KR102324901B1 - Resin sheet - Google Patents

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Abstract

[과제] 리플로우 휨을 억제하고, 또한, 절연 성능이 우수한 얇은 절연층을 부여 할 수 있는 수지 시트를 제공한다.
[해결 수단] (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, 및, (C) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물층을 구비하는 수지 시트로서, 당해 수지 조성물층 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, (C) 무기 충전재가 50질량% 이상이고, 당해 수지 조성물층의, 진동수 1㎐, 변형 1deg의 조건에서 동적 점탄성 측정을 행함으로써 얻어지는 최저 용융 점도가 8000포이즈 이상이고, 당해 수지 조성물층의, 진동수 1㎐, 변형 5deg의 조건에서 동적 점탄성 측정을 행함으로써 얻어지는 최저 용융 점도가 8000포이즈 이하인, 수지 시트.
[Problem] To provide a resin sheet capable of suppressing reflow warpage and providing a thin insulating layer excellent in insulating performance.
[Solution means] A resin sheet comprising a resin composition layer containing (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, and (C) an inorganic filler, wherein the nonvolatile component in the resin composition layer is 100% by mass. , (C) the inorganic filler is 50% by mass or more, the minimum melt viscosity obtained by performing dynamic viscoelasticity measurement under the conditions of a frequency of 1 Hz and a strain of 1deg of the resin composition layer is 8000 poise or more, of the resin composition layer, A resin sheet having a minimum melt viscosity of 8000 poise or less obtained by performing dynamic viscoelasticity measurement under conditions of a frequency of 1 Hz and a strain of 5 deg.

Description

수지 시트 {RESIN SHEET}Resin sheet {RESIN SHEET}

본 발명은 수지 시트에 관한 것이다. 또한, 당해 수지 시트의 수지 조성물층의 경화물을 포함하는 프린트 배선판, 및 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resin sheet. Moreover, it is related with the printed wiring board containing the hardened|cured material of the resin composition layer of the said resin sheet, and a semiconductor device.

최근, 전자 기기의 소형화를 달성하기 위해, 프린트 배선판의 더욱 박형화가 진행되고 있고, 내층 기판이나 절연층의 두께는 더 얇아지는 경향이 있다. 내층 기판이나 절연층의 두께를 얇게 하는 기술로서, 예를 들면, 특허문헌 1에 기재된 박형 필름용 수지 조성물이 알려져 있다.In recent years, in order to achieve size reduction of an electronic device, thickness reduction of a printed wiring board is progressing further, and the thickness of an inner-layer board|substrate and an insulating layer tends to become thinner. As a technique of making the thickness of an inner-layer board|substrate or an insulating layer thin, the resin composition for thin films of patent document 1 is known, for example.

특허문헌 1: 일본 공개특허공보 특개2014-152309호Patent Document 1: Japanese Patent Laid-Open No. 2014-152309

특허문헌 1에서, 본 발명자들은 박막 필름을 절연층에 적용했을 때, 조도(粗度)가 커지고, 박리 강도가 저하되는 경향이 있는 것을 찾아내어, 이들 과제를 해결하기 위해 열가소성 수지의 배합량을 소정량으로 할 것을 제안하고 있다. 그러나, 당해 문헌에서는, 절연층의 두께를 얇게 한 경우의 절연 성능(이하, 「박막 절연성」이라고도 함)에 대해서는 전혀 검토되어 있지 않다.In Patent Document 1, the present inventors found that when a thin film is applied to an insulating layer, the roughness increases and the peel strength tends to decrease, and in order to solve these problems, the compounding amount of the thermoplastic resin is reduced. It is suggested to do it quantitatively. However, in this document, the insulation performance (hereinafter also referred to as "thin film insulation") when the thickness of the insulation layer is made thin is not examined at all.

절연층을 박막으로 한 경우에는, 리플로우 휨이 일어나기 쉬워지므로, 무기 충전재를 많이 넣음으로써, 리플로우 휨을 억제하는 것을 고려할 수 있다. 그러나, 무기 충전재의 함유량이 많아지면, 무기 충전재 입자끼리 부착된 계면을 타고 전류가 흐르기 쉬워지는 등, 절연 성능을 유지하는 것이 어려워져, 절연층이 박막인 경우에는, 리플로우 휨의 억제와 절연성이 트레이드 오프의 관계가 된다.When an insulating layer is made into a thin film, since reflow curvature becomes easy to occur, suppressing reflow curvature by putting in many inorganic fillers can be considered. However, when the content of the inorganic filler increases, it becomes difficult to maintain the insulating performance such as an electric current easily flows through the interface where the inorganic filler particles adhere. It becomes a relationship of this trade-off.

본 발명의 과제는, 리플로우 휨을 억제하고, 또한 절연 성능이 뛰어난 얇은 절연층을 부여 할 수 있는 수지 시트를 제공하는 것에 있다.An object of the present invention is to provide a resin sheet capable of suppressing reflow warpage and providing a thin insulating layer excellent in insulating performance.

상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토한 결과, 본 발명자들은 이하의 지견을 얻었다.As a result of earnestly examining in order to solve the said subject, the present inventors acquired the following knowledge.

박막의 절연층에서 절연성을 유지하는데에는, 절연층의 평탄성을 높이면서, 매립성을 양호하게 하는 것을 고려할 수 있지만, 수지 조성물층의 진동수 1㎐, 변형(歪) 1deg에서의 최저 용융 점도를 8000포이즈 이상으로 함으로써, 열경화 공정 등에서의 수지 조성물층의 움직임이 억제되어, 평탄성이 향상된다. 그 한편으로, 진동수 1㎐, 변형 5deg에서의 최저 용융 점도를 8000포이즈 이하로 함으로써, 라미네이트 공정에서 압력이 가해졌을 때에, 매립성이 양호해진다.In order to maintain insulation in the insulating layer of a thin film, it can be considered to improve the embedding property while increasing the flatness of the insulating layer. By setting it as more than poise, the movement of the resin composition layer in a thermosetting process etc. is suppressed, and flatness improves. On the other hand, when a pressure is applied in a lamination process by making the minimum melt viscosity at a frequency of 1 Hz and a deformation|transformation 5 deg into 8000 poise or less, embedding property becomes favorable.

즉, 본 발명자들은, 에폭시 수지, 경화제, 및 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물층을 구비하는 수지 시트에 있어서, 수지 조성물층이 50질량% 이상의 무기 충전재를 포함하는 동시에, 수지 조성물층의 진동수 1㎐, 변형 1deg에서의 최저 용융 점도를 8000포이즈 이상으로 하고, 또한 수지 조성물층의 진동수 1㎐, 변형 5deg에서의 최저 용융 점도를 8000포이즈 이하로 함으로써, 리플로우 휨을 억제하고, 또한 두께가 얇음에도 불구하고 절연 성능이 뛰어난(박막 절연성이 뛰어난) 절연층을 부여하는 것이 가능함을 발견하여, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.That is, the present inventors, in the resin sheet provided with the resin composition layer containing an epoxy resin, a hardening|curing agent, and an inorganic filler, while the resin composition layer contains 50 mass % or more of inorganic fillers, the frequency of 1 Hz of the resin composition layer , by making the minimum melt viscosity at strain 1deg 8000 poise or more, and the frequency of the resin composition layer at 1 Hz and strain 5deg into 8000 poise or less, reflow warpage is suppressed, and even though the thickness is thin and found that it is possible to provide an insulating layer excellent in insulating performance (excellent in thin film insulating properties), thereby completing the present invention.

즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함한다.That is, the present invention includes the following contents.

[1] (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, 및, (C) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물층을 구비하는 수지 시트로서, 당해 수지 조성물층 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, (C) 무기 충전재가 50질량% 이상이고, 당해 수지 조성물층의, 진동수 1㎐, 변형 1deg에서의 최저 용융 점도가 8000포이즈 이상이고, 당해 수지 조성물층의, 진동수 1㎐, 변형 5deg에서의 최저 용융 점도가 8000포이즈 이하인, 수지 시트.[1] A resin sheet comprising a resin composition layer comprising (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, and (C) an inorganic filler, wherein the nonvolatile component in the resin composition layer is 100% by mass, (C) the inorganic filler is 50 mass % or more, the minimum melt viscosity of the resin composition layer at a frequency of 1 Hz and strain 1deg is 8000 poise or more, and the resin composition layer has a frequency of 1 Hz and a minimum at strain 5deg A resin sheet having a melt viscosity of 8000 poise or less.

[2] 수지 조성물층의 두께가 15㎛ 이하인, [1]에 기재된 수지 시트.[2] The resin sheet according to [1], wherein the thickness of the resin composition layer is 15 µm or less.

[3] (A) 에폭시 수지가 액상 에폭시 수지를 포함하는, [1] 또는 [2]에 기재된 수지 시트.[3] (A) The resin sheet according to [1] or [2], wherein the epoxy resin contains a liquid epoxy resin.

[4] (C) 무기 충전재의 평균 입자 직경이 0.05 내지 0.35㎛인, [1] 내지 [3] 중 어느 하나에 기재된 수지 시트.[4] (C) The resin sheet according to any one of [1] to [3], wherein the inorganic filler has an average particle diameter of 0.05 to 0.35 µm.

[5] 프린트 배선판의 절연층 형성용인, [1] 내지 [4] 중 어느 하나에 기재된 수지 시트.[5] The resin sheet according to any one of [1] to [4], which is for forming an insulating layer of a printed wiring board.

[6] 제1 도체층과, 제2 도체층과, 제1 도체층과 제2 도체층을 절연하고 있는 절연층을 포함하고, 제1 도체층과 제2 도체층 사이의 절연층의 두께가 6㎛ 이하인 프린트 배선판의, 당해 절연층 형성용인, [1] 내지 [5] 중 어느 하나에 기재된 수지 시트.[6] A first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer that insulates the first conductor layer and the second conductor layer, wherein the thickness of the insulating layer between the first conductor layer and the second conductor layer is The resin sheet according to any one of [1] to [5], which is for forming the insulating layer for a printed wiring board having a size of 6 µm or less.

[7] 제1 도체층, 제2 도체층, 및, 제1 도체층과 제2 도체층을 절연하고 있는 절연층을 포함하고, 제1 도체층과 제2 도체층의 사이의 절연층의 두께가 6㎛ 이하인 프린트 배선판으로서, 당해 절연층은 [1] 내지 [6] 중 어느 하나에 기재된 수지 시트의 수지 조성물층의 경화물인, 프린트 배선판.[7] Thickness of the insulating layer between the first conductor layer and the second conductor layer, including a first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer insulating the first conductor layer and the second conductor layer A printed wiring board having a thickness of 6 µm or less, wherein the insulating layer is a cured product of the resin composition layer of the resin sheet according to any one of [1] to [6].

[8] [7]에 기재된 프린트 배선판을 포함하는 반도체 장치.[8] A semiconductor device comprising the printed wiring board according to [7].

본 발명에 의하면, 리플로우 휨을 억제하고, 또한 절연 성능이 우수한 얇은 절연층을 부여 할 수 있는 수지 시트를 제공할 수 있다.ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the resin sheet which can suppress reflow curvature and can provide the thin insulating layer excellent in insulating performance can be provided.

도 1은 프린트 배선판의 일례를 모식적으로 나타낸 일부 단면도이다.
도 2는 부품 가부착(假附着) 내층 기판의 단면의 일례를 나타낸 모식도이다.
1 is a partial cross-sectional view schematically showing an example of a printed wiring board.
Fig. 2 is a schematic diagram showing an example of a cross section of an inner-layer substrate for temporarily attaching components.

이하, 본 발명의 수지 시트, 당해 수지 시트의 수지 조성물층의 경화물을 구비한 프린트 배선판, 및 반도체 장치에 대해 상세히 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the resin sheet of this invention, the printed wiring board provided with the hardened|cured material of the resin composition layer of this resin sheet, and a semiconductor device are demonstrated in detail.

본 발명의 수지 시트는, (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, 및 (C) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물층을 구비하고, 수지 조성물층 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, (C) 무기 충전재가 50질량% 이상이다. 본 발명에서는, 상기 수지 조성물층의, 진동수 1㎐, 변형 1deg에서의 최저 용융 점도가 8000포이즈 이상이고, 당해 수지 조성물층의, 진동수 1㎐, 변형 5deg에서의 최저 용융 점도가 8000포이즈 이하이다. 또한, 본 명세서에서는, 「진동수 1㎐, 변형 1deg에서의 최저 용융 점도」를 「변형 1deg에서의 최저 용융 점도」라고 기재하는 경우가 있고, 「진동수 1㎐, 변형 5deg에서의 최저 용융 점도」를 「변형 5deg에서의 최저 용융 점도」라고 기재하는 경우가 있다.When the resin sheet of the present invention includes a resin composition layer containing (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, and (C) an inorganic filler, and the nonvolatile component in the resin composition layer is 100% by mass, ( C) The inorganic filler is 50 mass % or more. In the present invention, the minimum melt viscosity of the resin composition layer at a frequency of 1 Hz and a strain of 1deg is 8000 poise or more, and the resin composition layer has a minimum melt viscosity of 8000 poise or less at a frequency of 1 Hz and a strain of 5deg. In addition, in this specification, "the lowest melt viscosity at a frequency of 1 Hz and a strain of 1deg" is sometimes described as "the lowest melt viscosity at a strain of 1deg", and "the lowest melt viscosity at a frequency of 1 Hz and a strain of 5deg" is It may be described as "the lowest melt viscosity at strain 5deg".

수지 조성물층은 (A) 에폭시 수지, (B) 경화제 및 (C) 무기 충전재를 포함한다. 당해 수지 조성물층은 수지 조성물에 의해 형성된다. 우선, 수지 조성물층을 형성하는 수지 조성물에 대해 설명한다.The resin composition layer contains (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, and (C) an inorganic filler. The said resin composition layer is formed of the resin composition. First, the resin composition which forms a resin composition layer is demonstrated.

[수지 조성물][resin composition]

수지 조성물은 (A) 에폭시 수지, (B) 경화제 및 (C) 무기 충전재를 포함한다. 수지 조성물은, 추가로, 필요에 따라, 열가소성 수지, 경화 촉진제, 난연제 및 유기 충전재 등의 첨가제를 포함하고 있어도 좋다.The resin composition includes (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, and (C) an inorganic filler. The resin composition may further contain additives, such as a thermoplastic resin, a hardening accelerator, a flame retardant, and an organic filler, as needed.

이하, 수지 조성물의 재료로서 사용할 수 있는 (A) 에폭시 수지, (B) 경화제, (C) 무기 충진제 및 첨가제에 대해 설명한다.Hereinafter, (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, (C) an inorganic filler, and an additive that can be used as a material of the resin composition will be described.

<(A) 에폭시 수지><(A) Epoxy resin>

수지 조성물은 (A) 에폭시 수지를 포함한다. (A) 에폭시 수지로서는, 예를 들면, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨노볼락형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 선형 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 트리메틸올형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 에폭시 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. (A) 성분은 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 및 비페닐형 에폭시 수지로부터 선택되는 1종 이상인 것이 바람직하다.The resin composition contains (A) an epoxy resin. (A) Examples of the epoxy resin include bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, bisphenol S epoxy resin, bisphenol AF epoxy resin, dicyclopentadiene epoxy resin, trisphenol epoxy resin, and naphthol. Novolak type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester type Epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, butadiene structure epoxy resin, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring-containing epoxy resin, cyclohexanedimethanol type epoxy Resin, a naphthylene ether type epoxy resin, a trimethylol type epoxy resin, a tetraphenylethane type epoxy resin, etc. are mentioned. An epoxy resin may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type. It is preferable that (A) component is 1 or more types chosen from a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, and a biphenyl type epoxy resin.

에폭시 수지는 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 포함하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우에, 적어도 50질량% 이상은 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지인 것이 바람직하다. 또한, 에폭시 수지는 수지 조성물층의 변형 5deg의 용융 점도를 낮추어 매립성을 양호하게 한다는 관점에서, 온도 20℃에서 액상의 에폭시 수지(이하 「액상 에폭시 수지」라고 함)를 포함하는 것이 바람직하다. 그중에서도, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖고 액상인 에폭시 수지와, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖고 온도 20℃에서 고체상인 에폭시 수지(이하 「고체상 에폭시 수지」라고 함)를 포함하는 것이 보다 바람직하다. 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용함으로써, 뛰어난 가요성을 갖는 수지 조성물층이 수득된다. 또한, 수지 조성물층의 경화물의 파단 강도도 향상된다.It is preferable that the epoxy resin contains the epoxy resin which has two or more epoxy groups in 1 molecule. When the nonvolatile component of an epoxy resin is 100 mass %, it is preferable that at least 50 mass % or more is an epoxy resin which has two or more epoxy groups in 1 molecule. In addition, the epoxy resin preferably contains a liquid epoxy resin (hereinafter referred to as "liquid epoxy resin") at a temperature of 20 ° C. from the viewpoint of lowering the melt viscosity of deformation 5deg of the resin composition layer to improve embedding properties. Among them, it is more preferable to include a liquid epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule, and an epoxy resin having three or more epoxy groups in one molecule and being solid at a temperature of 20°C (hereinafter referred to as “solid epoxy resin”). do. As an epoxy resin, the resin composition layer which has outstanding flexibility is obtained by using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin together. Moreover, the breaking strength of the hardened|cured material of a resin composition layer also improves.

액상 에폭시 수지로서는, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 및 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지가 바람직하고, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지 및 나프탈렌형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 액상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC(주) 제조의 「HP4032」, 「HP4032D」, 「HP4032SS」(나프탈렌형 에폭시 수지), 미츠비시카가쿠(주) 제조의 「828US」, 「jER828EL」(비스페놀 A형 에폭시 수지), 「jER807」(비스페놀 F형 에폭시 수지), 「jER152」(페놀노볼락형 에폭시 수지), 「YL7760」(비스페놀 AF형 에폭시 수지), 「630」, 「630LSD」(글리시딜아민형 에폭시 수지), 신닛테츠스미킨카가쿠(주) 제조의 「ZX1059」(비스페놀 A형 에폭시 수지와 비스페놀 F형 에폭시 수지의 혼합품), 신닛테츠스미킨카가쿠(주) 제조 「YD-8125G」(비스페놀 A형 에폭시 수지), 나가세켐텍스(주) 제조의 「EX-721」(글리시딜에스테르형 에폭시 수지), (주)다이셀 제조의 「세록시사이드 2021P」(에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지), 「PB-3600」(부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지), 신닛테츠 카가쿠(주) 제조의 「ZX1658」, 「ZX1658GS」(액상 1,4-글리시딜사이클로헥산), 미츠비시카가쿠(주) 제조의 「630LSD」(글리시딜아민형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Examples of the liquid epoxy resin include bisphenol A epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin , an alicyclic epoxy resin having an ester skeleton, a cyclohexanedimethanol type epoxy resin, a glycidylamine type epoxy resin, and an epoxy resin having a butadiene structure are preferable, and a glycidylamine type epoxy resin, a bisphenol A type epoxy resin , a bisphenol F-type epoxy resin, a bisphenol AF-type epoxy resin, and a naphthalene-type epoxy resin are more preferable. As a specific example of a liquid epoxy resin, "HP4032", "HP4032D", "HP4032SS" (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation, "828US" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., "jER828EL" (bisphenol A type) Epoxy resin), "jER807" (bisphenol F type epoxy resin), "jER152" (phenol novolak type epoxy resin), "YL7760" (bisphenol AF type epoxy resin), "630", "630LSD" (glycidylamine type epoxy resin), "ZX1059" (mixture of bisphenol A epoxy resin and bisphenol F epoxy resin) manufactured by Shin-Nippon Chemicals Co., Ltd., "YD-8125G" manufactured by Nippon-Nippon Chemicals Co., Ltd. ( Bisphenol A type epoxy resin), "EX-721" (glycidyl ester type epoxy resin) manufactured by Nagase Chemtex Co., Ltd., "Ceroxide 2021P" manufactured by Daicel Co., Ltd. (alicyclic having an ester skeleton) Epoxy resin), "PB-3600" (epoxy resin having a butadiene structure), "ZX1658", "ZX1658GS" (liquid 1,4-glycidylcyclohexane) manufactured by Shin-Nitetsu Chemical Co., Ltd., Mitsubishi Chemical "630LSD" (a glycidylamine type epoxy resin) manufactured by Co., Ltd., etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

고체상 에폭시 수지로서는, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지가 바람직하고, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 및 비페닐형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 고체상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC(주) 제조의 「HP4032H」(나프탈렌형 에폭시 수지), 「HP-4700」, 「HP-4710」(나프탈렌형 4관능 에폭시 수지), 「N-690」(크레졸노볼락형 에폭시 수지), 「N-695」(크레졸노볼락형 에폭시 수지), 「HP-7200」, 「HP-7200HH」, 「HP-7200H」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지), 「EXA-7311」, 「EXA-7311-G3」, 「EXA-7311-G4」, 「EXA-7311-G4S」, 「HP6000」(나프틸렌에테르형 에폭시 수지), 니혼카야쿠(주) 제조의 「EPPN-502H」(트리스페놀형 에폭시 수지), 「NC7000L」(나프톨노볼락형 에폭시 수지), 「NC3000H」, 「NC3000」, 「NC3000L」, 「NC3100」(비페닐형 에폭시 수지), 신닛테츠스미킨카가쿠(주) 제조의 「ESN475V」(나프탈렌형 에폭시 수지), 「ESN485」(나프톨노볼락형 에폭시 수지), 미츠비시카가쿠(주) 제조의 「YX4000H」, 「YL6121」(비페닐형 에폭시 수지), 「YX4000HK」(비크실레놀형 에폭시 수지), 「YX8800」(안트라센형 에폭시 수지), 오사카가스케미컬(주) 제조의 「PG-100」, 「CG-500」, 미츠비시카가쿠(주) 제조의 「YL7800」(플루오렌형 에폭시 수지), 미츠비시카가쿠(주) 제조의 「jER1010」(고체상 비스페놀 A형 에폭시 수지), 「jER1031S」(테트라페닐에탄형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들 중, 단독으로는 고체상이지만, 수지 조성물을 조제할 때에 다른 성분과 혼합하면 액상이 되기 쉽고, 수지 조성물층의 변형 5deg의 용융 점도를 낮춰서 매립성을 양호한 것으로 한다는 관점에서, 미츠비시카가쿠(주) 제조의 「YX4000HK」(비크실레놀형 에폭시 수지) 등이 바람직하다.Examples of the solid-state epoxy resin include a naphthalene-type tetrafunctional epoxy resin, a cresol novolak-type epoxy resin, a dicyclopentadiene-type epoxy resin, a trisphenol-type epoxy resin, a naphthol-type epoxy resin, a biphenyl-type epoxy resin, and a naphthylene ether-type epoxy resin. , anthracene-type epoxy resins, bisphenol A-type epoxy resins, and tetraphenylethane-type epoxy resins are preferable, and naphthalene-type tetrafunctional epoxy resins, naphthol-type epoxy resins, and biphenyl-type epoxy resins are more preferable. As a specific example of a solid-state epoxy resin, "HP4032H" (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation, "HP-4700", "HP-4710" (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin), "N-690" (cresol) Novolac type epoxy resin), "N-695" (cresol novolak type epoxy resin), "HP-7200", "HP-7200HH", "HP-7200H" (dicyclopentadiene type epoxy resin), "EXA" -7311", "EXA-7311-G3", "EXA-7311-G4", "EXA-7311-G4S", "HP6000" (naphthylene ether type epoxy resin), "EPPN" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. -502H" (trisphenol-type epoxy resin), "NC7000L" (naphthol novolac-type epoxy resin), "NC3000H", "NC3000", "NC3000L", "NC3100" (biphenyl-type epoxy resin), New Nittetsu Sumikinka "ESN475V" (naphthalene-type epoxy resin), "ESN485" (naphthol novolak-type epoxy resin) manufactured by Chemical Corporation, "YX4000H", "YL6121" (biphenyl-type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. , "YX4000HK" (bixylenol type epoxy resin), "YX8800" (anthracene type epoxy resin), "PG-100", "CG-500" manufactured by Osaka Chemical Co., Ltd., manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. "YL7800" (fluorene type epoxy resin), "jER1010" (solid bisphenol A type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., "jER1031S" (tetraphenylethane type epoxy resin), etc. are mentioned. Among these, it is solid by itself, but becomes liquid easily when mixed with other components when preparing the resin composition, and from the viewpoint of lowering the melt viscosity of the deformation 5deg of the resin composition layer and making the embedding property good, Mitsubishi Chemical Co., Ltd. ) manufactured "YX4000HK" (bixylenol type epoxy resin), etc. are preferable.

