KR102413629B1 - 이미지 센서 및 이를 포함하는 이미지 처리 장치 - Google Patents

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최재혁
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성균관대학교산학협력단
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Abstract

실시예의 이미지 센서는 기준 구동 신호를 발생시키는 구동 신호 발생부와, 픽셀 어레이의 주위에 배치되며 지연 시간이 포함된 픽셀 구동 신호들을 출력하는 더미 픽셀 어레이와, 상기 더미 픽셀 어레이의 각각에 배치되어 상기 더미 픽셀 어레이 내의 상기 픽셀 구동 신호와 기준 구동 신호를 기초로 상기 지연 시간을 측정하고, 측정된 상기 지연 시간을 아날로그 값으로 변환시키는 시간-아날로그 변환기와, 상기 시간-아날로그 변환기로부터 출력된 상기 아날로그 값을 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 아날로그-디지털 변환기를 포함할 수 있다.
실시예는 더미 픽셀에 시간-아날로그 변환기를 배치하여 지연 시간을 측정함으로써, 회로 면적을 줄일 수 있는 효과가 있다.

Description

이미지 센서 및 이를 포함하는 이미지 처리 장치{IMAGE SENSOR AND IMAGE PROCESSING DEVICE INCLUDING THE SAME}
실시예는 이미지 센서에 관한 것으로, 보다 상세하게는 깊이 에러를 보상하기 위한 이미지 센서 및 이를 포함하는 이미지 처리 장치에 관한 것이다.
최근 피사체와의 거리 정보를 획득할 수 있는 촬영 장치에 관한 연구가 증가하는 추세이다. 특히 깊이 영상(depth image)을 표시할 수 있는 3차원 디스플레이 장치가 개발되고 있으며, 이러한 기술의 발전과 수요 증가에 따라 3차원 콘텐츠의 중요성이 부각되고 있다.
피사체의 표면들과 촬영 장치 사이의 거리에 관한 깊이 정보는, TOF(Time of Flight) 방식을 이용하여 얻을 수 있다. TOF 방식에는 적외선 신호를 피사체에 방출하고 피사체로부터 반사되는 적외선 신호와의 시간 차이를 검출하여 피사체의 깊이 정보를 획득하는 다이렉트(direct) TOF 방식이 있고, 적외선 신호를 피사체에 방출하고 피사체로부터 반사되는 적외선 신호와의 위상 차이를 검출하여 피사체의 깊이 정보를 획득하는 인다이렉트(indirect) TOF 방식이 있다.
이러한 촬영 장치는 이미지 센서를 포함하고, 이미지 센서는 복수개의 픽셀들이 배열된 픽셀 어레이와 구동 신호를 픽셀 어레이에 제공하는 드라이버를 포함한다.
그런데, 드라이버는 이미지 센서의 구조 상 한쪽 또는 양쪽에 배치될 수 밖에 없으며, 드라이버에서 생성되는 구동 신호가 드라이버에서 멀어질 경우 지연이 발생한다. 이로 인해 각 픽셀에서 저장되는 전하의 비율이 바뀌고 깊이 에러(depth error)가 유발된다.
종래 이미지 센서는 이미지 센서에서 발생되는 지연 시간(Delay)를 측정하는 기술이 개시되어 있으나, 픽셀 어레이 별도의 구성으로 구현되어 면적이 증가하는 문제점이 있다.
또한, 종래 이미지 센서는 지연 시간을 열(Column) 방향에 대해서만 측정이 가능하기 때문에 픽셀 어레이 및 기준 신호 속도가 증가할수록 피크 커런트가 증가하여 오작동을 유발시키게 된다.
한국공개특허 제10-2021-0044433 (2021.04.23 공개)
상술한 문제점을 해결하기 위해, 실시예는 회로의 면적을 줄이면서 지연 시간을 효과적으로 감지하기 위한 이미지 센서 및 이미지 처리 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
실시예의 이미지 센서는 기준 구동 신호를 발생시키는 구동 신호 발생부와, 픽셀 어레이의 주위에 배치되며 지연 시간이 포함된 픽셀 구동 신호들을 출력하는 더미 픽셀 어레이와, 상기 더미 픽셀 어레이의 각각에 배치되어 상기 더미 픽셀 어레이 내의 상기 픽셀 구동 신호와 기준 구동 신호를 기초로 상기 지연 시간을 측정하고, 측정된 상기 지연 시간을 아날로그 값으로 변환시키는 시간-아날로그 변환기와, 상기 시간-아날로그 변환기로부터 출력된 상기 아날로그 값을 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 아날로그-디지털 변환기를 포함할 수 있다.
