KR102204719B1

KR102204719B1 - 기생용량의 제거방법 및 장치

Info

Publication number: KR102204719B1
Application number: KR1020197005238A
Authority: KR
Inventors: 페일린 지; 시아오핑 탄
Original assignee: 우한 차이나 스타 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드
Priority date: 2016-08-03
Filing date: 2016-08-12
Publication date: 2021-01-19
Also published as: JP2019525341A; EP3495877A4; JP6800309B2; EA201990389A1; CN106293217B; EA037757B1; US10175812B2; CN106293217A; US20180173359A1; KR20190031546A; EP3495877A1; WO2018023831A1

Abstract

본 발명은 기생용량의 제거 방법 및 장치를 공개한 것으로, 그 중, 터치 스캔 주기에서 다수 개의 소스 라인에 제1 아날로그 신호를 입력하고, 다수 개의 멀티 플렉스 라인에 제2 아날로그 신호를 입력함으로써 기생용량이 제거되도록 하고; 그 중, 제1 아날로그 신호와 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호는 파형이 동일하거나 또는 유사하고, 상기 제2 아날로그 신호와 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호는 파형이 유사하며, 상기 제3 아날로그 신호와 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호는 파형이 유사하며, 제2 아날로그 파형은 제1 목표 하이 레벨과 제2 목표 하이 레벨을 포함하고, 제2 아날로그 파형은 제1 목표 로우 레벨과 제2 목표 로우 레벨을 포함하며, 제1 목표 하이 레벨 ＞ 제2 목표 하이 레벨 ＞ 제1 목표 로우 레벨 ＞ 제2 목표 로우 레벨이며, 제1 목표 하이 레벨과 제2 목표 하이 레벨은 서로 다른 모듈을 통해 생성되고, 제1 목표 로우 레벨과 상기 제2 목표 로우 레벨은 서로 다른 모듈을 통해 생성된다.

Description

기생용량의 제거방법 및 장치

본 발명은, 2016년 8월 3일 제출한 발명의 명칭이 “기생용량의 제거방법 및 장치”이고 출원번호가 201610628812.X인 선출원의 우선권을 주장하는 것으로, 상기 선출원의 내용은 도입하는 방식으로 본문에 병합된다.

본 발명은 터치 스크린 분야에 관한 것으로, 특히 기생용량의 제거방법 및 장치에 관한 것이다.

디스플레이 기술의 신속한 발전과 더불어, 터치 스크린 패널(Touch Screen Panel)은 이미 사람들의 일상생활 속에서 점차 보편화되기 시작하였다. 현재, 터치 스크린은 구성된 구조에 따라 부착형 터치 스크린(Add on Mode Touch Panel) 및 내장형 터치 스크린(In Cell Touch Panel)으로 구분된다. 부착형 터치 스크린은 터치 스크린과 액정 디스플레이(Liquid Crystal Display, LCD)를 분리 생산한 후, 다시 이들을 함께 부착하여 터치 기능을 갖는 액정 디스플레이로 만드는 것인데, 이는 광 투과율이 낮고, 모듈이 두껍다는 등의 단점이 존재한다. 이에 비해, 내장형 터치 스크린은 터치 스크린의 터치 전극을 액정 디스플레이의 내부에 내장하는 것으로, 모듈의 전반적인 두께를 줄이고 광투과율을 향상시킬 수 있으므로, 패널 생산자들의 주목을 받고 있다.

종래의 인셀(In-Cell) 터치기술에는 하이브리드 인셀(Hybrid In-Cell) 터치기술 및 풀 인셀(Full In-Cell) 터치기술이 포함된다. 풀 인셀 터치 스크린의 구조는 보다 간단하므로, 인기가 좀 더 많다. 하지만, 풀 인셀 터치 스크린에는 기생용량이 존재하는데, 이는 터치 스캔 시에 입력되는 터치 스캔 신호에 영향을 끼치게 되어, 터치 스캔 시의 신호 대 잡음비를 줄이게 된다.

본 발명의 실시예에서 해결하고자 하는 기술적 과제는, 풀 인셀 터치 스크린에 존재하는 기생용량이 입력되는 터치 스캔 신호에 끼치는 영향을 줄일 수 있는 기생용량의 제거방법 및 장치를 제공하는 것이다.

