KR102227911B1 - Apparatus for holding sample and method for holding sample - Google Patents
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Abstract
본 발명의 실시예에 따른 시료 고정 장치는 시료의 지지가 가능하고, 현미경의 재치대 상에 안착 가능한 시료 고정대 및 시료의 관찰면의 수평도를 조정하도록, 일면에 내측으로 함몰되어 일측이 개구된 형상이며, 시료의 수용이 가능한 제 1 홈부가 마련된 기준대를 포함한다.
따라서, 본 발명의 실시형태에 따른 시료 고정 장치에 의하면, 관찰면이 수평이 아닌 경사면이더라도, 시료의 관찰면이 초점면과 평행하도록 조정할 수 있다. 이에, 대물 렌즈를 통해 확대할 때 관찰면 전체에 대한 초점을 맞출 수 있고, 이로 인해 관찰면에 대한 양질의 이미지를 얻을 수 있다.The sample fixing device according to an embodiment of the present invention is recessed inward on one side and opened at one side to adjust the horizontality of the sample holder and the observation surface of the sample and the sample holder that can be mounted on the mounting table of the microscope. It has a shape and includes a reference table in which a first groove portion capable of accommodating a sample is provided.
Therefore, according to the sample fixing device according to the embodiment of the present invention, even if the observation surface is an inclined surface other than horizontal, it can be adjusted so that the observation surface of the sample is parallel to the focal plane. Accordingly, when magnifying through the objective lens, the entire observation surface can be focused, thereby obtaining a high-quality image of the observation surface.
Description
본 발명은 시료 고정 장치 및 시료의 재치 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 시료의 관찰면이 초점면과 평행하도록 조정할 수 있는 시료 고정 장치 및 시료의 재치 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a sample fixing device and a method for placing a sample, and more particularly, to a sample fixing device and a method for placing a sample, which can be adjusted so that the observation surface of the sample is parallel to the focal plane.
시료를 관찰하는 현미경은 일반적으로 스테이지, 시료의 관찰면과 마주볼 수 있도록 스테이지의 상측에 대향 배치되어, 관찰면을 고배율로 확대하는 대물 렌즈, 관측자가 대물 렌즈에 의하여 확대된 시료의 상을 볼 수 있게 구비된 접안 렌즈, 시료를 향해 광을 조사하는 조광부를 포함한다.A microscope that observes a sample is generally arranged opposite the stage and the upper side of the stage so that it faces the observation surface of the sample, and an objective lens that enlarges the observation surface at high magnification, and the observer can see the image of the sample magnified by the objective lens. It includes an eyepiece provided so as to be able to, and a dimming unit for irradiating light toward the sample.
한편, 배율이 올라갈수록 초점 심도가 짧아진다. 또한, 관측자가 관찰하고자 하는 시료는 그 종류에 따라 관찰면이 스테이지와 평행이 아닐 수 있으며, 예컨대 경사를 가질 수 있다.On the other hand, as the magnification increases, the depth of focus decreases. In addition, the observation surface of the specimen to be observed by the observer may not be parallel to the stage depending on the type, and may have, for example, an inclination.
그런데, 고배율로 확대할 수록 초점 심도의 깊이가 짧아져, 미소한 경사만으로도 관찰면이 초점 심도에서 벗어나게 되어, 초점이 틀어지게 된다. 이에, 대물 렌즈를 통해 확대한 관찰면 이미지의 품질이 나빠져, 관찰면에 대한 관측 또는 분석이 용이하지 않은 문제가 있다.However, as the magnification increases to a higher magnification, the depth of focus becomes shorter, and the observation surface deviates from the depth of focus even with a slight inclination, resulting in a shift in focus. Accordingly, there is a problem that the quality of the observation surface image magnified through the objective lens is deteriorated, making it difficult to observe or analyze the observation surface.
본 발명은 관찰면이 초점면과 평행하도록 시료를 재치시킬 수 있는 시료 고정 장치 및 시료의 재치 방법을 제공한다.The present invention provides a sample fixing device and a method for placing a sample capable of placing a sample so that the observation surface is parallel to the focal plane.
본 발명의 실시예에 따른 시료 고정 장치는 시료의 지지가 가능하고, 현미경의 재치대 상에 안착 가능한 시료 고정대; 및 상기 시료의 관찰면의 수평도를 조정하도록, 일면에 내측으로 함몰되어 일측이 개구된 형상이며, 상기 시료의 수용이 가능한 제 1 홈부가 마련된 기준대;를 포함한다.A sample fixing device according to an embodiment of the present invention includes: a sample holder capable of supporting a sample and seating on a mounting table of a microscope; And a reference table having a shape that is recessed inwardly to one side to be opened on one side and provided with a first groove capable of accommodating the sample so as to adjust the horizontality of the observation surface of the sample.
상기 시료 고정대는, 상기 시료의 관찰면이 상기 제 1 홈부에 삽입되도록 상기 기준대 상에 안착 가능하고, 상기 재치대는 상기 현미경의 대물 렌즈와 마주보게 설치된 스테이지 상에 안착 가능하며, 상기 기준대의 일면은 상기 제 1 홈부의 개구와 마주보는 면이며, 수평인 면인 제 1 조정면을 포함한다.The sample holder may be mounted on the reference table so that the observation surface of the sample is inserted into the first groove, the mounting table may be mounted on a stage installed facing the objective lens of the microscope, and one surface of the reference table Is a surface facing the opening of the first groove and includes a first adjustment surface that is a horizontal surface.
상기 기준대의 일면은, 상기 제 1 조정면과 높이가 다르며 평행이고, 상기 제 1 홈부의 외측에 위치하는 제 1 안착면을 포함한다.One surface of the reference stand has a height different from that of the first adjustment surface and is parallel, and includes a first seating surface positioned outside the first groove.
상기 기준대의 상기 일면과 반대면인 이면에는, 상기 시료의 관찰면의 수평도를 조정하도록, 내측으로 함몰되어 일측이 개구된 형상이며, 상기 시료의 수용이 가능한 제 2 홈부가 마련되며, 상기 기준대의 이면은 상기 제 2 홈부의 개구와 마주보는 면이며, 수평인 면인 제 2 조정면을 포함하고, 상기 제 1 홈부의 깊이가 상기 제 2 홈부의 깊이에 비해 작다.On the rear surface opposite to the one surface of the reference table, a second groove is provided in a shape that is recessed inward and one side is opened to adjust the horizontality of the observation surface of the sample, and a second groove capable of accommodating the sample is provided, and the reference The rear surface of the base is a surface facing the opening of the second groove and includes a second adjustment surface that is a horizontal surface, and the depth of the first groove is smaller than the depth of the second groove.
상기 시료 고정대는, 상기 기준대의 제 1 조정면 및 제 2 조정면 중 적어도 어느 하나와 평행하는 일면을 가지고, 상기 시료가 통과하는 개구부를 가지는 고정 본체; 사이에 시료가 위치되도록 상호 마주하게 배치되며, 상기 고정 본체의 일면 상에 체결되거나, 분리 가능한 제 1 및 제 2 고정부;를 포함한다.The sample holder includes: a fixed body having one surface parallel to at least one of a first adjustment surface and a second adjustment surface of the reference table, and having an opening through which the sample passes; And first and second fixing parts that are disposed to face each other so that the sample is positioned therebetween, and which are fastened or detachable on one surface of the fixed body.
상기 제 1 고정부는, 상기 고정 본체의 연장 방향으로 연장 형성된 제 1 고정 부재; 및 상기 제 1 고정 부재의 연장 방향의 일단으로부터 상기 제 1 고정 부재의 연장 방향과 교차하는 방향으로 돌출 형성된 제 1 돌출 부재;를 포함하고,상기 제 2 고정부는, 상기 제 1 고정 부재의 연장 방향으로 연장 형성된 제 2 고정 부재; 및 상기 제 2 고정 부재의 연장 방향의 일단으로부터 돌출 형성된 제 2 돌출 부재;를 포함한다.The first fixing part may include a first fixing member extending in an extension direction of the fixing body; And a first protruding member protruding from one end of the first fixing member in a direction crossing the extending direction of the first fixing member, wherein the second fixing part includes an extension direction of the first fixing member. A second fixing member formed to extend into a direction; And a second protruding member protruding from one end of the second fixing member in the extending direction.
상기 제 1 및 제 2 고정 부재 각각의 일면은 상기 제 1 및 제 2 조정면 중 적어도 하나와 평행이다.One surface of each of the first and second fixing members is parallel to at least one of the first and second adjustment surfaces.
상기 제 1 고정부는 상기 고정 본체와 상기 제 1 고정 부재를 착탈 가능하게 하는 제 1 체결부를 포함하고, 상기 제 2 고정부는 상기 고정 본체와 상기 제 2 고정 부재를 착탈 가능하게 하는 제 2 체결부를 포함한다.The first fixing part includes a first fastening part for attaching and detaching the fixing body and the first fixing member, and the second fixing part includes a second fastening part for attaching and detaching the fixing body and the second fixing member. do.
본 발명의 실시예에 따른 시료의 재치 방법은 상호 마주보도록 나열 배치된 제 1 및 제 2 고정부를 구비하는 시료 고정대를 기준대 상에 안착시키는 과정; 상기 시료의 관찰면이 상기 기준대의 조정면과 마주보도록, 상기 제 1 고정부와 제 2 고정부 사이에 시료를 삽입시키는 과정; 상기 시료의 관찰면을 상기 조정면에 접촉시켜, 수평도를 조정하는 과정; 및 상기 시료를 지지하고 있는 상기 시료 고정대를 상기 기준대로부터 분리시키는 과정;을 포함한다.A method of placing a sample according to an exemplary embodiment of the present invention includes a process of mounting a sample holder having first and second fixing portions arranged to face each other on a reference table; Inserting a sample between the first fixing part and the second fixing part so that the observation surface of the sample faces the adjustment surface of the reference table; Adjusting the horizontality by bringing the observation surface of the sample into contact with the adjustment surface; And separating the sample holder supporting the sample from the reference table.
상기 시료의 관찰면을 상기 조정면에 접촉시켜, 상기 시료의 관찰면이 상기 조정면의 수평도에 맞추어지도록 시료를 요동시키는 과정을 포함한다.And bringing the observation surface of the sample into contact with the adjustment surface, and shaking the sample so that the observation surface of the sample is aligned with the horizontality of the adjustment surface.
상기 제 1 고정부와 제 2 고정부 사이에 시료를 삽입시키는데 있어서, 개구부가 마련된 고정 본체의 일면 상에 체결된 상기 제 1 고정부와 제 2 고정부 사이에 상기 시료를 삽입하며, 상기 시료를 상기 고정 본체의 개구부로 통과시켜, 상기 제 1 고정부와 제 2 고정부 사이로 삽입시킨다.In inserting a sample between the first fixing part and the second fixing part, inserting the sample between the first fixing part and the second fixing part fastened on one surface of a fixed body provided with an opening, and inserting the sample Passed through the opening of the fixed body, and inserted between the first fixing portion and the second fixing portion.
상기 기준대로부터 분리된 상기 시료 고정대를 재치대 상에 안착시키는 과정; 상기 시료의 관찰면이 현미경의 대물 렌즈와 마주보도록, 상기 재치대를 상기 대물 렌즈와 대향 배치된 스테이지 상에 안착시키는 과정;을 포함한다.Placing the sample holder separated from the reference table on a mounting table; And mounting the mounting table on a stage disposed opposite to the objective lens so that the observation surface of the sample faces the objective lens of the microscope.
상기 시료 고정대를 재치대 상에 안착 시키는데 있어서, 상기 기준대 상에 안착된 상기 시료 고정대를 반전시켜, 상기 재치대 상에 안착시킨다.In placing the sample holder on the mounting table, the sample holder mounted on the reference table is reversed, and the sample holder is mounted on the mounting table.
상기 시료의 관찰면이 현미경의 대물 렌즈와 마주보도록, 상기 재치대를 스테이지 상에 안착 시키면, 상기 시료의 관찰면이 상기 대물 렌즈에 의한 초점면과 평행이다.When the mounting table is mounted on a stage so that the observation surface of the specimen faces the objective lens of the microscope, the observation surface of the specimen is parallel to the focal plane by the objective lens.
본 발명의 실시형태에 따른 시료 고정 장치에 의하면, 시료의 관찰면을 초점면과 평행하도록 조정할 수 있다. 이에, 대물 렌즈를 통해 확대할 때 관찰면 전체에 대한 초점을 맞출 수 있고, 이로 인해 관찰면에 대한 양질의 이미지를 얻을 수 있다.According to the sample fixing device according to the embodiment of the present invention, the observation surface of the sample can be adjusted so as to be parallel to the focal plane. Accordingly, when magnifying through the objective lens, the entire observation surface can be focused, thereby obtaining a high-quality image of the observation surface.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 관찰 장치의 요부를 도시한 입체도이며, 시료 고정대 및 재치대가 스테이지 상에 안착된 상태를 도시하는 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정대와 재치대의 분해 사시도이며, 제 1 및 제 2 고정 부재 타단 사이에 시료가 지지된 상태를 도시하고 있는 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정대와 기준대의 분해 사시도이며,시료 고정대와 기준대의 제 1 홈부가 마주보고 있는 상태를 설명하는 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정대와 재치대의 분해 사시도이며, 제 1 및 제 2 돌출 부재 사이에 시료가 지지된 상태를 도시하고 있는 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정대와 기준대의 분해 사시도이며, 시료 고정대와 기준대의 제 2 홈부가 마주보고 있는 상태를 설명하는 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정 장치를 이용하여, 시료의 관찰면이 초점면에 대해 평행하도록 조정되는 과정을 개념적으로 도시한 도면이다.
