KR102536973B1 - Preparation method for sealed electronic device, and Sealed electronic device prepared therefrom - Google Patents

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KR102536973B1 KR1020200129552A KR20200129552A KR102536973B1 KR 102536973 B1 KR102536973 B1 KR 102536973B1 KR 1020200129552 A KR1020200129552 A KR 1020200129552A KR 20200129552 A KR20200129552 A KR 20200129552A KR 102536973 B1 KR102536973 B1 KR 102536973B1
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Abstract

진공 인클로저(enclosure) 내에, 일면 상에 전자 소자가 배치된 베이스 기판을 제공하는 단계; 상기 전자 소자 상에 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물 중 하나 이상을 공급하여 제1 코팅층을 배치하는 단계; 상기 제1 코팅층 상에 파릴렌계 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 라디칼을 공급하여 제1 코팅층 상에 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층을 배치하여 전자 소자를 밀봉하는 단계;를 포함하는 밀봉된 전자 소자 제조방법 및 이에 의하여 제조되는 밀봉된 전자 소자가 제시된다.providing a base substrate on one side of which electronic devices are disposed, within a vacuum enclosure; disposing a first coating layer on the electronic device by supplying at least one of a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and an aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group; Sealing the electronic device by disposing a second coating layer containing a parylene-based polymer on the first coating layer by supplying parylene-based radicals derived from a parylene-based precursor to the first coating layer; manufacturing a sealed electronic device including A method and a sealed electronic device produced thereby are presented.

Figure R1020200129552
Figure R1020200129552

Description

밀봉된 전자 소자 제조방법, 및 이에 의하여 제조되는 밀봉된 전자 소자{Preparation method for sealed electronic device, and Sealed electronic device prepared therefrom} Method for manufacturing a sealed electronic device, and a sealed electronic device manufactured thereby {Preparation method for sealed electronic device, and Sealed electronic device prepared therefrom}

밀봉된 전자 소자 제조방법, 및 이에 의하여 제조되는 밀봉된 전자 소자에 관한 것이다.A method for manufacturing a sealed electronic device, and a sealed electronic device manufactured thereby.

OLED, LCD 등의 전자 소자는 유기 물질을 포함하나, 유기 물질은 대기 중의 수분, 산소 등에 취약하다. 이들로부터 전자 소자를 보호하기 위하여 차단성 박막으로 전자 소자를 밀봉한다.Electronic devices such as OLEDs and LCDs contain organic materials, but organic materials are vulnerable to moisture and oxygen in the air. In order to protect the electronic device from them, the electronic device is sealed with a barrier thin film.

유연성 OLED 등의 출현에 의하여 유연하며, 수분 차단성을 가지며, 저온에서 형성 가능하며, 투명성을 가지는 유기(organic) 차단성 박막이 요구된다.With the advent of flexible OLEDs, organic barrier thin films that are flexible, have moisture barrier properties, can be formed at low temperatures, and have transparency are required.

기재의 표면에 고분자 코팅층을 도입하기 위하여 일반적으로 스핀 코팅과 같은 습식법이 사용된다. In order to introduce a polymer coating layer on the surface of a substrate, a wet method such as spin coating is generally used.

스핀 코팅은 용매를 포함한다. 3차원 구조를 가지는 기재의 표면에서 용매의 휘발 속도의 차이 등에 의하여 3차원 구조를 가지는 기재의 표면 상에 균일한 코팅층을 도입하기 어렵다. Spin coating involves a solvent. It is difficult to introduce a uniform coating layer on the surface of a substrate having a three-dimensional structure due to a difference in volatilization rate of a solvent on the surface of a substrate having a three-dimensional structure.

기재의 표면에 코팅층을 도입하기 위하여 iCVD와 같은 건식법이 사용된다. iCVD는 핫필라멘트에 의하여 개시제를 라디칼로 열분해시킨 후 라디칼이 단량체의 중합 반응을 진행시켜 기재 상에 고분자 코팅층을 도입한다. A dry method such as iCVD is used to introduce a coating layer on the surface of the substrate. In iCVD, an initiator is pyrolyzed into radicals by a hot filament, and then the radicals proceed with a polymerization reaction of monomers to introduce a polymer coating layer on a substrate.

iCVD는 직선으로 배열된 핫필라멘트의 인접한 영역에서만 라디칼이 생성된다. 따라서, 핫필라멘트와 일정한 거리를 가지지 않는 3차원 구조를 가지는 전자 소자의 표면 상에 균일한 코팅층을 도입하기 어렵다.In iCVD, radicals are generated only in adjacent regions of hot filaments arranged in a straight line. Therefore, it is difficult to introduce a uniform coating layer on the surface of the electronic device having a three-dimensional structure that does not have a constant distance from the hot filament.

유기 차단성 박막은 전자 소자의 표면과의 접착력이 낮아 기재로부터 쉽게 박리될 수 있다.The organic barrier thin film has low adhesion to the surface of an electronic device and can be easily peeled off from the substrate.

3차원 구조를 가지는 전자 소자의 표면 상에 균일하고 견고한 차단성 박막을 도입하는 방법이 요구된다.There is a need for a method of introducing a uniform and robust barrier thin film on the surface of an electronic device having a three-dimensional structure.

본 발명의 한 측면은 일면 상에 전자 소자가 배치된 베이스 기판 상에 유기 차단성 박막을 도입하는 새로운 밀봉된 전자 소자의 제조방법을 제공하는 것이다.One aspect of the present invention is to provide a new method for manufacturing a sealed electronic device in which an organic barrier thin film is introduced onto a base substrate on which an electronic device is disposed.

본 발명의 다른 한 측면은 상기 제조방법으로 제조된 밀봉된 전자 소자를 제공하는 것이다.Another aspect of the present invention is to provide a sealed electronic device manufactured by the manufacturing method.

한 측면에 따라 according to one side

진공 인클로저(enclosure) 내에, 일면 상에 전자 소자가 배치된 베이스 기판을 제공하는 단계;providing a base substrate on one side of which electronic devices are disposed, within a vacuum enclosure;

상기 전자 소자 상에 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물 중 하나 이상을 공급하여 제1 코팅층을 배치하는 단계;disposing a first coating layer on the electronic device by supplying at least one of a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and an aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group;

상기 제1 코팅층 상에 파릴렌계 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 라디칼을 공급하여 제1 코팅층 상에 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층을 배치하여 전자 소자를 밀봉하는 단계;를 포함하는 밀봉된 전자 소자 제조방법이 제공된다.Sealing the electronic device by disposing a second coating layer containing a parylene-based polymer on the first coating layer by supplying parylene-based radicals derived from a parylene-based precursor to the first coating layer; manufacturing a sealed electronic device including A method is provided.

다른 한 측면에 따라,According to another aspect,

일면 상에 전자 소자가 배치된 베이스 기판;a base substrate on one surface of which an electronic device is disposed;

상기 전자 소자를 밀봉하는 밀봉층;을 포함하며,Including; sealing layer for sealing the electronic device,

상기 밀봉층이 제1 코팅층; 및 상기 제1 코팅층 상에 배치되는 제2 코팅층;을 포함하며,The sealing layer is a first coating layer; And a second coating layer disposed on the first coating layer; includes,

상기 제1 코팅층이 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물, 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물 및 이의 유도체 중에서 선택된 하나 이상을 포함하며,The first coating layer includes at least one selected from a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, an aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group, and derivatives thereof,

상기 제2 코팅층이 파릴렌계 중합체를 포함하는, 밀봉된 전자 소자가 제공된다.A sealed electronic device is provided in which the second coating layer includes a parylene-based polymer.

한 측면에 따라, 전자 소자와 파릴렌계 중합체를 포함하는 코팅층 사이에 방향족 헤테로고리 화합물에서 유래하는 중간층이 배치됨에 의하여 차단성 박막의 전자 소자에 대한 접착력이 향상된다. According to one aspect, the adhesion of the barrier thin film to the electronic device is improved by disposing an intermediate layer derived from an aromatic heterocyclic compound between the electronic device and the coating layer including the parylene-based polymer.

결과적으로, 전자 소자가 보다 효과적으로 밀봉된다.As a result, electronic elements are more effectively sealed.

도 1은 예시적인 일 구현예에 따른 제1 코팅층 및 제2 코팅층의 배치 방법의 개략도이다.
도 2은 예시적인 일 구현예에 따른 밀봉된 전자 소자가 배치된 베이스 기판의 단면 개략도이다.
도 3은 예시적인 일 구현예에 따른 밀봉된 전자 소자의 부분 단면 개략도이다.
도 4는 예시적인 일 구현예에 따른 밀봉된 전자 소자의 부분 단면 개략도이다.
도 5는 예시적인 일 구현예에 따른 밀봉된 전자 소자의 부분 단면 개략도이다.
도 6은 예시적인 일 구현예에 따른 밀봉된 전자 소자의 부분 단면 개략도이다.
도 7은 예시적인 일 구현예에 따른 코팅 장치의 단면 개략도이다.
도 8a는 실시예 1-1의 제1 코팅층에 대한 XPS 분석 결과이다.
도 8b는 실시예 1-4의 제1 코팅층에 대한 XPS 분석 결과이다.
도 8c는 실시예 1-1의 제1 코팅층에 대한 접촉각 측정 결과이다.
도 8d는 실시예 1-4의 제1 코팅층에 대한 접촉각 측정 결과이다.
8e는 비교예 1-1의 제1 코팅층에 대한 접촉각 측정 결과이다.
도 8f는 실시예 1-1의 코팅층에 대한 접착력 테스트 결과이다.
도 8g는 실시예 1-6의 코팅층에 대한 접착력 테스트 결과이다.
도 8h는 실시예 1-11의 코팅층에 대한 접착력 테스트 결과이다.
도 8i는 비교예 1-1의 코팅층에 대한 접착력 테스트 결과이다.
도 8j는 실시예 1-1의 제1 코팅층에 대한 ATR-FTIR 측정 결과이다.
도 8k는 실시예 1-4의 제1 코팅층에 대한 ATR-FTIR 측정 결과이다.
도 8l는 실시예 1-1의 제2 코팅층에 대한 ATR-FTIR 측정 결과이다.
도 8m은 실시예 1-3의 제2 코팅층에 대한 ATR-FTIR 측정 결과이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
5: 베이스 기판 10: 전자 소자
15: 밀봉층
20: 제2 코팅층 30: 제3 코팅층
100: 제1 기화기 110: 제1 이송관
120: 제1 열원 200: 제1 유량 제어기
250: 제1 밸브 300: 열분해기
310: 제2 이송관 320; 제2 열원
400: 증착 챔버 500: 냉각 트랩
600: 진공 펌프 700: 제2 기화기
710: 제3 이송관 800: 제2 유량 제어기
850: 제2 밸브 1000: 코팅 장치
1 is a schematic diagram of a method of disposing a first coating layer and a second coating layer according to an exemplary embodiment.
Fig. 2 is a cross-sectional schematic view of a base substrate on which sealed electronic devices are disposed according to an exemplary embodiment.
Fig. 3 is a partial cross-sectional schematic diagram of a sealed electronic device according to an exemplary embodiment.
Fig. 4 is a partial cross-sectional schematic diagram of a sealed electronic device according to an exemplary embodiment.
Fig. 5 is a partial cross-sectional schematic diagram of a sealed electronic device according to an exemplary embodiment.
Fig. 6 is a partial cross-sectional schematic diagram of a sealed electronic device according to an exemplary embodiment.
Fig. 7 is a schematic cross-sectional view of a coating apparatus according to an exemplary embodiment.
8a is an XPS analysis result of the first coating layer of Example 1-1.
8B is an XPS analysis result of the first coating layer of Examples 1-4.
8C is a contact angle measurement result for the first coating layer of Example 1-1.
8d is a contact angle measurement result for the first coating layer of Examples 1-4.
8e is a contact angle measurement result for the first coating layer of Comparative Example 1-1.
8F is an adhesion test result for the coating layer of Example 1-1.
8g is an adhesion test result for the coating layer of Examples 1-6.
8H is an adhesion test result for the coating layer of Examples 1-11.
8i is an adhesion test result for the coating layer of Comparative Example 1-1.
8j is an ATR-FTIR measurement result for the first coating layer of Example 1-1.
8k is an ATR-FTIR measurement result for the first coating layer of Examples 1-4.
8l is an ATR-FTIR measurement result for the second coating layer of Example 1-1.
8m is an ATR-FTIR measurement result for the second coating layer of Examples 1-3.
<Description of symbols for main parts of drawings>
5: base substrate 10: electronic element
15: sealing layer
20: second coating layer 30: third coating layer
100: first vaporizer 110: first transfer pipe
120: first heat source 200: first flow controller
250: first valve 300: pyrolysis machine
310: second transfer pipe 320; 2nd heat source
400: deposition chamber 500: cold trap
600: vacuum pump 700: second vaporizer
710: third transfer pipe 800: second flow controller
850: second valve 1000: coating device

이하에서 설명되는 본 창의적 사상(present inventive concept)은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고, 상세하게 설명한다. 그러나, 이는 본 창의적 사상을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 창의적 사상의 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.Since the present inventive concept described below may be applied with various transformations and may have various embodiments, specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail. However, this is not intended to limit the present creative idea to a specific embodiment, and should be understood to include all transformations, equivalents, or substitutes included in the technical scope of the present creative idea.

이하에서 사용되는 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 창의적 사상을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 이하에서, "포함한다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부품, 성분, 재료 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 나타내려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나, 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부품, 성분, 재료 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 이하에서 사용되는 "/"는 상황에 따라 "및"으로 해석될 수도 있고 "또는"으로 해석될 수도 있다.Terms used below are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present inventive idea. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. Hereinafter, terms such as “comprise” or “have” are intended to indicate that there is a feature, number, step, operation, component, part, component, material, or combination thereof described in the specification, but one or the other It should be understood that the presence or addition of the above other features, numbers, steps, operations, components, parts, components, materials, or combinations thereof is not precluded. "/" used below may be interpreted as "and" or "or" depending on the situation.

도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하거나 축소하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 명세서 전체에서 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "상에" 또는 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분의 바로 위에 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 명세서 전체에서 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 구성 요소들은 용어들에 의하여 한정되어서는 안 된다. 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 본 명세서 및 도면에 있어서 실질적으로 동일한 기능 구성을 가지는 구성요소에 대하여는 동일한 부호를 참조하는 것으로 중복 설명을 생략한다.In the drawings, the thickness is enlarged or reduced to clearly express various layers and regions. Like reference numerals have been assigned to like parts throughout the specification. Throughout the specification, when a part such as a layer, film, region, plate, etc. is said to be "on" or "above" another part, this includes not only the case directly on top of the other part, but also the case where there is another part in the middle thereof. . Throughout the specification, terms such as first and second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. Terms are used only to distinguish one component from another. Components having substantially the same functional configuration in the present specification and drawings refer to the same reference numerals, and redundant description is omitted.

본 명세서에서 "2차원 구조"는 어느 한 차원(dimension)(예를 들어 x 차원)의 크기가 다른 두 차원(예를 들어, y 및 z 차원)의 크기에 비하여 1/100 이하로 매우 작은 구조를 의미한다. 예를 들어, 금속 박막, 고분자 시트 등은 2차원 구조를 가진다.In the present specification, "two-dimensional structure" is a structure in which the size of one dimension (eg x dimension) is 1/100 or less compared to the size of the other two dimensions (eg y and z dimensions) means For example, metal thin films, polymer sheets, etc. have a two-dimensional structure.

본 명세서에서 "3차원 구조"는 세 차원(예를 들어, x, y, z 차원)의 크기가 서로 유사한 구조를 의미한다. 예를 들어, 구체(sphere), 정육면체, 정사면체 등을 3차원 구조를 가진다. 또한, 2차원 구조의 표면의 일부에 도입된 3차원 구조를 가지는 것도 가능하다. 예를 들어, 2차원 기판 상에 요철 구조를 포함하는 3차원 적인 회로가 인쇄된 인쇄 회로 기판도 3차원 구조를 가진다.In this specification, a "three-dimensional structure" means a structure in which the sizes of three dimensions (eg, x, y, and z dimensions) are similar to each other. For example, a sphere, a cube, a regular tetrahedron, and the like have a three-dimensional structure. It is also possible to have a three-dimensional structure introduced into a part of the surface of the two-dimensional structure. For example, a printed circuit board on which a three-dimensional circuit including a concave-convex structure is printed on a two-dimensional substrate also has a three-dimensional structure.

본 명세서에서 "컨포멀(conformal) 코팅층"은 기재의 위상(topology)을 따라 위상에 일치하도록(conform) 기재의 표면 상에 배치된 코팅층을 의미한다.In this specification, “conformal coating layer” means a coating layer disposed on the surface of a substrate to conform to the topology of the substrate.

이하에서 예시적인 구현예들에 따른 코팅방법 및 물품에 관하여 더욱 상세히 설명한다.Hereinafter, a coating method and an article according to exemplary embodiments will be described in more detail.

일구현예에 따른 밀봉된 전자 소자 제조방법은, 진공 인클로저(enclosure) 내에, 일면 상에 전자 소자가 배치된 베이스 기판을 제공하는 단계; 전자 소자 상에 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물 중 하나 이상을 공급하여 제1 코팅층을 배치하는 단계; 제1 코팅층 상에 파릴렌계 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 라디칼을 공급하여 제1 코팅층 상에 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층을 배치하여 전자 소자를 밀봉하는 단계;를 포함한다.A method of manufacturing a sealed electronic device according to an embodiment includes providing a base substrate on which an electronic device is disposed on one surface in a vacuum enclosure; Disposing a first coating layer on an electronic device by supplying at least one of a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and an aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group; and supplying parylene-based radicals derived from a parylene-based precursor onto the first coating layer to place a second coating layer including a parylene-based polymer on the first coating layer to seal the electronic device.

밀봉된 전자 소자 제조방법이, 전자 소자 상에 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물 중 하나 이상을 공급하여 제1 코팅층을 배치하는 단계를 포함함에 의하여, 제1 코팅층 상에 배치되는 제2 코팅층과 전자 소자의 접착력이 향상된다. 따라서, 전자 소자와 제2 코팅층의 접착력이 향상되며, 제2 코팅층이 전자 소자에 내부식성, 내산화성, 내수성, 내화학성 등을 제공한다. 제2 코팅층이 포함하는 파릴렌계 중합체는 수분 및/산소에 대한 우수한 차단성을 가진다. 제1 코팅층이 제2 코팅층과 전자소자의 접착력을 향상시키므로, 이러한 제1 코팅층 및 제2 코팅층을 포함하는 밀봉층의 차단성, 내부식성, 내산화성, 내수성, 내화학성이 향상된다. 전자 소자 상에 코팅된 제2 코팅층이 전자 소자로부터 쉽게 떨어지지 않으므로 전자 소자가 외부로 환경으로부터 장시간 동안 안정적으로 밀봉되어 보호된다. 상술한 제1 코팅층은 개질층, 중간층, 접착층 등의 다양한 명칭으로 불릴 수 있다. 상술한 제2 코팅층은 다르게는 보호층, 밀봉층, 차단층, 절연층 등의 다양한 명칭으로 불릴 수 있다.A method of manufacturing a sealed electronic device is to supply at least one of a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound containing an unsaturated functional group, and an aromatic cyclic compound containing an unsaturated functional group and a polar functional group on an electronic device to arrange a first coating layer. By including the step, adhesion between the second coating layer disposed on the first coating layer and the electronic device is improved. Therefore, adhesion between the electronic device and the second coating layer is improved, and the second coating layer provides corrosion resistance, oxidation resistance, water resistance, chemical resistance, and the like to the electronic device. The parylene-based polymer included in the second coating layer has excellent barrier properties against moisture and/or oxygen. Since the first coating layer improves adhesion between the second coating layer and the electronic device, barrier properties, corrosion resistance, oxidation resistance, water resistance, and chemical resistance of the sealing layer including the first coating layer and the second coating layer are improved. Since the second coating layer coated on the electronic device is not easily separated from the electronic device, the electronic device is stably sealed and protected from the environment for a long time. The above-described first coating layer may be called various names such as a modification layer, an intermediate layer, and an adhesive layer. The above-described second coating layer may be otherwise called various names such as a protective layer, a sealing layer, a blocking layer, and an insulating layer.

진공 인클로저(enclosure) 내에, 일면 상에 전자 소자가 배치된 베이스 기판(substrate)를 제공하는 단계에서, 진공 인클로저는 예를 들어 진공 챔버이다. 제1 코팅층 및 제2 코팅층은 베이스 기판과 전자 소자 상에 동시에 코팅될 수 있다. 따라서, 제1 코팅층 및 제2 코팅층을 포함하는 차단성 박막인 밀봉층은 전자 소자를 효과적으로 밀봉할 수 있다.In the step of providing a base substrate on one side of which electronic devices are disposed, within a vacuum enclosure, the vacuum enclosure is, for example, a vacuum chamber. The first coating layer and the second coating layer may be simultaneously coated on the base substrate and the electronic device. Accordingly, the sealing layer, which is a barrier thin film including the first coating layer and the second coating layer, can effectively seal the electronic device.

종래에는, 금속, 금속산화물, 유리, 세라믹 등의 기재와 고분자 코팅층의 결착력을 향상시키기 위하여 실란계 화합물, 예를 들어, 하기 화학식으로 표시되는 알콕시실란 화합물을 사용하였다. 하기 화학식에서 R4는 일반적인 유기 작용기이다.Conventionally, a silane-based compound, for example, an alkoxysilane compound represented by the following chemical formula, has been used to improve the binding force between a substrate such as metal, metal oxide, glass, ceramic, and the like and a polymer coating layer. In the formula below, R 4 is a common organic functional group.

Figure 112020106118799-pat00001
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그러나, 이러한 실란계 화합물을 기재 상에 결착하기 위하여, 기재의 전처리가 요구된다. 예를 들어, 금속, 유리, 세라믹 등의 기재 상에 피란하(Piranha solution, H2SO4+H2O2) 용액 처리 또는 산소 플라즈마 처리를 통하여, 기재 상에 하이드록시기(-OH group)를 도입하는 것이 요구된다. 기재 표면에 생성된 하이드록시기(-OH group)는 실란계 화합물과 반응하여 표면에 실란계 화합물이 공유결합을 통하여 결합된다. 또한, 이러한 실란계 화합물과 기재에 충분한 결착력을 제공하기 위하여 열처리에 의한 추가적인 경화가 요구된다. 열처리 등의 추가적인 경화 과정이 없을 경우 결착력이 불충분할 수 있다.However, in order to bind such a silane-based compound onto the substrate, pretreatment of the substrate is required. For example, through a Piranha solution (H 2 SO 4 +H 2 O 2 ) solution treatment or oxygen plasma treatment on a substrate such as metal, glass, ceramic, etc., a hydroxyl group (-OH group) is formed on the substrate It is required to introduce The hydroxyl group (-OH group) generated on the surface of the substrate reacts with the silane-based compound, and the silane-based compound is bonded to the surface through a covalent bond. In addition, additional curing by heat treatment is required to provide sufficient binding force between the silane-based compound and the substrate. If there is no additional curing process such as heat treatment, the binding force may be insufficient.

이러한 종래의 실란계 화합물을 포함하는 조성물을 습식 코팅하여 제1 코팅층을 형성하는 방법에 비하여, 본원발명의 밀봉 방법은 전자 소자 및 베이스 기판의 플라즈마 처리 및/또는 열처리 등의 추가적인 경화 과정이 요구되지 않으므로 보다 간단하고 효율적이다. 또한, 플라즈마 처리 및/또는 열처리를 위한 추가적인 설비가 요구되지 않는다. 또한, 전자 소자 상에 코팅 용액을 적용하지 않는 건식 방법이므로, 코팅 후 용매의 제거 등의 추가적인 단계가 불필요하므로 전체적인 공정에 소요되는 시간이 단축되며 공정도 간단해진다. 또한, 휘발되는 용매에 의한 환경 오염의 문제도 없다. 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 동일한 챔버 내에서 동일한 건식 방법으로 연속적으로 증착될 수 있으므로 제조 효율이 향상된다.Compared to the conventional method of wet coating a composition containing a silane-based compound to form a first coating layer, the sealing method of the present invention does not require an additional curing process such as plasma treatment and/or heat treatment of the electronic device and the base substrate. is simpler and more efficient. In addition, additional facilities for plasma treatment and/or heat treatment are not required. In addition, since it is a dry method that does not apply a coating solution on an electronic device, additional steps such as removal of a solvent after coating are unnecessary, so the time required for the entire process is shortened and the process is simplified. In addition, there is no problem of environmental contamination by volatilized solvents. Since the first coating layer and the second coating layer can be successively deposited in the same chamber in the same dry method, manufacturing efficiency is improved.

전자 소자 및 베이스 기판 상에 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물 중 하나 이상을 공급하여 제1 코팅층을 배치하는 단계에서, 상기 비불소계 아크릴계 화합물의 산소 원자에 연결된 말단 치환기가 5개 이하의 탄소 원자를 포함하며, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물은 예를 들어 5원환(5 membered ring) 또는 6원환(6 membered ring)이며, 방향족 헤테로고리 화합물이 질소, 산소, 및 황 중에서 선택된 하나 이상의 헤테로 원자를 포함하며, 방향족 헤테로 고리 화합물이 포함하는 헤테로 원자가 1 내지 4개이며, 방향족 고리 화합물이 헤테로 원자를 포함하지 않으며, 불포화 작용기가 이중결합 또는 삼중결합을 포함하는 작용기이며, 극성 작용기가 산소 또는 황 원자를 포함하는 작용기일 수 있다.In the step of disposing the first coating layer by supplying at least one of a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and an aromatic ring compound having a polar functional group on the electronic device and the base substrate, the non-fluorine-based acrylic compound The terminal substituent connected to the oxygen atom of contains 5 or less carbon atoms, and an aromatic heterocyclic compound containing an unsaturated functional group and an aromatic ring compound containing an unsaturated functional group and a polar functional group are, for example, a 5 membered ring Or a 6-membered ring, the aromatic heterocyclic compound includes at least one hetero atom selected from nitrogen, oxygen, and sulfur, and the aromatic heterocyclic compound includes 1 to 4 hetero atoms, and the aromatic ring compound It does not contain a hetero atom, the unsaturated functional group may be a functional group containing a double bond or a triple bond, and the polar functional group may be a functional group containing an oxygen or sulfur atom.

