KR102495716B1 - Module and method for compensating definition of display apparatus - Google Patents

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Abstract

본 발명은 디스플레이 장치의 화질 보상 모듈 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 디스플레이 패널의 온도에 기초하여 구동 TFT의 전기적 특성 변화를 보상하기 위한 보상 방법을 결정하고, 결정된 보상 방법에 따라 최종 보상 파라미터를 생성하여 구동 TFT 에 인가되는 최종 데이터 전압을 보상하는 디스플레이 장치의 화질 보상 모듈 및 방법에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 화질 보상 모듈은 결정부, 생성부 및 산출부를 포함할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 화질 보상 모듈에 따르면 디스플레이 패널의 온도에 기초하여 보상 방법을 결정함으로써, 디스플레이의 화질 보상을 효과적으로 수행할 수 있는 장점이 있다.The present invention relates to a picture quality compensation module and method of a display device, and more particularly, to determine a compensation method for compensating for a change in electrical characteristics of a driving TFT based on a temperature of a display panel, and to determine a final compensation parameter according to the determined compensation method. A picture quality compensating module and method of a display device for compensating for a final data voltage applied to a driving TFT by generating An image quality compensation module according to an embodiment of the present invention may include a determining unit, a generating unit, and a calculating unit. According to the picture quality compensation module according to an embodiment of the present invention, the picture quality compensation of the display can be effectively performed by determining the compensation method based on the temperature of the display panel.

Description

디스플레이 장치의 화질 보상 모듈 및 방법{Module and method for compensating definition of display apparatus}Picture quality compensation module and method of display device {Module and method for compensating definition of display apparatus}

본 발명은 디스플레이 장치의 화질 보상 모듈 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 디스플레이 패널의 온도에 기초하여 구동 TFT의 전기적 특성 변화를 보상하기 위한 보상 방법을 결정하고, 결정된 보상 방법에 따라 최종 보상 파라미터를 구동 TFT 에 인가되는 최종 데이터 전압을 보상하는 디스플레이 장치의 화질 보상 모듈 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a picture quality compensation module and method of a display device, and more particularly, to determine a compensation method for compensating for a change in electrical characteristics of a driving TFT based on a temperature of a display panel, and to determine a final compensation parameter according to the determined compensation method. A picture quality compensation module and method of a display device for compensating for a final data voltage applied to a driving TFT.

기존의 음극선관(Cathode Ray Tube)표시장치를 대체하기 위한 평판표시장치(Flat Panel Display)로는 액정표시소자(Liquid Crystal Display), 전계방출 표시장치(Field Emission Display), 플라즈마 표시장치(Plasma Display Panel) 및 유기발광 표시장치(Organic Light-Emitting Diode Display, OLED Display) 등이 있다.Flat Panel Displays to replace the existing Cathode Ray Tube display devices include Liquid Crystal Display, Field Emission Display, and Plasma Display Panel. ) and Organic Light-Emitting Diode Display (OLED Display).

이중, 유기발광 표시장치에 구비되는 유기발광 다이오드는 높은 휘도와 낮은 동작 전압 특성을 가지며, 또한 스스로 빛을 내는 자체발광형이기 때문에 명암대비(CONTRAST RATIO)가 크고, 초박형 디스플레이의 구현이 용이하다. 또한, 응답시간이 수 마이크로초(㎲) 정도로 동화상 구현이 쉽고, 시야각의 제한이 없으며 저온에서도 안정적이라는 장점이 있다.Among them, an organic light emitting diode included in an organic light emitting display device has characteristics of high luminance and low operating voltage, and since it is a self-emitting type that emits light by itself, it has a high contrast ratio and is easy to implement an ultra-thin display. In addition, the response time is about several microseconds (μs), so it is easy to implement a moving image, there is no restriction on the viewing angle, and it is stable even at low temperatures.

도 1은 종래의 유기발광 표시장치의 화소(PX) 및 센싱회로(SC)에 대한 등가 회로도이다.1 is an equivalent circuit diagram of a pixel PX and a sensing circuit SC of a conventional organic light emitting display device.

도 1을 참조하면, 화소(PX)는 고전위 구동전압(EVDD)을 인가받아 구동되며 게이트 단자에 인가되는 데이터 전압(Vdata)에 따라 유기발광 다이오드(OLED)의 구동전류(Ids)를 발생시키는 구동 TFT(DR-TFT)를 포함한다. 또한, 화소(PX)는 스캔 신호(SCAN)에 대응하여 데이터 전압(Vdata)을 구동 TFT(DR-TFT)의 게이트 단자에 인가하는 스캔 TFT(SC-TFT)를 포함한다. 또한, 화소(PX)는 센싱 신호(SENSE)에 대응하여 구동 TFT(DR-TFT)에 의한 전류를 싱크하기 위한 센싱 TFT(SS-TFT)를 포함한다.Referring to FIG. 1 , the pixel PX is driven by receiving the high-potential driving voltage EVDD and generates the driving current Ids of the organic light emitting diode OLED according to the data voltage Vdata applied to the gate terminal. It includes a driving TFT (DR-TFT). Also, the pixel PX includes a scan TFT (SC-TFT) that applies the data voltage Vdata to the gate terminal of the driving TFT (DR-TFT) in response to the scan signal SCAN. In addition, the pixel PX includes a sensing TFT (SS-TFT) for sinking current by the driving TFT (DR-TFT) in response to the sensing signal (SENSE).

이때, 전자 이동도 및 문턱전압과 같은 구동 TFT(DR-TFT)의 전기적 특성은 모든 화소(PX)들에서 동일하게 설계됨이 바람직하나, 실제로는 공정 조건과 구동 환경 등에 의해 화소(PX)들마다 구동 TFT(DR-TFT)의 전기적 특성에 편차가 발생한다. 이에 따라, 동일한 데이터 전압(Vdata)에 따른 구동전류(Ids)는 화소(PX)들마다 달라지고 그 결과, 화소(PX)들 간 휘도 편차가 발생하게 된다.At this time, it is preferable that the electrical characteristics of the driving TFT (DR-TFT), such as electron mobility and threshold voltage, are designed identically in all pixels PX, but in reality, each pixel PX is different due to process conditions and driving environments. Deviation occurs in the electrical characteristics of the driving TFT (DR-TFT). Accordingly, the driving current Ids according to the same data voltage Vdata is different for each pixel PX, and as a result, a luminance deviation occurs between the pixels PX.

이를 해결하기 위하여, 종래에는 각 화소(PX)로부터 구동 TFT(DR-TFT)의 문턱전압을 측정하고, 측정 결과에 따라 데이터 전압(Vdata)을 적절히 보정함으로써 휘도 불균일을 감소시키는 보상기술이 사용되고 있다.In order to solve this problem, conventionally, a compensation technique for reducing luminance non-uniformity by measuring the threshold voltage of the driving TFT (DR-TFT) from each pixel (PX) and appropriately correcting the data voltage (Vdata) according to the measurement result has been used. .

도 2는 종래의 센싱회로(SC)를 제어하는 제어신호의 타이밍도이다.2 is a timing diagram of a control signal for controlling a conventional sensing circuit (SC).

도 1 및 도 2를 참조하여 종래의 보상기술을 설명하면, 화소(PX)에 하이 레벨의 스캔 신호(SCAN)를 인가하면 스캔 TFT(SC-TFT)가 턴-온되고, 데이터 라인(DL)을 통해 디지털-아날로그 컨버터(DAC)로부터 데이터 전압(Vdata)이 구동 TFT(DR-TFT)의 게이트 단자에 인가된다. Referring to the conventional compensation technique with reference to FIGS. 1 and 2, when a high-level scan signal SCAN is applied to the pixel PX, the scan TFT (SC-TFT) is turned on, and the data line DL The data voltage Vdata is applied to the gate terminal of the driving TFT (DR-TFT) from the digital-to-analog converter (DAC).

또한, 프리차징 신호(SPRE)를 하이 레벨로 인가하여 프리차징 스위치(S1)를 턴-온하고, 이에 의해 센싱 라인(SSL)이 소정레벨의 프리차징 전압(Vpre)으로 프리 차징(pre-charging)된다. 여기서 프리차징 전압(Vpre)은 소정의 기준전압 레벨일 수 있다.In addition, the precharging signal SPRE is applied at a high level to turn on the precharging switch S1, whereby the sensing line SSL is pre-charged to a pre-charging voltage Vpre of a predetermined level. )do. Here, the precharging voltage Vpre may be a predetermined reference voltage level.

다음으로, 프리차징 신호(SPRE)를 로우 레벨로 인가하여 프리차징 스위치(S1)를 턴-오프하고, 하이 레벨의 센싱 신호(SENSE)를 인가하여 센싱 TFT(SS-TFT)를 턴-온하게 된다.Next, the precharging switch S1 is turned off by applying the low level precharging signal SPRE, and the sensing TFT SS-TFT is turned on by applying the high level sensing signal SENSE. do.

이에 따라, 캐패시터(C1)에 저장된 데이터 전압(Vdata)과 프리차징 전압(Vpre)의 전압차에 따라 구동 TFT(DR-TFT)가 포화영역에서 구동하게 되어 싱크 전류가 흐르게 되고, 센싱 라인(SSL)의 프리차징 전압(Vpre)이 포화영역에 해당하는 전압(Vpre')으로 상승한다.Accordingly, the driving TFT (DR-TFT) is driven in the saturation region according to the voltage difference between the data voltage Vdata stored in the capacitor C1 and the precharging voltage Vpre, so that the sink current flows, and the sensing line SSL ) rises to the voltage Vpre' corresponding to the saturation region.

