KR102492018B1 - Grain quality discriminating apparatus and method of receiving light from grain in the apparatus - Google Patents

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Abstract

본 발명의 곡립 품위 판별 장치는, 광학부가, 교대로 점등과 소등을 반복하는 2 세트의 광원으로서, 곡립의 일면측으로부터 광을 조사하는 제 1 광원과, 곡립의 타면측으로부터 광을 조사하는 제 2 광원을 갖고, 센서가, 상기 각 광원의 점등과 소등을 전환하는 타이밍에 맞춰 노광 시간이 설정되어 이루어지고, 상기 제 1 광원의 점등시에 상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광을 수광하고, 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 곡립의 일면측으로부터의 투과광을 수광하는 제 1 수광부와, 상기 각 광원의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 상기 각 광원을 소정 횟수 점등시키는 타이밍에 맞춰 노광 시간이 설정되어 이루어지고, 상기 제 1 광원의 점등시 및 제 2 광원의 점등시에 상기 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광하는 제 2 수광부를 포함하고, 센서가 곡립의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호에 기초하여 착색립 등의 판별을 실시할 수 있다.Grain quality discrimination device of the present invention, the optical unit, as two sets of light sources that alternately turn on and off, the first light source for irradiating light from one surface side of the grain, and the second for irradiating light from the other surface side of the grain. It has two light sources, and the exposure time is set according to the timing at which the sensor switches the lighting and turning off of each light source, and receives the reflected light from the one surface side of the grain when the first light source is turned on, and the Exposure time according to the timing of lighting each light source a predetermined number of times by pairing the first light receiving unit for receiving the transmitted light from one side of the grain when the second light source is turned on, and the alternating lighting of each light source in succession This is set, and includes a second light receiving unit for continuously receiving the reflected light and transmitted light from the side surface of the grain when the first light source is turned on and when the second light source is turned on, and the sensor is from the side surface of the grain. Colored grains and the like can be determined based on the light-receiving signal to be received.

Description

곡립 품위 판별 장치 및 그 장치에 있어서의 곡립으로부터의 광의 수광 방법{GRAIN QUALITY DISCRIMINATING APPARATUS AND METHOD OF RECEIVING LIGHT FROM GRAIN IN THE APPARATUS}Grain quality discrimination device and light receiving method from grain in the device

본 발명은, 곡립의 품위를 판별하는 곡립 품위 판별 장치 및 그 장치에 있어서의 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광의 수광 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a grain quality determination device for determining the quality of grains and a method for receiving reflected light and/or transmitted light from grains in the apparatus.

종래, 곡립에 광을 조사하고, 그 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하고, 그 수광한 수광 신호에 기초하여 당해 곡립의 품위를 판별하는 곡립 품위 판별 장치는 주지되어 있다 (예를 들어, 일본 공개특허공보 2003-42963호를 참조.).Conventionally, a grain quality discrimination device that irradiates light to a grain, receives reflected light and/or transmitted light from the grain, and determines the quality of the grain based on the received light reception signal is well known (for example, See Japanese Unexamined Patent Publication No. 2003-42963).

일본 공개특허공보 2003-42963호에 기재된 곡립 품위 판별 장치는, 곡립을 이송하는 이송부와, 그 이송부에 의해 이송되는 곡립에 광을 조사하여 그 곡립으로부터 방출되는 광을 수광하는 광학 검출부와, 그 광학 검출부에서 수광하는 수광 신호를 미리 설정한 임계값과 비교하여 상기 곡립의 품위를 판별하는 품위 판별부를 구비한다.The grain quality determination device described in Japanese Unexamined Patent Publication No. 2003-42963 includes a transfer unit for transporting grains, an optical detection unit for irradiating light to grains transported by the transfer unit and receiving light emitted from the grains, and the optical detection unit for receiving light emitted from the grains. A quality determination unit for determining the quality of the grain by comparing the light reception signal received by the detection unit with a preset threshold value is provided.

상기 광학 검출부는, 상기 이송부의 이송 방향을 따라 배치 형성되는 2 개의 광학 측정부를 갖는다.The optical detection unit has two optical measuring units arranged along the transport direction of the transfer unit.

제 1 광학 측정부는, 상측 조사 수단으로서, 곡립에 대하여 경사 상방이 되는 위치에 배치 형성되는 적색 (R), 녹색 (G) 및 청색 (B) 의 광원을 갖고, 하측 조사 수단으로서, 곡립에 대하여 수직 하방이 되는 위치에 배치 형성되는 청색 (B) 의 광원, 곡립에 대하여 경사 하방이 되는 위치에 배치 형성되는 적색 (R) 의 광원을 갖는다.The 1st optical measuring part has red (R), green (G), and blue (B) light sources disposed at a position obliquely upward with respect to the grain as upper irradiation means, and as lower irradiation means, with respect to the grain It has a red (R) light source arranged at a position used as an inclination downward with respect to the light source of blue (B) arrange|positioned at the position used as vertical downward, and a grain.

또한, 상기 제 1 광학 측정부는, 곡립에 대하여 상방이 되는 위치에 배치 형성되어 상기 곡립 표면으로부터의 광을 수광하는 리니어형의 RGB 라인 센서 (표면 수광 수단), 곡립에 대하여 측방이 되는 위치에 배치 형성되어 상기 곡립 측면으로부터의 광을 수광하는 리니어형의 RGB 라인 센서 (측면 수광 수단) 를 갖는다.In addition, the first optical measurement unit is disposed at a position upward with respect to the grain, and is disposed at a position to be sideward with respect to a linear RGB line sensor (surface light receiving means) for receiving light from the surface of the grain. It has a linear RGB line sensor (side surface light receiving means) that is formed and receives light from the side surface of the grain.

제 2 광학 측정부는, 상측 조사 수단으로서, 곡립에 대하여 수직 상방이 되는 위치에 배치 형성되는 청색 (B) 의 광원, 곡립에 대하여 경사 상방이 되는 위치에 배치 형성되는 적색 (R) 의 광원을 갖고, 하측 조사 수단으로서, 곡립에 대하여 경사 하방이 되는 위치에 배치 형성되는 적색 (R) 의 광원을 갖는다.The 2nd optical measurement part has a blue (B) light source arranged at a position becoming vertically upward with respect to a grain, and a red (R) light source arranged at a position becoming obliquely upward with respect to a grain, as an upper side irradiation means, , It has a red (R) light source disposed in a position that becomes obliquely downward with respect to the grain as a lower side irradiation means.

또한, 상기 제 2 광학 측정부는, 곡립에 대하여 하방이 되는 위치에 배치 형성되어 상기 곡립 이면으로부터의 광을 수광하는 리니어형의 RGB 라인 센서 (이면 수광 수단) 를 갖는다.Moreover, the said 2nd optical measurement part has a linear RGB line sensor (rear surface light receiving means) which is arrange|positioned at the position which becomes downward with respect to a grain, and receives the light from the said grain back surface.

상기 품위 판별부는, 상기 표면 수광 수단의 수광 신호에 기초하여 곡립 표면을 화소 이미지하는 제 1 화상 처리부, 상기 측면 수광 수단의 수광 신호에 기초하여 곡립 측면을 화소 이미지하는 제 2 화상 처리부, 및 상기 이면 수광 수단의 수광 신호에 기초하여 곡립 이면을 화소 이미지하는 제 3 화상 처리부를 갖는다.The quality determining unit, a first image processing unit for pixel-images the surface of the grain based on the light-receiving signal of the surface light-receiving means, a second image processing unit for pixel-images the side of the grain based on the light-receiving signal of the side light-receiving means, and the back surface It has a third image processing unit that performs a pixel image of the back side of the grain based on the light receiving signal of the light receiving means.

또한, 상기 품위 판별부는, 상기 제 1 화상 처리부, 제 2 화상 처리부 및 제 3 화상 처리부에 있어서의 각 화소 이미지 (각 수광 수단으로부터 보내지는 수광 신호) 에 기초하여 쌀알의 품위를 판별하는 판별부를 구비한다.In addition, the quality determining unit includes a determining unit for discriminating the quality of the rice grains based on the pixel images (light receiving signals sent from the light receiving means) in the first image processing unit, the second image processing unit, and the third image processing unit. do.

상기 일본 공개특허공보 2003-42963호에 기재된 곡립 품위 판별 장치에 있어서, 상기 광학 검출부의 각 광학 측정부는, 상기 이송부에 의해 이송되는 곡립에 상기 상측 조사 수단 및 하측 조사 수단으로부터 광을 조사하고, 상기 곡립 각 면으로부터 방출되는 광을 상기 각 수광 수단에 의해 수광한다.In the grain quality discrimination device described in Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2003-42963, each optical measurement unit of the optical detection unit irradiates light from the upper irradiation means and the lower irradiation means to the grains transported by the transfer unit, and the Light emitted from each surface of the grain is received by the light receiving means.