비불소계 아크릴계 화합물은 분자 내에 불소 원자를 포함하지 않으며, 에스테르 결합(-C(=O)O-)의 말단 산소에 결합된 치환기가 5개 이하의 탄소를 포함할 수 있다. 분자 내에 불소 원자를 포함하면 전자 소자 및 베이스 기판과의 접착력이 저하될 수 있다. 상기 말단 산소 원자에 결합된 탄소수가 6개 이상으로 지나치게 증가하면 전자 소자 및 베이스 기판과의 접착력이 저하될 수 있다.The non-fluorine-based acrylic compound does not contain a fluorine atom in its molecule, and may contain 5 or less carbon atoms in a substituent bonded to the terminal oxygen of the ester bond (-C(=O)O-). If the fluorine atom is included in the molecule, adhesion between the electronic device and the base substrate may be deteriorated. If the number of carbon atoms bonded to the terminal oxygen atom is excessively increased to 6 or more, adhesion between the electronic device and the base substrate may deteriorate.

불포화 작용기를 포함하는 헤테로고리 화합물은 예를 들어 하기 화학식 1 내지 9로 표시되는 화합물이며, 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물이 하기 화학식 10 내지 11로 표시되는 화합물일 수 있다:The heterocyclic compound containing an unsaturated functional group may be, for example, a compound represented by Formulas 1 to 9 below, and an aromatic compound containing an unsaturated functional group and a polar functional group may be a compound represented by Formulas 10 to 11 below:

<화학식 1> <화학식 2> <화학식 3><Formula 1> <Formula 2> <Formula 3>

Figure 112020106118799-pat00002
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<화학식 4> <화학식 5> <화학식 7><Formula 4> <Formula 5> <Formula 7>

Figure 112020106118799-pat00005
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<화학식 7> <화학식 8> <화학식 9><Formula 7> <Formula 8> <Formula 9>

Figure 112020106118799-pat00008
Figure 112020106118799-pat00009
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<화학식 10> <화학식 11><Formula 10> <Formula 11>

Figure 112020106118799-pat00011
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상기 식들에서, R1 내지 R14는 서로 독립적으로 비공유 전자, 수소, 탄소수 1 내지 5의 알킬기, 비닐기(vinyl), 알릴기(allyl), 또는 프로팔질기(propargyl) 중에서 선택되며, R1 내지 R4 중에서 적어도 하나는 비닐기, 알릴기, 또는 프로팔질기이며, R6, R7 및 R9 중에서 적어도 하나는 비닐기, 알릴기, 또는 프로팔질기이며, R10 내지 R14 중에서 적어도 하나는 비닐기, 알릴기, 또는 프로팔질기이며, R15 내지 R25는 서로 독립적으로 수소, 탄소수 1 내지 5의 알킬기, 하이드록시기, 티올기, 비닐기(vinyl), 알릴기(allyl), 또는 프로팔질기(propargyl) 중에서 선택되며, R15 내지 R20 중에서 적어도 하나는 비닐기, 알릴기, 또는 프로팔질기이며, 적어도 다른 하나는 하이드록시기 또는 티올기이며, R21 내지 R26 중에서 적어도 하나는 비닐기, 알릴기, 또는 프로팔질기이며, 적어도 다른 하나는 하이드록시기 또는 티올기이다. 화학식 1 내지 화학식 11로 표시되는 화합물은 예를 들어 비닐기를 포함할 수 있다. 화학식 10 내지 11로 표시되는 화합물은 비닐기 외에 하이드록시기 또는 티올기를 더 포함할 수 있다. 화학식 10 내지 11로 표시되는 화합물이 포함하는 하이드록시기는 예를 들어 1개 또는 2개일 수 있다. 화학식 10 내지 11로 표시되는 화합물이 2개의 하이드록시기 또는 티올기를 포함함에 의하여 기재 상에 보다 견고하게 결착될 수 있다.In the above formulas, R 1 to R 14 are each independently selected from unshared electrons, hydrogen, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a vinyl group, an allyl group, or a propargyl group, and R 1 to R 4 is a vinyl group, an allyl group, or a propalyl group, at least one of R 6 , R 7 and R 9 is a vinyl group, an allyl group, or a propalyl group, and at least one of R 10 to R 14 is One is a vinyl group, an allyl group, or a propalyl group, R 15 to R 25 are each independently hydrogen, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a hydroxyl group, a thiol group, a vinyl group (vinyl), an allyl group (allyl) , Or is selected from a propargyl group, at least one of R 15 to R 20 is a vinyl group, an allyl group, or a propargyl group, and at least the other is a hydroxy group or a thiol group, and R 21 to R 26 At least one of them is a vinyl group, an allyl group, or a propalyl group, and at least the other is a hydroxyl group or a thiol group. Compounds represented by Formulas 1 to 11 may include, for example, a vinyl group. Compounds represented by Chemical Formulas 10 to 11 may further include a hydroxy group or a thiol group in addition to a vinyl group. The number of hydroxyl groups included in the compounds represented by Chemical Formulas 10 and 11 may be, for example, one or two. Compounds represented by Chemical Formulas 10 to 11 may be more firmly bound to the substrate by including two hydroxy groups or thiol groups.

불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물은 예를 들어 비닐기를 가지는 아졸계 화합물, 비닐기를 가지는 피리딘계 화합물 등일 수 있다. 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물은 예를 들어 4-비닐피리딘(4-vinyl pyridine), 2-비닐피리딘(2-vinyl pyridine), 3-알릴피리딘(3-allypyridine), 1-비닐이미다졸(1-vinylimidazole), 2-메틸-1-비닐이미다졸(2-methyl-1-vinylimidazole) 일 수 있다.The aromatic heterocyclic compound including an unsaturated functional group may be, for example, an azole-based compound having a vinyl group, a pyridine-based compound having a vinyl group, and the like. Aromatic heterocyclic compounds containing an unsaturated functional group are, for example, 4-vinylpyridine, 2-vinylpyridine, 3-allypyridine, and 1-vinylimide. sol (1-vinylimidazole) or 2-methyl-1-vinylimidazole (2-methyl-1-vinylimidazole).

불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물은 예를 들어 비닐기 및 하이드록시기를 가지는 페닐계 화합물, 비닐기 및 하이드록시기를 가지는 사이클로펜타디에닐계 화합물, 비닐기 및 티올기를 가지는 페닐계 화합물, 비닐기 및 티올기를 가지는 사이클로펜타디에닐계 화합물 등일 수 있다. 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물은 예를 들어 1,2-디하이록시-4-비닐벤젠, 1,2-디티올-4-비닐벤젠, 1,2-디하이록시-4-비닐 사이클로펜타디엔, 1,2-디티올-4-비닐사이클로펜타디엔일 수 있다.The aromatic ring compound containing an unsaturated functional group and a polar functional group is, for example, a phenyl-based compound having a vinyl group and a hydroxyl group, a cyclopentadienyl-based compound having a vinyl group and a hydroxyl group, a phenyl-based compound having a vinyl group and a thiol group, and vinyl and a cyclopentadienyl-based compound having a thiol group. An aromatic ring compound containing an unsaturated functional group and a polar functional group is, for example, 1,2-dihydroxy-4-vinylbenzene, 1,2-dithiol-4-vinylbenzene, 1,2-dihydroxy-4- vinyl cyclopentadiene, 1,2-dithiol-4-vinylcyclopentadiene.

비불소계 아크릴계 화합물은 예를 들어 하기 화학식 20으로 표시되는 화합물일 수 있다:The non-fluorine-based acrylic compound may be, for example, a compound represented by Formula 20 below:

<화학식 20><Formula 20>

Figure 112020106118799-pat00013
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상기 식에서, R27은 수소, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 하이드록시메틸기, 또는 2-하이드록시에틸기이며, R28은 수소 또는 메틸기이다.In the formula, R 27 is hydrogen, methyl, ethyl, propyl, butyl, hydroxymethyl, or 2-hydroxyethyl, and R 28 is hydrogen or methyl.

비불소계 아크릴계 화합물은 예를 들어, (2-하이드록시에틸)메타크릴레이드, (2-하이드록시에틸)아크릴레이트 등일 수 있다.The non-fluorine-based acrylic compound may be, for example, (2-hydroxyethyl) methacrylate or (2-hydroxyethyl) acrylate.

제1 코팅층은, 전자 소자 및 베이스 기판 상에 화학 흡착된 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물의 자기 조립층(self assembled layer)일 수 있다. 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물이 전자 소자 및 베이스 기판 상에 흡착 및/또는 응축되어 전자 소자 및 베이스 기판과 화학 결합을 형성하여 화학 흡착될 수 있다. 예를 들어, 도 1에서 보여지는 바와 같이 1-비닐이미다졸의 질소 원자가 전자 소자 및 베이스 기판의 표면에 화학 결합을 형성함에 의하여 화학 흡착될 수 있다. 또한, 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물이 전자 소자 및 베이스 기판 상에 자기 조립되어 단분자층을 형성할 수 있다. 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물이 복수의 층을 형성하는 것도 가능하다. 제1 코팅층은 예를 들어 고분자를 포함하지 않고, 단분자 화합물로 이루어질 수 있다. 제1 코팅층은 예를 들어 CVD(chemical vapor deposition)에 의하여 얻어질 수 있다.The first coating layer is a self-assembled layer of a non-fluorine-based acrylic compound chemically adsorbed on the electronic device and the base substrate, an aromatic heterocyclic compound including an unsaturated functional group, and/or an aromatic cyclic compound including an unsaturated functional group and a polar functional group. layer). A non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or an aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group are adsorbed and/or condensed on the electronic device and the base substrate to chemically bond with the electronic device and the base substrate. It can be chemisorbed by forming. For example, as shown in FIG. 1 , nitrogen atoms of 1-vinylimidazole may be chemically adsorbed by forming chemical bonds on the surface of the electronic device and the base substrate. In addition, a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound including an unsaturated functional group, and/or an aromatic cyclic compound including an unsaturated functional group and a polar functional group may be self-assembled on the electronic device and the base substrate to form a monolayer. It is also possible to form a plurality of layers of a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound containing an unsaturated functional group, and/or an aromatic cyclic compound containing an unsaturated functional group and a polar functional group. The first coating layer may be formed of, for example, a monomolecular compound without including a polymer. The first coating layer may be obtained by, for example, chemical vapor deposition (CVD).

제1 코팅층 상에 파릴렌계 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 라디칼을 공급하여 제1 코팅층 상에 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층을 배치하는 단계에서, 제2 코팅층은, 제1 코팅층이 포함하는 불포화 작용기에 그라프트된(grafted) 파릴렌계 중합체를 포함할 수 있다. 예를 들어, 도 1을 참조하면, 제1 코팅층을 형성하는 방향족 헤테로고리 화합물이 포함하는 불포화 작용기에 파릴렌계 전구체에서 유도되는 라디칼이 반응함에 의하여 제1 코팅층이 포함하는 불포화 작용기에 파릴렌계 중합체가 그라프트되어 제2 코팅층을 형성할 수 있다. 제1 코팅층이 포함하는 불포화 작용기와 파릴렌계 전구체에서 유도되는 라디칼이 반응하여 파릴렌계 중합체가 형성되므로, 이러한 그라프트 반응을 위한 별도의 촉매 또는 개시제가 사용되지 않을 수 있다. 따라서, 제2 코팅층의 형성이 보다 간단하게 진행될 수 있다. 전자 소자 및 베이스 기판 상에 화학 흡착된 제1 코팅층이 배치됨에 이러한 제2 코팅층과 제1 코팅층의 결합이 보다 용이하고 강하게 형성될 수 있다. 결과적으로, 전자 소자 및 베이스 기판 상에 제2 코팅층이 보다 강하게 결착되고 결과적으로 전자 소자가 보다 견고하게 밀봉될 수 있다. 제2 코팅층은 예를 들어 CVD(chemical vapor deposition)에 의하여 얻어질 수 있다. 제1 코팅층 및 제2 코팅층은 예를 들어 컨포멀 코팅층(conformal coating layer)일 수 있다. 따라서, 제1 코팅층 및 제2 코팅층은 3차원 구조를 가지는 전자 소자 및 베이스 기판 상에 균일한 코팅층을 형성할 수 있다.In the step of disposing a second coating layer containing a parylene-based polymer on the first coating layer by supplying parylene-based radicals derived from a parylene-based precursor onto the first coating layer, the second coating layer comprises an unsaturated functional group included in the first coating layer. It may contain a parylene-based polymer grafted on (grafted). For example, referring to FIG. 1, a parylene-based polymer is formed on an unsaturated functional group included in the first coating layer by reacting a radical derived from a parylene-based precursor with an unsaturated functional group included in an aromatic heterocyclic compound forming the first coating layer. It may be grafted to form a second coating layer. Since the unsaturated functional group included in the first coating layer reacts with radicals derived from the parylene-based precursor to form a parylene-based polymer, a separate catalyst or initiator for the graft reaction may not be used. Accordingly, the formation of the second coating layer can proceed more simply. Since the chemically adsorbed first coating layer is disposed on the electronic device and the base substrate, the second coating layer and the first coating layer may be bonded more easily and strongly. As a result, the second coating layer is more strongly bound on the electronic element and the base substrate, and as a result, the electronic element can be more firmly sealed. The second coating layer can be obtained by, for example, chemical vapor deposition (CVD). The first coating layer and the second coating layer may be, for example, conformal coating layers. Accordingly, the first coating layer and the second coating layer may form a uniform coating layer on the electronic device and the base substrate having a three-dimensional structure.

본 창의적 사상의 이해를 돕기 위하여 파릴렌계 중합체가 제2 코팅층이 형성되는 메커니즘 및 제2 코팅층에 의하여 얻어지는 효과를 보다 구체적으로 설명하나 이는 본 창의적 사상의 이해를 돕기 위한 것으로 어떠한 형태로도 본 창의적 사상의 범위를 제한하는 것이 아니다.In order to help the understanding of this creative idea, the mechanism by which the parylene-based polymer forms the second coating layer and the effect obtained by the second coating layer are explained in more detail, but this is to help the understanding of this creative idea, and this creative idea in any form does not limit the scope of

파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층은, 예를 들어 하기 화학식 12 내지 19로 표시되는 파릴렌계 다이머(Dimer) 분말로부터 화학 증착법(CVD: Chemical Vapor Deposition)에 의하여 중합체 형태의 박막을 형성함에 의하여 얻어진다. 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층은 분말 상태의 파릴렌계 다이머가 열에 의하여 증발되고, 증발된 파릴렌계 다이머가 코팅 장치의 열분해부를 통과하면서 열분해되어 파릴렌계 단량체로 변환되고, 파릴렌계 단량체(monomer)가 진공 챔버 내부로 확산되기 전 냉각되며, 냉각된 단량체가 진공 챔버 내에서 중합되어 전자 소자 및 베이스 기판 표면 상에 필름 형태의 중합체층을 형성함에 의하여 얻어진다. 파릴렌계 단량체의 중합 반응은 매우 낮은 압력과 30℃ 이하의 상온 상태에서 진행되기 때문에, 전자 소자 및 베이스 기판 표면에 열적 스트레스를 발생시키지 않는다. 또한, 파릴렌계 단량체를 이용한 코팅은 건식 코팅이므로, 습식 코팅과 달리, 전자 소자 및 베이스 기판 상의 미세한 틈새에도 코팅이 균일하게 이루어지며, 뾰족한 침부, 구멍, 모서리, 모퉁이, 미세한 구멍 등 전자 소자 및 베이스 기판의 형상에 관계없이 기재 상에 균일한 컨포멀 코팅막의 형성이 가능하다. 또한, 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층에 핀홀 및/또는 기공이 발생하지 않기 때문에, 유기 화합물 전자 소자 및 베이스 기판 외에 무기 화합물 전자 소자 및 베이스 기판 상에도 우수한 보호막 특성을 제공할 수 있다. 또한, 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층은 전자 소자 및 베이스 기판을 완전히 밀봉할 수 있고 수분 및/또는 산소 흡수가 거의 없어 내수성이 우수하다. 따라서, 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층으로 코팅된 전자 소자 및 베이스 기판의 내수성이 향상된다. 또한, 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층은 산, 알칼리 또는 솔벤트 등의 대부분의 화학 약품에 거의 영향을 받지 않으므로 내화학성이 우수하다. 또한, 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층은 광투과율이 뛰어나 코팅 전. 후 전자 소자 및 베이스 기판의 표면 미관의 변화가 없고 광투과도의 저하도 억제된다. 또한, 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층에 의하여 코팅된 전자 소자 및 베이스 기판의 표면 윤활성이 향상된다. 따라서 코팅된 전자 소자 및 베이스 기판 상에 미세 먼지나 점성을 지닌 기름 성분 등의 흡착이 거의 없다. 결과적으로, 코팅된 전자 소자 및 베이스 기판의 내오염성이 향상된다.The second coating layer containing the parylene-based polymer is obtained by forming a polymer-type thin film by chemical vapor deposition (CVD) from parylene-based dimer powder represented by the following Chemical Formulas 12 to 19, for example. lose In the second coating layer containing the parylene-based polymer, the parylene-based dimer in powder form is evaporated by heat, and the evaporated parylene-based dimer is thermally decomposed while passing through the thermal decomposition unit of the coating device to be converted into parylene-based monomers, and the parylene-based monomer is cooled before being diffused into the vacuum chamber, and the cooled monomer is polymerized in the vacuum chamber to form a polymer layer in the form of a film on the surface of the electronic device and the base substrate. Since the polymerization reaction of the parylene-based monomer proceeds at a very low pressure and room temperature of 30° C. or less, thermal stress is not generated on the surface of the electronic device and the base substrate. In addition, since the coating using the parylene-based monomer is a dry coating, unlike the wet coating, the coating is uniformly applied even in the minute gaps on the electronic element and base substrate, and the electronic element and base such as sharp needles, holes, corners, corners, and minute holes Regardless of the shape of the substrate, it is possible to form a uniform conformal coating film on the substrate. In addition, since pinholes and/or pores do not occur in the second coating layer including the parylene-based polymer, excellent protective film properties can be provided on the inorganic compound electronic device and the base substrate as well as the organic compound electronic device and the base substrate. In addition, the second coating layer comprising a parylene-based polymer can completely seal the electronic device and the base substrate and has excellent water resistance because it absorbs little moisture and/or oxygen. Accordingly, the water resistance of the electronic device and the base substrate coated with the second coating layer containing the parylene-based polymer is improved. In addition, the second coating layer including the parylene-based polymer has excellent chemical resistance because it is hardly affected by most chemicals such as acids, alkalis, or solvents. In addition, the second coating layer including the parylene-based polymer has excellent light transmittance before coating. After that, there is no change in the appearance of the surface of the electronic device and the base substrate, and the decrease in light transmittance is suppressed. In addition, surface lubricity of the electronic device and the base substrate coated with the second coating layer containing the parylene-based polymer is improved. Therefore, there is little adsorption of fine dust or viscous oil components on the coated electronic device and base substrate. As a result, the contamination resistance of the coated electronic device and the base substrate is improved.

파릴렌 전구체는 예를 들어 하기 화학식 12 내지 19로 표시되는 이량체(dimer) 중에서 선택되는 하나 이상을 포함할 수 있다:The parylene precursor may include, for example, at least one selected from dimers represented by Chemical Formulas 12 to 19:

<화학식 12> <화학식 13> <화학식 14> <화학식 15><Formula 12> <Formula 13> <Formula 14> <Formula 15>

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<화학식 16> <화학식 17> <화학식 18> <화학식 19><Formula 16> <Formula 17> <Formula 18> <Formula 19>

Figure 112020106118799-pat00018
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제2 코팅층이 포함하는 파릴렌계 중합체는 파릴렌 N, 파릴렌 C, 파릴렌 D, 파릴렌 AF-4, 파릴렌 HT, 파릴렌 VT-4, 파릴렌 CF, 파릴렌 A, 파릴렌 AM, 파릴렌 H, 파릴렌 SR, 파릴렌 HR, 및 파릴렌 NR 중에서 선택된 하나 이상을 포함할 수 있다. 파릴렌계 중합체가 이러한 파릴렌계 화합물을 포함함에 의하여 내수성이 향상될 수 있다. 파릴렌계 중합체는 예를 들어 파릴렌 N을 포함할 수 있다.Parylene-based polymers included in the second coating layer include Parylene N, Parylene C, Parylene D, Parylene AF-4, Parylene HT, Parylene VT-4, Parylene CF, Parylene A, Parylene AM, It may include at least one selected from Parylene H, Parylene SR, Parylene HR, and Parylene NR. Water resistance may be improved by including the parylene-based compound in the parylene-based polymer. Parylene-based polymers may include, for example, Parylene N.

전자 소자 및 베이스 기판의 표면 상에 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물을 공급하기 위하여, 불포화 작용기를 포함하는 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물의 기화 온도는 예를 들어 25~150℃, 30~140℃, 40~130℃, 50~120℃, 60~110℃, 또는 70~100℃일 수 있으나, 반드시 이러한 범위로 한정되지 않으며 기화시키려는 화합물의 비점(boiling point)에 따라 조절될 수 있다. In order to supply a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound containing an unsaturated functional group, and/or an aromatic cyclic compound containing an unsaturated functional group and a polar functional group on the surface of an electronic device and a base substrate, a heterocyclic compound containing an unsaturated functional group And / or the vaporization temperature of the aromatic ring compound containing an unsaturated functional group and a polar functional group is, for example, 25 ~ 150 ℃, 30 ~ 140 ℃, 40 ~ 130 ℃, 50 ~ 120 ℃, 60 ~ 110 ℃, or 70 ~ 100 ℃ It may be ℃, but it is not necessarily limited to this range and may be adjusted according to the boiling point (boiling point) of the compound to be vaporized.

제1 코팅층 상에 파릴렌계 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 라디칼을 공급하기 위하여, 파릴렌계 전구체의 기화 온도는 예를 들어 100~200℃, 110~190℃, 120~180℃, 또는 130~170℃이며, 파릴렌 전구체의 열분해 온도는 예를 들어 500~750℃, 550~750℃, 550~700℃, 600~700℃, 650~700℃, 660~700℃, 또는 670~690℃일 수 있다. 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 도입되는 동안 전자 소자 및 베이스 기판의 온도는 20 내지 40℃, 20 내지 35℃, 또는 20 내지 30℃일 수 있다. 이러한 범위의 기화 온도, 열분해 온도 및/또는 전자 소자 및 베이스 기판 온도를 가짐에 의하여 코팅층의 내수성, 접착성이 향상되고, 더욱 균일하고 견고한 코팅층이 도입될 수 있다.In order to supply parylene-based radicals derived from the parylene-based precursor on the first coating layer, the vaporization temperature of the parylene-based precursor is, for example, 100 to 200 ° C, 110 to 190 ° C, 120 to 180 ° C, or 130 to 170 ° C, and , The thermal decomposition temperature of the parylene precursor may be, for example, 500 to 750 ° C, 550 to 750 ° C, 550 to 700 ° C, 600 to 700 ° C, 650 to 700 ° C, 660 to 700 ° C, or 670 to 690 ° C. While the first coating layer and the second coating layer are introduced, the temperature of the electronic device and the base substrate may be 20 to 40°C, 20 to 35°C, or 20 to 30°C. By having the vaporization temperature, the thermal decomposition temperature, and/or the temperature of the electronic device and the base substrate within these ranges, water resistance and adhesion of the coating layer may be improved, and a more uniform and robust coating layer may be introduced.

제1 코팅층의 두께는 예를 들어 100nm 이하, 90nm 이하, 80nm 이하, 70nm 이하, 60nm 이하, 50nm 이하, 40nm 이하, 30nm 이하, 20nm 이하, 또는 10nm 이하일 수 있다. 제1 코팅층의 두께는 예를 들어 0.1nm 내지 100nm, 0.5nm 내지 90nm, 1nm 내지 80nm, 1nm 내지 70nm, 1nm 내지 60nm, 1nm 내지 50nm, 1nm 내지 40nm, 1nm 내지 30nm, 1nm 내지 20nm, 또는 1nm 내지 10nm일 수 있다. 제1 코팅층이 이러한 범위의 두께를 가짐에 의하여 제2 코팅층의 결착력이 더욱 향상될 수 있다.The thickness of the first coating layer may be, for example, 100 nm or less, 90 nm or less, 80 nm or less, 70 nm or less, 60 nm or less, 50 nm or less, 40 nm or less, 30 nm or less, 20 nm or less, or 10 nm or less. The thickness of the first coating layer is, for example, 0.1 nm to 100 nm, 0.5 nm to 90 nm, 1 nm to 80 nm, 1 nm to 70 nm, 1 nm to 60 nm, 1 nm to 50 nm, 1 nm to 40 nm, 1 nm to 30 nm, 1 nm to 20 nm, or 1 nm to 1 nm. It may be 10 nm. When the first coating layer has a thickness within this range, binding force of the second coating layer may be further improved.

제2 코팅층의 두께는 10nm 내지 500㎛, 10nm 내지 200㎛, 10nm 내지 100㎛, 10nm 내지 50㎛, 10nm 내지 20㎛, 10nm 내지 15㎛, 10nm 내지 10㎛, 10nm 내지 5㎛, 10nm 내지 1㎛, 10nm 내지 500nm, 10nm 내지 300nm, 10nm 내지 200nm, 또는 10nm 내지 100nm일 수 있다. 제2 코팅층이 이러한 범위의 두께를 가짐에 의하여 제2 코팅층의 내수성, 접착성이 향상되고, 더욱 균일한 코팅층이 도입될 수 있다. 제2 코팅층의 두께가 지나치게 얇으면 코팅 효과가 미미할 수 있다. 코팅층의 두께가 지나치게 두꺼우면 균일한 코팅층이 얻어지지 않을 수 있다.The thickness of the second coating layer is 10 nm to 500 μm, 10 nm to 200 μm, 10 nm to 100 μm, 10 nm to 50 μm, 10 nm to 20 μm, 10 nm to 15 μm, 10 nm to 10 μm, 10 nm to 5 μm, and 10 nm to 1 μm. , 10 nm to 500 nm, 10 nm to 300 nm, 10 nm to 200 nm, or 10 nm to 100 nm. When the second coating layer has a thickness within this range, water resistance and adhesiveness of the second coating layer may be improved, and a more uniform coating layer may be introduced. If the thickness of the second coating layer is too thin, the coating effect may be insignificant. If the thickness of the coating layer is too thick, a uniform coating layer may not be obtained.

