KR102053103B1 - Camera assembly for line scan - Google Patents

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Abstract

본 발명은 라인 스캔용 카메라 조립체에 관한 것으로, 검사대상물의 비전 검사를 위해 마련되는 카메라; 및 상기 카메라의 전방에 복수개로 마련되어, 상기 검사대상물의 전체 형태를 각각 한 번 이상 반사시켜 상기 카메라에 전달되도록 하는 고정 반사체;를 포함하며, 상기 카메라가 상기 고정 반사체를 복수회 반사하여 상기 검사대상물의 전체 형태를 촬영함으로써, 상기 카메라와 상기 검사대상물 간의 작동거리(Working Distance)가 복수회 굴절되어, 상기 카메라와 상기 검사대상물의 실거리가 작동거리보다 작게 형성된 상태에서 상기 검사대상물이 상기 카메라의 시야각(Field Of View) 내에 위치되도록 하여, 한정된 공간에서 검사대상물의 시야각을 확보하기 위해 필요한 작동거리(Working Distance)를 절감할 수 있는 기술을 제공한다.
본 발명에 의하면, 카메라가 마주보는 한 쌍의 반사체에 의해 복수 반사된 검사대상물을 촬영함으로써, 검사대상물과의 실거리가 작동거리보다 작게 형성되어 한정된 공간에서도 대면적의 검사대상물의 비전 검사를 실시할 수 있으며, 작동거리를 굴절반사시키고 가시광선의 난반사를 이용하여 검사대상물 표면의 수분 유무를 판정함으로써, 기존의 고배율의 카메라 렌즈나 적외선 카메라를 사용하던 라인 스캔용 카메라 조립체에 비해 가장자리가 왜곡되는 문제는 물론, 비용상의 문제를 해결할 수 있다.
The present invention relates to a camera assembly for line scan, the camera provided for vision inspection of the inspection object; And a plurality of fixed reflectors provided in front of the camera to reflect the entire form of the inspection object one or more times to be transmitted to the camera, wherein the camera reflects the fixed reflector a plurality of times. By photographing the entire shape of the camera, the working distance between the camera and the inspection object is refracted a plurality of times, so that the inspection object is at the viewing angle of the camera while the actual distance of the camera and the inspection object is formed smaller than the working distance. It is located in the field of view, and provides a technology that can reduce the working distance required to secure the viewing angle of the inspection object in a limited space.
According to the present invention, by photographing a plurality of inspection objects reflected by a pair of reflectors facing the camera, the actual distance with the inspection object is formed smaller than the working distance, so that the vision inspection of a large area inspection object can be performed even in a limited space. By refraction of the working distance and the reflection of visible light to determine the presence or absence of moisture on the surface of the inspection object, the problem of edge distortion compared to the camera assembly for line scanning using a conventional high magnification camera lens or an infrared camera Of course, the cost problem can be solved.

Description

라인 스캔용 카메라 조립체{CAMERA ASSEMBLY FOR LINE SCAN}Camera assembly for line scan {CAMERA ASSEMBLY FOR LINE SCAN}

본 발명은 라인 스캔용 카메라 조립체에 관한 것이다.The present invention relates to a camera assembly for line scan.

일반적으로 LCD나 OLED와 같은 대면적 박막 글라스 기판을 만들기 위한 제작공정은 다수 박막의 증착(Evaporation), 코팅(Coating), 현상(Develope), 노광(Exposure), 세정(Cleaning) 공정 등으로 구성된다.In general, the manufacturing process for making large-area thin glass substrates such as LCDs and OLEDs consists of evaporation, coating, development, exposure, and cleaning processes of many thin films. .

이중, 세정 공정은 글라스의 표면 물성을 향상시키기 위한 코팅이나 감광 및 식각 등의 가공 공정에서 글라스 표면에 발생할 수 있는 얼룩이나 각종 이물질을 씻어 내는 공정으로, 습식 세정법이 널리 사용되고 있다. Among them, the cleaning process is a process for washing stains or various foreign matters that may occur on the glass surface in a coating process for improving the surface properties of the glass, photoresist, and etching, and a wet cleaning method is widely used.

습식 세정법는 DI(Deionized) Water로 쉽게 rinse가 가능하고 건조 후에도 잔류물이 매우 적으며, 제거될 오염물에 따라 적당하고 많은 종류의 화학용액을 사용할 수 있다는 점, 그리고, 효과가 매우 뛰어나 신뢰성 및 재현성이 우수하다는 장점이 있어 널리 사용되기는 하나, 독성이 강한 강염기 및 강산과 같은 용액을 사용하여 화학 용액으로부터 기판에 오염물을 재오염시킬 가능성이 있다.The wet cleaning method is easy to rinse with DI (Deionized) Water, very little residue after drying, and it is possible to use many kinds of chemical solutions according to the contaminants to be removed, and it is very effective and reliable and reproducible. Although widely used for its advantages, it is possible to recontaminate contaminants from the chemical solution to the substrate using solutions such as strong bases and strong acids.

또한, 습식 세정법의 가장 근본적인 문제점은 습식 세정이 ex-situ 세정 과정일 수 밖에 없어, 세정 후 공정 장비로 이동시 필연적으로 대기 중에 노출됨으로써, 유기오염물 또는 파티클과 같은 불순물들에 의해 오염될 가능성이 크다는 점이다.In addition, the most fundamental problem of the wet cleaning method is that the wet cleaning is an ex-situ cleaning process, which is inevitably exposed to the air when moving to the process equipment after cleaning, which is likely to be contaminated by impurities such as organic pollutants or particles. Is the point.

따라서, 습식 세정 공정이 끝난 후에는 세정액을 씻어 낸 DI water를 air knife를 이용하여 수분을 제거한 후, 건조된 상태에서 다음 공정이 진행되도록 하는 것이 바람직하다.Therefore, after the wet cleaning process is finished, it is preferable to remove water using an air knife from the DI water washed out of the cleaning solution, and then allow the next process to proceed in a dried state.

