KR102247318B1 - Diamine compound, polyimide precursor and polyimide film prepared by using same - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 신규 디아민을 이용하여 제조된 폴리이미드 필름은 YI 및 광투과도와 같은 광학적 특성이 향상될 수 있을 뿐만 아니라, 수분흡수에 의한 잔류응력의 변화가 적어, 이로부터 발생할 수 있는 무기막의 크랙발생을 감소시킬 수 있어 플렉서블 디바이스의 제조에 유용하게 사용될 수 있다.The polyimide film prepared using the novel diamine according to the present invention not only can improve optical properties such as YI and light transmittance, but also has little change in residual stress due to moisture absorption, and thus cracks in the inorganic film that may occur therefrom. It can reduce the occurrence and can be usefully used in manufacturing a flexible device.

Description

디아민 화합물, 이를 이용한 폴리이미드 전구체 및 폴리이미드 필름{DIAMINE COMPOUND, POLYIMIDE PRECURSOR AND POLYIMIDE FILM PREPARED BY USING SAME}A diamine compound, a polyimide precursor, and a polyimide film using the same TECHNICAL FIELD {DIAMINE COMPOUND, POLYIMIDE PRECURSOR AND POLYIMIDE FILM PREPARED BY USING SAME}

본 발명은 신규 디아민 및 이를 이용한 폴리이미드 전구체 및 물성이 향상된 폴리이미드 필름 에 관한 것이다.The present invention relates to a novel diamine, a polyimide precursor using the same, and a polyimide film with improved physical properties.

최근 디스플레이 분야에서 제품의 경량화 및 소형화가 중요시 되고 있으며, 현재 사용되고 있는 유리 기판의 경우 무겁고 잘 깨지며 연속공정이 어렵다는 한계가 있기 때문에 유리 기판을 대체하여 가볍고 유연하며 연속공정이 가능한 장점을 갖는 플라스틱 기판을 핸드폰, 노트북, PDA 등에 적용하기 위한 연구가 활발히 진행되고 있다.In recent years, light weight and miniaturization of products are becoming important in the display field, and the glass substrates currently used are heavy, brittle, and have limitations in that continuous processing is difficult, so a plastic substrate that has the advantage of being light, flexible, and capable of continuous processing as a substitute for glass substrates. Research is being actively conducted to apply the technology to mobile phones, notebook computers, and PDAs.

특히, 폴리이미드(PI) 수지는 합성이 용이하고 박막형 필름을 만들 수 있으며 경화를 위한 가교기가 필요 없는 장점을 가지고 있어, 최근에 전자 제품의 경량 및 정밀화 현상으로 LCD, PDP 등 반도체 재료에 집적화 소재로 많이 적용되고 있으며, PI를 가볍고 유연한 성질을 지니는 플렉시블 디스플레이 기판(flexible plastic display board)에 사용하려는 많은 연구가 진행되고 있다.In particular, polyimide (PI) resins are easy to synthesize, can make thin films, and have the advantage of not needing a crosslinker for curing, so they are integrated into semiconductor materials such as LCD and PDP due to the recent light weight and precision phenomenon of electronic products. It is widely applied, and many studies are being conducted to use PI for a flexible plastic display board having a light and flexible property.

상기 폴리이미드 수지를 필름화하여 제조한 것이 폴리이미드(PI) 필름이며, 일반적으로 폴리이미드 수지는 방향족 다이안하이드라이드와 방향족 디아민 또는 방향족 디이소시아네이트를 용액 중합하여 폴리아믹산 유도체 용액을 제조한 후, 이를 실리콘 웨이퍼나 유리 등에 코팅하고 열처리에 의해 경화시키는 방법으로 제조된다. A polyimide (PI) film is produced by forming a film of the polyimide resin, and in general, the polyimide resin is a solution polymerization of an aromatic dianhydride and an aromatic diamine or an aromatic diisocyanate to prepare a polyamic acid derivative solution. It is manufactured by coating a silicon wafer or glass and curing it by heat treatment.

고온 공정을 수반하는 플렉서블 디바이스는 고온에서의 내열성이 요구되는데, 특히 LTPS(low temperature polysilicon) 공정을 사용하는 OLED(organic light emitting diode) 디바이스의 경우 공정온도가 500℃에 근접하기도 한다. 그러나 이러한 온도에서는 내열성이 우수한 폴리이미드라 하더라도 가수분해에 의한 열분해가 일어나기 쉽다. 따라서, 플렉시블 디바이스 제조를 위해서는 고온공정에서도 가수분해에 의한 열분해가 일어나지 않는 우수한 내화학성 및 저장안정성을 나타낼 수 있는 폴리이미드 필름의 개발이 필요하다.Flexible devices involving a high-temperature process require heat resistance at high temperatures. In particular, in the case of an OLED (organic light emitting diode) device using a low temperature polysilicon (LTPS) process, the process temperature may approach 500°C. However, at this temperature, even polyimide having excellent heat resistance is likely to undergo thermal decomposition by hydrolysis. Therefore, in order to manufacture a flexible device, it is necessary to develop a polyimide film capable of exhibiting excellent chemical resistance and storage stability in which thermal decomposition by hydrolysis does not occur even at a high temperature process.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 물성이 향상된 폴리이미드를 제조할 수 있는 신규 디아민을 제공하는 것이다. The problem to be solved by the present invention is to provide a novel diamine capable of producing a polyimide with improved physical properties.

본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는 물성이 개선된 폴리이미드 필름을 제조하기 위한 폴리이미드 전구체를 제공하는 것이다.Another problem to be solved by the present invention is to provide a polyimide precursor for manufacturing a polyimide film with improved physical properties.

본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는 상기 폴리이미드 전구체를 이용하는 폴리이미드 필름을 제공하는 것이다.Another problem to be solved by the present invention is to provide a polyimide film using the polyimide precursor.

또한, 본 발명의 또 다른 과제는, 상기 폴리이미드 필름을 포함하는 플렉서블 디바이스 및 그 제조공정을 제공하는 것이다.In addition, another object of the present invention is to provide a flexible device including the polyimide film and a manufacturing process thereof.

또한, 본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는 상기 신규 디아민을 제조하는 방법을 제공하는 것이다.In addition, another problem to be solved by the present invention is to provide a method for preparing the novel diamine.

본 발명의 과제를 해결하기 위해,In order to solve the problem of the present invention,

하기 화학식 1의 구조를 갖는 디아민을 제공한다.It provides a diamine having the structure of the following formula (1).

[화학식 1][Formula 1]

Figure 112018118295010-pat00001
Figure 112018118295010-pat00001

상기 화학식 1에 있어서,In Formula 1,

R1 내지 R4는 각각 독립적으로 탄소수 1 내지 3의 알킬기, 탄소수 1 내지 3의 할로알킬기 또는 할로겐원자이고,R 1 to R 4 are each independently a C 1 to C 3 alkyl group, a C 1 to C 3 haloalkyl group or a halogen atom,

n1 내지 n4는 각각 독립적으로 0 내지 4의 정수이되, 동시에 0은 아니다.n1 to n4 are each independently an integer of 0 to 4, but not 0 at the same time.

일 실시예에 따르면, 상기 R1 내지 R4가 각각 독립적으로 탄소수 1 내지 3의 플루오로알킬기일 수 있다.According to an embodiment, each of R 1 to R 4 may independently be a fluoroalkyl group having 1 to 3 carbon atoms.

일 실시예에 따르면, 상기 n1 및 n4 중 하나 이상이 1 이거나 n2 및 n3 중 하나 이상이 1 일 수 있다.According to an embodiment, at least one of n1 and n4 may be 1, or at least one of n2 and n3 may be 1.

일 실시예에 따르면, 상기 n1 및 n4 중 하나 이상이 1 이고 n2 및 n3 중 하나 이상이 1 일 수 있다.According to an embodiment, at least one of n1 and n4 may be 1, and at least one of n2 and n3 may be 1.

일 실시예에 따르면, 상기 n1 내지 n4는 모두 1 일 수 있다.According to an embodiment, all of n1 to n4 may be 1.

일 실시예에 따르면, 상기 화학식 1의 디아민이 하기 화학식 1-1 내지 1-16의 화합물 중에서 선택되는 것일 수 있다.According to an embodiment, the diamine of Formula 1 may be selected from compounds of Formulas 1-1 to 1-16 below.

Figure 112018118295010-pat00002
Figure 112018118295010-pat00002

본 발명의 다른 과제를 해결하기 위해, In order to solve other problems of the present invention,

1종 이상의 디아민 및 1종 이상의 산이무수물을 포함하는 중합성분을 중합시켜 얻어지는 폴리이미드 전구체로서,As a polyimide precursor obtained by polymerizing a polymerization component containing at least one diamine and at least one acid dianhydride,

상기 디아민이 상기 화학식 1의 디아민을 포함하는 것인 폴리이미드 전구체를 제공한다.The diamine provides a polyimide precursor containing the diamine of Formula 1.

일 실시예에 따르면, 상기 폴리이미드 전구체의 중량평균분자량은 45,000 g/mol 이상일 수 있다.According to an embodiment, the weight average molecular weight of the polyimide precursor may be 45,000 g/mol or more.

본 발명의 또 다른 과제를 해결하기 위해,In order to solve another problem of the present invention,

상기 폴리이미드 전구체를 이용하여 제조된 폴리이미드 필름을 제공한다.It provides a polyimide film prepared using the polyimide precursor.

일 실시예에 따르면, 상기 폴리이미드 필름은,According to an embodiment, the polyimide film,

폴리이미드 전구체를 포함하는 폴리이미드 전구체 조성물을 캐리어 기판 상에 도포하는 단계; 및Applying a polyimide precursor composition including a polyimide precursor onto a carrier substrate; And

상기 폴리이미드 전구체 조성물을 가열 및 경화하는 단계를 포함하는 방법으로 제조되는 것일 수 있다.It may be prepared by a method including heating and curing the polyimide precursor composition.

일 실시예에 따르면, 상기 폴리이미드 전구체 조성물의 경화 직후 잔류응력이 40MPa 이하일 수 있다.According to an embodiment, the residual stress immediately after curing of the polyimide precursor composition may be 40 MPa or less.

일 실시예에 따르면, 상기 폴리이미드 필름을 25℃, 50% 습도 조건에서 3시간 방치한 후 잔류응력의 변화값이 5MPa 이하일 수 있다.According to an embodiment, after the polyimide film is left at 25° C. and 50% humidity for 3 hours, a change value of the residual stress may be 5 MPa or less.

상기 폴리이미드 필름의 황색도가 15 이하일 수 있다.The yellowness of the polyimide film may be 15 or less.

본 발명은 또한, 상기 폴리이미드 필름을 기판으로 포함하는 플렉서블 디바이스를 제공한다.The present invention also provides a flexible device comprising the polyimide film as a substrate.

본 발명은 또한, 상기 폴리이미드 전구체 조성물을 캐리어 기판 상에 도포하는 단계;The present invention also includes the steps of applying the polyimide precursor composition on a carrier substrate;

상기 폴리이미드 전구체 조성물을 가열하여 폴리아믹산을 이미드화함으로써 폴리이미드 필름을 형성하는 단계; Heating the polyimide precursor composition to imidize polyamic acid to form a polyimide film;

상기 폴리이미드 필름 상에 소자를 형성하는 단계; 및Forming a device on the polyimide film; And

상기 소자가 형성된 폴리이미드 필름을 상기 캐리어 기판으로부터 박리하는 단계를 포함하는 플렉서블 디바이스의 제조공정을 제공한다.It provides a manufacturing process of a flexible device comprising the step of peeling the polyimide film on which the device is formed from the carrier substrate.

일 실시예에 따르면, 상기 제조공정이 LTPS(저온 폴리실리콘) 공정, ITO 공정 또는 Oxide 공정을 포함하는 것일 수 있다.According to an embodiment, the manufacturing process may include an LTPS (low temperature polysilicon) process, an ITO process, or an oxide process.

본 발명의 다른 과제를 해결하기 위해,In order to solve other problems of the present invention,

하기 화학식 ⅰ과 화학식 ⅱ의 화합물을 반응시켜 화학식 ⅲ의 화합물을 얻는 단계;Reacting the compound of formula (i) with the compound of formula (ii) to obtain a compound of formula (iii);

상기 화학식 ⅲ의 화합물을 산화시켜 화학식 ⅳ의 화합물을 얻는 단계; 및Oxidizing the compound of formula iii to obtain a compound of formula iv; And

상기 화학식 ⅳ의 화합물을 환원시켜 화학식 1의 화합물을 얻는 단계를 포함하는 디아민의 제조방법을 제공한다:It provides a method for preparing a diamine comprising the step of obtaining a compound of Formula 1 by reducing the compound of Formula iv:

[반응식 1][Scheme 1]

Figure 112018118295010-pat00003
Figure 112018118295010-pat00003

상기 식에 있어서,In the above formula,

R1 내지 R4는 각각 독립적으로 탄소수 1 내지 3의 알킬기, 탄소수 1 내지 3의 할로알킬기 또는 할로겐원자이고,R 1 to R 4 are each independently a C 1 to C 3 alkyl group, a C 1 to C 3 haloalkyl group or a halogen atom,

n1 내지 n4는 각각 독립적으로 0 내지 4의 정수이되, 동시에 0은 아니다.n1 to n4 are each independently an integer of 0 to 4, but not 0 at the same time.

일 실시예에 따르면, 상기 출발 물질인 화학식 ⅰ과 화학식 ii의 화합물이 각각 하기 반응식 2 및 3과 같이 suzuki coupling반응을 통해 제조되는 것일 수 있다.According to an embodiment, the starting materials of the compounds of Formula (i) and Formula (ii) may be prepared through a suzuki coupling reaction as shown in Schemes 2 and 3, respectively.

[반응식 2][Scheme 2]

Figure 112018118295010-pat00004
Figure 112018118295010-pat00004

[반응식 3] [Scheme 3]

Figure 112018118295010-pat00005
Figure 112018118295010-pat00005

상기 식에 있어서,In the above formula,

R1 내지 R4는 각각 독립적으로 탄소수 1 내지 3의 알킬기, 탄소수 1 내지 3의 할로알킬기 또는 할로겐원자이고,R 1 to R 4 are each independently a C 1 to C 3 alkyl group, a C 1 to C 3 haloalkyl group or a halogen atom,

n1 내지 n4는 각각 독립적으로 0 내지 4의 정수이되, 동시에 0은 아니다.n1 to n4 are each independently an integer of 0 to 4, but not 0 at the same time.

본 발명은 화학식 1의 구조를 갖는 디아민을 사용하여 제조된 폴리이미드 전구체를 이용하여 폴리이미드 필름을 제조함으로써 YI 및 광투과도와 같은 광학적 특성이 향상될 수 있을 뿐만 아니라, 폴리이미드 필름의 수분흡수에 의한 잔류응력의 변화가 적어, 이로부터 발생할 수 있는 무기막의 크랙발생을 감소시킬 수 있어 플렉서블 디바이스의 제조에 유용하게 사용될 수 있다.In the present invention, by preparing a polyimide film using a polyimide precursor prepared using a diamine having the structure of Formula 1, optical properties such as YI and light transmittance can be improved, as well as moisture absorption of the polyimide film. Due to the small change in residual stress, it is possible to reduce the occurrence of cracks in the inorganic film that may occur therefrom, and thus can be usefully used in manufacturing a flexible device.

본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.Since the present invention can apply various transformations and have various embodiments, specific embodiments are illustrated in the drawings and will be described in detail in the detailed description. However, this is not intended to limit the present invention to a specific embodiment, it should be understood to include all conversions, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. In describing the present invention, when it is determined that a detailed description of a related known technology may obscure the subject matter of the present invention, a detailed description thereof will be omitted.