베이스 기판의 재료는 예를 들어, 금속, 준금속, 금속산화물, 금속질화물, 유리, 유무기 복합체, 고분자, 섬유, 종이, 목재 등일 수 있다. 베이스 기판은 특히 실리콘(Si) 기판, 실리카(SiO2) 기판, 카본 기판, 흑연 기판, 금속 기판, 고분자 기판 등일 수 있다. 베이스 기판은 예를 들어 2차원 구조를 가지는 물품, 물품 등일 수 있다. 베이스 기판은 예를 들어 폴리카보네이트 기판, 폴리에틸렌테레프탈레이트 기판, 유리 기판, ITO 기판(Indium Tin Oxide가 코팅된 유리 기판) 등일 수 있다. 금속은 예를 들어 원소주기율표 1족 내지 16족에 속하는 금속 원소를 포함할 수 있다. 금속은 예를 들어, 구리(Cu), 알루미늄(Al), 스테인레스 스틸, 니켈(Ni), 아연(Zn), 철(Ti), 티탄(Ti), 납(Pb), 코발트(Co), 크롬(Cr), 텅스텐(W), 마그네슘(Mg), 금(Au), 은(Ag), 백금(Pt), 또는 이들의 합금 등일 수 있다. The material of the base substrate may be, for example, metal, metalloid, metal oxide, metal nitride, glass, organic/inorganic composite, polymer, fiber, paper, or wood. The base substrate may be a silicon (Si) substrate, a silica (SiO 2 ) substrate, a carbon substrate, a graphite substrate, a metal substrate, or a polymer substrate. The base substrate may be, for example, an article or article having a two-dimensional structure. The base substrate may be, for example, a polycarbonate substrate, a polyethylene terephthalate substrate, a glass substrate, an ITO substrate (a glass substrate coated with indium tin oxide), and the like. The metal may include, for example, a metal element belonging to Groups 1 to 16 of the Periodic Table of Elements. Metals include, for example, copper (Cu), aluminum (Al), stainless steel, nickel (Ni), zinc (Zn), iron (Ti), titanium (Ti), lead (Pb), cobalt (Co), chromium (Cr), tungsten (W), magnesium (Mg), gold (Au), silver (Ag), platinum (Pt), or alloys thereof.

베이스 기판은 유연성(flexible) 베이스 기판 또는 비유연성(non-flexible) 베이스 기판일 수 있다. 유연성 베이스 기판은 휘어지거나 구부러질 수 있는 베이스 기판을 의미한다. 유연성 베이스 기판의 재료는 유연성을 가지는 것이라면 한정되지 않는다. 비유연성 베이스 기판은 실질적으로 휘어지거나 구부러지지 않는 베이스 기판을 의미한다. 유연성 베이스 기판의 두께가 증가하면 비유연성 베이스 기판이 될 수 있으며, 비유연성 베이스 기판의 두께가 감소하면 유연성 베이스 기판이 될 수 있다. 금속, 준금속, 고분자, 종이, 섬유 등은 유연성 베이스 기판이다. 유리 기판은 얇은 경우 유연성 기판이다.The base substrate may be a flexible base substrate or a non-flexible base substrate. The flexible base substrate refers to a base substrate that can be bent or bent. The material of the flexible base substrate is not limited as long as it has flexibility. The non-flexible base substrate refers to a base substrate that is substantially not bent or bent. If the thickness of the flexible base substrate increases, it may become a non-flexible base substrate, and if the thickness of the non-flexible base substrate decreases, it may become a flexible base substrate. Metals, metalloids, polymers, paper, fibers, etc. are flexible base substrates. A glass substrate is a flexible substrate if it is thin.

전자 소자의 표면 재료는 베이스 기판의 재료와 동일할 수 있다. 예를 들어, 전자 소자의 표면 재료는 실버(Ag) 등의 금속 전극 등일 수 있다. 다르게는, 전자 소자는, 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 도입되기 전에, 표면에 보호층이 미리 코팅될 수 있다. 이러한 보호층의 재료는 상술한 베이스 기판과 동일할 수 있다. 보호층 재료는 예를 들어 금속 박막, 유무기복합체 박막, 고분자 박막 등일 수 있다.A surface material of the electronic device may be the same as that of the base substrate. For example, the surface material of the electronic device may be a metal electrode such as silver (Ag). Alternatively, the surface of the electronic device may be pre-coated with a protective layer before the first coating layer and the second coating layer are applied. The material of this protective layer may be the same as that of the above-described base substrate. The protective layer material may be, for example, a metal thin film, an organic-inorganic composite thin film, or a polymer thin film.

전자 소자의 표면 재료는 예를 들어 폴리카보네이트, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 유리, ITO(Indium Tin Oxide) 등일 수 있다.The surface material of the electronic device may be, for example, polycarbonate, polyethylene terephthalate, glass, or indium tin oxide (ITO).

전자 소자는 유연성을 가질 수 있다. 따라서, 전자 소자는 휘어지거나 구부러질 수 있다. 예를 들어, 유연성 전극 사이에 배치된 유기층을 포함하는 유기전계발광소자는 휘어질 수 있다.Electronic devices may have flexibility. Thus, electronic elements can be bent or bent. For example, an organic light emitting device including an organic layer disposed between flexible electrodes may be bendable.

도 7을 참조하여 일구현예에 따른 코팅방법에 대하여 보다 구체적으로 설명한다.Referring to Figure 7 will be described in more detail with respect to the coating method according to one embodiment.

먼저 코팅 장치가 준비된다.First, a coating device is prepared.

코팅 장치(1000)는, 파릴렌 전구체 분말을 내부에 수용하며 기화시키는 제1 기화기(100), 제1 기화기(100)에 연통된 제1 유량 제어기(200), 제1 유량 제어기(200)에 연통된 열분해기(300), 열분해기(300)를 통과한 파릴렌 유리 라디칼이 기판에 증착되는 증착 챔버(400), 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물을 내부에 수용하며 기화시키는 제2 기화기(700), 제2 기화기(700)와 연통된 제2 유량 제어기(800), 증착 시 발생한 가스 등을 배출시켜 냉각시키는 냉각트랩(500), 및 증착 챔버(400) 내부를 진공상태로 유지시키는 진공펌프(600)를 포함한다. 제1 유량 제어기(200)와 열분해기(300) 사이에 개폐 가능한 제1 밸브(250)가 배치되고, 제2 유량 제어기(800)와 증착 챔버(300) 사이에 개폐 가능한 제2 밸브(850)가 배치된다.The coating device 1000 includes a first vaporizer 100 that accommodates and vaporizes the parylene precursor powder, a first flow controller 200 connected to the first vaporizer 100, and a first flow controller 200. A thermal decomposition device 300 connected thereto, a deposition chamber 400 in which parylene glass radicals passing through the thermal decomposition device 300 are deposited on a substrate, a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group and/or an unsaturated functional group, and A second vaporizer 700 for accommodating and vaporizing an aromatic ring compound containing a polar functional group therein, a second flow rate controller 800 communicating with the second vaporizer 700, cooling for cooling by discharging gas generated during deposition, etc. A trap 500 and a vacuum pump 600 for maintaining a vacuum inside the deposition chamber 400 are included. A first valve 250 capable of opening and closing is disposed between the first flow controller 200 and the thermal decomposer 300, and a second valve 850 capable of opening and closing between the second flow controller 800 and the deposition chamber 300 is placed

제2 기화기(700)는 내부로 공급된 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물을 가열하여 기화된 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물을 생성한다. 예를 들어, 제2 기화기(700)에 연결된 소정의 공간에서 제2 기화기(700) 내부로 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물을 도입하는 것이 가능하다. 제2 기화기(700)는 좌우로 긴 원통형상의 내부 공간이 형성된 제3 이송관(710)이 구비되어 내부공간을 따라 이동할 수 있도록 한다. 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물이 제2 기화기(700)에서 약 25~150℃의 온도로 가열되어 기화된 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물이 단분자 형태로 제3 이송관(710)을 따라 증착 챔버(400)에 공급된다.The second vaporizer 700 heats the non-fluorine-based acrylic compound supplied to the inside, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or an aromatic ring compound including an unsaturated functional group and a polar functional group, and vaporizes the non-fluorine-based acrylic compound and the unsaturated functional group. Produces an aromatic heterocyclic compound having and/or an aromatic cyclic compound containing an unsaturated functional group and a polar functional group. For example, in a predetermined space connected to the second vaporizer 700, a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or an aromatic ring including an unsaturated functional group and a polar functional group are introduced into the second vaporizer 700. It is possible to introduce compounds. The second vaporizer 700 is provided with a third transfer pipe 710 formed with a long cylindrical inner space on the left and right to move along the inner space. A non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or an aromatic cyclic compound including an unsaturated functional group and a polar functional group are heated and vaporized at a temperature of about 25 to 150° C. in the second vaporizer 700. The compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or an aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group is supplied to the deposition chamber 400 along the third transfer pipe 710 in the form of a single molecule.

제1 기화기(100)는 내부로 공급된 파릴렌 전구체 분말을 가열하여 기화된 파릴렌 전구체를 생성한다. 제1 기화기(100)에는 파릴렌 분말을 수용한 용기(미도시)가 배치될 수 있다. 다르게는, 제1 기화기(100)에 연결된 소정의 공간에서 제1 기화기(100) 내부로 파릴렌 전구체 분말을 도입하는 것이 가능하다. 제1 기화기(100)는 좌우로 긴 원통형상의 내부 공간이 형성된 제1 이송관(110)이 구비되며 이 공간의 외측면으로 제1 열원(120)을 배치하여 내부에 수용된 파릴렌 분말을 기화시켜 내부 공간을 따라 이동할 수 있도록 한다. 제1 기화기(100) 외측면의 열원(120)은 열선코일 등을 이용할 수 있다. 파릴렌 전구체 분말이 제1 기화기(100)에서 약 100~200℃의 온도로 가열되어 기화된 파릴렌 전구체 형태로 제1 이송관(110)을 따라 열분해기(300) 쪽으로 이동한다.The first vaporizer 100 generates a vaporized parylene precursor by heating the parylene precursor powder supplied therein. A container (not shown) containing parylene powder may be disposed in the first vaporizer 100 . Alternatively, it is possible to introduce parylene precursor powder into the first vaporizer 100 in a predetermined space connected to the first vaporizer 100 . The first vaporizer 100 is provided with a first transfer pipe 110 formed with a long cylindrical inner space on the left and right, and a first heat source 120 is disposed on the outer surface of the space to vaporize parylene powder accommodated therein. It allows you to move along the inner space. A heat wire coil or the like may be used as the heat source 120 on the outer surface of the first vaporizer 100 . The parylene precursor powder is heated to a temperature of about 100 to 200° C. in the first vaporizer 100 and moved toward the thermal decomposer 300 along the first transfer pipe 110 in the form of a vaporized parylene precursor.

열분해기(300)는 제1 기화기(100)와 연통되며, 제1 기화기(100)에서 생성된 기화된 파릴렌 전구체가 이동하는 제2 이송관(310)을 포함하며, 기화된 비불소계 아크릴계 화합물, 파릴렌 전구체를 가열하여 열분해함에 의하여 파릴렌 유리 라디칼을 생성하는 제2 열원(320)을 포함한다. 열분해기(300)에서는 제1 기화기(100)에서 공급되는 기화된 파릴렌 전구체를 열분해시켜 파릴렌 유리 라디칼(free radical), 즉, 파릴렌 모노머(monomer)를 생성한다. 열분해기(300)의 내부 온도는 약 500~750℃이다. 열분해기(300)의 형태는 예를 들어 내부에 석영으로 만들어진 제2 이송관(310)이 통과하는 가열로(furnace)의 형태이다. 제1 기화기(100) 및 열분해기(300)의 열손실을 최소화하기 위하여 단열층이 이들의 외부에 배치될 수 있다.The thermal cracker 300 communicates with the first vaporizer 100, includes a second transfer pipe 310 through which the vaporized parylene precursor generated in the first vaporizer 100 moves, and includes a vaporized non-fluorine-based acrylic compound. , and a second heat source 320 generating parylene free radicals by heating and thermally decomposing the parylene precursor. In the thermal decomposer 300, the vaporized parylene precursor supplied from the first vaporizer 100 is thermally decomposed to generate parylene free radicals, that is, parylene monomer. The internal temperature of the thermal decomposer 300 is about 500 to 750 °C. The form of the pyrolysis machine 300 is, for example, a form of a furnace through which a second transfer pipe 310 made of quartz passes therein. In order to minimize heat loss of the first vaporizer 100 and the thermal cracker 300, a heat insulating layer may be disposed outside them.

증착 챔버(400)는 열분해기(300)와 연통되며, 내부에 형성된 공간을 포함한다. 증착 챔버(400)의 내부 공간에 일면 상에 전자 소자가 배치된 베이스 기판을 배치한다. 일면 상에 전자 소자가 배치된 베이스 기판은 3차원 구조를 가진다.The deposition chamber 400 communicates with the thermal decomposer 300 and includes a space formed therein. A base substrate on which electronic devices are disposed on one surface is disposed in an inner space of the deposition chamber 400 . A base substrate on which electronic devices are disposed on one surface has a three-dimensional structure.

다음으로, 일면 상에 전자 소자가 배치된 베이스 기판의 표면 상에 제2 기화기(700)로부터 생성된 기화된 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물이 공급된다. 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물은 전자 소자 및 베이스 기판 표면에 화학 흡착하여 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물이 자기 조립된 제1 코팅층이 증착된다. 증착 챔버(400)의 내부는 상온에 인접한 약 20 내지 40℃의 저온 환경이다. 증착 챔버(400) 내에 기화된 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물이 공급되는 시간은 10 내지 50분, 15 내지 30분, 20 내지 40분 일 수 있다. 기화된 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물이 공급되는 시간이 지나치게 짧으면 제1 코팅층이 제대로 형성되지 않을 수 있으며, 제1 코팅층이 형성되는 시간이 지나치게 길면 제1 코팅층에 실질적이 변화가 미미할 수 있다. 증착 챔버(400) 내부의 압력은, 기화된 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물이 공급되기 전에 비하여, 2배 내지 20배가 유지될 수 있다. 이러한 압력 범위에서 제1 코팅층이 보다 효율적으로 증착될 수 있다. 증착 챔버(400) 내부에 기화된 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물이 공급되는 속도는 상술한 증착 챔버(400) 내부의 압력이 유지되는 범위 내에서 조절될 수 있다.Next, the vaporized non-fluorine-based acrylic compound generated from the second vaporizer 700, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or an unsaturated functional group and a polar functional group are grouped on the surface of the base substrate on which the electronic device is disposed on one surface. An aromatic ring compound containing is supplied. A non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or an aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group are chemically adsorbed on the surface of an electronic device and a base substrate to form a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group A first coating layer in which a compound and/or an aromatic ring compound including an unsaturated functional group and a polar functional group is self-assembled is deposited. The inside of the deposition chamber 400 is a low-temperature environment of about 20 to 40° C. adjacent to room temperature. The supply time of the vaporized non-fluorine-based acrylic compound, the aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or the aromatic cyclic compound including an unsaturated functional group and a polar functional group into the deposition chamber 400 is 10 to 50 minutes, 15 to 30 minutes, It may be 20 to 40 minutes. If the supply time of the vaporized non-fluorine-based acrylic compound, the aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or the aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group is too short, the first coating layer may not be formed properly, and the first coating layer may not be formed properly. If the formation time is excessively long, a substantial change in the first coating layer may be insignificant. The pressure inside the deposition chamber 400 is 2 to 20 times greater than before supplying the vaporized non-fluorine-based acrylic compound, the aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or the aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group. can be maintained In this pressure range, the first coating layer may be deposited more efficiently. The rate at which the vaporized non-fluorine-based acrylic compound, the aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or the aromatic cyclic compound including an unsaturated functional group and a polar functional group are supplied to the inside of the deposition chamber 400 is It can be adjusted within the range where the pressure is maintained.

이어서, 제1 코팅층 상에 열분해기(300)에서 생성된 파릴렌 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 라디칼이 공급된다. 열분해기(300)에서 생성된 파릴렌 유리 라디칼이 제1 코팅층의 표면에서 비불소계 아크릴계 화합물, 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 방향족 고리 화합물의 불포화 작용기에 그라프트 중합 반응을 진행시켜 제1 코팅층 상에 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층을 형성한다. 증착 챔버(400)의 내부는 상온에 인접한 약 20 내지 40℃의 저온 환경이다. 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층은, 기화된 파릴렌 유리 라디칼과 비불소계 아크릴계 화합물/방향족 헤테로고리 화합물/방향족 고리 화합물의 불포화 작용기의 그라프트 중합 반응하여 이루어지는 것으로서 이러한 중합 반응은 상온에 인접한 약 20 내지 40℃의 낮은 온도에서 수행된다. 따라서, 전자 소자 및 베이스 기판은 금속, 준금속, 반도체, 유리 등의 내열성 재료 외에 열가소성 고분자 필름, 열가소성 플라스틱 등 고온에서 내열성이 약한 재료일 수 있다. 증착이 실질적으로 상온에서 수행되므로 복잡한 3차원 구조를 가지는 전자 소자의 열변성, 열에 의하여 열화 등을 방지할 수 있다. 따라서, 실질적으로 모든 종류의 전자 소자에 적용 가능하다. 일면 상에 전자 소자가 배치된 베이스 기판은 복잡한 3차원 구조를 가질 수 있다. 전자 소자는 예를 들어 유기발광소자(organic light emitting device, OLED), 액정표시소자(liquid crystal display, LCD), 전하결합소자(charge-coupled device, CCD), 미세전자기계센서들(micro-electro-mechanical sensors, MEMS), 및 박막 태양전지에 기반한 유기 또는 무기 광전 변환 소자 등일 수 있다. 예를 들어, 도 6을 참조하면, 전자 소자 및 베이스 기판 상에 이들의 표면 윤곽에 일치하게 일정한 두께의 컨포멀(conformal) 코팅층(coating layer)이 형성된다. 증착 챔버(400) 내부의 압력은, 파릴렌 유리 라디칼이 공급되기 전에 비하여, 1.5 배 내지 10배가 유지될 수 있다. 이러한 압력 범위에서 제2 코팅층이 보다 효율적으로 증착될 수 있다. 증착 챔버(400) 내부에 파릴렌 유리 라디칼이 공급되는 속도는 상술한 증착 챔버(400) 내부의 압력이 유지되는 범위 내에서 조절될 수 있다.Subsequently, parylene-based radicals derived from the parylene precursor generated in the thermal decomposition unit 300 are supplied onto the first coating layer. Parylene free radicals generated in the thermal decomposition unit 300 proceed with a graft polymerization reaction on the surface of the first coating layer to the unsaturated functional group of the non-fluorine-based acrylic compound, aromatic heterocyclic compound, and/or aromatic ring compound, and A second coating layer containing a parylene-based polymer is formed. The inside of the deposition chamber 400 is a low-temperature environment of about 20 to 40° C. adjacent to room temperature. The second coating layer containing the parylene-based polymer is formed by graft polymerization of vaporized parylene free radicals and unsaturated functional groups of non-fluorine-based acrylic compounds/aromatic heterocyclic compounds/aromatic ring compounds. This polymerization reaction is carried out at about room temperature. It is carried out at a low temperature of 20 to 40 ° C. Accordingly, the electronic device and the base substrate may be made of materials having low heat resistance at high temperatures, such as thermoplastic polymer films and thermoplastics, in addition to heat-resistant materials such as metals, metalloids, semiconductors, and glass. Since the deposition is substantially performed at room temperature, thermal deterioration and deterioration by heat of an electronic device having a complex three-dimensional structure can be prevented. Therefore, it is applicable to practically all types of electronic devices. A base substrate on which electronic devices are disposed on one surface may have a complex three-dimensional structure. Electronic devices include, for example, organic light emitting devices (OLEDs), liquid crystal displays (LCDs), charge-coupled devices (CCDs), and micro-electro-mechanical sensors. -mechanical sensors (MEMS), and organic or inorganic photoelectric conversion devices based on thin-film solar cells. For example, referring to FIG. 6 , a conformal coating layer having a constant thickness is formed on the electronic device and the base substrate to conform to their surface contours. The pressure inside the deposition chamber 400 may be maintained at 1.5 to 10 times the pressure before parylene glass radicals are supplied. In this pressure range, the second coating layer may be deposited more efficiently. A rate at which parylene glass radicals are supplied into the deposition chamber 400 may be controlled within a range in which the above-described internal pressure of the deposition chamber 400 is maintained.

제1 기화기(100), 제2 기화기(700), 열분해기(300) 및 증착 챔버(400)는 모두 코팅 공정 과정에서 내부 진공 상태를 유지한다. 이를 위하여 증착 챔버(400)에는 냉각트랩(500)과 진공펌프(600)가 연결된다. 냉각트랩(500)은 코팅 시 발생하는 가스 등을 포집하여 냉각시키는 장치이며, 냉각트랩(500)에 연통되는 진공펌프(600)는 코팅 공정 과정에서 제1 기화기(100), 제2 기화기(700), 열분해기(300) 및 증착 챔버(400)의 내부를 진공으로 만들고 이들의 진공 상태을 유지시키는 역할을 한다.The first vaporizer 100, the second vaporizer 700, the thermal decomposer 300, and the deposition chamber 400 all maintain an internal vacuum state during the coating process. To this end, a cooling trap 500 and a vacuum pump 600 are connected to the deposition chamber 400 . The cooling trap 500 is a device for collecting and cooling gases generated during coating, and the vacuum pump 600 communicating with the cooling trap 500 is a first vaporizer 100 and a second vaporizer 700 during the coating process. ), the thermal decomposer 300 and the deposition chamber 400, and serves to make a vacuum inside and maintain their vacuum state.

제1 기화기(100)와 열분해기(300) 사이에 제1 유량 제어기(200)가 배치된다. 제1 유량 제어기(200)는 기화된 파릴렌 전구체가 열분해기(300)를 통과하여 증착 챔버(400) 내부로 공급되는 속도를 조절한다. 제1 유량 제어기(200)가 열분해기(300)를 통과하여 증착챔버(400)에 공급되는 기화된 파릴렌 전구체의 함량을 일정하게 조절한다.A first flow rate controller 200 is disposed between the first vaporizer 100 and the thermal decomposer 300 . The first flow rate controller 200 controls the rate at which the vaporized parylene precursor passes through the thermal decomposer 300 and is supplied into the deposition chamber 400 . The first flow rate controller 200 constantly controls the amount of the vaporized parylene precursor supplied to the deposition chamber 400 after passing through the thermal decomposer 300 .

제1 유량 제어기(200)와 열분해기(300) 사이에 개폐 가능한 제1 밸브(250)가 배치된다. 제1 밸브(250)는 코팅층 형성 단계가 완료된 후 다음 단계를 준비하거나, 코팅층 형성 단계 중에서 파릴렌 전구체 분말의 충전이 필요한 경우 잠글 수 있다. 제1 밸브(250)는 예를 들어 진공 볼 밸브이다.A first valve 250 capable of opening and closing is disposed between the first flow controller 200 and the thermal decomposer 300 . The first valve 250 may be closed when preparing for the next step after the coating layer forming step is completed or when charging of the parylene precursor powder is required during the coating layer forming step. The first valve 250 is, for example, a vacuum ball valve.

제2 기화기(700)와 증착 챔버(400) 사이에 제2 유량제어기(800)가 배치된다. 제2 유량제어기(800)는 기화된 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물이 증착 챔버(300) 내부로 공급되는 속도를 조절한다. 제2 유량제어기(800)가 증착 챔버(400)에 공급되는 기화된 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물의 함량을 일정하게 조절한다.A second flow controller 800 is disposed between the second vaporizer 700 and the deposition chamber 400 . The second flow controller 800 controls the rate at which the vaporized non-fluorine-based acrylic compound and the aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group are supplied into the deposition chamber 300 . The content of the vaporized non-fluorine-based acrylic compound, the aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or the aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group being supplied to the deposition chamber 400 by the second flow controller 800 is kept constant. Adjust.

제2 유량제어기(700)와 증착챔버(400) 사이에 개폐 가능한 제2 밸브(850)가 배치된다. 제2 밸브(850)는 코팅층 형성 단계가 완료된 후 다음 단계를 준비하거나, 코팅층 형성 단계 중에서 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 가지는 방향족 헤테로고리 화합물 및/또는 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물의 충전이 필요한 경우 잠글 수 있다. 제2 밸브(850)는 예를 들어 진공 볼 밸브이다.A second valve 850 capable of opening and closing is disposed between the second flow controller 700 and the deposition chamber 400 . The second valve 850 prepares for the next step after the coating layer forming step is completed, or, during the coating layer forming step, a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and/or an aromatic cyclic compound including an unsaturated functional group and a polar functional group. can be locked if recharging is required. The second valve 850 is, for example, a vacuum ball valve.

제1 유량 제어기(200)에 의하여 증착 챔버(400) 내부로 공급되는 기화된 파릴렌 전구체의 함량이 일정하게 조절된다. 따라서, 증착 챔버(400) 내부의 압력이 일정한 범위로 유지됨에 의하여 기재 표면 상에 코팅층을 성막하는 공정의 제어가 용이하다. 또한, 증착 챔버(400) 내부의 압력 편차에 따른 코팅층의 증착 속도의 감소를 방지할 수 있다. 따라서, 코팅층 증착 속도가 향상되며, 결과적으로 코팅층 제조의 생산성이 향상된다.The amount of the vaporized parylene precursor supplied into the deposition chamber 400 is constantly controlled by the first flow controller 200 . Accordingly, as the pressure inside the deposition chamber 400 is maintained within a certain range, it is easy to control the process of forming a coating layer on the surface of the substrate. In addition, it is possible to prevent a decrease in the deposition rate of the coating layer due to pressure variations inside the deposition chamber 400 . Thus, the coating layer deposition rate is improved, and consequently, the productivity of coating layer manufacturing is improved.

다른 일구현예에 따른 밀봉된 전자 소자는, 도 2 내지 6을 참조하면, 일면 상에 전자 소자(10)가 배치된 베이스 기판(5); 전자 소자(10)를 밀봉하는 밀봉층(15);을 포함하며, 밀봉층(15)이 제1 코팅층(미도시); 및 제1 코팅층(미도시) 상에 배치되는 제2 코팅층(20);을 포함하며, 제1 코팅층(미도시)이 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물, 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물, 및 이의 유도체 중에서 선택된 하나 이상을 포함하며, 제2 코팅층(20)이 파릴렌계 중합체를 포함한다.Referring to FIGS. 2 to 6 , a sealed electronic device according to another embodiment includes a base substrate 5 on which an electronic device 10 is disposed on one surface; and a sealing layer 15 for sealing the electronic device 10, wherein the sealing layer 15 includes a first coating layer (not shown); and a second coating layer 20 disposed on the first coating layer (not shown), wherein the first coating layer (not shown) includes a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound including an unsaturated functional group, an unsaturated functional group, and a polar It includes at least one selected from an aromatic ring compound containing a functional group and a derivative thereof, and the second coating layer 20 includes a parylene-based polymer.

전자 소자(10)는 예를 들어 유기발광소자(organic light emitting device, OLED), 액정표시소자(liquid crystal display, LCD), 전하결합소자(charge-coupled device, CCD), 미세전자기계센서들(micro-electro-mechanical sensors, MEMS), 및 박막 태양전지에 기반한 유기 또는 무기 광전 변환 소자 등이다.The electronic device 10 is, for example, an organic light emitting device (OLED), a liquid crystal display (LCD), a charge-coupled device (CCD), microelectromechanical sensors ( micro-electro-mechanical sensors (MEMS), and organic or inorganic photoelectric conversion devices based on thin-film solar cells.

