KR102403120B1

KR102403120B1 - 전자 장치

Info

Publication number: KR102403120B1
Application number: KR1020210102332A
Authority: KR
Inventors: 정환희; 김연태; 김태준
Original assignee: 삼성디스플레이 주식회사
Priority date: 2018-12-07
Filing date: 2021-08-04
Publication date: 2022-05-31
Also published as: KR20210101176A

Abstract

전자 장치는 베이스층, 상기 베이스층 위에 배치된 표시층, 상기 표시층 위에 배치된 박막 봉지층, 및 상기 박막 봉지층 위에 직접 배치되며, 제1 센서부 및 상기 제1 센서부와 이격된 제2 센서부를 포함하는 감지층을 포함하고, 상기 제1 센서부는 제1 메쉬선들, 및 상기 제1 메쉬선들과 이격되며 상기 제1 메쉬선들에 의해 에워싸인 제1 플로팅 메쉬선들을 포함하고, 상기 제1 센서부에는 상기 제1 메쉬선들의 일부가 제거된 부분을 연결한 제1 절개 라인 및 상기 제1 플로팅 메쉬선들을 에워싸는 제2 절개 라인이 정의되고, 상기 제2 절개 라인의 길이는 상기 제1 절개 라인의 길이보다 길 수 있다..

Description

전자 장치{ELECTRONIC DEVICE}

본 발명은 전자 장치에 관한 것으로, 상세하게는 외광 반사에 따른 시인성이 개선된 전자 장치에 관한 것이다.

전자 장치는 전기적 신호를 인가 받아 활성화된다. 전자 장치는 영상을 표시하는 표시 장치나 외부로부터 인가되는 터치를 감지하는 터치 스크린을 포함한다.

전자 장치는 전기적 신호에 의해 활성화 되도록 다양한 전극 패턴들을 포함할 수 있다. 전극 패턴들이 활성화된 영역은 정보가 표시되거나 외부로부터 인가되는 터치에 반응한다.

본 발명은 터치 센서들이 외광 반사에 의해 시인되는 것을 방지할 수 있는 전자 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 베이스층, 상기 베이스층 위에 배치된 표시층, 상기 표시층 위에 배치된 박막 봉지층, 및 상기 박막 봉지층 위에 직접 배치되며, 제1 센서부 및 상기 제1 센서부와 이격된 제2 센서부를 포함하는 감지층을 포함하고, 상기 제1 센서부는 제1 메쉬선들, 및 상기 제1 메쉬선들과 이격되며 상기 제1 메쉬선들에 의해 에워싸인 제1 플로팅 메쉬선들을 포함하고, 상기 제1 센서부에는 상기 제1 메쉬선들의 일부가 제거된 부분을 연결한 제1 절개 라인 및 상기 제1 플로팅 메쉬선들을 에워싸는 제2 절개 라인이 정의되고, 상기 제2 절개 라인의 길이는 상기 제1 절개 라인의 길이보다 길 수 있다.

상기 제2 절개 라인은 폐곡선 형상을 가질 수 있다.

상기 제1 플로팅 메쉬선들은 상기 제1 메쉬선들과 절연될 수 있다.

상기 제1 절개 라인 및 상기 제2 절개 라인 각각은 복수로 제공되고, 복수의 제1 절개 라인들은 서로 이격되고, 복수의 제2 절개 라인들은 서로 이격될 수 있다.

상기 제1 절개 라인을 사이에 두고 마주하는 상기 제1 메쉬선들의 제1 부분 및 상기 제1 메쉬선들의 제2 부분은 서로 전기적으로 연결될 수 있다.

상기 제2 센서부는 제2 메쉬선들, 및 상기 제2 메쉬선들과 이격되며 상기 제2 메쉬선들에 의해 에워싸인 제2 플로팅 메쉬선들을 포함하고, 상기 제2 센서부에는 상기 제2 메쉬선들의 일부가 제거된 부분을 연결한 제3 절개 라인 및 상기 제2 플로팅 메쉬선들을 에워싸는 제4 절개 라인이 정의되고, 상기 제4 절개 라인의 길이는 상기 제3 절개 라인의 길이보다 길 수 있다.

상기 제1 메쉬선들과 상기 제2 메쉬선들 사이에 상기 제1 센서부와 상기 제2 센서부의 경계가 정의될 수 있다.

상기 경계는 지그재그 형상을 가질 수 있다.

상기 경계는 서로 교대로 반복되는 상기 제1 센서부를 향해 돌출되는 부분 및 상기 제2 센서부를 향해 돌출되는 부분을 포함할 수 있다.

상기 제1 센서부와 상기 제2 센서부는 상기 경계를 사이에 두고 맞물리는 형상을 가질 수 있다.

상기 제1 센서부에는 상기 경계로부터 연장된 제1 추가 절개 라인이 더 정의되고, 상기 제1 추가 절개 라인은 상기 제1 메쉬선들의 일부분이 제거되어 정의될 수 있다.

상기 제2 센서부에는 상기 경계로부터 연장된 제2 추가 절개 라인이 더 정의되고, 상기 제2 추가 절개 라인은 상기 제2 메쉬선들의 일부분이 제거되어 정의될 수 있다.

상기 제2 절개 라인은 상기 제1 절개 라인을 사이에 두고 상기 경계와 이격될 수 있다.

상기 감지층은 상기 박막 봉지층과 직접 접촉된 절연층, 상기 절연층 위에 배치되며 상기 제1 센서부와 전기적으로 연결된 연결 전극, 및 상기 연결 전극을 커버하는 중간 절연층을 더 포함할 수 있다.

상기 제1 센서부 및 상기 제2 센서부는 상기 중간 절연층 위에 직접 배치 되고, 상기 제1 센서부는 상기 중간 절연층에 제공된 컨택홀을 통해 상기 연결 전극에 전기적으로 접촉될 수 있다.

상기 감지층은 상기 중간 절연층 위에 배치되고 상기 연결 전극을 통해 상기 제1 센서부와 전기적으로 연결된 제3 센서부를 더 포함할 수 있다.

본 발명에 따르면, 외부 터치를 감지하는 센서부들 사이의 경계나 센서부 내의 도전 패턴들이 외광 반사에 의해 사용자에게 용이하게 시인되는 것을 방지할 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 전자 장치의 일부 구성을 도시한 평면도이다.
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부 구성들을 각각 도시한 평면도들이다.
도 3c는 도 3a 및 도 3b에 도시된 Ⅰ-Ⅰ'를 따라 자른 단면도이다.
도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부 구성들을 각각 도시한 평면도들이다.
도 4d는 도 4a 내지 도 4c에 도시된 Ⅱ-Ⅱ'를 따라 자른 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일 부분을 도시한 단면도이다.
도 6a는 도 2에 도시된 XX' 영역을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 6b는 도 6a에 도시된 YY' 영역을 확대하여 도시한 평면도이다. 도 6a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다.
도 7a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다.
도 7b는 도 7a의 YY''를 확대하여 도시한 평면도이다.
도 8a는 본 발명에 대한 비교 실시예의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다.
도 8b는 본 발명의 일 실시예의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다.
도 8c는 본 발명의 일 실시예의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다.
도 9a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다.
도 9b는 도 9a에 도시된 일부 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 10a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다.
도 10b는 도 10a의 YY'''를 확대하여 도시한 평면도이다.
도 10c는 도 10a에 도시된 일부 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부 영역을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일 부분을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 13a 내지 도 13c는 도 12의 ZZ' 영역을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 14는 도 13a의 KK’ 영역을 도시한 평면도이다.
도 15a는 도 13c의 일부 구성을 도시한 도면이다.
도 15b는 도 15a에 도시된 일부 구성의 비교예를 도시한 도면이다.
도 16a 내지 도 16c는 도 15a에 도시된 구성들 중 일부 구성들에 대해 개략적으로 도시한 도면들이다.
도 17a 내지 도 17c는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일 실시예들을 도시한 단면도들이다.

이하, 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 사시도이다. 도 2는 도 1에 도시된 전자 장치의 일부 구성을 도시한 평면도이다. 이하, 도 1 및 도 2를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치에 대해 살펴본다.

도 1에 도시된 것과 같이, 전자 장치(1000)는 외부에서 인가되는 터치를 감지한다. 예를 들어, 전자 장치(1000)는 터치 스크린 또는 터치 가능한 표시장치일 수 있다.

한편, 외부에서 인가되는 터치는 다양한 방식으로 제공될 수 있다. 도 1에는 사용자의 손과 같은 신체의 일부가 전자 장치(1000)에 근접하거나 접촉하는 상태를 터치로 감지하는 실시예를 도시하였다.

다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 전자 장치(1000)는 스타일러스 펜과 같은 무체물의 일부가 근접하거나 접촉하는 상태를 터치로 감지할 수도 있다. 또한, 전자 장치(1000)는 광학식, 접촉식, 열감지식, 또는 자기식을 포함하는 다양한 방식을 통해 제공되는 외부 터치를 감지할 수 있다.

전자 장치(1000)는 평면상에서 액티브 영역(AA) 및 주변 영역(NAA)으로 구분될 수 있다. 액티브 영역(AA)은 전기적 신호가 인가되면 외부 터치를 감지할 수 있도록 활성화된다.

본 실시예에서, 액티브 영역(AA)은 상대적으로 전자 장치(1000)의 중심에 치우치도록 정의된다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 전자 장치(1000)의 사용 형태에 따라 전자 장치(1000)의 외곽이나 일측에 치우치도록 정의될 수도 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

주변 영역(NAA)은 액티브 영역(AA)에 인접하여 정의된다. 전자 장치(1000)는 주변 영역(NAA)에 인가되는 외부 터치를 감지하지 않는다.

도 1에는 주변 영역(NAA)이 액티브 영역(AA)을 에워싸는 프레임 형상으로 정의된 실시예를 예시적으로 도시하였다. 한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 주변 영역(NAA)은 다양한 형상을 가질 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 전면이 전체적으로 액티브 영역(AA)으로 정의될 수도 있으며, 이때 주변 영역(NAA)은 생략될 수도 있다.

전자 장치(1000)는 베이스 부재(100) 및 터치 부재(200)를 포함한다. 베이스 부재(100)는 터치 부재(200)가 배치되기 위한 기저층일 수 있다.

예를 들어, 베이스 부재(100)는 유리, 고분자 수지 등과 같은 절연성 재료로 이루어진 절연 기판 또는 절연 필름일 수 있다. 베이스 부재(100)가 절연 기판인 경우, 전자 장치(1000)는 향상된 강성을 가질 수 있다. 또는, 베이스 부재(100)가 절연 필름인 경우, 전자 장치(1000)는 향상된 유연성을 가질 수 있다.

한편, 베이스 부재(100)는 복수의 유기막들 및/또는 무기막들이 적층된 박막층일 수 있다. 이때, 전자 장치(1000)는 슬림한 장치로 구현될 수 있다.

다만, 이는 예시적으로 기재한 것이고, 본 발명에 따른 베이스 부재(100)는 다양한 실시예들을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

터치 부재(200)는 베이스 부재(100)의 일면 상에 배치된다. 도 1에는 터치 부재(200)가 베이스 부재(100)의 상면에 배치된 실시예를 도시하였으나, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 부재(200)는 베이스 부재(100)의 하면에 배치될 수도 있다.

외부에서 인가된 터치는 실질적으로 터치 부재(200)에 의해 감지될 수 있다. 터치 부재(200)는 복수의 제1 전극들(TE1), 복수의 제2 전극들(TE2), 복수의 제1 배선들(WP1), 복수의 제2 배선들(WP2), 복수의 제1 패드들(PD1), 및 복수의 제2 패드들(PD2)을 포함할 수 있다.

복수의 제1 전극들(TE1)과 복수의 제2 전극들(TE2)은 액티브 영역(AA)에 배치된다. 복수의 제1 전극들(TE1)과 복수의 제2 전극들(TE2)은 절연 교차할 수 있다.

예를 들어, 복수의 제1 전극들(TE1)은 센싱 신호를 출력하고, 복수의 제2 전극들(TE2)은 구동 신호를 수신할 수 있다. 이때, 전자 장치(1000)는 복수의 제2 전극들(TE2)에 구동 신호를 인가하여 액티브 영역(AA)을 스캔하고, 복수의 제1 전극들(TE1)로부터 출력되는 센싱 신호를 통해 터치가 인가된 영역을 감지할 수 있다.

한편, 이는 예시적으로 기재한 것이고, 복수의 제1 전극들(TE1)이 구동 신호를 수신하고 복수의 제2 전극들(TE2)이 센싱 신호를 출력할 수도 있으며, 다른 전기적 신호들을 추가적으로 수신하거나 출력할 수도 있다.

