KR102534572B1 - 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 방법 및 장치 - Google Patents

수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명에서는 수동형 광 접속망의 적어도 하나의 가입자 측 종단 장치와 적어도 하나의 국사 측 종단 장치가 연결되는 복수의 접속 단자, 접속 단자로부터 상향 프레임 또는 하향 프레임을 수신하며, 수신된 상향 프레임 또는 하향 프레임을 분석하고, 분석한 결과에 기반하여 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 통신 상태를 시험하는 FPGA, 및 분석을 위한 프로그램을 실행시키고, 프로그램을 이용하여 FPGA를 제어하는 로컬 프로세서 모듈을 포함하는 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 장치를 제공함으로써, 측정 대상인 광 트랜시버가 실제 동작하는 수동형 광 접속망 시스템 환경과 유사한 환경에서 광 트랜시버의 시스템 정합 성능과 비트 오율을 기존보다 정확하게 측정할 수 있다.

Description

수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR TESTING OPTICAL TRANCEIVER FOR TERMINAL EQUIPMENT OF PASSIVE OPTICAL ACCESS NETWORK}
본 발명은 수동형 광 접속망의 종단 장치에서 사용하는 광 트랜시버의 성능을 시험하는 방법 및 장치에 관한 것이다.
광 트랜시버(optical transceiver)는 전기신호를 광 신호로 변환하여 전송하고 이를 수신하여 다시 전기신호로 복원하는 장치이다. 광 트랜시버는 수동형 광 접속망(passive optical access network) 또는 데이터 센터(data center) 등 다양한 분야에 사용하는 장치이다.
광 트랜시버는 광 접속망과 데이터 센터 등의 신설 및 증설에 따라 크게 늘고 있는 광 트랜시버 수요에 부합한다. 이에 따라, 광 트랜시버의 제조 생산도 급증하고 있으며, 광 트랜시버에 대한 다양한 수준의 검증 요구도 커지고 있다.
디지털 전송 시스템의 품질을 파악하는 가장 일반적인 방법의 하나인 비트 오율(BER: Bit Error Ratio)의 측정은 송신한 비트 열과 수신한 비트 열을 비교하여 일치하지 않는 비트 수를 계산하는 방식이다. BER 측정의 신뢰도를 높이기 위해서는 테스트에 사용하는 비트 열의 주기가 길어야 하고 비트 열의 무작위성이 높아야 한다.
송수신 장치에 내재한 실제 BER과 완전히 일치하는 BER은 주기가 무한한 비트 열을 송수신하여 무한정의 시간 동안 측정해야 얻을 수 있지만 현실적으로 불가능하므로 100% 신뢰도의 BER 측정은 불가능하다. 따라서 실제 상황에서 상용 비트 오율 측정 장치(BERT: Bit Error Ratio Tester)는 편의상 사전에 정의한 신뢰 수준을 보장하는 유한한 길이의 비트 열로 BER을 측정한다.
그러나 이 같은 한계가 있는 BERT를 통해 측정된 BER은 제조 생산한 광 트랜시버 단독의 내재적이고 통계적인 품질 특성이며, 실제 광 트랜시버를 장착하여 사용하는 특정 규격의 광 접속망 종단 장치와는 다른 환경에서 측정하는 품질 특성이다. 특히 새로운 규격의 광 트랜시버를 개발하는 단계에서는 광 트랜시버를 구성하는 PD나 LD등 기본 소자의 내재적 특성 외, 광 트랜시버와 광 접속망 국사 측 종단 장치인 OLT(Optical Line Terminal)나 광 접속망 가입자 측 종단 장치인 ONU(Optical Network Unit)등 광 접속망 종단 장치와 주고 받는 여러 제어신호 사이의 논리적 또는 전기적 정합여부를 시험해야 하는 경우가 빈번히 발생한다.