도 3을 참조하면, 밀봉된 전자 소자는 예를 들어 전자 소자(10)의 표면 상에 배치되는 제1 코팅층(미도시)을 포함하며, 제1 코팅층은 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 이의 유도체 중에서 선택된 하나 이상을 포함하며, 제1 코팅층(미도시)의 표면 상에 배치되는 제2 코팅층(20);을 포함하며, 제2 코팅층(20)은 파릴렌 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 중합체를 포함한다. 밀봉된 전자 소자(10)가 전자 소자(10) 및 베이스 기판(5)의 표면에 도입된 컨포멀 코팅층인 제1 코팅층(미도시) 및 제2 코팅층(20)을 포함함에 의하여 전자 소자(10)의 내구성, 내수성, 내화학성 등이 향상될 수 있다.Referring to FIG. 3 , the sealed electronic device includes, for example, a first coating layer (not shown) disposed on the surface of the electronic device 10, and the first coating layer includes a non-fluorine-based acrylic compound and an unsaturated functional group. A second coating layer 20 comprising at least one selected from aromatic heterocyclic compounds and derivatives thereof and disposed on the surface of the first coating layer (not shown), wherein the second coating layer 20 is formed from a parylene precursor. and parylene-based polymers derived from The sealed electronic device 10 includes a first coating layer (not shown) and a second coating layer 20, which are conformal coating layers introduced on the surface of the electronic device 10 and the base substrate 5, so that the electronic device 10 ) can improve durability, water resistance, chemical resistance, etc.

도 4를 참조하면, 밀봉된 전자 소자는 예를 들어 전자 소자(10); 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 이의 유도체 중에서 선택된 하나 이상을 포함하는 제1 코팅층(미도시); 파릴렌 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층(20); 및 파릴렌 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 라디칼과 다른 유기 단량체의 공중합체를 포함하는 제3 코팅층(30);을 포함하는 3층 구조를 가질 수 있다. 코팅층이 이러한 3층 구조를 포함함에 의하여 코팅층의 접착력, 내수성, 내화학성이 더욱 향상될 수 있다. 다른 유기 단량체는 예를 들어 아크릴계 단량체, 실록산계 단량체, 실라잔계 단량체 등일 수 있다. 제3 코팅층(30)은 유무기복합층일 수 있다.Referring to FIG. 4 , the sealed electronic device may include, for example, an electronic device 10; A first coating layer (not shown) comprising at least one selected from a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and a derivative thereof; a second coating layer 20 comprising a parylene-based polymer derived from a parylene precursor; and a third coating layer 30 including a copolymer of a parylene-based radical derived from a parylene precursor and another organic monomer. Adhesion, water resistance, and chemical resistance of the coating layer may be further improved by including the three-layer structure of the coating layer. Other organic monomers may be, for example, acrylic monomers, siloxane-based monomers, silazane-based monomers, and the like. The third coating layer 30 may be an organic-inorganic composite layer.

도 5를 참조하면, 밀봉된 전자 소자는 예를 들어 전자 소자(10); 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 이의 유도체 중에서 선택된 하나 이상을 포함하는 제1 코팅층(미도시); 파릴렌 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층(20); 파릴렌 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 라디칼과 다른 유기 단량체의 공중합체를 포함하는 제3 코팅층(30); 및 파릴렌 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 중합체를 포함하는 제4 코팅층(20);을 포함하는 4층 구조를 가질 수 있다. 코팅층이 이러한 4층 구조를 포함함에 의하여 코팅층의 접착력, 내수성, 내화학성이 더욱 향상될 수 있다. 다른 유기 단량체는 예를 들어 아크릴계 단량체, 실록산계 단량체, 실라잔계 단량체 등일 수 있다. 제3 코팅층(30)은 유무기복합층일 수 있다.Referring to FIG. 5 , the sealed electronic device may include, for example, an electronic device 10; A first coating layer (not shown) comprising at least one selected from a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and a derivative thereof; a second coating layer 20 comprising a parylene-based polymer derived from a parylene precursor; a third coating layer 30 comprising a copolymer of a parylene-based radical derived from a parylene precursor and another organic monomer; and a fourth coating layer 20 including a parylene-based polymer derived from a parylene precursor. Adhesion, water resistance, and chemical resistance of the coating layer may be further improved by including the four-layer structure of the coating layer. Other organic monomers may be, for example, acrylic monomers, siloxane-based monomers, silazane-based monomers, and the like. The third coating layer 30 may be an organic-inorganic composite layer.

도 6을 참조하면, 밀봉된 전자 소자는 예를 들어 전자 소자(10); 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 이의 유도체 중에서 선택된 하나 이상을 포함하는 제1 코팅층(미도시); 파릴렌 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층(20); 파릴렌 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 라디칼과 다른 유기 단량체의 공중합체를 포함하는 제3 코팅층(30); 파릴렌 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 중합체를 포함하는 제4 코팅층(20); 및 파릴렌 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 라디칼과 다른 유기 단량체의 공중합체를 포함하는 제5 코팅층(30);을 포함하는 5층 구조를 가질 수 있다. 코팅층이 이러한 5층 구조를 포함함에 의하여 코팅층의 접착력, 내수성, 내화학성이 더욱 향상될 수 있다. 다른 유기 단량체는 예를 들어 아크릴계 단량체, 실록산계 단량체, 실라잔계 단량체 등일 수 있다. 제3 코팅층(30)은 유무기복합층일 수 있다.Referring to FIG. 6 , the sealed electronic device may include, for example, an electronic device 10; A first coating layer (not shown) comprising at least one selected from a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and a derivative thereof; a second coating layer 20 comprising a parylene-based polymer derived from a parylene precursor; a third coating layer 30 comprising a copolymer of a parylene-based radical derived from a parylene precursor and another organic monomer; a fourth coating layer 20 comprising a parylene-based polymer derived from a parylene precursor; and a fifth coating layer 30 including a copolymer of a parylene-based radical derived from a parylene precursor and another organic monomer. Adhesion, water resistance, and chemical resistance of the coating layer may be further improved by including the five-layer structure of the coating layer. Other organic monomers may be, for example, acrylic monomers, siloxane-based monomers, silazane-based monomers, and the like. The third coating layer 30 may be an organic-inorganic composite layer.

본 명세서에서 "방향족 헤테로고리 화합물(heterocyclic aromatic compound)"은, 방향족 고리(aromatic ring)가 N, O, P 또는 S 중에서 선택된 하나 이상의 헤테로원자를 포함하고, 나머지 고리 원자가 탄소인 모노사이클릭(monocyclic) 또는 바이사이클릭(bicyclic) 유기 화합물을 의미한다. 상기 방향족 헤테로고리는 예를 들어 1-5개의 헤테로원자를 포함할 수 있고, 5-10개의 고리 멤버(ring member)를 포함할 수 있다. 상기, O, S 또는 N은 산화되어 여러가지 산화 상태를 가질 수 있다.In the present specification, "aromatic heterocyclic compound" refers to a monocyclic compound in which an aromatic ring contains one or more heteroatoms selected from N, O, P, or S, and the remaining ring atoms are carbon. ) or a bicyclic organic compound. The aromatic heterocycle may include, for example, 1-5 heteroatoms and 5-10 ring members. The O, S or N may be oxidized and have various oxidation states.

방향족 모노사이클릭 헤테로고리 화합물은 예를 들어 티오펜, 피롤, 이미다졸, 피라졸, 티아졸 이소티아졸 1,2,3-옥사디아졸, 1,2,4-옥사디아졸, 1,2,5-옥사디아졸, 1,3,4-옥사디아졸, 1,2,3-티아디아졸, 1,2,4-티아디아졸, 1,2,5-티아디아졸, 1,3,4-티아디아졸, 이소티아졸, 옥사졸, 이소옥사졸, 1,2,4-트리아졸, 1,2,3-트리아졸, 테트라졸 피리딘, 2-피라진, 피라진, 피리미딘, 등을 들 수 있다.Aromatic monocyclic heterocyclic compounds include, for example, thiophene, pyrrole, imidazole, pyrazole, thiazole isothiazole 1,2,3-oxadiazole, 1,2,4-oxadiazole, 1,2 ,5-oxadiazole, 1,3,4-oxadiazole, 1,2,3-thiadiazole, 1,2,4-thiadiazole, 1,2,5-thiadiazole, 1,3 ,4-thiadiazole, isothiazole, oxazole, isoxazole, 1,2,4-triazole, 1,2,3-triazole, tetrazole pyridine, 2-pyrazine, pyrazine, pyrimidine, etc. can be heard

방향족 헤테로고리 화합물은 방향족 헤테로 고리가 하나 이상의 방향족고리(cylco aromatic), 지환족고리(cyclo aliphatic), 또는 헤테로방향족고리(cyclo heteroaromatic)에 융합된 경우를 포함한다.The aromatic heterocyclic compound includes a case in which an aromatic heterocyclic ring is fused to one or more aromatic rings (cylco aromatic), alicyclic rings (cyclo aliphatic), or heteroaromatic rings (cyclo heteroaromatic).

방향족 바이사이클릭 헤테로고리 화합물은, 예를 들어 인돌(indole), 이소인돌(isoindole), 인다졸(indazole), 퓨린(purine), 퀴놀린(quinoline), 이소퀴놀린(isoquinoline) 등이 있다.Aromatic bicyclic heterocyclic compounds include, for example, indole, isoindole, indazole, purine, quinoline, isoquinoline, and the like.

본 명세서에서 "방향족 고리 화합물(cyclic aromatic compound)"은, 상기 "방향족 헤테로고리 화합물(heterocyclic aromatic compound)"이 포함하는 고리 멤버를 구성하는 헤테로 원자가 탄소 원자로 치환된 화합물을 의미한다. 달리 표현하면, 방향족 고리 화합물(cyclic aromatic compound)"은 방향족 고리(aromatic ring)가 포함하는 고리 원자가 모두 탄소인 모노사이클릭(monocyclic) 또는 바이사이클릭(bicyclic) 유기 화합물을 의미한다. 즉, 방향족 탄소고리 화합물이다.In the present specification, "cyclic aromatic compound" refers to a compound in which a hetero atom constituting a ring member included in the "heterocyclic aromatic compound" is substituted with a carbon atom. In other words, “cyclic aromatic compound” means a monocyclic or bicyclic organic compound in which all ring atoms in the aromatic ring are carbon. That is, aromatic It is a carbon ring compound.

본 명세에서 "불포화 작용기"는 하나 이상의 탄소-탄소 이중 결합 또는 탄소-탄소 삼중 결합을 가지는 작용기를 의미한다. 불포화 작용기는 예를 들어 비닐기, 알릴기, 등이다.본 명세서에서 "불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물"은 상술한 방향족 헤테로고리 화합물의 방향족 헤테로 고리에 상술한 불포화 작용기가 치환된 화합물을 의미한다. 예를 들어, 비닐기가 치환된 이미다졸, 비닐기가 치환된 피리딘 등이다.In the present specification, "unsaturated functional group" means a functional group having one or more carbon-carbon double bonds or carbon-carbon triple bonds. The unsaturated functional group is, for example, a vinyl group, an allyl group, and the like. In the present specification, "aromatic heterocyclic compound containing an unsaturated functional group" refers to a compound in which the above-mentioned unsaturated functional group is substituted in the aromatic heterocyclic ring of the above-mentioned aromatic heterocyclic compound. it means. For example, imidazole substituted with a vinyl group, pyridine substituted with a vinyl group, and the like.

본 명세서에서 "극성 작용기"는 산소 또는 황 원자와 같은 전기음성도가 높은 원자를 포함하여 극성을 가지는 작용기를 의미한다. 극성 작용기는 예를 들어 하이드록시기, 티올기 등이다.In the present specification, "polar functional group" means a functional group having polarity including an atom having high electronegativity such as an oxygen or sulfur atom. Polar functional groups are, for example, hydroxy groups, thiol groups and the like.

본 명세서에서 "불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물"은 상술한 방향족 고리 화합물의 방향족 탄소 고리에 상술한 불포화 작용기 및 극성 작용기가 각각 치환된 화합물을 의미한다. 예를 들어, 비닐기 및 1 내지 2개의 하이드록시기가 치환된 벤젠, 비닐기 및 1 내지 2개의 하이드록시기가 치환된 사이클로펜타디엔 등이다.In the present specification, "aromatic ring compound containing an unsaturated functional group and a polar functional group" means a compound in which the above-described unsaturated functional group and the polar functional group are respectively substituted on the aromatic carbon ring of the above-mentioned aromatic ring compound. For example, benzene in which a vinyl group and 1 to 2 hydroxy groups are substituted, cyclopentadiene in which a vinyl group and 1 to 2 hydroxy groups are substituted, and the like.

본 명세서에서 "알킬기"는 완전 포화된 분지형 또는 비분지형 (또는 직쇄 또는 선형) 탄화수소의 기를 말한다.As used herein, "alkyl group" refers to a group of fully saturated branched or unbranched (or straight-chain or linear) hydrocarbons.

알킬의 비제한적인 예로서 메틸, 에틸, n-프로필, 이소프로필, n-부틸, 이소부틸, sec-부틸, tert-부틸, n-펜틸, 이소펜틸, 네오펜틸, iso-아밀, n-헥실, 3-메틸헥실, 2,2-디메틸펜틸, 2,3-디메틸펜틸, n-헵틸 등을 들 수 있다.Examples of alkyl include, but are not limited to, methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, isobutyl, sec-butyl, tert-butyl, n-pentyl, isopentyl, neopentyl, iso-amyl, n-hexyl , 3-methylhexyl, 2,2-dimethylpentyl, 2,3-dimethylpentyl, n-heptyl and the like.

이하에서는 실시예 및 비교예를 참조하여 실시 형태와 관련된 코팅층 형성 방법에 대하여 구체적으로 설명한다. 덧붙여, 이하에 나타내는 실시예는 예시적인 목적으로 제공되는 것일 뿐, 본 발명이 아래와 같은 예로 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the coating layer forming method related to the embodiment will be described in detail with reference to Examples and Comparative Examples. Incidentally, the examples shown below are only provided for illustrative purposes, and the present invention is not limited to the following examples.

(밀봉층의 제조)(Manufacture of sealing layer)

실시예 1: 제1코팅층(1-비닐이미다졸) 및 제2코팅층(파릴렌 N) 코팅Example 1: First coating layer (1-vinylimidazole) and second coating layer (parylene N) coating

제1 기화기, 제2 기화기, 및 열분해기가 연결된 챔버가 준비되었다.A chamber in which the first vaporizer, the second vaporizer, and the pyrolysis unit were connected was prepared.

직경이 700mm, 높이가 800mm 인 진공 챔버 내부에 300mmㅧ300 mm 크기의 알루미늄박(aluminium foil, 두께 100㎛)을 수직 방향으로 1매를 거치하였다.One sheet of aluminum foil (thickness: 100 μm) with a size of 300 mm x 300 mm was installed in a vertical direction inside a vacuum chamber having a diameter of 700 mm and a height of 800 mm.

제2 기화기의 온도를 80℃, 진공 챔버 내부의 압력을 10 mTorr 이하로 조절하였다. 진공 챔버의 온도는 25℃ 이었다.The temperature of the second vaporizer was adjusted to 80° C., and the pressure inside the vacuum chamber was adjusted to 10 mTorr or less. The temperature of the vacuum chamber was 25°C.

1-비닐이미다졸(1-Vinylimidazole)을 제2 기화기에 투입하였다. 1-비닐이미다졸은 제2 기화기를 거쳐 진공 챔버에 일정한 유속으로 공급되었다. 기화된 1-비닐이미다졸이 진공 챔버에 공급되는 속도는 제2 MFC(Mass Flow Controller, MKS 1152C, MKS Instruments, USA)를 사용하여 반응 챔버의 압력을 100 mTorr로 유지하였다. 챔버 내에 1-비닐이미다졸이 공급되는 시점(알루미늄박 표면에 1-비닐이미다졸이 흡착 및/또는 응축되는 시점)으로부터 20 분이 경과한 후, 제2 기화기의 니들 밸브를 잠그고 1-비닐이미다졸(1-Vinylimidazole)의 공급을 중단하고 증착을 종료하였다.1-vinylimidazole was introduced into the second vaporizer. 1-vinylimidazole was supplied at a constant flow rate to the vacuum chamber via the second vaporizer. The rate at which vaporized 1-vinylimidazole was supplied to the vacuum chamber was maintained at 100 mTorr by using a second MFC (Mass Flow Controller, MKS 1152C, MKS Instruments, USA). After 20 minutes have elapsed from the point at which 1-vinylimidazole is supplied into the chamber (the point at which 1-vinylimidazole is adsorbed and/or condensed on the surface of the aluminum foil), the needle valve of the second vaporizer is closed and The supply of imidazole (1-vinylimidazole) was stopped and deposition was terminated.

제1 기화기의 온도를 140℃, 열분해기의 온도를 670℃, 진공 챔버 내부의 압력을 10 mTorr 이하로 조절하였다. 진공 챔버의 온도는 25℃ 이었다.The temperature of the first vaporizer was adjusted to 140°C, the temperature of the thermal decomposer to 670°C, and the pressure inside the vacuum chamber was adjusted to 10 mTorr or less. The temperature of the vacuum chamber was 25°C.

파릴렌 N 다이머 분말을 제1 기화기에 투입하였다. 파릴렌 N 다이머 분말이 제1 기화기 및 열분해기를 거쳐 진공 챔버에 공급되었다. 파릴렌 N 다이머는 기화기에서 기화된 후 열분해기에서 유리 라디칼(free radical)로 열분되어 진공 챔버 내에 일정한 유속으로 공급되었다. 제1 기화기에서 기화된 파릴렌 다이머가 열분해기로 공급되는 속도는 제1 MFC(mass Flow Controller, MKS 1153A, MKS Instruments, USA)를 사용하여 반응 챔버의 압력을 20 mTorr로 유지하였다. MFC의 온도는 185℃를 유지하였다. 챔버 내에 파릴렌 라디칼이 공급되는 시점(제2 코팅층의 증착 시작 시점)으로부터 90분이 경과한 후, 파릴렌 N 다이머 분말의 공급을 중단하였다. 진공 챔버 내의 압력이 10 mTorr 이하로 감소하여 단량체가 완전히 증착된 것을 확인하고 증착을 종료하였다. 진공 챔버의 압력을 상압으로 조절한 후, 코팅된 알루미늄박을 꺼냈다. Parylene N dimer powder was introduced into the first vaporizer. Parylene N dimer powder was supplied to the vacuum chamber via the first vaporizer and the pyrolysis unit. Parylene N dimer was vaporized in a vaporizer and then pyrolyzed into free radicals in a thermal decomposer and supplied into the vacuum chamber at a constant flow rate. The rate at which parylene dimer vaporized in the first vaporizer is supplied to the thermal decomposer was maintained at a pressure of 20 mTorr in the reaction chamber using a first MFC (mass flow controller, MKS 1153A, MKS Instruments, USA). The temperature of the MFC was maintained at 185°C. After 90 minutes had elapsed from the point at which parylene radicals were supplied into the chamber (the point at which deposition of the second coating layer started), the supply of parylene N dimer powder was stopped. After confirming that the monomer was completely deposited by reducing the pressure in the vacuum chamber to 10 mTorr or less, the deposition was terminated. After adjusting the pressure of the vacuum chamber to atmospheric pressure, the coated aluminum foil was taken out.

XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy), ATR-FTIR(Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) Spectroscopy, 물(H2O) 접촉각 측정을 통하여 알루미늄박 표면에 1-비닐이미다졸의 화학 흡착(chemisorption)된 1-비닐아미다졸 단량체의 자기-조립층(self-assembly layer)인 제1 코팅층이 증착되었음을 확인하였다. SEM(Scanning Electron Microscope) 단면 분석을 통하여 알루미늄박 표면에 화학 흡착된 1-비닐아미다졸 단량체와 파릴렌 라디칼의 그래프트(graft) 반응에 의하여 제1 코팅층 상에 파릴렌 중합체인 제2 코팅층이 증착되었음을 확인하였다. 제2 코팅층의 두께는 약 2㎛ 이었다.X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared (ATR-FTIR) spectroscopy, and water (H 2 O) contact angle measurement of 1-vinylimidazole chemisorption on the surface of aluminum foil - It was confirmed that the first coating layer, which is a self-assembly layer of vinylamidazole monomers, was deposited. Through SEM (Scanning Electron Microscope) cross-sectional analysis, it was found that a second coating layer, a parylene polymer, was deposited on the first coating layer by a graft reaction between the 1-vinylamidazole monomer chemically adsorbed on the surface of the aluminum foil and the parylene radical. Confirmed. The thickness of the second coating layer was about 2 μm.

실시예 2: 제1코팅층(4-비닐피리린) 및 제2코팅층(파릴렌 N) 코팅Example 2: First coating layer (4-vinylpyrine) and second coating layer (parylene N) coating

1-비닐이미다졸 대신에 4-비닐피리딘(4-vinyl pyridine)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1, except that 4-vinylpyridine was used instead of 1-vinylimidazole.

실시예 3: 제1코팅층(1-비닐이미다졸) 및 제2코팅층(파릴렌 C) 코팅Example 3: First coating layer (1-vinylimidazole) and second coating layer (Parylene C) coating

파릴렌 N 다이머 대신에 파릴렌 C 다이머를 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1, except that Parylene C dimer was used instead of Parylene N dimer.

실시예 1-4Example 1-4

1-비닐이미다졸 대신에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트((hydroxyethyl)methacrylate)를 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-1, except that (hydroxyethyl)methacrylate was used instead of 1-vinylimidazole.

실시예 1-5Example 1-5

1-비닐이미다졸 대신에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트((hydroxyethyl)methacrylate)를 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-3과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-3, except that (hydroxyethyl)methacrylate was used instead of 1-vinylimidazole.

실시예 1-6 내지 1-10Examples 1-6 to 1-10

챔버 내에 제1 코팅층 형성용 화합물이 공급되는 시간을 20분에서 40분으로 변경한 것을 제외하고는 실시예 1-1 내지 1-5와 각각 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.Coating layers were deposited in the same manner as in Examples 1-1 to 1-5, respectively, except that the time for supplying the compound for forming the first coating layer into the chamber was changed from 20 minutes to 40 minutes.

실시예 1-11 내지 1-15Examples 1-11 to 1-15

챔버 내에 제1 코팅층 형성용 화합물이 공급되는 시간을 20분에서 60분으로 변경한 것을 제외하고는 실시예 1-1 내지 1-5와 각각 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.Coating layers were deposited in the same manner as in Examples 1-1 to 1-5, except that the supply time of the compound for forming the first coating layer into the chamber was changed from 20 minutes to 60 minutes.

비교예 1-1: 파릴렌 N 단독 코팅Comparative Example 1-1: Parylene N alone coating

1-비닐이미다졸을 포함하는 제1 코팅층을 증착하는 단계를 생략하고 파릴렌 N을 포함하는 제2 코팅층만을 증착한 것을 제외하고는 실시예 1-1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-1, except that the step of depositing the first coating layer containing 1-vinylimidazole was omitted and only the second coating layer containing parylene N was deposited.

비교예 1-2: 파릴렌 C 단독 코팅Comparative Example 1-2: Parylene C single coating

1-비닐이미다졸을 포함하는 제1 코팅층을 증착하는 단계를 생략하고 파릴렌 C를 포함하는 제2 코팅층만을 증착한 것을 제외하고는 실시예 1-3과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Examples 1-3, except that the step of depositing the first coating layer containing 1-vinylimidazole was omitted and only the second coating layer containing Parylene C was deposited.

비교예 1-3: 제1코팅층(실록산계 화합물) 및 제2코팅층(파릴렌 N) 코팅Comparative Example 1-3: First coating layer (siloxane compound) and second coating layer (parylene N) coating

1-비닐이미다졸(1-Vinylimidazole) 단량체 대신에 1,3,5,7-테트라비닐-1,3,5,7-테트라메틸시클로테트라실록산(1,3,5,7-tetravinyl-1,3,5,7-tetramethyltetrasiloxane, pV4D4)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.Instead of 1-vinylimidazole monomer, 1,3,5,7-tetravinyl-1,3,5,7-tetramethylcyclotetrasiloxane (1,3,5,7-tetravinyl-1 A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-1, except that ,3,5,7-tetramethyltetrasiloxane, pV4D4) was used.

평가예 1-1: 제1 코팅층이 도입된 Al 기재의 XPS 분석 Evaluation Example 1-1: XPS analysis of Al substrate with first coating layer introduced

실시예 1-1 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 분석을 실시하여 제1 코팅층의 도입 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 1-1 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-3, XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis was performed on the surface of the substrate after the first coating layer was introduced. It was confirmed whether or not the first coating layer was introduced.

분석 결과의 일부를 도 8a 내지 8b에 나타내었다. 도 8a는 실시예 1-1에 대한 것이고, 도 8b는 실시예 1-4에 대한 것이다.Some of the analysis results are shown in Figs. 8a to 8b. 8A is for Example 1-1, and FIG. 8B is for Example 1-4.

도 8a에서 보여지는 바와 같이, Al 기재 상에 1-비닐이미다졸이 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 질소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, 1-비닐이미다졸이 코팅되었음을 확인하였다. 산소 원자에 대한 피크는 Al 기재 상에 존재하는 하이드록시기 등의 친수성 작용기에 의한 것으로 판단되었다.As shown in FIG. 8A, after 1-vinylimidazole was coated on the Al substrate, peaks for oxygen atoms, nitrogen atoms, and carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that 1-vinylimidazole was coated. The peak for the oxygen atom was determined to be due to a hydrophilic functional group such as a hydroxyl group present on the Al substrate.

도 8b에서 보여지는 바와 같이, Al 기재 상에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅되었음을 확인하였다.As shown in FIG. 8B, after (hydroxyethyl)methacrylate was coated on the Al substrate, peaks for oxygen atoms and peaks for carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that (hydroxyethyl) methacrylate was coated.

아연(Zn)과 납(Pb) 피크는 알루미늄 금속에 포함된 불순물이 검출된 것으로 판단되었다.It was determined that zinc (Zn) and lead (Pb) peaks were detected as impurities contained in aluminum metal.

평가예 1-2: 물(HEvaluation Example 1-2: Water (H 22 O) 접촉각 측정O) Measurement of contact angle

실시예 1-1 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3에서 제조된 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 형성된 후의 기재 표면에 대하여 접촉각 측정기를 사용하여 대기압의 25℃에서 물에 대한 접촉각을 측정하였다.In the process of manufacturing the coated substrates prepared in Examples 1-1 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-3, a contact angle measuring instrument was used for the surface of the substrate after the first coating layer was formed at 25° C. of atmospheric pressure. The contact angle for water was measured.