도 7 및 도 8은 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정 장치를 이용하여 시료를 재치대에 안착시키는 과정을 나타낸 도면이며, 제 1 고정 부재의 타단과 제 2 고정 부재 타단 사이에 시료를 삽입시키고, 기준대의 제 1 조정면을 이용하여 시료의 관찰면을 초점면과 평행하도록 조정하는 방법을 설명하는 도면이다.
도 9 및 도 10은 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정 장치를 이용하여 시료를 재치대에 안착시키는 과정을 나타낸 도면이며, 제 1 돌출 부재의 타단과 제 2 돌출 부재 타단 사이에 시료를 삽입시키고, 기준대의 제 2 조정면을 이용하여 시료의 관찰면을 초점면과 평행하도록 조정하는 방법을 설명하는 도면이다.
도 11은 시료의 관찰면이 초점면에 대해 평행이 아닌 비교예 및 시료의 관찰면이 초점면에 대해 평행인 실시예 각각에 있어서, 대물 렌즈로 확대한 이미지이다.1 is a three-dimensional view showing a main part of an observation apparatus according to an embodiment of the present invention, and is a view showing a state in which a sample holder and a mounting table are seated on a stage.
2 is an exploded perspective view of a sample holder and a mounting table according to an embodiment of the present invention, and is a view showing a state in which a sample is supported between the other ends of the first and second fixing members.
3 is an exploded perspective view of a sample holder and a reference stage according to an embodiment of the present invention, and is a view illustrating a state in which the sample holder and the first groove of the reference stage face each other.
4 is an exploded perspective view of a sample holder and a mounting table according to an embodiment of the present invention, and is a view showing a state in which a sample is supported between first and second protruding members.
5 is an exploded perspective view of a sample holder and a reference stage according to an embodiment of the present invention, and is a view illustrating a state in which the sample holder and the second groove of the reference stage face each other.
6 is a view conceptually showing a process of adjusting the observation surface of the specimen to be parallel to the focal plane by using the specimen fixing device according to an embodiment of the present invention.
7 and 8 are views showing a process of mounting a sample on a mounting table using a sample fixing device according to an embodiment of the present invention, and inserting a sample between the other end of the first fixing member and the other end of the second fixing member , It is a diagram explaining a method of adjusting the observation surface of the sample to be parallel to the focal plane by using the first adjustment surface of the reference table.
9 and 10 are views showing a process of mounting a sample on a mounting table using a sample fixing device according to an embodiment of the present invention, and inserting a sample between the other end of the first protruding member and the other end of the second protruding member , It is a diagram explaining a method of adjusting the observation surface of the sample to be parallel to the focal plane by using the second adjustment surface of the reference table.
11 is an image magnified with an objective lens in Comparative Examples in which the observation surface of the sample is not parallel to the focal plane, and in Examples in which the observation surface of the sample is parallel to the focal plane, respectively.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 더욱 상세히 설명하기로 한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 본 발명의 실시예를 설명하기 위하여 도면은 과장될 수 있고, 도면상의 동일한 부호는 동일한 요소를 지칭한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in a variety of different forms, only the present embodiments make the disclosure of the present invention complete, and the scope of the invention is completely limited to those of ordinary skill in the art. It is provided to inform you. In order to describe the embodiments of the present invention, the drawings may be exaggerated, and the same reference numerals in the drawings refer to the same elements.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 관찰 장치의 요부를 도시한 입체도이며, 시료 고정대 및 재치대가 스테이지 상에 안착된 상태를 도시하는 도면이다. 1 is a three-dimensional view showing a main part of an observation apparatus according to an embodiment of the present invention, and is a view showing a state in which a sample holder and a mounting table are seated on a stage.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정대와 재치대의 분해 사시도이며, 제 1 및 제 2 고정 부재 타단 사이에 시료가 지지된 상태를 도시하고 있는 도면이다. 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정대와 기준대의 분해 사시도이며,시료 고정대와 기준대의 제 1 홈부가 마주보고 있는 상태를 설명하는 도면이다. 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정대와 재치대의 분해 사시도이며, 제 1 및 제 2 돌출 부재 사이에 시료가 지지된 상태를 도시하고 있는 도면이다. 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정대와 기준대의 분해 사시도이며, 시료 고정대와 기준대의 제 2 홈부가 마주보고 있는 상태를 설명하는 도면이다.2 is an exploded perspective view of a sample holder and a mounting table according to an embodiment of the present invention, and is a view showing a state in which a sample is supported between the other ends of the first and second fixing members. 3 is an exploded perspective view of a sample holder and a reference stage according to an embodiment of the present invention, and is a view illustrating a state in which the sample holder and the first groove of the reference stage face each other. 4 is an exploded perspective view of a sample holder and a mounting table according to an embodiment of the present invention, and is a view showing a state in which a sample is supported between first and second protruding members. 5 is an exploded perspective view of a sample holder and a reference stage according to an embodiment of the present invention, and is a view illustrating a state in which the sample holder and the second groove of the reference stage face each other.
여기서, 도 2 및 도 4의 시료 고정대에 지지된 시료는, 시료 고정대가 재치대 상에 안착되고, 상기 재치대가 스테이지에 안착되었을 때, 관찰면이 스테이지와 수평이 되도록 조정된 상태이다. 또한, 도 3 및 도 5는 시료 고정대에 시료가 지지되지 않은 상태를 도시하고 있다.Here, in the sample supported by the sample holder of FIGS. 2 and 4, when the sample holder is mounted on the mounting table and the mounting table is mounted on the stage, the observation surface is adjusted so that the observation surface is horizontal with the stage. In addition, FIGS. 3 and 5 show a state in which the sample is not supported on the sample holder.
도 1 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 관찰 장치는 스테이지(180), 스테이지(180) 상에 안착 가능한 재치대(120), 스테이지(180)와 대향 위치되어 시료(S)를 관찰하는 대물 렌즈(130)를 구비하는 현미경(A) 및 시료(S)를 지지 고정하며, 재치대(120) 상에 안착 가능한 시료 고정대(1000), 시료(S)의 관찰면(OF)이 초점면과 평행하도록 조정하는 기준대(7000)를 구비하는 시료 고정 장치(B)를 포함한다.1 to 5, the observation device according to an embodiment of the present invention is a
여기서, 초점면은 대물 렌즈(130)를 통해 확대되어지는 평면이다. 다른 말로 하면, 초점면은 대물 렌즈(130)를 통해 입사하는 빛이 한 점으로 모이는 평면이다. 다른 말로 하면, 또 다른 말로 하면, 초점면은 대물 렌즈(130)의 광축(LA)에 수직인 면으로, 상기 초점면은 상기 광축(LA)과 수직인 수평면과 수평인 면이다(도 6의 (c) 참조). 이에 시료(S)의 관찰면(OF)이 초점면과 평행한다는 것은, 시료(S)의 관찰면(OF)이 '스테이지(180)와 수평인 면'이라는 의미일 수 있다. 그리고, 시료(S)의 관찰면(OF)이 초점면과 평행하도록 조정한다는 것은, 시료(S)의 관찰면(OF)의 수평도를 조정한다는 의미일 수 있다.Here, the focal plane is a plane that is enlarged through the
현미경(A)은 몸체부(110), 승하강 가능하도록 몸체부(110)에 장착된 스테이지(180), 스테이지(180) 상에 안착 가능하며, 시료(S)를 지지하고 있는 시료 고정대(1000)가 안착되는 재치대(120), 시료(S)의 관찰면(OF)과 마주볼 수 있도록 스테이지(180)와 마주보게 몸체부(110) 상에 설치되어 시료(S)의 관찰면(OF)을 고배율로 확대하는 대물 렌즈(130), 관측자가 대물 렌즈(130)에 의하여 확대된 시료(S)의 상을 볼 수 있게 구비된 접안 렌즈(150)를 포함한다.The microscope (A) is a body part 110, a
또한, 현미경(A)은 광을 방출하는 제 1 및 제 2 조광부(160a, 160b), 제 1 조광부(160a)와 스테이지(180) 사이에 위치되어 제 1 조광부(160a)로부터 방출된 광을 집광시켜 시료를 향해 조사하는 콘덴서(미도시), 회전 가능하도록 몸체부(110)에 장착되어 대물 렌즈(130)를 지지하는 회전부(140), 스테이지(180)를 승하강시키는 승하강부(170)를 포함한다.Further, the microscope A is positioned between the first and
여기서, 제 2 조광부(160b)는 대물 렌즈(130)로 광을 조사하는 수단일 수 있다.Here, the
몸체부(110)는 스테이지(180), 대물 렌즈(130), 접안 렌즈(150)가 지지 또는 장착되는 제 1 몸체(111) 및 제 1 몸체(111)의 하부에 연결된 제 2 몸체(112)를 포함한다.The body portion 110 includes a
제 1 몸체(111)는 스테이지(180), 대물 렌즈(130)의 나열 방향 즉, 상하 방향으로 연장된 형상일 수 있다. 제 2 몸체(112)는 현미경(A) 전체가 안정적으로 지지될 수 있도록 하는 것이다.The
스테이지(180)는 대물 렌즈(130)와 콘덴서 사이에 위치되며, 재치대(120)가 안착되는 수단이다. 이러한 스테이지(180)는 소정의 면적을 가지는 판(plate) 형상이다. 그리고, 스테이지(180)에는 소정의 면적을 가지는 개구(182)가 마련되는데, 이는 후술되는 재치대(120)의 삽입구(121)와 연통 가능한 구멍이다.The
또한, 스테이지(180)는 대물 렌즈(130)를 향하는 면(이하, 일면(181))이 상기 대물 렌즈(130)에 의한 초점면과 평행이면서, 수평이 되도록 마련된다. 이를 위해, 스테이지(180)의 일면(181)은 대물 렌즈(130)에 의한 광축(도 6 참조)과 수직인 수평면과 수평을 이루도록 마련된다.In addition, the
그리고, 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정 장치(B)는 시료(S)의 관찰면(OF)이 스테이지(180)의 일면(181)과 수평을 이루도록 조정하며, 이에 따라 시료(S)의 관찰면(OF)이 대물 렌즈(130)에 의한 초점면과 평행이 될 수 있다. In addition, the sample fixing device B according to the embodiment of the present invention adjusts the observation surface OF of the sample S to be horizontal with the one
스테이지(180)에는 재치대(120)를 고정시키는 고정 수단(183)이 마련된다. 예컨대, 고정 수단(183)은 재치대(120)의 양 측부를 가압하여 고정하는 수단으로, 재치대(120)의 위치를 고정하는 수단일 수 있다. 또한, 재치대(120)가 스테이지(180) 상에서 수평 이동 가능하도록, 고정 수단(183)은 스테이지(180) 상에서 수평 이동 가능하도록 구성된다.A fixing means 183 for fixing the mounting table 120 is provided on the