복수의 제1 전극들(TE1)은 제1 방향(DR1)을 따라 연장되고, 제2 방향(DR2)을 따라 배열된다. 제1 방향(DR1)과 제2 방향(DR2)은 서로 교차한다.

복수의 제1 전극들(TE1) 각각은 복수의 제1 센서부들(SP1) 및 복수의 제1 연결부들(CP1)을 포함한다. 복수의 제1 센서부들(SP1)은 제1 방향(DR1)을 따라 배열되고, 복수의 제1 연결부들(CP1)은 복수의 제1 센서부들(SP1)을 각각 연결한다.

복수의 제2 전극들(TE2)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장되고, 제1 방향(DR1)을 따라 배열된다. 복수의 제2 전극들(TE2) 각각은 복수의 제2 센서부들(SP2) 및 복수의 제2 연결부들(CP2)을 포함한다. 복수의 제2 센서부들(SP2)은 제2 방향(DR2)을 따라 배열되고, 복수의 제2 연결부들(CP2)은 복수의 제2 센서부들(SP2)을 각각 연결한다.

본 실시예에서, 복수의 제1 센서부들(SP1)과 복수의 제2 센서부들(SP2) 각각은 복수의 메쉬선들을 포함할 수 있다. 복수의 메쉬선들 각각은 제3 방향(DR3) 또는 제4 방향(DR4)으로 연장될 수 있다. 제3 방향(DR3) 및 제4 방향(DR4)은 서로 교차하며, 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2)에 각각 교차한다.

서로 인접한 복수의 제1 센서부들(SP1) 및 복수의 제2 센서부들(SP2)에 있어서, 복수의 제1 센서부들(SP1)을 이루는 메쉬선들과 복수의 제2 센서부들(SP2)을 이루는 메쉬선들은 서로 단절되어 분리된다. 복수의 제1 센서부들(SP1)과 복수의 제2 센서부들(SP2) 사이의 분리된 공간은 복수의 제1 센서부들(SP1)과 복수의 제2 센서부들(SP2) 사이의 경계로 정의될 수 있다.

복수의 제1 배선들(WP1) 및 복수의 제2 배선들(WP2)은 주변 영역(NAA)에 배치된다. 복수의 제1 배선들(WP1)은 복수의 제1 전극들(TE1)에 각각 연결되고, 복수의 제2 배선들(WP2)은 복수의 제2 전극들(TE2)에 각각 연결된다.

복수의 제1 패드들(PD1) 및 복수의 제2 패드들(PD2)은 주변 영역(NAA)에 배치된다. 복수의 제1 패드들(PD1) 및 복수의 제2 패드들(PD2)은 복수의 제1 배선들(WP1) 및 복수의 제2 배선들(WP2)에 각각 연결된다.

전자 장치(1000)는 복수의 제1 패드들(PD1) 및 복수의 제2 패드들(PD2)을 통해 외부 전원으로부터 전원 전압을 수신하거나, 복수의 제1 패드들(PD1) 및 복수의 제2 패드들(PD2)을 통해 액티브 영역(AA)에서 감지된 외부 터치에 대응하는 신호를 외부로 출력한다.

한편, 본 실시예에서, 복수의 제1 패드들(PD1)과 복수의 제2 패드들(PD2)은 순차적으로 정렬되도록 도시되었으나, 복수의 제1 패드들(PD1) 및 복수의 제2 패드들(PD2)은 서로 교번하여 배치되거나 부분적으로 분리되어 배치될 수도 있으며, 어느 하나의 배치방식에 한정되지 않는다.

터치 부재(200)는 복수의 제1 전극들(TE1)과 복수의 제2 전극들(TE2) 사이의 정전 용량 커플링을 통해 외부 터치를 감지하는 정전 용량 방식으로 동작할 수 있다. 한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 터치 부재(200)는 저항막 방식, 광학 방식, 초음파 방식, 또는 좌표 인식 방식 등 다양한 방식을 통해 외부 터치를 감지할 수 있으며, 이에 대응되는 전극 구조를 가질 수 있다.

한편, 제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2)는 각각 복수의 영역들로 구분될 수 있다. 제1 센서부(SP1)는 제1 센서부의 제1 영역(AR11) 및 제1 센서부의 제2 영역(AR12)으로 구분되고, 제2 센서부(SP2)는 제2 센서부의 제1 영역(AR21) 및 제2 센서부의 제2 영역(AR22)으로 구분될 수 있다.

제1 센서부의 제1 영역(AR11) 및 제2 센서부의 제1 영역(AR21)은 제1 센서부(SP1)의 중심 및 제2 센서부(SP2)의 중심에 각각 배치된다.

제1 센서부의 제2 영역(AR12) 및 제2 센서부의 제2 영역(AR22)은 각각 제1 센서부의 제1 영역(AR11) 및 제2 센서부의 제1 영역(AR21)에 인접한다. 제1 센서부의 제2 영역(AR12) 및 제2 센서부의 제2 영역(AR22)은 제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2) 사이의 경계와도 인접할 수 있다. 제1 영역들(AR11, AR21) 및 제2 영역들(AR12, AR22)에 대한 상세한 설명은 후술하기로 한다.

한편, 도시되지 않았으나, 터치 부재(200) 중 액티브 영역(AA)은 복수의 중심 영역들 및 주변 영역을 포함할 수 있다. 제1 센서부의 제1 영역(AR11) 및 제2 센서부의 제1 영역(AR21)은 각각 복수의 중심 영역들에 대응될 수 있다.

주변 영역은 복수의 중심 영역들에 인접하고, 복수의 중심 영역들 각각을 에워싼다. 제1 센서부의 제2 영역(AR12), 제2 센서부의 제2 영역(AR22), 및 제1 센서부(SP1)와 제2 센서부(SP2) 사이의 경계는 주변 영역에 대응될 수 있다. 복수의 중심 영역들 및 주변 영역에 관한 상세한 설명은 후술하기로 한다.

도 3a 및 도 3b는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부 구성들을 각각 도시한 평면도들이다. 도 3c는 도 3a 및 도 3b에 도시된 Ⅰ-Ⅰ'를 따라 자른 단면도이다.

도 3a에는 베이스 부재(100) 상에 배치된 구성을 도시하였고, 도 3b에는 절연막(ILD) 상에 배치된 구성을 도시하였다. 도 3c에는 도 3a 및 도 3b에 도시된 구성들이 결합된 전자 장치(1000)의 단면도를 도시하였다. 이하, 도 3a 내지 도 3c를 참조하여 전자 장치(1000)에 대해 상세히 살펴본다.

도 3a에 도시된 것과 같이, 복수의 제1 센서부들(SP1), 복수의 제1 연결부들(CP1), 복수의 제2 센서부들(SP2), 복수의 제1 배선들(WP1), 및 복수의 제2 배선들(WP2)은 베이스 부재(100) 상에 배치된다.

복수의 제1 연결부들(CP1)은 베이스 부재(100) 상에 배치되고, 복수의 제1 센서부들(SP1) 및 복수의 제2 센서부들(SP2)과 동일한 층상에 배치될 수 있다. 이에 따라, 복수의 제1 센서부들(SP1), 복수의 제2 센서부들(SP2), 및 복수의 제1 연결부들(CP1)은 동시에 형성될 수 있다.

또한, 복수의 제1 센서부들(SP1)과 복수의 제1 연결부들(CP1)은 일체로 형성될 수 있다. 한편, 이는 예시적으로 기재한 것이고, 복수의 제1 센서부들(SP1)과 복수의 제1 연결부들(CP1)은 독립적으로 형성될 수도 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

복수의 제1 센서부들(SP1) 각각은 단층 또는 다층 구조를 가질 수 있다. 예를 들어, 도 3c에 도시된 것과 같이, 복수의 제1 센서부들(SP1) 각각은 제1 도전층(SP1a) 및 제2 도전층(SP1b)을 포함할 수 있다.

제1 도전층(SP1a)은 은-나노 와이어(AgNW)를 포함할 수 있다. 제2 도전층(SP1b)은 투명 도전성 물질, 예를 들어, 인듐 주석 산화물(ITO) 또는 인듐 아연 산화물(IZO)을 포함할 수 있다.

한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 제1 도전층(SP1a) 및 제2 도전층(SP1b) 각각은 단일 물질로 이루어진 단일층일 수 있다. 제1 도전층(SP1a) 및 제2 도전층(SP1b) 각각은 다양한 도전 물질을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

복수의 제1 연결부들(CP1) 각각은 단층 또는 다층 구조를 가질 수 있다. 또한, 예를 들어, 복수의 제1 연결부들(CP1)은 복수의 제1 센서부들(SP1)과 동일한 구조를 가질 수 있다.

본 실시예에서, 복수의 제1 연결부들(CP1) 각각은 제1 도전층(CP1a) 및 제1 도전층(CP1a) 상에 배치된 제2 도전층(CP1b)을 포함한다. 제1 도전층(CP1a) 및 제2 도전층(CP1b)은 복수의 제1 센서부들(SP1)의 제1 도전층(SP1a) 및 제2 도전층(SP1b)에 각각 대응될 수 있다.

복수의 제2 센서부들(SP2) 각각은 단층 또는 다층 구조를 가질 수 있다. 본 실시예에서, 복수의 제2 센서부들(SP2)은 복수의 제1 센서부들(SP1)과 동일한 구조를 가질 수 있다. 복수의 제2 센서부들(SP2)은 복수의 제1 센서부들(SP1)의 제1 도전층(SP1a) 및 제2 도전층(SP1b)에 각각 대응되는 제1 도전층(SP2a) 및 제2 도전층(SP2b)을 포함할 수 있다.

한편, 하나의 제1 센서부와 이에 인접한 하나의 제2 센서부는 서로 이격되어 배치된다. 이때, 제1 센서부와 제2 센서부 사이의 이격된 공간은 제1 센서부와 제2 센서부 사이의 경계(BL)로 정의될 수 있다. 복수의 메쉬선들(MSL)은 경계(BL) 내에 존재하지 않는다.

한편, 도시되지 않았으나, 하나의 제1 센서부와 하나의 제2 센서부 사이에는 더미 패턴이 더 배치될 수도 있다. 더미 패턴은 인접한 제1 센서부 및 제2 센서부 각각에 대해 전기적으로 절연된다. 이때, 복수의 메쉬선들(MSL) 중 절단된 부분들은 제1 센서부와 더미 패턴 사이의 경계 및 제2 센서부와 더미 패턴 사이의 경계를 정의할 수 있다.

절연막(ILD)은 베이스 부재(100) 상에 배치되고, 복수의 제1 전극들(TE1) 및 복수의 제2 센서부들(SP2)을 커버한다. 절연막(ILD)은 액티브 영역(AA)에 전면적으로 중첩할 수 있다.

절연막(ILD)은 절연 물질을 포함한다. 예를 들어, 절연막(ILD)은 유기 물질 및/또는 무기 물질을 포함할 수 있다. 절연막(ILD)은 복수의 제1 전극들(TE1) 및 복수의 제2 센서부들(SP2)을 보호한다.

복수의 제2 연결부들(CP2)은 제2 방향(DR2)으로 연장된다. 복수의 제2 연결부들(CP2)은 복수의 제1 연결부들(CP1)과 다른 층상에 배치되고, 복수의 제1 전극들(TE1)과 절연될 수 있다.

절연막(ILD)에는 복수의 제2 연결부들(CP2)의 양단에 중첩하는 복수의 컨택홀들(CH1, CH2)이 정의될 수 있다. 복수의 제2 연결부들(CP2)은 복수의 컨택홀들(CH1, CH2)을 통해 인접한 제2 센서부들을 연결한다. 복수의 제2 센서부들(SP2)을 구성하는 메쉬선들 중 일부는 복수의 제2 연결부들(CP2)에 연결되어 인접한 제2 센서부와 전기적으로 연결된다.

복수의 제2 연결부들(CP2)은 도전성 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 복수의 제2 연결부들(CP2)은 투명 도전성 물질을 포함할 수 있다. 한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 복수의 제2 연결부들(CP2)은 복수의 제1 연결부들(CP1)과 실질적으로 동일한 구조를 가질 수도 있다.

