KR102336506B1 - A Cyanide Copper Plating Solution And A Method for Cyanide Copper Plating Using The Same - Google Patents

A Cyanide Copper Plating Solution And A Method for Cyanide Copper Plating Using The Same Download PDF

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    • C25D3/40Electroplating: Baths therefor from solutions of copper from cyanide baths, e.g. with Cu+

Abstract

본 발명의 일 실시예는, 3-헥사인-2,5-디올(3-Hexyne-2,5-diol) 화합물 및 황 화합물을 포함하는 청화동 도금액을 제공한다. 또한, 상기 청화동 도금액을 이용한 청화동 도금방법을 제공한다.An embodiment of the present invention provides a copper cyanide plating solution comprising a 3-hexaine-2,5-diol compound and a sulfur compound. In addition, there is provided a copper cyanide plating method using the copper cyanide plating solution.

Description

청화동 도금액 및 이를 이용하는 청화동 도금방법 {A Cyanide Copper Plating Solution And A Method for Cyanide Copper Plating Using The Same}A Cyanide Copper Plating Solution And A Method for Cyanide Copper Plating Using The Same}

본 발명은 청화동 도금액에 관한 것으로, 보다 상세하게는 청화동 도금의 표면의 밀착력 향상을 위해 반광택 첨가제를 포함하는 청화동 도금액 및 이를 이용한 청화동 도금방법에 관한 것이다.The present invention relates to a copper cyanide plating solution, and more particularly, to a copper cyanide plating solution including a semi-glossy additive for improving adhesion of the surface of the copper cyanide plating solution and a copper cyanide plating method using the same.

통신,가전,기계 및 자동차 산업 등의 전반적인 시장규모 확대되면서 금속표면처리 기술이 차지하는 비중은 더욱 커지고 있으며, 동시에 우수한 품질 및 경쟁력 확보를 위해 보다 더 가혹한 환경에서 고내식성을 갖는 표면처리 기술이 요구되고 있다.As the overall market size of telecommunication, home appliances, machinery and automobile industries expands, the proportion of metal surface treatment technology is increasing. have.

이러한 고내식성의 금속표면처리를 구현하기 위해서는 단순히 소재상에 단일 금속도금층을 두껍게 석출시키는 1차원적인 도금이 아닌 "소재-도금층-도금층-도금층" 형태의 다층도금 기술이 필수적이다. 이러한 다층도금의 구현을 위해서는 소재-도금층, 도금층-도금층 사이의 강한 밀착력이 필요하다.In order to implement such a high corrosion-resistance metal surface treatment, a multi-layer plating technology in the form of "material-plating layer-plating layer-plating layer" is essential, rather than one-dimensional plating that simply deposits a single metal plating layer thickly on the material. In order to implement such multi-layer plating, strong adhesion between the material-plating layer and the plating layer-plating layer is required.

한편, 구리(Copper)는 공기 중에서 변색하기 쉽지만 열 및 전기전도도가 우수하고 가공성이 우수하기 때문에 여러 종류의 도금에서 밀착력 향상을 위해 하지도금(Pre-plating)으로 널리 사용되고 있다. 구리 하지도금은 도금의 밀착력 및 피복력이 좋은 구리 스트라이크 도금(Copper Strike Plating)이 주로 이용된다. On the other hand, copper (Copper) is easily discolored in the air, but has excellent thermal and electrical conductivity and excellent workability, so it is widely used as pre-plating in various types of plating to improve adhesion. Copper strike plating, which has good adhesion and covering power, is mainly used for copper base plating.

구리 도금에 사용되는 도금액은 청화동도금, 황산 동도금 및 피로인산 동도금이 있으나, 청화동도금이 철강소지에 직접 도금할 수 있으며 밀착력이 좋기 때문에 구리 스트라이크 도금에 이용된다.Plating solutions used for copper plating include copper cyanide plating, copper sulfate plating, and copper pyrophosphate plating, but copper cyanide plating can directly plated on steel and has good adhesion, so it is used for copper strike plating.

일반적으로 청화동도금은 석출조직 개질을 통하여 더욱 강력한 밀착력을 구현하기 위해 도금액에 광택제(Brightener)를 첨가한다. 광택제는 청화동도금이 갖고 있는 본연의 밀착력을 향상시키고 동도금층의 광택도를 조절함으로써 후도금의 밀착력 및 광택성을 향상시키는 역할을 한다.In general, in copper cyanide plating, a brightener is added to the plating solution to realize stronger adhesion through the modification of the precipitation structure. The brightener plays a role in improving the adhesion and glossiness of the post-plating by improving the original adhesion of the copper-clad plating and controlling the glossiness of the copper plating layer.

동도금층의 광택도가 너무 낮으면 후도금층과의 밀착력은 증가하나, 후도금층의 광택성이 떨어지게 된다. 반대로, 동도금층의 광택도가 너무 높은 경우에는 석출된 동도금층 표면에 광택제의 유기원료의 피막이 발생하여 후도금층과의 밀착력이 감소하고, 후도금층이 쉽게 이탈될 수 있다. 따라서, 동도금층의 광택도를 일정 범위로 균일하게 유지하는 것이 중요하고, 이를 위해 광택제의 종류 및 함량을 조절할 필요가 있다.If the glossiness of the copper plating layer is too low, the adhesion with the post plating layer is increased, but the glossiness of the post plating layer is deteriorated. Conversely, when the glossiness of the copper plating layer is too high, a film of the organic raw material of the brightener is formed on the surface of the deposited copper plating layer, thereby reducing adhesion with the post plating layer, and the post plating layer may be easily separated. Therefore, it is important to uniformly maintain the glossiness of the copper plating layer within a certain range, and for this purpose, it is necessary to control the type and content of the polishing agent.

한편, 일반적으로 광택제의 성분은 납(Lead, Pb) 또는 카드뮴(Cadmium, Cd) 등과 같은 중금속 성분이 주로 사용되었으나, 2000년대 초반, 유럽연합(EU)의 중금속 사용을 규제하는 RoHS(Restriction of Hazardous Substances, Cd, Pb, Hg, Cr6+, PBB,PBDE 사용규제 법안) 발의로 인하여 현재는 납이나 카드뮴 등의 중금속 사용이 전면 규제되고 있으며, 그 외 SVHC(Substances of Very High Concern) 등 여러 환경 규제에 의해서 광택제의 원료로 사용될 수 있는 물질의 범위가 상당히 제한적이다.On the other hand, in general, heavy metal components such as lead (Lead, Pb) or cadmium (Cd) were mainly used as the components of brightening agents, but in the early 2000s, RoHS (Restriction of Hazardous) regulating the use of heavy metals in the European Union (EU) Substances, Cd, Pb, Hg, Cr6+, PBB, PBDE use control bill), the use of heavy metals such as lead and cadmium is currently fully regulated, and other environmental regulations such as SVHC (Substances of Very High Concern) Therefore, the range of materials that can be used as raw materials for brightening agents is quite limited.

또한, 일반적으로 시중에 유통 및 사용되는 광택제는 2 내지 3액형의 다액형 광택제로, 연속 작업 시, 2액상 이상의 광택제가 지속적으로 보충되어야 하며, 사용온도를 65 oC 이상의 고온으로 유지할 필요가 있고, 석출표면에 광택경면이 형성되어 표면의 표면장력이 높아진다는 문제점이 있다. 높은 표면장력은 후도금층과의 밀착력을 저하시키고, 후도금층 표면에 얼룩불량을 초래한다. 또한, 광택면이 전류밀도의 차이에 따라 고전류 부분에 편중되는 경향이 있어 저전류 부분과의 광택편차가 발생한다는 문제점이 있다.In addition, in general, varnishes distributed and used in the market are multi-component varnishes of 2 to 3 components. During continuous operation, 2 or more varnishes must be continuously replenished, and the use temperature needs to be maintained at a high temperature of 65 o C or higher. , there is a problem that a glossy mirror surface is formed on the surface of the precipitation, and the surface tension of the surface is increased. High surface tension lowers adhesion with the post-plating layer and causes unevenness on the surface of the post-plating layer. In addition, there is a problem that the glossy surface tends to be biased in the high current portion according to the difference in current density, resulting in gloss deviation from the low current portion.

따라서, 이러한 국내외의 환경규제에 대응할 수 있고, 청화동도금 본연의 기능을 보다 향상시키며, 도금 공정에서 사용 및 관리가 용이하면서 중금속과 금속염 성분을 포함하지 않는 청화동 도금액 및 도금방법을 도입할 필요가 있다.Therefore, it is necessary to introduce a copper cyanide plating solution and plating method that can cope with these domestic and foreign environmental regulations, improves the original function of copper cyanide plating, is easy to use and manage in the plating process, and does not contain heavy metals and metal salts. have.

상기 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 본 발명은 중금속이 포함되지 않은 반광택 첨가제를 포함하는 청화동 도금액 및 청화동 도금방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve the problems of the prior art, an object of the present invention is to provide a copper cyanide plating solution and a copper cyanide plating method including a semi-glossy additive that does not contain heavy metals.

또한, 본 발명은 밀착력이 우수하며 적절한 광택도를 갖는 동도금층을 형성하는 청화동 도금액 및 청화동 도금방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.In addition, an object of the present invention is to provide a copper cyanide plating solution and a copper cyanide plating method for forming a copper plating layer having excellent adhesion and adequate gloss.

또한, 도금 공정에서 사용 및 관리가 용이하고, 온화한 조건(mild condition)에서 효율적이고 경제적인 청화동 도금방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.In addition, an object of the present invention is to provide an efficient and economical copper cyanide plating method that is easy to use and manage in a plating process, and is effective in a mild condition.

위에서 언급된 본 발명의 관점들 외에도, 본 발명의 다른 특징 및 이점들이 이하에서 설명되거나, 그러한 설명으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.In addition to the aspects of the present invention mentioned above, other features and advantages of the present invention will be described below or will be clearly understood by those of ordinary skill in the art from such description.

이러한 과제 해결을 위하여 본 발명의 일 실시예는, 청화동 화합물; 및 반광택 첨가제;를 포함하며, 상기 반광택 첨가제는, 3-헥사인-2,5-디올(3-Hexyne-2,5-diol) 화합물; 및 황 화합물;을 포함하는 청화동 도금액을 제공한다.In order to solve this problem, an embodiment of the present invention is a copper cheonghwa compound; and a semi-gloss additive, wherein the semi-gloss additive includes: a 3-hexain-2,5-diol (3-Hexyne-2,5-diol) compound; and a sulfur compound; provides a copper cyanide plating solution comprising.

상기 청화동 화합물은 청화동(CuCN), 청화동나트륨(Na2Cu(CN)3), 청화동칼륨(K2Cu(CN)3) 또는 이들의 혼합물을 포함할 수 있다.The copper cyanide compound may include copper cyanide (CuCN), sodium cyanide (Na 2 Cu(CN) 3 ), potassium cyanide (K 2 Cu(CN) 3 ), or a mixture thereof.

상기 청화동 화합물은 청화동(CuCN); 및 청화나트륨(NaCN) 및 청화칼륨(KCN) 중 적어도 어느 하나;를 포함할 수 있다.The copper cyanide compound is copper cyanide (CuCN); and at least one of sodium cyanide (NaCN) and potassium cyanide (KCN).

상기 청화동(CuCN)은 청화동 도금액 대비 10 내지 50 g/L이고, 상기 청화나트륨(NaCN) 및 청화칼륨(KCN) 중 적어도 어느 하나는 청화동 도금액 대비 25 내지 65 g/L일 수 있다.The copper cyanide (CuCN) may be 10 to 50 g/L compared to the copper cyanide plating solution, and at least one of sodium cyanide (NaCN) and potassium cyanide (KCN) may be 25 to 65 g/L compared to the copper cyanide plating solution.

상기 3-헥사인-2,5-디올 화합물은 청화동 도금액 대비 0.5 내지 10 g/L일 수 있다.The 3-hexaine-2,5-diol compound may be in an amount of 0.5 to 10 g/L compared to the copper cyanide plating solution.

상기 황 화합물은 사카린 나트륨(Sodium saccharin), 비닐설폰산나트륨(Sodium vinyl sulfonate) 및 알릴설폰산나트륨(Sodium allyl sulfonate) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The sulfur compound may include at least one of sodium saccharin, sodium vinyl sulfonate, and sodium allyl sulfonate.

상기 황 화합물은 청화동 도금액 대비 0.75 내지 4.00 g/L일 수 있다.The sulfur compound may be 0.75 to 4.00 g/L compared to the copper cyanide plating solution.

상기 반광택 첨가제는 N-폴리에테르(N-Polyether) 및 L-폴리에테르(L-Polyether)을 더 포함할 수 있다.The semi-glossy additive may further include N-polyether (N-Polyether) and L-polyether (L-Polyether).

상기 N-폴리에테르(N-Polyether)는 청화동 도금액 대비 0.015 내지 0.45 g/L이고, 상기 L-폴리에테르(L-Polyether)는 청화동 도금액 대비 0.015 내지 0.45 g/L일 수 있다.The N-polyether (N-Polyether) may be 0.015 to 0.45 g/L compared to the copper cyanide plating solution, and the L-polyether (L-Polyether) may be 0.015 to 0.45 g/L compared to the copper cyanide plating solution.

상기 반광택 첨가제는 부틴디올에톡시레이트(Butynediol ethoxylate), 2-부틴-1,4-디올 및 글리신(glycine) 중 적어도 어느 하나를 더 포함할 수 있다.The semi-gloss additive may further include at least one of butynediol ethoxylate, 2-butyne-1,4-diol, and glycine.

상기 부틴디올에톡시레이트(Butynediol ethoxylate) 및 2-부틴-1,4-디올 중 적어도 어느 하나는 청화동 도금액 대비 0.075 내지 0.375 g/L이고, 상기 글리신(glycine)은 청화동 도금액 대비 0.075 g/L 내지 0.525 g/L일 수 있다.At least one of butynediol ethoxylate and 2-butyne-1,4-diol is 0.075 to 0.375 g/L compared to the copper cyanide plating solution, and the glycine is 0.075 g/L compared to the copper cyanide plating solution L to 0.525 g/L.

상기 반광택 첨가제는 계면활성제를 더 포함하고, 상기 계면활성제는 불소계 계면활성제(Fluorinated surfactant)를 포함할 수 있다.The semi-glossy additive may further include a surfactant, and the surfactant may include a fluorinated surfactant.

상기 불소계 계면활성제는 과플루오로부탄설폰산칼륨(Potassium perfluorobutane sulfonate) 화합물을 포함할 수 있다.The fluorine-based surfactant may include a potassium perfluorobutane sulfonate compound.

상기 불소계 계면활성제는 청화동 도금액 대비 0.05 내지 0.15 g/L일 수 있다.The fluorine-based surfactant may be 0.05 to 0.15 g/L compared to the copper cyanide plating solution.

상기 청화동 도금액은 유기산염 및 무기산염 중 적어도 1종 이상을 더 포함할 수 있다.The copper cyanide plating solution may further include at least one or more of an organic acid salt and an inorganic acid salt.