재치대(120)는 시료(S)를 고정하고 있는 시료 고정대(1000)가 안착되는 수단이다. 또한 재치대(120)는 시료 고정대(1000)가 안착되어 있는 상태로 스테이지(180) 상부에 안착, 고정되는 수단이다. 이때, 재치대(120)는 스테이지(180)의 일면(181) 상에 안착되며, 이에 재치대(120)가 스테이지(180)에 비해 대물 렌즈(130)와 더 가깝게 위치된다.The mounting table 120 is a means on which the
재치대(120)는 소정의 면적을 가지는 판(plate) 형상이며, 대물 렌즈(130)를 향하는 면(이하, 일면(121a))과 반대 면이며, 스테이지(180)의 일면(181) 상에 안착되는 면(이하, 이면(123))이 스테이지(180)의 일면(181)과 수평이 되도록 마련된다.The mounting table 120 is in the shape of a plate having a predetermined area, is a surface opposite to the surface facing the objective lens 130 (hereinafter, one
또한, 도 2를 참조하면, 재치대(120)에는 후술되는 시료 고정대(1000)의 고정 본체(2000)가 삽입 또는 수용 가능한 개구(이하, 삽입구(121))가 마련된다. 재치대(120)가 스테이지(180) 상에 안착될 때, 재치대(120)의 삽입구(121)는 스테이지(180)의 개구(182)와 연통 가능하다.In addition, referring to FIG. 2, the mounting table 120 is provided with an opening (hereinafter referred to as an insertion port 121) into which the
그리고, 재치대(120) 중, 삽입구(121)를 구획하는 또는 삽입구(121)를 둘러싸는 내측벽은 단차(122)를 가지는 형상일 수 있다. 단차(122)에 대해 다른 말로 설명하면, 삽입구(121)를 상하 방향으로 구분할 때, 상부 영역의 개구 면적에 비해 하부 영역의 개구 면적이 작도록 마련된다. 그리고 상부 영역의 중심과 하부 영역의 중심이 일치하도록 마련한다. 이에, 삽입구(121)를 구획하는 재치대(120)의 내측벽은 2 단 계단의 단차(122)를 가지는 형상이 된다.In addition, of the mounting table 120, an inner wall that divides the
대물 렌즈(130)는 시료(S)의 관찰면(OF)을 고배율로 확대하는 수단으로, 스테이지(180)의 일면(181)과 마주보도록 상기 스테이지(180)의 상측에 위치될 수 있다. 그리고, 대물 렌즈(130)는 복수개로 구비될 수 있고, 복수의 대물 렌즈(130)는 각기 다른 배율을 가질 수 있다. 또한, 복수의 대물 렌즈(130)는 회전부(140)에 장착되며, 회전부(140) 상에서 예컨대 원형을 이루도록 배열될 수 있다. 이에, 관측자가 필요에 따라 회전부(140)를 회전시켜 복수의 대물 렌즈(130) 중 어느 하나가 재치대(120)와 마주보도록 조정할 수 있다.The
접안 렌즈(150)는 대물 렌즈(130)의 상측에 위치되도록 제 1 몸체(111)에 장착될 수 있다. 그리고 접안 렌즈(150)는 관측자 측으로 경사지게 구비될 수 있다.The
승하강부(170)는 스테이지(180)의 높이가 조절되도록 상기 스테이지(180)를 승하강시키는 수단이다. 이러한 승하강부(170)는 예컨대, 상하 방향으로 연장 형성되어 스테이지(180)가 체결되고, 연장 방향을 따라 스테이지(180)가 이동될 수 있도록 구동되는 승하강 부재(171) 및 승하강 부재(171)를 구동시키는 조절부(172)를 포함할 수 있다.The elevating
제 1 및 제 2 조광부(160a, 160b) 각각은 광을 발생시키는 램프를 포함하는 수단일 수 있다. 여기서, 제 1 조광부(160a)는 콘덴서로 광을 제공하는 수단으로, 콘덴서와 마주보도록 제 2 몸체(112)에 장착될 수 있다.Each of the first and
콘덴서(미도시)는 제 1 조광부(160a)와 스테이지(180) 사이에 위치되어, 제 1 조광부(160a)로부터 방출된 광을 집광시켜 시료(S)를 향해 조사하는 수단이다. 이러한 콘덴서는 제 1 조광부(160a)로부터 방출된 광을 집광시키는 집광 렌즈를 포함하는 수단일 수 있다. 그리고, 콘덴서는 그 높이 조절이 가능하도록 하는 별도의 승하강부(미도시)와 연결될 수 있다.A capacitor (not shown) is a means positioned between the
도 2 및 도 3을 참조하면, 시료 고정 장치(B)는 시료(S)의 고정이 가능한 시료 고정대(1000) 및 시료 고정대(1000)에 지지된 시료(S)의 관찰면(OF)과 대향 또는 접촉 가능한 면이며, 스테이지(180)의 일면(181)과 수평인 조정면(7110, 7310)을 구비하는 기준대(7000)를 포함한다.Referring to FIGS. 2 and 3, the sample holding device B faces a
시료 고정대(1000)는 재치대(120)의 삽입구(121)에 삽입 가능한 본체(이하, 고정 본체(2000)), 각각이 고정 본체(2000)의 폭 방향으로 연장 형성되며, 사이에 시료(S)의 삽입이 가능하도록 일 방향으로 나열 배치되고, 상호 가까워지거나 멀어지도록 이동이 가능한 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)를 포함한다. 또한, 시료 고정대(1000)는 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000) 각각을 고정 본체(2000) 상에 체결하거나 분리시키는 제 1 및 제 2 체결부(5000, 6000)를 포함한다.The
고정 본체(2000)의 외측면에는 재치대(120)의 단차(122)와 부합되는 단차(2140)가 마련될 수 있다.A
고정 본체(2000)가 재치대(120)의 삽입구(121)의 상측에 위치된 상태를 기준(도 2 참조)으로, 단차(2140)에 대해 다시 설명하면 아래와 같다.Referring to the state in which the fixed
고정 본체(2000)를 상하 방향으로 구분할 때, 상부 영역의 직경(또는 폭)이 하부 영역의 직경(또는 폭)에 비해 크도록 마련된다. 그리고, 상부 영역과 하부 영역의 중심이 일치하도록 마련된다. 이에, 고정 본체(2000)의 외측면은 2 단 계단의 단차(2140)를 가지는 형상이 된다.When the fixed
고정 본체(2000)는 재치대(120)의 삽입구(121) 내에 삽입 가능하도록 상기 삽입구(121)와 대응하는 형상 예컨대 원형이며, 소정의 면적을 가지는 판(plate) 형상일 수 있다.The fixed
고정 본체(2000)는 재치대(120)의 삽입구(121)에 삽입된 상태에서 회전 가능하다. 이러한 고정 본체(2000)의 회전에 의해, 시료(S)의 관찰 방향을 조절할 수 있다.The fixed
고정 본체(2000)에는 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)가 체결되는데, 이하에서는 고정 본체(2000) 중 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)가 체결되는 면을 일면(2100), 그 반대면을 이면(2200)이라 명명한다(도 7의 (b) 참조).The first and
고정 본체(2000)의 두께는 고정 본체(2000)가 재치대(120)의 삽입구(121)에 삽입되었을 때, 고정 본체(2000)의 일면(2100)이 재치대(120)의 일면(121a) 상측으로 돌출되도록 마련될 수 있다. 이는 재치대(120)의 전체 두께, 재치대(120) 단차(122)의 구조 또는 두께, 고정 본체(2000)의 전체 두께(t2000), 고정 본체(2000)의 단차(2140) 구조 또는 두께 중 어느 하나를 조절하여 달성할 수 있다.The thickness of the fixed
고정 본체(2000)의 일면(2100)이 재치대(120)의 일면(121a) 상측으로 돌출되도록 구성하는 것은, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)가 고정 본체(2000) 상에 체결된 상태로 수평 이동 또는 회전 이동할 때, 재치대(120)의 일면(121a)과의 간섭이 발생되지 않도록 하기 위함이다. 따라서, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)가 고정 본체(2000) 상에 체결된 상태에서 수평 이동 또는 회전 이동이 용이하며, 재치대(120)의 손상을 방지할 수 있다. 여기서, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000) 각각의 회전 이동은, 제 1 및 제 2 체결부(5000, 6000)을 중심 축으로 회전하는 것을 의미한다.To configure one side (2100) of the fixed body (2000) to protrude upward from one side (121a) of the mounting table (120), the first and second fixing parts (3000, 4000) are fastened on the fixed body (2000) This is to prevent interference with one
고정 본체(2000)에는 스테이지(180)의 개구(182) 및 재치대(120)의 삽입구(121)와 연통 가능한 개구부(2150)가 마련된다. 이 개구부(2150)는 고정 본체(2000)의 중심에 위치하도록 마련되는 것이 바람직하다.The fixed
실시예에 따른 개구부(2150)는 제 1 개구(2151) 및 각각이 제 1 개구(2151)의 가장자리로부터 외측으로 연장 형성되며, 상호 마주보게 마련된 한 쌍의 제 2 개구(2152)를 포함할 수 있다. 여기서, 한 쌍의 제 2 개구(2152)는 제 1 개구(2151)의 중심을 기준으로 상호 마주보도록 배치될 수 있다. 그리고, 제 1 개구(2151)의 면적은 한 쌍의 제 2 개구(2152)의 면적에 비해 크도록 마련된다. 물론, 제 2 개구(2152)의 면적이 제 1 개구(2151)에 비해 크거나, 동일하도록 마련될 수 있다.The
제 1 개구(2151)의 중심을 기준으로 상호 마주보도록 배치된 제 2 개구(2152)는, 시료(S)를 개구부(2150)에 삽입시킬 때, 개구부(2150)의 중심을 확인하는 용도로 사용될 수 있다. 즉, 제 2 개구(2152)의 형성 위치에 의해 제 1 개구(2151)의 중심에 오도록 시료(S)를 삽입시킬 수 있다.The
또한, 제 2 개구(2152)는 제 1 개구(2151)로부터 외측으로 연장 형성되는데, 이로 인해 제 1 개구(2151)의 길이에 비해 큰 시료(S)를 삽입시킬 수 있다. 즉, 제 1 개구(2151)에 비해 긴 시료(S)는 그 양 끝단의 적어도 일부가 상기 제 1 개구(2151)의 양 방향에 형성된 제 2 개구(152) 내에 수용되도록 삽입될 수 있다.In addition, the
고정 본체(2000)에는 제 1 및 제 2 체결부(5000, 6000) 각각의 일부가 삽입될 수 있는 개구(이하, 제 1 및 제 2 체결 개구(2161, 2162))가 마련된다(도 7의 (b), 도 8의 (a) 참조).The fixed
제 1 및 제 2 체결 개구(2161, 2162)는 개구부(2150)의 외측에서 상호 마주보도록 마련된다. 즉, 제 1 체결 개구(2161)와 제 2 체결 개구(2162)는 개구부(2150)를 사이에 두고 마주보도록 마련된다. 보다 구체적으로 설명하면, 한 쌍의 제 2 개구(2152)의 일측부 사이에 제 1 체결 개구(2161)가 위치하고, 상기 한 쌍의 제 2 개구(2152)의 타측부 사이에 제 2 체결 개구(2162)가 위치하도록 마련된다.The first and
그리고, 제 1 및 제 2 체결 개구(2161, 2162) 각각의 내벽에는 나사산이 형성될 수 있다. 제 1 및 제 2 체결 개구(2161, 2162)에 마련된 나사산은 후술되는 제 1 및 제 2 연결 부재(5100, 6100)에 마련된 나사산에 치합 가능하다.In addition, threads may be formed on inner walls of each of the first and
고정 본체(2000)의 일면(2100)은 스테이지(180)의 일면(181)과 수평인 면이며, 시료 고정대(1000)가 안착된 재치대(120)가 스테이지(180) 상에 안착되었을 때, 고정 본체(2000)의 일면(2100)은 스테이지(180)의 일면(181)과 평행을 이룬다. 그리고, 시료 고정대(1000)가 기준대(7000) 상에 안착되었을 때, 고정 본체(2000)의 일면(2100)은 기준대(7000)의 표면 중 적어도 일부와 평행하고, 접촉 가능할 수 있다. 시료 고정대(1000)와 기준대(7000)가 상호 평행하게 배치되고, 접촉되면, 이는 시료(S)의 관찰면(OF)이 초점면과 평행하도록 조정하는데 유리하게 작용된다.One
제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000) 각각은 고정 본체(2000)의 일면(2100) 상에 체결되며, 일 방향으로 나열 배치될 수 있다. 보다 구체적으로, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)는 고정 본체(2000)에 마련된 제 1 및 제 2 체결 개구(2161, 2162)의 나열 방향으로 나열되어 상기 고정 본체(2000) 상에 체결된다.Each of the first and
제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)는 상호 동일 또는 유사한 구성 및 형상을 가진다.The first and
이하, 먼저 제 1 고정부(3000)의 구성에 대해 설명한다.Hereinafter, first, the configuration of the
제 1 고정부(3000)는 일 방향으로 연장 형성된 제 1 고정 부재(3100) 및 제 1 고정 부재(3100) 연장 방향의 양 끝단 중 어느 하나 예컨대 일단으로부터 돌출 형성된 제 1 돌출 부재(3200)를 포함한다.The
제 1 고정 부재(3100)는 소정의 면적을 가지는 판(plate) 형상이다. 그리고, 제 1 고정 부재(3100) 타단은 시료(S)를 지지시키기 위해, 상기 시료(S)와 접촉되는 면으로서, 고정 본체(2000)의 일면(2100)에 대해 수직을 이루는 면일 수 있다.The
제 1 고정 부재(3100)에는 체 1 체결부(5000)의 적어도 일부가 삽입될 수 있는 개구(이하, 제 3 체결 개구(3131))가 마련된다. 제 3 체결 개구(3131)는 제 1 고정 부재(3100)의 연장 방향으로 연장된 형상일 수 있다. 이러한 제 3 체결 개구(3131)의 형상은, 상기 제 1 고정부(3000)가 고정 본체(2000)에 체결된 상태에서 그 연장 방향으로 이동 가능하도록 하기 위함이다.The
이하에서는 제 1 고정 부재(3100) 중 고정 본체(2000)의 일면(2100)과 반대의 면을 일면(3110), 일면(3110)과 반대의 면이며 고정 본체(2000)의 일면(2110)과 마주하는 면을 이면(3120)이라 한다(도 7의 (b) 참조).Hereinafter, a surface of the
시료 고정대(1000)가 기준대(7000) 상에 안착될 때, 제 1 고정 부재(3100)의 일면(3110)은 기준대(7000)에 마련된 조정면(7110, 7310)과 평행인 면이다. 또한, 이때 제 1 고정 부재(3100)의 일면(3110)이 기준대(7000)의 조정면과 접촉될 수 있다. 그리고, 제 1 고정 부재(3100)의 일면(3110)은 고정 본체(2000)의 일면(2100)과 평행일 수 있다.When the
제 1 돌출 부재(3200)는 제 1 고정 부재(3100)의 연장 방향과 교차 또는 직교하는 방향으로 연장된 형상이다. 이에, 제 1 돌출 부재(3200)는 그 일면(3210)이 제 1 고정 부재(3100)의 일면(3110)에 비해 더 외측으로 더 돌출되도록 마련된다. The first protruding
시료 고정대(1000)가 기준대(7000) 상에 안착될 때, 제 1 돌출 부재(3200)의 일면(3210)은 제 1 고정 부재(3100)의 일면(3110) 및 기준대(7000)에 마련된 조정면과 평행인 면이다. 또한 이때 제 1 돌출 부재(3200)의 일면(3210)이 조정면과 접촉될 수 있다. 그리고, 제 1 돌출 부재(3200)의 일면(3210)은 고정 본체(2000)의 일면(2100)과 평행일 수 있다.When the
또한, 제 1 돌출 부재(3200) 중, 제 1 고정 부재(3100)의 타단과 반대면 즉, 대향하는 최 외각면은 시료(S)를 지지시키기 위해, 상기 시료(S)와 접촉되는 면으로서, 고정 본체(2000)의 일면(2100)에 대해 수직을 이루는 면일 수 있다.In addition, of the first protruding
제 2 고정부(4000)는 일 방향으로 연장 형성된 제 2 고정 부재(4100) 및 제 2 고정 부재(4100) 연장 방향의 양 끝단 중 어느 하나 예컨대 일단으로부터 돌출 형성된 제 2 돌출 부재(4200)를 포함한다.The
제 2 고정 부재(4100)는 소정의 면적을 가지는 판(plate) 형상이다. 그리고, 제 2 고정 부재(4100) 타단은 시료(S)를 지지시키기 위해, 상기 시료(S)와 접촉되는 면으로서, 고정 본체(2000)의 일면(2100)에 대해 수직을 이루는 면일 수 있다.The
제 2 고정 부재(4100)에는 제 2 체결부(6000)의 적어도 일부가 삽입될 수 있는 개구(이하, 제 4 체결 개구(4131))가 마련되어 있다. 제 4 체결 개구(4131)는 제 2 고정 부재(4100)의 연장 방향으로 연장된 형상일 수 있다. 이러한 제 4 체결 개구(4131)의 형상은, 제 2 고정부(4000)가 고정 본체(2000)에 체결된 상태에서 그 연장 방향으로 이동 가능하도록 하기 위함이다.The
이하에서는 제 2 고정 부재(4100) 중 고정 본체(2000)의 일면(2100)과 반대인 면을 일면(4110), 일면(4110)과 반대의 면이며 고정 본체(2000)의 일면(2100)과 마주하는 면을 이면(4120)이라 한다(도 7의 (b) 참조).Hereinafter, a surface of the
시료 고정대(1000)가 기준대(7000) 상에 안착될 때, 제 2 고정 부재(4100)의 일면(4110)은 기준대(7000)에 마련된 조정면(7110, 7310)과 평행인 면이다. 또한, 이때 제 2 고정 부재(4100)의 일면(4110)이 기준대(7000)의 조정면과 접촉될 수 있다. 그리고, 제 2 고정 부재(4100)의 일면(4110)은 고정 본체(2000)의 일면(2100)과 평행일 수 있다.When the
제 2 돌출 부재(4200)는 제 2 고정 부재(4100)의 연장 방향과 교차 또는 직교하는 방향으로 연장된 형상이다. 이에, 제 2 돌출 부재(4200)는 그 일면(4210)이 제 2 고정 부재(4100)의 일면(4110)에 비해 더 외측으로 더 돌출되도록 마련된다.The second protruding
시료 고정대(1000)가 기준대(7000) 상에 안착될 때, 제 2 돌출 부재(4200)의 일면(4210)은 제 2 고정 부재(4100)의 일면(4110) 및 기준대(7000)에 마련된 조정면과 평행인 면이다. 또한 이때 제 2 돌출 부재(4200)의 일면(4210)이 조정면과 접촉될 수 있다. 그리고, 제 2 돌출 부재(4200)의 일면(4210)은 고정 본체(2000)의 일면(2100)과 평행일 수 있다.When the
또한, 제 2 돌출 부재(4200) 중, 제 2 고정 부재(4100)의 타단과 반대면 즉, 대향하는 최 외각면은 시료(S)를 지지시키기 위해, 상기 시료(S)와 접촉되는 면으로서, 고정 본체(2000)의 일면(2100)에 대해 수직을 이루는 면일 수 있다.In addition, of the second protruding
시료 고정대(1000)가 기준대(7000) 상에 안착될 때, 제 1 고정 부재(3100)의 일면(3110) 및 제 1 돌출 부재(3200)의 일면(3210) 중 어느 하나와 제 2 고정 부재(4100)의 일면(4110) 및 제 2 돌출 부재(4200)의 일면(4210) 중 어느 하나가 조정면과 접촉되도록 하는 것은, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100)의 두께, 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200)의 두께, 기준대(7000) 마련된 홈부의 깊이를 조정함으로써 달성될 수 있다.When the
한편, 시료(S)의 관찰면(OF)이 조정면과 평행하도록 조정되면, 상기 시료(S)는 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)에 의해 접촉 지지된 후, 재치대(210) 상에 안착시키기 위해 이동한다. 이때, 시료(S)의 Y 축 방향의 양 측면 중 하나는 제 1 고정 부재(3100)의 타단 또는 제 1 돌출 부재(3200)와 접촉되고, 다른 하나는 제 2 고정 부재(4100)의 타단 또는 제 2 돌출 부재(4200)와 접촉되도록 지지된다(도 2 및 도 4 참조).On the other hand, when the observation surface OF of the sample S is adjusted to be parallel to the adjustment surface, the sample S is contacted and supported by the first and
시료(S)의 관찰면(OF)이 X 축 방향으로 경사진 형상일 때(도 2, 4, 도 6 참조), 상술한 바와 같이 제 1 및 제 2 고정 부재(4100, 4200)의 타단과 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200) 중, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100)의 타단과 반대면이 수직면인 경우, 관찰면(OF)이 조정면과 평행하게 조절된 시료(S)를 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)로 접촉 지지하더라도, 상기 관찰면(OF)의 평행이 틀어지지 않는다.When the observation surface OF of the sample S is inclined in the X-axis direction (see FIGS. 2, 4 and 6), the other ends of the first and
그러나, 시료의 관찰면(OF)이 Y 축 방향으로 경사진 경우, 제 1 및 제 2 고정 부재(4100, 4200)의 타단 또는 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200) 중, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100)의 타단과 반대면이 수직면일 때, 관찰면(OF)이 조정면과 평행하게 조절된 시료(S)를 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)로 접촉 지지시키면, 상기 관찰면(OF)의 평행이 틀어질 수 있다.However, when the observation surface OF of the sample is inclined in the Y-axis direction, the first and second ends of the first and
따라서, 관찰면이 Y 축 방향으로 경사진 시료(S)에 대응하기 위하여, 제 1 및 제 2 고정 부재(4100, 4200)의 타단과, 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200) 중, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100)의 타단과 반대면을 Y 축 방향으로 경사지 형상으로 마련한다.Therefore, in order to correspond to the sample S in which the observation surface is inclined in the Y-axis direction, the other ends of the first and
즉, 제 1 및 제 2 고정 부재(4100, 4200)의 타단과 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200) 중, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100)의 타단과 반대면이 수직인 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)와, 경사진 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)를 각기 마련하고, 시료(S)의 형태에 따라 선택하여 사용할 수 있다.That is, the other ends of the first and
또한, 시료(S)의 관찰면(OF) X 축 방향 및 Y 축 방향으로 모두 경사진 형상일 때, 제 1 및 제 2 고정 부재(4100, 4200)의 타단, 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200) 중, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100)의 타단과 반대면이 Y 축 방향으로 경사진 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)를 사용하는 것이 바람직하다.In addition, when the observation surface OF of the sample S is inclined in both the X-axis direction and the Y-axis direction, the other ends of the first and
제 1 및 제 2 체결부(5000, 6000) 각각은 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)를 각기 고정 본체(2000) 상에 체결하는 수단이다.Each of the first and
제 1 체결부(5000)는 제 1 고정 부재(3100)에 마련된 제 3 체결 개구(3131)와 고정 본체(2000)에 마련된 제 1 체결 개구(2161)를 관통하는 제 1 연결 부재(5100) 및 제 1 연결 부재(5100)를 고정하는 제 1 체결 부재(5200)를 포함한다(도 7의 (b) 참조).The
또한, 제 2 체결부(6000)는 제 2 고정 부재(4100)에 마련된 제 4 체결 개구(4131)와 고정 본체(2000)에 마련된 제 2 체결 개구(2162)를 관통하는 제 2 연결 부재(6100) 및 제 2 연결 부재(6100)를 고정하는 제 2 체결 부재(6200)를 포함한다(도 7의 (b) 참조).In addition, the
상술한 제 1 및 제 2 연결 부재(5100, 6100) 각각은 예컨대, 외주면에 나사산이 형성된 볼트(bolt)일 수 있다.Each of the above-described first and second connecting
그리고, 제 1 및 제 2 체결 부재(5200, 6200) 각각은 제 1 및 제 2 연결 부재(5100, 6100)의 관통이 가능하도록 중앙이 개구된 중공형 형상의 와셔(washer)일 수 있다. In addition, each of the first and
제 1 및 제 2 체결 부재(5200, 6200) 각각은 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100)에 마련된 제 3 및 제 4 체결 개구(4131)에 비해 크기가 크도록 마련된다. 그리고, 제 1 및 제 2 연결 부재(5100, 6100) 각각의 상부(즉, 헤드)는 제 1 및 제 2 체결 부재(5200, 6200) 각각의 개구에 비해 크도록 마련된다. 이는, 연결 부재(5100, 6100)가 체결 부재(5200, 6200)의 개구를 통과하도록 삽입되었을 때, 연결 부재(5100, 6100)의 상부가 체결 부재(5200, 6200)의 개구를 통과하지 않고, 상기 체결 부재(5200, 6200)의 상부에 걸리도록 하기 위함이다.Each of the first and
또한, 제 1 및 제 2 체결부(5000, 6000) 각각은 연결 부재(5100, 5200)의 헤드와 체결 부재(5200, 6200) 사이에 위치되도록 연결 부재(5100, 5200)와 체결 가능한 스프링 와셔를 더 포함할 수 있다. 스프링 와셔는 상기 제 1 및 제 2 연결 부재(5100, 6100)의 상부(즉, 헤드)와 제 1 및 제 2 체결 부재(5200, 6200)와의 밀착 정도, 제 1 및 제 2 체결 부재(5200, 6200)와 고정 본체(2000) 일면(2100)의 밀착 정도를 조절하는 역할을 한다. 이에 따라, 체결부(5000, 6000)와 고정부(3000, 4000) 간의 체결 강도가 조절되다.In addition, each of the first and
이러한 제 1 및 제 2 체결부(5000, 6000)에 의해 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000) 각각을 고정 본체(2000) 상에 체결 및 분리할 수 있다.Each of the first and
이에 대해 보다 구체적으로 설명하면, 아래와 같다. 먼저, 고정 본체(2000)의 일면(2100) 상에 제 1 고정부(3000)를 배치시킨다. 그리고, 제 1 고정 부재(3100)의 일면(3110) 상에 제 1 체결 부재(5200)가 위치되도록 한 상태에서 제 1 연결 부재(5100)가 제 1 체결 부재(5200)의 개구에 끼워지도록 한다. 이때, 제 1 연결 부재(5100)가 제 1 체결 부재(5200)의 개구, 제 1 고정 부재(3100)에 마련된 제 3 체결 개구(3131), 고정 본체(2000)에 마련된 제 1 체결 개구(2161)를 관통하도록 삽입시킨다. 그리고, 이때 제 1 연결 부재(5100)를 조이는 방향 예컨대 시계 방향으로 회전시키면, 제 1 연결 부재(5100)의 나사산과 제 1 체결 개구(2161)에 마련된 나사산이 상호 치합되면서 조여진다.If this is described in more detail, it is as follows. First, a
또한, 이렇게 제 1 연결 부재(5100)의 시계 방향으로 계속 회전하면, 제 1 연결 부재(5100)가 고정 본체(2000) 하측으로 점차 하강한다. 이에, 제 1 연결 부재(5100)의 상부(즉, 헤드)와 제 1 체결 부재(5200)가 상호 가까워지고, 제 1 체결 부재(5200)가 점차 고정 본체(2000)의 일면(2100)과 가까워지도록 이동한다.In addition, when the first connecting
이러한 동작에 의해, 제 1 고정부(3000)가 고정 본체(2000) 일면(2100) 상에 체결된다.By this operation, the
마찬가지의 방법으로 제 2 고정부(4000)를 고정 본체(2000) 상에 체결한다. 즉, 먼저 고정 본체(2000)의 일면(2100) 상에 제 2 고정부(4000)를 배치시킨다. 그리고, 제 2 고정 부재(4100)의 일면(4110) 상에 제 2 체결 부재(6200)가 위치되도록 한 상태에서 제 2 연결 부재(6100)가 제 2 체결 부재(6200)의 개구에 끼워지도록 한다. 이때, 제 2 연결 부재(6100)가 제 2 체결 부재(6200)의 개구, 제 2 고정 부재(4100)에 마련된 제 4 체결 개구(4131), 고정 본체(2000)에 마련된 제 2 체결 개구(2162)를 관통하도록 삽입시킨다. 그리고, 이때 제 2 연결 부재(6100)를 조이는 방향 예컨대 시계 방향으로 회전시키면, 제 2 연결 부재(6100)의 나사산과 제 2 체결 개구(2162)에 마련된 나사산이 상호 치합되면서 조여진다.The
또한, 이렇게 제 2 연결 부재(6100)의 시계 방향으로 계속 회전하면, 제 2 연결 부재(6100)가 고정 본체(2000) 하측으로 점차 하강한다. 이에, 제 2 연결 부재(6100)의 상부(즉, 헤드)와 제 2 체결 부재(6200)가 상호 가까워지고, 제 2 체결 부재(6200)가 점차 고정 본체(2000)의 일면(2100)과 가까워지도록 이동한다.In addition, when the
이에 따라, 제 2 고정부(4000)가 고정 본체(2000) 일면(2100) 상에 체결된다.Accordingly, the
제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)를 고정 본체(2000)로부터 분리하는 방법은 상술한 체결 방법을 반대로 실시함으로써 가능하다. 즉, 제 1 및 제 2 연결 부재(5100, 6100) 각각을 풀림 방향 예컨대 반시계 방향으로 회전시키면, 제 1 및 제 2 연결 부재(5100, 6100) 각각에 마련된 나사산이 제 1 및 제 2 체결 개구(2161, 2162)에 마련된 나사산과의 치합이 점차 해제된다. 이후 제 1 및 제 2 연결 부재(5100, 6100)를 제 1 및 제 2 체결 개구(2161, 2162), 제 3 및 제 4 체결 개구(3131, 4141) 밖으로 반출시키면, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)가 고정 본체(2000)로부터 분리된다.A method of separating the first and
이렇게, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)가 고정 본체(2000) 상에 체결될 때, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)의 체결 강도를 조절할 있다. 즉, 제 1 및 제 2 연결 부재(5100, 6100)의 회전량에 따라, 스프링 와셔의 텐션에 의해 상기 제 1 및 제 2 연결 부재(5100, 6100)의 상부(즉, 헤드)와 제 1 및 제 2 체결 부재(5200, 6200)와의 밀착 정도, 제 1 및 제 2 체결 부재(5200, 6200)와 고정 본체(2000) 일면(2100)의 밀착 정도가 조절되므로, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)의 체결 강도를 조절될 수 있다. In this way, when the first and
제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)의 체결 강도를 조절하는 것은, 고정 본체(2000) 상에 체결된 상태에서 상기 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)가 이동 가능하도록 하기 위함일 수 있다. 여기서, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)의 이동이란, 고정 본체(2000) 상에 체결된 상태에서 제 1 고정부(3000)와 제 2 고정부(4000)가 상호 가까워지거나 멀어지도록 수평 이동하는 동작, 제 1 및 제 2 체결부(5000, 6000)를 중심 축으로 하여 회전하는 동작일 수 있다.Adjusting the fastening strength of the first and
제 1 및 제 2 체결부(5000, 6000)는 상술한 예에 한정되지 않고, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000) 각각을 고정 본체(2000) 일면(2100) 상에 체결하거나, 분리시킬 수 있고, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)가 제 1 및 제 2 체결부(5000, 6000)에 체결된 상태에서 수평 이동 및 회전이 가능하도록 체결 강도를 조절할 수 있는 다양한 수단의 적용이 가능하다.The first and