『대한민국 공개특허공보 제10-2015-0054517호, 발명의 명칭: 디스플레이 패널의 표면 검사방법 및 검사장치, (공개일: 20115년05월20일, 출원인: (주)인텍플러스)』에는 디스플레이 패널 표면에 복수개의 광원에서 조사되는 서로 다른 입사각의 광(光)을 반사시켜 획득되는 반사이미지들의 인텐시티 분포(intensity distribution)을 비교하여 디스플레이 패널 표면의 결함 종류를 판별하는 방법 및 장치에 관한 기술적 구성이 개시되어 있다.`` Korean Patent Publication No. 10-2015-0054517, Name of the Invention: Surface Inspection Method and Inspection Device of Display Panel, (Published Date: May 20, 2011, Applicant: Intek Plus Co., Ltd.) The technical configuration of the method and apparatus for determining the type of defects on the surface of the display panel by comparing the intensity distribution of the reflection images obtained by reflecting light of different incidence angles irradiated from a plurality of light sources on the surface Is disclosed.

일반적인 습식 세정 공정 후, 글라스 표면의 수분 유무를 판정하는 방법 역시 상술한 종래기술과 같이 글라스 표면의 수분량에 따라 반사되는 광(光)의 유무 또는 조도의 차이를 통해 표면의 결함 또는 수분의 유무를 판별한다.After the general wet cleaning process, the method of determining the presence or absence of moisture on the surface of the glass is also determined by the presence or absence of moisture on the surface through the difference in light or illuminance reflected according to the amount of moisture on the surface of the glass, as described above. Determine.

그러나, 글라스의 크기, 즉, 검사대상물의 크기가 커질수록 비전 검사를 위한 시야각을 확보하기 위해서는 그에 따른 작동거리(working distance)를 확보하여야 하나 설치 공간에 제약에 따른 어려움이 따른다.However, as the size of the glass, that is, the size of the inspection object increases, in order to secure a viewing angle for vision inspection, a working distance must be secured accordingly, but it is difficult due to limitations in the installation space.

이에, 어안렌즈나 광각렌즈 등의 고배율의 렌즈를 이용하는 방법이 제안되었으나, 렌즈 비용이 고가이며 0.04배율 이상의 고배율 렌즈로 촬영된 영상은 가장자리가 왜곡된 상태로 획득되어 영상의 신뢰도를 보장하기 어려운 문제가 있다.Therefore, a method using a high magnification lens such as a fisheye lens or a wide-angle lens has been proposed, but a lens cost is high and images captured with a high magnification lens of 0.04 or more magnification are obtained with a distorted edge, making it difficult to guarantee the reliability of the image. There is.

또한, 일반적으로 글라스 표면의 수분을 측정하는 비전 센서로 적외선 카메라가 사용되어 왔으나 비용이 고가인 것은 물론, 대면적의 검사대상물을 촬영하는데에는 어려움이 따른다.In addition, in general, infrared cameras have been used as a vision sensor for measuring the moisture on the glass surface, but it is not only expensive but also difficult to photograph a large-area inspection object.

특허문헌 (0001)『대한민국 공개특허공보 제10-2016-0101317호, 발명의 명칭: 표면 검사 장치, (공개일: 2016년08월25일, 출원인: 삼성전자주식회사)』Patent Document (0001) `` Korean Patent Publication No. 10-2016-0101317, Name of the Invention: Surface Inspection Apparatus, (Published: August 25, 2016, Applicant: Samsung Electronics Co., Ltd.) ''

본 발명은 상술한 문제를 해결하기 위한 것으로, 한정된 공간에서 검사대상물의 시야각을 확보하기 위해 필요한 작동거리(Working Distance)를 절감할 수 있는 기술을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a technology capable of reducing a working distance required to secure a viewing angle of an inspection object in a limited space.

본 발명이 해결하려는 과제는 전술한 과제로 제한되지 아니하며, 언급되지 아니한 또 다른 기술적 과제들은 후술할 내용으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problem to be solved by the present invention is not limited to the above-described problem, other technical problems that are not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일 태양으로 검사대상물의 비전 검사를 위해 마련되는 카메라; 및 상기 카메라의 전방에 복수개로 마련되어, 상기 검사대상물의 전체 형태를 각각 한 번 이상 반사시켜 상기 카메라에 전달되도록 하는 고정 반사체;를 포함하며, 상기 카메라가 상기 고정 반사체를 반사하여 상기 검사대상물의 전체 형태를 촬영함으로써, 상기 카메라와 상기 검사대상물 간의 작동거리(working distance)가 복수회 굴절되어, 상기 카메라와 상기 검사대상물의 실거리(actual distance)가 작동거리보다 작게 형성된 상태에서 상기 검사대상물이 상기 카메라의 시야각(Field Of View) 내에 위치되도록 한다.In one aspect of the present invention, a camera provided for vision inspection of the inspection object to achieve this object; And a plurality of fixed reflectors provided in front of the camera to reflect the entire form of the inspection object one or more times to be transmitted to the camera, wherein the camera reflects the fixed reflector to the whole of the inspection object. By photographing the shape, the working distance between the camera and the inspection object is deflected a plurality of times, so that the inspection object is the camera while the actual distance of the camera and the inspection object is smaller than the working distance. To be located within the field of view.

그리고, 상기 고정 반사체는, 상기 검사대상물의 형태를 최초 반사시키는 제1 반사체; 및 상기 제1 반사체와 마주보도록 설치되어, 상기 제1 반사체에서 반사되는 상기 검사대상물의 형태를 다시 반사시키는 제2 반사체;로 구성되며, 상기 제2 반사체가 상기 제1 반사체에 의해 반사된 상기 검사대상물의 형태를 다시 상기 제1 반사체로 반사시킴으로써, 상기 제1 반사체에 상기 검사대상물의 형태가 적어도 두 번 이상 복수회 반사되도록 하여, 마주보는 한 쌍의 반사체를 통해 상기 작동거리가 복수 굴절되도록 할 수 있다.The fixed reflector may include: a first reflector configured to initially reflect the shape of the inspection object; And a second reflector installed to face the first reflector to reflect the shape of the test object reflected by the first reflector again, wherein the second reflector is reflected by the first reflector. By reflecting the shape of the object back to the first reflector, the shape of the test object is reflected to the first reflector at least twice or more times so that the working distance is refracted by a plurality of opposing pairs of reflectors. Can be.

또한, 상기 카메라는, 상기 검사대상물을 촬영하는 촬영 각도가 조절되어, 상기 고정 반사체에 반사되는 상기 검사대상물 형태의 입사각이 조절될 수 있다.In addition, the camera, the photographing angle for photographing the inspection object is adjusted, the incident angle of the form of the inspection object reflected to the fixed reflector may be adjusted.

