KR102542367B1 - Method for automatically setting the optimal scan range in a focus variation-based 3D measuring machine - Google Patents
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Abstract
본 발명은 초점 변화 기반 3차원 측정기에서 최적의 스캔 범위 자동 설정 방법에 관한 것이다. 카메라의 초점을 광학 축 방향을 따라 초기입력 스캔 범위에서 변화시켜 측정대상물에 대한 영상을 스캔 구간별로 획득한다. 획득된 영상들을 순차적으로 입력받아 에지 값을 영상별로 계산한다. 계산된 에지 값 중 설정 임계 값 이상의 에지 값만 영상별로 추출한다. 추출된 에지 값들의 평균 에지 값을 영상별로 계산한다. 계산된 평균 에지 값을 영상별로 순차적으로 비교해서 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치를 업데이트한다. 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치를 기반으로 최적의 스캔 범위를 설정한다.The present invention relates to a method for automatically setting an optimal scan range in a focus change-based 3D measuring device. By changing the focus of the camera in the initial input scan range along the direction of the optical axis, images of the object to be measured are obtained for each scan section. Obtained images are sequentially input and edge values are calculated for each image. Among the calculated edge values, only edge values higher than the set threshold are extracted for each image. An average edge value of the extracted edge values is calculated for each image. The calculated average edge values are sequentially compared for each image, and the position of the image having the largest average edge value is updated. An optimal scan range is set based on the location of the image with the largest average edge value.
Description
본 발명은 초점 변화 기반 3차원 측정기에서 최적의 스캔 범위 자동 설정 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for automatically setting an optimal scan range in a focus change-based 3D measuring device.
일반적으로, 3차원 측정기는 각종 전자제품의 제조 공정에서 품질 검사를 위해 사용되고 있다. 예를 들어, 전자제품을 구성하는 인쇄회로기판의 표면에 패턴이 형성되며, 패턴에 부품이 실장될 수 있다. 이 과정에서, 불량 패턴에 부품이 실장되면, 2차 불량이 발생되므로, 패턴의 3차원 형상을 측정하여 불량 유무를 비전 검사할 수 있게 3차원 측정기가 사용될 수 있다.In general, a 3D measuring device is used for quality inspection in a manufacturing process of various electronic products. For example, a pattern may be formed on the surface of a printed circuit board constituting an electronic product, and components may be mounted on the pattern. In this process, if a component is mounted on a defective pattern, a secondary defect occurs, so a 3D measuring device may be used to visually inspect the presence or absence of defects by measuring the 3D shape of the pattern.
한편, 일 예로, 3차원 측정기는 초점 변화(focus variation) 기반으로 3차원 형상을 측정할 수 있다. 초점 변화 기술은 카메라의 초점을 광학 축 방향(이하, Z축 방향)을 따라 임의의 Z축 스캔 범위에서 변화시켜 측정대상물에 대한 영상을 스캔 구간별로 획득하고, 획득된 영상들 중 최대 콘트라스트(maximum contrast)가 나타나는 영상의 Z축 위치를 3차원 데이터의 높이 값으로 계산해 내는 방식이다.Meanwhile, as an example, the 3D measuring device may measure a 3D shape based on a focus variation. The focus change technology changes the focus of the camera in an arbitrary Z-axis scan range along the optical axis direction (hereinafter referred to as the Z-axis direction) to acquire images of the object to be measured for each scan section, and obtains the maximum contrast (maximum It is a method of calculating the Z-axis position of an image where contrast appears as the height value of 3D data.
도 1은 초점 변화 기술을 기반으로 인쇄회로기판에 대한 3차원 데이터를 측정한 예를 나타낸 도면이다. 도 1을 참조하면, (a)에 도시된 인쇄회로기판의 패턴/스페이스(pattern/space) 영상을 초점 변화 기술로 획득하여 활용하면, (b)에 도시된 바와 같은 인쇄회로기판의 패턴/스페이스 3차원 데이터를 획득할 수 있다. 여기서, 패턴 폭(pattern width)은 4㎛이고, 스페이스 폭(space width)은 4㎛이다.1 is a diagram showing an example of measuring 3D data on a printed circuit board based on a focus change technique. Referring to FIG. 1, if the pattern/space image of the printed circuit board shown in (a) is acquired and utilized by the focus change technique, the pattern/space of the printed circuit board as shown in (b) 3D data can be acquired. Here, the pattern width is 4 μm and the space width is 4 μm.
