KR102159037B1 - 방사선 계측 용기 및 방사선 계측 방법 - Google Patents

방사선 계측 용기 및 방사선 계측 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR102159037B1
KR102159037B1 KR1020180157417A KR20180157417A KR102159037B1 KR 102159037 B1 KR102159037 B1 KR 102159037B1 KR 1020180157417 A KR1020180157417 A KR 1020180157417A KR 20180157417 A KR20180157417 A KR 20180157417A KR 102159037 B1 KR102159037 B1 KR 102159037B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
target sample
measurement
radiation
total
measuring
Prior art date
Application number
KR1020180157417A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20200069874A (ko
Inventor
김현철
고영건
임종명
이완로
최근식
Original Assignee
한국원자력연구원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국원자력연구원 filed Critical 한국원자력연구원
Priority to KR1020180157417A priority Critical patent/KR102159037B1/ko
Publication of KR20200069874A publication Critical patent/KR20200069874A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102159037B1 publication Critical patent/KR102159037B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
    • G01T7/02—Collecting means for receiving or storing samples to be investigated and possibly directly transporting the samples to the measuring arrangement; particularly for investigating radioactive fluids
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

본 발명은 대상시료의 전알파 또는 전베타 계측을 위한 방사선 계측 용기로서, 상기 대상시료를 수용하는 공간의 바닥을 형성하는 바닥부 및 상기 바닥부의 둘레에서 상방으로 연장되어 형성되는 측벽부를 포함하며, 상기 바닥부의 대상시료 측의 적어도 일부에는 오목하게 만입된 패턴형 홈부가 형성되어 있고, 상기 바닥부는 불소계 중합체를 포함하는 것인 방사선 계측 용기 및 바닥부 및 상기 바닥부의 둘레에서 상방으로 연장되어 형성되는 측벽부를 포함하는 계측 용기를 이용하여서, 알파입자 또는 베타입자를 방출하는 표준물질의 전알파 또는 전베타를 계측하여서 고형분의 무게에 따른 계측효율의 상관관계를 도출하는 단계; 대상시료의 고형분의 무게를 측정하고 상기 계측효율의 상관관계를 이용하여서 상기 대상시료의 고형분의 무게에 따른 계측효율을 결정하는 단계; 및 상기 계측 용기를 이용하여서 상기 대상시료의 전알파 또는 전베타를 계측하고, 이로부터 상기 결정된 계측효율을 이용하여서 상기 대상시료로부터 방출되는 전알파 또는 전베타의 방사선량을 도출하는 단계;를 포함하는 것인 방사선 계측 방법으로서, 상기 바닥부는 불소계 중합체를 포함하는 것이고, 상기 표준물질 또는 대상시료의 전알파 또는 전베타를 계측하는 단계는, 상기 바닥부의 적어도 일부에 오목하게 만입되어 형성된 패턴형 홈부의 내부에 상기 표준물질 또는 대상시료를 고르게 분포시키는 것을 포함하는 것인 방사선 계측 방법에 관한 것이다.

Description

방사선 계측 용기 및 방사선 계측 방법 {Vessel for Measuring Radiation and Method for Measuring Radiation}
본 발명은 방사선 계측 용기 및 방사선 계측 방법에 관한 것으로서, 구체적으로 방사성폐기물 처분을 위한 필수 시험항목인 전알파 또는 전베타 계측시에 방사선 계측 용기의 부식을 방지하고, 이를 이용한 방사선 계측시 계측효율의 오차를 줄이는 방법에 관한 것이다.
원자력 시설 운영 중 또는 해체 후 방출하는 방사성 폐기물은 방사성 특성평가 과정을 거쳐야 한다. 방사능 준위에 따라 중·저준위 방사성 폐기물 처분장으로 이송하여 처분한다. 원자력안전위원회 고시 [방사성폐기물 분류 및 자체처분 기준에 관한 규정] (2017-65호)에 따라, 하기 표 1과 같이 11 개 핵종을 분석해서, 기준 농도 이하가 되어야, 방사성 폐기물을 처리할 수 있도록 규제하고 있다.
[표 1]
Figure 112018123077788-pat00001
일반적으로 전알파/전베타를 계측할 때 종래 스테인리스 스틸 플란쳇(planchet)을 계측 용기로 사용하였다. 액체시료의 경우에는 이를 증발시켜 고형물 형태로 만들어 계측 용기에 담고, 고체시료의 경우에는 그대로 계측 용기에 담는다. 이 때, 계측 용기에 수용될 시료의 부피가 크거나, 시료 내에 염(salt)이 많아 증발 후에도 남아있는 염의 양이 많은 경우에는 전알파 방사성 특성상 비정거리가 짧기 때문에 자기흡수(self-absorption)가 일어나 계측효율이 떨어지게 되어, 실제 전알파값보다 작은 값으로 계측된다. 즉, 시료와 계측기 사이의 거리에 따라 계측장비에서 검출되는 전알파 계측값이 낮아지게 된다. 따라서, 시료의 고형분의 무게 동일하더라도, 플란쳇 상에 고르게 퍼져있게 하기 위한 작업이 중요하다.
스테인리스 스틸 플란쳇은 제작비용도 저렴하고, 액상의 시료가 골고루 퍼지기 때문에 수분의 증발 후에 남은 고형분도 플란쳇에 고르게 분포되게 된다. 그러나 지하수, 지표수를 포함한 액상의 시료를 이용하는 경우 시료 채취 당시에 존재하는 일부 금속 이온이 용기에 흡착되는 것을 막기 위해 산을 넣어 낮은 pH를 유지하게 하고, 고상의 시료의 경우에는 전알파/전베타 계측을 위해 시료를 화학처리해야 할 때도 있기 때문에, 산성 또는 염기성을 띠게 된다. 이렇게 시료가 산성 또는 염기성을 띠게 됨에 따라, 기존의 스테인리스 스틸 플란쳇은 방사선 계측 과정 또는 계측 후에 부식될 가능성이 높고, 그 과정에서 산성 기체(HCl 등), 또는 할로겐 기체(Cl2 등)가 발생하는 문제가 있었다.
