KR102420443B1 - Plasma spectrochemical analysis method and plasma spectrochemical analyzer - Google Patents

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Abstract

[과제] 간편하고 분석 감도가 높은 플라즈마 분광 분석 방법을 제공한다.
[해결수단] 본 발명의 플라즈마 분광 분석 방법은, 시료의 존재하에, 한쌍의 전극에 대한 전압 인가에 의해, 적어도 하나의 전극의 근방에 상기 시료 중의 분석 대상물을 농축하는 농축 공정, 및 상기 한쌍의 전극에 대한 전압 인가에 의해 플라즈마를 발생시키고, 상기 플라즈마에 의해 생긴 상기 분석 대상물의 발광을 검출하는 검출 공정을 포함하는 것을 특징으로 한다.
[Task] To provide a simple and highly sensitive plasma spectroscopy analysis method.
[Solutions] The plasma spectroscopic analysis method of the present invention comprises a concentration step of concentrating an analyte in the sample in the vicinity of at least one electrode by applying a voltage to the pair of electrodes in the presence of the sample, and and a detection step of generating plasma by applying a voltage to the electrode and detecting light emission of the analyte generated by the plasma.

Description

플라즈마 분광 분석 방법 및 플라즈마 분광 분석 장치{PLASMA SPECTROCHEMICAL ANALYSIS METHOD AND PLASMA SPECTROCHEMICAL ANALYZER}Plasma spectroscopic analysis method and plasma spectroscopic analysis apparatus TECHNICAL FIELD

본 발명은, 플라즈마 분광 분석 방법 및 플라즈마 분광 분석 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a plasma spectroscopic analysis method and a plasma spectroscopic analysis apparatus.

시료 중의 분석 대상물을 분석하는 방법으로서, 플라즈마 발광을 이용한 분석 방법이 알려져 있다. 상기 분석 방법에 관해, 특허문헌 1에는, 고주파 플라즈마 질량 분석 장치를 이용하여 시료를 분석하는 방법이 개시되어 있다. 또한, 특허문헌 2 및 3에는, 협소부를 갖는 플라즈마 발생 장치를 이용하여 시료 중에서 플라즈마를 발생시키고, 플라즈마 발광을 분석함으로써 시료를 분석하는 방법이 개시되어 있다. 또한, 특허문헌 4 및 5에는, 액체의 시료 중에서 플라즈마를 발생시키고, 플라즈마 발광을 분석함으로써 시료를 분석하는 방법이 개시되어 있다. As a method of analyzing an analyte in a sample, an analysis method using plasma emission is known. Regarding the above analysis method, Patent Document 1 discloses a method of analyzing a sample using a high-frequency plasma mass spectrometer. Further, Patent Documents 2 and 3 disclose a method of analyzing a sample by generating plasma in a sample using a plasma generating device having a narrow portion and analyzing plasma emission. Further, Patent Documents 4 and 5 disclose a method of analyzing a sample by generating plasma in a liquid sample and analyzing plasma emission.

그러나, 특허문헌 1의 방법에서는, 적절한 전처리를 행하지 않으면, 다른 물질의 혼입에 의해 분석 결과가 변한다고 하는 문제가 있었다. 또한, 특허문헌 2 및 3의 방법에서는, 협잡물이 있는 시료를 사용한 경우, 및 시료의 액량을 줄이는 전처리를 할 때에 이물질 등이 혼입된 경우, 상기 협잡물 및 상기 이물질이 상기 협소부를 막아서 측정할 수 없게 된다고 하는 문제가 있었다. 또한, 특허문헌 4 및 5의 방법에서는, 분석 감도가 낮다고 하는 문제가 있었다. However, in the method of Patent Document 1, there is a problem that the analysis result changes due to mixing of other substances unless appropriate pretreatment is performed. In addition, in the methods of Patent Documents 2 and 3, when a sample with contaminants is used, and when a foreign material or the like is mixed during pretreatment to reduce the liquid amount of the sample, the contaminants and the foreign material block the narrow part so that the measurement cannot be performed. There was a problem that Moreover, in the method of patent documents 4 and 5, there existed a problem that an analysis sensitivity was low.

특허문헌 1 : 일본 특허 공개 제2009-128315호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-128315 특허문헌 2 : 일본 특허 공개 제2011-180045호 공보Patent Document 2: Japanese Patent Laid-Open No. 2011-180045 특허문헌 3 : 일본 특허 공개 제2012-185064호 공보Patent Document 3: Japanese Patent Laid-Open No. 2012-185064 특허문헌 4 : 국제 공개 제2006/059808호Patent Document 4: International Publication No. 2006/059808 특허문헌 5 : 국제 공개 제2011/099247호Patent Document 5: International Publication No. 2011/099247

따라서, 본 발명은, 간편하고 분석 감도가 높은 플라즈마 분광 분석 방법의 제공을 목적으로 한다. Accordingly, an object of the present invention is to provide a plasma spectroscopic analysis method that is simple and has high analysis sensitivity.

상기 본 발명의 과제를 해결하기 위해, 본 발명의 플라즈마 분광 분석 방법(이하, 「분석 방법」이라고도 함)은, In order to solve the problem of the present invention, the plasma spectroscopic analysis method of the present invention (hereinafter also referred to as "analysis method") is,

시료의 존재하에, 한쌍의 전극에 대한 전압 인가에 의해, 적어도 하나의 전극의 근방에 상기 시료 중의 분석 대상물을 농축하는 농축 공정, 및 a concentration step of concentrating the analyte in the sample in the vicinity of at least one electrode by applying a voltage to the pair of electrodes in the presence of the sample; and

상기 한쌍의 전극에 대한 전압 인가에 의해 플라즈마를 발생시키고, 상기 플라즈마에 의해 생긴 상기 분석 대상물의 발광을 검출하는 검출 공정을 포함하는 것을 특징으로 한다. and a detection step of generating plasma by applying a voltage to the pair of electrodes, and detecting light emission of the analyte generated by the plasma.

본 발명의 플라즈마 분광 분석 장치(이하, 「분석 장치」라고도 함)는, 한쌍의 전극, 용기 및 수광부를 포함하고, The plasma spectroscopy apparatus (hereinafter also referred to as "analysis apparatus") of the present invention includes a pair of electrodes, a container, and a light receiving unit,

상기 용기는 투광부를 포함하고, The container includes a light-transmitting part,

상기 한쌍의 전극은 상기 용기 내에 배치되고, The pair of electrodes is disposed in the container,

상기 용기의 외부에는, 상기 한쌍의 전극에 대한 전압 인가에 의해 발생한 발광을, 상기 투광부를 통해서 상기 분석 대상물의 발광을 수광 가능한 수광부가 배치되고, A light receiving unit capable of receiving light emitted by voltage application to the pair of electrodes and light emitted from the analyte through the light transmitting unit is disposed outside the container;

상기 본 발명의 플라즈마 분광 분석 방법에 사용하는 것을 특징으로 한다. It is characterized in that it is used in the plasma spectroscopic analysis method of the present invention.

본 발명의 플라즈마 분광 분석 방법은, 간편하고 분석 감도가 높다. 이 때문에, 본 발명의 플라즈마 분광 분석 방법에 의하면, 예컨대 시료에 전처리를 행하지 않고, 간편하고 높은 감도로 시료를 분석할 수 있다. The plasma spectroscopic analysis method of the present invention is simple and has high analysis sensitivity. For this reason, according to the plasma spectroscopic analysis method of the present invention, for example, a sample can be analyzed simply and with high sensitivity without pre-processing the sample.

도 1의 (A)는, 본 발명의 분석 장치의 실시형태에서의 분석 장치의 모식 투시 사시도를 나타내고, (B)는, 도 1의 (A)의 I-I 방향에서 본 모식 단면도이다.
도 2는, 본 발명의 실시예 1에서의 수은 피크 부근의 스펙트럼을 나타내는 그래프이다.
도 3은, 본 발명의 실시예 1에서의 수은 농도와 수은 피크에서의 카운트치의 상관을 나타내는 그래프이다.
도 4는, 본 발명의 실시예 2에서의 납 피크 부근의 스펙트럼을 나타내는 그래프이다.
도 5는, 본 발명의 실시예 2에서의 납 농도와 납 피크에서의 카운트치의 상관을 나타내는 그래프이다.
도 6은, 본 발명의 실시예 3에서의 카드뮴 피크 부근의 스펙트럼을 나타내는 그래프이다.
도 7의 (A)는, 본 발명의 실시예 4에서의 10 ppb의 수은 용액을 분석했을 때의 스펙트럼을 나타내는 그래프이고, (B)는, 협소부를 가진 분석 장치에 있어서, 5 ppm의 수은 용액을 분석했을 때의 스펙트럼을 나타내는 그래프이다.
Fig. 1(A) is a schematic perspective perspective view of an analysis apparatus in an embodiment of the analysis apparatus of the present invention, and (B) is a schematic cross-sectional view viewed from the II direction in Fig. 1(A).
Fig. 2 is a graph showing a spectrum in the vicinity of the mercury peak in Example 1 of the present invention.
3 is a graph showing the correlation between the mercury concentration and the count value at the mercury peak in Example 1 of the present invention.
4 is a graph showing a spectrum in the vicinity of the lead peak in Example 2 of the present invention.
5 is a graph showing the correlation between the lead concentration and the count value at the lead peak in Example 2 of the present invention.
6 : is a graph which shows the spectrum of the cadmium peak vicinity in Example 3 of this invention.
Fig. 7 (A) is a graph showing the spectrum when the 10 ppb mercury solution in Example 4 of the present invention is analyzed, and (B) is a 5 ppm mercury solution in the analysis device having a narrow section. It is a graph showing the spectrum when analyzed.

<플라즈마 분광 분석 방법> <Plasma spectroscopy analysis method>

본 발명의 플라즈마 분광 분석 방법은, 전술한 바와 같이, 시료의 존재하에, 한쌍의 전극에 대한 전압 인가에 의해, 적어도 하나의 전극의 근방에 상기 시료 중의 분석 대상물을 농축하는 농축 공정, 및 상기 한쌍의 전극에 대한 전압 인가에 의해 플라즈마를 발생시키고, 상기 플라즈마에 의해 생긴 상기 분석 대상물의 발광을 검출하는 검출 공정을 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명의 분석 방법은, 상기 농축 공정 및 상기 검출 공정을 포함하는 것이 특징이며, 그 밖의 공정 및 조건은 특별히 제한되지 않는다. As described above, the plasma spectroscopic analysis method of the present invention includes a concentration step of concentrating an analyte in the sample in the vicinity of at least one electrode by applying a voltage to the pair of electrodes in the presence of the sample; and a detection step of generating plasma by applying a voltage to the electrode of , and detecting light emission of the analyte generated by the plasma. The analysis method of the present invention is characterized by including the concentration step and the detection step, and other steps and conditions are not particularly limited.