다만, 실제 광 트랜시버가 동작하는 광 접속망 시스템을 광 트랜시버 제조사 개발부서에 구축하기는 현실적으로 불가능하므로, 광 접속망 종단 장치와 최대한 유사한 시험 환경을 기존 BERT이하의 규모와 비용으로 제공하여 실제 광 접속망 시스템과 유사한 환경에서 시스템 정합 성능을 시험하고 실제 광 접속망에서 종단 장치간에 송수신하는 프레임과 동일한 규격의 프레임을 송수신 과정에서 발생하는 비트 오류를 측정할 수 있는 시험 장치가 필요하다.
본 발명의 기술적 과제는 수동형 광 접속망의 종단 장치에서 사용되는 광 트랜시버 사이에 수동형 광 접속망 규격의 송수신 과정에서 발생하는 비트 오류를 측정하고 분석할 수 있는 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 실시예에 따른 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 장치는 수동형 광 접속망의 적어도 하나의 가입자 측 종단 장치와 적어도 하나의 국사 측 종단 장치가 연결되는 복수의 접속 단자, 접속 단자로부터 상향 프레임 또는 하향 프레임을 수신하며, 수신된 상향 프레임 또는 하향 프레임을 분석하고, 분석한 결과에 기반하여 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 통신 상태를 시험하는 FPGA, 및 분석을 위한 프로그램을 실행시키고, 프로그램을 이용하여 FPGA를 제어하는 로컬 프로세서 모듈을 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 측정 대상인 광 트랜시버가 실제 동작하는 수동형 광 접속망 시스템 환경과 유사한 환경에서 광 트랜시버의 시스템 정합 성능과 비트 오율을 기존보다 정확하게 측정할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 POTP 회로기판의 구성을 도시한다.
도 2는 도 1에 도시된 FPGA의 내부 구성요소들을 도시한다.
도 3은 도 1의 POTP 회로기판을 이용하여 구성한 광 트랜시버 테스트 플랫폼의 하나의 예를 도시한다.
도 4는 광 트랜시버 테스트 플랫폼의 다른 하나의 예를 도시한다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 POTP 회로기판의 구성을 도시한다.
도 1에 도시된 바와 같이, POTP 회로기판(100)은 XFP(101,103)과 SFP/SFP+(102,104), FPGA(105), 로컬 프로세서 모듈(106), I2C 채널(111), PLB(Processor Local Bus, 109), 디버깅 채널(110), 고속 시리얼 링크(101-U, 101-D, 103-U, 103-D), 고속 시리얼 링크(102-D, 102-U, 104-D, 104-U), 전원 커넥터(107), 디버깅 커넥터(108)를 포함한다.
XFP(101,103) 및 SFP/SFP+(102,104)는 시험 대상인 XG-PON 접속망 종단 장치용 광 트랜시버를 장착하기 위한 접속 단자가 될 수 있다.
FPGA(105)는 시험 패턴을 생성한다. FPGA(105)는 시험을 위한 데이터를 송신하거나 수신하는 동작을 수행한다. FPGA(105)는 시험 대상에 대한 분석을 수행한다.
로컬 프로세서 모듈(106)은 POTP 회로기판(100)의 다른 구성요소들(예를 들면, POTP 회로기판(100)의 주변 장치들(101~105)을 제어한다. 로컬 프로세서 모듈(106)은 시험 소프트웨어를 구동한다.
I2C 채널(11)은 로컬 프로세서 모듈(106)과 POTP 회로기판(100)의 주변 장치들(101~105) 사이에 저속 동기 식 시리얼 통신 채널을 형성한다. I2C 채널(11)은 저속의 유선 시리얼 통신 채널을 형성한다.
PLB(Processor Local Bus, 109)은 로컬 프로세서 모듈(106)과 FPGA(105) 사이에 고속 통신 채널을 형성한다.
디버깅 채널(110)은 로컬 프로세서 모듈(106)과 외부 프로세서와의 통신을 중계한다.