그런데, 초점 변화 기술에서 Z축 스캔 범위에 따라 측정 오류가 발생될 수 있다. 예를 들어, 도 2의 (a)에 도시된 바와 같이 Z축 스캔 범위가 설정되어, 스캔 끝 지점이 패턴 높이보다 조금 높으면서 근접한 위치에서 끝나는 경우에는, 도 1에 도시된 바와 같이, 측정된 3차원 데이터에 문제가 없다.However, measurement errors may occur depending on the Z-axis scan range in the focus change technique. For example, as shown in FIG. There is no problem with dimensional data.
하지만, 도 2의 (b)에 도시된 경우와 같이 Z축 스캔 범위가 설정되어, 스캔 끝 지점이 패턴 높이보다 비교적 많이 벗어나 끝나는 경우 측정된 3차원 데이터에 문제가 발생한다.However, as shown in (b) of FIG. 2, when the Z-axis scan range is set and the end of the scan ends relatively more than the pattern height, a problem occurs in the measured 3D data.
이러한 문제 원인에 대해 도 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다. 패턴 높이보다 많이 벗어나서 위쪽에서 촬영된 영상은 (a)에 도시된 바와 같이 획득되며, (a)의 A 영역에 나타난 바와 같이, 기존에 스페이스 영역이었던 위치에 패턴 영역이 침범하면서 수직의 선이 발생하여 콘트라스트 값이 커진다.The cause of this problem will be described with reference to FIG. 3 as follows. An image taken from above, which deviated much from the pattern height, is obtained as shown in (a), and as shown in area A of (a), a vertical line occurs as the pattern area invades the position that was previously a space area. As a result, the contrast value increases.
최대 콘트라스트가 나타나는 Z축 위치가 3차원 데이터의 높이 값이기 때문에, (b)의 B 영역에 나타난 바와 같이, 스페이스 영역(B)의 높이가 패턴 영역의 높이보다 높게 잘못 측정되는 문제가 발생할 수 있다.Since the Z-axis position where the maximum contrast appears is the height value of the 3D data, as shown in area B in (b), the height of the space area (B) may be incorrectly measured higher than the height of the pattern area. .
본 발명의 과제는 초점 변화 기반 3차원 측정기에서 측정대상물의 3차원 데이터를 오류 없이 정확히 구할 수 있게 하는 최적의 스캔 범위 자동 설정 방법을 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a method for automatically setting an optimal scan range that enables accurate, error-free 3D data of a measurement object in a focus change-based 3D measuring instrument.
상기의 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 초점 변화 기반 3차원 측정기에서 최적의 스캔 범위 자동 설정 방법은, 카메라의 초점을 광학 축 방향을 따라 초기입력 스캔 범위에서 변화시켜 측정대상물에 대한 영상을 스캔 구간별로 획득하는 단계; 획득된 영상들을 순차적으로 입력받아 에지 값을 영상별로 계산하는 단계; 계산된 에지 값 중 설정 임계 값 이상의 에지 값만 영상별로 추출하는 단계; 추출된 에지 값들의 평균 에지 값을 영상별로 계산하는 단계; 계산된 평균 에지 값을 영상별로 순차적으로 비교해서 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치를 업데이트하는 단계; 및 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치를 기반으로 최적의 스캔 범위를 설정하는 단계;를 포함한다.A method for automatically setting the optimal scan range in a focus change-based 3D measuring device according to the present invention for achieving the above object is to change the focus of the camera in the initial input scan range along the optical axis direction to scan the image of the object to be measured. obtaining for each section; sequentially receiving acquired images and calculating an edge value for each image; extracting only edge values greater than or equal to a set threshold among the calculated edge values for each image; calculating an average edge value of the extracted edge values for each image; updating a location of an image having the largest average edge value by sequentially comparing the calculated average edge value for each image; and setting an optimal scan range based on the position of the image having the largest mean edge value.
