KR102501098B1 - 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치 - Google Patents
테라헤르츠 대역 연구용 실험장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102501098B1 KR102501098B1 KR1020210103065A KR20210103065A KR102501098B1 KR 102501098 B1 KR102501098 B1 KR 102501098B1 KR 1020210103065 A KR1020210103065 A KR 1020210103065A KR 20210103065 A KR20210103065 A KR 20210103065A KR 102501098 B1 KR102501098 B1 KR 102501098B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- terahertz
- terahertz wave
- research
- unit
- path extension
- Prior art date
Links
- 238000011160 research Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 39
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 39
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 39
- 238000009408 flooring Methods 0.000 claims description 16
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 claims description 14
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 claims description 13
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 claims description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 7
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims description 5
- 238000000429 assembly Methods 0.000 claims description 3
- 230000000712 assembly Effects 0.000 claims description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 3
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000002341 toxic gas Substances 0.000 abstract description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3581—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
본 발명은 장치의 대형화가 필요없이 대기 중의 습도를 조절하여 테라헤르츠파가 대기를 통과하면서 발생할 수 있는 주파수에 따라 다른 대기 감쇠 등의 전파특성을 효과적으로 분석할 수 있고 테라헤르츠 대역의 특정 주파수에서 어느 독성가스가 반응하는지를 간단히 분석할 수 있는 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치에 관한 것으로, 실험을 위한 다양한 주파수의 테라헤르츠파를 생성하여 출력하는 테라헤르츠파 발생부; 상기 테라헤르츠파 발생부에 생성된 테라헤르츠파를 집광시키는 집속부; 상기 집속부로부터 입사된 테라헤르츠파의 반응 경로를 확장시키는 경로확장부; 및 상기 경로확장부로부터 출사된 테라헤르츠파를 수신하는 테라헤르츠파 수신부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 테라헤르츠파가 대기를 통과하면서 발생할 수 있는 주파수에 따라 다른 대기 감쇠 등의 전파특성을 효과적으로 분석할 수 있고 테라헤르츠 대역의 특정 주파수에서 어느 독성가스가 반응하는지를 간단히 분석할 수 있는 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치에 관한 것이다.
테라헤르츠 대역은 전자파 스펙트럼에서 밀리미터파 대역과 원적외선 대역의 중간에 위치하는 0.1THz ~ 10THz 사이의 주파수이다.
이러한 테라헤르츠파 대역은 의학, 의공학, 생화학, 식품공학, 공해감시 및 보안 검색 등의 산업에 점차 확장되며 중요성이 날로 증대되고 있다.
또한, 테라헤르츠 대역에서는 전송할 수 있는 정보량을 매우 크게 할 수 있으므로 6세대 이동통신에 이용하기 위한 연구도 진행되고 있다.
그리고 테라헤르츠 대역에서는 주파수 특성상 경로 감쇠가 매우 크고 수증기 등 대기의 수분에 강하게 흡수되는 특성이 있다.
이에 보다 효과적인 연구 수행을 위해서는 고감도의 실험장치가 요구되나 이 경우 장치가 매우 커지는 문제가 있다.
이에 본 출원인들은 간단한 구조의 소형화된 실험장치로 테라헤르츠 대역의 대기상관성 연구뿐만 아니라 독성 가스 연구도 함께 수행하고자 본 발명을 안출하게 되었다.
본 발명에서 해결하고자 하는 과제는, 장치의 대형화가 필요없이 대기 중의 습도를 조절하여 테라헤르츠파가 대기를 통과하면서 발생할 수 있는 주파수에 따라 다른 대기 감쇠 등의 전파특성을 효과적으로 분석할 수 있고 테라헤르츠 대역의 특정 주파수에서 어느 독성가스가 반응하는지를 간단히 분석할 수 있는 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치를 제공하는 것이다.
상기 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치는, 실험을 위한 다양한 주파수의 테라헤르츠파를 생성하여 출력하는 테라헤르츠파 발생부; 상기 테라헤르츠파 발생부에 생성된 테라헤르츠파를 집광시키는 집속부; 상기 집속부로부터 입사된 테라헤르츠파의 반응 경로를 확장시키는 경로확장부; 및 상기 경로확장부로부터 출사된 테라헤르츠파를 수신하는 테라헤르츠파 수신부;를 포함한다.