이후, 상승된 전압(Vpre')이 구동 TFT(DR-TFT)의 문턱전압(Vth)까지 도달하게 되면 센싱 라인(SSL)은 포화상태가 된다. 포화상태가 되는 시점에서, 센싱 신호(SENSE)를 로우 레벨로 인가하고 샘플링 신호(SAM)를 하이 레벨로 인가하여 샘플링 스위치(S2)가 턴-온되어 충전된 전압(Vpre')이 아날로그-디지털 컨버터(ADC)에 의해 샘플링(Vsen)됨으로서 문턱전압을 센싱하게 된다.Thereafter, when the increased voltage Vpre' reaches the threshold voltage Vth of the driving TFT (DR-TFT), the sensing line SSL becomes saturated. At the time of saturation, the sensing signal (SENSE) is applied with a low level and the sampling signal (SAM) is applied with a high level, so that the sampling switch (S2) is turned on and the charged voltage (Vpre') is analog-digital By being sampled (Vsen) by the converter (ADC), the threshold voltage is sensed.

전술한 방법에 의해 센싱된 문턱전압은 별도의 메모리에 저장되고, 기 설정된 보상수단에 의해 데이터 전압(Vdata)에 센싱 결과가 반영되어 보정됨으로서 보상구동을 완료하게 된다. The threshold voltage sensed by the above method is stored in a separate memory, and the sensing result is reflected in the data voltage Vdata by a preset compensating means to be corrected, thereby completing the compensating drive.

하지만, 종래의 보상기술에 따르면 문턱 전압을 센싱하는 과정에서 구동 TFT(DR-TFT)의 소스 단자의 전압을 초기화시킨 후, 구동 TFT(DR-TFT)의 게이트 단자에 데이터 전압을 인가하면 구동 TFT는 소스 단자의 전압이 (데이터 전압-문턱 전압)이 될 때까지 턴-온된다. 그러나 문턱 전압 센싱 중에 화면을 온 상태로 유지시킬 경우 사용자가 의도하지 않은 화면이 디스플레이 될 수 있다.However, according to the conventional compensation technology, after initializing the voltage of the source terminal of the driving TFT (DR-TFT) in the process of sensing the threshold voltage, and then applying a data voltage to the gate terminal of the driving TFT (DR-TFT), the driving TFT is turned on until the voltage of the source terminal becomes (data voltage - threshold voltage). However, if the screen is maintained in an on state during threshold voltage sensing, a screen unintended by the user may be displayed.

이에 따라, 종래의 보상기술을 이용하여 보상구동을 수행하는 경우, 디스플레이 패널을 오프시킨 상태에서만 가능하므로 항시 디스플레이 패널을 온 상태로 유지하는 커머셜 디스플레이 장치에는 종래의 보상기술을 적용하지 못하는 문제점이 있다.Accordingly, in the case of performing compensation driving using the conventional compensation technology, it is possible only when the display panel is turned off, so there is a problem in that the conventional compensation technology cannot be applied to a commercial display device that keeps the display panel in an on state at all times. .

또한, 종래의 보상기술은 상술한 바와 같이, 전압 충전에 시간이 소요되는 캐패시터(C1)의 전압을 기초하여 보상을 수행하므로 보상을 수행하기 위한 측정 과정에 비교적 긴 시간이 소요되는 문제점이 있다.In addition, as described above, the conventional compensation technology has a problem in that a relatively long time is required for a measurement process for performing compensation because compensation is performed based on the voltage of the capacitor C1, which takes time to charge.

본 발명은 디스플레이 패널의 온도에 기초하여 구동 TFT의 전기적 특성 변화를 보상하기 위한 보상 방법을 결정하는 디스플레이 장치의 화질 보상 모듈 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. An object of the present invention is to provide a picture quality compensation module and method of a display device that determines a compensation method for compensating for a change in electrical characteristics of a driving TFT based on a temperature of a display panel.

또한, 본 발명은 센싱 전압에 이용하여 보상 방법에 따른 룩업 테이블로부터 최종 보상 파라미터를 생성하기 위한 디스플레이 장치의 화질 보상 모듈 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide a picture quality compensation module and method of a display device for generating a final compensation parameter from a lookup table according to a compensation method using a sensing voltage.

또한, 본 발명은 최종 보상 파라미터를 이용하여 보상 방법에 따른 최종 데이터 전압을 산출하기 위한 디스플레이 장치의 화질 보상 모듈 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide a picture quality compensation module and method of a display device for calculating a final data voltage according to a compensation method using a final compensation parameter.

또한, 본 발명은 디스플레이 패널의 온도에 기초하여 결정된 보상 방법에 따라 보정된 최종 데이터 전압을 구동 TFT에 인가하기 위한 디스플레이 장치의 화질 보상 모듈 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide a picture quality compensation module and method of a display device for applying a corrected final data voltage to a driving TFT according to a compensation method determined based on a temperature of a display panel.

전술한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 디스플레이 패널의 온도에 기초하여 구동 TFT의 전기적 특성 변화를 보상하기 위한 보상 방법을 결정하고, 결정된 보상 방법에 따른 최종 보상 파라미터를 생성하여 구동 TFT 에 인가되는 최종 데이터 전압을 산출하는 화질 보상 모듈 및 방법, 그리고 이러한 화질 보상 모듈을 포함하는 디스플레이 장치를 제공한다. In order to achieve the above object, the present invention determines a compensation method for compensating for a change in electrical characteristics of a driving TFT based on the temperature of a display panel, generates a final compensation parameter according to the determined compensation method, and A picture quality compensation module and method for calculating a final data voltage to be applied, and a display device including the picture quality compensation module are provided.

보다 구체적으로, 본 발명에서는 디스플레이 패널의 온도의 변화값이 기 설정된 기준 변화값을 초과하는지 여부를 판단하고, 판단 결과에 따라 보상 방법을 결정한다.More specifically, in the present invention, it is determined whether the temperature change value of the display panel exceeds a preset reference change value, and a compensation method is determined according to the determination result.

변화값이 기준 변화값을 초과하면 보정 방법을 전자 이동도 보정으로 결정하고, 반대로, 변화값이 기준 변화값 이하이면 보정 방법을 문턱전압 보정으로 결정한다.When the change value exceeds the reference change value, the correction method is determined as electron mobility correction, and conversely, when the change value is less than or equal to the reference change value, the correction method is determined as threshold voltage correction.

센싱 전압의 변화값에 따른 전자 이동도 변화값 및 문턱전압 보정값이 저장된 룩업 테이블 중 결정된 보정 방법에 해당하는 룩업 테이블로부터 변화값에 따른 보정값을 생성한다.A correction value according to the change value is generated from a look-up table corresponding to the determined correction method among look-up tables in which the electron mobility change value according to the change value of the sensing voltage and the threshold voltage correction value are stored.

현재 보정 파라미터에 생성된 보정값을 보정 방법에 맞춰 최종 파라미터로 생성하고 생성된 최종 파라미터를 현재 데이터 전압에 적용하여 최종 데이터 전압으로 보정한다.The correction value generated in the current correction parameter is generated as a final parameter according to the correction method, and the generated final parameter is applied to the current data voltage to correct the final data voltage.

이에 따라, 본 발명은 디스플레이 장치의 작동 상태를 오프시키지 않고도 디스플레이의 온도에 따라 보상 방법을 결정하여 데이터 전압을 보상함으로써, 디스플레이의 화질이 균일하도록 보상할 수 있다. Accordingly, the present invention can compensate for the image quality of the display to be uniform by determining a compensation method according to the temperature of the display and compensating for the data voltage without turning off the operating state of the display device.

전술한 바와 같은 본 발명에 의하면 디스플레이 패널의 온도에 기초하여 구동 TFT의 전기적 특성 변화를 보상하기 위한 보상 방법을 결정함으로써, 디스플레이의 화질 보상을 효과적으로 수행할 수 있는 장점이 있다. 예컨대, 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 화질 보상 모듈 및 방법은 디스플레이의 온도 변화가 큰 경우 온도에 따른 변화도가 큰 전자 이동도 보상을 수행하고, 온도 변화가 작은 경우 온도에 따른 변화도가 작은 문턱전압 보상을 수행하여 디스플레이의 구동 환경에 따라 효과적인 보상이 수행될 수 있다.According to the present invention as described above, by determining a compensation method for compensating for a change in electrical characteristics of the driving TFT based on the temperature of the display panel, there is an advantage in that the image quality of the display can be compensated effectively. For example, the image quality compensation module and method of the display device according to the present invention perform electron mobility compensation with a large temperature change when the temperature change of the display is large, and a threshold with a small temperature change when the temperature change is small. By performing voltage compensation, effective compensation can be performed according to the driving environment of the display.

또한, 본 발명에 의하면 센싱 전압에 이용하여 보상 방법에 따른 룩업 테이블로부터 최종 보상 파라미터를 생성함으로써, 디스플레이의 화질 보상을 신속하게 수행할 수 있는 장점이 있다. 예컨데, 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 화질 보상 모듈 및 방법은 복잡하고 연산 시간이 길게 소요되는 연산식을 사용하지 않고 룩업 테이블로부터 최종 보상 파라미터를 빠르게 업데이트함으로써 보상 수행 시간을 단축시킬 수 있다.In addition, according to the present invention, by generating a final compensation parameter from a look-up table according to a compensation method using a sensing voltage, there is an advantage in that image quality compensation of a display can be quickly performed. For example, the picture quality compensation module and method of the display device according to the present invention can shorten the compensation execution time by quickly updating the final compensation parameter from the lookup table without using a complex and time-consuming arithmetic formula.