여기서, 최적의 스캔 범위를 설정하는 단계는, 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치보다 스캔 간격 단위로 1단계 높은 영상의 위치를 스캔 끝 지점으로 설정하는 과정을 포함할 수 있다.Here, the step of setting the optimal scan range may include setting a location of an image higher than the location of the image having the largest average edge value by one step in units of scan intervals as the scan end point.
영상을 스캔 구간별로 획득하는 단계는, 스캔 구간별로 측정대상물에 대한 조명 시간을 제어하되 카메라의 노출 시간보다 긴 시간으로 제어하는 과정을 포함할 수 있다. Acquiring the image for each scan section may include controlling the illumination time for the measurement object for each scan section to be longer than the exposure time of the camera.
본 발명에 따르면, 초점 변화 기반 3차원 측정기에서 최적의 스캔 범위를 자동으로 설정하여, 측정대상물의 3차원 데이터를 오류 없이 정확히 구할 수 있게 한다.According to the present invention, by automatically setting an optimal scan range in a focus change-based 3D measuring device, 3D data of a measurement object can be accurately obtained without errors.
도 1은 초점 변화 기술을 기반으로 인쇄회로기판에 대한 3차원 데이터를 측정한 예를 나타낸 도면이다.
도 2는 Z축 스캔 범위를 설정하는 예를 나타낸 도면이다.
도 3은 도 2의 (b)에 도시된 Z축 스캔 범위에 따른 문제점을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 초점 변화 기반 3차원 측정기에서 최적의 스캔 범위 자동 설정 방법에 대한 순서도이다.
도 5는 인쇄회로기판의 패턴에 초점이 맞은 영상을 나타낸 도면이다.
도 6은 영상을 스캔 구간별로 획득하는 과정의 일 예를 나타낸 도면이다.1 is a diagram showing an example of measuring 3D data on a printed circuit board based on a focus change technique.
2 is a diagram illustrating an example of setting a Z-axis scan range.
FIG. 3 is a diagram for explaining problems according to the Z-axis scan range shown in FIG. 2 (b).
4 is a flowchart of a method for automatically setting an optimal scan range in a focus change-based 3D measuring device according to an embodiment of the present invention.
5 is a view showing an image focused on a pattern of a printed circuit board.
6 is a diagram illustrating an example of a process of acquiring images for each scan section.
본 발명에 대해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 여기서, 동일한 구성에 대해서는 동일부호를 사용하며, 반복되는 설명, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다. 본 발명의 실시형태는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.The present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Here, the same reference numerals are used for the same components, and repeated descriptions and detailed descriptions of well-known functions and configurations that may unnecessarily obscure the gist of the present invention are omitted. Embodiments of the present invention are provided to more completely explain the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the shapes and sizes of elements in the drawings may be exaggerated for clarity.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 초점 변화 기반 3차원 측정기에서 최적의 스캔 범위 자동 설정 방법에 대한 순서도이다.4 is a flowchart of a method for automatically setting an optimal scan range in a focus change-based 3D measuring device according to an embodiment of the present invention.
먼저, 카메라의 초점을 광학 축 방향을 따라 초기입력 스캔 범위에서 변화시켜 측정대상물에 대한 영상을 스캔 구간별로 획득한다. 여기서, 측정대상물은 패턴을 갖는 인쇄회로기판 등에 해당할 수 있다. 초점 변화는 카메라에서 렌즈와 영상 디텍터 간 거리 변화를 통해 이루어질 수 있다.First, the focus of the camera is changed in the initial input scan range along the optical axis direction to acquire images of the measurement object for each scan section. Here, the object to be measured may correspond to a printed circuit board having a pattern. A change in focus can be achieved through a change in the distance between a lens and an image detector in a camera.