그리고, 상기 고정 반사체는, 상기 제1 반사체와 상기 제2 반사체가 상호 평행한 한 쌍으로 설치되며, 각각 평면형으로 마련되어 상기 검사대상물의 형태가 1:1 배율로 반사되도록 할 수 있다.The fixed reflector may be provided in a pair in which the first reflector and the second reflector are parallel to each other, and may be provided in a planar shape so that the shape of the inspection object is reflected at a 1: 1 magnification.

또한, 반사각도가 조절되도록 마련되어 반사되는 상기 검사대상물의 입사각 및 시야각을 미세조절하며, 반사되는 상기 검사대상물의 형태를 상기 제1 반사체를 대신하여 상기 제2 반사체에 반사되도록 하는 조절 반사체;를 더 포함할 수 있다.In addition, the reflection angle is provided to be adjusted to finely adjust the incident angle and the viewing angle of the test object to be reflected, and an adjustable reflector to reflect the shape of the test object to be reflected to the second reflector in place of the first reflector; It may include.

그리고, 상기 검사대상물이 놓여지는 면에 수직한 방향을 기준으로, 상기 검사대상물의 형태가 상기 고정 반사체에 입사되는 입사각도와 대칭되게 동일한 입사각도로 광(光)을 조사하는 조명체;를 더 포함하며, 상기 조명체로부터 조사되는 광(光)이 상기 검사대상물의 표면에 존재하는 수분에 의해 난반사되어 상기 카메라에 촬영되는 영상의 음영 차를 통해 상기 검사대상물에 존재하는 수분의 유무를 판별할 수 있고, 상기 조명체는 조명체 회전축이 마련되어 광의 조사방향을 회전시킬 수 있다.And an illuminator for irradiating light at the same incident angle symmetrically with the incident angle that the form of the inspected object is incident on the fixed reflector, based on a direction perpendicular to the plane on which the inspected object is placed. The light emitted from the illuminator is diffusely reflected by the moisture present on the surface of the inspection object, and the presence or absence of moisture present in the inspection object can be determined based on the difference in the shade of the image photographed by the camera. The illumination unit may be provided with a rotation axis of the illumination unit to rotate the irradiation direction of light.

상술한 과제의 해결 수단은 단지 예시적인 것으로서, 본 발명을 제한하려는 의도로 해석되지 않아야 한다. 상술한 예시적인 실시예 외에도, 도면 및 발명의 상세한 설명에 기재된 추가적인 실시예가 존재할 수 있다.Means for solving the above problems are merely exemplary and should not be construed as limiting the present invention. In addition to the exemplary embodiments described above, there may be additional embodiments described in the drawings and detailed description of the invention.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 다음과 같은 효과가 있다.As described above, the present invention has the following effects.

첫째, 카메라가 마주보는 한 쌍의 반사체에 의해 복수 반사된 검사대상물을 촬영함으로써, 검사대상물과의 실거리가 작동거리보다 작게 형성되어 한정된 공간에서도 대면적의 검사대상물의 비전 검사를 실시할 수 있다.First, by photographing a plurality of inspection objects reflected by a pair of reflectors facing the camera, the actual distance to the inspection object is formed smaller than the working distance, it is possible to perform a vision inspection of the inspection object of a large area in a limited space.

둘째, 작동거리를 굴절반사시키고 가시광선의 난반사를 이용하여 검사대상물 표면의 수분 유무를 판정함으로써, 기존의 고배율의 카메라 렌즈나 적외선 카메라를 사용하던 라인 스캔용 카메라 조립체에 비해 가장자리가 왜곡되는 문제는 물론, 비용상의 문제를 해결할 수 있다.Second, by refraction of the working distance and the reflection of visible light to determine the presence or absence of moisture on the surface of the test object, the edge distortion is not only compared to the line assembly of the camera assembly used for the high magnification camera lens or the infrared camera. This solves the cost problem.

셋째, 조명체에서 발산된 광(光)의 난반사를 이용하여 검사대상물 표면의 수분을 측정하며, 측정된 수분의 음역을 시각화함은 물론, 수분의 면적, 반사 휘도, 응집 정도를 반영하는 보정작업을 통해 수분의 완전증발 시점을 추정할 수 있는 이점이 있다.Third, measure the moisture on the surface of the inspection object by using diffuse reflection of light emitted from the illuminator, and visualize the range of the measured moisture, as well as correction work that reflects the area, reflection brightness, and degree of aggregation of moisture. Through this there is an advantage that can estimate the time of complete evaporation of water.

본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects of the present invention are not limited to the above-mentioned effects, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description of the claims.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 스캔용 카메라 조립체의 기본 구성을 나타내는 구성도이다.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 조절 반사체가 다른 위치에 마련되는 라인 스캔용 카메라 조립체의 구성을 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 고정 반사체에 거듭 반사되는 영상을 이용하여 시야각을 확보하는 원리를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 조명체의 광(光)을 이용하여 검사대상물의 표면에 수분의 유무를 판정하는 원리를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 고정 반사체가 이송방향과 나란하게 배치되거나 각각 회동되어 사선형태로 배치되는 라인 스캔용 카메라 조립체의 구성을 나타내는 도면이다.
1 is a block diagram showing a basic configuration of a camera assembly for a line scan according to an embodiment of the present invention.
2 is a diagram illustrating a configuration of a line scan camera assembly in which an adjustable reflector according to another embodiment of the present invention is provided at another position.
3 is a view illustrating a principle of securing a viewing angle by using an image repeatedly reflected to a fixed reflector according to an exemplary embodiment of the present invention.
4 is a view showing a principle of determining the presence or absence of water on the surface of the inspection object by using light of the illuminator according to an embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration of a line scan camera assembly in which fixed reflectors according to another embodiment of the present invention are disposed in parallel with the conveying direction or rotated in an oblique form.