액상 에폭시 수지로서는 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖고 온도 20℃에서 액상인 방향족계 에폭시 수지가 바람직하고, 고체상 에폭시 수지로서는 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖고 온도 20℃에서 고체상인 방향족계 에폭시 수지가 바람직하다. 또한, 본 발명에서 말하는 방향족계 에폭시 수지란, 그 분자 내에 방향환 구조를 갖는 에폭시 수지를 의미한다.The liquid epoxy resin is preferably an aromatic epoxy resin that has two or more epoxy groups in one molecule and is liquid at a temperature of 20°C, and as a solid epoxy resin, has three or more epoxy groups in one molecule and is solid at a temperature of 20°C. is preferable In addition, the aromatic epoxy resin as used in this invention means the epoxy resin which has an aromatic ring structure in the molecule|numerator.

에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용하는 경우, 이들의 양비(量比)(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 질량비로, 1:0.5 내지 1:25의 범위가 바람직하다. 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양비를 이러한 범위로 함으로써, i) 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에 적당한 점착성이 초래되고, ii) 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에 충분한 가요성을 얻을 수 있어, 취급성 향상되며, 또한 iii) 충분한 파단 강도를 갖는 경화물을 수득할 수 있는 등의 효과를 얻을 수 있다. 상기 i) 내지 iii)의 효과의 관점에서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양비(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 질량비로, 1:1.0 내지 1:20의 범위가 보다 바람직하고, 1:1.5 내지 1:15의 범위가 더욱 바람직하다.As an epoxy resin, when using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin together, these ratio (liquid epoxy resin:solid epoxy resin) is mass ratio, and the range of 1:0.5-1:25 is preferable. By setting the ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin to such a range, i) proper adhesion is brought about when used in the form of a resin sheet, and ii) sufficient flexibility can be obtained when used in the form of a resin sheet. , handling is improved, and iii) a cured product having sufficient breaking strength can be obtained. From the viewpoint of the effects of i) to iii) above, the amount ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin (liquid epoxy resin:solid epoxy resin) is, in terms of mass ratio, more preferably in the range of 1:1.0 to 1:20, 1 The range of :1.5 to 1:15 is more preferable.

수지 조성물 중의 에폭시 수지의 함유량은, 유전정접이 낮고, 절연 신뢰성을 나타내는 절연층을 수득하는 관점에서, 바람직하게는 5질량% 이상, 보다 바람직하게는 9질량% 이상, 더욱 바람직하게는 11질량% 이상이다. 에폭시 수지의 함유량의 상한은, 본 발명의 효과가 나타내는 한 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 50질량% 이하, 보다 바람직하게는 40질량% 이하이다.The content of the epoxy resin in the resin composition is preferably 5 mass% or more, more preferably 9 mass% or more, still more preferably 11 mass% from the viewpoint of obtaining an insulating layer having a low dielectric loss tangent and exhibiting insulation reliability. More than that. Although the upper limit of content of an epoxy resin is not specifically limited as long as the effect of this invention shows, Preferably it is 50 mass % or less, More preferably, it is 40 mass % or less.

또한, 본 발명에 있어서, 수지 조성물 중의 각 성분의 함유량은, 별도 명시가 없는 한, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 했을 때의 값이다.In addition, in this invention, unless otherwise indicated, content of each component in a resin composition is a value when the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %.

에폭시 수지의 에폭시 당량은, 바람직하게는 50 내지 5000, 보다 바람직하게는 50 내지 3000, 더욱 바람직하게는 80 내지 2000, 보다 더 바람직하게는 110 내지 1000이다. 이 범위가 됨으로써, 수지 조성물층의 경화물의 가교 밀도가 충분해져 표면 조도가 작은 절연층을 초래할 수 있다. 또한, 에폭시 당량은 JIS K7236에 따라 측정할 수 있으며, 1당량의 에폭시기를 포함하는 수지의 질량이다.The epoxy equivalent of an epoxy resin becomes like this. Preferably it is 50-5000, More preferably, it is 50-3000, More preferably, it is 80-2000, More preferably, it is 110-1000. By being in this range, the crosslinking density of the hardened|cured material of a resin composition layer becomes sufficient, and the insulating layer with small surface roughness can be brought about. In addition, an epoxy equivalent can be measured according to JISK7236, It is the mass of resin containing 1 equivalent of an epoxy group.

에폭시 수지의 중량 평균 분자량은, 바람직하게는 100 내지 5000, 보다 바람직하게는 250 내지 3000, 더욱 바람직하게는 400 내지 1500이다. 여기서, 에폭시 수지의 중량 평균 분자량은 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법에 의해 측정되는 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량이다.The weight average molecular weight of an epoxy resin becomes like this. Preferably it is 100-5000, More preferably, it is 250-3000, More preferably, it is 400-1500. Here, the weight average molecular weight of an epoxy resin is the weight average molecular weight of polystyrene conversion measured by the gel permeation chromatography (GPC) method.

<(B) 경화제><(B) curing agent>

수지 조성물은 (B) 경화제를 포함한다. 경화제로서는 에폭시 수지를 경화하는 기능을 갖는 것이면 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제, 및 카보디이미드계 경화제 등을 들 수 있다. 경화제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다.The resin composition contains (B) a curing agent. The curing agent is not particularly limited as long as it has a function of curing the epoxy resin, and for example, a phenol-based curing agent, a naphthol-based curing agent, an active ester-based curing agent, a benzoxazine-based curing agent, a cyanate ester-based curing agent, and a carbodiimide-based curing agent and the like. A hardening|curing agent may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제로서는, 내열성 및 내수성의 관점에서, 노 볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제, 또는 노볼락 구조를 갖는 나프톨계 경화제가 바람직하다. 또한 도체층과의 밀착성의 관점에서, 함질소 페놀계 경화제가 바람직하고, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 보다 바람직하다. 그중에서도, 내열성, 내수성, 및 도체층과의 밀착성을 고도로 만족시키는 관점에서, 트리아진 골격 함유 페놀노볼락 경화제가 바람직하다.As the phenol-based curing agent and the naphthol-based curing agent, a phenol-based curing agent having a novolak structure or a naphthol-based curing agent having a novolak structure is preferable from the viewpoint of heat resistance and water resistance. Moreover, from a viewpoint of adhesiveness with a conductor layer, a nitrogen-containing phenolic hardening|curing agent is preferable, and a triazine skeleton containing phenolic hardening|curing agent is more preferable. Among them, a triazine skeleton-containing phenol novolac curing agent is preferable from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesion to the conductor layer.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제의 구체예로서는, 예를 들면, 메이와카세이(주) 제조의 「MEH-7700」, 「MEH-7810」, 「MEH-7851」, 니혼카야쿠(주) 제조의 「NHN」, 「CBN」, 「GPH」, 신닛테츠스미킨(주) 제조의 「SN170」, 「SN180」, 「SN190」, 「SN475」, 「SN485」, 「SN495」, 「SN-495V」, 「SN375」, 「SN395」, DIC(주) 제조의 「TD-2090」, 「LA-7052」, 「LA-7054」, 「LA-1356」, 「LA-3018-50P」, 「EXB-9500」 등을 들 수 있다.As a specific example of a phenol type hardening|curing agent and a naphthol type hardening|curing agent, For example, Meiwakasei Co., Ltd. product "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851", Nihon Kayaku Co., Ltd. product " NHN", "CBN", "GPH", "SN170", "SN180", "SN190", "SN475", "SN485", "SN495", "SN-495V" manufactured by Shin-Nittetsu Sumikin Co., Ltd. "SN375", "SN395", "TD-2090", "LA-7052", "LA-7054", "LA-1356", "LA-3018-50P", "EXB-9500" manufactured by DIC Corporation ' and the like.

활성 에스테르계 경화제로서는 특별히 제한은 없지만, 일반적으로 페놀에스테르류, 티오페놀에스테르류, N-하이드록시아민에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 사용된다. 당해 활성 에스테르계 경화제는 카복실산 화합물 및/또는 티올카복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물의 축합 반응에 의해 수득되는 것이 바람직하다. 특히 내열성 향상의 관점에서, 카복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 수득되는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하고, 카복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 수득되는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다. 카복실산 화합물로서는, 예를 들면, 벤조산, 아세트산, 석신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리산 등을 들 수 있다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 예를 들면, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀 A, 메틸화 비스페놀 F, 메틸화 비스페놀 S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물, 페놀노볼락 등을 들 수 있다. 여기서 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물」이란, 디사이클로펜타디엔 1분자에 페놀 2분자가 축합하여 수득되는 디페놀 화합물을 말한다.Although there is no restriction|limiting in particular as an active ester-type hardening|curing agent, Generally, ester groups with high reaction activity, such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and heterocyclic hydroxy compound esters, are two per molecule. The compounds having the above are preferably used. The active ester curing agent is preferably obtained by a condensation reaction of a carboxylic acid compound and/or a thiolcarboxylic acid compound with a hydroxy compound and/or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound, a phenol compound and/or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellic acid. Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthaline, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m- Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucin, benzenetriol, dicyclopentadiene type diphenol compound, phenol novolac, etc. are mentioned. Here, the "dicyclopentadiene-type diphenol compound" refers to a diphenol compound obtained by condensing two molecules of phenol to one molecule of dicyclopentadiene.

구체적으로는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물이 바람직하고, 그중에서도, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물이 보다 바람직하다. 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조」란, 페닐렌-디사이클로펜틸렌-페닐렌으로 이루어진 2가의 구조 단위를 나타낸다.Specifically, an active ester compound containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure, an active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, and a benzoyl product of phenol novolac. An active ester compound is preferable, and among these, the active ester compound containing a naphthalene structure, and the active ester compound containing a dicyclopentadiene type diphenol structure are more preferable. The "dicyclopentadiene type diphenol structure" represents a divalent structural unit consisting of phenylene-dicyclopentylene-phenylene.

활성 에스테르계 경화제의 시판품으로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서, 「EXB9451」, 「EXB9460」, 「EXB9460S」, 「HPC-8000-65T」, 「HPC-8000H-65TM」, 「EXB-8000L-65TM」(DIC(주) 제조), 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「EXB9416-70BK」(DIC(주) 제조), 페놀노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「DC808」(미츠비시카가쿠(주) 제조), 페놀노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「YLH1026」(미츠비시카가쿠(주) 제조), 페놀노볼락의 아세틸화물인 활성 에스테르계 경화제로서 「DC808」(미츠비시카가쿠(주) 제조), 페놀노볼락의 벤조일화물인 활성 에스테르계 경화제로서 「YLH1026」(미츠비시카가쿠(주) 제조), 「YLH1030」(미츠비시카가쿠(주) 제조), 「YLH1048」(미츠비시카가쿠(주) 제조) 등을 들 수 있다.Commercially available active ester curing agents are active ester compounds containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure, such as "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", "HPC-8000-65T", "HPC-8000H-65TM" ', "EXB-8000L-65TM" (manufactured by DIC Corporation), "EXB9416-70BK" (manufactured by DIC Corporation) as an active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester containing an acetylated product of phenol novolac "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as a compound, "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as an active ester compound containing a benzoyl product of phenol novolac, an active ester that is an acetylated product of phenol novolac “DC808” (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as a curing agent, “YLH1026” (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) and “YLH1030” (Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as an active ester curing agent that is a benzoyl product of phenol novolac. ), "YLH1048" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), and the like.

벤조옥사진계 경화제의 구체예로서는, 쇼와고분시(주) 제조의 「HFB2006M」, 시코쿠카세이코교(주) 제조의 「P-d」, 「F-a」를 들 수 있다.As a specific example of a benzoxazine type hardening|curing agent, "HFB2006M" by Showa Kobunshi Co., Ltd., "P-d" by Shikoku Chemical Co., Ltd., and "F-a" are mentioned.

시아네이트에스테르계 경화제로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 디시아네이트, 폴리페놀시아네이트, 올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀 A 디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 및 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지, 페놀노볼락 및 크레졸노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화된 프리폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트에스테르계 경화제의 구체예로서는, 론자재팬(주) 제조의 「PT30」 및 「PT60」(페놀노볼락형 다관능 시아네이트에스테르 수지), 「ULL-950S」(다관능 시아네이트에스테르 수지), 「BA230」, 「BA230S75」(비스페놀 A 디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진되어 삼량체가 된 프리폴리머) 등을 들 수 있다.Examples of the cyanate ester curing agent include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate, oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), and 4,4'-methylenebis (2,6- Dimethylphenyl cyanate), 4,4'-ethylidenediphenyldicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis(4-cyanate)phenylpropane, 1,1-bis(4- Cyanatephenylmethane), bis(4-cyanate-3,5-dimethylphenyl)methane, 1,3-bis(4-cyanatephenyl-1-(methylethylidene))benzene, bis(4-cya Bifunctional cyanate resins such as natephenyl)thioether and bis(4-cyanatephenyl)ether, polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolac and cresol novolak, etc., in which these cyanate resins are partially triazined A prepolymer etc. are mentioned. As a specific example of a cyanate ester type hardening|curing agent, "PT30" and "PT60" (phenol novolak type polyfunctional cyanate ester resin) manufactured by Ron Japan Co., Ltd., "ULL-950S" (polyfunctional cyanate ester resin), "BA230", "BA230S75" (a prepolymer in which a part or all of bisphenol A dicyanate was triazined and became a trimer) etc. are mentioned.

카보디이미드계 경화제의 구체예로서는, 닛신보케미컬(주) 제조의 「V-03」, 「V-07」 등을 들 수 있다.As a specific example of a carbodiimide type hardening|curing agent, "V-03", "V-07" by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., etc. are mentioned.

(B) 성분으로서는, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제 및 시아네이트에스테르계 경화제로부터 선택되는 1종 이상인 것이 바람직하다. 또한, 변형 5deg의 용융 점도를 낮춰서, 매립성을 양호하게 할 수 있다는 관점에서, 경화제로서는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다.(B) As a component, it is preferable that it is 1 or more types chosen from a phenol-type hardening|curing agent, a naphthol-type hardening|curing agent, an active ester-type hardening|curing agent, and a cyanate ester-type hardening|curing agent. In addition, the active ester curing agent is more preferable as the curing agent from the viewpoint of lowering the melt viscosity of the modified 5deg to improve embedding properties.

에폭시 수지와 경화제의 양비는, [에폭시 수지의 에폭시기의 합계 수]:[경화제의 반응기의 합계 수]의 비율로, 1:0.01 내지 1:2의 범위가 바람직하고, 1:0.015 내지 1:1.5가 보다 바람직하고, 1:0.02 내지 1:1이 더욱 바람직하다. 여기서, 경화제의 반응기란, 활성 수산기, 활성 에스테르기 등이고, 경화제의 종류에 따라 상이하다. 또한 에폭시 수지의 에폭시기의 합계 수란, 각 에폭시 수지의 고형분 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 모든 에폭시 수지에 대해 합계한 값이고, 경화제의 반응기의 합계 수란, 각 경화제의 고형분 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 모든 경화제에 대해 합계한 값이다. 에폭시 수지와 경화제와의 양비를 이러한 범위로 함으로써, 수지 조성물층의 경화물의 내열성이 보다 향상된다.The amount ratio of the epoxy resin and the curing agent is a ratio of [the total number of epoxy groups in the epoxy resin]: [the total number of reactive groups in the curing agent], preferably in the range of 1:0.01 to 1:2, and 1:0.015 to 1:1.5 is more preferable, and 1:0.02 to 1:1 is still more preferable. Here, the reactive group of a hardening|curing agent is an active hydroxyl group, an active ester group, etc., and it changes with the kind of hardening|curing agent. In addition, the total number of epoxy groups of the epoxy resin is the value obtained by dividing the solid content mass of each epoxy resin by the epoxy equivalent for all epoxy resins, and the total number of reactive groups of the curing agent is a value obtained by dividing the solid content mass of each curing agent by the reactor equivalent is the sum of all curing agents. By making the ratio of an epoxy resin and a hardening|curing agent into such a range, the heat resistance of the hardened|cured material of a resin composition layer improves more.

수지 조성물 중의 경화제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 바람직하게는 25질량% 이하, 더욱 바람직하게는 20질량% 이하이다. 또한, 하한은 특별히 제한은 없지만 2질량% 이상이 바람직하다.Although content of the hardening|curing agent in a resin composition is not specifically limited, Preferably it is 30 mass % or less, More preferably, it is 25 mass % or less, More preferably, it is 20 mass % or less. Moreover, although there is no restriction|limiting in particular as for a minimum, 2 mass % or more is preferable.

<(C) 무기 충전재><(C) Inorganic filler>

수지 조성물은 (C) 무기 충전재를 포함한다. 무기 충전재의 재료는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 실리카, 알루미나, 유리, 코디어라이트, 실리콘 산화물, 황산바륨, 탄산바륨, 탈크, 클레이, 운모분(粉), 산화아연, 하이드로탈사이트, 뵈마이트, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 산화마그네슘, 질화붕소, 질화알루미늄, 질화망간, 붕산알루미늄, 탄산스트론튬, 티탄산스트론튬, 티탄산칼슘, 티탄산마그네슘, 티탄산비스무트, 산화티탄, 산화지르코늄, 티탄산바륨, 티탄산지르콘산바륨, 지르콘산바륨, 지르콘산칼슘, 인산지르코늄, 및 인산텅스텐산지르코늄 등을 들 수 있다. 이들 중에서도 실리카가 특히 적합하다. 실리카로서는, 예를 들면, 무정형 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카 등을 들 수 있다. 또한 실리카로서는 구상 실리카가 바람직하다. 무기 충전재는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.The resin composition contains (C) an inorganic filler. Although the material of the inorganic filler is not particularly limited, for example, silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, Boehmite, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide , barium titanate, barium zirconate titanate, barium zirconate, calcium zirconate, zirconium phosphate, and zirconium tungsten phosphate. Among these, silica is particularly suitable. Examples of the silica include amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, and hollow silica. Moreover, as a silica, spherical silica is preferable. An inorganic filler may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

무기 충전재의 평균 입자 직경은, 무기 충전재를 고충전시킨 경우의, 박막 절연성을 향상시키는 동시에, 수지 조성물층의, 변형 1deg에서의 최저 용융 점도를 상승시켜 평탄도를 높인다는 관점에서, 0.35㎛ 이하가 바람직하고, 0.32㎛ 이하가 보다 바람직하고, 0.3㎛ 이하가 더욱 바람직하고, 0.29㎛ 이하가 보다 더 바람직하다. 당해 평균 입자 직경의 하한은, 수지 조성물층 중의 분산성을 향상시킨다는 관점에서, 0.05㎛ 이상이 바람직하고, 0.06㎛ 이상이 보다 바람직하고, 0.065㎛ 이상이 더욱 바람직하다. 이러한 평균 입자 직경을 갖는 무기 충전재의 시판품으로서는, 예를 들면, 덴키카가쿠코교(주) 제조 「UFP-30」, 「UFP-40」, 신닛테츠스미킨머티리얼즈(주) 제조 「SPH516-05」 등을 들 수 있다.The average particle diameter of the inorganic filler is 0.35 µm or less from the viewpoint of improving the thin film insulation when the inorganic filler is highly filled, and increasing the minimum melt viscosity in deformation 1deg of the resin composition layer to increase the flatness. is preferably 0.32 µm or less, still more preferably 0.3 µm or less, and still more preferably 0.29 µm or less. From the viewpoint of improving the dispersibility in the resin composition layer, the lower limit of the average particle diameter is preferably 0.05 µm or more, more preferably 0.06 µm or more, and still more preferably 0.065 µm or more. As a commercial item of the inorganic filler which has such an average particle diameter, For example, Denki Chemical Co., Ltd. product "UFP-30", "UFP-40", Shin-Nittetsu Sumikin Materials Co., Ltd. product "SPH516-05" ' and the like.

무기 충전재의 평균 입자 직경은 미(Mie) 산란 이론에 기초한 레이저 회절ㆍ산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치에 의해 무기 충전재의 입도 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 중간 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재를 초음파에 의해 메틸에틸케톤 중에 분산시킨 것을 바람직하게 사용할 수 있다. 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치로서는, (주)시마즈세이사쿠쇼 제조 「SALD-2200」 등을 사용할 수 있다.The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction/scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, it can measure by creating the particle size distribution of an inorganic filler on a volume basis with a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring apparatus, and making the intermediate diameter into an average particle diameter. As a measurement sample, what disperse|distributed the inorganic filler in methyl ethyl ketone by ultrasonication can be used preferably. As a laser diffraction scattering type particle size distribution analyzer, Shimadzu Corporation "SALD-2200" etc. can be used.

무기 충전재의 비표면적은, 수지 조성물층의, 변형 5deg에서의 최저 용융 점도를 낮게 하는 관점에서, 바람직하게는 45㎡/g 이하, 보다 바람직하게는 43㎡/g 이하, 더욱 바람직하게는 41㎡/g 이하이다. 상기 비표면적의 하한은, 수지 조성물층의 적절한 점탄성 유지라는 관점에서, 바람직하게는 1㎡/g 이상, 보다 바람직하게는 2㎡/g 이상, 더욱 바람직하게는 5㎡/g 이상이다. 비표면적은 예를 들면, BET 전자동 비표면적 측정 장치((주)마운텍 제조, Macsorb HM-1210)를 사용하여 측정할 수 있다.The specific surface area of the inorganic filler is preferably 45 m 2 /g or less, more preferably 43 m 2 /g or less, still more preferably 41 m 2 , from the viewpoint of lowering the minimum melt viscosity of the resin composition layer at strain 5deg. /g or less. The lower limit of the specific surface area is preferably 1 m 2 /g or more, more preferably 2 m 2 /g or more, still more preferably 5 m 2 /g or more from the viewpoint of maintaining the appropriate viscoelasticity of the resin composition layer. The specific surface area can be measured using, for example, a BET fully automatic specific surface area measuring device (manufactured by Mountec Co., Ltd., Macsorb HM-1210).

무기 충전재의 진밀도(眞密度)는, 수지 조성물층 중의 분산성 향상이라는 관점에서, 바람직하게는 15g/㎤ 이하, 보다 바람직하게는 10g/㎤ 이하, 더욱 바람직하게는 5g/㎤ 이하이다. 상기 진밀도의 하한은, 바람직하게는 1g/㎤ 이상, 보다 바람직하게는 1.5g/㎤ 이상, 더욱 바람직하게는 2.0g/㎤ 이상이다. 진밀도는 예를 들면, 마이크로ㆍ울트라피크노미터(콴타크롬ㆍ인스트루먼트ㆍ재팬 제조, MUPY-21T)를 사용하여 측정할 수 있다.From the viewpoint of improving the dispersibility in the resin composition layer, the true density of the inorganic filler is preferably 15 g/cm 3 or less, more preferably 10 g/cm 3 or less, and still more preferably 5 g/cm 3 or less. The lower limit of the said true density becomes like this. Preferably it is 1 g/cm<3> or more, More preferably, it is 1.5 g/cm<3> or more, More preferably, it is 2.0 g/cm<3> or more. True density can be measured using, for example, a micro-ultrapicnometer (manufactured by Quantachrome Instruments Japan, MUPY-21T).

무기 충전재는, 내습성 및 분산성을 높이는 관점에서, 실란 커플링제, 알콕시 실란 화합물, 및 오가노실라잔 화합물 등의 적어도 1종 이상의 표면 처리제로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하다. 이들은 올리고머라도 좋다. 표면 처리제의 예로서는, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플 링제 등의 실란계 커플링제, 알콕시실란 화합물, 오가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등을 들 수 있다. 표면 처리제의 시판품으로서는, 예를 들면, 신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM573」(N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란), 신에츠카가쿠코교(주) 제조 「SZ-31」(헥사메틸디실라잔), 신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM103」(페닐트리메톡시실란), 신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM-4803」(장쇄 에폭시형 실란 커플링제) 등을 들 수 있다. 표면 처리제는 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.It is preferable that the inorganic filler is surface-treated with at least 1 or more types of surface treatment agents, such as a silane coupling agent, an alkoxysilane compound, and an organosilazane compound, from a viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility. These may be oligomers. Examples of the surface treatment agent include aminosilane coupling agents, epoxysilane coupling agents, silane coupling agents such as mercaptosilane coupling agents, alkoxysilane compounds, organosilazane compounds, titanate coupling agents, and the like. As a commercial item of a surface treatment agent, For example, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM403" (3-glycidoxypropyl trimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. product "KBM803" (3-mercapto) Propyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBE903" (3-aminopropyltriethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM573" (N-phenyl-3-aminopropyltri methoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "SZ-31" (hexamethyldisilazane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM103" (phenyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. ( Note) manufactured "KBM-4803" (long-chain epoxy type silane coupling agent) etc. are mentioned. A surface treating agent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 단위 면적당의 카본량에 의해 평가할 수 있다. 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02㎎/㎡ 이상이 바람직하고, 0.1㎎/㎡ 이상이 보다 바람직하고, 0.15㎎/㎡ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 바니시의 용융 점도 및 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 억제하는 관점에서, 1㎎/㎡ 이하가 바람직하고, 0.8㎎/㎡ 이하가 보다 바람직하고, 0.5㎎/㎡ 이하가 더욱 바람직하다.The grade of the surface treatment by a surface treating agent can be evaluated by the amount of carbon per unit area of an inorganic filler. From the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 0.02 mg/m 2 or more, more preferably 0.1 mg/m 2 or more, and still more preferably 0.15 mg/m 2 or more. On the other hand, from the viewpoint of suppressing an increase in the melt viscosity of the resin varnish and the melt viscosity in the sheet form, 1 mg/m 2 or less is preferable, 0.8 mg/m 2 or less is more preferable, and 0.5 mg/m 2 or less is still more preferable. .