초기입력 스캔 범위는 사용자에 의해 임의로 설정된다. 이때, 사용자는 측정대상물의 실제 3차원 데이터의 최대 높이 값을 감안하여 초기입력 스캔 범위를 여유 있게 설정해둘 수 있다. 스캔 구간은 초기입력 스캔 범위가 광학 축 방향을 따라 균일 간격으로 다수 개로 나뉘어져 설정될 수 있다.The initial input scan range is arbitrarily set by the user. At this time, the user may set the initial input scan range with sufficient margin in consideration of the maximum height value of the actual 3D data of the measurement object. The scan period may be set by dividing the initial input scan range into a plurality of pieces at regular intervals along the optical axis direction.
그 다음, 획득된 영상들을 순차적으로 입력받아 에지 값을 영상별로 계산한다. 이때, 에지 검출 방법은 sobel, laplacian, LoG(Laplacian Of Gaussian) 등과 같은 공지의 다양한 방법이 이용될 수 있다. 에지 값은 절대값으로 최종 변환될 수 있다.Next, the acquired images are sequentially input and an edge value is calculated for each image. In this case, as the edge detection method, various known methods such as sobel, laplacian, LoG (Laplacian Of Gaussian), and the like may be used. Edge values may be finally converted to absolute values.
그 다음, 계산된 에지 값 중 설정 임계 값 이상의 에지 값만 영상별로 추출한다. 이때, 설정 임계 값은 0의 값이 제외되고, 0.01의 값으로 사용자에 의해 설정될 수 있다. 그 다음, 추출된 에지 값들의 평균 에지 값을 영상별로 계산한다.Next, among the calculated edge values, only edge values greater than or equal to the set threshold are extracted for each image. In this case, the set threshold value may be set by the user as a value of 0.01, excluding the value of 0. Next, an average edge value of the extracted edge values is calculated for each image.
그 다음, 계산된 평균 에지 값을 영상별로 순차적으로 비교해서 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치를 업데이트한다. 이때, 초기입력 스캔 범위의 스캔 시작 지점에서 획득된 영상의 위치를 초기값으로 설정하고, 현재 영상의 평균 에지 값과 이전 영상의 평균 에지 값을 비교해서 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치를 업데이트할 수 있다.Next, the calculated average edge value is sequentially compared for each image, and the location of the image having the largest average edge value is updated. At this time, the position of the image acquired at the scan start point of the initial input scan range is set as an initial value, and the average edge value of the current image and the average edge value of the previous image are compared to determine the position of the image having the largest average edge value. can be updated
그 다음, 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치를 기반으로 최적의 스캔 범위를 설정한다. 이때, 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치보다 스캔 간격 단위로 1단계 높은 영상의 위치를 스캔 끝 지점으로 설정함으로써, 최적의 스캔 범위를 설정할 수 있다. 여기서, 1단계는 스캔 간격과 동일하다. 물론, 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치보다 스캔 간격 단위로 2~3단계 높은 영상의 위치를 스캔 끝 지점으로 설정할 수도 있다.
즉, 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상이 획득된 스캔 구간보다 스캔 방향으로 1단계, 또는 2~3단계 높은 스캔 구간에서 획득된 영상의 위치를 스캔 끝 지점으로 설정할 수 있다.Next, an optimal scan range is set based on the position of the image having the largest average edge value. At this time, the optimal scan range can be set by setting the position of the image higher than the position of the image having the largest average edge value by one level in scan interval units as the scan end point. Here, step 1 is equal to the scan interval. Of course, the position of the image 2 to 3 steps higher than the position of the image having the largest average edge value in units of scan intervals may be set as the scan end point.
That is, the position of an image obtained in a scan section higher than the scan section in which the image having the largest average edge value was acquired by one or two to three steps in the scan direction may be set as the scan end point.
본 발명의 일 실시예에 따른 초점 변화 기반 3차원 측정기에서 최적의 스캔 범위 자동 설정 방법에 대해 상술하면 다음과 같다.A method for automatically setting an optimal scan range in a 3D measuring device based on a focus change according to an embodiment of the present invention will be described in detail.