상기 시간-아날로그 변환기는, 상기 더미 픽셀 어레이는 상기 기준 구동 신호를 로우 방향으로 전달할 수 있다.
상기 시간-아날로그 변환기는, 상기 픽셀 구동 신호와 상기 기준 구동 신호를 논리 연산하여 상기 지연 시간을 감지하는 로직 회로와, 상기 지연 신호에 따라 스위칭되는 스위치와, 상기 스위칭 신호에 응답하여 상기 전류를 공급하는 전류 소스원과, 상기 전류 소스원으로부터 공급되는 전류를 통해 전하를 충전하는 캐패시터를 포함할 수 있다.
상기 시간-아날로그 변환기는, 상기 더미 픽셀 어레이 중 제1 더미 픽셀에 배치된 상기 캐패시터는 열 방향으로 인접하게 배치된 제2 더미 픽셀과 상기 제2 더미 픽셀의 행 방향으로 인접하게 배치된 제3 더미 픽셀 및 제4 더미 픽셀의 캐패시터값의 평균값을 저장할 수 있다.
상기 시간-아날로그 변환기는, 상기 더미 픽셀 어레이의 캐패시터에 각각 저장된 전압값을 기초로 상기 지연 시간을 측정할 수 있다.
또한, 실시예의 이미지 처리 장치는 일정 주파수를 가지는 광 신호를 피사체로 방출하는 광 방출기와, 기준 구동 신호를 발생시키는 구동 신호 발생부와, 픽셀 어레이의 주위에 배치되며 지연 시간이 포함된 픽셀 구동 신호들을 출력하는 더미 픽셀 어레이와, 상기 더미 픽셀 어레이의 각각에 배치되어 상기 더미 픽셀 어레이 내의 상기 픽셀 구동 신호와 기준 구동 신호를 기초로 상기 지연 시간을 측정하고, 측정된 상기 지연 시간을 아날로그 값으로 변환시키는 시간-아날로그 변환기와, 상기 시간-아날로그 변환기로부터 출력된 상기 아날로그 값을 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 아날로그-디지털 변환기와 상기 지연 시간을 보상하기 위한 보정 데이터를 생성하는 보정 데이터 생성부를 포함하는 이미지 센서와, 상기 광 신호와 상기 반사되는 광 신호의 위상 차이에 기초하여 깊이 영상을 획득하고, 상기 보정 데이터에 기초하여 상기 깊이 영상의 깊이 값들을 보상함으로써 보상된 깊이 영상을 생성하는 프로세서를 포함할 수 있다.
상기 시간-아날로그 변환기는, 상기 더미 픽셀 어레이는 상기 기준 구동 신호를 로우 방향으로 전달할 수 있다.
상기 시간-아날로그 변환기는, 상기 픽셀 구동 신호와 상기 기준 구동 신호를 논리 연산하여 상기 지연 시간을 감지하는 로직 회로와, 상기 지연 신호에 따라 스위칭되는 스위치와, 상기 스위칭 신호에 응답하여 상기 전류를 공급하는 전류 소스원과, 상기 전류 소스원으로부터 공급되는 전류를 통해 전하를 충전하는 캐패시터를 포함할 수 있다.
상기 시간-아날로그 변환기는, 상기 더미 픽셀 어레이 중 제1 더미 픽셀에 배치된 상기 캐패시터는 열 방향으로 인접하게 배치된 제2 더미 픽셀과 상기 제2 더미 픽셀의 행 방향으로 인접하게 배치된 제3 더미 픽셀 및 제4 더미 픽셀의 캐패시터값의 평균값을 저장할 수 있다.
상기 시간-아날로그 변환기는, 상기 더미 픽셀 어레이의 캐패시터에 각각 저장된 전압값을 기초로 상기 지연 시간을 측정할 수 있다.
실시예는 더미 픽셀에 시간-아날로그 변환기를 배치하여 지연 시간을 측정함으로써, 회로 면적을 줄일 수 있는 효과가 있다.