본 명세서에서 모든 화합물 또는 유기기는 특별한 언급이 없는 한 치환되거나 비치환된 것일 수 있다. 여기서, '치환된'이란 화합물 또는 유기기에 포함된 적어도 하나의 수소가 할로겐 원자, 탄소수 1 내지 10의 알킬기, 할로겐화알킬기, 탄소수 3 내지 30의 사이클로알킬기, 탄소수 6 내지 30의 아릴기, 하이드록시기, 탄소수 1 내지 10의 알콕시기, 카르복실산기, 알데히드기, 에폭시기, 시아노기, 니트로기, 아미노기, 술폰산기 및 이들의 유도체로 이루어진 군에서 선택되는 치환기로 대체된 것을 의미한다.In the present specification, all compounds or organic groups may be substituted or unsubstituted unless otherwise specified. Here,'substituted' means that at least one hydrogen contained in the compound or organic group is a halogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a halogenated alkyl group, a cycloalkyl group having 3 to 30 carbon atoms, an aryl group having 6 to 30 carbon atoms, and a hydroxy group. , It means substituted with a substituent selected from the group consisting of an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, a carboxylic acid group, an aldehyde group, an epoxy group, a cyano group, a nitro group, an amino group, a sulfonic acid group, and derivatives thereof.

방향족 폴리이미드는 열산화 안정성, 높은 기계적 강도, 우수한 기계적 강도와 같은 우수한 종합 특성으로 인해 마이크로 전자, 항공 우주, 절연 재료 및 내화 재료와 같은 첨단 산업에서 광범위하게 사용된다. 그러나, 자외선 - 가시 영역에서 강한 흡광도를 갖는 방향족 폴리이미드는 옅은 황색에서 진한 갈색의 강한 착색이 나타나는데 이는 투명성 및 무색 특성이 기본 요구 사항 인 광전자 영역(optoelectronics area)에서의 광범위한 적용을 제한한다. 방향족 폴리이미드 수지에서 착색이 나타나는 이유는 고분자 주쇄에서 교대 전자 도너(dianhydride)와 전자 억셉터(diamine) 사이 및 내부 분자 간 전하 전달 복합체(CT-complexes)를 형성하기 때문이다.Aromatic polyimide is widely used in high-tech industries such as microelectronics, aerospace, insulating materials and refractory materials due to its excellent comprehensive properties such as thermal oxidation stability, high mechanical strength, and good mechanical strength. However, aromatic polyimide with strong absorbance in the ultraviolet-visible region exhibits a strong coloration from pale yellow to dark brown, which limits its wide application in the optoelectronics area, where transparency and colorless properties are basic requirements. The reason why coloration appears in the aromatic polyimide resin is that it forms charge transfer complexes (CT-complexes) between alternating electron donors (dianhydride) and electron acceptors (diamine) and between internal molecules in the polymer backbone.

이러한 문제를 해결하기 위해, 높은 유리전이온도(Tg)를 가지며 광학적으로 투명한 PI 필름의 개발을 위해, 기능기 도입, 부피가 큰 부착 펜던트 기, 플루오르화된 기능기 등을 고분자 주쇄로의 도입하거나, 유연한 단위 (-S-, -O-, -CH2- 등)의 도입하는 방법들이 연구되어 왔다.To solve this problem, for the development of an optically transparent PI film having a high glass transition temperature (Tg), a functional group is introduced, a bulky attachment pendant group, a fluorinated functional group, etc. are introduced into the polymer main chain. , Methods of introducing flexible units (-S-, -O-, -CH 2 -, etc.) have been studied.

특히, sulfone(-SO2-)이 도입된 DDS(4,4'-Diaminodiphenylsulfone)를 함유하는 방향족 폴리이미드의 경우, 전기 음성도가 높은 sulfone의 결합이 내부 또는 분자 간 CT-complexes의 형성을 방지 할 수 있어 저위상차, 낮은 YI, 고투과도의 성질을 가질 수 있을 뿐만 아니라, 열적으로 안정한 특성을 나타낼 수 있다. In particular, in the case of aromatic polyimide containing DDS (4,4'-Diaminodiphenylsulfone) with sulfone (-SO 2 -) introduced, sulfone bonds with high electronegativity prevent the formation of internal or inter-molecular CT-complexes. As a result, it not only has the properties of low phase difference, low YI, and high transmittance, but also exhibits thermally stable properties.

그러나, DDS(4,4'-Diaminodiphenylsulfone)의 sulfonyl기는 분자내, 분자간 conjugation을 형성함으로써, 폴리이미드 전구체 중합반응시 반응성을 저하시킬 수 있으며, 이로 인해, target 물성을 얻기 위한 분자량에 미치지 못할 수 있다.However, the sulfonyl group of DDS (4,4'-Diaminodiphenylsulfone) may form intramolecular and intermolecular conjugation, thereby reducing the reactivity during polymerization of the polyimide precursor, and thus, may not reach the molecular weight for obtaining target properties. .

이러한 종래의 문제를 해결하기 위해, 본 발명은 하기 화학식 1로 표시되는 디아민을 제공한다.In order to solve such a conventional problem, the present invention provides a diamine represented by the following formula (1).

[화학식 1] [Formula 1]

Figure 112018118295010-pat00006
Figure 112018118295010-pat00006

상기 화학식 1에 있어서,In Formula 1,

R1 내지 R4는 각각 독립적으로 탄소수 1 내지 3의 알킬기, 탄소수 1 내지 3의 할로알킬기 또는 할로겐원자이고,R 1 to R 4 are each independently a C 1 to C 3 alkyl group, a C 1 to C 3 haloalkyl group or a halogen atom,

n1 내지 n4는 각각 독립적으로 0 내지 4의 정수이되, 동시에 0은 아니다.n1 to n4 are each independently an integer of 0 to 4, but not 0 at the same time.

본 발명은 상기 화학식 1의 디아민을 중합성분으로하는 폴리이미드 전구체를 제공함으로써, 특수한 용매의 조합을 필요로 하는 일 없이 투명한 폴리이미드 필름을 제조할 수 있다. 또한, 무기막과의 사이에 발생하는 잔류응력이 낮고, 내약품성이 우수하며, 경화공정시 산소 농도에 의한 YI 값의 증가 및 광선 투과율의 감소에 대한 영향이 작은 폴리이미드 필름을 제공할 수 있다.The present invention provides a polyimide precursor containing the diamine of Formula 1 as a polymerization component, so that a transparent polyimide film can be prepared without requiring a special combination of solvents. In addition, it is possible to provide a polyimide film having a low residual stress generated between the inorganic film, excellent chemical resistance, and a small effect on the increase of the YI value and the decrease in light transmittance due to the oxygen concentration during the curing process. .

화학식 1의 치환기는 폴리이미드의 분자간 packing density를 저감시켜 보다 비정질의 특성을 가질 수 있으며, 이로인해 광학적 특성(예를 들면, YI값 및 투과도)을 향상 시킬 수 있다. 또한, 바람직하게는 플루오로알킬기를 치환기로 가짐으로써, 폴리이미드 필름의 수분흡수성을 개선할 수 있다.The substituent of Formula 1 may have a more amorphous characteristic by reducing the intermolecular packing density of the polyimide, thereby improving optical characteristics (eg, YI value and transmittance). In addition, preferably, by having a fluoroalkyl group as a substituent, the water absorption property of the polyimide film can be improved.

DDS((디아미노디페닐)술폰)를 포함하는 폴리이미드의 경우 TFT공정 후 방치시간에 따른 잔류응력 변화가 심하며, 이러한 잔류응력 변화에 의해 무기막 크랙이 발생할 수 있다. 반면, 화학식 1의 디아민은 플루오로알킬기를 치환기로서 포함함으로써, 방치시간에 따른 수분흡수성이 현저히 감소될 수 있고, 이로인한 잔류응력의 변화 또한 감소할 수 있다.In the case of polyimide containing DDS ((diaminodiphenyl) sulfone), residual stress changes according to the standing time after the TFT process are severe, and inorganic film cracks may occur due to such residual stress changes. On the other hand, since the diamine of Formula 1 contains a fluoroalkyl group as a substituent, moisture absorption according to the standing time may be significantly reduced, and the resulting change in residual stress may also be reduced.

일 실시예에 따르면, 상기 화학식 1의 디아민을 포함하는 폴리이미드 필름은 경화 직후의 잔류응력이 40MPa 이하일 수 있으며, 상기 폴리이미드 필름을 25℃ 50% 습도 조건에서 3시간 방치한 후의 잔류응력 변화값이 5MPa 이하일 수 있다. According to an embodiment, the polyimide film containing the diamine of Formula 1 may have a residual stress of 40 MPa or less immediately after curing, and the change value of the residual stress after the polyimide film is left at 25° C. 50% humidity for 3 hours. It may be 5 MPa or less.

상기 화학식 1의 디아민은, 하기 반응식 1과 같이,The diamine of Formula 1 is as shown in Reaction Formula 1 below,

하기 화학식 ⅰ과 화학식 ⅱ의 화합물을 반응시켜 화학식 ⅲ의 화합물을 얻는 단계;Reacting the compound of formula (i) with the compound of formula (ii) to obtain a compound of formula (iii);

상기 화학식 ⅲ의 화합물을 산화시켜 화학식 ⅳ의 화합물을 얻는 단계; 및Oxidizing the compound of formula iii to obtain a compound of formula iv; And

상기 화학식 ⅳ의 화합물을 환원시켜 화학식 1의 화합물을 얻는 단계를 포함하는 방법으로 합성될 수 있다.It can be synthesized by a method comprising the step of obtaining a compound of Formula 1 by reducing the compound of Formula iv.

[반응식 1] [Scheme 1]

Figure 112018118295010-pat00007
Figure 112018118295010-pat00007

상기 식에 있어서,In the above formula,

R1 내지 R4 및 n1 내지 n4는 화학식 1과 동일한 것이다.R 1 to R 4 and n1 to n4 are the same as in Formula 1.

구체적으로, 상기 반응은 Specifically, the reaction is

상기 화학식 ⅰ과 화학식 ⅱ의 화합물을 DMSO(dimethyl sulfoxide)에 녹인 후 탄산칼륨(K2CO3)을 투입하여 80℃ 내지 100℃의 온도에서 교반하는 단계; Dissolving the compounds of formula (i) and formula (ii) in dimethyl sulfoxide (DMSO) and then adding potassium carbonate (K 2 CO 3 ) and stirring at a temperature of 80°C to 100°C;

교반 후에 물을 가하고 여과하여 얻어진 고체를 물과 에탄올로 세척하여 상기 화학식 ⅲ의 화합물을 수득하는 단계;Adding water after stirring and washing the solid obtained by filtration with water and ethanol to obtain the compound of formula (iii);

상기 화학식 ⅲ의 화합물을 빙초산(AcOH)에 분산시킨 후 0℃에서 과망간산칼륨(KMnO4)을 투입하여 교반 후 상온으로 승온하여 교반하여 상기 화학식 ⅲ의 화합물을 산화시키는 단계;Oxidizing the compound of Formula iii by dispersing the compound of Formula iii in glacial acetic acid (AcOH), adding potassium permanganate (KMnO 4 ) at 0° C., stirring, raising the temperature to room temperature, and stirring;

상기 산화 반응 종료 후에 물을 가하고 여과 후 얻어진 고체를 에탄올로 재결정하여 화학식 ⅳ의 화합물을 수득하는 단계; Adding water after completion of the oxidation reaction and recrystallizing the obtained solid with ethanol to obtain a compound of formula (iv);

질소 분위기에서 상기 화학식 ⅳ의 화합물을 에탄올에 분산시킨 후 염화주석(SnCl2)을 투입한 후 가열 및 교반하여 상기 화학식 ⅳ의 화합물을 환원시키는 단계; 및Dispersing the compound of Formula iv in ethanol in a nitrogen atmosphere, adding tin chloride (SnCl 2 ), heating and stirring to reduce the compound of Formula iv; And

상기 환원 반응 종료 후에 물을 가하여 얻어진 고체를 여과 및 에탄올로 재결정하여 화학식 1의 화합물을 수득하는 단계를 포함한다.After completion of the reduction reaction, the solid obtained by adding water is filtered and recrystallized with ethanol to obtain a compound of Formula 1.

또한, 상기 반응식 1의 출발 물질인 화학식 ⅰ과 화학식 ii의 화합물은 각각 하기 반응식 2 및 3과 같이 suzuki cupling반응을 통해 제조되는 것일 수 있다.In addition, the starting materials of Reaction Scheme 1, the compounds of Formula I and Formula ii, may be prepared through a suzuki cupling reaction as shown in Schemes 2 and 3, respectively.

[반응식 2][Scheme 2]

Figure 112018118295010-pat00008
Figure 112018118295010-pat00008

[반응식 3] [Scheme 3]

Figure 112018118295010-pat00009
Figure 112018118295010-pat00009

일 실시예에 따르면, 상기 n1 및 n4 중 하나 이상이 1 이거나 n2 및 n3 중 하나 이상이 1 일 수 있다.According to an embodiment, at least one of n1 and n4 may be 1, or at least one of n2 and n3 may be 1.

일 실시예에 따르면, 상기 n1 및 n4 중 하나 이상이 1 이고 n2 및 n3 중 하나 이상이 1 일 수 있다.According to an embodiment, at least one of n1 and n4 may be 1, and at least one of n2 and n3 may be 1.

일 실시예에 따르면, 상기 n1 내지 n4는 모두 1 일 수 있다.According to an embodiment, all of n1 to n4 may be 1.

일 실시예에 따르면, 상기 화학식 1의 디아민은 하기 화학식 1-1 내지 1-16의 화합물일 수 있다.According to an embodiment, the diamine of Formula 1 may be a compound of Formulas 1-1 to 1-16 below.

Figure 112018118295010-pat00010
Figure 112018118295010-pat00010

상기 화학식 1에 있어서, 불소(F)를 포함하는 치환기, 예를 들면, 플루오로알킬기와 같은 치환기는, 폴리이미드 구조내 또는 사슬간 packing을 감소시킬 수 있으며, 입체장애 및 전기적 효과로 인해 발색원 간의 전기적인 상호작용을 약화시켜 가시광 영역에서 높은 투명성을 나타내게 할 수 있다. In Formula 1, a substituent containing fluorine (F), for example, a substituent such as a fluoroalkyl group, can reduce packing within the polyimide structure or between chains, and due to steric hindrance and electrical effects, It is possible to exhibit high transparency in the visible light region by weakening the electrical interaction between the liver.

본 발명은, The present invention,

1종 이상의 디아민 및 1종 이상의 산이무수물을 포함하는 중합성분을 중합시켜 얻어지는 폴리이미드 전구체로서,As a polyimide precursor obtained by polymerizing a polymerization component containing at least one diamine and at least one acid dianhydride,

상기 중합성분 중 디아민이 하기 화학식 1로 나타나는 디아민을 포함하는 것인 폴리이미드 전구체를 제공한다.It provides a polyimide precursor containing the diamine represented by the following formula (1) among the polymerized components.

일 실시예에 따르면, 상기 디아민을 사용하여 제조된 폴리이미드 전구체의 중량평균분자량은 중량평균분자량은 45,000 g/mol 이상일 수 있으며, 바람직하게는 50,000 g/mol 이상일 수 있다. 분자량이 45,000 g/mol 미만인 경우 폴리이미드 반응성 저하로 인한 용액의 점도 저하가 발생하여 고형분 대비 점도가 낮아 용액 코팅 공정 및 최종 경화 공정시 필름 두께의 제어가 용이하지 않을 수 있다. 또한 분자량이 낮으면 기계적인 물성이 저하되어 필름 강도가 낮아지는 문제가 발생할 수 있다. According to an embodiment, the weight average molecular weight of the polyimide precursor prepared using the diamine may be 45,000 g/mol or more, and preferably 50,000 g/mol or more. If the molecular weight is less than 45,000 g/mol, the viscosity of the solution may decrease due to the decrease in polyimide reactivity, and the viscosity of the solution is low compared to the solid content, so it may not be easy to control the film thickness during the solution coating process and the final curing process. In addition, when the molecular weight is low, mechanical properties may be deteriorated, resulting in a problem that the film strength decreases .