측정 결과의 일부를 도 8c 내지 8e 및 하기 표 1에 나타내었다. 접촉각은 물과 기재의 계면과 물과 공기의 계면이 이루는 각도이다.Some of the measurement results are shown in FIGS. 8C to 8E and Table 1 below. The contact angle is the angle between the interface between water and the substrate and the interface between water and air.

도 8c는 실시예 1-1, 도 8d는 실시예 1-4 및 도 8e는 비교예 1-1에 대한 것이다.FIG. 8C is for Example 1-1, FIG. 8D is for Example 1-4, and FIG. 8E is for Comparative Example 1-1.

접촉각 [°]contact angle [°] 실시예 1-1Example 1-1 63.363.3 실시예 1-4Example 1-4 53.853.8 비교예 1-1Comparative Example 1-1 43.043.0

표 1에서 보여지는 바와 같이, 제1 코팅층이 Al 기재 상에 도입됨에 의하여 접촉각이 증가하였다. 따라서, Al 기재 상에 제1 코팅층이 도입됨을 확인하였다.As shown in Table 1, the contact angle increased by introducing the first coating layer on the Al substrate. Therefore, it was confirmed that the first coating layer was introduced on the Al substrate.

평가예 1-3: 접착력 테스트Evaluation Example 1-3: Adhesion test

실시예 1-1 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3에서 제조된 코팅된 기재에 대하여 접착력 테스트를 실시하였다. 접착력 테스트는 ASTM D3002, D3359 기준으로 스카치 테잎 테스트(Scotch Tape Test)로 평가하였다.Adhesion tests were performed on the coated substrates prepared in Examples 1-1 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-3. The adhesion test was evaluated by a Scotch Tape Test based on ASTM D3002 and D3359.

코팅층을 1mm 간격으로 가로 방향 및 세로 방향으로 각각 11개의 직선으로 절단하여 격자(grid) 형태로 절단한 후, 격자 형태의 코팅층 상에 스카치 테이프를 붙였다 떼어냄에 의하여 제거되는 코팅층의 면적을 평가하였다.The coating layer was cut into 11 straight lines in the horizontal and vertical directions at intervals of 1 mm to form a grid, and then Scotch tape was attached and peeled off on the grid-shaped coating layer to evaluate the area of the coating layer removed. .

평가 기준은 아래와 같다. The evaluation criteria are as follows.

5B: 제거된 면적 0%, 4B: 제거된 면적 5% 미만, 3B: 제거된 면적 5-15%, 2B: 제거된 면적 15-35%, 1B: 제거된 면적 35-65%, 0B: 제거된 면적 65% 이상5B: 0% of the removed area, 4B: less than 5% of the removed area, 3B: 5-15% of the removed area, 2B: 15-35% of the removed area, 1B: 35-65% of the removed area, 0B: removal 65% or more of the area covered

5B 내지 3B는 우수, 2B 내지 0B는 불량이다.5B to 3B are excellent, and 2B to 0B are poor.

측정 결과의 일부를 하기 표 2 및 도 8f 내지 8i에 나타내었다. Some of the measurement results are shown in Table 2 and FIGS. 8F to 8I below.

접착력 평가Adhesion evaluation 실시예 1-1Example 1-1 5B5B 실시예 1-2Example 1-2 5B5B 실시예 1-3Example 1-3 5B5B 실시예 1-4Example 1-4 0B0B 실시예 1-5Example 1-5 2B2B 실시예 1-6Example 1-6 5B5B 실시예 1-8Examples 1-8 5B5B 실시예 1-9Examples 1-9 2B2B 실시예 1-10Examples 1-10 4B4B 실시예 1-11Example 1-11 5B5B 실시예 1-13Examples 1-13 5B5B 실시예 1-14Examples 1-14 2B2B 실시예 1-15Examples 1-15 4B4B 비교예 1-1Comparative Example 1-1 0B0B 비교예 1-2Comparative Example 1-2 0B0B 비교예 1-3Comparative Example 1-3 0B0B

표 2 및 도 8f 내지 8i에 보여지는 바와 같이, 실시예의 코팅층의 접착력은 대부분 4B 이상으로서 우수하였고, 비교예 1-1 내지 비교예 1-3의 코팅층의 접착력은 모두 0B 로서 불량이었다.As shown in Table 2 and FIGS. 8f to 8i, the adhesion of the coating layers of Examples was excellent as most of 4B or more, and the adhesion of the coating layers of Comparative Examples 1-1 to 1-3 were all 0B and poor.

도 8f는 실시예 1-1의 코팅층, 도 8g는 실시예 1-6의 코팅층, 도 8h는 실시예 1-11의 코팅층 및 도 8i는 비교예 1-1의 코팅층의 접착력 테스트 결과이다. 코팅층은 투명하였다. 따라서, 기재의 표면이 그대로 보였다.FIG. 8f is the coating layer of Example 1-1, FIG. 8g is the coating layer of Example 1-6, FIG. 8h is the coating layer of Example 1-11, and FIG. 8i is the adhesion test result of the coating layer of Comparative Example 1-1. The coating layer was transparent. Therefore, the surface of the substrate was seen as it was.

도 8f 내지 도 8h에서는 코팅층이 거의 탈리되지 않았다.8f to 8h, the coating layer was hardly detached.

이에 반해, 도 8i에서는 코팅층이 대부분 탈리되고 일부 탈리되지 않은 부분은 코팅층이 부분적으로 탈리되어 기재와 코팅층 사이에 발생한 빈 공간에 의하여 코팅층이 불투명하게 보였다.On the other hand, in FIG. 8i, most of the coating layer was desorbed, and the coating layer was partially desorbed, and the coating layer appeared opaque due to the empty space generated between the substrate and the coating layer.

즉, 도 8i에서는 코팅층이 대부분 탈리되고 일부만 잔류하며 불투명하게 보였다.That is, in FIG. 8i , most of the coating layer was desorbed and only a portion of the coating layer remained and appeared opaque.

따라서, 제1 코팅층이 도입됨에 의하여 기재와 제2 코팅층 사이의 접착력이 현저히 향상됨을 확인하였다.Therefore, it was confirmed that the adhesion between the substrate and the second coating layer was remarkably improved by the introduction of the first coating layer.

평가예 1-4: 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 도입된 Al 기재의 ATR-FTIR 분석 Evaluation Example 1-4: ATR-FTIR analysis of Al substrate with first coating layer and second coating layer introduced

실시예 1-1 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면 및 제2 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 ATR-FTIR(Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) Spectroscopy 분석을 실시하여 제1 코팅층및 제2 코팅층의 형성 여부를 확인하였다. 분석 결과의 일부를 도 8j 내지 8m에 나타내었다.In the manufacturing process of the substrates coated in Examples 1-1 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-3, ATR on the surface of the substrate after the introduction of the first coating layer and the surface of the substrate after the introduction of the second coating layer -FTIR (Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) spectroscopy was performed to confirm whether the first coating layer and the second coating layer were formed. Some of the analysis results are shown in FIGS. 8j to 8m.

도 8j는 실시예 1-1에서 제1 코팅층이 형성된 기재의 표면에 대한 것이고, 도 8k는 실시예 1-4에서 제1 코팅층이 형성된 기재의 표면에 대한 것이다.FIG. 8j is for the surface of the substrate on which the first coating layer is formed in Example 1-1, and FIG. 8k is for the surface of the substrate on which the first coating layer is formed in Example 1-4.

도 8l는 실시예 1-1에서 제2 코팅층이 형성된 기재의 표면에 대한 것이고, 도 8m는 실시예 1-3에서 제2 코팅층이 형성된 기재의 표면에 대한 것이다.FIG. 8l is for the surface of the substrate on which the second coating layer is formed in Example 1-1, and FIG. 8m is for the surface of the substrate on which the second coating layer is formed in Example 1-3.

도 8j에서 보여지는 바와 같이, Al 기재 상에 1-비닐이미다졸이 코팅된 후에, 1557 cm-1(C=C strethcing), 1604 (C=N stretching), 1490 cm-1 (imidazole ring stretching), 1204 cm-1 (C-N streching) , 1048(imidazole ring bending and stretching), 761 cm-1 (imidazole ring bending), 668 cm-1 (imidazole ring torsion)에서 1-비닐이미다졸에 기인한 특성 피크가 확인되었다. 따라서, 1-비닐이미다졸이 코팅되었음을 확인하였다.As shown in FIG. 8j, after 1-vinylimidazole is coated on the Al substrate, 1557 cm -1 (C = C strethcing), 1604 (C = N stretching), 1490 cm -1 (imidazole ring stretching) ), 1204 cm -1 (CN streching), 1048 (imidazole ring bending and stretching), 761 cm -1 (imidazole ring bending), and 668 cm -1 (imidazole ring torsion) due to 1-vinylimidazole peaks were identified. Therefore, it was confirmed that 1-vinylimidazole was coated.

도 8k에서 보여지는 바와 같이, Al 기재 상에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅된 후에, 3100-3500 cm-1(OH Stretching), 1716 cm-1(C=O stretching), 1607 cm-1(C=C stretching), 1161 cm-1(ester OC-O-C stretching)에서 (하이드록시에틸)메타크릴레이트에 기인한 특성 피크가 확인되었다. 따라서, (하이드록시에틸)메타크릴레이트 이 코팅되었음을 확인하였다. 용액상의 순수한 (하이드록시에틸)메타크릴레이트의 ATR-FTIR의 OH 신축진동(수소결합)은 3100-3600 cm-1 영역의 넓은(broad) 피크로 확인되지만, Al 기재상에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트 코팅하였을 때 3100-3500 cm-1 영역에서 4개의 피크로 갈라지는 것으로 확인되었다.As shown in Figure 8k, after (hydroxyethyl) methacrylate is coated on an Al substrate, 3100-3500 cm -1 (OH Stretching), 1716 cm -1 (C = O stretching), 1607 cm - 1 (C=C stretching) and 1161 cm -1 (ester OC-OC stretching), characteristic peaks attributed to (hydroxyethyl) methacrylate were confirmed. Therefore, it was confirmed that (hydroxyethyl) methacrylate was coated. OH stretching vibration (hydrogen bonding) of ATR-FTIR of pure (hydroxyethyl) methacrylate in solution phase is confirmed as a broad peak in the 3100-3600 cm -1 region, but on an Al substrate (hydroxyethyl) When coated with methacrylate, it was confirmed that four peaks were split in the 3100-3500 cm -1 region.

도 8l에서 보여지는 바와 같이, 1-비닐이미다졸 제1 코팅층 상에 파릴렌 N이 추가로 코팅된 후에, 3084 cm-1 (aromatic C-H stretching), 3007 cm-1 (CH2 stretching), 2917 cm-1 (CH2 stretching), 2852 cm-1 (CH2 stretching), 1511 cm-1(aromatic C-C stretching), 1448 cm-1(C-H bending), 817 cm-1 (two adjacent aromatic C-H bending), 540 cm-1 (out-of-plane ring bending)에서 파릴렌 N에 기인한 특성 피크가 확인되었다. 따라서, 파릴렌 N이 코팅되었음을 확인하였다.As shown in FIG. 8L, after parylene N was additionally coated on the first coating layer of 1-vinylimidazole, 3084 cm -1 (aromatic CH stretching), 3007 cm -1 (CH 2 stretching), 2917 cm -1 (CH 2 stretching), 2852 cm -1 (CH 2 stretching), 1511 cm -1 (aromatic CC stretching), 1448 cm -1 (CH bending), 817 cm -1 (two adjacent aromatic CH bending), A characteristic peak due to parylene N was confirmed at 540 cm -1 (out-of-plane ring bending). Thus, it was confirmed that parylene N was coated.

도 8m에서 보여지는 바와 같이, 1-비닐이미다졸 제1 코팅층 상에 파릴렌 C가 추가로 코팅된 후에, 3023 cm-1(CH2 stretching), 2926 cm-1(CH2 stretching), 2858 cm-1 (CH2 stretching), 1604(aromatic C-C stretching), 1557 cm-1(aromatic C-C stretching), 1449 cm-1(C-H bending), 1048 cm-1(aromatic Ar-Cl bending), 877 cm-1 (neighboring chlorine and ethyl group C-H bending), 820 cm-1 (two adjacent aromatic C-H bending) 에서 파릴렌 C에 기인한 특성 피크가 확인되었다. 따라서, 파릴렌 C가 코팅되었음을 확인하였다.As shown in FIG. 8m, after parylene C was additionally coated on the first coating layer of 1-vinylimidazole, 3023 cm -1 (CH 2 stretching), 2926 cm -1 (CH 2 stretching), 2858 cm -1 (CH 2 stretching), 1604 (aromatic CC stretching), 1557 cm -1 (aromatic CC stretching), 1449 cm -1 (CH bending), 1048 cm -1 (aromatic Ar-Cl bending), 877 cm - 1 (neighboring chlorine and ethyl group CH bending) and 820 cm -1 (two adjacent aromatic CH bending), characteristic peaks attributed to parylene C were confirmed. Thus, it was confirmed that parylene C was coated.

(Cu 기재)(Based on Cu)

실시예 2-1Example 2-1

알루미늄박 대신에 구리 호일(copper foil)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-1, except that copper foil was used instead of the aluminum foil.

실시예 2-2 내지 2-15 및 비교예 2-1 내지 2-3Examples 2-2 to 2-15 and Comparative Examples 2-1 to 2-3

알루미늄박 대신에 구리 호일(copper foil)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-1 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Examples 1-1 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-3, except that copper foil was used instead of the aluminum foil.

평가예 2-1: 제1 코팅층이 도입된 Cu 기재의 XPS 분석 Evaluation Example 2-1: XPS analysis of Cu substrate with first coating layer introduced

실시예 2-1 내지 2-15 및 비교예 2-1 내지 2-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 분석을 실시하여 제1 코팅층의 도입 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 2-1 to 2-15 and Comparative Examples 2-1 to 2-3, XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis was performed on the surface of the substrate after the first coating layer was introduced. It was confirmed whether or not the first coating layer was introduced.

실시예 2-1에서, Cu 기재 상에 1-비닐이미다졸이 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 질소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, 1-비닐이미다졸이 코팅되었음을 확인하였다. 산소 원자에 대한 피크는 Cu 기재 상에 존재하는 하이드록시기 등의 친수성 작용기에 의한 것으로 판단되었다.In Example 2-1, after 1-vinylimidazole was coated on the Cu substrate, peaks for oxygen atoms, nitrogen atoms, and carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that 1-vinylimidazole was coated. The peak for the oxygen atom was determined to be due to a hydrophilic functional group such as a hydroxyl group present on the Cu substrate.

실시예 2-4에서, Cu 기재 상에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅되었음을 확인하였다.In Example 2-4, after (hydroxyethyl)methacrylate was coated on the Cu substrate, peaks for oxygen atoms and peaks for carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that (hydroxyethyl) methacrylate was coated.

평가예 2-2: 물(HEvaluation Example 2-2: Water (H 22 O) 접촉각 측정O) Measurement of contact angle

실시예 2-1 내지 2-15 및 비교예 2-1 내지 2-3에서 제조된 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 형성된 후의 기재 표면에 대하여 접촉각 측정기를 사용하여 대기압의 25℃에서 물에 대한 접촉각을 측정하였다.In the manufacturing process of the coated substrates prepared in Examples 2-1 to 2-15 and Comparative Examples 2-1 to 2-3, a contact angle measuring instrument was used for the surface of the substrate after the first coating layer was formed at 25° C. of atmospheric pressure. The contact angle for water was measured.

측정 결과의 일부를 하기 표 3에 나타내었다. 접촉각은 물과 기재의 계면과 물과 공기의 계면이 이루는 각도이다.Some of the measurement results are shown in Table 3 below. The contact angle is the angle between the interface between water and the substrate and the interface between water and air.

접촉각 [°]contact angle [°] 실시예 2-1Example 2-1 91.591.5 실시예 2-4Example 2-4 98.898.8 비교예 2-1Comparative Example 2-1 87.487.4

표 3에서 보여지는 바와 같이, 제1 코팅층이 Cu 기재 상에 도입됨에 의하여 접촉각이 증가하였다. 따라서, Cu 기재 상에 제1 코팅층이 도입됨을 확인하였다.As shown in Table 3, the contact angle increased by introducing the first coating layer onto the Cu substrate. Therefore, it was confirmed that the first coating layer was introduced on the Cu substrate.

평가예 2-3: 접착력 테스트Evaluation Example 2-3: Adhesion test

실시예 2-1 내지 2-15 및 비교예 2-1 내지 2-3에서 제조된 코팅된 기재에 대하여 접착력 테스트를 실시하였다. 접착력 테스트는 ASTM D3002, D3359 기준으로 스카치 테잎 테스트(Scotch Tape Test)로 평가하였다.Adhesion tests were performed on the coated substrates prepared in Examples 2-1 to 2-15 and Comparative Examples 2-1 to 2-3. The adhesion test was evaluated by a Scotch Tape Test based on ASTM D3002 and D3359.

코팅층을 1mm 간격으로 가로 방향 및 세로 방향으로 각각 11개의 직선으로 절단하여 격자(grid) 형태로 절단한 후, 격자 형태의 코팅층 상에 스카치 테이프를 붙였다 떼어냄에 의하여 제거되는 코팅층의 면적을 평가하였다.The coating layer was cut into 11 straight lines in the horizontal and vertical directions at intervals of 1 mm to form a grid, and then Scotch tape was attached and peeled off on the grid-shaped coating layer to evaluate the area of the coating layer removed. .

평가 기준은 아래와 같다. The evaluation criteria are as follows.

5B: 제거된 면적 0%, 4B: 제거된 면적 5% 미만, 3B: 제거된 면적 5-15%, 2B: 제거된 면적 15-35%, 1B: 제거된 면적 35-65%, 0B: 제거된 면적 65% 이상5B: 0% of the removed area, 4B: less than 5% of the removed area, 3B: 5-15% of the removed area, 2B: 15-35% of the removed area, 1B: 35-65% of the removed area, 0B: removal 65% or more of the area covered

5B 내지 3B는 우수, 2B 내지 0B는 불량이다.5B to 3B are excellent, and 2B to 0B are poor.

측정 결과의 일부를 하기 표 4에 나타내었다. Some of the measurement results are shown in Table 4 below.

접착력 평가Adhesion evaluation 실시예 2-1Example 2-1 5B5B 실시예 2-3Example 2-3 5B5B 실시예 2-4Example 2-4 5B5B 실시예 2-5Example 2-5 5B5B 실시예 2-6Example 2-6 5B5B 실시예 2-8Example 2-8 5B5B 실시예 2-9Example 2-9 5B5B 실시예 2-10Examples 2-10 5B5B 실시예 2-11Examples 2-11 5B5B 실시예 2-13Example 2-13 5B5B 실시예 2-14Example 2-14 5B5B 실시예 2-15Example 2-15 5B5B 비교예 2-1Comparative Example 2-1 2B2B 비교예 2-2Comparative Example 2-2 0B0B 비교예 2-3Comparative Example 2-3 0B0B

표 4에 보여지는 바와 같이, 실시예의 코팅층의 접착력은 5B 로서 우수하였고, 비교예 2-1 내지 비교예 2-3의 코팅층의 접착력은 모두 2B 이하로서 불량이었다.As shown in Table 4, the adhesive strength of the coating layer of Example was excellent as 5B, and the adhesive strength of the coating layers of Comparative Example 2-1 to Comparative Example 2-3 were all poor as 2B or less.

따라서, 제1 코팅층이 도입됨에 의하여 Cu 기재와 제2 코팅층 사이의 접착력이 현저히 향상됨을 확인하였다.Therefore, it was confirmed that the adhesion between the Cu substrate and the second coating layer was remarkably improved by the introduction of the first coating layer.

평가예 2-4: 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 도입된 Cu 기재의 ATR-FTIR 분석Evaluation Example 2-4: ATR-FTIR analysis of Cu substrate with first coating layer and second coating layer introduced

실시예 2-1 내지 2-15 및 비교예 2-1 내지 2-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면 및 제2 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 ATR-FTIR(Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) Spectroscopy 분석을 실시하여 제1 코팅층및 제2 코팅층의 형성 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 2-1 to 2-15 and Comparative Examples 2-1 to 2-3, ATR on the surface of the substrate after the introduction of the first coating layer and the surface of the substrate after the introduction of the second coating layer -FTIR (Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) spectroscopy was performed to confirm whether the first coating layer and the second coating layer were formed.

도면에 도시되지 않으나, 실시예 2-1에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 2-4에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 2-1에서 제2 코팅층이 형성되며, 실시예 2-3에서 제2 코팅층이 형성됨을 ATR-FTIR 스펙트럼으로부터 확인하였다.Although not shown in the drawing, a first coating layer is formed in Example 2-1, a first coating layer is formed in Example 2-4, a second coating layer is formed in Example 2-1, and Example 2-3 It was confirmed from the ATR-FTIR spectrum that the second coating layer was formed in

(Fe 기재)(Fe base)

실시예 3-1Example 3-1

알루미늄박 대신에 철 기판(iron sheet)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-1, except that an iron sheet was used instead of the aluminum foil.

실시예 3-2 내지 3-15 및 비교예 3-1 내지 3-3Examples 3-2 to 3-15 and Comparative Examples 3-1 to 3-3

알루미늄박 대신에 철 기판(iron sheet)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-2 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Examples 1-2 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-3, except that an iron sheet was used instead of the aluminum foil.

평가예 3-1: 제1 코팅층이 도입된 Fe 기재의 XPS 분석 Evaluation Example 3-1: XPS analysis of Fe substrate with first coating layer introduced

실시예 3-1 내지 3-15 및 비교예 3-1 내지 3-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 분석을 실시하여 제1 코팅층의 도입 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 3-1 to 3-15 and Comparative Examples 3-1 to 3-3, XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis was performed on the surface of the substrate after the first coating layer was introduced. It was confirmed whether or not the first coating layer was introduced.

실시예 3-1에서, Fe 기재 상에 1-비닐이미다졸이 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 질소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, 1-비닐이미다졸이 코팅되었음을 확인하였다. 산소 원자에 대한 피크는 Fe 기재 상에 존재하는 하이드록시기 등의 친수성 작용기에 의한 것으로 판단되었다.In Example 3-1, after 1-vinylimidazole was coated on the Fe substrate, peaks for oxygen atoms, nitrogen atoms, and carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that 1-vinylimidazole was coated. The peak for the oxygen atom was determined to be due to a hydrophilic functional group such as a hydroxyl group present on the Fe substrate.

실시예 3-4에서, Fe 기재 상에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅되었음을 확인하였다. In Example 3-4, after (hydroxyethyl)methacrylate was coated on the Fe substrate, peaks for oxygen atoms and peaks for carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that (hydroxyethyl) methacrylate was coated.

평가예 3-2: 물(HEvaluation Example 3-2: Water (H 22 O) 접촉각 측정O) Measurement of contact angle

실시예 3-1 내지 3-15 및 비교예 3-1 내지 3-3에서 제조된 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 형성된 후의 기재 표면에 대하여 접촉각 측정기를 사용하여 대기압의 25℃에서 물에 대한 접촉각을 측정하였다.In the process of manufacturing the coated substrates prepared in Examples 3-1 to 3-15 and Comparative Examples 3-1 to 3-3, a contact angle measuring instrument was used for the surface of the substrate after the first coating layer was formed at 25° C. of atmospheric pressure. The contact angle for water was measured.

측정 결과의 일부를 하기 표 5에 나타내었다. 접촉각은 물과 기재의 계면과 물과 공기의 계면이 이루는 각도이다.Some of the measurement results are shown in Table 5 below. The contact angle is the angle between the interface between water and the substrate and the interface between water and air.

접촉각 [°]contact angle [°] 실시예 3-1Example 3-1 83.083.0 실시예 3-4Example 3-4 62.962.9 비교예 3-1Comparative Example 3-1 77.377.3

표 5에서 보여지는 바와 같이, Fe 기재 상에 제1 코팅층이 도입됨에 의하여 접촉각이 변화하였다. 따라서, Fe 기재 상에 제1 코팅층이 도입됨을 확인하였다.As shown in Table 5, the contact angle was changed by introducing the first coating layer on the Fe substrate. Therefore, it was confirmed that the first coating layer was introduced on the Fe substrate.

평가예 3-3: 접착력 테스트Evaluation Example 3-3: Adhesion test

실시예 3-1 내지 3-15 및 비교예 3-1 내지 3-3에서 제조된 코팅된 기재에 대하여 접착력 테스트를 실시하였다. 접착력 테스트는 ASTM D3002, D3359 기준으로 스카치 테잎 테스트(Scotch Tape Test)로 평가하였다.Adhesion tests were performed on the coated substrates prepared in Examples 3-1 to 3-15 and Comparative Examples 3-1 to 3-3. The adhesion test was evaluated by a Scotch Tape Test based on ASTM D3002 and D3359.

코팅층을 1mm 간격으로 가로 방향 및 세로 방향으로 각각 11개의 직선으로 절단하여 격자(grid) 형태로 절단한 후, 격자 형태의 코팅층 상에 스카치 테이프를 붙였다 떼어냄에 의하여 제거되는 코팅층의 면적을 평가하였다.The coating layer was cut into 11 straight lines in the horizontal and vertical directions at intervals of 1 mm to form a grid, and then Scotch tape was attached and peeled off on the grid-shaped coating layer to evaluate the area of the coating layer removed. .

평가 기준은 아래와 같다. The evaluation criteria are as follows.

5B: 제거된 면적 0%, 4B: 제거된 면적 5% 미만, 3B: 제거된 면적 5-15%, 2B: 제거된 면적 15-35%, 1B: 제거된 면적 35-65%, 0B: 제거된 면적 65% 이상5B: 0% of the removed area, 4B: less than 5% of the removed area, 3B: 5-15% of the removed area, 2B: 15-35% of the removed area, 1B: 35-65% of the removed area, 0B: removal 65% or more of the area covered

5B 내지 3B는 우수, 2B 내지 0B는 불량이다.5B to 3B are excellent, and 2B to 0B are poor.

측정 결과의 일부를 하기 표 6에 나타내었다. Some of the measurement results are shown in Table 6 below.

접착력 평가Adhesion evaluation 실시예 3-1Example 3-1 5B5B 실시예 3-3Example 3-3 5B5B 실시예 3-4Example 3-4 5B5B 실시예 3-5Example 3-5 5B5B 실시예 3-6Example 3-6 5B5B 실시예 3-8Example 3-8 5B5B 실시예 3-9Examples 3-9 5B5B 실시예 3-10Example 3-10 5B5B 실시예 3-11Example 3-11 5B5B 실시예 3-13Example 3-13 5B5B 실시예 3-14Example 3-14 5B5B 실시예 3-15Example 3-15 5B5B 비교예 3-1Comparative Example 3-1 2B2B 비교예 3-2Comparative Example 3-2 0B0B 비교예 3-3Comparative Example 3-3 0B0B

표 6에 보여지는 바와 같이, 실시예의 코팅층의 접착력은 5B 로서 우수하였고, 비교예 3-1 내지 비교예 3-3의 코팅층의 접착력은 모두 2B 이하로서 불량이었다.As shown in Table 6, the adhesive strength of the coating layer of Example was excellent as 5B, and the adhesive strength of the coating layers of Comparative Example 3-1 to Comparative Example 3-3 were all poor as 2B or less.