또한, 실시예는 인접하는 픽셀과의 소스 전류를 이용함으로써, 픽셀의 소스 전류의 오차를 줄일 수 있는 효과가 있다.
도 1은 실시예에 따른 이미지 센서를 나타낸 블록도이다.
도 2는 실시예에 따른 이미지 센서를 나타낸 내부 회로도이다.
도 3 내지 도 5는 실시예에 따른 이미지 센서의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 6 및 도 7은 실시예에 따른 이미지 센서의 다른 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 실시예에 따른 이미지 처리 장치를 나타낸 블록도이다.
이하, 도면을 참조하여 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 실시예에 따른 이미지 센서를 나타낸 블록도이고, 도 2는 실시예에 따른 이미지 센서를 나타낸 내부 회로도이고, 도 3 내지 도 5는 실시예에 따른 이미지 센서의 동작을 설명하기 위한 도면이고, 도 6 및 도 7은 실시예에 따른 이미지 센서의 다른 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 1을 참조하면, 실시예에 따른 이미지 센서(100)는 구동 신호 발생부(110), 픽셀 어레이(P), 더미 픽셀 어레이(DP), 시간-아날로그 변환기(130), 아날로그-디지털 변환기(150)를 포함할 수 있다.
구동 신호 발생부(110)는 입력되는 기준 구동 신호(TXREF)로부터 펄스 신호를 발생시키고, 발생된 펄스 신호를 더미 픽셀 어레이(DP)의 로우(row) 신호 라인에 전달할 수 있다.
픽셀 어레이(P)는 로우(row) 신호 라인들과, 컬럼(column) 신호 라인들 및 다수의 픽셀들을 포함할 수 있다. 픽셀들은 수신되는 광 신호를 감지하는 포토 다이오드, 수신되는 구동 신호에 따라 전하를 충전하기 위한 구동 트랜지스터들 및 캐패시터들을 포함할 수 있다.
이러한 픽셀 어레이(P)는 로우 신호 라인과 컬럼 신호 라인의 RC 지연과 같은 내부 지연 인자로 인해 구동 신호에 지연이 발생할 수 있다. 지연되는 신호를 감지하기 위해 시간-아날로그 변환기(Time to Amplitude Converter, TAC, 130)가 마련될 수 있다.
더미 픽셀 어레이(DP)는 픽셀 어레이(P)의 상하좌우를 감싸도록 배치될 수 있으며, 픽셀 어레이(P)와 전기적으로 연결될 수 있다. 더미 픽셀 어레이(DP)는 구동 신호가 수신될 수 있다. 더미 픽셀 어레이(DP)는 구동 신호를 로우 신호 라인들에 신호를 전달할 수 있다. TAC(130)은 더미 픽셀 어레이(DP)의 내부에 마련될 수 있다. TAC(130)은 기준 구동 신호(TXREF)와 픽셀에 인가된 픽셀 구동 신호(TXx)를 기초로 지연 시간을 측정할 수 있다.
도 2에 도시된 바와 같이, TAC(130)은 로직회로(131), 스위치(132), 전류 소스원(133), 캐패시터(134)를 포함할 수 있다. 여기서, TAC(130)에는 기준 구동 신호가 별도의 구동 회로를 통해 제공될 수 있으며, 이에 한정되지 않는다. 도 2에 기재된 VREF는 TAC의 동작 전압을 의미하며, RST는 펄스 전압으로 캐패시터 Cn을 리셋하여 Vn을 초기화하기 위한 펄스를 의미하며, Ix는 전류 소스로 전류미러로 구성될 수 있으며, TXn은 스위치로 지연 신호가 감지될 때마다 동작되는 스위치이며, TXREF는 기준 구동 신호로 지연 시간을 측정하기 위한 기준으로 사용되며, TXX는 각 로우 방향에 해당하는 TX 전압을 의미하며, TXX1은 로직회로(131)에 입력되는 SWx로 선택된 TXx 펄스 전압을 의미할 수 있다.
로직회로(131)는 픽셀 구동 신호와 기준 구동 신호를 논리 연산하여 지연 시간을 감지할 수 있다. 스위치(132)는 지연 신호가 감지될 때마다 열릴 수 있다. 이에 전류 소스원(133)의 Ix에 의해 일정량의 전하가 캐패시터(134)에 축적될 수 있다. 스위치(132)는 전류 소스원(133)과 캐패시터(134) 사이에 구비될 수 있다.
