상기 적어도 하나의 클라이언트 서버로부터 촬영된 검사 대상의 이미지가 수신된 경우, 상기 수신된 검사 대상 이미지에 대하여 지정된 방식에 따른 데이터 전처리를 수행하는 단계;
상기 전처리된 이미지의 데이터에 기반하여 불량 유형에 따른 딥러닝 알고리즘에 기반한 딥러닝 인공지능 모델을 생성하는 단계; 및
상기 생성된 인공지능 모델을 상기 적어도 하나의 클라이언트 서버에 제공하는 단계;를 포함하고,
상기 마스터 서버는, 상기 불량 유형에 기반하여 상기 클라이언트에 하드웨어를 제공하고,
상기 인공지능 모델은 Saas(Software as a Service)에 기반한 클라우드 서버를 통해 제공되고,
상기 마스터 서버는, 상기 클라우드 서버에 데이터베이스를 구축하고, 상기 데이터베이스에는 상기 적어도 하나의 클라이언트 서버에서 요청한 데이터가 복수의 기준 데이터들로 저장되고, 상기 복수의 기준 데이터들에 최적화된 인공지능 모델이 상기 복수의 기준 데이터들과 연계하여 저장되며,
상기 마스터 서버는, 신규 클라이언트 서버로부터 데이터 수집이 요청된 경우, 상기 신규 클라이언트 서버의 요청 데이터 및 상기 데이터베이스에 저장된 상기 복수의 기준 데이터들의 유사도를 계산하고, 상기 복수의 기준 데이터들 중 상기 계산된 유사도가 높은 기준 데이터에 최적화된 인공지능 모델을 상기 신규 클라이언트 서버에 제공하는,
불량품 검사 솔루션 제공 방법.
A method for providing a defective product inspection solution performed by a master server communicating with at least one client server,
requesting capturing of an image of an examination target to the at least one client server when data collection is requested from the at least one client server;
In response to the request, when an image of an examination target photographed from the at least one client server is received, performing data pre-processing according to a designated method on the received examination target image;
generating a deep learning artificial intelligence model based on a deep learning algorithm according to a defect type based on data of the preprocessed image; and
Including; providing the generated artificial intelligence model to the at least one client server,
The master server provides hardware to the client based on the defect type;
The artificial intelligence model is provided through a cloud server based on Saas (Software as a Service),
The master server builds a database in the cloud server, data requested by the at least one client server is stored as a plurality of reference data, and an artificial intelligence model optimized for the plurality of reference data is stored in the database. It is stored in conjunction with a plurality of reference data,
The master server, when data collection is requested from the new client server, calculates the similarity between the requested data of the new client server and the plurality of reference data stored in the database, and the calculated similarity among the plurality of reference data. Providing an artificial intelligence model optimized for high reference data to the new client server,
How to provide a reject inspection solution.
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