또한 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치는, 상기 집속부가 상기 테라헤르츠파 발생부에서 생성된 테라헤르츠파를 집광하여 1차적으로 반사시키는 포물경과 상기 포물경에서 반사된 테라헤르츠파를 다시 반사시켜 경로확장부로 입사시키는 평면경으로 이루어진다.
또한 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치는, 상기 경로확장부가 상하부가 개구되되 소정 외경, 높이 및 두께를 갖는 원통형으로 이루어지는 바디와, 상기 바디를 관통하는 다수의 결합홀과, 상기 결합홀에 결합되는 다수의 미러결합체 및 테프론 마개를 포함한다.
또한 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치는, 상기 미러결합체가 틸팅 기능을 포함하여 반사 각도를 조정할 수 있는 구조로 구성되고, 상기 결합홀에 삽입 결합되는 결합몸체와 상기 결합몸체의 단부에 구비된 반사경으로 이루어진다.
또한 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치는, 상기 반사경이 설치 위치에 따라 평면반사경과 구면반사경이 선택적으로 구성되고, 테라헤르츠파가 반복 반사되어 최종적으로 반사되는 곳에 구면반사경이 구비되며, 나머지 반사되는 곳은 모두 평면반사경이 구비된다.
또한 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치는, 상기 테프론 마개가 테라헤르츠파가 입사되는 결합홀에 결합된 제1 테프론 마개와, 테라헤르츠파가 출사되는 결합홀에 결합된 제2 테프론 마개로 이루어진다.
또한 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치는, 상기 경로확장부가 상기 바디에 착탈 가능한 구조로 구성되되 상기 바디에 부착된 상태에서 바디의 하부를 밀폐하고, 다수의 체결공을 통해 광학테이블에 연결 고정되는 바닥재를 포함한다.
또한 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치는, 상기 바닥재에 밀폐된 바디 내부의 습도를 조절하기 위한 가습장치가 더 구비되며, 상기 바닥재의 일측에 습도 센서가 구비되고, 상기 습도 센서의 신호값은 습도 컨트롤러에서 비교 판단되어 상기 가습장치가 원하는 습도로 제어되도록 한다.
또한 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치는, 상기 경로확장부가 상기 바디에 착탈 가능한 구조로 구성되되 투명 재질로 이루어지고, 일측에 특정 기체의 유입 유출이 가능하도록 복수의 가스라인이 구비된 커버를 포함한다.
또한 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치는, 상기 테라헤르츠파 발생부의 일단과 상기 테라헤르츠파 수신부의 일단에 혼 안테나가 각각 구비된다.
본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치에 의하면, 장치의 대형화가 필요없이 대기 중의 습도를 조절하여 테라헤르츠파가 대기를 통과하면서 발생할 수 있는 주파수에 따라 다른 대기 감쇠 등의 전파특성을 효과적으로 분석할 수 있다.
또한 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치에 의하면, 동일한 장치를 이용하여 테라헤르츠 대역의 특정 주파수에서 어느 독성가스가 반응하는지를 간단히 분석할 수 있다.
또한 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치에 의하면, 위와 같이 간단하면서 소형화된 실험장치로 테라헤르츠 대역의 연구를 수행할 수 있으므로 장치의 효용성이 크게 증대된다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치의 구성도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치에서 경로확장부의 분해 사시도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치에서 도 1의 AA'선에 따른 경로확장부의 단면도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치의 경로확장부에서 테라헤르츠파의 반사 순서와 진행 경로를 설명하기 위한 구성도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치의 경로확장부에서 바닥재의 다른 실시예이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치에서 경로확장부의 분해 사시도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치에서 도 1의 AA'선에 따른 경로확장부의 단면도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치의 경로확장부에서 테라헤르츠파의 반사 순서와 진행 경로를 설명하기 위한 구성도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치의 경로확장부에서 바닥재의 다른 실시예이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치는 광학테이블(T), 테라헤르츠파 발생부(100), 집속부(200), 경로확장부(300), 테라헤르츠파 수신부(400) 및 분석부(500)로 이루어진다.