본 발명에 따른 폴리이미드 전구체는, 중합성분으로서 하기 화학식 2의 구조를 갖는 디아민 또는 산이무수물을 포함할 수 있다:The polyimide precursor according to the present invention may contain a diamine or an acid dianhydride having a structure represented by the following formula (2) as a polymerization component:

[화학식 2][Formula 2]

Figure 112018118295010-pat00011
Figure 112018118295010-pat00011

상기 화학식 2에 있어서,In Formula 2,

R5 및 R6는 각각 독립적으로 탄소수 1∼20의 1 가의 유기기이고, 그리고 h 는 3∼200의 정수이다.R 5 and R 6 are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, and h is an integer of 3 to 200.

보다 구체적으로, 상기 화학식 2의 화합물은 하기 화학식 2-1의 디아민 화합물일 수 있다.More specifically, the compound of Formula 2 may be a diamine compound of Formula 2-1.

[화학식 2-1][Formula 2-1]

Figure 112018118295010-pat00012
Figure 112018118295010-pat00012

상기 화학식 2-1에 있어서,In Formula 2-1,

R은 탄소수 1~10의 알킬기 또는 탄소수 6~24의 아릴기이고,R is a C1-C10 alkyl group or a C6-C24 aryl group,

p 및 q는 몰분율로서 p+q=100 일 때 p는 70~90, q는 10~30 이다.p and q are mole fractions, when p+q=100, p is 70 to 90, and q is 10 to 30.

상기 화학식 2의 화합물은 상기 중합성분의 총 중량에 대해 5 내지 50 중량% 로 포함될 수 있으며, 바람직하게는 전체 중합성분 총 중량에 대해 10 내지 20 중량%로 포함할 수 있다. The compound of Formula 2 may be included in an amount of 5 to 50% by weight based on the total weight of the polymerization component, and preferably may be included in an amount of 10 to 20% by weight based on the total weight of the polymerization component.

상기 화학식 2의 구조를 포함하는 중합성분이 총 중량에 대해 과도하게 첨가되면, 폴리이미드의 모듈러스(modulus)와 같은 기계적 특성이 저하될 수 있고, 막 강도가 감소함으로써, 공정상에서 필름이 찢어지는 등의 물리적 손상이 발생할 수 있다. 또한, 화학식 2의 구조를 갖는 디아민이 과도하게 첨가되는 경우, 상기 실록산 구조를 갖는 고분자로부터 유래되는 Tg가 나타날 수 있으며, 이로부터, 350℃ 이하의 낮은 공정온도에서 Tg가 나타나게 되어, 350℃ 이상의 무기막 증착 공정시 고분자의 유동현상으로 인해 필름표면에 주름이 발생하게 되어 무기막이 갈라지는 현상이 발생할 수 있다.If the polymerization component including the structure of Formula 2 is added excessively with respect to the total weight, mechanical properties such as modulus of the polyimide may be deteriorated, and the film strength may be reduced, such that the film is torn in the process. Physical damage may occur. In addition, when the diamine having the structure of Formula 2 is excessively added, Tg derived from the polymer having the siloxane structure may appear, and from this, Tg appears at a low process temperature of 350°C or less. During the inorganic film deposition process, wrinkles may occur on the film surface due to the flow phenomenon of the polymer, and the inorganic film may be cracked.

일반적으로, 상기 화학식 2와 같은 실리콘 올리고머 구조를 포함하는 디아민 또는 산이무수물을 중합성분 중에 10 중량% 이상으로 포함하는 폴리이미드의 경우 잔류응력의 저감효과가 높아질 수 있고, 50중량%보다 높은 조성에서는 Tg가 390℃보다 낮아져 내열성이 저하될 수 있다.In general, in the case of a polyimide containing 10% by weight or more of a diamine or an acid dianhydride containing a silicone oligomer structure such as Formula 2 in the polymerization component, the effect of reducing residual stress may be increased, and in a composition higher than 50% by weight, Since Tg is lower than 390°C, heat resistance may be deteriorated.

반면, 본 발명에 따른 폴리이미드는 전체 중합성분에 대해 10 중량%이상으로 실리콘 올리고머를 포함함에도 불구하고 Tg를 390℃이상으로 유지할 수 있다. 따라서, 유리전이온도를 390℃ 이상으로 유지하면서, 실리콘 올리고머 구조에의한 잔류응력의 감소효과 또한 함께 얻을 수 있다.On the other hand, the polyimide according to the present invention can maintain Tg at 390°C or higher even though it contains a silicone oligomer in an amount of 10% by weight or more based on the total polymerization component. Therefore, while maintaining the glass transition temperature above 390°C, the effect of reducing the residual stress due to the silicon oligomer structure can also be obtained.

상기 화학식 2의 구조를 갖는 디아민 또는 산이무수물에 포함된 실리콘 올리고머 구조의 분자량은 4000 g/mol 이상일 수 있으며, 여기서 분자량은 중량평균 분자량을 의미하며, 분자량 계산은 NMR분석 또는 산염기 적정법을 사용하여 아민 또는 이무수물과 같은 반응기의 당량을 계산하는 방식을 사용할 수 있다.The molecular weight of the silicone oligomer structure contained in the diamine or acid dianhydride having the structure of Formula 2 may be 4000 g/mol or more, wherein the molecular weight refers to the weight average molecular weight, and the molecular weight calculation is performed using NMR analysis or acid base titration method. A method of calculating the equivalent of the reactor such as amine or dianhydride can be used.

상기 화학식 2의 구조를 포함하는 실리콘 올리고머 구조의 분자량이 4000 g/mol 미만인 경우에는 내열성이 저하될 수 있으며, 예를 들면, 제조된 폴리이미드의 유리전이온도(Tg)가 저하되거나, 열팽창계수가 과도하게 증가할 수 있다.When the molecular weight of the silicone oligomer structure including the structure of Formula 2 is less than 4000 g/mol, heat resistance may be reduced, for example, the glass transition temperature (Tg) of the prepared polyimide is decreased, or the coefficient of thermal expansion It can increase excessively.

본 발명에 따르면, 폴리이미드 매트릭스 내에 분포되어 있는 실리콘 올리고머 도메인의 크기가 나노사이즈, 예를 들어 1nm~50nm, 또는 5nm~40nm, 또는 10nm~30nm로서 연속상을 가지므로 내열성과 기계적 물성을 유지하면서 잔류 응력을 최소화할 수 있다. 이와 같은 연속상을 가지지 않는 경우에는 잔류 응력 감소효과는 있을 수 있지만 내열성과 기계적 물성이 현저히 감소하여 공정에 이용하기가 곤란하다.According to the present invention, since the size of the silicon oligomer domains distributed in the polyimide matrix is nano-sized, for example, 1 nm to 50 nm, or 5 nm to 40 nm, or 10 nm to 30 nm, it has a continuous phase, while maintaining heat resistance and mechanical properties. Residual stress can be minimized. In the case of not having such a continuous phase, there may be a residual stress reduction effect, but heat resistance and mechanical properties are remarkably reduced, making it difficult to use in the process.

여기서 실리콘 올리고머의 도메인은 실리콘 올리고머 구조를 갖는 폴리머가 분포하는 영역을 의미하며, 그 크기는 해당 영역을 둘러싸는 원의 직경을 지칭하는 것으로 한다. Here, the domain of the silicone oligomer refers to a region in which a polymer having a silicon oligomer structure is distributed, and the size refers to the diameter of a circle surrounding the region.

실리콘 올리고머 구조를 포함하는 부분(도메인)이 폴리이미드 매트릭스 내에 연속상으로 연결되어 있는 것이 바람직한데, 여기서 연속상이라는 것은 나노사이즈의 도메인이 균일하게 분포하고 있는 형상을 의미한다.It is preferable that the portion (domain) containing the silicon oligomer structure is connected in a continuous phase in the polyimide matrix, wherein the continuous phase means a shape in which nano-sized domains are uniformly distributed.

따라서, 본 발명은 고분자량을 갖는 실리콘 올리고머 임에도 불구하고, 폴리이미드 매트릭스 내에서 상분리 없이 균일하게 분포될 수 있어 헤이즈 특성이 저하되어 보다 투명한 특성을 갖는 폴리이미드를 얻을 수 있을 뿐만 아니라, 실리콘 올리고머 구조가 연속상으로 존재함으로 폴리이미드의 기계적 강도 및 스트레스 완화 효과를 보다 효율적으로 향상시켜 줄 수 있다. 이러한 특성으로부터, 본 발명에 따른 조성물은 열적 특성 및 광학적 특성뿐만 아니라, 코팅-경화 후 기판이 휘어지는 현상이 감소하여 평평한 폴리이미드 필름을 제공할 수 있다.Therefore, although the present invention is a silicone oligomer having a high molecular weight, it can be uniformly distributed without phase separation in the polyimide matrix, so that the haze property is lowered to obtain a polyimide having more transparent properties, as well as a silicone oligomer structure. Since is present in a continuous phase, the mechanical strength and stress relaxation effect of the polyimide can be more efficiently improved. From these properties, the composition according to the present invention can provide a flat polyimide film by reducing not only thermal properties and optical properties, but also a phenomenon in which the substrate is warped after coating-curing.

본 발명은 실리콘 올리고머 구조를 폴리이미드 구조에 삽입함으로써, 폴리이미드의 모듈러스 강도를 적절히 향상시킬 수 있고 외력에 의한 스트레스 또한 완화시켜 줄 수 있다. 이때, 실리콘 올리고머 구조를 포함하는 폴리이미드는 극성을 나타낼 수 있으며, 실록산 구조를 포함하지 않는 폴리이미드 구조와 극성 차이로 인한 상분리가 발생할 수 있으며, 이로 인해 실록산 구조가 폴리이미드 구조 전반에 불균일하게 분포될 수 있다. 이 경우에는 실록산 구조에 의한 폴리이미드의 강도 향상 및 스트레스 완화 효과와 같은 물성 향상효과를 나타내기 어려울 뿐만 아니라, 상분리로 인해 헤이즈가 증가하여 필름의 투명성이 저하될 수 있다. 특히, 실록산 구조를 포함하는 디아민이 고분자량을 갖는 경우에 이로부터 제조된 폴리이미드는 그 극성이 더욱 극명하게 나타나, 폴리이미드 간의 상분리 현상이 보다 극명하게 나타날 수 있다. 이때, 저분자량의 구조를 갖는 실록산 디아민을 사용할 경우에는 스트레스 완화 등의 효과를 나타내기 위해서는 많은 양을 첨가하여야 하며, 이는 낮은 온도에서 Tg가 발생하는 등의 공정상의 문제가 발생시킬 수 있고, 이로 인해 폴리이미드 필름의 물리적 특성이 저하될 수 있다. 이에, 고분자량의 실록산 디아민을 첨가하는 경우에는 relaxation segment가 분자 내에 크게 형성될 수 있으며, 따라서 저분자량을 첨가하는 것에 비해 적은 함량으로도 효과적으로 스트레스 완화 효과를 나타낼 수 있다. 따라서, 본 발명은 상기 고분자량을 갖는 실록산 구조를 갖는 화학식 2의 화합물을 사용함으로써, 폴리이미드 매트릭스상에 상 분리 없이 보다 고르게 분포될 수 있다.In the present invention, by inserting the silicone oligomer structure into the polyimide structure, it is possible to appropriately improve the modulus strength of the polyimide and also relieve stress caused by an external force. At this time, the polyimide containing the silicon oligomer structure may exhibit polarity, and phase separation may occur due to the difference in polarity from the polyimide structure not including the siloxane structure, and due to this, the siloxane structure is distributed unevenly throughout the polyimide structure. Can be. In this case, not only it is difficult to exhibit the effect of improving the strength of the polyimide due to the siloxane structure and the effect of relieving stress, but also the haze may increase due to phase separation, thereby reducing the transparency of the film. In particular, when a diamine containing a siloxane structure has a high molecular weight, the polarity of the polyimide prepared therefrom is more pronounced, and a phase separation phenomenon between the polyimides may be more pronounced. At this time, in the case of using siloxane diamine having a low molecular weight structure, a large amount must be added in order to exhibit an effect such as stress relief, which may cause process problems such as Tg generation at a low temperature. Due to this, the physical properties of the polyimide film may be deteriorated. Accordingly, when a high molecular weight siloxane diamine is added, the relaxation segment can be formed large in the molecule, and thus, the stress relaxation effect can be effectively exhibited even with a small amount compared to the addition of a low molecular weight. Accordingly, in the present invention, by using the compound of Formula 2 having a siloxane structure having a high molecular weight, it can be more evenly distributed on a polyimide matrix without phase separation.

일 실시예에 따르면, 상기 폴리이미드 전구체를 중합하기 위해 사용되는 산이무수물은 테트라카르복실산 이무수물이 사용될 수 있으며, 예를 들면, 상기 테트라카르복실산 이무수물로서, 분자내 방향족, 지환족, 또는 지방족의 4가 유기기, 또는 이들의 조합기로서, 지방족, 지환족 또는 방향족의 4가 유기기가 가교구조를 통해 서로 연결된 4가 유기기를 포함하는 테트라카르복실산 이무수물을 사용할 수 있다. 바람직하게는 일환식 또는 다환식 방향족, 일환식 또는 다환식 지환족, 또는 이들 중 둘 이상이 단일결합 또는 관능기로 연결된 구조를 갖는 산이무수물을 포함할 수 있다. 또는, 방향족, 지환족 등의 고리구조가 단독, 또는 접합(fused)된 복소환 고리 구조, 또는 단일결합으로 연결된 구조와 같은 강직(rigid)한 구조를 갖는 4가 유기기를 포함하는 테트라카르복실산 이무수물을 포함할 수 있다.According to an embodiment, the acid dianhydride used to polymerize the polyimide precursor may be a tetracarboxylic dianhydride. For example, as the tetracarboxylic dianhydride, intramolecular aromatic, alicyclic, Alternatively, as an aliphatic tetravalent organic group or a combination thereof, a tetracarboxylic dianhydride containing a tetravalent organic group in which aliphatic, alicyclic or aromatic tetravalent organic groups are connected to each other through a crosslinked structure may be used. Preferably, it may include an acid dianhydride having a monocyclic or polycyclic aromatic, monocyclic or polycyclic alicyclic, or a structure in which two or more of them are linked by a single bond or a functional group. Or, tetracarboxylic acid containing a tetravalent organic group having a rigid structure such as a single or fused heterocyclic ring structure, or a structure linked by a single bond. May contain dianhydrides.