일반적으로, 시료 중의 분석 대상물을 효율적으로 분석하기 위해서는, 예컨대 상기 시료에 대하여, 상기 시료의 전체적(전액량)을 농축에 의해 저감하는 전처리를 함으로써, 상기 시료의 전체적에 있어서 단위체적당의 분석 대상물량을 증가시켰다. 그러나, 본 발명에 의하면, 이하의 이유 때문에, 상기 시료의 전체적을 저감하는 전처리는 불필요하다. 즉, 본 발명의 분석 방법에 의하면, 상기 시료의 전체적을 저감시키지 않더라도, 상기 농축 공정에 있어서, 상기 한쌍의 전극에 대한 전압 인가에 의해, 적어도 하나의 전극의 근방에 상기 시료 중의 분석 대상물을 농축, 즉 상기 전극의 근방에 있어서 국소적으로 상기 분석 대상물을 집적할 수 있다. 이 때문에, 이어지는 상기 검출 공정에 있어서, 상기 분석 대상물이 집적된 전극측에 플라즈마를 발생시킴으로써, 국소적으로 고농도가 된 분석 대상물을 효율적으로 분석할 수 있다. 따라서, 본 발명의 분석 방법에 의하면, 예컨대 사용하는 시료에 있어서 상기 분석 대상물이 저농도인 경우라 하더라도, 예컨대 분석에 앞서서, 상기 시료에 대한 상기 전처리를 행하지 않고, 간편하게 높은 감도로 상기 시료를 분석할 수 있다. 또한, 본 발명의 분석 방법은, 적어도 하나의 전극의 근방에 분석 대상물을 집적하고, 상기 전극측에 플라즈마를 발생시킴으로써, 효율이 좋은 분석을 가능하게 할 수 있기 때문에, 예컨대 상기 선행 기술 문헌에 기재되어 있는 바와 같이, 협소부를 구비하는 분석 장치를 필수로 하지는 않는다. 이 때문에, 예컨대 전술한 바와 같은, 상기 시료 중의 협잡물에 의해 분석 장치가 막히는 것 등을 회피할 수 있어, 협잡물에 의한 분석의 영향을 받기 어렵기 때문에, 예컨대 상기 협잡물을 포함하는 시료라 하더라도 상기 협잡물을 제거하는 전처리 등도 불필요하다. In general, in order to efficiently analyze the analyte in the sample, for example, the sample is subjected to a pretreatment to reduce the total (total amount) of the sample by concentration, so that the amount of the analyte per unit volume in the total of the sample increased However, according to the present invention, the pretreatment for reducing the total amount of the sample is unnecessary for the following reasons. That is, according to the analysis method of the present invention, in the concentration step, the analyte in the sample is concentrated in the vicinity of at least one electrode by applying a voltage to the pair of electrodes in the concentration step, even if the overall sample is not reduced. That is, the analyte can be locally integrated in the vicinity of the electrode. For this reason, in the subsequent detection step, by generating plasma on the electrode side where the analyte is integrated, it is possible to efficiently analyze the locally high concentration of the analyte. Therefore, according to the analysis method of the present invention, for example, even when the analyte is at a low concentration in the sample to be used, the sample can be easily analyzed with high sensitivity without performing the pre-treatment on the sample prior to analysis, for example. can In addition, the analysis method of the present invention enables efficient analysis by integrating an analyte in the vicinity of at least one electrode and generating plasma on the electrode side. As described above, an analysis device having a narrow portion is not essential. For this reason, for example, as described above, clogging of the analysis apparatus by the contaminants in the sample can be avoided, and it is difficult to be affected by the analysis by contaminants. There is also no need for pretreatment to remove

본 발명의 분석 방법에 있어서, 상기 시료는 예컨대 검체이다. 상기 검체는, 액체의 검체이어도 좋고 고체의 검체이어도 좋다. 상기 검체는, 예컨대 상기 검체의 미희석액을 그대로 액체 검체로서 사용해도 좋고, 상기 검체를 매체에 현탁, 분산 또는 용해한 희석액을 액체 검체로서 사용해도 좋다. 상기 검체가 고체인 경우, 예컨대 상기 검체를 상기 매체에 현탁, 분산 또는 용해한 희석액을 액체 검체로서 사용하는 것이 바람직하다. 상기 매체는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 물, 완충액 등을 들 수 있다. 상기 검체는, 예컨대 생체 유래의 검체(시료), 환경 유래의 검체(시료), 금속, 화학 물질, 의약품 등을 들 수 있다. 상기 생체 유래의 검체는 특별히 제한되지 않고, 뇨, 혈액, 모발, 타액, 땀, 손톱 등을 들 수 있다. 상기 혈액 검체는, 예컨대 적혈구, 전혈, 혈청, 혈장 등을 들 수 있다. 상기 생체는, 예컨대 인간, 비인간 동물, 식물 등을 들 수 있고, 상기 비인간 동물은, 예컨대 인간을 제외한 포유류, 어개류 등을 들 수 있다. 상기 환경 유래의 검체는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 식품, 물, 토양, 대기, 공기 등을 들 수 있다. 상기 식품은, 예컨대 생선 식품 또는 가공 식품 등을 들 수 있다. 상기 물은, 예컨대 음료수, 지하수, 하천수, 해수, 생활 배수 등을 들 수 있다. In the analysis method of the present invention, the sample is, for example, a sample. The specimen may be a liquid specimen or a solid specimen. For the sample, for example, an undiluted solution of the sample may be used as it is as a liquid sample, or a diluted solution obtained by suspending, dispersing or dissolving the sample in a medium may be used as a liquid sample. When the sample is a solid, for example, a diluent in which the sample is suspended, dispersed or dissolved in the medium is preferably used as a liquid sample. The medium is not particularly limited, and examples thereof include water and a buffer solution. The specimen includes, for example, a specimen (sample) derived from a living body, a specimen (sample) derived from the environment, a metal, a chemical substance, a pharmaceutical, and the like. The specimen derived from the living body is not particularly limited, and examples thereof include urine, blood, hair, saliva, sweat, and nails. The blood sample includes, for example, red blood cells, whole blood, serum, plasma, and the like. The living body includes, for example, humans, non-human animals, plants, and the like, and the non-human animals include, for example, mammals other than humans and fish and shellfish. The specimen derived from the environment is not particularly limited, and examples thereof include food, water, soil, air, and air. The food includes, for example, fish food or processed food. The water includes, for example, drinking water, groundwater, river water, seawater, and domestic wastewater.

상기 분석 대상물은 특별히 제한되지 않고, 예컨대 금속, 화학 물질 등을 들 수 있다. 상기 금속은 특별히 제한되지 않고, 예컨대 알루미늄(Al), 안티몬(Sb), 비소(As), 바륨(Ba), 베릴륨(Be), 비스무트(Bi), 카드뮴(Cd), 세슘(Cs), 가돌리늄(Gd), 납(Pb), 수은(Hg), 니켈(Ni), 팔라듐(Pd), 백금(Pt), 텔루륨(Te), 탈륨(Tl), 토륨(Th), 주석(Sn), 텅스텐(W), 우라늄(U) 등의 금속을 들 수 있다. 상기 화학 물질은, 예컨대 시약, 농약, 화장품 등을 들 수 있다. 상기 분석 대상물은, 예컨대 1종류이어도 좋고 2종류 이상이어도 좋다. The analyte is not particularly limited, and examples thereof include metals and chemical substances. The metal is not particularly limited, for example, aluminum (Al), antimony (Sb), arsenic (As), barium (Ba), beryllium (Be), bismuth (Bi), cadmium (Cd), cesium (Cs), gadolinium (Gd), lead (Pb), mercury (Hg), nickel (Ni), palladium (Pd), platinum (Pt), tellurium (Te), thallium (Tl), thorium (Th), tin (Sn), and metals such as tungsten (W) and uranium (U). The chemical substance includes, for example, reagents, pesticides, cosmetics, and the like. The analyte may be, for example, one type or two or more types.

상기 분석 대상물이 금속인 경우, 상기 시료는, 예컨대 상기 검체 중의 금속을 분리하기 위한 시약을 포함해도 좋다. 상기 시약은, 예컨대 킬레이트제, 마스킹제 등을 들 수 있다. 상기 킬레이트제는, 예컨대 디티존, 티오프로닌, 메소-2,3-디머캅토숙신산(DMSA), 2,3-디머캅토-1-프로판술폰산나트륨(DMPS), 에틸렌디아민사아세트산(EDTA), 니트릴로삼아세트산(NTA), 에틸렌디아민-N,N'-디숙신산(EDDS), α 리포산 등을 들 수 있다. 본 발명에 있어서 「마스킹」은, SH기의 반응성을 불활성으로 하는 것을 의미하며, 예컨대 SH기의 화학 수식에 의해 행할 수 있다. 상기 마스킹제는, 예컨대 말레이미드, N-메틸말레이미드, N-에틸말레이미드, N-페닐말레이미드, 말레이미드프로피온산, 요오드아세트아미드, 요오드아세트산 등을 들 수 있다. When the analyte is a metal, the sample may contain, for example, a reagent for isolating the metal in the sample. The reagent includes, for example, a chelating agent and a masking agent. The chelating agent is, for example, dithizone, thiopronin, meso-2,3-dimercaptosuccinic acid (DMSA), 2,3-dimercapto-1-propanesulfonate sodium (DMPS), ethylenediaminetetraacetic acid (EDTA), Nitrilotriacetic acid (NTA), ethylenediamine-N,N'-disuccinic acid (EDDS), alpha lipoic acid, etc. are mentioned. In the present invention, "masking" means making the reactivity of the SH group inactive, and can be performed, for example, by chemical modification of the SH group. Examples of the masking agent include maleimide, N-methylmaleimide, N-ethylmaleimide, N-phenylmaleimide, maleimidepropionic acid, iodoacetamide, and iodoacetic acid.

상기 시료는, 예컨대 pH를 조정한 시료(이하, 「pH 조정 시료」라고도 함)이어도 좋다. 상기 pH 조정 시료의 pH는 특별히 제한되지 않는다. 상기 시료의 pH의 조정 방법은 특별히 제한되지 않고, 예컨대 알칼리성 시약, 산성 시약 등의 pH 조정 시약을 사용할 수 있다. The sample may be, for example, a pH-adjusted sample (hereinafter also referred to as a “pH-adjusted sample”). The pH of the pH-adjusted sample is not particularly limited. The method for adjusting the pH of the sample is not particularly limited, and for example, a pH adjusting reagent such as an alkaline reagent or an acidic reagent can be used.