상기 유기산염은 타르타르산나트륨칼륨(Potassium sodium tartrate), 탄산나트륨(Sodium carbonate) 및 탄산칼륨(Potassium carbonate) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The organic acid salt may include at least one of potassium sodium tartrate, sodium carbonate, and potassium carbonate.

상기 무기산염은 수산화나트륨(Sodium hydroxide) 및 수산화칼륨(Potassium hydroxide) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The inorganic acid salt may include at least one of sodium hydroxide and potassium hydroxide.

본 발명의 다른 관점에 따라, 피도금 소지 준비 단계; 청화동 도금액 준비 단계; 및 상기 청화동 도금액을 이용하여 전기도금을 통해 상기 피도금 소지 표면에 청화동 도금하는 단계;를 포함하고, 상기 청화동 도금액은 본 발명의 청화동 도금액인 청화동 도금방법이 제공된다.According to another aspect of the present invention, the preparation step of the subject to be plated; Preparation of copper cheonghwa plating solution; and plating a copper cyanide plating solution on the surface of the substrate to be plated through electroplating using the copper cyanide plating solution, wherein the copper cyanide plating solution is a cyanide copper plating solution of the present invention.

상기 동화동 도금하는 단계는, 30 내지 50 oC의 온도; 및 1 내지 10 A/dm2의 전류밀도;에서 수행될 수 있다.The copper plating step includes a temperature of 30 to 50 o C; and a current density of 1 to 10 A/dm 2 ; it may be performed.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 중금속을 포함하는 광택제를 사용하지 않고도 우수한 밀착력 및 적절한 광택도를 갖는 동도금층을 형성할 수 있게 된다.According to one embodiment of the present invention, it is possible to form a copper plating layer having excellent adhesion and appropriate gloss without using a brightener containing a heavy metal.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 사용 및 관리가 용이한 1액형의 반광택 첨가제를 포함하는 청화동 도금액을 제공할 수 있게 된다.In addition, according to an embodiment of the present invention, it is possible to provide a copper cyanide plating solution containing a one-component semi-glossy additive that is easy to use and manage.

또한, 본 발명의 다른 일 실시예에 따르면, 상대적으로 낮은 온도에서 빠른 속도로 도금 공정을 수행할 수 있게 되어 고정 효율이 증가하고 경제적으로 유리한 청화동 도금방법을 제공할 수 있게 된다.In addition, according to another embodiment of the present invention, it is possible to perform a plating process at a relatively low temperature and at a high speed, thereby increasing fixing efficiency and providing an economically advantageous copper cyanide plating method.

첨부된 도면은 본 발명의 이해를 돕고 본 명세서의 일부를 구성하기 위한 것으로서, 본 발명의 실시예들을 예시하며, 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 원리들을 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 다층도금(10)의 개략적인 단면도이다.
도 2는 본 발명의 청화동 도금액을 이용한 청화동 도금방법에 대한 순서도이다.
도 3은 청화동 도금액의 성능을 실험하는 헐셀테스트(Hull Cell Test)의 실시 모습을 촬영한 것이다.
도 4는 본 발명의 비교예 1 내지 5의 청화동 도금액을 이용하여 헐셀테스트 실시 후 도금된 시편의 표면을 촬영한 것이다.
도 5는 본 발명의 실시예 1 및 비교예 5의 청화동 도금액을 이용하여 헐셀테스트 실시 후 도금된 시편의 표면을 촬영한 것이다.
도 6은 본 발명의 실시예 2 내지 9의 청화동 도금액을 이용하여 헐셀테스트 실시 후 도금된 시편의 표면을 촬영한 것이다.
도 7은 본 발명의 실시예 9 및 비교예 6의 청화동 도금액을 이용하여 헐셀테스트 실시 후 도금된 시편의 표면을 촬영한 것이다.
도 8은 본 발명의 실시예 9 내지 11을 이용하여 도금한 시편의 표면을 전자 현미경을 이용하여 550배율로 촬영한 것이다.
도 9는 본 발명의 실시예 9 및 11 및 비교예 6을 이용하여 도금한 시편의 외형을 촬영한 것이다.
도 10은는 본 발명의 실시예 11 및 비교예 1 및 6의 청화동 도금 이후에 니켈 도금한 시편의 외형을 촬영한 것이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The accompanying drawings, which are intended to aid the understanding of the present invention and constitute a part of this specification, illustrate embodiments of the invention, and together with the description, explain the principles of the invention.
1 is a schematic cross-sectional view of a multilayer plating 10 according to an embodiment of the present invention.
2 is a flowchart of a copper bronze plating method using the copper cyanide plating solution of the present invention.
Figure 3 is a photograph of the implementation of the Hull Cell Test (Hull Cell Test) to test the performance of the copper cyanide plating solution.
4 is a photograph of the surface of the plated specimen after conducting the Hullcell test using the copper cyanide plating solution of Comparative Examples 1 to 5 of the present invention.
5 is a photograph showing the surface of the plated specimen after carrying out the Hullcell test using the copper cyanide plating solution of Example 1 and Comparative Example 5 of the present invention.
6 is a photograph showing the surface of the plated specimen after carrying out the Hullcell test using the copper cyanide plating solution of Examples 2 to 9 of the present invention.
7 is a photograph showing the surface of the plated specimen after carrying out the Hullcell test using the copper cyanide plating solution of Example 9 and Comparative Example 6 of the present invention.
8 is a photograph of the surface of the specimen plated using Examples 9 to 11 of the present invention at a magnification of 550 using an electron microscope.
9 is a photograph of the outer shape of the specimen plated using Examples 9 and 11 and Comparative Example 6 of the present invention.
10 is a photograph of the outer appearance of the nickel-plated specimen after the copper cyanide plating of Example 11 and Comparative Examples 1 and 6 of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세하게 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 기술적 사상 및 범위를 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명의 다양한 변경 및 변형이 가능하다는 점은 당업자에게 자명할 것이다. 따라서, 본 발명은 청구범위에 기재된 발명 및 그 균등물 범위 내의 변경과 변형을 모두 포함한다.It will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications of the present invention are possible without departing from the spirit and scope of the present invention. Accordingly, the present invention includes all modifications and variations within the scope of the invention as set forth in the claims and their equivalents.

본 발명의 실시예들을 설명하기 위해 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로, 본 발명이 도면에 도시된 사항에 의해 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 구성 요소는 동일 참조 부호로 지칭될 수 있다. Since the shapes, sizes, proportions, angles, numbers, etc. disclosed in the drawings for explaining the embodiments of the present invention are exemplary, the present invention is not limited by the matters shown in the drawings. Throughout the specification, like elements may be referred to by like reference numerals.

본 명세서에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이라는 표현이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소가 단수로 표현된 경우, 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함한다. 또한, 구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석된다.When 'including', 'having', 'consisting', etc. mentioned in this specification are used, other parts may be added unless the expression 'only' is used. When a component is expressed in the singular, the plural is included unless specifically stated otherwise. In addition, in interpreting the components, it is interpreted as including an error range even if there is no separate explicit description.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이라는 표현이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수 있다.In the case of a description of the positional relationship, for example, when the positional relationship of two parts is described as 'on', 'on', 'on', 'beside', etc., 'right' Alternatively, unless the expression 'directly' is used, one or more other parts may be positioned between the two parts.

시간 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~후에', '~에 이어서', '~다음에', '~전에' 등으로 시간적 선후 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이라는 표현이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우가 포함될 수 있다.In the case of a description of a temporal relationship, for example, 'immediately' or 'directly' when a temporal relationship is described with 'after', 'following', 'after', 'before', etc. Unless the expression "

다양한 구성요소들을 서술하기 위해, '제1', '제2' 등과 같은 표현이 사용되지만, 이들 구성요소들은 이러한 용어에 의해 제한되지 않는다. 이러한 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.To describe various elements, expressions such as 'first', 'second', etc. are used, but these elements are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one component from another. Accordingly, the first component mentioned below may be the second component within the spirit of the present invention.

"적어도 하나"의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. The term “at least one” should be understood to include all possible combinations from one or more related items.

본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시될 수도 있다.Each feature of the various embodiments of the present invention may be partially or wholly combined or combined with each other, technically various interlocking and driving are possible, and each of the embodiments may be implemented independently of each other or may be implemented together in a related relationship. may be

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 다층도금(10)의 개략적인 단면도이다.1 is a schematic cross-sectional view of a multilayer plating 10 according to an embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 다층도금(10)은 피도금소지(100)-청화동도금층(200)-후도금층(300)을 포함한다. 청화동 도금은 주로 금속소지 상에 수행되나, 이에 한정되는 것은 아니며, 비금속소지 상에도 수행될 수 있다. 후도금층(300)은 구리, 철, 니켈, 크롬, 코발트, 은, 금 등 다양한 금속으로 형성될 수 있으며, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다.As shown in FIG. 1 , the multilayer plating 10 includes a substrate to be plated 100 - a cyanide plating layer 200 - a post plating layer 300 . Copper cyanide plating is mainly performed on a metal substrate, but is not limited thereto, and may be performed on a non-metal substrate. The post-plating layer 300 may be formed of various metals such as copper, iron, nickel, chromium, cobalt, silver, or gold, but the present invention is not limited thereto.

본 발명은 다층도금(10) 중에서 청화동도금층(200)을 형성하기 위한 청화동 도금액 및 청화동 도금방법에 관한 것이다.The present invention relates to a copper cyanide plating solution and a copper cyanide plating method for forming a cyanide copper plating layer 200 in a multi-layer plating (10).

본 발명의 일 실시예에 따르면, 청화동 도금액은 청화동 화합물 및 첨가제를 포함한다. According to an embodiment of the present invention, the copper bronze plating solution includes a copper cyanide compound and an additive.

본 발명에서 청화동 화합물은 청화동(CuCN)뿐만 아니라, 청화동(CuCN)이 청화나트륨(NaCN) 또는 청화칼륨(KCN)과 반응하여 생성된 청화동나트륨(Na2Cu(CN)3) 또는 청화동칼륨(K2Cu(CN)3)까지 포함하는 것을 말하고, 청화동(CuCN)은 구리(Gu)와 시안화(cyanide)기의 착염으로 뽑아낸 도금용 구리를 말한다. 청화동(CuCN)은 시안화(cyanide) 구리라고도 한다.In the present invention, the copper cyanide compound is not only copper cyanide (CuCN), but also copper cyanide (CuCN) reacts with sodium cyanide (NaCN) or potassium cyanide (KCN) sodium cyanide (Na 2 Cu(CN) 3 ) or Potassium cyanide (K 2 Cu(CN) 3 ) is said to be included, and copper cyanide (CuCN) refers to copper for plating extracted with a complex salt of copper (Gu) and cyanide groups. Copper cyanide (CuCN) is also called cyanide copper.

도금액은 도금조 내에 넣어진 상태에 있을 때 도금욕이라고 하며, 통상적으로 도금액을 도금욕이라고도 한다.The plating solution is called a plating bath when it is placed in a plating bath, and the plating solution is usually called a plating bath.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 청화동 화합물은 청화동(CuCN), 청화동나트륨(Na2Cu(CN)3), 청화동칼륨(K2Cu(CN)3) 또는 이들의 혼합물을 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the copper cyanide compound includes copper cyanide (CuCN), sodium cyanide (Na 2 Cu(CN) 3 ), potassium cyanide (K 2 Cu(CN) 3 ), or a mixture thereof. can do.

청화동나트륨(Na2Cu(CN)3)은 청화동(CuCN)이 청화나트륨(NaCN)과 결합하여 형성된 착염 형태로, 청화동 화합물은 청화동(CuCN)과 청화나트륨(NaCN)을 포함할 수 있다. 청화동(CuCN)과 청화나트륨(NaCN)은 용매 내에서 하기의 반응식 1과 같이 용해되어, 청화동나트륨(Na2Cu(CN)3)과 같은 형태로 착염을 형성하여 도금액 내에 존재한다. 또한, 하기의 반응식 1의 Na2Cu(CN)3 (청화동나트륨) 이외에 부수적으로, 반응 후 잔여 청화나트륨(NaCN)이 유리청화나트륨 형태의 유리시안(Free Cyanide)을 형성하여 도금액 내 존재한다.Sodium cyanide (Na 2 Cu(CN) 3 ) is a complex salt formed by combining copper cyanide (CuCN) with sodium cyanide (NaCN). can Copper cyanide (CuCN) and sodium cyanide (NaCN) are dissolved in a solvent as shown in Scheme 1 below to form a complex salt in the same form as sodium cyanide (Na 2 Cu(CN) 3 ) and are present in the plating solution. In addition, in addition to Na 2 Cu(CN) 3 (sodium copper cyanide) of the following Reaction Scheme 1, the residual sodium cyanide (NaCN) after the reaction forms free cyanide in the form of sodium cyanide and is present in the plating solution. .

<반응식 1><Scheme 1>

CuCN(청화동) + 2NaCN(청화나트륨) → Na2Cu(CN)3(청화동나트륨)CuCN (copper cyanide) + 2NaCN (sodium cyanide) → Na 2 Cu(CN) 3 (copper sodium cyanide)

청화동칼륨(K2Cu(CN)3)은 청화동(CuCN)이 청화칼륨(KCN)과 결합하여 형성된 착염 형태로, 청화동 화합물은 청화동(CuCN)과 청화칼륨(KCN)을 포함할 수 있다. 청화동(CuCN)과 청화칼륨(KCN)은 용매 내에서 하기의 반응식 2와 같이 용해되어, 청화동칼륨(K2Cu(CN)3)과 같은 형태로 착염을 형성하여 도금액 내에 존재한다. 또한, 하기 반응식 2의 K2Cu(CN)3 (청화동칼륨) 이외에 부수적으로, 반응 후 잔여 청화칼륨(KCN)이 유리청화칼륨(Free Cyanide) 형태의 유리시안(Free Cyanide)을 형성하여 도금액 내 존재한다.Potassium cyanide (K 2 Cu(CN) 3 ) is a complex salt formed by combining copper cyanide (CuCN) with potassium cyanide (KCN). The copper cyanide compound may include copper cyanide (CuCN) and potassium cyanide (KCN). can Copper cyanide (CuCN) and potassium cyanide (KCN) are dissolved in a solvent as shown in Scheme 2 below to form a complex salt in the same form as copper cyanide potassium (K 2 Cu(CN) 3 ), and are present in the plating solution. In addition, in addition to K 2 Cu(CN) 3 (potassium copper cyanide) of the following Reaction Formula 2, the remaining potassium cyanide (KCN) after the reaction forms free cyanide in the form of free cyanide in the plating solution my existence

<반응식 2><Scheme 2>

CuCN(청화동) + 2KCN(청화칼륨) → K2Cu(CN)3(청화동칼륨)CuCN(Copper Cyanide) + 2KCN(Potassium Cyanide) → K 2 Cu(CN) 3 (Potassium Cyanide)

청화동 도금액의 건욕 시, 청화동(CuCN)은 단독으로 물에 용해되지 않는다. 따라서, 청화나트륨(NaCN) 또는 청화칼륨(KCN)이 청화동(CuCN)과 같이 첨가됨으로써, 상기 반응식 1 또는 2와 같이 청화동나트륨(Na2Cu(CN)3) 또는 청화동칼륨(K2Cu(CN)3)과 같은 형태의 착염을 형성하여 용해된다. 도금 시에는 청화동 및 청화동과 착염을 형성하는 반응 후 도금액 내에서 유리되어 존재하게 되는 잔여 유리청화나트륨 또는 유리청화칼륨의 농도를 기준으로 도금액의 조성을 관리하여 도금을 진행할 수도 있다.When drying the copper cyanide plating solution, copper cyanide (CuCN) alone does not dissolve in water. Therefore, sodium cyanide (NaCN) or potassium cyanide (KCN) is added together with copper cyanide (CuCN), so as in Scheme 1 or 2, sodium cyanide (Na 2 Cu(CN) 3 ) or potassium cyanide (K 2 ) Cu(CN) 3 ) is dissolved by forming a complex salt of the same type. During plating, plating may be performed by managing the composition of the plating solution based on the concentration of residual sodium cyanide or potassium cyanide remaining freed from the plating solution after the reaction of forming a complex salt with copper cyanide and copper cyanide.