본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 더 구체적으로 설명하되, 이미 주지되어진 기술적 부분에 대해서는 설명의 간결함을 위해 생략하거나 압축하기로 한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings, and the well-known technical parts will be omitted or compressed for brevity of description.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 스캔용 카메라 조립체의 기본 구성을 나타내는 구성도이고, 도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 조절 반사체가 다른 위치에 마련되는 라인 스캔용 카메라 조립체의 구성을 나타내는 도면이다.1 is a block diagram showing a basic configuration of a line scan camera assembly according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a line scan camera assembly in which the adjustment reflector according to another embodiment of the present invention is provided in a different position It is a figure which shows a structure.

본 발명의 라인 스캔용 카메라 조립체(CA)는 검사대상물(IO)을 스캔하여 검사대상물(IO)의 표면 결함 또는 이물질 유무를 판정하는 라인 스캔 시스템에서, 대면적의 검사대상물(IO)의 시야각을 확보하기 위해 필요한 작동거리(working distance)를 복수회 굴절시켜 적층되도록 함으로써, 비전 검사를 위한 카메라(100)와 검사대상물(IO)의 실거리(actual distance)를 줄여 공간적 제약을 극복할 수 있게 한다.The line scan camera assembly CA of the present invention scans the inspection object IO to determine the presence or absence of surface defects or foreign matter on the inspection object IO, and the viewing angle of the inspection object IO of a large area is determined. By refracting the working distance necessary to secure a plurality of times to be stacked, it is possible to overcome the spatial constraints by reducing the actual distance (camera 100) for the vision inspection and the inspection object (IO).

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 라인 스캔용 카메라 조립체(CA)는 상술한 기능을 수행하기 위해, 카메라(100), 고정 반사체(200), 조절 반사체(300) 및 조명체(400)의 구성을 포함한다.As shown in FIG. 1, the line scan camera assembly CA of the present invention includes a camera 100, a fixed reflector 200, an adjustable reflector 300, and an illuminator 400 to perform the above-described functions. Includes the configuration of.

카메라(100)는 검사대상물(IO)을 이송하는 컨베어 시스템의 상부에 설치되어 검사대상물(IO)의 영상을 획득한다. 영상 획득 방법은 영상 획득 장치인 카메라의 종류에 따라 영역 카메라와 라인 스캔 카메라로 나뉘며, 영역 카메라의 방대한 데이터 양과 영상 획득 시의 흔들림, 해상도의 한계에 의한 검사 영역의 제한, 검사 흐름의 정지에 의한 검사 속도의 저하 등의 문제점으로 인해, 본 발명의 일 실시예에서는 고해상도, 빠른 영상획득 속도, 저 잡음, 균일한 영상의 획득, 무한대 길이의 영상획득 기능과 장점을 갖는 라인 스캔 카메라를 상정하여 설명한다.The camera 100 is installed on an upper portion of the conveyor system for transporting the inspection object IO to obtain an image of the inspection object IO. Image acquisition methods are divided into area cameras and line scan cameras according to the type of camera, which is an image acquisition device. Due to problems such as a decrease in inspection speed, an embodiment of the present invention assumes a line scan camera having high resolution, high image acquisition speed, low noise, uniform image acquisition, and infinite length image acquisition function and advantages. do.

여기서, 본 발명의 카메라(100)의 촬영방향은 검사대상물(IO)이 이송되는 컨베어 라인을 향하도록 마련되는 것이 아니라, 작동거리를 확보하기 위해 반사체를 향하도록 설치되며, 촬영 각도가 조절될 수 있도록 카메라 회전축(미도시)을 기준으로 틸팅될 수 있도록 마련된다.Here, the photographing direction of the camera 100 of the present invention is not provided to face the conveyor line to which the inspection object (IO) is transferred, but is installed to face the reflector to secure the working distance, the photographing angle can be adjusted It is provided to be tilted based on the camera rotation axis (not shown).

또한, 카메라(100)의 틸팅 기능을 대신하는 별도의 회동 동작을 수행하는 틸팅 반사체(110)가 카메라(100)와 고정 반사체(200) 사이에 마련될 수 있다.(도 2 참조) 구체적으로, 카메라(100)는 촬영 방향이 고정된 상태로 마련되고, 그 카메라(100)의 촬영 방향으로 회동 가능한 틸팅 반사체(110)가 마련되어 카메라(100)의 틸팅 기능을 대신 수행할 수 있다.In addition, a tilting reflector 110 may be provided between the camera 100 and the fixed reflector 200 to perform a separate rotation operation instead of the tilting function of the camera 100. (See FIG. 2). The camera 100 may be provided with a fixed shooting direction, and a tilting reflector 110 that may rotate in the shooting direction of the camera 100 may be provided to perform a tilting function of the camera 100 instead.

다시 도 1을 참조하면, 고정 반사체(200)는 검사대상물(IO)의 이송 방향과 수직한 방향으로 기립된 마주보는 한 쌍의 거울로 마련되어, 검사대상물(IO)의 형태를 복수회 반사시켜 카메라(100)에 전달되도록 함으로써, 상술한 작동거리가 굴절된 상태, 즉 한 쌍의 거울 사이에서 지그재그로 형성되도록 하여, 카메라(100)에 굴절되어 누적된 작동거리에 따른 시야각(Field OF View)이 확보되도록 한다.Referring back to FIG. 1, the fixed reflector 200 is provided as a pair of opposite mirrors standing up in a direction perpendicular to the transport direction of the inspection object IO, and reflects the shape of the inspection object IO a plurality of times. By being transmitted to the 100, the above-mentioned operating distance is to be formed in a refracted state, that is, zigzag between a pair of mirrors, so that the field of view according to the operating distance refracted and accumulated in the camera 100 is To be secured.

이러한, 고정 반사체(200)는 검사대상물(IO)의 형태를 최초 반사시키는 제1 반사체(210)와, 제1 반사체(210)와 평행하게 마주보도록 구비되어 제1 반사체(210)에 반사된 검사대상물(IO)의 형태를 다시 반사시켜 카메라(100)로 전달하거나, 제1 반사체(210)로 다시 반사시키는 제2 반사체(220)의 구성을 포함한다. 이때, 제1 반사체(210)와 제2 반사체(220)는 설명의 편의를 위해 부여된 구분된 명칭일 뿐, 제2 반사체(220) 역시 검사대상물(IO)의 형태를 최초 반사시킬 수 있고, 카메라(100)에 최종적으로 검사대상물(IO)의 영상을 전달하는 반사체 역시 제1 반사체(210) 또는 제2 반사체(220)일 수 있음은 물론이다.The fixed reflector 200 includes a first reflector 210 that initially reflects the shape of the inspection object IO and an inspection to be parallel to the first reflector 210 and reflected on the first reflector 210. The configuration of the second reflector 220 reflects the shape of the object IO back to the camera 100 or reflects back to the first reflector 210. In this case, the first reflector 210 and the second reflector 220 are only distinguished names given for convenience of description, and the second reflector 220 may also reflect the form of the inspection object IO for the first time. The reflector that finally delivers the image of the inspection object IO to the camera 100 may also be the first reflector 210 or the second reflector 220.

조절 반사체(300)는 상술한 검사대상물(IO)의 형태를 최초 반사시키는 제1 반사체(210)의 하부에 마련되어, 즉 상기 조절 반사체(300)는 제1 반사체(210)와 검사대상물(IO) 사이에 마련되어 제1 반사체(210)를 대신하여 검사대상물(IO)의 형태를 제2 반사체(220)로 반사시키며, 조절반사체 회전축을 기준으로 회동되어 작동거리의 미세조절은 물론, 최종적인 시야각을 조절하여 검사대상물(IO)의 전체 외형태가 고정 반사체(200)를 통해 카메라(100)에 온전히 전달되도록 한다.The adjustable reflector 300 is provided below the first reflector 210 that initially reflects the shape of the inspection object IO described above, that is, the control reflector 300 is the first reflector 210 and the inspection object IO. It is provided between and reflects the shape of the inspection object (IO) to the second reflector 220 in place of the first reflector 210, is rotated based on the rotation axis of the control reflector to fine-tune the working distance, the final viewing angle By adjusting, the entire external shape of the inspection object IO is completely transmitted to the camera 100 through the fixed reflector 200.

조명체(400)는 제2 반사체(220)와 검사대상물(IO) 사이에 마련되고 검사대상물(IO)의 표면에 광(光)을 조사하여 반사되는 불빛이 제1 반사체(210) 또는 조절 반사체(300)에 도달되도록 하는 것으로, 이송방향과 수직한 방향을 기준으로, 글라스에 반사되는 불빛이 제1 반사체(210) 또는 조절 반사체(300)에 입사되는 각도와 일치하도록 광(光)의 조사각도가 결정된다.The illuminator 400 is provided between the second reflector 220 and the inspection object IO, and the light reflected by irradiating light onto the surface of the inspection object IO is reflected by the first reflector 210 or the control reflector. In order to reach 300, the light is reflected so that the light reflected by the glass coincides with the angle incident on the first reflector 210 or the control reflector 300 based on a direction perpendicular to the transport direction. The angle is determined.

이를 위해, 조명체(400)에는 조명체 회전축(미도시)이 마련되어 광(光)의 조사방향을 회전시킬 수 있고, 조명체 이동부(미도시)가 마련되어 조명체(400)를 검사대상물(IO)의 이송방향의 전후로 왕복 이동시킬 수 있음은 물론이다.To this end, the illuminator 400 is provided with a rotating axis of illumination (not shown) to rotate the irradiation direction of light, and the illuminator moving part (not shown) is provided to illuminate the illuminator 400 as an inspection object ( Of course, it can be reciprocated before and after the transfer direction of the IO).

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 고정 반사체에 거듭 반사되는 영상을 이용하여 시야각을 확보하는 원리를 나타내는 도면이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 조명체의 광(光)을 이용하여 검사대상물의 표면에 수분의 유무를 판정하는 원리를 나타내는 도면이다.3 is a view illustrating a principle of securing a viewing angle by using an image repeatedly reflected to a fixed reflector according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 illustrates light of an illuminator according to an embodiment of the present invention. It is a figure which shows the principle which determines the presence or absence of water | moisture content on the surface of a test object by using.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 라인 스캔용 카메라 조립체(CA)는 카메라(100)가 나란하게 마주보는 한 쌍의 고정 반사체(200)를 통해 복수회 반사된 검사대상물(IO)의 전체 형태를 촬영함으로써, 공간적 제약을 극복하여 대면적의 글라스 표면의 수분 유무를 측정할 수 있다.As shown in FIG. 3, the line scan camera assembly CA of the present invention includes the entirety of the inspection object IO reflected through the pair of fixed reflectors 200 facing the camera 100 side by side. By photographing the shape, it is possible to overcome the space constraint and measure the presence or absence of moisture on the glass surface of the large area.

구체적으로, 대면적의 글라스 표면을 촬영하기 위해서는 검사대상물(IO)의 시야각에 비례하는 카메라(100)의 작동거리(WD)가 필요하다.(도 3a 참조) 즉, 검사대상물(IO)의 전체 형태의 크기가 커질수록 카메라(100) 역시 더 큰 작동거리를 필요로 하게 되므로, 라인 스캔용 카메라(100)는 컨베어 이송라인으로부터 그 만큼 높은 위치에 설치될 수밖에 없으나, 공간적인 제약에 따라 검사 공정에서 허용되는 높이는 정해져 있으므로, 일직선의 작동거리를 갖는 라인 스캔용 카메라(100)는 설치의 제약이 따른다.Specifically, in order to photograph the glass surface of the large area, the operating distance WD of the camera 100 proportional to the viewing angle of the inspection object IO is required (see FIG. 3A), that is, the entire inspection object IO. As the size of the shape increases, the camera 100 also needs a larger working distance, so the line scanning camera 100 has to be installed at such a high position from the conveyor transfer line. Since the permissible height is determined, the line scanning camera 100 having a straight working distance is subject to the limitation of installation.

이에, 한 쌍의 반사체, 즉, 거울을 마련하여 카메라(100)에서 검사대상물(IO)까지의 직선의 작동거리를 거울에 반사되는 굴절된 작동거리들의 합으로 전환함으로써, 기존의 작동거리를 동일하게 유지하여 동일한 시야각을 확보하면서도, 카메라(100)와 검사대상물(IO) 간의 실거리는 크게 축소시킬 수 있다.(도 3b 참조)Thus, by providing a pair of reflectors, that is, a mirror to convert the operating distance of the straight line from the camera 100 to the inspection object (IO) to the sum of the refracted operating distances reflected on the mirror, thereby making the existing operating distance the same While maintaining the same viewing angle to secure the same, the actual distance between the camera 100 and the inspection object (IO) can be greatly reduced (see FIG. 3b).