또한, 본 발명에 의하면 최종 보상 파라미터를 생성하는데 있어서 구동 TFT의 센싱전압을 측정 시, 디스플레이 패널의 작동 상태를 오프 상태로 전환하지 않고도 센싱전압을 측정함으로써 디스플레이 패널이 켜져있는 상태에서도 디스플레이의 화질 보상을 수행할 수 있는 장점이 있다. 예컨데, 항시 디스플레이 패널의 작동 상태를 온 상태로 유지해야 하는 커머셜 디스플레이 또한 실시간으로 디스플레이 장치의 화질 보상이 가능하다.In addition, according to the present invention, when measuring the sensing voltage of the driving TFT in generating the final compensation parameter, the sensing voltage is measured without switching the operating state of the display panel to an off state, thereby compensating the display quality even when the display panel is turned on. has the advantage of being able to do For example, a commercial display that needs to keep the operating state of the display panel always on can also compensate for the image quality of the display device in real time.

도 1은 종래의 유기발광 표시장치의 화소 및 센싱회로에 대한 등가 회로도.
도 2는 종래의 센싱회로를 제어하는 제어신호의 타이밍도.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 화질 보상 모듈의 구성을 도시한 도면.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 화질 보상 모듈과 데이터 구동부, 게이트 구동부 및 화소 간에 연결 구성을 도시한 도면.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 화질 보상 모듈로부터 출력되는 제어신호의 타이밍도.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 장치를 도시한 도면.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 장치의 화소 배열을 도시한 도면.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 장치의 연결 구성을 도시한 도면.
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 화질 보상 방법을 도시한 순서도.
1 is an equivalent circuit diagram of a pixel and a sensing circuit of a conventional organic light emitting display device;
2 is a timing diagram of a control signal for controlling a conventional sensing circuit.
3 is a diagram showing the configuration of a picture quality compensation module according to an embodiment of the present invention.
4 is a diagram illustrating a connection configuration between a picture quality compensation module, a data driver, a gate driver, and pixels according to an embodiment of the present invention;
5 is a timing diagram of a control signal output from a picture quality compensation module according to an embodiment of the present invention.
6 is a diagram illustrating a display device according to another embodiment of the present invention.
7 is a diagram illustrating a pixel arrangement of a display device according to another embodiment of the present invention.
8 is a diagram showing a connection configuration of a display device according to another embodiment of the present invention.
9 is a flowchart illustrating a picture quality compensation method according to another embodiment of the present invention.

전술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 후술되며, 이에 따라 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 것이다. 본 발명을 설명함에 있어서 본 발명과 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 상세한 설명을 생략한다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 도면에서 동일한 참조부호는 동일 또는 유사한 구성요소를 가리키는 것으로 사용된다.The above objects, features and advantages will be described later in detail with reference to the accompanying drawings, and accordingly, those skilled in the art to which the present invention belongs will be able to easily implement the technical spirit of the present invention. In describing the present invention, if it is determined that the detailed description of the known technology related to the present invention may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description will be omitted. Hereinafter, preferred embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the drawings, the same reference numerals are used to indicate the same or similar components.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 화질 보상 모듈(100)을 도시한 도면이다. 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 화질 보상 모듈(100)은 결정부(110), 생성부(120) 및 산출부(130)를 포함하여 구성될 수 있다. 도 3에 도시된 화질 보상 모듈(100)은 일 실시예에 따른 것이고, 그 구성요소들이 도 3에 도시된 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 필요에 따라 일부 구성요소가 부가, 변경 또는 삭제될 수 있다.3 is a diagram illustrating a picture quality compensation module 100 according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 3 , the picture quality compensation module 100 according to an embodiment of the present invention may include a determination unit 110 , a generation unit 120 and a calculation unit 130 . The picture quality compensation module 100 shown in FIG. 3 is according to an embodiment, and its components are not limited to the embodiment shown in FIG. 3, and some components may be added, changed, or deleted as necessary. there is.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 화질 보상 모듈(100)과 데이터 구동부(10), 게이트 구동부(20), 온도 측정부(30) 및 화소(PX) 간에 연결 구성을 도시한 도면이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 화질 보상 모듈로부터 출력되는 제어신호의 타이밍도이다.4 is a diagram showing a connection structure between the picture quality compensation module 100, the data driver 10, the gate driver 20, the temperature measurement unit 30, and the pixel PX according to an embodiment of the present invention; 5 is a timing diagram of a control signal output from a picture quality compensation module according to an embodiment of the present invention.

이하, 도 3 내지 도 5을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 화질 보상 모듈(100)을 설명하도록 한다.Hereinafter, the picture quality compensation module 100 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 3 to 5 .

결정부(110)는 온도 측정부(30)로부터 디스플레이 패널의 온도를 입력받고, 입력받은 디스플레이 패널의 온도에 기초하여 구동 TFT(DR-TFT)의 전기적 특성 변화를 보상하기 위한 보상 방법을 결정한다.The determination unit 110 receives the temperature of the display panel from the temperature measurement unit 30 and determines a compensation method for compensating for a change in electrical characteristics of the driving TFT (DR-TFT) based on the input temperature of the display panel. .

여기서, 온도 측정부(30)로부터 측정되는 디스플레이 패널의 온도는 보상 방법을 결정하기 위한 물리값으로써, 구동 TFT(DR-TFT)를 포함하는 화소(PX)에 근접하여 측정된 온도일 수 있다.Here, the temperature of the display panel measured by the temperature measuring unit 30 is a physical value for determining a compensation method, and may be a temperature measured close to the pixel PX including the driving TFT (DR-TFT).

한편, 구동 TFT(DR-TFT)의 전기적 특성 변화란 공정 조건과 구동 환경 등에 의해 화소(PX)들마다 구동 TFT(DR-TFT)의 전기적 특성에 편차가 발생하여 동일한 데이터 전압(Vdata)에 따른 구동전류(Ids)가 화소(PX)들마다 달라지고 그 결과, 화소(PX)들 간 휘도 편차가 발생함을 의미한다.On the other hand, the change in the electrical characteristics of the driving TFT (DR-TFT) refers to the variation in electrical characteristics of the driving TFT (DR-TFT) for each pixel PX due to process conditions and driving environments. This means that the driving current Ids is different for each pixel PX, and as a result, a luminance deviation occurs between the pixels PX.

따라서, 구동 TFT(DR-TFT)의 전기적 특성 변화를 보상하기 위하여 구동 TFT(DR-TFT)의 전기적 특성인 전자 이동도 또는 문턱전압을 보상하여 구동전류(Ids)의 편차를 감소시킨다.Therefore, in order to compensate for a change in the electrical characteristics of the driving TFT (DR-TFT), the deviation of the driving current (Ids) is reduced by compensating for the electronic mobility or threshold voltage, which is an electrical characteristic of the driving TFT (DR-TFT).

온도에 따른 전자 이동도 보상 및 문턱전압 보상의 영향에 대해 설명하면, 온도에 따른 구동 TFT(DR-TFT)의 문턱전압 변화량은 전자 이동도 변화량 대비 적은 편이다. 즉, 온도 변화가 클수록 전자 이동도 변화량 또한 커지되는 반면, 문턱전압 변화량은 온도 변화에 영향을 크게 받지 않는다.Referring to the effect of temperature-dependent electron mobility compensation and threshold voltage compensation, the threshold voltage variation of the driving TFT (DR-TFT) according to temperature is smaller than the electron mobility variation. That is, as the temperature change increases, the change in electron mobility also increases, whereas the change in threshold voltage is not significantly affected by the change in temperature.

이에 따라, 디스플레이 패널의 온도가 큰 폭으로 변화하는 경우에는 전자 이동도 보상을 이용하고, 디스플레이 패널의 온도에 큰 변화가 없는 경우에는 문턱전압 보상을 이용하여 화소(PX)들 간 휘도 편차를 보상하게 된다.Accordingly, when the temperature of the display panel varies greatly, electron mobility compensation is used, and when there is no significant change in the temperature of the display panel, threshold voltage compensation is used to compensate for the luminance deviation between the pixels PX. will do

결정부(110)는 디스플레이 패널의 온도의 변화값을 산출하고, 온도의 변화값과 기 설정된 기준 변화값을 비교한다. 이때, 결정부(110)는 디스플레이 패널의 온도의 변화값을 산출하기 위하여, 기준 시간 마다 디스플레이 패널의 온도를 온도 측정부(30)로부터 입력받아 온도의 변화값을 산출할 수 있다.The determination unit 110 calculates a temperature change value of the display panel and compares the temperature change value with a preset reference change value. In this case, the determination unit 110 may receive the temperature of the display panel from the temperature measurement unit 30 at each reference time and calculate the change value of the temperature in order to calculate the change value of the temperature of the display panel.

이후, 결정부(110)는 온도의 변화값과 기 설정된 기준 변화값의 비교 결과에 근거하여 구동 TFT(DR-TFT)의 전기적 특성 변화를 보상하기 보상 방법을 전자 이동도 보상 및 문턱전압 보상 중 어느 하나로 결정한다.Thereafter, the determination unit 110 selects a compensation method for compensating for the change in electrical characteristics of the driving TFT (DR-TFT) based on the comparison result between the temperature change value and the preset reference change value, among electron mobility compensation and threshold voltage compensation. decide which one

보다 구체적으로, 결정부(110)는 온도의 변화값이 기준 변화값 이상이면 보상 방법을 전자 이동도 보상으로 결정한다. 반대로, 결정부(110)는 온도의 변화값이 기준 변화값 미만이면 보상 방법을 문턱전압 보상으로 결정한다.More specifically, the determination unit 110 determines the compensation method as electron mobility compensation when the temperature change value is greater than or equal to the reference change value. Conversely, if the temperature change value is less than the reference change value, the determination unit 110 determines the compensation method as threshold voltage compensation.