고속 시리얼 링크(101-U, 101-D, 103-U, 103-D)는 XFP(101,103)에 장착되는 광 트랜시버와 FPGA(105)에 구현된 SerDes(SERrializer/DESerializer) 사이에 고속 시리얼 링크를 형성한다. 예를 들면, 예를 들어, 고속 시리얼 링크(101-U, 103-U)는 상향 프레임을 수신하고 고속 시리얼 링크(101-D, 103-D)는 하향 프레임을 송신한다.
고속 시리얼 링크(102-D, 102-U, 104-D, 104-U)는 SFP/SFP+(102,104)에 장착되는 광 트랜시버와 FPGA(105) 내부에 구현된 SerDes 사이에 고속 시리얼 링크를 형성한다. 고속 시리얼 링크(102-D, 104-D)는 하향 프레임을 수신하고 고속 시리얼 링크(102-U, 104-U)는 상향 프레임을 송신한다.
전원 커넥터(107)는 다른 구성요소들에 전원 공급을 수행한다. 예를 들면, 전원 커넥터(107)는 외부 전원으로부터 전원을 공급받고, POTP 회로기판(100) 내의 다른 구성요소들에 공급받은 전원을 전달할 수 있다. 예를 들면, 전원 커넥터(107)는 배터리 전원으로부터 전원을 공급받고, POTP 회로기판(100) 내의 다른 구성요소들에 공급받은 전원을 전달할 수 있다.
디버깅 커넥터(108)는 로컬 프로세서 모듈(106)과 디버깅 채널(110)을 통해 연결된다.
표 1은 광 트랜시버 시험에 필요한 파라미터를 나타낸다.
시험장치 파라미터 의미
VSSN ONU 제조사 고유 식별번호
ONU ID 광 가입자망 운용에 참여한 ONU 식별 번호
Preamble Length 상향 버스트 프리앰블 길이
Burst Length 딜리미터 포함한 상향 버스트 길이
Interval Length 상향 버스트들 간의 간격
본 발명의 실시예에 따른 시험 장치는 로컬 프로세서 모듈(106)을 통하여 시험 대상인 광 트랜시버 시험에 필요한 파라미터를 설정할 수 있다. 예를 들면, 로컬 프로세서 모듈(106)은 표 1에 나타난 시험장치 파라미터를 설정할 수 있다.
예를 들면, 로컬 프로세서 모듈(106)은 시험장치 파라미터인 VSSN, ONU ID, Preamble Length, Burst Length, Interval Length 파라미터를 설정할 수 있다.
시험장치 파라미터로서, VSSN은 ONU 제조사의 공유 식별번호를 나타낸다. ONU ID는 광 가입자망 운용에 참여한 ONU 식별 번호를 나타낸다. Preamble Length는 상향 버스트 프리앰블의 길이를 나타낸다. Burst Length는 딜리미터를 포함한 상향 버스트의 길이를 나타낸다. Interval Length는 상향 버스트들 사이의 간격을 나타낸다.
FPGA(105)는 표 1에 나타난 각 시험장치 파라미터 값에 기반하여, 광 트랜시버 시험을 위한 상향 프레임 또는 하향 프레임을 생성할 수 있다. FPGA(105)는 고속 시리얼 링크(102-U 또는 104-U)로 상향 프레임을 보내고 고속 시리얼 링크(101-U 또는 103-U)로부터 상향 프레임을 수신하며, 고속 시리얼 링크(101-D 또는 103-D)로 하향 프레임을 보내고 고속 시리얼 링크(102-D 또는 104-D)로부터 하향 프레임을 수신한다.
FPGA(105)는 수신된 상향 프레임 또는 하향 프레임을 각 시험장치 파라미터 값을 이용하여 검증할 수 있다.
도 2는 도 1에 도시된 FPGA의 내부 구성요소들을 도시한다.
도 2에 도시된 바와 같이, FPGA(105)는 하향 링크 쪽에 DN FRAMER(301), DN SCR(302), 복수의 OLT SERDES(300, 700), 복수의 ONT SERDES(400, 800), 복수의 DN SYNC(303, 503), 복수의 DN DESCR(304, 504), 복수의 DN DEFRAMER(305, 505)를 포함하고, 상향 링크 쪽에 복수의 UP FRAMER(201, 601), 복수의 UP SCR(202, 602), 복수의 ONT SERDES(400,800), 복수의 OLT SERDES(300, 700), 복수의 UP SYNC(203, 603), 복수의 UP DESCR(204, 604), 복수의 UP DEFRAMER(205, 605)를 포함한다.
