KR102303033B1 - Deposition apparatus and method - Google Patents

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Abstract

본 발명은 처리물의 일면에 증착 분위기를 형성할 수 있는 챔버부, 챔버부를 통하여 처리물의 일면에 레이저를 조사할 수 있도록 설치되는 레이저부, 챔버부와 연결되고, 내부에 소스가 충전되며, 챔버부로 기화된 소스를 공급할 수 있는 소스 공급부, 및 내부에 안정제가 수용되고, 소스 공급부에 안정제를 공급할 수 있도록 설치되는 안정제 공급부를 포함하는 증착 장치와, 이를 이용한 증착 방법으로서, 소스의 변질을 방지할 수 있는 증착 장치 및 방법이 제시된다.The present invention relates to a chamber unit capable of forming a deposition atmosphere on one surface of the processed object, a laser unit installed so as to irradiate a laser to one surface of the processed object through the chamber unit, is connected to the chamber unit, a source is charged therein, and a chamber unit A deposition apparatus comprising a source supply unit capable of supplying a vaporized source, and a stabilizer supply unit accommodated therein, and installed to supply a stabilizer to the source supply unit, and a deposition method using the same, which can prevent deterioration of the source A deposition apparatus and method are provided.

Description

증착 장치 및 방법{DEPOSITION APPARATUS AND METHOD}DEPOSITION APPARATUS AND METHOD

본 발명은 증착 장치 및 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 소스의 변질을 방지할 수 있는 증착 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a deposition apparatus and method, and more particularly, to a deposition apparatus and method capable of preventing deterioration of a source.

표시장치의 제조 중에, 표시장치의 기판 상에 형성된 소자의 도전 라인이 단선되어 오픈 결함이 발생할 수 있다. 따라서, 표시장치를 제조하는 중에 오픈 결함을 리페어하는 공정이 실시된다.During the manufacturing of the display device, an open defect may occur due to a disconnection of a conductive line of an element formed on a substrate of the display device. Accordingly, a process of repairing an open defect is performed during manufacturing of the display device.

리페어 공정은 화학기상증착 방식의 리페어 장치에 의해 대기 중에서 실시되는데, 기판의 오픈 결함 위치에 메탈 소스를 공급하고, 레이저를 조사하여 오픈 결함 위치에 금속 막을 증착함으로써, 도전 라인의 단선된 부위를 이어주는 방식으로 실시된다.The repair process is performed in the atmosphere by a chemical vapor deposition-type repair device, which supplies a metal source to the open defect location of the substrate, irradiates a laser to deposit a metal film at the open defect location, and connects the disconnected portion of the conductive line. carried out in a way

리페어 장치는 캐니스터를 구비한다. 캐니스터에는 메탈 소스가 고체 파우더 상태로 저장된다. 리페어 공정 시, 캐니스터에 저장된 메탈 소스를 기화시키고, 기체 상태의 메탈 소스를 오픈 결함 위치로 공급한다.The repair apparatus has a canister. In the canister, the metal source is stored as a solid powder. During the repair process, the metal source stored in the canister is vaporized, and the gaseous metal source is supplied to the open defect location.

한편, 리페어 공정 중에, 시간이 지남에 따라 메탈 소스가 캐니스터 내부에서 덩어리 상태로 굳을 수 있다. 이처럼 캐니스터 내부에서 메탈 소스가 덩어리 상태로 변질되면, 메탈 소스를 기화시키기 어렵고, 기화된 메탈 소스를 오픈 결함 위치에 충분하게 공급하기 어렵고, 금속 막 증착이 어려운 문제점이 있다.Meanwhile, during the repair process, over time, the metal source may solidify in a lump inside the canister. As such, when the metal source is degenerated into a lump inside the canister, it is difficult to vaporize the metal source, it is difficult to sufficiently supply the vaporized metal source to an open defect location, and it is difficult to deposit a metal film.

본 발명의 배경이 되는 기술은 하기의 특허문헌에 게재되어 있다.The technology underlying the present invention is disclosed in the following patent documents.

KRUS 10-2013-008862810-2013-0088628 AA KRUS 10-2005-004544210-2005-0045442 AA

본 발명은 소스의 변질을 방지할 수 있는 증착 장치 및 방법을 제공한다.The present invention provides a deposition apparatus and method capable of preventing deterioration of a source.

본 발명의 실시 형태에 따른 증착 장치는 처리물의 일면에 증착 분위기를 형성할 수 있는 챔버부; 상기 챔버부를 통하여 상기 처리물의 일면에 레이저를 조사할 수 있도록 설치되는 레이저부; 및 상기 챔버부와 연결되고, 내부에 소스가 충전되며, 상기 챔버부로 기화된 소스를 공급할 수 있는 소스 공급부; 내부에 안정제가 수용되고, 상기 소스 공급부에 안정제를 공급할 수 있도록 설치되는 안정제 공급부;를 포함한다.A deposition apparatus according to an embodiment of the present invention includes: a chamber unit capable of forming a deposition atmosphere on one surface of a processed object; a laser unit installed to irradiate a laser onto one surface of the processed object through the chamber unit; and a source supply unit connected to the chamber unit, filled with a source therein, and capable of supplying a vaporized source to the chamber unit; and a stabilizer supply unit accommodated therein, and installed to supply the stabilizer to the source supply unit.

상기 소스 공급부는 상기 챔버부와 연결되는 소스 공급기 및 상기 소스 공급기와 연결되는 캐리어 가스 공급기를 포함하고, 상기 안정제 공급부는 상기 소스 공급기에 연결되고, 캐리어 가스 공급 경로와 분리될 수 있다.The source supply unit may include a source supply connected to the chamber unit and a carrier gas supply connected to the source supply, and the stabilizer supply unit may be connected to the source supply and separated from the carrier gas supply path.

상기 소스 공급부는 상기 챔버부와 연결되는 소스 공급기 및 내부에 캐리어 가스가 충전되는 캐리어 가스 공급기를 포함하고, 상기 안정제 공급부는 상기 소스 공급기에 연결되고, 상기 캐리어 가스 공급기는 상기 안정제 공급부에 연결되고, 캐리어 가스 공급 경로가 상기 안정제 공급부를 경유할 수 있다.The source supply unit includes a source supply connected to the chamber unit and a carrier gas supply filled with a carrier gas therein, the stabilizer supply unit is connected to the source supply unit, the carrier gas supply unit is connected to the stabilizer supply unit, A carrier gas supply path may pass through the stabilizer supply unit.

상기 안정제 공급부는, 내부에 안정제가 수용되는 안정제 용기; 상기 안정제를 액체 상태로 상기 소스 공급기에 공급할 수 있도록 상기 안정제 용기와 상기 소스 공급기를 연결시키는 안정제 공급관;을 포함할 수 있다.The stabilizer supply unit may include: a stabilizer container in which the stabilizer is accommodated; A stabilizer supply pipe connecting the stabilizer container and the source supplier to supply the stabilizer to the source supplier in a liquid state; may include.

상기 안정제 공급부는, 내부에 압력 가스가 수용되는 압력 용기; 상기 압력 가스를 상기 안정제 용기에 주입시킬 수 있도록 상기 압력 용기와 상기 안정제 용기를 연결시키는 압력관;을 포함할 수 있다.The stabilizer supply unit, a pressure vessel in which the pressure gas is accommodated; may include; a pressure pipe connecting the pressure vessel and the stabilizer vessel to inject the pressure gas into the stabilizer vessel.

상기 안정제 공급관은 상기 안정제 용기에 수용된 안정제에 침지될 수 있는 입구 및 상기 소스 공급기의 내부에 충전된 소스와 이격될 수 있는 출구를 구비할 수 있다.The stabilizer supply pipe may have an inlet that can be immersed in the stabilizer accommodated in the stabilizer container and an outlet that can be spaced apart from the source filled in the source supplier.

상기 안정제 공급부는, 내부에 안정제가 수용되는 안정제 용기; 기화된 안정제를 상기 소스 공급기에 이송할 수 있도록 상기 안정제 용기와 상기 소스 공급기를 연결시키는 안정제 이송관;을 포함할 수 있다.The stabilizer supply unit may include: a stabilizer container in which the stabilizer is accommodated; It may include; a stabilizer transfer pipe connecting the stabilizer container and the source supplier so as to transfer the vaporized stabilizer to the source supplier.

상기 안정제 용기는 상기 캐리어 가스 공급기와 연결되고, 상기 캐리어 가스 공급 경로는 상기 안정제 용기의 내부 및 상기 안정제 이송관을 경유할 수 있다.The stabilizer container may be connected to the carrier gas supplier, and the carrier gas supply path may pass through the inside of the stabilizer container and the stabilizer delivery pipe.

상기 안정제 이송관은 상기 안정제 용기에 수용된 안정제와 이격될 수 있는 입구 및 상기 소스 공급기의 하부에서 개방될 수 있는 출구를 구비할 수 있다.The stabilizer transport pipe may have an inlet that can be spaced apart from the stabilizer accommodated in the stabilizer container and an outlet that can be opened from the lower portion of the source feeder.