한편, 본 실시예에서, 복수의 제1 연결부들(CP1) 및 복수의 제2 연결부들(CP2) 각각은 복수의 메쉬선들(MSL)에 중첩하는 면적을 가진 패턴 형상을 가진 것으로 도시하였다. 그러나 이는 예시적으로 도시한 것이고, 복수의 제1 연결부들(CP1) 및 복수의 제2 연결부들(CP2) 중 적어도 어느 하나는 복수의 메쉬선들을 포함할 수도 있다. 복수의 제1 연결부들(CP1) 및 복수의 제2 연결부들(CP2)은 다양한 실시예들을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

복수의 제1 배선들(WP1) 각각은 단층 또는 다층 구조일 수 있다. 예를 들어, 복수의 제1 배선들(WP1) 각각은 제1 도전층(WP1a), 제2 도전층(WP1b), 및 제3 도전층(WP1c)을 포함할 수 있다.

제2 도전층(WP1b)은 제1 도전층(WP1a) 상에 배치된다. 본 실시예에서, 복수의 제1 배선들(WP1) 각각의 제1 도전층(WP1a) 및 제2 도전층(WP1b)은 복수의 제1 센서부들(SP1)의 제1 도전층(SP1a) 및 제2 도전층(SP1b)에 각각 대응될 수 있다.

예를 들어, 제1 도전층(WP1a)은 은-나노 와이어(AgNW)를 포함할 수 있고, 제2 도전층(WP1b)은 투명 전도성 산화물을 포함할 수 있다.

제3 도전층(WP1c)은 제2 도전층(WP1b) 상에 배치된다. 제3 도전층(WP1c)은 제1 도전층(WP1a) 및 제2 도전층(WP1b)에 비해 상대적으로 전도성이 높을 수 있다.

제3 도전층(WP1c)은 금속을 포함할 수 있다. 복수의 제1 배선들(WP1)은 복수의 제1 전극들(TE1)에 비해 제3 도전층(WP1c)을 더 포함함으로써, 상대적으로 높은 전기 전도도를 가질 수 있다.

복수의 제2 배선들(WP2) 각각은 단층 또는 다층 구조일 수 있다. 복수의 제2 배선들(WP2)은 복수의 제1 배선들(WP1)과 동일한 구조를 가질 수 있다.

예를 들어, 복수의 제2 배선들(WP2) 각각은 복수의 제1 배선들(WP1) 각각의 제1 도전층(WP1a), 제2 도전층(WP1b), 및 제3 도전층(WP1c)에 각각 대응되는 제1 도전층(WP2a), 제2 도전층(WP2b), 및 제3 도전층(WP2c)을 포함할 수 있다. 이때, 복수의 제1 배선들(WP1)과 복수의 제2 배선들(WP2)은 동일한 패터닝 공정에 의해 동시에 형성될 수 있어 공정 시간이 단축될 수 있다.

한편, 이는 예시적으로 기재한 것이고, 복수의 제1 배선들(WP1)과 복수의 제2 배선들(WP2)은 서로 상이한 구조나 상이한 물질을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

복수의 제1 패드들(PD1) 및 복수의 제2 패드들(PD2)은 절연막(ILD) 상에 배치될 수 있다. 복수의 제1 패드들(PD1) 및 복수의 제2 패드들(PD2)은 복수의 제2 연결부들(CP2)과 동일한 층 상에 배치될 수 있다. 복수의 제1 패드들(PD1) 및 복수의 제2 패드들(PD2) 각각은 절연막(ILD)에 정의된 컨택홀들(미도시)을 통해 복수의 제1 배선들(WP1) 및 복수의 제2 배선들(WP2) 각각에 연결될 수 있다.

한편, 도시되지 않았으나, 복수의 제1 패드들(PD1)과 복수의 제2 패드들(PD2)은 베이스 부재(100) 상에 배치되어 복수의 제1 배선들(WP1) 및 복수의 제2 배선들(WP2) 각각에 직접 연결될 수도 있다. 이때, 절연막(ILD)은 복수의 제1 패드들(PD1)과 복수의 제2 패드들(PD2)이 노출되도록 베이스 부재(100)을 부분적으로 커버할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 다양한 형상의 터치 부재를 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부 구성들을 각각 도시한 평면도들이다. 도 4d는 도 4a 내지 도 4c에 도시된 Ⅱ-Ⅱ'를 따라 자른 단면도이다. 이하, 도 4a 내지 도 4c를 참조하여 본 발명에 따른 전자 장치(1000-A)의 일 실시예에 대해 살펴본다. 한편, 도 3a 내지 도 3c에서 설명한 구성들과 동일한 구성들에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.

도 4a 및 도 4b에 도시된 것과 같이, 복수의 제2 연결부들(CP2-A)은 베이스 부재(100) 상에 배치될 수 있다. 이에 따라, 복수의 제2 연결부들(CP2-A)은 절연막(ILD)에 의해 커버될 수 있다.

절연막(ILD)에는 복수의 제2 연결부들(CP2-A)에 대응되는 복수의 컨택홀들(CH1, CH2)이 정의될 수 있다. 이는 도 3b에 도시된 절연막(ILD)과 대응될 수 있다.

도 4c에 도시된 것과 같이, 복수의 제1 센서부들(SP1-A), 복수의 제1 연결부들(CP1-A), 복수의 제2 센서부들(SP2-1), 복수의 제1 배선들(WP1-A), 및 복수의 제2 배선들(WP2-A)은 절연막(ILD) 상에 배치될 수 있다. 이에 따라, 복수의 제2 센서부들(SP2-A)은 컨택홀들(CH1, CH2)을 통해 절연막(ILD) 하측에 배치된 복수의 제2 연결부들(CP2-A)에 각각 연결될 수 있다.

도 4d에 도시된 것과 같이, 터치 부재(200-A)는 하부 브릿지 구조를 가질 수 있다. 이에 따라, 복수의 메쉬선들(MSL)은 절연막(ILD)에 의해 커버되지 않는다. 이때, 복수의 제2 센서부들(SP2-A) 중 복수의 제2 연결부들(CP2-A)에 연결되는 부분은 메쉬가 아닌 벌크 구조를 가질 수 있다.

한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 복수의 제1 센서부들(SP1-A), 복수의 제1 연결부들(CP1-A), 및 복수의 제2 센서부들(SP2-A)은 메쉬(mesh) 구조가 아닌 벌크(bulk) 구조를 가질 수도 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 다양한 실시예들을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일 부분을 도시한 단면도이다. 도 5에는 도 4d에 대응되는 영역을 도시하였다.

도 5에 도시된 전자 장치(1000-B)는 제2 연결부(CP2-B)를 제외하고 실질적으로 도 4d에 도시된 전자 장치(1000-A)와 대응될 수 있다. 이하, 도 1 내지 도 4d에서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략한다.

도 5에 도시된 것과 같이, 터치 부재(200-B)는 제1 센서부들(SP1-B), 제2 센서부들(SP2-B), 제1 연결부(CP1-B), 및 제2 연결부(CP2-B) 각각이 복수의 메쉬선들을 포함할 수 있다.

도 4a 내지 도 4d와 비교할 때, 제2 연결부(CP2-B)는 복수의 메쉬선들을 포함하는 메쉬 구조를 가질 수 있다. 이때, 절연막(ILD-1)에는 복수의 컨택홀들(CH1-1, CH2-1)이 정의될 수 있다. 복수의 컨택홀들(CH1-1, CH2-1)은 복수의 제1 컨택홀들(CH1-1) 복수의 제2 컨택홀들(CH2-1)을 포함할 수 있다.

제2 센서부(SP2-B)의 일부 메쉬선들은 절연막(ILD-1)에 정의된 컨택홀들을 통해 제2 연결부(CP2-B)의 일부 메쉬선들에 각각 연결될 수 있다. 하나의 제2 연결부(CP2-B)의 일 측은 복수의 제1 컨택홀들(CH1-1)을 통해 하나의 제2 센서부(SP2-B)에 연결되고, 하나의 제2 연결부(CP2-B)의 타 측은 복수의 제2 컨택홀들(CH1-2)을 통해 다른 하나의 제2 센서부(SP2-B)에 연결될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(1000-B)는 메쉬 구조를 가진 제2 연결부(CP2-B)를 포함함으로써, 불투명 재질로 제2 연결부(CP2-B)를 형성할 수도 있으며, 터치 부재(200-B)의 유연성을 향상시킬 수 있다. 한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 다양한 구조를 가질 수 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.

도 6a는 도 2에 도시된 XX' 영역을 확대하여 도시한 평면도이다. 도 6b는 도 6a에 도시된 YY' 영역을 확대하여 도시한 평면도이다. 도 6a에는 서로 교차하는 하나의 제1 연결부(CP1)와 하나의 제2 연결부(CP2) 및 이들 각각에 인접한 제1 센서부들(SP1)의 일부 및 제2 센서부들(SP2)의 일부를 도시하였다.

도 6a에는 메쉬선들을 생략하고, 오픈된 영역을 실선으로 표시하였다. 또한, 용이한 구별을 위해 도 6a 및 도 6b의 제1 전극들(TE1)에 포함된 제1 센서부들(SP1)과 제1 연결부들(CP1)에 대해서는 음영 처리하여 도시하였다.

이하, 용이한 설명을 위해 하나의 제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2)를 기준으로 설명하기로 한다. 한편, 도 1 내지 도 5에서 설명한 구성들과 동일한 구성들에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략한다.

제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2) 각각은 복수의 메쉬선들(MSL)을 포함한다. 복수의 메쉬선들(MSL)은 각각이 제3 방향(DR3)으로 배열되고 제4 방향(DR4)으로 연장된 복수의 제1 메쉬선들(MSL1) 및 각각이 제4 방향(DR4)으로 배열되고 제3 방향(DR3)으로 연장된 복수의 제2 메쉬선(MSL2)을 포함한다.

본 실시예에서, 복수의 메쉬선들(MSL)은 부분적으로 단절된 영역들이 존재한다. 단절된 영역들은 터치 부재(200: 도 1 참조) 내에서 소정의 빈 공간들을 정의한다.

빈 공간들은 후술할 절개 패턴들이나 경계를 정의할 수 있다. 이에 따라, 절개 패턴들이나 경계의 형상들은 대응되는 빈 공간들의 평면상에서의 형상으로 정의될 수 있다.

한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2) 각각은 벌크 구조의 도전 패턴들일 수 있다. 이때, 빈 공간들은 일체의 도전 패턴의 적어도 일 부분에 정의되는 개구부일 수 있다.

터치 부재(200)는 빈 공간들의 배치에 따라 다양한 영역으로 구분될 수 있다. 예를 들어, 터치 부재(200)는 복수의 중심 영역들 및 주변 영역(PA)으로 구분될 수 있다. 하나의 중심 영역(CA)은 주변 영역(PA)에 의해 에워싸일 수 있다.

복수의 중심 영역들은 센서부들(SP1, SP2) 각각의 중심에 배치된다. 복수의 중심 영역들은 제3 방향(DR3) 및 제4 방향(DR4)에 의해 정의되는 매트릭스 형상으로 배열될 수 있다.

중심 영역(CA)에는 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)이 정의된다. 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)은 하나의 중심 영역(CA) 내에서 서로 이격되어 배열될 수 있다. 중심 영역(CA)은 제1 센서부의 제1 영역(AR11) 또는 제2 센서부의 제1 영역(AR21)에 대응될 수 있다.

주변 영역(PA)은 복수의 중심 영역들에 인접한다. 주변 영역(PA)은 제3 방향(DR3) 및 제4 방향(DR4)에 의해 정의되는 격자 형상을 가질 수 있다. 주변 영역(PA)에는 제1 센서부의 제2 영역(AR12), 제2 센서부의 제2 영역(AR22), 및 경계(BL)가 정의될 수 있다.

제1 센서부(SP1)와 제2 센서부(SP2)는 경계(BL)을 사이에 두고 서로 이격된다. 경계(BL)에 의해 제1 센서부(SP1)와 제2 센서부(SP2)는 전기적으로 절연된다.

본 실시예에서, 경계(BL)는 제3 방향(DR3)을 따라 연장되거나, 제4 방향(DR4)을 따라 연장된 직선(line) 형상일 수 있다. 도 6b에는 경계(BL) 중 제3 방향(DR3)을 따라 연장된 부분이 도시되었다. 경계(BL) 중 제3 방향(DR3)을 따라 연장된 부분은 복수의 제1 메쉬선들(MSL1) 중 일부 메쉬선들 각각의 일부가 단절되어 정의된다.

한편, 경계(BL) 중 제4 방향(DR4)을 따라 연장된 부분은 복수의 제2 메쉬선들(MSL2) 중 일부 메쉬선들 각각의 일부가 단절되어 정의될 수도 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 경계(BL)는 다양한 형태로 정의될 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21) 각각은 제3 방향(DR3) 및 제4 방향(DR4)으로 각각 연장된 복수의 변들에 의해 정의되는 사각 형상을 가질 수 있다. 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)은 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21) 각각 내에서 서로 이격되어 배열되며, 제3 방향(DR3) 및 제4 방향(DR4)에 의해 정의되는 매트릭스 형상으로 배열될 수 있다.