DN FRAMER(301)는 특정 광 접속망 규격의 하향 시험 프레임을 생성한다.
DN SCR(302)는 입력 데이터를 특정한 스크램블링 다항식 연산을 통하여 스크램블링한다.
복수의 OLT SERDES(300, 700)는 입력된 병렬 데이터를 특정 광 접속망 규격의 하향 데이터 전송률로 직렬 변환한다.
복수의 ONT SERDES(400, 800)는 각각 특정 광 접속망 규격의 전송률로 입력된 하향 직렬 전송 신호를 병렬 데이터로 변환한다.
복수의 DN SYNC(303, 503)은 특정 광 접속망 규격의 하향 프레임 동기 패턴을 검색한다. 복수의 DN SYNC(303, 503)은 하향 데이터 생성부인 DN FRMAER(301)과 DN SCR(302)가 생성한 데이터와 동기를 맞춘다.
복수의 DN DESCR(304, 504)는 DN SCR(302)에 사용한 스크램블링(Scrambling) 다항식과 동일한 다항식 연산을 통하여 입력된 데이터를 디스크램블링(Descrambling)한다.
복수의 DN DEFRAMER(305, 505)는 입력된 데이터를 분석한다. 복수의 DN DEFRAMER(305, 505)는 분석 결과에 기반하여 시험장치의 동작모드에 따라 오류가 발생한 비트 수를 계산한다. 복수의 DN DEFRAMER(305, 505)는 미리 지정된 특정 위치에 특정한 데이터가 수신되었는지 여부를 판단한다.
복수의 UP FRAMER(201, 601)는 각각 특정 광 접속망 규격의 상향 시험 프레임을 생성한다.
복수의 UP SCR(202, 602)는 입력된 데이터를 특정한 스크램블링 다항식 연산을 통하여 스크램블링한다.
복수의 ONT SERDES(400, 800)는 입력된 병렬 데이터를 특정 광 접속망 규격의 상향 데이터 전송율로 직렬 변환한다.
복수의 UP SYNC(203, 603)은 특정 광 접속망 규격의 상향 프레임 동기 패턴을 검색한다. 복수의 UP SYNC(203, 603)은 UP FRMAER(201, 601)과 UP SCR(202, 602)가 생성한 상향 데이터와 동기를 맞춘다.
복수의 UP DESCR(204, 604)는 UP SCR(202, 602)에 사용한 스크램블링 다항식과 동일한 다항식 연산을 통하여 입력 데이터를 디스크램블링한다.
복수의 UP DEFRAMER(205, 605)는 입력 데이터를 분석한다. 복수의 UP DEFRAMER(205, 605)는 분석 결과를 이용하여 시험장치의 동작모드에 따라 오류가 발생한 비트 수를 계산한다. 복수의 UP DEFRAMER(205, 605)는 미리 지정된 특정 위치에 특정한 데이터가 수신되었는지 여부를 판단한다.
도 3은 도 1의 POTP 회로기판을 이용하여 구성한 광 트랜시버 테스트 플랫폼의 하나의 예를 도시하고, 도 4는 광 트랜시버 테스트 플랫폼의 다른 하나의 예를 도시한다.
도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 광 트랜시버 테스트 플랫폼의 XFP와 SFP+ 사이의 접속은 두 가지 방식으로 수행될 수 있다.
하나의 예로, 접속 방식은 도 3에 도시된 바와 같이 트윈 접속 모드가 될 수 있다. 트윈 접속 모드에서는 Link A, Link B에 장착되는 2쌍의 OLT 용 광 트랜시버와 ONT 용 광 트랜시버 쌍을 동시에 시험할 수 있다.