본 발명의 실시 형태에 따른 증착 방법은 처리물을 마련하는 과정; 소스를 기화시키는 과정; 기화된 소스를 처리물의 일면에 공급하는 과정; 레이저를 조사하여 상기 처리물의 일면에 막을 형성하는 과정; 상기 소스를 기화시키는 과정 중에, 상기 소스에 안정제를 공급하는 과정; 상기 소스의 변질을 방지하는 과정;을 포함한다.A deposition method according to an embodiment of the present invention includes the steps of providing a treatment; the process of vaporizing the sauce; The process of supplying a vaporized source to one surface of the treated object; forming a film on one surface of the processed object by irradiating a laser; During the process of vaporizing the source, the step of supplying a stabilizer to the source; It includes; a process of preventing deterioration of the source.

기화된 소스를 처리물의 일면에 공급하는 과정 중에, 캐리어 가스로 상기 기화된 소스를 운반하는 과정;을 포함하고, 상기 안정제를 공급하는 과정은, 상기 캐리어 가스와 별도로, 상기 소스에 상기 안정제를 반복하여 공급하는 과정;을 포함할 수 있다.During the process of supplying the vaporized source to one surface of the treated object, the process of transporting the vaporized source as a carrier gas; and, the process of supplying the stabilizer is, separately from the carrier gas, repeating the stabilizer to the source It may include a process of supplying the

기화된 소스를 처리물의 일면에 공급하는 과정 중에, 캐리어 가스로 상기 기화된 소스를 운반하는 과정;을 포함하고, 상기 안정제를 공급하는 과정은, 캐리어 가스 공급 경로를 통하여, 상기 소스에 상기 안정제를 연속하여 공급하는 과정;을 포함할 수 있다.In the process of supplying the vaporized source to one surface of the treated object, the process of transporting the vaporized source as a carrier gas; and, the supplying of the stabilizer includes, through a carrier gas supply path, the stabilizer to the source It may include a process of continuously supplying.

상기 안정제를 반복하여 공급하는 과정은, 압력 가스를 이용하여 상기 소스에 상기 안정제를 액체 상태로 공급하는 과정;을 포함할 수 있다.The process of repeatedly supplying the stabilizer may include a process of supplying the stabilizer in a liquid state to the source using a pressure gas.

상기 안정제를 연속하여 공급하는 과정은, 상기 안정제를 기화시키는 과정; 기화된 안정제를 상기 캐리어 가스로 기송하는 과정; 상기 소스에 상기 기화된 안정제를 공급하는 과정;을 포함할 수 있다.The process of continuously supplying the stabilizer may include: vaporizing the stabilizer; transporting the vaporized stabilizer to the carrier gas; It may include; supplying the vaporized stabilizer to the source.

상기 소스는 메탈 소스를 포함하고, 상기 안정제는 탄화 수소 화합물을 포함할 수 있다.The source may include a metal source, and the stabilizer may include a hydrocarbon compound.

본 발명의 실시 형태에 따르면, 공정을 수행하는 중에, 박막 증착용 소스에 안정제를 투입할 수 있고, 소스에 투입된 안정제의 비율을 유지할 수 있다. 이에, 소스의 물성을 안정적으로 유지시킬 수 있고, 공정 중에 소스가 덩어리 상태로 변질되는 것을 방지할 수 있다. 이에, 공정 효율 및 신뢰성을 향상시킬 수 있다.According to an embodiment of the present invention, during the process, a stabilizer may be added to the source for thin film deposition, and the ratio of the stabilizer input to the source may be maintained. Accordingly, the physical properties of the sauce can be stably maintained, and it is possible to prevent the sauce from being degenerated into a lump during the process. Accordingly, process efficiency and reliability can be improved.

도 1은 본 발명의 실시 예들에 따른 증착 장치의 개략도이다.
도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 공급부의 개략도이다.
도 3은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 공급부의 개략도이다.
1 is a schematic diagram of a deposition apparatus according to embodiments of the present invention.
2 is a schematic diagram of a supply unit according to a first embodiment of the present invention.
3 is a schematic diagram of a supply unit according to a second embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명의 실시 예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예에 한정되는 것이 아니고, 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이다. 단지 본 발명의 실시 예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 해당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 본 발명의 실시 예를 설명하기 위하여 도면은 과장될 수 있고, 도면상의 동일한 부호는 동일한 요소를 지칭한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, an embodiment of the present invention will be described in detail. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, and will be implemented in various different forms. Only the embodiments of the present invention are provided to complete the disclosure of the present invention, and to completely inform those of ordinary skill in the art the scope of the invention. The drawings may be exaggerated in order to explain the embodiment of the present invention, and the same reference numerals in the drawings refer to the same elements.

본 발명의 실시 예들에 따른 증착 장치는 대기 중에 마련된 기판에 레이저광을 조사하여 화학기상증착 방식으로 금속 박막을 증착할 수 있는 레이저 화학기상증착(LCVD) 리페어 장치로 사용될 수 있다. 물론, 본 발명의 실시 예들에 따른 증착 장치는 다양한 처리물에 각종 막을 증착하는 증착 장치로 사용될 수 있다.The deposition apparatus according to the embodiments of the present invention may be used as a laser chemical vapor deposition (LCVD) repair apparatus capable of depositing a metal thin film by a chemical vapor deposition method by irradiating a laser beam to a substrate provided in the atmosphere. Of course, the deposition apparatus according to the embodiments of the present invention may be used as a deposition apparatus for depositing various films on various processing materials.

이하, 리페어 장치 및 리페어 공정을 기준으로, 본 발명의 실시 예들을 상세하게 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to a repair apparatus and a repair process.

도 1은 본 발명의 실시 예들에 따른 증착 장치를 도시한 개략도이고, 도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 공급부를 도시한 개략도이며, 도 3은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 공급부를 도시한 개략도이다.1 is a schematic diagram illustrating a deposition apparatus according to embodiments of the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a supply unit according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a supply unit according to a second embodiment of the present invention It is a schematic diagram showing wealth.

도 1 내지 도 3을 참조하여, 본 발명의 실시 예들에 따른 증착 장치를 설명한다.A deposition apparatus according to embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3 .

본 발명의 실시 예들에 따른 증착 장치는, 처리물(S)의 일면에 증착 분위기를 형성할 수 있는 챔버부(200), 챔버부(200)를 통하여 처리물(S)의 일면에 레이저를 조사할 수 있도록 설치되는 레이저부(300) 및 챔버부(200)와 연결되는 공급부(500)를 포함한다.In the deposition apparatus according to embodiments of the present invention, a laser is irradiated to one surface of the processed object S through the chamber 200 and the chamber 200 capable of forming a deposition atmosphere on one surface of the processed object S. It includes a laser unit 300 and a supply unit 500 connected to the chamber unit 200 to be installed.

이때, 공급부(500)는, 챔버부(200)와 연결되고, 내부에 소스가 충전되며, 챔버부(200)로 기화된 소스를 공급할 수 있는 소스 공급부(500A, 500C) 및 내부에 안정제가 수용되고, 소스 공급부(500A, 500C)에 안정제를 공급할 수 있도록 설치되는 안정제 공급부(500B, 570)를 포함한다.At this time, the supply unit 500 is connected to the chamber unit 200 , the source is filled therein, and the source supply units 500A and 500C capable of supplying the vaporized source to the chamber unit 200 , and the stabilizer is accommodated therein. and a stabilizer supply unit (500B, 570) installed to supply a stabilizer to the source supply unit (500A, 500C).

본 발명의 실시 예들에 따른 증착 장치는, 지지부(100) 및 광학부(400)를 더 포함할 수 있다.The deposition apparatus according to embodiments of the present invention may further include a support part 100 and an optical part 400 .

처리물(S)은 그 일면에 각종 전자 소자가 제조되는 공정이 진행 중이거나 또는 종료된 기판일 수 있다. 처리물(S)은 지지부(100)의 상면에 안착될 수 있고, 대기 중에 마련될 수 있다.The processed object S may be a substrate in which various electronic devices are manufactured on one surface in progress or in which the process has been completed. The processed object S may be seated on the upper surface of the support 100 and may be provided in the atmosphere.

소스는 박막 증착용 메탈 소스를 포함할 수 있다. 메탈 소스는 코발트 소스를 포함할 수 있다. 물론, 메탈 소스는 텅스텐 소스를 포함할 수도 있다. 메탈 소스의 종류는 다양할 수 있다. 코발트 소스는 약 35℃ 부근에서 기화될 수 있고, 텅스텐 소스는 약 75℃ 부근에서 기화될 수 있다.The source may include a metal source for thin film deposition. The metal source may include a cobalt source. Of course, the metal source may include a tungsten source. The type of the metal source may be various. The cobalt source may be vaporized at about 35°C, and the tungsten source may be vaporized at about 75°C.