예를 들어, 기준 변화값은 0.5도로 기 설정될 수 있다.For example, the reference change value may be preset to 0.5 degrees.

이를 통해, 화질 보상 모듈(100)은 온도에 따른 전기적 특성 변화를 이용하여 보상 방법을 결정할 수 있다.Through this, the image quality compensation module 100 may determine a compensation method using a change in electrical characteristics according to temperature.

생성부(120)는 구동 TFT(DR-TFT)의 센싱 전압(Vsen)을 이용하여 결정부(110)로부터 결정된 보상 방법에 따른 최종 보상 파라미터를 생성한다.The generation unit 120 generates a final compensation parameter according to the compensation method determined by the determination unit 110 using the sensing voltage Vsen of the driving TFT (DR-TFT).

여기서, 센싱 전압(Vsen)은 구동 TFT(DR-TFT)의 소스 단자에 인가된 전압을 측정한 전압값으로 화소(PX)에 연결된 센싱회로(SC)를 이용하여 측정될 수 있다.Here, the sensing voltage Vsen is a voltage value obtained by measuring the voltage applied to the source terminal of the driving TFT (DR-TFT) and can be measured using the sensing circuit SC connected to the pixel PX.

이를 위해, 생성부(120)는 데이터 구동부(10) 및 게이트 구동부(20) 각각으로 데이터 제어 신호(DDC) 및 게이트 제어 신호(GDC)를 출력하여 센싱 전압(Vsen)을 측정할 수 있다. To this end, the generator 120 may measure the sensing voltage Vsen by outputting the data control signal DDC and the gate control signal GDC to the data driver 10 and the gate driver 20, respectively.

구체적으로, 생성부(120)는 프리차징 신호(SPRE) 및 샘플링 신호(SAM)를 포함하는 데이터 제어 신호(DDC)를 데이터 구동부(10)에 출력하여 데이터 구동부(10)에 포함된 제어회로(SC)의 프리차징 스위치(S1) 및 샘플링 스위치(S2)를 제어할 수 있다.Specifically, the generating unit 120 outputs the data control signal DDC including the precharging signal SPRE and the sampling signal SAM to the data driving unit 10 so that the control circuit included in the data driving unit 10 ( It is possible to control the precharging switch (S1) and sampling switch (S2) of the SC).

또한, 생성부(120)는 게이트 제어 신호(GDC)를 게이트 구동부(20)에 출력한다. 이후, 게이트 구동부(20)는 게이트 제어 신호(GDC)에 대응하여 구동 TFT(DR-TFT)의 게이트 단자 및 소스 단자에 각각 연결된 스캔 TFT(SC-TFT) 및 센싱 TFT(SS-TFT)로 스캔 신호(SCAN) 및 센싱 신호(SENSE)를 출력하여 턴-온 및 턴-오프를 제어할 수 있다.Also, the generator 120 outputs the gate control signal GDC to the gate driver 20 . Thereafter, the gate driver 20 scans with the scan TFT (SC-TFT) and the sensing TFT (SS-TFT) respectively connected to the gate terminal and the source terminal of the driving TFT (DR-TFT) in response to the gate control signal (GDC). Turn-on and turn-off may be controlled by outputting the signal SCAN and the sensing signal SENSE.

도 5를 참조하면, 생성부(120)는 데이터 제어 신호(DDC) 및 게이트 제어 신호(GDC)를 데이터 구동부(10) 및 게이트 구동부(20)로 출력함으로써, 센싱 신호(SENSE) 및 프리차징 신호(SPRE)를 하이 레벨로 출력하여 센싱 라인(SSL)을 프리차징 전압(Vpre)으로 방전한다.Referring to FIG. 5 , the generator 120 outputs the data control signal DDC and the gate control signal GDC to the data driver 10 and the gate driver 20, thereby generating the sensing signal SENSE and the precharging signal. (SPRE) is output at a high level to discharge the sensing line SSL to the precharging voltage Vpre.

이후, 스캔 신호(SCAN)를 하이 레벨로 출력하여 데이터 전압(Vdata)을 구동 TFT(DR-TFT)의 게이트 단자에 인가하게 된다. 이에 따라, 캐패시터(C1)에는 데이터 전압(Vdata)과 프리차징 전압(Vpre)의 차전압이 저장된다.Thereafter, the scan signal SCAN is output at a high level to apply the data voltage Vdata to the gate terminal of the driving TFT (DR-TFT). Accordingly, a difference voltage between the data voltage Vdata and the precharging voltage Vpre is stored in the capacitor C1.

이후, 스캔 신호(SCAN)를 로우 레벨로 출력하여 데이터 전압(Vdata)의 공급을 중지시키면, 캐패시터(C1)에 저장된 차전압에 의해 구동 TFT(DR-TFT)는 턴-온되어 그에 비례하는 전류를 유기발광 다이오드(OLED)에 인가된다. Thereafter, when the supply of the data voltage Vdata is stopped by outputting the scan signal SCAN at a low level, the driving TFT (DR-TFT) is turned on by the difference voltage stored in the capacitor C1, and a current proportional thereto is generated. is applied to the organic light emitting diode (OLED).

소정기간 이후 프리차징 신호(SPRE)를 로우 레벨로 인가하면, 센싱 라인(SSL)의 프리차징 전압(Vpre)이 구동 TFT(DR-TFT) 및 센싱 TFT(SS-TFT)를 통해 충전됨에 따라, 센싱 라인(SSL)의 전압이 상승하게 된다.When the precharging signal SPRE is applied at a low level after a predetermined period of time, as the precharging voltage Vpre of the sensing line SSL is charged through the driving TFT (DR-TFT) and the sensing TFT (SS-TFT), The voltage of the sensing line SSL rises.

센싱 TFT(SS-TFT)를 턴-오프하고, 샘플링 스위치(S2)를 턴-온하여 센싱 라인(SSL)의 변동된 전압을 아날로그-디지털 컨버터(ADC)를 통해 샘플링하여 생성부(120)로 센싱 전압(Vsen)를 출력하게 된다.The sensing TFT (SS-TFT) is turned off, and the sampling switch (S2) is turned on to sample the varied voltage of the sensing line (SSL) through an analog-to-digital converter (ADC) to generate unit 120. The sensing voltage Vsen is output.

생성부(120)는 결정부(110)로부터 결정된 보상 방법에 따라 센싱 전압(Vsen)의 변화값을 이용하여 보상값을 생성한다. 여기서, 센싱 전압(Vsen)의 변화값은 기 설정된 시간 동안 프리차징 전압(Vpre)과 센싱 전압(Vsen)의 전압차일 수 있다.The generation unit 120 generates a compensation value using the change value of the sensing voltage Vsen according to the compensation method determined by the determination unit 110 . Here, the change value of the sensing voltage Vsen may be a voltage difference between the precharging voltage Vpre and the sensing voltage Vsen for a preset time period.

생성부(120)는 센싱 전압(Vsen)의 변화값에 따른 보상값에 대한 상관 관계가 저장된 룩업 테이블을 이용하여 보상값을 생성할 수 있다.The generation unit 120 may generate a compensation value by using a look-up table in which a correlation with respect to the compensation value according to the change value of the sensing voltage Vsen is stored.

보다 구체적으로, 룩업 테이블에는 센싱 전압(Vsen)의 변화값에 따른 전자 이동도 및 문턱전압의 보상값이 미리 저장되어 있고, 생성부(120)는 결정된 보상 방법에 해당하는 룩업 테이블로부터 센싱 전압(Vsen)의 변화값에 대응하는 보상값을 생성할 수 있다.More specifically, compensation values of electron mobility and threshold voltage according to the change value of the sensing voltage Vsen are previously stored in the lookup table, and the generation unit 120 generates the sensing voltage from the lookup table corresponding to the determined compensation method ( A compensation value corresponding to the change value of Vsen) may be generated.

예를 들어, 디스플레이 패널의 온도의 변화값이 기 설정된 기준 변화값 이상으로 측정되고 센싱 전압(Vsen)의 변화값이 "2V"인 경우, 결정부(110)로부터 보상 방법이 전자 이동도 보상으로 결정된다.For example, when the change value of the temperature of the display panel is measured to be greater than or equal to the preset reference change value and the change value of the sensing voltage Vsen is “2V”, the compensation method from the determination unit 110 is electron mobility compensation. It is decided.

이에 따라, 생성부(120)는 센싱 전압(Vsen)의 변화값에 따른 전자 이동도의 보상값이 저장된 룩업 테이블로부터 "2V"를 검색하고, 이에 대응하는 전자 이동도의 보상값을 생성할 수 있다.Accordingly, the generation unit 120 searches for “2V” from the lookup table in which the compensation value of the electron mobility according to the change value of the sensing voltage Vsen is stored, and generates an electron mobility compensation value corresponding thereto. there is.

즉, 생성부(120)은 보상 방법에 해당하는 룩업 테이블로부터 센싱 전압(Vsen)의 변화값에 대응하는 보상값을 생성할 수 있다.That is, the generation unit 120 may generate a compensation value corresponding to a change value of the sensing voltage Vsen from a lookup table corresponding to a compensation method.