무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 표면 처리 후의 무기 충전재를 용제(예를 들면, 메틸에틸케톤(MEK))에 의해 세정 처리한 후에 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 첨가하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 사용하여 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는 (주)호리바세이사쿠쇼 제조 「EMIA-320V」 등을 사용할 수 있다.The amount of carbon per unit surface area of an inorganic filler can be measured, after washing-processing the inorganic filler after surface treatment with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, MEK in a sufficient amount as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent, followed by ultrasonic cleaning at 25°C for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solid content, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As a carbon analyzer, "EMIA-320V" by Horiba Seisakusho Co., Ltd. etc. can be used.

수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량(충전량)은 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 했을 때, 50질량% 이상이다. 수지 조성물층의 두께 안정성을 향상시키고, 리플로우 휨을 억제하는 관점에서, 무기 충전재의 함유량은 55질량% 이상이 바람직하고, 60질량% 이상이 보다 바람직하다. 수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량의 상한은, 박막 절연성의 향상이라는 관점에서, 바람직하게는 85질량% 이하, 보다 바람직하게는 80질량% 이하이다.When content (filling amount) of the inorganic filler in a resin composition makes the nonvolatile component in a resin composition 100 mass %, it is 50 mass % or more. From a viewpoint of improving the thickness stability of a resin composition layer and suppressing reflow curvature, 55 mass % or more is preferable and, as for content of an inorganic filler, 60 mass % or more is more preferable. The upper limit of content of the inorganic filler in a resin composition becomes like this from a viewpoint of the improvement of thin film insulation, Preferably it is 85 mass % or less, More preferably, it is 80 mass % or less.

<(D) 열가소성 수지><(D) Thermoplastic resin>

본 발명의 수지 시트는 추가로 (D) 열가소성 수지를 함유하고 있어도 좋다. 이에 의해 변형 1deg의 용융 점도를 올려서 평탄성을 조정하기 쉽게 할 수 있다.The resin sheet of the present invention may further contain (D) a thermoplastic resin. Thereby, it is possible to increase the melt viscosity of the deformation 1deg to make it easier to adjust the flatness.

열가소성 수지로서는, 예를 들면, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리올레핀 수지, 폴리부타디엔 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르이미드 수지, 폴리설폰 수지, 폴리에테르설폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지를 들 수 있으며, 페녹시 수지가 바람직하다. 열가소성 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polybutadiene resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene. Ether resin, polycarbonate resin, polyether ether ketone resin, and polyester resin are mentioned, A phenoxy resin is preferable. A thermoplastic resin may be used individually by 1 type, or may be used in combination of 2 or more type.

열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은 8,000 내지 70,000의 범위가 바람직하고, 10,000 내지 60,000의 범위가 보다 바람직하고, 20,000 내지 60,000의 범위가 더욱 바람직하다. 열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법으로 측정된다. 구체적으로는, 열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은, 측정 장치로서 (주)시마즈 세이사쿠쇼 제조 LC-9A/RID-6A를, 컬럼으로서 쇼와 덴코(주) 제조 Shodex K-800P/K-804L/K-804L을, 이동상으로서 클로로포름 등을 사용하여 컬럼 온도를 40℃로 측정하고, 표준 폴리스티렌의 검량선을 사용하여 산출할 수 있다.The range of 8,000-70,000 is preferable, as for the weight average molecular weight of polystyrene conversion of a thermoplastic resin, the range of 10,000-60,000 is more preferable, The range of 20,000-60,000 is still more preferable. The weight average molecular weight in terms of polystyrene of the thermoplastic resin is measured by a gel permeation chromatography (GPC) method. Specifically, the weight average molecular weight of the thermoplastic resin in terms of polystyrene is LC-9A/RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device and Shodex K-800P/K manufactured by Showa Denko Corporation as a column. -804L/K-804L can be calculated using a standard polystyrene calibration curve by measuring the column temperature at 40°C using chloroform or the like as a mobile phase.

페녹시 수지로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 골격, 비스페놀 F 골격, 비스페놀 S 골격, 비스페놀아세토페논 골격, 노볼락 골격, 비페닐 골격, 플루오렌 골격, 디사이클로펜타디엔 골격, 노보넨 골격, 나프탈렌 골격, 안트라센 골격, 아다만탄 골격, 테르펜 골격, 및 트리메틸사이클로헥산 골격으로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 골격을 갖는 페녹시 수지를 들 수 있다. 페녹시 수지의 말단은 페놀성 수산기, 에폭시기 등 중 어느 하나의 관능기라도 좋다. 페녹시 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 페녹시 수지의 구체예로서는, 미츠비시카가쿠(주) 제조의 「1256」 및 「4250」(모두 비스페놀 A 골격 함유 페녹시 수지), 「YX8100」(비스페놀 S 골격 함유 페녹시 수지), 및 「YX6954」(비스페놀아세토페논 골격 함유 페녹시 수지)를 들 수 있으며, 그 외에도 신닛테츠스미킨카가쿠(주) 제조의 「FX280」 및 「FX293」, 미츠비시카가쿠(주) 제조의 「YX6954BH30」, 「YX7553」, 「YX7553BH30」, 「YL7769BH30」, 「YL6794」, 「YL7213」, 「YL7290」및 「YL7482」 등을 들 수 있다.Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenolacetophenone skeleton, novolak skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton , an anthracene skeleton, an adamantane skeleton, a terpene skeleton, and a phenoxy resin having at least one skeleton selected from the group consisting of trimethylcyclohexane skeleton. Any one of functional groups, such as a phenolic hydroxyl group and an epoxy group, may be sufficient as the terminal of a phenoxy resin. A phenoxy resin may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type. As a specific example of a phenoxy resin, Mitsubishi Chemical Co., Ltd. product "1256" and "4250" (both bisphenol A skeleton containing phenoxy resin), "YX8100" (bisphenol S skeleton containing phenoxy resin), and "YX6954" (Bisphenol acetophenone skeleton-containing phenoxy resin), in addition, "FX280" and "FX293" manufactured by Shin-Nittetsu Chemical Co., Ltd., "YX6954BH30" and "YX7553" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. , "YX7553BH30", "YL7769BH30", "YL6794", "YL7213", "YL7290", "YL7482", etc. are mentioned.

폴리비닐아세탈 수지로서는, 예를 들면, 폴리비닐포르말 수지, 폴리비닐부티랄 수지를 들 수 있으며, 폴리비닐부티랄 수지가 바람직하다. 폴리비닐아세탈 수지의 구체예로서는, 예를 들면, 덴키카가쿠코교(주) 제조의 「전화(電化) 부티랄 4000-2」, 「전화 부티랄 5000-A」, 「전화 부티랄 6000-C」, 「전화 부티랄 6000-EP」, 세키스이카가쿠코교(주) 제조의 에스렉 BH 시리즈, BX 시리즈(예를 들면 BX-5Z), KS 시리즈(예를 들면 KS-1), BL 시리즈, BM 시리즈 등을 들 수 있다.As polyvinyl acetal resin, polyvinyl formal resin and polyvinyl butyral resin are mentioned, for example, Polyvinyl butyral resin is preferable. As a specific example of polyvinyl acetal resin, "Electron butyral 4000-2", "Electron Butyral 5000-A", and "Electron Butyral 6000-C" manufactured by Denki Chemical Co., Ltd. are, for example, polyvinyl acetal resin. , "Telephone Butyral 6000-EP", Sekisui Chemical Co., Ltd. S-Rec BH series, BX series (such as BX-5Z), KS series (such as KS-1), BL series, BM series and the like.

폴리이미드 수지의 구체예로서는, 신니혼리카(주) 제조의 「리카코트 SN20」 및 「리카코트 PN20」를 들 수 있다. 폴리이미드 수지의 구체예로서는 또한, 2관능성 하이드록실기 말단 폴리부타디엔, 디이소시아네이트 화합물 및 사염기산 무수물을 반응시켜 수득되는 선형 폴리이미드(일본 공개특허공보 특개2006-37083호에 기재된 폴리이미드), 폴리실록산 골격 함유 폴리이미드(일본 공개특허공보 특개2002-12667호 및 일본 공개특허공보 특개2000-319386호 등에 기재된 폴리이미드) 등의 변성 폴리이미드를 들 수 있다.As a specific example of polyimide resin, "Ricacoat SN20" and "Ricacoat PN20" by Shin-Nippon Rica Co., Ltd. are mentioned. As a specific example of the polyimide resin, furthermore, a linear polyimide obtained by reacting a difunctional hydroxyl-terminated polybutadiene, a diisocyanate compound, and a tetrabasic acid anhydride (a polyimide described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-37083); Modified polyimides, such as polysiloxane skeleton containing polyimide (the polyimide described in Unexamined-Japanese-Patent No. 2002-12667, Unexamined-Japanese-Patent No. 2000-319386, etc.) are mentioned.

폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는, 토요보세키(주) 제조의 「바이로막스 HR11NN」 및 「바이로막스 HR16N」를 들 수 있다. 폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는 또한 히타치카세이코교(주) 제조의 「KS9100」, 「KS9300」(폴리실록산 골격 함유 폴리아미드이미드) 등의 변성 폴리아미드이미드를 들 수 있다.As a specific example of polyamideimide resin, "Viromax HR11NN" and "Viromax HR16N" by Toyobo Seki Co., Ltd. are mentioned. Specific examples of the polyamideimide resin include modified polyamideimides such as "KS9100" and "KS9300" (polyamideimide containing polysiloxane skeleton) manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.

폴리에테르설폰 수지의 구체예로서는 스미토모카가쿠(주) 제조의 「PES5003P」 등을 들 수 있다.As a specific example of polyether sulfone resin, Sumitomo Chemical Co., Ltd. product "PES5003P" etc. are mentioned.

폴리설폰 수지의 구체예로서는 솔베이 어드밴스트 폴리머즈(주) 제조의 폴리설폰 「P1700」, 「P3500」 등을 들 수 있다.As a specific example of polysulfone resin, Solvay Advanced Polymers Co., Ltd. product polysulfone "P1700", "P3500", etc. are mentioned.

폴리페닐렌에테르 수지의 구체예로서는, 미츠비시가스카가쿠(주) 제조의 올리고페닐렌에테르ㆍ스티렌 수지 「OPE-2St1200」, 「OPE-2St2200」, SABIC 제조 「NORYL SA90」 등을 들 수 있다.As a specific example of polyphenylene ether resin, Mitsubishi Chemical Co., Ltd. oligophenylene ether styrene resin "OPE-2St1200", "OPE-2St2200", SABIC product "NORYL SA90", etc. are mentioned.

열가소성 수지로서는, 페녹시 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리비닐아세탈 수지가 바람직하다. 따라서 적합한 일 실시형태에 있어서, 열가소성 수지는 페녹시 수지, 폴리페닐렌에테르 수지 및 폴리비닐아세탈 수지로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상을 포함한다.As a thermoplastic resin, a phenoxy resin, polyphenylene ether resin, and polyvinyl acetal resin are preferable. Accordingly, in a suitable embodiment, the thermoplastic resin includes at least one selected from the group consisting of a phenoxy resin, a polyphenylene ether resin, and a polyvinyl acetal resin.

수지 조성물이 열가소성 수지를 함유하는 경우, 열가소성 수지의 함유량은, 바람직하게는 0.5질량% 내지 10질량%, 보다 바람직하게는 0.6질량% 내지 6질량%, 더욱 바람직하게는 0.7질량% 내지 5질량%이다.When a resin composition contains a thermoplastic resin, content of a thermoplastic resin becomes like this. Preferably it is 0.5 mass % - 10 mass %, More preferably, it is 0.6 mass % - 6 mass %, More preferably, it is 0.7 mass % - 5 mass %. am.

<(E) 경화 촉진제><(E) curing accelerator>

본 발명의 수지 시트는 추가로 (E) 경화 촉진제를 함유하고 있어도 좋다.The resin sheet of this invention may contain the (E) hardening accelerator further.

경화 촉진제로서는, 예를 들면, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제, 유기 과산화물계 경화 촉진제 등을 들 수 있으며, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제가 바람직하고, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제가 보다 바람직하다. 경화 촉진제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Examples of the curing accelerator include phosphorus-based curing accelerators, amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, guanidine-based curing accelerators, metal-based curing accelerators, organic peroxide curing accelerators, and the like, phosphorus-based curing accelerators and amine-based curing accelerators. An accelerator, an imidazole type hardening accelerator, and a metal type hardening accelerator are preferable, and an amine type hardening accelerator, an imidazole type hardening accelerator, and a metal type hardening accelerator are more preferable. A hardening accelerator may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

인계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리페닐포스핀, 포스포늄보레이트 화합물, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, n-부틸포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라부틸포스포늄데칸산염, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등을 들 수 있으며, 트리페닐포스핀, 테트라부틸포스포늄데칸산염이 바람직하다.Examples of the phosphorus-based curing accelerator include triphenylphosphine, phosphonium borate compound, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphoniumdecanoate, (4-methylphenyl)triphenyl Phosphonium thiocyanate, tetraphenyl phosphonium thiocyanate, butyl triphenyl phosphonium thiocyanate, etc. are mentioned, Triphenyl phosphine and tetrabutyl phosphonium decanoate are preferable.

아민계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센 등을 들 수 있으며, 4-디메틸아미노피리딘, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센이 바람직하다.Examples of the amine curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris(dimethylaminomethyl)phenol, 1,8 -diazabicyclo(5,4,0)-undecene etc. are mentioned, 4-dimethylaminopyridine and 1,8- diazabicyclo(5,4,0)- undecene are preferable.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리멜리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아눌산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아눌산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨 클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지와의 어덕트체를 들 수 있으며, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸이 바람직하다.Examples of the imidazole-based curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, and 2-ethyl-4-methyl. Imidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methyl Midazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl -4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-undecyl Imidazolyl-(1′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2′-ethyl-4′-methylimidazolyl-(1′)]-ethyl-s- triazine, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazineisocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazoleisocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo[1,2-a ]Imidazole compounds such as benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline, and 2-phenylimidazoline, and a mixture of an imidazole compound and an epoxy resin A duct body is mentioned, 2-ethyl- 4-methylimidazole and 1-benzyl- 2-phenylimidazole are preferable.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용해도 좋으며, 예를 들면, 미츠비시카가쿠(주) 제조의 「P200-H50」, 시코쿠카세이코교(주) 제조의 「1B2PZ」 등을 들 수 있다.As an imidazole-type hardening accelerator, you may use a commercial item, For example, Mitsubishi Chemical Co., Ltd. product "P200-H50", Shikoku Chemical Co., Ltd. product "1B2PZ", etc. are mentioned.

구아니딘계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴)비구아니드 등을 들 수 있으며, 디시안디아미드, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔이 바람직하다.Examples of the guanidine-based curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1-(o-tolyl)guanidine, dimethylguanidine, and diphenylguanidine. , trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo[4.4.0] Deca-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1, 1-diethylbiguanide, 1-cyclohexylbiguanide, 1-allylbiguanide, 1-phenylbiguanide, 1-(o-tolyl)biguanide, and the like, and dicyandiamide; 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca-5-ene is preferred.

금속계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 코발트, 구리, 아연, 철, 니켈, 망간, 주석 등의 금속의 유기 금속 착체 또는 유기 금속염을 들 수 있다. 유기 금속 착체의 구체예로서는, 코발트(II)아세틸아세토네이트, 코발트(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 코발트 착체, 구리(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 구리 착체, 아연(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 아연 착체, 철(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 철 착체, 니켈(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 니켈 착체, 망간(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 망간 착체 등을 들 수 있다. 유기 금속염으로서는, 예를 들면, 옥틸산아연, 옥틸산주석, 나프텐산아연, 나프텐산코발트, 스테아르산주석, 스테아르산아연 등을 들 수 있다.As a metal type hardening accelerator, the organometallic complex or organometallic salt of metals, such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and a tin, is mentioned, for example. Specific examples of the organometallic complex include organocobalt complexes such as cobalt(II)acetylacetonate and cobalt(III)acetylacetonate, organocopper complexes such as copper(II)acetylacetonate, and zinc(II)acetylacetonate. organic zinc complexes, organic iron complexes such as iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organic metal salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate.

유기 과산화물계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 디쿠밀퍼옥사이드, 사이클로헥사논퍼옥사이드, tert-부틸퍼옥시벤조에이트, 메틸에틸케톤퍼옥사이드, 디쿠밀퍼옥사이드, tert-부틸쿠밀퍼옥사이드, 디-tert-부틸퍼옥사이드, 디이소프로필벤젠하이드로퍼옥사이드, 쿠멘하이드로퍼옥사이드, tert-부틸하이드로퍼옥사이드 등을 들 수 있다. 유기 과산화물계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용해도 좋으며, 예를 들면, 니치유사 제조의 「퍼쿠밀 D」 등을 들 수 있다.Examples of the organic peroxide curing accelerator include dicumyl peroxide, cyclohexanone peroxide, tert-butyl peroxybenzoate, methyl ethyl ketone peroxide, dicumyl peroxide, tert-butylcumyl peroxide, di-tert-butyl Peroxide, diisopropylbenzene hydroperoxide, cumene hydroperoxide, tert-butyl hydroperoxide, etc. are mentioned. As an organic peroxide type|system|group hardening accelerator, you may use a commercial item, for example, "Percumyl D" manufactured by Nichiyu Corporation, etc. are mentioned.

수지 조성물 중의 경화 촉진제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 에폭시 수지와 경화제의 불휘발 성분을 100질량%로 했을 때, 0.01질량% 내지 3질량%가 바람직하다. 이 범위로 함으로써, 변형 1deg 및 5deg의 용융 점도를 조정하기 쉽게 할 수 있다.Although content of the hardening accelerator in a resin composition is not specifically limited, When an epoxy resin and the nonvolatile component of a hardening|curing agent are 100 mass %, 0.01 mass % - 3 mass % are preferable. By setting it as this range, it can be made easy to adjust the melt viscosity of deformation|transformation 1deg and 5deg.

<(F) 난연제><(F) Flame Retardant>

본 발명의 수지 시트는 추가로 (F) 난연제를 포함해도 좋다. 난연제로서는, 예를 들면, 유기 인계 난연제, 유기계 질소 함유 인 화합물, 질소 화합물, 실리콘계 난연제, 금속 수산화물 등을 들 수 있다. 난연제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다.The resin sheet of the present invention may further contain (F) a flame retardant. Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicone flame retardant, and a metal hydroxide. A flame retardant may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

난연제로서는, 시판품을 사용해도 좋으며, 예를 들면, 산코(주) 제조의 「HCA-HQ」, 다이하치 카가쿠 코교(주) 제조의 「PX-200」등을 들 수 있다.As a flame retardant, you may use a commercial item, For example, Sanko Co., Ltd. product "HCA-HQ", Daihachi Chemical Industry Co., Ltd. product "PX-200", etc. are mentioned.

수지 조성물이 난연제를 함유하는 경우, 난연제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.5질량% 내지 20질량%, 보다 바람직하게는 0.5질량% 내지 15질량%, 더욱 바람직하게는 0.5질량% 내지 10질량%가 더 바람직하다.When the resin composition contains a flame retardant, the content of the flame retardant is not particularly limited, but preferably 0.5% by mass to 20% by mass, more preferably 0.5% by mass to 15% by mass, still more preferably 0.5% by mass to 10 % by mass is more preferable.

<(G) 유기 충전재><(G) Organic Filling Material>

수지 조성물은 (G) 유기 충전재를 포함해도 좋다. 유기 충전재로서는, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 사용할 수 있는 임의의 유기 충전재를 사용해도 좋으며, 예를 들면, 고무 입자, 폴리아미드 미립자, 실리콘 입자 등을 들 수 있다.The resin composition may contain (G) an organic filler. As an organic filler, you may use arbitrary organic fillers which can be used when forming the insulating layer of a printed wiring board, For example, a rubber particle, polyamide microparticles|fine-particles, a silicone particle, etc. are mentioned.

고무 입자로는 시판품을 사용해도 좋으며, 예를 들면, 다우케미컬니혼(주) 제조의 「EXL2655」, 아이카코교(주) 제조의 「AC3401N」, 「AC3816N」 등을 들 수 있다.A commercial item may be used as a rubber particle, For example, "EXL2655" by Dow Chemical Corporation, "AC3401N" by Aika Kogyo Co., Ltd., "AC3816N", etc. are mentioned.

수지 조성물이 유기 충전재를 함유하는 경우, 유기 충전재의 함유량은 바람직하게는 0.1질량% 내지 20질량%, 보다 바람직하게는 0.2질량% 내지 10질량%, 더욱 바람직하게는 0.3질량% 내지 5질량%, 또는 0.5질량% 내지 3질량%이다.When the resin composition contains an organic filler, the content of the organic filler is preferably 0.1% by mass to 20% by mass, more preferably 0.2% by mass to 10% by mass, still more preferably 0.3% by mass to 5% by mass, Or 0.5 mass % - 3 mass %.

<(H) 기타 첨가제><(H) Other additives>

수지 조성물은 또한 필요에 따라 기타 첨가제를 포함하고 있어도 좋으며, 이러한 기타 첨가제로서는, 예를 들면, 유기 구리 화합물, 유기 아연 화합물 및 유기 코발트 화합물 등의 유기 금속 화합물, 및 증점제, 소포제, 레벨링제, 밀착성 부여제, 및 착색제 등의 수지 첨가제 등을 들 수 있다.The resin composition may further contain other additives as necessary. Examples of such other additives include organometallic compounds such as organocopper compounds, organozinc compounds and organocobalt compounds, and thickeners, defoamers, leveling agents, and adhesion properties. and resin additives such as imparting agents and colorants.

본 발명의 수지 시트는 리플로우 휨을 억제하는 동시에, 박막 절연성이 우수한 절연층을 초래한다. 따라서 본 발명의 수지 시트는, 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위한 (프린트 배선판의 절연층 형성용의) 수지 시트로서 적합하게 사용할 수 있고, 프린트 배선판의 층간 절연층을 형성하기 위한 수지 시트(프린트 배선판의 층간 절연층용 수지 시트)로서 보다 적합하게 사용할 수 있다. 또한, 예를 들면 제1 도체층과, 제2 도체층과, 제1 도체층 및 제2 도체층 사이에 설치된 절연층을 구비하는 프린트 배선판에서, 본 발명의 수지 시트에 의해 절연층을 형성함으로써, 제1 및 제2 도체층간의 절연층의 두께를 6㎛ 이하(바람직하게는 5.5㎛ 이하, 보다 바람직하게는 5㎛ 이하)로 하면서 절연 성능이 뛰어난 것으로 할 수 있다. 적합한 일 실시형태에 있어서, 본 발명의 수지 시트는, 제1 도체층과, 제2 도체층과, 제1 도체층과 제2 도체층을 절연하고 있는 절연층을 포함하고, 제1 도체층과 제2 도체층 사이의 절연층의 두께가 6㎛ 이하인 프린트 배선판의 절연층 형성용이다.The resin sheet of this invention brings about the insulating layer excellent in thin film insulation while suppressing reflow curvature. Therefore, the resin sheet of the present invention can be suitably used as a resin sheet for forming an insulating layer of a printed wiring board (for forming an insulating layer of a printed wiring board), and a resin sheet (printing) for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board. It can be used more suitably as resin sheet for interlayer insulating layers of a wiring board). Further, for example, in a printed wiring board having a first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer provided between the first conductor layer and the second conductor layer, an insulating layer is formed by using the resin sheet of the present invention. , while the thickness of the insulating layer between the first and second conductor layers is 6 µm or less (preferably 5.5 µm or less, more preferably 5 µm or less), the insulating performance can be excellent. In one suitable embodiment, the resin sheet of this invention contains a 1st conductor layer, a 2nd conductor layer, and the insulating layer which insulates the 1st conductor layer and the 2nd conductor layer, The 1st conductor layer and It is for insulating layer formation of the printed wiring board whose thickness of the insulating layer between 2nd conductor layers is 6 micrometers or less.

[수지 시트][Resin Sheet]

본 발명의 수지 시트는 수지 조성물층을 구비하며, 수지 조성물층은 수지 조성물로부터 형성된다.The resin sheet of this invention is equipped with a resin composition layer, The resin composition layer is formed from a resin composition.

수지 조성물층의 두께는, 프린트 배선판의 박형화의 관점에서, 바람직하게는 15㎛ 이하, 보다 바람직하게는 12㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 10㎛ 이하, 보다 더 바람직하게는 8㎛ 이하이다. 수지 조성물층의 두께의 하한은 특별히 한정되지 않지만, 통상 1㎛ 이상, 1.5㎛ 이상, 2㎛ 이상 등으로 할 수 있다.From a viewpoint of thickness reduction of a printed wiring board, the thickness of a resin composition layer becomes like this. Preferably it is 15 micrometers or less, More preferably, it is 12 micrometers or less, More preferably, it is 10 micrometers or less, More preferably, it is 8 micrometers or less. Although the lower limit of the thickness of a resin composition layer is not specifically limited, Usually, it can be 1 micrometer or more, 1.5 micrometers or more, 2 micrometers or more.

본 발명의 일 실시형태로서 수지 시트는 지지체와, 당해 지지체 위에 접합한 수지 조성물층을 포함한다. 지지체로서는, 예를 들면, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박, 이형지를 들 수 있으며, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박이 바람직하다.As one embodiment of the present invention, a resin sheet includes a support and a resin composition layer bonded on the support. As a support body, the film which consists of a plastic material, metal foil, and a release paper are mentioned, for example, The film which consists of a plastic material, and metal foil are preferable.

지지체로서 플라스틱 재료로 이루어진 필름을 사용하는 경우, 플라스틱 재료로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하 「PET」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리에틸렌나프탈레이트(이하 「PEN」이라고 약칭하는 경우가 있음) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(이하 「PC」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸셀룰로오스(TAC), 폴리에테르설파이드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 그중에서도, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트가 바람직하고, 저렴한 폴리에틸렌테레프탈레이트가 특히 바람직하다.When a film made of a plastic material is used as the support, the plastic material is, for example, polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”), polyethylene naphthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PEN”). ) such as polyester, polycarbonate (hereinafter sometimes abbreviated as "PC"), acrylic such as polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES), Polyether ketone, polyimide, etc. are mentioned. Among them, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable.

지지체로서 금속박을 사용하는 경우, 금속박으로서는, 예를 들면, 구리박, 알루미늄박 등을 들 수 있으며, 구리박이 바람직하다. 구리박으로서는 구리의 단금속(單金屬)으로 이루어진 박을 사용해도 좋고, 구리와 다른 금속(예를 들면, 주석, 크롬, 은, 마그네슘, 니켈, 지르코늄, 규소, 티탄 등)과의 합금으로 이루어진 박을 사용해도 좋다.When using metal foil as a support body, as metal foil, copper foil, aluminum foil, etc. are mentioned, for example, Copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of a single metal of copper may be used, and a foil made of an alloy of copper and another metal (eg, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) You can also use gourd.

지지체는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 매트 처리, 코로나 처리, 대전 방지 처리를 하고 있어도 좋다.The support may be subjected to a mat treatment, a corona treatment, or an antistatic treatment on the surface to be bonded to the resin composition layer.

또한 지지체로서는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 이형층을 갖는 이형층 부착 지지체를 사용해도 좋다. 이형층 부착 지지체의 이형층에 사용하는 이형제로서는, 예를 들면, 알키드 수지, 폴리올레핀 수지, 우레탄 수지, 및 실리콘 수지로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 이형제를 들 수 있다. 이형층 부착 지지체는 시판품을 사용해도 좋으며, 예를 들면, 알키드 수지계 이형제를 주성분으로 하는 이형층을 갖는 PET 필름인 린텍(주) 제조의 「SK-1」, 「AL-5」, 「AL-7」, 도레(주) 제조 「루미라 T6AM」, 「루미라 R80」 등을 들 수 있다.Moreover, as a support body, you may use the support body with a mold release layer which has a mold release layer on the surface to join with a resin composition layer. As a mold release agent used for the mold release layer of a support body with a mold release layer, 1 or more types of mold release agents are mentioned from the group which consists of an alkyd resin, a polyolefin resin, a urethane resin, and a silicone resin, for example. A commercially available support with a release layer may be used, for example, "SK-1", "AL-5", and "AL- 7", Toray Co., Ltd. product "Lumira T6AM", "Lumira R80", etc. are mentioned.

지지체의 두께로서는, 특별히 한정되지 않지만, 5㎛ 내지 75㎛의 범위가 바람직하고, 10㎛ 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 이형층 부착 지지체를 사용하는 경우, 이형층 부착 지지체 전체의 두께가 상기 범위인 것이 바람직하다.Although it does not specifically limit as thickness of a support body, The range of 5 micrometers - 75 micrometers is preferable, and the range of 10 micrometers - 60 micrometers is more preferable. Moreover, when using a support body with a mold release layer, it is preferable that the thickness of the whole support body with a mold release layer is the said range.

수지 시트, 예를 들면, 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니시를 조제하고, 이 수지 바니시를 다이코터 등을 사용하여 지지체 위에 도포하고, 또한 건조시켜서 수지 조성물층을 형성시킴으로써 제조할 수 있다.It can be manufactured by preparing a resin sheet, for example, a resin varnish in which a resin composition is dissolved in an organic solvent, applying this resin varnish to a support using a die coater or the like, and drying it to form a resin composition layer.

유기 용제로서는, 예를 들면, 아세톤, 메틸에틸케톤(MEK) 및 사이클로헥사논 등의 케톤류, 아세트산에틸, 아세트산부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 및 카비톨아세테이트 등의 아세트산 에스테르류, 셀로솔브 및 부틸카비톨 등의 카비톨류, 톨루엔 및 크실렌 등의 방향족 탄화수소 류, 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드(DMAc) 및 N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용제 등을 들 수 있다. 유기 용제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone (MEK) and cyclohexanone; acetate esters such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate; carbitols such as cellosolve and butylcarbitol; aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; and amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide (DMAc) and N-methylpyrrolidone. An organic solvent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

건조는 가열, 열풍 분사 등의 공지된 방법에 의해 실시해도 좋다. 건조 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물층 중의 유기 용제의 함유량이 10질량% 이하, 바람직하게는 5질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 수지 바니시 중의 유기 용제의 비점에 따라서도 상이하지만, 예를 들면 30질량% 내지 60질량%의 유기 용제를 포함하는 수지 바니시를 사용하는 경우, 50℃ 내지 150℃에서 3분간 내지 10분간 건조시킴으로써, 수지 조성물층을 형성할 수 있다.Drying may be performed by well-known methods, such as heating and hot-air spraying. Although drying conditions are not specifically limited, Content of the organic solvent in a resin composition layer is 10 mass % or less, Preferably it is made to dry so that it may become 5 mass % or less. Although it varies depending on the boiling point of the organic solvent in the resin varnish, for example, when using a resin varnish containing 30% by mass to 60% by mass of an organic solvent, by drying at 50°C to 150°C for 3 minutes to 10 minutes, A resin composition layer can be formed.

수지 시트에 있어서, 수지 조성물층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면(즉, 지지체와는 반대측의 면)에는, 지지체에 준한 보호 필름을 추가로 적층할 수 있다. 보호 필름의 두께는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, 1㎛ 내지 40㎛이다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물층의 표면으로의 먼지 등의 부착이나 흠집을 방지할 수 있다. 수지 시트는 롤 형상으로 권취하여 보존하는 것이 가능하다. 수지 시트가 보호 필름을 갖는 경우, 보호 필름을 벗김으로써 사용 가능해진다.In the resin sheet, a protective film conforming to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer that is not bonded to the support (that is, the surface on the opposite side to the support). Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, it is 1 micrometer - 40 micrometers. By laminating|stacking a protective film, adhesion of dust, etc. to the surface of a resin composition layer, and a flaw can be prevented. The resin sheet can be wound and stored in a roll shape. When a resin sheet has a protective film, it becomes usable by peeling off a protective film.

수지 조성물층의, 변형 1deg에서의 최저 용융 점도는, 열경화 공정 등에서 수지층의 움직임을 억제하고 평탄성을 향상하는 관점에서, 8000포이즈(800Paㆍs) 이상이고, 8500포이즈(850Paㆍs) 이상인 것이 바람직하고, 9000포이즈(900Paㆍs) 이상인 것이 보다 바람직하고, 10000포이즈(1000Paㆍs) 이상인 것이 더욱 바람직하다. 수지 조성물층의 변형 1deg에서의 최저 용융 점도의 상한치는, 양호한 배선 매립성을 수득하는 관점에서, 바람직하게는 20000포이즈(2000Paㆍs) 이하, 보다 바람직하게는 15000포이즈(1500Paㆍs) 이하, 더욱 바람직하게는 13000포이즈(1300Paㆍs) 이하이다.The minimum melt viscosity of the resin composition layer in deformation 1deg is 8000 poise (800 Pa s) or more, and 8500 poise (850 Pa s) or more from the viewpoint of suppressing movement of the resin layer and improving flatness in a thermosetting process etc. It is preferable that it is 9000 poise (900 Pa.s) or more, and it is more preferable that it is 10000 poise (1000 Pa.s) or more. The upper limit of the minimum melt viscosity in deformation 1deg of the resin composition layer is preferably 20000 poise (2000 Pa s) or less, more preferably 15000 poise (1500 Pa s) or less, from the viewpoint of obtaining good wiring embedding properties, More preferably, it is 13000 poise (1300 Pa.s) or less.

수지 조성물층의, 변형 5deg에서의 최저 용융 점도의 하한치는, 열경화 공정 등에서 수지층의 움직임을 억제하고 평탄성을 향상하는 관점에서, 500포이즈(50Paㆍs) 이상인 것이 바람직하고, 700포이즈(70Paㆍs) 이상인 것이 보다 바람직하고, 900포이즈(90Paㆍs) 이상인 것이 더욱 바람직하다. 수지 조성물층의 변형 5deg의 최저 용융 점도의 상한치는 양호한 배선 매립성을 얻는 관점에서, 8000포이즈(800Paㆍs) 이하이고, 7000포이즈(700Paㆍs) 이하인 것이 바람직하고, 6000포이즈(600Paㆍs) 이하인 것이 보다 바람직하고, 5000포이즈(500Paㆍs) 이하인 것이 더욱 바람직하다.The lower limit of the minimum melt viscosity in the deformation 5deg of the resin composition layer is preferably 500 poise (50 Pa.s) or more, and 700 poise (70 Pa s) or more, and more preferably 900 poise (90 Pa.s) or more. The upper limit of the minimum melt viscosity of the strain 5deg of the resin composition layer is 8000 poise (800 Pa s) or less, preferably 7000 poise (700 Pa s) or less, and 6000 poise (600 Pa s) from the viewpoint of obtaining good wiring embedding properties. ) or less, more preferably 5000 poise (500 Pa·s) or less.

수지 조성물층의 최저 용융 점도란, 수지 조성물층의 수지가 용융했을 때에 수지 조성물층이 나타내는 최저의 점도를 말한다. 상세하게는, 일정한 승온 속도로 수지 조성물층을 가열하여 수지를 용융시키면 초기의 단계는 용융 점도가 온도 상승과 함께 저하되고, 그 후, 어느 정도를 넘으면 온도 상승과 함께 용융 점도가 상승한다. 최저 용융 점도는 이러한 극소점의 용융 점도를 말한다. 수지 조성물층의 최저 용융 점도는 동적 점탄성법에 의해 측정할 수 있고, 예를 들면, 후술하는 <최저 용융 점도의 측정>에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다. 또한 「변형 1deg에서의 최저 용융 점도」는 「진동수 1㎐, 변형 1deg의 조건에서 동적 점탄성 측정을 실시함으로써 얻을 수 있는 최저 용융 점도」이고, 「변형 5deg에서의 최저 용융 점도」는, 「진동수 1㎐, 변형 5deg의 조건에서 동적 점탄성 측정을 실시함으로써 얻을 수 있는 최저 용융 점도」이다.The minimum melt viscosity of a resin composition layer means the minimum viscosity which a resin composition layer shows when resin of a resin composition layer melts. Specifically, when the resin composition layer is heated at a constant temperature increase rate to melt the resin, in the initial stage, the melt viscosity decreases with the temperature rise, and then, when it exceeds a certain level, the melt viscosity increases with the temperature rise. The lowest melt viscosity refers to the melt viscosity of this minimum point. The minimum melt viscosity of the resin composition layer can be measured by a dynamic viscoelasticity method, for example, according to the method described in <Measurement of minimum melt viscosity> mentioned later. In addition, "the lowest melt viscosity at strain 1deg" is "the lowest melt viscosity that can be obtained by performing dynamic viscoelasticity measurement under the conditions of a frequency of 1 Hz and strain 1deg", and "the lowest melt viscosity at strain 5deg" is "frequency 1" It is the lowest melt viscosity obtainable by performing dynamic viscoelasticity measurement under the conditions of Hz and strain 5deg."

[경화물][Cured material]

본 발명의 수지 시트의 수지 조성물층의 열경화 조건은 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면, 후술하는 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 채용되는 조건을 사용해도 좋다. 또한, 수지 조성물층을 열경화시키기 전에 예비 가열을 해도 좋고, 열경화 조건에서의 가열은 예비 가열을 포함하여 복수 회 실시해도 좋다. 열경화 조건의 일례로서, 우선 수지 조성물층을 100℃에서 30분간, 이어서 180℃에서 30분간, 추가로 200℃에서 90분간 열경화시킨다.The thermosetting conditions of the resin composition layer of the resin sheet of this invention are not specifically limited, For example, when forming the insulating layer of the printed wiring board mentioned later, you may use the conditions normally employ|adopted. In addition, before thermosetting a resin composition layer, you may perform preliminary heating, and heating in thermosetting conditions may be performed multiple times including preliminary heating. As an example of thermosetting conditions, first, a resin composition layer is thermosetted at 100 degreeC for 30 minutes, then 180 degreeC for 30 minutes, and also 200 degreeC for 90 minutes.

본 발명의 수지 시트의 수지 조성물층의 경화물(예를 들면, 수지 조성물층을 100℃에서 30분간, 이어서 180℃에서 30분간, 추가로 200℃에서 90분간 열경화시켜서 수득되는 경화물)은 25 내지 150℃에서 양호한 평균 선열팽창 계수(CTE)를 나타낸다. 즉, 양호한 평균 선열팽창 계수를 나타내는 절연층을 가져온다. 25℃ 내지 150℃에서의 평균 선열팽창 계수는, 경화물의 리플로우 휨량을 저감시킬 수 있다는 관점에서, 바람직하게는 30ppm/℃ 이하, 보다 바람직하게는 28ppm/℃ 이하, 더욱 바람직하게는 26ppm/℃ 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 0.1ppm/℃ 이상이다. 평균 선열팽창 계수의 측정 방법은 후술하는 <수지 시트의 경화물의 평균 선열팽창 계수(CTE)의 측정>에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.A cured product of the resin composition layer of the resin sheet of the present invention (for example, a cured product obtained by thermosetting the resin composition layer at 100°C for 30 minutes, then at 180°C for 30 minutes, and further at 200°C for 90 minutes) It exhibits a good average coefficient of linear thermal expansion (CTE) at 25 to 150°C. That is, an insulating layer exhibiting a good average coefficient of linear thermal expansion is obtained. The average coefficient of linear thermal expansion at 25°C to 150°C is preferably 30 ppm/°C or less, more preferably 28 ppm/°C or less, still more preferably 26 ppm/°C from the viewpoint that the amount of reflow warpage of the cured product can be reduced. is below. Although it does not specifically limit about a minimum, It is 0.1 ppm/degreeC or more. The measuring method of the average coefficient of linear thermal expansion can be measured according to the method as described in <Measurement of the average coefficient of linear thermal expansion (CTE) of the hardened|cured material of a resin sheet> mentioned later.

본 발명의 수지 시트의 수지 조성물층을 열경화시켜 수득되는 경화물(예를 들면, 수지 조성물층을 100℃에서 30분간, 이어서 180℃에서 30분간 열경화시켜 수득되는 경화물)은 130℃, 85RH%, 3.3V 인가 환경 하에서 200시간 경과 후에도 양호한 절연 저항값을 나타낸다. 즉 양호한 절연 저항값을 나타내는 절연층을 가져온다. 상기 절연 저항값의 상한은, 바람직하게는 1012Ω 이하, 보다 바람직하게는 1011Ω 이하, 더욱 바람직하게는 1010Ω 이하이다. 하한에 대해서는, 바람직하게는 107Ω 이상, 보다 바람직하게는 108Ω 이상이다. 절연 저항값의 측정은 후술하는 <절연 신뢰성의 평가>에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.A cured product obtained by thermosetting the resin composition layer of the resin sheet of the present invention (for example, a cured product obtained by thermosetting the resin composition layer at 100° C. for 30 minutes and then at 180° C. for 30 minutes) is 130° C.; It shows good insulation resistance value even after 200 hours under 85RH%, 3.3V application environment. That is, an insulating layer exhibiting a good insulation resistance value is obtained. The upper limit of the insulation resistance value is preferably 10 12 Ω or less, more preferably 10 11 Ω or less, still more preferably 10 10 Ω or less. About the lower limit, Preferably it is 10 7 Ω or more, More preferably, it is 10 8 Ω or more. The measurement of an insulation resistance value can be measured according to the method as described in <Evaluation of insulation reliability> mentioned later.

본 발명에는, 진동수 1㎐, 변형 1deg에서의 최저 용융 점도가 8000포이즈 이상이고, 또한, 진동수 1㎐, 변형 5deg에서의 최저 용융 점도가 8000포이즈 이하인 수지 조성물층의 경화물도 포함된다. 본 발명의 경화물은, 본 발명의 수지 시트의 수지 조성물층의 경화물과 동일한 구성이다. 경화물을 형성하기 위한 수지 조성물층의 경화 조건은, 본 발명의 수지 시트의 경화 조건과 동일하다. 본 발명의 경화물(예를 들면, 수지 조성물층을 100℃에서 30분간, 이어서 180℃에서 30분간, 추가로 200℃에서 90분간 열경화시켜 수득되는 경화물)에서의 평균 선열팽창 계수의 바람직한 범위는, 상술한 수지 시트의 경화물과 동일하다. 또한, 본 발명의 경화물에서의 절연 저항값의 바람직한 범위에 대해서도, 상술한 수지 시트의 경화물과 동일하다.The present invention also includes a cured product of a resin composition layer having a minimum melt viscosity of 8000 poise or more at a frequency of 1 Hz and a strain of 1deg, and a minimum melt viscosity of 8000 poise or less at a frequency of 1 Hz and a strain of 5deg. The hardened|cured material of this invention has the structure similar to the hardened|cured material of the resin composition layer of the resin sheet of this invention. The curing conditions of the resin composition layer for forming the cured product are the same as the curing conditions of the resin sheet of the present invention. Preferred average coefficient of linear thermal expansion in the cured product of the present invention (for example, a cured product obtained by thermosetting the resin composition layer at 100° C. for 30 minutes, then at 180° C. for 30 minutes, and further at 200° C. for 90 minutes) A range is the same as that of the hardened|cured material of the above-mentioned resin sheet. Moreover, it is the same as that of the hardened|cured material of the resin sheet mentioned above also about the preferable range of the insulation resistance value in the hardened|cured material of this invention.

[프린트 배선판, 프린트 배선판의 제조 방법][Printed wiring board, manufacturing method of printed wiring board]

본 발명의 프린트 배선판은, 본 발명의 수지 시트의 수지 조성물층의 경화물에 의해 형성된 절연층, 제1 도체층, 및 제2 도체층을 포함한다. 본 발명의 프린트 배선 기판은 본 발명의 경화물을 절연층으로서 구비하는 것이라도 좋다. 절연층은 제1 도체층과 제2 도체층의 사이에 설치되어 있어, 제1 도체층과 제2 도체층을 절연하고 있다(도체층은 배선층이라고도 함). 본 발명의 수지 시트의 수지 조성물층의 경화물에 의해 형성된 절연층은 박막 절연성이 우수하므로, 제1 및 제2 도체층간의 절연층의 두께가 6㎛ 이하이어도 절연성이 우수하다.The printed wiring board of this invention contains the insulating layer formed with the hardened|cured material of the resin composition layer of the resin sheet of this invention, a 1st conductor layer, and a 2nd conductor layer. The printed wiring board of this invention may be equipped with the hardened|cured material of this invention as an insulating layer. The insulating layer is provided between the first conductor layer and the second conductor layer, and insulates the first conductor layer and the second conductor layer (the conductor layer is also referred to as a wiring layer). Since the insulating layer formed by the hardened|cured material of the resin composition layer of the resin sheet of this invention is excellent in thin film insulation, it is excellent in insulation even if the thickness of the insulating layer between the 1st and 2nd conductor layers is 6 micrometers or less.

제1 및 제2 도체층간의 절연층의 두께는, 바람직하게는 6㎛ 이하, 보다 바람직하게는 5.5㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 5㎛ 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만 0.1㎛ 이상으로 할 수 있다. 제1 및 제2 도체층간의 절연층의 두께란, 도 1에 일례를 나타낸 바와 같이, 제1 도체층(5)의 주면(主面)(51)과 제2 도체층(6)의 주면(61) 사이의 절연층(7)의 두께(t1)를 말한다. 제1 및 제2 도체층은 절연층을 개재하여 서로 이웃하는 도체층이고, 주면(51) 및 주면(61)은 서로 마주보고 있다. 제1 및 제2 도체층간의 절연층의 두께는, 후술하는 <절연 신뢰성 평가, 도체층간의 절연층의 두께의 측정>에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.The thickness of the insulating layer between the first and second conductor layers is preferably 6 µm or less, more preferably 5.5 µm or less, still more preferably 5 µm or less. Although it does not specifically limit about a lower limit, It can be set as 0.1 micrometer or more. The thickness of the insulating layer between the first and second conductor layers refers to the main surface 51 of the first conductor layer 5 and the main surface ( 61) refers to the thickness t1 of the insulating layer 7 between them. The first and second conductor layers are conductive layers adjacent to each other with an insulating layer interposed therebetween, and the main surface 51 and the main surface 61 face each other. The thickness of the insulating layer between the 1st and 2nd conductor layers can be measured according to the method as described in <Insulation reliability evaluation, measurement of the thickness of the insulating layer between conductor layers> mentioned later.

또한, 절연층 전체의 두께(t2)는 바람직하게는 20㎛ 이하, 보다 바람직하게는 15㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 12㎛ 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만 1㎛ 이상으로 할 수 있다.Moreover, the thickness t2 of the whole insulating layer becomes like this. Preferably it is 20 micrometers or less, More preferably, it is 15 micrometers or less, More preferably, it is 12 micrometers or less. Although it does not specifically limit about a lower limit, It can be set as 1 micrometer or more.

본 발명의 프린트 배선판은, 상술한 수지 시트를 사용하여 하기 (I) 및 (II)의 공정을 포함하는 방법에 의해 제조할 수 있다.The printed wiring board of this invention can be manufactured by the method including the process of following (I) and (II) using the above-mentioned resin sheet.

(I) 내층 기판 위에 수지 시트의 수지 조성물층이 내층 기판과 접합하도록 적층하는 공정(I) step of laminating the resin composition layer of the resin sheet on the inner layer substrate so as to be bonded to the inner layer substrate

(II) 수지 조성물층을 열경화하여 절연층을 형성하는 공정(II) Step of thermosetting the resin composition layer to form an insulating layer

공정 (I)에서 사용하는 「내층 기판」이란, 주로 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등의 기판, 또는 상기 기판의 한면(片面) 또는 양면(兩面)에 패턴 가공된 도체층(회로)이 형성된 회로 기판을 말한다. 또한 프린트 배선판을 제조할 때에, 추가로 절연층 및/또는 도체층이 형성되어야 중간 제조물의 내층 회로 기판도 본 발명에서 말하는 「내층 기판」에 포함된다. 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우, 부품을 내장한 내층 기판을 사용할 수 있다.The "inner-layer substrate" used in step (I) refers to a substrate such as a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, or one side of the substrate ( It refers to a circuit board in which a patterned conductor layer (circuit) is formed on both sides or both sides. In addition, when manufacturing a printed wiring board, an insulating layer and/or a conductor layer must be additionally formed, and the inner circuit board of an intermediate product is also included in the "inner layer board|substrate" referred to in the present invention. When the printed wiring board is a circuit board with a built-in component, an inner-layer board having a built-in component can be used.