복수의 제1 절개 패턴들(GP1) 각각은 폐곡선(closed loop) 형상을 가질 수 있다. 하나의 제1 절개 패턴은 제1 절개 패턴 내부의 메쉬선들과 제1 절개 패턴 외부의 메쉬선들을 전기적으로 절연시킨다.

본 실시예에서, 제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2) 각각은 복수의 플로팅 패턴들(FLP) 및 주변부를 포함할 수 있다. 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)은 복수의 플로팅 패턴들(FLP) 각각의 형상을 정의한다.

하나의 제1 절개 패턴 내부의 메쉬선들은 하나의 플로팅 패턴에 대응될 수 있다. 본 실시예에서, 복수의 제1 절개 패턴들(GP1) 각각은 사각 프레임 형상을 가진다. 한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 복수의 제1 절개 패턴들(GP1) 각각의 형상은 원, 타원, 또는 다각형, 원형, 또는 타원형일 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

복수의 제1 절개 패턴들(GP1)은 복수의 플로팅 패턴들(FLP)을 주변부로부터 이격시킨다. 복수의 제1 절개 패턴들(GP1) 각각의 내측에 배치되는 메쉬선들은 플로팅 패턴을 정의하며 서로 전기적으로 연결되고, 복수의 제1 절개 패턴들(GP1) 각각의 외측에 배치되는 메쉬선들(MSL)은 주변부를 정의하며 서로 전기적으로 연결된다.

제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2) 각각은 주변부를 통해 외부에서 인가되는 터치를 감지한다. 복수의 플로팅 패턴들(FLP)은 주변으로부터 전기적으로 분리되어 제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2) 각각에 인가되는 전기적 신호의 영향을 적게 받을 수 있다.

이에 따라, 복수의 플로팅 패턴들(FLP)이 제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2) 하부에 배치되는 전극과 전기적으로 상호 작용하며 발생하는 문제를 방지할 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 센서부들(SP1, SP2)에 전달되는 전기적 신호와 제1 및 제2 센서부들(SP1, SP2) 하부에 배치되는 화소 전극에 전달되는 전기적 신호가 상호 작용함에 따라 발생되는 노이즈(noise) 등이 감소될 수 있다.

제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22)은 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21)에 각각 인접한다. 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22)은 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21)을 각각 에워쌀 수 있다.

본 실시예에서, 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22) 각각은 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21) 각각의 사각 형상을 에워쌀 수 있다. 예를 들어, 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22) 각각은 사각 프레임 형상을 가질 수 있다. 이때, 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22) 각각은 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21) 각각의 전부 또는 일부를 에워싸는 경우를 포함할 수 있다. 한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22)은 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21)에 인접한다면 다양한 형상을 가질 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

제1 센서부의 제2 영역(AR12)과 제2 센서부의 제2 영역(AR22)은 경계(BL)에 각각 접할 수 있다. 제1 센서부의 제2 영역(AR12)과 제2 센서부의 제2 영역(AR22)은 경계(BL)을 사이에 두고 서로 마주할 수 있다.

제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22) 각각에는 복수의 제2 절개 패턴들(GP2)이 정의된다. 복수의 제2 절개 패턴(GP2)은 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22) 각각 내에서 서로 이격되어 배열될 수 있다. 복수의 제2 절개 패턴(GP2)은 복수의 제1 절개 패턴(GP1)으로부터 이격된다. 제1 절개 패턴(GP1)은 제1 절개 라인으로 지칭되고, 제2 절개 패턴(GP2)은 제2 절개 라인으로 지칭될 수 있다.

복수의 제2 절개 패턴들(GP2) 각각은 폐곡선 중 일부가 단절된 형상일 수 있다. 예를 들어, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2) 각각의 형상은 복수의 제1 절개 패턴들(GP1) 각각의 폐곡선 형상의 일부가 끊어진 형상일 수 있다. 따라서, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2) 각각의 길이는 복수의 제1 절개 패턴들(GP1) 각각의 길이보다 짧을 수 있다.

구체적으로, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2) 각각은 일부가 단절된 원 형상, 일부가 단절된 사각 형상, 일부가 단절된 다각 형상, 또는 일부가 단절된 타원 형상일 수 있다. 본 실시예에서, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2) 각각은 일부분이 단절된 사각 형상을 가질 수 있다.

한편, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2) 각각은 다양한 방식으로 배열될 수 있다. 복수의 제2 절개 패턴들(GP2) 각각은 인접하는 제2 절개 패턴과 동일하거나 대칭인 형상을 갖도록 배열될 수 있다.

본 실시예에서, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2)은 서로 동일한 형상 및 동일한 방향으로 배치된다. 예를 들어, 도 5b에 도시된 것과 같이, 제2 센서부의 제2 영역(AR22)에 정의된 하나의 제2 절개 패턴(GP2) 중 단절된 일 변은 경계(BL)를 향하여 배치된다.

이때, 제1 센서부의 제2 영역(AR12)에 정의된 하나의 제2 절개 패턴(GP2)도 이와 동일한 형상을 가진다. 이에 따라, 제1 센서부의 제2 영역(AR12)에 정의된 제2 절개 패턴(GP2) 중 단절된 일 변은 제1 센서부의 제1 영역(AR11)을 향하여 배치된다.

한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2) 각각은 다양한 형상 및 다양한 방식으로 배열될 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

복수의 제2 절개 패턴들(GP2)은 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)과 달리 플로팅 패턴을 형성하지 않을 수 있다. 복수의 메쉬선들(MSL) 중 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22)에 배치된 메쉬선들은 서로 전기적으로 연결된다. 이와 달리, 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21)에는 상술한 바와 같이, 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)에 의해 전기적으로 분리된 복수의 플로팅 패턴들(FLP)이 존재할 수 있다.

도 6a를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 복수의 제2 절개 패턴들을 포함함으로써, 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)과 대응되는 패턴들이 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21)의 주변부인 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22)에도 연속적으로 배치된 것처럼 보여질 수 있다.

전자 장치에 입사되는 외광이 복수의 메쉬선들(MSL)에 의해 반사되는 것과 빈 공간들에 해당되는 제1 및 제2 절개 패턴들(GP1, GP2)에 의해 반사되는 것은 차이가 있을 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(1000)는 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)이 배치되지 않은 제2 영역들(AR12, AR22)에 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)과 유사한 복수의 제2 절개 패턴들(GP2)을 정의함으로써, 제1 영역들(AR11, AR21)과 제2 영역들(AR12, AR22) 사이의 시각적 이질감을 개선시킬 수 있다.

한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2) 각각은 벌크 구조의 도전 패턴일 수 있다. 이때, 복수의 제1 및 제2 절개 패턴들(GP1, GP2) 및 경계(BL)는 각각 일체의 도전 패턴의 적어도 일 부분에 정의되는 개구부들일 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 다양한 실시예들을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

도 7a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다. 도 7b는 도 7a의 YY''를 확대하여 도시한 평면도이다.

도 7a에는 용이한 설명을 위해 메쉬선들을 생략하여 도시하였고, 빈 공간들은 실선으로 도시하였다. 도 7a에는 도 6a에 대응되는 영역을 도시하였다. 또한, 용이한 구별을 위해 도 7a 및 도 7b에는 제1 센서부(SP1-1) 및 제1 연결부(CP1-1)를 음영 처리하여 도시하였다. 이하, 도 7a 및 도 7b를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치에 대해 설명한다. 한편, 도 1 내지 도 6b에서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략한다.

도 7a 및 도 7b에 도시된 것과 같이, 제1 센서부(SP1-1) 및 제2 센서부(SP2-1) 각각은 복수의 제3 절개 패턴들(GP3)을 더 포함할 수 있다. 복수의 제3 절개 패턴들(GP3)은 주변 영역(PA)에 정의된다. 구체적으로, 복수의 제3 절개 패턴들(GP3)은 제2 영역들(AR12, AR22) 각각에 정의될 수 있다.

복수의 제3 절개 패턴들(GP3)은 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)로부터 이격된다. 복수의 제3 절개 패턴들(GP3) 각각은 단절된 일부의 형상을 가질 수 있다. 구체적으로, 하나의 제2 절개 패턴 내의 단절된 부분에 하나의 제3 절개 패턴을 연결하면 하나의 제1 절개 패턴이 형성될 수 있다.

복수의 제3 절개 패턴들(GP3)은 복수의 제2 절개 패턴들(GP2)에 각각 연결되어 하나의 공간 패턴(SSP)을 정의할 수 있다. 한편, 본 실시예에서, 공간 패턴(SSP)은 모두 동일한 형상을 갖도록 배열될 수 있다.

이에 따라, 일부 공간 패턴은 경계(BL)와 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 센서부의 제2 영역(AR12)에 배치된 공간 패턴들 중 제4 방향(DR4)을 따라 배열된 일부 공간 패턴들 및 제2 센서부의 제2 영역(AR22)에 배치된 공간 패턴들 중 일부 공간 패턴들은 경계(BL)와 연결될 수 있다.

도 7a에 도시된 것과 같이, 형상이 동일한 공간 패턴(SSP)이 복수 개 제공되더라도, 배열 위치에 따라 일부 공간 패턴(SSP1)은 경계(BL)와 연결될 수 있고, 일부 공간 패턴(SSP2)은 경계(BL)와 이격될 수 있다. 또한, 일부 공간 패턴(SSP3)은 단절된 부분이 경계(BL)에 인접하도록 배치될 수 있고, 일부 공간 패턴(SSP3)은 단절된 부분이 경계(BL)로부터 멀어지도록 배치될 수도 있다.

도 7b를 참조하면, 복수의 제3 절개 패턴들(GP3)은 복수의 제2 절개 패턴들(GP2)이 정의하는 빈 공간을 보상한다. 하나의 공간 패턴(SSP)이 정의하는 빈 공간의 총합은 복수의 제1 절개 패턴들(GP1) 중 하나의 제1 절개 패턴이 정의하는 빈 공간과 실질적으로 동일할 수 있다.

도 7b에는 제2 절개 패턴 중 제1 절개 패턴과 비교하여 단절된 일 부분(VP)을 도시하였다. 단절된 일 부분(VP)은 하나의 제3 절개 패턴과 실질적으로 동일한 면적을 가질 수 있고, 동일한 형상일 수 있다.

단절된 일 부분(VP)은 메쉬선들 사이의 갭에 의해 정의되는 절개 패턴 상에서 단절된 것이고, 실질적으로 메쉬선들이 배치된 영역에 해당한다. 단절된 일 부분(VP)에 배치된 메쉬선들에 의해 제2 센서부의 제2 영역(AR22)에 배치된 메쉬선들은 서로 연결되며 전기적으로 분리된 플로팅 패턴(FLP)이 형성되지 않을 수 있다. 이에 따라, 제2 영역들(AR12, AR22)에서의 전도성 저하를 최소화할 수 있다.

복수의 제3 절개 패턴들(GP3)은 제2 영역들(AR12, AR22) 각각에 정의되어, 빈 공간을 보상한다. 주변 영역(PA)에서의 복수의 제3 절개 패턴들(GP3)과 복수의 제2 절개 패턴들(GP2)에 의한 빈 공간의 총 합은 중심 영역(CA)들 중 대응되는 면적에서의 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)에 의한 빈 공간의 총 합과 실질적으로 동일할 수 있다.

이에 따라, 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)로부터의 외광 반사 효과와 공간 패턴들(SSP)로부터의 외광 반사 효과 사이의 유사성이 향상될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 복수의 제3 절개 패턴들을 더 포함함으로써, 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21)과 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22) 사이의 이질감 개선 효과를 향상시킬 수 있다.

한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 센서부(SP1-1) 및 제2 센서부(SP2-1) 각각은 벌크 구조의 도전 패턴일 수 있다. 이때, 복수의 제1 내지 제3 절개 패턴들(GP1, GP2, GP3) 및 경계(BL)는 각각 일체의 도전 패턴의 적어도 일 부분에 정의되는 개구부들일 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 다양한 실시예들을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

도 8a는 본 발명에 대한 비교 실시예의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다. 도 8b는 본 발명의 일 실시예의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다. 도 8c는 본 발명의 일 실시예의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다.

이하, 도 8a 내지 도 8c를 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 센서부들에 대해 상세히 살펴본다. 한편, 도 1 내지 도 7b에서 설명한 구성들과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하며 중복된 설명은 생략한다.

도 8a 내지 도 8c에는 도 2의 XX'에 대응되는 영역을 도시하였다. 또한, 도 8a 내지 도 8c에는 용이한 설명을 위해 경계(BL, BL-E)나 절개 패턴들(GP1-E, GP1, GP2, GP3)을 정의하는 빈 공간들을 실선으로 도시하였다.

도 8a에 도시된 것과 같이, 비교 실시예의 제1 센서부(SP1-E)와 제2 센서부(SP2-E) 사이에는 경계(BL-E)가 정의되고, 제1 센서부(SP1-E)와 제2 센서부(SP2-E)는 경계(BL-E)를 중심으로 서로 이격된다.

이때, 제1 센서부(SP1-E)는 제1 영역(AR11)과 제2 영역(AR12)을 포함하고, 제2 센서부(SP2-E)도 제1 영역(AR21) 및 제2 영역(AR22)을 포함한다. 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21) 각각에는 복수의 제1 절개 패턴들(GP1-E)이 정의된다. 복수의 제1 절개 패턴들(GP1-E)은 상술한 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)과 대응될 수 있다.

한편, 비교 실시예의 제2 영역들(AR12, AR22)에는 별도의 절개 패턴이 정의되지 않는다. 이에 따라, 비교 실시예의 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22)은 복수의 메쉬선들로 채워지며 메쉬선들의 일부가 단절된 공간들은 생략될 수 있다.

주변 영역(PA)의 관점에서도 소정의 경계(BL-E)에 대응되는 빈 공간만 정의될 뿐, 경계(BL-E)와 중심 영역들(CA) 사이에는 별도의 빈 공간이 정의되지 않는다.

전자 장치의 사용 과정에 있어서, 외광이 전자 장치의 외부로부터 전자 장치에 입사될 수 있다. 외광이 전자 장치에 배치되는 구성들에 입사되면서 반사/투과 등의 광학적 작용이 발생할 수 있다.

이때, 외광이 메쉬선들로 이루어진 부분에 입사되는 경우와 빈 공간에 입사되는 경우의 반사 양상들은 서로 상이할 수 있다. 예를 들어, 외광이 메쉬선들로 이루어진 공간에 입사되는 경우, 외광의 대부분은 반사되어 비교적 밝게 사용자에게 시인될 수 있다.

이와 달리, 외광이 빈 공간에 입사되는 경우, 외광의 반사율은 상대적으로 감소하여 비교적 어둡게 사용자에게 시인될 수 있다. 빈 공간과 메쉬선들이 존재하는 공간 사이의 면적 차이나 분포 차이가 클수록 사용자가 빈 공간과 메쉬선들이 존재하는 공간 사이에서 느끼는 이질감은 클 수 있다.

비교 실시예에 있어서, 빈 공간들은 중심 영역들(CA)에 집약되어 배치되며 상대적으로 주변 영역(PA)에는 경계(BL-E)외에는 정의되지 않는다. 경계(BL-E)는 중심 영역들(CA)로부터 상당 거리 이격되어 정의된다. 이에 따라, 사용자는 중심 영역(CA)과 주변 영역(PA) 사이의 이질감을 크게 느낄 수 있으며, 경계(BL-E)의 시인성도 높아질 수 있다.

이와 달리, 도 8b에 도시된 것과 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 복수의 제2 절개 패턴들(GP2)을 더 포함한다. 복수의 제2 절개 패턴들(GP2)은 주변 영역(PA) 중 제2 영역들(AR12, AR22)에 정의된다.

복수의 제2 절개 패턴들(GP2)은 각각 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)의 형상들과 유사한 형상들을 가진다. 도 8a에 도시된 비교 실시예와 비교할 때, 도 8b에 도시된 실시예의 빈 공간은 상대적으로 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21) 및 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22)에 고르게 분포될 수 있다.

이에 따라, 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21)과 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22) 사이의 구분이 어려울 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 사용자가 느끼는 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제1 영역들(AR11, AR21)과 제1 센서부 및 제2 센서부 각각의 제2 영역들(AR12, AR22) 사이의 이질감을 개선할 수 있다.

또한, 제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2) 사이의 경계(BL)가 복수의 제2 절개 패턴들(GP2) 사이에 정의되므로, 경계(BL) 주변부와 경계(BL) 사이의 이질감이 감소할 수 있다. 이에 따라, 사용자는 경계(BL)를 구별하기가 상대적으로 어려울 수 있어, 경계(BL)가 시인되는 문제가 개선될 수 있다.

도 8c에 도시된 것과 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 복수의 제3 절개 패턴들(GP3)을 더 포함할 수 있다. 복수의 제3 절개 패턴들(GP3)은 제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2) 각각은 제2 영역들(AR12, AR22) 각각에 정의된다. 복수의 제3 절개 패턴들(GP3) 각각은 복수의 제2 절개 패턴들(GP2) 각각에 연결되어 하나의 공간 패턴(SSP)을 정의할 수 있다.

이에 따라, 주변 영역(PA)에서의 빈 공간들이 외광 반사에 미치는 영향과 중심 영역들(CA)에서의 빈 공간들이 외광 반사에 미치는 영향이 유사해질 수 있다. 전자 장치는 복수의 제3 절개 패턴들을 더 포함함으로써, 제1 영역들(AR11, AR21)과 제2 영역들(AR12, AR22) 사이의 이질감 및 중심 영역들(CA)과 주변 영역(PA) 사이의 이질감 개선 효과를 향상시킬 수 있다.

도 9a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다. 도 9b는 도 9a에 도시된 일부 구성을 개략적으로 도시한 도면이다. 한편, 도 1 내지 도 8c에서 설명한 구성들과 동일한 구성들에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략한다. 한편, 용이한 설명을 위해 복수의 절개 패턴들 중 일부 패턴들에 인출번호를 부여하고, 예시적으로 설명한다.

복수의 제2 절개 패턴들(GP2-1A, GP2-1B)은 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)과 유사한 형상들을 각각 가질 수 있다. 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-1A, GP2-1B) 각각은 서로 동일한 형상이거나, 서로 상이한 형상들을 가질 수도 있다.

한편, 도 9a에 도시된 것과 같이, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-1A, GP2-1B) 및 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-1A, GP3-1B)은 다양한 형태로 주변 영역(PA)에 배치될 수 있다. 예를 들어, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-1A, GP2-1B)은 각각 동일한 형상들을 가지며, 서로 인접한 절개 패턴들과 대칭되도록 배열되거나 랜덤 배열될 수 있다. 대칭은 회전 대칭(rotational symmetry), 선 대칭(line symmetry), 및 점 대칭(point symmetry)을 포함할 수 있다.

도 9a에는 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-1A, GP2-1B)이 경계(BL)를 기준으로 마주하는 절개 패턴들과 선 대칭을 이루는 실시예를 도시하였다. 이때, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-1A, GP2-1B)과 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-1A, GP3-1B)이 연결된 패턴 자체가 경계(BL)를 기준으로 마주하는 패턴과 선 대칭을 이룰 수 있다.

예를 들어, 제1 센서부의 제2 영역(AR12)에 배치된 제2 절개 패턴들과 제2 센서부의 제2 영역(AR22)에 배치된 제2 절개 패턴들은 인접한 경계를 중심으로 선 대칭을 이룰 수 있다. 제1 센서부(SP1-2)의 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-1B) 및 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-1B)은 제2 센서부(SP2-2)의 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-1A) 및 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-1A)과 경계(BL)를 기준으로 각각 선대칭일 수 있다.

또한, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-1A, GP2-1B) 각각은 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-1A, GP3-1B) 각각에 연결되어 각각 하나의 공간 패턴들(SSP-1A, SSP-1B)을 정의할 수 있다. 제1 센서부(SP1-2)에 배치된 공간 패턴(SSP-1B)은 경계(BL)를 사이에 두고 마주하는 제2 센서부(SP2-2)에 배치된 공간 패턴(SSP-1A)과 선대칭일 수 있다.

도 9b에 도시된 것과 같이, 제1 센서부의 제2 영역(AR12)에 배치된 제2 절개 패턴들(GP2-1B)과 제2 센서부의 제2 영역(AR22)에 배치된 제2 절개 패턴들(GP2-1A)은 인접한 경계를 중심으로 선 대칭을 이룰 수 있다. 또한, 제1 센서부의 제2 영역(AR12)에 배치된 제3 절개 패턴들(GP3-1B)과 제2 센서부의 제2 영역(AR22)에 배치된 제2 절개 패턴들(GP3-1A)은 인접한 경계를 중심으로 선 대칭을 이룰 수 있다.

이에 따라, 제1 센서부의 제2 영역(AR12)에 배치된 공간 패턴(SSP-1B)과 제2 센서부의 제2 영역(AR22)에 배치된 공간 패턴(SSP-1A)은 인접한 경계(BL)를 중심으로 선 대칭을 이룰 수 있다. 한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-1A, GP2-1B) 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-1)과 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-1)은 각각 다양한 형태로 배열될 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

한편, 제1 센서부(SP1-2) 및 제2 센서부(SP2-2) 각각은 적어도 하나의 제4 절개 패턴(GP4)을 더 포함할 수 있다. 제4 절개 패턴(GP4)은 제1 센서부(SP1-2) 중 제1 연결부(CP1)와 인접한 영역에 정의되거나, 제2 센서부(SP2-1) 중 제2 연결부(CP2)와 인접하게 될 영역에 정의될 수 있다. 이에 따라, 제2 센서부(SP2-2)의 제4 절개 패턴(GP4)은 제2 센서부(SP2-2) 중 이웃하는 제2 센서부(SP2-2)와 마주하는 모서리 영역에 정의될 수 있다.

제4 절개 패턴(GP4)은 경계(BL)로부터 이격되어 정의될 수 있다. 제4 절개 패턴(GP4)은 하나의 제1 절개 패턴의 일부 형상과 대응될 수 있다. 또한, 제4 절개 패턴(GP4)은 하나의 제2 절개 패턴의 일부 형상과 대응될 수 있다.

제1 센서부(SP1-2) 및 제2 센서부(SP2-2)는 제4 절개 패턴(GP4)을 더 포함함으로써, 제2 영역들(AR12, AR22) 중 면적의 변화가 일어나는 영역에도 소정의 빈 공간이 정의되도록 한다. 이에 따라, 비교적 좁은 면적에서도 인접한 영역들과의 이질감을 개선시켜 제1 영역들(AR11, AR21)과 제2 영역들(AR12, AR22)이 구별되어 사용자에게 시인되는 문제를 방지할 수 있다.

도 10a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다. 도 10b는 도 10a의 YY'''를 확대하여 도시한 평면도이다. 도 10c는 도 10a에 도시된 일부 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.

용이한 설명을 위해, 도 10a에는 도 2의 XX'에 대응되는 영역을 도시하였다. 또한, 도 10a에서 메쉬선들은 생략하여 도시되었고, 절개 패턴들 및 빈 공간은 실선으로 도시되었다. 또한, 용이한 설명을 위해 도 10a 및 도 10b에서 제1 센서부(SP1-3) 및 제1 연결부(CP1)는 음영 처리하여 도시되었다.

이하, 도 10a 내지 도 10c를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치에 대해 설명한다. 한편, 도 1 내지 도 8에서 설명한 구성들과 동일한 구성들에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략한다.

복수의 제2 절개 패턴들(GP2-2) 및 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-2) 중 일부는 경계(BL)와 연결될 수 있다. 본 실시예에서, 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-2)은 경계(BL)와 연결될 수 있다.

제1 센서부(SP1-3)의 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-2) 중 적어도 일부는 서로 회전 대칭일 수 있다. 예를 들어, 제1 센서부(SP1-3)의 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-2) 중 제3 방향(DR3)을 따라 정렬된 제2 절개 패턴들과 제4 방향(DR4)을 따라 정렬된 제2 절개 패턴들은 소정의 회전 각도로 회전 시 동일한 형상을 갖는다.

도 10b에는 공간 패턴(SSP-2) 중 YY’’영역에 배치된 공간 패턴들(SSP-2A, SSP-2B)을 예시적으로 도시하였다. 도 10b에 도시된 것과 같이, 공간 패턴(SSP-2) 중 YY’’ 영역 내에 배치되고 제2 센서부의 제2 영역(AR22)에 정의된 공간 패턴(SSP-2A)과 제1 센서부의 제2 영역(AR12)에 정의된 공간 패턴(SSP-2B)은 서로 회전 대칭일 수 있다.

도 10c에서는 용이한 설명을 위해 공간 패턴들(SSP-2A, SSP-2B)의 일부 구성들만을 도시하였다. 도 10c에 도시된 것과 같이, 제2 센서부의 제2 영역(AR22)에 정의된 제2 절개 패턴(GP2-2A)과 제1 센서부의 제2 영역(AR12)에 정의된 제2 절개 패턴(GP2-2B)은 경계(BL)를 중심으로 선 대칭을 이루지 않는다.

다만, 제1 센서부의 제2 영역(AR12)에 정의된 제2 절개 패턴(GP2-2A)을 화살표 방향으로 180도의 회전 각도로 회전하면, 제2 센서부의 제2 영역(AR22)에 정의된 제2 절개 패턴(GP2-2B)과 동일한 형상이 될 수 있다. 한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 제2 절개 패턴(GP2-2A)과 제2 절개 패턴(GP2-2B) 사이의 회전 대칭 각도는 다양한 각도일 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

다시 도 10a 내지 도 10c를 참조하면, 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-2) 각각은 경계(BL)와 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-2) 각각의 사이를 연결하여 하나의 공간 패턴(SSP-2)을 정의할 수 있다. 이에 따라, 도 9b에 도시된 것과 같이, 빈 공간은 경계(BL)와 공간 패턴(SSP-2)에 의해 연속적으로 정의될 수 있다.

경계(BL)와 복수의 제2 및 제3 절개 패턴들(GP2-2, GP3-2)이 연결됨에 따라, 경계(BL)와 복수의 제2 및 제3 절개 패턴들(GP2-2, GP3-2)이 하나의 연속된 빈 공간처럼 시인될 수 있다. 경계(BL) 및 경계(BL)와 연결된 공간 패턴(SSP-2)은 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)과 형태적으로 높은 유사성을 가질 수 있다.

한편, 공간 패턴들(SSP-2) 중 경계(BL)를 사이에 두고 서로 마주하는 공간 패턴들도 서로 회전 대칭일 수 있다. 한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-2) 및 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-2)은 다양한 형태로 배열될 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

경계(BL)와 연결된 절개 패턴(SSP-2)은 사용자가 경계를 공간 패턴의 일 부분으로 인식하기에 용이하게 만들 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 경계(BL)와 연결된 절개 패턴(SSP-2)을 포함함으로써, 제1 및 제2 센서부들(SP1-3, SP2-3) 사이의 경계(BL)가 시인되는 문제를 개선시킬 수 있다.

한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 센서부(SP1-3) 및 제2 센서부(SP2-3) 각각은 벌크 구조의 도전 패턴일 수 있다. 이때, 복수의 제1 내지 제3 절개 패턴들(GP1, GP2-2, GP3-2) 및 경계(BL)는 각각 일체의 도전 패턴의 적어도 일 부분에 정의되는 개구부들일 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 다양한 실시예들을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부 영역을 확대하여 도시한 평면도이다. 용이한 설명을 위해 도 11에는 도 2의 XX'에 대응되는 영역을 도시하였다. 또한, 도 11에서 절개 패턴들은 실선으로 도시되었으며, 제1 센서부(SP1-3) 및 제1 연결부(CP1)는 음영 처리하여 도시되었다.

도 11에 도시된 것과 같이, 제1 센서부(SP1) 및 제2 센서부(SP2) 각각은 경계(BL)와 연결되지 않은 복수의 제1 공간 패턴들(SSP1) 및 경계(BL)와 연결된 복수의 제2 공간 패턴들(SSP2)을 포함할 수 있다.

복수의 제1 공간 패턴들(SSP1) 각각은 각각이 경계(BL)와 이격되어 배치되는 제2 절개 패턴 및 제3 절개 패턴에 의해 정의될 수 있다. 복수의 제2 공간 패턴들(SSP2) 각각은 경계(BL)와 이격되어 배치되는 제2 절개 패턴 및 경계(BL)와 제2 절개 패턴을 연결하는 제3 절개 패턴에 의해 정의될 수 있다.

도 11에 도시된 것과 같이, 복수의 제2 절개 패턴들(GP2, 도 7a 참조)이나 복수의 제3 절개 패턴들(GP3, 도 7b 참조)은 각각 다양한 방식으로 배열될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치에 있어서, 절개 패턴들은 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)의 형상들과 유사하다면 다양한 형상들을 가질 수 있으며, 인접한 형상들이 서로 상이하도록 배열될 수도 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 다양한 방식으로 배열된 절개 패턴들을 포함함으로써, 경계(BL)가 시인되는 문제를 개선하고, 중심 영역들(CA)과 주변 영역(PA) 사이의 이질감을 개선할 수 있다.

도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일 부분을 확대하여 도시한 평면도이다. 도 13a 내지 도 13c는 도 12의 ZZ' 영역을 확대하여 도시한 평면도이다.

도 12에는 빈 공간으로 정의되는 패턴들을 실선으로 도시하였고, 도 13a 내지 도 13c에서는 빈 공간으로 도시하였다. 또한, 도 12 내지 도 13c에서 메쉬선들은 생략하여 도시하였으며, 용이한 설명을 위해 제1 전극에 대응되는 제1 센서부(SP1-5) 및 제1 연결부(CP1)를 음영 처리하여 도시하였다. 한편, 도 13a 내지 도 13c에는 용이한 설명을 위해 동일한 영역을 도시하되, 가상 영역의 표시나 경계의 표시는 부분적으로 생략되기도 하였다.

이하, 도 12 내지 도 13c를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치에 대해 살펴본다. 한편, 도 1 내지 도 11에서 설명한 구성들과 동일한 구성들에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.

상술한 바와 같이, 전자 장치는 평면상에서 복수의 중심 영역들(CA) 및 주변 영역(PA)을 포함한다. 복수의 중심 영역들(CA) 각각은 제1 센서부(SP1-5) 및 제2 센서부(SP2-5) 각각에 정의된다.

주변 영역(PA)은 복수의 중심 영역들(CA) 각각에 인접한다. 본 실시예에서, 주변 영역(PA)은 복수의 중심 영역들(CA) 각각을 에워싸는 일체의 형상을 가질 수 있다. 복수의 중심 영역들(CA) 각각에는 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)이 정의되고, 주변 영역(PA)에는 경계(BL-1)가 정의된다.

도 12 및 도 13a를 참조하여 상세히 살펴보면, 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 센서부(SP1-5) 및 제2 센서부(SP2-5) 사이의 경계(BL-1)는 지그재그(zig-zag) 형상을 가질 수 있다. 경계(BL-1)는 주변 영역(PA) 내에 정의되고, 제1 센서부(SP1-5)를 향해 돌출되다가 제2 센서부(SP2-5)를 향해 돌출되는 양상을 반복한다.

한편, 본 실시예에 따른 주변 영역(PA)은 다양한 방식에 의해 정의될 수 있다. 예를 들어, 도 13b에 도시된 것과 같이, 주변 영역(PA)은 경계(BL-1)와 복수의 중심 영역들(CA)에 의해 정의되는 복수의 돌출 영역들(PR1, PR2)을 포함하는 것으로 정의될 수 있다.

이에 따라, 제1 센서부(SP1-5)는 하나의 중심 영역(CA) 및 이에 인접한 복수의 돌출 영역들(PR1)을 포함할 수 있다. 이와 마찬가지로, 제2 센서부(SP2-5)는 하나의 중심 영역(CA) 및 이에 인접한 복수의 돌출 영역들(PR2)을 포함할 수 있다.

제1 센서부의 복수의 돌출 영역들(PR1)과 제2 센서부의 복수의 돌출 영역들(PR2)은 제4 방향(DR4)을 따라 교번하여 배열된다. 제1 센서부의 복수의 돌출 영역들(PR1)과 제2 센서부의 복수의 돌출 영역들(PR2)은 경계(BL-1)를 사이에 두고 서로 마주한다. 제1 센서부의 복수의 돌출 영역들(PR1)과 제2 센서부의 복수의 돌출 영역들(PR2)은 경계(BL-1)를 따라 서로 맞물리는 형태로 배치될 수 있다.

제1 센서부(SP1-5)의 복수의 돌출 영역들(PR1) 각각은 서로 연결된 제1 서브 영역(SA11) 및 제2 서브 영역(SA12)으로 구분될 수 있다. 제1 센서부의 제1 서브 영역(SA11)은 제1 센서부(SP1-5)의 중심 영역(CA)에 인접하고, 제1 센서부의 제2 서브 영역(SA21)은 제2 센서부(SP1-5)의 중심 영역(CA)에 인접한다.

마찬가지로, 제2 센서부(SP2-5)의 복수의 돌출 영역들(PR2) 각각은 서로 연결된 제1 서브 영역(SA21) 및 제2 서브 영역(SA22)으로 구분될 수 있다. 제2 센서부의 제1 서브 영역(SA21)은 제2 센서부(SP2-5)의 중심 영역(CA)에 인접하고, 제2 센서부의 제2 서브 영역(SA22)은 제1 센서부(SP1-5)의 중심 영역(CA)에 인접한다.

제1 센서부의 제2 서브 영역(SA12)은 제1 센서부의 제1 서브 영역(SA11), 제2 센서부(SP1-5)의 제1 서브 영역(SA1), 및 제2 센서부(SP1-5)의 중심 영역(CA)에 의해 에워싸일 수 있다. 마찬가지로, 제2 센서부의 제2 서브 영역(SA22)은 제1 센서부의 제1 서브 영역(SA11), 제2 센서부의 제1 서브 영역(SA21), 및 제2 센서부(SP1-5)의 중심 영역(CA)에 의해 에워싸일 수 있다.

제1 서브 영역들(SA11, SA21) 각각의 제4 방향(DR4)에서의 너비는 제2 서브 영역들(SA12, SA22) 각각의 제4 방향(DR4)에서의 너비보다 클 수 있다. 이에 따라, 경계(BL-1)는 단차진 형상을 가진 지그 재그 형상으로 정의될 수 있다. 이때, 제1 센서부의 제1 서브 영역(SA11) 및 제2 센서부의 제1 서브 영역(SA21) 각각에는 제2 절개 패턴(GP2-3)이 정의될 수 있다. 제2 절개 패턴(GP2-3)은 경계(BL-1)에 연결될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 주변 영역(PA)은 다양한 방식에 의해 정의될 수 있다. 상술한 바와 같이, 주변 영역(PA)은 경계(BL-1) 및 경계(BL-1)와 중심 영역(CA) 사이에 정의되는 제2 절개 패턴 (GP2-3)과 제3 절개 패턴 (GP3-3)에 의해 정의될 수 있다.

이에 따라, 경계(BL-1)는 제2 절개 패턴(GP2-3) 및 제3 절개 패턴(GP3-3)과 별도로 정의되고, 제2 절개 패턴(GP2-3) 및 제3 절개 패턴(GP3-3)은 각각 경계(BL-1)에 연결된 것으로 정의될 수 있다.

제2 서브 영역들(SA21, SA22) 각각 내에서 제3 절개 패턴(GP3-3)과 경계(BL-1)가 연결된 형상은 실질적으로 제2 절개 패턴(GP2-3)의 형상과 대응될 수 있다. 즉, 경계(BL-1)의 일부 및 이와 연결된 제3 절개 패턴(GP3-3)은 제2 절개 패턴(GP2-3)과 실질적으로 동일한 형상을 가질 수 있다.

도 13b에 도시된 것과 같이, 제1 센서부의 제2 서브 영역(SA21) 및 제2 센서부의 제2 서브 영역(SA22) 각각에는 제3 절개 패턴(GP3-3)이 정의될 수 있다. 제3 절개 패턴(GP3-3)은 경계(BL-1)에 연결될 수 있다.

또는, 상술한 바와 같이, 주변 영역(PA)은 제2 절개 패턴(GP2-3)과 제3 절개 패턴(GP3-3)에 의해 정의될 수도 있다. 경계(BL-1)는 제2 절개 패턴(GP2-3) 및 제3 절개 패턴(GP3-3)에 의해 정의될 수 있다.

이때, 경계(BL-1)는 제2 절개 패턴(GP2-3)의 일부와 제3 절개 패턴(GP3-3)이 연결되어 정의된다. 이에 대한 상세한 설명은 후술하기로 한다.

본 발명의 일 실시예에 따른 제1 센서부(SP1-5)와 제2 센서부(SP2-5) 사이의 경계(BL-1)나 제1 센서부(SP1-5)와 제2 센서부(SP2-5)의 형상은 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-3) 및 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-3) 각각의 형상이나 배열 형태에 따라 다양한 형상을 가질 수 있다.

한편, 도 13c에 도시된 것과 같이, 주변 영역(PA)은 제4 방향(DR4)을 따라 배열된 복수의 그룹 패턴들(GRP)에 의해 정의될 수 있다. 주변 영역(PA)에는 제3 방향(DR3) 또는 제4 방향(DR4)을 따라 배열된 복수의 그룹 패턴들이 정의될 수 있다.