청화동 도금에서 사용하는 구리(Copper)는 +1가 이온(Cu1+) 및 +2가 이온(Cu2+) 중 어느 것이나 가능하나, +1가 구리 이온(Cu1+)을 포함하는 것이 바람직하다.Copper (Copper) used in copper cyanide plating may be either a +1 valent ion (Cu 1+ ) or a + divalent ion (Cu 2+ ), but it is preferable to include a +1 valent copper ion (Cu 1+ ). desirable.

+1가 구리 이온(Cu1+)을 포함하는 청화동 도금은 알칼리성을 띠고, 평균 석출속도가 2.37 g/1AH(1AH는 1시간당 통전된 전류밀도의 단위)이며, 철과 같은 금속소지와의 우수한 밀착력을 갖는다. 반면 +2가 구리 이온(Cu2+)을 포함하는 청화동 도금은 산성을 띠고, 평균 석출속도가 1.186g/1AH으로 상대적으로 느린 석출속도를 가지며, 금속소지와 밀착력이 좋지 않다. 따라서, +1가 구리 이온(Cu1+)을 포함하는 것이 유리하다. Copper cyanide plating containing +1 valent copper ions (Cu 1+ ) is alkaline, the average deposition rate is 2.37 g/1AH (1AH is the unit of current density conducted per hour), and It has excellent adhesion. On the other hand, copper cyanide plating containing +2- valent copper ions (Cu 2+ ) is acidic, has a relatively slow deposition rate with an average deposition rate of 1.186 g/1AH, and has poor adhesion to metal substrates. Therefore, it is advantageous for the +1 to include copper ions (Cu 1+ ).

청화동 도금액은 청화동(CuCN)이 10 g/L 내지 50 g/L의 농도로 포함될 수 있고, 바람직하게는 20 g/L 내지 40 g/L의 농도인 것이 좋다.Copper cyanide plating solution may contain copper cyanide (CuCN) at a concentration of 10 g/L to 50 g/L, and preferably, a concentration of 20 g/L to 40 g/L.

청화동(CuCN)의 도금액 내 농도가 10 g/L 미만인 경우에는, 도금층의 두께가 지나치게 얇아지게 되거나, 충분한 도금층 형성하는데 걸리는 시간이 길어진다. 반대로, 청화동(CuCN)의 도금액 내 농도가 50 g/L를 초과하는 경우에는, 도금액 내의 유리청화나트륨 및 유리청화칼륨의 농도가 감소되고, 이에 따라 양극의 용해력이 저하되어 양극의 부동태 현상이 발생하여 피도금체에 불균일한 석출이 발생한다.When the concentration of copper cyanide (CuCN) in the plating solution is less than 10 g/L, the thickness of the plating layer becomes too thin, or the time it takes to form a sufficient plating layer increases. Conversely, when the concentration of copper cyanide (CuCN) in the plating solution exceeds 50 g/L, the concentrations of sodium cyanide and potassium cyanide in the plating solution are reduced, and accordingly, the dissolving power of the anode is lowered, so that the passivation phenomenon of the anode is reduced. This causes uneven precipitation on the object to be plated.

청화나트륨 및 청화칼륨은 전체 도금액에 대하여 25 g/L 내지 65 g/L의 농도로 첨가될 수 있고, 바람직하게 40 g/L 내지 50 g/L의 농도로 첨가되는 것이 좋다.Sodium cyanide and potassium cyanide may be added at a concentration of 25 g/L to 65 g/L with respect to the total plating solution, and are preferably added at a concentration of 40 g/L to 50 g/L.

청화동 도금액에 있어서, 청화동 화합물은 청화나트륨 및 청화칼륨 중 어느 하나만 첨가될 수도 있고, 둘 모두가 첨가될 수도 있다. 청화나트륨 및 청화칼륨은 청화동을 용매에 용해시키기 위한 것으로, 청화나트륨, 청화칼륨 또는 이들의 혼합물의 농도가 청화동 도금액에 대하여 25 내지 65 g/L으로 첨가될 수 있다.In the copper cyanide plating solution, either one of sodium cyanide and potassium cyanide may be added, or both of the cyanide compound may be added. Sodium cyanide and potassium cyanide are for dissolving copper cyanide in a solvent, and the concentration of sodium cyanide, potassium cyanide, or a mixture thereof may be added at a concentration of 25 to 65 g/L with respect to the copper cyanide plating solution.

청화나트륨, 청화칼륨 또는 이들의 혼합물의 농도가 25 g/L 미만인 경우에는, 충분한 청화동나트륨 또는 청화칼륨 화합물이 도금액 내에 포함되지 않아 균일한 도금층이 형성되지 않는다. 반대로, 농도가 65 g/L를 초과하는 경우에는, 독성이 강한 시안화수소(HCN) 형태의 유해 가스 발생이 현저하게 증가하며, 도금액이 강알칼리화 되어 저전류밀도 영역에서 충분하게 도금되지 않는다. When the concentration of sodium cyanide, potassium cyanide, or a mixture thereof is less than 25 g/L, sufficient sodium cyanide or potassium cyanide compound is not contained in the plating solution, so that a uniform plating layer is not formed. Conversely, when the concentration exceeds 65 g/L, the generation of a toxic gas in the form of highly toxic hydrogen cyanide (HCN) remarkably increases, and the plating solution is strongly alkalized, so that the plating is not sufficiently performed in the low current density region.

실제 공정에 있어서, 도금액 내에서의 청화동 화합물의 농도는, 청화나트륨, 청화칼륨 또는 이들의 혼합물의 농도가 아닌, 청화동 및 청화동과 착염을 형성한 후 도금액 중 유리되어 존재하게 되는 유리청화나트륨 및/또는 유리청화칼륨의 유리시안(Free cyanide)의 농도를 기준으로 관리한다. 일반적으로 도금액 내에서의 잔여 유리시안의 농도는 10 내지 50 g/L로 조절될 수 있고, 바람직하게 15 내지 20 g/L로 조절될 수 있다.In the actual process, the concentration of the copper cyanide compound in the plating solution is not the concentration of sodium cyanide, potassium cyanide, or a mixture thereof, but the glass cyanide that is present in the plating solution after forming a complex salt with copper cyanide and copper cyanide Control based on the concentration of free cyanide in sodium and/or potassium free cyanide. In general, the concentration of residual free cyanide in the plating solution may be adjusted to 10 to 50 g/L, preferably 15 to 20 g/L.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 청화동 도금액은 동도금층의 밀착력을 향상시키고 광택도를 조절하기 위해 첨가제를 포함한다. According to an embodiment of the present invention, the copper cyanide plating solution includes an additive to improve adhesion of the copper plating layer and control glossiness.

한편, 동도금층의 광택도가 너무 낮은 경우에는 동도금층의 밀착력이 증가하나, 후도금층의 광택성이 감소하게 된다는 문제점이 있다. 반면에, 동도금층의 광택도가 너무 높은 경우에는, 석출된 동도금층 표면에 광택제의 유기원료에 의한 피막이 발생하여 후도금층과의 밀착력이 감소하고, 후도금층이 쉽게 이탈될 수 있다. 따라서, 동도금층의 광택도는 일정 수치 범위로, 동도금층 전체 표면에 균일하게 유지될 필요가 있다. On the other hand, when the glossiness of the copper plating layer is too low, the adhesion of the copper plating layer is increased, but there is a problem in that the glossiness of the post plating layer is decreased. On the other hand, when the glossiness of the copper plating layer is too high, a film of the organic raw material of the brightener is formed on the surface of the deposited copper plating layer, so that adhesion with the post plating layer is reduced, and the post plating layer may be easily separated. Accordingly, the glossiness of the copper plating layer needs to be uniformly maintained over the entire surface of the copper plating layer within a certain numerical range.

따라서, 후도금층의 광택도를 향상시키면서 적절한 밀착력을 유지하기 위하여, 동도금층의 평균 광택도는 40 내지 75 GU인 것이 바람직하다.Therefore, in order to maintain proper adhesion while improving the glossiness of the post-plated layer, the average gloss of the copper-plated layer is preferably 40 to 75 GU.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 동도금층의 밀착력을 향상시키며 광택도를 조절하기 위하여, 청화동 도금액은 반광택 첨가제를 포함한다. According to one embodiment of the present invention, in order to improve the adhesion of the copper plating layer and control the glossiness, the copper cyanide plating solution includes a semi-gloss additive.

일반적으로 청화동 도금액에 포함되는 광택제는 동도금층 표면의 전체적인 광택성을 향상시키고 레벨링(levelling) 작용(표면 평활성)을 하여, 후도금공정(주로 니켈도금)에서의 광택성을 향상시키기 위해 사용된다. In general, the brightening agent included in the copper cyanide plating solution improves the overall glossiness of the copper plating layer surface and performs a leveling action (surface smoothness) to improve the glossiness in the post plating process (mainly nickel plating). .

여기서 레벨링이란 소지의 미시적인 요철이나, 연마의 조흔 등을 평탄하게 하는 도금액의 작용을 말하고, 레벨링 작용을 평활화 작용이라 한다.Here, the leveling refers to the action of the plating solution to flatten the microscopic irregularities of the substrate, the streak of polishing, and the like, and the leveling action is referred to as a smoothing action.

본 발명의 반광택 첨가제에 의한 평활화 작용은 첨가제의 전해확산소모에 의한다. 저농도의 첨가제가 표면에 도달하여 전해소모 되는 경우, 표면으로의 첨가제 공급량이 계면의 확산층 두께에 의하여 결정된다. 즉, 확산층이 두꺼운 凹부에서는 첨가제의 소모량이 적고, 반대층으로 확산층이 얇은 凸부에서의 첨가제의 소모량은 많아진다. 바꾸어 말해 凹부에서는 첨가제의 분해에 소모되는 전류가 적고 凸부에서는 많아진다. 이것을 도금석출량 측면에서 보면 凹부에서는 凸부 보다도 많이 석출하게 된다.The smoothing action by the semi-glossy additive of the present invention is due to the consumption of electrolytic diffusion of the additive. When a low-concentration additive reaches the surface and is electrolytically consumed, the amount of additive supplied to the surface is determined by the thickness of the diffusion layer at the interface. That is, the consumption amount of the additive is small in the concave portion where the diffusion layer is thick, and the consumption amount of the additive in the concave portion where the diffusion layer is thin as the opposite layer is increased. In other words, the current consumed for decomposition of the additive is small in the concave part and increases in the concavity part. In terms of the amount of plating deposition, the concave part precipitates more than the concave part.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 반광택 첨가제는 3-헥사인-2,5-디올(3-Hexyne-2,5-diol) 화합물 및 황 화합물을 포함한다. 본 발명의 반광택 첨가제는 중금속을 포함하지 않은 1액형 첨가제로서 도금고정에서 사용 및 관리가 용이하고, 30 내지 50 oC의 저온에서도 도금 공정이 수행될 수 있다. 이로 인해, 생산 비용이 절감되고, 공정 효율이 증가하게 된다.According to an embodiment of the present invention, the semi-gloss additive includes a 3-hexaine-2,5-diol compound and a sulfur compound. The semi-glossy additive of the present invention is a one-component additive that does not contain heavy metals, and it is easy to use and manage in fixing the plating, and the plating process can be performed even at a low temperature of 30 to 50 o C. Due to this, the production cost is reduced and the process efficiency is increased.

3-헥사인-2,5-디올은 하기 화학식 1로 표시된다.3-Hexane-2,5-diol is represented by the following formula (1).

<화학식 1><Formula 1>

Figure 112020047953251-pat00001
Figure 112020047953251-pat00001

3-헥사인-2,5-디올 화합물은 청화동 도금액에서 주 운반체(carrier) 역할을 하며, 전류 인가 시, 피도금체(음극) 표면에 석출되는 도금액 중 구리(Cu) 이온의 석출 입자를 미세화시켜 도금 표면의 광택도를 조절한다. 이로 인해, 고전류 부분부터 저전류 부분까지의 전 전류밀도(whole current density area)에 걸쳐 고른 반광택의 석출표면을 형성하도록 한다. 즉, 고전류부와 저전류부간의 광택편차가 감소한다. The 3-hexaine-2,5-diol compound acts as a main carrier in the copper cyanide plating solution, and when a current is applied, the copper (Cu) ion precipitated particles in the plating solution precipitated on the surface of the body to be plated (cathode). Adjust the glossiness of the plating surface by refining it. Due to this, a semi-glossy precipitation surface is formed evenly over the whole current density area from the high current portion to the low current portion. That is, the gloss deviation between the high current section and the low current section is reduced.

또한, 3-헥사인-2,5-디올 화합물은 석출면의 표면장력을 낮춰 후도금시 발생할 수 있는 밀착 불량 및 얼룩 불량을 감소시키고, 반광택성의 석출표면을 형성하여 후도금 공정의 광택형성 속도가 저하되지 않도록 한다.In addition, the 3-hexan-2,5-diol compound lowers the surface tension of the precipitation surface to reduce adhesion and stain defects that may occur during post-plating, and forms a semi-glossy precipitation surface to form a gloss in the post-plating process Don't let the speed slow down.

3-헥사인-2,5-디올 화합물은 도금액 내에서 0.5 g/L 내지 10 g/L의 농도로 첨가될 수 있고, 바람직하게 1.5 g/L 내지 7 g/L, 더욱 바람직하게는 2 g/L 내지 4 g/L으로 첨가되는 것이 바람직하다.The 3-hexaine-2,5-diol compound may be added at a concentration of 0.5 g/L to 10 g/L in the plating solution, preferably 1.5 g/L to 7 g/L, more preferably 2 g It is preferably added at /L to 4 g/L.

3-헥사인-2,5-디올 화합물의 도금액 내 농도가 0.5 g/L 미만인 경우에는, 동도금층의 평균 광택도가 40 GU 미만 값을 갖게 되고, 광택층 표면의 광택편차 및 표면장력이 증가하게 된다. 반대로, 3-헥사인-2,5-디올 화합물의 도금액 내 농도가 10 g/L를 초과하는 경우에는, 동도금층의 광택도가 75 GU를 초과하게 된다.When the concentration of the 3-hexaine-2,5-diol compound in the plating solution is less than 0.5 g/L, the average glossiness of the copper plating layer has a value of less than 40 GU, and the gloss deviation and surface tension of the gloss layer surface increase. will do Conversely, when the concentration of the 3-hexaine-2,5-diol compound in the plating solution exceeds 10 g/L, the glossiness of the copper plating layer exceeds 75 GU.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 청화동 도금액에 반광택 첨가제로 포함되는 황 화합물은 사카린 나트륨(Sodium saccharin), 비닐설폰산나트륨(Sodium vinyl sulfonate) 및 알릴설폰산나트륨(Sodium allyl sulfonate) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 특히, 황 화합물은 사카린 나트륨을 포함하는 것이 바람직하나, 본 발명의 일 실시예가 이에 한정되는 것은 아니다.According to an embodiment of the present invention, the sulfur compound included as a semi-glossy additive in the copper cyanide plating solution is at least one of sodium saccharin, sodium vinyl sulfonate, and sodium allyl sulfonate. may include any one. In particular, the sulfur compound preferably includes sodium saccharin, but one embodiment of the present invention is not limited thereto.

사카린 나트륨은 하기 화학식 2로 표시될 수 있고, 비닐설폰산나트륨은 하기 화학식 3으로 표시될 수 있으며, 알릴설폰산나트륨은 하기 화학식 4로 표시될 수 있다.Sodium saccharin may be represented by Formula 2 below, sodium vinylsulfonate may be represented by Formula 3 below, and sodium allylsulfonate may be represented by Formula 4 below.

<화학식 2><Formula 2>

Figure 112020047953251-pat00002
Figure 112020047953251-pat00002

<화학식 3><Formula 3>

Figure 112020047953251-pat00003
Figure 112020047953251-pat00003

<화학식 4><Formula 4>

Figure 112020047953251-pat00004
Figure 112020047953251-pat00004

황 화합물들은 청화동 도금액 내에서 운반체(carrier) 및 광택제의 작용을 한다. Sulfur compounds act as carriers and brighteners in the copper cyanide plating solution.

다만, 상기 화학식 2 내지 4으로 표시되는 구조를 살펴보면, 황 화합물은 공통적으로 단일의 황(S) 원자를 포함하고, 이렇게 황원자를 포함하는 화합물들은 도금액에 첨가 됐을 때, 광택제보다 레벨링 작용이나 광택작용은 낮으며, 도금 후 석출표면의 활성도가 우수하고, 동도금층의 내부에 응력을 발생시키지 않도록 한다. 또한, 저전류밀도 영역의 도금 피복력을 개선시키는 효과가 있다.However, looking at the structures represented by Chemical Formulas 2 to 4, sulfur compounds commonly contain a single sulfur (S) atom, and when these compounds containing a sulfur atom are added to a plating solution, they have a leveling action or luster action than a brightener. is low, and the activity of the precipitation surface after plating is excellent, and stress is not generated inside the copper plating layer. In addition, there is an effect of improving the plating coverage of the low current density region.

특히, 사카린 나트륨은 소재표면에 석출된 도금층에 연성(ductility)을 증가시켜 첨가제 원료들에 의한 응력(stress)을 완화시키며, 유기원료들에 의한 표면경화(피막)의 발생을 감소시켜 후도금층과의 피복력을 증대시킨다.In particular, sodium saccharin increases the ductility of the plating layer deposited on the surface of the material to relieve the stress caused by the additive raw materials, and reduces the occurrence of surface hardening (film) caused by the organic raw materials to form a coating layer and increase the coverage of

황 화합물은 도금액 내에서 0.75 g/L 내지 4.00 g/L의 농도로 첨가될 수 있다.The sulfur compound may be added at a concentration of 0.75 g/L to 4.00 g/L in the plating solution.

황 화합물의 도금액 내 농도가 0.75 g/L 미만인 경우에는, 도금층 전체의 연성이 저하되고, 도금층 전체 면이 매끄럽지 않고 얼룩형태의 표면석출이 발생한다. 반대로, 황 화합물의 도금액 내 농도가 4.00 g/L을 초과하는 경우에는, 도금층의 평균 광택도가 40 GU 미만으로 하락한다.When the concentration of the sulfur compound in the plating solution is less than 0.75 g/L, the ductility of the entire plating layer is lowered, and the entire surface of the plating layer is not smooth, and surface precipitation in the form of spots occurs. Conversely, when the concentration of the sulfur compound in the plating solution exceeds 4.00 g/L, the average glossiness of the plating layer decreases to less than 40 GU.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 반광택 첨가제는 N-폴리에테르(N-Polyether) 및 L-폴리에테르(L-Polyether)을 더 포함할 수 있다. N-폴리에테르 및 L-폴리에테르 중 적어도 어느 하나만 포함할 수도 있다.According to an embodiment of the present invention, the semi-gloss additive may further include N-polyether (N-Polyether) and L-polyether (L-Polyether). At least one of N-polyether and L-polyether may be included.

폴리에테르(Polyether)계 화합물인 N-폴리에테르 및 L-폴리에테르 중 N-폴리에테르은 광택 작용의 가속화제(brightening accelator) 역할을 하며, L-폴리에테르 화합물은 주 운반체(carrier)인 3-헥사인-2,5-디올을 보조하는 보조 운반체(carrier)로 석출되는 구리(Cu) 이온의 입자를 미세화 시키는 보조첨가제(assistant carrier) 역할을 한다. 폴리에테르계 화합물은 고전류밀도 영역에서 저전류밀도 영역까지 동도금층의 균일한 광택성을 부여함과 동시에, 3-헥사인-2,5-디올을 보조하여 동도금층의 균일한 반광택성을 유지하여 광택편차를 감소시킨다.Among the polyether-based compounds, N-polyether and L-polyether, N-polyether acts as a brightening accelerator, and L-polyether compound is a major carrier, 3-hexa As an auxiliary carrier supporting phosphorus-2,5-diol, it acts as an auxiliary carrier to refine the particles of copper (Cu) ions that are precipitated. The polyether-based compound imparts uniform gloss to the copper plating layer from the high current density region to the low current density region, and at the same time maintains the uniform semi-glossiness of the copper plating layer by assisting 3-hexan-2,5-diol. to reduce gloss deviation.

또한, 폴리에테르계 화합물은 계면활성제의 기능을 하여 도금액의 표면장력을 낮춤으로써, 도금 후 피도금물을 도금 욕조에서 꺼낼 때 드래그 아웃(drag-out)현상을 방지하여, 피도금물에 다량의 도금액이 묻어나가는 양을 감소시켜 준다. 이로 인해 도금액 및 첨가제의 소모량을 감소시킬 수 있다.In addition, the polyether-based compound functions as a surfactant and lowers the surface tension of the plating solution, thereby preventing a drag-out phenomenon when the object to be plated is taken out of the plating bath after plating, and a large amount of It reduces the amount of plating solution smeared. Due to this, it is possible to reduce the consumption of the plating solution and additives.

N-폴리에테르 및 L-폴리에테르은 각각 도금액 기준으로 0.015 g/L 내지 0.45 g/L의 농도로 첨가될 수 있다.N-polyether and L-polyether may be added at a concentration of 0.015 g/L to 0.45 g/L, respectively, based on the plating solution.

N-폴리에테르 및 L-폴리에테르 각각의 농도가 0.015 g/L 미만인 경우에는, 저전류밀도 영역의 광택성이 떨어져 광택 편차가 증가하게 된다. 또한, N-폴리에테르 및 L-폴리에테르 각각의 농도가 0.45 g/L를 초과하는 경우에는, 도금층 표면에 얼룩이 발생하게 된다. When the concentration of each of the N-polyether and L-polyether is less than 0.015 g/L, the glossiness of the low current density region deteriorates, and the gloss deviation increases. In addition, when the concentration of each of the N-polyether and L-polyether exceeds 0.45 g/L, unevenness occurs on the surface of the plating layer.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 반광택 첨가제는 부틴디올에톡시레이트(Butynediol ethoxylate) 및 2-부틴-1,4-디올(2-Butyne-1,4-diol) 중 적어도 어느 하나를 더 포함할 수 있다. 또한, 반광택 첨가제는 글리신(glycine)을 더 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the semi-glossy additive further comprises at least one of butynediol ethoxylate and 2-butyne-1,4-diol can do. In addition, the semi-glossy additive may further include glycine.

부틴디올에톡시레이트, 2-부틴-1,4-디올 및 글리신은 청화동 도금액 내에서 운반체 역할 및 광택제 역할을 한다. 다만, 부틴디올에톡시레이트, 2-부틴-1,4-디올 및 글리신은 일반적인 광택제와 달리 도금층에 광택작용을 하지만 응력을 형성하는 정도가 적다는 특징을 갖고 있다.Butynediol ethoxylate, 2-butyne-1,4-diol and glycine act as carriers and brighteners in the copper bronze plating solution. However, butynediol ethoxylate, 2-butyne-1,4-diol and glycine have a characteristic that, unlike general brighteners, they have a luster action on the plating layer, but form a small amount of stress.

부틴디올에톡시레이트 및 2-부틴-1,4-디올 중 적어도 어느 하나의 농도는 도금액 기준으로 0.075 내지 0.375 g/L로 첨가될 수 있고, 글리신은 도금액 기준으로 0.075 g/L 내지 0.525 g/L의 농도로 첨가될 수 있다.The concentration of at least one of butynediol ethoxylate and 2-butyne-1,4-diol may be added at 0.075 to 0.375 g/L based on the plating solution, and glycine may be added at 0.075 g/L to 0.525 g/L based on the plating solution. L may be added.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 청화동 도금액에 포함되는 반광택 첨가제에는 계면활성제를 더 포함할 수 있다. 이때, 계면활성제는 불소계 계면활성제(Fluorinated surfactant)를 포함하는 것이 바람직하고, 과플루오로부탄설폰산칼륨(Potassium perfluorobutane sulfonate) 화합물을 포함하는 하는 것이 더 바람직하다. 과플루오로부탄설폰산칼륨은 불소계 계면활성제로서, 유해 물질을 포함하지 않은 불소계 화합물이다. According to an embodiment of the present invention, the semi-glossy additive included in the copper cyanide plating solution may further include a surfactant. In this case, the surfactant preferably includes a fluorinated surfactant, and more preferably includes a potassium perfluorobutane sulfonate compound. Potassium perfluorobutanesulfonate is a fluorine-based surfactant and is a fluorine-based compound that does not contain harmful substances.

과플루오로부탄설폰산칼륨은 하기 화학식 5로 표시된다.Potassium perfluorobutanesulfonate is represented by the following formula (5).

<화학식 5><Formula 5>

Figure 112020047953251-pat00005
Figure 112020047953251-pat00005

동도금층과 후도금층의 밀착력을 향상시키기 위해서 동이온이 석출된 표면에 미세요철면을 형성시킬 수 있다. 석출 표면에 미세요철면을 구현하기 위한 방법으로 불소계 계면활성제를 사용할 수 있다.In order to improve the adhesion between the copper plating layer and the post plating layer, a fine concavo-convex surface may be formed on the surface on which copper ions are deposited. A fluorine-based surfactant may be used as a method for realizing a fine concavo-convex surface on the precipitation surface.

불소계 계면활성제는 도금층의 표면을 미세하게 에칭시킴으로써, 미세요철면을 형성하는 동시에 첨가량에 따라 도금액의 표면장력을 최대 41 dyn/cm까지 낮출 수 있다. 도금액의 표면장력을 낮춤으로써, 도금 후 피도금물을 도금 욕조에서 꺼낼 때 발생하는 드래그 아웃(drag-out)현상을 감소시켜, 도금액 및 첨가제의 소모량을 감소시킬 수 있다.By finely etching the surface of the plating layer, the fluorine-based surfactant can form a fine concavo-convex surface and at the same time lower the surface tension of the plating solution to a maximum of 41 dyn/cm depending on the amount added. By lowering the surface tension of the plating solution, the drag-out phenomenon that occurs when the object to be plated is taken out of the plating bath after plating can be reduced, thereby reducing the consumption of the plating solution and additives.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 불소계 계면활성제의 농도는 도금액 내에서 0.05 g/L 내지 0.15 g/L로 첨가될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the concentration of the fluorine-based surfactant may be added to 0.05 g/L to 0.15 g/L in the plating solution.

불소계 계면활성제의 도금액 내 농도가 0.05g/L 미만인 경우에는, 미세요철면의 형성 정도가 현저히 감소하고, 표면장력 역시 차이가 없어 무의미하다. 또한, 0.15g/L을 초과하는 경우에는, 오버에칭 현상이 일어나기 때문에 광택성이 저하된다.When the concentration of the fluorine-based surfactant in the plating solution is less than 0.05 g/L, the degree of formation of the fine concavo-convex surface is significantly reduced, and the surface tension is also meaningless because there is no difference. Moreover, when it exceeds 0.15 g/L, since an over-etching phenomenon occurs, glossiness falls.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 청화동 도금액은 유기산염 및 무기산염 중 적어도 1종 이상을 더 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the copper cyanide plating solution may further include at least one or more of an organic acid salt and an inorganic acid salt.

유기산염은 포름산염(formate), 탄산염(carbonate), 아세트산염(acetate), 타르타르산염(tartrate), 구연산염(citrate), 글루콘산염(gluconate) 및 L-글루탐산염(L-glatamate) 중 적어도 어느 하나를 포함한다. 특히, 타르타르산나트륨칼륨(Potassium sodium tartrate), 타르타르산나트륨(Sodium tartrate), 타르타르산칼륨(Potassium tartrate) 탄산나트륨(Sodium carbonate) 및 탄산칼륨(Potassium carbonate) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것이 바람직하다. 다만, 본 발명의 일 실시예가 이에 한정되는 것은 아니다.The organic acid salt is at least one of formate, carbonate, acetate, tartrate, citrate, gluconate and L-glutamate. includes one In particular, it is preferable to include at least one of potassium sodium tartrate, sodium tartrate, potassium tartrate, sodium carbonate, and potassium carbonate. However, one embodiment of the present invention is not limited thereto.

무기산 염은 인산염(phosphate), 파이로인산염(pyrophosphate), 수산화 알칼리 화합물 및 붕산염(borate) 중 적어도 어느 하나를 포함한다. 특히, 수산화나트륨(Sodium hydroxide) 및 수산화칼륨(Potassium hydroxide) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것이 바람직하다. 다만, 본 발명의 일 실시예가 이에 한정되는 것은 아니다.The inorganic acid salt includes at least one of phosphate, pyrophosphate, alkali hydroxide compound, and borate. In particular, it is preferable to include at least one of sodium hydroxide and potassium hydroxide. However, one embodiment of the present invention is not limited thereto.