따라서, 제1 코팅층이 도입됨에 의하여 Fe 기재와 제2 코팅층 사이의 접착력이 현저히 향상됨을 확인하였다.Therefore, it was confirmed that the adhesion between the Fe substrate and the second coating layer was remarkably improved by the introduction of the first coating layer.

평가예 3-4: 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 도입된 Fe 기재의 ATR-FTIR 분석Evaluation Example 3-4: ATR-FTIR analysis of Fe substrate with first coating layer and second coating layer introduced

실시예 3-1 내지 3-15 및 비교예 3-1 내지 3-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면 및 제2 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 ATR-FTIR(Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) Spectroscopy 분석을 실시하여 제1 코팅층및 제2 코팅층의 형성 여부를 확인하였다.In the manufacturing process of the substrates coated in Examples 3-1 to 3-15 and Comparative Examples 3-1 to 3-3, ATR on the surface of the substrate after the introduction of the first coating layer and the surface of the substrate after the introduction of the second coating layer -FTIR (Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) spectroscopy was performed to confirm whether the first coating layer and the second coating layer were formed.

도면에 도시되지 않으나, 실시예 3-1에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 3-4에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 3-1에서 제2 코팅층이 형성되며, 실시예 3-3에서 제2 코팅층이 형성됨을 ATR-FTIR 스펙트럼으로부터 확인하였다.Although not shown in the drawings, a first coating layer is formed in Example 3-1, a first coating layer is formed in Example 3-4, a second coating layer is formed in Example 3-1, and Example 3-3 It was confirmed from the ATR-FTIR spectrum that the second coating layer was formed in

(Ti 기재)(Ti base)

실시예 4-1Example 4-1

알루미늄박 대신에 티타늄 기판(titanium sheet)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-1, except that a titanium sheet was used instead of the aluminum foil.

실시예 4-2 내지 4-15 및 비교예 4-1 내지 4-3Examples 4-2 to 4-15 and Comparative Examples 4-1 to 4-3

알루미늄박 대신에 티타늄 기판(titanium sheet)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-2 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Examples 1-2 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-3, except that a titanium sheet was used instead of the aluminum foil.

평가예 4-1: 제1 코팅층이 도입된 Ti 기재의 XPS 분석Evaluation Example 4-1: XPS analysis of Ti substrate with first coating layer introduced

실시예 4-1 내지 4-15 및 비교예 4-1 내지 4-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 분석을 실시하여 제1 코팅층의 도입 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 4-1 to 4-15 and Comparative Examples 4-1 to 4-3, XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis was performed on the surface of the substrate after the first coating layer was introduced. It was confirmed whether or not the first coating layer was introduced.

실시예 4-1에서, Ti 기재 상에 1-비닐이미다졸이 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 질소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, 1-비닐이미다졸이 코팅되었음을 확인하였다. 산소 원자에 대한 피크는 Ti 기재 상에 존재하는 하이드록시기 등의 친수성 작용기에 의한 것으로 판단되었다.In Example 4-1, after 1-vinylimidazole was coated on the Ti substrate, peaks for oxygen atoms, nitrogen atoms, and carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that 1-vinylimidazole was coated. The peak for the oxygen atom was determined to be due to a hydrophilic functional group such as a hydroxyl group present on the Ti substrate.

실시예 4-4에서, Ti 기재 상에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅되었음을 확인하였다. In Example 4-4, after (hydroxyethyl)methacrylate was coated on the Ti substrate, peaks for oxygen atoms and peaks for carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that (hydroxyethyl) methacrylate was coated.

평가예 4-2: 물(HEvaluation Example 4-2: Water (H 22 O) 접촉각 측정O) Measurement of contact angle

실시예 4-1 내지 4-15 및 비교예 4-1 내지 4-3에서 제조된 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 형성된 후의 기재 표면에 대하여 접촉각 측정기를 사용하여 대기압의 25℃에서 물에 대한 접촉각을 측정하였다.In the process of manufacturing the coated substrates prepared in Examples 4-1 to 4-15 and Comparative Examples 4-1 to 4-3, a contact angle measuring instrument was used for the surface of the substrate after the first coating layer was formed at 25° C. of atmospheric pressure. The contact angle for water was measured.

측정 결과의 일부를 하기 표 7에 나타내었다. 접촉각은 물과 기재의 계면과 물과 공기의 계면이 이루는 각도이다.Some of the measurement results are shown in Table 7 below. The contact angle is the angle between the interface between water and the substrate and the interface between water and air.

접촉각 [°]contact angle [°] 실시예 4-1Example 4-1 64.764.7 실시예 4-4Example 4-4 53.553.5 비교예 4-1Comparative Example 4-1 40.840.8

표 7에서 보여지는 바와 같이, 제1 코팅층이 Ti 기재 상에 도입됨에 의하여 접촉각이 증가하였다. 따라서, Ti 기재 상에 제1 코팅층이 도입됨을 확인하였다.As shown in Table 7, the contact angle increased by introducing the first coating layer on the Ti substrate. Therefore, it was confirmed that the first coating layer was introduced on the Ti substrate.

평가예 4-3: 접착력 테스트Evaluation Example 4-3: Adhesion test

실시예 4-1 내지 4-15 및 비교예 4-1 내지 4-3에서 제조된 코팅된 기재에 대하여 접착력 테스트를 실시하였다. 접착력 테스트는 ASTM D3002, D3359 기준으로 스카치 테잎 테스트(Scotch Tape Test)로 평가하였다.Adhesion tests were performed on the coated substrates prepared in Examples 4-1 to 4-15 and Comparative Examples 4-1 to 4-3. The adhesion test was evaluated by a Scotch Tape Test based on ASTM D3002 and D3359.

코팅층을 1mm 간격으로 가로 방향 및 세로 방향으로 각각 11개의 직선으로 절단하여 격자(grid) 형태로 절단한 후, 격자 형태의 코팅층 상에 스카치 테이프를 붙였다 떼어냄에 의하여 제거되는 코팅층의 면적을 평가하였다.The coating layer was cut into 11 straight lines in the horizontal and vertical directions at intervals of 1 mm to form a grid, and then Scotch tape was attached and peeled off on the grid-shaped coating layer to evaluate the area of the coating layer removed. .

평가 기준은 아래와 같다. The evaluation criteria are as follows.

5B: 제거된 면적 0%, 4B: 제거된 면적 5% 미만, 3B: 제거된 면적 5-15%, 2B: 제거된 면적 15-35%, 1B: 제거된 면적 35-65%, 0B: 제거된 면적 65% 이상5B: 0% of the removed area, 4B: less than 5% of the removed area, 3B: 5-15% of the removed area, 2B: 15-35% of the removed area, 1B: 35-65% of the removed area, 0B: removal 65% or more of the area covered

5B 내지 3B는 우수, 2B 내지 0B는 불량이다.5B to 3B are excellent, and 2B to 0B are poor.

측정 결과의 일부를 하기 표 8에 나타내었다. Some of the measurement results are shown in Table 8 below.

접착력 평가Adhesion evaluation 실시예 4-1Example 4-1 5B5B 실시예 4-3Example 4-3 5B5B 실시예 4-5Example 4-5 1B1B 실시예 4-6Example 4-6 5B5B 실시예 4-8Examples 4-8 5B5B 실시예 4-10Example 4-10 2B2B 실시예 4-11Example 4-11 5B5B 실시예 4-13Example 4-13 5B5B 실시예 4-14Example 4-14 2B2B 실시예 4-15Example 4-15 3B3B 비교예 4-1Comparative Example 4-1 0B0B 비교예 4-2Comparative Example 4-2 0B0B 비교예 4-3Comparative Example 4-3 0B0B

표 8에 보여지는 바와 같이, 1-비닐이미다졸이 사용된 실시예 4-1, 4-3, 4-11, 4-13, 4-16, 4-18의 코팅층의 접착력은 5B 로서 우수하였다.As shown in Table 8, the adhesion of the coating layers of Examples 4-1, 4-3, 4-11, 4-13, 4-16, and 4-18 in which 1-vinylimidazole was used was excellent as 5B. did

(하이드록시)메타크릴레이트가 사용된 실시예 4-5, 4-10, 4-14, 4-15는 비교예 4-1 내지 4-3에 비하여 전체적으로 접착력이 향상되었으나, 1-비닐이미다졸에 비하여는 접착력이 부진하였다.In Examples 4-5, 4-10, 4-14, and 4-15 in which (hydroxy)methacrylate was used, overall adhesive strength was improved compared to Comparative Examples 4-1 to 4-3, but 1-vinyl imide Compared to the sol, the adhesive strength was poor.

따라서, 제1 코팅층이 도입됨에 의하여 Ti 기재와 제2 코팅층 사이의 접착력이 향상됨을 확인하였다.Therefore, it was confirmed that the adhesion between the Ti substrate and the second coating layer was improved by the introduction of the first coating layer.

평가예 4-4: 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 도입된 Ti 기재의 ATR-FTIR 분석Evaluation Example 4-4: ATR-FTIR analysis of Ti substrate to which the first coating layer and the second coating layer were introduced

실시예 4-1 내지 4-15 및 비교예 4-1 내지 4-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면 및 제2 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 ATR-FTIR(Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) Spectroscopy 분석을 실시하여 제1 코팅층및 제2 코팅층의 형성 여부를 확인하였다.In the manufacturing process of the substrates coated in Examples 4-1 to 4-15 and Comparative Examples 4-1 to 4-3, ATR on the surface of the substrate after the introduction of the first coating layer and the surface of the substrate after the introduction of the second coating layer -FTIR (Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) spectroscopy was performed to confirm whether the first coating layer and the second coating layer were formed.

도면에 도시되지 않으나, 실시예 4-1에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 4-4에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 4-1에서 제2 코팅층이 형성되며, 실시예 4-3에서 제2 코팅층이 형성됨을 ATR-FTIR 스펙트럼으로부터 확인하였다.Although not shown in the figure, a first coating layer is formed in Example 4-1, a first coating layer is formed in Example 4-4, a second coating layer is formed in Example 4-1, and Example 4-3 It was confirmed from the ATR-FTIR spectrum that the second coating layer was formed in

(Pb 기재)(Pb base)

실시예 5-1Example 5-1

알루미늄박 대신에 납 기판(lead sheet)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-1, except that a lead sheet was used instead of the aluminum foil.

실시예 5-2 내지 5-15 및 비교예 5-1 내지 5-3Examples 5-2 to 5-15 and Comparative Examples 5-1 to 5-3

알루미늄박 대신에 납 기판(lead sheet)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-2 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Examples 1-2 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-3, except that a lead sheet was used instead of the aluminum foil.

평가예 5-1: 제1 코팅층이 도입된 Pb 기재의 XPS 분석Evaluation Example 5-1: XPS analysis of Pb substrate with first coating layer introduced

실시예 5-1 내지 5-15 및 비교예 5-1 내지 5-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 분석을 실시하여 제1 코팅층의 도입 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 5-1 to 5-15 and Comparative Examples 5-1 to 5-3, XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis was performed on the surface of the substrate after the first coating layer was introduced. It was confirmed whether or not the first coating layer was introduced.

실시예 5-1에서, Pb 기재 상에 1-비닐이미다졸이 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 질소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, 1-비닐이미다졸이 코팅되었음을 확인하였다. 산소 원자에 대한 피크는 Pb 기재 상에 존재하는 하이드록시기 등의 친수성 작용기에 의한 것으로 판단되었다. 질소 원자에 대한 피크가 작았다.In Example 5-1, after 1-vinylimidazole was coated on the Pb substrate, peaks for oxygen atoms, nitrogen atoms, and carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that 1-vinylimidazole was coated. The peak for the oxygen atom was determined to be due to a hydrophilic functional group such as a hydroxyl group present on the Pb substrate. The peak for the nitrogen atom was small.

실시예 5-4에서, Pb 기재 상에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅되었음을 확인하였다. In Example 5-4, after (hydroxyethyl)methacrylate was coated on the Pb substrate, peaks for oxygen atoms and peaks for carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that (hydroxyethyl) methacrylate was coated.

평가예 5-2: 물(HEvaluation Example 5-2: Water (H 22 O) 접촉각 측정O) Measurement of contact angle

실시예 5-1 내지 5-15 및 비교예 5-1 내지 5-3에서 제조된 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 형성된 후의 기재 표면에 대하여 접촉각 측정기를 사용하여 대기압의 25℃에서 물에 대한 접촉각을 측정하였다.In the process of manufacturing the coated substrates prepared in Examples 5-1 to 5-15 and Comparative Examples 5-1 to 5-3, a contact angle measuring instrument was used for the surface of the substrate after the first coating layer was formed at 25° C. of atmospheric pressure. The contact angle for water was measured.

측정 결과의 일부를 하기 표 9에 나타내었다. 접촉각은 물과 기재의 계면과 물과 공기의 계면이 이루는 각도이다.Some of the measurement results are shown in Table 9 below. The contact angle is the angle between the interface between water and the substrate and the interface between water and air.

접촉각 [°]contact angle [°] 실시예 5-1Example 5-1 86.886.8 실시예 5-4Example 5-4 51.251.2 비교예 5-1Comparative Example 5-1 42.642.6

표 9에서 보여지는 바와 같이, 제1 코팅층이 Pb 기재 상에 도입됨에 의하여 접촉각이 증가하였다. 따라서, Pb 기재 상에 제1 코팅층이 도입됨을 확인하였다.As shown in Table 9, the contact angle increased by introducing the first coating layer on the Pb substrate. Therefore, it was confirmed that the first coating layer was introduced on the Pb substrate.

1-비닐이미다졸이 코팅된 실시예 5-1에서 접촉각이 현저히 증가하였다.In Example 5-1 coated with 1-vinylimidazole, the contact angle increased remarkably.

평가예 5-3: 접착력 테스트Evaluation Example 5-3: Adhesion Test

실시예 5-1 내지 5-15 및 비교예 5-1 내지 5-3에서 제조된 코팅된 기재에 대하여 접착력 테스트를 실시하였다. 접착력 테스트는 ASTM D3002, D3359 기준으로 스카치 테잎 테스트(Scotch Tape Test)로 평가하였다.Adhesion tests were performed on the coated substrates prepared in Examples 5-1 to 5-15 and Comparative Examples 5-1 to 5-3. The adhesion test was evaluated by a Scotch Tape Test based on ASTM D3002 and D3359.

코팅층을 1mm 간격으로 가로 방향 및 세로 방향으로 각각 11개의 직선으로 절단하여 격자(grid) 형태로 절단한 후, 격자 형태의 코팅층 상에 스카치 테이프를 붙였다 떼어냄에 의하여 제거되는 코팅층의 면적을 평가하였다.The coating layer was cut into 11 straight lines in the horizontal and vertical directions at intervals of 1 mm to form a grid, and then Scotch tape was attached and peeled off on the grid-shaped coating layer to evaluate the area of the coating layer removed. .

평가 기준은 아래와 같다. The evaluation criteria are as follows.

5B: 제거된 면적 0%, 4B: 제거된 면적 5% 미만, 3B: 제거된 면적 5-15%, 2B: 제거된 면적 15-35%, 1B: 제거된 면적 35-65%, 0B: 제거된 면적 65% 이상5B: 0% of the removed area, 4B: less than 5% of the removed area, 3B: 5-15% of the removed area, 2B: 15-35% of the removed area, 1B: 35-65% of the removed area, 0B: removal 65% or more of the area covered

5B 내지 3B는 우수, 2B 내지 0B는 불량이다.5B to 3B are excellent, and 2B to 0B are poor.

측정 결과의 일부를 하기 표 10에 나타내었다. Some of the measurement results are shown in Table 10 below.

접착력 평가Adhesion evaluation 실시예 5-1Example 5-1 5B5B 실시예 5-3Example 5-3 5B5B 실시예 5-4Example 5-4 5B5B 실시예 5-5Example 5-5 5B5B 실시예 5-6Example 5-6 5B5B 실시예 5-8Example 5-8 5B5B 실시예 5-9Example 5-9 5B5B 실시예 5-10Examples 5-10 5B5B 실시예 5-11Example 5-11 5B5B 실시예 5-13Example 5-13 5B5B 실시예 5-14Example 5-14 5B5B 실시예 5-15Example 5-15 5B5B 비교예 5-1Comparative Example 5-1 2B2B 비교예 5-2Comparative Example 5-2 5B5B

표 10에 보여지는 바와 같이, 파릴렌 N을 사용하는 실시예 5-1, 5-4, 5-6, 5-9, 5-11, 5-14의 코팅층의 접착력은 비교예 5-1의 코팅층의 접착력에 비하여 향상되었다.As shown in Table 10, the adhesion of the coating layers of Examples 5-1, 5-4, 5-6, 5-9, 5-11, and 5-14 using parylene N was comparable to that of Comparative Example 5-1. The adhesion of the coating layer was improved.

파릴렌 C를 사용하는 실시예 5-3, 5-5, 5-8, 5-10, 5-13, 5-15의 코팅층의 접착력과 비교예 5-2의 코팅층의 접착력은 모두 5B로서 우수하였다.The adhesion of the coating layer of Examples 5-3, 5-5, 5-8, 5-10, 5-13, and 5-15 using Parylene C and the adhesion of the coating layer of Comparative Example 5-2 were all excellent as 5B. did

따라서, 제1 코팅층이 도입됨에 의하여 Pb 기재와 제2 코팅층 사이의 접착력이 동등 이상으로 향상됨을 확인하였다.Therefore, it was confirmed that the adhesion between the Pb substrate and the second coating layer was improved to an equal or higher level by the introduction of the first coating layer.

평가예 5-4: 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 도입된 Pb 기재의 ATR-FTIR 분석Evaluation Example 5-4: ATR-FTIR analysis of a Pb substrate to which the first coating layer and the second coating layer were introduced

실시예 5-1 내지 5-15 및 비교예 5-1 내지 5-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면 및 제2 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 ATR-FTIR(Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) Spectroscopy 분석을 실시하여 제1 코팅층및 제2 코팅층의 형성 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 5-1 to 5-15 and Comparative Examples 5-1 to 5-3, ATR on the surface of the substrate after the introduction of the first coating layer and the surface of the substrate after the introduction of the second coating layer -FTIR (Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) spectroscopy was performed to confirm whether the first coating layer and the second coating layer were formed.

도면에 도시되지 않으나, 실시예 5-1에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 5-4에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 5-1에서 제2 코팅층이 형성되며, 실시예 5-3에서 제2 코팅층이 형성됨을 ATR-FTIR 스펙트럼으로부터 확인하였다.Although not shown in the figure, a first coating layer is formed in Example 5-1, a first coating layer is formed in Example 5-4, a second coating layer is formed in Example 5-1, and Example 5-3 It was confirmed from the ATR-FTIR spectrum that the second coating layer was formed in

(SUS 기재)(SUS material)

실시예 6-1Example 6-1

알루미늄박 대신에 스테인레스스틸 기판(SUS 304 sheet)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-1, except that a stainless steel substrate (SUS 304 sheet) was used instead of the aluminum foil.

실시예 6-2 내지 6-15 및 비교예 6-1 내지 6-3Examples 6-2 to 6-15 and Comparative Examples 6-1 to 6-3

알루미늄박 대신에 스테인레스스틸 기판(SUS 304 sheet)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-2 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Examples 1-2 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-3, except that a stainless steel substrate (SUS 304 sheet) was used instead of the aluminum foil.

평가예 6-1: 제1 코팅층이 도입된 SUS 기재의 XPS 분석Evaluation Example 6-1: XPS analysis of SUS substrate with first coating layer introduced

실시예 6-1 내지 6-15 및 비교예 6-1 내지 6-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 분석을 실시하여 제1 코팅층의 도입 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 6-1 to 6-15 and Comparative Examples 6-1 to 6-3, XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis was performed on the surface of the substrate after the first coating layer was introduced. It was confirmed whether or not the first coating layer was introduced.

실시예 6-1에서, SUS 기재 상에 1-비닐이미다졸이 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 질소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, 1-비닐이미다졸이 코팅되었음을 확인하였다. 산소 원자에 대한 피크는 SUS 기재 상에 존재하는 하이드록시기 등의 친수성 작용기에 의한 것으로 판단되었다. In Example 6-1, after 1-vinylimidazole was coated on the SUS substrate, peaks for oxygen atoms, nitrogen atoms, and carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that 1-vinylimidazole was coated. The peak for an oxygen atom was determined to be due to a hydrophilic functional group such as a hydroxyl group present on the SUS substrate.

실시예 6-4에서, SUS 기재 상에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅되었음을 확인하였다. In Example 6-4, after (hydroxyethyl)methacrylate was coated on the SUS substrate, peaks for oxygen atoms and peaks for carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that (hydroxyethyl) methacrylate was coated.

평가예 6-2: 물(HEvaluation Example 6-2: Water (H 22 O) 접촉각 측정O) Measurement of contact angle

실시예 6-1 내지 6-15 및 비교예 6-1 내지 6-3에서 제조된 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 형성된 후의 기재 표면에 대하여 접촉각 측정기를 사용하여 대기압의 25℃에서 물에 대한 접촉각을 측정하였다.In the process of manufacturing the coated substrates prepared in Examples 6-1 to 6-15 and Comparative Examples 6-1 to 6-3, a contact angle measuring instrument was used for the surface of the substrate after the first coating layer was formed at 25° C. of atmospheric pressure. The contact angle for water was measured.

측정 결과의 일부를 하기 표 11에 나타내었다. 접촉각은 물과 기재의 계면과 물과 공기의 계면이 이루는 각도이다.Some of the measurement results are shown in Table 11 below. The contact angle is the angle between the interface between water and the substrate and the interface between water and air.

접촉각 [°]contact angle [°] 실시예 6-1Example 6-1 75.675.6 실시예 6-4Example 6-4 54.654.6 비교예 6-1Comparative Example 6-1 85.085.0

표 11에서 보여지는 바와 같이, 제1 코팅층이 SUS 기재 상에 도입됨에 의하여 접촉각이 감소하였다. 따라서, SUS 기재 상에 제1 코팅층이 도입됨을 확인하였다.As shown in Table 11, the contact angle decreased by introducing the first coating layer on the SUS substrate. Therefore, it was confirmed that the first coating layer was introduced on the SUS substrate.

평가예 6-3: 접착력 테스트Evaluation Example 6-3: Adhesion test

실시예 6-1 내지 6-15 및 비교예 6-1 내지 6-3에서 제조된 코팅된 기재에 대하여 접착력 테스트를 실시하였다. 접착력 테스트는 ASTM D3002, D3359 기준으로 스카치 테잎 테스트(Scotch Tape Test)로 평가하였다.Adhesion tests were performed on the coated substrates prepared in Examples 6-1 to 6-15 and Comparative Examples 6-1 to 6-3. The adhesion test was evaluated by a Scotch Tape Test based on ASTM D3002 and D3359.

코팅층을 1mm 간격으로 가로 방향 및 세로 방향으로 각각 11개의 직선으로 절단하여 격자(grid) 형태로 절단한 후, 격자 형태의 코팅층 상에 스카치 테이프를 붙였다 떼어냄에 의하여 제거되는 코팅층의 면적을 평가하였다.The coating layer was cut into 11 straight lines in the horizontal and vertical directions at intervals of 1 mm to form a grid, and then Scotch tape was attached and peeled off on the grid-shaped coating layer to evaluate the area of the coating layer removed. .

평가 기준은 아래와 같다. The evaluation criteria are as follows.

5B: 제거된 면적 0%, 4B: 제거된 면적 5% 미만, 3B: 제거된 면적 5-15%, 2B: 제거된 면적 15-35%, 1B: 제거된 면적 35-65%, 0B: 제거된 면적 65% 이상5B: 0% of the removed area, 4B: less than 5% of the removed area, 3B: 5-15% of the removed area, 2B: 15-35% of the removed area, 1B: 35-65% of the removed area, 0B: removal 65% or more of the area covered

5B 내지 3B는 우수, 2B 내지 0B는 불량이다.5B to 3B are excellent, and 2B to 0B are poor.

측정 결과의 일부를 하기 표 12에 나타내었다. Some of the measurement results are shown in Table 12 below.

접착력 평가Adhesion evaluation 실시예 6-1Example 6-1 3B3B 실시예 6-3Example 6-3 3B3B 실시예 6-4Example 6-4 2B2B 실시예 6-6Example 6-6 5B5B 실시예 6-8Examples 6-8 5B5B 실시예 6-9Examples 6-9 2B2B 실시예 6-10Examples 6-10 2B2B 실시예 6-11Examples 6-11 5B5B 실시예 6-13Examples 6-13 5B5B 실시예 6-14Examples 6-14 3B3B 실시예 6-15Examples 6-15 4B4B 비교예 6-1Comparative Example 6-1 0B0B 비교예 6-2Comparative Example 6-2 0B0B 비교예 6-3Comparative Example 6-3 0B0B

표 12에 보여지는 바와 같이, 1-비닐이미다졸을 사용하는 실시예 6-1, 6-3, 6-6, 6-8, 6-11, 6-13의 코팅층의 접착력은 비교예의 코팅층의 접착력에 비하여 향상되었다.As shown in Table 12, the adhesive strength of the coating layers of Examples 6-1, 6-3, 6-6, 6-8, 6-11, and 6-13 using 1-vinylimidazole was the coating layer of the comparative example. Compared to the adhesion of the improved.

(2-하이드록시에틸)메타크릴레이트를 사용하는 실시예 6-4, 6-9, 6-10, 6-14, 6-15의 코팅층의 접착력은 비교예의 코팅층의 접착력에 비하여 향상되었으나, 1-비닐이미다졸을 포함하는 코팅층에 비하여는 부진하였다.The adhesive strength of the coating layers of Examples 6-4, 6-9, 6-10, 6-14, and 6-15 using (2-hydroxyethyl) methacrylate was improved compared to that of the coating layers of Comparative Examples, but 1 - It was sluggish compared to the coating layer containing vinylimidazole.

따라서, 제1 코팅층이 도입됨에 의하여 SUS 기재와 제2 코팅층 사이의 접착력이 향상됨을 확인하였다.Therefore, it was confirmed that the adhesion between the SUS substrate and the second coating layer was improved by the introduction of the first coating layer.