안정제는 소스의 변질을 방지하는 역할을 한다. 소스의 변질은 예컨대 소스의 입자들이 서로 뭉침으로써 소스가 고체 파우더 상태에서 덩어리 상태로 변하는 것을 의미한다. 안정제는 상온에서 액체 상태를 유지할 수 있고, 소스 예컨대 텅스텐 소스보다 끓는점이 높을 수 있다. 안정제는 다양한 종류의 탄화 수소 화합물 예컨대 하이드로 카본을 포함할 수 있다. 구체적으로 안정제는 하이드로 카본 계열의 솔벤트를 포함할 수 있다. 물론, 안정제는 소스의 변질을 방지할 수 있는 각종 하이드로 카본 계열의 물질을 포함할 수 있다. 예컨대 안정제는 옥탄을 포함할 수 있다. 안정제는 휘발성을 가질 수 있다. 안정제는 소스의 기화량을 늘려줄 수 있다.The stabilizer serves to prevent deterioration of the sauce. The deterioration of the sauce means, for example, that the source changes from a solid powder state to a lump state as particles of the sauce agglomerate with each other. The stabilizer may remain in a liquid state at room temperature and may have a higher boiling point than a source such as a tungsten source. The stabilizer may include various kinds of hydrocarbon compounds such as hydrocarbons. Specifically, the stabilizer may include a hydrocarbon-based solvent. Of course, the stabilizer may include various hydrocarbon-based materials that can prevent deterioration of the source. For example, the stabilizer may include octane. Stabilizers may be volatile. Stabilizers can increase the amount of vaporization of the sauce.

챔버부(200)는 지지부(100)의 상측에 배치될 수 있다. 이때, 챔버부(2000)는 지지부(100)에 대하여 상대이동이 가능할 수 있다. 지지부(100) 및 챔버부(200) 중 적어도 어느 하나는 이동 가능하게 설치될 수 있다.The chamber part 200 may be disposed above the support part 100 . In this case, the chamber unit 2000 may be movable relative to the support unit 100 . At least one of the support part 100 and the chamber part 200 may be movably installed.

챔버부(200)는 일측에 처리홀(미도시)이 형성될 수 있다. 처리홀은 상하방향으로 연장될 수 있다. 처리홀의 상부에 윈도우가 설치될 수 있다. 처리홀의 하부는 하방으로 개방될 수 있다. 처리홀은 소스 공급부(500A, 500C)로부터 기화된 소스를 공급받을 수 있다. 챔버부(200)는 처리홀을 통하여 처리물(S)의 상면에 기화된 소스를 공급할 수 있다. 이에, 기화된 소스는 처리홀의 하부의 개구를 통과하여 하방으로 분사되고, 처리물(S)의 상면에 증착 분위기를 형성할 수 있다. 증착 분위기는 기화된 소스가 지배적으로 존재하는 분위기를 의미한다. 증착 분위기가 형성된 소정의 공간을 처리 공간이라고 한다. 이때, 처리 공간은 처리홀과 처리물(S) 사이에 소정 크기로 형성될 수 있다.A processing hole (not shown) may be formed on one side of the chamber unit 200 . The processing hole may extend in the vertical direction. A window may be installed on the upper portion of the processing hole. The lower portion of the processing hole may be opened downward. The processing hole may receive a vaporized source from the source supply units 500A and 500C. The chamber unit 200 may supply the vaporized source to the upper surface of the processed object S through the processing hole. Accordingly, the vaporized source may be sprayed downward through the opening of the lower portion of the processing hole, and may form a deposition atmosphere on the upper surface of the processed object S. The deposition atmosphere means an atmosphere in which a vaporized source is predominantly present. A predetermined space in which the vapor deposition atmosphere is formed is referred to as a processing space. In this case, the processing space may be formed with a predetermined size between the processing hole and the processing object (S).

레이저부(300)는 챔버부(200)의 처리홀을 통하여 처리물(S)의 상면에 레이저 광을 조사할 수 있다. 레이저 광은 윈도우 및 처리홀을 통과하여 처리물(S)의 상면에 조사될 수 있다. 레이저부(300)는 챔버부(200)의 상측에 설치될 수 있다.The laser unit 300 may irradiate the laser light onto the upper surface of the processed object S through the processing hole of the chamber unit 200 . The laser light may be irradiated to the upper surface of the processed object (S) through the window and the processing hole. The laser unit 300 may be installed above the chamber unit 200 .

레이저부(300)는 레이저 광을 생성하고, 처리물(S)의 상면의 결함 위치에 레이저 광을 조사하여 열에너지를 공급함으로써 막을 증착할 수 있다. 레이저부(300)의 구성과 방식은 다양할 수 있다.The laser unit 300 may deposit a film by generating laser light and supplying thermal energy by irradiating laser light to a defect location on the upper surface of the processed object S. The configuration and method of the laser unit 300 may vary.

레이저부(300)와 챔버부(300) 사이에는 광학부(400)가 설치될 수 있다. 광학부(400)는 레이저부(300)에서 발진된 레이저 광을 챔버부(300)로 안내할 수 있다. 광학부(400)의 구성과 방식은 다양할 수 있다.The optical unit 400 may be installed between the laser unit 300 and the chamber unit 300 . The optical unit 400 may guide the laser light oscillated by the laser unit 300 to the chamber unit 300 . The configuration and method of the optical unit 400 may vary.

이하. 도 1 및 도 2를 참조하여, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 증착 장치를 상세하게 설명한다.below. A deposition apparatus according to a first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 and 2 .

본 발명의 제1 실시 예에 따르면, 소스 공급부(500A)는, 챔버부(200)와 연결되고, 내부에 소스가 충전되며, 챔버부(200)로 기화된 소스를 공급할 수 있다.According to the first embodiment of the present invention, the source supply unit 500A is connected to the chamber unit 200 , the source is filled therein, and may supply the vaporized source to the chamber unit 200 .

소스 공급부(500A)는, 챔버부(200)와 연결되는 소스 공급기(510) 및 소스 공급기(510)와 연결되는 캐리어 가스 공급기(520)를 포함할 수 있다.The source supply unit 500A may include a source supply unit 510 connected to the chamber unit 200 and a carrier gas supply unit 520 connected to the source supply unit 510 .

소스 공급기(510)는, 내부에 소스가 충전될 수 있는 소스 용기(511), 및 소스 용기(511)와 챔버부(200)를 연결시키는 소스 공급관(512)을 포함할 수 있다.The source supply 510 may include a source container 511 in which a source may be filled, and a source supply pipe 512 connecting the source container 511 and the chamber unit 200 .

소스 용기(511)는 내부에 소스가 고체 파우더 상태로 충전될 수 있다. 이때, 구체적으로 소스 용기(511)의 하부에 소스가 충전될 수 있다. 소스 용기(511)의 하부에 충전된 소스를 충전층 혹은 소스층이라 지칭한다. 소스 용기(511)를 캐니스터 혹은 버블러라고 지칭할 수 있다.The source container 511 may be filled with a solid powder state therein. At this time, the source may be specifically filled in the lower portion of the source container (511). The source filled in the lower portion of the source container 511 is referred to as a filling layer or a source layer. The source container 511 may be referred to as a canister or bubbler.

소스 공급기(510)는 가열 수단(미도시)을 포함할 수 있다. 가열 수단은 소스 용기(511)와 열적으로 연결될 수 있다. 가열 수단은 열선을 포함할 수 있다. 물론, 가열 수단은 다양할 수 있다. 한편, 캐리어 가스의 온도를 이용하여 소스를 승온시킬 수도 있다.The source supply 510 may include heating means (not shown). The heating means may be thermally connected to the source vessel 511 . The heating means may include a heating wire. Of course, the heating means may vary. On the other hand, the source may be heated by using the temperature of the carrier gas.

소스 용기(511)는 가열 수단에서 생성되는 열을 이용하여 소스를 고체 상태에서 기체 상태로 기화시키고, 기화된 소스를 소스 공급관(512)으로 유입시킬 수 있다. 소스 용기(511)는 상부에 기화된 소스가 유동할 수 있는 소정의 공간이 마련될 수 있다.The source container 511 may vaporize the source from a solid state to a gaseous state using heat generated by the heating means, and introduce the vaporized source into the source supply pipe 512 . The source container 511 may be provided with a predetermined space in which the vaporized source can flow.

소스 공급관(512)은 입구가 소스 용기(511)에 연결될 수 있고, 출구가 챔버부(200)의 처리홀에 연결될 수 있다. 이때, 구체적으로 소스 공급관(512)의 입구는 소스 용기(511)의 상부에 연결될 수 있다.The source supply pipe 512 may have an inlet connected to the source container 511 , and an outlet connected to a processing hole of the chamber unit 200 . In this case, specifically, the inlet of the source supply pipe 512 may be connected to the upper portion of the source container 511 .

한편, 소스 공급기(510)는 유량 제어기(미도시)를 포함할 수 있다. 유량 제어기는 소스 공급관(512)에 장착될 수 있다. 이때, 유량 제어기는 질량유량계를 포함할 수 있다.Meanwhile, the source supply 510 may include a flow controller (not shown). The flow controller may be mounted on the source supply pipe 512 . In this case, the flow controller may include a mass flow meter.