내층 기판과 수지 시트의 적층은, 예를 들면, 지지체측부터 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착함으로써 실시할 수 있다. 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착하는 부재(이하, 「가열 압착 부재」라고도 함)로서는, 예를 들면, 가열된 금속판(SUS 경판 등) 또는 금속 롤(SUS 롤) 등을 들 수 있다. 또한, 가열 압착 부재를 수지 시트에 직접 프레스하는 것이 아니라, 내층 기판의 표면 요철에 수지 시트가 충분히 추종하도록 내열 고무 등의 탄성재를 개재하여 프레스하는 것이 바람직하다.Lamination of the inner layer substrate and the resin sheet can be performed, for example, by thermocompression bonding the resin sheet to the inner layer substrate from the support side. As a member (hereinafter also referred to as "thermal compression member") for heat-bonding the resin sheet to the inner layer substrate, for example, a heated metal plate (SUS head plate, etc.) or a metal roll (SUS roll) or the like is exemplified. In addition, it is preferable not to press the thermocompression-bonding member directly to the resin sheet, but to press through an elastic material, such as a heat-resistant rubber, so that the resin sheet may fully follow the surface unevenness|corrugation of an inner-layer board|substrate.

내층 기판과 수지 시트의 적층은 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 진공 라미네이트법에서 가열 압착 온도는, 바람직하게는 60℃ 내지 160℃, 보다 바람직하게는 80℃ 내지 140℃의 범위이고, 가열 압착 압력은 바람직하게는 0.098㎫ 내지 1.77㎫, 보다 바람직하게는 0.29㎫ 내지 1.47㎫의 범위이고, 가열 압착 시간은 바람직하게는 20초간 내지 400초간, 보다 바람직하게는 30초간 내지 300초간의 범위이다. 적층은 바람직하게는 압력 26.7hPa 이하의 감압 조건 하에서 실시한다.You may perform lamination|stacking of an inner-layer board|substrate and a resin sheet by the vacuum lamination method. In the vacuum lamination method, the thermocompression compression temperature is preferably in the range of 60°C to 160°C, more preferably 80°C to 140°C, and the thermocompression compression pressure is preferably 0.098 MPa to 1.77 MPa, more preferably 0.29 MPa. to 1.47 MPa, and the thermocompression time is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, more preferably in the range of 30 seconds to 300 seconds. Lamination is preferably performed under reduced pressure conditions of a pressure of 26.7 hPa or less.

적층은 시판의 진공 라미네이터에 의해 실시할 수 있다. 시판의 진공 라미네이터로서는, 예를 들면, (주)메이키세이사쿠쇼 제조의 진공 가압식 라미네이터, 닛코ㆍ머티리얼즈(주) 제조의 베큠 어플리케이터 등을 들 수 있다.Lamination can be performed with a commercially available vacuum laminator. As a commercially available vacuum laminator, the vacuum pressurization laminator manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd., a vacuum applicator manufactured by Nikko Materials Co., Ltd., etc. are mentioned, for example.

적층 후에 상압 하(대기압 하), 예를 들면, 가열 압착 부재를 지지체측부터 프레스함으로써, 적층된 수지 시트의 평활화 처리를 실시해도 좋다. 평활화 처리의 프레스 조건은, 상기 적층의 가열 압착 조건과 동일한 조건으로 할 수 있다. 평활화 처리는 시판의 라미네이터에 의해 실시할 수 있다. 또한, 적층과 평활화 처리는 상기 시판의 진공 라미네이터를 사용하여 연속적으로 실시해도 좋다.After lamination, under normal pressure (under atmospheric pressure), for example, by pressing the thermocompression-bonding member from the support body side, you may perform the smoothing process of the laminated|stacked resin sheet. The press conditions of the smoothing process can be made into the same conditions as the thermocompression-bonding conditions of the said lamination|stacking. A smoothing process can be implemented with a commercially available laminator. In addition, you may perform lamination|stacking and a smoothing process continuously using the said commercially available vacuum laminator.

지지체는 공정 (I)과 공정 (II)의 사이에 제거해도 좋고, 공정 (II) 후에 제거해도 좋다.The support may be removed between the steps (I) and (II), or may be removed after the step (II).

공정 (II)에서 수지 조성물층을 열경화하여 절연층을 형성한다.In step (II), the resin composition layer is thermosetted to form an insulating layer.

수지 조성물층의 열경화 조건은 특별히 한정되지 않으며, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 채용되는 조건을 사용해도 좋다.The thermosetting conditions of a resin composition layer are not specifically limited, When forming the insulating layer of a printed wiring board, you may use the conditions normally employ|adopted.

예를 들면, 수지 조성물층의 열경화 조건은 수지 조성물의 종류 등에 따라서도 다르지만, 경화 온도는 120℃ 내지 240℃의 범위(바람직하게는 150℃ 내지 220℃의 범위, 보다 바람직하게는 170℃ 내지 200℃의 범위), 경화 시간은 5분간 내지 120분간의 범위(바람직하게는 10분간 내지 100분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 90분간)로 할 수 있다.For example, the thermosetting conditions of the resin composition layer also vary depending on the type of resin composition, etc., but the curing temperature is in the range of 120°C to 240°C (preferably in the range of 150°C to 220°C, more preferably in the range of 170°C to The range of 200 degreeC) and hardening time can be made into the range of 5 minutes - 120 minutes (preferably 10 minutes - 100 minutes, More preferably, 15 minutes - 90 minutes).

수지 조성물층을 열경화시키기 전에, 수지 조성물층을 경화 온도보다 낮은 온도에서 예비 가열해도 좋다. 예를 들면, 수지 조성물층을 열경화시키기에 앞서 50℃ 이상 120℃ 미만(바람직하게는 60℃ 이상 110℃ 이하, 보다 바람직하게는 70℃ 이상 100℃ 이하)의 온도에서, 수지 조성물층을 5분간 이상(바람직하게는 5분간 내지 150분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 120분간) 예비 가열해도 좋다.Before thermosetting a resin composition layer, you may preheat a resin composition layer at temperature lower than hardening temperature. For example, prior to thermosetting the resin composition layer, at a temperature of 50°C or more and less than 120°C (preferably 60°C or more and 110°C or less, more preferably 70°C or more and 100°C or less), the resin composition layer is heated to 5 You may preheat for more than a minute (preferably for 5 minutes - 150 minutes, More preferably, for 15 minutes - 120 minutes).

프린트 배선판을 제조할 시에는, (III) 절연층에 천공하는 공정, (IV) 절연층을 조화(粗化) 처리하는 공정, (V) 도체층을 형성하는 공정을 추가로 실시해도 좋다. 이러한 공정 (III) 내지 (V)는 프린트 배선판의 제조에 사용되는, 당업자에게 공지 된 각종 방법에 따라 실시해도 좋다. 또한 지지체를 공정 (II) 후에 제거하는 경우, 상기 지지체의 제거는 공정 (II)과 공정 (III)의 사이, 공정 (III)과 공정 (IV)의 사이, 또는 공정 (IV)과 공정 (V) 사이에 실시해도 좋다. 또한 필요에 따라 공정 (II) 내지 (V)의 절연층 및 도체층의 형성을 반복하여 실시하여, 다층 배선판을 형성해도 좋다. 이 경우, 각각의 도체층간의 절연층의 두께(도 1의 t1)는 상기 범위 내인 것이 바람직하다.When manufacturing a printed wiring board, you may further perform (III) the process of drilling in an insulating layer, (IV) the process of roughening an insulating layer, and (V) the process of forming a conductor layer. These steps (III) to (V) may be carried out according to various methods known to those skilled in the art that are used for manufacturing a printed wiring board. Also, when the support is removed after the step (II), the removal of the support is performed between the steps (II) and (III), between the steps (III) and (IV), or between the steps (IV) and the step (V). ) may be performed between In addition, if necessary, the formation of the insulating layer and the conductor layer in the steps (II) to (V) may be repeated to form a multilayer wiring board. In this case, the thickness of the insulating layer (t1 in FIG. 1) between the respective conductor layers is preferably within the above range.

공정 (III)은 절연층에 천공하는 공정이고, 이에 의해 절연층에 비아홀, 스루홀 등의 홀을 형성할 수 있다. 공정 (III)은 절연층의 형성에 사용한 수지 조성물의 조성 등에 따라, 예를 들면, 드릴, 레이저, 플라즈마 등을 사용하여 실시해도 좋다. 홀의 치수나 형상은 프린트 배선판의 디자인에 따라 적절하게 결정해도 좋다.Step (III) is a step of drilling the insulating layer, whereby holes such as via holes and through holes can be formed in the insulating layer. Step (III) may be performed using, for example, a drill, laser, plasma, or the like, depending on the composition of the resin composition used for forming the insulating layer and the like. You may determine the dimension and shape of a hole suitably according to the design of a printed wiring board.

공정 (IV)는 절연층을 조화 처리하는 공정이다. 조화 처리의 순서, 조건은 특별히 한정되지 않으며, 프린트 배선판의 절연층을 형성함에 있어 통상 사용되는 공지된 순서, 조건을 채용할 수 있다. 예를 들면, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리, 중화액에 의한 중화 처리를 이 순서대로 실시하여 절연층을 조화 처리할 수 있다. 팽윤액으로서는 특별히 한정되지 않지만, 알칼리 용액, 계면 활성제 용액 등을 들 수 있으며, 바람직하게는 알칼리 용액이고, 상기 알칼리 용액으로서는 수산화나트륨 용액, 수산화칼륨 용액이 보다 바람직하다. 시판되고 있는 팽윤액으로서는, 예를 들면, 아토텍재팬(주) 제조의 「스웰링ㆍ딥ㆍ시큐리간스 P」, 「스웰링ㆍ딥ㆍ시큐리간스 SBU」 등을 들 수 있다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 30℃ 내지 90℃의 팽윤액에 절연층을 1분간 내지 20분간 침지함으로써 행할 수 있다. 절연층의 수지의 팽윤을 적당한 레벨로 억제하는 관점에서, 40℃ 내지 80℃의 팽윤액에 절연층을 5분간 내지 15분간 침지시키는 것이 바람직하다. 산화제로서는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 수산화나트륨의 수용액에 과망간산칼륨이나 과망간산나트륨을 용해시킨 알칼리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 알칼리성 과망간산 용액 등의 산화제에 의한 조화 처리는 60℃ 내지 80℃로 가열한 산화제 용액에 절연층을 10분간 내지 30분간 침지시켜 실시하는 것이 바람직하다. 또한, 알칼리성 과망간산 용액에서의 과망간산염의 농도는 5질량% 내지 10질량%가 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로서는, 예를 들면, 아토텍재팬(주) 제조의 「컨센트레이트 컴팩트 CP」, 「도진 솔루션 시큐리간스 P」 등의 알칼리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 또한 중화액으로서는 산성의 수용액이 바람직하고, 시판품으로서는, 예를 들면, 아토텍재팬(주) 제조의 「리덕션ㆍ솔루션ㆍ시큐리간트 P」를 들 수 있다. 중화액에 의한 처리는 산화제에 의한 조화 처리가 이루어진 처리면을 30℃ 내지 80℃의 중화액에 5분간 내지 30분간 침지시킴으로써 실시할 수 있다. 작업성 등의 점에서, 산화제에 의한 조화 처리가 이루어진 대상물을 40℃ 내지 70℃의 중화액에 5분간 내지 20분간 침지하는 방법이 바람직하다.Process (IV) is a process of roughening an insulating layer. The order and conditions of a roughening process are not specifically limited, In forming the insulating layer of a printed wiring board, the well-known order and conditions normally used can be employ|adopted. For example, the insulating layer can be roughened by performing the swelling process by a swelling liquid, the roughening process by an oxidizing agent, and the neutralization process by a neutralizing liquid in this order. Although it does not specifically limit as a swelling liquid, An alkali solution, surfactant solution, etc. are mentioned, Preferably it is an alkali solution, As said alkali solution, sodium hydroxide solution and potassium hydroxide solution are more preferable. As a commercially available swelling liquid, "Swelling Deep Security P", "Swelling Deep Security SBU" manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., etc. are mentioned, for example. Although the swelling process by a swelling liquid is not specifically limited, For example, it can perform by immersing an insulating layer in 30 degreeC - 90 degreeC swelling liquid for 1 minute - 20 minutes. From the viewpoint of suppressing the swelling of the resin of the insulating layer to an appropriate level, it is preferable to immerse the insulating layer in a swelling solution at 40°C to 80°C for 5 minutes to 15 minutes. Although it does not specifically limit as an oxidizing agent, For example, the alkaline permanganic acid solution which melt|dissolved potassium permanganate and sodium permanganate in the aqueous solution of sodium hydroxide is mentioned. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably performed by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution heated to 60°C to 80°C for 10 minutes to 30 minutes. Moreover, as for the density|concentration of the permanganate in an alkaline permanganic acid solution, 5 mass % - 10 mass % are preferable. As a commercially available oxidizing agent, alkaline permanganic acid solutions, such as "Concentrate Compact CP" by Atotech Japan Co., Ltd. product, and "Dojin Solution Securigans P", are mentioned, for example. Moreover, an acidic aqueous solution is preferable as a neutralizing liquid, As a commercial item, "Reduction Solution Securigant P" manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. is mentioned, for example. The treatment with the neutralizing solution can be performed by immersing the treated surface subjected to the roughening treatment with the oxidizing agent in a neutralizing solution at 30°C to 80°C for 5 minutes to 30 minutes. The method of immersing the target object in which the roughening process by an oxidizing agent was made|formed from points, such as workability|operativity, in the neutralization liquid of 40 degreeC - 70 degreeC for 5 minutes - 20 minutes is preferable.

일 실시형태에 있어서, 조화 처리 후의 절연층 표면의 산술 평균 조도(Ra)는, 바람직하게는 400㎚ 이하, 보다 바람직하게는 350㎚ 이하, 더욱 바람직하게는 300㎚ 이하, 250㎚ 이하, 200㎚ 이하, 150㎚ 이하, 또는 100㎚ 이하이다. 절연층 표면의 산술 평균 조도(Ra)는 비접촉형 표면 조도계를 사용하여 측정할 수 있다. 비접촉형 표면 조도계의 구체예로서는 비코인스트루먼트사 제조의 「WYKO NT3300」를 들 수 있다.In one embodiment, the arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the insulating layer after roughening is preferably 400 nm or less, more preferably 350 nm or less, still more preferably 300 nm or less, 250 nm or less, 200 nm or less. or less, 150 nm or less, or 100 nm or less. The arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the insulating layer can be measured using a non-contact type surface roughness meter. As a specific example of a non-contact type surface roughness meter, "WYKO NT3300" by a BCoin Instruments company is mentioned.

공정 (V)는 도체층을 형성하는 공정이다. 내층 기판에 도체층이 형성되어 있지 않은 경우, 공정 (V)는 제1 도체층을 형성하는 공정이고, 내층 기판에 도체층이 형성되어 있는 경우, 상기 도체층이 제1 도체층이고, 공정 (V)는 제2 도체층을 형성하는 공정이다.Process (V) is a process of forming a conductor layer. When no conductor layer is formed on the inner-layer substrate, step (V) is a step of forming a first conductor layer, and when a conductor layer is formed on the inner-layer substrate, the conductor layer is the first conductor layer, step ( V) is a step of forming the second conductor layer.

도체층에 사용하는 도체 재료는 특별히 한정되지 않는다. 적합한 실시형태에서, 도체층은, 금, 백금, 팔라듐, 은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 티탄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 포함한다. 도체층은 단금속층이어도 합금층이라도 좋고, 합금층으로서는, 예를 들면, 상기의 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들면 니켈ㆍ크롬 합금, 구리ㆍ니켈 합금 및 구리ㆍ티탄 합금)으로부터 형성된 층을 들 수 있다. 그중에서도, 도체층 형성의 범용성, 비용, 패터닝의 용이성 등의 관점에서, 크롬, 니켈, 티탄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈ㆍ크롬 합금, 구리ㆍ니켈 합금, 구리ㆍ티탄 합금의 합금층이 바람직하고, 크롬, 니켈, 티탄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈ㆍ크롬 합금의 합금층이 보다 바람직하고, 구리의 단금속층이 더욱 바람직하다.The conductor material used for a conductor layer is not specifically limited. In a suitable embodiment, the conductor layer comprises at least one metal selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. do. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer, and the alloy layer is, for example, an alloy of two or more metals selected from the group described above (for example, a nickel-chromium alloy, a copper-nickel alloy, and a copper-titanium alloy) layers formed from Among them, from the viewpoint of versatility of conductor layer formation, cost, ease of patterning, etc., a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or a nickel-chromium alloy, a copper-nickel alloy, An alloy layer of a copper/titanium alloy is preferable, a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or an alloy layer of a nickel/chromium alloy is more preferable, and the single metal layer of copper is more preferable more preferably.

도체층은, 단층 구조이라도, 상이한 종류의 금속 또는 합금으로 이루어진 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층된 복층 구조이라도 좋다. 도체층이 복층 구조인 경우, 절연층과 접하는 층은 크롬, 아연 또는 티탄의 단금속층, 또는 니켈ㆍ크롬 합금의 합금층인 것이 바람직하다.The conductor layer may have a single layer structure or a multilayer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different types of metals or alloys are laminated. When the conductor layer has a multilayer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of a nickel-chromium alloy.

도체층의 두께는, 원하는 프린트 배선판의 디자인에 따라 다르지만, 일반적으로 3㎛ 내지 35㎛, 바람직하게는 5㎛ 내지 30㎛이다.Although the thickness of a conductor layer changes with the design of a desired printed wiring board, it is 3 micrometers - 35 micrometers generally, Preferably it is 5 micrometers - 30 micrometers.

일 실시형태에 있어서, 도체층은 도금에 의해 형성해도 좋다. 예를 들면, 세미 어디티브법, 풀 어디티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해 절연층의 표면에 도금하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다. 이하, 도체층을 세미 어디티브법에 의해 형성하는 예를 나타낸다.In one embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed by plating on the surface of the insulating layer by a conventionally known technique such as a semi-additive method or a full additive method. Hereinafter, the example in which a conductor layer is formed by the semiadditive method is shown.

우선, 절연층의 표면에 무전해 도금에 의해 도금 시드층을 형성한다. 이어서, 형성된 도금 시드층 위에 원하는 배선 패턴에 대응하여 도금 시드층의 일부를 노출시키는 마스크 패턴을 형성한다. 노출된 도금 시드층 위에 전해 도금에 의해 금속층을 형성한 후, 마스크 패턴을 제거한다. 그 후, 불필요한 도금 시드층을 에칭 등에 의해 제거하고, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.First, a plating seed layer is formed on the surface of the insulating layer by electroless plating. Then, a mask pattern for exposing a portion of the plating seed layer is formed on the formed plating seed layer to correspond to a desired wiring pattern. After forming a metal layer by electrolytic plating on the exposed plating seed layer, the mask pattern is removed. Thereafter, the unnecessary plating seed layer is removed by etching or the like, and a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed.

본 발명의 수지 시트는 부품 매립성이 양호한 절연층을 초래하므로, 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우에도 적합하게 사용할 수 있다.Since the resin sheet of this invention produces an insulating layer with good component embedding property, it can use suitably also when a printed wiring board is a component built-in circuit board.

이러한 부품 내장 회로판의 제조 방법으로서는,As a manufacturing method of such a component-embedded circuit board,

(i) 대향하는 제1 및 제2 주면을 갖고, 상기 제1 및 제2 주면 사이를 관통하는 캐비티가 형성된 내층 기판과, 내층 기판의 제2 주면과 접합하고 있는 가부착 재료와, 내층 기판의 캐비티의 내부에 있어서 가부착 재료에 의해 가부착된 부품을 포함하는 부품 가부착 내층 기판을 준비하는 공정,(i) an inner-layer substrate having opposing first and second main surfaces and having a cavity penetrating between the first and second main surfaces, a temporary attachment material bonded to the second main surface of the inner-layer substrate; A step of preparing a component temporarily attaching inner layer substrate including a component temporarily attached with a temporary attaching material inside the cavity;

(ii) 본 발명의 수지 시트를 수지 조성물층이 내층 기판의 제1 주면과 접합하도록 적층하는 공정,(ii) laminating the resin sheet of the present invention so that the resin composition layer is bonded to the first main surface of the inner layer substrate;

(iii) 내층 기판의 제2 주면으로부터 가부착 재료를 박리하는 공정,(iii) a step of peeling the temporary attachment material from the second main surface of the inner layer substrate;

(iv) 수지 시트를, 수지 조성물층이 내층 기판의 제2 주면과 접합하도록 적층하는 공정, 및(iv) laminating the resin sheet so that the resin composition layer is bonded to the second main surface of the inner-layer substrate; and

(v) 수지 조성물층을 열경화하는 공정을 포함한다.(v) The process of thermosetting a resin composition layer is included.

도 2에 일례를 나타낸 바와 같이, 부품 가부착 내층 기판(100)(「캐비티 기판」이라고도 함)은, 대향하는 제1 및 제2 주면(11, 12)을 갖고, 상기 제1 및 제2 주면 사이를 관통하는 캐비티(1a)가 형성된 내층 기판(1)과, 내층 기판(1)의 제2 주면(12)과 접합하고 있는 가부착 재료(2)와, 내층 기판(1)의 캐비티(1a)의 내부에서 가부착 재료(2)에 의해 가부착된 부품(3)을 포함한다. 내층 기판(1)은 비아 배선, 표면 배선 등의 회로 배선(4)을 구비해도 좋다.As an example is shown in FIG. 2 , an inner-layer substrate 100 (also referred to as a “cavity substrate”) has first and second main surfaces 11 and 12 facing each other, and the first and second main surfaces are the first and second main surfaces. An inner-layer substrate 1 having a cavity 1a passing therethrough, a temporary attachment material 2 bonded to the second main surface 12 of the inner-layer substrate 1, and a cavity 1a of the inner-layer substrate 1 ) includes a part 3 temporarily attached by a temporary attachment material 2 on the inside. The inner-layer substrate 1 may include circuit wirings 4 such as via wirings and surface wirings.

내층 기판에 형성되는 캐비티는 내층 기판의 특성을 고려하여, 예를 들면, 드릴, 레이저, 플라즈마, 에칭 매체 등을 사용하는 공지의 방법에 의해 형성할 수 있다. 캐비티는 소정의 간격을 두고 복수 형성되어 있어도 좋고, 캐비티의 개구 형상은 특별히 한정되지 않으며, 직사각형, 원형, 대략 직사각형, 대략 원형 등의 임의의 형상으로 해도 좋다.The cavity formed in the inner layer substrate can be formed by a known method using, for example, a drill, a laser, plasma, an etching medium, etc. in consideration of the characteristics of the inner layer substrate. A plurality of cavities may be formed at predetermined intervals, and the opening shape of the cavity is not particularly limited, and may be any shape such as a rectangle, a circle, a substantially rectangle, or a substantially circle.

가부착 재료로서는, 부품을 가부착하는데 충분한 점착성을 나타내는 접착면을 갖는 한 특별히 제한되지 않고, 부품 내장 회로판의 제조 시에, 종래 공지의 임의의 가부착 재료를 사용해도 좋다. 가부착 재료로서는, 예를 들면, (주)아리사와 세이사쿠쇼 제조의 PFDKE-1525TT(점착제 부착 폴리이미드 필름), 후루카와 덴키 코교(주) 제조의 UC 시리즈(웨이퍼 다이싱용 UV 테이프)를 들 수 있다.The temporary attachment material is not particularly limited as long as it has an adhesive surface exhibiting sufficient tackiness for temporarily attaching components, and any conventionally known temporary attachment material may be used in the production of a circuit board with a built-in component. Examples of the temporary sticking material include PFDKE-1525TT (polyimide film with adhesive) manufactured by Arisa and Seisakusho Co., Ltd., and UC series (UV tape for wafer dicing) manufactured by Furukawa Denki Kogyo Co., Ltd. have.

부품은 캐비티를 통해 노출된 가부착 재료의 점착면에 가부착된다. 부품으로서는, 원하는 특성에 따라 적절한 전기 부품을 선택해도 좋으며, 예를 들면, 콘덴서, 인덕터, 저항, 적층 세라믹 콘덴서 등의 수동 부품, 반도체 베어 칩 등의 능동 부품을 들 수 있다. 모든 캐비티에 같은 부품을 사용해도 좋고, 캐비티마다 상이한 부품을 사용해도 좋다.The part is temporarily attached to the adhesive surface of the temporary adhesive material exposed through the cavity. As the component, an appropriate electrical component may be selected according to desired characteristics, and examples thereof include passive components such as capacitors, inductors, resistors, and multilayer ceramic capacitors, and active components such as semiconductor bare chips. The same part may be used for all the cavities, and different parts may be used for every cavity.

공정 (ii)는, 본 발명의 수지 시트를, 수지 조성물층이 내층 기판의 제1 주면과 접합하도록 적층하는 공정이다. 제1 주면과 수지 시트의 적층 조건은 상술 한 공정 (I)의 조건과 동일하며, 바람직한 범위도 동일하다.Step (ii) is a step of laminating the resin sheet of the present invention so that the resin composition layer is bonded to the first main surface of the inner layer substrate. The lamination conditions of the first main surface and the resin sheet are the same as those of the above-described step (I), and the preferable ranges are also the same.

내층 기판의 제1 주면에 수지 조성물층을 적층한 후, 수지 조성물층을 열경화 시켜도 좋다. 수지 조성물층을 열경화하는 조건은, 상술한 공정 (II)의 조건과 동일하며, 바람직한 범위도 동일하다.After laminating the resin composition layer on the first main surface of the inner substrate, the resin composition layer may be thermosetted. The conditions for thermosetting a resin composition layer are the same as the conditions of the above-mentioned process (II), and a preferable range is also the same.

공정 (iii)은, 내층 기판의 제2 주면에서 가부착 재료를 박리하는 공정이다. 가부착 재료의 박리는 가부착 재료의 종류에 따라, 종래 공지의 방법에 따라 행해도 좋다.Step (iii) is a step of peeling the temporary attachment material from the second main surface of the inner layer substrate. You may perform peeling of a temporary attachment material according to a conventionally well-known method according to the kind of temporary attachment material.

공정 (iv)는, 수지 시트를, 수지 조성물층이 내층 기판의 제2 주면과 접합하도록 적층하는 공정이다. 제2 주면과 수지 시트의 적층 조건은 상술한 공정 (I)의 조건과 동일하며, 바람직한 범위도 동일하다. 공정 (iv)에서의 수지 조성물층은 공정 (ii)에서의 수지 조성물층과 동일한 수지 조성물층이어도 좋고, 다른 수지 조성물층이어도 좋다. 본 발명에서는, 공정 (iv)에서의 수지 시트가 본 발명의 수지 시트인 것이 바람직하다.Step (iv) is a step of laminating the resin sheet so that the resin composition layer is bonded to the second main surface of the inner layer substrate. The lamination conditions of the 2nd main surface and the resin sheet are the same as the conditions of the above-mentioned process (I), and the preferable range is also the same. The resin composition layer in a process (iv) may be the same resin composition layer as the resin composition layer in a process (ii), and a different resin composition layer may be sufficient as it. In this invention, it is preferable that the resin sheet in a process (iv) is the resin sheet of this invention.

공정 (v)는 수지 조성물층을 열경화하는 공정이다. 수지 조성물층을 열경화하는 조건은, 상술한 공정 (II)의 조건과 동일하며, 바람직한 범위도 동일하다.A process (v) is a process of thermosetting a resin composition layer. The conditions for thermosetting a resin composition layer are the same as the conditions of the above-mentioned process (II), and a preferable range is also the same.

부품 내장 회로판의 제조 방법으로서는, 또한, 절연층에 천공하는 공정(천공 공정), 절연층의 표면을 조화 처리하는 공정, 조화된 절연층 표면에 도체층을 형성하는 공정을 추가로 포함해도 좋다. 이들 공정은 상술한 바와 같다.As a manufacturing method of a circuit board with a component, you may further include the process of drilling in an insulating layer (perforating process), the process of roughening the surface of an insulating layer, and the process of forming a conductor layer in the roughened insulating layer surface. These processes are as described above.

본 발명의 프린트 배선판은, 본 발명의 수지 시트의 수지 조성물층의 경화물인 절연층과, 절연층에 매립된 매립형 배선층을 구비하는 형태라도 좋다.The printed wiring board of this invention may be an aspect provided with the insulating layer which is hardened|cured material of the resin composition layer of the resin sheet of this invention, and the buried wiring layer embedded in the insulating layer.

이러한 프린트 배선판의 제조 방법으로서는,As a manufacturing method of such a printed wiring board,

(1) 내층 기판과, 당해 기재의 적어도 한쪽 면에 형성된 배선층을 갖는 배선층 부착 기재를 준비하는 공정,(1) a step of preparing a substrate with a wiring layer having an inner-layer substrate and a wiring layer formed on at least one surface of the substrate;

(2) 본 발명의 수지 시트를, 배선층이 수지 조성물층에 매립되도록 배선층 부착 기재 위에 적층하고, 열경화시켜서 절연층을 형성하는 공정,(2) a step of laminating the resin sheet of the present invention on a substrate with a wiring layer so that the wiring layer is embedded in the resin composition layer, and thermosetting to form an insulating layer;

(3) 배선층을 층간 접속하는 공정, 및(3) a step of interconnecting the wiring layers between layers; and

(4) 기재를 제거하는 공정을 포함한다.(4) A step of removing the substrate is included.

이 제조 방법에서 사용하는 내층 기판의 양면에는 구리박 등으로 이루어진 금속층을 갖는 것이 바람직하고, 금속층은 2층 이상의 금속층이 적층되어 있는 구성인 것이 보다 바람직하다. 공정 (1)의 상세는, 내층 기판 위에 드라이 필름(감광성 레지스트 필름)을 적층하고, 포토 마스크를 사용하여 소정의 조건으로 노광, 현상하여 패턴 드라이 필름을 형성한다. 현상한 패턴 드라이 필름을 도금 마스크로서 전계 도금법에 의해 배선층을 형성한 후, 패턴 드라이 필름을 박리한다.It is preferable to have a metal layer which consists of copper foil etc. on both surfaces of the inner-layer board|substrate used by this manufacturing method, It is more preferable that the metal layer has the structure in which two or more metal layers are laminated|stacked. For the details of step (1), a dry film (photosensitive resist film) is laminated on an inner layer substrate, exposed and developed under predetermined conditions using a photomask to form a patterned dry film. After forming a wiring layer by the electric field plating method using the developed pattern dry film as a plating mask, the pattern dry film is peeled.

내층 기판과 드라이 필름의 적층 조건은, 상술한 공정 (II)의 조건과 동일하며, 바람직한 범위도 동일하다.The lamination conditions of the inner layer substrate and the dry film are the same as those of the above-described step (II), and the preferable ranges are also the same.

드라이 필름을 내층 기판 위에 적층 후, 드라이 필름에 대해 원하는 패턴을 형성하기 위해 포토 마스크를 사용하여 소정의 조건으로 노광, 현상을 행한다.After laminating the dry film on the inner layer substrate, exposure and development are performed under predetermined conditions using a photomask to form a desired pattern on the dry film.

배선층의 라인(회로 폭)/스페이스(회로 사이의 폭) 비는 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 20/20㎛ 이하(즉 피치가 40㎛ 이하), 보다 바람직하게는 18/18㎛ 이하(피치 36㎛ 이하), 더욱 바람직하게는 15/15㎛ 이하(피치 30㎛ 이하)이다. 배선층의 라인/스페이스비의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 0.5/0.5㎛ 이상, 보다 바람직하게는 1/1㎛ 이상이다. 피치는 배선층의 전체에 걸쳐 동일할 필요는 없다.The line (circuit width)/space (width between circuits) ratio of the wiring layer is not particularly limited, but is preferably 20/20 µm or less (that is, the pitch is 40 µm or less), more preferably 18/18 µm or less (pitch) 36 µm or less), more preferably 15/15 µm or less (pitch 30 µm or less). Although the lower limit in particular of the line/space ratio of a wiring layer is not restrict|limited, Preferably it is 0.5/0.5 micrometer or more, More preferably, it is 1/1 micrometer or more. The pitch need not be the same throughout the wiring layer.

드라이 필름의 패턴을 형성 후, 배선층을 형성하고, 드라이 필름을 박리한다. 여기서, 배선층의 형성은, 원하는 패턴을 형성한 드라이 필름을 도금 마스크로서 사용하여, 도금법에 의해 실시할 수 있다.After forming the pattern of the dry film, a wiring layer is formed and the dry film is peeled off. Here, formation of a wiring layer can be performed by the plating method using the dry film in which the desired pattern was formed as a plating mask.

배선층에 사용하는 도체 재료는 특별히 한정되지 않는다. 적합한 실시형태에서는, 배선층은 금, 백금, 팔라듐, 은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 티탄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 포함한다. 배선층은 단금속층이라도 합금층이라도 좋고, 합금층으로서는, 예를 들면, 상기의 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들면 니켈ㆍ크롬 합금, 구리ㆍ니켈 합금 및 구리ㆍ티탄 합금)으로부터 형성된 것을 들 수 있다.The conductor material used for the wiring layer is not specifically limited. In a suitable embodiment, the wiring layer comprises one or more metals selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. The wiring layer may be a single metal layer or an alloy layer, and the alloy layer is made of, for example, an alloy of two or more metals selected from the group described above (for example, a nickel-chromium alloy, a copper-nickel alloy, and a copper-titanium alloy). formed can be mentioned.

배선층의 두께는 원하는 배선판의 디자인에 따르지만, 바람직하게는 3㎛ 내지 35㎛, 보다 바람직하게는 5㎛ 내지 30㎛, 더욱 바람직하게는 10 내지 20㎛ 또는 15㎛이다.The thickness of the wiring layer depends on the desired design of the wiring board, but is preferably 3 mu m to 35 mu m, more preferably 5 mu m to 30 mu m, still more preferably 10 to 20 mu m or 15 mu m.

배선층을 형성 후, 드라이 필름을 박리한다. 드라이 필름의 박리는 공지된 방법에 의해 실시할 수 있다. 필요에 따라 불필요한 배선 패턴을 에칭 등에 의해 제거하여, 원하는 배선 패턴을 형성할 수도 있다.After forming the wiring layer, the dry film is peeled off. Peeling of a dry film can be performed by a well-known method. If necessary, unnecessary wiring patterns may be removed by etching or the like to form a desired wiring pattern.

공정 (2)는 본 발명의 수지 시트를 배선층이 수지 조성물층에 매립되도록 배선층 부착 기재 위에 적층하고, 열경화시켜서 절연층을 형성하는 공정이다. 배선층 부착 기재와 수지 시트의 적층 조건은 상술한 공정 (II)의 조건과 동일하며, 바람직한 범위도 동일하다.Process (2) is a process of laminating|stacking the resin sheet of this invention on a base material with a wiring layer so that a wiring layer may be embedded in the resin composition layer, thermosetting it, and forming an insulating layer. Lamination conditions of the base material with a wiring layer and the resin sheet are the same as the conditions of the above-mentioned process (II), and the preferable range is also the same.

공정 (3)은 배선층을 층간 접속할 수 있다면 특별히 한정되지 않지만, 절연층에 비아홀을 형성하고, 도체층을 형성하는 공정, 및 절연층을 연마 또는 연삭하고, 배선층을 노출시키는 공정 중 적어도 어느 하나의 공정인 것이 바람직하다. 절연층에 비아홀을 형성하고, 도체층을 형성하는 공정은 상술한 바와 같다.The step (3) is not particularly limited as long as the wiring layers can be interconnected between layers, but at least one of the steps of forming a via hole in the insulating layer and forming the conductor layer, and grinding or grinding the insulating layer to expose the wiring layer. It is preferable to be fair. The process of forming a via hole in the insulating layer and forming the conductor layer is the same as described above.

절연층의 연마 방법 또는 연삭 방법으로서는, 배선층을 노출시킬 수 있고, 연마 또는 연삭면이 수평이면 특별히 한정되지 않으며, 종래 공지의 연마 방법 또는 연삭 방법을 적용할 수 있고, 예를 들면 화학 기계 연마 장치에 의한 화학 기계 연마 방법, 버프 등의 기계 연마 방법, 숫돌(砥石) 회전에 의한 평면 연삭 방법 등을 들 수 있다.The grinding method or grinding method of the insulating layer is not particularly limited as long as the wiring layer can be exposed and the grinding or grinding surface is horizontal, and a conventionally known grinding method or grinding method can be applied, for example, a chemical mechanical polishing apparatus a chemical mechanical polishing method, mechanical polishing methods such as buffing, and a plane grinding method by rotating a whetstone.

공정 (4)는 내층 기판을 제거하고, 본 발명의 회로 기판을 형성하는 공정이다. 내층 기판의 제거 방법은 특별히 한정되지 않는다. 바람직한 일 실시형태는 내층 기판 위에 갖는 금속층의 계면에서 배선판으로부터 내층 기판을 박리하고, 금속층을 예를 들면 염화구리 수용액 등으로 에칭 제거한다.Step (4) is a step of removing the inner layer substrate and forming the circuit board of the present invention. The method for removing the inner layer substrate is not particularly limited. In one preferred embodiment, the inner layer substrate is peeled from the wiring board at the interface of the metal layer on the inner layer substrate, and the metal layer is removed by etching with, for example, an aqueous copper chloride solution.

본 발명의 수지 시트를 사용하여 제작되는 배선판은, 제1 및 제2 도체층 사이의 절연층의 두께가 6㎛ 이하여도, 절연 신뢰성이 우수한 특성을 나타낸다. 130℃, 85RH%, 3.3V 인가 환경 하에서 200시간 경과 후의 절연 저항값의 상한은, 바람직하게는 1012Ω 이하, 보다 바람직하게는 1011Ω 이하, 더욱 바람직하게는 1010Ω 이하이다. 하한은 바람직하게는 107Ω 이상, 보다 바람직하게는 108Ω 이상이다. 절연 저항값의 측정은, 후술하는 <절연 신뢰성의 평가, 도체층 사이의 절연층의 두께 측정>에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.The wiring board produced using the resin sheet of this invention shows the characteristic excellent in insulation reliability even if the thickness of the insulating layer between a 1st and 2nd conductor layer is 6 micrometers or less. The upper limit of the insulation resistance value after 200 hours has elapsed in an environment of 130°C, 85RH%, and 3.3V application is preferably 10 12 Ω or less, more preferably 10 11 Ω or less, and still more preferably 10 10 Ω or less. The lower limit is preferably 10 7 Ω or more, more preferably 10 8 Ω or more. The measurement of an insulation resistance value can be measured according to the method as described in <Evaluation of insulation reliability, thickness measurement of the insulating layer between conductor layers> mentioned later.

본 발명의 수지 시트를 사용하여 제조되는 프린트 배선판은 패턴 매립성 및 부품 매립성이 우수하다는 특성을 나타낸다. 패턴 매립성의 평가는, 후술하는 <패턴 매립성의 평가>에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.The printed wiring board manufactured using the resin sheet of this invention shows the characteristic of being excellent in pattern embedding property and component embedding property. Evaluation of pattern embedding property can be measured according to the method as described in <Evaluation of pattern embedding property> mentioned later.

본 발명의 수지 시트를 사용하여 제조되는 배선판은 리플로우 휨량을 억제할 수 있는 특성을 나타낸다. 피크 온도가 260℃에서의 리플로우 휨량의 상한은, 바람직하게는 90㎛, 보다 바람직하게는 80㎛, 더욱 바람직하게는 70㎛이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 1㎛ 이상으로 할 수 있다. 리플로우 휨량의 평가는 후술하는 <휨량의 평가>에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.The wiring board manufactured using the resin sheet of this invention shows the characteristic which can suppress the amount of reflow curvature. The upper limit of the amount of reflow deflection at a peak temperature of 260°C is preferably 90 µm, more preferably 80 µm, still more preferably 70 µm. Although it does not specifically limit about a minimum, It can be set as 1 micrometer or more. Evaluation of the amount of reflow deflection can be measured according to the method described in <Evaluation of deflection amount> mentioned later.

[반도체 장치][Semiconductor device]

본 발명의 반도체 장치는 본 발명의 프린트 배선판을 포함한다. 본 발명의 반도체 장치는 본 발명의 프린트 배선판을 사용하여 제조할 수 있다.The semiconductor device of the present invention includes the printed wiring board of the present invention. The semiconductor device of the present invention can be manufactured using the printed wiring board of the present invention.

반도체 장비로서는 전기 제품(예를 들면, 컴퓨터, 휴대전화, 디지털카메라 및 텔레비전 등) 및 탈것(예를 들면, 자동이륜차, 자동차, 전차, 선박 및 항공기 등) 등에 제공되는 각종 반도체 장치를 들 수 있다.Examples of the semiconductor equipment include various semiconductor devices provided for electrical products (eg, computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (eg, motorcycles, automobiles, trams, ships, aircraft, etc.). .

본 발명의 반도체 장치는, 프린트 배선판의 도통 개소(導通 箇所)에 부품(반도체 칩)을 실장함으로써 제조할 수 있다. 「도통 개소」란, 「프린트 배선판에서의 전기 신호를 전달하는 개소」로서, 그 장소는 표면이라도, 매립된 부분이라도 어느 곳이라도 상관없다. 또한, 반도체 칩은 반도체를 재료로 하는 전기 회로 소자이면 특별히 한정되지 않는다.The semiconductor device of this invention can be manufactured by mounting a component (semiconductor chip) in the conduction|electrical_connection location of a printed wiring board. A "conduction location" is "a location through which an electrical signal is transmitted in a printed wiring board", and the location may be any place, be it a surface or a buried part. In addition, a semiconductor chip will not be specifically limited if it is an electric circuit element which uses a semiconductor as a material.

본 발명의 반도체 장치를 제조할 때의 반도체 칩의 실장 방법은, 반도체 칩이 유효하게 기능하기만 하면 특별히 한정되지 않지만, 구체적으로는, 와이어 본딩 실장 방법, 플립 칩 실장 방법, 범프리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법, 이방성 도전 필름(ACF)에 의한 실장 방법, 비도전성 필름(NCF)에 의한 실장 방법 등을 들 수 있다. 여기서 「범프리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법」이란, 「반도체 칩을 프린트 배선판의 오목부에 직접 매립하여, 반도체 칩과 프린트 배선판 위의 배선을 접속시키는 실장 방법」이다.The semiconductor chip mounting method for manufacturing the semiconductor device of the present invention is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively, and specifically, the wire bonding mounting method, flip chip mounting method, bumpless buildup layer ( BBUL), the mounting method by an anisotropic conductive film (ACF), the mounting method by a non-conductive film (NCF), etc. are mentioned. Here, the "mounting method using a bumpless build-up layer (BBUL)" is "a mounting method in which a semiconductor chip is directly embedded in a recess of a printed wiring board to connect a semiconductor chip and wiring on a printed wiring board".

실시예Example

이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하의 기재에서 「부」 및 「%」는 별도 명시가 없는 한, 각각 「질량부」 및 「질량%」를 의미한다.Hereinafter, although an Example demonstrates this invention concretely, this invention is not limited to these Examples. In the following description, "parts" and "%" mean "parts by mass" and "% by mass", respectively, unless otherwise specified.

[무기 충전재의 물성치의 측정 방법][Method of measuring physical properties of inorganic fillers]

먼저 무기 충전재의 측정 방법ㆍ평가 방법에 대해 설명한다.First, the measuring method and evaluation method of an inorganic filler are demonstrated.

<평균 입자 직경의 측정><Measurement of average particle diameter>

무기 충전재 100mg, 분산제(산놉코(주) 제조 「SN9228」) 0.1g, 메틸에틸케톤 10g을 바이알병에 칭량하고, 초음파로 20분간 분산하였다. 레이저 회절식 입도 분포 측정 장치((주)시마즈 세이사쿠쇼 제조 「SALD-2200」)를 사용하여, 회분 셀 방식으로 입도 분포를 측정하여, 중간 직경에 의한 평균 입자 직경을 산출하였다.100 mg of inorganic filler, 0.1 g of a dispersing agent (“SN9228” manufactured by Sannobco Co., Ltd.), and 10 g of methyl ethyl ketone were weighed into a vial and dispersed by ultrasonication for 20 minutes. Using a laser diffraction-type particle size distribution analyzer ("SALD-2200" manufactured by Shimadzu Corporation), the particle size distribution was measured by a batch cell method, and the average particle diameter by the median diameter was calculated.

<비표면적의 측정><Measurement of specific surface area>

BET 전자동 비표면적 측정 장치((주)마운테크 제조 Macsorb HM-1210)를 사용하여 무기 충전재의 비표면적을 측정하였다.The specific surface area of the inorganic filler was measured using a BET fully automatic specific surface area measuring device (Macsorb HM-1210 manufactured by Muntech Co., Ltd.).

<카본량의 측정><Measurement of Carbon Amount>

무기 충전재의 단위 면적당의 카본량은 이하의 순서에 따라 측정하였다. 조제예에서 조제한 무기 충전재에, 용제로서 충분한 양의 메틸에틸케톤(MEK)을 첨가하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정하였다. 이어서, 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시켰다. 수득된 고체에 대해 카본 분석계((주)호리바세이사쿠쇼 제조 「EMIA-320V」)를 사용하여 카본량을 측정하였다. 카본량의 측정값과, 사용한 무기 충전재의 질량 및 비표면적에 기초하여, 무기 충전재의 단위 면적당의 카본량을 산출하였다.The amount of carbon per unit area of the inorganic filler was measured according to the following procedure. Methyl ethyl ketone (MEK) in a sufficient amount as a solvent was added to the inorganic filler prepared in the preparation example, followed by ultrasonic cleaning at 25°C for 5 minutes. The supernatant was then removed and the solid was dried. The amount of carbon was measured for the obtained solid using a carbon analyzer ("EMIA-320V" manufactured by Horiba Seisakusho Co., Ltd.). Based on the measured value of the amount of carbon and the mass and specific surface area of the inorganic filler used, the amount of carbon per unit area of the inorganic filler was computed.

[수지 조성물의 조제][Preparation of resin composition]

<수지 조성물 1의 조제><Preparation of resin composition 1>

사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨카가쿠(주) 제조 「ZX1658GS」, 에폭시 당량 약 169) 6부, 비크실레놀형 에폭시 수지(미츠비시카가쿠(주) 제조 「YX4000HK」, 에폭시 당량 약 185) 6부, 비스페놀 AF형 에폭시 수지 (미츠비시카가쿠(주) 제조 「YL7760」, 에폭시 당량 약 238) 6부, 나프탈렌형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨카가쿠(주) 제조 「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330) 15부, 페녹시 수지(미츠비시카가쿠(주) 제조 「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 10부를, 솔벤트나프타 20부 및 사이클로헥사논 10부의 혼합 용제에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각한 후, 여기에, 활성 에스테르계 경화제(DIC(주) 제조 「EXB-8000L-65TM」, 활성기 당량 약 220, 불휘발 성분 65질량%의 톨루엔/MEK 용액) 35부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 2부, 아미노실란계 커플링제(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM573」) 및 페닐트리메톡시실란(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM103」)을 중량비 1:1로 표면 처리된 구형 실리카(덴키카가쿠코교(주) 제조 「UFP-30」, 평균 입자 직경 0.078㎛, 비표면적 30.7㎡/g, 단위 표면적당의 카본량 0.20㎎/㎡) 95부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산한 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP020」)로 여과하여, 수지 조성물 1을 조제하였다.6 parts of cyclohexanedimethanol type epoxy resin (“ZX1658GS” manufactured by Shin-Nittetsu Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent approx. 169), bixylenol type epoxy resin (“YX4000HK” manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. “YX4000HK”, epoxy equivalent approx. 185 ) 6 parts, bisphenol AF type epoxy resin (“YL7760” manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent about 238) 6 parts, naphthalene-type epoxy resin (“ESN475V” manufactured by Shin-Nittetsu Chemical Co., Ltd. “ESN475V”, epoxy equivalent approx. 330) 15 parts, phenoxy resin (“YX7553BH30” manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., 1:1 solution of cyclohexanone:methylethylketone (MEK) having a solid content of 30% by mass) 10 parts, solvent naphtha 20 parts and cyclo It was made to melt|dissolve in the mixed solvent of 10 parts of hexanone with stirring. After cooling to room temperature, 35 parts of an active ester curing agent (“EXB-8000L-65TM” manufactured by DIC Corporation, an active group equivalent of about 220, a toluene/MEK solution containing 65% by mass of a nonvolatile component) 35 parts, an amine-based curing agent 2 parts of curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), MEK solution having a solid content of 5% by mass), an aminosilane-based coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and phenyltrimethoxysilane (Shin-Etsuka Co., Ltd.) Spherical silica ("UFP-30" manufactured by Denki Chemical Co., Ltd., average particle diameter 0.078 µm, specific surface area 30.7 m2/g, unit After mixing 95 parts of carbon amount per surface area 0.20 mg/m<2>, and disperse|distributing uniformly with a high-speed rotary mixer, it filtered with the cartridge filter ("SHP020" manufactured by ROKITECHNO), and the resin composition 1 was prepared.