여기서, 센싱 전압(Vsen)의 변화값은 도 5에 도시된 바와 같이, 구동 TFT(DR-TFT)의 전자 이동도 성분이 반영된 전류량(i)와 시간변화량(ㅿt)의 곱에 센싱 라인(SSL)의 캐패시턴스를 나눈 값일 수 있다. 이에 따라, 센싱 전압(Vsen)의 변화값은 전류량(Ids)에 비례할 수 있다.Here, as shown in FIG. 5, the change value of the sensing voltage Vsen is the sensing line ( It may be a value obtained by dividing the capacitance of SSL). Accordingly, the change value of the sensing voltage Vsen may be proportional to the amount of current Ids.

생성부(120)는 생성된 보정값을 현재 보상 파라미터에 적용하여 최종 보상 파라미터를 생성한다. 여기서, 현재 보상 파라미터는 최종 보상 파라미터를 생성하는 시점의 보상 파라미터일 수 있다.The generating unit 120 generates final compensation parameters by applying the generated correction values to the current compensation parameters. Here, the current compensation parameter may be a compensation parameter at the time of generating the final compensation parameter.

생성부(120)는 새로운 보정값을 생성하는 경우 현재 보상 파라미터 중 생성된 보정값의 종류에 해당하는 현재 보상 파라미터에 보정값을 가산하여 최종 보상 파라미터로 생성할 수 있다. When generating a new correction value, the generation unit 120 may add the correction value to the current compensation parameter corresponding to the type of the generated correction value among the current compensation parameters to generate the final compensation parameter.

이때, 보정값은 음의 값 및 양의 값일 수 있으며, 이에 따라 최종 보상 파라미터의 수치는 현재 보상 파라미터 보다 작은 수치로 생성될 수 있다.In this case, the correction value may be a negative value or a positive value, and accordingly, the value of the final compensation parameter may be generated as a value smaller than that of the current compensation parameter.

예를 들어, 생성부(120)는 결정부(110)의 보상 방법 결정에 따라 전자 이동도의 룩업 테이블로부터 전자 이동도의 보상값을 생성하는 경우, 현재 보상 파라미터를 메모리로부터 읽어들인다.For example, when generating an electron mobility compensation value from an electron mobility lookup table according to the determination of the compensation method by the determination unit 110, the generation unit 120 reads the current compensation parameter from the memory.

이를 통해, 생성부(120)는 연산 시간이 오래 걸리고 연산 로드가 큰 구동 TFT(DR-TFT)의 연산식을 이용하지 않고도 Through this, the generation unit 120 does not use the operation formula of the drive TFT (DR-TFT), which takes a long operation time and has a large operation load.

이후, 생성부(120)는 현재 보상 파라미터 중 전자 이동도의 현재 보상 파라미터에 생성된 전자 이동도의 보상값을 가산하여 전자 이동도의 최종 보상 파라미터를 생성할 수 있다. 이때, 보상값이 생성되지 않은 문턱전압의 현재 보상 파라미터는 현재 수치 그대로 최종 보상 파라미터로 생성된다.Thereafter, the generation unit 120 may generate a final compensation parameter for the electron mobility by adding the generated compensation value for the electron mobility to the current compensation parameter for the electron mobility among the current compensation parameters. At this time, the current compensation parameter of the threshold voltage for which no compensation value is generated is generated as a final compensation parameter as the current value.

생성부(120)는 하기의 수학식 1을 이용하여 전자 이동도의 최종 보상 파라미터를 생성할 수 있다.The generation unit 120 may generate a final compensation parameter for electron mobility using Equation 1 below.

<수학식 1><Equation 1>

Figure 112015129532844-pat00001
Figure 112015129532844-pat00001

여기서, αN+1은 전자 이동도의 최종 보상 파라미터, αN은 전자 이동도의 현재 보상 파라미터, △α는 전자 이동도의 보상값일 수 있다.Here, αN+1 may be a final compensation parameter for electron mobility, αN may be a current compensation parameter for electron mobility, and Δα may be a compensation value for electron mobility.

또한, 생성부(120)는 하기의 수학식 2를 이용하여 문턱전압의 최종 보상 파라미터를 생성할 수 있다.Also, the generation unit 120 may generate a final compensation parameter for the threshold voltage using Equation 2 below.

<수학식 2><Equation 2>

Figure 112015129532844-pat00002
Figure 112015129532844-pat00002

여기서, ΦN+1은 문턱전압의 최종 보상 파라미터, ΦN은 문턱전압의 현재 보상 파라미터, △Φ는 문턱전압의 보상값일 수 있다.Here, ΦN+1 may be a final compensation parameter for the threshold voltage, ΦN may be a current compensation parameter for the threshold voltage, and ΔΦ may be a compensation value for the threshold voltage.

산출부(130)는 최종 보상 파라미터를 이용하여 구동 TFT(DR-TFT)로 인가되는 최종 데이터 전압을 산출한다.The calculator 130 calculates the final data voltage applied to the driving TFT (DR-TFT) using the final compensation parameter.

보다 구체적으로, 산출부(130)는 결정부(110)로부터 결정된 보상 방법에 따라 생성된 최종 보상 파라미터를 현재 데이터 전압에 가산하거나 곱하여 최종 데이터 전압을 산출한다.More specifically, the calculation unit 130 calculates the final data voltage by adding or multiplying the current data voltage by the final compensation parameter generated according to the compensation method determined by the determination unit 110 .

산출부(130)는 결정된 보상 방법이 전자 이동도 보상이면 현재 데이터 전압에 최종 보상 파라미터를 곱하여 최종 데이터 전압을 산출한다. 반대로, 산출부(130)는 결정된 보상 방법이 문턱전압 보상이면 현재 데이터 전압에 최종 보상 파라미터를 가산하여 최종 데이터 전압을 산출할 수 있다.If the determined compensation method is electron mobility compensation, the calculator 130 calculates the final data voltage by multiplying the current data voltage by the final compensation parameter. Conversely, if the determined compensation method is threshold voltage compensation, the calculator 130 may calculate the final data voltage by adding the final compensation parameter to the current data voltage.

또한, 산출부(130)는 산출된 최종 데이터 전압이 구동 TFT(DR-TFT)의 게이트 단자에 인가되도록 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 구동부(10)를 제어한다.Also, the calculation unit 130 controls the data driver 10 through the data line DL so that the calculated final data voltage is applied to the gate terminal of the driving TFT (DR-TFT).

도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 장치(1000)를 도시한 도면이다.6 is a diagram illustrating a display device 1000 according to another embodiment of the present invention.

본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 장치(1000)는 표시패널(1100), 온도 측정부(1200), 타이밍 제어부(1300), 데이터 구동부(1400) 및 게이트 구동부(1500)를 포함하고, 타이밍 제어부(1300)는 상술된 본 발명의 일 실시예에 따른 화질 보상 모듈(1310)을 포함한다.A display device 1000 according to another embodiment of the present invention includes a display panel 1100, a temperature measuring unit 1200, a timing controller 1300, a data driver 1400, and a gate driver 1500, and a timing controller 1300 includes the picture quality compensation module 1310 according to an embodiment of the present invention described above.

도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 장치(1000)의 화소 배열을 도시한 도면이고, 도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 장치(1000)의 연결 구성을 도시한 도면이다. 7 is a diagram showing a pixel arrangement of a display device 1000 according to another embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a diagram showing a connection configuration of the display device 1000 according to another embodiment of the present invention.

이하, 도 6 내지 도 8을 참조하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 장치(1000)를 설명하도록 한다.Hereinafter, a display device 1000 according to another embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 6 to 8 .

디스플레이 패널(1100)에는 복수의 데이터 라인(DL_1 내지 DL_m; m은 양의 정수) 및 복수의 센싱 라인(SSL_1 내지 SSL_m)과 복수의 스캔 게이트 라인(SGL1_1 내지 SGL1_n; n은 양의 정수) 및 복수의 센싱 게이트 라인(SGL2_1 내지 SGL2_n)이 교차된다. The display panel 1100 includes a plurality of data lines (DL_1 to DL_m; m is a positive integer), a plurality of sensing lines (SSL_1 to SSL_m), a plurality of scan gate lines (SGL1_1 to SGL1_n; n is a positive integer), and a plurality of The sensing gate lines SGL2_1 to SGL2_n of are crossed.

교차영역 마다에는 화소(PX)가 매트릭스 형태로 배치되고, 화소(P) 각각은 전원발생부(미도시)로부터 고전위 구동전압(EVDD)과 저전위 구동전압(EVSS)을 공급받는다.Pixels PX are arranged in a matrix form in each intersection area, and each pixel P receives a high potential driving voltage EVDD and a low potential driving voltage EVSS from a power generator (not shown).

각 화소(PX)는 복수의 데이터 라인(DL_1 내지 DL_m), 복수의 센싱 라인(SSL_1 내지 SSL_m), 복수의 스캔 게이트 라인(SGL1_1 내지 SGL1_n) 및 복수의 센싱 게이트 라인(SGL2_1 내지 SGL2_n)과 하나씩 연결된다.Each pixel PX is connected to a plurality of data lines DL_1 to DL_m, a plurality of sensing lines SSL_1 to SSL_m, a plurality of scan gate lines SGL1_1 to SGL1_n, and a plurality of sensing gate lines SGL2_1 to SGL2_n. do.