캐리어 가스 공급기(520)는, 캐리어 가스 공급원(521), 및 캐리어 가스 공급관(522)을 포함할 수 있다. 캐리어 가스 공급원(521)은 내부에 캐리어 가스가 저장될 수 있다. 캐리어 가스는 불활성 가스를 포함할 수 있다. 불활성 가스는 아르곤 가스일 수 있다. 물론, 캐리어 가스의 종류는 다양할 수 있다. 캐리어 가스는 기화된 소스의 흐름을 안정적으로 유지시키는 역할을 한다. 캐리어 가스 공급기(520)는 제어 밸브(미도시)를 더 포함할 수 있다.The carrier gas supply 520 may include a carrier gas supply source 521 and a carrier gas supply pipe 522 . The carrier gas supply source 521 may have a carrier gas stored therein. The carrier gas may include an inert gas. The inert gas may be argon gas. Of course, the type of the carrier gas may be various. The carrier gas serves to stably maintain the flow of the vaporized source. The carrier gas supply 520 may further include a control valve (not shown).

캐리어 가스 공급관(522)은 캐리어 가스 공급원(521)과 소스 용기(511)를 연결시킬 수 있다. 캐리어 가스 공급관(522)의 입구는 캐리어 가스 공급원(521)에 장착될 수 있다. 캐리어 가스 공급관(522)의 출구는 소스 용기(511)의 상부를 관통하도록 장착될 수 있고, 소스 용기(511)의 하부까지 연장될 수 있다. 캐리어 가스 공급관(522)은 캐리어 가스 공급 경로를 형성할 수 있다.The carrier gas supply pipe 522 may connect the carrier gas supply source 521 and the source container 511 . An inlet of the carrier gas supply pipe 522 may be mounted to the carrier gas supply source 521 . The outlet of the carrier gas supply pipe 522 may be mounted to pass through an upper portion of the source container 511 , and may extend to a lower portion of the source container 511 . The carrier gas supply pipe 522 may form a carrier gas supply path.

캐리어 가스 공급관(522)에는 제어 밸브(미도시)가 장착될 수 있다. 제어 밸브를 개방하여 캐리어 가스 공급원(521)에서 소스 용기(511)의 하부로 캐리어 가스를 공급할 수 있다.A control valve (not shown) may be mounted on the carrier gas supply pipe 522 . The carrier gas may be supplied from the carrier gas supply source 521 to the lower portion of the source container 511 by opening the control valve.

캐리어 가스는 충전층을 통과하여 소스 용기(511)의 상부로 상승하고, 소스 공급관(512)으로 유입되면서 기화된 소스를 소스 공급관(512)으로 운반할 수 있다. 기화된 소스 및 캐리어 가스는 소스 공급관(512)을 통과하여 챔버부(200)의 처리홀로 공급될 수 있다.The carrier gas may pass through the filling layer and rise to the upper portion of the source container 511 , and may transport the vaporized source to the source supply pipe 512 while flowing into the source supply pipe 512 . The vaporized source and carrier gas may be supplied to the processing hole of the chamber unit 200 through the source supply pipe 512 .

소스 용기(511)의 내부에 소스를 충전할 때, 소정량의 안정제를 소스와 같이 충전할 수 있다. 안정제는 소스의 입자 사이에 스며들어, 소스의 변질을 방지할 수 있고, 소스의 유동성 및 기화 효율을 향상시킬 수 있다.When filling the sauce inside the source container 511, a predetermined amount of a stabilizer may be filled with the sauce. The stabilizer may permeate between the particles of the source to prevent deterioration of the source, and improve fluidity and vaporization efficiency of the source.

안정제는 액체 상태로 소스 용기(511)의 내부에 충전되고, 충전층에 고르게 혼입될 수 있다. 이때, 안정제의 충전량은 소스의 충전량에 따라 정해질 수 있다. 예컨대 소스 용기(511)에 충전된 소스의 무게 별로 안정제의 충전량이 각기 적절하게 정해질 수 있다.The stabilizer may be filled inside the source container 511 in a liquid state, and may be uniformly incorporated into the filling layer. In this case, the filling amount of the stabilizer may be determined according to the filling amount of the source. For example, the filling amount of the stabilizer may be appropriately determined for each weight of the sauce filled in the source container 511 .

안정제는 시간이 지남에 따라 충전층의 하부로 서서히 흘러내릴 수 있다. 또한, 안정제는 시간이 지남에 따라 점차 기화될 수 있다. 이때, 기화된 안정제는 캐리어 가스의 흐름에 의해 상방으로 상승하며 충전층을 이탈할 수 있고, 캐리어 가스에 혼입되어 소스 공급관(512)으로 빠져나갈 수 있다.The stabilizer can slowly flow down the bottom of the packed bed over time. Also, the stabilizer may gradually vaporize over time. At this time, the vaporized stabilizer may rise upward by the flow of the carrier gas and leave the filling layer, and may be mixed into the carrier gas and exit through the source supply pipe 512 .

리페어 공정 혹은 박막 증착 공정을 수행하는 중에, 기화된 안정제가 충전층을 이탈하게 되면, 안정제가 충전층의 내부에서 소스의 무게에 따른 적절한 충전량을 유지하지 못하여 소스가 변질될 수 있다.If the vaporized stabilizer leaves the filling layer during the repair process or the thin film deposition process, the stabilizer may not maintain an appropriate filling amount according to the weight of the source in the filling layer, and thus the source may be deteriorated.

따라서, 본 발명의 제1 실시 예에서는 안정제 공급부(500B)를 이용하여 소스에 안정제를 연속적으로 혹은 주기적으로 추가할 수 있고, 이에, 안정제가 항상 소스의 무게에 따른 적절한 충전량을 유지할 수 있다. 즉, 리페어 공정 중에, 소스에 대한 안정제의 비율을 유지할 수 있다. 이에, 리페어 공정 중에, 소스의 물성을 안정적으로 유지시킬 수 있고, 소스가 변질되는 것을 방지할 수 있다.Therefore, in the first embodiment of the present invention, the stabilizer may be continuously or periodically added to the source by using the stabilizer supply unit 500B, and thus, the stabilizer may always maintain an appropriate amount of filling according to the weight of the source. That is, during the repair process, the ratio of the stabilizer to the source may be maintained. Accordingly, during the repair process, the physical properties of the source can be stably maintained and the source can be prevented from being deteriorated.

한편, 리페어 공정 전에 소스 용기(511)의 내부에 소스와 같이 충전되는 안정제를 초기 안정제라고 하고, 리페어 공정 중에 안정제 공급부(500B)에서 소스 용기(511)로 추가 공급되는 안정제를 추가 안정제라고 구분하여 지칭할 수도 있다.On the other hand, before the repair process, the stabilizer filled with the sauce inside the source container 511 is called an initial stabilizer, and the stabilizer additionally supplied from the stabilizer supply unit 500B to the source container 511 during the repair process is classified as an additional stabilizer. may refer to.

안정제 공급부(500B)는 소스 공급기(510)에 연결될 수 있고, 캐리어 가스 공급 경로와 분리될 수 있다. 구체적으로 안정제 공급부(500B)는 소스 공급기(510)의 소스 용기(511)에 연결될 수 있다. 안정제 공급부(500B)는 소스 용기(511)의 내부에 안정제를 공급할 수 있고, 충전층의 표면에 안정제를 분사할 수 있다.The stabilizer supply unit 500B may be connected to the source supply 510 and may be separated from the carrier gas supply path. Specifically, the stabilizer supply unit 500B may be connected to the source container 511 of the source supplier 510 . The stabilizer supply unit 500B may supply a stabilizer to the inside of the source container 511 , and may spray the stabilizer on the surface of the filling layer.

안정제 공급부(500B)는 안정제 공급기(530)를 포함할 수 있다.The stabilizer supply unit 500B may include a stabilizer supply unit 530 .

안정제 공급기(530)는, 내부에 안정제가 수용되는 안정제 용기(531), 안정제를 액체 상태로 소스 공급기(510)의 소스 용기(511)에 공급할 수 있도록 안정제 용기(531)와 소스 공급기(510)를 연결시키는 안정제 공급관(532)을 포함할 수 있다.The stabilizer supply 530, the stabilizer container 531 in which the stabilizer is accommodated therein, the stabilizer container 531 and the source supplier 510 to supply the stabilizer to the source container 511 of the source supply 510 in a liquid state. It may include a stabilizer supply pipe 532 for connecting the.

안정제 용기(531)는 내부에 액체 상태의 안정제가 수용될 수 있다. 안정제 공급관(532)은 안정제 용기(531)의 하부에 위치하는 입구(532a) 및 소스 용기(511)의 상부에 연결되는 출구(532b)를 구비할 수 있다.The stabilizer container 531 may contain a liquid stabilizer therein. The stabilizer supply pipe 532 may include an inlet 532a positioned at a lower portion of the stabilizer container 531 and an outlet 532b connected to an upper portion of the source container 511 .