기준대(7000)는 시료(S)의 관찰면(OF)이 초점면과 평행하도록 미리 조정하는 수단이다. 다른 말로 설명하면, 기준대(7000)는 시료 고정대(1000)가 재치대(120) 상에 안착되기 전에, 시료(S)의 관찰면(OF)이 초점면과 평행할 수 있도록 미리 조정하는 수단이다.The reference table 7000 is a means for adjusting in advance so that the observation surface OF of the sample S is parallel to the focal plane. In other words, the reference table 7000 is a means for adjusting in advance so that the observation surface OF of the sample S may be parallel to the focal plane before the
기준대(7000)는 면적을 가지는 가지는 판(plate) 형상일 수 있다. 기준대(7000)의 면적은 고정 본체(2000)의 면적에 비해 크도록 마련되는 것이 바람직하다.The reference table 7000 may have a plate shape having an area. It is preferable that the area of the reference table 7000 is provided to be larger than the area of the fixed
도 3을 참조하면, 기준대(7000)의 일측 표면(이하, 일면) 및 상기 일측 표면과 대향하는 또는 반대면인 타측 표면(이하, 이면) 각각은 높이차가 있는 단차가 마련된 형상이다. 이를 다른 말로 설명하면, 기준대(7000)의 일면은 제 1 홈부(7200)를 가지는 형상이고, 타면은 제 2 홈부(7400)를 가지는 형상이다.Referring to FIG. 3, each of one side surface (hereinafter, one surface) of the reference table 7000 and the other side surface (hereinafter, referred to as “rear surface”) opposite or opposite to the one side surface (hereinafter, referred to as “rear surface”) has a shape in which a step with a height difference is provided. In other words, one surface of the reference table 7000 has a shape having a
제 1 홈부(7200)가 마련되어 있는 기준대(7000)의 일면(7100)은, 제 1 홈부(7200)의 바닥면에 해당하며, 스테이지(180)의 일면(181)과 수평 또는 평행인 면인 제 1 면(7110), 제 1 면(7110)과 높이가 다르며, 상기 제 1 면(7110)과 평행인 면인 제 2 면(7120), 제 1 면(7110)으로부터 제 2 면(7120)으로 연장되어 상기 제 1 및 제 2 면(7110, 7120)과 직교하는 면인 제 3 면(7130)을 포함한다.One
여기서, 제 3 면(7130)은 제 1 면(7110)의 둘레 방향으로 연장된 면으로서, 측면(이하, 제 1 측면)으로 명명될 수 있다.Here, the
이에, 제 1 홈부(7200)는 일면 중 최 외각 표면인 제 2 면(7120)으로부터 내측 방향으로 함몰된 형상인 것으로 설명될 수 있다. 또한, 제 1 홈부(7200)는 제 1 면(7110)과 제 3 면(7130)에 의해 구획된 공간이며, 제 1 홈부(7200)의 외측에 위치하는 면이 제 2 면(7120)인 것으로 설명될 수 있다.Accordingly, the
이러한 제 1 홈부(7200)는 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)가 삽입 또는 수용이 가능한 제 1 홈(7210)을 포함한다.The
제 1 홈(7210)은 일 방향으로 연장 형성되며, 그 연장 길이는 제 1 고정부(3000)와 제 2 고정부(4000)의 길이의 합에 비해 짧도록 마련되는 것이 바람직하다. 그리고, 제 1 홈(7210)은 그 내부에 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)가 삽입될 수 있도록, 그 연장 방향과 교차하는 또는 직교하는 방향의 길이 즉, 폭이 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)의 폭에 비해 크도록 마련된다.The
또한, 제 1 홈부(7200)는 한 쌍의 제 2 홈(7220)을 더 포함할 수 있다.In addition, the
한 쌍의 제 2 홈(7220) 각각은 제 1 홈(7210)의 연장 방향과 교차하는 방향으로 연장 형성되고, 한 쌍의 제 2 홈(7220)은 제 1 홈(7210)의 폭 방향으로 나열 배치된다. 즉, 한 쌍의 제 2 홈(7220) 중 하나는 제 1 홈(7210)의 폭 방향 일측으로부터 외측으로 연장 형성되고, 다른 하나의 제 2 홈(7220)은 제 1 홈(7210)의 폭 방향 타측으로부터 외측으로 연장 형성된다. 이렇게 제 1 홈(7210)과 제 2 홈(7220)이 상호 교차하도록 연장 형성됨으로써, 제 1 홈부(7200)의 형상은 십자 형상일 수 있다.Each of the pair of
그리고, 한 쌍의 제 2 홈(7220) 각각의 폭은 제 1 홈(7210)과 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)의 폭에 비해 작거나 클 수 있으며, 시료(S)의 크기에 따라 달라질 수 있다. 또한, 한 쌍의 제 2 홈(7220) 각각의 폭은 고정 본체(2000)에 마련된 제 2 개구(2152)에 비해 크거나 작도록 마련될 수 있다.In addition, the width of each of the pair of
제 1 홈부(7200)의 깊이(t7200)(도 3 참조)는 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100)의 두께(t3100, t4100)(도 7의 (b) 참조)와 동일하거나, 크거나 작을 수 있다. 다른 말로 하면, 제 1 면(7110)과 제 2 면(7120) 사이의 이격 거리 또는 제 3 면(7130)의 상하 방향 길이(높이)가 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100)의 두께와 동일하거나, 크거나 작을 수 있다.The depth of the first groove portion 7200 (t 7200 ) (see FIG. 3) is the same as the thickness of the first and
제 1 면(7110)은 스테이지(180)의 일면(181)과 수평인 면으로서, 시료(S)의 관찰면(OF)이 제 1 면(7110)에 평행할 수 있도록 조정하는 면이다.The
따라서, 이하에서는 시료(S)의 관찰면(OF)이 평행이 되도록 조정하는 제 1 면(7110)을 제 1 조정면이라 명명하고, 제 1 면과 동일한 도면부호 '7110'를 사용하여 설명한다.Therefore, hereinafter, the
제 1 조정면(7110)은 상술한 바와 같이 스테이지(180)의 일면(181)과 수평인 면이다. 이에, 시료(S)의 관찰면(OF)이 제 1 조정면(7110)에 평행하게 조정되면, 시료(S)의 관찰면(OF)이 수평이 된다. 그리고, 제 1 조정면(7110)은 재치대(120)의 일면(121a) 및 스테이지(180)의 일면(181)과 평행이다. 이에, 시료(S)의 관찰면(OF)이 제 1 조정면(7110)에 평행하게 조정되면, 시료(S)가 재치대(120)에 안착되고, 재치대(120)가 스테이지(180) 상에 안착 되었을 때, 시료(S)의 관찰면(OF)이 재치대(120)의 일면(121a) 및 스테이지(180)의 일면(181)과 평행이 된다.The
따라서, 대물 렌즈(130)를 통해 시료(S)의 관찰면(OF)을 확대하였을 때, 초점면과 시료(S)의 관찰면(OF)이 평행하게 된다.Accordingly, when the observation surface OF of the sample S is enlarged through the
또한, 제 1 조정면(7110)은 제 2 면(7120)과 평행한다. 그리고, 시료 고정대(1000)가 기준대(7000) 상에 안착되었을 때, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100) 각각의 일면(3110, 3210), 제 1 및 제 2 돌출 부재(4100, 4200) 각각의 일면(3210, 4210)은 기준대(7000)의 제 1 조정면(7110)과 평행이다. 또한, 시료 고정대(1000)가 재치대(120) 상에 안착되었을 때, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100), 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200)는 재치대(120)의 일면(121a)과 평행이다.Further, the
제 2 면(7120)은 상술한 바와 같이 제 1 조정면(7110)와 평행이다. 그리고, 시료 고정대(1000)가 기준대(7000) 상에 안착되었을 때, 제 2 면(7120)과 고정 본체(2000)의 일면(2100)이 평행이며, 상호 접촉될 수 있다.The
이하에서는 기준대(7000)의 제 2 면(7120)을 제 1 안착면이라 명명하고, 동일한 도면부호 '7120'를 사용하여 설명한다.Hereinafter, the
도 5를 참조하면, 제 2 홈부(7400)가 마련되어 있는 기준대(7000)의 이면(7300)은, 제 2 홈부(7400)의 바닥면에 해당하며, 스테이지(180)의 일면(181)과 수평 또는 평행인 면인 제 4 면(7310), 제 4 면(7310)과 높이가 다르며, 상기 제 4 면(7310)과 평행인 면인 제 5 면(7320), 제 4 면(7310)으로부터 제 5 면(7320)으로 연장되어 상기 제 4 및 제 5 면(7310, 7320)과 직교하는 면인 제 6 면(7330)을 포함한다.Referring to FIG. 5, the
여기서, 제 6 면(7330)은 제 4 면(7310)의 둘레 방향으로 연장된 면으로서, 측면(이하, 제 1 측면)으로 명명될 수 있다.Here, the
그리고, 제 2 홈부(7400)는 이면 중 최 외각 표면인 제 5 면(7320)으로부터 내측 방향으로 함몰된 형상인 것으로 설명될 수 있다. 또한, 제 2 홈부(7400)는 제 4 면(7310)과 제 6 면(7330)에 의해 구획된 공간이며, 제 2 홈부(7400)의 외부에 위치하는 면이 제 5 면(7320)인 것으로 설명될 수 있다. In addition, the
제 2 홈부(7400)는 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)의 적어도 일부가 삽입 또는 수용이 가능한 제 3 홈(7410)을 포함한다.The
제 3 홈(7410)은 일 방향으로 연장 형성되며, 그 연장 길이는 제 1 고정부(3000)와 제 2 고정부(4000)의 길이의 합에 비해 짧도록 마련되는 것이 바람직하다. 그리고, 제 3 홈(7410)은 그 내부에 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)가 삽입될 수 있도록, 그 연장 방향과 교차하는 또는 직교하는 방향의 길이 즉, 폭이 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)의 폭에 비해 크도록 마련된다.The
또한, 제 2 홈부(7400)는 한 쌍의 제 4 홈(7420)을 더 포함할 수 있다.In addition, the
한 쌍의 제 4 홈(7420) 각각은 제 3 홈(7410)의 연장 방향과 교차하는 방향으로 연장 형성되고, 한 쌍의 제 4 홈(7420)은 제 3 홈(7410)의 폭 방향으로 나열 배치된다. 즉, 한 쌍의 제 4 홈(7420) 중 하나는 제 3 홈(7410)의 폭 방향 일측으로부터 외측으로 연장 형성되고, 다른 하나의 제 4 홈(7420)은 제 3 홈(7410)의 폭 방향 타측으로부터 외측으로 연장 형성된다. 이렇게 제 3 홈(7410)과 제 4 홈(7420)이 상호 교차하도록 연장 형성됨으로써, 제 2 홈부(7400)의 형상은 십자 형상일 수 있다.Each of the pair of
그리고, 한 쌍의 제 4 홈(7420) 각각의 폭은 제 3 홈(7410)과 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)의 폭에 비해 작거나 클 수 있으며, 시료(S)의 크기에 따라 달라질 수 있다. 또한, 한 쌍의 제 4 홈(7420) 각각의 폭은 고정 본체(2000)에 마련된 제 2 개구(2152)에 비해 크거나 작도록 마련될 수 있다.In addition, the width of each of the pair of
제 2 홈부(7400)의 깊이(t7400)는 돌출 부재(3200, 4200)의 두께(t3200, t4200)와 동일하거나 크거나 작을 수 있다(도 3 및 도11 참조). 다른 말로 하면, 제 4 면(7310)과 제 5 면(7320) 사이의 이격 거리 또는 제 6 면(7330)의 상하 방향 길이(높이)는 돌출 부재(3200, 4200)의 두께(t3200, t4200)와 동일하거나 크거나 작을 수 있다. The depth t 7400 of the
제 4 면(7310)은 스테이지(180)의 일면(181)과 수평인 면으로서, 시료(S)의 관찰면(OF)이 제 4 면(7310)에 평행할 수 있도록 조정하는 면이다.The
따라서, 이하에서는 시료(S)의 관찰면(OF)이 평행이 되도록 조정하는 제 4 면(7310)을 제 2 조정면이라 명명하고, 제 4 면과 동일한 도면부호 '7310'를 사용하여 설명한다.Therefore, hereinafter, the
제 2 조정면(7310)은 상술한 바와 같이 스테이지(180)의 일면(181)과 수평인 면이다. 이에, 시료(S)의 관찰면(OF)이 제 2 조정면(7310)에 평행하게 조정되면, 시료(S)의 관찰면(OF)이 스테이지(180)의 일면(181)과 수평이 된다. 그리고, 제 2 조정면(7310)은 재치대(120)의 일면(121a) 및 스테이지(180)의 일면(181)과 평행이다. 이에, 시료(S)의 관찰면(OF)이 제 2 조정면(7310)에 평행하게 조정되면, 시료(S)가 재치대(120)에 안착되고, 재치대(120)가 스테이지(180) 상에 안착 되었을 때, 시료(S)의 관찰면(OF)이 재치대(120)의 일면(121a) 및 스테이지(180)의 일면(181)과 평행이 된다.The
따라서, 대물 렌즈(130)를 통해 시료(S)의 관찰면(OF)을 확대하였을 때, 초점면과 시료(S)의 관찰면(OF)이 평행하게 된다.Accordingly, when the observation surface OF of the sample S is enlarged through the
또한, 제 2 조정면(7310)은 제 5 면(7320)과 평행한다. 그리고, 시료 고정대(1000)가 기준대(7000) 상에 안착되었을 때, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100) 각각의 일면(3110, 3210), 제 1 및 제 2 돌출 부재(4100, 4200) 각각의 일면(3210, 4210)은 기준대(7000)의 제 2 조정면(7310)과 평행이다. 또한, 시료 고정대(1000)가 재치대(120) 상에 안착되었을 때, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100), 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200)는 재치대(120)의 일면(121a)과 평행이다.Further, the
제 5 면(7320)은 상술한 바와 같이 제 2 조정면(7310)과 평행이다. 그리고, 시료 고정대(1000)가 기준대(7000) 상에 안착되었을 때, 제 5 면(7320)과 고정 본체(2000)의 일면(2100)이 평행이며, 상호 접촉될 수 있다.The
이하에서는 기준대(7000)의 제 5 면(7320)을 제 2 안착면이라 명명하고, 동일한 도면부호 '7320'를 사용하여 설명한다.Hereinafter, the
기준대(7000)에는 도 3에 도시된 바와 같이, 제 1 및 제 2 조정면(7110, 7310)이 상호 연통되도록 또는 관통하도록 홀(이하, 제 1 및 제 2 홀(7500, 7600))이 마련되는데, 이는 제 1 및 제 2 체결부(5000, 6000)의 적어도 일부가 삽입, 수용될 수 있는 홀이다. 제 1 홀(7500)과 제 2 홀(7600)은 제 1 체결 개구(2161)와 제 2 체결 개구(2162)의 나열 방향으로 나열되도록 마련된다. The reference table 7000 has holes (hereinafter, first and
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정 장치를 이용하여, 시료의 관찰면이 초점면에 대해 평행하도록 조정되는 과정을 개념적으로 도시한 도면이다.6 is a view conceptually showing a process of adjusting the observation surface of the specimen to be parallel to the focal plane by using the specimen fixing device according to an embodiment of the present invention.