TAC(130)에는 리셋 스위치(RST)를 더 포함할 수 있다. 리셋 스위치는 펄스 전압으로 캐패시터(134)를 리셋 하여 Vn을 초기화할 수 있다.
여기서, 이미지 센서(100)에는 드라이버(170)를 더 포함할 수 있다. 드라이버(170)는 구동 신호를 생성하여 픽셀 어레이(P) 및 더미 픽셀 어레이(DP)에 제공할 수 있다.
한편, 각 픽셀 캐패시터에 저장되는 충전량은 서로 다를 수 있다. 이를 방지하기 위해 각 픽셀에 저장되는 충전량의 오차를 줄이기 위해 다음과 같이 구성될 수 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 전류 소스원(133)과 캐패시터(134) 사이에 복수개의 스위치(137)가 배치될 수 있다. 스위치(137)는 제1 스위치(SW<-1>)와 제2 스위치(SW<0>)와 제3 스위치(SW<1>)를 포함할 수 있으나, 그 개수는 한정되지 않는다.
제1 스위치(SW<-1>)와 제2 스위치(SW<0>)와 제3 스위치(SW<1>)는 로우 방향으로 인접하게 배치된 제2 더미 픽셀과 상기 제2 더미 픽셀과 컬럼 방향으로 배치된 제3 더미 픽셀과 제4 더미 픽셀과 연결될 수 있다. 제3 더미 픽셀은 제2 더미 픽셀의 상부의 마련된 픽셀을 의미할 수 있다. 제4 더미 픽셀은 제2 더미 픽셀의 하부의 마련된 픽셀을 의미할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
제1 더미 픽셀에 배치된 캐패시터에 저장되는 전압(Vn<0>)은 제2 더미 픽셀과, 제3 더미 픽셀과, 제4 더미 픽셀로부터 인가되는 전류 소스의 평균값이 저장될 수 있다.
이에 대한 동작을 살펴보면 다음과 같다.
도 3에 도시된 바와 같이, 첫번째 SW<-1>이 온되며, TXX<2> 기준으로 위쪽에 위치한 TAC이 선택되고, TXX<2> 위치의 캐패시터에 아래의 수식으로 전압이 적분될 수 있다.
[수학식 1]
Figure 112021054538899-pat00001
여기서, td는 지연 시간을 의미할 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, SW<0>이 온되고 TXX<2> 기준으로 동일한 위치에 위치한 TAC (Logic 및 current source)가 선택되고, TXX<2> 위치의 캐패시터에 수학식 2에 의해 전압이 적분된다. 이때 수학식 1에 의해 계산된 전압은 그대로 유지되어 더해질 수 있다.
[수학식 2]
Figure 112021054538899-pat00002
도 5에 도시된 바와 같이, SW<1>이 온 되며 TXX<2>기준으로 아래의 위치에 위치한 TAC (Logic 및 current source)가 선택되고, TXX<2> 위치의 캐패시터에 수학식 3에 의해 전압이 적분된다. 이때 수학식 1 및 수학식 2에 의해 계산된 전압은 그대로 유지되어 더해진다.
[수학식 3]
Figure 112021054538899-pat00003
따라서 동일한 입력이 3개의 TAC를 통해 1개의 캐패시터에 저장되므로 근접한 TAC의 variation의 완화 효과를 가진다.
한편, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 이미지 센서(100)는 칩 사이즈로 인해 variation이 발생될 수 있다. 이에 전류 소스의 게인 에러(Aerr)를 유발할 수 있다. 이를 해결하기 위해 실시예는 더미 픽셀 어레이(DP)의 캐패시터에 각각 저장된 전압값을 기초로 시간 정보를 얻을 수 있다.
예컨대, TXx 신호 및 기준 구동 신호인 TXREF와 TAC(130)을 통해 적분된 전압(Vn)의 비율을 이용하여 수학식 4에 의해 게인 에러(Aerr)에 무관한 시간 정보를 얻을 수 있다.
[수학식 4]
Figure 112021054538899-pat00004
또한, 각 픽셀의 전류 소스에는 오프셋 전압(Vos)가 존재하는 데 이는 수학식 5에 도시된 바와 같이, 이미지 센서의 DCS 동작으로 제거할 수 있다.