따라서, 위와 같은 스테인리스 스틸 플란쳇의 부식을 방지하고, 전알파/전베타 계측시 계측효율의 저하를 방지하기 위한 연구가 다각도로 수행되고 있는 실정이다.
본 발명은 위와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 방사선 계측 용기의 바닥부에 형성된 패턴형 홈부에 대상시료가 골고루 퍼질 수 있게 되어서, 계측효율의 오차를 줄이고, 플라스틱 재질의 계측 용기를 사용함에 따라 스테인리스 스틸 플란쳇에 비하여 방사선 계측 용기의 부식 없이 전알파 또는 전베타를 계측할 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에 따르면, 대상시료의 전알파 또는 전베타 계측을 위한 방사선 계측 용기로서, 상기 대상시료를 수용하는 공간의 바닥을 형성하는 바닥부 및 상기 바닥부의 둘레에서 상방으로 연장되어 형성되는 측벽부를 포함하며, 상기 바닥부의 대상시료 측의 적어도 일부에는 오목하게 만입된 패턴형 홈부가 형성되어 있고, 상기 바닥부는 불소계 중합체를 포함하는 것인 방사선 계측 용기를 제공한다.
본 발명의 또 하나의 실시형태에 따르면, 바닥부 및 상기 바닥부의 둘레에서 상방으로 연장되어 형성되는 측벽부를 포함하는 계측 용기를 이용하여서, 알파입자 또는 베타입자를 방출하는 표준물질의 전알파 또는 전베타를 계측하여서 고형분의 무게에 따른 계측효율의 상관관계를 도출하는 단계; 상기 대상시료의 고형분의 무게를 측정하고 상기 계측효율의 상관관계를 이용하여서 상기 대상시료의 고형분의 무게에 따른 계측효율을 결정하는 단계; 및 상기 계측 용기를 이용하여서 대상시료의 전알파 또는 전베타를 계측하고, 이로부터 상기 결정된 계측효율을 이용하여서 상기 대상시료로부터 방출되는 전알파 또는 전베타의 방사선량을 도출하는 단계;를 포함하는 것인 방사선 계측 방법으로서, 상기 바닥부는 불소계 중합체를 포함하는 것이고, 상기 표준물질 또는 대상시료의 전알파 또는 전베타를 계측하는 단계는, 상기 바닥부의 적어도 일부에 오목하게 만입되어 형성된 패턴형 홈부의 내부에 상기 표준물질 또는 대상시료를 고르게 분포시키는 것을 포함하는 것인 방사선 계측 방법을 제공한다.
본 발명에 따른 방사선 계측 용기는 가연성 폐기물로 분류될 수 있는 불소계 중합체를 포함하는 재질이어서 방사선(전알파, 전베타)을 계측함에 있어서, 그 과정에서 기체가 발생하는 스테인리스 스틸 재질의 계측 용기와는 달리 용기의 부식의 위험이 없고, 바닥부에 형성된 패턴형 홈부에 의해 계측 용기의 바닥부에 대상시료가 고르게 분산(분포)됨에 따라, 전알파 또는 전베타 계측시 계측효율의 오차를 줄일 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시예 1 및 2에 따른 나선형의 홈부와 도트형의 홈부가 형성된 바닥부의 SEM 사진을 나타낸 도시이다.
도 2는 본 발명의 방사선 계측 방법의 일 실시형태에 관한 모식도를 나타낸 도시이다.
도 3은 본 발명의 일 실시형태에 따라, 표준물질(KCl)을 이용하여 전알파 및 전베타 계측시의 계측효율의 상관관계의 식을 도출한 그래프를 나타낸 도시이다.
도 4는 본 발명의 실시예 1 및 2에 따른 나선형의 홈부와 도트형의 홈부가 형성된 바닥부를 포함하는 플란쳇을 일정각도로 기울여서 찍은 SEM 사진을 나타낸 도시이다.
도 5는 본 발명의 실시예 1 및 2에 따른 나선형의 홈부와 도트형의 홈부가 형성된 바닥부를 포함하는 플란쳇을 Laser Microscope을 이용한 3D 이미지를 나타낸 도시이다.
도 6은 본 발명의 실시예 1, 2 및 비교예 1의 플란쳇의 접촉각을 나타낸 도시이다.
도 7은 본 발명의 실험예 1-4에서 수분 증발실험을 수행한 결과를 나타낸 도시이다.
도 8은 본 발명의 실험예 1-4에서 수분 증발실험의 전·후의 결과를 나타낸 도시이다.
도 9는 본 발명의 실험예 2에 따라 실시예 1, 2 및 비교예 1의 플란쳇을 이용하여 전알파 계측효율을 나타낸 도시이다.
도 10은 본 발명의 비교예 1의 플란쳇을 이용하여 전알파 계측 후 7일 경과한 플란쳇을 나타낸 도시이다.
도 11은 본 발명의 실시예 1 및 실시예 2에 따른 나선형의 홈부와 도트형의 홈부가 형성된 바닥부를 포함하는 플란쳇을 Laser Microscope를 이용하여 Line Scanning을 계측하여 얻은 깊이 프로파일(Depth profile)을 나타낸 도시이다.
도 12는 본 발명의 실시예 2에 따른 도트형의 홈부가 형성된 바닥부를 포함하는 테프론 플란쳇과, 비교예 2에 따른 패턴형 홈부가 형성되지 않은 테프론 재질의 플란쳇의 시료의 퍼짐정도를 나타낸 도시이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고, 여러 가지 실시예를 가질 수 있는바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
본 발명에서 사용된 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위하여 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시예에 도시된 구성은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 불과한 것이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있다.
이하, 본 발명을 상세히 설명한다.
본 발명은 방사선 계측 용기를 제공한다.
상기 방사선 계측 용기는 대상시료의 전알파 또는 전베타 계측을 위한 방사선 계측 용기로서, 상기 대상시료를 수용하는 공간의 바닥을 형성하는 바닥부 및 상기 바닥부의 둘레에서 상방으로 연장되어 형성되는 측벽부를 포함하며, 상기 바닥부의 대상시료 측의 적어도 일부에는 오목하게 만입된 패턴형 홈부가 형성되어 있고, 상기 바닥부는 불소계 중합체를 포함할 수 있다.
방사선을 계측하고자 하는 대상시료(예를 들어, 방사성 폐기물 등)로부터 전알파 또는 전베타 계측 시에, 지하수, 지표수와 같은 액상의 시료의 경우에는 채취 당시의 일부 금속 이온이 계측 용기에 흡착되는 것을 막기 위해 산을 넣어 낮은 pH를 유지하게 하거나, 고상의 시료의 경우에는 이를 분해하는 과정에서 산성 또는 염기성을 띠게 되어, 종래의 스테인리스 스틸 재질의 용기(플란쳇, planchet)를 이용하는 경우에는, 전알파 또는 전베타 계측 시에 부식 가능성이 높고 그 과정에서 기체(산성 기체(HCl 등), 또는 할로겐 기체(Cl2 등))가 발생하는 문제가 생길 수 있었다. 그러나, 본 발명의 상기 바닥부가 불소계 중합체를 포함하는 경우에는, 스테인리스 스틸 용기와는 달리, 계측 용기의 부식이 발생하는 문제를 원천적으로 봉쇄할 수 있는 이점이 있다.
상기 불소계 중합체는 적어도 2개의 불소 원자로 치환된 올레핀 유래의 중합체를 포함할 수 있다.
상기 불소계 중합체는, 적어도 2개의 불소 원자로 치환된 올레핀 유래의 단일 중합체일 수 있고, 적어도 2개의 불소 원자로 치환된 올레핀과, 이와 다른 종류의 모노머들이 공중합되어 공중합체를 형성할 수도 있으나, 구체적으로는 적어도 2개의 불소 원자로 치환된 올레핀 유래의 단일 중합체인 것이 바람직하다.
상기 올레핀은 적어도 2개의 불소 원자로 치환된 C2~C4 올레핀 중에서 선택되는 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 올레핀은 예를 들어, 에틸렌, 프로필렌, 또는 부틸렌 등일 수 있다.
상기 불소계 중합체는 4개의 불소 원자로 치환된 올레핀 유래의 단일 중합체인 것이 바람직하고, 더 구체적으로는 그 중에서도 테프론(Teflon)을 포함할 수 있다. 상기 테프론은 내열성, 내부식성이 우수하여서 액상의 대상시료를 가열/증발/건조하는 경우에도, 열에 의한 변형이 없는 장점이 있다.
상기 계측 용기는 바닥부와 이의 둘레에서 상방으로 연장되어 형성되는 측벽부를 포함하고, 상기 바닥부와 상기 측벽부는 동일한 재질일 수 있으며, 상기 바닥부와 상기 측벽부의 두께를 동일하게 하거나, 상이하게 할 수 있다.
상기 계측 용기의 바닥부의 형태는 원반 형상일 수 있고, 다양한 다각형 형상일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 계측 용기의 바닥부가 원반 형상인 경우, 그 직경은 30 내지 60 mm일 수 있고, 구체적으로는 40 내지 50 mm일 수 있다.
상기 계측 용기의 바닥부가 다각형 형상인 경우, 그 다각형의 외접원의 직경은 30 내지 60 mm일 수 있고, 구체적으로는 40 내지 50 mm일 수 있다.
상기 바닥부의 대상시료 측의 적어도 일부에는 오목하게 만입된 패턴형의 홈부가 형성될 수 있다.
상기 패턴형 홈부는 상기 대상시료 측의 바닥부 전체 면적의 90% 이상의 면적에 형성될 수 있다. 상기 패턴형 홈부가 상기 바닥부 전체 면적의 90 % 미만인 경우에는 대상시료가 상기 계측 용기 바닥부에 골고루 퍼지지 못하는 문제가 발생할 수 있다.
상기 패턴형 홈부는 홈을 형성하는데 사용될 수 있는 침, 못 등을 이용하여 형성할 수 있으며, 주물 형태로 가공한 주형을 이용하여 패턴형 홈부를 형성할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
도 1에는 본 발명의 일 실시형태에 따른, 나선형의 홈과 도트형의 홈이 형성된 바닥부의 SEM 사진을 나타내었다.
이것을 일정한 각도로 기울여, SEM 이미지를 관찰하면, 도 4와 같이 홈부의 가장자리 형태를 뚜렷하게 확인할 수 있다.
도 4에서 보는 바와 같이, 홈부를 형성하는 조건에 따라서 상대적으로 불규칙하고 거친 가장자리가 나오기도 하고(못을 이용한 나선형 홈부), 상대적으로 일정한 모양의 깨끗한 가장자리가 나오기도 한다는(주물을 이용한 도트형 홈부) 것을 확인할 수 있다.
상기 패턴형 홈부는 나선형, 도트형 및 동심원형으로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 하나의 형태의 홈부를 포함할 수 있다.
전알파 계측시에 계측효율은 계측하고자 하는 대상시료의 고형분의 무게가 클수록 시료와 계측기 사이의 거리가 짧아지기 때문에, 전알파 계측기의 계측효율이 감소하게 된다. 다시 말하면, 고형분의 무게, 즉 고형분이 계측 용기(플란쳇) 내에서의 퍼짐 정도에 따라 전알파 계측의 계측효율이 영향을 받게 된다. 한편, 전베타 계측시에 계측효율은 고형분의 무게와 관계없이 계측효율이 일정하다.
상기 계측효율이란 [(방사선량 검출기의 계측값)/(대상시료에서 실제 방출되는 방사선량)Х100]을 의미한다.
따라서, 상기 바닥부에 전술한 패턴형 홈부를 형성하는 경우에 액상의 대상시료가 바닥부 전면에 골고루 퍼지게 되고, 상기 액상의 대상시료를 고형분의 형태로 가열/증발/건조하는 과정에서 수분이 고르게 증발되어서, 고형분이 상기 계측 용기의 바닥부에 고르게 분포하게 됨에 따라, 상기 대상시료의 전알파 계측시에 계측효율이 감소하는 현상을 방지할 수 있게 된다.
상기 나선형 홈부의 경우, 나선 사이의 패턴 간격이 0.1 내지 0.5 mm일 수 있다. 상기 나선 사이의 패턴 간격이 0.1 mm 미만인 경우에는 나선 사이의 폭이 좁아서 대상시료가 뭉치는 현상이 나타날 수 있으며, 나선 사이의 패턴 간격이 0.5 mm 초과인 경우에는 대상시료가 고르게 퍼지지 못하여 계측효율이 저하되고, 부정확도가 커지는 문제가 발생할 수 있다.
상기 동심원형 홈부의 경우, 동심원들 사이의 패턴 간격은 0.1 내지 0.5 mm일 수 있다. 상기 동심원들 사이의 패턴 간격이 0.1 mm 미만인 경우에는 패턴 간격이 너무 좁아서 대상시료가 뭉치는 현상이 나타날 수 있으며, 동심원들 사이의 패턴 간격이 0.5 mm 초과인 경우에는 대상시료가 고르게 퍼지지 못하여 계측효율이 저하되고, 부정확도가 커지는 문제가 발생할 수 있다.
상기 도트형 홈부의 경우, 도트들 사이의 패턴 간격은 0.1 내지 0.5 mm일 수 있다. 상기 도트형 홈부의 패턴 간격이 0.1 mm 미만인 경우에는 패턴 간격이 너무 좁아서 대상시료가 뭉치는 현상이 나타날 수 있으며, 패턴 간격이 0.5 mm 초과인 경우에는 대상시료가 고르게 퍼지지 못하여 계측효율이 저하되고, 부정확도가 커지는 문제가 발생할 수 있다.
상기 패턴형 홈부는 깊이 방향에서의 단면이 장방형, 역삼각형, 반원형 및 반타원형으로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 하나의 모양으로 형성되어 있을 수 있다.
상기 깊이 방향은 상기 패턴형 홈부가 형성된 바닥면의 수직 방향을 의미할 수 있다.
이 경우, 상기 패턴형 홈부의 최심점의 깊이는 0.03 내지 0.05 mm일 수 있다. 상기 패턴형 홈부의 최심점의 깊이가 0.03 mm 미만인 경우에는 대상시료가 고르게 퍼지는 효과가 없어서 전알파/전베타 계측 효율이 저하되는 문제가 발생할 수 있고, 최심점의 깊이가 0.05 mm 초과인 경우에는 패턴형 홈부의 깊이가 지나치게 깊어서, 자기흡수가 발생할 가능성이 있어 오히려 대상시료로부터 전알파/전베타의 정확한 계측이 어렵게 되어 오차가 커지는 문제가 발생할 수 있다.
상기 바닥부의 두께 대비 상기 패턴형 홈부의 최심점의 깊이의 비율은 0.75% 내지 1.25%일 수 있다. 상기 바닥부의 두께 대비 상기 패턴형 홈부의 최심점의 깊이의 비율이 0.75% 미만인 경우에는 대상 시료가 고르게 퍼지지 못하여 계측효율이 낮아질 수 있고, 1.25% 초과인 경우에는 계측 용기(플란쳇)의 바닥면이 얇아져 바닥이 평평하지 않고 휘어지는 문제가 발생할 수 있다.
또한, 본 발명은 방사선 계측 방법을 제공한다.
상기 방사선 계측 방법은 바닥부 및 상기 바닥부의 둘레에서 상방으로 연장되어 형성되는 측벽부를 포함하는 계측 용기를 이용하여서, 알파입자 또는 베타입자를 방출하는 표준물질의 전알파 또는 전베타를 계측하여서 고형분의 무게에 따른 계측효율의 상관관계를 도출하는 단계; 상기 대상시료의 고형분의 무게를 측정하고 상기 계측효율의 상관관계를 이용하여서 상기 대상시료의 고형분의 무게에 따른 계측효율을 결정하는 단계; 및 상기 계측 용기를 이용하여서 대상시료의 전알파 또는 전베타를 계측하고, 이로부터 상기 결정된 계측효율을 이용하여서 상기 대상시료로부터 방출되는 전알파 또는 전베타의 방사선량을 도출하는 단계;를 포함하는 것인 방사선 계측 방법으로서, 상기 바닥부는 불소계 중합체를 포함하는 것이고, 상기 표준물질 또는 대상시료의 전알파 또는 전베타를 계측하는 단계는, 상기 바닥부의 적어도 일부에 오목하게 만입되어 형성된 패턴형 홈부의 내부에 상기 표준물질 또는 대상시료를 고르게 분포시키는 것을 포함할 수 있다.
상기 방사선 계측 방법으로는 기체비례계수관법(Gas-flow Proportional Counter, GPC)와 액체섬광계수법(Liquid Scintillation Counter, LSC) 등이 있으나, 전알파 또는 전베타를 계측할 수 있는 것이면, 이에 제한되지 않고 사용될 수 있다. 또한 상기 전알파 및 전베타 계측은 동일한 장비를 이용할 수 있는데, 이와 같이 동일한 장비(전술한 방사선 계측용기 등)로 동시에 전알파 및 전베타를 분석할 수도 있고, 전알파 또는 전베타 각각을 독립적으로 분석할 수도 있다.
도 2에는 본 발명의 방사선 계측 방법의 일 실시형태에 관한 모식도를 나타내었다.
구체적으로, 계측 용기의 바닥부의 적어도 일부에 오목하게 만입하도록 패턴형 홈부를 형성하고, 이어서 대상시료를 상기 계측 용기에 수용한다. 이 과정에서, 상기 대상시료가 상기 계측 용기의 바닥부에 고르게 분포되도록 액상의 대상시료가 넘치지 않을 만큼 계측 용기를 서서히 움직여주는 단계를 더 포함할 수 있다.
이 때, 상기 패턴형 홈부는 나선형, 도트형 및 동심원형으로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 하나의 형태일 수 있으며, 바닥부의 깊이 방향에서의 단면이 장방형, 역삼각형, 반원형 및 반타원형으로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 하나의 모양으로 형성될 수 있다. 또한 각각 나선 사이의 패턴 간격, 동심원들 사이의 패턴 간격 및 도트들 사이의 패턴 간격은 0.1 내지 0.5 mm일 수 있다. 상기 패턴 간격이 상기 범위를 만족하는 경우에, 대상시료가 바닥부의 패턴형 홈에 고르게 퍼져서, 이후에 전알파/전베타 계측효율의 오차를 줄일 수 있다.
또한, 상기 패턴형 홈부의 최심점의 깊이는 0.03 내지 0.05 mm일 수 있고, 상기 바닥부의 두께 대비 상기 패턴형 홈부의 최심점의 깊이의 비율은 0.75 내지 1.25%일 수 있다. 상기 패턴형 홈부의 최심점의 깊이 및 상기 바닥부의 두께 대비 패턴형 홈부의 최심점의 깊이의 비율이 상기 범위를 만족하는 경우에 자기흡수에 의한 계측효율이 저하되는 것을 방지하여, 계측효율의 오차가 개선될 수 있다.
나아가, 상기 계측 용기의 재질을 적어도 2개의 불소 원자로 치환된 올레핀 유래의 중합체를 포함하는 불소계 중합체로 함으로써, 전알파/전베타 계측시에 발생하는 부식의 문제를 해결할 수 있다. 이 때 상기 불소계 중합체는 테프론인 것이 내열성, 내부식성 측면에서 바람직하다.
상기 대상시료는 액상의 시료일 수 있으며, 상기 대상시료가 고상인 경우에는, 본 발명의 전알파 또는 전베타 계측/분석을 위해서, 액상의 상태로 전환시키는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 고상의 대상시료를 액상으로 전환시키는 단계는 고상의 대상시료에 물, 증류수 또는 탈이온수를 더 포함하는 단계를 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 대상시료를 상기 계측 용기에 수용한 후에는, 상기 대상시료로부터 수분을 증발시켜 고형분 상태로 만들기 위하여 가열 또는 건조하는 단계를 포함할 수 있다.
이 때, 전술한 바와 같이 패턴형 홈부가 형성된 계측 용기를 사용함으로써, 액상의 대상시료가 고르게 분포되게 되어, 수분이 증발한 후에도 고형분이 상기 계측 용기의 바닥면의 패턴형 홈부 표면 및 내부에 고르게 분포될 수 있다.
이어서, 고형분의 대상시료로부터 전알파 또는 전베타를 계측 및 분석하여, 상기 대상시료에서 방출하는 방사선(전알파 또는 전베타 등)의 양을 평가할 수 있다.
일반적으로 방사선 계측기는 시료 중의 방사능을 100% 검출하는 것이 어렵기 때문에, 사전에 방사선 방출량을 알고 있는 표준물질을 이용하여 고형분의 무게에 따른 계측효율[(방사선량 검출기의 계측값)/(방출되는 방사선량)Х100]의 상관관계를 도출한 후에, 미지의 대상시료의 고형분의 무게를 측정하여 상기 상관관계로부터 대상시료에 맞는 계측효율을 결정하고, 대상시료의 전알파 또는 전베타 계측값을 상기 결정된 계측효율로 나누어 줌으로써, 미지의 대상시료에서 방출되는 전알파 또는 전베타의 방사선량을 계산하는 방법을 이용할 수도 있다.
상기 방사선 계측 방법은, 사전에 전술한 계측 용기를 이용하여 알파입자 또는 베타입자를 방출하는 표준물질의 전알파 또는 전베타를 계측하여서 고형분의 무게에 따른 계측효율의 상관관계를 도출하는 단계; 상기 대상시료의 고형분의 무게를 측정한 후 상기 상관관계를 이용하여서 상기 대상시료의 고형분의 무게에 따른 계측효율을 결정하는 단계; 및 상기 대상시료의 고형분의 무게에 따라 결정된 계측효율을 이용하여서 상기 대상시료에서 방출되는 전알파 또는 전베타를 계측하는 단계;를 포함할 수 있다.
상기 표준물질은 우라늄 표준용액, KCl(40K 방사능), Am-241(Americium) 등일 수 있으나, 알파입자 또는 베타입자를 방출하는 물질이면 제한없이 사용될 수 있다.
도 3의 a)에는 본 발명의 일 실시형태에 따라, 표준물질로 KCl 및 Am-241을 이용하여 전알파선의 계측효율의 상관관계의 식을 도출한 그래프를 나타내었고, 도 3의 b)에는 본 발명의 일 실시형태에 따라, 표준물질로 KCl을 이용하여 전베타선의 계측효율의 상관관계의 식을 도출한 그래프를 나타내었다. 이 때, KCl은 베타입자 방출핵종으로서 고형분 무게에 따른 전알파 계측효율에는 영향을 미치지 않는다. 한편, Am-241은 알파입자 방출핵종에 해당된다.
도 3의 a)에 따르면, 전알파 계측시에는 고형분의 무게 즉, 표준물질(KCl)의 고형분이 고르게 분포되는 정도에 따라 계측효율이 달라질 수 있으나, 도 3의 b)에 따르면, 전베타 계측시에는 고형분의 무게, 즉 표준물질(KCl)의 고형분의 분포 정도와 상관없이 계측효율이 일정한 것을 확인할 수 있다.
상기 대상시료의 고형분의 무게는 패턴형 홈부를 형성한 계측 용기만의 무게를 측정하는 단계; 상기 대상시료를 가열/건조한 후에 고형분의 대상시료가 남아있는 계측 용기의 무게를 측정하는 단계; 및 상기 고형분의 대상시료가 남아있는 계측 용기의 무게에서 상기 계측 용기만의 무게를 제외하여, 상기 대상시료의 고형분의 무게를 계산할 수 있다.
위와 같이 본 발명의 방사선 계측 방법에 따르면, 스테인리스 스틸이 아닌 불소계 중합체를 이용한 계측 용기를 사용하여 계측 과정에서 발생할 수 있는 기체 발생 및 부식을 방지할 수 있으며, 계측 용기 바닥부에 패턴형 홈부를 최적의 조건으로 형성함에 따라, 계측 용기에 담기는 대상 시료가 바닥부에 골고루 퍼질 수 있게 되어서 전알파 또는 전베타 계측시에 자기흡수 등에 의한 오차유발 원인을 최소화 함으로써, 계측효율을 스테인리스 스틸 용기와 동일 또는 더 우수하게 달성할 수 있다.
이하, 실시예를 통해 본 발명을 보다 구체적으로 설명한다. 그러나 이들 실시예는 본 발명의 이해를 돕기 위한 것일 뿐 어떠한 의미로든 본 발명의 범위가 이들 실시예로 한정되는 것은 아니다.
<실시예 1>
직경이 47 mm, 두께 4 mm인 테프론 재질의 플란쳇에 끝이 뾰족한 침으로 나선형 모양의 홈부를 형성하였다. 이 때 홈부의 최심점의 깊이는 0.05 mm이고, 홈부의 깊이 방향의 단면은 역삼각형이었다. 플란쳇의 바닥부 두께 대비 홈부의 최심점의 깊이 비율은 1.25%이고, 플란쳇의 바닥부 전체 면적 중 홈부가 형성된 면적은 75%이었다.
<실시예 2>
직경이 47 mm, 두께 4 mm인 테프론 재질의 플란쳇에 끝 단면이 0.4 mm × 0.4 mm 정사각형의 침으로 도트형 모양의 홈부를 형성하였다. 이 때 홈부의 최심점의 깊이는 0.05 mm이고, 홈부의 깊이 방향의 단면은 직사각형이었다. 플란쳇의 바닥부 두께 대비 홈부의 최심점의 깊이 비율은 1.25%이고, 플란쳇의 바닥부 전체 면적 중 홈부가 형성된 면적은 75%이었다.
<비교예 1>
직경이 47 mm인 스테인리스 스틸 플란쳇(Canberra Co. Ltd. 검출기 제조사)을 준비하였다.
<비교예 2>
직경이 47 mm이고 패턴형 홈부가 형성되지 않은 테프론 재질의 플란쳇을 준비하였다.
<실험예 1-1>
상기 실시예 1 및 2에서 제조한 플란쳇의 바닥부의 SEM 사진을 도 1의 (a) 및 (b)에 나타내었고, 상기 플란쳇을 일정각도로 기울여서 찍은 SEM 사진을 도 4의 (a) 및 (b)에 나타내었다.
상기 도 1 및 도 4에 의하면, 플란쳇의 바닥부에 형성된 패턴형 홈부의 깊이가 너무 깊어지면, 깊이 파인 홈에 있는 시료에서 알파입자가 검출기까지 도달하지 못하여, 계측 오차가 발생할 수 있는 것을 알 수 있다.
<실험예 1-2>
상기 실시예 1 및 2에서 제조한 플란쳇의 3D 이미지를 Laser Microscope을 이용하여 3D 이미지를 도 5(a) 및 도 5(b)에 나타내었고, Line Scanning을 통해 계측한 깊이 프로파일(Depth profile)을 도 11에 나타내었다.
상기 도 5에 의하면, 실시예 1의 플란쳇의 나선형 홈부의 깊이 프로파일(profile)이 실시예 2의 플란쳇의 도트형 홈부의 깊이 프로파일보다 범위가 더 큰 것이 확인되었다. 즉, 도트형 홈부의 깊이가 전체적으로 일정한 것을 확인할 수 있다.
<실험예 1-3>
상기 실시예 1 및 2에서 제조한 플란쳇 및 상기 비교예 1에서 제조한 플란쳇의 접촉각을 계측한 결과를 도 6에 나타내었다.
상기 도 6에 의하면, 실시예 1에서 제조한 플란쳇의 접촉각은 비교예 1에서 제조한 플란쳇의 접촉각과 유사한 값을 나타내었고, 실시예 2에서 제조한 플란쳇의 접촉각은 접촉각이 67.9°로 가장 낮았다. 이는 실시예 2에서 제조한 플란쳇의 경우, 바닥부의 표면에서 액상의 시료가 더 고르게 퍼질 수 있다는 것을 의미한다.
<실험예 1-4>
상기 실시예 1 및 2에서 제조한 플란쳇 및 상기 비교예 1에서 제조한 플란쳇을 이용하여, 메틸렌 블루(Methylene blue) 염료를 이용하여, 전알파 시료를 준비할 때 사용되는 증발 온도 조건(가열 온도 90~100℃, 건조 시간 180분)에서 수분의 증발 실험을 수행한 결과를 도 7에 나타내었다.
실시예 1 및 2에서 제조한 플란쳇의 경우에는 바닥부의 패턴형 홈부로 인하여, 수분 증발 후에 염료가 플란쳇에 고르게 퍼져 있는 것을 확인할 수 있으나, 비교예 1의 플란쳇의 경우에는 바닥부의 일부에만 염료가 퍼져 있는 것을 확인할 수 있었다.
<실험예 1-5>
1) 실시예 1에서 제조한 플란쳇 4개, 실시예 2에서 제조한 플란쳇 4개, 비교예 1에서 제조한 플란쳇 3개를 준비하고, 각각의 플란쳇에 KCl을 동일한 양 담고, 각각의 시료에 Am-241을 5 bq씩 투입하였다.
2) 각각의 플란쳇 11개를 동일한 증발 온도 조건(가열 온도 90~100℃, 건조 시간 180분)에서 수분을 증발시켜 고형분의 시료를 만들고, 이에 대해 계측기기(Series 5 XLB, Caanberra)로 전알파를 계측한 총 11개의 계측효율을 기록한 결과를 도 9에 나타내었다.
도 9에 따르면, 비교예 1의 플란쳇의 계측효율의 상대 오차는 8%(n=3), 실시예 1의 플란쳇의 계측효율의 상대 오차는 20%(n=4), 실시예 2의 플란쳇의 계측효율의 상대 오차는 4%(n=4)로, 상대적으로 실시예 2의 플란쳇의 경우에 계측효율의 오차가 현저히 저감되는 것을 확인할 수 있다.
<실험예 1-6>
상기 실시예 2에서 제조한 플란쳇 및 상기 비교예 2에서 제조한 플란쳇을 이용하여, 동일한 양의 메틸렌 블루(Methylene blue) 염료를 이용하여, 시료의 퍼짐 정도를 나타낸 결과를 도 12에 나타내었다.
도 12에 따르면, 비교예 2의 플란쳇의 경우에는 메틸렌 블루 염료가 바닥부의 일부에만 뭉쳐서 나타나는 것을 확인할 수 있고, 실시예 2의 경우에는 시료가 고르게 퍼져있는 것을 확인할 수 있었다.
<실험예 2>
고형분 무게에 따른 계측 효율 결정단계
1) KCl 20 mg 부터 120 mg까지 시료를 준비하여 각각의 시료에 Am-241을 5 bq 투입하였다.
2) 각각의 위 시료를 실시예 1에서 제조한 플란쳇을 4개 준비하여, 각각에 담고, KCl 고형분 무게에 따른 전알파 계측 효율을 계측하여, 도 3과 같은 그래프를 얻었다.
미지의 방사성 폐기물 시료로부터 방출되는 전알파를 계측하는 단계
1) 미지의 방사성 해체 폐기물을 용융하여 액체로 만들고, 시료를 플란쳇에 투입하여 고르게 퍼지도록 하였다.
2) 사전에 시료를 투입하기 전의 플란쳇의 무게를 측정하였다. 플란쳇에 담긴 위 방사성 해체 폐기물 시료로부터 수분을 증발시켜 고형분으로 만들었다. 이후 고형분만 남아있는 플란쳇의 무게를 측정하여, 사전에 측정된 플란쳇만의 무게를 제외하여, 상기 방사성 해체 폐기물의 고형분 무게를 계산하였다.
3) 도 3에서 얻은 그래프에 고형분의 무게에 해당하는 계측효율을 결정하였다.
4) 그 다음, 플란쳇에 남아있는 방사성 해체 폐기물의 고형분으로부터 계측된 전알파 값을, 위 3) 단계에서 구한 계측효율로 나누어 주어, 실제 상기 방사성 해체 폐기물에서 방출되는 전알파량을 결정하였다.
이상에서 본 발명은 기재된 실시예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.

Claims (19)

  1. 대상시료의 전알파 또는 전베타 계측을 위한 방사선 계측 용기로서,
    상기 대상시료를 수용하는 공간의 바닥을 형성하는 바닥부 및 상기 바닥부의 둘레에서 상방으로 연장되어 형성되는 측벽부를 포함하며,
    상기 바닥부의 대상시료 측의 적어도 일부에는 오목하게 만입된 패턴형 홈부가 형성되어 있고,
    상기 바닥부는 불소계 중합체를 포함하고,
    상기 패턴형 홈부는 나선형, 도트형 및 동심원형으로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 하나의 형태의 홈부를 포함하는 것인 방사선 계측 용기.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 불소계 중합체는 적어도 2개의 불소 원자로 치환된 올레핀 유래의 중합체를 포함하는 것인 방사선 계측 용기.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 올레핀은 적어도 2개의 불소 원자로 치환된 C2-C4 올레핀 중에서 선택되는 적어도 하나를 포함하는 것인 방사선 계측 용기.
  4. 청구항 3에 있어서,
    상기 불소계 중합체는 테프론을 포함하는 것인 방사선 계측 용기.
  5. 삭제
  6. 청구항 1에 있어서,
    상기 나선형 홈부는 나선 사이의 패턴 간격이 0.1 내지 0.5 mm인 것인 방사선 계측 용기.
  7. 청구항 1에 있어서,
    상기 동심원형 홈부는 동심원들 사이의 패턴 간격이 0.1 내지 0.5 mm인 것인 방사선 계측 용기.
  8. 청구항 1에 있어서,
    상기 도트형 홈부는 도트들 사이의 패턴 간격이 0.1 내지 0.5 mm인 것인 방사선 계측 용기.
  9. 청구항 1에 있어서,
    상기 바닥부는 직경이 30 내지 60 mm인 원반 형상인 것인 방사선 계측 용기.
  10. 청구항 1에 있어서,
    상기 바닥부는 외접원의 직경이 30 내지 60 mm인 다각형 형상인 것인 방사선 계측 용기.
  11. 청구항 1에 있어서,
    상기 패턴형 홈부는 깊이 방향에서의 단면이 장방형, 역삼각형, 반원형 및 반타원형으로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 하나의 모양으로 형성되어 있는 것인 방사선 계측 용기.
  12. 청구항 1에 있어서,
    상기 바닥부의 두께 대비 상기 패턴형 홈부의 최심점의 깊이의 비율은 0.75% 내지 1.25%인 것인 방사선 계측 용기.
  13. 청구항 1에 있어서,
    상기 패턴형 홈부의 최심점의 깊이는 0.03 mm 내지 0.05 mm인 것인 방사선 계측 용기.
  14. 바닥부 및 상기 바닥부의 둘레에서 상방으로 연장되어 형성되는 측벽부를 포함하는 계측 용기를 이용하여서, 알파입자 또는 베타입자를 방출하는 표준물질의 전알파 또는 전베타를 계측하여서 고형분의 무게에 따른 계측효율의 상관관계를 도출하는 단계;
    대상시료의 고형분의 무게를 측정하고 상기 계측효율의 상관관계를 이용하여서 상기 대상시료의 고형분의 무게에 따른 계측효율을 결정하는 단계; 및
    상기 계측 용기를 이용하여서 상기 대상시료의 전알파 또는 전베타를 계측하고, 이로부터 상기 결정된 계측효율을 이용하여서 상기 대상시료로부터 방출되는 전알파 또는 전베타의 방사선량을 도출하는 단계;
    를 포함하는 것인 방사선 계측 방법으로서,
    상기 바닥부는 불소계 중합체를 포함하는 것이고,
    상기 표준물질 또는 대상시료의 전알파 또는 전베타를 계측하는 단계는, 상기 바닥부의 적어도 일부에 오목하게 만입되어 형성된 패턴형 홈부의 내부에 상기 표준물질 또는 대상시료를 고르게 분포시키는 것을 포함하는 것인 방사선 계측 방법.
  15. 청구항 14에 있어서,
    상기 불소계 중합체는 적어도 2개의 불소 원자로 치환된 올레핀 유래의 중합체를 포함하는 것인 방사선 계측 방법.
  16. 청구항 15에 있어서,
    상기 불소계 중합체는 테프론을 포함하는 것인 방사선 계측 방법.
  17. 청구항 14에 있어서,
    상기 패턴형 홈부는 깊이 방향에서의 단면이 장방형, 역삼각형, 반원형 및 반타원형으로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 하나의 모양으로 형성되어 있는 것인 방사선 계측 방법.
  18. 청구항 14에 있어서,
    상기 바닥부의 두께 대비 상기 패턴형 홈부의 최심점의 깊이의 비율은 0.75% 내지 1.25%인 것인 방사선 계측 방법.
  19. 청구항 14에 있어서,
    상기 패턴형 홈부의 최심점의 깊이는 0.03 mm 내지 0.05 mm인 것인 방사선 계측 방법.
KR1020180157417A 2018-12-07 2018-12-07 방사선 계측 용기 및 방사선 계측 방법 KR102159037B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180157417A KR102159037B1 (ko) 2018-12-07 2018-12-07 방사선 계측 용기 및 방사선 계측 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180157417A KR102159037B1 (ko) 2018-12-07 2018-12-07 방사선 계측 용기 및 방사선 계측 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200069874A KR20200069874A (ko) 2020-06-17
KR102159037B1 true KR102159037B1 (ko) 2020-09-23

Family

ID=71405783

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180157417A KR102159037B1 (ko) 2018-12-07 2018-12-07 방사선 계측 용기 및 방사선 계측 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102159037B1 (ko)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112285141B (zh) * 2020-10-21 2022-09-13 中国核动力研究设计院 辐照后反应堆结构材料sem试样的制备方法及试样盒
CN113204046B (zh) * 2021-05-14 2022-12-06 南华大学 用于水体总α、总β在线测量的方法及叠层探测器
CN114839668A (zh) * 2022-03-15 2022-08-02 大连海事大学 一种测量微生物及有机分子平均辐射剂量的样品盒

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0695143B2 (ja) * 1983-05-27 1994-11-24 富士写真フイルム株式会社 放射線の強度測定法およびその方法に用いられる放射線測定容器
JPH081463B2 (ja) * 1992-05-20 1996-01-10 株式会社生体科学研究所 放射能測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR20200069874A (ko) 2020-06-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102159037B1 (ko) 방사선 계측 용기 및 방사선 계측 방법
Ješkovský et al. Experimental and Monte Carlo determination of HPGe detector efficiency
Jackson Surface effects of high-energy X rays at oblique incidence
TW457493B (en) Pulsed gamma neutron activation analysis (PGNAA) method and apparatus for nondestructive assay of containerized contaminants
Haase et al. Monte Carlo simulation of several gamma-emitting source and detector arrangements for determining corrections of self-attenuation and coincidence summation in gamma-spectrometry
JP6087822B2 (ja) 廃液のアルファ線のｉｎ ｓｉｔｕ核測定のためのシステム及び方法
JP2017505437A (ja) 放射性物体中のベリリウムの量を測定するための装置
Park et al. Measurement of radioactive samples in Marinelli beakers by gamma-ray spectrometry
JP2002098768A (ja) 体積試料中の放射能をゲルマニウム半導体検出器によって測定する方法
Paul et al. A novel α-dosimetry technique using CR-39 detectors with optimized etching and FTIR spectroscopy: A prospective approach towards waste monitoring applications
Theus et al. Analysis of Scintillation Spectrometer Observations of the Penetration of Cs137 Gamma Radiation through Water
Yao et al. Comparison of morphological characteristics for alpha tracks in CR-39 using different radon monitors
US7763858B2 (en) Apparatus and method for measuring radioactive material in a matrix
Ismail Study of change in the efficiency of CR-39 after storage for different product companies by using TRACK_TEST program
Szalóki et al. Efficiency calibration of energy‐dispersive detectors for application in quantitative x‐and γ‐ray spectrometry
Drake et al. Relaxation of excitations in porous silica gels
Lee et al. Thickness evaluation of pipes using density profile on radiographs
Nikezic et al. Computer simulation of radon measurements with nuclear track detectors
RU2225018C2 (ru) Способ обнаружения предметов в верхних слоях грунта, в частности противопехотных мин
Hilgers et al. Characterisation of the PTB ion counter nanodosimeter's target volume and its equivalent size in terms of liquid H2O
KR101221291B1 (ko) 방사선과 집속장치를 이용한 아스팔트 포장도로의 층별 밀도 측정장치 및 그 방법
Alva-Sánchez Background energy spectra for LSO/LYSO scintillation crystals of different geometries
Török et al. Heterogeneity effects in direct XRF analysis of traces of heavy metals preconcentrated on polyurethane foam sorbents
Strickler et al. Fast neutron scattering from thick slabs
JP2008064541A (ja) 放射性廃棄物の放射能測定方法及び放射能測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant