KR102078320B1 - 반능동 레이저 수신기들 및 그 사용 방법들 - Google Patents

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Abstract

다수의 픽셀들을 갖는 초점면 어레이로부터의 판독을 위한 회로는, 각각의 하나의 픽셀에 대해, 하나의 픽셀에 대한 검출기에 결합된 적응형 광 검출기 부하 회로, 트랜스 임피던스 증폭기 - 검출기는 트랜스 임피던스 증폭기에 AC 결합됨 - , 트랜스 임피던스 증폭기의 AC 결합된 출력을 수신하고 AC 결합된 출력을 소정의 임계값과 비교하는 비교기 컴포넌트, 병렬로 연결된 다수의 전하 충전 컴포넌트들을 포함하는 샘플 앤드 홀드 링(sample and hold ring) - 각각의 하나의 전하 충전 컴포넌트는 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트와 직렬인 커패시터를 포함함 - , 및 비교기 컴포넌트의 출력을 수신하는 펄스 검출 논리 회로를 포함한다.

Description

반능동 레이저 수신기들 및 그 사용 방법들
본 발명은 일반적으로 소모성 탄약, 예를 들어 레이저 유도 폭탄들에 사용되는 레이저 스팟 추적기들(laser spot trackers)로서의 반능동 레이저(Semi-Active Laser; SAL) 수신기들에 관한 것이다.
통상적인 SAL 수신기들은 아날로그-디지털 컨버터(analog-to-digital converter; ADC)를 사용하여 고속에서 각 픽셀로부터의 신호를 연속적으로 디지털화하여 짧은 레이저 펄스 리턴을 따르도록 하고, 디지털 처리를 사용하여 관심있는 레이저 펄스들에 대해 각 픽셀에서 보이는 파형을 검사한다. 이러한 아키텍처는 어레이 크기를 약 2×2로 제한한다. 일반적인 SAL 수신기들은 2×2 픽셀 "사분면" 광 검출기들을 사용하여 레이저 스팟에 대한 SAL 수신기와 폭탄의 정렬에 대한 정보를 제공한다. 이러한 시스템들의 한 가지 문제점은 2×2 픽셀 어레이가 센서의 해상도 및 시야(field of view; FOV)를 제한하는 것이다. 일부 시스템들은 짐벌(기계적 패닝 메커니즘)을 추가함으로써 이러한 제한을 부분적으로 극복하지만 이는 소모성 탄약들에 사용되기 때문에 값이 비싼 SAL 수신기에 상당한 비용을 추가한다. 기존의 SAL 수신기들은 아날로그-디지털 컨버터(ADC)를 사용하여 고속 (일반적으로 약 100MHz)에서 각 픽셀로부터의 신호를 연속적으로 디지털화하여 짧은 레이저 펄스 리턴을 따르도록 하고, 디지털 처리를 사용하여 관심있는 레이저 펄스들에 대해 각 픽셀에서 보이는 파형을 검사하기 때문에 어레이 크기를 2×2보다 더 크게 증가시킬 수 없다. 더 큰 어레이 크기, 예를 들어 32×32=1024 픽셀들을 사용하는 것은 1024개의 ADC 회로들과 1024개의 디지털 신호 처리 채널들을 요구하며, 이는 전력, 크기 및 비용 측면에서 과중한 것이다.
기존의 SAL 시스템들의 또 다른 문제점은 이들이 안구 손상을 유발하는 1.06 마이크론 레이저 파장을 사용하며, 영상 증배관(image intensifier)들을 포함하는 대부분의 현재 EO 센서들이 이러한 파장을 볼 수 있고 따라서 레이저 지시기의 위치를 결정할 수 있기 때문에 비밀스럽지 않다는 것이다. 또한, 기존의 SAL 시스템들은 태양이 센서의 FOV에 있을 때 상당한 성능 저하를 경험할 수 있다.
비용 및 크기 제한들의 초과없이 대형 초점면 어레이(focal plane array)들을 사용할 수 있는 SAL 수신기 설계들이 요구된다.
안구 보호 레이저들을 사용할 수 있는 SAL 수신기 설계들을 위한 목적이 더 존재한다.