안정제 공급관(532)의 입구(532a)는 안정제 용기(531)에 수용된 안정제에 침지될 수 있다. 안정제 공급관(532)의 출구(532b)는 충전층의 표면으로부터 이격될 수 있다. 안정제 공급관(532)은 액체 상태의 안정제를 충전층의 표면에 공급함으로써, 안정제를 충전층의 상부에서 하부로 고르게 스며들게 할 수 있다. 즉, 안정제가 액체 상태에서 충전층의 하부로 흘러내리는 성질을 활용하여 안정제를 충전층에 고르게 섞어줄 수 있다. 한편, 안정제 공급관(532)의 출구(532b)에는 분사 노즐(미도시)이 구비될 수 있다.The inlet 532a of the stabilizer supply pipe 532 may be immersed in the stabilizer accommodated in the stabilizer container 531 . The outlet 532b of the stabilizer supply pipe 532 may be spaced apart from the surface of the filling layer. The stabilizer supply pipe 532 supplies the liquid stabilizer to the surface of the filled layer, thereby allowing the stabilizer to evenly permeate from the top to the bottom of the filling layer. That is, the stabilizer can be evenly mixed in the packed layer by utilizing the property of the stabilizer flowing down from the liquid state to the lower part of the packed layer. On the other hand, the outlet 532b of the stabilizer supply pipe 532 may be provided with a spray nozzle (not shown).

안정제 공급기(530)는 제어 밸브(미도시) 및 유량 조절기(미도시) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제어 밸브 및 유량 조절기는 안정제 공급관(532)에 장착되어 안정제의 공급 여부 및 유량을 조절할 수 있다.The stabilizer supply 530 may include at least one of a control valve (not shown) and a flow regulator (not shown). The control valve and the flow rate controller are mounted on the stabilizer supply pipe 532 to control whether the stabilizer is supplied and the flow rate.

안정제 공급부(500B)는 압력 가스 공급기(540)를 포함할 수 있다. 압력 가스 공급기(540)는 안정제 용기(531)의 내부에 수용된 안정제를 안정제 공급관(532)으로 밀어주는 역할을 한다. The stabilizer supply unit 500B may include a pressure gas supply unit 540 . The pressure gas supply 540 serves to push the stabilizer accommodated in the stabilizer container 531 to the stabilizer supply pipe 532 .

압력 가스 공급기(540)는, 내부에 압력 가스가 수용되는 압력 용기(541), 및 압력 가스를 안정제 용기(531)에 주입시킬 수 있도록 압력 용기(541)와 안정제 용기(531)를 연결시키는 압력관(542)을 포함할 수 있다. 압력 가스 공급기(540)는 밸브(미도시)를 포함할 수 있다. 밸브는 압력관(542)에 장착될 수 있다. 압력 가스는 캐리어 가스와 동일한 종류의 가스를 사용할 수 있다.The pressure gas supply 540 is a pressure vessel 541 in which the pressure gas is accommodated, and a pressure pipe connecting the pressure vessel 541 and the stabilizer vessel 531 to inject the pressure gas into the stabilizer vessel 531 . (542). The pressure gas supply 540 may include a valve (not shown). The valve may be mounted to the pressure tube 542 . The pressure gas may use the same kind of gas as the carrier gas.

밸브를 작동시켜 압력관(542)을 주기적으로 개폐하며 압력 가스를 안정제 용기(531)에 주기적으로 주입시킬 수 있다. 이에, 안정제 용기(531)에서 안정제 공급관(532)으로 소정량의 안정제가 주기적으로 배출될 수 있다.By operating the valve, the pressure tube 542 may be periodically opened and closed, and the pressure gas may be periodically injected into the stabilizer container 531 . Accordingly, a predetermined amount of the stabilizer may be periodically discharged from the stabilizer container 531 to the stabilizer supply pipe 532 .

한편, 안정제를 소스 용기(511)에 공급하는 방식은 압력 가스 공급기(540)를 이용하는 방식 외에도 다양할 수 있다.Meanwhile, the method of supplying the stabilizer to the source container 511 may be various other than the method using the pressure gas supplier 540 .

예컨대 안정제 용기(531)를 안정제 공급관(532)의 출구(532b) 높이보다 높게 위치시키고, 안정제의 위치 에너지를 이용하여, 안정제 용기(531)의 내부에 수용된 안정제를 안정제 공급관(532)으로 밀어줄 수도 있다.For example, by positioning the stabilizer container 531 higher than the height of the outlet 532b of the stabilizer supply pipe 532, and using the potential energy of the stabilizer, the stabilizer accommodated in the stabilizer container 531 is pushed to the stabilizer supply pipe 532. may be

이하. 도 1 및 도 3를 참조하여, 본 발명의 제2 실시 예에 따른 증착 장치를 상세하게 설명한다. 본 발명의 제2 실시 예에 따른 증착 장치는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 상술한 증착 장치와 유사하다. 따라서, 이들의 차이점을 중심으로 이하에서 본 발명의 제2 실시 예에 따른 증착 장치를 상세하게 설명한다.below. A deposition apparatus according to a second embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 and 3 . The deposition apparatus according to the second embodiment of the present invention is similar to the above-described deposition apparatus according to the first embodiment of the present invention. Therefore, a deposition apparatus according to a second embodiment of the present invention will be described in detail below focusing on their differences.

본 발명의 제2 실시 예에 따르면, 소스 공급부(500C)는, 챔버부(200)와 연결되고, 내부에 소스가 충전되며, 챔버부(200)로 기화된 소스를 공급할 수 있다.According to the second embodiment of the present invention, the source supply unit 500C is connected to the chamber unit 200 , the source is filled therein, and may supply the vaporized source to the chamber unit 200 .

소스 공급부(500C)는, 챔버부(200)와 연결되는 소스 공급기(550) 및 내부에 캐리어 가스가 충전되는 캐리어 가스 공급기(560)를 포함할 수 있다.The source supply unit 500C may include a source supply unit 550 connected to the chamber unit 200 and a carrier gas supply unit 560 filled with a carrier gas therein.

이때, 소스 공급기(550)에는 안정제 공급부(570)가 연결될 수 있다. 그리고 안정제 공급부(570)에 캐리어 가스 공급기(560)가 연결될 수 있다.In this case, the stabilizer supply unit 570 may be connected to the source supply 550 . In addition, the carrier gas supplier 560 may be connected to the stabilizer supply unit 570 .

소스 공급기(550)는, 내부에 소스가 충전될 수 있는 소스 용기(551), 및 소스 용기(551)와 챔버부(200)를 연결시키는 소스 공급관(552)을 포함할 수 있다. 소스 공급기(550)는 소스 용기(551)의 하부에 설치된 지지 부재(553)을 더 포함할 수 있다.The source supply 550 may include a source container 551 in which a source may be filled, and a source supply pipe 552 connecting the source container 551 and the chamber unit 200 . The source supply 550 may further include a support member 553 installed under the source container 551 .

소스 용기(551)는 내부에 소스가 고체 파우더 상태로 충전될 수 있다. 이때, 지지 부재(553)의 상면에 소스가 적재될 수 있다. 지지 부재(553)는 기화된 안정제 및 캐리어 가스를 통과시킬 수 있으면서, 그 상면에 소스를 적재할 수 있도록 하는 다공질 플레이트일 수 있다.The source container 551 may be filled with a solid powder state therein. In this case, the sauce may be loaded on the upper surface of the support member 553 . The support member 553 may be a porous plate that allows the vaporized stabilizer and carrier gas to pass therethrough while allowing the sauce to be loaded on the upper surface thereof.

지지 부재(553)는 소스 용기(551)의 하부를 소스 용기(551)의 내부와 분리시킬 수 있도록 예컨대 수평방향으로 설치될 수 있고, 소스 용기(551)의 내주면에 지지될 수 있다. 지지 부재(553)는 소스 용기(551)의 하부에 소정 높이의 버퍼공간을 형성할 수 있다. 버퍼 공간으로 기화된 안정제 및 캐리어 가스가 주입될 수 있다. 기화된 안정제 및 캐리어 가스는 지지 부재(553)를 통과할 수 있고, 소스층에 공급될 수 있다. 이때, 기화된 안정제는 소스층의 아래에서 위로 흐르며 소스층에 공급될 수 있다.The support member 553 may be installed, for example, in a horizontal direction to separate the lower portion of the source container 551 from the inside of the source container 551 , and may be supported on the inner circumferential surface of the source container 551 . The support member 553 may form a buffer space of a predetermined height under the source container 551 . A vaporized stabilizer and carrier gas may be injected into the buffer space. The vaporized stabilizer and carrier gas may pass through the support member 553 and may be supplied to the source layer. In this case, the vaporized stabilizer may flow from the bottom to the top of the source layer and may be supplied to the source layer.

소스 공급기(550)는 가열 수단(미도시)을 포함할 수 있다. 가열 수단은 소스 용기(551)와 열적으로 연결될 수 있다. 소스 용기(551)는 가열 수단에서 생성되는 열을 이용하여 소스를 고체 상태에서 기체 상태로 기화시키고, 기화된 소스를 소스 공급관(552)으로 유입시킬 수 있다. 소스 공급관(552)은 입구가 소스 용기(551)에 연결될 수 있고, 출구가 챔버부(200)의 처리홀에 연결될 수 있다. 소스 공급관(552)의 입구는 소스 용기(511)의 상부에 연결될 수 있다. 소스 공급기(510)는 유량 제어기(미도시)를 포함할 수 있다. 유량 제어기는 소스 공급관(512)에 장착될 수 있다.The source supply 550 may include heating means (not shown). The heating means may be thermally connected to the source vessel 551 . The source container 551 may vaporize the source from a solid state to a gaseous state using heat generated by the heating means, and introduce the vaporized source into the source supply pipe 552 . The source supply pipe 552 may have an inlet connected to the source container 551 and an outlet connected to a processing hole of the chamber unit 200 . The inlet of the source supply pipe 552 may be connected to the upper portion of the source container 511 . The source supply 510 may include a flow controller (not shown). The flow controller may be mounted on the source supply pipe 512 .