다른 하나의 예로, 접속 방식은 도 4에 도시된 바와 같이 다원 접속 모드가 될 수 있다. 다원 접속 모드에서는, 실제 PON 운용 환경처럼 국사 측 종단장치용 광 트랜시버에 복수의 가입자 측 종단장치용 광 트랜시버가 접속된 상황에서 광 트랜시버를 시험할 수 있다.
표 2는 시험모드에 따른 시험 방향 및 검증 비트위치를 나타낸다.
시험모드 시험방향 검증 비트위치
링크설정 시험모드 1) SN Acquisition 하향/상향 상하향 프레임 특정위치
2) Assign ONU ID 하향 하향 프레임 특정위치
3) Ranging 하향/상향 상하향 프레임 특정위치
비트오율 4) DLT 하향 시험구간 내 모든 프레임 전체 비트
5) ULT 상향 시험구간 내 모든 프레임 전체 비트
도 3의 트윈 접속 모드 및 도 4의 다원 접속 모드에서 각각 표 2에 나타난 시험모드로 동작할 수 있다.
예를 들면, 링크 설정 시험 모드에서는, 특정 광 접속망에서 가입자 링크가 설정되는 과정을 모사하며, FPGA가 시험장치에 장착한 광 트랜시버의 광 접속망 정합 성능을 시험한다.
예를 들면, 비트 오율 측정 모드에서는 FPGA가 특정 광 접속망 규격의 상향 프레임 및 하향 프레임의 모든 비트가 '0'인 비트열을 스크램블링한 테스트 패턴을 실어 송수신하며, 송수신 과정에서 발생한 오류 비트의 수를 측정한다.
FPGA(105)는 2개의 광 링크(Link A, Link B) 상에 장착한 광 트랜시버 시험을 위한 광 접속망 규격의 하향 프레임 및 상향 프레임을 생성한다.
FPGA(105)는 생성된 광 접속망 규격의 하향 프레임 및 상향 프레임을 송신 및 수신한다. FPGA(105)는 각 링크로 수신된 하향 프레임 및 상향 프레임을 분석한다.
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.

Claims (10)

  1. 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 장치에 있어서,
    상기 수동형 광 접속망의 적어도 하나의 가입자 측 종단 장치용 광 트랜시버와 적어도 하나의 국사 측 종단 장치용 광 트랜시버가 각각 연결되는 복수의 접속 단자;
    상기 복수의 접속 단자로부터 상향 프레임 또는 하향 프레임을 수신하며, 상기 수신된 상향 프레임 또는 하향 프레임을 분석하고, 상기 분석한 결과에 기반하여 상기 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 통신 상태를 시험하는 FPGA; 및
    상기 분석을 위한 프로그램을 실행시키고, 상기 프로그램을 이용하여 상기 FPGA를 제어하는 로컬 프로세서 모듈을 포함하며,
    상기 FPGA는,
    상기 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 통신 상태를 시험하기 위해,
    특정 광 접속망에서 가입자 링크가 설정되는 과정을 모사하여 상기 광 트랜시버의 광 접속망 정합 성능을 시험하는 제1 모드; 및
    특정 광 접속망 규격의 상향 및 하향 프레임의 모든 비트가 '0'인 비트 열을 스크램블링한 테스트 패턴을 송수신하고, 상기 테스트 패턴을 송수신하는 과정에서 발생하는 오류 비트의 수를 측정하는 제2 모드 중 어느 하나의 모드로 동작하도록 구성되는 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 FPGA는
    광 접속망의 규격에 해당하는 상향 프레임을 생성하고, 상기 복수의 접속 단자 중 적어도 하나의 제1 접속 단자를 통해 상기 적어도 하나의 가입자 측 종단 장치용 광 트랜시버로 상기 상향 프레임을 전송하고,
    상기 적어도 하나의 가입자 측 종단 장치용 광 트랜시버와 적어도 하나의 링크로 연결된 상기 적어도 하나의 국사 측 종단 장치용 광 트랜시버로부터 상기 복수의 접속 단자 중 적어도 하나의 제2 접속 단자를 통해 상기 상향 프레임을 수신하는 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 FPGA는
    광 접속망의 규격에 해당하는 하향 프레임을 생성하고, 상기 복수의 접속 단자 중 적어도 하나의 제2 접속 단자를 통해 상기 적어도 하나의 국사 측 종단 장치용 광 트랜시버로 상기 하향 프레임을 전송하고,
    상기 적어도 하나의 국사 측 종단 장치용 광 트랜시버와 적어도 하나의 링크로 연결된 적어도 하나의 가입자 측 종단 장치용 광 트랜시버로부터 상기 복수의 접속 단자 중 적어도 하나의 제1 접속 단자를 통해 상기 하향 프레임을 수신하는 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 장치.