첫 번째로는, 기생용량의 제거방법을 제공하는 것으로, 터치 디스플레이 패널은 다수 개의 게이트 라인, 다수 개의 소스 라인, 다수 개의 공통전극 라인, 다수 개의 멀티 플렉스 라인을 포함하고, 상기 다수 개의 공통전극의 연장 방향과 상기 소스 라인의 연장 방향은 평행하고, 공통전극은 다수 개의 센싱 블록을 포함하며, 상기 공통전극은 터치 구동 전극으로 재사용되며, 다수 개의 공통전극 라인은 각각 다수 개의 센싱 블록에 연결되고, 상기 다수 개의 멀티 플렉스 라인은 각각 상기 다수 개의 게이트 라인에 연결되며, 그 중, 스캔 주기는 디스플레이 스캔 주기와 터치 스캔 주기를 포함하는 것으로,

터치 스캔 주기에서, 상기 다수 개의 소스 라인에 제1 아날로그 신호를 입력하고, 상기 다수 개의 멀티 플렉스 라인에 제2 아날로그 신호를 입력하며, 상기 다수 개의 게이트 라인에 제3 아날로그 신호를 입력함으로써, 상기 다수 개의 게이트 라인, 다수 개의 소스 라인, 다수 개의 공통전극 및 다수 개의 센싱 블록 사이에 형성되는 기생용량이 제거되도록 하고;

그 중, 상기 제1 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형이 유사하고, 상기 제2 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형이 유사하며, 상기 제3 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형이 유사하다.

선택적으로, 상기 제2 아날로그 파형은 제1 목표 하이 레벨과 제2 목표 하이 레벨을 포함하고, 상기 제2 아날로그 파형은 제1 목표 로우 레벨과 제2 목표 로우 레벨을 포함하며, 상기 제1 목표 하이 레벨과 상기 제2 목표 하이 레벨은 서로 다른 VGH 모듈을 통해 생성되고, 상기 제1 목표 로우 레벨과 상기 제2 목표 로우 레벨은 서로 다른 VGL 모듈을 통해 생성된다.

선택적으로, 상기 제1 목표 하이 레벨은 제1 VGH 모듈을 통해 생성되고, 상기 제2 목표 하이 레벨은 제2 VGH 모듈을 통해 생성되며, 상기 제1 목표 로우 레벨은 제1 VGL 모듈을 통해 생성되고, 상기 제2 목표 로우 레벨은 제2 VGL 모듈을 통해 생성된다.

선택적으로, 상기 제1 목표 하이 레벨 ＞ 상기 제2 목표 하이 레벨 ＞ 상기 제1 목표 로우 레벨 ＞ 상기 제2 목표 로우 레벨이다.

선택적으로, 상기 제1 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형은 완전히 동일하다.

두 번째로는, 기생용량의 제거장치를 제공하는 것으로, 상기 터치 디스플레이 패널은 다수 개의 게이트 라인, 다수 개의 소스 라인, 다수 개의 공통전극 라인, 다수 개의 멀티 플렉스 라인을 포함하고, 상기 다수 개의 공통전극의 연장 방향과 상기 소스 라인의 연장 방향은 평행하고, 공통전극은 다수 개의 센싱 블록을 포함하며, 상기 공통전극은 터치 구동 전극으로 재사용되며, 다수 개의 공통전극 라인은 각각 다수 개의 센싱 블록에 연결되고, 상기 다수 개의 멀티 플렉스 라인은 각각 상기 다수 개의 게이트 라인에 연결되며, 그 중, 스캔 주기는 디스플레이 스캔 주기와 터치 스캔 주기를 포함하고, 상기 장치는 제1 입력 모듈, 제2 입력 모듈 및 제3 입력 모듈을 포함하는 것으로,

상기 제1 입력 모듈은 터치 스캔 주기에서, 상기 다수 개의 소스 라인에 제1 아날로그 신호를 입력하는데 사용되고, 상기 제2 입력 모듈은 상기 다수 개의 멀티 플렉스 라인에 제2 아날로그 신호를 입력하는데 사용되며, 상기 제3 입력 모듈은 상기 다수 개의 게이트 라인에 제3 아날로그 신호를 입력하는데 사용됨으로써, 상기 다수 개의 게이트 라인, 다수 개의 소스 라인, 다수 개의 공통전극 및 다수 개의 센싱 블록 사이에 형성되는 기생용량이 제거되도록 하고;

본 발명의 실시예에서, 다수 개의 소스 라인에 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호의 파형과 유사한 제1 아날로그 신호를, 다수 개의 멀티 플렉스 라인에 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호의 파형과 유사한 제2 아날로그 신호를, 다수 개의 게이트 라인에 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호의 파형과 유사한 제3 아날로그 신호를 각각 입력함으로써, 풀 인셀 터치 스크린 패널에 존재하는 기생용량이 입력되는 터치 스캔 신호에 미치는 영향을 줄일 수 있다.

본 발명의 실시예 또는 종래 기술의 기술방안을 보다 분명하게 설명하기 위하여, 이하 실시예 또는 종래 기술에 대한 서술에서 필요한 도면에 대하여 간단히 소개하고자 한다. 이하 서술하는 도면은 단지 본 발명의 일부 실시예인 것으로, 당업자에게 있어서, 창조적인 노동이 없는 전제 하에서, 이와 같은 도면들에 근거하여 기타 도면을 도출할 수 있는 것은 자명하다.
도 1은 종래 기술에서 공개한 내장형 터치 스크린의 터치 디스플레이 패널에 대한 구조 설명도이다.
도 2는 종래 기술에서 제공하는 풀 인셀 터치 스크린의 센싱 블록에 대한 설명도이다.
도 3은 종래 기술에서 제공하는 풀 인셀 터치 스크린의 기생용량에 대한 등가 회로도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에서 제공하는 기생용량의 제거 방법에서 제1 아날로그 신호, 제2 아날로그 신호 및 제3 아날로그 신호를 입력하는 순서도이다.
도 5는 종래기술에서 제공하는 제1 목표 하이 레벨, 제2 목표 하이 레벨, 제1 목표 로우 레벨 및 제2 목표 로우 레벨의 생성 모듈에 대한 구조 설명도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에서 제공하는 제1 목표 하이 레벨, 제2 목표 하이 레벨, 제1 목표 로우 레벨 및 제2 목표 로우 레벨의 생성 모듈에 대한 구조 설명도이다.
도 7은 본 발명의 실시예에서 제공하는 기생용량의 제거 장치에 대한 구조 설명도이다.

보다 쉬운 이해를 위하여, 본문은 우선 내장형 터치 스크린의 구조 및 스캔 방식에 대하여 소개를 하고자 한다. 도 1을 참조하면, 도 1은 종래 기술에서 공개한 내장형 터치 스크린의 터치 디스플레이 패널에 대한 구조 설명도이다. 도 1에서 도시하는 터치 디스플레이 패널은, 구동 IC, 다수 개의 게이트 라인(1), 다수 개의 소스 라인(미도시), 다수 개의 공통전극 라인(2), 다수 개의 멀티 플렉스 라인(미도시)을 포함하는 것으로, 다수 개의 공통전극 라인의 연장 방향과 소스 라인의 연장 방향은 평행하게 구성되고, 도 2에서 도시하는 바와 같이, 모듈 측의 공통전극은 다수 개의 작은 센싱 블록(110)(sensor pad)으로 분할되고, 다수 개의 공통전극 라인(2)은 각각 다수 개의 센싱 블록(110)에 연결되며, 다수 개의 멀티 플렉스 라인은 각각 다수 개의 게이트 라인(1)에 연결된다.

모듈의 전반적인 두께를 줄이기 위하여, 공통전극은 통상적으로 터치 구동전극으로 재사용된다. 따라서, 디스플레이 기능과 터치 기능을 동시에 구현 가능하도록 하기 위하여, 반드시 하나의 스캔 주기를 적어도 디스플레이 스캔 주기와 터치 스캔 주기의 두 개 부분으로 나누어야 한다. 디스플레이 스캔 주기에서, 구동 IC는 다수 개의 게이트 라인(1)에 디스플레이 스캔 신호를 입력하고, 센싱 블록(110)에 VCOM 전압을 입력하여, 디스플레이 스캔 신호와 VCOM 전압의 조합 하에, 디스플레이 스캔을 실행하고; 터치 스캔 주기에서, 구동 IC는 다수 개의 터치 유도전극에 터치 스캔 신호를 입력하고, 센싱 블록(110)에 펄스 전압을 입력하여, 터치 스캔 신호와 펄스 전압의 조합 하에, 터치 스캔을 실행한다.