먼저, 스캔 시작에 따라 초기입력 스캔 범위의 스캔 시작 지점에서 측정대상물에 대한 첫 번째 영상을 획득한다. 그 다음, 첫 번째 영상을 입력받아 에지 값을 계산하고, 계산된 에지 값 중 설정 임계 값 이상의 에지 값만 추출하며, 추출된 에지 값들의 평균 에지 값을 계산한 후, 초기값으로 설정한다.First, according to the start of the scan, the first image of the measurement object is acquired at the scan start point of the initial input scan range. Next, an edge value is calculated by receiving the first image, only edge values greater than or equal to a set threshold value are extracted from among the calculated edge values, and an average edge value of the extracted edge values is calculated and set as an initial value.
그 다음, 후속 스캔 지점에서 측정대상물에 대한 2번째 영상을 획득한다. 그 다음, 두 번째 영상을 입력받아 에지 값을 계산하고, 계산된 에지 값 중 설정 임계 값 이상의 에지 값만 추출하며, 추출된 에지 값들의 평균 에지 값을 계산한 후, 두 번째 영상의 평균 에지 값과 첫 번째 영상의 평균 에지 값을 비교해서 더 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치를 업데이트한다.Then, a second image of the object to be measured is acquired at a subsequent scan point. Then, an edge value is calculated by receiving the second image, only edge values greater than the set threshold value are extracted from among the calculated edge values, and after calculating the average edge value of the extracted edge values, the average edge value of the second image and By comparing the average edge value of the first image, the location of the image with the larger average edge value is updated.
이러한 과정들을 초기입력 스캔 범위의 스캔 끝 지점까지 반복하여 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치를 업데이트한다. 그 다음, 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치를 기반으로 최적의 스캔 범위를 설정한다.These processes are repeated until the scan end of the initial input scan range to update the position of the image with the largest average edge value. Next, an optimal scan range is set based on the position of the image having the largest average edge value.
이와 같이, 본 실시예에 따르면, 스캔 시작 지점부터 스캔 끝 지점까지 스캔한 영상들 중에서, 측정대상물, 예컨대 인쇄회로기판의 패턴에 초점이 맞은 영상을 찾는다. 도 5에 도시된 바와 같이, 패턴에 초점이 맞은 영상의 경우 패턴 위의 표면이 거칠기 때문에 고주파 성분의 특징들이 많이 나타나게 된다. 고주파 성분, 즉 에지가 강한 성분이 가장 많이 나타나는 영상이 패턴에 초점이 맞은 영상이다.In this way, according to the present embodiment, among the images scanned from the scan start point to the scan end point, an image focused on a measurement object, for example, a pattern of a printed circuit board, is found. As shown in FIG. 5 , in the case of an image focused on a pattern, since the surface on the pattern is rough, many characteristics of high-frequency components appear. An image in which a high-frequency component, that is, a component with a strong edge appears the most is an image in which the pattern is focused.
에지 값이 설정 임계 값 이상인 강한 에지만 추출하고, 추출한 강한 에지들의 평균 에지 값을 계산하여 그 값이 가장 높은 영상을 패턴에 초점이 맞은 영상으로 판단한다. 그리고, 초점이 맞은 영상의 위치를 기반으로 최적의 스캔 범위를 설정하게 된다.Only strong edges whose edge values are higher than the set threshold are extracted, and the average edge value of the extracted strong edges is calculated, and the image with the highest value is determined as the image with the pattern in focus. Then, an optimal scan range is set based on the position of the focused image.
본 실시예에 따라 자동 설정된 최적의 스캔 범위는 동종의 측정 대상물에 대한 3차원 데이터 계산에 활용됨으로써 측정 오류 없이 정확한 3차원 데이터를 얻을 수 있게 한다. 예컨대, 인쇄회로기판의 패턴에 초점이 맞은 위치보다 조금 높은 위치까지 스캔한 영상들만 3차원 데이터 계산에 활용되므로, 패턴이 잘못 측정되는 문제를 방지할 수 있다.The optimal scan range automatically set according to the present embodiment is used to calculate 3D data for the same type of measurement object, thereby enabling accurate 3D data to be obtained without measurement errors. For example, since only images scanned up to a position slightly higher than the position where the pattern of the printed circuit board is in focus are used for calculating 3D data, it is possible to prevent a pattern from being erroneously measured.