캐리어 가스 공급기(560)는, 캐리어 가스 공급원(561), 및 캐리어 가스 공급관(562)을 포함할 수 있다. 캐리어 가스 공급원(561)은 내부에 캐리어 가스가 저장될 수 있다. 캐리어 가스 공급기(560)는 제어 밸브(미도시)를 더 포함할 수 있다.The carrier gas supply 560 may include a carrier gas supply source 561 and a carrier gas supply pipe 562 . The carrier gas supply source 561 may have a carrier gas stored therein. The carrier gas supply 560 may further include a control valve (not shown).

캐리어 가스 공급관(562)은 캐리어 가스 공급원(561)과 안정제 공급부(570)의 안정제 용기(571)를 연결시킬 수 있다. 캐리어 가스 공급관(562)의 입구는 캐리어 가스 공급원(561)에 장착될 수 있다. 캐리어 가스 공급관(562)의 출구는 안정제 용기(571)에 장착될 수 있다. 캐리어 가스 공급관(562)과 안정제 용기(571)와 후술하는 안정제 이송관(572)은 캐리어 가스 공급 경로를 형성할 수 있다.The carrier gas supply pipe 562 may connect the carrier gas supply source 561 and the stabilizer container 571 of the stabilizer supply unit 570 . An inlet of the carrier gas supply pipe 562 may be mounted to the carrier gas supply source 561 . The outlet of the carrier gas supply pipe 562 may be mounted to the stabilizer container 571 . The carrier gas supply pipe 562 , the stabilizer container 571 , and the stabilizer transport pipe 572 to be described later may form a carrier gas supply path.

캐리어 가스 공급관(562)에는 제어 밸브(미도시)가 장착될 수 있다. 제어 밸브를 개방하여 캐리어 가스 공급원(561)에서 안정제 용기(571)로 캐리어 가스를 공급할 수 있다.A control valve (not shown) may be mounted on the carrier gas supply pipe 562 . The control valve may be opened to supply carrier gas from the carrier gas source 561 to the stabilizer container 571 .

캐리어 가스는 안정제 용기(511)의 상부를 통과하며 기화된 안정제를 안정제 이송관(572)으로 운반할 수 있다. 기화된 안정제 및 캐리어 가스는 소스 용기(531)의 버퍼공간으로 공급될 수 있다.The carrier gas passes through the upper portion of the stabilizer container 511 and may transport the vaporized stabilizer to the stabilizer transfer pipe 572 . The vaporized stabilizer and carrier gas may be supplied to the buffer space of the source container 531 .

본 발명의 제2 실시 예에서는 안정제 공급부(570)를 이용하여 소스에 기화된 안정제를 연속적으로 혹은 추기적으로 추가할 수 있고, 안정제가 항상 소스층의 내부에서 소스의 무게에 따른 적절한 충전량을 유지할 수 있다. 이에, 소스가 변질되는 것을 방지할 수 있다.In the second embodiment of the present invention, the stabilizer vaporized to the source can be continuously or additionally added using the stabilizer supply unit 570, and the stabilizer always maintains an appropriate amount of filling according to the weight of the source in the source layer. can Accordingly, it is possible to prevent deterioration of the source.

안정제 공급부(570)는 소스 공급기(510)에 연결될 수 있다. 이때, 안정제 공급부(570)의 안정제 용기(571)에는 캐리어 가스 공급기(560)가 연결될 수 있다. 안정제 공급부(570)는 캐리어 가스 공급기(560)와 소스 공급기(510)를 연결시킬 수 있다. 캐리어 가스 공급 경로는 안정제 공급부(570)를 경유할 수 있다. 구체적으로 캐리어 가스 공급 경로는 안정제 용기(571)의 내부와 안정제 이송관(572)을 경유할 수 있다.The stabilizer supply unit 570 may be connected to the source supply unit 510 . In this case, the carrier gas supplier 560 may be connected to the stabilizer container 571 of the stabilizer supply unit 570 . The stabilizer supply unit 570 may connect the carrier gas supply 560 and the source supply 510 to each other. The carrier gas supply path may pass through the stabilizer supply unit 570 . Specifically, the carrier gas supply path may pass through the interior of the stabilizer container 571 and the stabilizer transfer pipe 572 .

안정제 공급부(570)는 소스 용기(551)의 하부에 기화된 안정제를 공급할 수 있다. 소스 용기(551)의 하부에 공급되는 기화된 안정제는 소스층의 하부에서 상부로 소스층에 공급될 수 있다.The stabilizer supply unit 570 may supply a stabilizer vaporized to the lower portion of the source container 551 . The vaporized stabilizer supplied to the lower portion of the source container 551 may be supplied to the source layer from the lower portion to the upper portion.

안정제 공급부(570)는, 내부에 안정제가 수용되는 안정제 용기(571), 기화된 안정제를 소스 용기(551)에 이송할 수 있도록, 안정제 용기(571)와 소스 용기(551)를 연결시키는 안정제 이송관(572)를 포함할 수 있다.Stabilizer supply unit 570, stabilizer container 571 in which the stabilizer is accommodated therein, so that the vaporized stabilizer can be transferred to the source container 551, stabilizer transport connecting the stabilizer container 571 and the source container 551 tube 572 .

안정제 공급부(570)는 가열 수단(미도시)을 포함할 수 있다. 가열 수단은 안정제 용기(571)와 열적으로 연결될 수 있다. 가열 수단은 열선을 포함할 수 있다. 물론, 가열 수단은 다양할 수 있다. 캐리어 가스의 온도를 이용하여 안정제를 승온시킬 수도 있다.The stabilizer supply unit 570 may include a heating means (not shown). The heating means may be in thermal connection with the stabilizer container 571 . The heating means may include a heating wire. Of course, the heating means may vary. The temperature of the stabilizer can also be raised using the temperature of the carrier gas.

안정제 용기(571)는 내부에 액체 상태의 안정제가 수용될 수 있다. 안정제는 안정제 용기(571)의 내부에서 기화될 수 있다. 안정제 이송관(572)은 안정제 용기(571)의 상부에 위치하는 입구(572a) 및 소스 용기(551)의 하부의 버퍼공간에 위치되는 출구(532b)를 구비할 수 있다.The stabilizer container 571 may contain a stabilizer in a liquid state therein. The stabilizer may be vaporized inside the stabilizer container 571 . The stabilizer transport pipe 572 may include an inlet 572a positioned at the upper portion of the stabilizer container 571 and an outlet 532b positioned in the buffer space below the source container 551 .

안정제 이송관(572)의 입구(572a)는 안정제 용기(571)에 수용된 안정제의 상부면에서 이격될 수 있다. 기화된 안정제가 안정제 이송관(572)의 입구(572a)로 쉽게 유입될 수 있다. 안정제 이송관(532)의 출구(532b)는 버퍼공간에 연통할 수 있다. 안정제 이송관(532)은 기화된 안정제를 소스층의 하부에 공급함으로써, 기화된 안정제를 충전층의 하부에서 상부로 고르게 스며들게 할 수 있다. 즉, 기화된 안정제가 기체 상태에서 소스층의 상부로 상승되는 성질을 활용하여 안정제를 소스층에 고르게 섞어줄 수 있다.The inlet 572a of the stabilizer transport pipe 572 may be spaced apart from the upper surface of the stabilizer accommodated in the stabilizer container 571 . The vaporized stabilizer may be easily introduced into the inlet 572a of the stabilizer delivery pipe 572 . The outlet 532b of the stabilizer transport pipe 532 may communicate with the buffer space. The stabilizer transport pipe 532 supplies the vaporized stabilizer to the lower portion of the source layer, thereby allowing the vaporized stabilizer to evenly permeate from the lower portion to the upper portion of the filling layer. That is, the stabilizer can be evenly mixed in the source layer by utilizing the property that the vaporized stabilizer rises to the top of the source layer in a gaseous state.

안정제 공급부(570)는 제어 밸브(미도시) 및 유량 조절기(미도시) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제어 밸브 및 유량 조절기는 안정제 이송관(572)에 장착되어 기화된 안정제 및 캐리어 가스의 유량을 조절할 수 있다. 안정제 용기(571)에서 안정제 공급관(572)으로 소정량의 기화된 안정제가 연속적으로 배출될 수 있다.The stabilizer supply unit 570 may include at least one of a control valve (not shown) and a flow controller (not shown). The control valve and the flow regulator may be mounted on the stabilizer transfer pipe 572 to adjust the flow rate of the vaporized stabilizer and carrier gas. A predetermined amount of vaporized stabilizer may be continuously discharged from the stabilizer container 571 to the stabilizer supply pipe 572 .

