KR102208806B1 - 보호계전기 시험 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 보호계전기 시험 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 보호계전기 시험 장치는 보호계전기의 성능을 나타내는 N개의 성능 데이터 중에서 N과 같거나 N보다 작은 M개의 시험 데이터를 선별하는 선별부, 상기 M개의 시험 데이터를 이용하여 MD(Mahalanobis Distance)값을 연산하는 연산부, 상기 MD값을 미리 설정된 기준값과 비교하여 상기 보호계전기의 정상 여부를 판단하는 판단부 및 상기 판단부에 의해 상기 보호계전기가 비정상이라고 판단되면 상기 보호계전기가 비정상인 원인을 진단하는 진단부를 포함할 수 있다.

Description

보호계전기 시험 장치{PROTECTIVE RELAY TEST APPARATUS}
본 발명은 보호계전기 시험 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게 본 발명은 연산부에서 M개의 시험 데이터를 이용하여 MD값을 연산하고, 판단부에서 MD값을 이용하여 보호계전기의 정상 여부를 판단하는 보호계전기 시험 장치에 관한 것이다.
보호계전기는 발전소, 변전소 등의 주요 설비를 전기적으로 감시하고 보호하는 기기이다. 이러한 보호계전기는 주요 설비의 전압, 전류 등을 계측하여 고장검출 및 차단신호 송출을 함으로써 주요 설비를 보호한다. 따라서 발전소, 변전소 등의 주요 설비를 보호하기 위하여는 보호계전기가 정상적으로 동작해야 한다.
도 1은 종래 기술에 따른 보호계전기를 나타낸 블록도이다.
도 1을 참조하면, 종래 기술에 따른 보호계전기(100)는 최고치 출력부(110), 제1 비교부(120), 제2 비교부(130), 제3 비교부(140) 및 차단부(150)를 포함한다.
최고치 출력부(110)는 주요 설비의 전류값을 계측한 결과인 제1 전류값(111), 제2 전류값(112) 및 제3 전류값(113)을 수신하고, 그 중에서 최고치를 제1 비교부(120) 및 제2 비교부(130)로 출력한다.
제1 비교부(120)는 사용자로부터 입력된 순시 동작치(121)와 최고치 출력부(110)로부터 출력된 전류값을 비교하여, 순시 동작치(121)보다 최고치 출력부(110)로부터 출력된 전류값이 크면, 제1 사고감지 신호(122) 및 제1 사고확정 신호(123)를 차단부(150)로 출력한다.
제2 비교부(130)는 사용자로부터 입력된 한시 동작치(131)와 최고치 출력부(110)로부터 출력된 전류값을 비교하여, 한시 동작치(131)보다 최고치 출력부(110)로부터 출력된 전류값이 크면, 제2 사고감지 신호(132)를 차단부(150)로 출력하고, 제3 비교부(140)로 이상 신호를 출력한다.
제3 비교부(140)는 사용자로부터 입력된 기준 지속시간(141)과 제2 비교부(130)로부터 이상 신호가 수신되는 시간을 비교하여, 기준 지속시간(141)보다 제2 비교부(130)로부터 이상 신호가 수신되는 시간이 길면, 제2 사고확정 신호(142)를 차단부(150)로 출력한다.
차단부(150)는 제1 사고확정 신호(123) 또는 제2 사고확정 신호(142)가 감지되면, 사용자에 의해 설정된 로직에 따라 차단기 동작신호(151)를 출력한다.
종래에는 이와 같은 보호계전기(100)가 정상적으로 동작하는지 확인하기 위하여 동작치, 동작시간, 복귀치, 복귀시간 등의 데이터를 검출한 후, 데이터들 각각이 정상 범위 이내 있는지를 판단한다. 그러나 보호계전기(100)의 기능이 늘어나면서, 보호계전기(100)가 정상적으로 동작하는지 판단하기 위해 시험해야 하는 항목들도 증가한다. 또한, 보호계전기(100)의 여러 가지 기능이 복합적으로 동작하는 상황도 발생한다.