이하, 각 구성별로 본 발명의 구체적인 내용을 설명한다.
상기 광학테이블(T)은 상기 테라헤르츠파 발생부(100), 집속부(200), 경로확장부(300) 및 테라헤르츠파 수신부(400)를 소정 위치에 고정하기 위한 구성으로서, 표면에 다수의 결합공(h)이 구비되어 있다.
상기 테라헤르츠파 발생부(100)는 실험을 위한 다양한 주파수의 테라헤르츠파를 생성하여 출력하는 장치이고, 일단에 혼 안테나(110)가 구비되어 있다.
상기 혼 안테나(110)는 고지향성 안테나로서 테라헤르츠 대역에서 경로 감쇠가 매우 크다는 점을 고려하여 설치한 것이다.
상기 혼 안테나(110)는 도파관 형태의 안테나로서 도파관 마지막 부분이 사각형 또는 원형의 깔때기처럼 벌어진 형상을 하고 있고, 지향성을 극대화하기 위하여 혼 안테나의 말단에 렌즈를 결합하여 사용하기도 한다.
상기 집속부(200)는 테라헤르츠파 발생부(100)에 생성된 테라헤르츠파를 집속시켜 경로확장부(300)로 입사시키기 위한 구성이다.
이는 테라헤르츠파 전파 특성상 전파가 진행함에 따라 빔이 커지게 되는바, 경로확장부(300)에서의 긴 경로를 고려하여 테라헤르츠파가 긴 경로를 진행하면서 발생할 수 있는 산란을 최소화하기 위함이다.
상기 집속부(200)는 테라헤르츠파 발생부(100)에서 생성된 테라헤르츠파를 집속하여 1차적으로 반사시키는 포물경(210)과 상기 포물경(210)에서 반사된 테라헤르츠파를 다시 반사시켜 경로확장부(300)로 입사시키는 평면경(220)으로 이루어진다.
상기 경로확장부(300)는 집속부(200)로부터 입사된 테라헤르츠파의 반응 경로를 확장시키기 위한 구성으로서, 바디결합체(310), 바닥재(320) 및 커버(330)로 구성된다.
상기 바디결합체(310)는 도 2에 도시된 바와 같이, 상하부가 개구되되 소정 외경, 높이 및 두께를 갖는 원통형으로 이루어지는 바디(312)와, 상기 바디(312)를 관통하여 형성되는 다수의 (314)과, 상기 결합홀(314)에 결합된 다수의 미러결합체(316) 및 테프론 마개(318)로 이루어진다.
본 발명의 실시예에서 상기 바디(312)는 외경 72cm, 높이 13cm, 두께 3cm로 제작되며, 상기 결합홀(314)은 28개가 구비되고, 상기 미러결합체(316)는 26개가 구비되며, 상기 테프론 마개(318)는 2개가 구비된다.
상기 미러결합체(316)는 틸팅 기능을 포함하여 반사 각도를 조정할 수 있는 구조로 구성되고, 상기 결합홀(314)에 삽입 결합되는 결합몸체(316a)와 상기 결합몸체(316a)의 단부에 구비된 반사경(316b)으로 이루어진다.
상기 반사경(316b)은 설치 위치에 따라 평면반사경(316b')과 구면반사경(316b")이 선택적으로 구성되고, 도 2 및 도 4에 도시된 바와 같이 입사된 테라헤르츠파가 반복 반사되어 최종적으로 반사되는 곳 즉, 26번 결합홀에 빔을 모아 수신전력을 향상시키기 위한 구면반사경(316b")이 구비되며, 나머지 반사되는 곳은 모두 평면반사경(316b')이 구비된다.
도 4를 참조하면, 0번 결합홀은 테라헤르츠파가 입사되는 곳이고, 1번 결합홀은 입사된 테라헤르츠파가 제일 먼저 반사되는 곳이며, 그 후 반사되는 곳을 2번 결합홀, 3번 결합홀,‥‥‥, 마지막으로 반사되는 곳을 26번 결합홀이라 하고, 27번 결합홀은 테라헤르츠파가 출사되는 곳이다.