안정제 용기(571)는 가열 수단에서 생성되는 열을 이용하여 안정제를 액체에서 기체로 기화시키고, 기화된 안정제를 안정제 이송관(572)에 유입시킬 수 있다. 이때, 캐리어 가스가 기화된 안정제를 안정제 이송관(572)으로 유입시키는 역할을 한다. 이를테면, 캐리어 가스가 기화된 안정제를 안정제 이송관(572)으로 밀어주는 역할을 한다.The stabilizer container 571 may vaporize the stabilizer from a liquid to a gas using heat generated by the heating means, and introduce the vaporized stabilizer into the stabilizer transfer pipe 572 . At this time, the carrier gas serves to introduce the vaporized stabilizer into the stabilizer transfer pipe 572 . For example, the carrier gas serves to push the vaporized stabilizer to the stabilizer transfer pipe 572 .

이하, 본 발명의 실시 예들에 따른 증착 방법을 상세하게 설명한다.Hereinafter, a deposition method according to embodiments of the present invention will be described in detail.

본 발명의 실시 예들에 따른 증착 방법은, 처리물(S)을 마련하는 과정, 소스를 기화시키는 과정, 기화된 소스를 처리물(S)의 일면에 공급하는 과정, 레이저를 조사하여 처리물(S)의 일면에 막을 형성하는 과정, 소스를 기화시키는 과정 중에, 소스에 안정제를 공급하는 과정, 소스의 변질을 방지하는 과정을 포함한다.In the deposition method according to the embodiments of the present invention, the process of preparing the treated material (S), the process of vaporizing the source, the process of supplying the vaporized source to one surface of the treated material (S), and irradiating a laser to the treated material ( S) includes a process of forming a film on one surface, a process of vaporizing the source, a process of supplying a stabilizer to the sauce, and a process of preventing deterioration of the sauce.

이때, 소스는 메탈 소스를 포함할 수 있고, 안정제는 탄화 수소 화합물을 포함할 수 있다.In this case, the source may include a metal source, and the stabilizer may include a hydrocarbon compound.

처리물(S)을 마련한다. 처리물(S)은 지지부(100)에 안착될 수 있다. 그리고 처리물(S)의 상측에 챔버부(200)를 위치시킬 수 있다.A processed object S is provided. The processed object S may be seated on the support 100 . And the chamber unit 200 may be positioned on the upper side of the processed object (S).

이후, 소스를 기화시킨다. 소스 공급부(500A, 500C)에 구비된 가열 수단 및 캐리어 가스의 온도 중 적어도 어느 하나를 이용하여, 소스에 열을 가하고, 소스를 기화시킬 수 있다.Thereafter, the sauce is vaporized. By using at least one of the heating means and the temperature of the carrier gas provided in the source supply units 500A and 500C, heat may be applied to the source and the source may be vaporized.

이후, 기화된 소스를 처리물(S)의 일면에 공급한다. 이때, 캐리어 가스로 기화된 소스를 운반한다. 즉, 캐리어 가스로 기화된 소스를 소스 공급관(512, 552)으로 밀어내어 챔버부(200)의 처리홀로 이동시키고, 처리홀을 통하여 처리물(S)의 일면에 기화된 소스를 공급할 수 있다.Thereafter, the vaporized source is supplied to one surface of the treated material (S). At this time, the vaporized source is conveyed as a carrier gas. That is, the source vaporized by the carrier gas may be pushed through the source supply pipes 512 and 552 to move to the processing hole of the chamber unit 200 , and the vaporized source may be supplied to one surface of the processed object S through the processing hole.

이후, 레이저를 조사하여 처리물(S)의 일면에 막을 형성한다. 이 과정을 통하여 처리물(S)의 일면에 형성된 결함을 리페어할 수 있다.Thereafter, a film is formed on one surface of the treated object (S) by irradiating the laser. Through this process, it is possible to repair the defect formed on one surface of the processed object (S).

이때, 소스를 기화시키는 과정 중에, 소스에 안정제를 공급한다.At this time, during the process of vaporizing the source, a stabilizer is supplied to the source.

구체적으로, 캐리어 가스와 별도로, 소스에 안정제를 반복하여 공급할 수 있다. 또는, 캐리어 가스 공급 경로를 통하여, 소스에 안정제를 연속하여 공급할 수 있다.Specifically, the stabilizer may be repeatedly supplied to the source separately from the carrier gas. Alternatively, the stabilizer may be continuously supplied to the source through the carrier gas supply path.

캐리어 가스와 별도로, 소스에 안정제를 반복하여 공급하는 경우, 압력 가스를 이용하여 소스에 안정제를 액체 상태로 공급할 수 있다. 구체적으로 압력 가스를 안정제 용기(531)에 주입하여 안정제를 안정제 공급관(532)으로 배출시킬 수 있고, 안정제를 소스 용기(511)의 상부에서 충전층의 표면에 분사할 수 있다.Separately from the carrier gas, when the stabilizer is repeatedly supplied to the source, the stabilizer may be supplied to the source in a liquid state by using a pressure gas. Specifically, the pressure gas may be injected into the stabilizer container 531 to discharge the stabilizer to the stabilizer supply pipe 532 , and the stabilizer may be sprayed on the surface of the filling layer from the upper portion of the source container 511 .

캐리어 가스 공급 경로를 통하여, 소스에 안정제를 연속하여 공급하는 경우, 안정제 용기(571)의 내부에 수용된 안정제를 기화시키고, 안정제 용기(571)의 내부에 캐리어 가스를 통과시켜 기화된 안정제를 캐리어 가스로 기송하고, 안정제 이송관(572)을 통해 소스에 기화된 안정제를 공급할 수 있다. 이때, 소스에 캐리어 가스도 함께 공급할 수 있다.When the stabilizer is continuously supplied to the source through the carrier gas supply path, the stabilizer contained in the stabilizer container 571 is vaporized, and the stabilizer vaporized by passing the carrier gas inside the stabilizer container 571 is a carrier gas It is transported to, and it is possible to supply the stabilizer vaporized to the source through the stabilizer transfer pipe (572). In this case, the carrier gas may also be supplied to the source.

이후, 소스의 변질을 방지한다. 즉, 상술한 바와 같이 소스에 안정제를 연속적으로 혹은 주기적으로 추가하여 리페어 공정 중에 소스에 대한 안정제의 비율을 유지시킨다. 이 과정에 의하여, 리페어 공정 중에, 소스의 물성을 안정적으로 유지시킬 수 있고, 소스가 변질되는 것을 방지할 수 있다.Thereafter, deterioration of the sauce is prevented. That is, as described above, the stabilizer is continuously or periodically added to the source to maintain the ratio of the stabilizer to the source during the repair process. By this process, during the repair process, the physical properties of the source can be stably maintained and the source can be prevented from being deteriorated.

본 발명의 상기 실시 예는 본 발명의 설명을 위한 것이고, 본 발명의 제한을 위한 것이 아니다. 본 발명의 상기 실시 예에 개시된 구성과 방식은 서로 결합하거나 교차하여 다양한 형태로 조합 및 변형될 것이고, 이에 의한 변형 예들도 본 발명의 범주로 볼 수 있음을 주지해야 한다. 즉, 본 발명은 청구범위 및 이와 균등한 기술적 사상의 범위 내에서 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 본 발명이 해당하는 기술 분야에서의 업자는 본 발명의 기술적 사상의 범위 내에서 다양한 실시 예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.The above embodiments of the present invention are intended to illustrate the present invention, not to limit the present invention. It should be noted that the configurations and methods disclosed in the above embodiments of the present invention may be combined and modified in various forms by combining or intersecting with each other, and modifications thereof may also be considered as the scope of the present invention. That is, the present invention will be embodied in a variety of different forms within the scope of the claims and equivalents thereof, and those skilled in the art to which the present invention pertains can implement various embodiments within the scope of the technical spirit of the present invention. will be able to understand

100: 지지부
200: 챔버부
500A: 소스 공급부
510: 소스 공급기
520: 캐리어 가스 공급기
500B: 안정제 공급부
530: 안정제 공급기
540: 압력 가스 공급기
500C: 소스 공급부
550: 소스 공급기
560: 캐리어 가스 공급기
570: 안정제 공급부
100: support
200: chamber unit
500A: source supply
510: source supplier
520: carrier gas supply
500B: stabilizer supply
530: stabilizer feeder
540: pressure gas supply
500C: source supply
550: source supplier
560: carrier gas supply
570: stabilizer supply unit

Claims (15)