상기 알칼리성 시약은, 예컨대 알칼리 및 그 수용액 등을 들 수 있다. 상기 알칼리는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 수산화나트륨, 수산화리튬, 수산화칼륨, 암모니아 등을 들 수 있다. 상기 알칼리의 수용액은, 예컨대 알칼리를 물 또는 완충액으로 희석한 것을 들 수 있다. 상기 알칼리의 수용액에 있어서, 상기 알칼리의 농도는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 0.01∼5 mol/L이다. Examples of the alkaline reagent include alkali and an aqueous solution thereof. The alkali is not particularly limited, and examples thereof include sodium hydroxide, lithium hydroxide, potassium hydroxide, and ammonia. Examples of the aqueous alkali solution include a solution obtained by diluting the alkali with water or a buffer solution. In the aqueous solution of the alkali, the concentration of the alkali is not particularly limited, and is, for example, 0.01 to 5 mol/L.

상기 산성 시약은, 예컨대 산 및 그 수용액 등을 들 수 있다. 상기 산은 특별히 제한되지 않고, 예컨대 염산, 황산, 아세트산, 붕산, 인산, 시트르산, 말산, 숙신산, 질산 등을 들 수 있다. 상기 산의 수용액은, 예컨대 산을 물 또는 완충액으로 희석한 것을 들 수 있다. 상기 산의 수용액에 있어서, 상기 산의 농도는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 0.01∼5 mol/L이다. Examples of the acidic reagent include acids and aqueous solutions thereof. The acid is not particularly limited, and examples thereof include hydrochloric acid, sulfuric acid, acetic acid, boric acid, phosphoric acid, citric acid, malic acid, succinic acid, and nitric acid. The aqueous solution of the acid may be, for example, an acid diluted with water or a buffer solution. In the aqueous solution of the acid, the concentration of the acid is not particularly limited, and is, for example, 0.01 to 5 mol/L.

상기 전극은 특별히 제한되지 않고, 예컨대 고체 전극을 들 수 있고, 구체예로서, 막대 전극 등을 들 수 있다. 상기 전극의 재료는 특별히 제한되지 않고, 고형 도전 재료이면 되며, 예컨대 상기 분석 대상물의 종류에 따라서 적절하게 결정할 수 있다. 상기 전극의 재료는, 예컨대 비금속이어도 좋고 금속이어도 좋으며, 이들의 혼합물이어도 좋다. 상기 전극의 재료가 비금속을 포함하는 경우, 상기 전극의 재료는, 예컨대 1종류의 비금속을 포함해도 좋고 2종류 이상의 비금속을 포함해도 좋다. 상기 비금속은, 예컨대 탄소 등을 들 수 있다. 상기 전극의 재료가 금속을 포함하는 경우, 상기 전극의 재료는, 예컨대 1종류의 금속을 포함해도 좋고 2종류 이상의 금속을 포함해도 좋다. 상기 금속은, 예컨대 금, 백금, 구리, 아연, 주석, 니켈, 팔라듐, 티탄, 몰리브덴, 크롬, 철 등을 들 수 있다. 상기 전극의 재료가 2종류 이상의 금속을 포함하는 경우, 상기 전극의 재료는 합금이어도 좋다. 상기 합금은, 예컨대 놋쇠, 강철, 인코넬(등록상표), 니크롬, 스테인레스 등을 들 수 있다. 상기 한쌍의 전극은, 예컨대 동일한 재료이어도 좋고 상이한 재료이어도 좋다. The electrode is not particularly limited, and examples thereof include a solid electrode, and specific examples thereof include a rod electrode and the like. The material of the electrode is not particularly limited, and any solid conductive material may be used, and for example, it can be appropriately determined according to the type of the analyte. The material of the electrode may be, for example, a non-metal, a metal, or a mixture thereof. When the material of the electrode contains a non-metal, the material of the electrode may contain, for example, one type of non-metal or two or more types of non-metal. Examples of the non-metal include carbon. When the material of the electrode contains a metal, the material of the electrode may contain, for example, one type of metal or two or more types of metals. Examples of the metal include gold, platinum, copper, zinc, tin, nickel, palladium, titanium, molybdenum, chromium, iron, and the like. When the material of the electrode contains two or more kinds of metals, the material of the electrode may be an alloy. Examples of the alloy include brass, steel, Inconel (registered trademark), nichrome, and stainless steel. The pair of electrodes may be, for example, the same material or different materials.

상기 전극의 크기는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 상기 시료와 접액 가능한 크기이면 된다. 상기 전극이 막대 전극인 경우, 상기 전극의 직경은, 예컨대 0.02∼50 mm, 0.05∼5 mm이며, 상기 전극의 길이는, 예컨대 0.1∼200 mm, 0.3∼50 mm이다. 상기 한쌍의 전극의 크기는, 동일해도 좋고 상이해도 좋다. The size of the electrode is not particularly limited, and may be, for example, a size capable of contacting the sample. When the electrode is a rod electrode, the diameter of the electrode is, for example, 0.02 to 50 mm, 0.05 to 5 mm, and the length of the electrode is, for example, 0.1 to 200 mm, 0.3 to 50 mm. The size of the pair of electrodes may be the same or different.

상기 농축 공정은, 전술한 바와 같이, 시료의 존재하에, 한쌍의 전극에 대한 전압 인가에 의해, 적어도 하나의 전극의 근방에 상기 시료 중의 분석 대상물을 농축하는 공정이다. 상기 한쌍의 전극은 예를 들면, 상기 시료에 접촉(접액)하고 있다. 상기 농축 공정에 있어서 상기 전극의 근방은 특별히 제한되지 않고, 예컨대 후술하는 검출 공정에 있어서 플라즈마가 발생하는 범위를 들 수 있다. 본 발명에 있어서 상기 전극의 근방은, 예컨대 전극 위도 포함한다. As described above, the concentration step is a step of concentrating the analyte in the sample in the vicinity of at least one electrode by applying a voltage to the pair of electrodes in the presence of the sample. The pair of electrodes is in contact with (in contact with) the sample, for example. In the concentration step, the vicinity of the electrode is not particularly limited, and examples thereof include a range in which plasma is generated in the detection step described later. In the present invention, the vicinity of the electrode includes, for example, the top of the electrode.

상기 농축 공정에 있어서, 예컨대 상기 분석 대상물의 일부를 상기 전극의 근방에 농축해도 좋고, 상기 분석 대상물의 전부를 상기 전극의 근방에 농축해도 좋다. In the concentration step, for example, a part of the analyte may be concentrated in the vicinity of the electrode, or all of the analyte may be concentrated in the vicinity of the electrode.

상기 농축 공정에서는, 후술하는 검출 공정에 있어서, 상기 분석 대상물의 검출에 사용하는 전극, 즉 플라즈마가 발생하는 전극에 상기 분석 대상물을 농축하도록, 상기 전극의 전하 조건을 설정하는 것이 바람직하다. 상기 전하 조건은 특별히 제한되지 않고, 예컨대 상기 분석 대상물이 플러스의 전하를 갖는 경우, 상기 플라즈마가 발생하는 전극이 마이너스의 전하를 갖도록 전하 조건을 설정하면 된다. 또한, 예컨대 상기 분석 대상물이 마이너스의 전하를 갖는 경우, 상기 플라즈마가 발생하는 전극이 플러스의 전하를 갖도록 전하 조건을 설정하면 된다. In the concentration step, in the detection step to be described later, it is preferable to set the charge condition of the electrode so that the analyte is concentrated on an electrode used for detection of the analyte, that is, an electrode that generates plasma. The charge condition is not particularly limited. For example, when the analyte has a positive charge, the charge condition may be set so that the electrode generating the plasma has a negative charge. Also, for example, when the analyte has a negative charge, the charge condition may be set so that the electrode generating the plasma has a positive charge.

상기 분석 대상물의 농축은, 예컨대 전압에 의해 조절할 수 있다. 이 때문에, 당업자라면, 상기 농축이 일어나는 전압(이하, 「농축 전압」이라고도 함)을 적절하게 설정할 수 있다. 상기 농축 전압은, 예컨대 1 mV 이상, 400 mV 이상이며, 그 상한은 특별히 제한되지 않는다. 상기 농축 전압은, 예컨대 일정해도 좋고 변동해도 좋다. 또한, 상기 농축 전압은, 예컨대 플라즈마가 발생하지 않는 전압이어도 좋다. The concentration of the analyte can be controlled, for example, by voltage. For this reason, a person skilled in the art can appropriately set the voltage at which the concentration occurs (hereinafter also referred to as "concentration voltage"). The concentration voltage is, for example, 1 mV or more and 400 mV or more, and the upper limit thereof is not particularly limited. The concentration voltage may be constant or may fluctuate, for example. In addition, the concentration voltage may be, for example, a voltage at which plasma is not generated.

상기 농축 전압을 인가하는 시간은 특별히 제한되지 않고, 상기 농축 전압에 따라서 적절하게 설정할 수 있다. 상기 농축 전압을 인가하는 시간은, 예컨대 0.2∼40분, 1∼5분이다. 상기 한쌍의 전극에 대한 전압 인가는, 예컨대 연속적으로 인가해도 좋고 비연속적으로 인가해도 좋다. 상기 비연속적인 인가는, 예컨대 펄스 인가를 들 수 있다. 상기 전압 인가가 비연속적인 경우, 상기 농축 전압을 인가하는 시간은, 예컨대 상기 농축 전압을 인가하고 있는 시간의 합계의 시간이어도 좋고, 상기 농축 전압을 인가하고 있는 시간과 상기 농축 전압을 인가하지 않는 시간의 합계의 시간이어도 좋다. The time for applying the enrichment voltage is not particularly limited and may be appropriately set according to the enrichment voltage. The time for applying the concentration voltage is, for example, 0.2 to 40 minutes and 1 to 5 minutes. The voltage application to the pair of electrodes may be applied continuously or discontinuously, for example. The discontinuous application may include, for example, pulse application. When the voltage application is discontinuous, the time for applying the enriched voltage may be, for example, the sum of the time during which the enriched voltage is applied, the time for which the enriched voltage is applied and the time during which the enriched voltage is not applied The time may be the sum of the hours.

상기 전극에 대한 전압의 인가는, 전압 인가 수단에 의해 행할 수 있다. 전압 인가 수단은 특별히 제한되지 않고, 예컨대 상기 전극 사이에 전압을 인가할 수 있으면 되며, 공지의 수단으로서 전압기 등을 사용할 수 있다. 상기 농축 공정에 있어서, 상기 전극 사이의 전류는, 예컨대 0.01∼200 mA, 10∼60 mA, 10∼40 mA로 설정할 수 있다. The voltage can be applied to the electrode by a voltage applying means. The voltage application means is not particularly limited, and for example, a voltage can be applied between the electrodes, and a voltage device or the like can be used as a known means. In the concentration step, the current between the electrodes can be set to, for example, 0.01 to 200 mA, 10 to 60 mA, or 10 to 40 mA.

상기 검출 공정은, 전술한 바와 같이, 상기 한쌍의 전극에 대한 전압 인가에 의해 플라즈마를 발생시키고, 상기 플라즈마에 의해 생긴 상기 분석 대상물의 발광을 검출한다. In the detection step, as described above, plasma is generated by applying a voltage to the pair of electrodes, and the light emission of the analyte generated by the plasma is detected.

상기 검출 공정은, 상기 농축 공정과 연속적으로 행해도 좋고 비연속적으로 행해도 좋다. 전자의 경우, 상기 검출 공정은, 상기 농축 공정의 종료와 동시에 상기 검출 공정을 행한다. 후자의 경우, 상기 검출 공정은, 상기 농축 공정의 종료후부터 소정 시간 내에 검출 공정을 행한다. 상기 소정 시간은, 예컨대 상기 농축 공정후 0.001∼1000초, 1∼10초이다. The detection step may be performed continuously or discontinuously with the concentration step. In the former case, in the detection step, the detection step is performed simultaneously with the end of the concentration step. In the latter case, in the detection step, the detection step is performed within a predetermined time after the end of the concentration step. The predetermined time is, for example, 0.001 to 1000 seconds or 1 to 10 seconds after the concentration step.

상기 검출 공정에 있어서 「플라즈마를 발생시킨다」란, 플라즈마를 실질적으로 발생시키는 것이며, 구체적으로는, 플라즈마 발광의 검출에 있어서 실질적으로 검출 가능한 발광을 나타내는 플라즈마의 발생을 의미한다. 구체예로서, 플라즈마 발광의 검출기에 의해 플라즈마 발광이 검출 가능하다고 할 수 있다. In the detection step, "generating a plasma" means substantially generating plasma, and specifically, in detecting plasma light emission, means generating a plasma exhibiting substantially detectable light emission. As a specific example, it can be said that plasma emission is detectable by a detector of plasma emission.

실질적인 플라즈마의 발생은, 예컨대 전압에 의해 조절할 수 있다. 이 때문에, 당업자라면, 실질적으로 검출 가능한 발광을 나타내는 플라즈마를 발생시키기 위한 전압(이하, 「플라즈마 전압」이라고도 함)은 적절하게 설정할 수 있다. 상기 플라즈마 전압은, 예컨대 10 V 이상, 100 V 이상이며, 그 상한은 특별히 제한되지 않는다. 상기 플라즈마가 발생하는 전압은, 예컨대 상기 농축이 일어나는 전압에 비해 상대적으로 높은 전압이다. 이 때문에, 상기 플라즈마 전압은, 상기 농축 전압에 비해 높은 전압인 것이 바람직하다. 상기 플라즈마 전압은, 예컨대 일정해도 좋고 변동해도 좋다. Substantial generation of plasma can be controlled, for example, by voltage. For this reason, those skilled in the art can appropriately set the voltage (hereinafter also referred to as "plasma voltage") for generating plasma exhibiting substantially detectable light emission. The plasma voltage is, for example, 10 V or more and 100 V or more, and the upper limit thereof is not particularly limited. The voltage at which the plasma is generated is, for example, a voltage that is relatively high compared to the voltage at which the concentration occurs. For this reason, it is preferable that the said plasma voltage is a voltage higher than the said enrichment voltage. The plasma voltage may be constant or may fluctuate, for example.

상기 플라즈마 전압을 인가하는 시간은 특별히 제한되지 않고, 상기 플라즈마 전압에 따라서 적절하게 설정할 수 있다. 상기 플라즈마 전압을 인가하는 시간은, 예컨대 0.001∼0.02초, 0.001∼0.01초이다. 상기 한쌍의 전극에 대한 전압 인가는, 예컨대 연속적으로 인가해도 좋고 비연속적으로 인가해도 좋다. 상기 비연속적인 인가는, 예컨대 펄스 인가를 들 수 있다. 상기 전압 인가가 비연속적인 경우, 상기 플라즈마 전압을 인가하는 시간은, 예컨대 1회의 상기 플라즈마 전압을 인가하고 있는 시간이어도 좋고, 상기 플라즈마 전압을 인가하고 있는 시간의 합계의 시간이어도 좋고, 상기 플라즈마 전압을 인가하고 있는 시간과 상기 플라즈마 전압을 인가하지 않는 시간의 합계의 시간이어도 좋다. The time for applying the plasma voltage is not particularly limited and may be appropriately set according to the plasma voltage. The time for applying the plasma voltage is, for example, 0.001 to 0.02 seconds and 0.001 to 0.01 seconds. The voltage application to the pair of electrodes may be applied continuously or discontinuously, for example. The discontinuous application may include, for example, pulse application. When the voltage application is discontinuous, the time for applying the plasma voltage may be, for example, a time during which the plasma voltage is applied once, or may be a sum of time during which the plasma voltage is applied, and the plasma voltage may be applied. It may be a time of the sum of the time during which ? is applied and the time during which the plasma voltage is not applied.

상기 검출 공정에 있어서 상기 플라즈마가 발생하는 전극은, 예컨대 상기 한쌍의 전극의 접액 면적을 상이한 접액 면적으로 함으로써 조절할 수 있다. 구체적으로는, 한쪽의 전극의 접액 면적을 다른쪽의 전극에 비해 접액 면적을 작게 함으로써, 전자에 플라즈마를 발생시킬 수 있다. 이 때문에, 본 발명에 있어서, 상기 한쌍의 전극은, 상기 시료와의 접액 면적이 상이한 한쌍의 전극이며, 상기 한쌍의 전극 중 상기 시료와의 접액 면적이 작은 전극이, 플라즈마 발생에 의해 상기 분석 대상물을 분석하는 전극인 것이 바람직하다. 상기 한쌍의 전극의 접액 면적이 상이한 경우, 상기 한쌍의 전극의 접액 면적의 차는, 예컨대 0.001∼300 ㎠, 1∼10 ㎠이다. 본 발명에 있어서 「접액 면적」은, 상기 시료와 접하는 면적을 의미한다. 상기 접액 면적의 조절 방법은 특별히 제한되지 않고, 예컨대 상기 시료에 침지하는 상기 전극의 길이를 상이한 길이로 하는 방법, 상기 시료와 접하는 전극의 일부를 절연성 재료에 의해 피복하는 방법 등을 들 수 있다. 상기 절연성 재료는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 수지, 실리콘, 유리, 종이, 세라믹스, 고무 등을 들 수 있다. 상기 수지는, 예컨대 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리스티렌, 폴리염화비닐, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리메타크릴레이트, 폴리아미드, 포화 폴리에스테르 수지, 아크릴 수지, 폴리부틸렌테레프탈레이트(PBT), 폴리에테르에테르케톤(PEEK), 폴리메틸펜텐(예컨대 등록상표 TPX) 등의 열가소성 수지, 요소 수지, 멜라민 수지, 페놀 수지, 불소 수지 유리 에폭시 등의 에폭시 수지, 불포화 폴리에스테르 수지 등의 열경화성 수지 등을 들 수 있다. 상기 실리콘은, 예컨대 폴리디메틸실록산 등을 들 수 있다. In the detection step, the electrode generating the plasma can be adjusted, for example, by setting the contact area of the pair of electrodes to be different contact areas. Specifically, by making the contact area of one electrode smaller than that of the other electrode, plasma can be generated in electrons. For this reason, in the present invention, the pair of electrodes is a pair of electrodes having a different contact area with the sample, and among the pair of electrodes, the electrode having a smaller contact area with the sample is generated by plasma generation of the analyte. It is preferable that it is an electrode that analyzes the When the contact areas of the pair of electrodes are different, the difference between the contact areas of the pair of electrodes is, for example, 0.001 to 300 cm 2 and 1 to 10 cm 2 . In the present invention, the "contact area" means an area in contact with the sample. The method of adjusting the contact area is not particularly limited, and examples thereof include a method of varying the length of the electrode immersed in the sample, a method of covering a part of the electrode in contact with the sample with an insulating material, and the like. The insulating material is not particularly limited, and examples thereof include resin, silicone, glass, paper, ceramics, rubber, and the like. The resin is, for example, polyethylene, polypropylene, polystyrene, polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate, polymethacrylate, polyamide, saturated polyester resin, acrylic resin, polybutylene terephthalate (PBT), polyether ether ketone ( PEEK), a thermoplastic resin such as polymethylpentene (eg, registered trademark TPX), an epoxy resin such as a urea resin, a melamine resin, a phenol resin, a fluororesin glass epoxy, and a thermosetting resin such as an unsaturated polyester resin. The silicone includes, for example, polydimethylsiloxane.

상기 검출 공정에 있어서 상기 발생한 플라즈마의 발광은, 예컨대 연속적으로 검출해도 좋고 비연속적으로 검출해도 좋다. 상기 발광의 검출은, 예컨대 발광의 유무의 검출, 발광의 강도의 검출, 특정한 파장의 검출, 스펙트럼의 검출 등을 들 수 있다. 상기 특정한 파장의 검출은, 예컨대 상기 분석 대상물이 플라즈마 발광시에 발생하는 특유의 파장의 검출을 들 수 있다. 상기 발광의 검출 방법은 특별히 제한되지 않고, 예컨대 CCD(Charge Coupled Device), 분광기 등의 공지의 광학 측정 기기를 이용할 수 있다. The light emission of the plasma generated in the detection step may be detected continuously or may be detected discontinuously, for example. The detection of the light emission includes, for example, detection of the presence or absence of light emission, detection of the intensity of light emission, detection of a specific wavelength, detection of a spectrum, and the like. The detection of the specific wavelength includes, for example, detection of a specific wavelength that occurs when the analysis target emits plasma light. The detection method of the light emission is not particularly limited, and, for example, a known optical measuring device such as a CCD (Charge Coupled Device) or a spectrometer can be used.

상기 전극에 대한 전압의 인가는, 전압 인가 수단에 의해 행할 수 있다. 전압 인가 수단은, 예컨대 전술한 설명을 원용할 수 있다. 상기 검출 공정에 있어서 상기 전극 사이의 전류는, 예컨대 0.01∼100000 mA, 50∼2000 mA로 설정할 수 있다. The voltage can be applied to the electrode by a voltage applying means. As the voltage applying means, for example, the above description may be referred to. In the detection step, the current between the electrodes can be set to, for example, 0.01 to 100000 mA or 50 to 2000 mA.

본 발명의 분석 방법은 또한, 검출 공정에서의 검출 결과로부터 상기 시료 중의 상기 분석 대상물의 농도를 산출하는 산출 공정을 포함해도 좋다. 상기 검출 결과는, 예컨대 전술한 발광의 강도 등을 들 수 있다. 상기 산출 공정에 있어서 상기 분석 대상물의 농도는, 예컨대 검출 결과, 및 검출 결과와 시료 중의 상기 분석 대상물의 농도의 상관관계에 기초하여 산출할 수 있다. 상기 상관관계는, 예컨대 상기 분석 대상물의 농도가 이미 알려진 표준 시료에 관해, 상기 본 발명의 분석 방법에 의해 얻어진 검출 결과와, 상기 표준 시료의 상기 분석 대상물의 농도를 플롯함으로써 구할 수 있다. 상기 표준 시료는, 상기 분석 대상물의 희석 계열이 바람직하다. 이와 같이 산출을 행함으로써, 신뢰성이 높은 정량이 가능해진다. The analysis method of the present invention may further include a calculation step of calculating the concentration of the analyte in the sample from the detection result in the detection step. The detection result includes, for example, the intensity of the light emission described above. In the calculation step, the concentration of the analyte can be calculated based on, for example, a detection result and a correlation between the detection result and the concentration of the analyte in the sample. The correlation can be obtained, for example, by plotting the detection result obtained by the analysis method of the present invention and the concentration of the analyte in the standard sample with respect to a standard sample in which the concentration of the analyte is already known. The standard sample is preferably a dilution series of the analyte. By performing calculation in this way, reliable quantitative determination is attained.

본 발명의 분석 방법에 있어서, 상기 한쌍의 전극은, 투광부를 포함하는 용기 내에 배치되어 있어도 좋다. 이 경우, 상기 검출 공정에 있어서, 상기 투광부를 통해서 상기 분석 대상물의 발광을 수광 가능하게 배치된 수광부에 의해 상기 발광을 검출한다. 상기 용기, 상기 투광부, 상기 수광부 등의 설명은, 예컨대 후술하는 본 발명의 분석 장치의 설명을 원용할 수 있다. In the analysis method of the present invention, the pair of electrodes may be disposed in a container including a light-transmitting part. In this case, in the detection step, the light emission is detected by a light receiving unit arranged to be capable of receiving light emission of the analyte through the light transmitting unit. For the description of the container, the light transmitting unit, the light receiving unit, etc., for example, the description of the analysis apparatus of the present invention described later can be cited.

<플라즈마 분광 분석 장치> <Plasma Spectroscopy Device>

본 발명의 플라즈마 분광 분석 장치는, 전술한 바와 같이, 한쌍의 전극, 용기 및 수광부를 포함하고, 상기 용기는 투광부를 포함하고, 상기 한쌍의 전극은 상기 용기 내에 배치되고, 상기 용기의 외부에는, 상기 한쌍의 전극에 대한 전압 인가에 의해 발생한 발광을, 상기 투광부를 통해서 상기 분석 대상물의 발광을 수광 가능한 수광부가 배치되고, 상기 본 발명의 플라즈마 분광 분석 방법에 사용하는 것을 특징으로 한다. 본 발명의 분석 장치는, 상기 본 발명의 분석 방법에 사용하는 것이 특징이며, 그 밖의 구성 및 조건은 특별히 제한되지 않는다. 본 발명의 분석 장치에 의하면, 상기 본 발명의 분석 방법을 간편하게 실시할 수 있다. 본 발명의 분석 장치는, 예컨대 상기 본 발명의 분석 방법과 서로의 설명을 원용할 수 있다. As described above, the plasma spectroscopy apparatus of the present invention includes a pair of electrodes, a container, and a light receiving part, the container includes a light transmitting part, the pair of electrodes are disposed in the container, and the outside of the container, A light receiving unit capable of receiving light emitted by voltage application to the pair of electrodes through the light projecting unit is disposed and used in the plasma spectroscopic analysis method of the present invention. The analysis apparatus of the present invention is characterized in that it is used in the above-described analysis method of the present invention, and other configurations and conditions are not particularly limited. According to the analysis apparatus of this invention, the said analysis method of this invention can be implemented simply. For the analysis apparatus of the present invention, for example, the above analysis method of the present invention and description of each other can be used.

본 발명의 분석 장치의 일례에 관해 도면을 참조하여 설명한다. 또한, 도면에 있어서는, 설명의 편의상, 각 부의 구조는 적절하게 간략화하여 나타내는 경우가 있고, 각 부의 치수비 등은, 실제와는 달리 모식적으로 나타내는 경우가 있다. An example of the analysis apparatus of this invention is demonstrated with reference to drawings. In addition, in the drawings, for convenience of explanation, the structure of each part may be suitably simplified and shown, and the dimensional ratio of each part etc. may be shown typically unlike reality in some cases.

도 1에 있어서, (A)는 본 실시형태의 분석 장치의 모식 투시 사시도이고, (B)는 (A)에 있어서 I-I 방향에서 본 모식 단면도이다. 도 1의 (A) 및 (B)에 나타낸 바와 같이, 본 실시형태의 분석 장치(10)는, 한쌍의 전극(1, 2), 용기(4) 및 수광부(5)를 포함하고, 용기(4)는 투광부(3)를 포함하고, 용기(4)의 외부에는, 한쌍의 전극(1, 2)에 대한 전압 인가에 의해 발생한 발광을, 투광부(3)를 통해서 상기 분석 대상물의 발광을 수광 가능하게 배치된 수광부(5)가 배치되어 있다. 또한, 전극(1)은 용기(4)의 바닥면에 대하여 수직 방향으로 배치되고, 그 선단은 투광부(3)와 접촉하도록 배치되어 있다. 전극(2)은, 용기(4)의 측면으로부터 내부를 향해서 배치되어 있다. 전극(1)은 절연성 재료(6)에 의해 피복되어 있다. 본 실시형태의 분석 장치(10)에 있어서, 상기 분석 대상물을 포함하는 시료는, 예컨대 용기(4)의 통 내에 전극(1, 2)과 접하도록 도입된다. 본 실시형태에 있어서, 분석 장치(10)는, 세로 배치형의 분석 장치로 하고 있지만, 분석 장치(10)는 이 실시형태에 한정되지 않고, 예컨대 가로 배치형의 분석 장치로 해도 좋다. In FIG. 1, (A) is a schematic perspective perspective view of the analysis apparatus of this embodiment, (B) is a schematic sectional drawing seen from the I-I direction in (A). As shown in FIGS. 1A and 1B , the analysis device 10 of the present embodiment includes a pair of electrodes 1 and 2 , a container 4 , and a light receiving unit 5 , and includes a container ( 4) includes a light-transmitting part 3, and on the outside of the container 4, light emission generated by voltage application to the pair of electrodes 1 and 2, and light emission of the analyte through the light-transmitting part 3 A light receiving unit 5 arranged to receive light is disposed. Further, the electrode 1 is disposed in a direction perpendicular to the bottom surface of the container 4 , and the tip thereof is disposed so as to be in contact with the light transmitting part 3 . The electrode 2 is arranged toward the inside from the side surface of the container 4 . The electrode 1 is covered with an insulating material 6 . In the analysis apparatus 10 of the present embodiment, the sample containing the analyte is introduced into, for example, the cylinder of the container 4 so as to be in contact with the electrodes 1 and 2 . In the present embodiment, the analysis device 10 is a vertical analysis device, but the analysis device 10 is not limited to this embodiment, for example, it may be a horizontal analysis device.

본 실시형태에 있어서, 전극(1)은 그 표면의 일부를 절연성 재료(6)에 의해 피복되어 있지만, 절연성 재료(6)는 임의의 구성이며, 있어도 좋고 없어도 좋다. 또한, 본 실시형태에 있어서, 전극(1, 2)은 용기(4)의 상이한 면에 배치되어 있지만, 전극(1, 2)의 배치 위치는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 임의의 위치에 배치할 수 있다. In this embodiment, although the electrode 1 is coat|covered with the insulating material 6 on a part of the surface, the insulating material 6 has an arbitrary structure, and may or may not exist. In addition, in this embodiment, although the electrodes 1 and 2 are arrange|positioned on different surfaces of the container 4, the arrangement position of the electrodes 1, 2 is not specifically limited, For example, it can arrange|position at arbitrary positions. have.

본 실시형태에 있어서, 전극(1)과 투광부(3)는 접해 있지만, 본 발명은 이것에 한정되지 않고, 예컨대 전극(1)이 투광부(3)로부터 떨어져 배치되어도 좋다. 전극(1)과 용기(4)의 바닥면의 거리는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 0∼2 cm, 0∼0.5 cm이다. In the present embodiment, the electrode 1 and the light-transmitting part 3 are in contact with each other, but the present invention is not limited to this, for example, the electrode 1 may be disposed apart from the light-transmitting part 3 . The distance between the electrode 1 and the bottom surface of the container 4 is not particularly limited, and is, for example, 0 to 2 cm and 0 to 0.5 cm.

투광부(3)의 재료는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 한쌍의 전극(1, 2)에 대한 전압 인가에 의해 발생한 발광을 투광하는 재료이면 되며, 상기 발광의 파장에 따라서 적절하게 설정할 수 있다. 투광부(3)의 재료는, 예컨대 석영 유리, 아크릴 수지(PMMA), 붕규산 유리, 폴리카보네이트(PC), 시클로올레핀 폴리머(COP), 메틸펜텐 폴리머(TPX(등록상표)) 등을 들 수 있다. 투광부(3)의 크기는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 한쌍의 전극(1, 2)에 대한 전압 인가에 의해 발생한 발광을 투광 가능한 크기이면 된다. The material of the light-transmitting part 3 is not particularly limited, and may be any material that transmits light generated by voltage application to the pair of electrodes 1 and 2, for example, and can be appropriately set according to the wavelength of the light emission. Examples of the material of the light transmitting part 3 include quartz glass, acrylic resin (PMMA), borosilicate glass, polycarbonate (PC), cycloolefin polymer (COP), methylpentene polymer (TPX (registered trademark)), and the like. . The size of the light-transmitting portion 3 is not particularly limited, and for example, any size capable of transmitting light generated by voltage application to the pair of electrodes 1 and 2 may be sufficient.

본 실시형태에 있어서, 용기(4)는 바닥이 있는 통형상이지만, 용기(4)의 형상은 이것에 한정되지 않고, 임의의 형상으로 해도 좋다. 용기(4)의 재료는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 아크릴 수지(PMMA), 폴리프로필렌(PP), 폴리에틸렌(PE), 폴리염화비닐(PVC), 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리스티렌(PS) 등을 들 수 있다. 용기(4)의 용적은, 예컨대 0.3∼0.5 ㎤이다. 용기(4)가 바닥이 있는 통형상인 경우, 용기(4)의 직경은, 예컨대 0.4∼50 cm, 1∼5 cm이고, 그 높이는, 예컨대 0.3∼50 cm, 0.7∼2 cm이다. In this embodiment, although the container 4 is a cylindrical shape with a bottom, the shape of the container 4 is not limited to this, It is good also as an arbitrary shape. The material of the container 4 is not particularly limited, for example, acrylic resin (PMMA), polypropylene (PP), polyethylene (PE), polyvinyl chloride (PVC), polyethylene terephthalate (PET), polystyrene (PS), etc. can be heard The volume of the container 4 is, for example, 0.3 to 0.5 cm 3 . When the container 4 has a bottomed tubular shape, the diameter of the container 4 is, for example, 0.4 to 50 cm, 1 to 5 cm, and the height thereof is, for example, 0.3 to 50 cm, 0.7 to 2 cm.

수광부(5)는 특별히 제한되지 않고, 예컨대 CCD, 분광기 등의 공지의 광학 측정 기기를 들 수 있다. 수광부(5)는, 예컨대 분석 장치(10)의 외부에 배치된 상기 광학 측정 기기에 상기 발광을 전송하는 전송 수단이어도 좋다. 상기 전송 수단은, 예컨대 광파이버 등의 전송로를 들 수 있다. The light receiving unit 5 is not particularly limited, and examples thereof include known optical measuring instruments such as CCD and spectrometer. The light receiving unit 5 may be, for example, a transmission means for transmitting the light emission to the optical measuring device disposed outside the analysis device 10 . The transmission means includes, for example, a transmission path such as an optical fiber.

용기(4)의 제조 방법은 특별히 제한되지 않고, 예컨대 사출 성형 등에 의해 성형체를 제조해도 좋고, 플레이트 등의 기재에 오목부를 형성함으로써 제조해도 좋다. 그 밖에, 용기(4) 등의 제조 방법은 특별히 제한되지 않고, 예컨대 리소그래피, 절삭 가공 등을 들 수 있다. The manufacturing method in particular of the container 4 is not restrict|limited, For example, you may manufacture a molded object by injection molding etc., You may manufacture by forming recesses in base materials, such as a plate. In addition, the manufacturing method in particular of the container 4 etc. is not restrict|limited, For example, lithography, a cutting process, etc. are mentioned.

[실시예][Example]

다음으로, 본 발명의 실시예에 관해 설명한다. 또, 본 발명은 하기의 실시예에 의해 제한되지 않는다. Next, an embodiment of the present invention will be described. In addition, the present invention is not limited by the following examples.

(실시예 1)(Example 1)

본 발명의 분석 방법에 의해, 수은을 감도좋게 분석할 수 있는 것을 확인했다. It was confirmed that mercury can be analyzed with high sensitivity by the analysis method of the present invention.

(1) 플라즈마 분광 분석 장치(1) Plasma spectroscopy apparatus

상기 실시형태의 분석 장치를 준비했다. 구체적으로는, 바닥이 있는 통형상의 투명 PMMA제 용기(높이 15 mm×직경 φ 10 mm)를 준비했다. 상기 용기의 바닥부의 중앙에는 석영 유리를 배치했다. 상기 용기 내에 전극(1)과 전극(2)을 배치했다. 상기 전극(1)은, 상기 용기 바닥면에 대하여 수직 방향으로 배치했다. 그리고, 전극(1)의 선단이, 상기 용기의 바닥부의 석영 유리에 접촉하도록 배치했다. 전극(1)은, 직경 0.12 mm의 놋쇠 막대를 사용했다. 전극(1)은, 선단으로부터 0.3 mm까지를 노출시키고, 그 밖의 영역을 절연한 것을 사용했다. 전극(2)은, 전극(1)에 대하여 수직 방향이자, 상기 용기의 측면으로부터 내부를 향해 배치했다. 전극(2)은, 직경 2.5 mm의 탄소 전극 막대를 사용했다. 또한, 상기 석영 유리를 통해, 전극(1)의 선단과 대면하도록 광파이버를 배치했다. 상기 광파이버는, 직경 400 ㎛ 단심(單芯)의 광파이버를 사용했다. 또한, 상기 광파이버는, 요면 그레이팅 방식의 분광기(자가 조제)에 접속했다. The analysis apparatus of the said embodiment was prepared. Specifically, a bottomed cylindrical transparent PMMA container (15 mm in height x 10 mm in diameter) was prepared. A quartz glass was placed in the center of the bottom of the vessel. An electrode (1) and an electrode (2) were placed in the container. The electrode 1 was disposed in a direction perpendicular to the bottom of the container. And it arrange|positions so that the front-end|tip of the electrode 1 may contact with the quartz glass of the bottom part of the said container. As the electrode 1, a brass rod having a diameter of 0.12 mm was used. The electrode 1 exposed 0.3 mm from the tip and insulated the other area|region was used. The electrode 2 was disposed in a direction perpendicular to the electrode 1 and toward the inside from the side surface of the container. As the electrode 2, a carbon electrode rod having a diameter of 2.5 mm was used. Further, an optical fiber was disposed so as to face the tip of the electrode 1 through the quartz glass. As the optical fiber, a single-core optical fiber having a diameter of 400 µm was used. In addition, the said optical fiber was connected to the spectrometer (self-prepared) of the concave grating system.

(2) 플라즈마 분광 분석(2) Plasma spectroscopic analysis

0.3 mL의 0.1 mol/L 질산 수용액에 100 ppb가 되도록 염화수은을 용해하여, 이것을 수은 시료로 했다. 다음으로, 상기 분석 장치의 상기 용기의 내부에 상기 수은 시료를 도입했다. 그리고, 전극(1)과 전극(2) 사이에, 전극(1)이 음극(캐소드)이 되고, 전극(2)이 양극(애노드)이 되도록, 하기의 농축 조건으로 전압을 인가하여, 전극(1)의 근방에 상기 수은을 농축했다. Mercury chloride was dissolved in 0.3 mL of 0.1 mol/L nitric acid aqueous solution so as to be 100 ppb, and this was used as a mercury sample. Next, the mercury sample was introduced into the vessel of the analysis device. Then, between the electrode 1 and the electrode 2, a voltage is applied under the following concentration conditions so that the electrode 1 becomes the cathode (cathode) and the electrode 2 becomes the anode (anode), and the electrode ( The mercury was concentrated in the vicinity of 1).

(농축 조건)(Condense conditions)

인가 전압 : 30 V와 0 V의 반복 Applied voltage: repetition of 30 V and 0 V

펄스폭 : 50 μsPulse width: 50 μs

Duty : 99% Duty: 99%

인가 시간 : 500 ms Application time: 500 ms

인가 횟수 : 1 s 간격으로 250회Number of applications: 250 times at 1 s intervals

상기 농축 직후에 또한, 전극(1)과 전극(2) 사이에, 전극(1)이 양극이 되고, 전극(2)이 음극이 되도록, 하기의 플라즈마 발생 조건으로 전압 및 전류를 인가하고, 발생한 플라즈마 발광의 각 파장에서의 발광 강도(카운트치)를 측정했다. 또한, 컨트롤(비교예)은, 상기 농축을 행하지 않은 것 외에는 동일하게 하여, 발생한 플라즈마 발광의 스펙트럼을 측정했다. Immediately after the concentration, between the electrode 1 and the electrode 2, a voltage and a current are applied under the following plasma generation conditions so that the electrode 1 becomes an anode and the electrode 2 becomes a cathode, The light emission intensity (count value) at each wavelength of plasma light emission was measured. In the control (comparative example), the spectrum of the generated plasma emission was measured in the same manner except that the above-mentioned concentration was not performed.

(플라즈마 발생 조건)(Conditions for generating plasma)

인가 전압 : 150 V와 0 V의 반복Applied voltage: repetition of 150 V and 0 V

펄스폭 : 50 μsPulse width: 50 μs

Duty : 80% Duty: 80%

인가 시간 : 100 msApplication time: 100 ms

그 결과를 도 2에 나타낸다. 도 2는, 수은 피크 부근의 스펙트럼을 나타내는 그래프이다. 도 2에 있어서, 횡축은 파장을 나타내고, 종축은 발광 강도(카운트치)를 나타낸다. 또한, 도 2에 있어서, 실선은 실시예의 결과를 나타내고, 파선은 비교예의 결과를 나타낸다. 도 2에 나타낸 바와 같이, 실시예는 비교예에 비해, 수은 특유의 플라즈마 발광의 파장인 253.65 nm 부근에 있어서 카운트치가 증가했다. 또, 도 2에 있어서는 253.88 nm에 피크(수은 피크)가 관찰되지만, 이것은 상기 분광기의 측정 오차를 포함하기 때문이다. 이들 결과로부터, 본 발명의 분석 방법은, 상기 농축을 행하지 않은 상기 특허문헌 4 및 5의 분석 방법에 비해 분석 감도가 높다는 것을 알 수 있다.The results are shown in FIG. 2 . 2 is a graph showing a spectrum in the vicinity of a mercury peak. In Fig. 2, the horizontal axis represents the wavelength, and the vertical axis represents the emission intensity (count value). In addition, in FIG. 2, a solid line shows the result of an Example, and a broken line shows the result of a comparative example. As shown in FIG. 2, compared with the comparative example, the count value increased in the vicinity of 253.65 nm which is the wavelength of plasma emission characteristic of mercury. In addition, although a peak (mercury peak) is observed at 253.88 nm in FIG. 2, this is because the measurement error of the said spectrometer is included. From these results, it can be seen that the analytical method of the present invention has higher analytical sensitivity than the analytical methods of Patent Documents 4 and 5 in which the concentration is not performed.

(3) 상이한 분석 대상물의 농도에서의 플라즈마 분광 분석(3) Plasma spectroscopic analysis at different analyte concentrations

0.3 mL의 0.1 mol/L 질산 수용액에 소정 농도(10 ppb, 50 ppb, 100 ppb)가 되도록 염화수은을 용해한 것 외에는, 상기 실시예 1(2)과 동일하게 하여 수은 피크의 카운트치를 측정했다. The count value of the mercury peak was measured in the same manner as in Example 1 (2), except that mercury chloride was dissolved in 0.3 mL of 0.1 mol/L nitric acid aqueous solution to a predetermined concentration (10 ppb, 50 ppb, 100 ppb).

그 결과를 도 3에 나타낸다. 도 3은, 수은 농도와 수은 피크에서의 카운트치의 상관을 나타내는 그래프이다. 도 3에 있어서, 횡축은 수은의 농도를 나타내고, 종축은 발광 강도(카운트치)를 나타낸다. 도 3에 나타낸 바와 같이, 수은의 농도 의존적으로 카운트치가 증가했다. 이들 결과로부터, 본 발명의 분석 방법에 의하면, 폭넓은 농도로 분석 대상물을 분석 가능하다는 것을 알 수 있다.The results are shown in FIG. 3 . 3 is a graph showing the correlation between the mercury concentration and the count value at the mercury peak. In Fig. 3, the horizontal axis indicates the concentration of mercury, and the vertical axis indicates the emission intensity (count value). As shown in FIG. 3 , the count value increased in a concentration-dependent manner of mercury. From these results, it can be seen that, according to the analysis method of the present invention, analytes can be analyzed in a wide range of concentrations.