도 13c에는 제4 방향(DR4)을 따라 배열된 그룹 패턴들을 도시하였고, 복수의 그룹 패턴들(GRP)은 제1 센서부(SP1-5)의 중심영역(CA) 및 제2 센서부(SP2-5)의 중심영역(CA) 사이에 배치되며, 서로 연결된다.

경계(BL-1)는 복수의 그룹 패턴들(GRP) 내에 정의될 수 있다. 이에 관한 상세한 설명은 후술하기로 한다.

도 14는 도 13a의 KK’ 영역을 도시한 평면도이다. 도 15a는 도 13c의 일부 구성을 도시한 도면이다. 도 15b는 도 15a에 도시된 일부 구성의 비교예를 도시한 도면이다. 도 16a 내지 도 16c는 도 15a에 도시된 구성들 중 일부 구성들에 대해 개략적으로 도시한 도면들이다.

도 14에는 실질적인 메쉬선들과 빈 공간으로 정의되는 패턴들을 구체적으로 도시하였다. 이때, 용이한 구별을 위해 패턴들 중 일부에 색을 더해 도시하였다. 도 15a에는 하나의 그룹 패턴(GRP)을 도시하였고, 도 15b에는 그룹 패턴(GRP)과 대응 가능한 변형 패턴을 도시하였다. 이하, 도 14 내지 도 16c를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 절개 패턴들에 대해 자세히 설명한다.

도 14에 도시된 것과 같이, 제1 내지 제3 절개 패턴들(GP1, GP2-3, GP3-3)은 메쉬선들(MSL)의 일부분을 절단하여 정의된다. 제2 절개 패턴(GP2-3)과 제3 절개 패턴(GP3-3)은 서로 연결되어 배치되고, 제2 절개 패턴(GP2-3)과 제3 절개 패턴(GP3-3) 주변의 영역들에는 메쉬선들(MSL)이 배치된다.

상술한 바와 같이, 경계(BL-1: 도 13a 참조)는 제2 절개 패턴(GP2-3) 및 제3 절개 패턴(GP3-3)이 서로 연결됨에 따라 정의될 수 있다. 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-3) 및 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-3) 각각의 적어도 일부는 서로 연결되어 경계(BL-1)를 정의한다.

한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 센서부(SP1-5) 및 제2 센서부(SP2-5) 각각은 벌크 구조의 도전 패턴일 수 있다. 이때, 복수의 제1 내지 제3 절개 패턴들(GP1, GP2-3, GP3-3) 및 경계(BL-1)는 각각 일체의 도전 패턴의 적어도 일 부분에 정의되는 개구부들일 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 다양한 실시예들을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

한편, 도 14에 표시된 제2 절개 패턴(GP2-3) 및 제3 절개 패턴(GP3-3)은 그룹 패턴(GRP)을 구성한다. 도 15a에 도시된 것과 같이, 그룹 패턴(GRP)은 제2 절개 패턴들(GP2) 중 제4 방향(DR4)을 따라 배열되고 제1 센서부의 제1 영역(AR11)에 인접한 제1 내지 제4 패턴들(PT1, PT2, PT3, PT4), 제2 절개 패턴들(GP2) 중 제4 방향(DR4)을 따라 배열되고 제2 센서부의 제1 영역(AR21)에 인접한 제5 내지 제8 패턴들(PT5, PT6, PT7, PT8), 제3 절개 패턴들(GP3) 중 제3 방향(DR3)을 따라 연장된 제9 내지 제12 패턴들(PT9, PT10, PT11, PT12), 및 제3 절개 패턴들(GP3) 중 제4 방향(DR4)을 따라 연장된 제13 내지 제16 패턴들(PT13, PT14, PT15, PT16) 을 포함한다.

제1 내지 제4 패턴들(PT1, PT2, PT3, PT4)과 제5 내지 제8 패턴들(PT5, PT6, PT7, PT8)은 제3 방향(DR3)에서 각각 서로 마주한다. 제1 내지 제4 패턴들(PT1, PT2, PT3, PT4)과 제5 내지 제8 패턴들(PT5, PT6, PT7, PT8)은 인접한 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)과 제3 방향(DR3) 및 제4 방향(DR4)을 따라 정렬될 수 있다.

제9 내지 제12 패턴들(PT9, PT10, PT11, PT12)은 제1 내지 제4 패턴들(PT1, PT2, PT3, PT4)과 제5 내지 제8 패턴들(PT5, PT6, PT7, PT8)을 각각 연결한다. 이에 따라, 제3 방향(DR3)에서 각각 마주하는 제1 패턴(PT1)과 제5 패턴(PT5), 제2 패턴(PT2)과 제6 패턴(PT6), 제3 패턴(PT3)과 제7 패턴(PT7), 및 제4 패턴(PT4)과 제8 패턴(PT8)은 제9 내지 제12 패턴들(PT9, PT10, PT11, PT12)에 의해 연결된다.

한편, 제9 내지 제12 패턴들(PT9, PT10, PT11, PT12)은 제4 방향(DR4)에서 서로 중첩한다. 본 실시예에서, 제9 내지 제12 패턴들(PT9, PT10, PT11, PT12)은 제4 방향(DR4)을 따라 정렬될 수 있다.

본 실시예에서, 제3 절개 패턴들 각각은 인접한 제2 절개 패턴들을 연결한다. 예를 들어, 제13 내지 제16 패턴들(PT13, PT14, PT15, PT16)은 제1 내지 제4 패턴들(PT1, PT2, PT3, PT4) 중 서로 인접한 일부 패턴들 및 제5 내지 제8 패턴들(PT5, PT6, PT7, PT8) 중 인접한 일부 패턴들을 연결할 수 있다.

본 실시예에서, 제13 패턴(PT13)은 제1 패턴(PT1)과 제2 패턴(PT2)을 연결하고, 제14 패턴(PT14)은 제6 패턴(PT6)과 제7 패턴(PT7)을 연결하고, 제15 패턴(PT15)은 제3 패턴(PT3)과 제4 패턴(PT4)을 연결하며, 제16 패턴(PT16)은 제8 패턴(PT8)에 연결되어 도 15a에 도시된 그룹 패턴(GRP)과 이에 인접하는 다른 그룹 패턴(미도시)을 연결한다.

하나의 제2 절개 패턴과 하나의 제3 절개 패턴은 서로 연결되어 상술한 하나의 공간 패턴을 정의할 수 있다. 이에 따라, 하나의 그룹 패턴(GRP)은 복수의 공간 패턴들이 연결되어 정의될 수도 있다. 이때, 하나의 그룹 패턴(GRP)을 구성하는 공간 패턴들의 형상은 서로 상이하거나 동일할 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

도 15b에는 하나의 그룹 패턴(GRP)의 형상을 변형한 변형 패턴(GRP-E)을 도시하였다. 도 15b를 참조하면, 하나의 공간 패턴을 구성하는 제2 절개 패턴과 제3 절개 패턴은 변형을 통해 제1 절개 패턴(GP1)과 실질적으로 동일한 형상을 이룰 수 있다. 도 15a에 예시적으로 도시된 화살표를 따라 제3 절개 패턴(GP3-3)을 제2 절개 패턴(GP2-3)의 빈 공간으로 이동시키면 변형 패턴(GRP-E)이 정의될 수 있다.

예를 들어, 제9 패턴(PT9)은 제5 패턴(PT5) 중 단절된 공간에 삽입되어 폐곡선 형상의 제1 절개 패턴(GP1)을 형성할 수 있다. 또한, 제13 패턴(PT13)은 이에 연결된 제1 패턴(PT1) 중 단절된 공간에 삽입되어 폐곡선 형상의 제1 절개 패턴(GP1)을 형성할 수 있다.

이에 따라, 하나의 그룹 패턴(GRP)은 이와 대응되는 복수의 제1 절개 패턴들(GP1)과 실질적으로 동일한 형상 및 배열을 가진다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 그룹 패턴(GRP)을 주변 영역(PA)에 배치시킴으로써, 제1 절개 패턴들(GP1)이 배치된 중심 영역들(CA)과 제2 및 제3 절개 패턴들(GP2-3, GP3-3)이 배치된 주변 영역(PA)에서의 빈 공간의 총량을 균일화할 수 있다. 이에 따라, 중심 영역들(CA)에서의 외광 반사율과 주변 영역(PA)에서의 외광 반사율이 실질적으로 동일하게 유지될 수 있어 패턴이 시인되는 문제를 방지할 수 있다.

다시 도 15a를 참조하면, 제13 내지 제16 패턴들(PT13, PT14, PT15, PT16)은 제3 방향(DR3)에서 서로 비 중첩한다. 이에 따라, 제1 패턴(PT1)과 제2 패턴(PT2)이 제13 패턴(PT13)에 의해 연결됨에 따라, 제5 패턴(PT5)과 제6 패턴(PT6)은 서로 직접적으로 연결되지 않을 수 있다.

한편, 제3 절개 패턴들(GP3)은 서로 인접하여 배치될 수 있다. 예를 들어, 제13 패턴(PT13)과 제10 패턴(PT10)은 서로 인접하여 제2 패턴(PT2)에 연결되고, 제14 패턴(PT14)과 제11 패턴(PT11)은 서로 인접하여 제7 패턴(PT7)에 연결되며, 제15 패턴(PT15)과 제12 패턴(PT12)은 서로 인접하여 제4 패턴(PT4)에 연결된다. 도시되지 않았으나, 제9 패턴(PT)은 다른 그룹 패턴(GRP)을 연결하기 위한 제3 절개 패턴과 인접할 수 있다.

경계(BL-1)는 그룹 패턴(GRP)의 적어도 일부에 의해 정의될 수 있다. 제3 절개 패턴들(GP3)은 경계(BL-1)의 일부를 구성할 수 있으며, 제2 절개 패턴들의 일부는 부분적으로 경계(BL-1)의 다른 일부를 구성할 수 있다.

경계(BL-1)는 그룹 패턴(GRP) 내의 제2 절개 패턴들 중 제3 절개 패턴과 연결된 단절된 일변을 포함하는 제2 절개 패턴에 있어서, 단절된 일변을 제외한 나머지 세 변들, 및 제3 절개 패턴들에 의해 정의될 수 있다.

구체적으로, 경계(BL-1)는 그룹 패턴(GRP) 내에서 제9 패턴(PT9), 제1 패턴(PT1) 중 단절된 일변을 제외한 나머지 세 변들, 제13 패턴(PT13), 제10 패턴(PT10), 제6 패턴(PT6) 중 단절된 일변을 제외한 나머지 세 변들, 제14 패턴(PT14), 제11 패턴(PT11), 제3 패턴(PT3) 중 단절된 일변을 제외한 나머지 세 변들, 제15 패턴(PT15), 제12 패턴(PT12), 및 제8 패턴(PT8) 중 단절된 일변을 제외한 나머지 세 변들이 연속적으로 연결되어 정의될 수 있다. 한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 경계(BL-1)는 연속적으로 연결될 수 있다면, 다양한 형태로 정의될 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

도 15a, 도 16a 내지 도 16c를 참조하여 그룹 패턴(GRP)을 구성하는 패턴들에 대해 자세히 살펴본다. 하나의 그룹 패턴(GRP) 내의 제2 절개 패턴들은 서로 대칭이거나 동일한 형상을 가질 수 있다. 본 실시예에서의 대칭은 선 대칭, 점 대칭, 및 이들의 조합을 포함할 수 있다.

예를 들어, 도 15a를 참조하면, 제1 패턴(PT1)과 제3 패턴(PT3)은 서로 동일한 형상을 가질 수 있다. 제2 패턴(PT2)과 제4 패턴(PT4)은 서로 동일한 형상을 가질 수 있다.

또는, 도 16a에 도시된 것과 같이, 제2 절개 패턴들 중 제4 방향(DR3)에서 인접한 두 패턴들의 형상들은 서로 회전 대칭일 수 있다. 제1 패턴(PT1)을 화살표 방향으로 90도의 회전 각도로 회전시키면, 제2 패턴(PT2)의 형상과 대응될 수 있다. 제1 패턴(PT1)과 제2 패턴(PT2)은 제4 방향(DR4)에서 서로 마주한다.

또는, 도 16b에 도시된 것과 같이, 제2 절개 패턴들 중 제3 방향(DR3) 및 제4 방향(DR4)에 각각 교차하는 제2 방향(DR2)에서 서로 인접한 두 패턴들의 형상들은 서로 선 대칭일 수 있다. 제1 패턴(PT1)을 대칭축(SX1)을 기준으로 선 대칭하면, 제5 패턴(PT5)의 형상과 대응될 수 있다.