화소(PX)는 유기발광 다이오드(OLED), 구동 TFT(DR-TFT), 스캔 TFT(SC-TFT), 센싱 TFT(SS-TFT) 및 커패시터(C1)를 포함할 수 있다.The pixel PX may include an organic light emitting diode (OLED), a driving TFT (DR-TFT), a scanning TFT (SC-TFT), a sensing TFT (SS-TFT), and a capacitor C1.

유기발광 다이오드(OLED)는 애노드 전극, 저전위 구동전압(EVSS)의 입력단에 접속된 캐소드 전극 및 애노드 전극과 캐소드 전극 사이에 위치하는 유기화합물층을 포함한다.An organic light emitting diode (OLED) includes an anode electrode, a cathode electrode connected to an input terminal of a low potential driving voltage (EVSS), and an organic compound layer positioned between the anode electrode and the cathode electrode.

화소(PX)를 구성하는 TFT들은 p 타입으로 구현되거나 또는, n 타입으로 구현될 수 있다. 또한, 화소(PX)를 구성하는 TFT들의 반도체층은 아몰포스 실리콘, 폴리 실리콘 및 산화물을 포함할 수 있다.The TFTs constituting the pixel PX may be implemented as p-type or n-type. In addition, semiconductor layers of TFTs constituting the pixel PX may include amorphous silicon, polysilicon, and oxide.

구동 TFT(DR-TFT)는 게이트-소스 단자 간 전압(Vgs)에 따라 유기발광 다이오드(OLED)에 흐르는 전류(Ids)를 제어한다. 구동 TFT(DT-TFT)는 제1 노드(N1)에 접속된 게이트 단자, 고전위 구동전압(EVDD)의 입력단에 접속된 드레인 단자 및 제2 노드(N2)에 접속된 소스 단자를 포함한다.The driving TFT (DR-TFT) controls the current (Ids) flowing through the organic light emitting diode (OLED) according to the voltage (Vgs) between the gate and source terminals. The driving TFT (DT-TFT) includes a gate terminal connected to the first node N1, a drain terminal connected to an input terminal of the high potential driving voltage EVDD, and a source terminal connected to the second node N2.

커패시터(C1)는 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 접속되어 구동 TFT(DT-TFT)의 게이트-소스 단자 간 전압(Vgs)을 저장한다.The capacitor C1 is connected between the first node N1 and the second node N2 and stores the voltage Vgs between the gate and source terminals of the driving TFTs (DT-TFT).

온도 측정부(1200)는 디스플레이 패널(1100) 또는 디스플레이 패널(1100)을 지지하는 지지 부재에 설치되어 디스플레이 패널(1100)의 온도 또는 주변 온도를 측정한다.The temperature measuring unit 1200 is installed on the display panel 1100 or a support member supporting the display panel 1100 to measure the temperature of the display panel 1100 or ambient temperature.

온도 측정부(1200)는 디스플레이 패널(1100)을 일정 간격으로 구획하고, 구획된 디스플레이 패널(1100)의 후면에 일정한 간격으로 설치된 복수의 온도 센서로 이루어질 수 있다.The temperature measurement unit 1200 may include a plurality of temperature sensors that partition the display panel 1100 at regular intervals and are installed at regular intervals on the rear surface of the partitioned display panel 1100 .

여기서, 온도 측정부(1200)는 디스플레이 패널(1100)의 전면 비표시 영역에 일정한 간격으로 배치된 칩(Chip) 형태의 복수의 온도 센서 또는 박막 형태의 저항체로 이루어진 복수의 저항 온도 센서로 이루어질 수 있다.Here, the temperature measurement unit 1200 may include a plurality of temperature sensors in the form of chips or a plurality of resistance temperature sensors made of resistors in the form of thin films arranged at regular intervals in the front non-display area of the display panel 1100. there is.

이때, 복수의 저항 온도 센서는 온도에 따라 저항 특성이 변화하도록 박막 형태로 형성되어 디스플레이 패널(1100)의 온도에 따른 저항 변화를 통해 디스플레이 패널(1100)의 온도를 측정한다.At this time, the plurality of resistance temperature sensors are formed in the form of thin films so that resistance characteristics change according to temperature, and measure the temperature of the display panel 1100 through resistance change according to the temperature of the display panel 1100 .

다른 예로, 온도 측정부(1200)는 디스플레이 패널(1100)의 후면 가장자리 부분으로부터 상대적으로 온도 방열이 취약한 중앙부로 갈수록 개수가 증가하거나 간격이 감소하도록 배치된 복수의 온도 센서로 이루어질 수 있다.As another example, the temperature measurement unit 1200 may include a plurality of temperature sensors disposed so that the number increases or the interval decreases from the rear edge of the display panel 1100 toward the central portion where heat dissipation is relatively weak.

타이밍 제어부(1300)는 수직 동기신호(Vsync), 수평 동기신호(Hsync), 도트클럭신호(DCLK) 및 데이터 인에이블신호(DE) 등의 타이밍 신호들에 기초하여 데이터 구동부(1400)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 제어 신호(DDC)와 게이트 구동부(1500)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 제어 신호(GDC)를 발생한다.The timing controller 1300 determines the operation timing of the data driver 1400 based on timing signals such as the vertical synchronization signal Vsync, the horizontal synchronization signal Hsync, the dot clock signal DCLK, and the data enable signal DE. A data control signal DDC for controlling and a gate control signal GDC for controlling the operation timing of the gate driver 1500 are generated.

한편, 타이밍 제어부(1300)에 포함된 화질 보상 모듈(1310)은 디스플레이 패널(1100)의 온도에 기초하여 구동 TFT(DR-TFT)의 전기적 특성 변화를 보상하기 위한 보상 방법을 결정하고, 결정된 보상 방법에 따른 최종 보상 파라미터를 생성하여 구동 TFT 에 인가되는 최종 데이터 전압을 산출한다.Meanwhile, the picture quality compensation module 1310 included in the timing controller 1300 determines a compensation method for compensating for a change in electrical characteristics of the driving TFT (DR-TFT) based on the temperature of the display panel 1100, and determines the compensation. A final compensation parameter according to the method is generated to calculate the final data voltage applied to the driving TFT.

이를 위하여, 화질 보상 모듈(1310)은 결정부(1311), 생성부(1312) 및 산출부(1313)를 포함하여 구성될 수 있다.To this end, the image quality compensation module 1310 may include a determining unit 1311, a generating unit 1312, and a calculating unit 1313.

본 발명의 다른 실시예에 따른 화질 보상 모듈(1310)의 결정부(1311), 생성부(1312) 및 산출부(1313)는 상술된 본 발명의 일 실시예에 따른 화질 보상 모듈(100)의 결정부(110), 생성부(120) 및 산출부(130)와 그 구성과 역할이 각각 동일하므로 반복되는 설명은 생략하도록 한다.The determining unit 1311, the generating unit 1312, and the calculating unit 1313 of the picture quality compensation module 1310 according to another embodiment of the present invention are the components of the picture quality compensation module 100 according to the above-described embodiment of the present invention. Since the configuration and role of the determining unit 110, the generating unit 120, and the calculating unit 130 are the same, repeated descriptions will be omitted.

데이터 구동부(1400)는 디지털-아날로그 컨버터(DAC), 아날로그-디지털 컨버터(ADC)를 포함하고, 프리차징 스위치(S1) 및 샘플링 스위치(S2)를 포함하는 센싱회로(SC)를 더 포함한다.The data driver 1400 includes a digital-to-analog converter (DAC) and an analog-to-digital converter (ADC), and further includes a sensing circuit (SC) including a precharging switch (S1) and a sampling switch (S2).

데이터 구동부(1400)는 타이밍 제어부(1300)에 포함된 화질 보상 모듈(100)로부터의 데이터 제어 신호(DDC)를 기반으로 입력된 디지털 데이터(MDATA)를 데이터 전압(Vdata)으로 변환하여 데이터 라인(DL_1 내지 DL_m)을 통해 화소(PX)에 입력한다.The data driver 1400 converts the input digital data MDATA into a data voltage Vdata based on the data control signal DDC from the picture quality compensation module 100 included in the timing controller 1300 and converts the data line ( It is input to the pixel PX through DL_1 to DL_m).

이를 위해, DAC는 화질 보상 모듈(100)의 제어하에 데이터 전압(Vdata)을 생성하여 데이터 라인(DL_1 내지 DL_m)에 출력할 수 있다.To this end, the DAC may generate the data voltage Vdata under the control of the picture quality compensation module 100 and output it to the data lines DL_1 to DL_m.

또한, 데이터 구동부(1400)는 센싱 라인(SSL_1 내지 SSL_m)에 인가된 전압을 아날로그-디지털 컨버터(ADC)를 이용하여 디지털 값으로 샘플링하여 타이밍 제어부(1300)의 화질 보상 모듈(100)에 센싱 전압(Vsen)으로 출력한다.In addition, the data driver 1400 samples the voltages applied to the sensing lines SSL_1 to SSL_m into digital values using an analog-to-digital converter (ADC), and transmits the sensing voltage to the picture quality compensation module 100 of the timing controller 1300. Output as (Vsen).

이를 위하여, 데이터 라인(DL_1 내지 DL_m)에는 제2 노드(N2)의 소스전압을 센싱 전압(Vsen)으로 저장하기 위한 센싱 커패시터(Cx)가 연결될 수 있다.To this end, a sensing capacitor Cx for storing the source voltage of the second node N2 as the sensing voltage Vsen may be connected to the data lines DL_1 to DL_m.