상기 각 수광 수단이 수광한 수광 신호는 상기 품위 판별부에 보내지고, 그 품위 판별부의 각 화상 처리부는, 상기 각 수광 수단으로부터 보내지는 수광 신호에 기초하여 상기 곡립 표면, 측면 및 이면을 각각 화소 이미지한다.The light-receiving signal received by each of the light-receiving means is sent to the quality determination unit, and each image processing unit of the quality determination unit creates a pixel image of the surface, side surface, and back surface of the grain, respectively, based on the light-receiving signal sent from each light-receiving means. do.

그리고, 상기 품위 판별부의 판별부는, 상기 곡립 표면, 측면 및 이면의 각 화소 이미지에 기초하여 상기 곡립의 두께, 면적 및 체적을 연산하고, 예를 들어 정립 (整粒) 또는 미숙립 (未熟粒) 으로 판별하기 위한 형상 임계값과 비교하여, 또한, 상기 각 화소 이미지에 기초하여 상기 곡립의 광색이나 광량을 산출하고, 예를 들어 정립, 미숙립, 사미 (死米), 피해립 및 착색립으로 판별하기 위한 색 임계값과 비교하여, 상기 곡립의 품위를 판별한다.In addition, the quality determination unit determination unit calculates the thickness, area and volume of the grain on the basis of each pixel image of the surface, side and back surface of the grain, for example, sized (整粒) or unripe (未熟粒) Comparing with the shape threshold value for discrimination, further calculating the light color and light amount of the grain based on each pixel image, and discriminating, for example, as erect, immature, dead, damaged, and colored grains. Compared with the color threshold for the determination of the quality of the grain.

그런데, 상기 곡립 품위 판별 장치에 있어서, 상기 광학 검출부의 각 광학 측정부는, 각각 상측 조사 수단과 하측 조사 수단을 갖지만, 상기 측면 수광 수단이 상기 곡립 측면으로부터 수광하는 광의 수광량은, 상기 표면 수광 수단 및 이면 수광 수단이 각각 곡립 표면 및 곡립 이면으로부터 수광하는 광의 수광량과 비교하여 매우 작다.By the way, in the grain quality discriminating device, each optical measurement unit of the optical detection unit has an upper irradiation means and a lower irradiation means, respectively, and the amount of light received by the side surface light receiving means from the grain side surface is the surface light receiving means and The back surface light-receiving means is very small compared to the received amount of light received from the grain surface and the grain back surface, respectively.

그 때문에, 상기 측면 수광 수단으로부터 상기 품위 판별부에 보내지는 수광 신호는, 예를 들어, 투과광에 있어서는 착색 부분과 백탁 부분, 반사광에 있어서는 착색 부분과 배아 등에 의한 음영 부분을 판별하기에는 광량이 충분하지 않고, 착색립 등의 품위의 판별에 사용할 수 없다는 문제가 있었다.Therefore, the light reception signal sent from the side light receiving unit to the quality determination unit is not sufficient in light quantity to discriminate, for example, a colored part and a cloudy part in transmitted light and a colored part and shaded part due to embryos in reflected light. However, there was a problem that it could not be used to determine the quality of colored grains and the like.

그래서 본 발명의 목적은,So, the purpose of the present invention is,

센서가 곡립의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호에 기초하여, 착색립 등의 품위의 판별을 실시할 수 있는 곡립 품위 판별 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a grain quality discrimination device capable of determining the quality of colored grains and the like based on a light reception signal received by a sensor from the side surface of the grain.

또한, 본 발명은, 센서가 곡립의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호에 기초하여, 착색립 등의 품위의 판별을 실시할 수 있는 곡립 품위 판별 장치에 있어서의 곡립으로부터의 광의 수광 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.In addition, the present invention provides a method for receiving light from grains in a grain quality discrimination device capable of determining the quality of colored grains and the like based on a light reception signal received by a sensor from the side surface of the grain. The purpose.

상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은,In order to achieve the above object, the present invention,

곡립을 이송하는 이송부와,A conveying unit for conveying grains;

상기 이송부에서 이송되는 곡립에 광을 조사하는 광원, 상기 광원으로부터 조사된 광의 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 센서를 갖는 광학부와,An optical unit having a light source for irradiating light to the grains transferred from the transfer unit, and a sensor for receiving reflected light and / or transmitted light from the grains of the light irradiated from the light source;

상기 센서의 수광 신호에 기초하여 상기 곡립의 품위를 판별하는 품위 판별부를 구비하는 곡립 품위 판별 장치에 있어서,In the grain quality discrimination device having a quality determination unit for determining the quality of the grain based on the light reception signal of the sensor,

상기 광학부는,The optical part,

상기 광원이, 교대로 점등과 소등을 반복하는 2 세트의 광원으로서,As two sets of light sources in which the light sources alternately turn on and off,

상기 곡립의 일면측에 배치 형성되어 그 곡립의 일면측으로부터 광을 조사하는 제 1 광원과,A first light source disposed on one surface side of the grain and radiating light from the one surface side of the grain;

상기 곡립의 타면측에 배치 형성되어 그 곡립의 타면측으로부터 광을 조사하는 제 2 광원을 갖고,It is arranged and formed on the other side of the grain and has a second light source for irradiating light from the other side of the grain,

상기 센서가,the sensor,

상기 각 광원의 점등과 소등을 전환하는 타이밍에 맞춰 노광 시간이 설정되어 이루어지고, 상기 제 1 광원의 점등시에 상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광을 수광하고, 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 곡립의 일면측으로부터의 투과광을 수광하는 제 1 수광부와,The exposure time is set according to the timing of switching on and off of each light source, and when the first light source is turned on, the reflected light from the one side of the grain is received, and when the second light source is turned on, the A first light receiving unit for receiving transmitted light from one surface side of the grain;

상기 각 광원의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 상기 각 광원을 소정 횟수 점등시키는 타이밍에 맞춰 노광 시간이 설정되어 이루어지고, 상기 제 1 광원의 점등시 및 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광하는 제 2 수광부를 포함하는 것을 특징으로 한다.The exposure time is set according to the timing of lighting each of the light sources a predetermined number of times by pairing successive and alternate lighting of each light source, and when the first light source is turned on and the second light source is turned on, the exposure time is set. It is characterized in that it comprises a second light receiving unit for continuously receiving reflected light and transmitted light from the side surface of the grain.

또한, 본 발명은,In addition, the present invention,

상기 광원이, 상기 제 2 광원은 상기 곡립의 타면에 대하여 수직이 되는 위치에 배치 형성되는 소정 파장의 특정광을 조사하는 특정 광원을 포함하고,The light source, the second light source includes a specific light source for irradiating a specific light of a predetermined wavelength disposed at a position perpendicular to the other surface of the grain,

상기 곡립의 타면측에는, 상기 특정 광원이 조사하는 상기 특정광을 투과하는 광학 필터가 배비 (配備) 되어 이루어지고,On the other side of the grain, an optical filter that transmits the specific light irradiated by the specific light source is arranged,

상기 센서는, 상기 각 광원의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 상기 각 광원을 소정 횟수 점등시키는 타이밍에 맞춰 노광 시간이 설정되어 이루어지고, 상기 제 1 광원의 점등시 및 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 광학 필터를 통해 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광하는 제 3 수광부를 추가로 포함하는 것이 바람직하다.In the sensor, the exposure time is set according to the timing of lighting each light source a predetermined number of times by pairing successive and alternate lighting of each light source, and when the first light source is turned on and the second light source It is preferable to further include a third light receiving unit for continuously receiving reflected light and transmitted light from the other side of the grain through the optical filter when lit.

또한, 본 발명은,In addition, the present invention,

상기 센서가, 곡립의 일면측에 배치 형성되고, 상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광 또는 투과광을 수광하는 제 1 수광부를 포함하는 제 1 센서와, 곡립의 측면측에 배치 형성되고, 상기 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 제 2 수광부, 및 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 제 3 수광부를 포함하는 제 2 센서로 이루어지는 것이 바람직하다.The sensor is disposed on one surface side of the grain, the first sensor including a first light receiving unit for receiving the reflected light or transmitted light from the one surface side of the grain, and disposed on the side surface of the grain, the side surface of the grain It is preferable to consist of a second sensor including a second light receiving unit for receiving reflected light and transmitted light from the side, and a third light receiving unit for receiving reflected light and transmitted light from the other side of the grain.