  4. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 가입자 측 종단 장치용 광 트랜시버는 상기 적어도 하나의 링크를 통해 상기 적어도 하나의 국사 측 종단 장치용 광 트랜시버와 각각 연결되는 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 장치.
  5. 제2항 또는 제3항에서,
    하나의 국사 측 종단 장치용 광 트랜시버가 복수의 링크를 통해 복수의 가입자 측 종단 장치용 광 트랜시버와 연결되는 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 상향 프레임 또는 상기 하향 프레임은 링크 설정 시험 또는 비트오율 측정을 위해 사용되는 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 장치.
  7. 시험 장치에서 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버를 시험하는 방법에 있어서,
    광 접속망의 규격에 해당하는 프레임을 생성하는 단계,
    적어도 하나의 제1 접속 단자를 통해 적어도 하나의 제1 종단 장치용 트랜시버로 상기 프레임을 전송하는 단계,
    적어도 하나의 제2 제2 접속 단자를 통해 상기 적어도 하나의 제1 종단 장치용 광 트랜시버와 적어도 하나의 링크로 연결된 적어도 하나의 제2 종단 장치용 광 트랜시버가 상기 프레임을 수신하면, 상기 적어도 하나의 제2 접속 단자를 통해 상기 프레임을 수신하는 단계, 그리고
    수신된 상기 프레임을 분석하여 상기 제1 종단 장치용 광 트랜시버 및 상기 제2 종단 장치용 광 트랜시버의 통신 상태를 시험하는 단계를 포함하며,
    상기 광 트랜시버의 통신 상태를 시험하는 단계는,
    특정 광 접속망에서 가입자 링크가 설정되는 과정을 모사하여 상기 광 트랜시버의 광 접속망 정합 성능을 시험하는 제1 모드; 및
    특정 광 접속망 규격의 상향 및 하향 프레임의 모든 비트가 '0'인 비트 열을 스크램블링한 테스트 패턴을 송수신하고, 상기 테스트 패턴을 송수신하는 과정에서 발생하는 오류 비트의 수를 측정하는 제2 모드 중 어느 하나의 모드에 의해 수행되는 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 방법.
  8. 제7항에서,
    상기 적어도 하나의 제1 종단 장치용 광 트랜시버는 상기 적어도 하나의 링크를 통해 상기 적어도 하나의 제2 종단 장치용 광 트랜시버와 각각 연결되는 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 방법.
  9. 제7항에서,
    복수의 제1 종단 장치용 광 트랜시버는 복수의 링크를 통해 하나의 제2 종단 장치용 광 트랜시버와 연결되는 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 방법.
  10. 제7항에서,
    상기 프레임은 링크 설정 시험 또는 비트오율 측정을 위해 사용되는 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 방법.
KR1020190004852A 2018-01-15 2019-01-14 수동형 광 접속망 종단 장치용 광 트랜시버의 시험 방법 및 장치 KR102534572B1 (ko)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN103532618A (zh) * 2013-10-25 2014-01-22 武汉邮电科学研究院 光模块误码测试装置及方法
CN106209220A (zh) * 2016-07-05 2016-12-07 厦门优迅高速芯片有限公司 一种基于fpga的ux3328sfp光模块自动参数设置与测试方法

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