비용 및 크기 제한들의 초과없이 대형 초점면 어레이들을 사용할 수 있고 안구 보호 레이저들의 사용을 가능하게 할 수 있는 수신기 설계들이 이하에서 개시된다.
하나 이상의 실시 예들에서, 다수의 픽셀들을 갖는 초점면 어레이로부터의 판독을 위한, 본 교시들의 판독 회로는, 상기 초점면 어레이 내의 각각의 하나의 픽셀에 대해, 상기 하나의 픽셀에 대한 검출기에 결합된 적응형 광 검출기 부하 회로 - 상기 적응형 광 검출기 부하 회로는 3점 스위칭 컴포넌트와 병렬인 주파수 종속 회로를 갖고, 상기 3점 스위칭 컴포넌트의 제3 점은 상기 주파수 종속 회로의 중간점에 연결되고, 상기 중간점으로부터 접지까지의 전압은 상기 3점 스위칭 컴포넌트에 대한 스위칭 전압을 제공함 - , 트랜스 임피던스 증폭기 - 상기 검출기는 상기 트랜스 임피던스 증폭기에 AC 결합됨 - , 상기 트랜스 임피던스 증폭기의 AC 결합된 출력을 수신하고 상기 AC 결합된 출력을 소정의 임계값과 비교하는 비교기 컴포넌트, 병렬로 연결된 다수의 전하 충전 컴포넌트들을 포함하는 샘플 앤드 홀드 링(sample and hold ring) - 각각의 하나의 전하 충전 컴포넌트는 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트와 직렬인 커패시터를 포함하고, 상기 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트의 제3 점은 링 인에이블링 신호를 수신하고, 소정의 전하 충전 컴포넌트가 버퍼 증폭기를 통해 상기 트랜스 임피던스 증폭기의 상기 AC 결합된 출력에 연결되고, 상기 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트는 상기 버퍼 증폭기의 출력과 상기 커패시터 사이에 연결되고, 상기 커패시터는 판독 버퍼 증폭기 및 판독 3점 스위칭 컴포넌트에 의해 출력 데이터 라인에 연결되고, 상기 판독 3점 스위칭 컴포넌트의 제3 점은 판독 인에이블링 신호를 수신함 - , 및 상기 비교기 컴포넌트의 출력을 수신하는 펄스 검출 논리 회로 - 상기 펄스 검출 논리 회로는 상기 AC 결합된 출력이 상기 소정의 임계값보다 작거나 같을 때 상기 링 인에이블링 신호를 상기 소정의 전하 충전 컴포넌트에 제공하도록 구성되고, 상기 AC 결합된 출력이 상기 소정의 임계값보다 클 때 소정의 시간만큼 지연되고, 상기 소정의 시간 지연 후에 상기 소정의 전하 충전 컴포넌트에 제공된 상기 링 인에이블링 신호를 디스에이블링함 - 를 포함한다. 상기 링 인에이블 신호가 디스에이블링된 후에, 판독 인에이블링 신호가 제공되고 각각의 소정의 전하 충전 컴포넌트 내의 상기 커패시터의 전하가 상기 출력 데이터 라인으로 다중화 출력된다. 다른 소정의 시간 후에, 각각의 소정의 전하 충전 컴포넌트 내의 상기 커패시터에 저장된 전하를 다중화 출력한 후, 상기 링 인에이블 신호는 링 인에이블로 리셋된다.
하나 이상의 실시 예들에서, 다수의 픽셀들을 갖는 초점면 어레이로부터의 판독을 위한, 본 교시들의 방법은, 상기 초점면 어레이 내의 각각의 하나의 픽셀에 대해, 상기 하나의 픽셀에 대한 검출기에 적응형 광 검출기 부하 회로를 결합하는 단계 - 상기 적응형 광 검출기 부하 회로는 상기 검출기에 입사하는 저주파 변동들의 영향들을 억제하도록 구성됨 - , 트랜스 임피던스 증폭기를 상기 검출기에 AC 결합하는 단계, 버퍼 증폭기를 통해 상기 트랜스 임피던스 증폭기의 AC 결합된 출력을 샘플 앤드 홀드 링 내의 소정의 커패시터에 제공하는 단계 - 상기 소정의 커패시터에 대한 연결은 인에이블됨 - , 모든 트랜스 임피던스 증폭기의 상기 AC 결합된 출력을 소정의 임계값과 비교하는 단계, 상기 트랜스 임피던스 증폭기의 상기 AC 결합된 출력이 상기 소정의 임계값보다 클 때, 상기 소정의 시간 지연 후에, 상기 소정의 커패시터에 대한 상기 연결을 디스에이블링하는 단계, 및 판독 인에이블링 신호가 수신되면 상기 소정의 커패시터 내의 전하를 출력 데이터에 다중화 출력하는 단계를 포함한다.
다수의 다른 실시 예들이 또한 개시된다.
도 1은 본 교시들에 따른 초점면 어레이의 하나의 픽셀에 대한 회로의 개략도이다.
본 발명의 다른 목적들 및 추가적인 목적들과 함께, 본 발명의 교시들을 더 잘 이해하기 위해, 첨부된 도면들 및 상세한 설명이 참조되며, 그 범위는 첨부된 청구 범위에 의하여 명확해질 것이다.
다음의 상세한 설명은 본 발명을 수행하기 위해 현재 고려되는 모드들을 나타낸다. 설명은 제한적인 의미로 해석되어서는 안되며, 본 발명의 일반적인 원리들을 설명하기 위한 목적으로만 이루어지는 것이고, 본 발명의 범위는 첨부된 청구 범위에 의해 가장 잘 정의된다.
본 명세서에서 사용되는 바와 같이, 단수의 형태들 "a", "an", 및 "the"는 문맥에서 달리 지시하지 않는 한 복수의 인용을 포함한다.
다르게 명시되지 않는 한, 본 명세서 및 청구 범위들에서 사용되는 성분들의 양들, 반응 조건들 등을 나타내는 모든 숫자들은 모든 예들에서 "대략"이라는 용어에 의하여 변형되는 것으로 이해되어야 한다.
비용 및 크기 제한들의 초과없이 대형 초점면 어레이들을 사용할 수 있고, 안구 보호 레이저들의 사용을 가능하게 할 수 있는 SAL 수신기 설계들이 이하에서 개시된다.
하나 이상의 실시 예들에서, 다수의 픽셀들을 갖는 초점면 어레이로부터의 판독을 위한, 본 교시들의 판독 회로는, 상기 초점면 어레이 내의 각각의 하나의 픽셀에 대해, 상기 하나의 픽셀에 대한 검출기에 연결된 적응형 광 검출기 부하 회로 - 상기 적응형 광 검출기 부하 회로는 3점 스위칭 컴포넌트와 병렬인 주파수 종속 회로를 갖고, 상기 3점 스위칭 컴포넌트의 제3 점은 상기 주파수 종속 회로의 중간점에 연결되고, 상기 중간점으로부터 접지까지의 전압은 상기 3점 스위칭 컴포넌트에 대한 스위칭 전압을 제공함 - , 트랜스 임피던스 증폭기 - 상기 검출기는 상기 트랜스 임피던스 증폭기에 AC 결합됨 - , 상기 트랜스 임피던스 증폭기의 AC 결합된 출력을 수신하고 상기 AC 결합된 출력을 소정의 임계값과 비교하는 비교기 컴포넌트, 병렬로 연결된 다수의 전하 충전 컴포넌트들을 포함하는 샘플 앤드 홀드 링 - 각각의 하나의 전하 충전 컴포넌트는 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트와 직렬인 커패시터를 포함하고, 상기 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트의 제3 점은 링 인에이블링 신호를 수신하고, 소정의 전하 충전 컴포넌트가 버퍼 증폭기를 통해 상기 트랜스 임피던스 증폭기의 상기 AC 결합된 출력에 연결되고, 상기 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트는 상기 버퍼 증폭기의 출력과 상기 커패시터 사이에 연결되고, 상기 커패시터는 판독 버퍼 증폭기 및 판독 3점 스위칭 컴포넌트에 의해 출력 데이터 라인에 연결되고, 상기 판독 3점 스위칭 컴포넌트의 제3 점은 판독 인에이블링 신호를 수신함 - , 및 상기 비교기 컴포넌트의 출력을 수신하는 펄스 검출 논리 회로 - 상기 펄스 검출 논리 회로는 상기 AC 결합된 출력이 상기 소정의 임계값보다 작거나 같을 때 상기 링 인에이블링 신호를 상기 소정의 전하 충전 컴포넌트에 제공하도록 구성되고, 상기 AC 결합된 출력이 상기 소정의 임계값보다 클 때 소정의 시간만큼 지연되고, 상기 소정의 시간 지연 후에 상기 소정의 전하 충전 컴포넌트에 제공된 상기 링 인에이블링 신호를 디스에이블링함 - 을 포함한다. 상기 링 인에이블 신호가 디스에이블링된 후에, 판독 인에이블링 신호가 제공되고 각각의 소정의 전하 충전 컴포넌트 내의 상기 커패시터의 전하가 상기 출력 데이터 라인으로 다중화 출력된다. 다른 소정의 시간 후에, 각각의 소정의 전하 충전 컴포넌트 내의 상기 커패시터에 저장된 전하를 다중화 출력한 후, 상기 링 인에이블 신호는 링 인에이블로 리셋된다.
도 1은 본 교시들의 일 실시 예에 따른 초점면 어레이의 하나의 픽셀에 대한 회로의 개략도를 도시한다. 본 명세서에서 설명의 목적으로만 사용되고 이러한 교시들을 제한하지 않는 예시적인 실시 예에서, 초점면 어레이는 32x32 픽셀 어레이이다. 단지 설명의 목적으로, 이러한 교시들의 제한이 아닌, 100MHz의 레이저 파형 샘플링이 사용된다. 이러한 실시 예에서, 어레이 내의 각각의 픽셀은 도 1에 도시된 바와 같은 회로를 갖는다. 도 1에 도시된 실시 예에서, 적응형 광 검출기 부하 회로(15)는 픽셀에 대한 검출기에 결합된다. 적응형 광 검출기 부하 회로(15)는 3점 스위칭 컴포넌트(M1)와 병렬인 주파수 종속 회로(25)를 갖는다. 3점 스위칭 컴포넌트(M1)의 제3 점은 주파수 종속 회로(25)의 중간점에 연결되고, 중간점으로부터 접지까지의 전압은 3점 스위칭 컴포넌트에 대한 스위칭 전압을 제공한다. 일 예에서, 주파수 종속 회로(15)는 부하 커패시터(C1)와 직렬인 저항(R1)을 포함하고, 저항(R1)은 검출기 출력에 연결되며, 부하 커패시터(C1)는 저항(R1) 및 접지에 연결된다. 3점 스위칭 컴포넌트(M1)의 제3 점은 저항(R1)과 부하 커패시터(C1) 사이의 연결점에 연결된다. 저항(R1) 및 부하 커패시터(C1)는 검출기 상에 입사되는 전자기 방사선의 저주파 변동들의 영향들을 억제하기 위해 선택된다. 일 예에서, 3점 스위칭 컴포넌트(M1)는 전계 효과 트랜지스터이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 검출기는 트랜스 임피던스 증폭기(35)에 AC 결합된다. 일 예에서, 트랜스 임피던스 증폭기(35) 내의 피드백 소자(30)는 전류-전압 변환 저항(R2)이다. 다른 예에서, 트랜스 임피던스 증폭기(35) 내의 피드백 소자(30)는 다이오드 또는 트랜지스터 중 하나이다. 비교기 컴포넌트(40)는 트랜스 임피던스 증폭기의 AC 결합된 출력을 수신하고 AC 결합된 출력을 소정의 임계값과 비교한다. 일 예에서, 비교기 컴포넌트(40)는 또한 하나의 픽셀에 대한 특별한 오프셋 조정을 수신한다. 또한, 도 1에 도시된 바와 같이, 샘플 앤드 홀드 링(sample and hold ring, 55)은 병렬로 연결된 다수의 전하 충전 컴포넌트들을 갖고, 각각의 하나의 전하 충전 컴포넌트는 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트(62)와 직렬인 커패시터(60)를 포함한다. 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트(62)의 제3 점은 링 인에이블 신호를 수신하고, 소정의 전하 충전 컴포넌트는 버퍼 증폭기(37)를 통해 트랜스 임피던스 증폭기(35)의 AC 결합된 출력에 연결되고, 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트(62)는 버퍼 증폭기(37)의 출력과 커패시터(60) 사이에 연결된다. 커패시터(60)는 판독 버퍼 증폭기 및 판독 3점 스위칭 컴포넌트(67)에 의해 출력 데이터 라인에 연결되고, 판독 3점 스위칭 컴포넌트(67)의 제3 점은 판독 인에이블링 신호를 수신한다. 일 예에서, 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트(62) 및 판독 3점 스위칭 컴포넌트(67)의 각각의 하나는 전계 효과 트랜지스터이다.
도 1에 도시된 실시 예는 또한 비교기 컴포넌트(40)의 출력을 수신하는 펄스 검출 논리 회로(45)를 포함한다. 펄스 검출 논리 회로(45)는 AC 결합된 출력은 소정의 임계값보다 작거나 같을 때 소정의 전하 충전 컴포넌트에 링 인에이블링 신호를 제공하도록 구성되고, AC 결합된 출력이 소정의 임계값보다 클 때, 소정의 시간만큼 지연되고, 소정의 시간 지연 후에 소정의 전하 충전 컴포넌트에 제공된 링 인에이블링 신호를 디스에이블링하도록 구성된다. (일 예에서, 펄스 검출 논리 회로(45)는 그 기능을 정의하는 상위 레벨 소프트웨어 코드로부터 합성(자동 생성)된다.) 링 인에이블 신호가 디스에이블링된 후에, 판독 인에이블링 신호가 제공되고 각각의 소정의 전하 충전 컴포넌트 내의 커패시터(60)의 전하가 출력 데이터 라인으로 다중화 출력된다. 다른 소정의 시간 후에, 상기 각각의 소정의 전하 충전 컴포넌트 내의 커패시터에 충전된 전하를 다중화 출력한 후, 링 인에이블링 신호는 링 인에이블로 리셋된다. 샘플/홀드 신호들을 판독하기 위해 순차적으로 인에이블되는 판독 인에이블링, "ReadoutSH", 신호들은 일반적으로 픽셀 외부에 있는 "열 어드레스(column address)" 회로에 위치할 수 있다. (일 예에서, 판독 인에이블링 신호들이 픽셀 내의 디지털 로직에 위치한다고 생각될 수 있지만, 이는 판독 인에이블링 신호들이 픽셀 내에 존재할 필요가 없고 픽셀에서 여분의 영역을 차지할 것이며, 픽셀 영역은 제한되기 때문에 바람직하지 않다.) 판독 인에이블링, "ReadoutSH", 신호들은 픽셀들의 행들 및 열들을 순차적으로 주소 지정하는 행 및 열 어드레스 회로들과 함께 사용되고, 이러한 회로는 또한 일반적으로 픽셀(초점면 어레이) 외부의 "행 어드레스" 및 "열 어드레스"에 위치할 수 있다.
도 1에 도시된 실시 예는 또한, 하나의 픽셀에 대해, 하나의 픽셀에서 펄스의 도달 시간을 제공하는 글로벌 카운터 타임베이스 코드를 기록하도록 구성된 도달 시간 기록 컴포넌트(65)를 포함한다. 도달 시간 기록 컴포넌트(65)에 기록된 글로벌 카운터 타임베이스 코드는 각각의 소정의 전하 충전 컴포넌트 내의 커패시터의 전하가 다중화 출력될 때 판독된다. 각각의 소정의 전하 충전 컴포넌트 내의 커패시터(60)에 저장된 전하가 다중화 출력된 후에, 글로벌 타임베이스 카운터는 리셋된다.
대부분의 시간에 센서는 펄스의 도달을 대기한다: - "펄스 검출 로직"은 "RingEnable" 인에이블을 유지한다. - 샘플/홀드 링은 순환 방식으로 연속적으로 로드되며(도시된 예시적인 실시 예들에서 100MHz로), 이는 신호 진폭들의 최근 메모리를 제공한다. - 충분히 큰 펄스가 도달하여 비교기의 임계값을 초과하면 데이터가 판독되거나 ADC 변환되지 않는다. : - "펄스 검출 로직"은 (전체 펄스 형태를 캡처하기 위하여) 몇 개의 추가 샘플/홀드 간격들(도시된 예시적인 실시 예에서 10ns(=1/100MHz))을 대기한 후, 샘플/홀드 링 내에 유지된 데이터를 고정시키는 "RingEnable"을 디스에이블한다.
일 예에서, 각각의 하나의 픽셀에 대한 검출기는 1.06μ 또는 대략 1.5μ 중 적어도 하나에서 방사선에 응답한다.
하나 이상의 실시 예들에서, 다수의 픽셀들을 갖는 초점면 어레이로부터의 판독을 위한, 본 교시들의 방법은, 상기 초점면 어레이 내의 각각의 하나의 픽셀에 대해, 상기 하나의 픽셀에 대한 검출기에 적응형 광 검출기 부하 회로를 결합하는 단계 - 상기 적응형 광 검출기 부하 회로는 상기 검출기에 입사하는 저주파 변동들의 영향들을 억제하도록 구성됨 - , 트랜스 임피던스 증폭기를 상기 검출기에 AC 결합하는 단계, 버퍼 증폭기를 통해 상기 트랜스 임피던스 증폭기의 AC 결합된 출력을 샘플 앤드 홀드 링 내의 소정의 커패시터에 제공하는 단계 - 상기 소정의 커패시터에 대한 연결은 인에이블됨 - , 모든 트랜스 임피던스 증폭기의 AC 결합된 출력을 소정의 임계값과 비교하는 단계, 상기 트랜스 임피던스 증폭기의 상기 AC 결합된 출력이 상기 소정의 임계값보다 클 때, 상기 소정의 시간 지연 후에, 상기 소정의 커패시터에 대한 상기 연결을 디스에이블링하는 단계, 및 판독 인에이블링 신호가 수신되면 상기 소정의 커패시터 내의 전하를 출력 데이터에 다중화 출력하는 단계를 포함한다.
일 예에서, 이러한 교시들의 방법은 또한, 각각의 하나의 픽셀에 대해, 상기 하나의 픽셀에서 펄스의 도달 시간을 기록하는 단계 - 상기 도달 시간은 글로벌 타임베이스 카운터로부터의 코드로부터 획득됨 - , 및 상기 소정의 커패시터의 전하가 다중화 출력된 후에 상기 글로벌 타임베이스 카운터를 리셋하는 단계를 포함한다.
다른 예에서, 이러한 교시들의 방법은 또한, 상기 하나의 픽셀에 대한 임계값 오프셋 조정에 의해 상기 소정의 임계값을 조정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 교시들을 기술하고 정의하기 위해, "실질적으로"라는 용어는 본 명세서에서 임의의 정량적 비교, 값, 측정, 또는 다른 표현에 기인할 수 있는 고유한 불확실성의 정도를 나타내기 위해 사용된다. "실질적으로"라는 용어는 또한 본 명세서에서 문제에서 주제의 기본 기능을 변화시키지 않으면서 정량적 표현이 명시된 기준과 다를 수 있는 정도를 나타내기 위해 사용된다.
이러한 교시들의 판독 회로의 실시 예들은 레이저 수신기에 대해 기술되었지만, 넓은 범위의 전자기 소스들에 대한 이들 교시들의 판독 회로의 사용이 이들 교시들의 범위 내에 있음이 인지되어야 한다.
이러한 교시들이 다양한 실시 예들에 관하여 설명되었지만, 이들 교시들은 또한 첨부된 청구 범위의 사상 및 범주 내에서 다양한 추가 및 다른 실시 예들도 실현될 수 있음이 인지되어야 한다.

Claims (16)

  1. 복수의 픽셀들을 갖는 초점면 어레이로부터의 판독 회로로서, 상기 판독 회로는,
    상기 초점면 어레이의 각각의 하나의 픽셀에 대해,
    상기 하나의 픽셀에 대한 검출기에 결합된 적응형 광 검출기 부하 회로 - 상기 적응형 광 검출기 부하 회로는 3점 스위칭 컴포넌트와 병렬인 주파수 종속 회로를 갖고, 상기 3점 스위칭 컴포넌트의 제3 점은 상기 주파수 종속 회로의 중간점에 연결되고, 상기 중간점으로부터 접지까지의 전압은 상기 3점 스위칭 컴포넌트에 대한 스위칭 전압을 제공함 - ;
    트랜스 임피던스 증폭기 - 상기 검출기는 상기 트랜스 임피던스 증폭기에 AC 결합됨 - ;
    상기 트랜스 임피던스 증폭기의 AC 결합된 출력을 수신하고 상기 AC 결합된 출력을 소정의 임계값과 비교하는 비교기 컴포넌트;
    병렬로 연결된 다수의 전하 충전 컴포넌트들을 포함하는 샘플 앤드 홀드 링(sample and hold ring) - 각각의 하나의 전하 충전 컴포넌트는 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트와 직렬인 커패시터를 포함하고, 상기 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트의 제3 점은 링 인에이블링 신호를 수신하고, 소정의 전하 충전 컴포넌트가 버퍼 증폭기를 통해 상기 트랜스 임피던스 증폭기의 상기 AC 결합된 출력에 연결되고, 상기 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트는 상기 버퍼 증폭기의 출력과 상기 커패시터 사이에 연결되고, 상기 커패시터는 판독 버퍼 증폭기 및 판독 3점 스위칭 컴포넌트에 의해 출력 데이터 라인에 연결되고, 상기 판독 3점 스위칭 컴포넌트의 제3 점은 판독 인에이블링 신호를 수신함 - ; 및
    상기 비교기 컴포넌트의 출력을 수신하는 펄스 검출 논리 회로 - 상기 펄스 검출 논리 회로는 상기 AC 결합된 출력이 상기 소정의 임계값보다 작거나 같을 때 상기 링 인에이블링 신호를 상기 소정의 전하 충전 컴포넌트에 제공하도록 구성되고, 상기 AC 결합된 출력이 상기 소정의 임계값보다 클 때 소정의 시간만큼 지연되고, 상기 소정의 시간 지연 후에 상기 소정의 전하 충전 컴포넌트에 제공된 상기 링 인에이블링 신호를 디스에이블링함 - 를 포함하되,
    상기 링 인에이블 신호가 디스에이블링된 후에, 판독 인에이블링 신호가 제공되고 각각의 소정의 전하 충전 컴포넌트 내의 상기 커패시터의 전하가 상기 출력 데이터 라인으로 다중화 출력되고, 다른 소정의 시간 후에, 상기 각각의 소정의 전하 충전 컴포넌트 내의 상기 커패시터에 저장된 상기 전하를 다중화 출력한 후, 상기 링 인에이블 신호는 링 인에이블로 리셋되는, 판독 회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 각각의 하나의 픽셀에 대해, 상기 각각의 하나의 픽셀에서 펄스의 도달 시간을 제공하는 글로벌 카운터 타임베이스 코드를 기록하도록 구성된 도달 시간 기록 컴포넌트를 더 포함 - 상기 도달 시간 기록 컴포넌트에 기록된 상기 글로벌 카운터 타임베이스 코드는 상기 각각의 소정의 전하 충전 컴포넌트 내의 상기 커패시터의 상기 전하가 다중화 출력될 때 판독되고, 상기 각각의 소정의 전하 충전 컴포넌트 내의 상기 커패시터에 저장된 상기 전하가 다중화 출력된 후에, 상기 글로벌 타임베이스 카운터가 리셋됨 - 하는, 판독 회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 각각의 하나의 픽셀에 대한 상기 검출기는 1.06μ 또는 1.5μ 중 적어도 하나에서 방사선에 응답하는, 판독 회로.
  4. 제1항에 있어서, 상기 주파수 종속 회로는 부하 커패시터와 직렬인 저항을 포함하고, 상기 저항은 상기 검출기 출력에 연결되고, 상기 커패시터는 상기 저항 및 접지에 연결되고, 상기 3점 스위칭 컴포넌트의 상기 제3 점은 상기 저항 및 상기 부하 커패시터 사이의 연결점에 연결되고, 상기 저항 및 상기 부하 커패시터는 상기 검출기 상에 입사되는 전자기 방사선의 저주파 변동들의 영향들을 억제하기 위해 선택되는, 판독 회로.
  5. 제1항에 있어서, 상기 트랜스 임피던스 증폭기 내의 피드백 소자는 전류-전압 변환 저항인, 판독 회로.
  6. 제1항에 있어서, 상기 트랜스 임피던스 증폭기 내의 피드백 소자는 다이오드 또는 트랜지스터 중 하나인, 판독 회로.
  7. 제1항에 있어서, 상기 비교기 컴포넌트는 또한 상기 하나의 픽셀에 대한 임계값 오프셋 조정을 수신하는, 판독 회로.
  8. 제1항에 있어서, 상기 3점 스위칭 컴포넌트는 전계 효과 트랜지스터를 포함하는, 판독 회로.
  9. 제1항에 있어서, 상기 인에이블링 3점 스위칭 컴포넌트 및 상기 판독 3점 스위칭 컴포넌트의 각각의 하나는 전계 효과 트랜지스터를 포함하는, 판독 회로.
  10. 복수의 픽셀들을 갖는 초점면 어레이를 판독하기 위한 방법으로, 상기 방법은, 상기 초점면 어레이 내의 각각의 하나의 픽셀에 대해,
    상기 하나의 픽셀에 대한 검출기에 적응형 광 검출기 부하 회로를 결합하는 단계 - 상기 적응형 광 검출기 부하 회로는 상기 검출기에 입사하는 저주파 변동들의 영향들을 억제하도록 구성됨 - ;
    트랜스 임피던스 증폭기를 상기 검출기에 AC 결합하는 단계;
    버퍼 증폭기를 통해 상기 트랜스 임피던스 증폭기의 AC 결합된 출력을 샘플 앤드 홀드 링 내의 소정의 커패시터에 제공하는 단계 - 상기 소정의 커패시터에 대한 연결은 인에이블됨 - ;
    상기 트랜스 임피던스 증폭기의 상기 AC 결합된 출력을 소정의 임계값과 비교하는 단계;
    상기 트랜스 임피던스 증폭기의 상기 AC 결합된 출력이 상기 소정의 임계값보다 클 때, 소정의 시간 지연 후에, 상기 소정의 커패시터에 대한 상기 연결을 디스에이블링하는 단계; 및
    판독 인에이블링 신호가 수신되면 상기 소정의 커패시터 내의 전하를 출력 데이터에 다중화 출력하는 단계를 포함하는, 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 각각의 하나의 픽셀에 대해, 상기 각각의 하나의 픽셀에서 펄스의 도달 시간을 기록하는 단계 - 상기 도달 시간은 글로벌 타임베이스 카운터로부터의 코드로부터 획득됨 - ; 및
    상기 소정의 커패시터의 상기 전하가 다중화 출력된 후에 상기 글로벌 타임베이스 카운터를 리셋하는 단계를 더 포함하는, 방법.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 하나의 픽셀에 대한 임계값 오프셋 조정에 의해 상기 소정의 임계값을 조정하는 단계를 더 포함하는, 방법.
  13. 제10항에 있어서, 상기 각각의 하나의 픽셀에 대한 상기 검출기는 1.06μ 또는 1.5μ 중 적어도 하나에서 방사선에 응답하는, 방법.
  14. 제10항에 있어서, 상기 적응형 광 검출기 부하 회로는 3점 스위칭 컴포넌트와 병렬인 주파수 종속 회로 - 상기 3점 스위칭 컴포넌트의 제3 점은 상기 주파수 종속 회로의 중간점에 연결되고, 상기 중간점으로부터 접지까지의 전압은 상기 3점 스위칭 컴포넌트에 대한 스위칭 전압을 제공함 - 를 포함하는, 방법.
  15. 제14항에 있어서, 상기 주파수 종속 회로는 부하 커패시터와 직렬인 저항을 포함하고, 상기 저항은 상기 검출기 출력에 연결되고, 상기 커패시터는 상기 저항 및 접지에 연결되고, 상기 3점 스위칭 컴포넌트의 상기 제3 점은 상기 저항 및 상기 부하 커패시터 사이의 연결점에 연결되고, 상기 저항 및 상기 부하 커패시터는 상기 검출기 상에 입사되는 전자기 방사선의 저주파 변동들의 영향들을 억제하기 위해 선택되는, 방법.
  16. 제14항에 있어서, 상기 3점 스위칭 컴포넌트는 전계 효과 트랜지스터를 포함하는, 방법.
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