이와 같은 환경에서 종래의 보호계전기(100)가 정상적으로 동작하는지 확인하는 방법을 이용하면, 대부분의 시험 데이터들이 정상 범위의 경계에 있더라도 각각의 값들이 정상 범위 이내에 있으면 보호계전기를 정상으로 판단한다. 따라서 각각의 기능이 단독으로 동작하는 상황에서는 발생하지 않던 오류가 각각의 기능이 복합적으로 동작하는 상황에서는 발생한다. 또한 이러한 원인으로 인하여 보호계전기의 신뢰도가 하락하게 된다.
본 발명의 목적은 보호계전기가 정상적으로 동작하는지 여부를 보다 정확하게 판단하는 보호계전기 시험 장치를 제공하는 것이다.
또한 본 발명의 목적은 보호계전기의 여러 기능이 복합적으로 동작하는 상황에서도 보호계전기가 정상적으로 동작하는지 여부를 정확하게 판단하는 보호계전기 시험 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있고, 본 발명의 실시예에 의해 보다 분명하게 이해될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허 청구 범위에 나타낸 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.
본 발명에 따른 보호계전기 시험 장치는 보호계전기의 성능을 나타내는 N개의 성능 데이터 중에서 N과 같거나 N보다 작은 M개의 시험 데이터를 선별하는 선별부, 상기 M개의 시험 데이터를 이용하여 MD(Mahalanobis Distance)값을 연산하는 연산부, 상기 MD값을 미리 설정된 기준값과 비교하여 상기 보호계전기의 정상 여부를 판단하는 판단부 및 상기 판단부에 의해 상기 보호계전기가 비정상이라고 판단되면 상기 보호계전기가 비정상인 원인을 진단하는 진단부를 포함할 수 있다.
또한 본 발명에 따른 보호계전기 시험 장치의 상기 판단부는 상기 MD값이 상기 기준값 이하면 상기 보호계전기가 정상이라고 판단하고, 상기 MD값이 상기 기준값을 초과하면 상기 보호계전기가 비정상이라고 판단할 수 있다.
또한 본 발명에 따른 보호계전기 시험 장치는 상기 판단부에 의해 상기 보호계전기가 비정상이라고 판단되면, 상기 연산부는 상기 M개의 시험 데이터 중 임의의 1개의 시험 데이터를 제외한 M-1개의 시험 데이터를 이용하여 M개의 축소 MD값을 각각 연산하고, 상기 MD값에서 상기 M개의 축소 MD값을 각각 감산하여 M개의 차이값을 연산하고, 상기 진단부는 상기 M개의 차이값을 이용하여 상기 보호계전기가 비정상인 원인을 진단할 수 있다.
또한 본 발명에 따른 보호계전기 시험 장치의 상기 진단부는 상기 M개의 차이값 중 최대 차이값을 찾고, 상기 최대 차이값과 대응되는 축소 MD값을 연산할 때 제외된 시험 데이터와 대응되는 상기 보호계전기의 부품에 의해 상기 보호계전기가 비정상인 것으로 진단할 수 있다.
또한 본 발명에 따른 보호계전기 시험 장치의 상기 성능 데이터는 상기 보호계전기의 동작치, 동작 시간, 복귀치 및 복귀 시간, 상기 보호계전기가 계측한 전압값, 전류값 및 전력값을 포함할 수 있다.
또한 본 발명에 따른 보호계전기 시험 장치의 상기 시험 데이터는 상기 보호계전기의 동작치, 동작 시간, 복귀치 및 복귀 시간을 적어도 포함할 수 있다.
또한 본 발명에 따른 보호계전기 시험 장치의 상기 진단부는 상기 판단부의 상기 보호계전기에 대한 정상여부 판단 결과와 상기 보호계전기의 실제 정상여부를 비교하여 상기 보호계전기 시험 장치 자체의 정확도를 진단할 수 있다.
본 발명에 따른 보호계전기 시험 장치를 이용하면 보호계전기가 정상적으로 동작하는지 여부를 보다 정확하게 판단할 수 있다.
또한 본 발명에 따른 보호계전기 시험 장치를 이용하면 보호계전기의 여러 기능이 복합적으로 동작하는 상황에서도 보호계전기가 정상적으로 동작하는지 여부를 정확하게 판단할 수 있다.
상술한 효과와 더불어 본 발명의 구체적인 효과는 이하 발명을 실시하기 위한 구체적인 사항을 설명하면서 함께 기술한다.