유기산염 및 무기산염과 같은 전도염은 도금액 내에서 도전성을 증가시키기 위해 첨가하는 것으로, 버퍼(buffer) 역할을 한다. 따라서, 도금 공정 중에 도금액의 pH의 변동 폭이 감소하여 도금액을 용이하게 관리할 수 있다. 또한, 유기산염 및 무기산염은 높은 전도도를 갖고, 전류 밀도가 높아지기 때문에, 균일 전착성(throwing power)을 향상시킨다.Conductive salts such as organic acid salts and inorganic acid salts are added to increase conductivity in the plating solution, and serve as a buffer. Therefore, the fluctuation range of the pH of the plating solution is reduced during the plating process, so that the plating solution can be easily managed. In addition, organic acid salts and inorganic acid salts have high conductivity and increase the current density, thereby improving throwing power.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 유기산염 및 무기산염의 총 농도는 도금액 내에서 30 g/L 내지 80 g/L로 첨가될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the total concentration of the organic acid salt and the inorganic acid salt may be added to 30 g/L to 80 g/L in the plating solution.

유기산염 및 무기산염의 도금액 내 농도가 30 g/L 미만인 경우에는, 도금 시 도금층의 석출속도가 저하하게 되며, 또한, 80 g/L을 초과하는 경우에는, 독성이 강한 시안화수소(HCN) 형태의 유해 가스 발생이 증가하며, 도금액이 강알칼리성이 되어 저전류밀도 영역에서의 미도금이 발생하게 된다.When the concentration of organic acid salts and inorganic acid salts in the plating solution is less than 30 g/L, the deposition rate of the plating layer during plating is lowered, and when it exceeds 80 g/L, highly toxic hydrogen cyanide (HCN) form generation of harmful gas increases, and the plating solution becomes strongly alkaline, resulting in non-plating in the low current density region.

이하에서는, 도 2를 참조하여, 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 청화동 도금방법을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, a copper cyanide plating method according to another embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG. 2 .

도 2는 본 발명의 청화동 도금액을 이용한 청화동 도금방법에 대한 순서도이다.2 is a flowchart of a copper bronze plating method using the copper cyanide plating solution of the present invention.

본 발명의 청화동 도금방법은, 피도금 소지 준비 단계; 청화동 도금액 준비 단계; 및 청화동 도금액을 이용하여 전기도금을 통해 피도금 소지 표면에 청화동 도금하는 단계;를 포함한다.The copper chrysanthemum plating method of the present invention comprises the steps of preparing a material to be plated; Preparation of copper cheonghwa plating solution; and plating copper cyanide on the surface of the substrate to be plated through electroplating using a copper cyanide plating solution.

구체적으로, 피도금 소지를 준비하는 단계는, 피도금 소지의 표면의 초음파 및/또는 알칼리를 이용한 탈지화 처리 및 활성화 처리를 포함한다. 또한, 피도금 소지 표면의 연마 처리 및 산화 처리도 포함할 수 있다. 피도금 소지의 준비하는 단계에서의 전처리는 이에 한정되는 것은 아니며, 도금 기술 분야에서 일반적으로 실시되는 전처리 과정이 추가될 수도 있고, 앞서 기재한 처리 중 일부가 제외될 수도 있다.Specifically, the step of preparing the substrate to be plated includes degreasing treatment and activation treatment using ultrasonic waves and/or alkali on the surface of the substrate to be plated. In addition, polishing treatment and oxidation treatment of the surface of the substrate to be plated may be included. The pretreatment in the step of preparing the object to be plated is not limited thereto, and a pretreatment process generally performed in the plating technology field may be added, and some of the treatments described above may be excluded.

청화동 도금액 준비 단계는 먼저 용매에 청화동 화합물을 용해하여 청화동 도금액을 제조한다. 청화동 화합물은 청화동(CuCN), 청화동나트륨(Na2Cu(CN)3), 청화동칼륨(K2Cu(CN)3) 또는 이들의 혼합물을 포함할 수 있다. In the step of preparing the copper cyanide plating solution, a copper cyanide compound is first dissolved in a solvent to prepare a copper cyanide plating solution. The copper cyanide compound may include copper cyanide (CuCN), sodium cyanide (Na 2 Cu(CN) 3 ), potassium cyanide (K 2 Cu(CN) 3 ), or a mixture thereof.

청화동(CuCN)은 물에 용해되지 않으므로, 청화동나트륨(Na2Cu(CN)3 또는 청화동칼륨(K2Cu(CN)3)의 형태로 용해시킨다. 청화동나트륨(Na2Cu(CN)3 및/또는 청화동칼륨(K2Cu(CN)3)은 청화동과 청화나트륨(NaCN) 및/또는 청화칼륨(KCN)을 용매에 첨가하여, 청화동나트륨(Na2Cu(CN)3 및/또는 청화동칼륨(K2Cu(CN)3)의 착염 형태를 형성하고, 착염 형태의 청화동나트륨(Na2Cu(CN)3 및/또는 청화동칼륨(K2Cu(CN)3)은 용매에 용해되어 수용액의 형태로 존재한다. 용매는 물을 주로 사용하나, 본 발명의 일 실시예가 이에 한정되는 것은 아니다.Copper cyanide (CuCN) is insoluble in water, so it is dissolved in the form of sodium cyanide (Na 2 Cu(CN) 3 or potassium cyanide (K 2 Cu(CN) 3 ). Sodium cyanide (Na 2 Cu() CN) 3 and/or potassium cyanide (K 2 Cu(CN) 3 ) is obtained by adding copper cyanide and sodium cyanide (NaCN) and/or potassium cyanide (KCN) to a solvent to obtain sodium copper cyanide (Na 2 Cu(CN) ) 3 and/or potassium cyanide (K 2 Cu(CN) 3 ) form a complex salt form, and sodium copper cyanide (Na 2 Cu(CN) 3 and/or copper cyanide potassium (K 2 Cu(CN) CN) ) 3 ) is dissolved in a solvent and exists in the form of an aqueous solution The solvent is mainly water, but one embodiment of the present invention is not limited thereto.

청화동 도금액 내에서 청화동은 청화동 도금액 전체 기준으로 10 g/L 내지 50 g/L의 농도로 첨가될 수 있고, 청화나트륨 및 청화칼륨 중 적어도 어느 하나는 총 25 g/L 내지 65 g/L, 바람직하게 40 g/L 내지 50 g/L으로 첨가될 수 있다. 다만, 본 발명의 일 실시예가 이에 한정되는 것은 아니고, 청화동나트륨 또는 청화동칼륨이 직접 청화동 도금액에 첨가될 수도 있다. 일반적으로 도금 시에는, 청화동 도금액의 농도는 청화동 및 청화동과 착염을 형성한 후 도금액 중 유리되어 존재하게 되는 유리청화나트륨 및/또는 유리청화칼륨의 유리시안(Free cyanide)의 농도를 기준으로 관리될 수 있다. 도금액 내에서 잔여 유리시안의 농도는 10 내지 50 g/L로 조절될 수 있고, 바람직하게 15 내지 20 g/L로 조절될 수 있다.In the copper cyanide plating solution, copper cyanide may be added at a concentration of 10 g/L to 50 g/L based on the total copper cyanide plating solution, and at least one of sodium cyanide and potassium cyanide is a total of 25 g/L to 65 g/L L, preferably 40 g/L to 50 g/L. However, the exemplary embodiment of the present invention is not limited thereto, and sodium copper cyanide or potassium cyanide may be directly added to the copper bronze plating solution. In general, during plating, the concentration of the copper cyanide plating solution is based on the concentration of free cyanide of sodium free cyanide and/or potassium free cyanide, which is freed from the plating solution after forming a complex salt with the copper cyanide and copper cyanide. can be managed as The concentration of residual free cyanide in the plating solution may be adjusted to 10 to 50 g/L, preferably 15 to 20 g/L.

본 발명의 다른 일 실시예에 따르면, 청화동 도금액은 청화동 화합물 이외에 3-헥사인-2,5-디올 및 황 화합물을 포함한다. 3-헥사인-2,5-디올은 청화동 도금액 전체에 대하여 0.5 g/L 내지 10 g/L의 농도로 첨가될 수 있고, 황 화합물은 청화동 도금액 전체에 대하여 0.75 g/L 내지 4.00 g/L의 농도로 첨가될 수 있다. 다만, 본 발명의 일 실시예가 이에 한정되는 것은 아니다.According to another embodiment of the present invention, the copper bronze plating solution includes 3-hexain-2,5-diol and a sulfur compound in addition to the copper bronze compound. 3-Hexane-2,5-diol may be added at a concentration of 0.5 g/L to 10 g/L with respect to the total copper bronze plating solution, and the sulfur compound may be added at a concentration of 0.75 g/L to 4.00 g based on the total copper cyanide plating solution. It can be added at a concentration of /L. However, one embodiment of the present invention is not limited thereto.

황 화합물은 사카린 나트륨(Sodium saccharin), 비닐설폰산나트륨(Sodium vinyl sulfonate) 및 알릴설폰산나트륨(Sodium allyl sulfonate) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The sulfur compound may include at least one of sodium saccharin, sodium vinyl sulfonate, and sodium allyl sulfonate.

본 발명의 다른 일 실시예에 따르면, 청화동 도금액은 청화동 도금액 전체에 대하여 0.015 g/L 내지 0.45 g/L의 N-폴리에테르(N-Polyether) 및 0.015 g/L 내지 0.45 g/L의 L-폴리에테르(L-Polyether) 화합물을 더 포함할 수 있다. N-폴리에테르 화합물 및 L-폴리에테르 중 적어도 어느 하나만 포함할 수도 있다.According to another embodiment of the present invention, the copper cyanide plating solution contains 0.015 g/L to 0.45 g/L of N-polyether and 0.015 g/L to 0.45 g/L of the copper cyanide plating solution. It may further include an L-polyether (L-Polyether) compound. At least one of an N-polyether compound and an L-polyether may be included.

본 발명의 다른 일 실시예에 따르면, 청화동 도금액은 부틴디올에톡시레이트 및 2-부틴-1,4-디올 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있고, 부틴디올에톡시레이트 및 2-부틴-1,4-디올의 전체 농도는 0.075 g/L 내지 0.375 g/L으로 첨가될 수 있다. 또한, 청화동 도금액은 0.075 g/L 내지 0.525 g/L의 글리신(glycine)을 더 포함할 수 있다.According to another embodiment of the present invention, the copper chrysanthemum plating solution may include at least one of butynediol ethoxylate and 2-butyne-1,4-diol, and butynediol ethoxylate and 2-butyne-1 The total concentration of ,4-diol may be added from 0.075 g/L to 0.375 g/L. In addition, the copper cheongsam plating solution may further include glycine of 0.075 g/L to 0.525 g/L.

본 발명의 다른 일 실시예에 따르면, 청화동 도금액은 계면활성제를 더 포함할 수 있다. 이때, 계면활성제는 불소계 계면활성제(Fluorinated surfactant)를 포함하는 것이 바람직하고, 과플루오로부탄설폰산칼륨(Potassium perfluorobutane sulfonate) 화합물을 포함하는 하는 것이 더 바람직하다. 불소계 계면활성제는 청화동 도금액 전체에 대하여 0.05g/L 내지 0.15g/L로 첨가된다.According to another embodiment of the present invention, the copper cyanide plating solution may further include a surfactant. In this case, the surfactant preferably includes a fluorinated surfactant, and more preferably includes a potassium perfluorobutane sulfonate compound. The fluorine-based surfactant is added in an amount of 0.05 g/L to 0.15 g/L with respect to the total copper cyanide plating solution.

본 발명의 다른 일 실시예에 따르면, 청화동 도금액은 유기산염 및 무기산염 중 적어도 1종 이상을 더 포함할 수 있고, 유기산염 및 무기산염의 총 농도는 30 g/L 내지 80 g/L로 첨가될 수 있다.According to another embodiment of the present invention, the copper cyanide plating solution may further include at least one of an organic acid salt and an inorganic acid salt, and the total concentration of the organic acid salt and the inorganic acid salt is 30 g/L to 80 g/L. may be added.

이상과 같이, 수용액에 청화동 화합물, 3-헥사인-2,5-디올 화합물 및 황 화합물을 필수적으로 첨가하고, 그 외의 다른 첨가제를 선택적으로 첨가하여 본 발명의 청화동 도금액을 준비할 수 있다.As described above, the copper cyanide plating solution of the present invention can be prepared by essentially adding the copper chrysanthemum compound, the 3-hexaine-2,5-diol compound, and the sulfur compound to the aqueous solution and selectively adding other additives. .

피도금 소지 표면에 청화동 도금하는 단계에서는 준비한 청화동 도금액을 이용하여 피도금 소지의 표면을 전기도금한다. 청화동 도금은 후도금층을 형성하기 전에 하지도금을 형성하는 것으로, 스트라이크 도금(strike plating)법이 주로 이용된다. 다만, 본 발명의 일 실시예가 이에 한정되는 것은 아니다.In the step of plating the copper cyanide on the surface of the substrate to be plated, the surface of the substrate to be plated is electroplated using the prepared copper cyanide plating solution. Copper cyanide plating is to form a base plating before forming a post plating layer, and strike plating is mainly used. However, one embodiment of the present invention is not limited thereto.

본 발명의 청화동 도금은 일반적으로 도금 기술 분야에서 이용되는 스트라이크 도금과 동일하게 실시할 수 있다.The copper cyanide plating of the present invention may be performed in the same manner as the strike plating generally used in the plating technology field.

다만, 본 발명의 청화동 도금액은 3-헥사인-2,5-디올 및 황 화합물을 포함하는 1액형의 첨가제를 첨가한 것으로, 본 발명의 청화동 도금방법에 따르면, 35 내지 45 oC의 온화한 조건(mild condition)에서 청화동 도금을 실시할 수 있고, 양극판 사이에 인가되는 전류밀도는 0.5 내지 5 A/dm2로 조정될 수 있다. 또한, 도금액의 pH는 12 내지 13으로 조정될 수 있으며, 5 내지 20분동안 도금을 실시하여 도금층을 형성한다.However, as a copper cyanide plating solution of the present invention is the addition of additives of one-pack type, which comprises a 3-hexahydro-2,5-diol and a sulfur compound, a copper cyanide plating, according to the method of the invention, from 35 to 45 o C Copper cyanide plating may be performed under mild conditions, and the current density applied between the positive electrode plates may be adjusted to 0.5 to 5 A/dm 2 . In addition, the pH of the plating solution may be adjusted to 12 to 13, and plating is performed for 5 to 20 minutes to form a plating layer.

본 발명의 1액형의 첨가제를 사용함으로써 공정 작업이 용이하고 첨가제의 보충 비용이 절감된다. 또한, 일반적으로 다액형 광택제를 사용하는 청화동도금이 65 oC에서 도금을 실시하는 것에 비하여 저온 조건(35 내지 45 oC)에서 도금을 실시할 수 있으므로 에너지 비용이 절감될 수 있다. 또한, 40 내 75 GU의 평균 광택도 및 우수한 밀착력을 갖는 동도금층을 형성할 수 있다.By using the one-component additive of the present invention, the processing operation is easy and the replenishment cost of the additive is reduced. In addition, energy cost can be reduced because plating can be performed under low temperature conditions (35 to 45 o C) compared to copper cyanide plating using a multi-component brightener in general, compared to plating at 65 o C. In addition, it is possible to form a copper plating layer having an average gloss of 40 to 75 GU and excellent adhesion.