(실시예 2)(Example 2)

본 발명의 분석 방법에 의해, 뇨검체 중의 납을 감도좋게 분석할 수 있는 것을 확인했다. It was confirmed that lead in a urine specimen can be analyzed with high sensitivity by the analysis method of the present invention.

(1) 플라즈마 분광 분석(1) Plasma spectroscopic analysis

뇨검체에 100 ppb가 되도록 납을 용해했다. 다음으로, 0.2 mol/L 수산화리튬이 되도록 수산화리튬의 분말을 첨가했다. 그리고, 상기 수은 시료 대신에 상기 납 시료를 이용한 것 외에는, 상기 실시예 1(2)과 동일하게 하여, 발생한 플라즈마 발광의 스펙트럼을 측정했다. 또한, 컨트롤(비교예)은, 상기 농축을 행하지 않은 것 외에는 동일하게 하여, 발생한 플라즈마 발광의 스펙트럼을 측정했다. Lead was dissolved in the urine sample to a concentration of 100 ppb. Next, the powder of lithium hydroxide was added so that it might become 0.2 mol/L lithium hydroxide. Then, in the same manner as in Example 1 (2), except that the lead sample was used instead of the mercury sample, the spectrum of the generated plasma emission was measured. In the control (comparative example), the spectrum of the generated plasma emission was measured in the same manner except that the above-mentioned concentration was not performed.

그 결과를 도 4에 나타낸다. 도 4는, 납 피크 부근의 스펙트럼을 나타내는 그래프이다. 도 4에 있어서, 횡축은 파장을 나타내고, 종축은 발광 강도(카운트치)를 나타낸다. 또한, 도 4에 있어서, 실선은 실시예의 결과를 나타내고, 파선은 비교예의 결과를 나타낸다. 도 4에 나타낸 바와 같이, 실시예는 비교예에 비해, 납 특유의 플라즈마 발광의 파장인 368.34 nm 부근에 있어서 카운트치가 증가했다. 또, 도 4에 있어서는, 368.52 nm에 피크(납 피크)가 관찰되지만, 이것은, 상기 분광기의 측정 오차를 포함하기 때문이다. 이들 결과로부터, 본 발명의 분석 방법은, 상기 농축을 행하지 않은 상기 특허문헌 4 및 5의 분석 방법에 비해 분석 감도가 높다는 것을 알 수 있다.The results are shown in FIG. 4 . 4 is a graph showing a spectrum in the vicinity of a lead peak. In Fig. 4, the horizontal axis represents the wavelength, and the vertical axis represents the emission intensity (count value). In addition, in FIG. 4, a solid line shows the result of an Example, and a broken line shows the result of a comparative example. As shown in Fig. 4, compared with the comparative example, the count value increased in the vicinity of 368.34 nm, which is the wavelength of plasma emission peculiar to lead. In addition, in FIG. 4, although a peak (lead peak) is observed at 368.52 nm, this is because the measurement error of the said spectrometer is included. From these results, it can be seen that the analysis method of the present invention has a higher analysis sensitivity than the analysis methods of Patent Documents 4 and 5 in which the concentration is not performed.

(2) 상이한 분석 대상물의 농도에서의 플라즈마 분광 분석(2) Plasma spectroscopic analysis at different analyte concentrations

뇨검체에 소정 농도(10 ppb, 50 ppb, 100 ppb)가 되도록 질산납을 용해했다. 다음으로, 0.2 mol/L 수산화리튬이 되도록 수산화리튬의 분말을 첨가한 납 시료를, 상기 수은 시료 대신에 이용한 것 외에는, 상기 실시예 1(2)과 동일하게 하여 납 피크의 카운트치를 측정했다. Lead nitrate was dissolved in a urine specimen to a predetermined concentration (10 ppb, 50 ppb, 100 ppb). Next, the lead peak count was measured in the same manner as in Example 1 (2), except that a lead sample to which lithium hydroxide powder was added so as to obtain 0.2 mol/L lithium hydroxide was used instead of the mercury sample.

그 결과를 도 5에 나타낸다. 도 5는, 납 농도와 납 피크에서의 카운트치의 상관을 나타내는 그래프이다. 도 5에 있어서, 횡축은 납의 농도를 나타내고, 종축은 발광 강도(카운트치)를 나타낸다. 도 5에 나타낸 바와 같이, 납의 농도 의존적으로 카운트치가 증가했다. 이들 결과로부터, 본 발명의 분석 방법에 의하면, 폭넓은 농도로 분석 대상물을 분석 가능하다는 것을 알 수 있다. 또한, 본 발명의 분석 방법은, 협잡물을 포함하는 시료인 뇨검체에 있어서도, 상기 분석 대상물을 분석 가능하다는 것을 알 수 있다.The results are shown in FIG. 5 . 5 is a graph showing the correlation between the lead concentration and the count value at the lead peak. In Fig. 5, the horizontal axis indicates the concentration of lead, and the vertical axis indicates the emission intensity (count value). As shown in FIG. 5 , the count value increased in a lead concentration-dependent manner. From these results, it can be seen that, according to the analysis method of the present invention, analytes can be analyzed in a wide range of concentrations. Moreover, it turns out that the analysis method of this invention can analyze the said analyte also in the urine sample which is a sample containing contaminants.

(실시예 3)(Example 3)

본 발명의 분석 방법에 의해, 카드뮴을 감도좋게 분석할 수 있는 것을 확인했다. It confirmed that cadmium could be analyzed sensitively by the analysis method of this invention.

상기 납 시료 대신에, 0.2 mol/L 수산화리튬 용액에 1 ppm이 되도록 카드뮴을 용해한 카드뮴 시료를 이용한 것 외에는, 상기 실시예 2(1)와 동일하게 하여, 발생한 플라즈마 발광의 스펙트럼을 측정했다. 또한, 컨트롤(비교예)은, 상기 농축을 행하지 않은 것 외에는 동일하게 하여, 발생한 플라즈마 발광의 스펙트럼을 측정했다. The spectra of generated plasma emission were measured in the same manner as in Example 2(1) except that a cadmium sample in which cadmium was dissolved to 1 ppm in a 0.2 mol/L lithium hydroxide solution was used instead of the lead sample. In the control (comparative example), the spectrum of the generated plasma emission was measured in the same manner except that the above-mentioned concentration was not performed.

그 결과를 도 6에 나타낸다. 도 6은, 카드뮴 피크 부근의 스펙트럼을 나타내는 그래프이다. 도 6에 있어서, 횡축은 파장을 나타내고, 종축은 발광 강도(카운트치)를 나타낸다. 또한, 도 6에 있어서, 실선은 실시예의 결과를 나타내고, 파선은 비교예의 결과를 나타낸다. 도 6에 나타낸 바와 같이, 실시예는 비교예에 비해, 카드뮴의 플라즈마 발광의 파장인 228.80 nm 부근에 있어서 카운트치가 증가했다. 또, 도 6에 있어서는 228.9 nm에 피크가 관찰되지만, 이것은 상기 분광기 측정 오차를 포함하기 때문이다. 이들 결과로부터, 본 발명의 분석 방법은, 상기 농축을 행하지 않은 상기 특허문헌 4 및 5의 분석 방법에 비해 분석 감도가 높다는 것을 알 수 있다. The results are shown in FIG. 6 . 6 : is a graph which shows the spectrum of cadmium peak vicinity. In Fig. 6, the horizontal axis represents the wavelength, and the vertical axis represents the emission intensity (count value). In addition, in FIG. 6, a solid line shows the result of an Example, and a broken line shows the result of a comparative example. As shown in FIG. 6, compared with the comparative example, the count value increased in the vicinity of 228.80 nm which is the wavelength of plasma emission of cadmium. In addition, although a peak is observed at 228.9 nm in FIG. 6, this is because the said spectrometer measurement error is included. From these results, it can be seen that the analysis method of the present invention has a higher analysis sensitivity than the analysis methods of Patent Documents 4 and 5 in which the concentration is not performed.

(실시예 4)(Example 4)

본 발명의 분석 방법에 의해, 수은을 감도좋게 분석할 수 있는 것을 확인했다. It was confirmed that mercury can be analyzed with high sensitivity by the analysis method of the present invention.

0.3 mL의 0.1 mol/L 질산 수용액에 10 ppb가 되도록 염화수은을 용해하여 수은 시료로 한 것 외에는, 상기 실시예 1(2)과 동일하게 하여, 발생한 플라즈마 발광의 스펙트럼을 측정했다. 또한, 컨트롤 1(비교예 1)은, 상기 농축을 행하지 않은 것 외에는 동일하게 하여, 발생한 플라즈마 발광의 스펙트럼을 측정했다. The spectra of generated plasma emission were measured in the same manner as in Example 1 (2), except that mercury chloride was dissolved in 0.3 mL of 0.1 mol/L nitric acid aqueous solution to a concentration of 10 ppb to obtain a mercury sample. In Control 1 (Comparative Example 1), the spectra of generated plasma emission were measured in the same manner except that the above-mentioned concentration was not performed.

컨트롤 2(비교예 2)는, 0.3 mL의 0.1 mol/L 질산 수용액에 5 ppm이 되도록 수은을 용해한 것을, 상기 수은 시료로 했다. 또한, 컨트롤 2는, 상기 플라즈마 분광 분석 장치 대신에, 협소부를 갖는 수지제 셀(LepiCuve, 주식회사 마이크로에미션사 제조) 및 상기 수지제 셀 측정용의 플라즈마 분광 분석 장치(핸디 원소 분석 MH-500, 주식회사 마이크로에미션사 제조)를 이용하여, 첨부한 프로토콜에 따라서, 상기 수은 시료에 있어서 발생한 플라즈마 발광의 스펙트럼을 측정했다. 컨트롤 3(비교예 3)은, 상기 수은 시료 대신에 0.1 mol/L 질산 수용액을 이용하여, 상기 수지제 셀 및 대응하는 플라즈마 분광 분석 장치를 이용한 것 외에는, 컨트롤 2와 동일하게 하여 발생한 플라즈마 발광의 스펙트럼을 측정했다. In Control 2 (Comparative Example 2), mercury was dissolved in 0.3 mL of 0.1 mol/L nitric acid aqueous solution to a concentration of 5 ppm as the mercury sample. In Control 2, instead of the plasma spectroscopic analyzer, a resin cell having a narrow section (LepiCuve, manufactured by Microemission Co., Ltd.) and a plasma spectroscopic analyzer for measuring the resin cell (Handy Elemental Analysis MH-500, The spectrum of the plasma emission generated in the said mercury sample was measured according to the attached protocol using the Microemission Co., Ltd. product). In Control 3 (Comparative Example 3), 0.1 mol/L aqueous nitric acid solution was used instead of the mercury sample, and the resin cell and the corresponding plasma spectroscopy apparatus were used, except that the plasma emission was generated in the same manner as in Control 2. The spectrum was measured.