제1 패턴(PT1)과 제5 패턴(PT5)은 제3 방향(DR3)에서 서로 마주한다. 이때, 선 대칭의 대칭축(SX1)은 제4 방향(DR4)을 따라 연장된 직선일 수 있다.

또는, 도 16c에 도시된 것과 같이, 제2 절개 패턴들 중 제4 방향(DR4)에서 서로 인접한 두 패턴들의 형상들은 서로 선 대칭일 수 있다. 제1 패턴(PT1)은 대칭축(SX1)을 기준으로 선 대칭하면, 제5 패턴(PT5)의 형상과 대응될 수 있다.

제1 패턴(PT1)과 제5 패턴(PT5)은 제3 방향(DR3)에서 서로 마주한다. 대칭축(SX1)은 제3 방향(DR3) 및 제4 방향(DR4)에 각각 교차하는 제1 방향(DR1)을 따라 연장된 직선일 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 주변 영역(PA)에 정의된 복수의 제2 절개 패턴들(GP2-3) 및 복수의 제3 절개 패턴들(GP3-3)을 포함함으로써, 제1 센서부(SP1-5)와 제2 센서부(SP2-5) 사이의 이질감을 개선시킬 수 있다. 본 발명에 따르면, 복수의 제1 절개 패턴(GP1)과 제2 및 제3 절개 패턴들(GP2-3, GP3-3) 사이의 구별이 어렵도록 하거나, 제1 센서부(SP1-5) 및 제2 센서부(SP2-5) 사이의 경계(BL-1)가 시인되지 않도록 함으로써, 전자 장치의 시인성을 개선시킬 수 있다.

도 17a 내지 도 17c는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일 실시예들을 도시한 단면도들이다. 이하, 도 17a 내지 도 17c를 참조하여 다양한 실시예들(1000-1, 1000-2, 1000-3)에 대해 살펴본다. 한편, 도 1 내지 도 16c에서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략한다.

도 17a 내지 도 17c에 도시된 전자 장치들(1000-1, 1000-2, 1000-3)은 영상을 표시하는 터치 스크린 패널들일 수 있다. 이에 따라, 전자 장치들(1000-1, 1000-2, 1000-3) 각각은 전기적 신호를 인가받아 영상을 표시하는 복수의 화소들이 배치된 표시층(DPL)을 포함할 수 있다.

복수의 화소들 각각은 적어도 하나의 구동 소자 및 구동 소자에 연결된 표시 소자를 포함할 수 있다. 구동 소자는 박막 트랜지스터나 커패시터를 포함할 수 있다. 표시 소자는 액정 커패시터, 유기발광소자, 전기영동소자, 또는 전기습윤소자를 포함할 수 있다.

한편, 이는 예시적으로 기재한 것이고, 표시층(DPL)은 전기적 신호에 따라 영상을 표시할 수 있다면 다양한 실시예들을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

도 17a에 도시된 것과 같이, 전자 장치(1000-1)는 베이스 층(BSL), 표시층(DPL), 박막 봉지층(TFE), 및 감지층(TSL)을 포함할 수 있다.

베이스 층(BSL)은 유연한 절연 물질로 구성될 수 있다. 이때, 베이스 층(BSL)은 도 1에 도시된 전자 장치(1000: 도 1 참조)의 베이스 부재(100: 도 1 참조)와 대응될 수 있다.

감지층(TSL)은 외부에서 인가되는 터치를 감지한다. 감지층(TSL)은 도 1에 도시된 전자 장치(1000)의 터치 부재(200)와 대응될 수 있다.

표시층(DPL)은 베이스 층(BSL)과 감지층(TSL) 사이에 배치될 수 있다. 표시층(DPL)은 전면 발광, 배면 발광, 또는 양면 발광 방식으로 구동될 수 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.

봉지층(TFE)은 표시층(DPL) 및 감지층(TSL) 사이에 배치될 수 있다. 봉지층(TFE)은 복수의 유기막 및/또는 무기막이 적층된 구조를 가질 수 있다. 봉지층(TFE)은 표시층(DPL)을 밀봉하여 표시층(DPL)에 외부 수분 등이 침입하는 문제를 방지할 수 있다.

이때, 감지층(TSL)은 봉지층(TFE) 상에 직접 배치될 수 있다. 이에 따라, 전자 장치(1000-1)는 슬림(slim)한 두께를 가질 수 있어 휴대성이나 폴딩 동작에 유리할 수 있다.

도 17b에 도시된 것과 같이, 전자 장치(1000-2)는 베이스 층(BSL), 표시층(DPL), 봉지부(EC), 실링부(SL), 봉지층(ECL), 및 감지층(TSL)을 포함할 수 있다. 봉지층(ECL)은 절연 물질로 구성될 수 있다. 봉지층(ECL)은 절연 기판 또는 절연 필름일 수 있다.

감지층(TSL)은 봉지층(ECL) 상에 배치된다. 감지층(TSL)은 봉지층(ECL) 상에 직접 배치될 수 있다. 또는 감지층(TSL)과 봉지층(ECL) 사이에는 미 도시된 절연층이 더 배치될 수도 있다.

표시층(DPL)은 베이스 층(BSL)과 봉지층(ECL) 사이에 배치된다. 표시층(DPL)은 봉지층(ECL)으로부터 이격될 수 있다.

실링부(SL)는 베이스 층(BSL)과 봉지층(ECL) 사이에 배치되어 베이스 층(BSL)과 봉지층(ECL)을 결합시킨다. 실링부(SL)는 베이스 층(BSL)의 가장자리를 따라 배치될 수 있다. 또한, 실링부(SL)는 베이스 층(BSL)과 봉지층(ECL) 사이의 공간을 형성하고, 베이스 층(BSL)과 봉지층(ECL) 사이의 격을 유지한다. 실링부(SL)는 유리를 포함하는 프릿 페이스트(frit paste) 및 수지 물질 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.

봉지부(EC)는 베이스 층(BSL)과 봉지층(ECL) 사이의 공간에 충진된다. 봉지부(EC)는 실링부(SL)에 의해 밀봉될 수 있다.

봉지부(EC)는 내부 수분을 흡수하고, 표시층(DPL)에 외부 오염물질이 침투되는 것을 차단한다. 봉지부(EC)는 비활성 기체 또는 유체와 같은 비활성 물질을 포함할 수 있다.

도 17c에 도시된 것과 같이, 전자 장치(1000-3)는 베이스 층(BSL), 감지층(TSL), 표시층(DPL), 및 커버층(CVL)을 포함할 수 있다. 이때, 감지층(TSL)은 베이스 층(BSL)과 표시층(DPL) 사이에 배치될 수 있다. 감지층(TSL)은 구동 방식에 따라 베이스 층(BSL) 하부에 인가되는 터치를 감지하거나 커버층(CVL) 상에 인가되는 터치를 감지할 수도 있으며, 어느 하나의 실시예에 한정되지 않는다.

표시층(DSP)은 감지층(TSL)과 전기적으로 절연되어 독립적으로 제어될 수 있다. 도시되지 않았으나, 감지층(TSL)과 표시층(DSP) 사이에는 미 도시된 절연층이 더 배치될 수도 있다.

커버층(CVL)은 표시층(DPL) 상에 배치되어 표시층(DPL)을 커버한다. 커버층(CVL)은 외부로부터 표시층(DPL)을 보호할 수 있다. 커버층(CVL)은 절연 물질로 구성될 수 있다.

또한, 커버층(CVL)은 투과성이 높은 물질로 구성될 수 있다. 이때, 표시층(DPL)이 전면 발광하는 경우 사용자는 커버층(CVL)을 통해 영상을 시인할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치들(1000-1, 1000-2, 1000-3)은 외부에서 인가되는 터치를 감지하는 것과 동시에 외부에 영상을 제공할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따르면 사용자의 입력을 감지하고 이에 응답하여 정보를 제공할 수 있는 전자 장치를 제공할 수 있다. 한편 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형을 할 수 있음은 이 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게는 자명하다. 따라서, 그러한 변형예 또는 수정예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 해야 할 것이다.

1000: 전자 장치 100: 베이스 부재
200: 터치 부재 SP1: 제1 센서부
SP2: 제2 센서부 GP1: 제1 절개 패턴
GP2: 제2 절개 패턴 GP3: 제3 절개 패턴

Claims

베이스층;
상기 베이스층 위에 배치된 표시층;
상기 표시층 위에 배치된 박막 봉지층; 및
상기 박막 봉지층 위에 직접 배치되며, 제1 센서부 및 상기 제1 센서부와 이격된 제2 센서부를 포함하는 감지층을 포함하고,
상기 제1 센서부는 제1 메쉬선들, 및 상기 제1 메쉬선들과 이격되며 상기 제1 메쉬선들에 의해 에워싸인 제1 플로팅 메쉬선들을 포함하고,
상기 제1 센서부에는 상기 제1 메쉬선들의 일부가 제거된 부분을 연결한 제1 절개 라인 및 상기 제1 플로팅 메쉬선들을 에워싸는 제2 절개 라인이 정의되고,
상기 제2 절개 라인의 길이는 상기 제1 절개 라인의 길이보다 긴 전자 장치.
제1 항에 있어서,
상기 제2 절개 라인은 폐곡선 형상을 갖는 전자 장치.
제1 항에 있어서,
상기 제1 플로팅 메쉬선들은 상기 제1 메쉬선들과 절연된 전자 장치.
제1 항에 있어서,
상기 제1 절개 라인 및 상기 제2 절개 라인 각각은 복수로 제공되고, 복수의 제1 절개 라인들은 서로 이격되고, 복수의 제2 절개 라인들은 서로 이격된 전자 장치.
제1 항에 있어서,
상기 제1 절개 라인을 사이에 두고 마주하는 상기 제1 메쉬선들의 제1 부분 및 상기 제1 메쉬선들의 제2 부분은 서로 전기적으로 연결된 전자 장치.
제1 항에 있어서,
상기 제2 센서부는 제2 메쉬선들, 및 상기 제2 메쉬선들과 이격되며 상기 제2 메쉬선들에 의해 에워싸인 제2 플로팅 메쉬선들을 포함하고,
상기 제2 센서부에는 상기 제2 메쉬선들의 일부가 제거된 부분을 연결한 제3 절개 라인 및 상기 제2 플로팅 메쉬선들을 에워싸는 제4 절개 라인이 정의되고, 상기 제4 절개 라인의 길이는 상기 제3 절개 라인의 길이보다 긴 전자 장치.
제6 항에 있어서,
상기 제1 메쉬선들과 상기 제2 메쉬선들 사이에 상기 제1 센서부와 상기 제2 센서부의 경계가 정의된 전자 장치.
제7 항에 있어서,
상기 경계는 지그재그 형상을 갖는 전자 장치.
제7 항에 있어서,
상기 경계는 서로 교대로 반복되는 상기 제1 센서부를 향해 돌출되는 부분 및 상기 제2 센서부를 향해 돌출되는 부분을 포함하는 전자 장치.
제7 항에 있어서,
상기 제1 센서부와 상기 제2 센서부는 상기 경계를 사이에 두고 맞물리는 형상을 갖는 전자 장치.
제7 항에 있어서,
상기 제1 센서부에는 상기 경계로부터 연장된 제1 추가 절개 라인이 더 정의되고, 상기 제1 추가 절개 라인은 상기 제1 메쉬선들의 일부분이 제거되어 정의된 전자 장치.
제11 항에 있어서,
상기 제2 센서부에는 상기 경계로부터 연장된 제2 추가 절개 라인이 더 정의되고, 상기 제2 추가 절개 라인은 상기 제2 메쉬선들의 일부분이 제거되어 정의된 전자 장치.
제7 항에 있어서,
상기 제2 절개 라인은 상기 제1 절개 라인을 사이에 두고 상기 경계와 이격된 전자 장치.
제1 항에 있어서,
상기 감지층은 상기 박막 봉지층과 직접 접촉된 절연층, 상기 절연층 위에 배치되며 상기 제1 센서부와 전기적으로 연결된 연결 전극, 및 상기 연결 전극을 커버하는 중간 절연층을 더 포함하는 전자 장치.
제14 항에 있어서,
상기 제1 센서부 및 상기 제2 센서부는 상기 중간 절연층 위에 직접 배치 되고, 상기 제1 센서부는 상기 중간 절연층에 제공된 컨택홀을 통해 상기 연결 전극에 전기적으로 접촉된 전자 장치.
제14 항에 있어서,
상기 감지층은 상기 중간 절연층 위에 배치되고 상기 연결 전극을 통해 상기 제1 센서부와 전기적으로 연결된 제3 센서부를 더 포함하는 전자 장치.