이상의 방법으로 본 발명의 청화동도금층을 갖는 도금품을 제조하였다. 이후 청화동 도금된 도금품 표면에 니켈, 크롬 및 기타 합금 등으로 후도금을 진행함으로써 다층도금된 도금품을 제조할 수 있다.A plated article having a copper bronze plating layer of the present invention was manufactured by the above method. Thereafter, by performing post-plating with nickel, chromium, and other alloys on the surface of the copper cyanide-plated plated article, a multi-layer plated plated article can be manufactured.

이하에서는, 실시예들 및 비교예들을 통해 본 발명을 구체적으로 설명한다. 다만, 하기의 실시예들 및 비교예들은 본 발명의 이해를 돕기 위한 것일 뿐으로, 본 발명의 권리범위가 실시예들 또는 비교예들에 의해 한정되지 않는다.Hereinafter, the present invention will be described in detail through Examples and Comparative Examples. However, the following Examples and Comparative Examples are only for helping the understanding of the present invention, and the scope of the present invention is not limited by the Examples or Comparative Examples.

< 실시예 및 비교예 >< Examples and Comparative Examples >

비교예 1Comparative Example 1

반광택 첨가제인 3-헥사인-2,5-디올을 첨가하지 않고, 하기의 조성으로 건욕된 청화동 도금액을 제조하였다.A copper cyanide plating solution that was dry bathed with the following composition was prepared without adding 3-hexaine-2,5-diol, which is a semi-glossy additive.

청화동(Copper cyanide) 30g/LCopper cyanide 30g/L

청화나트륨(Sodium cyanide) 45g/LSodium cyanide 45g/L

타르타르산나트륨칼륨(Potassium sodium tartrate) 15g/LPotassium sodium tartrate 15g/L

수산화칼륨(Potassium hydroxide) 10g/LPotassium hydroxide 10g/L

탄산칼륨(Potassium carbonate) 10g/LPotassium carbonate 10g/L

비교예 2Comparative Example 2

3-헥사인-2,5-디올을 DI Water에 희석하여 10% 수용액(100g/L) 형태로 제조하였다. 이후, 3-헥사인-2,5-디올 10% 수용액을 5 ml/L 첨가한 것을 제외하고, 상기 비교예 1과 동일한 조성으로 청화동 도금액을 제조하였다. 도금액 기준으로 첨가한 3-헥사인-2,5-디올의 농도는 0.5 g/L이다.3-Hexane-2,5-diol was diluted in DI water to prepare a 10% aqueous solution (100 g/L). Thereafter, a copper chrysanthemum plating solution was prepared in the same composition as in Comparative Example 1, except that 5 ml/L of a 10% aqueous solution of 3-hexaine-2,5-diol was added. The concentration of 3-hexaine-2,5-diol added based on the plating solution was 0.5 g/L.

비교예 3Comparative Example 3

3-헥사인-2,5-디올 10% 수용액을 10 ml/L 첨가한 것을 제외하고, 상기 비교예 1과 동일한 조성으로 청화동 도금액을 제조하였다. 도금액 기준으로 첨가한 3-헥사인-2,5-디올의 농도는 1.0 g/L이다.A copper chrysanthemum plating solution was prepared in the same composition as in Comparative Example 1, except that 10 ml/L of 3-hexaine-2,5-diol 10% aqueous solution was added. The concentration of 3-hexaine-2,5-diol added based on the plating solution was 1.0 g/L.

비교예 4Comparative Example 4

3-헥사인-2,5-디올 10% 수용액을 15 ml/L 첨가한 것을 제외하고, 상기 비교예 1과 동일한 조성으로 청화동 도금액을 제조하였다. 도금액 기준으로 첨가한 3-헥사인-2,5-디올의 농도는 1.5 g/L이다.A copper chrysanthemum plating solution was prepared in the same composition as in Comparative Example 1, except that 15 ml/L of a 10% aqueous solution of 3-hexaine-2,5-diol was added. The concentration of 3-hexaine-2,5-diol added based on the plating solution was 1.5 g/L.

비교예 5Comparative Example 5

3-헥사인-2,5-디올 15% 수용액을 15 ml/L 첨가한 것을 제외하고, 상기 비교예 1과 동일한 조성으로 청화동 도금액을 제조하였다. 도금액 기준으로 첨가한 3-헥사인-2,5-디올의 농도는 2.25 g/L이다.A copper chrysanthemum plating solution was prepared in the same composition as in Comparative Example 1, except that 15 ml/L of a 15% aqueous solution of 3-hexaine-2,5-diol was added. The concentration of 3-hexaine-2,5-diol added based on the plating solution was 2.25 g/L.

상기 비교예 1 내지 5에서 제조된 도금액을 이용하여, 3-헥사인-2,5-디올의 첨가량에 따른 도금 차이를 확인하기 위하여 헐셀테스트(Hull Cell Test)를 실시하였다. 헐셀테스트를 통해 전기 도금에 있어서의 최적의 전류 밀도를 찾을 수 있고, 전류밀도 차이에 따른 광택도를 비교하여 광택편차를 구할 수 있다.Using the plating solutions prepared in Comparative Examples 1 to 5, a Hull Cell Test was performed to check the plating difference according to the amount of 3-hexaine-2,5-diol added. Through the Hullsel test, the optimal current density in electroplating can be found, and the gloss deviation can be calculated by comparing the glossiness according to the difference in current density.

헐셀테스트는 도 3에 도시된 형태로 실시 할 수 있다. 헐셀테스트는 양극과 음극을 일정 각도로 대립시킨 시험조 내에 도금액을 넣어 통전하면, 음극 각 부에서 전류 밀도는 연속적으로 변한다. 따라서 음극에서 얻을 수 있는 도금면의 상태도 그것에 따라 변한다. 이때 바람직한 도금면의 장소가 구해지면, 사용 전류를 이미 알고 있기 때문에 최적의 전류 밀도를 추정할 수 있다.The Hullcell test may be performed in the form shown in FIG. 3 . In the Hullcell test, when a plating solution is put into a test tank in which the anode and the cathode are opposed to each other at a certain angle, the current density is continuously changed in each part of the cathode. Therefore, the state of the plating surface obtainable from the cathode also changes accordingly. At this time, if the location of the preferred plating surface is found, the optimum current density can be estimated because the current used is already known.

헐셀테스트를 실시하기 위한 시편은 테스트 이전에 초음파 탈지, 알칼리 전해탈지, 활성화 처리를 하였다. 전처리의 상세한 조건은 하기와 같다.Specimens for carrying out the Hullcell test were subjected to ultrasonic degreasing, alkaline electrolytic degreasing, and activation treatment prior to testing. The detailed conditions of the pretreatment are as follows.

[초음파 탈지][Ultrasonic degreasing]

DC #25(C): 100ml/L, 온도: 상온, 처리시간: 30초DC #25(C): 100ml/L, Temperature: Room temperature, Treatment time: 30 seconds

[알칼리 전해탈지][Alkaline electrolytic degreasing]

EC 100 F: 70g/L, 온도: 60 oC, 전류밀도: 3A/dm2, 처리시간: 1분EC 100 F: 70 g/L, temperature: 60 o C, current density: 3A/dm 2 , treatment time: 1 minute

[활성화 처리][Activation processing]

AC 303: 50ml/L, 온도: 상온, 처리시간: 10초AC 303: 50ml/L, temperature: room temperature, treatment time: 10 seconds

또한, 본 발명에서의 헐셀테스트는 45 oC, 1A/dm2의 전류밀도에서, 무교반한 도금액을 이용하여 5분 동안 도금하여 실시하였다.In addition, the Hullcell test in the present invention was carried out by plating for 5 minutes using a plating solution without stirring at 45 o C, a current density of 1A/dm 2 .

비교예 1 내지 5의 청화동 도금액을 이용하여 상기 조건에서 헐셀테스트를 실시하였고, 도금된 시편의 표면을 사진 촬영하였다. 촬영된 사진은 도 4와 같다.The Hullcell test was performed under the above conditions using the copper cyanide plating solutions of Comparative Examples 1 to 5, and the surface of the plated specimen was photographed. A photograph taken is shown in FIG. 4 .

도 4에서 확인할 수 있듯이, 3-헥사인-2,5-디올의 첨가량이 증가할수록, 고전류밀도 영역부터 중전류밀도 영역까지 반광택성의 동도금층이 형성되는 것을 관찰할 수 있고, 15% 3-헥사인-2,5-디올 수용액 15 ml/L(도금액 기준 2.25 g/L의 3-헥사인-2,5-디올) 첨가 시, 고전류밀도 영영부터 저전류밀도 영역까지 가장 균일하게 반광택 동도금층이 형성된 것을 관찰할 수 있다. 첨가 전후의 광택도 변화를 확인하기 위해 광택계로 시편의 광택도를 측정하였다.As can be seen in FIG. 4 , as the amount of 3-hexaine-2,5-diol increased, it was observed that a semi-gloss copper plating layer was formed from the high current density region to the medium current density region, and 15% 3- When adding 15 ml/L of aqueous solution of hexane-2,5-diol (2.25 g/L of 3-hexain-2,5-diol based on plating solution), the most uniform semi-gloss copper from high current density to low current density It can be observed that the plating layer is formed. In order to check the change in glossiness before and after addition, the glossiness of the specimen was measured with a glossmeter.

비교예 1 내지 5의 도금액으로 도금된 시편을 광택계(Elcometer社, J480T-6, (60O))를 이용하여 광택도를 측정하였다. 측정한 비교예 1 내지 5의 광택도는 하기 표 1과 같다.The glossiness of the specimens plated with the plating solution of Comparative Examples 1 to 5 was measured using a gloss meter (Elcometer, J480T-6, (60 O )). The measured glossiness of Comparative Examples 1 to 5 is shown in Table 1 below.

전류 밀도 부분
(Current density area)
current density part
(Current density area)
비교예 1의 광택도
(GU)
Glossiness of Comparative Example 1
(GU)
비교예 2의 광택도
(GU)
Glossiness of Comparative Example 2
(GU)
비교예 3의 광택도
(GU)
Glossiness of Comparative Example 3
(GU)
비교예 4의 광택도
(GU)
Glossiness of Comparative Example 4
(GU)
비교예 5의 광택도
(GU)
Glossiness of Comparative Example 5
(GU)
5A (고전류부)5A (high current part) 33 17.717.7 26.826.8 38.838.8 41.241.2 3A (중전류부)3A (medium current part) 2.72.7 15.115.1 25.225.2 33.333.3 35.835.8 1A (저전류부)1A (low current part) 2.12.1 13.813.8 24.824.8 29.129.1 32.932.9 평균 광택도average gloss 2.62.6 15.515.5 25.625.6 33.733.7 36.636.6

도 4와 표 1에서 확인할 수 있듯이, 3-헥사인-2,5-디올을 첨가한 비교예 2 내지 5는 전체적으로 균일한 반광택성을 갖는 동도금층을 형성하지만 평균 광택도가 40 GU 미만이었다. 또한, 저전류밀도 부분의 피복상태가 좋지 않았고, 전체적으로 매끄럽지 않으며, 얼룩형태의 표면석출이 관찰되었다.As can be seen in FIG. 4 and Table 1, Comparative Examples 2 to 5 in which 3-hexaine-2,5-diol was added formed a copper plating layer having uniform semi-gloss properties as a whole, but the average glossiness was less than 40 GU. . In addition, the coating condition of the low current density part was not good, it was not smooth as a whole, and surface precipitation in the form of a spot was observed.

실시예 1Example 1

비교예 5와 동일한 조성의 도금액에 사카린 나트륨을 2.25 g/L 첨가하여 실시예 1의 청화동 도금액을 제조하였다. 실시예 1의 청화동 도금액의 상세한 조성은 하기와 같다.To the plating solution having the same composition as in Comparative Example 5, 2.25 g/L of sodium saccharin was added to prepare a copper chrysanthemum plating solution of Example 1. The detailed composition of the copper cyanide plating solution of Example 1 is as follows.

청화동(Copper cyanide) 30g/LCopper cyanide 30g/L

청화나트륨(Sodium cyanide) 45g/LSodium cyanide 45g/L

타르타르산나트륨칼륨(Potassium sodium tartrate) 15g/LPotassium sodium tartrate 15g/L

수산화칼륨(Potassium hydroxide) 10g/LPotassium hydroxide 10g/L

탄산칼륨(Potassium carbonate) 10g/LPotassium carbonate 10g/L

3-헥사인-2,5-디올 2.25 g/L3-Hexane-2,5-diol 2.25 g/L

사카린 나트륨 2.25 g/LSodium saccharin 2.25 g/L

이와 같이, 제조된 실시예 1의 청화동 도금액을 이용하여, 헐셀테스트를 실시하였고, 시편의 전처리 및 전처리의 조건은 비교예 1 내지 5와 동일하게 실시하였다.As described above, using the copper cyanide plating solution prepared in Example 1, the Hullcell test was performed, and the conditions for pretreatment and pretreatment of the specimen were the same as those of Comparative Examples 1 to 5.

실시예 1의 헐셀 테스트 결과 사진은 도 5와 같고, 도금된 시편의 광택도는 표 2와 같다.A photograph of the Hullcell test result of Example 1 is shown in FIG. 5, and the glossiness of the plated specimen is shown in Table 2.

전류 밀도 부분
(Current density area)
current density part
(Current density area)
실시예 1
(GU)
Example 1
(GU)
5A (고전류부)5A (high current part) 48.748.7 3A (중전류부)3A (medium current part) 43.843.8 1A (저전류부)1A (low current part) 36.736.7 평균 광택도average gloss 43.143.1

테스트 결과 실시예 1은 3-헥사인-2,5-디올만 첨가한 비교예 2 내지 4에 비하여 우수한 균일전착성을 갖는 도금층이 관찰되었고, 저전류에서도 피복력이 우수했으며, 고전류밀도부터 저전류밀도까지 균일한 반광택의 동도금층이 석출되었다. 이와 같이, 3-헥사인-2,5-디올을 첨가하지 않은 비교예 1 및 3-헥사인-2,5-디올 단독으로 첨가한 비교예 2 내지 5의 석출표면 및 광택도에 비해서 사카린 나트륨을 함께 첨가한 실시예 1은 보다 매끄러운 표면석출과 광택도가 증가된 것을 확인할 수 있다.As a result of the test, in Example 1, a plating layer having excellent throwing power was observed compared to Comparative Examples 2 to 4 in which only 3-hexaine-2,5-diol was added, and the coating power was excellent even at low current, and from high current density to low current. A semi-glossy copper plating layer that was uniform to density was deposited. As such, compared to the precipitation surfaces and glossiness of Comparative Examples 1 to which 3-hexain-2,5-diol was not added and Comparative Examples 2 to 5 in which 3-hexain-2,5-diol was added alone, sodium saccharin It can be seen that Example 1 in which was added together has a smoother surface precipitation and increased gloss.

실시예 2 내지 9Examples 2 to 9

상기 비교예 1과 동일한 조성에 추가로 반광택 첨가제를 첨가하였다. 반광택 첨가제는 도금액 전체에 대하여, 3-헥사인-2,5-디올, 사카린 나트륨, 비닐설폰산나트륨, 알릴설폰산나트륨, N-폴리에테르, L-폴리에테르, 부틴디올에톡시레이트 및 글리신을 하기 표 3의 조성과 같이 첨가하여 실시예 2 내지 9의 청화동 도금액을 제조하였다.A semi-glossy additive was additionally added to the same composition as in Comparative Example 1. Semi-glossy additives are added to the entire plating solution, 3-hexan-2,5-diol, sodium saccharin, sodium vinylsulfonate, sodium allylsulfonate, N-polyether, L-polyether, butynediol ethoxylate, and glycine. was added according to the composition of Table 3 below to prepare the copper chrysanthemum plating solutions of Examples 2 to 9.

첨가제additive 실시예 2Example 2 실시예 3Example 3 실시예 4Example 4 실시예 5Example 5 실시예 6Example 6 실시예 7Example 7 실시예 8Example 8 실시예 9Example 9 3-헥사인-2,5-디올
(g/L)
3-Hexane-2,5-diol
(g/L)
2.252.25 2.252.25 2.252.25 2.252.25 2.252.25 2.252.25 2.252.25 2.252.25
사카린 나트륨
(g/L)
sodium saccharin
(g/L)
0.750.75 1.51.5 2.252.25 3.03.0 2.252.25 2.252.25 3.753.75 2.252.25
비닐설폰산나트륨
(g/L)
Sodium vinylsulfonate
(g/L)
0.0750.075 -- 0.0750.075 -- 0.0750.075 -- -- --
알릴설폰산나트륨
(g/L)
Sodium Allylsulfonate
(g/L)
0.0750.075 0.0750.075 -- 0.0750.075 -- 0.0750.075 -- --
부틴디올에톡시레이트
(g/L)
Butynediol ethoxylate
(g/L)
0.0750.075 0.150.15 -- 0.2250.225 0.2250.225 0.2250.225 0.2250.225 0.2250.225
N-폴리에테르
(g/L)
N-polyether
(g/L)
0.0750.075 0.0750.075 -- 0.150.15 0.3750.375 0.2250.225 0.0750.075 0.2250.225
L-폴리에테르
(g/L)
L-polyether
(g/L)
0.150.15 -- 0.0750.075 0.150.15 0.3750.375 0.2250.225 0.0750.075 0.2250.225
글리신
(g/L)
glycine
(g/L)
0.0750.075 0.150.15 0.2250.225 0.2250.225 0.150.15 0.2250.225 0.0750.075 0.150.15

이와 같이 제조된 실시예 2 내지 9의 청화동 도금액을 이용하여, 헐셀테스트를 실시하였고, 시편의 전처리 및 전처리의 조건은 비교예 1 내지 5와 동일하게 실시하였다.Using the copper cyanide plating solutions of Examples 2 to 9 prepared as described above, the Hullcell test was performed, and the conditions for pretreatment and pretreatment of the specimen were the same as those of Comparative Examples 1 to 5.

테스트 결과 실시예 2 내지 9는 우수한 균일전착성이 관찰되었고, 저전류에서도 피복력이 우수했으며, 고전류밀도부터 저전류밀도까지 균일한 반광택의 동도금층이 석출되었다.As a result of the test, excellent throwing power was observed in Examples 2 to 9, and the coating power was excellent even at low current, and a semi-glossy copper plating layer was deposited uniformly from high current density to low current density.

실시예 2 내지 9의 헐셀 테스트 결과 사진은 도 6과 같고, 도금된 시편의 광택도는 표 4와 같다. 표 4의 광택도 단위는 GU이다.The photos of the Hullcell test results of Examples 2 to 9 are shown in FIG. 6, and the glossiness of the plated specimen is shown in Table 4. The glossiness unit in Table 4 is GU.

전류 밀도 부분
(Current density area)
current density part
(Current density area)
실시예 2Example 2 실시예 3Example 3 실시예 4Example 4 실시예 5Example 5 실시예 6Example 6 실시예 7Example 7 실시예 8Example 8 실시예 9Example 9
5 A/dm2 (고전류부)5 A/dm 2 (high current part) 61.261.2 62.862.8 53.853.8 65.465.4 81.581.5 68.468.4 62.162.1 67.867.8 3 A/dm2 (중전류부)3 A/dm 2 (medium current part) 48.948.9 52.152.1 43.843.8 53.553.5 73.473.4 57.257.2 53.753.7 60.660.6 1 A/dm2 (저전류부)1 A/dm 2 (low current part) 41.241.2 43.143.1 39.839.8 46.846.8 62.462.4 48.548.5 45.545.5 51.751.7 평균 광택도average gloss 50.450.4 52.752.7 45.845.8 55.255.2 72.472.4 58.058.0 53.853.8 60.060.0

이와 같이, 3-헥사인-2,5-디올을 첨가하지 않은 비교예 1 및 3-헥사인-2,5-디올 단독으로 첨가한 비교예 2 내지 5의 석출표면 및 광택도에 비해서 매끄러운 표면석출과 광택도가 증가된 것을 확인할 수 있다. 또한, 3-헥사인-2,5-디올 및 사카린 나트륨만 첨가한 실시예 1에 비하여, 평균 광택도가 향상된 것을 확인할 수 있다.As described above, the surface smooth compared to the precipitation surfaces and glossiness of Comparative Examples 1 to which 3-hexain-2,5-diol was not added and Comparative Examples 2 to 5 in which 3-hexain-2,5-diol was added alone. It can be seen that the precipitation and glossiness are increased. In addition, it can be seen that the average gloss is improved compared to Example 1 in which only 3-hexaine-2,5-diol and sodium saccharin are added.

비교예 6Comparative Example 6

상기 비교예 1과 동일한 조성의 청화동 도금액에 반광택 첨가제가 아닌 다액형의 광택제 C Brite #10 및 C Brite #30 (일본 JCU 社)를 각각 5 ml/L 및 10 ml/L 첨가하여 청화동 도금액을 제조하였다.5 ml/L and 10 ml/L, respectively, of multi-component brighteners C Brite #10 and C Brite #30 (JCU, Japan), not semi-glossy additives, were added to the copper chrysanthemum plating solution having the same composition as in Comparative Example 1. A plating solution was prepared.

이와 같이, 제조된 비교예 6의 청화동 도금액을 이용하여, 헐셀테스트를 실시하였고, 시편의 전처리 및 전처리의 조건은 이전과 동일하게 실시하였다.As described above, using the prepared copper cyanide plating solution of Comparative Example 6, the Hullcell test was performed, and the conditions of pretreatment and pretreatment of the specimen were the same as before.

비교예 6과 실시예 9의 헐셀 테스트 결과를 비교한 사진은 도 7과 같고, 도금된 시편의 광택도는 하기 표 5과 같다.A photograph comparing the results of the Hullcell test of Comparative Example 6 and Example 9 is shown in FIG. 7 , and the glossiness of the plated specimen is shown in Table 5 below.

전류 밀도 부분
(Current density area)
current density part
(Current density area)
비교예 6의 광택도
(GU)
Glossiness of Comparative Example 6
(GU)
실시예 9의 광택도
(GU)
Glossiness of Example 9
(GU)
5A (고전류부)5A (high current part) 198198 67.867.8 3A (중전류부)3A (medium current part) 4949 60.660.6 1A (저전류부)1A (low current part) 1.91.9 51.751.7 평균 광택도average gloss 83.083.0 60.060.0

도 7과 표 5에서 확인할 수 있듯이, 일본 JCU 社의 광택제를 첨가한 비교예 6의 경우에는, 고전류밀도 영역의 광택성은 좋지만 중전류밀도부터 저전류밀도 영역의 광택성은 고전류밀도 영역에 비해서 현저하게 감소하였다. 이에 반해, 1액형 반광택 첨가제를 첨가한 실시예 9는 고전류밀도 영역의 광택도는 비교예 6에 비하여 상대적으로 떨어지지만, 고전류밀도 영역부터 저전류밀도 영역에 걸쳐 균일한 반광택의 도금층을 형성시키는 것을 확인할 수 있다. 이와 같이, 실시예 9는 각 전류밀도 영역별 광택편차를 감소시켰다.As can be seen in Figures 7 and 5, in Comparative Example 6 to which a gloss agent of JCU of Japan was added, the glossiness of the high current density region is good, but the glossiness of the medium current density to the low current density region is significantly higher than that of the high current density region. decreased. On the other hand, in Example 9, in which the one-component semi-gloss additive was added, the glossiness of the high current density region was relatively lower than that of Comparative Example 6, but a uniform semi-glossy plating layer was formed from the high current density region to the low current density region. you can check what you are doing. As such, Example 9 reduced the gloss deviation for each current density region.

실시예 10Example 10

상기 실시예 9와 동일한 조성에 불소계 계면활성제로 과플루오로부탄설폰산칼륨을 0.05g/L 첨가하여 청화동 도금액을 제조하였다.A copper cyanide plating solution was prepared by adding 0.05 g/L of potassium perfluorobutanesulfonate as a fluorine-based surfactant to the same composition as in Example 9.

실시예 11Example 11

상기 실시예 9와 동일한 조성에 불소계 계면활성제로 과플루오로부탄설폰산칼륨을 0.15g/L 첨가하여 청화동 도금액을 제조하였다.A copper cyanide plating solution was prepared by adding 0.15 g/L of potassium perfluorobutanesulfonate as a fluorine-based surfactant to the same composition as in Example 9.

이와 같이 제조된 실시예 10 및 11의 청화동 도금액을 이용하여, 시편에 대하여 청화동 도금을 실시하였다. 또한, 비교를 위하여 상기 실시예 9의 청화동 도금액을 이용하여 동일한 시편에 도금하였다. Using the copper cyanide plating solutions of Examples 10 and 11 prepared in this way, copper cyanide plating was performed on the specimen. In addition, for comparison, the same specimen was plated using the copper chrysanthemum plating solution of Example 9.

실시예 9 내지 11의 도금액으로 도금한 시편의 도금표면 거칠기를 육안으로 관찰하였다. 실시예 9 내지 11의 시편 표면을 전자현미경으로 550배율 촬영한 사진은 도 8과 같다.The plating surface roughness of the specimens plated with the plating solution of Examples 9 to 11 was visually observed. 8 is a photograph of the surfaces of the specimens of Examples 9 to 11 taken with an electron microscope at 550 magnification.

도 8에서 볼 수 있듯이, 과플루오로부탄설폰산칼륨을 첨가한 실시예 10은 첨가하지 않은 실시예 9보다 보다 미세한 요철면을 형성한 것을 볼 수 있고, 첨가량이 0.15g/L인 실시예 11은 실시예 10보다도 더 미세하고 균일한 미세요철을 갖는 표면이 형성된 것을 확인할 수 있다.As can be seen from FIG. 8 , Example 10 in which potassium perfluorobutanesulfonate was added had a finer uneven surface than Example 9 in which potassium perfluorobutanesulfonate was not added, and Example 11 in which the addition amount was 0.15 g/L It can be seen that a surface having finer and more uniform fine irregularities was formed than in Example 10.

과플루오로부탄설폰산칼륨의 첨가 여부 및 첨가량에 따른 청화동 도금액의 표면장력(dyn/cm)의 차이를 확인하기 위하여, 적수계를 사용하여 실시예 9 내지 11의 도금액의 표면장력(dyn/cm)을 측정하였다.In order to confirm the difference in the surface tension (dyn/cm) of the copper cyanide plating solution depending on whether potassium perfluorobutanesulfonate was added and the amount added, the surface tension (dyn/cm) of the plating solutions of Examples 9 to 11 using a water meter cm) was measured.

도금액의 표면장력은 하기 수학식 1에 의해 구할 수 있다.The surface tension of the plating solution can be obtained by Equation 1 below.

[수학식 1][Equation 1]

표면장력 (dyn/cm) = [물의 표면장력 x 물의 적하량 x 도금액의 비중(Sp.Gr)]/[도금액의 적하량 x 물의 비중(Sp.Gr)]Surface tension (dyn/cm) = [Surface tension of water x dripping amount of water x specific gravity of plating solution (Sp.Gr)]/[loading amount of plating solution x specific gravity of water (Sp.Gr)]

적수계 및 상기 수학식 1을 통하여 산출한 실시예 9 내지 11의 표면장력은 하기 표 6과 같다.The surface tensions of Examples 9 to 11 calculated through the water meter and Equation 1 are shown in Table 6 below.

표면장력
(dyn/cm)
surface tension
(dyn/cm)
실시예 9Example 9 7272 실시예 10Example 10 6161 실시예 11Example 11 3131

표 6에서 볼 수 있듯이, 과플루오로부탄설폰산칼륨을 0.05g/L 첨가한 실시예 10은 첨가하지 않은 실시예 9보다 표면장력이 9 dyn/cm 감소하였고, 0.15g/L 첨가한 실시예 11은 첨가하지 않은 실시예 9보다 41 dyn/cm 감소하는 것을 확인하였다.As can be seen in Table 6, Example 10 in which 0.05 g/L of potassium perfluorobutanesulfonate was added had a 9 dyn/cm decrease in surface tension compared to Example 9 without addition of 0.05 g/L, and 0.15 g/L was added. 11 was confirmed to be reduced by 41 dyn/cm compared to Example 9 in which no addition was made.

상기 실시예 9, 실시예 11 및 비교예 6의 청화동 도금액을 이용하여, 철시편에 도금을 실시하였다. 인가되는 전류밀도는 모두 1A/dm2으로 하였으며, 도금층의 두께는 모두 5㎛으로 통일하였다. 다만, 실시예 9 및 11은 도금 온도를 45 oC, 비교예 6은 도금 온도를 65 oC로 조정하여 도금하였다. 광택제가 포함된 도금액은 본 발명의 반광택 첨가제와 달리 낮은 온도에서는 도금이 진행되지 않기 때문이다.Using the copper cyanide plating solution of Examples 9, 11 and Comparative Example 6, the iron specimen was plated. The applied current density was all 1A/dm 2 , and the thickness of the plating layer was all unified at 5 μm. However, in Examples 9 and 11, the plating temperature was adjusted to 45 o C, and in Comparative Example 6, the plating temperature was adjusted to 65 o C for plating. This is because, unlike the semi-glossy additive of the present invention, plating does not proceed with the plating solution containing the brightener at a low temperature.

실시예 9, 실시예 11 및 비교예 6의 청화동 도금액으로 도금한 철시편의 사진은 도 9와 같다. 또한, 도금된 철시편을 PSIA 社의 XE 100을을 이용하여 각 시편의 표면조도 Rq(RMS) 값을 측정하였다. The photos of the iron specimens plated with the copper cyanide plating solution of Examples 9, 11 and Comparative Example 6 are shown in FIG. 9 . In addition, the surface roughness Rq (RMS) value of each specimen was measured for the plated iron specimen using XE 100 manufactured by PSIA.

측정한 표면조도 Rq(RMS) 값은 하기 표 7과 같다.The measured surface roughness Rq (RMS) values are shown in Table 7 below.

Rq(RMS)
(nm)
Rq(RMS)
(nm)
비교예 6Comparative Example 6 101.088101.088 실시예 9Example 9 90.71890.718 실시예 11Example 11 55.69355.693

AFM(Atomic Force Microscope)으로 각 도금액 별 표면조도(Rq) 값을 측정한 결과, 1액형 청화동 도금용 첨가제와 과플루오로부탄설폰산칼륨을 혼합한 조성은 일본 JCU 사의 광택제를 쓴 것에 비하여 낮은 표면조도 값이 측정되었다. 이를 통해, 본 발명의 반광택 첨가제를 첨가하는 경우, 기존의 광택제에 비하여 미세한 요철(미세에칭)면을 구현할 수 있고, 후도금과의 강한 밀착력을 갖는 청화동 도금 표면을 확보할 수 있다는 것을 확인하였다. 또한, 과플루오로부탄설폰산칼륨을 추가로 포함함으로써, 더 미세한 요철면 및 밀착력을 가질 수 있다.이는 3개의 시료 중 도금석출 표면에 가장 미세한 요철(미세에칭)면이 구현되었고, 후도금과의 강한 밀착성을 갖는 청화동 도금표면을 확보할 수 있게 되었다.As a result of measuring the surface roughness (Rq) value for each plating solution with AFM (Atomic Force Microscope), the composition of the one-component copper cyanide plating additive and potassium perfluorobutanesulfonate was lower than that using JCU's brightener of Japan. Surface roughness values were measured. Through this, it is confirmed that when the semi-gloss additive of the present invention is added, a fine uneven (fine etching) surface can be realized compared to the conventional varnish, and a copper cyanide plating surface having strong adhesion with the post-plating can be secured. did In addition, by additionally including potassium perfluorobutanesulfonate, it is possible to have a finer concave-convex surface and adhesion. This is because the finest concave-convex (fine etching) surface was realized on the surface of the plating precipitation among the three samples, and after plating and It has become possible to secure a copper cyanide plating surface with strong adhesion.

상기 실험 결과가 후도금 공정에 미치는 영향을 확인하기 위하여, 상기 실시예 11 및 비교예 1 및 6의 청화동 도금된 철시편에 후도금을 진행하였다.In order to confirm the effect of the experimental results on the post-plating process, post-plating was performed on the copper chrysanthemum-plated iron specimens of Example 11 and Comparative Examples 1 and 6.

후도금에는 광택니켈 도금액을 이용하였으며, 광택니켈 도금액의 조성 및 도금 조건은 하기와 같다. 또한, 형성된 청화동 도금 및 니켈 도금의 도금층 두께는 하기 표 8과 같다.A bright nickel plating solution was used for the post plating, and the composition and plating conditions of the bright nickel plating solution are as follows. In addition, the thickness of the plating layer of the formed copper cyanide plating and nickel plating is shown in Table 8 below.

황산 니켈(Nickel sulfate) 30g/LNickel sulfate 30g/L

염화 니켈(Nickel chloride) 45g/LNickel chloride 45g/L

붕산(Boric acid) 15g/LBoric acid 15g/L

광택제 1(써켐㈜ 社의 NIKAL #1) 10ml/LBrightener 1 (Nikal #1 of Serchem Co., Ltd.) 10ml/L

광택제 2(써켐㈜ 社의 NIKAL #2) 0.5ml/LBrightener 2 (NIKAL #2 from Serchem Co., Ltd.) 0.5ml/L

전류밀도: 2A/dm2 Current density: 2A/dm 2

pH: 4.0 내지 4.4pH: 4.0 to 4.4

온도: 58 oCTemperature: 58 o C

도금시간: 10분Plating time: 10 minutes

도금두께
(㎛)
plating thickness
(μm)
청화동 도금bronze plating 광택 니켈 도금polished nickel plating 비교예 1Comparative Example 1 5.215.21 7.387.38 비교예 6Comparative Example 6 5.255.25 7.517.51 실시예 11Example 11 5.225.22 7.467.46

이와 같이 제조된 실시예 11 및 비교예 1 및 6의 도금품들에 대해 (i)육안 확인 및 광택도 측정, (ii) 밀착력 테스트를 실시하였다. 이를 통해 하지도금 광택도에 따른 니켈도금의 광택도에 미치는 영향 및 표면조도에 따른 밀착력 차이를 확인하였다.For the plated articles of Example 11 and Comparative Examples 1 and 6 prepared as described above, (i) visual confirmation and measurement of glossiness, and (ii) adhesion test were performed. Through this, the effect on the glossiness of nickel plating according to the glossiness of the undercoating and the difference in adhesion according to the surface roughness were confirmed.

(i) 육안 확인 및 광택도 측정(i) Visual inspection and glossiness measurement

도 10에는 본 발명의 청화동 도금한 이후에 후도금으로 니켈 도금을 한 도금품들의 외형 사진이 개시되어 있고, 하기 표 9에는 각 도금품의 광택도를 측정한 값이 기재되어 있다.10 is a photograph showing the appearance of plated articles that were plated with nickel by post-plating after plated with copper cyanide according to the present invention, and Table 9 below shows the measured values of glossiness of each plated article.

동도금층의 광택도
(GU)
Glossiness of copper plating layer
(GU)
니켈도금층의 광택도
(GU)
Glossiness of Nickel Plated Layer
(GU)
광택편차
(GU)
gloss deviation
(GU)
고전류밀도 영역high current density region 저전류밀도 영역low current density area 비교예 1Comparative Example 1 2.62.6 438438 -- -- 비교예 6Comparative Example 6 104104 514514 369369 145145 실시예 11Example 11 6868 511511 445445 6666

실험 결과, 비교예 1은 광택제 또는 첨가제를 첨가하지 않은 것으로, 광택니켈 도금층의 광택도가 438GU를 가졌다. 비교예 6은 일본 JCU 社의 광택제를 첨가한 것으로, 광택니켈 도금층의 광택도가 고전류밀도 영역에서 514GU, 저전류밀도 영역에서 36GU를 가짐으로써, 광택편차는 145GU 였다. 마지막으로, 실시예 11은 본 발명의 반광택 첨가제를 첨가한 것으로, 광택니켈 도금층의 광택도가 고전류밀도 영역에서 511GU, 저전류밀도 역역에서 445GU 를 가지고, 광택편차는 66GU 였다..광택제 및 첨가제를 사용하지 않고 청화동 도금 후 광택니켈 도금 시에는 같은 도금두께에서도 니켈도금층의 광택도가 확연히 낮음을 알 수 있다. 또한, 기존의 고광택 청화동 광택제 및 본 발명의 1액형 반광택 첨가제를 사용하였을 때는 두 제품간의 니켈도금 광택도가 오차범위 내에서 유사한 광택도를 보이는 것으로 확인할 수 있다. As a result of the experiment, Comparative Example 1 did not add a brightener or additive, and the glossiness of the bright nickel plating layer was 438GU. In Comparative Example 6, a gloss agent manufactured by JCU of Japan was added, and the glossiness of the glossy nickel plating layer was 514GU in the high current density area and 36GU in the low current density area, so the gloss deviation was 145GU. Finally, in Example 11, the semi-gloss additive of the present invention was added, and the glossiness of the glossy nickel plating layer was 511GU in the high current density region, 445GU in the low current density region, and the gloss deviation was 66GU. It can be seen that the glossiness of the nickel plated layer is significantly lower even with the same plating thickness when bright nickel plating is performed after copper cyanide plating without the use of copper. In addition, it can be confirmed that the nickel plating gloss between the two products shows similar gloss within the error range when the conventional high-gloss copper cyanide polish and the one-component semi-gloss additive of the present invention are used.

이를 통해 1액형 첨가제의 낮은 표면조도(미세에칭 표면)에 의해 후도금층과의 밀착력이 향상되고 니켈도금층의 광택도가 증가되는 것을 확인할 수 있다. 즉, 기존 제품에 비해서 청화동 도금층의 광택도가 낮아도 일정량 이상의 광택도와 표면의 연마효과에 의해서 니켈 도금시의 광택도에 큰 차이가 없다는 것을 알 수 있다.Through this, it can be confirmed that the adhesion with the post plating layer is improved and the glossiness of the nickel plating layer is increased due to the low surface roughness (fine etching surface) of the one-component additive. That is, it can be seen that even if the glossiness of the copper bronze plating layer is lower than that of the existing products, there is no significant difference in the glossiness during nickel plating due to the glossiness of a certain amount or more and the polishing effect of the surface.

또한, 비교예 6 및 실시예 11의 광택 편차를 살펴보면, 기존 일본 JCU 社의 광택제를 사용할 때에 비하여, 본 발명의 반광택 첨가제를 사용하는 경우에는 고전류밀도 영역과 저전류밀도 영역간의 광택 편차가 크게 감소한 것을 확인할 수 있다.In addition, looking at the gloss deviation of Comparative Examples 6 and 11, when using the semi-glossy additive of the present invention, the gloss deviation between the high current density area and the low current density area was significantly higher than when using the conventional Japanese JCU's gloss agent. decrease can be seen.

(ii) 밀착력 테스트(ii) adhesion test

앞서 비교예 6 및 실시예 11에서 제조된 청화동 도금-니켈도금의 도금층 밀착력 확인 테스트를 실시하였다.Previously, a test for confirming the adhesion strength of the plating layer of the copper cyanide plating-nickel plating prepared in Comparative Examples 6 and 11 was performed.

밀착력 테스트는, 도금 후 시편 표면에 칼을 이용하여 격자무늬를 긋고, 표면에 테이프를 부착한 뒤 약 20분간 방치한 후, 테이프를 빠르게 떼어 내어 확인하였다.The adhesion test was confirmed by drawing a grid pattern on the surface of the specimen after plating, attaching the tape to the surface, leaving it for about 20 minutes, and then quickly removing the tape.

본원 실시예 11의 도금품에서는 도막의 들뜸 또는 뜯어짐 현상이 발생하지 않았으나, 비교예 6의 도금품에서는 일부분에서 들뜸 또는 뜯어짐 현상이 발생하였다.In the plated article of Example 11 of the present application, no lifting or tearing of the coating occurred, but in the plated article of Comparative Example 6, lifting or tearing occurred in a portion.

이상에서 설명된 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 기술적 사항을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의하여 표현되며, 특허청구범위의 의미, 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.The present invention described above is not limited by the above-described embodiments and the accompanying drawings, and it is a technical field to which the present invention pertains that various substitutions, modifications and changes are possible without departing from the technical matters of the present invention. It will be clear to those of ordinary skill in the art. Therefore, the scope of the present invention is expressed by the following claims, and all changes or modifications derived from the meaning, scope, and equivalent concept of the claims should be construed as being included in the scope of the present invention.

10: 다층도금
100: 피도금소지
200: 청화동도금층
300: 후도금층
10: multi-layer plating
100: plated material
200: blue copper plating layer
300: after plating layer

Claims (19)

청화동 화합물; 및
반광택 첨가제;를 포함하며,
상기 청화동 화합물은 청화동(CuCN), 청화동나트륨(Na2Cu(CN)3), 청화동칼륨(K2Cu(CN)3) 또는 이들의 혼합물을 포함하고,
상기 반광택 첨가제는,
3-헥사인-2,5-디올(3-Hexyne-2,5-diol) 화합물; 및
황 화합물;을 포함하고,
상기 황 화합물은 사카린 나트륨(Sodium saccharin), 비닐설폰산나트륨(Sodium vinyl sulfonate) 및 알릴설폰산나트륨(Sodium allyl sulfonate) 중 적어도 어느 하나를 포함하는,
청화동 도금액.
copper cyanide compounds; and
Semi-glossy additives include;
The copper cyanide compound includes copper cyanide (CuCN), sodium cyanide (Na 2 Cu(CN) 3 ), potassium cyanide (K 2 Cu(CN) 3 ) or a mixture thereof,
The semi-gloss additive is
3-Hexane-2,5-diol (3-Hexyne-2,5-diol) compound; and
a sulfur compound; and
The sulfur compound comprises at least one of sodium saccharin (Sodium saccharin), sodium vinyl sulfonate (Sodium vinyl sulfonate) and sodium allyl sulfonate (Sodium allyl sulfonate),
Tsinghua copper plating solution.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 반광택 첨가제는 N-폴리에테르(N-Polyether) 및 L-폴리에테르(L-Polyether)을 더 포함하는 청화동 도금액.
According to claim 1,
The semi-gloss additive is a copper cyanide plating solution further comprising N-polyether (N-Polyether) and L-polyether (L-Polyether).
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 반광택 첨가제는 부틴디올에톡시레이트(Butynediol ethoxylate), 2-부틴-1,4-디올 및 글리신(glycine) 중 적어도 어느 하나를 더 포함하는 청화동 도금액.
According to claim 1,
The semi-glossy additive further comprises at least one of butynediol ethoxylate, 2-butyne-1,4-diol, and glycine.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 반광택 첨가제는 계면활성제를 더 포함하고,
상기 계면활성제는 불소계 계면활성제(Fluorinated surfactant)를 포함하는 청화동 도금액.
According to claim 1,
The semi-gloss additive further comprises a surfactant,
The surfactant is a copper cyanide plating solution containing a fluorinated surfactant.
제12항에 있어서,
상기 불소계 계면활성제는 과플루오로부탄설폰산칼륨(Potassium perfluorobutane sulfonate) 화합물을 포함하는 청화동 도금액.
13. The method of claim 12,
The fluorine-based surfactant is a copper cyanide plating solution containing a potassium perfluorobutane sulfonate (Potassium perfluorobutane sulfonate) compound.
삭제delete 제1항에 있어서,
유기산염 및 무기산염 중 적어도 1종 이상을 더 포함하는 청화동 도금액.
According to claim 1,
A copper cyanide plating solution further comprising at least one of organic acid salts and inorganic acid salts.
제15항에 있어서,
상기 유기산염은 타르타르산나트륨칼륨(Potassium sodium tartrate), 탄산나트륨(Sodium carbonate) 및 탄산칼륨(Potassium carbonate) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 청화동 도금액.
16. The method of claim 15,
The organic acid salt is sodium potassium tartrate (Potassium sodium tartrate), sodium carbonate (Sodium carbonate) and potassium carbonate (Potassium carbonate) at least one of copper bronze plating solution.
제15항에 있어서,
상기 무기산염은 수산화나트륨(Sodium hydroxide) 및 수산화칼륨(Potassium hydroxide) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 청화동 도금액.
16. The method of claim 15,
The inorganic acid salt is a copper cyanide plating solution comprising at least one of sodium hydroxide and potassium hydroxide.
피도금 소지 준비 단계;
청화동 도금액 준비 단계; 및
상기 청화동 도금액을 이용하여 전기도금을 통해 상기 피도금 소지 표면에 청화동 도금하는 단계;를 포함하고,
상기 청화동 도금액은 상기 청구항 제1항, 제8항, 제10항, 제12항, 제13항, 제15항 내지 제17항 중 어느 하나의 청화동 도금액인,
청화동 도금방법.
preparation of the material to be plated;
Preparation of copper cheonghwa plating solution; and
Containing; including;
The copper cyanide plating solution is the copper cyanide plating solution of any one of claims 1, 8, 10, 12, 13, and 15 to 17,
Bronze copper plating method.
삭제delete
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