그 결과를 도 7에 나타낸다. 도 7의 (A)는, 10 ppb의 수은 용액을 분석했을 때의 스펙트럼을 나타내는 그래프이고, (B)는, 협소부를 가진 분석 장치에 있어서, 5 ppm의 수은 용액을 분석했을 때의 스펙트럼을 나타내는 그래프이다. 도 7의 (A) 및 (B)에 있어서, 횡축은 파장을 나타내고, 종축은 발광 강도(카운트치)를 나타낸다. 또한, 도 7의 (A)에 있어서, 실선은 실시예의 결과를 나타내고, 파선은 비교예 1의 결과를 나타낸다. 도 7의 (B)에 있어서, 실선은 비교예 2의 결과를 나타내고, 파선은 비교예 3의 결과를 나타낸다. 도 7의 (A)에 나타낸 바와 같이, 실시예는 비교예 1에 비해, 수은 피크에 있어서 카운트치가 약 900 카운트 증가했다. 또한, 도 7의 (B)에 나타낸 바와 같이, 비교예 2는 비교예 3에 비해, 수은 특유의 플라즈마 발광의 파장인 253.65 nm 부근인 253.00 nm에 있어서 카운트치가 약 500 카운트 증가했다. 또, 도 7의 (B)에 있어서는 253.00 nm에 피크가 관찰되지만, 이것은 상기 수지제 셀 측정용의 플라즈마 분광 분석 장치의 측정 오차를 포함하기 때문이다. 이들 결과로부터, 본 발명의 분석 방법은, 협소부를 갖는 수지제 셀을 사용하는 방법과 비교하여, 1/500의 수은 농도에서도 약 2배의 카운트치를 얻을 수 있다는 것을 알 수 있다. 즉, 본 발명의 분석 방법은, 특허문헌 2 및 3의 분석 방법에 비해 분석 감도가 높다는 것을 알 수 있다.The result is shown in FIG. 7(A) is a graph showing a spectrum when a 10 ppb mercury solution is analyzed, and (B) is a graph showing a spectrum when a 5 ppm mercury solution is analyzed in an analysis device with a narrow portion It is a graph. 7A and 7B , the horizontal axis indicates the wavelength, and the vertical axis indicates the emission intensity (count value). In addition, in FIG. 7A, a solid line shows the result of Example, and a broken line shows the result of Comparative Example 1. In addition, in FIG. In FIG. 7B , the solid line shows the result of Comparative Example 2, and the broken line shows the result of Comparative Example 3. As shown in FIG. 7(A), compared with Comparative Example 1, the count value increased by about 900 counts in the mercury peak. In addition, as shown in Fig. 7B, in Comparative Example 2, compared to Comparative Example 3, the count value increased by about 500 counts at 253.00 nm, which is the wavelength of mercury-specific plasma emission, around 253.65 nm. Moreover, although a peak is observed at 253.00 nm in FIG.7(B), this is because this includes the measurement error of the plasma spectroscopy apparatus for the said resin cell measurement. From these results, it is understood that the analysis method of the present invention can obtain about twice the count value even at a mercury concentration of 1/500 compared to the method using a resin cell having a narrow portion. That is, it turns out that the analytical sensitivity of the analysis method of this invention is high compared with the analysis method of patent documents 2 and 3.

이상, 실시형태 및 실시예를 참조하여 본 발명을 설명했지만, 본 발명은 상기 실시형태 및 실시예에 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 구성이나 상세에는, 본 발명의 범위 내에서 당업자가 이해할 수 있는 여러가지 변경을 할 수 있다.As mentioned above, although this invention was demonstrated with reference to embodiment and an Example, this invention is not limited to the said embodiment and Example. Various changes that can be understood by those skilled in the art can be made to the configuration and details of the present invention within the scope of the present invention.

이 출원은, 2015년 1월 13일에 출원된 일본 특허 출원 2015-003795를 기초로 하는 우선권을 주장하고, 그 개시를 모두 여기에 도입한다.This application claims priority on the basis of Japanese Patent Application No. 2015-003795 for which it applied on January 13, 2015, and takes in all the indications here.

본 발명의 플라즈마 분광 분석 방법은, 간편하고 분석 감도가 높다. 이 때문에, 본 발명의 플라즈마 분광 분석 방법에 의하면, 예컨대 시료에 전처리를 행하지 않고, 간편, 또한 높은 감도로 시료를 분석할 수 있다. 이 때문에, 본 발명은, 예컨대 플라즈마 발생을 이용한 원소 등의 분석에 매우 유용하다. The plasma spectroscopic analysis method of the present invention is simple and has high analysis sensitivity. For this reason, according to the plasma spectroscopy analysis method of this invention, for example, a sample can be analyzed simply and highly sensitively, without pre-processing a sample. For this reason, this invention is very useful, for example for the analysis of elements etc. using plasma generation.

1, 2 : 전극 3 : 투광부
4 : 용기 5 : 수광부
6 : 절연성 재료 10 : 분석 장치
1, 2: Electrode 3: Transmitting part
4: container 5: light receiving part
6: insulating material 10: analysis device

Claims (12)

액체 시료 중에 침지된 제1 전극과 제2 전극에 대한 전압 인가에 의해, 상기 제2 전극보다 상기 액체 시료와의 접액 면적이 작은 상기 제1 전극의 근방에 상기 시료 중의 분석 대상물을 농축하는 농축 공정, 및
상기 제1 전극 및 상기 제2 전극에 대한 전압 인가에 의해 상기 제1 전극에 플라즈마를 발생시키고, 상기 플라즈마에 의해 생긴 상기 분석 대상물의 발광을 검출하는 검출 공정을 포함하고,
상기 농축 공정에 있어서 상기 제1 전극의 극성이, 상기 검출 공정에 있어서 상기 제1 전극의 극성과 상이한 것을 특징으로 하는 플라즈마 분광 분석 방법.
A concentration step of concentrating the analyte in the sample in the vicinity of the first electrode having a smaller area in contact with the liquid sample than the second electrode by applying a voltage to the first electrode and the second electrode immersed in the liquid sample , and
a detection step of generating plasma in the first electrode by applying a voltage to the first electrode and the second electrode, and detecting light emission of the analyte generated by the plasma,
A polarity of the first electrode in the concentration step is different from a polarity of the first electrode in the detection step.
제1항에 있어서, 상기 검출 공정에서의 상기 전압은 상기 농축 공정에서의 상기 전압보다 높은 전압인 플라즈마 분광 분석 방법. The plasma spectroscopy method of claim 1, wherein the voltage in the detection process is higher than the voltage in the enrichment process. 제1항에 있어서, 상기 농축 공정에서의 상기 전압은 1 mV 이상인 플라즈마 분광 분석 방법. The method of claim 1, wherein the voltage in the enrichment process is 1 mV or more. 제1항에 있어서, 상기 검출 공정에서의 상기 전압은 10 V 이상인 플라즈마 분광 분석 방법. The plasma spectroscopy method according to claim 1, wherein the voltage in the detection process is 10 V or more. 제1항에 있어서, 상기 제1 전극과 상기 제2 전극은 용기 내에 배치되고,
상기 용기는 투광부를 포함하고,
상기 용기의 외부에는 상기 투광부를 통해서 상기 분석 대상물의 발광을 수광 가능한 수광부가 배치되어 있는 플라즈마 분광 분석 방법.
The method of claim 1, wherein the first electrode and the second electrode are disposed in a container;
The container includes a light-transmitting part,
A plasma spectroscopic analysis method in which a light receiving unit capable of receiving light emitted from the analyte through the light transmitting unit is disposed outside the container.
제1항에 있어서, 상기 분석 대상물은 금속인 플라즈마 분광 분석 방법. The method of claim 1 , wherein the analyte is a metal. 제6항에 있어서, 상기 금속은 알루미늄, 안티몬, 비소, 바륨, 베릴륨, 비스무트, 카드뮴, 세슘, 가돌리늄, 납, 수은, 니켈, 팔라듐, 백금, 텔루륨, 탈륨, 토륨, 주석, 텅스텐 및 우라늄으로 이루어진 군에서 선택되는 적어도 하나의 금속인 플라즈마 분광 분석 방법. 7. The method of claim 6 wherein the metal is aluminum, antimony, arsenic, barium, beryllium, bismuth, cadmium, cesium, gadolinium, lead, mercury, nickel, palladium, platinum, tellurium, thallium, thorium, tin, tungsten and uranium. Plasma spectroscopy method of at least one metal selected from the group consisting of. 제1항에 있어서, 상기 액체 시료는 생체 유래 시료 및 환경 유래 시료 중 적어도 하나인 플라즈마 분광 분석 방법. The plasma spectroscopy method of claim 1, wherein the liquid sample is at least one of a biological sample and an environment-derived sample. 제8항에 있어서, 상기 생체 유래 시료는 뇨, 혈액, 모발, 타액, 땀 및 손톱으로 이루어진 군에서 선택되는 적어도 하나인 플라즈마 분광 분석 방법. The method of claim 8, wherein the biological sample is at least one selected from the group consisting of urine, blood, hair, saliva, sweat, and nails. 제8항에 있어서, 상기 환경 유래 시료는 식품, 물, 토양, 및 대기로 이루어진 군에서 선택되는 적어도 하나인 플라즈마 분광 분석 방법. The method of claim 8 , wherein the environment-derived sample is at least one selected from the group consisting of food, water, soil, and air. 제1 전극과 제2 전극, 용기 및 수광부를 포함하고,
상기 용기는 투광부를 포함하고,
상기 제1 전극 및 제2 전극은 상기 용기 내에 배치되고,
상기 용기의 외부에는, 상기 제1 전극 및 제2 전극에 대한 전압 인가에 의해 발생한 발광을 상기 투광부를 통해서 상기 분석 대상물의 발광을 수광 가능한 수광부가 배치되고,
제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 기재된 플라즈마 분광 분석 방법에 사용하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 분광 분석 장치.
It includes a first electrode and a second electrode, a container and a light receiving unit,
The container includes a light-transmitting part,
the first electrode and the second electrode are disposed in the vessel;
A light receiving unit capable of receiving light emitted by the application of a voltage to the first electrode and the second electrode through the light transmitting unit is disposed on the outside of the container,
It is used for the plasma spectroscopy method in any one of Claims 1-10, The plasma spectroscopy apparatus characterized by the above-mentioned.
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