평가예 6-4: 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 도입된 SUS 기재의 ATR-FTIR 분석Evaluation Example 6-4: ATR-FTIR analysis of SUS substrate to which the first coating layer and the second coating layer were introduced

실시예 6-1 내지 6-15 및 비교예 6-1 내지 6-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면 및 제2 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 ATR-FTIR(Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) Spectroscopy 분석을 실시하여 제1 코팅층및 제2 코팅층의 형성 여부를 확인하였다.In the manufacturing process of the substrates coated in Examples 6-1 to 6-15 and Comparative Examples 6-1 to 6-3, ATR on the surface of the substrate after the introduction of the first coating layer and the surface of the substrate after the introduction of the second coating layer -FTIR (Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) spectroscopy was performed to confirm whether the first coating layer and the second coating layer were formed.

도면에 도시되지 않으나, 실시예 6-1에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 6-4에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 6-1에서 제2 코팅층이 형성되며, 실시예 6-3에서 제2 코팅층이 형성됨을 ATR-FTIR 스펙트럼으로부터 확인하였다.Although not shown in the figure, a first coating layer is formed in Example 6-1, a first coating layer is formed in Example 6-4, a second coating layer is formed in Example 6-1, and Example 6-3 It was confirmed from the ATR-FTIR spectrum that the second coating layer was formed in

(유리 기재)(glass substrate)

실시예 7-1Example 7-1

알루미늄박 대신에 유리 기판(glass sheet)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-1, except that a glass sheet was used instead of the aluminum foil.

실시예 7-2 내지 7-15 및 비교예 7-1 내지 7-3Examples 7-2 to 7-15 and Comparative Examples 7-1 to 7-3

알루미늄박 대신에 유리 기판(glass sheet)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-2 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Examples 1-2 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-3, except that a glass sheet was used instead of the aluminum foil.

실시예 7-16: 전자 소자의 밀봉Example 7-16: Sealing of Electronic Devices

알루미늄박 대신에, 일면 상에 유기전계발광소자(OLED)가 부착된 500mm×500mm의 유리 기판을 사용한 것을 제외하고는 실시예 7-1과 동일한 방법으로 투명 밀봉층을 증착하였다. 밀봉층 두께는 약 3㎛이었다. Instead of the aluminum foil, a transparent sealing layer was deposited in the same manner as in Example 7-1, except that a 500 mm × 500 mm glass substrate having an organic light emitting device (OLED) attached thereon was used. The sealing layer thickness was about 3 μm.

유기전계발광소자는 한 쌍의 ITO 전극 및 상기 ITO 전극 사이에 배치된 유기층을 포함하였다. ITO 전극은 유리 기판 상에 ITO(indium Tin Oxide)가 코팅된 투명 전도성 전극이다.The organic light emitting device includes a pair of ITO electrodes and an organic layer disposed between the ITO electrodes. The ITO electrode is a transparent conductive electrode coated with indium tin oxide (ITO) on a glass substrate.

밀봉층이 유기전계발광소자 및 기판 표면을 따라 컨포멀(conformal) 코팅층(coating layer)이 형성되었음을 확인하였다.It was confirmed that the sealing layer formed a conformal coating layer along the surface of the organic light emitting device and the substrate.

따라서, 유기전계발광소자의 전극 및 유리 기판 상에 3차원 밀봉층이 형성되어 유기전계발광소자를 밀봉하였음을 확인하였다.Therefore, it was confirmed that a three-dimensional sealing layer was formed on the electrode and the glass substrate of the organic light emitting device to seal the organic light emitting device.

비교예 7-4: 전자 소자의 밀봉Comparative Example 7-4: Sealing of electronic elements

1-비닐이미다졸을 포함하는 제1 코팅층을 증착하는 단계를 생략하고 파릴렌 N을 포함하는 제2 코팅층만을 증착한 것을 제외하고는 실시예 7-16과 동일한 방법으로 유기전계발광소자를 밀봉하였다.The organic light emitting device was sealed in the same manner as in Examples 7-16, except that the step of depositing the first coating layer containing 1-vinylimidazole was omitted and only the second coating layer containing parylene N was deposited. did

평가예 7-1: 제1 코팅층이 도입된 유리 기재의 XPS 분석Evaluation Example 7-1: XPS analysis of the glass substrate to which the first coating layer was introduced

실시예 7-1 내지 7-15 및 비교예 7-1 내지 7-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 분석을 실시하여 제1 코팅층의 도입 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 7-1 to 7-15 and Comparative Examples 7-1 to 7-3, XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis was performed on the surface of the substrate after the first coating layer was introduced. It was confirmed whether or not the first coating layer was introduced.

실시예 7-1에서, 유리 기재 상에 1-비닐이미다졸이 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 질소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, 1-비닐이미다졸이 코팅되었음을 확인하였다. 산소 원자에 대한 피크는 유리 기재 상에 존재하는 하이드록시기 등의 친수성 작용기에 의한 것으로 판단되었다. In Example 7-1, after 1-vinylimidazole was coated on the glass substrate, peaks for oxygen atoms, nitrogen atoms, and carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that 1-vinylimidazole was coated. The peak for the oxygen atom was determined to be due to a hydrophilic functional group such as a hydroxyl group present on the glass substrate.

실시예 7-4에서, 유리 기재 상에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅되었음을 확인하였다. 탄소 원자에 대한 피크는 산소 원자에 비하여 현저히 감소하였다.In Example 7-4, after (hydroxyethyl)methacrylate was coated on the glass substrate, peaks for oxygen atoms and peaks for carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that (hydroxyethyl) methacrylate was coated. Peaks for carbon atoms were significantly reduced compared to those for oxygen atoms.

평가예 7-2: 물(HEvaluation Example 7-2: Water (H 22 O) 접촉각 측정O) Measurement of contact angle

실시예 7-1 내지 7-15 및 비교예 7-1 내지 7-3에서 제조된 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 형성된 후의 기재 표면에 대하여 접촉각 측정기를 사용하여 대기압의 25℃에서 물에 대한 접촉각을 측정하였다.In the process of manufacturing the coated substrates prepared in Examples 7-1 to 7-15 and Comparative Examples 7-1 to 7-3, a contact angle measuring instrument was used for the surface of the substrate after the first coating layer was formed at 25° C. of atmospheric pressure. The contact angle for water was measured.

측정 결과의 일부를 하기 표 13에 나타내었다. 접촉각은 물과 기재의 계면과 물과 공기의 계면이 이루는 각도이다.Some of the measurement results are shown in Table 13 below. The contact angle is the angle between the interface between water and the substrate and the interface between water and air.

접촉각 [°]contact angle [°] 실시예 7-1Example 7-1 38.738.7 실시예 7-4Example 7-4 56.556.5 비교예 7-1Comparative Example 7-1 24.724.7

표 13에서 보여지는 바와 같이, 제1 코팅층이 유리 기재 상에 도입됨에 의하여 접촉각이 증가하였다. 따라서, 유리 기재 상에 제1 코팅층이 도입됨을 확인하였다.As shown in Table 13, the contact angle increased by introducing the first coating layer onto the glass substrate. Therefore, it was confirmed that the first coating layer was introduced on the glass substrate.

평가예 7-3: 접착력 테스트(I)Evaluation Example 7-3: Adhesion Test (I)

실시예 7-1 내지 7-15 및 비교예 7-1 내지 7-3에서 제조된 코팅된 기재에 대하여 접착력 테스트를 실시하였다. 접착력 테스트는 ASTM D3002, D3359 기준으로 스카치 테잎 테스트(Scotch Tape Test)로 평가하였다.Adhesion tests were performed on the coated substrates prepared in Examples 7-1 to 7-15 and Comparative Examples 7-1 to 7-3. The adhesion test was evaluated by a Scotch Tape Test based on ASTM D3002 and D3359.

코팅층을 1mm 간격으로 가로 방향 및 세로 방향으로 각각 11개의 직선으로 절단하여 격자(grid) 형태로 절단한 후, 격자 형태의 코팅층 상에 스카치 테이프를 붙였다 떼어냄에 의하여 제거되는 코팅층의 면적을 평가하였다.The coating layer was cut into 11 straight lines in the horizontal and vertical directions at intervals of 1 mm to form a grid, and then Scotch tape was attached and peeled off on the grid-shaped coating layer to evaluate the area of the coating layer removed. .

평가 기준은 아래와 같다. The evaluation criteria are as follows.

5B: 제거된 면적 0%, 4B: 제거된 면적 5% 미만, 3B: 제거된 면적 5-15%, 2B: 제거된 면적 15-35%, 1B: 제거된 면적 35-65%, 0B: 제거된 면적 65% 이상5B: 0% of the removed area, 4B: less than 5% of the removed area, 3B: 5-15% of the removed area, 2B: 15-35% of the removed area, 1B: 35-65% of the removed area, 0B: removal 65% or more of the area covered

5B 내지 3B는 우수, 2B 내지 0B는 불량이다.5B to 3B are excellent, and 2B to 0B are poor.

측정 결과의 일부를 하기 표 14에 나타내었다. Some of the measurement results are shown in Table 14 below.

접착력 평가Adhesion evaluation 실시예 7-1Example 7-1 3B3B 실시예 7-3Example 7-3 5B5B 실시예 7-4Example 7-4 5B5B 실시예 7-5Example 7-5 5B5B 실시예 7-6Example 7-6 5B5B 실시예 7-8Examples 7-8 5B5B 실시예 7-9Examples 7-9 5B5B 실시예 7-10Examples 7-10 5B5B 실시예 7-11Examples 7-11 5B5B 실시예 7-13Examples 7-13 5B5B 실시예 7-14Examples 7-14 5B5B 실시예 7-15Examples 7-15 5B5B 비교예 7-1Comparative Example 7-1 0B0B 비교예 7-2Comparative Example 7-2 0B0B 비교예 7-3Comparative Example 7-3 0B0B

표 14에 보여지는 바와 같이, 실시예의 코팅층의 접착력은 3B 이상으로서 우수하였고, 비교예 2-1 내지 비교예 2-2의 코팅층의 접착력은 0B 이하로서 불량이었다.As shown in Table 14, the adhesive strength of the coating layers of Examples was excellent as 3B or more, and the adhesive strength of the coating layers of Comparative Examples 2-1 and 2-2 was 0B or less, which was poor.

따라서, 제1 코팅층이 도입됨에 의하여 유리 기재와 제2 코팅층 사이의 접착력이 현저히 향상됨을 확인하였다.Therefore, it was confirmed that the adhesion between the glass substrate and the second coating layer was remarkably improved by the introduction of the first coating layer.

평가예 7-4: 접착력 테스트(II)Evaluation Example 7-4: Adhesion test (II)

실시예 7-16에서 제조된 전자 소자 및 비교예 7-4에서 제조된 전자 소자의 밀봉층에 대하여 평가예 7-3과 동일한 방법으로 접착력 테스트를 수행하였다.An adhesion test was performed on the sealing layer of the electronic device manufactured in Example 7-16 and the electronic device manufactured in Comparative Example 7-4 in the same manner as in Evaluation Example 7-3.

실시예 7-16의 전자 소자의 밀봉층이 비교예 7-4의 전자 소자의 밀봉층에 비하여 전자 소자와의 접착력이 향상됨을 확인하였다.It was confirmed that the sealing layer of the electronic device of Example 7-16 had improved adhesion to the electronic device compared to the sealing layer of the electronic device of Comparative Example 7-4.

평가예 7-5: 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 도입된 유리 기재의 ATR-FTIR 분석Evaluation Example 7-5: ATR-FTIR analysis of the glass substrate to which the first coating layer and the second coating layer were introduced

실시예 7-1 내지 7-15 및 비교예 7-1 내지 7-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면 및 제2 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 ATR-FTIR(Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) Spectroscopy 분석을 실시하여 제1 코팅층및 제2 코팅층의 형성 여부를 확인하였다.In the manufacturing process of the substrates coated in Examples 7-1 to 7-15 and Comparative Examples 7-1 to 7-3, ATR on the surface of the substrate after the introduction of the first coating layer and the surface of the substrate after the introduction of the second coating layer -FTIR (Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) spectroscopy was performed to confirm whether the first coating layer and the second coating layer were formed.

도면에 도시되지 않으나, 실시예 7-1에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 7-4에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 7-1에서 제2 코팅층이 형성되며, 실시예 7-3에서 제2 코팅층이 형성됨을 ATR-FTIR 스펙트럼으로부터 확인하였다.Although not shown in the drawing, a first coating layer is formed in Example 7-1, a first coating layer is formed in Example 7-4, a second coating layer is formed in Example 7-1, and Example 7-3 It was confirmed from the ATR-FTIR spectrum that the second coating layer was formed in

(Ni 기재)(Ni base)

실시예 8-1Example 8-1

알루미늄박 대신에 니켈 호일(nickel foil)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-1, except that nickel foil was used instead of the aluminum foil.

실시예 8-2 내지 8-15 및 비교예 8-1 내지 8-3Examples 8-2 to 8-15 and Comparative Examples 8-1 to 8-3

알루미늄박 대신에 니켈 호일(nickel foil)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-2 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Examples 1-2 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-3, except that nickel foil was used instead of the aluminum foil.

평가예 8-1: 제1 코팅층이 도입된 Ni 기재의 XPS 분석Evaluation Example 8-1: XPS analysis of Ni substrate with first coating layer introduced

실시예 8-1 내지 8-15 및 비교예 8-1 내지 8-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 분석을 실시하여 제1 코팅층의 도입 여부를 확인하였다.In the manufacturing process of the substrates coated in Examples 8-1 to 8-15 and Comparative Examples 8-1 to 8-3, XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis was performed on the surface of the substrate after the first coating layer was introduced. It was confirmed whether or not the first coating layer was introduced.

실시예 8-1에서, Ni 기재 상에 1-비닐이미다졸이 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 질소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, 1-비닐이미다졸이 코팅되었음을 확인하였다. 산소 원자에 대한 피크는 Ni 기재 상에 존재하는 하이드록시기 등의 친수성 작용기에 의한 것으로 판단되었다. 질소 원자에 대한 피크는 미미하였다.In Example 8-1, after 1-vinylimidazole was coated on the Ni substrate, peaks for oxygen atoms, nitrogen atoms, and carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that 1-vinylimidazole was coated. The peak for the oxygen atom was determined to be due to a hydrophilic functional group such as a hydroxyl group present on the Ni substrate. Peaks for nitrogen atoms were insignificant.

실시예 8-4에서, Ni 기재 상에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅되었음을 확인하였다. In Example 8-4, after (hydroxyethyl)methacrylate was coated on the Ni substrate, peaks for oxygen atoms and peaks for carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that (hydroxyethyl) methacrylate was coated.

평가예 8-2: 물(HEvaluation Example 8-2: Water (H 22 O) 접촉각 측정O) Measurement of contact angle

실시예 8-1 내지 8-15 및 비교예 8-1 내지 8-3에서 제조된 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 형성된 후의 기재 표면에 대하여 접촉각 측정기를 사용하여 대기압의 25℃에서 물에 대한 접촉각을 측정하였다.In the manufacturing process of the coated substrates prepared in Examples 8-1 to 8-15 and Comparative Examples 8-1 to 8-3, a contact angle measuring instrument was used for the surface of the substrate after the first coating layer was formed at 25° C. of atmospheric pressure. The contact angle for water was measured.

측정 결과의 일부를 하기 표 15에 나타내었다. 접촉각은 물과 기재의 계면과 물과 공기의 계면이 이루는 각도이다.Some of the measurement results are shown in Table 15 below. The contact angle is the angle between the interface between water and the substrate and the interface between water and air.

접촉각 [°]contact angle [°] 실시예 8-1Example 8-1 66.966.9 실시예 8-4Example 8-4 55.455.4 비교예 8-1Comparative Example 8-1 87.187.1

표 15에서 보여지는 바와 같이, 제1 코팅층이 Ni 기재 상에 도입됨에 의하여 접촉각이 감소하였다. 따라서, Ni 기재 상에 제1 코팅층이 도입됨을 확인하였다.As shown in Table 15, the contact angle decreased by introducing the first coating layer on the Ni substrate. Therefore, it was confirmed that the first coating layer was introduced on the Ni substrate.

평가예 8-3: 접착력 테스트Evaluation Example 8-3: Adhesion test

실시예 8-1 내지 8-15 및 비교예 8-1 내지 8-3에서 제조된 코팅된 기재에 대하여 접착력 테스트를 실시하였다. 접착력 테스트는 ASTM D3002, D3359 기준으로 스카치 테잎 테스트(Scotch Tape Test)로 평가하였다.Adhesion tests were performed on the coated substrates prepared in Examples 8-1 to 8-15 and Comparative Examples 8-1 to 8-3. The adhesion test was evaluated by a Scotch Tape Test based on ASTM D3002 and D3359.

코팅층을 1mm 간격으로 가로 방향 및 세로 방향으로 각각 11개의 직선으로 절단하여 격자(grid) 형태로 절단한 후, 격자 형태의 코팅층 상에 스카치 테이프를 붙였다 떼어냄에 의하여 제거되는 코팅층의 면적을 평가하였다.The coating layer was cut into 11 straight lines in the horizontal and vertical directions at intervals of 1 mm to form a grid, and then Scotch tape was attached and peeled off on the grid-shaped coating layer to evaluate the area of the coating layer removed. .

평가 기준은 아래와 같다. The evaluation criteria are as follows.

5B: 제거된 면적 0%, 4B: 제거된 면적 5% 미만, 3B: 제거된 면적 5-15%, 2B: 제거된 면적 15-35%, 1B: 제거된 면적 35-65%, 0B: 제거된 면적 65% 이상5B: 0% of the removed area, 4B: less than 5% of the removed area, 3B: 5-15% of the removed area, 2B: 15-35% of the removed area, 1B: 35-65% of the removed area, 0B: removal 65% or more of the area covered

5B 내지 3B는 우수, 2B 내지 0B는 불량이다.5B to 3B are excellent, and 2B to 0B are poor.

측정 결과의 일부를 하기 표 16에 나타내었다. Some of the measurement results are shown in Table 16 below.

접착력 평가Adhesion evaluation 실시예 8-1Example 8-1 5B5B 실시예 8-3Example 8-3 5B5B 실시예 8-5Example 8-5 1B1B 실시예 8-6Example 8-6 5B5B 실시예 8-8Example 8-8 5B5B 실시예 8-9Examples 8-9 4B4B 실시예 8-10Examples 8-10 2B2B 실시예 8-11Examples 8-11 5B5B 실시예 8-13Examples 8-13 5B5B 실시예 8-14Examples 8-14 5B5B 실시예 8-15Examples 8-15 2B2B 비교예 8-1Comparative Example 8-1 0B0B 비교예 8-2Comparative Example 8-2 0B0B 비교예 8-3Comparative Example 8-3 0B0B

표 16에 보여지는 바와 같이, 1-비닐이미다졸을 사용하는 실시예 8-1, 8-3, 8-6, 8-8, 8-11, 8-13의 코팅층의 접착력은 5B로서 우수하였다. 비교예의 코팅층의 접착력은 0B로서 불량하였다.As shown in Table 16, the adhesion of the coating layers of Examples 8-1, 8-3, 8-6, 8-8, 8-11, and 8-13 using 1-vinylimidazole was excellent as 5B. did The adhesive strength of the coating layer of Comparative Example was poor as 0B.

(2-하이드록시에틸)메타크릴레이트를 사용하는 실시예 8-5, 8-9, 8-10, 8-14, 8-15의 코팅층의 접착력은 비교예의 코팅층의 접착력에 비하여 향상되었으나, 1-비닐이미다졸을 포함하는 코팅층에 비하여는 부진하였다.The adhesive strength of the coating layers of Examples 8-5, 8-9, 8-10, 8-14, and 8-15 using (2-hydroxyethyl) methacrylate was improved compared to that of the coating layers of Comparative Examples, but 1 - It was sluggish compared to the coating layer containing vinylimidazole.

따라서, 제1 코팅층이 도입됨에 의하여 Ni 기재와 제2 코팅층 사이의 접착력이 향상됨을 확인하였다.Therefore, it was confirmed that the adhesion between the Ni substrate and the second coating layer was improved by the introduction of the first coating layer.

평가예 8-4: 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 도입된 Ni 기재의 ATR-FTIR 분석Evaluation Example 8-4: ATR-FTIR analysis of Ni substrate with first coating layer and second coating layer introduced

실시예 8-1 내지 8-15 및 비교예 8-1 내지 8-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면 및 제2 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 ATR-FTIR(Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) Spectroscopy 분석을 실시하여 제1 코팅층및 제2 코팅층의 형성 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 8-1 to 8-15 and Comparative Examples 8-1 to 8-3, ATR on the surface of the substrate after the introduction of the first coating layer and the surface of the substrate after the introduction of the second coating layer -FTIR (Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) spectroscopy was performed to confirm whether the first coating layer and the second coating layer were formed.

도면에 도시되지 않으나, 실시예 8-1에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 8-4에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 8-1에서 제2 코팅층이 형성되며, 실시예 8-3에서 제2 코팅층이 형성됨을 ATR-FTIR 스펙트럼으로부터 확인하였다.Although not shown in the figure, a first coating layer is formed in Example 8-1, a first coating layer is formed in Example 8-4, a second coating layer is formed in Example 8-1, and Example 8-3 It was confirmed from the ATR-FTIR spectrum that the second coating layer was formed in

(Zn 기재)(Zn base)

실시예 9-1Example 9-1

알루미늄박 대신에 아연 호일(zinc foil)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-1, except that zinc foil was used instead of the aluminum foil.

실시예 9-2 내지 9-15 및 비교예 9-1 내지 9-3Examples 9-2 to 9-15 and Comparative Examples 9-1 to 9-3

알루미늄박 대신에 아연 호일(zinc foil)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-2 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Examples 1-2 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-3, except that zinc foil was used instead of the aluminum foil.

평가예 9-1: 제1 코팅층이 도입된 Zn 기재의 XPS 분석Evaluation Example 9-1: XPS analysis of Zn substrate with first coating layer introduced

실시예 9-1 내지 9-15 및 비교예 9-1 내지 9-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 분석을 실시하여 제1 코팅층의 도입 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 9-1 to 9-15 and Comparative Examples 9-1 to 9-3, XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis was performed on the surface of the substrate after the first coating layer was introduced. It was confirmed whether or not the first coating layer was introduced.

실시예 9-1에서, Zn 기재 상에 1-비닐이미다졸이 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 질소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, 1-비닐이미다졸이 코팅되었음을 확인하였다. 산소 원자에 대한 피크는 Zn 기재 상에 존재하는 하이드록시기 등의 친수성 작용기에 의한 것으로 판단되었다. 실시예 9-4에서, Zn 기재 상에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅되었음을 확인하였다.In Example 9-1, after 1-vinylimidazole was coated on the Zn substrate, peaks for oxygen atoms, nitrogen atoms, and carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that 1-vinylimidazole was coated. The peak for the oxygen atom was determined to be due to a hydrophilic functional group such as a hydroxyl group present on the Zn substrate. In Example 9-4, after (hydroxyethyl)methacrylate was coated on the Zn substrate, peaks for oxygen atoms and peaks for carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that (hydroxyethyl) methacrylate was coated.

평가예 9-2: 물(HEvaluation Example 9-2: Water (H 22 O) 접촉각 측정O) Measurement of contact angle

실시예 9-1 내지 9-15 및 비교예 9-1 내지 9-3에서 제조된 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 형성된 후의 기재 표면에 대하여 접촉각 측정기를 사용하여 대기압의 25℃에서 물에 대한 접촉각을 측정하였다.In the process of manufacturing the coated substrates prepared in Examples 9-1 to 9-15 and Comparative Examples 9-1 to 9-3, a contact angle measuring instrument was used for the surface of the substrate after the first coating layer was formed at 25° C. of atmospheric pressure. The contact angle for water was measured.

측정 결과의 일부를 하기 표 17에 나타내었다. 접촉각은 물과 기재의 계면과 물과 공기의 계면이 이루는 각도이다.Some of the measurement results are shown in Table 17 below. The contact angle is the angle between the interface between water and the substrate and the interface between water and air.

접촉각 [°]contact angle [°] 실시예 9-1Example 9-1 73.673.6 실시예 9-4Example 9-4 51.751.7 비교예 9-1Comparative Example 9-1 76.576.5

표 17에서 보여지는 바와 같이, 제1 코팅층이 Zn 기재 상에 도입됨에 의하여 접촉각이 감소하였다. 따라서, Zn 기재 상에 제1 코팅층이 도입됨을 확인하였다.As shown in Table 17, the contact angle decreased by introducing the first coating layer on the Zn substrate. Therefore, it was confirmed that the first coating layer was introduced on the Zn substrate.

평가예 9-3: 접착력 테스트Evaluation Example 9-3: Adhesion test

실시예 9-1 내지 9-15 및 비교예 9-1 내지 9-3에서 제조된 코팅된 기재에 대하여 접착력 테스트를 실시하였다. 접착력 테스트는 ASTM D3002, D3359 기준으로 스카치 테잎 테스트(Scotch Tape Test)로 평가하였다.Adhesion tests were performed on the coated substrates prepared in Examples 9-1 to 9-15 and Comparative Examples 9-1 to 9-3. The adhesion test was evaluated by a Scotch Tape Test based on ASTM D3002 and D3359.

코팅층을 1mm 간격으로 가로 방향 및 세로 방향으로 각각 11개의 직선으로 절단하여 격자(grid) 형태로 절단한 후, 격자 형태의 코팅층 상에 스카치 테이프를 붙였다 떼어냄에 의하여 제거되는 코팅층의 면적을 평가하였다.The coating layer was cut into 11 straight lines in the horizontal and vertical directions at intervals of 1 mm to form a grid, and then Scotch tape was attached and peeled off on the grid-shaped coating layer to evaluate the area of the coating layer removed. .

평가 기준은 아래와 같다. The evaluation criteria are as follows.

5B: 제거된 면적 0%, 4B: 제거된 면적 5% 미만, 3B: 제거된 면적 5-15%, 2B: 제거된 면적 15-35%, 1B: 제거된 면적 35-65%, 0B: 제거된 면적 65% 이상5B: 0% of the removed area, 4B: less than 5% of the removed area, 3B: 5-15% of the removed area, 2B: 15-35% of the removed area, 1B: 35-65% of the removed area, 0B: removal 65% or more of the area covered

5B 내지 3B는 우수, 2B 내지 0B는 불량이다.5B to 3B are excellent, and 2B to 0B are poor.

측정 결과의 일부를 하기 표 18에 나타내었다. Some of the measurement results are shown in Table 18 below.