도 1은 종래 기술에 따른 보호계전기를 나타낸 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 보호계전기 시험 장치의 개략적인 구성을 나타내기 위한 블록도이다.
도 3은 변수가 2개인 경우 MD값이 연산되는 방법을 나타내는 그래프이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 보호계전기 시험 장치가 동작하는 방법을 나타내는 순서도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 보호계전기 시험 장치가 동작한 결과가 표시된 화면의 예시이다.
전술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 후술되며, 이에 따라 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 것이다. 본 발명을 설명함에 있어서 본 발명과 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 상세한 설명을 생략한다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 도면에서 동일한 참조부호는 동일 또는 유사한 구성요소를 가리키는 것으로 사용된다.
이하에서는, 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 보호계전기 시험 장치를 설명하도록 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 보호계전기 시험 장치의 개략적인 구성을 나타내기 위한 블록도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 보호계전기 시험 장치(200)는 선별부(210), 연산부(220), 판단부(230) 및 진단부(240)를 포함한다.
선별부(210)는 보호계전기의 성능을 나타내는 N개의 성능 데이터 중에서 N과 같거나 N보다 작은 M개의 시험 데이터를 선별한다. 선별부(210)는 선별된 M개의 데이터를 연산부(220)로 전송할 수 있다.
참고로, 본 명세서에서 N은 1 이상의 임의의 정수를 의미한다. 또한, 본 명세서에서 M은 N과 같거나 N보다 작은 1 이상의 임의의 정수를 의미한다.
성능 데이터는 보호계전기의 동작을 나타내는 지표를 포함하는 데이터로, 이를 이용하면 보호계전기가 정상적으로 동작하는지 판단할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 보호계전기 시험 장치(200)에서 성능 데이터는 보호계전기 시험 장치(200)가 직접 보호계전기를 계측하여 얻은 데이터일 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 보호계전기 시험 장치(200)에서 성능 데이터는 다른 장치가 보호계전기를 계측하여 얻은 데이터를 보호계전기 시험 장치(200)가 수신한 데이터일 수 있다.
이 때, 성능 데이터는 보호계전기의 동작치, 동작 시간, 복귀치 및 복귀 시간을 적어도 포함한다. 또한, 성능 데이터는 보호계전기가 계측한 전압값, 전류값, 전력값 등을 포함할 수 있다.
시험 데이터는 선별부(210)에 의해 성능 데이터 중에서 선별된 데이터이다. 시험 데이터는 연산부(220)에 의해 MD(Mahalanobis Distance)값 연산에 이용된다. 이 때, 시험 데이터는 보호계전기의 동작치, 동작 시간, 복귀치 및 복귀 시간을 적어도 포함한다. 이는 보호계전기의 동작치, 동작 시간, 복귀치 및 복귀 시간은 보호계전기에서 가장 중요시되는 역할의 성능을 나타내는 지표이기 때문이다.
사용자는 선별부(210)에 의해 시험 데이터로 선정되는 성능 데이터의 수, 즉 M을 작게함으로써, 이후 연산부(220)에서 수행되는 연산의 속도를 빠르게 할 수 있다.
또한, 사용자는 선별부(210)에 의해 시험 데이터로 선정되는 성능 데이터의 수, 즉 M을 N과 같거나 N에 근접하게 함으로써, 이후 판단부(230)에 의해 판단되는 보호계전기의 정상 여부의 정합성을 향상시킬 수 있다.
연산부(220)는 선별부(210)에 의해 선별된 M개의 시험 데이터를 이용하여 MD값을 연산할 수 있다. MD값을 구하는 방법은 도 3을 이용하여 설명될 수 있다.
도 3은 변수가 2개인 경우 MD값이 연산되는 방법을 나타내는 그래프이다.
도 3을 참조하면, 도 3의 그래프의 x축은 시험 데이터 X1의 값을 나타내고 있다. 그리고 x축의 위쪽으로 시험 데이터 X1의 분포 그래프(310)가 도시되어 있다. 시험 데이터 X1의 분포 그래프(310)는 평균 값이 M1인 정규분포의 형태를 가지고 있다. 또한, 도 3의 그래프의 y축은 시험 데이터 X2의 값을 나타내고 있다. 그리고 y축의 위쪽으로 시험 데이터 X2의 분포 그래프(320)가 도시되어 있다. 시험 데이터 X2의 분포 그래프(320)는 평균 값이 M2인 정규분포의 형태를 가지고 있다.
그리고 도 3에는 시험 데이터 X2의 분포 그래프(320)의 평균값인 M2를 x축으로 가지고, 시험 데이터 X1의 분포 그래프(310)의 평균값인 M1를 y축으로 가지는 MD 공간 그래프(330)가 도시되어 있다. 여기는 MD 공간 그래프(330) 상에는 정상공간이 표시된 정상 공간 그래프(331)가 도시되어 있다. 정상 공간 그래프(331)는 사용자가 설정한 기준값에 따라 변할 수 있다. 정상 공간 그래프(331)의 내부는 정상 그룹으로 분류될 수 있고, 정상 공간 그래프(332)의 외부는 비정상 그룹으로 분류될 수 있다.
이때, 시험 데이터 X1의 값이 A1이고, 시험 데이터 X2의 값이 A2이면, 시험 데이터 X1의 분포 그래프(310) 상에 도면번호 311과 같이 표시되고, 시험 데이터 X2의 분포 그래프(320) 상에 도면번호 321과 같이 표시된다. 그리고 이런 값은 MD 공간 그래프(330) 상에 도면번호 332와 같이 표시된다.
MD값은 분산으로부터 멀리 떨어진 정도를 나타내는 척도이므로, MD 공간 그래프(330)의 원점으로부터 도면번호 332가 떨어진 위치에 비례해서 결정될 수 있다.
그러나 MD값은 각각의 시험 데이터의 평균값, 표준편차를 고려해서 결정되고, 시험 데이터는 2개 이상이 될 수 있기 때문에 MD값은 아래와 같은 수학식 1을 이용하여 연산된다.
[수학식 1]
Figure 112019080831611-pat00001
수학식 1에서 k는 측정변수로 시험 데이터 전체의 개수를 나타내는 값이다. 그리고 수학식 1에서 Z는 정규화된 시험 데이터의 분포를 나타내는 행렬이다. 그리고 수학식 1에서 R은 복수 개의 시험 데이터간의 관계를 나타내는 행렬이다. 즉, 연산부(220)는 위의 수학식 1 및 M개의 시험 데이터를 이용해서 MD값을 연산한다.
다시 도 2로 돌아와서, 연산부(220)는 위와 같이 연산한 MD값을 판단부(230)로 전송할 수 있다.
또한, 연산부(220)는 판단부(230)에 의해 보호계전기가 비정상이라고 판단되면 M개의 축소 MD값을 연산한다. 축소 MD값은 M개의 시험 데이터 중 임의의 1개의 시험 데이터를 제외한 M-1개의 시험 데이터를 이용하여 연산된다. 이때 M개의 시험 데이터 중 임의의 1개의 시험 데이터를 제외할 수 있는 방법은 총 M개가 있으므로, 축소 MD값은 총 M개가 연산된다. 축소 MD값은 아래와 같은 수학식 2를 이용하여 연산된다.
[수학식 2]
Figure 112019080831611-pat00002
수학식 2의 각각의 변수에 붙은 (-i)와 같은 아래첨자는 임의의 i번째 시험 데이터를 제외하고 생성된 값이라는 의미이다. 즉, 연산부(220)는 위의 수학식 2 및 M개의 시험 데이터 중 임의의 1개의 시험 데이터를 제외한 M-1개의 시험 데이터를 이용해서 축소 MD값을 연산한다.
또한, 연산부(220)는 MD값과 M개의 축소 MD값을 이용하여 M개의 차이값을 연산할 수 있다. M개의 차이값은 MD값에서 M개의 축소 MD값을 각각 감산하여 나온 결과이다.
연산부(220)는 위와 같이 연산한 축소 MD값을 진단부(240)로 전송할 수 있다.
판단부(230)는 연산부(220)에 의해 연산된 MD값과 미리 설정된 기준값을 비교하여 보호계전기의 정상 여부를 판단한다.
판단부(230)는 MD값과 기준값을 비교하여, MD값이 기준값 이하면 보호계전기가 정상이라고 판단하고, MD값이 기준값을 초과하면 보호계전기가 비정상이라고 판단한다.
판단부(230)는 MD값을 연산부(220)로부터 수신한다. 또한, 판단부(230)는 보호계전기가 비정상이라고 판단한 경우, 그 결과를 연산부(220) 및 진단부(240)에 전송한다.
기준값은 보호계전기 시험 장치(200)가 사용자로부터 미리 입력 받아 설정되는 값이다. 사용자는 보호계전기 시험 장치(200)가 이전까지 정상으로 판단한 보호계전기들의 MD값의 분포를 확인하고, 적절한 값을 기준값으로 설정할 수 있다.
진단부(240)는 판단부(230)에 의해 보호계전기가 비정상이라고 판단된 경우, 비정상으로 판단된 보호계전기가 어떠한 원인에 의하여 비정상으로 판단된지를 진단한다.
진단부(240)는 보호계전기가 비정상으로 판단되면 판단부(230)로부터 그 결과를 수신한다. 또한, 진단부(240)는 연산부(220)로부터 보호계전기가 비정상으로 판단되어서 연산된 M개의 차이값을 수신한다.
진단부(240)는 연산부(220)로부터 수신한 M개의 차이값 중에서 최대 차이값을 찾는다. 그 후 진단부(240)는 최대 차이값과 대응되는 축소 MD값을 연산할 때 제외된 시험 데이터를 찾는다. 그리고 진단부(240)는 최대 차이값과 대응되는 축소 MD값을 연산할 때 제외된 시험 데이터와 대응되는 보호계전기의 부품에 의해 보호계전기가 비정상인 것으로 진단한다.
이는 MD값은 분산으로부터 멀리 떨어진 정도를 나타내는 척도이므로, 분산으로부터 가장 멀리 떨어진 데이터를 제외하고 연산한 축소 MD값이 MD값과 가장 큰 차이를 가지기 때문이다. 따라서 진단부(240)는 최대 차이값과 대응되는 축소 MD값을 연산할 때 제외된 시험 데이터와 대응되는 보호계전기의 부품에 의해 보호계전기가 비정상인 것으로 진단한다. 그러면 사용자는 이를 확인하고, 보호계전기의 잘못된 부품을 교체할 수 있다.
또한, 진단부(240)는 판단부(230)에 의해 판단된 보호계전기의 정상여부 판단 결과와 보호계전기가 실제로 정상인지 여부를 비교하여 보호계전기 시험 장치(200)가 얼마나 정확하게 보호계전기의 정상 여부를 판단하는지 진단할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 보호계전기 시험 장치가 동작하는 방법을 나타내는 순서도이다.
보호계전기 시험 장치(200)는 다른 장치로부터 성능 데이터를 수신하거나, 보호계전기를 계측하여 성능 데이터를 얻게 되면, 보호계전기가 정상인지 여부를 판단하는 과정을 시작한다.
선별부(210)는 N개의 성능 데이터 중에서 M개의 시험 데이터를 선정한다(S400). 이때, 선별부(210)는 보호계전기의 동작치, 동작 시간, 복귀치 및 복귀 시간을 반드시 시험 데이터로 선별한다. 그리고 선별부(210)는 보호계전기의 동작치, 동작 시간, 복귀치 및 복귀 시간을 제외한 나머지 성능 데이터는 필요에 따라 시험 데이터로 선별할 수 있다.
선별부(210)는 연산부(220)에서 수행되는 연산의 속도를 빠르게 하기 위해, 보호계전기의 동작치, 동작 시간, 복귀치 및 복귀 시간만 시험 데이터로 선별할 수 있다. 또한, 선별부(210)는 판단부(230)에 의해 판단되는 보호계전기의 정상 여부 판단에 대한 정합성을 향상시키기 위해, N개의 성능 데이터 모두를 시험 데이터로 선별할 수 있다.
선별부(210)는 시험 데이터의 선별을 완료하고 시험 데이터를 연산부(220)로 전송할 수 있다.
다음 단계로, 연산부(220)는 선별부(210)에 의해 선별된 M개의 시험 데이터를 이용하여 MD값을 연산한다(S410). MD값을 연산하는 방법은 도 3을 참조하여 위에서 자세히 설명한바 이하에서는 생략하도록 한다.
연산부(220)는 MD값의 연산을 완료하고 MD값을 판단부(230)로 전송할 수 있다.
다음 단계로, 판단부(230)는 보호계전기의 정상 여부를 판단한다(S420). 판단부(230)는 연산부(220)로부터 수신한 MD값과 미리 설정된 기준값을 비교하여 보호계전기의 정상여부를 판단한다.
보다 상세히, 판단부(230)는 MD값이 기준값 이하면 보호계전기가 정상이라고 판단한다. 판단부(230)는 MD값이 기준값을 초과하면 보호계전기가 비정상이라고 판단한다.
판단부(230)는 보호계전기의 정상 여부 판단을 완료하고 그 결과를 연산부(220) 및 진단부(240)로 전송할 수 있다.
판단부(230)가 보호계전기가 정상이라고 판단하면, 보호계전기에 대한 시험이 종료된다.
그러나 판단부(230)가 보호계전기가 비정상이라고 판단하면, 연산부(220)는 M개의 시험 데이터 중 임의의 1개의 시험 데이터를 제외한 M-1개의 시험 데이터를 이용하여 M개의 축소 MD값을 연산하고, MD값에서 M개의 축소 MD값을 각각 감산하여 M개의 차이값을 연산한다(S430). 축소 MD값 및 차이값을 연산하는 방법은 위에서 자세히 설명한바 이하에서는 생략하도록 한다.
연산부(220)는 M개의 차이값의 연산을 완료하고, M개의 차이값을 진단부(240)로 전송한다.
그리고 나서, 진단부(240)는 연산부(220)로부터 수신한 차이값을 이용하여 보호계전기가 비정상인 원인을 진단한다(S440). 진단부(240)는 연산부(220)로부터 수신한 M개의 차이값 중에서 최대 차이값을 찾는다. 그 후 진단부(240)는 최대 차이값과 대응되는 축소 MD값을 연산할 때 제외된 시험 데이터를 찾는다. 그리고 진단부(240)는 최대 차이값과 대응되는 축소 MD값을 연산할 때 제외된 시험 데이터와 대응되는 보호계전기의 부품에 의해 보호계전기가 비정상인 것으로 진단한다. 이와 같이 판단부(230)에 의해 보호계전기가 비정상인 것으로 판단된 경우, 진단부에 의해 보호계전기가 비정상인 원인을 진단하는 과정을 거친 후, 보호계전기에 대한 시험이 종료된다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 보호계전기 시험 장치가 동작한 결과가 표시된 화면의 예시이다.
도 5를 참조하면, 보호계전기 시험 장치가 동작한 결과는 디스플레이 기능이 포함된 전자기기의 화면(500)을 통해 표시될 수 있다.
화면(500)의 좌측 상단에는 시험한 보호계전기의 제품 번호 및 시리얼 번호가 표시된 블록(510)이 표시될 수 있다.
화면(500)의 좌측 중단에는 보호계전기 시험 장치가 시험한 보호계전기의 MD값이 표시된 그래프(520)가 표시될 수 있다. 그래프의 x축은 보호계전기 시험 장치에 의해 시험된 복수 개의 보호계전기의 순서를 나타낸다. 그래프의 y축은 보호계전기 시험 장치에 의해 시험 된 보호계전기의 MD값을 나타낸다. 그래프 상의 파란색 선은 사전에 정상으로 분류된 보호계전기의 MD값을 보호계전기 시험 장치를 통해 연산한 결과를 나타낸다. 그래프 상의 초록색 선은 사용자가 그래프 상의 파란색 선을 확인하고 설정한 기준값을 나타낸다. 그래프 상의 빨간색 선은 보호계전기 시험 장치가 아직 정상인지 판단하지 않은 보호계전기의 시험 데이터를 이용해 연산한 MD값을 나타낸다. 사용자는 이를 확인하고 보호계전기 시험 장치가 몇번째로 시험한 보호계전기가 비정상인지 판단할 수 있다.
화면(500)의 좌측 하단에는 사전에 정상으로 분류된 보호계전기의 MD값을 보호계전기 시험 장치를 통해 연산한 결과를 나타낸 분포와 보호계전기 시험 장치가 아직 정상인지 판단하지 않은 보호계전기의 MD값을 보호계전기 시험 장치를 통해 연산한 결과를 나타낸 분포를 나타낸 그래프(530)가 표시될 수 있다.
화면(500)의 좌측 최하단에는 사용자가 기준값을 입력하는 블록(540)이 표시될 수 있다. 사용자가 입력한 기준값(541)은 화면의 좌측 상단에 있는 보호계전기 시험 장치가 시험한 보호계전기의 제품 번호 및 시리얼 번호가 표시된 블록(510)의 하단에 표시될 수 있다.
화면(500)의 중앙에는 보호계전기 시험 장치가 가장 최근에 시험한 보호계전기의 정상 여부 및 그에 대응되는 보호계전기의 MD값을 나타낸 블록(550)이 표시될 수 있다.
화면(500)의 하단부 중앙에는 보호계전기 시험 장치가 비정상으로 판단한 보호계전기가 비정상인 원인을 분석한 결과를 나타낸 블록(560)이 표시될 수 있다.
화면(570)의 우측에는 보호계전기 시험 장치가 시험한 복수 개의 보호계전기의 시리얼 번호, MD값 등이 정리된 표(570)가 표시될 수 있다.
이상과 같이 본 발명에 대해서 예시한 도면을 참조로 하여 설명하였으나, 본 명세서에 개시된 실시 예와 도면에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 기술사상의 범위 내에서 통상의 기술자에 의해 다양한 변형이 이루어질 수 있음은 자명하다. 아울러 앞서 본 발명의 실시 예를 설명하면서 본 발명의 구성에 따른 작용 효과를 명시적으로 기재하여 설명하지 않았을 지라도, 해당 구성에 의해 예측 가능한 효과 또한 인정되어야 함은 당연하다.
200: 보호계전기 시험 장치 210: 선별부
220: 연산부 230: 판단부
240: 진단부

Claims (7)

  1. 보호계전기의 성능을 나타내는 N개의 성능 데이터 중에서 N과 같거나 N보다 작은 M개의 시험 데이터를 선별하는 선별부;
    상기 M개의 시험 데이터를 이용하여 MD(Mahalanobis Distance)값을 연산하는 연산부;
    상기 MD값을 미리 설정된 기준값과 비교하여 상기 보호계전기의 정상 여부를 판단하는 판단부; 및
    상기 판단부에 의해 상기 보호계전기가 비정상이라고 판단되면 상기 보호계전기가 비정상인 원인을 진단하는 진단부;
    를 포함하고,
    상기 판단부에 의해 상기 보호계전기가 비정상이라고 판단되면,
    상기 연산부는 상기 M개의 시험 데이터 중 임의의 1개의 시험 데이터를 제외한 M-1개의 시험 데이터를 이용하여 M개의 축소 MD값을 각각 연산하고, 상기 MD값에서 상기 M개의 축소 MD값을 각각 감산하여 M개의 차이값을 연산하고,
    상기 진단부는 상기 M개의 차이값을 이용하여 상기 보호계전기가 비정상인 원인을 진단하는
    보호계전기 시험 장치.
  2. 제1항에 있어서
    상기 판단부는
    상기 MD값이 상기 기준값 이하면 상기 보호계전기가 정상이라고 판단하고, 상기 MD값이 상기 기준값을 초과하면 상기 보호계전기가 비정상이라고 판단하는
    보호계전기 시험 장치.
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 진단부는 상기 M개의 차이값 중 최대 차이값을 찾고, 상기 최대 차이값과 대응되는 축소 MD값을 연산할 때 제외된 시험 데이터와 대응되는 상기 보호계전기의 부품에 의해 상기 보호계전기가 비정상인 것으로 진단하는
    보호계전기 시험 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 성능 데이터는
    상기 보호계전기의 동작치, 동작 시간, 복귀치 및 복귀 시간, 상기 보호계전기가 계측한 전압값, 전류값 및 전력값을 포함하는
    보호계전기 시험 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 시험 데이터는
    상기 보호계전기의 동작치, 동작 시간, 복귀치 및 복귀 시간을 적어도 포함하는
    보호계전기 시험 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 진단부는
    상기 판단부의 상기 보호계전기에 대한 정상여부 판단 결과와 상기 보호계전기의 실제 정상여부를 비교하여 상기 보호계전기 시험 장치 자체의 정확도를 진단하는
    보호계전기 시험 장치.
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