상기 0번 결합홀에는 투명 재질의 제1 테프론 마개(318a)가 결합되어 있고, 27번 결합홀에는 투명 재질의 제2 테프론 마개(318b)가 결합되어 있다.
그리고 나머지 결합홀들에는 미러결합체(316)가 결합되는바, 구체적으로 26번 결합홀에는 구면반사경(316b")을 구비한 미러결합체가 결합되며, 0번, 26번, 27번을 제외한 나머지 결합홀에는 평면반사경(316b')을 구비한 미러결합체가 결합된다.
이하, 상기 경로확장부(300)에서 테라헤르츠파의 경로가 확산되는 과정을 살펴본다.
집속부(200)의 평면경(220)을 통해 0번 결합홀에 결합된 제1 테프론 마개(318a)로 입사된 테라헤르츠파는 1번 결합홀에 결합된 미러결합체(316)의 평면반사경(316b')에서 반사되고, 반사된 테라헤르츠파는 다시 2번 결합홀에 결합된 미러결합체(316)의 평면반사경(316b')에서 반사되는 방식으로 계속 전파되며, 최종 26번 결합홀에 결합된 미러결합체(316)의 구면반사경(316b")에서 반사된 후 27번 결합홀(314)에 결합된 제2 테프론 마개(318b)를 통해 출사된다.
상기 바닥재(320)는 상기 바디(312)에 착탈 가능한 구조로 구성되되, 상기 바디(312)에 부착된 상태에서 바디(312)의 하부를 밀폐하고, 바닥재(320)에 형성된 다수의 체결공(320a)을 통해 광학테이블(T)에 연결 고정된다.
또한, 상기 바닥재(320)의 하부에는 별도의 지지구(미도시)가 구비되어 있어 상기 지지구를 매개로 하여 바닥재(320)가 광학테이블(T)에 고정된다.
이때, 상기 체결공(320a)에는 체결볼트(미도시)가 결합되고 상기 체결볼트는 체결공(320a)을 밀폐할 수 있는 구조로 이루어지며 바닥재(320) 하부에 위치한 지지구에 체결된다.
한편, 대기 중의 습도에 따른 테라헤르츠파의 대기상관성 연구를 위하여 상기 바닥재(320)에는 밀폐된 바디(312) 내부의 습도를 조절하기 위한 가습장치(325)가 더 구비될 수 있다.
또한, 상기 바닥재(320)의 일측에 습도 센서(327)가 구비되고, 상기 습도 센서(327)의 신호값은 별도로 설치된 습도 컨트롤러(미도시)에서 비교 판단되어 상기 가습장치(325)가 원하는 습도로 제어되도록 한다.
이때, 상기 가습장치(325)가 장착되어 있는 바닥재(320)는 별도로 제작되고, 실험 종류에 따라 앞선 실시예의 바닥재(320) 또는 가습장치(325)가 장착되어 있는 바닥재(320')를 교체해가면서 실험을 진행하게 된다.
상기 커버(330)는 상기 바디(312)에 착탈 가능한 구조로 구성되되 투명 재질로 이루어지고, 도 3에 도시된 바와 같이 일측에 특정 기체 예를 들어, 독성 가스의 유입 유출이 가능하도록 복수의 가스라인(335)이 구비되어 있다.
또한, 상기 가스라인(335)에는 가스의 입출량을 조절할 수 있는 가스피팅기(미도시)가 더 구비될 수 있다.
이를 통해 경로확장부(300) 내부의 밀폐된 공간에 유입된 독성가스가 테라헤르츠파의 특정 주파수에서 주파수 특성이 어떻게 변하는지를 관찰할 수 있게 된다.
상기 테라헤르츠파 수신부(400)는 상기 경로확장부(300)로부터 출사된 테라헤르츠파를 수신하는 구성이고, 일단에 테라헤르츠파 발생부(100)와 마찬가지로 혼 안테나(410)가 구비되어 있다.