접착력 평가Adhesion evaluation 실시예 9-1Example 9-1 5B5B 실시예 9-3Example 9-3 5B5B 실시예 9-5Example 9-5 1B1B 실시예 9-6Example 9-6 5B5B 실시예 9-8Examples 9-8 5B5B 실시예 9-9Examples 9-9 3B3B 실시예 9-10Examples 9-10 5B5B 실시예 9-11Examples 9-11 5B5B 실시예 9-13Examples 9-13 5B5B 실시예 9-14Examples 9-14 4B4B 실시예 9-15Examples 9-15 5B5B 비교예 9-1Comparative Example 9-1 0B0B 비교예 9-2Comparative Example 9-2 0B0B 비교예 9-3Comparative Example 9-3 0B0B

표 18에 보여지는 바와 같이, 1-비닐이미다졸을 사용하는 실시예 9-1, 9-3, 9-6, 9-8, 9-11, 9-13의 코팅층의 접착력은 5B로서 우수하였다. 비교예의 코팅층의 접착력은 0B로서 불량하였다.As shown in Table 18, the adhesion of the coating layers of Examples 9-1, 9-3, 9-6, 9-8, 9-11, and 9-13 using 1-vinylimidazole was excellent as 5B. did The adhesive strength of the coating layer of Comparative Example was poor as 0B.

(2-하이드록시에틸)메타크릴레이트를 사용하는 실시예 9-5, 9-9, 9-10, 9-14, 9-15의 코팅층의 접착력은 비교예의 코팅층의 접착력에 비하여 향상되었으나, 1-비닐이미다졸을 포함하는 코팅층에 비하여는 부진하였다.The adhesive strength of the coating layers of Examples 9-5, 9-9, 9-10, 9-14, and 9-15 using (2-hydroxyethyl) methacrylate was improved compared to that of the coating layers of Comparative Examples, but 1 - It was sluggish compared to the coating layer containing vinylimidazole.

따라서, 제1 코팅층이 도입됨에 의하여 Zn 기재와 제2 코팅층 사이의 접착력이 향상됨을 확인하였다.Therefore, it was confirmed that the adhesion between the Zn substrate and the second coating layer was improved by the introduction of the first coating layer.

평가예 9-4: 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 도입된 Zn 기재의 ATR-FTIR 분석Evaluation Example 9-4: ATR-FTIR analysis of a Zn substrate introduced with a first coating layer and a second coating layer

실시예 9-1 내지 9-15 및 비교예 9-1 내지 9-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면 및 제2 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 ATR-FTIR(Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) Spectroscopy 분석을 실시하여 제1 코팅층및 제2 코팅층의 형성 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 9-1 to 9-15 and Comparative Examples 9-1 to 9-3, ATR on the surface of the substrate after the introduction of the first coating layer and the surface of the substrate after the introduction of the second coating layer -FTIR (Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) spectroscopy was performed to confirm whether the first coating layer and the second coating layer were formed.

도면에 도시되지 않으나, 실시예 9-1에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 9-4에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 9-1에서 제2 코팅층이 형성되며, 실시예 9-3에서 제2 코팅층이 형성됨을 ATR-FTIR 스펙트럼으로부터 확인하였다.Although not shown in the drawings, a first coating layer is formed in Example 9-1, a first coating layer is formed in Example 9-4, a second coating layer is formed in Example 9-1, and Example 9-3 It was confirmed from the ATR-FTIR spectrum that the second coating layer was formed in

(합금 기재)(alloy substrate)

실시예 10-1Example 10-1

알루미늄박 대신에 스텐트용 기재로 사용되는 코발트-크롬-텅스텐-니켈-마그네슘 합금(Co-Cr-W-Ni-Mg alloy)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-1과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.A coating layer was deposited in the same manner as in Example 1-1, except that a cobalt-chromium-tungsten-nickel-magnesium alloy (Co-Cr-W-Ni-Mg alloy) used as a substrate for stents was used instead of aluminum foil. did

실시예 10-2 내지 10-15 및 비교예 10-1 내지 10-3Examples 10-2 to 10-15 and Comparative Examples 10-1 to 10-3

알루미늄박 대신에 코발트-크롬-텅스텐-니켈-마그네슘 합금(Co-Cr-W-Ni-Mg alloy)을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1-2 내지 1-15 및 비교예 1-1 내지 1-3과 동일한 방법으로 코팅층을 증착하였다.Examples 1-2 to 1-15 and Comparative Examples 1-1 to 1-, except that the cobalt-chrome-tungsten-nickel-magnesium alloy (Co-Cr-W-Ni-Mg alloy) was used instead of the aluminum foil. A coating layer was deposited in the same manner as in 3.

평가예 10-1: 제1 코팅층이 도입된 합금 기재의 XPS 분석Evaluation Example 10-1: XPS Analysis of Alloy Substrate Incorporating the First Coating Layer

실시예 10-1 내지 10-15 및 비교예 10-1 내지 10-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 분석을 실시하여 제1 코팅층의 도입 여부를 확인하였다.In the process of manufacturing the substrates coated in Examples 10-1 to 10-15 and Comparative Examples 10-1 to 10-3, XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis was performed on the surface of the substrate after the first coating layer was introduced. It was confirmed whether or not the first coating layer was introduced.

실시예 10-1에서, 합금 기재 상에 1-비닐이미다졸이 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 질소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, 1-비닐이미다졸이 코팅되었음을 확인하였다. 산소 원자에 대한 피크는 합금 기재 상에 존재하는 하이드록시기 등의 친수성 작용기에 의한 것으로 판단되었다. 질소 원자에 대한 피크는 크기가 작았다.In Example 10-1, after 1-vinylimidazole was coated on the alloy substrate, peaks for oxygen atoms, nitrogen atoms, and carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that 1-vinylimidazole was coated. The peak for the oxygen atom was determined to be due to a hydrophilic functional group such as a hydroxyl group present on the alloy substrate. The peaks for nitrogen atoms were small.

실시예 10-4에서, 합금 기재 상에 (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅된 후에, 기재 표면에서 산소 원자에 대한 피크와 탄소 원자에 대한 피크가 확인되었다. 따라서, (하이드록시에틸)메타크릴레이트가 코팅되었음을 확인하였다. In Example 10-4, after (hydroxyethyl)methacrylate was coated on the alloy substrate, peaks for oxygen atoms and peaks for carbon atoms were confirmed on the surface of the substrate. Therefore, it was confirmed that (hydroxyethyl) methacrylate was coated.

평가예 10-2: 물(HEvaluation Example 10-2: Water (H 22 O) 접촉각 측정O) Measurement of contact angle

실시예 10-1 내지 10-15 및 비교예 10-1 내지 10-3에서 제조된 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 형성된 후의 기재 표면에 대하여 접촉각 측정기를 사용하여 대기압의 25℃에서 물에 대한 접촉각을 측정하였다.In the manufacturing process of the coated substrates prepared in Examples 10-1 to 10-15 and Comparative Examples 10-1 to 10-3, the surface of the substrate after the first coating layer was formed at 25° C. of atmospheric pressure using a contact angle measuring instrument. The contact angle for water was measured.

측정 결과의 일부를 하기 표 19에 나타내었다. 접촉각은 물과 기재의 계면과 물과 공기의 계면이 이루는 각도이다.Some of the measurement results are shown in Table 19 below. The contact angle is the angle between the interface between water and the substrate and the interface between water and air.

접촉각 [°]contact angle [°] 실시예 10-1Example 10-1 70.370.3 실시예 10-4Example 10-4 68.868.8 비교예 10-1Comparative Example 10-1 86.486.4

표 19에서 보여지는 바와 같이, 제1 코팅층이 합금 기재 상에 도입됨에 의하여 접촉각이 감소하였다. 따라서, 합금 기재 상에 제1 코팅층이 도입됨을 확인하였다.As shown in Table 19, the contact angle decreased as the first coating layer was introduced onto the alloy substrate. Therefore, it was confirmed that the first coating layer was introduced on the alloy substrate.

평가예 10-3: 접착력 테스트Evaluation Example 10-3: Adhesion test

실시예 10-1 내지 10-15 및 비교예 10-1 내지 10-3에서 제조된 코팅된 기재에 대하여 접착력 테스트를 실시하였다. 접착력 테스트는 ASTM D3002, D3359 기준으로 스카치 테잎 테스트(Scotch Tape Test)로 평가하였다.Adhesion tests were performed on the coated substrates prepared in Examples 10-1 to 10-15 and Comparative Examples 10-1 to 10-3. The adhesion test was evaluated by a Scotch Tape Test based on ASTM D3002 and D3359.

코팅층을 1mm 간격으로 가로 방향 및 세로 방향으로 각각 11개의 직선으로 절단하여 격자(grid) 형태로 절단한 후, 격자 형태의 코팅층 상에 스카치 테이프를 붙였다 떼어냄에 의하여 제거되는 코팅층의 면적을 평가하였다.The coating layer was cut into 11 straight lines in the horizontal and vertical directions at intervals of 1 mm to form a grid, and then Scotch tape was attached and peeled off on the grid-shaped coating layer to evaluate the area of the coating layer removed. .

평가 기준은 아래와 같다. The evaluation criteria are as follows.

5B: 제거된 면적 0%, 4B: 제거된 면적 5% 미만, 3B: 제거된 면적 5-15%, 2B: 제거된 면적 15-35%, 1B: 제거된 면적 35-65%, 0B: 제거된 면적 65% 이상5B: 0% of the removed area, 4B: less than 5% of the removed area, 3B: 5-15% of the removed area, 2B: 15-35% of the removed area, 1B: 35-65% of the removed area, 0B: removal 65% or more of the area covered

5B 내지 3B는 우수, 2B 내지 0B는 불량이다.5B to 3B are excellent, and 2B to 0B are poor.

측정 결과의 일부를 하기 표 20에 나타내었다. Some of the measurement results are shown in Table 20 below.

접착력 평가Adhesion evaluation 실시예 10-1Example 10-1 5B5B 실시예 10-3Example 10-3 5B5B 실시예 10-4Example 10-4 4B4B 실시예 10-5Example 10-5 2B2B 실시예 10-6Example 10-6 5B5B 실시예 10-8Example 10-8 5B5B 실시예 10-9Example 10-9 5B5B 실시예 10-10Examples 10-10 2B2B 실시예 10-11Examples 10-11 5B5B 실시예 10-13Examples 10-13 5B5B 실시예 10-14Examples 10-14 5B5B 실시예 10-15Examples 10-15 5B5B 비교예 10-1Comparative Example 10-1 0B0B 비교예 10-2Comparative Example 10-2 0B0B 비교예 10-3Comparative Example 10-3 0B0B

표 20에 보여지는 바와 같이, 1-비닐이미다졸을 사용하는 실시예 10-1, 10-3, 10-6, 10-8, 10-11, 10-13의 코팅층의 접착력은 5B로서 우수하였다. 비교예의 코팅층의 접착력은 0B로서 불량하였다.As shown in Table 20, the adhesion of the coating layers of Examples 10-1, 10-3, 10-6, 10-8, 10-11, and 10-13 using 1-vinylimidazole was excellent as 5B. did The adhesive strength of the coating layer of Comparative Example was poor as 0B.

(2-하이드록시에틸)메타크릴레이트를 사용하는 실시예 10-5, 10-9, 10-10, 10-14, 10-15의 코팅층의 접착력은 비교예의 코팅층의 접착력에 비하여 향상되었으나, 1-비닐이미다졸을 포함하는 코팅층에 비하여는 부진하였다.The adhesive strength of the coating layers of Examples 10-5, 10-9, 10-10, 10-14, and 10-15 using (2-hydroxyethyl) methacrylate was improved compared to the adhesive strength of the coating layers of Comparative Examples, but 1 - It was sluggish compared to the coating layer containing vinylimidazole.

따라서, 제1 코팅층이 도입됨에 의하여 합금 기재와 제2 코팅층 사이의 접착력이 향상됨을 확인하였다.Therefore, it was confirmed that the adhesion between the alloy substrate and the second coating layer was improved by the introduction of the first coating layer.

평가예 10-4: 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 도입된 합금 기재의 ATR-FTIR 분석Evaluation Example 10-4: ATR-FTIR analysis of an alloy substrate to which the first coating layer and the second coating layer were introduced

실시예 10-1 내지 10-15 및 비교예 10-1 내지 10-3에서 코팅된 기재의 제조 과정에서, 제1 코팅층이 도입된 후의 기재 표면 및 제2 코팅층이 도입된 후의 기재 표면에 대하여 ATR-FTIR(Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) Spectroscopy 분석을 실시하여 제1 코팅층및 제2 코팅층의 형성 여부를 확인하였다.In the manufacturing process of the substrates coated in Examples 10-1 to 10-15 and Comparative Examples 10-1 to 10-3, ATR on the surface of the substrate after the first coating layer was introduced and the surface of the substrate after the second coating layer was introduced -FTIR (Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared) spectroscopy was performed to confirm whether the first coating layer and the second coating layer were formed.

도면에 도시되지 않으나, 실시예 10-1에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 10-4에서 제1 코팅층이 형성되며, 실시예 10-1에서 제2 코팅층이 형성되며, 실시예 10-3에서 제2 코팅층이 형성됨을 ATR-FTIR 스펙트럼으로부터 확인하였다.Although not shown in the figure, a first coating layer is formed in Example 10-1, a first coating layer is formed in Example 10-4, a second coating layer is formed in Example 10-1, and Example 10-3 It was confirmed from the ATR-FTIR spectrum that the second coating layer was formed in

Claims (11)

진공 인클로저(enclosure) 내에, 일면 상에 전자 소자가 배치된 베이스 기판을 제공하는 단계;
상기 전자 소자 상에 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물 중 하나 이상을 공급하여 제1 코팅층을 배치하는 단계;
상기 제1 코팅층 상에 파릴렌계 전구체로부터 유래하는 파릴렌계 라디칼을 공급하여 제1 코팅층 상에 파릴렌계 중합체를 포함하는 제2 코팅층을 배치하여 전자 소자를 밀봉하는 단계;를 포함하는 밀봉된 전자 소자 제조방법.
providing a base substrate on one side of which electronic devices are disposed, within a vacuum enclosure;
disposing a first coating layer on the electronic device by supplying at least one of a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and an aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group;
Sealing the electronic device by disposing a second coating layer containing a parylene-based polymer on the first coating layer by supplying parylene-based radicals derived from a parylene-based precursor to the first coating layer; manufacturing a sealed electronic device including method.
제1 항에 있어서, 상기 비불소계 아크릴계 화합물의 산소 원자에 연결된 말단 치환기가 5개 이하의 탄소 원자를 포함하며,
상기 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물이 5원환(5 membered ring) 또는 6원환(6 membered ring)이며,
상기 방향족 헤테로고리 화합물이 질소, 산소, 및 황 중에서 선택된 하나 이상의 헤테로 원자를 포함하며,
상기 방향족 헤테로 고리 화합물이 포함하는 헤테로 원자가 1 내지 4개이며,
상기 방향족 고리 화합물이 헤테로 원자 부재(free)이며,
상기 불포화 작용기가 이중 결합 또는 삼중결합을 포함하는 작용기이며,
상기 극성 작용기가 산소 또는 황 원자를 포함하는 작용기인, 밀봉된 전자 소자 제조방법.
The method of claim 1, wherein the terminal substituent connected to the oxygen atom of the non-fluorine-based acrylic compound contains 5 or less carbon atoms,
The aromatic heterocyclic compound containing the unsaturated functional group and the aromatic ring compound containing the unsaturated functional group and the polar functional group are 5 membered rings or 6 membered rings,
The aromatic heterocyclic compound includes at least one heteroatom selected from nitrogen, oxygen, and sulfur,
1 to 4 heteroatoms included in the aromatic heterocyclic compound,
The aromatic ring compound is free of heteroatoms,
The unsaturated functional group is a functional group containing a double bond or a triple bond,
The method of manufacturing a sealed electronic device, wherein the polar functional group is a functional group containing an oxygen or sulfur atom.
제1 항에 있어서, 상기 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물이 하기 화학식 1 내지 9로 표시되는 화합물이며,
상기 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물이 하기 화학식 10 내지 11로 표시되는 화합물인, 밀봉된 전자 소자 제조방법:
<화학식 1> <화학식 2> <화학식 3>
Figure 112020106118799-pat00022
Figure 112020106118799-pat00023
Figure 112020106118799-pat00024

<화학식 4> <화학식 5> <화학식 7>
Figure 112020106118799-pat00025
Figure 112020106118799-pat00026
Figure 112020106118799-pat00027

<화학식 7> <화학식 8> <화학식 9>
Figure 112020106118799-pat00028
Figure 112020106118799-pat00029
Figure 112020106118799-pat00030

<화학식 10> <화학식 11>
Figure 112020106118799-pat00031
Figure 112020106118799-pat00032

상기 식들에서,
R1 내지 R14는 서로 독립적으로 수소, 탄소수 1 내지 5의 알킬기, 비닐기(vinyl), 알릴기(allyl), 또는 프로팔질기(propargyl) 중에서 선택되며,
R1 내지 R4 중에서 적어도 하나는 비닐기, 알릴기, 또는 프로팔질기이며,
R6, R7 및 R9 중에서 적어도 하나는 비닐기, 알릴기, 또는 프로팔질기이며,
R10 내지 R14 중에서 적어도 하나는 비닐기, 알릴기, 또는 프로팔질기이며.
R15 내지 R25는 서로 독립적으로 수소, 탄소수 1 내지 5의 알킬기, 하이드록시기, 티올기, 비닐기(vinyl), 알릴기(allyl), 또는 프로팔질기(propargyl) 중에서 선택되며,
R15 내지 R20 중에서 적어도 하나는 비닐기, 알릴기, 또는 프로팔질기이며, 적어도 다른 하나는 하이드록시기 또는 티올기이며,
R21 내지 R26 중에서 적어도 하나는 비닐기, 알릴기, 또는 프로팔질기이며, 적어도 다른 하나는 하이드록시기 또는 티올기이다.
The method of claim 1, wherein the aromatic heterocyclic compound containing an unsaturated functional group is a compound represented by Formulas 1 to 9 below,
A method for manufacturing a sealed electronic device, wherein the aromatic ring compound including the unsaturated functional group and the polar functional group is a compound represented by Formulas 10 to 11 below:
<Formula 1><Formula2><Formula3>
Figure 112020106118799-pat00022
Figure 112020106118799-pat00023
Figure 112020106118799-pat00024

<Formula 4><Formula5><Formula7>
Figure 112020106118799-pat00025
Figure 112020106118799-pat00026
Figure 112020106118799-pat00027

<Formula 7><Formula8><Formula9>
Figure 112020106118799-pat00028
Figure 112020106118799-pat00029
Figure 112020106118799-pat00030

<Formula 10><Formula11>
Figure 112020106118799-pat00031
Figure 112020106118799-pat00032

In the above expressions,
R 1 to R 14 are each independently selected from hydrogen, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a vinyl group, an allyl group, or a propargyl group;
At least one of R 1 to R 4 is a vinyl group, an allyl group, or a propalyl group;
At least one of R 6 , R 7 and R 9 is a vinyl group, an allyl group, or a propalyl group;
At least one of R 10 to R 14 is a vinyl group, an allyl group, or a propalyl group.
R 15 to R 25 are each independently selected from hydrogen, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a hydroxy group, a thiol group, a vinyl group, an allyl group, or a propargyl group;
At least one of R 15 to R 20 is a vinyl group, an allyl group, or a propalgyl group, and at least the other is a hydroxyl group or a thiol group;
At least one of R 21 to R 26 is a vinyl group, an allyl group, or a propalyl group, and at least the other is a hydroxy group or a thiol group.
제1 항에 있어서, 상기 비불소계 아크릴계 화합물이 하기 화학식 20으로 표시되는 화합물인, 밀봉된 전자 소자 제조방법:
<화학식 20>
Figure 112020106118799-pat00033

상기 식에서,
R27은 수소, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 하이드록시메틸기, 또는 2-하이드록시에틸기이며,
R28은 수소 또는 메틸기이다.
The method of manufacturing a sealed electronic device according to claim 1, wherein the fluorine-free acrylic compound is a compound represented by Formula 20 below:
<Formula 20>
Figure 112020106118799-pat00033

In the above formula,
R 27 is hydrogen, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a hydroxymethyl group, or a 2-hydroxyethyl group;
R 28 is hydrogen or a methyl group.
제1 항에 있어서, 상기 제1 코팅층이 상기 전자 소자 상에 화학 흡착된 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물 및 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물 중 하나 이상의 자기 조립층(self assembled layer)을 포함하며,
상기 제2 코팅층이 제1 코팅층이 포함하는 불포화 작용기에 그라프트된(grafted) 파릴렌계 중합체를 포함하며,
상기 제2 코팅층을 배치하는 단계에서 파릴렌계 전구에 외에 별도의 촉매 또는 개시제가 사용되지 않으며,
상기 제1 코팅층 및 제2 코팅층이 컨포멀 코팅층(conformal coating layer)인, 밀봉된 전자 소자 제조방법.
The method of claim 1 , wherein the first coating layer self-assembles at least one of a non-fluorine-based acrylic compound chemically adsorbed on the electronic device, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, and an aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group. Contains a self-assembled layer,
The second coating layer includes a parylene-based polymer grafted to an unsaturated functional group included in the first coating layer,
In the step of disposing the second coating layer, no separate catalyst or initiator is used other than the parylene-based bulb,
The method of manufacturing a sealed electronic device, wherein the first coating layer and the second coating layer are conformal coating layers.
제1 항에 있어서, 상기 파릴렌계 전구체가 하기 화학식 10 내지 17로 표시되는 이량체(dimer) 중에서 선택되는 하나 이상을 포함하는, 밀봉된 전자 소자 제조방법:
<화학식 12><화학식 13><화학식 14><화학식 15>
Figure 112023501063240-pat00034
Figure 112023501063240-pat00035
Figure 112023501063240-pat00036
Figure 112023501063240-pat00037

<화학식 16><화학식 17><화학식 18><화학식 19>
Figure 112023501063240-pat00038
Figure 112023501063240-pat00039
Figure 112023501063240-pat00040
Figure 112023501063240-pat00041
The method of manufacturing a sealed electronic device according to claim 1, wherein the parylene-based precursor comprises at least one selected from dimers represented by the following Chemical Formulas 10 to 17:
<Formula 12><Formula13><Formula14><Formula15>
Figure 112023501063240-pat00034
Figure 112023501063240-pat00035
Figure 112023501063240-pat00036
Figure 112023501063240-pat00037

<Formula 16><Formula17><Formula18><Formula19>
Figure 112023501063240-pat00038
Figure 112023501063240-pat00039
Figure 112023501063240-pat00040
Figure 112023501063240-pat00041
제1 항에 있어서, 상기 파릴렌계 중합체가 파릴렌 N, 파릴렌 C, 파릴렌 D, 파릴렌 AF-4, 파릴렌 HT, 파릴렌 VT-4, 파릴렌 CF, 파릴렌 A, 파릴렌 AM, 파릴렌 H, 파릴렌 SR, 파릴렌 HR, 및 파릴렌 NR 중에서 선택된 하나 이상을 포함하는 밀봉된 전자 소자 제조방법.The method of claim 1, wherein the parylene-based polymer is Parylene N, Parylene C, Parylene D, Parylene AF-4, Parylene HT, Parylene VT-4, Parylene CF, Parylene A, Parylene AM , Parylene H, Parylene SR, Parylene HR, and Parylene NR, a method for manufacturing a sealed electronic device comprising at least one selected from. 제1 항에 있어서,
상기 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 헤테로고리 화합물 및 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족 고리 화합물 중 하나 이상의 기화 온도가 25~150℃이며,
상기 파릴렌계 전구체의 기화 온도가 100~200℃이며, 상기 파릴렌계 전구체의 열분해 온도가 500~750℃이며,
상기 전자 소자 및 베이스 기판의 온도가 20 내지 40℃인, 밀봉된 전자 소자 제조방법.
According to claim 1,
The vaporization temperature of at least one of the non-fluorine-based acrylic compound, the heterocyclic compound containing an unsaturated functional group, and the aromatic cyclic compound containing an unsaturated functional group and a polar functional group is 25 to 150 ° C,
The vaporization temperature of the parylene-based precursor is 100 ~ 200 ℃, the thermal decomposition temperature of the parylene-based precursor is 500 ~ 750 ℃,
The method of manufacturing a sealed electronic device, wherein the temperature of the electronic device and the base substrate is 20 to 40 ° C.
제1 항에 있어서, 상기 제1 코팅층의 두께가 100nm 이하이며, 상기 제2 코팅층의 두께가 100nm 내지 500㎛이며,
상기 전자 소자 및 베이스 기판이 서로 독립적으로 금속, 준금속, 금속산화물, 금속질화물, 유리, 유무기복합체, 고분자, 섬유, 종이, 및 목재 중에서 선택된 하나 이상을 포함하며, 상기 전자 소자 및 베이스 기판이 각각 유연성(flexible) 기재 또는 비유연성 기재인, 밀봉된 전자 소자 제조방법.
The method of claim 1, wherein the thickness of the first coating layer is 100 nm or less, and the thickness of the second coating layer is 100 nm to 500 μm,
The electronic device and the base substrate independently include at least one selected from metal, metalloid, metal oxide, metal nitride, glass, organic-inorganic composite, polymer, fiber, paper, and wood, and the electronic device and the base substrate A method for manufacturing a sealed electronic device, each of which is a flexible substrate or a non-flexible substrate.
일면 상에 전자 소자가 배치된 베이스 기판;
상기 전자 소자를 밀봉하는 밀봉층;을 포함하며,
상기 밀봉층이 제1 코팅층; 및 상기 제1 코팅층 상에 배치되는 제2 코팅층;을 포함하며,
상기 제1 코팅층이 비불소계 아크릴계 화합물, 불포화 작용기를 포함하는 방향족 헤테로고리 화합물, 불포화 작용기 및 극성 작용기를 포함하는 방향족고리 화합물, 및 이의 유도체 중에서 선택된 하나 이상을 포함하며,
상기 제2 코팅층이 파릴렌계 중합체를 포함하는, 밀봉된 전자 소자.
a base substrate on one surface of which an electronic device is disposed;
Including; sealing layer for sealing the electronic device,
The sealing layer is a first coating layer; And a second coating layer disposed on the first coating layer; includes,
The first coating layer includes at least one selected from a non-fluorine-based acrylic compound, an aromatic heterocyclic compound having an unsaturated functional group, an aromatic cyclic compound having an unsaturated functional group and a polar functional group, and derivatives thereof,
wherein the second coating layer comprises a parylene-based polymer.
제10 항에 있어서, 상기 전자 소자가 유기발광소자(organic light emitting device, OLED), 액정표시소자(liquid crystal display, LCD), 전하결합소자(charge-coupled device, CCD), 미세전자기계센서들(micro-electro-mechanical sensors, MEMS), 및 박막 태양전지에 기반한 유기 또는 무기 광전 변환 소자 중에서 선택되는 밀봉된 전자 소자.11. The method of claim 10, wherein the electronic device is an organic light emitting device (OLED), a liquid crystal display (LCD), a charge-coupled device (CCD), a microelectromechanical sensor (micro-electro-mechanical sensors, MEMS), and organic or inorganic photoelectric conversion devices based on thin-film solar cells.
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