처리물의 일면에 증착 분위기를 형성할 수 있는 챔버부;
상기 챔버부를 통하여 상기 처리물의 일면에 레이저를 조사할 수 있도록 설치되는 레이저부; 및
상기 챔버부와 연결되고, 내부에 소스가 충전되며, 상기 챔버부로 기화된 소스를 공급할 수 있는 소스 공급부;
내부에 안정제가 수용되고, 상기 소스 공급부에 안정제를 공급할 수 있도록 설치되는 안정제 공급부;를 포함하고,
상기 소스 공급부는 상기 챔버부와 연결되는 소스 공급기 및 상기 소스 공급기와 연결되는 캐리어 가스 공급기를 포함하고,
상기 안정제 공급부는 상기 소스 공급기에 연결되고, 캐리어 가스 공급 경로와 분리되는 증착 장치.
a chamber unit capable of forming a deposition atmosphere on one surface of the processed object;
a laser unit installed to irradiate a laser onto one surface of the processed object through the chamber unit; and
a source supply unit connected to the chamber unit, filled with a source therein, and capable of supplying a vaporized source to the chamber unit;
A stabilizer supply unit is accommodated therein, the stabilizer supply unit is installed so as to supply the stabilizer to the source supply unit;
The source supply unit includes a source supply connected to the chamber unit and a carrier gas supply connected to the source supply,
The stabilizer supply unit is connected to the source supply unit and is separate from the carrier gas supply path.
삭제delete 처리물의 일면에 증착 분위기를 형성할 수 있는 챔버부;
상기 챔버부를 통하여 상기 처리물의 일면에 레이저를 조사할 수 있도록 설치되는 레이저부; 및
상기 챔버부와 연결되고, 내부에 소스가 충전되며, 상기 챔버부로 기화된 소스를 공급할 수 있는 소스 공급부;
내부에 안정제가 수용되고, 상기 소스 공급부에 안정제를 공급할 수 있도록 설치되는 안정제 공급부;를 포함하고,
상기 소스 공급부는 상기 챔버부와 연결되는 소스 공급기 및 내부에 캐리어 가스가 충전되는 캐리어 가스 공급기를 포함하고,
상기 안정제 공급부는 상기 소스 공급기에 연결되고,
상기 캐리어 가스 공급기는 상기 안정제 공급부에 연결되고, 캐리어 가스 공급 경로가 상기 안정제 공급부를 경유하는 증착 장치.
a chamber unit capable of forming a deposition atmosphere on one surface of the processed object;
a laser unit installed to irradiate a laser onto one surface of the processed object through the chamber unit; and
a source supply unit connected to the chamber unit, filled with a source therein, and capable of supplying a vaporized source to the chamber unit;
A stabilizer supply unit is accommodated therein, the stabilizer supply unit is installed so as to supply the stabilizer to the source supply unit;
The source supply unit includes a source supply connected to the chamber unit and a carrier gas supply in which a carrier gas is filled,
The stabilizer supply unit is connected to the source supply,
The carrier gas supply unit is connected to the stabilizer supply unit, and a carrier gas supply path passes through the stabilizer supply unit.
청구항 1에 있어서,
상기 안정제 공급부는,
내부에 안정제가 수용되는 안정제 용기;
상기 안정제를 액체 상태로 상기 소스 공급기에 공급할 수 있도록 상기 안정제 용기와 상기 소스 공급기를 연결시키는 안정제 공급관;을 포함하는 증착 장치.
The method according to claim 1,
The stabilizer supply unit,
a stabilizer container in which the stabilizer is accommodated;
and a stabilizer supply pipe connecting the stabilizer container and the source supplier to supply the stabilizer to the source supplier in a liquid state.
청구항 4에 있어서,
상기 안정제 공급부는,
내부에 압력 가스가 수용되는 압력 용기;
상기 압력 가스를 상기 안정제 용기에 주입시킬 수 있도록 상기 압력 용기와 상기 안정제 용기를 연결시키는 압력관;을 포함하는 증착 장치.
5. The method according to claim 4,
The stabilizer supply unit,
a pressure vessel containing a pressure gas therein;
and a pressure tube connecting the pressure vessel and the stabilizer vessel to inject the pressure gas into the stabilizer vessel.
청구항 4에 있어서,
상기 안정제 공급관은 상기 안정제 용기에 수용된 안정제에 침지될 수 있는 입구 및 상기 소스 공급기의 내부에 충전된 소스와 이격될 수 있는 출구를 구비하는 증착 장치.
5. The method according to claim 4,
The stabilizer supply pipe is a deposition apparatus having an inlet that can be immersed in the stabilizer accommodated in the stabilizer container and an outlet that can be spaced apart from the source filled in the source supply.
청구항 3에 있어서,
상기 안정제 공급부는,
내부에 안정제가 수용되는 안정제 용기;
기화된 안정제를 상기 소스 공급기에 이송할 수 있도록 상기 안정제 용기와 상기 소스 공급기를 연결시키는 안정제 이송관;을 포함하는 증착 장치.
4. The method according to claim 3,
The stabilizer supply unit,
a stabilizer container in which the stabilizer is accommodated;
Deposition apparatus comprising a; stabilizer transfer pipe connecting the stabilizer container and the source supplier to transfer the vaporized stabilizer to the source supplier.
청구항 7에 있어서,
상기 안정제 용기는 상기 캐리어 가스 공급기와 연결되고,
상기 캐리어 가스 공급 경로는 상기 안정제 용기의 내부 및 상기 안정제 이송관을 경유하는 증착 장치.
8. The method of claim 7,
the stabilizer container is connected to the carrier gas supply;
The carrier gas supply path passes through the inside of the stabilizer container and the stabilizer transport pipe.
청구항 7에 있어서,
상기 안정제 이송관은 상기 안정제 용기에 수용된 안정제와 이격될 수 있는 입구 및 상기 소스 공급기의 하부에서 개방될 수 있는 출구를 구비하는 증착 장치.
8. The method of claim 7,
The stabilizer transport pipe is a deposition apparatus having an inlet that can be spaced apart from the stabilizer accommodated in the stabilizer container and an outlet that can be opened from a lower portion of the source supply.
처리물을 마련하는 과정;
소스를 기화시키는 과정;
기화된 소스를 처리물의 일면에 공급하는 과정;
레이저를 조사하여 상기 처리물의 일면에 막을 형성하는 과정;
상기 소스를 기화시키는 과정 중에, 상기 소스에 안정제를 공급하는 과정;
상기 소스의 변질을 방지하는 과정;을 포함하고,
기화된 소스를 처리물의 일면에 공급하는 과정 중에, 캐리어 가스로 상기 기화된 소스를 운반하는 과정;을 포함하고,
상기 안정제를 공급하는 과정은,
상기 캐리어 가스와 별도로, 상기 소스에 상기 안정제를 반복하여 공급하는 과정;을 포함하는 증착 방법.
the process of preparing the treatment;
the process of vaporizing the sauce;
The process of supplying a vaporized source to one surface of the treated object;
forming a film on one surface of the processed object by irradiating a laser;
During the process of vaporizing the source, the step of supplying a stabilizer to the source;
a process of preventing deterioration of the source; including,
In the process of supplying the vaporized source to one surface of the processed object, the process of transporting the vaporized source as a carrier gas; including,
The process of supplying the stabilizer,
and a process of repeatedly supplying the stabilizer to the source separately from the carrier gas.
삭제delete 처리물을 마련하는 과정;
소스를 기화시키는 과정;
기화된 소스를 처리물의 일면에 공급하는 과정;
레이저를 조사하여 상기 처리물의 일면에 막을 형성하는 과정;
상기 소스를 기화시키는 과정 중에, 상기 소스에 안정제를 공급하는 과정;
상기 소스의 변질을 방지하는 과정;을 포함하고,
기화된 소스를 처리물의 일면에 공급하는 과정 중에, 캐리어 가스로 상기 기화된 소스를 운반하는 과정;을 포함하고,
상기 안정제를 공급하는 과정은,
캐리어 가스 공급 경로를 통하여, 상기 소스에 상기 안정제를 연속하여 공급하는 과정;을 포함하는 증착 방법.
the process of preparing the treatment;
the process of vaporizing the sauce;
The process of supplying a vaporized source to one surface of the treated object;
forming a film on one surface of the processed object by irradiating a laser;
During the process of vaporizing the source, the step of supplying a stabilizer to the source;
a process of preventing deterioration of the source; including,
In the process of supplying the vaporized source to one surface of the processed object, the process of transporting the vaporized source as a carrier gas; including,
The process of supplying the stabilizer,
and continuously supplying the stabilizer to the source through a carrier gas supply path.
청구항 10에 있어서,
상기 안정제를 반복하여 공급하는 과정은,
압력 가스를 이용하여 상기 소스에 상기 안정제를 액체 상태로 공급하는 과정;을 포함하는 증착 방법.
11. The method of claim 10,
The process of repeatedly supplying the stabilizer is,
and supplying the stabilizer in a liquid state to the source using a pressure gas.
청구항 12에 있어서,
상기 안정제를 연속하여 공급하는 과정은,
상기 안정제를 기화시키는 과정;
기화된 안정제를 상기 캐리어 가스로 기송하는 과정;
상기 소스에 상기 기화된 안정제를 공급하는 과정;을 포함하는 증착 방법.
13. The method of claim 12,
The process of continuously supplying the stabilizer is,
vaporizing the stabilizer;
transporting the vaporized stabilizer to the carrier gas;
and supplying the vaporized stabilizer to the source.
청구항 10에 있어서,
상기 소스는 메탈 소스를 포함하고,
상기 안정제는 탄화 수소 화합물을 포함하는 증착 방법.
11. The method of claim 10,
The source comprises a metal source,
The deposition method wherein the stabilizer comprises a hydrocarbon compound.
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