게이트 구동부(1500)는 타이밍 제어부(1300)로부터의 게이트 제어 신호(GDC)를 기반으로 프리차징 스위치(S1) 및 샘플링 스위치(S2)를 제어하는 제어 신호를 발생한다.The gate driver 1500 generates control signals for controlling the precharging switch S1 and the sampling switch S2 based on the gate control signal GDC from the timing controller 1300 .

이때, 게이트 구동부(1500)는 GIP(Gate-driver In Panel) 방식에 따라 디스플레이 패널(1100) 상에 직접 형성될 수 있다. In this case, the gate driver 1500 may be directly formed on the display panel 1100 according to a gate-driver in panel (GIP) method.

화질 보상 모듈(1310)은 데이터 전압(Vdata)의 보상을 디스플레이 패널(1100)에서 가로 또는 세로 라인별로 수행할 수 있다.The picture quality compensation module 1310 may compensate the data voltage Vdata for each horizontal or vertical line in the display panel 1100 .

예를 들어, 화질 보상 모듈(1310)은 디스플레이 패널(1100)의 동일한 가로 라인에 위치하는 화소(PX)에 인가되는 데이터 전압(Vdata)의 보상을 좌측에서 우측 순으로 수행할 수 있다.For example, the picture quality compensation module 1310 may compensate the data voltage Vdata applied to the pixels PX located on the same horizontal line of the display panel 1100 in order from left to right.

또한, 화질 보상 모듈(1310)은 하나의 가로 라인의 데이터 전압(Vdata)의 보상을 수행한 후 무작위로 다른 가로 라인을 선택하여 데이터 전압(Vdata)의 보상을 수행할 수 있다.Also, the picture quality compensation module 1310 may compensate for the data voltage Vdata of one horizontal line and then select another horizontal line at random to compensate the data voltage Vdata.

도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 화질 보상 방법을 도시한 순서도이다.9 is a flowchart illustrating a picture quality compensation method according to another embodiment of the present invention.

도 9를 참조하면, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 화질 보상 방법은 디스플레이 패널의 온도를 입력 받는다(S10). 이때, 디스플레이 패널의 온도는 디스플레이 패널을 구역화하여 구역별로 측정된 온도일 수 있다.Referring to FIG. 9 , in the picture quality compensating method according to another embodiment of the present invention, the temperature of the display panel is input (S10). In this case, the temperature of the display panel may be a temperature measured for each zone by zoning the display panel.

다음으로, 상기 입력된 디스플레이 패널의 온도에 기초하여 구동 TFT의 전기적 특성 변화를 보상하기 위한 보상 방법을 결정한다(S20). 보다 구체적으로, S20 단계는 측정된 온도의 변화값을 산출하고 산출된 온도의 변화값을 기 설정된 기준 변화값과 비교하게 된다.Next, a compensation method for compensating for a change in electrical characteristics of the driving TFT is determined based on the input temperature of the display panel (S20). More specifically, step S20 calculates the measured temperature change value and compares the calculated temperature change value with a preset reference change value.

비교 결과, 온도의 변화값이 기준 변화값 이상이면 보상 방법을 전자 이동도 보상으로 결정하고, 반대로, 온도의 변화값이 기준 변화값 미만이면 보상 방법을 문턱전압 보상으로 결정하게 된다.As a result of the comparison, if the temperature change value is greater than or equal to the reference change value, the compensation method is determined as electron mobility compensation, and conversely, if the temperature change value is less than the reference change value, the compensation method is determined as threshold voltage compensation.

이어서, 구동 TFT의 센싱 전압을 입력받는다(S30). 이때, 디스플레이 패널의 화면의 구동 상태가 온 상태에서도 구동 TFT의 센싱 전압을 측정할 수 있는 센싱모드를 이용하여 구동 TFT의 센싱 전압을 측정하게 된다.Subsequently, the sensing voltage of the driving TFT is input (S30). At this time, the sensing voltage of the driving TFT is measured using a sensing mode capable of measuring the sensing voltage of the driving TFT even when the screen of the display panel is turned on.

다음으로, 입력받은 센싱 전압을 이용하여 상술된 S20 단계에서 결정된 보상 방법에 따라 최종 보상 파라미터를 생성한다(S40).Next, final compensation parameters are generated according to the compensation method determined in step S20 using the input sensing voltage (S40).

이를 위하여, S40 단계에서는 센싱 전압을 이용하여 센싱 전압의 변화값을 산출하고, 결정된 보상 방법에 따라 전자 이동도의 룩업 테이블 또는 문턱전압의 룩업 테이블로부터 산출된 센싱 전압의 변화값을 검색함으로써, 보정값을 생성하게 된다.To this end, in step S40, the change value of the sensing voltage is calculated using the sensing voltage, and the change value of the sensing voltage calculated from the look-up table of the electron mobility or the look-up table of the threshold voltage is calculated according to the determined compensation method, thereby correcting will create a value.

이후, 현재 보정 파라미터를 메모리로부터 읽어들인 후 생성된 보정값을 적용하여 최종 보정 파라미터를 생성하게 된다. 예를 들어, 현재 보정 파라미터에 보정값을 가산하여 최종 파라미터를 생성할 수 있다.Thereafter, the current correction parameters are read from the memory and the generated correction values are applied to generate the final correction parameters. For example, a final parameter may be generated by adding a correction value to a current correction parameter.

다음으로, 최종 보상 파라미터를 이용하여 구동 TFT에 인가되는 최종 데이터 전압을 산출한다(S50). 이때, S50 단계에서는 S20 단계에서 결정된 보상 방법에 따라 생성된 최종 보상 파라미터에 따라 최종 데이터 전압을 산출하게 된다. Next, the final data voltage applied to the driving TFT is calculated using the final compensation parameter (S50). At this time, in step S50, the final data voltage is calculated according to the final compensation parameter generated according to the compensation method determined in step S20.

보다 구체적으로, 결정된 보상 방법이 전자 이동도 보상이면 현재 데이터 전압에 최종 보상 파라미터를 곱하여 최종 데이터 전압을 산출하고, 결정된 보상 방법이 문턱전압 보상이면 현재 데이터 전압에 최종 보상 파라미터를 가산하여 최종 데이터 전압을 산출하게 된다.More specifically, if the determined compensation method is electron mobility compensation, the final data voltage is calculated by multiplying the current data voltage by the final compensation parameter, and if the determined compensation method is threshold voltage compensation, the final data voltage is obtained by adding the final compensation parameter to the current data voltage. will yield

최종적으로, 데이터 구동부를 제어하여 산출된 최종 데이터 전압를 구동 TFT의 게이트 단자에 인가시킨다(S60).Finally, the final data voltage calculated by controlling the data driver is applied to the gate terminal of the driving TFT (S60).

한편, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 화질 보상 방법은 온도를 입력받는 디스플레이 패널의 온도를 입력 받는 S10 단계 이후 구동 TFT의 센싱 전압을 입력 받는 단계 S30를 수행하는 것으로 설명하였지만, 다른 일예에 따른 화질 보상 방법에 따르면 상술된 S10 단계 및 S30 단계가 동시에 수행될 수도 있음을 유의한다.Meanwhile, the picture quality compensation method according to another embodiment of the present invention has been described as performing step S30 of receiving the sensing voltage of the driving TFT after step S10 of receiving the temperature of the display panel receiving the temperature, but according to another embodiment Note that, according to the picture quality compensation method, the above-described steps S10 and S30 may be performed simultaneously.

전술한 본 발명은, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하므로 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니다.Since the above-described present invention is capable of various substitutions, modifications, and changes without departing from the technical spirit of the present invention to those skilled in the art in the technical field to which the present invention belongs, the above-described embodiments and accompanying drawings is not limited by

Claims (17)