상기 분석부(500)는 상기 테라헤르츠파 수신부(400)로 수신된 테라헤르츠파의 주파수에 따른 신호 크기를 분석하는 스펙트럼 분석기 또는 테라헤르츠파의 산란 파라미터의 측정을 통해 산란 파라미터의 크기와 위상을 측정하는 벡터 네트워크 분석기로 구성된다.
앞선 실시예에서 상기 분석부(500)는 광학테이블(T)의 소정 위치에 고정되는 것으로 하였으나, 상기 분석부(500)는 실험자의 편의를 위해 다른 위치에 고정 설치될 수도 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하였으나, 본 발명의 권리범위는 이에 한정되지 아니하며 본 발명의 실시예와 실질적으로 균등한 범위에 있는 것까지 본 발명의 권리범위가 미치는 것으로 이해되어야 하며, 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형 실시가 가능하다.
100: 테라헤르츠파 발생부
200: 집속부
300: 경로확장부
400: 테라헤르츠파 수신부
500: 분석부
200: 집속부
300: 경로확장부
400: 테라헤르츠파 수신부
500: 분석부
Claims (10)
- 실험을 위한 다양한 주파수의 테라헤르츠파를 생성하여 출력하는 테라헤르츠파 발생부;
상기 테라헤르츠파 발생부에 생성된 테라헤르츠파를 집광시키는 집속부;
상기 집속부로부터 입사된 테라헤르츠파의 반응 경로를 확장시키는 경로확장부; 및
상기 경로확장부로부터 출사된 테라헤르츠파를 수신하는 테라헤르츠파 수신부;
를 포함하고,
상기 경로확장부는
상하부가 개구되되 소정 외경, 높이 및 두께를 갖는 원통형으로 이루어지는 바디와, 상기 바디를 관통하는 다수의 결합홀과, 상기 결합홀에 결합되는 다수의 미러결합체 및 테프론 마개를 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치. - 제1항에 있어서,
상기 집속부는
상기 테라헤르츠파 발생부에서 생성된 테라헤르츠파를 집광하여 1차적으로 반사시키는 포물경과 상기 포물경에서 반사된 테라헤르츠파를 다시 반사시켜 경로확장부로 입사시키는 평면경으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치. - 삭제
- 제1항에 있어서,
상기 미러결합체는
틸팅 기능을 포함하여 반사 각도를 조정할 수 있는 구조로 구성되고, 상기 결합홀에 삽입 결합되는 결합몸체와 상기 결합몸체의 단부에 구비된 반사경으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치. - 제4항에 있어서,
상기 반사경은 설치 위치에 따라 평면반사경과 구면반사경이 선택적으로 구성되고, 테라헤르츠파가 반복 반사되어 최종적으로 반사되는 곳에 구면반사경이 구비되며, 나머지 반사되는 곳은 모두 평면반사경이 구비되는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치. - 제1항에 있어서,
상기 테프론 마개는
테라헤르츠파가 입사되는 결합홀에 결합된 제1 테프론 마개와, 테라헤르츠파가 출사되는 결합홀에 결합된 제2 테프론 마개로 이루어지는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치. - 제1항에 있어서,
상기 경로확장부는
상기 바디에 착탈 가능한 구조로 구성되되 상기 바디에 부착된 상태에서 바디의 하부를 밀폐하고, 다수의 체결공을 통해 광학테이블에 연결 고정되는 바닥재를 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치. - 제7항에 있어서,
상기 바닥재에는 밀폐된 바디 내부의 습도를 조절하기 위한 가습장치가 더 구비되며,
상기 바닥재의 일측에 습도 센서가 구비되고, 상기 습도 센서의 신호값은 습도 컨트롤러에서 비교 판단되어 상기 가습장치가 원하는 습도로 제어되도록 하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치. - 제1항에 있어서,
상기 경로확장부는
상기 바디에 착탈 가능한 구조로 구성되되 투명 재질로 이루어지고, 일측에 특정 기체의 유입 유출이 가능하도록 복수의 가스라인이 구비된 커버를 포함하는 것을 특징으로 하는 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치. - 삭제
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210103065A KR102501098B1 (ko) | 2021-08-05 | 2021-08-05 | 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210103065A KR102501098B1 (ko) | 2021-08-05 | 2021-08-05 | 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20230021325A KR20230021325A (ko) | 2023-02-14 |
| KR102501098B1 true KR102501098B1 (ko) | 2023-02-17 |
Family
ID=85220759