<수지 조성물 2의 조제><Preparation of resin composition 2>

글리시딜아민형 에폭시 수지(미츠비시카가쿠(주) 제조 「630LSD」, 에폭시 당량 약 95) 2부, 비크실레놀형 에폭시 수지(미츠비시카가쿠(주) 제조 「YX4000HK」, 에폭시 당량 약 185) 8부, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지(DIC(주) 제조 「EXA-7311-G4」, 에폭시 당량 약 213) 6부, 비페닐형 에폭시 수지(니혼카야쿠(주) 제조 「NC3000L」, 에폭시 당량 약 272) 15부, 및 페녹시 수지(미츠비시카가쿠(주) 제조 「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 6부를, 솔벤트나프타 15부 및 사이클로헥사논 10부의 혼합 용제에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온까지 냉각한 후, 여기에, 트리아진 골격 함유 크레졸노볼락계 경화제(DIC(주) 제조 「LA3018-50P」, 수산기 당량 약 151, 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 10부, 활성 에스테르계 경화제(DIC(주) 제조 「EXB-8000L-65TM」, 활성기 당량 약 220, 불휘발 성분 65질량%의 톨루엔/MEK 용액) 15부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 1부, 고무 입자(다우ㆍ케미컬 니혼(주) 제조 「EXL2655」) 2부, 아미노실란계 커플링제(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(신닛테츠스미킨머티리얼즈(주) 제조 「SPH516-05」, 평균 입자 직경 0.29㎛, 비표면적 16.3㎡/g, 단위 면적당의 카본량 0.43㎎/㎡) 60부, 아미노실란계 커플링제(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM573」) 및 페닐트리메톡시실란(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM103」)을 중량비 1:1로 표면 처리된 구형 실리카(덴키카가쿠코교(주) 제조 「UFP-30」, 평균 입자 직경 0.078㎛, 비표면적 30.7㎡/g, 단위 면적당의 카본량 0.20㎎/㎡) 40부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산한 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP020」)로 여과하여 수지 조성물 2를 조제하였다.2 parts of glycidylamine type epoxy resin ("630LSD" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent about 95), bixylenol type epoxy resin ("YX4000HK" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent about 185) 8 Parts, naphthylene ether type epoxy resin (“EXA-7311-G4” manufactured by DIC Corporation, epoxy equivalent about 213) 6 parts, biphenyl type epoxy resin (“NC3000L” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent about 272) 15 parts and 6 parts of phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., 1:1 solution of cyclohexanone:methylethylketone (MEK) having a solid content of 30% by mass) 15 parts of solvent naphtha and It was heat-dissolved in the mixed solvent of 10 parts of cyclohexanone with stirring. After cooling to room temperature, 10 parts of a triazine skeleton-containing cresol novolak curing agent (“LA3018-50P” manufactured by DIC Co., Ltd., 2-methoxypropanol solution with a hydroxyl equivalent of about 151 and a solid content of 50%), active 15 parts of an ester curing agent (“EXB-8000L-65TM” manufactured by DIC Corporation, an active group equivalent of about 220, a toluene/MEK solution containing 65% by mass of a nonvolatile component), an amine curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP)) , MEK solution having a solid content of 5% by mass) 1 part, rubber particles (“EXL2655” manufactured by Dow Chemical Corporation) 2 parts, an aminosilane-based coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 60 parts of treated spherical silica (“SPH516-05” manufactured by Shin-Nittetsu Sumikin Materials Co., Ltd., average particle diameter 0.29 µm, specific surface area 16.3 m 2 /g, carbon content per unit area 0.43 mg/m 2 ), aminosilane-based Spherical silica (Denki Chemical Co., Ltd.) surface-treated with a coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and phenyltrimethoxysilane (“KBM103” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) in a weight ratio of 1:1 After mixing 40 parts of "UFP-30" manufactured by Co., Ltd., an average particle diameter of 0.078 µm, a specific surface area of 30.7 m 2 /g, a carbon amount of 0.20 mg/m 2 per unit area), and uniformly dispersing with a high-speed rotary mixer, a cartridge filter ("SHP020" manufactured by ROKITECHNO) filtered to prepare a resin composition 2.

<수지 조성물 3의 조제><Preparation of resin composition 3>

나프탈렌형 에폭시 수지(DIC(주) 제조 「HP4032SS」, 에폭시 당량 약 144) 4부, 나프탈렌에테르형 에폭시 수지(DIC(주) 제조 「EXA-7311-G4」, 에폭시 당량 약 213) 12부, 나프탈렌형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨카가쿠(주) 제조 「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330) 15부, 및 페녹시 수지(미츠비시카가쿠(주) 제조 「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 5부를, 솔벤트나프타 15부 및 사이클로헥사논 10부 혼합 용제에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각한 후, 여기에, 비스페놀 A 디시아네이트의 프리폴리머(론자재팬(주) 제조 「BA230S75」, 시아네이트 당량 약 232, 불휘발분 75질량%의 MEK 용액) 30부, 활성 에스테르계 경화제(DIC(주) 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 225, 불휘발 성분 65질량%의 톨루엔 용액) 8부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 0.4부, 경화 촉진제(도쿄카세이(주) 제조, 코발트(III)아세틸아세토네이트(CO(III)Ac), 고형분 1질량%의 MEK 용액) 3부, 난연제(산코(주) 제조 「HCA-HQ」, 10-(2,5-디하이드록시페닐)-10-하이드로-9-옥사-10-포스파페난트렌-10-옥사이드, 평균 입자 직경 1.1㎛) 2부, 아미노실란계 커플링제(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(신닛테츠스미킨머티리얼즈(주) 제조 「SPH516-05」, 평균 입자 직경 0.29㎛, 비표면적 16.3㎡/g, 단위 표면적당의 카본량 0.43㎎/㎡) 80부, 에폭시실란계 커플링제(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM403」) 및 페닐트리메톡시실란(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM103」)을 중량비 1:1로 표면 처리된 구형 실리카(덴키카가쿠코교(주) 제조 「UFP-40」, 평균 입자 직경 0.067㎛, 비표면적 40.8㎡/g, 단위 표면적당의 카본량 0.19㎎/㎡) 30부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산한 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP020」)로 여과하여, 수지 조성물 3을 조제하였다.4 parts of naphthalene type epoxy resin (“HP4032SS” manufactured by DIC Corporation, epoxy equivalent about 144), 12 parts of naphthalene ether type epoxy resin (“EXA-7311-G4” manufactured by DIC Corporation, about 213 epoxy equivalent), naphthalene 15 parts of type epoxy resin ("ESN475V" manufactured by Shin-Nittetsu Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent about 330), and phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., cyclohexanone having a solid content of 30% by mass: A 1:1 solution of methyl ethyl ketone (MEK)) 5 parts was dissolved by heating in a mixed solvent of 15 parts of solvent naphtha and 10 parts of cyclohexanone while stirring. After cooling to room temperature, 30 parts of a prepolymer of bisphenol A dicyanate ("BA230S75" manufactured by Ronjapan Co., Ltd., a cyanate equivalent of about 232, a MEK solution having a nonvolatile content of 75% by mass) 30 parts, an active ester-based curing agent (DIC Co., Ltd. "HPC-8000-65T", active group equivalent about 225, toluene solution of 65 mass % of nonvolatile components) 8 parts, amine-type hardening accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), solid content 5 mass %) of MEK solution) 0.4 parts, curing accelerator (manufactured by Tokyo Kasei Co., Ltd., cobalt(III) acetylacetonate (CO(III)Ac), MEK solution having a solid content of 1% by mass) 3 parts, flame retardant (manufactured by Sanko Co., Ltd.) "HCA-HQ", 10-(2,5-dihydroxyphenyl)-10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, average particle diameter 1.1 µm) 2 parts, aminosilane-based Spherical silica surface-treated with a coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) (“SPH516-05” manufactured by Shin-Nitetsu Sumikin Materials Co., Ltd., average particle diameter 0.29 μm, specific surface area 16.3 m 2 /g , carbon content per unit surface area 0.43 mg/m2) 80 parts, epoxy silane coupling agent (“KBM403” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and phenyltrimethoxysilane (“KBM103” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) ') surface-treated at a weight ratio of 1:1 ("UFP-40" manufactured by Denki Chemical Co., Ltd., average particle diameter 0.067 µm, specific surface area 40.8 m 2 /g, carbon content per unit surface area 0.19 mg/ m 2 ) 30 parts were mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotary mixer, followed by filtration with a cartridge filter ("SHP020" manufactured by ROKITECHNO) to prepare a resin composition 3.

<수지 조성물 4의 조제><Preparation of resin composition 4>

비스페놀형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨카가쿠(주) 제조 「ZX1059」, 에폭시 당량 약 169, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품) 6부, 비크실레놀형 에폭시 수지(미츠비시카가쿠(주) 제조 「YX4000HK」, 에폭시 당량 약 185) 6부, 비스페놀 AF형 에폭시 수지(미츠비시카가쿠(주) 제조 「YL7760」, 에폭시 당량 약 238) 6부, 나프탈렌형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨카가쿠(주) 제조 「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330) 15부, 페녹시 수지(미츠비시카가쿠(주) 제조 「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 10부를, 솔벤트나프타 25부 및 사이클로헥사논 10부의 혼합 용제에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각한 후, 여기에, 활성 에스테르계 경화제(DIC(주) 제조 「EXB-8000L-65TM」, 활성기 당량 약 220, 불휘발 성분 65질량%의 톨루엔/MEK 용액) 35부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 2부, 에폭시실란계 커플링제(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM403」) 및 페닐트리메톡시실란(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM103」)을 중량비 1:1로 표면 처리된 구형 실리카(덴키카가쿠코교(주) 제조 「UFP-40」, 평균 입자 직경 0.067㎛, 비표면적 40.8㎡/g, 단위 표면적당의 카본량 0.19㎎/㎡) 95부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산한 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP020」)로 여과하여 수지 조성물 4를 조제하였다.6 parts of bisphenol-type epoxy resin (“ZX1059” manufactured by Shin-Nittetsu Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent of about 169, 1:1 mixture of bisphenol A and bisphenol F) 6 parts, bixylenol-type epoxy resin (Mitsubishi Chemical) Co., Ltd. "YX4000HK", epoxy equivalent about 185) 6 parts, bisphenol AF type epoxy resin ("YL7760" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent about 238) 6 parts, naphthalene type epoxy resin (New Nittetsu Chemicals) Co., Ltd. "ESN475V", epoxy equivalent about 330) 15 parts, phenoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. "YX7553BH30", solid content 30% by mass cyclohexanone: methyl ethyl ketone (MEK) 1:1 10 parts of solution) was heat-dissolved, stirring, in the mixed solvent of 25 parts of solvent naphtha, and 10 parts of cyclohexanone. After cooling to room temperature, 35 parts of an active ester curing agent (“EXB-8000L-65TM” manufactured by DIC Corporation, an active group equivalent of about 220, a toluene/MEK solution containing 65% by mass of a nonvolatile component) 35 parts, an amine-based curing agent 2 parts of curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), MEK solution having a solid content of 5% by mass), an epoxysilane-based coupling agent (“KBM403” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and phenyltrimethoxysilane (Shin-Etsuka) Spherical silica (“UFP-40” manufactured by Denki Chemical Co., Ltd., average particle diameter 0.067 μm, specific surface area 40.8 m 2 /g, unit After mixing 95 parts of carbon content per surface area of 0.19 mg/m 2 ) and uniformly dispersing with a high-speed rotary mixer, it was filtered with a cartridge filter ("SHP020" manufactured by ROKITECHNO) to prepare a resin composition 4.

<수지 조성물 5의 조제><Preparation of resin composition 5>

수지 조성물 3의 조제에 있어서, 1) 솔벤트나프타의 첨가량을 15부에서 8부로 바꾸고, 2) 2종의 무기 충전재(2종의 구형 실리카)를 에폭시실란계 커플링제(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM403」)로 표면 처리된 구형 실리카((주)아도마텍스 제조 「아도마파인 SO-C1」, 평균 입자 직경 0.63㎛, 비표면적 11.2㎡/g, 단위 표면적당의 카본량 0.28㎎/㎡) 110부로 바꾸고, 3) 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP020」)를 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP030」)로 바꾼 것 이외에는 수지 조성물 3의 조제와 동일하게 하여 수지 조성물 5를 조제하였다.Preparation of resin composition 3 WHEREIN: 1) The addition amount of solvent naphtha was changed from 15 parts to 8 parts, 2) 2 types of inorganic fillers (two types of spherical silica) were used as an epoxysilane coupling agent (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) Spherical silica (manufactured by "KBM403") surface-treated ("Adomafine SO-C1" manufactured by Adomatex Co., Ltd., average particle diameter 0.63 µm, specific surface area 11.2 m 2 /g, carbon content per unit surface area 0.28 mg/ m2) was changed to 110 parts, and 3) a cartridge filter (“SHP020” manufactured by ROKITECHNO) was replaced with a cartridge filter (“SHP030” manufactured by ROKITECHNO), except that the resin composition 5 was prepared in the same manner as in the preparation of the resin composition 3.

<수지 조성물 6의 조제><Preparation of resin composition 6>

글리시딜아민형 에폭시 수지(미츠비시카가쿠(주) 제조 「630LSD」, 에폭시 당량 약 95) 2부, 비크실레놀형 에폭시 수지(미츠비시카가쿠(주) 제조 「YX4000HK」, 에폭시 당량 약 185) 8부, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지(DIC(주) 제조 「EXA-7311-G4」, 에폭시 당량 약 213) 6부, 비페닐형 에폭시 수지(니혼카야쿠(주) 제조 「NC3000L」, 에폭시 당량 약 272) 15부, 및 페녹시 수지(미츠비시카가쿠(주) 제조 「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥사논:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 10부를, 솔벤트나프타 10부 및 사이클로헥사논 5부의 혼합 용제에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각한 후, 여기에, 트리아진 골격 함유 크레졸 노볼락계 경화제(DIC(주) 제조 「LA3018-50P」, 수산기 당량 약 151, 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 10부, 활성 에스테르계 경화제(DIC(주) 제조 「EXB-8000L-65TM」, 활성기 당량 약 220, 불휘발 성분 65질량%의 톨루엔/MEK 용액) 15부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 1부, 고무 입자(다우ㆍ케미컬 니혼(주) 제조 「EXL2655」) 2부, 에폭시실란계 커플링제(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM403」) 및 페닐트리메톡시실란(신에츠카가쿠코교(주) 제조 「KBM103」)을 중량비 1:1로 표면 처리된 구형 실리카(덴키카가쿠코교(주) 제조 「UFP-40」, 평균 입자 직경 0.067㎛, 비표면적 40.8㎡/g, 단위 표면적당의 카본량 0.19㎎/㎡) 35부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산한 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO 제조 「SHP020」)로 여과하여 수지 조성물 6을 조제하였다.2 parts of glycidylamine type epoxy resin ("630LSD" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent about 95), bixylenol type epoxy resin ("YX4000HK" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent about 185) 8 Parts, naphthylene ether type epoxy resin (“EXA-7311-G4” manufactured by DIC Corporation, epoxy equivalent about 213) 6 parts, biphenyl type epoxy resin (“NC3000L” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent about 272) 15 parts and 10 parts of phenoxy resin (“YX7553BH30” manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., 1:1 solution of cyclohexanone:methylethyl ketone (MEK) having a solid content of 30% by mass) 10 parts of solvent naphtha and It was heat-dissolved in the mixed solvent of 5 parts of cyclohexanone with stirring. After cooling to room temperature, 10 parts of a triazine skeleton-containing cresol novolac curing agent (“LA3018-50P” manufactured by DIC Corporation, a hydroxyl equivalent of about 151, a solution of 50% in solid content in 2-methoxypropanol); 15 parts of active ester curing agent (“EXB-8000L-65TM” manufactured by DIC Corporation, about 220 active group equivalents, 65% by mass of nonvolatile components in toluene/MEK solution), amine curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP) ), a MEK solution having a solid content of 5% by mass) 1 part, rubber particles (“EXL2655” manufactured by Dow Chemical Corporation) 2 parts, an epoxy silane coupling agent (“KBM403” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and Spherical silica surface-treated with phenyltrimethoxysilane (“KBM103” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) at a weight ratio of 1:1 (“UFP-40” manufactured by Denki Chemical Co., Ltd., average particle diameter of 0.067 μm, 35 parts of specific surface area 40.8 m / g, carbon amount per unit surface area of 0.19 mg / m) are mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotary mixer, followed by filtration with a cartridge filter ("SHP020" manufactured by ROKITECHNO) to prepare a resin composition 6 did.

수지 조성물 1 내지 6의 조제에 사용한 성분과 그 배합량(불휘발분의 질량 부)을 표 1에 나타내었다.The components used for preparation of the resin compositions 1-6 and the compounding quantity (mass part of a non-volatile matter) are shown in Table 1.

Figure 112017030091072-pat00001
Figure 112017030091072-pat00001

[수지 시트의 제작][Production of resin sheet]

지지체로서 알키드 수지계 이형제(린텍(주) 제조 「AL-5」)에 이형 처리한 PET 필름(도레(주) 제조 「루미러 R80」, 두께 38㎛, 연화점 130℃, 「이형 PET」)을 준비하였다.As a support, a PET film (“Lumiror R80” manufactured by Toray Co., Ltd., 38 μm thick, softening point 130° C., “Release PET”) was prepared with an alkyd resin mold release agent (“AL-5” manufactured by Lintec Co., Ltd.) did.

각 수지 조성물을 이형 PET 위에, 건조 후의 수지 조성물층의 두께가 13㎛가 되도록 다이코터로 균일하게 도포한 70℃로부터 95℃에서 2분간 건조함으로써, 이형 PET 위에 수지 조성물층을 수득하였다. 이어서, 수지 시트의 지지체와 접합하고 있지 않은 면에 보호 필름으로서 폴리프로필렌 필름(오우지에프텍스(주) 제조 「알펜 MA-411」, 두께 15㎛)의 조면(粗面)을 수지 조성물층과 접합하도록 적층하였다. 이에 의해, 이형 PET(지지체), 수지 조성물층, 및 보호 필름의 순서로 이루어진 수지 시트를 수득하였다.The resin composition layer was obtained on the mold release PET by drying each resin composition on the mold release PET from 70 ° C. to 95 ° C. for 2 minutes, uniformly applied with a die coater so that the thickness of the resin composition layer after drying was 13 µm. Next, the rough surface of a polypropylene film ("Alpen MA-411" manufactured by Ogiftex Co., Ltd., 15 µm thick) as a protective film on the surface not bonded to the support body of the resin sheet is bonded to the resin composition layer stacked so as to Thereby, the resin sheet which consists of mold release PET (support body), a resin composition layer, and a protective film in order was obtained.

[평가 시험][Evaluation Test]

<최저 용융 점도의 측정><Measurement of Minimum Melt Viscosity>

수지 시트로부터 수지 조성물층만을 박리하고, 금형으로 압축함으로써 측정용 펠렛(직경 18㎜, 1.2 내지 1.3g)을 제작하였다.Only the resin composition layer was peeled from the resin sheet, and the pellet for a measurement (diameter 18mm, 1.2-1.3g) was produced by compressing with a metal mold|die.

동적 점탄성 측정 장치((주)유ㆍ비ㆍ엠 제조 「Rheosol-G3000」)를 사용하여, 시료 수지 조성물층 1g에 대해 직경 18㎜의 플렛 플레이트을 사용하여, 개시 온도 60℃로부터 200℃까지 승온 속도 5℃/분으로 승온하고, 측정 온도 간격 2.5℃, 진동수 1㎐, 변형 1deg 및 변형 5deg의 측정 조건으로 동적 점탄성율을 측정하여, 최저 용융 점도(포이즈)를 각각 산출하였다. 진동수 1㎐, 변형 1deg의 조건으로 동적 점탄성 측정을 행함으로써 얻어지는 최저 용융 점도(포이즈)를 표 2의 「변형 1deg에서의 최저 용융 점도」의 란에 기재하고, 진동수 1㎐, 변형 5deg의 조건으로 동적 점탄성 측정을 행함으로써 얻어지는 최저 용융 점도(포이즈)를 표 2의 「변형 5deg에서의 최저 용융 점도」의 란에 기재하였다.Using a dynamic viscoelasticity measuring device (“Rheosol-G3000” manufactured by UBM Co., Ltd.), using a flat plate having a diameter of 18 mm for 1 g of the sample resin composition layer, the temperature increase rate from the starting temperature of 60°C to 200°C The temperature was raised at 5°C/min, and the dynamic viscoelastic modulus was measured under the measurement conditions of a measurement temperature interval of 2.5°C, a frequency of 1 Hz, a strain of 1deg and a strain of 5deg, to calculate the lowest melt viscosity (poise), respectively. The minimum melt viscosity (poise) obtained by performing dynamic viscoelasticity measurement under the conditions of a frequency of 1 Hz and a strain of 1deg is described in the column of “Minimum melt viscosity at a strain of 1deg” in Table 2, and under the conditions of a frequency of 1Hz and a strain of 5deg The minimum melt viscosity (poise) obtained by performing dynamic viscoelasticity measurement was described in the column of "Minimum melt viscosity at deformation 5deg" of Table 2.

<경화물의 평균 선열팽창 계수(CTE)의 측정><Measurement of average coefficient of linear thermal expansion (CTE) of cured product>

이형 PET 필름(린텍(주) 제조 「501010」, 두께 38㎛, 240㎜ 각(角))의 미처리면이 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(마츠시타 덴코(주) 제조 「R5715ES」, 두께 0.7㎜, 255㎜ 각)에 접하도록 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판 위에 설치하고, 당해 이형 PET 필름의 사변을 폴리이미드 접착 테이프(폭 10㎜)로 고정하였다.The untreated side of the release PET film (“501010” manufactured by Lintec Co., Ltd., 38 μm thick, 240 mm square) is a glass cloth-based epoxy resin double-sided copper clad laminate (“R5715ES” manufactured by Matsushita Denko Co., Ltd., 0.7 mm thick) , 255 mm each) was installed on a glass cloth base epoxy resin double-sided copper clad laminate, and the four sides of the release PET film were fixed with polyimide adhesive tape (width 10 mm).

실시예 및 비교예에서 제작한 각 수지 시트를, 배치식 진공 가압 라미네이터(닛코ㆍ머티리얼즈(주) 제조 2스테이지 빌드업 라미네이터, CVP700)를 사용하여 수지 조성물층이 상기 이형 PET 필름(린텍(주) 제조 「501010」)의 이형면과 접하도록 중앙에 라미네이트 처리하였다. 라미네이트 처리는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 100℃, 압력 0.74㎫에서 30초간 압착시킴으로써 실시하였다.Each of the resin sheets produced in Examples and Comparative Examples was subjected to a batch type vacuum pressurization laminator (Nikko Materials Co., Ltd. 2-stage build-up laminator, CVP700), and the resin composition layer was ) was laminated in the center so as to be in contact with the release surface of manufacture "501010"). After the lamination process was pressure-reduced for 30 second and the atmospheric pressure was 13 hPa or less, it was performed by crimping|bonding at 100 degreeC and pressure 0.74 MPa for 30 second.

이어서, 100℃의 온도 조건에서, 100℃의 오븐에 투입 후 30분간, 이어서 180℃의 온도 조건에서 180℃의 오븐에 옮긴 후 30분간 열경화시켰다. 그 후, 기판을 실온 분위기 하에 꺼내, 수지 시트로부터 이형 PET(지지체)를 박리한 후, 추가로 200℃의 오븐에 투입 후 90분간의 경화 조건으로 열경화시켰다.Then, under the temperature condition of 100 ℃, after being put in the oven at 100 ℃ 30 minutes, then transferred to the oven at 180 ℃ under the temperature condition of 180 ℃ was thermally cured for 30 minutes. Then, the board|substrate was taken out in room temperature atmosphere, after peeling the mold release PET (support body) from the resin sheet, it was made to thermoset under hardening conditions for 90 minutes after throwing-in in 200 degreeC oven further.