또한, 상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은,In addition, in order to achieve the above object, the present invention,

곡립을 이송하는 이송부와,A conveying unit for conveying grains;

상기 이송부에서 이송되는 곡립에 광을 조사하는 광원, 상기 광원으로부터 조사된 광의 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 센서를 갖는 광학부와,An optical unit having a light source for irradiating light to the grains transferred from the transfer unit, and a sensor for receiving reflected light and / or transmitted light from the grains of the light irradiated from the light source;

상기 센서의 수광 신호에 기초하여 상기 곡립의 품위를 판별하는 품위 판별부를 구비하는 곡립 품위 판별 장치로서,As a grain quality discrimination device having a quality determination unit for determining the quality of the grain based on the light reception signal of the sensor,

그 곡립 품위 판별 장치에 있어서의 곡립으로부터의 광의 수광 방법에 있어서,In the method of receiving light from the grain in the grain quality discrimination device,

상기 광학부는,The optical part,

상기 광원이,the light source,

상기 곡립의 일면측으로부터 광을 조사하는 제 1 광원과,A first light source for irradiating light from one side of the grain;

상기 곡립의 타면측으로부터 광을 조사하는 제 2 광원을 갖고,Has a second light source for irradiating light from the other side of the grain,

상기 센서가,the sensor,

상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광 또는 투과광을 수광하는 제 1 수광부와,A first light receiving unit for receiving reflected light or transmitted light from one surface side of the grain;

상기 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 제 2 수광부를 포함하여 이루어지고,It comprises a second light receiving unit for receiving reflected light and transmitted light from the side surface of the grain,

상기 광원은, 상기 제 1 광원과 상기 제 2 광원이 점등과 소등을 교대로 반복하고,In the light source, the first light source and the second light source alternately turn on and off,

상기 제 1 수광부는, 상기 각 광원의 점등과 소등을 전환하는 타이밍에 맞춰 설정되는 노광 시간에 기초하여, 상기 제 1 광원의 점등시에 상기 이송부에서 이송되는 곡립의 일면측으로부터의 반사광, 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 곡립의 일면측으로부터의 투과광을 순차 수광하고,The first light receiving unit, based on the exposure time set according to the timing of switching the lighting and turning off of each light source, reflected light from one surface side of the grains transferred from the transfer unit when the first light source is turned on, the first When the two light sources are turned on, the transmitted light is sequentially received from one side of the grain,

상기 제 2 수광부는, 상기 각 광원의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 상기 각 광원을 소정 횟수 점등시키는 타이밍에 맞춰 설정되는 노광 시간에 기초하여, 상기 제 1 광원의 점등시 및 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 이송부에서 이송되는 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광하는 것을 특징으로 한다.The second light-receiving unit couples successive alternating lighting of each light source, and based on an exposure time set according to timing of lighting each light source a predetermined number of times, when the first light source is turned on and when the second light source is turned on. When the light source is turned on, it is characterized in that it continuously receives reflected light and transmitted light from the side surface of the grains being transported in the conveying unit.

본 발명은,The present invention,

상기 광원이, 상기 제 2 광원은 상기 곡립의 타면에 대하여 수직이 되는 위치에 배치 형성되는 소정 파장의 특정광을 조사하는 특정 광원을 포함하고,The light source, the second light source includes a specific light source for irradiating a specific light of a predetermined wavelength disposed at a position perpendicular to the other surface of the grain,

상기 곡립의 타면측에는, 상기 특정 광원이 조사하는 상기 특정광을 투과하는 광학 필터가 배비되어 이루어지고,On the other side of the grain, an optical filter that transmits the specific light irradiated by the specific light source is arranged,

상기 센서가, 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 제 3 수광부를 추가로 포함하고,The sensor further comprises a third light receiving unit for receiving reflected light and transmitted light from the other surface side of the grain,

상기 제 3 수광부가, 상기 각 광원의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 상기 각 광원을 소정 횟수 점등시키는 타이밍에 맞춰 설정되는 노광 시간에 기초하여, 상기 제 1 광원의 점등시 및 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 광학 필터를 통해 상기 이송부에서 이송되는 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광하는 것이 바람직하다.When the first light source is turned on and the second When the light source is turned on, it is preferable to continuously receive reflected light and transmitted light from the other surface side of the grains being transported in the transfer unit through the optical filter.

본 발명은,The present invention,

상기 센서가, 곡립의 일면측으로부터의 반사광 또는 투과광을 수광하는 상기 제 1 수광부를 포함하는 제 1 센서와, 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 상기 제 2 수광부, 및 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 상기 제 3 수광부를 포함하는 제 2 센서로 이루어지는 것이 바람직하다.The first sensor including the first sensor for receiving the reflected light or transmitted light from one side of the grain, and the second light-receiving unit for receiving the reflected light and transmitted light from the side surface of the grain, and the other surface of the grain. It is preferable to consist of a second sensor including the third light receiving unit for receiving reflected light and transmitted light from the side.

본 발명의 곡립 품위 판별 장치에 의하면, 상기 센서가, 상기 각 광원의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 상기 각 광원을 소정 횟수 점등시키는 타이밍에 맞춰 노광 시간이 설정되어 이루어지고, 상기 제 1 광원의 점등시 및 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광하는 제 2 수광부를 포함하기 때문에, 상기 센서가 상기 제 2 수광부에서 수광하는 상기 곡립의 측면측으로부터의 수광량이 증가하고, 상기 센서의 제 2 수광부가 상기 곡립의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호는, 착색립 등의 품위를 판별하는 데에 충분한 광량이 된다.According to the grain quality discrimination device of the present invention, the exposure time is set according to the timing in which the sensor pairs consecutive and alternating lighting of each light source and turns on each light source a predetermined number of times, and the first Since it includes a second light receiving unit for continuously receiving the reflected light and transmitted light from the side surface of the grain when the light source is turned on and when the second light source is turned on, the side of the grain that the sensor receives light from the second light receiving unit The amount of light received from the side increases, and the light reception signal received by the second light receiving unit of the sensor from the side surface of the grain becomes a sufficient light quantity to determine the quality of colored grains and the like.

또한, 상기 센서의 제 2 수광부가 상기 곡립의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호는, 상기 곡립의 측면으로서 표면측 또는 이면측 위치로부터의 반사광 및 투과광에 치우치지 않고, 상기 곡립의 측면 전체로부터의 반사광 및 투과광을 포함하는 것이 된다.In addition, the light receiving signal received by the second light receiving unit of the sensor from the side surface side of the grain is not biased to the reflected light and transmitted light from the surface side or back side position as the side surface of the grain, the reflected light from the entire side surface of the grain and transmitted light.

따라서, 본 발명의 곡립 품위 판별 장치에 의하면, 상기 센서의 제 2 수광부가 곡립의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호에 기초하여, 착색립 등의 품위의 판별을 적절히 실시하는 것이 가능해진다.Therefore, according to the grain quality discrimination device of the present invention, based on the light receiving signal that the second light receiving unit of the sensor receives light from the side surface side of the grain, it is possible to appropriately determine the quality of colored grains and the like.

본 발명의 곡립 품위 판별 장치에 있어서의 곡립으로부터의 광의 수광 방법에 의하면, 센서가, 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 제 2 수광부를 포함하고, 상기 제 2 수광부가, 제 1 광원 및 제 2 광원의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 상기 각 광원을 소정 횟수 점등시키는 타이밍에 맞춰 설정되는 노광 시간에 기초하여, 상기 제 1 광원의 점등시 및 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 이송부에서 이송되는 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광하기 때문에, 상기 센서가 상기 제 2 수광부에서 수광하는 상기 곡립의 측면측으로부터의 수광량이 증가하고, 상기 센서의 제 2 수광부가 상기 곡립의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호는, 착색립 등의 품위를 판별하는 데에 충분한 광량이 된다.According to the light receiving method of the grain in the grain quality discrimination device of the present invention, the sensor includes a second light receiving unit for receiving reflected light and transmitted light from the side surface side of the grain, the second light receiving unit, the first light source And based on the exposure time set in accordance with the timing of lighting each light source a predetermined number of times by pairing successive and alternate lighting of the second light source, when the first light source is turned on and when the second light source is turned on, Since the reflected light and the transmitted light from the side surface of the grain transported by the conveying unit are continuously received, the amount of light received from the side surface of the grain that the sensor receives light from the second light receiving unit increases, and the second light receiving unit of the sensor The light reception signal received from the side surface side of the grain becomes a light quantity sufficient to determine the quality of colored grains and the like.