하지만, 두 개의 서로 근접한 금속이 하나의 정전용량을 구성할 수 있기 때문에, 게이트 라인, 공통전극 라인(1), 공통전극 라인(2), 소스 라인 사이에 구성되는 등가 회로도는 도 3에서 도시하는 바와 같다. 여기에서, 하나의 센싱 블록(110)을 예로 들면, 공통전극 라인(1)과 공통전극 라인(2) 사이의 정전용량은 정전용량(S1)와 등가될 수 있고, 공통전극 라인(1)과 게이트 라인 사이의 정전용량은 (S2)와 등가될 수 있으며, 공통전극 라인(1)과 소스 라인 사이의 정전용량은 (S3)과 등가될 수 있고, 공통전극 라인(1)과 소스 라인 사이의 정전용량은 (S4)와 등가될 수 있으며, 게이트 라인과 소스 라인 사이의 정전용량은 (S5)와 등가될 수 있다. 정전용량(S1~S5)의 존재로 인해, 센싱 블록(110)에 펄스 형의 터치 스캔 전압을 입력하는 경우에, 게이트 라인과 소스 라인 상에 입력되는 것은 모두 직류 전압이다. 따라서, 정전용량의 충방전 효과를 생성하게 되는데, 이는 터치 스캔 시에 입력되는 터치 스캔 신호에 영향을 주게 되어, 터치 스캔 시의 신호 대 잡음비를 줄이게 된다.

상기 기술적 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 실시예는 기생용량의 제거방법을 제공하며, 상기 방법은 이하의 내용을 포함한다. 터치 스캔 주기에서, 다수 개의 소스 라인에 제1 아날로그 신호를 입력하고, 다수 개의 멀티 플렉스 라인에 제2 아날로그 신호를 입력하며, 다수 개의 게이트 라인에 제3 아날로그 신호를 입력함으로써, 다수 개의 게이트 라인, 다수 개의 소스 라인, 다수 개의 공통전극 및 다수 개의 센싱 블록 사이에 형성되는 기생 용량이 제거되도록 한다. 그 중, 제1 아날로그 신호와 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호의 파형이 유사하고, 제2 아날로그 신호와 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호의 파형이 유사하며, 제3 아날로그 신호와 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호의 파형이 유사한다.

제1 아날로그 신호, 제2 아날로그 신호 및 제3 아날로그 신호가 모두 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호와 유사하다는 것은, 펄스 형의 터치 스캔 신호가 하이 레벨인 경우, 제1 아날로그 신호, 제2 아날로그 신호 및 제3 아날로그 신호 역시 하이 레벨이고, 펄스 형의 터치 스캔 신호가 로우 레벨인 경우, 제1 아날로그 신호, 제2 아날로그 신호 및 제3 아날로그 신호 역시 로우 레벨인 것을 가리킨다. 이는 제1 아날로그 신호, 제2 아날로그 신호, 제3 아날로그 신호 및 터치 스캔 신호가 모두 하이 레벨(또는 로우 레벨)인 경우, 게이트 라인, 공통전극 라인(1), 공통전극 라인(2), 소스 라인 사이의 전압차가 줄어들게 됨으로써, 게이트 라인, 공통전극 라인(1), 공통전극 라인(2), 소스 라인 사이의 기생용량(S1~S5)의 충방전 효과를 줄이게 되는 것으로 이해할 수 있다.

실행 가능한 실시예에서, 터치 스캔 주기에서, 다수 개의 소스 라인 상의 원래의 직류 전압 값은 0이므로, 구동 IC에서 소스 라인에 입력하는 제1 아날로그 신호와 터치 스캔 신호는 동일한 전압이고; 다수 개의 멀티 플렉스 라인 상의 원래의 전압은 VGH이므로, 구동 IC에서 멀티 플렉스 라인에 입력하는 제2 아날로그 신호는 제1 목표 하이 레벨과 제2 목표 하이 레벨을 포함하는 것으로, 그 중, 제1 목표 하이 레벨은 제2 목표 하이 레벨보다 크되, 제1 목표 하이 레벨과 제2 목표 하이 레벨의 값은 VGH 전압의 값과 크게 차이가 나지 않으며; 게이트 라인 상의 원래의 전압은 VGL이므로, 구동 IC에서 게이트 라인에 입력하는 제3 아날로그 신호는 제1 목표 로우 레벨과 제2 목표 로우 레벨을 포함하는 것으로, 그 중, 제1 목표 로우 레벨은 제2 목표 로우 레벨보다 크되, 제1 목표 로우 레벨과 제2 목표 로우 레벨의 값은 VGL 전압의 값과 크게 차이가 나지 않는다. 일부 상황 하에서는, 제2 목표 하이 레벨을 제1 목표 로우 레벨보다 크게 구성할 수 있다.

도 5에서 도시하는 바와 같이, 종래 기술에서, 모듈은 단지 하나의 VGH 모듈 및 하나의 VGL 모듈을 구비한다. 단, 종래의 VGH 모듈과 VGL 모듈은 모두 다중 출력 기능을 구비하는 것으로, 서로 다른 모드를 선택함으로써, 서로 다른 채널을 통해 서로 다른 전압을 출력할 수 있다. 따라서, VGH 모듈을 통해 제1 목표 하이 레벨과 제2 목표 하이 레벨을 생성할 수 있고, VGL 모듈을 통해 제1 목표 로우 레벨과 제2 목표 로우 레벨을 생성할 수 있다.

하지만, 상기 방식 하에서, 전압의 변환효율은 그다지 높지 않다. 따라서, 전압의 변환효율을 향상시키기 위하여, 제1 목표 하이 레벨과 제2 목표 하이 레벨을 서로 다른 VGH 모듈에 의해 생성되도록 하고, 제1 목표 로우 레벨과 제2 목표 로우 레벨을 서로 다른 VGL 모듈에 의해 생성되도록 할 수 있다. 예를 들면, 도 6에서 도시하는 바와 같이, 모듈에 제1 VGH 모듈과 제2 VGH 모듈을 포함하는 두 개의 VGH 모듈을 설치하고, 또한 제1 VGL 모듈과 제2 VGL 모듈을 포함하는 두 개의 VGL 모듈을 더 설치한다. 그 중, 제1 목표 하이 레벨은 제1 VGH 모듈을 통해 생성되고, 제2 목표 하이 레벨은 제2 VGH 모듈을 통해 생성되며, 제1 목표 로우 레벨은 제1 VGL 모듈을 통해 생성되고, 제2 목표 로우 레벨은 제2 VGL 모듈을 통해 생성된다. 서로 다른 VGH 모듈을 통해 각각 제1 목표 하이 레벨과 제2 목표 하이 레벨을 생성하고, 서로 다른 VGL 모듈을 통해 각각 제1 목표 로우 레벨과 제2 목표 로우 레벨을 생성함으로써, 전압 변환의 효율을 효과적으로 향상시킬 수 있다.

상술한 내용에서는 본 발명의 실시예의 방법을 상세히 설명하였으며, 이하의 내용에서는 본 발명의 실시예의 상술한 방안을 보다 용이하게 실시하기 위하여, 대응되게 상술한 방안을 실시하기 위하여 조합하여 사용되는 장치도 제공한다.

도 7을 참조하면, 도 7은 기생용량의 제거 장치를 제공한다. 본 실시예의 장치(70)는, 다수 개의 게이트 라인, 다수 개의 소스 라인, 다수 개의 공통전극 라인, 다수 개의 멀티 플렉스 라인을 포함하고, 상기 다수 개의 공통전극의 연장 방향과 상기 소스 라인의 연장 방향은 평행하고, 공통전극은 다수 개의 센싱 블록을 포함하며, 상기 공통전극은 터치 구동전극으로 재사용되며, 다수 개의 공통전극 라인은 각각 다수 개의 센싱 블록에 연결되고, 상기 다수 개의 멀티 플렉스 라인은 각각 상기 다수 개의 게이트 라인에 연결되며, 그 중, 스캔 주기는 디스플레이 스캔 주기와 터치 스캔 주기를 포함하고, 상기 장치(70)는 제1 입력 모듈(71), 제2 입력 모듈(72) 및 제3 입력 모듈(73)을 포함한다.

상기 제1 입력 모듈(71)은 터치 스캔 주기에서, 상기 다수 개의 소스 라인에 제1 아날로그 신호를 입력하는데 사용되고, 상기 제2 입력 모듈(72)은 상기 다수 개의 멀티 플렉스 라인에 제2 아날로그 신호를 입력하는데 사용되며, 상기 제3 입력 모듈(73)은 상기 다수 개의 게이트 라인에 제3 아날로그 신호를 입력하는데 사용됨으로써, 상기 다수 개의 게이트 라인, 다수 개의 소스 라인, 다수 개의 공통전극 및 다수 개의 센싱 블록 사이에 형성되는 기생용량이 제거되도록 한다. 그 중, 상기 제1 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형이 유사하고, 상기 제2 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형이 유사하며, 상기 제3 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형이 유사하다.

선택적으로, 상기 제1 목표 하이 레벨은 제1 VGH 모듈을 통해 생성되고, 상기 제2 목표 하이 레벨은 제2 VGH 모듈을 통해 생성되며, 상기 제1 목표 로우 레벨은 제1 VGL 모듈을 통해 생성되며, 상기 제2 목표 로우 레벨은 제2 VGL 모듈을 통해 생성된다.

선택적으로, 상기 제1 아날로그 신호와 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형은 완전히 동일하다.

본 발명의 실시예에서, 다수 개의 소스 라인에 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호의 파형과 유사한 제1 아날로그 신호를, 다수 개의 멀티 플렉스 라인에 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호의 파형과 유사한 제2 아날로그 신호를, 다수 개의 게이트 라인에 공통전극에 입력되는 터치 스캔 신호의 파형과 유사한 제3 아날로그 신호를 각각 입력함으로써, 풀 인셀 터치 스크린에 존재하는 기생용량이 입력되는 터치 스캔 신호에 미치는 영향을 줄일 수 있다.

당업자는 상술한 실시예 방법에서의 모든 과정 또는 일부 과정을 이해하고 구현할 수 있고, 컴퓨터 프로그램을 통해 관련 하드웨어를 지령함으로써 완성할 수 있으며, 상기 프로그램은 컴퓨터 판독가능 저장 매체에 저장될 수 있으며, 상기 프로그램은 실행 시, 상술한 각 방법의 실시예의 과정을 포함할 수 있다. 그 중, 상기 저장 매체는 자기 디스크, 광 디스크, 읽기 전용 기억장치(Read-Only Memory, ROM) 또는 램(Random Access Memory, RAM) 등을 포함할 수 있다.

이상 개시한 내용은 단지 본 발명의 비교적 바람직한 실시예인 것으로, 본 발명의 권리 범위가 이에 의해 한정되지 않는다는 것은 자명하다. 당업자는 상술한 실시예의 모든 과정 또는 일부 과정을 이해하고 구현할 수 있으며, 본 발명의 권리범위에 근거하여 진행한 동등한 변화는 본 발명의 범위에 속한다.

Claims

기생용량의 제거방법에 있어서,
터치 디스플레이 패널은 다수 개의 게이트 라인, 다수 개의 소스 라인, 다수 개의 공통전극 라인, 다수 개의 멀티 플렉스 라인을 포함하고, 상기 다수 개의 공통전극의 연장 방향과 상기 소스 라인의 연장 방향은 평행하고, 공통전극은 다수 개의 센싱 블록을 포함하며, 상기 공통전극은 터치 구동 전극으로 재사용되며, 다수 개의 공통전극 라인은 각각 다수 개의 센싱 블록에 연결되고, 상기 다수 개의 멀티 플렉스 라인은 각각 상기 다수 개의 게이트 라인에 연결되며, 그 중, 스캔 주기는 디스플레이 스캔 주기와 터치 스캔 주기를 포함하는 것으로,
터치 스캔 주기에서, 상기 다수 개의 소스 라인에 제1 아날로그 신호를 입력하고, 상기 다수 개의 멀티 플렉스 라인에 제2 아날로그 신호를 입력하며, 상기 다수 개의 게이트 라인에 제3 아날로그 신호를 입력함으로써, 상기 다수 개의 게이트 라인, 다수 개의 소스 라인, 다수 개의 공통전극 및 다수 개의 센싱 블록 사이에 형성되는 기생용량이 제거되도록 하고;
그 중, 상기 제1 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형이 유사하고, 상기 제2 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형이 유사하며, 상기 제3 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형이 유사하고,
상기 제2 아날로그 파형은 제1 목표 하이 레벨과 제2 목표 하이 레벨을 포함하고, 상기 제2 아날로그 파형은 제1 목표 로우 레벨과 제2 목표 로우 레벨을 포함하며, 상기 제1 목표 하이 레벨과 상기 제2 목표 하이 레벨은 서로 다른 VGH 모듈을 통해 생성되고, 상기 제1 목표 로우 레벨과 상기 제2 목표 로우 레벨은 서로 다른 VGL 모듈을 통해 생성되고,
상기 제1 목표 하이 레벨은 제1 VGH 모듈을 통해 생성되고, 상기 제2 목표 하이 레벨은 제2 VGH 모듈을 통해 생성되며, 상기 제1 목표 로우 레벨은 제1 VGL 모듈을 통해 생성되고, 상기 제2 목표 로우 레벨은 제2 VGL 모듈을 통해 생성되는 것을 특징으로 하는 기생용량의 제거방법.
삭제
삭제
제1항에 있어서,
상기 제1 목표 하이 레벨 ＞ 상기 제2 목표 하이 레벨 ＞ 상기 제1 목표 로우 레벨 ＞ 상기 제2 목표 로우 레벨인 것을 특징으로 하는 기생용량의 제거방법.
제1항에 있어서,
상기 제1 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형은 완전히 동일한 것을 특징으로 하는 기생용량의 제거방법.
기생용량의 제거장치에 있어서,
터치 디스플레이 패널은 다수 개의 게이트 라인, 다수 개의 소스 라인, 다수 개의 공통전극 라인, 다수 개의 멀티 플렉스 라인을 포함하고, 상기 다수 개의 공통전극의 연장 방향과 상기 소스 라인의 연장 방향은 평행하고, 공통전극은 다수 개의 센싱 블록을 포함하며, 상기 공통전극은 터치 구동 전극으로 재사용되며, 다수 개의 공통전극 라인은 각각 다수 개의 센싱 블록에 연결되고, 상기 다수 개의 멀티 플렉스 라인은 각각 상기 다수 개의 게이트 라인에 연결되며, 그 중, 스캔 주기는 디스플레이 스캔 주기와 터치 스캔 주기를 포함하고, 상기 제거장치는 제1 입력 모듈, 제2 입력 모듈 및 제3 입력 모듈을 포함하는 것으로,
상기 제1 입력 모듈은 터치 스캔 주기에서, 상기 다수 개의 소스 라인에 제1 아날로그 신호를 입력하는데 사용되고, 상기 제2 입력 모듈은 상기 다수 개의 멀티 플렉스 라인에 제2 아날로그 신호를 입력하는데 사용되며, 상기 제3 입력 모듈은 상기 다수 개의 게이트 라인에 제3 아날로그 신호를 입력하는데 사용됨으로써, 상기 다수 개의 게이트 라인, 다수 개의 소스 라인, 다수 개의 공통전극 및 다수 개의 센싱 블록 사이에 형성되는 기생용량이 제거되도록 하고;
그 중, 상기 제1 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형이 유사하고, 상기 제2 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형이 유사하며, 상기 제3 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형이 유사하고,
상기 제2 아날로그 파형은 제1 목표 하이 레벨과 제2 목표 하이 레벨을 포함하고, 상기 제2 아날로그 파형은 제1 목표 로우 레벨과 제2 목표 로우 레벨을 포함하며, 상기 제1 목표 하이 레벨과 상기 제2 목표 하이 레벨은 서로 다른 VGH 모듈을 통해 생성되고, 상기 제1 목표 로우 레벨과 상기 제2 목표 로우 레벨은 서로 다른 VGL 모듈을 통해 생성되고,
상기 제1 목표 하이 레벨은 제1 VGH 모듈을 통해 생성되고, 상기 제2 목표 하이 레벨은 제2 VGH 모듈을 통해 생성되며, 상기 제1 목표 로우 레벨은 제1 VGL 모듈을 통해 생성되고, 상기 제2 목표 로우 레벨은 제2 VGL 모듈을 통해 생성되는 것을 특징으로 하는 기생용량의 제거장치.
삭제
삭제
제6항에 있어서,
상기 제1 목표 하이 레벨 ＞ 상기 제2 목표 하이 레벨 ＞ 상기 제1 목표 로우 레벨 ＞ 상기 제2 목표 로우 레벨인 것을 특징으로 하는 기생용량의 제거장치.
제6항에 있어서,
상기 제1 아날로그 신호와 상기 공통전극에 입력되는 스캔 신호의 파형은 완전히 동일한 것을 특징으로 하는 기생용량의 제거장치.