열경화 후, 폴리이미드 접착 테이프를 떼어, 경화물을 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판으로부터 분리하였다. 또한 수지 조성물층이 적층되어 있던 이형 PET 필름(린텍(주) 제조 「501010」)를 박리하여, 시트 형상의 경화물을 수득하였다. 수득된 경화물을 「평가용 경화물」이라고 칭한다.After thermosetting, the polyimide adhesive tape was peeled off, and the hardened|cured material was isolate|separated from the glass cloth base epoxy resin double-sided copper clad laminated board. Further, the release PET film ("501010" manufactured by Lintec Co., Ltd.) on which the resin composition layer had been laminated was peeled off to obtain a sheet-shaped cured product. The obtained hardened|cured material is called "hardened|cured material for evaluation".

평가용 경화물을 폭 5㎜, 길이 15㎜의 시험편으로 절단하고, 열 기계 분석 장치((주)리가쿠 제조 「Thermo Plus TMA8310」)를 사용하여, 인장 가중법으로 열 기계 분석을 행하였다. 상세하게는, 시험편을 상기 열 기계 분석 장치에 장착한 후, 하중 1g, 승온 속도 5℃/분의 측정 조건으로 연속하여 2회 측정하였다. 그리고 2회의 측정에서 25℃로부터 150℃까지의 범위에서의 평면 방향의 평균 선열팽창 계수(ppm/℃)를 산출하여, 표 2에 나타내었다.The cured product for evaluation was cut into test pieces having a width of 5 mm and a length of 15 mm, and thermomechanical analysis was performed by a tensile weighting method using a thermomechanical analyzer (“Thermo Plus TMA8310” manufactured by Rigaku Corporation). In detail, after mounting the test piece to the said thermomechanical analysis apparatus, it measured twice successively under the measurement conditions of 1 g of load and 5 degreeC/min of temperature increase rate. And the average coefficient of linear thermal expansion (ppm/degreeC) in the plane direction in the range from 25 degreeC to 150 degreeC by two measurements was computed, and is shown in Table 2.

<패턴 매립성 및 평탄성의 평가><Evaluation of pattern embedding and flatness>

(평가용 기판의 조제)(Preparation of substrate for evaluation)

(1) 내층 회로 기판의 하지(下地) 처리(1) Underlay treatment of inner-layer circuit board

내층 회로 기판으로서, 1㎜ 각(角) 격자의 배선 패턴(잔동률이 59%)으로 형성된 회로 도체(구리)를 양면에 갖는 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(구리박의 두께 18㎛, 기판 두께 0.15㎜, 미츠비시가스카가쿠(주) 제조 「HL832NSF LCA」, 255*340㎜ 사이즈)를 준비하였다. 상기 내층 회로 기판의 양면을 멕(주) 제조 「CZ8201」에서 구리 표면의 조화 처리(구리 에칭량 0.5㎛)를 실시하였다.As an inner-layer circuit board, a glass cloth-based epoxy resin double-sided copper-clad laminate (a copper foil thickness of 18 µm, a substrate having a circuit conductor (copper) formed in a 1 mm square grid wiring pattern (residual rate of 59%) on both sides) on both sides. Thickness 0.15mm, Mitsubishi Chemical Co., Ltd. product "HL832NSF LCA, 255*340mm size) was prepared. The copper surface roughening process (copper etching amount 0.5 micrometer) was performed for both surfaces of the said inner-layer circuit board by Meg Co., Ltd. product "CZ8201".

(2) 수지 시트의 라미네이트(2) Lamination of resin sheets

실시예 및 비교예에서 제작한 각 수지 시트를 배치식 진공 가압 라미네이터(닛코ㆍ머티리얼즈(주) 제조, 2스테이지 빌드업 라미네이터, CVP700)를 사용하여, 수지 조성물층이 내층 회로 기판과 접하도록 내층 회로 기판의 양면에 라미네이트하였다. 라미네이트는 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 하고, 130℃, 압력 0.74㎫로 45초간 압착시킴으로써 실시하였다. 이어서, 120℃, 압력 0.5㎫로 75초간 열 프레스를 실시하였다.Each resin sheet produced in Examples and Comparative Examples was subjected to a batch type vacuum pressurization laminator (manufactured by Nikko Materials Co., Ltd., two-stage build-up laminator, CVP700) to form an inner layer such that the resin composition layer was in contact with the inner circuit board. Laminated on both sides of the circuit board. The lamination was pressure-reduced for 30 seconds, the atmospheric pressure was 13 hPa or less, and it was performed by crimping|bonding for 45 second at 130 degreeC and a pressure of 0.74 MPa. Then, it hot-pressed for 75 second at 120 degreeC and the pressure of 0.5 MPa.

(3) 수지 조성물층의 열경화(3) Thermosetting of the resin composition layer

수지 시트가 라미네이트된 내층 회로 기판을 100℃의 온도 조건에서 100℃의 오븐에 투입 후 30분간, 이어서 180℃의 온도 조건에서 180℃의 오븐에 옮긴 후 30분간 열경화하여 절연층을 형성하였다. 이것을 「평가용 기판 A」로 한다.The inner circuit board on which the resin sheet was laminated was put into an oven at 100° C. under a temperature condition of 100° C. for 30 minutes, then transferred to an oven at 180° C. under a temperature condition of 180° C., and thermosetted for 30 minutes to form an insulating layer. Let this be "substrate A for evaluation".

(패턴 매립성의 평가)(Evaluation of pattern embedding properties)

평가용 기판 A로 이루어진 지지체를 박리하고, 절연층의 표면을 마이크로 광학 현미경으로 관찰하여, 보이드가 발생하지 않고 단단히 매립된 경우에 「○」로 평가하고, 매립이 불충분해서 보이드가 발생된 경우에 「×」로 평가하여 표 2에 나타내었다. 또한, 비교예 1에 관해서는, 변형 1deg 및 변형 5deg에서의 최저 용융 점도가 모두 지나치게 높아서 패턴 매립을 할 수 없었기 때문에, 이하의 평가 시험(평탄성의 평가, 절연 신뢰성의 평가, 도체층간의 절연층의 두께 측정 및 휨량의 평가)을 행할 수 없었다.The support made of the substrate A for evaluation was peeled off, the surface of the insulating layer was observed with a micro-optical microscope, and it was evaluated as "○" when it was firmly buried without voids, and when voids were generated due to insufficient embedding It was evaluated by "x" and shown in Table 2. Further, with respect to Comparative Example 1, since the minimum melt viscosity in both strain 1deg and strain 5deg was too high and pattern embedding was not possible, the following evaluation tests (evaluation of flatness, evaluation of insulation reliability, insulation layer between conductor layers) thickness measurement and evaluation of warpage) could not be performed.

(평탄성의 평가)(Evaluation of flatness)

평가용 기판 A로부터 지지체를 박리하고, 격자 패턴 위의 영역에서의 절연층의 평탄성을 비접촉형 표면 조도계(비코인스트루먼트 제조 「WYKO NT3300」)로 측정하였다. 배율 10배, 0.82㎜×1.1㎜의 4개소의 영역에서 최대 단면 높이 Rt를 측정하여 평균치를 산출하였다. Rt의 평균치가 1.5㎛ 이하인 경우를 「○」로 평가하고, 1.5㎛를 초과하는 경우를 「×」로 평가하여, 표 2에 나타내었다.The support body was peeled from the board|substrate A for evaluation, and the flatness of the insulating layer in the area|region on a grid|lattice pattern was measured with the non-contact type surface roughness meter ("WYKO NT3300" manufactured by BCoin Instruments). The maximum cross-sectional height Rt was measured in the area|region of 4 places of 10 times magnification and 0.82 mm x 1.1 mm, and the average value was computed. The case where the average value of Rt was 1.5 µm or less was evaluated as "○", and the case where the average value of Rt exceeded 1.5 µm was evaluated as "x", and it is shown in Table 2.

<절연 신뢰성의 평가, 도체층간의 절연층의 두께 측정><Evaluation of insulation reliability, measurement of thickness of insulating layer between conductor layers>

(4) 비아홀의 형성(4) Formation of via holes

(3)에서 제작한 평가용 기판 A의 절연층 및 지지체의 위쪽부터, 미츠비시덴키(주) CO2 레이저 가공기 「605GTWIII(-P)」를 사용하여, 지지체의 위쪽부터 레이저를 조사하여 격자 패턴의 도체 위의 절연층에 탑 직경(70㎛)의 비아홀을 형성하였다. 레이저 조사 조건은 마스크 직경이 2.5㎜이고, 펄스 폭이 16㎲이고, 에너지가 0.39mJ/쇼트이고, 쇼트 수가 2이고, 버스트 모드(10k㎐)로 행하였다.From the top of the insulating layer and support of the substrate A for evaluation prepared in (3), Mitsubishi Denki Co., Ltd. CO 2 laser processing machine "605GTWIII(-P)" was used to irradiate the laser from the top of the support to form a grid pattern. A via hole having a top diameter (70 µm) was formed in the insulating layer on the conductor. The laser irradiation conditions were a mask diameter of 2.5 mm, a pulse width of 16 µs, an energy of 0.39 mJ/shot, a number of shots of 2, and a burst mode (10 kHz).

(5) 조화 처리를 행하는 공정(5) The process of performing a roughening process

비아홀이 형성된 회로 기판으로부터 지지체를 박리하여, 디스미어 처리를 행하였다. 또한, 디스미어 처리로서는, 하기의 습식 디스미어 처리를 실시하였다.The support body was peeled from the circuit board in which the via hole was formed, and the desmear process was performed. In addition, as a desmear process, the following wet desmear process was implemented.

습식 디스미어 처리:Wet desmear treatment:

팽윤액(아토텍재팬(주) 제조 「스웰링딥ㆍ시큐리간트 P」, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르 및 수산화나트륨의 수용액)에 60℃에서 5분간, 이어서 산화제 용액(아토텍재팬(주) 제조 「콘센트레이트ㆍ컴팩트 CP」, 과망간산칼륨 농도 약 6%, 수산화나트륨 농도 약 4%의 수용액)에 80℃에서 10분간, 마지막으로 중화액(아토텍재팬(주) 제조 「리덕션솔루션ㆍ시큐리간트 P」, 황산 수용액)에 40℃에서 5분간, 침지한 후, 80℃에서 15분간 건조하였다.In a swelling solution (“Swelling Deep Securigant P” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., an aqueous solution of diethylene glycol monobutyl ether and sodium hydroxide) at 60° C. for 5 minutes, then an oxidizing agent solution (“Atotech Japan Co., Ltd.” Concentrate Compact CP”, an aqueous solution with a potassium permanganate concentration of about 6% and sodium hydroxide concentration of about 4%) at 80°C for 10 minutes, and finally a neutralization solution (“Reduction Solution Securigant P” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) , sulfuric acid aqueous solution) at 40° C. for 5 minutes, followed by drying at 80° C. for 15 minutes.

(6) 도체층을 형성하는 공정(6) Step of forming the conductor layer

(6-1) 무전해 도금 공정(6-1) Electroless plating process

상기 회로 기판의 표면에 도체층을 형성하기 위해, 하기 1 내지 6의 공정을 포함하는 도금 공정(아토텍재팬(주) 제조의 약액을 사용한 구리 도금 공정)을 실시하여 도체층을 형성하였다.In order to form a conductor layer on the surface of the said circuit board, the plating process (copper plating process using the chemical|medical solution manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) including the following steps 1 to 6 was performed to form a conductor layer.

1. 알칼리 클리닝 (비아홀이 형성된 절연층의 표면의 세정과 전하 조정)1. Alkaline cleaning (cleaning the surface of the insulating layer with via holes and adjusting the charge)

상품명: Cleaning Cleaner Securiganth 902(상품명)를 사용하여 60℃에서 5분간 세정하였다.Product name: Using Cleaning Cleaner Securiganth 902 (trade name), it was washed at 60° C. for 5 minutes.

2. 소프트 에칭 (비아홀 내의 세정)2. Soft etching (cleaning in the via hole)

황산 산성 퍼옥소이황산나트륨 수용액을 사용하여 30℃에서 1분간 처리하였다.It was treated at 30° C. for 1 minute using a sulfuric acid acid sodium peroxodisulfate aqueous solution.

3. 프레딥 (Pd 부여를 위한 절연층의 표면 전하의 조정)3. Predip (adjustment of surface charge of insulating layer to impart Pd)

Pre. Dip Neoganth B(상품명)을 사용하여 실온에서 1분간 처리하였다.Pre. Dip Neoganth B (trade name) was used for 1 minute treatment at room temperature.

4. 액티베이터 부여 (절연층의 표면으로의 Pd의 부여)4. Activator application (application of Pd to the surface of the insulating layer)

Activator Neoganth 834(상품명)을 사용하여 35℃에서 5분간 처리하였다.Activator Neoganth 834 (trade name) was used for treatment at 35° C. for 5 minutes.

5. 환원 (절연층에 부여된 Pd를 환원)5. Reduction (reduction of Pd imparted to the insulating layer)

Reducer Neoganth WA(상품명)와 Reducer Acceralator 810mod.(상품명)의 혼합액을 사용하여 30℃에서 5분간 처리하였다.A mixed solution of Reducer Neoganth WA (trade name) and Reducer Acceralator 810mod. (trade name) was used and treated at 30° C. for 5 minutes.

6. 무전해 구리 도금 공정 (Cu를 절연층의 표면(Pd 표면)에 석출)6. Electroless copper plating process (Cu is deposited on the surface of the insulating layer (Pd surface))

Basic Solution Printganth MSK-DK(상품명)와, Copper solution Printganth MSK(상품명)와, Stabilizer Printganth MSK-DK(상품명)와, Reducer Cu(상품명)의 혼합액을 사용하여 35℃에서 20분간 처리하였다. 형성된 무전해 구리 도금층의 두께는 0.8㎛이었다.Basic Solution Printganth MSK-DK (trade name), Copper solution Printganth MSK (trade name), Stabilizer Printganth MSK-DK (trade name), and Reducer Cu (trade name) were treated at 35° C. for 20 minutes using a mixture. The thickness of the formed electroless copper plating layer was 0.8 mu m.

(6-2) 전해 도금 공정(6-2) Electrolytic plating process

이어서, 아토텍재팬(주) 제조의 약액을 사용하여, 비아홀 내에 구리가 충전되는 조건으로 전해 구리 도금 공정을 행하였다. 그 후에, 에칭에 의한 패터닝을 위한 레지스트 패턴으로서, 비아홀에 도통된 직경 1㎜의 랜드 패턴 및, 하층 도체와는 접속되어 있지 않은 직경 10㎜의 원형 도체 패턴을 사용하여 절연층의 표면에 10㎛의 두께로 랜드 및 도체 패턴을 갖는 도체층을 형성하였다. 이어서 어닐 처리를 200℃에서 90분간 실시하였다. 이 기판을 평가용 기판 B로 하였다.Next, the electrolytic copper plating process was performed using the chemical|medical solution manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. under the condition that copper is filled in the via hole. Thereafter, as a resist pattern for patterning by etching, a land pattern with a diameter of 1 mm conducted through the via hole and a circular conductor pattern with a diameter of 10 mm which is not connected to the lower layer conductor were used on the surface of the insulating layer by 10 µm. A conductor layer having a land and a conductor pattern was formed to a thickness of . Subsequently, annealing treatment was performed at 200°C for 90 minutes. This board|substrate was made into the board|substrate B for evaluation.

(도체층간의 절연층의 두께의 측정)(Measurement of thickness of insulating layer between conductor layers)

평가용 기판 B를 FIB-SEM 복합 장치(SII 나노테크놀로지(주) 제조 「SMI3050SE」)를 사용하여 단면 관찰을 행하였다. 상세하게는, 도체층의 표면에 수직인 방향에서의 단면을 FIB(집속 이온 빔)에 의해 깎아내어, 단면 SEM 화상으로부터 도체층간의 절연층 두께를 측정하였다. 각 샘플에 대해, 무작위로 선택한 5개소의 단면 SEM 화상을 관찰하고, 그 평균치를 도체층간의 절연층의 두께(㎛)로 하여, 표 2에 나타내었다.Cross-sectional observation was performed for the board|substrate B for evaluation using the FIB-SEM composite apparatus ("SMI3050SE" manufactured by SII Nanotechnology Co., Ltd.). In detail, the cross section in the direction perpendicular to the surface of the conductor layer was cut by FIB (focused ion beam), and the thickness of the insulating layer between the conductor layers was measured from the cross-sectional SEM image. For each sample, cross-sectional SEM images of five randomly selected locations were observed, and the average value was shown in Table 2 as the thickness (µm) of the insulating layer between the conductor layers.

(절연층의 절연 신뢰성의 평가)(Evaluation of insulation reliability of insulating layer)

상기에서 수득된 평가용 기판 A의 직경 10㎜의 원형 도체측을 +전극으로 하고, 직경 1㎜의 랜드와 접속된 내층 회로 기판의 격자 도체(구리)측을 -전극으로 하고, 고도 가속 수명 시험 장치(ETAC 제조 「PM422」)를 사용하여, 130℃, 85% 상대 습도, 3.3V 직류 전압 인가의 조건으로 200시간 경과시켰을 때의 절연 저항값을 일렉트로케미컬 마이그레이션 테스터(J-RAS(주) 제조 「ECM-100」)로 측정하였다(n=6). 6점의 시험 피스 전체에서 그 저항값이 107Ω 이상의 경우를 「○」, 하나라도 107Ω 미만의 경우는 「×」로 하여, 평가 결과와 절연 저항값을 표 2에 나타내었다. 표 2에 기재된 절연 저항값은 6점의 시험 피스의 절연 저항값의 최저값이다.A highly accelerated life test was performed using the circular conductor side of the substrate A obtained above with a diameter of 10 mm as the + electrode, and the grid conductor (copper) side of the inner-layer circuit board connected to the land with a diameter of 1 mm as the - electrode. Using an apparatus (“PM422” manufactured by ETAC), the insulation resistance value when 200 hours have elapsed under the conditions of 130°C, 85% relative humidity, and 3.3V DC voltage application was measured using an electrochemical migration tester (manufactured by J-RAS Co., Ltd.). "ECM-100") (n=6). In all six test pieces, the case where the resistance value was 10 7 Ω or more was “○”, and when even one was less than 10 7 Ω, it was “x”, and the evaluation results and insulation resistance values were shown in Table 2. The insulation resistance value described in Table 2 is the lowest value of the insulation resistance value of the test piece of 6 points|pieces.

<휨량의 평가><Evaluation of warpage amount>

(평가용 기판 C의 제작)(Preparation of substrate C for evaluation)

평가용 기판 A로부터 지지체를 박리한 후, 200℃에서 90분간의 열경화를 실시하였다. 수득된 기판을 평가용 기판 C로 하였다.After peeling a support body from the board|substrate A for evaluation, thermosetting for 90 minutes was implemented at 200 degreeC. The obtained board|substrate was made into the board|substrate C for evaluation.

(리플로우 휨량의 평가 시험)(evaluation test of reflow deflection amount)

평가용 기판 C를 45㎜ 각(角)의 개편으로 잘라낸 후(n=5), 피크 온도 260℃의 납땜 리플로우 온도를 재현하는 리플로우 장치(니혼안톰(주) 제조 「HAS-6116」)에 1회 통과시켰다(리플로우 온도 프로파일은 IPC/JEDEC J-STD-020C에 준거). 이어서, 셰도우 모아레 장치(Akrometrix 제조 「TherMoire AXP」)를 사용하여, IPC/JEDEC J-STD-020C(피크 온도 260℃)에 준거한 리플로우 온도 프로파일로 기판 하면을 가열하고, 기판 중앙의 10㎜ 각(角) 부분의 변위량(㎛)을 측정하여 측정 결과를 표 2에 나타내었다.After the evaluation substrate C was cut into pieces of 45 mm square (n = 5), a reflow device that reproduces the solder reflow temperature with a peak temperature of 260°C (“HAS-6116” manufactured by Nippon Antom Co., Ltd.) (reflow temperature profile conforms to IPC/JEDEC J-STD-020C). Next, using a shadow moire apparatus ("TherMoire AXP" manufactured by Akrometrix), the lower surface of the substrate is heated with a reflow temperature profile conforming to IPC/JEDEC J-STD-020C (peak temperature 260°C), and 10 mm at the center of the substrate The displacement amount (㎛) of each part was measured, and the measurement results are shown in Table 2.

Figure 112017030091072-pat00002
Figure 112017030091072-pat00002

100 부품 가부착 내층 기판(캐비티 기판)
1 내층 기판
1a 캐비티
11 제1 주면
12 제2 주면
2 가부착 재료
3 부품
4 회로 배선
5 제1 도체층
51 제1 도체층의 주면
6 제2 도체층
61 제2 도체층의 주면
7 절연층
100 Temporary Attachment Inner Layer Board (Cavity Board)
1 inner layer substrate
1a cavity
11 1st week
12 2nd week
2 Temporary material
3 parts
4 circuit wiring
5 first conductor layer
51 Main surface of the first conductor layer
6 second conductor layer
61 Main surface of the second conductor layer
7 Insulation layer

Claims (8)

(A) 에폭시 수지, (B) 경화제, 및 (C) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물층을 구비하는 수지 시트로서,
상기 수지 조성물층 중의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우, (C) 무기 충전재가 50질량% 이상이고,
당해 수지 조성물층의, 진동수 1㎐, 변형(歪) 1deg에서의 최저 용융 점도가 8000포이즈 이상이고,
당해 수지 조성물층의, 진동수 1㎐, 변형 5deg에서의 최저 용융 점도가 8000포이즈 이하이고,
당해 수지 조성물층의 두께가 15㎛ 이하이고,
당해 (C) 무기 충전재의 평균 입자 직경이 0.05 내지 0.35㎛인,
수지 시트.
A resin sheet comprising a resin composition layer comprising (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, and (C) an inorganic filler,
When the nonvolatile component in the said resin composition layer is 100 mass %, (C) inorganic filler is 50 mass % or more,
The minimum melt viscosity of the resin composition layer at a frequency of 1 Hz and a deformation of 1deg is 8000 poise or more,
The minimum melt viscosity of the resin composition layer at a frequency of 1 Hz and a strain of 5 deg is 8000 poise or less,
The thickness of the resin composition layer is 15 μm or less,
The average particle diameter of the said (C) inorganic filler is 0.05-0.35 micrometer,
resin sheet.
제1항에 있어서, (A) 에폭시 수지가 액상 에폭시 수지를 포함하는, 수지 시트.The resin sheet according to claim 1, wherein (A) the epoxy resin contains a liquid epoxy resin. 제1항에 있어서, 프린트 배선판의 절연층 형성용인, 수지 시트.The resin sheet according to claim 1, which is for forming an insulating layer of a printed wiring board. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 제1 도체층과, 제2 도체층과, 제1 도체층과 제2 도체층을 절연하고 있는 절연층을 포함하고, 제1 도체층과 제2 도체층의 사이의 절연층의 두께가 6㎛ 이하인 프린트 배선판의 당해 절연층 형성용인, 수지 시트.The first conductor layer, the second conductor layer, and an insulating layer that insulates the first conductor layer and the second conductor layer according to any one of claims 1 to 3, comprising: the first conductor layer; The resin sheet for forming the said insulating layer of the printed wiring board whose thickness of the insulating layer between 2nd conductor layers is 6 micrometers or less. 제1 도체층, 제2 도체층, 및, 제1 도체층과 제2 도체층을 절연하고 있는 절연층을 포함하고, 제1 도체층과 제2 도체층의 사이의 절연층의 두께가 6㎛ 이하인 프린트 배선판으로서,
당해 절연층은, 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 기재된 수지 시트의 수지 조성물층의 경화물인, 프린트 배선판.
A first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer that insulates the first conductor layer and the second conductor layer, wherein the insulating layer between the first conductor layer and the second conductor layer has a thickness of 6 µm As the following printed wiring board,
The said insulating layer is a hardened|cured material of the resin composition layer of the resin sheet in any one of Claims 1-3, The printed wiring board.
제5항에 기재된 프린트 배선판을 포함하는 반도체 장치.A semiconductor device comprising the printed wiring board according to claim 5 . 삭제delete 삭제delete
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