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020210103065A KR102501098B1 (ko) | 2021-08-05 | 2021-08-05 | 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102501098B1 (ko) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014032068A (ja) | 2012-08-02 | 2014-02-20 | Koptic Inc | ガス濃度測定装置 |
| JP2020034530A (ja) * | 2018-08-31 | 2020-03-05 | 国立研究開発法人理化学研究所 | テラヘルツ波を用いた検査装置と検査方法 |
| JP2020507784A (ja) | 2017-02-15 | 2020-03-12 | マルクメトリックス・インコーポレイテッド | 密閉型ベンチトップラマン分光装置 |
| KR102220889B1 (ko) * | 2018-03-16 | 2021-03-02 | 한국전자통신연구원 | 테라헤르츠파를 이용한 영상 획득 장치 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101606785B1 (ko) | 2014-08-05 | 2016-03-28 | 서울시립대학교 산학협력단 | 기체 분석용 테라헤르츠 분광기 |
-
2021
- 2021-08-05 KR KR1020210103065A patent/KR102501098B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014032068A (ja) | 2012-08-02 | 2014-02-20 | Koptic Inc | ガス濃度測定装置 |
| JP2020507784A (ja) | 2017-02-15 | 2020-03-12 | マルクメトリックス・インコーポレイテッド | 密閉型ベンチトップラマン分光装置 |
| KR102220889B1 (ko) * | 2018-03-16 | 2021-03-02 | 한국전자통신연구원 | 테라헤르츠파를 이용한 영상 획득 장치 |
| JP2020034530A (ja) * | 2018-08-31 | 2020-03-05 | 国立研究開発法人理化学研究所 | テラヘルツ波を用いた検査装置と検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20230021325A (ko) | 2023-02-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10551490B2 (en) | Security inspection system and method using the three-dimensional holographic imaging technology | |
| US7498575B2 (en) | Optical analysis device | |
| US8299433B2 (en) | Multi-channel optical cell | |
| EP2639570A2 (en) | Gas analyzer and optical unit for use therein | |
| NO319496B1 (no) | Linseantenne med dielektrisk linse | |
| CN116015483A (zh) | 图像捕获装置、用图像捕获装置捕获图像的方法和照射装置 | |
| US6441793B1 (en) | Method and apparatus for wireless communications and sensing utilizing a non-collimating lens | |
| KR102501098B1 (ko) | 테라헤르츠 대역 연구용 실험장치 | |
| KR101005272B1 (ko) | 가스 분석 장치 | |
| CN103364417B (zh) | 太赫兹波探测装置 | |
| CN108760673B (zh) | 基于太赫兹的高危化学品探测的装置和方法 | |
| JP7122403B2 (ja) | 温度試験装置及び温度試験方法 | |
| CN114216853B (zh) | 基于太赫兹漏波天线的实时探测系统以及方法 | |
| RU2722968C1 (ru) | Устройство обнаружения акустических активных воздушных объектов | |
| JP2000278035A (ja) | アンテナ装置 | |
| JP7174892B2 (ja) | 温度試験装置及び温度試験方法 | |
| US10700407B2 (en) | Acquisition aid antenna device and associated antenna system for monitoring a moving target | |
| JP7348218B2 (ja) | 温度試験装置及び温度試験方法 | |
| US2521524A (en) | Directional antenna system | |
| JPH0342723B2 (ko) | ||
| CN112345484A (zh) | 一种真空型太赫兹干燥探头及检测方法 | |
| US4282525A (en) | Microwave limb sounder | |
| JP7181952B2 (ja) | 温度試験装置及び温度試験方法 | |
| JP7181951B2 (ja) | 温度試験装置及び温度試験方法 | |
| RU2664751C1 (ru) | Многолучевая диапазонная двухзеркальная антенна с вынесенным облучением |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant |