KR102139190B1 - 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명은 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 지문인식센서를 통해 생성된 지문이미지에 존재하는 베젤 자국을 검출하기 위해 상기 지문이미지의 표준편차에서 상기 지문이미지의 극소 면적의 표준편차가 얼마나 벗어 났는지를 통해 지문이미지에 존재하는 베젤 자국을 검출하는 것을 통해 본 발명이 적용된 상기 지문인식센서 시스템은 생성된 상기 지문이미지에 오류가 포함되어 있다는 것으로 인식하고 지문이미지를 다시 생성하는 것을 통해 상기 지문인식센서 자체의 성능을 높이지 않고도 지문인식센서의 성능을 향상시키는 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템에 관한 것이다.

Description

지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템{System for Detecting Bezel Marks on Fingerprint Images}

본 발명은 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 지문인식센서를 통해 생성된 지문이미지에 존재하는 베젤 자국을 검출하기 위해 상기 지문이미지의 표준편차에서 상기 지문이미지의 극소 면적의 표준편차가 얼마나 벗어 났는지를 통해 지문이미지에 존재하는 베젤 자국을 검출하는 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템에 관한 것이다.

지문인식의 정확도를 높이는 방법으로 지문인식센서 자체의 성능을 높이는 방법이 있다.

하지만, 이렇게 지문인식센서 자체의 성능 높이는 방법은 투가 비용 대비 성능 향상의 효율이 낮다는 문제점이 있고 상기 문제점으로 인해 지문인식 시스템의 단가가 높아져 가격 경쟁력이 떨어지는 요인이 될 수 있다.

따라서 본 발명은 상기 문제점을 해결 하기 위해 지문인식센서의 지문이미지를 수학적인 방법으로 평가하여 상기 지문이미지에 베젤 자국이 포함되어 있는 지를 평가하는 것이다.

공개특허공보 10-1999-7009750

https://ko.wikipedia.org/wiki/지문_인식 https://www.bayometric.com/false-acceptance-rate-far-false-recognition-rate-frr/ https://ko.wikipedia.org/wiki/표준_편차 https://ko.wikipedia.org/wiki/분산 https://ko.wikipedia.org/wiki/편차

본 발명이 해결하려는 과제는, 상기 필요성을 해결하기 위한 것으로서, 지문인식센서를 통해 생성된 지문이미지에 포함되어 있는 베젤 자국을 검출할 수 있게 하는 것이다.

본 발명은 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템에 관한 것으로서, 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템에 있어서, 지문인식센서로부터 상기 지문인식센서가 생성한 지문이미지를 입력 받는 입력부(100); 상기 입력부(100)를 통해 입력 받은 상기 지문이미지의 표준편차와 상기 지문이미지의 하나 이상의 특정 영역으로 인접한 영역과는 영역의 반이 중복되는 영역의 표준편차의 차를 기반으로 분석하여 상기 지문이미지에 베젤 자국이 존재하는지 여부를 판단하는 분석부(200); 및 상기 분석부(200)를 통해 분석되어 판단된 결과를 타시스템에서 사용할 수 있는 형식으로 출력하는 출력부(300);를 포함한다.

이때, 상기 분석부(200)는 상기 입력부(100)를 통해 입력 받은 상기 지문이미지의 전체 화소(픽셀, pixel)에 대한 표준편차를 산정하는 전체편차부(210); 인접한 영역과는 영역의 반이 중복되도록 상기 지문이미지에 하나 이상의 특정 크기의 영역으로 나누고 하나 이상의 상기 영역에 존재하는 화소에 대한 표준편차를 상기 영역 마다 산정하는 분할편차부(220); 상기 전체편차부(210)를 통해 산정된 상기 지문이미지의 전체 화소에 대한 표준편차와 상기 분할편차부(220)를 통해 산정된 각각의 상기 영역의 화소에 대한 표준편차의 차를 산정하는 편차거리부(230); 및 기 편차거리부(230)를 통해 산정된 표준편차의 차가 특정 크기 이상인 상기 영역의 수가 특정 수 이상인 경우 상기 지문이미지에 베젤 자국이 존재한다고 판단하는 거리판단부(240);를 포함한다.

본 발명에 따르면 지문인식센서를 통해 생성된 지문이미지에 포함되어 있는 베젤 자국을 검출하는 것을 통해 본 발명이 적용된 상기 지문인식센서 시스템은 생성된 상기 지문이미지에 오류가 포함되어 있다는 것으로 인식하고 지문이미지를 다시 생성하는 것을 통해 상기 지문인식센서 자체의 성능을 높이지 않고도 지문인식센서의 성능을 향상시키는 효과가 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템을 나타내기 위한 블록도 이다.
도 2는본 발명의 일 실시 예에 따른 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템의 분석부(200)를 나타내기 위한 블록도 이다.
도 3 내지 7은본 발명의 일 실시 예에 따른 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템의 분할편차부(220)에서 극소 면적의 표준편차를 산정하는 순서를 나타내는 예시도 이다.

본 발명의 실시를 위한 구체적인 내용을 설명하기에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사항에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 할 것이다.

또한, 본 발명에 관련된 공지 기능 및 그 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는, 그 구체적인 설명을 생략하였음에 유의해야 할 것이다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템에 관해 도 1 내지 7을 참고하여 상세히 설명한다.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템을 나타내기 위한 블록도 이다.

도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템에 있어서, 지문인식센서로부터 상기 지문인식센서가 생성한 지문이미지를 입력 받는 입력부(100)와 상기 입력부(100)를 통해 입력 받은 상기 지문이미지의 표준편차와 상기 지문이미지의 하나 이상의 특정 영역으로 인접한 영역과는 영역의 반이 중복되는 영역의 표준편차의 차를 기반으로 분석하여 상기 지문이미지에 베젤 자국이 존재하는지 여부를 판단하는 분석부(200)와 상기 분석부(200)를 통해 분석되어 판단된 결과를 타시스템에서 사용할 수 있는 형식으로 출력하는 출력부(300)로 이루어진다.

아울러, 상기 지문인식센서의 바람직한 실시 예는 일반적인 지문인식센서를 사용하는 것으로 지문을 인식하여 인식된 지문에 대한 이미지를 생성하는 센서이다.

또한 아울러, 상기 출력부(300)를 통해 상기 분석부(200)의 판단 결과를 출력 받게 되는 시스템이 지문인식 센서인 경우 상기 판단 결과를 활용하여 지문을 다시 인식하는 것을 통해 상기 지문인식 센서의 성능을 높을 수 있다.

도 2는본 발명의 일 실시 예에 따른 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템의 분석부(200)를 나타내기 위한 블록도 이다.

이때, 상기 분석부(200)는 상기 입력부(100)를 통해 입력 받은 상기 지문이미지의 전체 화소(픽셀, pixel)에 대한 표준편차를 산정하는 전체편차부(210)와 인접한 영역과는 영역의 반이 중복되도록 상기 지문이미지에 하나 이상의 특정 크기의 영역으로 나누고 하나 이상의 상기 영역에 존재하는 화소에 대한 표준편차를 상기 영역 마다 산정하는 분할편차부(220)와 상기 전체편차부(210)를 통해 산정된 상기 지문이미지의 전체 화소에 대한 표준편차와 상기 분할편차부(220)를 통해 산정된 각각의 상기 영역의 화소에 대한 표준편차의 차를 산정하는 편차거리부(230)와 상기 편차거리부(230)를 통해 산정된 표준편차의 차가 특정 크기 이상인 상기 영역의 수가 특정 수 이상인 경우 상기 지문이미지에 베젤 자국이 존재한다고 판단하는 거리판단부(240)로 이루어진다.

아울러, 상기 전체편차부(210)가 상기 지문이미지의 전체 화소(픽셀, pixel)에 대한 표준편차를 산정하는 바람직한 실시 예는 수학식 1을 사용하여 표준편차를 산정한다.

Xi 경우 각 화소(pixel)값을 의미하며

경우 전체 화소(pixel)의 평균을 의하고 n은 표준편차를 구하는 지문이미지의 전체 또는 극소 영역의 화소의 수이다.

또한 아울러, 상기 분할편차부(220)가 상기 영역에 존재하는 화소에 대한 표준편차를 산정하는 바람직한 실시 예는 수학식 1을 사용하여 표준편차를 산정한다.

또한 아울러, 상기 영역의 크기는 상기 지문이미지의 크기의 반 이하이고 상기 영역의 가로 및 세로의 길이의 반은 상기 지문이미지의 가로 및 세로의 길이의 약수이다.

도 3 내지 7은본 발명의 일 실시 예에 따른 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템의 분할편차부(220)에서 극소 면적의 표준편차를 산정하는 순서를 나타내는 예시도 이다.

또한 아울러, 상기 분할편차부(220)가 상기 영역에 존재하는 화소에 대한 표준편차를 상기 영역 마다 산정하는 바람직한 실시 예는 도 3 내지 7에 도시한 바와 같이, 도 3은 첫번째 영역이고 도 4는 두번째 영역이고 도 5는 세번째 영역이고 도 6은 M/m*2번째 영역이고 도 7은 M/m*2+1번째 영역으로 상기 영역을 상기 영역의 이동방향에 해당하는 길이의 반씩 이동하며 상기 영역의 화소에 대한 표준편차를 산정한다.

이상으로 본 발명의 기술적 사상을 예시하기 위한 바람직한 실시예와 관련하여 설명하고 도시하였지만, 본 발명은 이와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용에만 국한되는 것이 아니며, 기술적 사상의 범주를 일탈함이 없이 본 발명에 대해 다수의 변경 및 수정 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다. 따라서 그러한 모든 적절한 변경 및 수정과 균등물들도 본 발명의 범위에 속하는 것으로 간주하여야 할 것이다.

100: 입력부
200: 분석부
210: 전체편차부
220: 분할편차부
230: 편차거리부
240: 거리판단부
300: 출력부

Claims (2)

1. 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템에 있어서,
   지문인식센서로부터 상기 지문인식센서가 생성한 지문이미지를 입력 받는 입력부(100);
   상기 입력부(100)를 통해 입력 받은 상기 지문이미지의 표준편차와 상기 지문이미지의 하나 이상의 특정 영역으로 인접한 영역과는 영역의 반이 중복되는 영역의 표준편차의 차를 기반으로 분석하여 상기 지문이미지에 베젤 자국이 존재하는지 여부를 판단하는 분석부(200); 및
   상기 분석부(200)를 통해 분석되어 판단된 결과를 타시스템에서 사용할 수 있는 형식으로 출력하는 출력부(300);
   를 포함하는 것을 특징으로 하고,
   상기 분석부(200)는
   상기 입력부(100)를 통해 입력 받은 상기 지문이미지의 전체 화소(픽셀, pixel)에 대한 표준편차를 산정하는 전체편차부(210);
   인접한 영역과는 영역의 반이 중복되도록 상기 지문이미지에 하나 이상의 특정 크기의 영역으로 나누고 하나 이상의 상기 영역에 존재하는 화소에 대한 표준편차를 상기 영역 마다 산정하는 분할편차부(220);
   상기 전체편차부(210)를 통해 산정된 상기 지문이미지의 전체 화소에 대한 표준편차와 상기 분할편차부(220)를 통해 산정된 각각의 상기 영역의 화소에 대한 표준편차의 차를 산정하는 편차거리부(230); 및
   상기 편차거리부(230)를 통해 산정된 표준편차의 차가 특정 크기 이상인 상기 영역의 수가 특정 수 이상인 경우 상기 지문이미지에 베젤 자국이 존재한다고 판단하는 거리판단부(240);
   를 포함하는 것을 특징으로 하며,
   상기 전체편차부(210) 및 상기 분할편차부(220)에서 상기 지문이미지의 전체 화소(픽셀, pixel)에 대한 표준편차를 산정하는 식은 아래의 식을 사용하고,
   

   

   
   Xi: 각 화소(pixel)값
   

   

   : 전체 화소(pixel)의 평균
   n: 표준편차를 구하는 지문이미지의 전체 또는 극소 영역의 화소의 수
   
   상기 영역의 크기는 상기 지문이미지의 크기의 반 이하이고, 상기 영역의 가로 및 세로의 길이의 반은 상기 지문이미지의 가로 및 세로의 길이의 약수이며,
   상기 분할편차부(220)에서 상기 영역에 존재하는 화소에 대한 표준편차를 상기 영역마다 산정하는 기준은, 첫번째 영역에서 두번째 및 세번째 영역 순으로 순차적으로 진행됨에 있어서 상기 영역을 상기 영역의 이동방향에 해당하는 길이의 반씩 이동하며 상기 영역의 화소에 대한 표준편차를 산정하는 것을 특징으로 하는 지문이미지에 베젤 자국 검출 시스템
   
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