예를 들면, 상기 테트라카르복실산 이무수물은 하기 화학식 3a 내지 3e의 구조를 갖는 4가 유기기를 포함하는 것일 수 있다:For example, the tetracarboxylic dianhydride may include a tetravalent organic group having a structure represented by the following Formulas 3a to 3e:

[화학식 3a][Formula 3a]

Figure 112018118295010-pat00013
Figure 112018118295010-pat00013

[화학식 3b][Formula 3b]

Figure 112018118295010-pat00014
Figure 112018118295010-pat00014

[화학식 3c][Formula 3c]

Figure 112018118295010-pat00015
Figure 112018118295010-pat00015

[화학식 3d][Chemical Formula 3d]

Figure 112018118295010-pat00016
Figure 112018118295010-pat00016

[화학식 3e][Formula 3e]

Figure 112018118295010-pat00017
Figure 112018118295010-pat00017

상기 화학식 3a 내지 3e에서, 상기 R11 내지 R17 은 각각 독립적으로 -F, -Cl, -Br 및 -I로부터 선택되는 할로겐 원자, 하이드록실기(-OH), 티올기(-SH), 니트로기(-NO2), 시아노기, 탄소수 1 내지 10의 알킬기, 탄소수 1 내지 4의 할로게노알콕시, 탄소수 1 내지 10의 할로게노알킬, 탄소수 6 내지 20의 아릴기에서 선택되는 것일 수 있고,In Formulas 3a to 3e, R 11 to R 17 are each independently a halogen atom selected from -F, -Cl, -Br and -I, a hydroxyl group (-OH), a thiol group (-SH), and a nitro A group (-NO 2 ), a cyano group, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a halogenoalkoxy having 1 to 4 carbon atoms, a halogenoalkyl having 1 to 10 carbon atoms, and an aryl group having 6 to 20 carbon atoms,

상기 a1는 0 내지 2의 정수, a2는 0 내지 4의 정수, a3는 0 내지 8의 정수, a4 및 a5는 각각 독립적으로 0 내지 3의 정수, a6 및 a9는 각각 독립적으로 0 내지 3의 정수, 그리고 a7 및 a8은 각각 독립적으로 0 내지 7의 정수일 수 있으며,A1 is an integer of 0 to 2, a2 is an integer of 0 to 4, a3 is an integer of 0 to 8, a4 and a5 are each independently an integer of 0 to 3, a6 and a9 are each independently an integer of 0 to 3 , And a7 and a8 may each independently be an integer of 0 to 7,

상기 A11 및 A12는 각각 독립적으로 단일결합, -O-, -CR'R"-(이때, R' 및 R"은 각각 독립적으로 수소원자, 탄소수 1 내지 10의 알킬기(예를 들면, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, tert-부틸기, 펜틸기 등) 및 탄소수 1 내지 10의 할로알킬기(예를 들면, 트리플루오로메틸기 등)로 이루어진 군으로부터 선택되는 것임), -C(=O)-, -C(=O)O-, -C(=O)NH-, -S-, -SO-, -SO2-, -O[CH2CH2O]y-(y는 1 내지 44의 정수임), -NH(C=O)NH-, -NH(C=O)O-, 탄소수 6 내지 18의 일환식 또는 다환식의 시클로알킬렌기(예를 들면, 시클로헥실렌기 등), 탄소수 6 내지 18의 일환식 또는 다환식의 아릴렌기(예를 들면, 페닐렌기, 나프탈렌기, 플루오레닐렌기등), 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택될 수 있으며,The A 11 and A 12 are each independently a single bond, -O-, -CR'R"- (herein, R'and R" are each independently a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms (for example, a methyl group , Ethyl group, propyl group, isopropyl group, n-butyl group, tert-butyl group, pentyl group, etc.) and a haloalkyl group having 1 to 10 carbon atoms (eg, trifluoromethyl group, etc.) ), -C(=O)-, -C(=O)O-, -C(=O)NH-, -S-, -SO-, -SO 2 -, -O[CH 2 CH 2 O] y- (y is an integer of 1 to 44), -NH(C=O)NH-, -NH(C=O)O-, a monocyclic or polycyclic cycloalkylene group having 6 to 18 carbon atoms (e.g. , Cyclohexylene group, etc.), a monocyclic or polycyclic arylene group having 6 to 18 carbon atoms (e.g., a phenylene group, a naphthalene group, a fluorenylene group, etc.), and a combination thereof. There is,

또는, 상기 테트라카르복실산 이무수물은 하기 화학식 4a 내지 4n으로 이루어진 군으로부터 선택되는 4가 유기기를 포함하는 것일 수 있다.Alternatively, the tetracarboxylic dianhydride may include a tetravalent organic group selected from the group consisting of the following Chemical Formulas 4a to 4n.

Figure 112018118295010-pat00018
Figure 112018118295010-pat00018

상기 화학식 4a 내지 4n의 4가 유기기내 1 이상의 수소원자는 -F, -Cl, -Br 및 -I로부터 선택되는 할로겐 원자, 하이드록실기(-OH), 티올기(-SH), 니트로기(-NO2), 시아노기, 탄소수 1 내지 10의 알킬기, 탄소수 1 내지 4의 할로게노알콕시, 탄소수 1 내지 10의 할로게노알킬, 탄소수 6 내지 20의 아릴기에서 선택되는 치환체로 치환될 수 있다. 예를 들면, 상기 할로겐 원자는 플루오로(-F)일 수 있으며, 할로게노알킬기는 플루오로 원자를 포함하는 탄소수 1 내지 10의 플루오로알킬기로서, 플루오로메틸기, 퍼플루오로에틸기, 트리플루오로메틸기 등에서 선택되는 것일 수 있으며, 상기 알킬기는 메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, t-부틸기, 펜틸기, 헥실기에서 선택되는 것일 수 있고, 상기 아릴기는 페닐기, 나프탈레닐기에서 선택되는 것 일 수 있으며, 보다 바람직하게는 플루오로원자 및 플로오로알킬기 등의 플루오로 원자를 포함하는 치환기일 수 있다.At least one hydrogen atom in the tetravalent organic group of Formulas 4a to 4n is a halogen atom selected from -F, -Cl, -Br and -I, a hydroxyl group (-OH), a thiol group (-SH), a nitro group ( -NO 2 ), a cyano group, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a halogenoalkoxy having 1 to 4 carbon atoms, a halogenoalkyl having 1 to 10 carbon atoms, and an aryl group having 6 to 20 carbon atoms. For example, the halogen atom may be fluoro (-F), and the halogenoalkyl group is a fluoroalkyl group having 1 to 10 carbon atoms including a fluoro atom, and a fluoromethyl group, perfluoroethyl group, trifluoro The alkyl group may be selected from methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, t-butyl group, pentyl group, hexyl group, and the aryl group may be selected from phenyl group and naphthalenyl group. It may be, and more preferably, it may be a substituent including a fluoro atom such as a fluoro atom and a fluoroalkyl group.

또는, 상기 테트라카르복실산 이무수물은, 방향족 고리 또는 지방족 구조가 각각의 고리구조가 강직(rigid)한 구조, 즉, 단일 고리 구조, 각각의 고리가 단일결합으로 결합된 구조 또는 각각의 고리가 직접적으로 연결된 복소환 구조를 포함하는 4가 유기기를 포함하는 것 일 수 있다.Alternatively, the tetracarboxylic dianhydride has an aromatic ring or an aliphatic structure in which each ring structure is rigid, that is, a single ring structure, a structure in which each ring is bonded by a single bond, or each ring is It may include a tetravalent organic group including a directly linked heterocyclic structure.

일 실시예에 따르면, 폴리이미드 전구체 중합시 상기 화학식 1의 디아민 이외에 1종 이상의 디아민이 더 포함될 수 있으며, 예를 들면, 탄소수 6 내지 24의 일환식 또는 다환식 방향족 2가 유기기, 탄소수 6 내지 18의 일환식 또는 다환식 지환족 2가 유기기, 또는 이들 중 둘 이상이 단일결합이나 관능기로 연결된 구조를 포함하는 2가 유기기 선택되는 2가 유기기 구조를 포함하는 디아민을 포함할 수 있으며, 또는, 방향족, 지환족 등의 고리구조 화합물이 단독, 또는 접합(fused)된 복소환 고리 구조, 또는 단일결합으로 연결된 구조와 같은 강직(rigid)한 구조를 갖는 2가 유기기로부터 선택되는 것일 수 있다.According to an embodiment, at the time of polymerization of the polyimide precursor, one or more diamines may be further included in addition to the diamine of Formula 1, for example, a monocyclic or polycyclic aromatic divalent organic group having 6 to 24 carbon atoms, and 6 to carbon atoms. 18 monocyclic or polycyclic alicyclic divalent organic groups, or diamines containing a divalent organic group structure selected from a divalent organic group including a structure in which two or more of them are linked with a single bond or a functional group, and , Or, one selected from a divalent organic group having a rigid structure such as a single or fused heterocyclic ring structure, or a structure linked by a single bond in which a ring structure compound such as aromatic or alicyclic is selected. I can.

예를 들면, 상기 디아민은, 하기 화학식 5a 내지 5e 로부터 선택되는 2가 유기기를 포함하는 것일 수 있다.For example, the diamine may include a divalent organic group selected from Formulas 5a to 5e below.

[화학식 5a][Formula 5a]

Figure 112018118295010-pat00019
Figure 112018118295010-pat00019

[화학식 5b][Formula 5b]

Figure 112018118295010-pat00020
Figure 112018118295010-pat00020

[화학식 5c][Formula 5c]

Figure 112018118295010-pat00021
Figure 112018118295010-pat00021

[화학식 5d][Formula 5d]

Figure 112018118295010-pat00022
Figure 112018118295010-pat00022

[화학식 5e][Formula 5e]

Figure 112018118295010-pat00023
Figure 112018118295010-pat00023

상기 화학식 5a 내지 5e에서,In Formulas 5a to 5e,

R21 내지 R27은 각각 독립적으로 -F, -Cl, -Br 및 -I로부터 선택되는 할로겐 원자, 하이드록실기(-OH), 티올기(-SH), 니트로기(-NO2), 시아노기, 탄소수 1 내지 10의 알킬기, 탄소수 1 내지 4의 할로게노알콕시, 탄소수 1 내지 10의 할로게노알킬, 탄소수 6 내지 20의 아릴기로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. R 21 to R 27 are each independently a halogen atom selected from -F, -Cl, -Br and -I, a hydroxyl group (-OH), a thiol group (-SH), a nitro group (-NO 2 ), and a cyanide group. It may be selected from the group consisting of a no group, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a halogenoalkoxy having 1 to 4 carbon atoms, a halogenoalkyl having 1 to 10 carbon atoms, and an aryl group having 6 to 20 carbon atoms.

또, A21 및 A22는 각각 독립적으로 단일결합, -O-, -CR'R"-(이때, R' 및 R"은 각각 독립적으로 수소원자, 탄소수 1 내지 10의 알킬기(예를 들면, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, tert-부틸기, 펜틸기 등) 및 탄소수 1 내지 10의 할로알킬기(예를 들면, 트리플루오로메틸기 등)로 이루어진 군으로부터 선택되는 것임), -C(=O)-, -C(=O)O-, -C(=O)NH-, -S-, -SO-, -SO2-, -O[CH2CH2O]y-(y는 1 내지 44의 정수임), -NH(C=O)NH-, -NH(C=O)O-, 탄소수 6 내지 18의 일환식 또는 다환식의 시클로알킬렌기(예를 들면, 시클로헥실렌기 등), 탄소수 6 내지 18의 일환식 또는 다환식의 아릴렌기(예를 들면, 페닐렌기, 나프탈렌기, 플루오레닐렌기등), 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택될 수 있으며,In addition, A 21 and A 22 are each independently a single bond, -O-, -CR'R"- (herein, R'and R" are each independently a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms (for example, Selected from the group consisting of a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, a tert-butyl group, a pentyl group, etc.) and a haloalkyl group having 1 to 10 carbon atoms (e.g., trifluoromethyl group, etc.) ), -C(=O)-, -C(=O)O-, -C(=O)NH-, -S-, -SO-, -SO 2 -, -O[CH 2 CH 2 O ]y-(y is an integer of 1 to 44), -NH(C=O)NH-, -NH(C=O)O-, a monocyclic or polycyclic cycloalkylene group having 6 to 18 carbon atoms (e.g. For example, a cyclohexylene group), a monocyclic or polycyclic arylene group having 6 to 18 carbon atoms (e.g., a phenylene group, a naphthalene group, a fluorenylene group, etc.), and a combination thereof. Can,

b1은 0 내지 4의 정수이고, b2는 0 내지 6의 정수이며, b3은 0 내지 3의 정수이고, b4 및 b5는 각각 독립적으로 0 내지 4의 정수이고, b7 및 b8은 각각 독립적으로 0내지 9의 정수이고, b6 및 b9는 각각 독립적으로 0 내지 3의 정수이다.b1 is an integer of 0 to 4, b2 is an integer of 0 to 6, b3 is an integer of 0 to 3, b4 and b5 are each independently an integer of 0 to 4, b7 and b8 are each independently 0 to It is an integer of 9, and b6 and b9 are each independently an integer of 0-3.

예를 들면, 상기 디아민은 하기 화학식 6a 내지 6p 로부터 선택되는 2가 유기기를 포함하는 것일 수 있다.For example, the diamine may be one containing a divalent organic group selected from the following Chemical Formulas 6a to 6p.

Figure 112018118295010-pat00024
Figure 112018118295010-pat00024

또는, 상기 디아민은 방향족 고리 또는 지방족 구조가 강직(rigid)한 사슬구조를 형성하는 2가 유기기를 포함하는 것일 수 있으며, 예를 들면, 단일 고리 구조, 각각의 고리가 단일결합으로 결합된 구조 또는 각각의 고리가 직접적으로 접합(fused)된 복소환 고리 구조를 포함하는 2가 유기기 구조를 포함할 수 있다.Alternatively, the diamine may include a divalent organic group in which an aromatic ring or an aliphatic structure forms a rigid chain structure, for example, a single ring structure, a structure in which each ring is bonded by a single bond, or Each ring may include a divalent organic group structure including a heterocyclic ring structure in which each ring is directly fused.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 테트라카르복실산 이무수물의 총 함량과 상기 디아민의 함량은, 1:1.1~1.1:1 몰비로 반응될 수 있으며, 바람직하게는, 반응성 향상 및 공정성 향상을 위해, 상기 테트라카르복실산 이무수물의 총 함량이 디아민에 비해 과량으로 반응되거나, 또는 디아민의 함량이 테트라카르복실산 이무수물의 총 함량에 비해 과량으로 반응되는 것이 바람직하다.According to an embodiment of the present invention, the total content of tetracarboxylic dianhydride and the content of diamine may be reacted in a molar ratio of 1:1.1 to 1.1:1, and preferably, in order to improve reactivity and processability, It is preferable that the total content of the tetracarboxylic dianhydride is reacted in an excessive amount compared to the diamine, or the content of the diamine is reacted in an excess of the total content of the tetracarboxylic dianhydride.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 테트라카르복실산 이무수물의 총 함량과 디아민의 함량의 몰비는 1:0.99 내지 0.99:1 바람직하게는 1:0.98 내지 0.98:1으로 반응되는 것이 바람직할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the molar ratio of the total content of the tetracarboxylic dianhydride and the content of diamine may be 1:0.99 to 0.99:1, preferably 1:0.98 to 0.98:1. .

산이무수물과 다이아민계 화합물의 중합 반응은, 용액 중합 등 통상의 폴리이미드 또는 그 전구체의 중합 방법에 따라 실시될 수 있다.The polymerization reaction of the acid dianhydride and the diamine compound may be carried out according to a conventional polymerization method of polyimide or a precursor thereof, such as solution polymerization.