[수학식 5]
Figure 112021054538899-pat00005
도 8은 실시예에 따른 이미지 처리 장치를 나타낸 블록도이다.
도 8을 참조하면, 실시예에 따른 이미지 처리 장치는 이미지 센서(100), 광 방출기(200), 프로세서(300) 및 메모리(400)를 포함할 수 있다.
이미지 센서(100)는 피사체로부터 반사되는 광 신호(IR_R)를 센싱하며, 내부 지연 인자로 인한 구동 신호의 지연을 보상하기 위한 보정 데이터를 생성한다. 이러한 이미지 센서(100)는 도 1에 도시한 바와 같이 더미 픽셀 어레이(DP), 시간-아날로그 변환기(130) 및 시간 아날로그-디지털 변환기(150)를 포함하며, 이에 대한 세부 구성 및 동작에 대한 설명은 도 1 내지 도 7의 설명으로 대체한다.
광 방출기(200)는 일정 주파수를 가지는 광 신호(IR)를 피사체(500)로 방출한다. 일례로, 광 방출기(200)는 적외선 신호를 피사체(500)에 방출할 수 있다.
프로세서(300)는 광 방출기(200)와 이미지 센서(100)를 제어한다. 이러한 프로세서(300)는 광 신호(IR)와 반사되는 광 신호(IR_R)의 위상 차이(Δ ) 및 광 신호(IR)의 주파수(f)에 기초하여 피사체(500)의 깊이 영상을 획득할 수 있다. 본 명세서에서는 위상 차이(Δ )를 이용하여 피사체의 깊이 영상을 연산하는 알고리즘에 대한 설명은 생략한다.
그리고, 프로세서(300)는 이미지 센서(100)의 내부 지연 인자로 인한 구동 신호의 지연을 보상하기 위한 보정 데이터에 기초하여 깊이 영상의 깊이 값들을 보상하여 보상된 깊이 영상을 생성할 수 있다.
메모리(400)는 보정 데이터와 및 보상된 깊이 영상을 저장할 수 있다. 그리고, 메모리(400)는 프로세서(300)의 동작과 제어를 위한 데이터를 저장할 수 있다.
상술한 바와 같이 실시예들은 이미지 센서(100)의 내부 지연 인자에 의한 구동 신호의 지연 값을 측정할 수 있고, 이를 디지털 데이터로 변환하여 프로세서(300)에 제공할 수 있다.
또한, 실시예들은 이미지 센서의 내부 지연 인자로 인한 구동 신호의 지연에 의해 유발되는 깊이 에러를 보상함으로써 구동 신호의 정확한 TOF를 측정할 수 있다.
또한, 실시예들은 피사체와의 거리를 정확히 산출함으로써 깊이 에러가 보상된 깊이 영상을 획득할 수 있다.
상기에서는 도면 및 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 실시예의 기술적 사상으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 실시예는 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음은 이해할 수 있을 것이다.
100: 이미지 센서
110: 구동 신호 발생부
130: TAC
200: 광 방출기
300: 프로세서
400: 메모리

Claims (10)

  1. 기준 구동 신호를 발생시키는 구동 신호 발생부;
    픽셀 어레이의 주위에 배치되며 지연 시간이 포함된 픽셀 구동 신호들을 출력하는 더미 픽셀 어레이;
    상기 더미 픽셀 어레이의 각각에 배치되어 상기 더미 픽셀 어레이 내의 상기 픽셀 구동 신호와 기준 구동 신호를 기초로 상기 지연 시간을 측정하고, 측정된 상기 지연 시간을 아날로그 값으로 변환시키는 시간-아날로그 변환기; 및
    상기 시간-아날로그 변환기로부터 출력된 상기 아날로그 값을 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 아날로그-디지털 변환기;
    를 포함하는 이미지 센서.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 시간-아날로그 변환기는,
    상기 더미 픽셀 어레이는 상기 기준 구동 신호를 로우 방향으로 전달하는 이미지 센서.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 시간-아날로그 변환기는,
    상기 픽셀 구동 신호와 상기 기준 구동 신호를 논리 연산하여 상기 지연 시간을 감지하는 로직 회로와,
    상기 로직 회로로부터의 지연 신호에 따라 스위칭되는 스위치와,
    상기 스위치의 스위칭 신호에 응답하여 전류를 공급하는 전류 소스원과,
    상기 전류 소스원으로부터 공급되는 상기 전류를 통해 전하를 충전하는 캐패시터를 포함하는 이미지 센서.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 시간-아날로그 변환기는,
    상기 더미 픽셀 어레이 중 제1 더미 픽셀에 배치된 캐패시터는 열 방향으로 인접하게 배치된 제2 더미 픽셀과 상기 제2 더미 픽셀의 행 방향으로 인접하게 배치된 제3 더미 픽셀 및 제4 더미 픽셀의 캐패시터값의 평균값을 저장하는 이미지 센서.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 시간-아날로그 변환기는,
    상기 더미 픽셀 어레이의 캐패시터에 각각 저장된 전압값을 기초로 상기 지연 시간을 측정하는 이미지 센서.