한 쌍의 반사체를 이용한 시야각을 확보하는 과정을 좀 더 세밀하게 설명하면, 보다 넓은 시야각을 확보하기 위해서는 그 만큼의 작동거리가 필요하며, 이에 더 많은 횟수의 반사 과정을 통해 굴절된 작동거리들의 합을 늘려야 한다.In more detail, the process of securing a viewing angle using a pair of reflectors requires the operating distance that is required to obtain a wider viewing angle, and thus the sum of the operating distances refracted by the larger number of reflection processes. Should be increased.

이를 위해, 카메라(100)의 촬영방향은 반사체 평면의 수직한 방향에 근접하도록 틸팅되도록 하며, 시야각을 좁히고 그에 따른 해상도를 높이기 위해서는 굴절된 작동거리들의 합을 줄이기 위해, 카메라(100)의 촬영방향은 반사체 평면의 수직한 방향에서 수평한 방향에 근접하도록 틸팅되도록 하여야 한다.To this end, the photographing direction of the camera 100 is tilted so as to be close to the vertical direction of the reflector plane, and in order to reduce the sum of the refracted operating distances in order to narrow the viewing angle and increase the resolution accordingly, the photographing direction of the camera 100. Should be tilted from the vertical to the horizontal direction of the reflector plane.

또한, 한 쌍의 반사체에 비춰지는 검사대상물(IO)의 형태는 카메라(100)의 미세한 틸팅 각도의 변화에도 큰 차이를 보일 수 있어, 제1 반사체(210)의 하부에는 조절 반사체(300)를 두어 미세한 작동거리 조절은 물론, 검사대상물(IO)을 향하는 시야각의 방향 및 크기를 조절할 수 있다.In addition, the shape of the inspection object (IO) that is reflected on the pair of reflectors may show a large difference even in the change of the minute tilting angle of the camera 100, the lower portion of the first reflector 210, the control reflector 300 As well as fine operating distance adjustment, the direction and size of the viewing angle toward the inspection object (IO) can be adjusted.

더불어, 상술한 굴절된 작동거리의 합들로 보다 넓은 시야각을 확보하는 과정을 통해 대면적의 검사대상물(IO)을 촬영하는 것과 함께, 조절 반사체(300)를 통해 검사대상물(IO)의 형태를 연직한 방향에서가 아닌 사선형태로 촬영함으로써, 보다 넓은 면적을 촬영할 수 있다.In addition, while photographing a large area of the inspection object (IO) through a process of securing a wider viewing angle with the sum of the above-described refractive operating distances, the shape of the inspection object (IO) is vertically adjusted through the adjustment reflector (300). By photographing diagonally rather than in one direction, a larger area can be photographed.

한편, 상술한 원리로 검사대상물(IO)의 전체 형태가 카메라(100)에 의해 촬영될 때, 조명체(400)에서 조사되는 광이 검사대상물(IO)에 반사되어 카메라(100)에 촬영되게 함으로써, 그 음영의 차이로 검사대상물(IO)의 표면 이물질을 판정할 수 있다.On the other hand, when the entire shape of the inspection object (IO) is photographed by the camera 100 on the principle described above, the light irradiated from the illuminator 400 is reflected on the inspection object (IO) to be photographed by the camera 100 Thereby, the surface foreign matter of the test object IO can be determined by the difference of the shadow.

도 4를 참조하여, 검사대상물(IO) 표면의 이물질 판정 과정을 설명하면, 검사대상물(IO)인 글라스 표면에 조사되는 광(光)은 입사각과 반사각이 동일하게 반사된다.(도 4a) 그러나, 글라스 표면에 물방울이 남아 있게 되면, 입사된 광(光)은 그 물방울의 굴절율에 의해 굴절되어 반사된다.(도 4b) 이때, 글라스는 광(光)을 반사시키는 재질로 마련되어야 하는 것은 물론이다.Referring to FIG. 4, when the foreign matter determination process on the surface of the inspection object IO is described, the light irradiated onto the glass surface of the inspection object IO is reflected in the same incident angle and reflection angle (FIG. 4A). When water droplets remain on the glass surface, the incident light is refracted and reflected by the refractive index of the water droplet (FIG. 4B). In this case, the glass should be made of a material that reflects light. to be.

따라서, 글라스 표면에 세정액 제거를 위한 DI water의 수분량이 적은 경우는, 반사되는 광(光)의 양이 많아 밝게 나타나는 부분이 많으며(도 4c), 수분량이 많은 경우, 반사되는 광(光)에 비해 굴절되는 광(光)의 양이 상대적으로 더 많아 어둡게 나타나는 부분이 더 많게 촬영된다.(도 4d)Therefore, when the amount of moisture of DI water for removing the cleaning liquid on the glass surface is small, the amount of reflected light is large and many parts appear bright (FIG. 4C). When the amount of moisture is large, the reflected light is applied to the reflected light. In comparison, the amount of light that is refracted is relatively greater, so that the darker portion is photographed more (FIG. 4D).

나아가, 이와 같은 음영의 차이를 통해, 검사대상물(IO)인 글라스 표면에 잔류하는 수분의 유무는 물론, 수분의 양, 및 수분의 밀집 여부에 따른 측정된 잔류 수분의 완전 증발 시점을 추정할 수 있음은 물론이다.Furthermore, through such a difference in shadow, it is possible to estimate the complete evaporation time of the measured residual moisture according to the amount of moisture and the density of moisture as well as the presence or absence of moisture remaining on the glass surface as the inspection object (IO). Of course.

도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 고정 반사체가 이송방향과 나란하게 배치되거나 각각 회동되어 사선형태로 배치되는 라인 스캔용 카메라 조립체의 구성을 나타내는 도면이다.FIG. 5 is a view illustrating a configuration of a line scan camera assembly in which fixed reflectors are disposed in parallel with each other in a transport direction or rotated in a diagonal form according to another embodiment of the present invention.

도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시예의 라인 스캔용 카메라 조립체(CA)는 한 쌍의 거울로 마련되는 고정 반사체(200)가 검사대상물(IO)의 이송 방향과 나란한 방향으로 설치되어 검사대상물(IO) 표면의 수분 잔량을 측정할 수 있다.As shown in FIG. 5, in the line scan camera assembly CA of another embodiment of the present invention, the fixed reflector 200, which is provided as a pair of mirrors, is installed in a direction parallel to the transport direction of the inspection object IO. The amount of moisture remaining on the surface of the test object (IO) can be measured.