디스플레이 패널의 온도를 입력받고, 상기 디스플레이 패널의 온도에 기초하여 구동 TFT의 전기적 특성 변화를 보상하기 위한 보상 방법을 결정하는 결정부;
상기 구동 TFT의 센싱 전압을 이용하여 상기 결정된 보상 방법에 따른 최종 보상 파라미터를 생성하는 생성부; 및
상기 최종 보상 파라미터를 이용하여 상기 구동 TFT 로 인가되는 최종 데이터 전압을 산출하는 산출부를 포함하고,
상기 결정부는 상기 디스플레이 패널의 온도의 변화값이 기 설정된 기준 변화값 이상이면 상기 보상 방법을 전자 이동도 보상으로 결정하고, 상기 온도의 변화값이 상기 기준 변화값 미만이면 상기 보상 방법을 문턱전압 보상으로 결정하는 화질 보상 모듈.
a determination unit that receives the temperature of the display panel and determines a compensation method for compensating for a change in electrical characteristics of the driving TFT based on the temperature of the display panel;
a generator configured to generate a final compensation parameter according to the determined compensation method using the sensing voltage of the driving TFT; and
a calculator configured to calculate a final data voltage applied to the driving TFT using the final compensation parameter;
The determination unit determines the compensation method as electron mobility compensation when the temperature change value of the display panel is greater than or equal to a preset reference change value, and determines the compensation method as threshold voltage compensation when the temperature change value is less than the reference change value. Image quality compensation module determined by
제1항에 있어서,
상기 결정부는
상기 온도의 변화값과 상기 기준 변화값을 비교하고, 상기 비교 결과에 근거하여 상기 보상 방법을 상기 전자 이동도 보상 및 상기 문턱전압 보상 중 어느 하나로 결정하는 화질 보상 모듈.
According to claim 1,
The decision section
An image quality compensation module that compares the change value of the temperature with the reference change value, and determines the compensation method as one of the electron mobility compensation and the threshold voltage compensation based on the comparison result.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 생성부는
상기 센싱 전압을 이용하여 상기 결정된 보상 방법에 따라 보정값을 생성하고, 현재 보상 파라미터에 상기 보정값을 적용하여 최종 보상 파라미터를 생성하는 화질 보상 모듈.
According to claim 1,
the generator
An image quality compensation module generating a correction value according to the determined compensation method using the sensing voltage and generating a final compensation parameter by applying the correction value to a current compensation parameter.
제1항에 있어서,
상기 산출부는
상기 결정된 보상 방법이 전자 이동도 보상이면 현재 데이터 전압에 상기 최종 보상 파라미터를 곱하여 상기 최종 데이터 전압을 산출하고, 상기 결정된 보상 방법이 문턱전압 보상이면 상기 현재 데이터 전압에 상기 최종 보상 파라미터를 가산하여 상기 최종 데이터 전압을 산출하고, 상기 산출된 최종 데이터 전압이 상기 구동 TFT에 인가되도록 데이터 구동부를 제어하는 화질 보상 모듈.
According to claim 1,
The calculation unit
If the determined compensation method is electron mobility compensation, the final data voltage is calculated by multiplying a current data voltage by the final compensation parameter, and if the determined compensation method is threshold voltage compensation, the final compensation parameter is added to the current data voltage to obtain the final compensation parameter. An image quality compensation module that calculates a final data voltage and controls a data driver to apply the calculated final data voltage to the driving TFT.
디스플레이 패널의 온도를 입력받는 단계;
상기 디스플레이 패널의 온도에 기초하여 구동 TFT의 전기적 특성 변화를 보상하기 위한 보상 방법을 결정하는 단계;
상기 구동 TFT의 센싱 전압을 입력받는 단계;
상기 센싱 전압을 이용하여 상기 결정된 보상 방법에 따른 최종 보상 파라미터를 생성하는 단계;
상기 최종 보상 파라미터를 이용하여 상기 구동 TFT에 인가되는 최종 데이터 전압을 산출하는 단계; 및
상기 최종 데이터 전압을 상기 구동 TFT에 인가하는 단계를 포함하고,
상기 보상 방법을 결정하는 단계는,
상기 온도의 변화값이 기 설정된 기준 변화값 이상이면 상기 보상 방법을 전자 이동도 보상으로 결정하는 단계; 및
상기 온도의 변화값이 상기 기준 변화값 미만이면 상기 보상 방법을 문턱전압 보상으로 결정하는 단계를 더 포함하는 화질 보상 방법.
receiving the temperature of the display panel;
determining a compensation method for compensating for a change in electrical characteristics of a driving TFT based on the temperature of the display panel;
receiving a sensing voltage of the driving TFT;
generating a final compensation parameter according to the determined compensation method using the sensing voltage;
calculating a final data voltage applied to the driving TFT using the final compensation parameter; and
applying the final data voltage to the driving TFT;
The step of determining the compensation method,
determining the compensation method as electron mobility compensation when the temperature change value is equal to or greater than a predetermined reference change value; and
and determining the compensation method as threshold voltage compensation when the change value of the temperature is less than the reference change value.
제6항에 있어서,
상기 보상 방법을 결정하는 단계는,
상기 입력된 온도의 변화값을 산출하는 단계;
상기 온도의 변화값과 상기 기준 변화값을 비교하는 단계; 및
상기 비교 결과에 근거하여 상기 보상 방법을 상기 전자 이동도 보상 및 상기 문턱전압 보상 중 어느 하나로 결정하는 단계를
포함하는 화질 보상 방법.
According to claim 6,
The step of determining the compensation method,
Calculating a change value of the input temperature;
comparing the change value of the temperature with the reference change value; and
Determining the compensation method as one of the electron mobility compensation and the threshold voltage compensation based on the comparison result.
Image quality compensation method including.
삭제delete 제6항에 있어서,
최종 보상 파라미터를 생성하는 하는 단계는
상기 센싱 전압을 이용하여 상기 결정된 보상 방법에 따라 보정값을 생성하는 단계; 및
현재 보상 파라미터에 상기 보정값을 적용하여 최종 보상 파라미터를 생성하는 단계를
포함하는 화질 보상 방법.
According to claim 6,
The steps to generate the final compensation parameters are
generating a correction value according to the determined compensation method using the sensing voltage; and
Generating a final compensation parameter by applying the correction value to the current compensation parameter.
Image quality compensation method including.
제6항에 있어서,
상기 최종 데이터 전압을 산출하는 단계는
상기 결정된 보상 방법이 전자 이동도 보상이면 현재 데이터 전압에 상기 최종 보상 파라미터를 곱하여 상기 최종 데이터 전압을 산출하는 단계; 및
상기 결정된 보상 방법이 문턱전압 보상이면 상기 현재 데이터 전압에 상기 최종 보상 파라미터를 가산하여 상기 최종 데이터 전압을 산출하는 단계를
포함하는 화질 보상 방법.
According to claim 6,
The step of calculating the final data voltage is
calculating the final data voltage by multiplying a current data voltage by the final compensation parameter if the determined compensation method is electron mobility compensation; and
If the determined compensation method is threshold voltage compensation, calculating the final data voltage by adding the final compensation parameter to the current data voltage.
Image quality compensation method including.
제6항에 있어서,
상기 최종 데이터 전압을 상기 구동 TFT에 인가하는 단계는
상기 산출된 최종 데이터 전압이 상기 구동 TFT에 인가되도록 데이터 구동부를 제어하는 단계를
포함하는 화질 보상 방법.
According to claim 6,
The step of applying the final data voltage to the driving TFT
controlling a data driver so that the calculated final data voltage is applied to the driving TFT;
Image quality compensation method including.
디스플레이 패널의 온도를 측정하는 온도 측정부;
상기 디스플레이 패널의 온도에 기초하여 구동 TFT의 전기적 특성 변화를 보상하기 위한 보상 방법을 결정하고, 상기 결정된 보상 방법에 따른 최종 보상 파라미터를 생성하여 상기 구동 TFT 에 인가되는 최종 데이터 전압을 산출하는 화질 보상 모듈; 및
상기 산출된 최종 데이터 전압을 상기 구동 TFT로 인가시키는 데이터 구동부를 포함하고,
상기 화질 보상 모듈은, 상기 디스플레이 패널의 온도의 변화값이 기 설정된 기준 변화값 이상이면 상기 보상 방법을 전자 이동도 보상으로 결정하고, 상기 온도의 변화값이 상기 기준 변화값 미만이면 상기 보상 방법을 문턱전압 보상으로 결정하는, 디스플레이 장치.
a temperature measuring unit that measures the temperature of the display panel;
Image quality compensation that determines a compensation method for compensating for a change in electrical characteristics of the driving TFT based on the temperature of the display panel, generates a final compensation parameter according to the determined compensation method, and calculates a final data voltage applied to the driving TFT. module; and
a data driver for applying the calculated final data voltage to the driving TFT;
The image quality compensation module determines the compensation method as electron mobility compensation when the temperature change value of the display panel is greater than or equal to a preset reference change value, and performs the compensation method when the temperature change value is less than the reference change value. A display device determined by threshold voltage compensation.
제12항에 있어서,
상기 온도 측정부는
상기 디스플레이 패널을 구역화하여 구역별 온도를 측정하는 디스플레이 장치.
According to claim 12,
The temperature measuring unit
A display device configured to zone the display panel and measure the temperature of each zone.
제12항에 있어서,
상기 화질 보상 모듈은
상기 온도의 변화값과 상기 기준 변화값을 비교하고, 상기 비교 결과에 근거하여 상기 보상 방법을 상기 전자 이동도 보상 및 상기 문턱전압 보상 중 어느 하나로 결정하는 결정부를
포함하는 디스플레이 장치.
According to claim 12,
The quality compensation module
A determination unit for comparing the change value of the temperature with the reference change value, and determining the compensation method as one of the electron mobility compensation and the threshold voltage compensation based on the comparison result.
A display device comprising:
삭제delete 제12항에 있어서,
상기 화질 보상 모듈은
상기 구동 TFT의 센싱 전압을 이용하여 상기 결정된 보상 방법에 따라 보정값을 생성하고, 현재 보상 파라미터에 상기 보정값을 적용하여 최종 보상 파라미터를 생성하는 생성부를
더 포함하는 디스플레이 장치.
According to claim 12,
The quality compensation module
A generator for generating a correction value according to the determined compensation method using the sensing voltage of the driving TFT and generating a final compensation parameter by applying the correction value to a current compensation parameter.
A display device further comprising:
제12항에 있어서,
상기 화질 보상 모듈은
상기 결정된 보상 방법이 전자 이동도 보상이면 현재 데이터 전압에 상기 최종 보상 파라미터를 곱하여 상기 최종 데이터 전압을 산출하고, 상기 결정된 보상 방법이 문턱전압 보상이면 상기 현재 데이터 전압에 상기 최종 보상 파라미터를 가산하여 상기 최종 데이터 전압을 산출하고, 상기 산출된 최종 데이터 전압이 상기 구동 TFT에 인가되도록 상기 데이터 구동부를 제어하는 산출부를
더 포함하는 디스플레이 장치.
According to claim 12,
The quality compensation module
If the determined compensation method is electron mobility compensation, the final data voltage is calculated by multiplying a current data voltage by the final compensation parameter, and if the determined compensation method is threshold voltage compensation, the final compensation parameter is added to the current data voltage to obtain the final compensation parameter. A calculator configured to calculate a final data voltage and control the data driver to apply the calculated final data voltage to the driving TFT.
A display device further comprising:
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