또한, 상기 센서의 제 2 수광부가 상기 곡립의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호는, 상기 곡립의 측면으로서 표면측 또는 이면측 위치로부터의 반사광 및 투과광에 치우치지 않고, 상기 곡립의 측면 전체로부터의 반사광 및 투과광을 포함하는 것이 된다.In addition, the light receiving signal received by the second light receiving unit of the sensor from the side surface side of the grain is not biased to the reflected light and transmitted light from the surface side or back side position as the side surface of the grain, the reflected light from the entire side surface of the grain and transmitted light.

따라서, 본 발명의 곡립 품위 판별 장치에 있어서의 곡립으로부터의 광의 수광 방법에 의하면, 상기 센서의 제 2 수광부가 곡립의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호에 기초하여, 착색립 등의 품위의 판별을 적절히 실시하는 것이 가능해진다.Therefore, according to the method of receiving light from the grain in the grain quality discrimination device of the present invention, based on the light receiving signal received by the second light receiving unit of the sensor from the side surface of the grain, the quality of the colored grain or the like is appropriately determined. it becomes possible to carry out

본 발명의 상기한 및 그 밖의 목적 및 특징은, 첨부 도면을 참조한 이하의 실시예의 설명으로부터 분명해질 것이다. 그것들 도면 중 :
도 1 은, 본 발명의 실시형태에 있어서의 곡립 품위 판별 장치의 개략 설명도.
도 2 는, 광학부의 설명도이고, 도 1 의 A-A 단면 모식도.
도 3 은, 광학부의 설명도이고, 도 1 의 B-B 단면 모식도.
도 4 는, 실시예에 있어서의 곡립을 주사하는 모습의 설명도.
도 5 는, 실시예에 있어서의 광원의 점등과 수광 센서의 노광의 타이밍 차트.
도 6 은, 종래예에 있어서의 곡립을 주사하는 모습의 설명도.
도 7 은, 종래예에 있어서의 광원의 점등과 수광 센서의 노광의 타이밍 차트.The above and other objects and characteristics of the present invention will become clear from the following description of embodiments with reference to the accompanying drawings. Of those drawings:
1 is a schematic explanatory diagram of a grain quality discrimination device in an embodiment of the present invention.
Fig. 2 is an explanatory view of an optical unit, and is a schematic diagram of AA section in Fig. 1;
Fig. 3 is an explanatory view of an optical unit, and is a schematic cross-sectional view of BB in Fig. 1;
4 : is explanatory drawing of the state which scans the grain in an Example.
Fig. 5 is a timing chart of lighting of a light source and exposure of a light receiving sensor in an embodiment.
6 : is explanatory drawing of the state which scans the grain in a prior art example.
Fig. 7 is a timing chart of lighting of a light source and exposure of a light receiving sensor in a conventional example.

본 발명의 실시형태를 도면에 기초하여 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Embodiment of this invention is described based on drawing.

도 1 은, 본 발명의 실시형태에 있어서의 곡립 품위 판별 장치의 개략 설명도이고, 이송부 및 광학부의 평면도를 나타낸다.1 : is a schematic explanatory drawing of the grain quality discrimination apparatus in embodiment of this invention, and shows the top view of a conveyance part and an optical part.

본 발명의 실시형태에 있어서, 곡립 품위 판별 장치 (1) 는, 곡립을 이송하는 이송부 (2) 와, 상기 곡립에 광을 조사하고, 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 광학부 (3) 와, 상기 곡립의 품위를 판별하는 품위 판별부 (7) 를 구비한다.In the embodiment of the present invention, the grain quality discrimination device 1, the transport unit 2 for transporting the grains, and the optical unit for irradiating light to the grains and receiving reflected light and / or transmitted light from the grains ( 3) and a quality determining unit 7 that determines the quality of the grain.

상기 이송부 (2) 는, 도시하지 않은 구동 모터에 의해 회전 구동되는 원반 (21) 을 갖는다. 상기 원반 (21) 의 주연 위치에는 다수의 오목부 (22) 가 형성되고, 그 오목부 (22) 에는 투명한 바닥판 (23) 이 배치 형성되어 있다.The transfer part 2 has a disc 21 that is rotationally driven by a drive motor (not shown). A plurality of concave portions 22 are formed at the periphery of the disk 21, and a transparent bottom plate 23 is disposed in the concave portions 22.

상기 광학부 (3) 는, 상기 이송부 (2) 의 일측방에 배치 형성되어 있고, 상기 원반 (21) 의 회전에 따라 상기 원반 (21) 의 오목부 (22) 에 수용된 상태에서 연속하여 이송되어 오는 곡립에 광을 조사하고, 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하여 수광 신호를 취득한다.The optical part 3 is disposed on one side of the transfer part 2, and is continuously transported in a state accommodated in the concave portion 22 of the disc 21 according to the rotation of the disc 21, A light reception signal is acquired by irradiating light to an incoming grain and receiving reflected light and/or transmitted light from the grain.

상기 품위 판별부 (7) 는, 상기 광학부 (3) 에서 취득되는 상기 수광 신호에 기초하여 상기 곡립의 품위를 판별한다. 그 품위 판별부 (7) 에 대해서는, 예를 들어, 일본 공개특허공보 2003-42963호, 일본 공개특허공보 2002-202265호 등에 나타내는 바와 같은 구성 외에, 여러 가지 구성을 채용할 수 있다.The said quality judgment part 7 determines the quality of the said grain based on the said light reception signal acquired by the said optical part 3. For the quality determining unit 7, various configurations other than those shown in, for example, Japanese Unexamined Patent Publication No. 2003-42963 and Japanese Unexamined Patent Publication No. 2002-202265 can be employed.

도 2 및 도 3 은, 본 발명의 실시형태에 있어서의 곡립 품위 판별 장치의 광학부의 설명도이고, 도 2 는 도 1 의 A-A 단면 모식도, 도 3 은 도 1 의 B-B 단면 모식도를 나타낸다.2 and 3 are explanatory views of the optical portion of the grain quality discrimination device in the embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic cross-sectional view A-A in FIG. 1, and FIG. 3 is a schematic cross-sectional view B-B in FIG.

본 발명의 실시형태에 있어서, 상기 광학부 (3) 는, 광원 (31, 32), 수광 센서 (41, 42), 집광 렌즈 (47) 및 다이크로익 쇼트패스 필터 (51) 를 갖는다.In the embodiment of the present invention, the optical section 3 has light sources 31 and 32, light receiving sensors 41 and 42, a condensing lens 47 and a dichroic short-pass filter 51.

상기 광원은, 곡립 (G) 의 표면측에 배치 형성되는 광원 (이하, 「표면측 광원 (31)」이라고 한다.) 과, 곡립 (G) 의 이면측에 배치 형성되는 광원 (이하, 「이면측 광원 (32)」이라고 한다.) 으로 이루어진다.The light source is a light source arranged on the front side of the grain G (hereinafter referred to as "front side light source 31") and a light source arranged on the back side of the grain G (hereinafter referred to as "back side light source 31"). referred to as "the side light source 32").

상기 표면측 광원 (31) 은, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대하여 광축이 경사진 상태로 배치 형성되는 적색·녹색·청색 광원 (RGB 광원) (31a) 과, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대하여 광축이 상기 RGB 광원 (31a) 과 역방향으로 경사진 상태로 배치 형성되는 적색·녹색·청색 광원 (RGB 광원) (31b) 을 포함한다.The surface-side light source 31 includes a red/green/blue light source (RGB light source) 31a arranged with an optical axis inclined with respect to the rotational surface of the disk 21, and on the rotational surface of the disk 21 and a red/green/blue light source (RGB light source) 31b disposed in a state in which an optical axis is inclined in an opposite direction to that of the RGB light source 31a.

또한, 상기 이면측 광원 (32) 은, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대하여 광축이 대략 직교하는 상태로 배치 형성되는 청색 광원 (B 광원) (32a) 과, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대하여 광축이 경사진 상태로 배치 형성되는 녹색 광원 (G 광원) (32b) 과, 및 상기 원반 (21) 의 회전면에 대하여 광축이 상기 G 광원 (32b) 과 역방향으로 경사진 상태로 배치 형성되는 적색·녹색 광원 (RG 광원) (32c) 을 포함한다. 상기 청색 광원 (32a) 은, 곡립 (G) 의 평면 형상을 특정하기 위해서 필요한 청색광 (파장역 435 ∼ 500 ㎚ 의 단색광) 을 조사한다.In addition, the backside light source 32 includes a blue light source (light source B) 32a disposed in a state in which an optical axis is substantially orthogonal to the rotation surface of the master 21, and a rotation surface of the master 21 A green light source (G light source) 32b disposed with an optical axis inclined, and a red light source disposed with an optical axis inclined in a reverse direction from the G light source 32b with respect to the rotating surface of the disk 21 and a green light source (RG light source) 32c. The said blue light source 32a irradiates blue light (monochromatic light of a wavelength range of 435-500 nm) required in order to specify the planar shape of grain G.