본 발명의 라인 스캔 시스템은 한정된 공간 내에서 복수회 반사되는 검사대상물(IO)의 영상을 토대로 작동거리에 따른 적절한 시야각을 확보하여 대면적의 검사대상물(IO)을 검사하는 것으로, 복수회 반사되는 과정이 검사대상물(IO)의 이송방향과 수평한 방향, 수직한 방향 또는 사선 방향으로 형성되는 것 역시 본 발명의 기술적 사상에 포함된다 할 것이다.The line scan system of the present invention inspects a large-area inspection object (IO) by securing an appropriate viewing angle according to an operating distance based on an image of the inspection object (IO) reflected a plurality of times in a limited space. It will also be included in the technical idea of the present invention that the process is formed in a horizontal direction, a vertical direction or an oblique direction in the transport direction of the inspection object (IO).

구체적으로, 고정 반사체(200)가 검사대상물(IO)의 이송 방향과 나란한 방향으로 설치될 때에는, 라인 스캔을 위한 검사 공간의 제약이 제1 반사체(210)와 제2 반사체(220)의 간격만큼의 높이만큼으로 형성되고, 길이는 컨베어 시스템의 이송방향을 따라 형성될 수 있으므로, 그 공간의 제약이 크게 경감될 수 있다.Specifically, when the fixed reflector 200 is installed in the direction parallel to the conveying direction of the inspection object IO, the limitation of the inspection space for the line scan is as much as the distance between the first reflector 210 and the second reflector 220. Since the length is formed by the height of, and the length can be formed along the conveying direction of the conveyor system, the constraint of the space can be greatly reduced.

또한, 고정 반사체(200)가 이송방향과 나란한 방향으로 설치되게 되면, 고정 반사체(200)가 수직한 방향으로 설치될 때와 달리, 조절 반사체(300)를 라인 스캔 검사 공간의 상부에 설치할 수 있어, 검사대상물(IO)의 촬영 각도를 높임으로써 촬영되는 영상을 왜곡없이 보다 정확하게 측정할 수 있는 효과를 포함한다.In addition, when the fixed reflector 200 is installed in the direction parallel to the conveying direction, unlike when the fixed reflector 200 is installed in the vertical direction, the adjustable reflector 300 can be installed above the line scan inspection space. In addition, by increasing the photographing angle of the inspection object (IO) includes the effect of more accurately measuring the image taken without distortion.

또한, 본 발명의 다른 실시예에서의 라인 스캔용 카메라 조립체(CA)는 제1 반사체(210)와 제2 반사체(220)로 이루어진 고정 반사체(200)가 각각 회전하여, 제1 반사체(210)와 제2 반사체(220)가 이루는 각도가 나란하지 않도록 하거나, 이송 방향과 나란한 형태 또는 사선 형태로 배치되도록 할 수 있다.In addition, in the camera assembly CA for a line scan according to another embodiment of the present invention, the fixed reflector 200 formed of the first reflector 210 and the second reflector 220 rotates, respectively, so that the first reflector 210 is rotated. And the angle formed by the second reflector 220 may not be parallel to each other, or may be arranged in a form parallel to the conveying direction or in an oblique form.

구체적으로, 목적에 따라 두 반사체(210, 220)의 길이방향을 따라 벌어지거나 좁혀짐으로써, 조절 반사체(300)의 구성없이 검사대상물(IO)의 촬영각도를 조절하거나, 설치되는 공간의 제약을 극복하기 위해 고정 반사체(200)가 이송방향과 수평한 방향 또는 수직한 방향으로 설치될 수 있으며, 때에 따라서는 사선 형태로 설치될 수도 있다. 사선 형태로 설치될 때에는 검사대상물(IO)의 촬영각도가 컨베어 상부와 연직한 방향에 근접할 수 있어, 역시 별도의 조절 반사체(300)를 필요로 하지 않고 고정 반사체(200)만으로도 검사대상물(IO)을 정면에 근접하여 보다 정확하게 측정할 수 있다.Specifically, by opening or narrowing in the longitudinal direction of the two reflectors 210 and 220 according to the purpose, to adjust the photographing angle of the inspection object (IO) without the configuration of the control reflector 300, or to limit the space to be installed In order to overcome, the fixed reflector 200 may be installed in a horizontal direction or a vertical direction with respect to the conveying direction, and sometimes may be installed in a diagonal form. When installed in an oblique form, the photographing angle of the inspection object (IO) may be close to the direction perpendicular to the upper part of the conveyor, and thus, even if the fixed reflector 200 is not required without a separate control reflector 300, the inspection object (IO) ) Can be measured closer to the front.

위에서 설명한 바와 같이 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등개념으로 이해되어져야 할 것이다.As described above, the detailed description of the present invention has been made by the embodiments with reference to the accompanying drawings. However, since the above-described embodiments have only been described with reference to preferred examples of the present invention, the present invention is limited to the above embodiments. It should not be understood that the scope of the present invention is to be understood by the claims and equivalent concepts described below.

CA : 라인 스캔용 카메라 조립체
100 : 카메라
110 : 틸팅 반사체
200 : 고정 반사체
210 : 제1 반사체
220 : 제2 반사체
300 : 조절 반사체
400 : 조명체
IO : 검사대상물
CA: Camera Assembly for Line Scan
100: camera
110: tilting reflector
200: fixed reflector
210: first reflector
220: second reflector
300: adjustable reflector
400 illuminator
IO: Inspection object

Claims (7)

검사대상물의 비전 검사를 위해 마련되는 카메라; 및
상기 카메라의 전방에 복수개로 마련되어, 상기 검사대상물의 전체 형태를 각각 한 번 이상 반사시켜 상기 카메라에 전달되도록 하는 고정 반사체;를 포함하며,
상기 카메라가 상기 고정반사체를 반사하여 상기 검사대상물의 전체 형태를 촬영함으로써, 상기 카메라와 상기 검사대상물 간의 작동거리(Working Distance)가 복수회 굴절되어, 상기 카메라와 상기 검사대상물의 실거리(actual distance)가 작동거리보다 작게 형성된 상태에서 상기 검사대상물이 상기 카메라의 시야각(Field Of View) 내에 위치되도록 하고,
상기 고정 반사체는,
상기 검사대상물의 형태를 최초 반사시키는 제1 반사체; 및
상기 제1 반사체와 마주보도록 설치되어, 상기 제1 반사체에서 반사되는 상기 검사대상물의 형태를 다시 반사시키는 제2 반사체;로 구성되며,
상기 제2 반사체가 상기 제1 반사체에 의해 반사된 상기 검사대상물의 형태를 다시 상기 제1 반사체로 반사시킴으로써, 상기 제1 반사체에 상기 검사대상물의 형태가 적어도 두 번 이상 복수회 반사되도록 하여, 마주보는 한 쌍의 반사체를 통해 상기 작동거리가 복수 굴절되도록 하고,
반사각도가 조절되도록 마련되어 반사되는 상기 검사대상물의 입사각 및 시야각을 미세조절하며, 반사되는 상기 검사대상물의 형태를 상기 제1 반사체를 대신하여 상기 제2 반사체에 반사되도록 하는 조절 반사체;를 더 포함하고,
상기 조절 반사체는 상기 제1 반사체 또는 상기 제2 반사체 중 어느 하나와 검사대상물 사이에 마련되며,
상기 검사대상물이 놓여지는 면에 수직한 방향을 기준으로, 상기 검사대상물의 형태가 상기 고정 반사체에 입사되는 입사각도와 대칭되게 동일한 입사각도로 광(光)을 조사하는 조명체;를 더 포함하며,
상기 조명체로부터 조사되는 광(光)이 상기 검사대상물의 표면에 존재하는 수분에 의해 난반사되어 상기 카메라에 촬영되는 영상의 음영 차를 통해 상기 검사대상물에 존재하는 수분의 유무를 판별하는 것을 특징으로 하는
라인 스캔용 카메라 조립체.
A camera provided for vision inspection of the inspection object; And
And a plurality of fixed reflectors provided in front of the camera to reflect the entire form of the inspection object one or more times to be transmitted to the camera.
The camera reflects the fixed reflector and photographs the entire shape of the inspection object, such that a working distance between the camera and the inspection object is deflected a plurality of times, thereby causing an actual distance of the camera and the inspection object. Is formed to be smaller than the working distance so that the inspection object is located within the field of view of the camera,
The fixed reflector,
A first reflector for initially reflecting the shape of the inspection object; And
A second reflector installed to face the first reflector to reflect the shape of the test object reflected by the first reflector again;
The second reflector reflects the shape of the test object reflected by the first reflector back to the first reflector, such that the shape of the test object is reflected at least twice or more times in the first reflector, facing each other. Through a pair of reflectors to see the working distance is bent a plurality of,
And a control reflector configured to adjust a reflection angle to finely adjust an incident angle and a viewing angle of the inspected object to be reflected and reflect the shape of the inspected object to be reflected on the second reflector in place of the first reflector. ,
The control reflector is provided between any one of the first reflector or the second reflector and the inspection object,
And an illuminator for irradiating light at an incident angle symmetrically with an incident angle incident on the fixed reflector in the form of the inspected object, based on a direction perpendicular to a surface on which the inspected object is placed.
The light irradiated from the illuminator is diffusely reflected by the moisture present on the surface of the inspection object, and the presence or absence of moisture present in the inspection object is determined by the shade difference of the image photographed by the camera. doing
Camera assembly for line scan.
삭제delete 제 1항에 있어서,
상기 카메라는,
상기 검사대상물을 촬영하는 촬영 각도가 조절되어, 상기 고정 반사체에 반사되는 상기 검사대상물 형태의 입사각이 조절되는 것을 특징으로 하는
라인 스캔용 카메라 조립체.
The method of claim 1,
The camera,
The photographing angle for photographing the inspection object is adjusted, so that the incident angle of the inspection object shape reflected by the fixed reflector is adjusted.
Camera assembly for line scan.
제 1항에 있어서,
상기 고정 반사체는,
상기 제1 반사체와 상기 제2 반사체가 상호 평행한 한 쌍으로 설치되며, 각각 평면형으로 마련되어 상기 검사대상물의 형태가 1:1 배율로 반사되도록 하는 것을 특징으로 하는
라인 스캔용 카메라 조립체.
The method of claim 1,
The fixed reflector,
The first reflector and the second reflector are installed in a pair parallel to each other, each provided in a planar shape so that the shape of the inspection object is reflected at a 1: 1 magnification.
Camera assembly for line scan.
삭제delete 삭제delete 제 1항에 있어서,
상기 조명체는 조명체 회전축이 마련되어 광의 조사방향을 회전시키는 것을 특징으로 하는
라인 스캔용 카메라 조립체.
The method of claim 1,
The illuminator is provided with a rotation axis of the illuminator to rotate the irradiation direction of the light, characterized in that
Camera assembly for line scan.
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100301067B1 (en) * 1999-08-23 2001-11-01 윤종용 Method for detecting micro scratch and device adopting the same
KR100773035B1 (en) 2006-06-29 2007-11-02 주식회사 매크론 Optical transformation unit and optical test apparatus having it
JP2009243920A (en) 2008-03-28 2009-10-22 Jfe Steel Corp Reference plate, optical axis adjustment method of surface inspection apparatus and surface inspection apparatus
JP4673733B2 (en) * 2005-12-02 2011-04-20 新日本製鐵株式会社 Surface inspection apparatus and surface inspection method

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101070889B1 (en) * 2004-04-08 2011-10-06 삼성테크윈 주식회사 Light device for detecting lead frame
KR102298103B1 (en) 2015-02-16 2021-09-07 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for inspecting surface

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100301067B1 (en) * 1999-08-23 2001-11-01 윤종용 Method for detecting micro scratch and device adopting the same
JP4673733B2 (en) * 2005-12-02 2011-04-20 新日本製鐵株式会社 Surface inspection apparatus and surface inspection method
KR100773035B1 (en) 2006-06-29 2007-11-02 주식회사 매크론 Optical transformation unit and optical test apparatus having it
JP2009243920A (en) 2008-03-28 2009-10-22 Jfe Steel Corp Reference plate, optical axis adjustment method of surface inspection apparatus and surface inspection apparatus

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