폴리아믹산 중합반응시 사용가능한 유기용매로는, 감마-부티로락톤, 1,3-디메틸-2-이미다졸리디논, 메틸에틸케톤, 시클로헥사논, 시클로펜타논, 4-하이드록시-4-메틸-2-펜타논 등의 케톤류; 톨루엔, 크실렌, 테트라메틸벤젠 등의 방향족 탄화수소류; 에틸렌글리콜모노에틸에테르, 에틸렌글리콜모노메틸에테르, 에틸렌글리콜모노부틸에테르, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르, 디에틸렌글리콜모노메틸에테르, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 프로필렌글리콜모노에틸에테르, 디프로필렌글리콜디에틸에테르, 트리에틸렌글리콜모노에틸에테르 등의 글리콜에테르류(셀로솔브); 아세트산에틸, 아세트산부틸, 에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 디프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 에탄올, 프로판올, 에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 카르비톨, 디메틸프로피온아마이드(dimethylpropionamide, DMPA), 디에틸프로피온아마이드(diethylpropionamide, DEPA), 디메틸아세트아미드(DMAc), N,N-디에틸아세트아미드, 디메틸포름아미드(DMF), 디에틸포름아미드(DEF), N-메틸피롤리돈(NMP), N-에틸피롤리돈(NEP), N,N-디메틸메톡시아세트아미드, 디메틸술폭사이드, 피리딘, 디메틸술폰, 헥사메틸포스포르아미드, 테트라메틸우레아, N-메틸카프로락탐, 테트라히드로퓨란, m-디옥산, P-디옥산, 1,2-디메톡시에탄, 비스(2-메톡시에틸)에테르, 1,2-비스(2-메톡시에톡시)에탄, 비스[2-(2-메톡시에톡시)]에테르, 에크아마이드(Equamide)M100, 에크아마이드(Equamide)B100 등일 수 있으며, 이들 중 1종 단독 또는 2종 이상의 혼합물이 사용될 수 있다.As organic solvents that can be used in the polyamic acid polymerization reaction, gamma-butyrolactone, 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, cyclopentanone, 4-hydroxy-4- Ketones such as methyl-2-pentanone; Aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene, and tetramethylbenzene; Ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monobutyl ether, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl ether , Glycol ethers (cellosolve) such as dipropylene glycol diethyl ether and triethylene glycol monoethyl ether; Ethyl acetate, butyl acetate, ethylene glycol monoethyl ether acetate, ethylene glycol monobutyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether acetate, dipropylene glycol monomethyl ether acetate, ethanol, propanol, ethylene glycol, propylene glycol, carbitol, dimethyl Propionamide (DMPA), diethylpropionamide (DEPA), dimethylacetamide (DMAc), N,N-diethylacetamide, dimethylformamide (DMF), diethylformamide (DEF), N -Methylpyrrolidone (NMP), N-ethylpyrrolidone (NEP), N,N-dimethylmethoxyacetamide, dimethylsulfoxide, pyridine, dimethylsulfone, hexamethylphosphoramide, tetramethylurea, N- Methylcaprolactam, tetrahydrofuran, m-dioxane, P-dioxane, 1,2-dimethoxyethane, bis(2-methoxyethyl)ether, 1,2-bis(2-methoxyethoxy)ethane , Bis[2-(2-methoxyethoxy)]ether, Equamide M100, Equamide B100, and the like, and one of them alone or a mixture of two or more may be used.

일 실시예에 따르면, 상기 중합성분을 중합하는 유기용매로서 25℃ 분배계수 LogP가 양수인 용매를 사용할 수 있다. LogP가 양수인 유기용매를 사용함에 따라 메틸페닐실리콘 올리고머가 10중량% 이상으로 포함되는 조성에서도 Tg를 390℃이상의 높은 온도로 유지할 수 있다.According to an embodiment, as an organic solvent for polymerizing the polymerization component, a solvent having a partition coefficient LogP of 25° C. may be used. By using an organic solvent in which LogP is a positive number, even in a composition containing 10% by weight or more of methylphenylsilicone oligomer, Tg can be maintained at a high temperature of 390°C or more.

또한, 상기와 같은 분배계수가 양수인 유기용매는 플렉서블(flexible)한 폴리이미드 반복구조와 실리콘 올리고머와 같은 실록산 구조를 포함하는 폴리이미드 구조의 극성 차이로 인한 상분리로 인해 발생되는 백탁현상을 감소시킬 수 있다. 종래에는 이러한 상분리를 해결하기 위해 2종의 유기용매를 사용하였으나, 상기와 같은 유기용매를 사용하는 것 만으로도 백탁현상을 감소시킬 수 있어, 보다 투명한 폴리이미드 필름을 제조할 수 있다.In addition, the organic solvent having a positive partition coefficient as described above can reduce the clouding phenomenon caused by phase separation due to the polarity difference between a flexible polyimide repeating structure and a polyimide structure including a siloxane structure such as a silicone oligomer. have. Conventionally, two types of organic solvents have been used to solve the phase separation, but it is possible to reduce the clouding phenomenon by only using the organic solvent as described above, and thus a more transparent polyimide film can be prepared.

상기한 문제를 해결하기 위해 극성 용매와 비극성 용매를 혼합하여 사용하는 방법도 있으나, 극성 용매의 경우 휘발성이 높은 경향이 있으며, 따라서 제조공정상에서 미리 휘발되는 등의 문제가 발생할 수 있으며, 이 때문에 공정의 재현성이 저하되는 등의 문제가 발생할 수 있을 뿐만 아니라, 상분리 문제를 완전히 개선하지 못할 수 있어, 제조된 폴리이미드 필름의 헤이즈(Haze)가 높아져 투명도가 저하될 수 있다. In order to solve the above problem, there is a method of using a mixture of a polar solvent and a non-polar solvent, but polar solvents tend to have high volatility, and therefore, problems such as volatilization in advance during the manufacturing process may occur. Not only may a problem such as a decrease in reproducibility of the polyimide film, but also a phase separation problem may not be completely improved, and thus haze of the manufactured polyimide film may increase, resulting in a decrease in transparency.

보다 구체적으로는 용매의 분자가 양쪽친매성을 갖는 구조를 포함하는 용매를 사용함으로써, 극성 용매를 사용함에 따른 공정상의 문제를 해결할 수 있을 뿐만 아니라, 양쪽친매성을 갖는 분자구조로 인해 1종류의 용매만을 사용하더라도 폴리이미드를 고르게 분포시킬 수 있어 상분리로 인한 문제를 해결하는데 매우 적합하며, 이로 인해 헤이즈(Haze) 특성이 현저히 개선된 폴리이미드를 제공할 수 있다.More specifically, by using a solvent containing a structure in which the molecule of the solvent has an amphiphilic structure, not only can the problem of the process caused by the use of a polar solvent be solved, but also one type of Even if only a solvent is used, the polyimide can be evenly distributed, which is very suitable for solving the problem due to phase separation, and thus, a polyimide having remarkably improved haze properties can be provided.

상기 분배계수 값이 양수인 경우에는 용매의 극성이 소수성임을 의미하는데, 본 발명자들의 연구에 따르면 분배계수 값이 양수인 특정 용매를 사용하여 폴리이미드 전구체 조성물을 제조하면, 에지백 현상이 개선되는 것을 알 수 있었다. 또한, 본 발명은 상기와 같이 Log P가 양수를 갖는 용매를 사용함으로써, 레벨링제와 같은 소재의 표면장력 및 도막의 평활성을 조절하는 첨가제를 사용하지 않고도 용액의 에지백 현상을 제어할 수 있으며, 이는 첨가제 등의 부가적인 첨가제를 사용하지 않으므로 최종 생성물에 저분자 물질이 함유되는 등의 품질 및 공정상의 문제를 제거할 수 있을 뿐만 아니라 보다 효율적으로 균일한 특성을 갖는 폴리이미드 필름을 형성할 수 있는 효과가 있다.When the partition coefficient value is positive, it means that the polarity of the solvent is hydrophobic.According to the research of the present inventors, it can be seen that when a polyimide precursor composition is prepared using a specific solvent having a positive partition coefficient value, the edge back phenomenon is improved. there was. In addition, in the present invention, by using a solvent having a positive log P as above, it is possible to control the edge back phenomenon of the solution without using an additive that adjusts the surface tension of the material such as a leveling agent and the smoothness of the coating film. This does not use additional additives such as additives, so it is not only possible to eliminate quality and process problems such as containing low molecular weight substances in the final product, but also to more efficiently form a polyimide film having uniform properties. There is.

예를 들면, 폴리이미드 전구체 조성물을 유리기판에 코팅하는 공정에 있어서, 경화시 또는 습도조건의 코팅액의 방치조건에서 코팅층의 수축으로 인한 에지백 현상이 발생할 수 있다. 이러한 코팅 용액의 에지백 현상은 필름의 두께의 편차를 초래할 수 있어, 이에 의한 필름의 내굴곡성의 부족으로 필름이 끊어지거나 컷팅시 모서리가 부스러지는 현상이 나타나 공정상의 작업성이 나쁘고 수율이 저하되는 문제가 발생할 수 있다.For example, in a process of coating a polyimide precursor composition on a glass substrate, edge back phenomenon may occur due to shrinkage of the coating layer during curing or under a condition of leaving the coating liquid under a humidity condition. The edge-back phenomenon of the coating solution can lead to variations in the thickness of the film, resulting in a phenomenon in which the film is broken due to the lack of bending resistance of the film or the edges are broken during cutting, resulting in poor workability in the process and a decrease in yield. Problems can arise.

또한, 기판상에 도포된 폴리이미드 전구체 조성물에 극성을 갖는 미세 이물질이 유입되는 경우, Log P가 음수인 극성의 용매를 포함하는 폴리이미드 전구체 조성물에서는 상기 이물질이 갖는 극성에 의해 이물질의 위치를 기준으로 산발적인 코팅의 균열 또는 두께변화가 일어날 수 있으나, Log P가 양수인 소수성의 용매를 사용하는 경우에는 극성을 갖는 미세 이물질이 유입되는 경우에도 코팅의 균열로 인한 두께변화 등의 발생이 감소 또는 억제될 수 있다.In addition, when a fine foreign material having polarity is introduced into the polyimide precursor composition applied on the substrate, in the polyimide precursor composition containing a polar solvent having a negative log P, the position of the foreign material is based on the polarity of the foreign material. However, when a hydrophobic solvent with a positive log P is used, the occurrence of thickness change due to cracking of the coating is reduced or suppressed even when fine foreign substances with polarity are introduced. Can be.

구체적으로, Log P가 양수인 용매를 포함하는 폴리이미드 전구체 조성물은, 하기 식 1로 정의되는 에지백율(edge back ratio)이 0% 내지 0.1% 이하일 수 있다.Specifically, the polyimide precursor composition including a solvent in which Log P is a positive number may have an edge back ratio of 0% to 0.1% or less, defined by Equation 1 below.

[식 1][Equation 1]

에지백율(%) = [(A-B)/A]×100Edge white rate (%) = [(A-B)/A]×100

상기 식 1에 있어서,In Equation 1 above,

A: 기판 (100mmΥ100mm) 상에 폴리이미드 전구체 조성물이 완전히 코팅된 상태에서의 면적이고,A: The area in the state where the polyimide precursor composition is completely coated on the substrate (100mmΥ100mm),

B: 폴리이미드 전구체 조성물 또는 PI 필름이 코팅된 기판의 가장자리 끝단 에서부터 에지백 현상이 발생한 후의 면적이다.B: The area after the edge-back phenomenon occurs from the edge of the substrate coated with the polyimide precursor composition or PI film.

이러한 폴리이미드 전구체 조성물 및 필름의 에지백(edge back) 현상은 폴리이미드 전구체 조성물 용액을 코팅한 후 30분 이내에 발생될 수 있으며, 특히, 가장자리부터 말려 들어가기 시작함으로써 가장자리의 두께를 두껍게 만들 수 있다.Such an edge back phenomenon of the polyimide precursor composition and film may occur within 30 minutes after coating the polyimide precursor composition solution, and in particular, the thickness of the edge may be made thick by starting to roll from the edge.

본 발명에 따른 폴리이미드 전구체 조성물을 기판에 코팅한 후 10분 이상, 예를 들면 10분 이상, 예를 들면 40분 이상의 시간 동안 습도조건에서 방치한 후의 상기 코팅된 수지 조성물 용액의 에지백율이 0.1% 이하일 수 있으며, 예를 들면, 20 ~ 30℃의 온도에서, 40% 이상의 습도조건, 보다 구체적으로는 40% 내지 80% 범위의 습도조건, 즉, 40%, 50%, 60%, 70%, 80% 각각의 습도 조건에서, 예를 들면, 50%의 습도조건에서 10 내지 50분간 방치된 이후에도 0.1% 이하의 매우 작은 에지백율을 나타낼 수 있으며, 바람직하게는 0.05%, 보다 바람직하게는 거의 0%에 가까운 에지백율을 나타낼 수 있다.After coating the polyimide precursor composition according to the present invention on a substrate, the edge white rate of the coated resin composition solution after being left in a humidity condition for 10 minutes or more, such as 10 minutes or more, such as 40 minutes or more, is 0.1 % Or less, for example, at a temperature of 20 to 30°C, a humidity condition of 40% or more, more specifically a humidity condition in the range of 40% to 80%, that is, 40%, 50%, 60%, 70% , In each humidity condition of 80%, for example, even after leaving for 10 to 50 minutes in a humidity condition of 50%, a very small edge white rate of 0.1% or less may be exhibited, preferably 0.05%, more preferably almost It can represent an edge percentage close to 0%.

상기와 같은 에지백율은 경화 이후에도 유지되는 것이며, 예를 들면, 폴리이미드 전구체 조성물을 기판에 코팅한 후 10분 이상, 예를 들면 20 ~ 30℃의 온도에서, 40% 이상의 습도조건, 보다 구체적으로는 40% 내지 80% 범위의 습도조건, 즉, 40%, 50%, 60%, 70%, 80% 각각의 습도 조건에서, 예를 들면 50%의 습도조건에서 10 내지 50분간 방치한 후 경화된 폴리이미드 필름의 에지백율이 0.1% 이하일 수 있으며, 즉, 열처리에 의한 경화 공정에서도 에지백 현상이 거의 일어나지 않거나 없을 수 있으며, 구체적으로는, 0.05%, 보다 바람직하게는 거의 0%에 가까운 에지백율을 나타낼 수 있다.The edge white rate as described above is maintained even after curing, for example, 10 minutes or more after coating the polyimide precursor composition on the substrate, for example, at a temperature of 20 to 30° C., under a humidity condition of 40% or more, more specifically Is allowed to stand for 10 to 50 minutes in a humidity condition of 40% to 80%, i.e., 40%, 50%, 60%, 70%, 80% of each humidity condition, for example, 50% humidity condition, and then cured. The edge-back ratio of the resulting polyimide film may be 0.1% or less, that is, the edge-back phenomenon may hardly occur or may not occur even in the curing process by heat treatment, specifically, the edge close to 0.05%, more preferably close to 0%. It can represent percentage.

본 발명에 따른 폴리이미드 전구체 조성물은 이러한 에지백(edge back) 현상을 해결함으로써, 보다 균일한 특성을 갖는 폴리이미드 필름을 수득할 수 있어 제조공정의 수율을 보다 향상시킬 수 있다.The polyimide precursor composition according to the present invention can obtain a polyimide film having more uniform properties by solving such an edge back phenomenon, thereby further improving the yield of the manufacturing process.

또한, 본 발명에 따른 용매의 밀도는 ASTM D1475의 표준측정방법으로 측정하였을 때, 1g/cm3 이하일 수 있으며, 밀도가 1 g/cm3 이상의 값을 갖는 경우에는 상대점도가 높아질 수 있어 공정상 효율성이 감소할 수 있다.In addition, the density of the solvent according to the present invention is ASTM as determined using the standard measurement method D1475, 1g / cm 3 can be less than a density of 1 g / If having a cm 3 or more values, it may increase the relative viscosity of the process the Efficiency can be reduced.