한편, 도 6에 도시된 바와 같이, 영상을 스캔 구간별로 획득하는 단계는 스캔 구간별로 측정대상물에 대한 조명 시간을 제어하되 카메라의 노출 시간보다 긴 시간으로 제어하는 과정을 포함할 수 있다. 예컨대, 조명을 스캔 구간별로 카메라 노출 시작보다 먼저 온(ON) 구동시킨 다음, 카메라 노출이 완료되면 조명을 오프(OFF) 구동시킬 수 있다. 조명은 스트로브 방식으로 제어될 수 있다.Meanwhile, as shown in FIG. 6 , acquiring an image for each scan section may include a process of controlling the illumination time for the measurement object for each scan section to a longer time than the exposure time of the camera. For example, the lighting may be turned on for each scan section prior to the start of camera exposure, and then turned off when the camera exposure is completed. Lighting can be controlled in a strobe fashion.
이와 같이, 조명 시간은 스캔 구간별로 제어되므로, 조명 시간이 스캔 시작 지점부터 스캔 끝 지점까지 연속적으로 제어되는 것보다, 스캔 구간별로 10배 이상의 밝기로 측정대상물을 조명할 수 있다. 그 결과, 측정대상물에 대한 고품질의 영상 획득이 이루어질 수 있다.In this way, since the lighting time is controlled for each scan section, the object to be measured can be illuminated with 10 times or more brightness for each scan section than when the lighting time is continuously controlled from the scan start point to the scan end point. As a result, high-quality image acquisition of the measurement object can be achieved.
본 발명은 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이다. The present invention has been described with reference to an embodiment shown in the accompanying drawings, but this is only exemplary, and those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. You will be able to. Therefore, the true protection scope of the present invention should be defined only by the appended claims.
Claims (3)
획득된 영상들을 순차적으로 입력받아 에지 값을 영상별로 계산하는 단계;
계산된 에지 값 중 설정 임계 값 이상의 에지 값만 영상별로 추출하는 단계;
추출된 에지 값들의 평균 에지 값을 영상별로 계산하는 단계;
계산된 평균 에지 값을 영상별로 순차적으로 비교해서 가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치를 업데이트하는 단계; 및
가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치를 기반으로 최적의 스캔 범위를 설정하는 단계;
를 포함하는 초점 변화 기반 3차원 측정기에서 최적의 스캔 범위 자동 설정 방법.Acquiring an image of the object to be measured for each scan section by changing the focus of the camera in the initial input scan range along the optical axis direction;
sequentially receiving acquired images and calculating an edge value for each image;
extracting only edge values greater than or equal to a set threshold among the calculated edge values for each image;
calculating an average edge value of the extracted edge values for each image;
updating a location of an image having the largest average edge value by sequentially comparing the calculated average edge value for each image; and
setting an optimal scan range based on a position of an image having the largest mean edge value;
A method for automatically setting the optimal scan range in a 3D measuring machine based on focus change including
상기 최적의 스캔 범위를 설정하는 단계는,
가장 큰 평균 에지 값을 갖는 영상의 위치보다 스캔 간격 단위로 1단계 높은 영상의 위치를 스캔 끝 지점으로 설정하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 초점 변화 기반 3차원 측정기에서 최적의 스캔 범위 자동 설정 방법.According to claim 1,
The step of setting the optimal scan range,
A method for automatically setting the optimal scan range in a focus change-based 3D measuring machine, comprising the step of setting the position of an image higher by one scan interval than the position of the image having the largest average edge value as the scan end point .
상기 영상을 스캔 구간별로 획득하는 단계는,
스캔 구간별로 측정대상물에 대한 조명 시간을 제어하되 카메라의 노출 시간보다 긴 시간으로 제어하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 초점 변화 기반 3차원 측정기에서 최적의 스캔 범위 자동 설정 방법.According to claim 1,
Acquiring the image for each scan section includes:
A method for automatically setting the optimal scan range in a focus change-based 3D measuring device, comprising controlling the illumination time for the measurement object for each scan section but controlling the time longer than the exposure time of the camera.
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