  6. 일정 주파수를 가지는 광 신호를 피사체로 방출하는 광 방출기;
    기준 구동 신호를 발생시키는 구동 신호 발생부와, 픽셀 어레이의 주위에 배치되며 지연 시간이 포함된 픽셀 구동 신호들을 출력하는 더미 픽셀 어레이와, 상기 더미 픽셀 어레이의 각각에 배치되어 상기 더미 픽셀 어레이 내의 상기 픽셀 구동 신호와 기준 구동 신호를 기초로 상기 지연 시간을 측정하고, 측정된 상기 지연 시간을 아날로그 값으로 변환시키는 시간-아날로그 변환기와, 상기 시간-아날로그 변환기로부터 출력된 상기 아날로그 값을 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 아날로그-디지털 변환기와 상기 지연 시간을 보상하기 위한 보정 데이터를 생성하는 보정 데이터 생성부를 포함하는 이미지 센서; 및
    상기 광 신호와 반사되는 광 신호의 위상 차이에 기초하여 깊이 영상을 획득하고, 상기 보정 데이터에 기초하여 상기 깊이 영상의 깊이 값들을 보상함으로써 보상된 깊이 영상을 생성하는 프로세서;
    를 포함하는 이미지 처리 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 시간-아날로그 변환기는,
    상기 더미 픽셀 어레이는 상기 기준 구동 신호를 로우 방향으로 전달하는 이미지 처리 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 시간-아날로그 변환기는,
    상기 픽셀 구동 신호와 상기 기준 구동 신호를 논리 연산하여 상기 지연 시간을 감지하는 로직 회로와,
    상기 로직 회로로부터의 지연 신호에 따라 스위칭되는 스위치와,
    상기 스위치의 스위칭 신호에 응답하여 전류를 공급하는 전류 소스원과,
    상기 전류 소스원으로부터 공급되는 상기 전류를 통해 전하를 충전하는 캐패시터를 포함하는 이미지 처리 장치.
  9. 제6항에 있어서,
    상기 시간-아날로그 변환기는,
    상기 더미 픽셀 어레이 중 제1 더미 픽셀에 배치된 캐패시터는 열 방향으로 인접하게 배치된 제2 더미 픽셀과 상기 제2 더미 픽셀의 행 방향으로 인접하게 배치된 제3 더미 픽셀 및 제4 더미 픽셀의 캐패시터값의 평균값을 저장하는 이미지 처리 장치.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 시간-아날로그 변환기는,
    상기 더미 픽셀 어레이의 캐패시터에 각각 저장된 전압값을 기초로 상기 지연 시간을 측정하는 이미지 처리 장치.
KR1020210060940A 2021-03-09 2021-05-11 이미지 센서 및 이를 포함하는 이미지 처리 장치 KR102413629B1 (ko)

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KR1020210060940A KR102413629B1 (ko) 2021-03-09 2021-05-11 이미지 센서 및 이를 포함하는 이미지 처리 장치

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016134909A (ja) * 2015-01-22 2016-07-25 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP2016211881A (ja) * 2015-04-30 2016-12-15 株式会社デンソー 光飛行時間測定装置及び光学的測距装置
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KR20210044433A (ko) 2019-10-15 2021-04-23 에스케이하이닉스 주식회사 이미지 센서 및 이를 포함하는 이미지 처리 장치

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