이하, 도 6을 참조하여, 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정대 및 기준대를 이용하여 시료의 관찰면이 초점면과 평행하도록 조정되는 과정을 설명한다.Hereinafter, referring to FIG. 6, a process of adjusting the observation surface of a sample to be parallel to the focal plane using the sample holder and the reference table according to an embodiment of the present invention will be described.
여기서, 시료(S)는 일 방향으로 연장된 형상이고, 관찰면(OF)은 연장 방향으로 경사를 가지는 경사면이다. 보다 구체적인 예로 시료(S)는 그 관찰면(OF)이 X 축 방향으로 경사진 형상일 수 있다(도 2 및 도 6 참조).Here, the sample S has a shape extending in one direction, and the observation surface OF is an inclined surface having an inclination in the extending direction. As a more specific example, the sample S may have a shape in which the observation surface OF is inclined in the X-axis direction (see FIGS. 2 and 6 ).
먼저, 시료 고정대(1000)를 기준대(7000) 상부에 안착시키고, 제 1 고정부(3000)와 제 2 고정부(4000) 사이에 시료(S)를 삽입시킨다. 이때, 예를 들어, 고정 본체(2000)의 일면이 기준대(7000)의 제 1 조정면(7110)과 마주보도록 시료 고정대(1000)를 기준대(7000) 상부에 안착시킨다. 또한, 도 6의 (a)와 같이 시료(S)의 관찰면(OF)이 기준대(7000)의 제 1 조정면(7110)을 향하도록 제 1 고정부(3000)와 제 2 고정부(4000) 사이에 시료(S)를 삽입시킨다.First, the
제 1 고정부(3000)와 제 2 고정부(4000) 사이에 시료(S)를 삽입시킬 때, 시료(S)를 지지 또는 잡고 있는 힘을 해제하면, 중력에 의해 시료(S)가 제 1 조정면(7110)을 향해 소정 거리 이동 또는 낙하된다.When inserting the sample (S) between the first fixing part (3000) and the second fixing part (4000), when the force holding or holding the sample (S) is released, the sample (S) becomes the first It moves or falls a predetermined distance toward the
한편, 상술한 바와 같이 시료(S)의 관찰면(OF)을 시료(S)의 연장 방향으로 경사진 형태다. 이에, 시료(S)의 관찰면(OF)에 있어서, 일측 가장자리가 타측 가장자리에 비해 제 1 조정면(7110)과 가깝다.Meanwhile, as described above, the observation surface OF of the sample S is inclined in the extending direction of the sample S. Accordingly, in the observation surface OF of the sample S, one edge is closer to the
이에, 시료(S)가 제 1 조정면(7110)을 향해 낙하 또는 이동할 때, 일측 가장자리가 가장 먼저 제 1 조정면(7110)과 접촉하게 되며, 이에 시료(S)의 무게 중심이 타측 가장자리 방향으로 이동된다. 따라서, 관찰면(OF)이 일측 가장자리가 제 1 조정면(7110)과 접촉되면, 관찰면(경사면)의 경로 상에서 일 지점을 축으로 하여 회전하게 됨에 따라, 시료(S)의 관찰면(OF) 전체가 제 1 조정면(7110)과 접촉된다. 이러한 시료(S)의 동작은 예컨대 시소 동작과 유사할 수 있고, 시료의 요동, 유동 등으로 표현될 수 있다. Thus, when the specimen S falls or moves toward the
이렇게 시료(S)의 관찰면(OF)과 제 1 조정면(7110)이 접촉되면서, 도 6의 (b)의 실선과 같이 상기 관찰면(OF)이 제 1 조정면(7110)과 평행하게 된다. 그리고 관찰면(OF)과 반대면인 시료(S)의 이면은 제 1 조정면(7110)과 평행하지 못하고, 경사를 가지게 된다.As the observation surface OF of the specimen S and the
다음으로, 시료(S)가 유동 또는 이동되지 않도록 제 1 고정부(3000)와 제 2 고정부(4000)를 상호 가깝게 이동시켜, 시료(S)를 고정한다. 그리고, 시료 고정대(1000)를 기준대(7000)로부터 분리시킨 후, 시료 고정대(1000)를 재치대(120) 상에 안착시키고, 이 재치대(120)를 스테이지(180) 상에 안착시킨다. 이때, 도 6의 (c)와 같이 고정 본체(2000)의 일면(2100)이 대물 렌즈(130)를 향하도록 안착시킨다. 이에, 시료(S)의 관찰면(OF)이 대물 렌즈(130)와 마주보도록 배치된다.Next, the sample S is fixed by moving the
시료 고정대(1000)에 의해 지지되어 재치대(120) 상에 안착된 시료(S)는 그 관찰면(OF)이 상기 재치대(120)의 일면(121a) 및 스테이지(180)의 일면(181)과 평행한다. 이에, 관측자가 대물 렌즈(130)를 통해 시료(S)를 확대하면, 시료(S)의 관찰면(OF)이 초점면과 평행이 된다. 따라서, 관찰면의 초점을 맞추기가 용이하며, 이에 우수한 이미지를 얻을 수 있다.The sample S supported by the
한편, 시료의 관찰 방법은 투과 조명 관찰 방법 및 반사 조명 관찰 방법이 있다. 여기서, 투과 조명 관찰은 제 1 조광부(160a) 및 콘덴서를 통해 시료(S)의 이면 방향으로 광을 조사하여 관찰하는 방법이다. 또한, 반사 조명 관찰은 제 2 조광부(160b) 및 대물 렌즈(130)를 통해 시료(S)의 관찰면 방향으로 광을 조사하여 관찰하는 방법이다.On the other hand, the observation method of the sample includes a transmission illumination observation method and a reflection illumination observation method. Here, the transmission illumination observation is a method of irradiating light in the direction of the rear surface of the sample S through the
투과 조명 관찰에서 시료(S)의 관찰면(OF)과 콘덴서 사이의 이격 거리에 따라 획득되는 이미지의 품질이 달라진다. 그리고, 각각의 콘덴서는 양질의 이미지를 얻을 수 있는 고유의 작동 거리(working distance)를 가지고 있으며, 관찰면(OF)과 콘덴서 사이의 이격 거리가 작동 거리(working distance)가 되었을 때 양질의 이미지를 얻을 수 있다. 이에, 통상적으로 콘덴서를 승하강시켜 시료(S)의 관찰면(OF)과 콘덴서 사이의 이격 거리를 조절한다. 그런데 콘덴서의 높이 조절에는 한계가 있다.In transmission illumination observation, the quality of the acquired image varies according to the separation distance between the observation surface OF of the sample S and the condenser. And, each condenser has its own working distance to obtain a good quality image, and when the separation distance between the observation surface (OF) and the condenser becomes the working distance, a good image is obtained. You can get it. Accordingly, the condenser is usually raised and lowered to adjust the separation distance between the observation surface OF of the sample S and the condenser. However, there is a limit to adjusting the height of the capacitor.
본 발명의 실시예에 따른 시료 고정 장치에 의하면, 돌출 부재(3200, 4200) 보다 고정 부재(3100, 4100)의 두께가 얇아서 시료(S)의 관찰면(OF)과 콘덴서 사이의 이격 거리를 보다 짧게 조절할 수 있다. 돌출 부재(3200, 4200)는 작동거리가 짧은 일반 콘덴서로는 바람직한 작동 거리를 실현하기 어려울 수 있다.According to the sample fixing device according to the embodiment of the present invention, the thickness of the fixing
이를 위해, 본 발명의 실시예에서는 제 1 홈부(7200) 및 제 2 홈부(7400)를 가지도록 기준대(7000)를 마련하는데 있어서, 제 1 및 제 2 홈부(7200, 7400) 중 어느 하나의 깊이가 다른 하나에 비해 얕도록 마련한다.To this end, in the embodiment of the present invention, in providing the
예컨대, 제 1 홈부(7200)의 깊이(t7200)가 제 2 홈부(7400)에 비해 얕도록 마련한다. 즉, 제 1 안착면(7120)을 기준으로 내측으로 함몰된 바닥면인 제 1 조정면(7110)의 깊이가 제 2 안착면(7320)을 기준으로 내측으로 함몰된 바닥면인 제 2 조정면(7310)에 비해 얕도록 한다.For example, a depth t 7200 of the
또한, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000) 각각을 마련하는데 있어서, 고정 부재(3100, 4100)의 일단에 상기 고정 부재(3100, 4100)에 비해 두께(t3100, t4100)가 두꺼운 돌출 부재(3200, 4200)를 마련한다.In addition, in providing each of the first and
그리고, 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000)가 고정 본체(2000) 상에 체결된 상태에서 회전 가능하도록 한다. 이러한 회전 동작에 의해, 시료 고정대(1000)가 기준대(7000) 상에 안착되었을 때, 고정부(3000, 4000)의 고정 부재(3100, 4100) 및 돌출 부재(3200, 4200) 중 어느 하나가 조정면(7110, 7310)과 접촉된다.In addition, the first and
그리고, 기준대(7000)를 이용하여 시료(S)의 관찰면(OF)을 조정면(7110, 7310)과 평행하도록 조정할 때, 선택되는 홈부의 종류(제 1 홈부(7200) 또는 제 2 홈부(7400)) 및 제 1 및 제 2 고정부(3000, 4000) 각각에서 조정면(7110, 7310)과 접촉되는 부위에 따라, 시료(S)가 조정면(7110, 7310)을 향해 낙하 또는 이동하는 거리가 달라진다.And, when adjusting the observation surface (OF) of the sample (S) parallel to the adjustment surfaces (7110, 7310) using the reference table (7000), the selected groove type (first groove (7200) or second groove ( (7400)) and the first and second fixing parts (3000, 4000), respectively, depending on the portion in contact with the adjustment surfaces (7110, 7310), the specimen (S) is dropped or moved toward the adjustment surfaces (7110, 7310) The distance to do is different.
예컨대, 고정 부재(3100, 4100)가 제 1 조정면에 접촉되도록 한 상태에서, 시료(S) 관찰면(OF)을 제 1 조정면(7110)과 접촉시켜 수평도를 조정하였을 때 시료(S) 관찰면(OF)과 콘덴서 간의 이격 거리가 돌출 부재(3200, 4200)가 제 1 조정면(7110)에 접촉되도록 한 상태에서 시료(S) 관찰면(OF)을 제 1 조정면(7110)과 접촉시켜 수평을 조정하였을 때에 비해 상대적으로 가깝다.For example, in a state in which the fixing
이에, 제 1 고정 부재(3100)의 타단과 제 2 고정 부재(4100) 타단 사이에 시료(S)를 위치시키고, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100) 각각이 제 1 홈부(7200) 내로 삽입되어 제 1 조정면(7110)과 접촉되도록 하는 것이 투과 조명 관찰에 유리하다.Accordingly, the sample S is positioned between the other end of the
도 7 및 도 8은 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정 장치를 이용하여 시료를 재치대에 안착시키는 과정을 나타낸 도면이다. 여기서, 도 7 및 도 8은 제 1 고정 부재의 타단과 제 2 고정 부재 타단 사이에 시료를 삽입시키고, 기준대의 제 1 조정면을 이용하여 시료(S)의 관찰면(OF)을 초점면과 평행하도록 조정하는 방법을 설명하는 도면이다.7 and 8 are views showing a process of mounting a sample on a mounting table using a sample fixing device according to an embodiment of the present invention. Here, FIGS. 7 and 8 show that a sample is inserted between the other end of the first fixing member and the other end of the second fixing member, and the observation surface OF of the sample S is connected to the focal plane by using the first adjustment surface of the reference table. It is a figure explaining the method of adjusting so that it is parallel.
이하, 도 7 및 도 8을 참조하여, 시료(S)의 관찰면(OF)을 초점면과 평행하도록 조정하는 방법을 설명한다.Hereinafter, a method of adjusting the observation surface OF of the sample S to be parallel to the focal plane will be described with reference to FIGS. 7 and 8.
시료(S)는 관찰면(OF)이 스테이지(180)의 일면(181)과 수평이 아닌 경사를 가지는 시료이다. 보다 구체적으로, 시료(S)는 일 방향으로 연장된 형상이고, 관찰면(OF)은 연장 방향 즉, X 축 방향으로 경사를 가지는 경사면이다.The sample S is a sample in which the observation surface OF has an inclination that is not horizontal to the one
먼저, 제 1 고정 부재(3100)의 타단과 제 2 고정 부재(4100)의 타단이 마주 보도록 한 상태에서, 도 7과 같이 시료 고정대(1000)를 기준대(7000) 상에 안착시킨다. 이때, 고정 본체(2000)의 일면(2100)이 기준대(7000)의 제 1 안착면(7120)과 마주보고, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100)가 제 1 홈(7210)에 수용되도록 한다. First, in a state in which the other end of the
이때, 고정 본체(2000) 일면(2100)이 기준대(7000)의 제 1 안착면(7120)과 접촉되도록 안착되면, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100) 각각의 일면(3110, 4110)이 제 1 조정면(7110) 접촉된다. 또한 이때, 고정 본체(2000) 일면(2100)이 기준대(7000)의 제 1 안착면(7120)과 평행하고, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100) 각각의 일면(3110, 4110)이 제 1 조정면(7110)과 평행한다.At this time, when one
이어서, 제 1 고정 부재(3100)의 타단과 제 2 고정 부재(4100)의 타단 사이에 시료(S)를 삽입시킨다. 이를 위해, 제 1 고정 부재(3100)의 타단과 제 2 고정 부재(4100)의 타단 사이에 소정의 공간이 마련되도록 한다. 그리고, 예컨대 핀셋과 같은 수단을 이용하여 시료(S)를 지지 또는 파지하여 시료를 제 1 고정 부재(3100)의 타단과 제 2 고정 부재(4100)의 타단 사이로 삽입시킨다. 이때, 기준대(7000)의 제 1 조정면(7110)을 향하는 면이 관찰면(OF)이 되도록, 시료를 제 1 고정 부재(3100)의 타단과 제 2 고정 부재(4100)의 타단 사이에 삽입시킨다.Subsequently, the sample S is inserted between the other end of the
이후, 핀셋 등과 같은 지지 수단의 지지력을 해제하면, 시료(S)의 관찰면(OF)이 기준대(7000)의 제 1 조정면(7110)을 향해 이동 또는 소정거리 낙하한다. 이때, 관찰면(경사면)의 경로 상에서 일 지점을 축으로 하여 회전하게 됨에 따라, 시료(S)의 관찰면(OF) 전체가 제 1 조정면(7110)과 접촉된다.Thereafter, when the holding force of the support means such as tweezers is released, the observation surface OF of the specimen S moves toward the
이로 인해, 도 7의 (b) 및 도 7의 (c)와 같이 관찰면(OF)이 제 1 조정면(7110)과 평행하게 되고, 관찰면(OF)과 반대면인 시료(S)의 이면은 제 1 조정면(7110)과 평행하지 못하고, 경사를 가지게 된다.As a result, the observation surface OF becomes parallel to the
다음으로, 시료(S)가 유동 또는 이동되지 않도록 제 1 고정부(3000)와 제 2 고정부(4000)를 상호 가깝게 이동시켜, 시료(S)를 지지, 고정한다. 즉, 제 1 고정 부재(3100)의 타단이 시료(S)의 일측면과 접촉되고, 제 2 고정 부재(4100)의 타단이 시료(S)의 타측면과 접촉되도록, 제 1 고정부(3000)와 제 2 고정부(4000)를 상호 가깝게 이동시킨다.Next, the
그리고, 시료 고정대(1000)를 기준대(7000)로부터 분리시킨 후, 도 8과 같이 시료 고정대(1000)를 재치대(120) 상에 안착시킨다. 그리고, 도 1과 같이 재치대(120)를 스테이지(180) 상에 안착, 고정시킨다. 이때, 고정 본체(2000)의 일면(2100)이 대물 렌즈(130)를 향하도록 재치대(120)를 스테이지(180) 상에 안착시킨다. 이에, 시료(S)의 관찰면(OF)이 대물 렌즈(130)와 마주보도록 배치된다. 그리고, 시료(S)의 관찰면(OF)은 재치대(120)의 일면(121a) 및 스테이지(180)의 일면(181)과 평행하게 된다.Then, after separating the
따라서, 관측자가 대물 렌즈(130)를 통해 시료(S)를 확대하였을 때, 시료(S)의 관찰면(OF)이 초점면과 평행이다. 이에, 관찰면(OF) 전체에 대한 초점이 맞춰져, 관찰면(OF)에 대한 우수한 이미지를 얻을 수 있다.Therefore, when the observer enlarges the sample S through the
상기 도 7 및 도 8에서는 제 1 고정 부재(3100)의 타단과 제 2 고정 부재(4100) 사이에 시료(S)를 지지시키고, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100)가 제 1 홈부(7200) 내에 수용되어, 제 1 조정면(7110)과 접촉되도록 시료 고정대(1000)를 기준대(7000) 상에 안착시켰다.7 and 8, the sample S is supported between the other end of the
하지만 이에 한정되지 않았지만, 제 1 돌출 부재(3200)와 제 2 돌출 부재(4200) 사이에 시료(S)를 지지시키고, 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200)가 제 1 홈부(7200) 내에 수용되어 제 1 조정면(7110)과 접촉되도록 시료 고정대(1000)를 기준대(7000) 상에 안착시킬 수 있다. 이때, 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200) 각각의 일면(3210, 4210) 각각은 제 1 조정면(7110)과 평행이다. 그리고 이때, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100) 각각의 일면(3110, 4110)은 제 1 조정면(7110)과 이격될 수 있다.However, although not limited thereto, the sample S is supported between the first protruding
또한, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100) 어느 하나의 타단과 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200) 중 어느 하나 사이에 시료(S)를 지지시키고, 시료(S)를 지지시킨 돌출 부재와 고정 부재의 타단이 제 1 홈부(7200) 내에 수용되도록 시료 고정대(1000)를 기준대(7000) 상에 안착시킬 수도 있다.In addition, the sample (S) is supported between the other end of any one of the first and second fixing members (3100, 4100) and any one of the first and second protruding members (3200, 4200), and the sample (S) is supported. The
도 9 및 도 10은 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정 장치를 이용하여 시료를 재치대에 안착시키는 과정을 나타낸 도면이다. 여기서, 도 9 및 도 10은 제 1 돌출 부재의 타단과 제 2 돌출 부재 타단 사이에 시료를 삽입시키고, 기준대의 제 2 조정면을 이용하여 시료(S)의 관찰면(OF)을 초점면과 평행하도록 조정하는 방법을 설명하는 도면이다.9 and 10 are views showing a process of mounting a sample on a mounting table using a sample fixing device according to an embodiment of the present invention. Here, in FIGS. 9 and 10, a sample is inserted between the other end of the first protruding member and the other end of the second protruding member, and the observation surface OF of the sample S is placed between the focal plane and It is a figure explaining the method of adjusting so that it is parallel.
이하, 도 9 및 도 10을 참조하여, 시료(S)의 관찰면(OF)을 초점면과 평행하도록 조정하는 방법을 설명한다.Hereinafter, a method of adjusting the observation surface OF of the sample S to be parallel to the focal plane will be described with reference to FIGS. 9 and 10.
이때, 위에서 상술한 제 1 조정면(7110)을 이용하여 시료(S)의 관찰면(OF)을 초점면과 평행하도록 조정하는 방법과 중복되는 내용은 일부 생략하거나, 간략히 설명한다.In this case, a method of adjusting the observation surface OF of the specimen S to be parallel to the focal plane using the above-described
시료(S)는 관찰면(OF)이 스테이지(180)의 일면(181)과 수평이 아닌 경사를 가지는 시료이다. 보다 구체적으로, 시료(S)는 일 방향으로 연장된 형상이고, 관찰면(OF)은 연장 방향 즉, X 축 방향으로 경사를 가지는 경사면이다.The sample S is a sample in which the observation surface OF has an inclination that is not horizontal to the one
먼저, 제 1 돌출 부재(3200)와 제 2 돌출 부재(4200)가 마주 보도록 한 상태에서, 도 9와 같이 시료 고정대(1000)를 기준대(7000) 상에 안착시킨다. 이때, 고정 본체(2000)의 일면(2100)이 기준대(7000)의 제 2 안착면(7320)과 접촉되도록 안착되면, 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200)의 일면(3210, 4210)이 제 2 조정면(7310)과 접촉되게 안착될 수 있다. 또한, 이때 고정 본체(2000)의 일면(2100)은 기준대(7000)의 제 2 안착면(7320)과 평행하고, 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200)의 일면(3210, 4210)이 제 2 조정면(7310)과 평행한다.First, with the first protruding
이어서, 제 1 돌출 부재(3200)와 제 2 돌출 부재(4200) 사이에 공간을 마련하고, 상기 공간에 시료가 위치되도록 삽입시킨다. 이때, 예를 들어 핀셋과 같은 수단을 이용하여 시료(S)를 지지 또는 파지하고, 기준대(7000)의 제 2 조정면(7310)을 향하는 면이 관찰면(OF)이 되도록, 시료(S)를 제 1 돌출 부재(3200)와 제 2 돌출 부재(4200) 사이에 삽입시킨다.Subsequently, a space is provided between the first protruding
이후, 핀셋 등과 같은 지지 수단의 지지력을 해제하면, 시료(S)의 관찰면(OF)이 기준대(7000)의 제 2 조정면(7310)을 향해 이동 또는 소정거리 낙하한다. 이때, 관찰면(경사면)의 경로 상에서 일 지점을 축으로 하여 회전하게 됨에 따라, 시료(S)의 관찰면(OF) 전체가 제 2 조정면(7310)과 접촉된다.Thereafter, when the holding force of the support means such as tweezers is released, the observation surface OF of the specimen S moves toward the
이로 인해, 도 8의 (b) 및 (c)와 같이 관찰면(OF)이 제 2 조정면(7310)과 평행하게 되고, 관찰면(OF)과 반대면인 시료(S)의 이면은 제 2 조정면(7310)과 평행하지 못하고, 경사를 가지게 된다.As a result, as shown in (b) and (c) of FIG. 8, the observation surface OF becomes parallel to the
다음으로, 시료(S)가 유동 또는 이동되지 않도록 제 1 고정부(3000)와 제 2 고정부(4000)를 상호 가깝게 이동시켜, 시료(S)를 지지, 고정한다. 즉, 제 1 돌출 부재(3200)가 시료(S)의 일측면과 접촉되고, 제 2 돌출 부재(4200)가 시료(S)의 타측면과 접촉되도록, 제 1 고정부(3000)와 제 2 고정부(4000)를 상호 가깝게 이동시킨다.Next, the
그리고, 시료 고정대(1000)를 기준대(7000)로부터 분리시킨 후, 도 9와 같이 시료 고정대(1000)를 재치대(120) 상에 안착시킨다. 그리고, 도 1과 같이 재치대(120)를 스테이지(180) 상에 안착, 고정시킨다. 이때, 고정 본체(2000)의 일면(2100)이 대물 렌즈(130)를 향하도록 재치대(120)를 스테이지(180) 상에 안착시킨다. 이에, 시료(S)의 관찰면(OF)이 대물 렌즈(130)와 마주보도록 배치된다. 그리고, 시료(S)의 관찰면(OF)은 재치대(120)의 일면(121a) 및 스테이지(180)의 일면(181)과 평행하게 된다.Then, after separating the
따라서, 관측자가 대물 렌즈(130)를 통해 시료(S)를 확대하였을 때, 시료(S)의 관찰면(OF)이 초점면과 평행이다. 이에, 관찰면(OF) 전체에 대한 초점이 맞춰져, 관찰면(OF)에 대한 우수한 이미지를 얻을 수 있다.Therefore, when the observer enlarges the sample S through the
상기 도 9 및 도 10에서는 제 1 돌출 부재(3200)와 제 2 돌출 부재(4200) 사이에 시료(S)를 지지시키고, 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200)가 제 2 홈부(7200) 내에 수용되어, 제 2 조정면(7310)과 접촉되도록 시료 고정대(1000)를 기준대(7000) 상에 안착시켰다.9 and 10, the sample S is supported between the first protruding
하지만 이에 한정되지 않고, 제 1 고정 부재(3100)의 타단과 제 2 고정 부재(3200) 타단 사이에 시료(S)를 지지시키고, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100)가 제 2 홈부(7200) 내에 수용되어, 제 2 조정면(7310)과 접촉되도록 시료 고정대(1000)를 기준대(7000) 상에 안착시킬 수도 있다.However, the present invention is not limited thereto, and the sample S is supported between the other end of the
또한, 제 1 및 제 2 고정 부재(3100, 4100) 중 어느 하나의 타단과 제 1 및 제 2 돌출 부재(3200, 4200) 중 어느 하나 사이에 시료(S)를 지지시키고, 시료(S)를 지지시킨 돌출 부재와 고정 부재의 타단이 제 2 홈부(7400) 내에 수용되도록 시료 고정대(1000)를 기준대(7000) 상에 안착시킬 수도 있다.In addition, the sample S is supported between the other end of any one of the first and
이와 같이, 본 발명의 실시 형태에 따른 시료 고정 장치에 의하면, 관찰면(OF)이 수평 아닌 경사면이더라도, 시료(S)의 관찰면(OF)이 수평이 되도록, 또는 스테이지(180)의 일면(181)과 평행하도록 조정할 수 있다. 이에, 대물 렌즈(130)로 시료(S)의 관찰면(OF)을 확대하였을 때, 관찰면(OF)이 초점면과 평행할 수 있다.As described above, according to the sample fixing device according to the embodiment of the present invention, even if the observation surface OF is a non-horizontal inclined surface, the observation surface OF of the sample S is horizontal, or one surface of the stage 180 ( 181) can be adjusted to be parallel. Accordingly, when the observation surface OF of the sample S is enlarged with the
이에, 도 11의 (a)와 같이 관찰면이 초점면과 평행하지 않은 비교예는 대물 렌즈(130)를 통해 고배율로 확대할 때, 관찰면 일부에서만 초점이 맞지만, 도 11의 (b)와 같이 본 발명의 실시예에 따른 방법으로 관찰면이 초점면과 평행하도록 조정한 실시예는 대물 렌즈(130)를 통해 고배율로 확대할 때 관찰면 전체에 있어서 초점이 맞는 것을 확인할 수 있다.Accordingly, in the comparative example in which the observation surface is not parallel to the focal plane as shown in (a) of FIG. 11, when magnifying at a high magnification through the
따라서, 본 발명의 실시예에 따른 시료 고정 장치(B)에 의하면, 관찰면(OF)이 스테이지(180)와 수평이 아니더라도, 상기 관찰면(OF)을 초점면과 평행하도록 조정할 수 있다. 이에, 관찰면(OF)에 대한 초점을 맞출 수 있어, 관찰면(OF)에 대한 양질의 이미지를 얻을 수 있다.Accordingly, according to the specimen fixing device B according to the exemplary embodiment of the present invention, even if the observation surface OF is not horizontal to the
A: 현미경 B: 시료 고정 장치
120: 재치대 130: 대물 렌즈
160: 접안 렌즈 1000: 시료 고정대
2000: 고정 본체 3000: 제 1 고정부
4000: 제 2 고정부 7000: 기준대
7110: 제 1 조정면 7200: 제 1 홈부
7310: 제 2 조정면 7400: 제 2 홈부A: Microscope B: Sample holding device
120: mounting table 130: objective lens
160: eyepiece 1000: sample holder
2000: fixed body 3000: first fixed portion
4000: second fixing part 7000: reference table
7110: first adjustment surface 7200: first groove
7310: second adjustment surface 7400: second groove
Claims (14)
상기 시료의 관찰면의 수평도를 조정하도록, 일면에 내측으로 함몰되어 일측이 개구된 형상이며, 상기 시료의 수용이 가능한 제 1 홈부가 마련된 기준대;
를 포함하고,
상기 기준대의 일면은 상기 제 1 홈부의 개구와 마주보는 면이며, 수평인 면인 제 1 조정면을 포함하며,
상기 시료 고정대는,
상기 기준대의 제 1 조정면과 평행하는 일면을 가지고, 상기 시료가 통과하는 개구부를 가지는 고정 본체; 및
사이에 시료가 위치되도록 상호 마주하게 배치되며, 상기 고정 본체의 일면 상에 체결되거나, 분리 가능한 제 1 및 제 2 고정부;
를 포함하는 시료 고정 장치.A sample holder capable of supporting a sample and seated on a mounting table of the microscope; And
A reference table having a shape that is recessed inward on one surface and opened at one side to adjust the horizontality of the observation surface of the sample, and provided with a first groove capable of accommodating the sample;
Including,
One surface of the reference base is a surface facing the opening of the first groove and includes a first adjustment surface that is a horizontal surface,
The sample holder,
A fixed body having one surface parallel to the first adjustment surface of the reference table and having an opening through which the sample passes; And
First and second fixing portions disposed to face each other so that the sample is positioned therebetween, and fastened or detachable on one surface of the fixed body;
Sample holding device comprising a.
상기 시료 고정대는, 상기 시료의 관찰면이 상기 제 1 홈부에 삽입되도록 상기 기준대 상에 안착 가능하고,
상기 재치대는 상기 현미경의 대물 렌즈와 마주보게 설치된 스테이지 상에 안착 가능한 시료 고정 장치.The method according to claim 1,
The sample holder may be mounted on the reference table so that the observation surface of the sample is inserted into the first groove,
The mounting table is a sample fixing device that can be seated on a stage installed to face the objective lens of the microscope.
상기 기준대의 일면은,
상기 제 1 조정면과 높이가 다르며 평행이고, 상기 제 1 홈부의 외측에 위치하는 제 1 안착면을 포함하는 시료 고정 장치.The method according to claim 2,
One side of the reference band,
A sample fixing device comprising a first seating surface that is different in height from the first adjustment surface and is parallel to the first adjustment surface, and is located outside the first groove.
상기 기준대의 상기 일면과 반대면인 이면에는, 상기 시료의 관찰면의 수평도를 조정하도록, 내측으로 함몰되어 일측이 개구된 형상이며, 상기 시료의 수용이 가능한 제 2 홈부가 마련되며,
상기 기준대의 이면은 상기 제 2 홈부의 개구와 마주보는 면이며, 수평인 면인 제 2 조정면을 포함하고,
상기 제 1 홈부의 깊이가 상기 제 2 홈부의 깊이에 비해 작은 시료 고정 장치.The method according to claim 2,
On the rear surface opposite to the one surface of the reference table, a second groove portion is provided with a shape that is recessed inward and one side is open to adjust the horizontality of the observation surface of the sample, and a second groove capable of accommodating the sample is provided,
The rear surface of the reference base is a surface facing the opening of the second groove and includes a second adjustment surface that is a horizontal surface,
A sample fixing device in which the depth of the first groove is smaller than that of the second groove.
상기 고정 본체의 일면은 상기 제 2 조정면과 평행하는 시료 고정 장치.The method of claim 4,
One surface of the fixed body is a sample holding device parallel to the second adjustment surface.
상기 제 1 고정부는,
상기 고정 본체의 연장 방향으로 연장 형성된 제 1 고정 부재; 및
상기 제 1 고정 부재의 연장 방향의 일단으로부터 상기 제 1 고정 부재의 연장 방향과 교차하는 방향으로 돌출 형성된 제 1 돌출 부재;
를 포함하고,
상기 제 2 고정부는,
상기 제 1 고정 부재의 연장 방향으로 연장 형성된 제 2 고정 부재; 및
상기 제 2 고정 부재의 연장 방향의 일단으로부터 돌출 형성된 제 2 돌출 부재;
를 포함하는 시료 고정 장치.The method of claim 5,
The first fixing part,
A first fixing member extending in an extension direction of the fixing body; And
A first protruding member protruding from one end of the first fixing member in a direction crossing the extending direction of the first fixing member;
Including,
The second fixing part,
A second fixing member extending in an extension direction of the first fixing member; And
A second protruding member protruding from one end of the second fixing member in the extending direction;
Sample holding device comprising a.
상기 제 1 및 제 2 고정 부재 각각의 일면은 상기 제 1 및 제 2 조정면 중 적어도 하나와 평행인 시료 고정 장치.The method of claim 6,
One surface of each of the first and second fixing members is parallel to at least one of the first and second adjustment surfaces.
상기 제 1 고정부는 상기 고정 본체와 상기 제 1 고정 부재를 착탈 가능하게 하는 제 1 체결부를 포함하고,
상기 제 2 고정부는 상기 고정 본체와 상기 제 2 고정 부재를 착탈 가능하게 하는 제 2 체결부를 포함하는 시료 고정 장치.The method of claim 7,
The first fixing part includes a first fastening part for attaching and detaching the fixing body and the first fixing member,
The sample fixing device including a second fastening part that allows the second fixing part to attach and detach the fixing body and the second fixing member.
상기 시료의 관찰면이 상기 기준대의 조정면과 마주보도록, 상기 제 1 고정부와 제 2 고정부 사이에 시료를 삽입시키는 과정;
상기 시료의 관찰면을 상기 조정면에 접촉시켜, 수평도를 조정하는 과정; 및
상기 시료를 지지하고 있는 상기 시료 고정대를 상기 기준대로부터 분리시키는 과정;
을 포함하는 시료의 재치 방법.Mounting a sample holder having first and second fixing portions arranged to face each other on a reference table;
Inserting a sample between the first fixing part and the second fixing part so that the observation surface of the sample faces the adjustment surface of the reference table;
Adjusting the horizontality by bringing the observation surface of the sample into contact with the adjustment surface; And
Separating the sample holder supporting the sample from the reference table;
Method of placing the sample comprising a.
상기 시료의 관찰면을 상기 조정면에 접촉시켜, 상기 시료의 관찰면이 상기 조정면의 수평도에 맞추어지도록 시료를 요동시키는 과정을 포함하는 시료의 재치 방법.The method of claim 9,
And bringing the observation surface of the sample into contact with the adjustment surface, and shaking the sample so that the observation surface of the sample aligns with the horizontality of the adjustment surface.
상기 제 1 고정부와 제 2 고정부 사이에 시료를 삽입시키는데 있어서,
개구부가 마련된 고정 본체의 일면 상에 체결된 상기 제 1 고정부와 제 2 고정부 사이에 상기 시료를 삽입하며,
상기 시료를 상기 고정 본체의 개구부로 통과시켜, 상기 제 1 고정부와 제 2 고정부 사이로 삽입시키는 시료의 재치 방법.The method of claim 10,
In inserting a sample between the first fixing part and the second fixing part,
Inserting the sample between the first fixing portion and the second fixing portion fastened on one surface of the fixed body provided with an opening,
A method for placing a sample in which the sample is passed through an opening of the fixed body and inserted between the first fixing part and the second fixing part.
상기 기준대로부터 분리된 상기 시료 고정대를 재치대 상에 안착시키는 과정;
상기 시료의 관찰면이 현미경의 대물 렌즈와 마주보도록, 상기 재치대를 상기 대물 렌즈와 대향 배치된 스테이지 상에 안착시키는 과정;
을 포함하는 시료의 재치 방법.The method according to any one of claims 9 to 11,
Placing the sample holder separated from the reference table on a mounting table;
Mounting the mounting table on a stage disposed opposite the objective lens so that the observation surface of the sample faces the objective lens of the microscope;
Method of placing the sample comprising a.
상기 시료 고정대를 재치대 상에 안착 시키는데 있어서,
상기 기준대 상에 안착된 상기 시료 고정대를 반전시켜, 상기 재치대 상에 안착시키는 시료의 재치 방법.The method of claim 12,
In placing the sample holder on the mounting table,
A method of placing a sample in which the sample holder mounted on the reference table is inverted and placed on the placing table.
상기 시료의 관찰면이 현미경의 대물 렌즈와 마주보도록, 상기 재치대를 스테이지 상에 안착 시키면, 상기 시료의 관찰면이 상기 대물 렌즈에 의한 초점면과 평행인 시료의 재치 방법.The method of claim 13,
When the mounting table is mounted on a stage so that the observation surface of the sample faces the objective lens of the microscope, the observation surface of the sample is parallel to the focal plane by the objective lens.
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101900416B1 (en) | 2018-06-05 | 2018-09-28 | 대한민국 | Chamber For Controlling an Angle of Glass Slides in Microscope |
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Family Cites Families (5)
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019003732A (en) * | 2017-06-12 | 2019-01-10 | 日本電子株式会社 | Specimen holder system and specimen observation device |
KR101900416B1 (en) | 2018-06-05 | 2018-09-28 | 대한민국 | Chamber For Controlling an Angle of Glass Slides in Microscope |
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