여기서, 상기 각 광원에는, 각각 적색·녹색·청색의 각 LED 를 사용하지만, LED 이외의 다른 조명을 사용할 수도 있다.Here, each red, green, and blue LED is used for each of the above light sources, but illumination other than the LED can also be used.

상기 수광 센서는, 곡립 (G) 의 표면측으로서, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대하여 평행, 또한 상기 곡립 (G) 의 이송 방향과 직교하는 방향 (주주사 방향) 으로 주사 가능하게 배치 형성되는 표면측 센서 (41) 와, 상기 곡립 (G) 의 측면측으로서, 상기 원반 (21) 의 회전면에 대하여 직각, 또한 상기 곡립 (G) 의 이송 방향과 직교하는 방향 (주주사 방향) 으로 주사 가능하게 배치 형성되는 측면측 센서 (42) 로 이루어진다.The light receiving sensor is the surface side of the grain G, which is parallel to the rotational surface of the disk 21 and is arranged so as to be capable of scanning in a direction (main scanning direction) orthogonal to the transport direction of the grain G. With the side sensor 41, as the side surface side of the grain G, it is disposed so as to be capable of scanning in a direction orthogonal to the rotational surface of the disk 21 and orthogonal to the transport direction of the grain G (main scanning direction) It consists of a side-side sensor 42 formed.

상기 표면측 센서 (41) 는, 상기 청색 광원 (32a) 의 광축 상에 위치하고, 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 표면용 수광 영역 (a) 을 포함한다.The surface side sensor 41 is located on the optical axis of the blue light source 32a and includes a surface light receiving area a for receiving reflected light and/or transmitted light from the surface side of the grain G.

또한, 상기 측면측 센서 (42) 는, 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 측면용 수광 영역 (b), 및 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 이면용 수광 영역 (c) 을 포함한다.In addition, the side surface side sensor 42, the side light receiving area (b) for receiving the reflected light and transmitted light from the side surface side of the grain (G), and the reflected light from the back side of the grain (G) and / or and a light-receiving region (c) for the back surface for receiving transmitted light.

여기서, 상기 각 수광 센서 (41, 42) 에는, 리니어 이미지 센서 (라인 이미지 센서) 를 사용하지만, 그 밖의 수광 센서를 사용할 수도 있다.Here, a linear image sensor (line image sensor) is used for each of the light receiving sensors 41 and 42, but other light receiving sensors may be used.

또한, 상기 각 수광 센서 (41, 42) 의 각 수광 영역 (a ∼ c) 의 앞에는, 각각 집광 렌즈 (47) 가 배치 형성되어 있다.Further, in front of each of the light receiving regions a to c of each of the light receiving sensors 41 and 42, a condensing lens 47 is respectively disposed.

상기 다이크로익 쇼트패스 필터 (51) 는, 적색 (R)·녹색 (G)·청색 (B) 의 광의 삼원색 중에서 청색광을 투과하고, 녹색광 및 적색광을 반사하는 특성을 갖는 다이크로익 쇼트패스 필터 (51) 이고, 상기 곡립 (G) 의 이면측에 있어서, 그 곡립 (G) 과 상기 청색 광원 (32a) 사이에, 상기 원반 (21) 의 회전면 및 상기 측면측 센서 (42) 에 대하여 45 도의 경사각으로 배치 형성되어 있다.The dichroic short-pass filter 51 is a dichroic short-pass filter having characteristics of transmitting blue light and reflecting green light and red light among the three primary colors of red (R), green (G), and blue (B) light. (51), on the back side of the grain G, between the grain G and the blue light source 32a, an angle of 45 degrees with respect to the rotational surface of the disk 21 and the side sensor 42 They are arranged at an inclined angle.

여기서, 상기 다이크로익 쇼트패스 필터 (51) 는, 상기 이면측 광원 (32) 에 포함되는 상기 청색 광원 (32a) 으로부터 조사되는 청색광을 투과한다.Here, the dichroic short-pass filter 51 transmits the blue light emitted from the blue light source 32a included in the back side light source 32 .

그 때문에, 상기 표면측 센서 (41) 의 표면용 수광 영역 (a) 은, 곡립 (G) 의 평면 형상을 특정하기 위해서 필요한 상기 청색 광원 (32a) 으로부터의 상기 청색광의 투과광을 포함하여 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광할 수 있다.Therefore, the light-receiving region (a) for the surface of the surface side sensor 41 includes the transmitted light of the blue light from the blue light source 32a necessary for specifying the planar shape of the grain G, and the grain ( G) can receive reflected light and/or transmitted light from the surface side.

또한, 상기 다이크로익 쇼트패스 필터 (51) 는, 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광 중에서 청색 이외의 녹색광과 적색광을 상기 측면측 센서 (42) 를 향하여 반사한다.Further, the dichroic short-pass filter 51 reflects green light and red light other than blue out of the reflected light and/or transmitted light from the rear surface side of the grain G toward the sensor 42 on the side surface.

그 때문에, 상기 측면측 센서 (42) 의 이면용 수광 영역 (c) 은, 상기 곡립 (G) 의 이면측에 상기 청색 광원 (32a) 이 있음에도 불구하고, 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 청색광 이외의 반사광 및/또는 투과광을 수광할 수 있다.Therefore, the light-receiving region c for the back surface of the side surface side sensor 42 is from the back surface side of the grain G despite the fact that the blue light source 32a is present on the back surface side of the grain G. Reflected light and/or transmitted light other than blue light may be received.

[실시예][Example]

도 4 는, 광학부가 곡립을 주사하는 모습의 설명도로서, 수광 센서에 의해 곡립을 이송 방향 (부주사 방향) 으로 주사하는 모습의 설명도를 나타낸다. 도 5 는, 광학부에 있어서의 광원의 점등과 수광 센서의 노광의 타이밍 차트를 나타낸다.4 : is explanatory drawing of the state which an optical part scans a grain, and shows explanatory drawing of the state which scans a grain in a conveyance direction (sub-scanning direction) by the light receiving sensor. 5 shows a timing chart of lighting of a light source in an optical unit and exposure of a light receiving sensor.

본 발명의 곡립 품위 판별 장치에 있어서, 품위의 판별 대상이 되는 곡립 (G) 은, 이송부 (2) 에 있어서의 원반 (21) 의 회전에 따라, 상기 원반 (21) 의 오목부 (22) 에 수용된 상태로 광학부 (3) 를 향하여 연속적으로 이송된다.In the grain quality discrimination device of the present invention, the grain G, which is the object of discrimination of the quality, is moved to the concave portion 22 of the disk 21 according to the rotation of the disk 21 in the transfer unit 2. It is continuously conveyed toward the optical part 3 in a received state.

상기 광학부 (3) 에서는, 그 광학부 (3) 에 이송되어 오는 곡립 (G) 에 광을 조사하고, 그 곡립 (G) 으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하여 수광 신호를 취득한다.In the said optical part 3, light is irradiated to the grain G conveyed to the optical part 3, and the reflected light and/or transmitted light from the grain G is received and a light reception signal is acquired.

도 4 에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 실시예에서는, 표면측 센서 (41) 에 있어서 곡립 (G) 을 그 곡립 (G) 의 이송 방향 (부주사 방향) 으로 2 회 주사하는 동안에, 측면측 센서 (42) 에 있어서 상기 곡립 (G) 을 1 회 주사한다.As shown in Fig. 4, in the embodiment of the present invention, while scanning the grain G twice in the transport direction (sub-scanning direction) of the grain G in the front surface sensor 41, the side surface sensor In (42), the said grain G is scanned once.

구체적으로는, 도 5 에 나타내는 바와 같이, 상기 광학부 (3) 에 있어서, 표면측 광원 (31) 과 이면측 광원 (32) 은, 점등과 소등을 교대로 반복한다. 그리고, 표면측 센서 (41) 는, 상기 표면측 광원 (31) 과 이면측 광원 (32) 의 점등과 소등을 전환하는 타이밍에 맞춰 설정되는 노광 시간에 기초하여 노광을 반복하고, 상기 표면측 센서 (41) 의 표면용 수광 영역 (a) 에 있어서, 상기 표면측 광원 (31) 의 점등시 (1 주사째, 3 주사째, …) 에 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광을 수광하고, 상기 이면측 광원 (32) 의 점등시 (2 주사째, 4 주사째, …) 에 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 투과광을 수광한다.Specifically, as shown in FIG. 5 , in the optical unit 3, the front light source 31 and the back light source 32 alternately turn on and off. Then, the front sensor 41 repeats exposure based on an exposure time set according to the timing for switching between turning on and off the front light source 31 and the rear light source 32, and the front sensor In the surface light-receiving region (a) of (41), the reflected light from the surface side of the grain G is received at the time of lighting of the surface-side light source 31 (first scan, third scan, ...), , The transmitted light from the surface side of the said grain G is received at the time of lighting of the said back side light source 32 (2nd scan, 4th scan...).

측면측 센서 (42) 는, 상기 표면측 광원 (31) 과 이면측 광원 (32) 의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 상기 각 광원을 소정 횟수 (도 5 의 예에서는 각 1 회) 점등시키는 타이밍에 맞춰 설정되는 노광 시간에 기초하여 노광을 반복한다. 그리고, 상기 측면측 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 에 있어서, 상기 표면측 광원 (31) 의 점등시 및 이면측 광원 (32) 의 점등시 (1 주사째, 2 주사째, …) 에 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광한다. 또한, 상기 측면측 센서 (42) 의 이면용 수광 영역 (c) 에 있어서, 상기 표면측 광원 (31) 의 점등시 및 이면측 광원 (32) 의 점등시에 상기 다이크로익 쇼트패스 필터 (51) 를 통해 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광한다.The side surface side sensor 42 couples successive alternating lighting of the front light source 31 and the back side light source 32, and turns on each of the light sources a predetermined number of times (once each in the example of FIG. 5). Exposure is repeated based on the exposure time set according to the timing to be ordered. Then, in the light-receiving region (b) for the side surface of the side surface side sensor 42, when the front light source 31 is turned on and when the back light source 32 is turned on (first scan, second scan, . . . ) to continuously receive reflected light and transmitted light from the side surface side of the grain (G). Further, in the light-receiving region (c) for the back surface of the side surface side sensor 42, the dichroic short-pass filter 51 ) through which the reflected light and transmitted light from the back side of the grain (G) are continuously received.

본 발명의 실시예에서는, 측면측 센서 (42) 의 노광 시간을 표면측 센서 (41) 와 상이하게 하여 길게 설정하기 때문에, 상기 측면측 센서 (42) 가 측면용 수광 영역 (b) 에 있어서 수광하는 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 수광량이 증가하고, 상기 측면측 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 이 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호가, 착색립 등의 품위를 판별하는 데에 충분한 광량이 된다.In the embodiment of the present invention, since the exposure time of the side sensor 42 is set longer than that of the front sensor 41, the side sensor 42 receives light in the side light receiving area b. The amount of light received from the side surface of the grain G increases, and the light receiving signal for the side surface of the side sensor 42 (b) receives light from the side surface of the grain G, such as colored grains The amount of light is sufficient to determine the quality of

또한, 본 발명의 실시예에서는, 측면측 센서 (42) 의 노광 시간을, 상기 표면측 광원 (31) 과 이면측 광원 (32) 의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 상기 각 광원을 소정 횟수 점등시키는 타이밍에 맞춰 설정하기 때문에, 상기 측면측 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 이 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호가, 상기 곡립 (G) 의 측면으로서 표면측 또는 이면측 위치로부터의 반사광 및 투과광에 치우치지 않고, 상기 곡립 (G) 의 측면 전체로부터의 반사광 및 투과광을 포함하는 것이 된다.Further, in the embodiment of the present invention, the exposure time of the side surface side sensor 42 is determined by setting the continuous alternate lighting of the front side light source 31 and the back side light source 32 as a pair, and setting each light source to a predetermined value. Since it is set according to the timing of lighting the number of times, the light-receiving signal that the light-receiving region (b) for the side surface of the side surface side sensor 42 receives light from the side surface side of the grain G is the surface as the side surface of the grain G The reflected light and transmitted light from the entire side surface of the grain G are included without being biased toward the reflected light and transmitted light from the side or back surface side position.

따라서, 본 발명의 실시예에 의하면, 상기 측면측 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 이 곡립 (G) 의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호에 기초하여, 착색립 등의 품위의 판별을 적절히 실시하는 것이 가능해진다.Therefore, according to the embodiment of the present invention, the light-receiving area for the side of the side sensor 42 (b) based on the light-receiving signal received from the side of the grain (G), to determine the quality of colored grains, etc. It becomes possible to carry out appropriately.

또, 상기 측면측 센서 (42) 의 노광 시간은, 상기 표면측 광원 (31) 과 이면측 광원 (32) 의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 상기 각 광원을 소정 횟수 (도 5 의 예에서는 각 1 회) 점등시키는 타이밍에 맞춰 설정되지만, 상기 각 광원의 점등 횟수는, 상기 측면측 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 이 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호로부터 곡립 측면에 있어서의 당해 곡립 (G) 의 특징을 명료하게 추출할 수 있는 분해능의 범위 내에서 적절히 정할 수 있다.In addition, the exposure time of the side surface side sensor 42 is determined by setting each of the light sources to a predetermined number of times (example in FIG. is set according to the timing of lighting each once), but the number of times of lighting of each light source is the light-receiving signal that the light-receiving region (b) for the side surface of the side-side sensor 42 receives light from the side surface side of the grain G It can be appropriately determined within the range of the resolution that can clearly extract the characteristics of the grain (G) in the grain side from the grain side.

[종래예][Conventional example]

도 7 은, 광학부가 곡립을 주사하는 모습의 설명도를 나타낸다. 도 7 은, 광학부에 있어서의 광원의 점등과 수광 센서의 노광의 타이밍 차트를 나타낸다.7 : shows explanatory drawing of the mode that an optical part scans a grain. Fig. 7 shows a timing chart of lighting of a light source in an optical unit and exposure of a light receiving sensor.

도 6 에 나타내는 바와 같이, 종래예에서는, 표면측 센서 (41) 에 있어서 곡립 (G) 을 그 곡립 (G) 의 이송 방향 (부주사 방향) 으로 1 회 주사하는 동안에, 측면측 센서 (42) 에 있어서도 상기 곡립 (G) 을 1 회 주사한다.As shown in FIG. 6, in the conventional example, while scanning the grain G once in the conveying direction (sub-scanning direction) of the grain G in the surface side sensor 41, the side surface side sensor 42 Also in, the said grain G is scanned once.

구체적으로는, 도 7 에 나타내는 바와 같이, 상기 광학부 (3) 에 있어서, 표면측 광원 (31) 과 이면측 광원 (32) 은, 점등과 소등을 교대로 반복한다. 그리고, 표면측 센서 (41) 는, 상기 표면측 광원 (31) 과 이면측 광원 (32) 의 점등과 소등을 전환하는 타이밍에 맞춰 설정되는 노광 시간에 기초하여 노광을 반복하고, 상기 표면측 센서 (41) 의 표면용 수광 영역 (a) 에 있어서, 상기 표면측 광원 (31) 의 점등시 (1 주사째, 3 주사째, …) 에 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 반사광을 수광하고, 상기 이면측 광원 (32) 의 점등시 (2 주사째, 4 주사째, …) 에 상기 곡립 (G) 의 표면측으로부터의 투과광을 수광한다.Specifically, as shown in FIG. 7 , in the optical unit 3, the front light source 31 and the back light source 32 alternately turn on and off. Then, the front sensor 41 repeats exposure based on an exposure time set according to the timing for switching between turning on and off the front light source 31 and the rear light source 32, and the front sensor In the surface light-receiving region (a) of (41), the reflected light from the surface side of the grain G is received at the time of lighting of the surface-side light source 31 (first scan, third scan, ...), , The transmitted light from the surface side of the said grain G is received at the time of lighting of the said back side light source 32 (2nd scan, 4th scan...).

측면측 센서 (42) 도, 상기 표면측 광원 (31) 과 이면측 광원 (32) 의 점등과 소등을 전환하는 타이밍에 맞춰 설정되는 노광 시간에 기초하여 노광을 반복한다. 그리고, 상기 측면측 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 에 있어서, 상기 표면측 광원 (31) 의 점등시 (1 주사째, 3 주사째, …) 에 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하고, 상기 이면측 광원 (32) 의 점등시 (2 주사째, 4 주사째, …) 에 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광한다. 또한, 상기 측면측 센서 (42) 의 이면용 수광 영역 (c) 에 있어서, 상기 표면측 광원 (31) 의 점등시 (1 주사째, 3 주사째, …) 에 상기 다이크로익 쇼트패스 필터 (51) 를 통해 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 투과광을 수광하고, 상기 이면측 광원 (32) 의 점등시 (2 주사째, 4 주사째, …) 에 상기 다이크로익 쇼트패스 필터 (51) 를 통해 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광을 수광한다.The side surface sensor 42 also repeats exposure based on the exposure time set according to the timing for switching between turning on and off the front light source 31 and the rear light source 32. And, in the light-receiving region (b) for the side surface of the side surface side sensor 42, the side surface side of the grain G at the time of lighting of the surface side light source 31 (first scan, third scan, ...) Receives reflected light and transmitted light from, and receives reflected light and transmitted light from the side surface side of the grain G at the time of lighting of the back side light source 32 (second scan, fourth scan, ...). Further, in the light-receiving region c for the back surface of the side surface side sensor 42, the dichroic short-pass filter ( 51) to receive transmitted light from the back side of the grain G, and when the back side light source 32 is turned on (second scan, fourth scan, ...), the dichroic short-pass filter (51 ) Receives the reflected light from the back side of the grain (G) through.

종래예에서는, 측면측 센서 (42) 의 노광 시간을 표면측 센서 (41) 와 동일한 길이로 설정하기 때문에, 상기 측면측 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 에 있어서 수광하는 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터의 수광량이 작고, 상기 측면측 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 이 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호가, 착색립 등의 품위를 판별하는 데에 충분한 광량은 아니다.In the conventional example, since the exposure time of the side sensor 42 is set to the same length as that of the front surface sensor 41, the grain receiving light in the light receiving area b for the side surface of the side sensor 42 ( The amount of light received from the side surface side of G) is small, and the light receiving signal received from the side surface side of the grain G by the light receiving area (b) for the side surface of the side surface sensor 42 determines the quality of colored grains and the like. Not enough light for that.

또한, 종래예에서는, 상기 측면측 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 이 상기 곡립 (G) 의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호는, 표면측 광원 (31) 의 점등시에는 곡립 (G) 의 표면측, 이면측 광원 (32) 의 점등시에는 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광 및 투과광에 치우치는 것이 된다.In the conventional example, the light-receiving signal that the light-receiving region (b) for the side surface of the side-side sensor 42 receives light from the side surface side of the grain G is, at the time of lighting of the surface-side light source 31, the grain (G At the time of lighting of the surface side of ) and the back side light source 32, it becomes biased toward the reflected light and transmitted light from the back side of the grain G.

따라서, 종래예에 의하면, 상기 측면측 센서 (42) 의 측면용 수광 영역 (b) 이 곡립 (G) 의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호에 기초하여, 착색립 등의 품위의 판별을 적절히 실시할 수 없다.Therefore, according to the conventional example, based on the light receiving signal received from the side surface side of the grain grain G by the light receiving area b for the side surface of the side surface side sensor 42, it is possible to appropriately determine the quality of colored grains and the like. can't

상기 본 발명의 실시형태에 있어서의 곡립 품위 판별 장치는, 1 개의 광학부 (3) 가, 곡립 (G) 의 표면, 이면 및 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 동시에 수광하는 것이었지만, 예를 들어, 일본 공개특허공보 2003-42963호, 일본 공개특허공보 2002-202265호 등에 나타내는 바와 같이, 2 개의 광학부가, 예를 들어 곡립 (G) 의 표면 및 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광과, 곡립 (G) 의 이면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 각각 수광하는 것이어도 된다.In the grain quality discrimination device in the embodiment of the present invention described above, one optical unit 3 simultaneously receives reflected light and/or transmitted light from the surface, back surface and side surface of the grain G, but for example For example, as shown in Unexamined-Japanese-Patent No. 2003-42963, Unexamined-Japanese-Patent No. 2002-202265, etc., two optical parts, for example, reflected light and/or transmitted light from the surface and side surface of grain G, and grain (G) may respectively receive reflected light and/or transmitted light from the back surface.

또, 상기 본 발명의 실시형태에 있어서의 곡립 품위 판별 장치와 같이, 1 개의 광학부 (3) 가, 곡립 (G) 의 표면, 이면 및 측면으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 동시에 수광하는 경우라도, 곡립 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 측면용 수광 영역 (b) 과 곡립 이면측으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 이면용 수광 영역 (c) 이 각각 별개의 센서에 포함되는 경우에는, 이면용 수광 영역 (c) 은, 상기 표면측 센서 (41) 의 표면용 수광 영역 (a) 과 동일하게, 이면측 광원 (32) 의 점등시에 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 반사광을 수광하고, 표면측 광원 (31) 의 점등시에 상기 곡립 (G) 의 이면측으로부터의 투과광을 수광하는 것으로 할 수 있다.In addition, as in the grain quality discrimination device in the above embodiment of the present invention, even when one optical unit 3 simultaneously receives reflected light and/or transmitted light from the front, back and side surfaces of the grain G , When the side light receiving area (b) for receiving the reflected light and transmitted light from the side surface of the grain and the light receiving area for the back surface (c) for receiving the reflected light and / or transmitted light from the back side of the grain are included in separate sensors, respectively , the back surface light-receiving region (c), like the surface light-receiving region (a) of the front surface-side sensor 41, reflects light reflected from the back surface side of the grain G when the back-side light source 32 is turned on. It can receive light and receive transmitted light from the back surface side of the said grain G at the time of lighting of the surface side light source 31.

본 발명은, 상기 실시형태에 한정되는 것이 아니고, 발명의 범위를 일탈하지 않는 한, 그 구성을 적절히 변경할 수 있는 것은 말할 필요도 없다.It goes without saying that the present invention is not limited to the above embodiment, and the configuration can be appropriately changed as long as it does not deviate from the scope of the present invention.

본 발명의 곡립 품위 판별 장치 및 그 장치에 있어서의 곡립으로부터의 광의 수광 방법에 의하면, 센서가 곡립의 측면측으로부터 수광하는 수광 신호에 기초하여, 착색립 등의 품위의 판별을 적절히 실시할 수 있기 때문에, 매우 실용성이 높다.According to the grain quality discrimination device of the present invention and the method for receiving light from the grain in the apparatus, based on the light receiving signal received by the sensor from the side surface of the grain, the quality of colored grains and the like can be appropriately determined. Because of this, it is very practical.

이상, 본 발명의 실시형태에 대해서 설명했지만, 본 발명은 상기 서술한 실시형태의 예에 한정되지 않고, 적절한 변경을 가함으로써, 그 밖의 양태로 실시할 수 있다.As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to the example of embodiment mentioned above, By adding an appropriate change, it can be implemented in other aspects.

Claims (6)

곡립을 이송하는 이송부와,
상기 이송부에서 이송되는 곡립에 광을 조사하는 광원, 상기 광원으로부터 조사된 광의 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 센서를 갖는 광학부와,
상기 센서의 수광 신호에 기초하여 상기 곡립의 품위를 판별하는 품위 판별부를 구비하는 곡립 품위 판별 장치에 있어서,
상기 광학부는,
상기 광원이, 교대로 점등과 소등을 반복하는 2 세트의 광원으로서,
상기 곡립의 일면측에 배치 형성되어 그 곡립의 일면측으로부터 광을 조사하는 제 1 광원과,
상기 곡립의 타면측에 배치 형성되어 그 곡립의 타면측으로부터 광을 조사하는 제 2 광원을 갖고,
상기 센서가,
각 상기 광원의 점등과 소등을 전환하는 타이밍에 맞춰 노광 시간이 설정되어 이루어지고, 상기 노광 시간에 기초하여, 상기 제 1 광원의 점등시에 상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광을 수광하고, 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 곡립의 일면측으로부터의 투과광을 수광하는 제 1 수광부와,
각 상기 광원의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 각 상기 광원을 소정 횟수 점등시키는 타이밍에 맞춰 노광 시간이 설정되어 이루어지고, 상기 노광 시간에 기초하여, 상기 제 1 광원의 점등시 및 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광하는 제 2 수광부를 포함하는 것을 특징으로 하는 곡립 품위 판별 장치.A conveying unit for conveying the grain;
An optical unit having a light source for irradiating light to the grains transferred from the transfer unit, and a sensor for receiving reflected light and / or transmitted light from the grains of the light irradiated from the light source;
In the grain quality discrimination device having a quality determination unit for determining the quality of the grain based on the light reception signal of the sensor,
The optical part,
As two sets of light sources in which the light sources alternately turn on and off,
A first light source disposed on one surface side of the grain and radiating light from the one surface side of the grain;
It is arranged and formed on the other side of the grain and has a second light source for irradiating light from the other side of the grain,
the sensor,
The exposure time is set according to the timing of switching on and off of each of the light sources, and based on the exposure time, receiving reflected light from one side of the grain when the first light source is turned on, and the first light source is turned on. A first light receiving unit for receiving transmitted light from one surface side of the grain at the time of lighting of two light sources;
The exposure time is set according to the timing of lighting each of the light sources a predetermined number of times by pairing successive alternate lighting of each of the light sources, and based on the exposure time, when the first light source is turned on and the second Grain quality determination device characterized in that it comprises a second light receiving unit for continuously receiving reflected light and transmitted light from the side surface of the grain when the light source is turned on. 제 1 항에 있어서,
상기 광원은, 상기 제 2 광원이 상기 곡립의 타면에 대하여 수직이 되는 위치에 배치 형성되는 소정 파장의 특정광을 조사하는 특정 광원을 포함하고,
상기 곡립의 타면측에는, 상기 특정 광원이 조사하는 상기 특정광을 투과하는 광학 필터가 배비되어 이루어지고,
상기 센서는, 각 상기 광원의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 각 상기 광원을 소정 횟수 점등시키는 타이밍에 맞춰 노광 시간이 설정되어 이루어지고, 상기 노광 시간에 기초하여, 상기 제 1 광원의 점등시 및 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 광학 필터를 통해 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광하는 제 3 수광부를 추가로 포함하는 곡립 품위 판별 장치.According to claim 1,
The light source includes a specific light source for irradiating a specific light of a predetermined wavelength formed at a position where the second light source is perpendicular to the other surface of the grain,
On the other side of the grain, an optical filter that transmits the specific light irradiated by the specific light source is arranged,
In the sensor, the exposure time is set according to the timing of lighting each of the light sources a predetermined number of times by pairing successive alternate lighting of the light sources, and based on the exposure time, the first light source is turned on Grain quality determination device further comprising a third light receiving unit for continuously receiving the reflected light and transmitted light from the other surface side of the grain through the optical filter when and when the second light source is turned on. 제 2 항에 있어서,
상기 센서는, 곡립의 일면측에 배치 형성되고, 상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광 또는 투과광을 수광하는 상기 제 1 수광부를 포함하는 제 1 센서와, 곡립의 측면측에 배치 형성되고, 상기 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 상기 제 2 수광부, 및 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 상기 제 3 수광부를 포함하는 제 2 센서로 이루어지는 곡립 품위 판별 장치.According to claim 2,
The sensor is disposed on one side of the grain, and the first sensor including the first light receiving unit for receiving the reflected light or transmitted light from the one surface side of the grain, and disposed on the side surface of the grain, of the grain The second light receiving unit for receiving the reflected light and transmitted light from the side surface side, and the third light receiving unit for receiving the reflected light and transmitted light from the other surface side of the grain Grain quality determination device consisting of a second sensor including a. 곡립을 이송하는 이송부와,
상기 이송부에서 이송되는 곡립에 광을 조사하는 광원, 상기 광원으로부터 조사된 광의 상기 곡립으로부터의 반사광 및/또는 투과광을 수광하는 센서를 갖는 광학부와,
상기 센서의 수광 신호에 기초하여 상기 곡립의 품위를 판별하는 품위 판별부를 구비하는 곡립 품위 판별 장치로서,
그 곡립 품위 판별 장치에 있어서의 곡립으로부터의 광의 수광 방법에 있어서,
상기 광학부는,
상기 광원이,
상기 곡립의 일면측으로부터 광을 조사하는 제 1 광원과,
상기 곡립의 타면측으로부터 광을 조사하는 제 2 광원을 갖고,
상기 센서가,
상기 곡립의 일면측으로부터의 반사광 또는 투과광을 수광하는 제 1 수광부와,
상기 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 제 2 수광부를 포함하여 이루어지고,
상기 광원은, 상기 제 1 광원과 상기 제 2 광원이 점등과 소등을 교대로 반복하고,
상기 제 1 수광부는, 각 상기 광원의 점등과 소등을 전환하는 타이밍에 맞춰 설정되는 노광 시간에 기초하여, 상기 제 1 광원의 점등시에 상기 이송부에서 이송되는 곡립의 일면측으로부터의 반사광, 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 곡립의 일면측으로부터의 투과광을 순차 수광하고,
상기 제 2 수광부는, 각 상기 광원의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 각 상기 광원을 소정 횟수 점등시키는 타이밍에 맞춰 설정되는 노광 시간에 기초하여, 상기 제 1 광원의 점등시 및 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 이송부에서 이송되는 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광하는 것을 특징으로 하는 곡립 품위 판별 장치에 있어서의 곡립으로부터의 광의 수광 방법.A conveying unit for conveying the grain;
An optical unit having a light source for irradiating light to the grains transferred from the transfer unit, and a sensor for receiving reflected light and / or transmitted light from the grains of the light irradiated from the light source;
As a grain quality discrimination device having a quality discrimination unit for determining the quality of the grain based on the light reception signal of the sensor,
In the method of receiving light from the grain in the grain quality discrimination device,
The optical part,
the light source,
A first light source for irradiating light from one side of the grain;
Has a second light source for irradiating light from the other side of the grain,
the sensor,
A first light receiving unit for receiving reflected light or transmitted light from one surface side of the grain;
It comprises a second light receiving unit for receiving reflected light and transmitted light from the side surface of the grain,
In the light source, the first light source and the second light source alternately turn on and off,
The first light receiving unit, based on the exposure time set according to the timing of switching on and off of each of the light sources, reflected light from one surface side of the grains transferred from the transfer unit when the first light source is turned on, the first When the two light sources are turned on, the transmitted light is sequentially received from one side of the grain,
The second light-receiving unit sets successive alternating lighting of the light sources as a pair, and based on an exposure time set according to timing of lighting each of the light sources a predetermined number of times, when the first light source is turned on and when the second light source is turned on. Light receiving method from the grain in the grain quality discrimination device, characterized in that for continuously receiving the reflected light and the transmitted light from the side surface of the grain conveyed in the transfer unit when the light source is turned on. 제 4 항에 있어서,
상기 광원은, 상기 제 2 광원이 상기 곡립의 타면에 대하여 수직이 되는 위치에 배치 형성되는 소정 파장의 특정광을 조사하는 특정 광원을 포함하고,
상기 곡립의 타면측에는, 상기 특정 광원이 조사하는 상기 특정광을 투과하는 광학 필터가 배비되어 이루어지고,
상기 센서는, 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 제 3 수광부를 추가로 포함하고,
상기 제 3 수광부는, 각 상기 광원의 연속되는 교대의 점등을 쌍으로 하여, 각 상기 광원을 소정 횟수 점등시키는 타이밍에 맞춰 설정되는 노광 시간에 기초하여, 상기 제 1 광원의 점등시 및 상기 제 2 광원의 점등시에 상기 광학 필터를 통해 상기 이송부에서 이송되는 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및 투과광을 연속하여 수광하는 곡립 품위 판별 장치에 있어서의 곡립으로부터의 광의 수광 방법.According to claim 4,
The light source includes a specific light source for irradiating a specific light of a predetermined wavelength formed at a position where the second light source is perpendicular to the other surface of the grain,
On the other side of the grain, an optical filter that transmits the specific light irradiated by the specific light source is arranged,
The sensor further comprises a third light receiving unit for receiving reflected light and transmitted light from the other side of the grain,
The third light-receiving unit couples successive alternating lighting of the light sources, and based on an exposure time set according to the timing of lighting each of the light sources a predetermined number of times, when the first light source is turned on and when the second light source is turned on. Light receiving method from the grain in the grain quality discrimination device for continuously receiving reflected light and transmitted light from the other surface side of the grain transferred from the transfer unit through the optical filter when the light source is turned on. 제 5 항에 있어서,
상기 센서는, 곡립의 일면측으로부터의 반사광 또는 투과광을 수광하는 상기 제 1 수광부를 포함하는 제 1 센서와, 곡립의 측면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 상기 제 2 수광부, 및 상기 곡립의 타면측으로부터의 반사광 및 투과광을 수광하는 상기 제 3 수광부를 포함하는 제 2 센서로 이루어지는 곡립 품위 판별 장치에 있어서의 곡립으로부터의 광의 수광 방법.According to claim 5,
The sensor, the first sensor including the first light receiving portion for receiving the reflected light or transmitted light from one side of the grain, the second light receiving portion for receiving the reflected light and transmitted light from the side surface of the grain, and the other surface of the grain A method for receiving light from grains in a grain quality discrimination device comprising a second sensor including the third light receiving unit for receiving reflected light and transmitted light from the side.
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