상기 LogP가 양수인 용매는, 예를 들면, N,N-디에틸아세트아마이드(N,Ndiethylacetamide,DEAc), N,N-디에틸포름아마이드(N,N-diethylformamide, DEF),N-에틸피롤리돈(N-ethylpyrrolidone, NEP), 디메틸프로피온아마이드(DMPA) 및 디에틸프로피온아마이드(DEPA) 중에서 선택되는 하나 이상일 수 있다.The solvent in which LogP is a positive number is, for example, N,N-diethylacetamide (N,Ndiethylacetamide, DEAc), N,N-diethylformamide (N,N-diethylformamide, DEF), N-ethylpyrroly It may be at least one selected from don (N-ethylpyrrolidone, NEP), dimethylpropionamide (DMPA), and diethylpropionamide (DEPA).

상기 유기용매는 비점이 300℃ 이하일 수 있으며, 보다 구체적으로 분배계수 LogP 값은 0.01 내지 3, 또는 0.01 내지 2, 또는 0.1 내지 2 일 수 있다.The organic solvent may have a boiling point of 300° C. or less, and more specifically, a partition coefficient LogP value may be 0.01 to 3, or 0.01 to 2, or 0.1 to 2.

상기 분배계수는 ACD/Labs 사의 ACD/Percepta platform의 ACD/LogP module을 사용하여 계산될 수 있으며, ACD/LogP module은 분자의 2D 구조를 이용하여 QSPR(Quantitative Structure-Property Relationship) 방법론 기반의 알고리즘을 이용한다.The distribution coefficient can be calculated using the ACD/LogP module of the ACD/Percepta platform of ACD/Labs, and the ACD/LogP module uses an algorithm based on the quantitative structure-property relationship (QSPR) methodology using the 2D structure of the molecule. Use.

또한, 크실렌, 톨루엔과 같은 방향족 탄화수소를 더 사용할 수도 있으며, 또한 폴리머의 용해를 촉진시키기 위해서 상기 용매에 상기 용매 총량에 대하여 약 50 중량% 이하의 알칼리 금속염 또는 알칼리토류 금속염을 더 첨가할 수도 있다.Further, aromatic hydrocarbons such as xylene and toluene may be further used, and in order to promote dissolution of the polymer, an alkali metal salt or alkaline earth metal salt of about 50% by weight or less based on the total amount of the solvent may be further added to the solvent.

또한, 폴리아믹산 또는 폴리이미드를 합성하는 경우 과잉의 폴리아미노기 또는 산무수물기를 불활성화하기 위해서, 분자 말단을 디카본산무수물 또는 모노아민을 반응시켜, 폴리이미드의 말단을 봉지하는 말단 봉지제를 더 첨가할 수 있다.In addition, in the case of synthesizing polyamic acid or polyimide, in order to inactivate excess polyamino group or acid anhydride group, a terminal sealant for sealing the end of the polyimide is further added by reacting the molecular end with dicarboxylic acid anhydride or monoamine. can do.

상기 테트라카르복실산 이무수물을 디아민과 반응시키는 방법은 용액 중합 등 통상의 폴리이미드 전구체 중합 제조방법에 따라 실시할 수 있으며. 구체적으로는, 디아민을 유기 용매 중에 용해시킨 후, 결과로 수득된 혼합용액에 테트라카르복실산 이무수물을 첨가하여 중합반응시킴으로써 제조될 수 있다.The method of reacting the tetracarboxylic dianhydride with diamine may be carried out according to a conventional polyimide precursor polymerization method such as solution polymerization. Specifically, it can be prepared by dissolving diamine in an organic solvent and then adding tetracarboxylic dianhydride to the resulting mixed solution for polymerization.

상기 중합반응은 비활성 기체 또는 질소 기류 하에 실시될 수 있으며, 무수조건에서 실행될 수 있다.The polymerization reaction can be carried out under an inert gas or nitrogen stream, and can be carried out under anhydrous conditions.

또한, 상기 중합반응시 반응온도는 -20 내지 80℃, 바람직하게는 0 내지 80℃에서 실시될 수 있다. 반응온도가 너무 높을 경우 반응성이 높아져 분자량이 커질 수 있으며, 전구체 조성물의 점도가 상승함으로써 공정상으로 불리할 수 있다.In addition, the reaction temperature during the polymerization reaction may be carried out at -20 to 80 ℃, preferably 0 to 80 ℃. If the reaction temperature is too high, the reactivity may increase and the molecular weight may increase, and the viscosity of the precursor composition may increase, which may be disadvantageous in the process.

상기한 제조방법에 따라 제조된 폴리아믹산 용액에 필름 형성 공정시의 도포성 등의 공정성을 고려하여 상기 조성물이 적절한 점도를 갖도록 하는 양으로 고형분을 포함하는 것이 바람직하다. It is preferable to include a solid content in the polyamic acid solution prepared according to the above-described manufacturing method in an amount such that the composition has an appropriate viscosity in consideration of fairness such as coatability during the film formation process.

상기 폴리아믹산을 포함하는 폴리이미드 전구체 조성물은 유기용매 중에 용해된 용액의 형태일 수 있으며, 이러한 형태를 갖는 경우, 예를 들어 폴리이미드 전구체를 유기용매 중에서 합성한 경우에는, 용액은 얻어지는 반응용액 그 자체여도 되고, 또는 이 반응 용액을 다른 용매로 희석한 것이어도 된다. 또, 폴리이미드 전구체를 고형 분말로서 얻은 경우에는, 이것을 유기 용매에 용해시켜 용액으로 한 것이어도 된다.The polyimide precursor composition containing the polyamic acid may be in the form of a solution dissolved in an organic solvent, and in the case of having such a form, for example, when the polyimide precursor is synthesized in an organic solvent, the solution is the obtained reaction solution. It may be itself, or may be one obtained by diluting this reaction solution with another solvent. In addition, when the polyimide precursor is obtained as a solid powder, it may be dissolved in an organic solvent to obtain a solution.

일 실시예에 따르면, 전체 폴리이미드 전구체의 함량이 8 내지 25 중량%가 되도록 유기용매를 첨가하여 조성물의 함량을 조절할 수 있으며, 바람직하게는 10 내지 25 중량%, 보다 바람직하게는 10 내지 20 중량% 이하로 조절할 수 있다.According to an embodiment, the content of the composition may be adjusted by adding an organic solvent so that the content of the total polyimide precursor is 8 to 25% by weight, preferably 10 to 25% by weight, more preferably 10 to 20% by weight. It can be adjusted below %.

또는, 상기 폴리이미드 전구체 조성물이 3,000cP 이상, 혹은 4,000cP 이상의 점도를 갖도록 조절하는 것일 수 있으며, 상기 폴리이미드 전구체 조성물의 점도는 10,000cP 이하, 바람직하게는 9,000cP 이하, 보다 바람직하게는 8,000cP 이하의 점도를 갖도록 조절하는 것이 바람직하다. 폴리이미드 전구체 조성물의 점도가 10,000cP를 초과할 경우 폴리이미드 필름 가공시 탈포의 효율성이 저하됨으로써, 공정상의 효율뿐만 아니라, 제조된 필름은 기포 발생으로 표면조도가 좋지 않아 전기적, 광학적, 기계적 특성이 저하될 수 있다. Alternatively, the polyimide precursor composition may be adjusted to have a viscosity of 3,000 cP or more, or 4,000 cP or more, and the viscosity of the polyimide precursor composition is 10,000 cP or less, preferably 9,000 cP or less, more preferably 8,000 cP It is preferable to adjust to have the following viscosity. When the viscosity of the polyimide precursor composition exceeds 10,000 cP, the efficiency of defoaming during the processing of the polyimide film decreases, so that not only the efficiency of the process, but also the surface roughness of the produced film is poor due to the generation of bubbles, so that the electrical, optical, and mechanical properties are poor. It can be degraded.

이어서 상기 중합반응의 결과로 수득된 폴리이미드 전구체를 화학적 또는 열적 이미드화 방법을 이용해 이미드화 시킴으로써 투명 폴리이미드 필름을 제조할 수 있다. Subsequently, a transparent polyimide film can be prepared by imidizing the polyimide precursor obtained as a result of the polymerization reaction using a chemical or thermal imidization method.

일 실시예에 따르면, 폴리이미드 전구체 조성물을 캐리어 기판 상에 도포하는 단계; 및According to an embodiment, applying a polyimide precursor composition on a carrier substrate; And

상기 폴리이미드 전구체 조성물을 가열 및 경화하는 단계를 포함하는 방법으로 폴리이미드 필름을 제조할 수 있다.A polyimide film may be prepared by a method including heating and curing the polyimide precursor composition.

이때, 상기 캐리어 기판으로는 유리, 금속기판 또는 플라스틱 기판 등이 특별한 제한 없이 사용될 수 있으며, 이 중에서도 폴리이미드 전구체에 대한 이미드화 및 경화공정 중 열 및 화학적 안정성이 우수하고, 별도의 이형제 처리 없이도, 경화 후 형성된 폴리이미드계 필름에 대해 손상 없이 용이하게 분리될 수 있는 유리 기판이 바람직할 수 있다.At this time, as the carrier substrate, glass, metal substrate, plastic substrate, etc. may be used without particular limitation, and among them, it has excellent thermal and chemical stability during the imidization and curing process for the polyimide precursor, and without a separate release agent treatment, A glass substrate that can be easily separated without damage to the polyimide-based film formed after curing may be desirable.

또, 상기 도포 공정은 통상의 도포 방법에 따라 실시될 수 있으며, 구체적으로는 스핀코팅법, 바코팅법, 롤코팅법, 에어-나이프법, 그라비아법, 리버스 롤법, 키스 롤법, 닥터 블레이드법, 스프레이법, 침지법 또는 솔질법 등이 이용될 수 있다. 이중에서도 연속 공정이 가능하며, 폴리이미드의 이미드화율을 증가시킬 수 있는 캐스팅법에 의해 실시되는 것이 보다 바람직할 수 있다.In addition, the coating process may be performed according to a conventional coating method, and specifically, a spin coating method, a bar coating method, a roll coating method, an air-knife method, a gravure method, a reverse roll method, a kiss roll method, a doctor blade method, Spray method, dipping method, brushing method, etc. may be used. Among these, a continuous process may be possible, and it may be more preferable to perform a casting method capable of increasing the imidation rate of the polyimide.

또, 상기 폴리이미드 전구체 조성물은 최종 제조되는 폴리이미드 필름이 디스플레이 기판용으로 적합한 두께를 갖도록 하는 두께 범위로 기판 위에 도포될 수 있다.In addition, the polyimide precursor composition may be applied on the substrate in a thickness range such that the polyimide film finally produced has a thickness suitable for a display substrate.

구체적으로는 10 내지 30㎛의 두께가 되도록 하는 양으로 도포될 수 있다. 상기 폴리이미드 전구체 조성물 도포 후, 경화 공정에 앞서 폴리이미드 전구체 조성물 내에 존재하는 용매를 제거하기 위한 건조공정이 선택적으로 더 실시될 수 있다.Specifically, it may be applied in an amount such that it has a thickness of 10 to 30 μm. After the polyimide precursor composition is applied, a drying process for removing the solvent present in the polyimide precursor composition may be optionally further performed prior to the curing process.

상기 건조공정은 통상의 방법에 따라 실시될 수 있으며, 구체적으로 140℃이하, 혹은 80℃ 내지 140℃의 온도에서 실시될 수 있다. 건조 공정의 실시 온도가 80℃ 미만이면 건조 공정이 길어지고, 140℃를 초과할 경우 이미드화가 급격히 진행되어 균일한 두께의 폴리이미드 필름 형성이 어렵다.The drying process may be performed according to a conventional method, and specifically, may be performed at a temperature of 140°C or less, or 80°C to 140°C. When the drying process is performed at a temperature of less than 80°C, the drying process is prolonged, and when it exceeds 140°C, imidization proceeds rapidly, making it difficult to form a polyimide film having a uniform thickness.

이어서, 상기 기판에 도포된 폴리이미드 전구체 조성물은 IR오븐, 열풍오븐이나 핫 플레이트 위에서 열처리되며, 이때, 상기 열처리 온도는 300 내지 500℃, 바람직하게는 320 내지 480℃ 온도범위일 수 있으며, 상기 온도범위 내에서 다단계 가열처리로 진행될 수도 있다. 상기 열처리 공정은 20분 내지 70분 동안 진행될 수 있으며, 바람직하게는 20분 내지 60분 정도의 시간 동안 진행될 수 있다.Subsequently, the polyimide precursor composition applied to the substrate is heat-treated on an IR oven, a hot air oven, or a hot plate, wherein the heat treatment temperature may be in the range of 300 to 500°C, preferably 320 to 480°C, and the temperature It can also be carried out in multi-stage heat treatment within the range. The heat treatment process may be performed for 20 to 70 minutes, and preferably may be performed for a time of about 20 to 60 minutes.

상기와 같이 제조된 폴리이미드 필름의 경화 직후 잔류응력은 40MPa 이하일 수 있으며, 상기 폴리이미드 필름을 상기 폴리이미드 필름을 25℃ 50% 습도 조건에서 3시간 방치한 후의 잔류응력 변화값이 5MPa 이하일 수 있다. The residual stress immediately after curing of the polyimide film prepared as described above may be 40 MPa or less, and the residual stress change value after leaving the polyimide film at 25° C. 50% humidity for 3 hours may be 5 MPa or less. .

상기 폴리이미드 필름의 황색도는 15 이하일 수 있으며, 바람직하게는 13 이하일 수 있다. 또한, 상기 폴리이미드 필름의 헤이즈(Haze)는 2이하일 수 있고, 바람직하게는 1 이하일 수 있다.The yellowness of the polyimide film may be 15 or less, and preferably 13 or less. In addition, the haze of the polyimide film may be 2 or less, and preferably 1 or less.

또한, 상기 폴리이미드 필름의 450 nm에서의 투과도는 75% 이상일 수 있으며, 550 nm에서의 투과도는 85% 이상 일 수 있고, 630 nm에서의 투과도는 90% 이상일 수 있다.In addition, the transmittance at 450 nm of the polyimide film may be 75% or more, the transmittance at 550 nm may be 85% or more, and the transmittance at 630 nm may be 90% or more.

상기 폴리이미드 필름은 내열성이 높을 수 있으며, 예를 들면, 질량감소가 1% 일어나는 열분해온도(Td_1%)가 500℃ 이상일 수 있다. The polyimide film may have high heat resistance, and for example, a thermal decomposition temperature (Td_1%) at which a mass decrease of 1% occurs may be 500°C or higher.

상기와 같이 제조된 폴리이미드 필름은 모듈러스가 3 내지 4 GPa일 수 있다. 상기 모듈러스(탄성율)이 0.1 GPa 미만이면, 필름의 강성이 낮아 외부 충격에 쉽게 깨지기 쉽고, 상기 탄성율이 4 GPa을 초과하면, 커버레이 필름의 강성은 우수하지만 충분한 유연성을 확보할 수 없는 문제가 발생할 수 있다.The polyimide film prepared as described above may have a modulus of 3 to 4 GPa. If the modulus (modulus of elasticity) is less than 0.1 GPa, the film has low rigidity and is easily fragile by external impact. If the modulus of elasticity exceeds 4 GPa, the coverlay film has excellent rigidity but cannot secure sufficient flexibility. I can.

또한, 상기 폴리이미드 필름의 연신율은 20% 이상이며, 바람직하게는 50% 이상이며, 인장강도가 130 MPa 이상, 바람직하게는 140 MPa이상일 수 있다.In addition, the polyimide film may have an elongation of 20% or more, preferably 50% or more, and a tensile strength of 130 MPa or more, preferably 140 MPa or more.

또한, 본 발명에 따른 폴리이미드 필름은 온도변화에 따른 열안정성이 우수할 수 있으며, 예를 들면, 100℃ 내지 350℃ 온도범위에서 가열 및 냉각 공정을 n+1회 거친 후의 열팽창계수가 -10 내지 100 ppm/℃의 값을 가질 수 있으며, 바람직하게는 -7 내지 90 ppm/℃의 값, 보다 바람직하게는 80 ppm/℃ 이하일 수 있다(이때, n은 0이상의 정수).In addition, the polyimide film according to the present invention may have excellent thermal stability according to temperature change, for example, the coefficient of thermal expansion after n+1 heating and cooling processes in a temperature range of 100°C to 350°C is -10 It may have a value of to 100 ppm/°C, preferably a value of -7 to 90 ppm/°C, more preferably 80 ppm/°C or less (where n is an integer greater than or equal to 0).

또한, 본 발명에 따른 폴리이미드 필름은 두께방향 위상차(Rth)가 -150nm 내지 +150nm의 값, 바람직하게는 -130nm 내지 +130nm을 가짐으로써 광학적 등방성을 나타낼 수 있어 시감성이 향상될 수 있다.In addition, the polyimide film according to the present invention may exhibit optical isotropy by having a retardation in the thickness direction (R th ) of -150 nm to +150 nm, preferably -130 nm to +130 nm, thereby improving visibility. .

일 실시예에 따르면, 상기 폴리이미드 필름은 캐리어 기판과의 접착력이 5 gf/in 이상일 수 있으며, 바람직하게는 10 gf/in 이상일 수 있다.According to an embodiment, the polyimide film may have an adhesive strength of 5 gf/in or more with a carrier substrate, and preferably 10 gf/in or more.

또한, 본 발명은, In addition, the present invention,

상기 폴리이미드 전구체 조성물을 캐리어 기판상에 도포하는 단계;Applying the polyimide precursor composition onto a carrier substrate;

상기 폴리이미드 전구체 조성물을 가열하여 폴리아믹산을 이미드화함으로써 폴리이미드 필름을 형성하는 단계; Heating the polyimide precursor composition to imidize polyamic acid to form a polyimide film;

상기 폴리이미드 필름 상에 소자를 형성하는 단계; 및Forming a device on the polyimide film; And

상기 소자가 형성된 폴리이미드 필름을 상기 캐리어 기판으로부터 박리하는 단계를 포함하는 플렉서블 디바이스의 제조공정을 제공한다.It provides a manufacturing process of a flexible device comprising the step of peeling the polyimide film on which the device is formed from the carrier substrate.

특히, 상기 플렉서블 디바이스의 제조공정은 LTPS(low temperature polysilicon) 공정, ITO 공정 또는 Oxide 공정을 포함할 수 있다. In particular, the manufacturing process of the flexible device may include a low temperature polysilicon (LTPS) process, an ITO process, or an oxide process.

예를 들면, 폴리이미드 필름상에 SiO2를 포함하는 차단층을 형성하는 단계;For example, forming a blocking layer containing SiO 2 on the polyimide film;

상기 차단층 상에 a-Si(Amorphous silicon)박막을 증착하는 단계;Depositing an a-Si (Amorphous Silicon) thin film on the blocking layer;

상기 증착된 a-Si박막을 450±50℃의 온도에서 열처리하는 탈수소 어닐링 단계; 및A dehydrogenation annealing step of heat-treating the deposited a-Si thin film at a temperature of 450±50°C; And

상기 a-Si 박막을 엑시머 레이저 등으로 결정화시키는 단계를 포함하는 LTPS 박막제조공정 이후, 레이저 박리 등으로 캐리어 기판과 폴리이미드 필름을 박리함으로써, LTPS층을 포함하는 플렉서블 디바이스를 얻을 수 있다.After the LTPS thin film manufacturing process including the step of crystallizing the a-Si thin film with an excimer laser or the like, the carrier substrate and the polyimide film are peeled off by laser peeling or the like, thereby obtaining a flexible device including the LTPS layer.

산화물 박막 공정은 실리콘을 이용한 공정에 비해 낮은 온도에서 열처리될 수 있으며, 예를 들면, ITO TFT공정의 열처리 온도는 240℃±50℃일 수 있고, Oxide TFT공정의 열처리 온도는 350℃±50℃일 수 있다.The oxide thin film process can be heat treated at a lower temperature than the process using silicon. For example, the heat treatment temperature of the ITO TFT process may be 240℃±50℃, and the heat treatment temperature of the oxide TFT process is 350℃±50℃. Can be

이하, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예에 대하여 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail so that those of ordinary skill in the art can easily implement the present invention. However, the present invention may be implemented in various different forms and is not limited to the embodiments described herein.

<제조예 1> 화학식 1-1의 제조<Preparation Example 1> Preparation of Chemical Formula 1-1

Figure 112018118295010-pat00025
Figure 112018118295010-pat00025

화학식 A(20.0g, 92.2mmol)과 화학식 B(27.6g, 92.2mmol)의 화합물을 DMSO(200mL)에 녹인 후 탄산칼륨(19.0g. 138.3mmol)을 투입하여 90℃에서 교반하였다. 12시간 후에 물(200mL)를 가하고 여과하여 얻어진 고체를 물과 에탄올로 세척하여 상기 화학식 C의 화합물(39.6g, 수율 91.8%)을 제조하였다.After dissolving the compounds of formula A (20.0g, 92.2mmol) and formula B (27.6g, 92.2mmol) in DMSO (200mL), potassium carbonate (19.0g. 138.3mmol) was added and stirred at 90°C. After 12 hours, water (200 mL) was added and the solid obtained by filtration was washed with water and ethanol to prepare a compound of Formula C (39.6 g, yield 91.8%).

MS[M+H]+=497MS[M+H]+=497

화학식 C(30g, 60.5mmol)의 화합물을 빙초산(300mL)에 분산시킨 후 0℃에서 과망간산칼륨(28.6g, 181.5mmol)을 투입하여 1시간 동안 교반 후 상온으로 승온하여 7시간 동안 교반하였다. 반응 종료 후에 물(300ml)를 가하고 여과 후 얻어진 고체를 에탄올로 재결정하여 화학식 D의 화합물(27.4g, 수율 85.8%)을 제조하였다.After dispersing the compound of formula C (30g, 60.5mmol) in glacial acetic acid (300mL), potassium permanganate (28.6g, 181.5mmol) was added at 0°C, stirred for 1 hour, and then heated to room temperature and stirred for 7 hours. After completion of the reaction, water (300 ml) was added, and the obtained solid was recrystallized with ethanol to prepare a compound of formula D (27.4 g, yield 85.8%).

MS[M+H]+=529MS[M+H] + =529

질소 분위기에서 상기 화학식 D(25g, 47.4mmol)의 화합물을 에탄올(250mL)에 분산시킨 후 염화주석(35.9g, 189.6mmol)을 투입한 후 가열하여 50℃에서 8시간 동안 교반하였다. 반응 종료 후에 물(250ml)를 가하여 고체를 얻었다. 여과 후 수득한 고체를 에탄올로 재결정하여 화학식 1-1의 화합물(19.9g, 수율 89.9%)을 제조하였다.After dispersing the compound of Formula D (25g, 47.4mmol) in ethanol (250mL) in a nitrogen atmosphere, tin chloride (35.9g, 189.6mmol) was added, heated, and stirred at 50°C for 8 hours. After completion of the reaction, water (250 ml) was added to obtain a solid. The solid obtained after filtration was recrystallized with ethanol to prepare a compound of Formula 1-1 (19.9g, yield 89.9%).

MS[M+H]+=469MS[M+H] + =469

<제조예 2> 화학식 1-2의 제조<Preparation Example 2> Preparation of Chemical Formula 1-2

Figure 112018118295010-pat00026
Figure 112018118295010-pat00026

화학식 A 대신에 화학식 E의 화합물, 그리고 화학식 B 대신에 화학식 F의 화합물을 사용한 것을 제외하고는 화학식 C의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 G의 화합물을 제조하였다.A compound of Formula G was prepared in the same manner as the method of preparing a compound of Formula C, except that the compound of Formula E instead of Formula A and the compound of Formula F instead of Formula B was used.

다음으로, 화학식 C 화합물 대신에 화학식 H 화합물을 사용하는 것을 제외하고 화학식 D 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 상기 화학식 H의 화합물을 제조하였다. Next, the compound of Formula H was prepared in the same manner as the method of preparing the compound of Formula D, except that the compound of Formula H was used instead of the compound of Formula C.

마지막으로 화학식 D 대신에 화학식 H의 화합물을 사용하는 것을 제외하고 화학식 1-1의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 1-2의 화합물을 제조하였다.Finally, the compound of Formula 1-2 was prepared in the same manner as the method of preparing the compound of Formula 1-1, except that the compound of Formula H was used instead of Formula D.

MS[M+H]+=469MS[M+H] + =469

<제조예 3> 화학식 1-4의 제조<Preparation Example 3> Preparation of Chemical Formula 1-4

Figure 112018118295010-pat00027
Figure 112018118295010-pat00027

화학식 A 대신에 화학식 I의 화합물, 그리고 화학식 B 대신에 화학식 J의 화합물을 사용한 것을 제외하고는 화학식 C의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 K의 화합물을 제조하였다.A compound of formula (K) was prepared in the same manner as the method of preparing a compound of formula (C), except that the compound of formula (I) instead of formula (A) and the compound of formula (J) were used instead of formula (B).

다음으로, 화학식 C 대신에 화학식 K의 화합물을 사용하는 것을 제외하고 화학식 D의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 L의 화합물을 제조하였다. Next, a compound of Formula L was prepared in the same manner as the method of preparing a compound of Formula D, except that the compound of Formula K was used instead of Formula C.

마지막으로 화학식 D 대신에 화학식 L의 화합물을 사용하는 것을 제외하고 화학식 1-1의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 1-4의 화합물을 제조하였다.Finally, the compound of Formula 1-4 was prepared in the same manner as the method of preparing the compound of Formula 1-1, except that the compound of Formula L was used instead of Formula D.

MS[M+H]+=537MS[M+H] + =537

<제조예 4> 화학식 1-7의 제조<Preparation Example 4> Preparation of Chemical Formula 1-7

Figure 112018118295010-pat00028
Figure 112018118295010-pat00028

화학식 A 대신에 화학식 M의 화합물을 사용한 것을 제외하고는 화학식 C의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 N의 화합물을 제조하였다.A compound of Formula N was prepared in the same manner as the method of preparing a compound of Formula C, except that the compound of Formula M was used instead of Formula A.

다음으로, 화학식 C 대신에 화학식 N의 화합물을 사용하는 것을 제외하고 화학식 D를 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 O의 화합물을 제조하였다. Next, a compound of Formula O was prepared in the same manner as the method of preparing Formula D, except that the compound of Formula N was used instead of Formula C.

마지막으로 화학식 D 대신에 화학식 O의 화합물을 사용하는 것을 제외하고 화학식 1-1의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 1-7의 화합물을 제조하였다.Finally, the compound of Formula 1-7 was prepared in the same manner as the method of preparing the compound of Formula 1-1, except that the compound of Formula O was used instead of Formula D.

MS[M+H]+=537MS[M+H]+=537

<제조예 5> 화학식 1-9의 제조<Preparation Example 5> Preparation of Chemical Formula 1-9

Figure 112018118295010-pat00029
Figure 112018118295010-pat00029

화학식 A 대신에 화학식 M의 화합물, 그리고 화학식 B 대신에 화학식 P의 화합물을 사용한 것을 제외하고는 화학식 C의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 Q의 화합물을 제조하였다.A compound of Formula Q was prepared in the same manner as the method of preparing a compound of Formula C, except that the compound of Formula M instead of Formula A and the compound of Formula P instead of Formula B was used.

다음으로, 화학식 C 대신에 화학식 Q의 화합물을 사용하는 것을 제외하고 화학식 D를 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 R의 화합물을 제조하였다. Next, a compound of Formula R was prepared in the same manner as the method of preparing Formula D, except that the compound of Formula Q was used instead of Formula C.

마지막으로 화학식 D 대신에 화학식 R의 화합물을 사용하는 것을 제외하고 화학식 1-1의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 1-9의 화합물을 제조하였다.Finally, the compound of Formula 1-9 was prepared in the same manner as the method of preparing the compound of Formula 1-1, except that the compound of Formula R was used instead of Formula D.

MS[M+H]+=537MS[M+H] + =537

<제조예 6> 화학식 1-10의 제조<Preparation Example 6> Preparation of Chemical Formula 1-10

Figure 112018118295010-pat00030
Figure 112018118295010-pat00030

화학식 A 대신에 화학식 M의 화합물, 그리고 화학식 B 대신에 화학식 J의 화합물을 사용한 것을 제외하고는 화학식 C의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 S의 화합물을 제조하였다.A compound of Formula S was prepared in the same manner as the method of preparing a compound of Formula C, except that the compound of Formula M instead of Formula A and the compound of Formula J instead of Formula B was used.

다음으로, 화학식 C 대신에 화학식 S의 화합물을 사용하는 것을 제외하고 화학식 D의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 T의 화합물을 제조하였다. Next, a compound of Formula T was prepared in the same manner as the method of preparing a compound of Formula D, except that the compound of Formula S was used instead of Formula C.

마지막으로 화학식 D 대신에 화학식 T의 화합물을 사용하는 것을 제외하고 화학식 1-1의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 1-10의 화합물을 제조하였다.Finally, the compound of Formula 1-10 was prepared in the same manner as the method of preparing the compound of Formula 1-1, except that the compound of Formula T was used instead of Formula D.

MS[M+H]+=537MS[M+H] + =537

<제조예 7> 화학식 1-12의 제조<Preparation Example 7> Preparation of Chemical Formula 1-12

Figure 112018118295010-pat00031
Figure 112018118295010-pat00031

화학식 A 대신에 화학식 U의 화합물을 사용한 것을 제외하고는 상기 화학식 C의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 V의 화합물을 제조하였다.A compound of Formula V was prepared in the same manner as the method of preparing the compound of Formula C, except that the compound of Formula U was used instead of Formula A.

다음으로, 화학식 C 대신에 화학식 V의 화합물을 사용하는 것을 제외하고 화학식 D를 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 W의 화합물을 제조하였다. Next, a compound of Formula W was prepared in the same manner as the method of preparing Formula D, except that the compound of Formula V was used instead of Formula C.

마지막으로 상기 화학식 D 대신에 화학식 W의 화합물을 사용하는 것을 제외하고 화학식 1-1의 화합물을 제조하는 방법과 동일한 방법으로 화학식 1-12의 화합물을 제조하였다.Finally, the compound of Formula 1-12 was prepared in the same manner as the method of preparing the compound of Formula 1-1, except that the compound of Formula W was used instead of Formula D.

MS[M+H]+=605MS[M+H] + =605

<비교예 1> PMDA/DDS<Comparative Example 1> PMDA/DDS

질소 기류가 흐르는 반응기 내에 DEAc(Diethylacteamide) 50g을 채운 후, 반응기의 온도를 25℃로 유지한 상태에서 4,4'-DDS(4,4'-diaminodiphenyl sulfone) 0.0458 mol을 같은 온도에서 첨가하여 용해시켰다. 상기 DDS가 첨가된 용액에 PMDA(pyromellitic dianhydride) 0.0458 mol을 DEAc 50g과 함께 첨가한 후 48시간동안 반응시켜 폴리이미드 전구체 용액을 제조하였다.After filling 50 g of DEAc (Diethylacteamide) into the reactor where nitrogen stream flows, 0.0458 mol of 4,4'-DDS (4,4'-diaminodiphenyl sulfone) was added and dissolved at the same temperature while maintaining the temperature of the reactor at 25°C. Made it. To the solution to which DDS was added, 0.0458 mol of pyromellitic dianhydride (PMDA) was added together with 50 g of DEAc and reacted for 48 hours to prepare a polyimide precursor solution.

<비교예 2> BPDA/DDS<Comparative Example 2> BPDA/DDS

질소 기류가 흐르는 반응기 내에 DEAc 40g를 채운 후, 반응기의 온도를 25℃로 유지한 상태에서 4,4'-DDS 0.03395 mol을 같은 온도에서 첨가하여 용해시켰다. 상기 DDS가 첨가된 용액에 BPDA(3,3',4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride) 0.03395mol을 DEAc 46g과 함께 첨가한 후 48시간동안 반응시켜 폴리이미드 전구체 용액을 제조하였다. After filling 40 g of DEAc into a reactor through which a nitrogen stream flows, 0.03395 mol of 4,4'-DDS was added and dissolved at the same temperature while maintaining the temperature of the reactor at 25°C. To the solution to which DDS was added, 0.03395 mol of BPDA (3,3',4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride) was added together with 46 g of DEAc and reacted for 48 hours to prepare a polyimide precursor solution .

<실시예 1> PMDA/화학식 1-1 디아민<Example 1> PMDA/Formula 1-1 Diamine

질소 기류가 흐르는 반응기 내에 DEAc 100g를 채운 후, 반응기의 온도를 25℃로 유지한 상태에서 상기 제조예 1에서 제조된 화학식 1-1의 디아민 0.04585 mol을 같은 온도에서 첨가하여 용해시켰다. 상기 화학식 1-1의 디아민이 첨가된 용액에 PMDA(pyromellitic dianhydride) 0.04585 mol을 DEAc 62g과 함께 첨가한 후 48시간동안 반응시켜 폴리이미드 전구체 용액을 제조하였다.After filling 100 g of DEAc in a reactor through which a nitrogen stream flows, 0.04585 mol of diamine of Formula 1-1 prepared in Preparation Example 1 was added and dissolved at the same temperature while maintaining the temperature of the reactor at 25°C. To the solution to which the diamine of Formula 1-1 was added, 0.04585 mol of PMDA (pyromellitic dianhydride) was added together with 62 g of DEAc and reacted for 48 hours to prepare a polyimide precursor solution.

<실시예 2> BPDA/ 화학식 1-1 디아민<Example 2> BPDA/ Formula 1-1 Diamine

질소 기류가 흐르는 반응기 내에 DEAc 80g를 채운 후, 반응기의 온도를 25℃로 유지한 상태에서 상기 제조예 1에서 제조된 화학식 1-1의 디아민 0.03395 mol을 같은 온도에서 첨가하여 용해시켰다. 상기 화학식 1-1 디아민이 첨가된 용액에 BPDA(3,3',4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride) 0.03395mol을 DEAc 52g과 함께 첨가한 후 48시간동안 반응시켜 폴리이미드 전구체 용액을 제조하였다.After filling 80 g of DEAc into a reactor through which a nitrogen stream flows, 0.03395 mol of diamine of Formula 1-1 prepared in Preparation Example 1 was added and dissolved at the same temperature while maintaining the temperature of the reactor at 25°C. To the solution to which the diamine of Formula 1-1 was added, 0.03395 mol of BPDA (3,3',4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride) was added together with 52 g of DEAc and reacted for 48 hours to prepare a polyimide precursor solution.

<실험예 1><Experimental Example 1>

실시예 1, 2 및 비교예 1, 2 에서 제조된 각각의 폴리이미드 전구체 용액을 유리기판 상에 스핀 코팅하였다. 폴리이미드 전구체 용액이 도포된 유리 기판을 오븐에 넣고 5℃/min의 속도로 가열하였으며, 80℃에서 30분, 250℃에서 30분, 410℃에서 30~40분을 유지하여 경화 공정을 진행하여 폴리이미드 필름을 제조하였다. 각각의 필름에 대한 물성을 측정하여 하기 표 1에 나타내었다.Each of the polyimide precursor solutions prepared in Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 and 2 was spin-coated on a glass substrate. The glass substrate coated with the polyimide precursor solution was placed in an oven and heated at a rate of 5°C/min, and the curing process was carried out by holding at 80°C for 30 minutes, 250°C for 30 minutes, and 410°C for 30 to 40 minutes. A polyimide film was prepared. The physical properties of each film were measured and shown in Table 1 below.

<황색도(YI)><Yellowness (YI)>

황색도(YI)는 Color Eye 7000A 로 측정하였다.Yellowness (YI) was measured with Color Eye 7000A.

<헤이즈(Haze)><Haze>

Haze Meter HM-150을 사용하여 ASTM D1003에 따른 방법으로 헤이즈를 측정하였다.Haze was measured by the method according to ASTM D1003 using a Haze Meter HM-150.

<투과도><Transmittance>

투과도는 JIS K 7105에 의거하여 투과율계(모델명 HR-100, Murakami Color Research Laboratory 제조)로 450nm, 550nm 및 630nm 파장에 대한 투과율을 측정하였다.The transmittance was measured for the wavelengths of 450nm, 550nm and 630nm with a transmittance meter (model name HR-100, manufactured by Murakami Color Research Laboratory) according to JIS K 7105.

<두께방향 위상차(Rth)><Thickness direction phase difference (Rth)>

두께 방향 위상차(Rth)는 Axoscan을 이용하여 측정하였다. 필름을 일정한 크기로 잘라 두께를 측정한 다음 Axoscan 으로 위상차를 측정하여 위상차 값을 보상하기 위하여 C-plate 방향으로 보정하면서 측정한 두께를 입력하였다.The retardation in the thickness direction (Rth) was measured using Axoscan. The film was cut to a certain size and the thickness was measured, and then the retardation was measured with Axoscan. In order to compensate for the retardation value, the measured thickness was input while correcting it in the C-plate direction.

<열분해온도(Td1%)><Pyrolysis temperature (Td1%)>

TGA를 이용하여 질소 분위기에서 중합체의 중량 감소율 1%일 때의 온도를 측정하였다.Using TGA, the temperature was measured when the weight reduction ratio of the polymer was 1% in a nitrogen atmosphere.

<모듈러스(GPa), 인장강도(MPa), 연신율(%)><Modulus (GPa), tensile strength (MPa), elongation (%)>

길이 5mm X 50mm, 두께 10um의 필름을 인장시험기(주식회사 Instron제조: Instron 3342)에서 속도 10mm/min으로 인장하여 모듈러스(GPa), 인장강도(MPa), 연 신율(%)을 측정하였다.A film having a length of 5 mm X 50 mm and a thickness of 10 μm was stretched at a speed of 10 mm/min in a tensile tester (manufactured by Instron Co., Ltd.: Instron 3342) to measure modulus (GPa), tensile strength (MPa), and elongation (%).

<잔류응력 측정><Residual stress measurement>

잔류응력 측정장치 측정기(TENCOR사의 FLX2320)를 사용하여 미리 wafer의[휨량]을 측정해 둔, 두께 525um의 4in 실리콘 웨이퍼 상에, 수지 조성물을 스핀코터에 의해 도포하고 (코요 린드버그사 제조) 오븐을 사용하여, 질소 분위기하 250℃ 30min, 400℃ 60min 의 가열경화 처리를 실시하고 경화 후 막 두께 10um의 수지막이 부착된 실리콘웨이퍼를 제조하였다. 상기한 방법으로 전술한 잔류응력 측정장치를 사용하여 이 웨이퍼의 휨량을 측정하여 실리콘웨이퍼와 수지막 사이에 발생한 잔류응력을 측정하였다.Using a residual stress measuring device measuring device (FLX2320 from Tencor Inc.), the resin composition is coated on a 4in silicon wafer with a thickness of 525um, which has been measured in advance by measuring the [warpage amount] of the wafer (manufactured by Koyo Lindbergh), and an oven is installed. Using, heat curing treatment at 250° C. 30 min and 400° C. 60 min under a nitrogen atmosphere was performed, and after curing, a silicone wafer with a resin film having a thickness of 10 μm was prepared. The amount of warpage of this wafer was measured using the above-described residual stress measuring device by the above method, and residual stress generated between the silicon wafer and the resin film was measured.

이후, 동일한 폴리이미드 필름에 대해 25℃, 50% 습도 조건에서 3시간 동안 방치한 이후 잔류응력을 측정하였다.Thereafter, the same polyimide film was left at 25° C. and 50% humidity for 3 hours, and then the residual stress was measured.

samplesample 비교예 1
PMDA_DDS
Comparative Example 1
PMDA_DDS
비교예 2
BPDA_DDS
Comparative Example 2
BPDA_DDS
실시예 1
PMDA_화학식1-1
Example 1
PMDA_Chemical Formula 1-1
실시예 2
BPDA_화학식 1-1
Example 2
BPDA_Chemical Formula 1-1
Sol. Con. (wt%)Sol. Con. (wt%) 22.622.6 21.521.5 18.918.9 18.918.9 Viscosity (cps)Viscosity (cps) 34243424 30203020 33203320 33203320 Curing condition(5℃/min)
80℃ 30min → 250℃ 30min
Curing condition(5℃/min)
80℃ 30min → 250℃ 30min
400℃ 30min400℃ 30min 400℃ 40min400℃ 40min 400℃ 40min400℃ 40min 400℃ 40min400℃ 40min
Thickness(㎛)Thickness(㎛) 9.89.8 9.539.53 9.49.4 9.689.68 YIYI 18.218.2 4.34.3 12.812.8 3.23.2 HazeHaze 0.10.1 0.270.27 0.40.4 0.20.2 Rth (nm)Rth (nm) 550 nm550 nm 200200 100100 125125 3535 Transmittance
(%)
Transmittance
(%)
450 nm450 nm 71.471.4 83.283.2 77.577.5 85.485.4
550 nm550 nm 84.384.3 89.989.9 88.788.7 90.190.1 630 nm630 nm 86.186.1 90.390.3 93.393.3 90.790.7 Td1% (℃)Td1% (℃) 495495 527527 505505 537537 Modulus (Gpa)Modulus (Gpa) 2.32.3 2.92.9 2.62.6 3.23.2 Tensile strength (Mpa)Tensile strength (Mpa) 125125 132132 110110 130130 Strain (%)Strain (%) 9090 5050 6565 4545 Residual stress(Mpa)경화직후 Residual stress(Mpa) right after hardening 4040 4242 3636 3939 Residual stress(Mpa)경화 후 3h 방치
@25℃ 50%
Residual stress (Mpa) 3h after curing
@25℃ 50%
3232 3232 3232 3535

상기 표 1의 결과로부터 본 발명에 따른 폴리이미드 필름의 경우 수분에 의한 잔류응력의 변화가 매우 낮게 나타나는 것을 알 수 있다. 또한, 동일한 산이무수물 조성 하에서 DDS 디아민을 사용하는 것에 비해, YI, 두께방향 위상차(Rth), 투과도 등의 광학적 특성 또한 향상된 것을 확인할 수 있다.From the results of Table 1, it can be seen that in the case of the polyimide film according to the present invention, the change in residual stress due to moisture is very low. In addition, compared to the use of DDS diamine under the same acid dianhydride composition, it can be seen that optical properties such as YI, retardation in the thickness direction (R th ), and transmittance are also improved.

이상으로 본 발명 내용의 특정한 부분을 상세히 기술하였는바, 당업계의 통상의 지식을 가진 자에게 있어서, 이러한 구체적 기술은 단지 바람직한 실시 양태일 뿐이며, 이에 의해 본 발명의 범위가 제한되는 것이 아닌 점은 명백할 것이다. 따라서 본 발명의 실질적인 범위는 첨부된 청구항들과 그것들의 등가물에 의하여 정의된다고 할 것이다. As described above, specific parts of the present invention have been described in detail, and for those of ordinary skill in the art, it is obvious that this specific technique is only a preferred embodiment, and the scope of the present invention is not limited thereby. something to do. Therefore, it will be said that the practical scope of the present invention is defined by the appended claims and their equivalents.

Claims (18)

삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 하기 화학식 1-1 내지 1-3, 1-6, 1-8 내지 1-13 및 1-15의 화합물 중에서 선택되는 것인 디아민:
Figure 112021044491751-pat00037
.
Diamines selected from compounds of the following formulas 1-1 to 1-3, 1-6, 1-8 to 1-13, and 1-15:
Figure 112021044491751-pat00037
.
1종 이상의 디아민 및 1종 이상의 산이무수물을 포함하는 중합성분을 중합시켜 얻어지는 폴리이미드 전구체로서,
상기 디아민이 제6항의 디아민을 포함하는 것인 폴리이미드 전구체.
As a polyimide precursor obtained by polymerizing a polymerization component containing at least one diamine and at least one acid dianhydride,
The polyimide precursor that the diamine comprises the diamine of claim 6.
제7항에 있어서,
중량평균분자량이 45,000 g/mol 이상인 폴리이미드 전구체.
The method of claim 7,
A polyimide precursor having a weight average molecular weight of 45,000 g/mol or more.
제7항에 따른 폴리이미드 전구체를 이용하여 제조된 폴리이미드 필름.A polyimide film prepared using the polyimide precursor according to claim 7. 제7항의 폴리이미드 전구체를 포함하는 폴리이미드 전구체 조성물을 캐리어 기판 상에 도포하는 단계; 및
상기 폴리이미드 전구체 조성물을 가열 및 경화하는 단계를 포함하는 방법으로 제조된 폴리이미드 필름.
Applying a polyimide precursor composition comprising the polyimide precursor of claim 7 on a carrier substrate; And
A polyimide film prepared by a method comprising heating and curing the polyimide precursor composition.
제10항에 있어서,
상기 폴리이미드 전구체 조성물의 경화 직후 얻어진 폴리이미드 필름의 잔류응력이 40MPa 이하인 폴리이미드 필름.
The method of claim 10,
A polyimide film having a residual stress of 40 MPa or less of the polyimide film obtained immediately after curing of the polyimide precursor composition.
제9항에 있어서,
상기 폴리이미드 필름을 25℃, 50% 습도 조건에서 3시간 방치한 후 잔류응력의 변화값이 5MPa 이하인 폴리이미드 필름.
The method of claim 9,
A polyimide film having a residual stress change value of 5 MPa or less after leaving the polyimide film at 25° C. and 50% humidity for 3 hours.
제9항에 있어서,
상기 폴리이미드 필름의 황색도가 15 이하인 폴리이미드 필름.
The method of claim 9,
A polyimide film having a yellowness of 15 or less of the polyimide film.
제9항에 따른 폴리이미드 필름을 기판으로 포함하는 플렉서블 디바이스.A flexible device comprising the polyimide film according to claim 9 as a substrate. 제7항의 폴리이미드 전구체를 포함하는 폴리이미드 전구체 조성물을 캐리어 기판 상에 도포하는 단계;
상기 폴리이미드 전구체 조성물을 가열 및 경화하여 폴리이미드 필름을 형성하는 단계;
상기 폴리이미드 필름 상에 소자를 형성하는 단계; 및
상기 소자가 형성된 폴리이미드 필름을 상기 캐리어 기판으로부터 박리하는 단계를 포함하는 플렉서블 디바이스의 제조공정.
Applying a polyimide precursor composition comprising the polyimide precursor of claim 7 on a carrier substrate;
Heating and curing the polyimide precursor composition to form a polyimide film;
Forming a device on the polyimide film; And
A manufacturing process of a flexible device comprising the step of peeling the polyimide film on which the device is formed from the carrier substrate.
제15항에 있어서,
상기 소자를 형성하는 단계가 LTPS(저온 폴리실리콘) 공정, ITO 공정 또는 Oxide 공정을 포함하는 것인 플렉서블 디바이스의 제조공정.
The method of claim 15,
The manufacturing process of a flexible device, wherein the step of forming the device includes an LTPS (low temperature polysilicon) process, an ITO process, or an oxide process.
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