KR102026914B1 - Vertical and horizontal plane identification method of multilayer ceramic capacitor using surface edge shape difference - Google Patents

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KR102026914B1
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김대호
유희복
임정환
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(주)삼정오토메이션
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Abstract

The present invention relates to a method of distinguishing a vertical and a horizontal plane of a multi-layer ceramic capacitor using a surface edge shape difference. The method extracts a gray line profile for pixels belonging to a test area to test a surface edge shape difference of a multi-layer ceramic capacitor, compares a gray value belonging to a reference surface profile of a center and a highest gray value of a first edge surface profile area belonging to one side to obtain a first angle formed by a first edge surface gray profile, compares the gray value belonging to the reference surface profile of the center and a highest gray value of a second edge surface profile area belonging to the other side to obtain a second angle formed by a second edge surface gray profile, and then compares the first and the second angle with a reference value to use a surface edge shape difference to determine a horizontal plane or a vertical plane. According to the present invention, a surface edge shape difference of a multi-layer ceramic capacitor can be used to determine whether a surface is a horizontal plane or a vertical plane to allow use in a process of mounting on a desired specific plane.

Description

표면 엣지 형상차를 이용한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법{VERTICAL AND HORIZONTAL PLANE IDENTIFICATION METHOD OF MULTILAYER CERAMIC CAPACITOR USING SURFACE EDGE SHAPE DIFFERENCE}VERTICAL AND HORIZONTAL PLANE IDENTIFICATION METHOD OF MULTILAYER CERAMIC CAPACITOR USING SURFACE EDGE SHAPE DIFFERENCE}

본 발명은 적층세라믹콘덴서(MLCC)를 PCB 또는 기타 대상체에 실장했을 때 적층세라믹콘덴서가 실장되는 면에 따라 완성품의 품질이 변하는 문제가 발생할 수 있기 때문에 특정면만으로 실장하는 공정이 필요하여 적층세라믹콘덴서(MLCC)의 표면 엣지 형상차를 이용하여 수직면인지, 수평면인지를 판별할 수 있는 방법에 관한 것이다.According to the present invention, when the laminated ceramic capacitor (MLCC) is mounted on a PCB or other object, the quality of the finished product may change depending on the surface on which the laminated ceramic capacitor is mounted. It relates to a method that can determine whether the vertical plane or horizontal plane using the surface edge shape difference of (MLCC).

일반적으로, 적층세라믹콘덴서는 멀티 레이어 세라믹 콘덴서(MLCC, Multi-Layer Ceramic Capacitor)라고도 하며, 회로가 패터닝된 매우 얇은 시트를 일정크기로 절단하고, 이러한 시트를 다수 적층하여 프레스에 의해서 가압한 후 적절한 크기로 절단해서 제작되는 등 현재 가장 보편적으로 사용되는 작은 사이즈의 표면실장형 콘덴서로서, 이동 통신 기기의 임피던스 매칭용, LC 공진 회로용 및 디지털 기기의 전자파 노이즈 제거용으로 사용된다.In general, multilayer ceramic capacitors, also called multi-layer ceramic capacitors (MLCC), cut a very thin sheet of circuit patterned into a certain size, stack a large number of such sheets, press them by a press, and then It is a small size surface mount capacitor that is most commonly used at present, such as being cut to size, and is used for impedance matching in mobile communication devices, LC resonant circuits, and electromagnetic wave removal in digital devices.

적층세라믹콘덴서(MLCC)를 PCB 또는 기타 대상체에 실장했을 때 적층세라믹콘덴서가 실장되는 면에 따라 완성품의 품질이 변하는 문제가 발생할 수 있기 때문에 특정면만으로 실장하는 공정이 필요하다. When the multilayer ceramic capacitor (MLCC) is mounted on a PCB or other object, the quality of the finished product may vary depending on the surface on which the multilayer ceramic capacitor is mounted.

기존에는 적층세라믹콘덴서를 한쪽면으로 정렬시키기 위해 적층세라믹콘덴서의 특정면이 자석에 반응하는 성질을 이용한 자력 정렬 방식을 통해 일괄 정렬하는 방식을 사용하고 있다. 자력 정렬 방식은 일괄 처리 방식으로 속도가 빠르나, 정렬 정확도가 떨어지며, 자력에 반응하는 면에 대해서만 정렬이 가능하다. 그리고 적층세라믹콘덴서와 자석과의 거리, 자석 종류, 자력 등 여러 가지 조건이 맞도록 설정해야 정렬이 가능하다. 또한, 자석의 힘으로 제품을 돌리기 때문에 표면과의 마찰이 생겨 적층세라믹콘덴서의 외관이 손상될 염려가 있다.Conventionally, in order to align the laminated ceramic capacitors to one side, a batch alignment method is used through a magnetic alignment method using a property in which a specific surface of the laminated ceramic capacitor reacts to a magnet. The magnetic sorting method is a fast batch processing method, but the sorting accuracy is poor, and the sorting can be performed only on the surface that responds to the magnetic force. In addition, it is possible to align the multi-layer ceramic capacitor with magnets by setting them to meet various conditions such as distance, magnet type, and magnetic force. In addition, since the product is turned by the force of the magnet, friction with the surface may occur, which may damage the appearance of the laminated ceramic capacitor.

이와 같은 기존 자력 정렬 방법의 문제점을 개선하여 적층세라믹콘덴서의 수직면과 수평면을 모두 구분할 수 있는 시스템이 절실하게 필요한 시점이다.It is time to desperately need a system that can distinguish both the vertical plane and the horizontal plane of the laminated ceramic capacitor by improving the problems of the conventional magnetic alignment method.

도 3을 참고하면, 적층세라믹콘덴서의 엣지부의 형상차를 이용하면 적층세라믹콘덴서의 수평면과 수직면을 구분할 수 있는 예를 보여주고 있다. 본 발명은 적층세라믹콘덴서의 엣지 부분이 수직면과 수평면에서 형상적인 특징에서 차이를 보이는 점을 이용하고자 한다.Referring to FIG. 3, an example in which a horizontal plane and a vertical plane of a laminated ceramic capacitor are distinguished using the shape difference of the edge portion of the laminated ceramic capacitor is shown. The present invention intends to use the point that the edge portion of the laminated ceramic capacitor shows a difference in the geometrical features in the vertical plane and the horizontal plane.

등록특허 10-1138465(세라믹 그린시트 자동 적층 방법 및 그 장치)Patent 10-1138465 (ceramic green sheet automatic laminating method and apparatus therefor)

본 발명은 상기와 같은 문제점을 개선하기 위하여 발명된 것으로, 적층세라믹콘덴서의 표면 엣지 형상차를 검사할 검사 영역에 속하는 픽셀에 대한 Gray 라인 프로파일을 추출하고, 중앙의 기준면 프로파일 영역에 속하는 Gray 값과 일측에 속하는 제1 엣지면 프로파일 영역의 가장 높은 Gray 값을 비교하여 제1 엣지면 Gray 프로파일이 이루는 제1 각도를 구하고, 중앙의 기준면 프로파일 영역에 속하는 Gray 값과 타측에 속하는 제2 엣지면 프로파일 영역의 가장 높은 Gray 값을 비교하여 제2 엣지면 Gray 프로파일이 이루는 제2 각도를 구한 후 제1 각도 및 제2 각도를 기준값과 비교함으로써, 표면 엣지 형상차를 이용하여 수평면인지, 수직면인지를 판단할 수 있는 표면 엣지 형상차를 이용한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법을 제공하기 위한 것이다.The present invention is invented to solve the above problems, and extracts a gray line profile for a pixel belonging to the inspection area to inspect the surface edge shape difference of the laminated ceramic capacitor, and the gray value belonging to the center reference plane profile area. Comparing the highest gray value of the first edge surface profile region belonging to one side, the first angle formed by the first edge surface gray profile is obtained, and the gray value belonging to the center reference surface profile region and the second edge surface profile region belonging to the other side By comparing the highest gray value of, obtain the second angle formed by the second edge surface gray profile, and then compare the first angle and the second angle with the reference value to determine whether it is horizontal or vertical using the surface edge shape difference. The purpose of the present invention is to provide a vertical and horizontal plane discrimination method for a laminated ceramic capacitor using surface edge shape differences. .

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 적층세라믹콘덴서(MLCC)가 트레이에 실장되어 있는 면이 수평면인지 수직면인지를 표면 엣지 형상차를 이용하여 판단하기 위한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법으로서, 적층세라믹콘덴서(MLCC)의 표면 엣지 형상차를 검사할 검사 영역을 설정하는 단계; 상기 검사 영역을 일방향으로 스캔하면서 검사 영역에 포함되는 각 픽셀의 RGB 이미지를 Gray 이미지로 변환하여 Gray 라인 프로파일을 추출하는 단계; 상기 추출된 Gray 라인 프로파일을 이용하여 중앙의 기준면 프로파일 영역에 속하는 Gray 값과 일측에 속하는 제1 엣지면 프로파일 영역의 가장 높은 Gray 값을 비교하여 기준면 Gray 프로파일 대비 제1 엣지면 Gray 프로파일이 이루는 제1 각도를 구하고, 중앙의 기준면 프로파일 영역에 속하는 Gray 값과 타측에 속하는 제2 엣지면 프로파일 영역의 가장 높은 Gray 값을 비교하여 기준면 Gray 프로파일 대비 제2 엣지면 Gray 프로파일이 이루는 제2 각도를 구하는 엣지면 각도 추출 단계; 및 상기 제1 각도 및 제2 각도를 기준값과 비교하여 기준값 이상이면 상기 검사 영역이 수평면이라고 판단하고, 기준값 미만이면 수직면이라고 판단하는 단계를 포함한다.In order to achieve the above object, the present invention is to determine the vertical and horizontal plane of the laminated ceramic capacitor by using the surface edge shape difference to determine whether the surface mounted on the tray of the multilayer ceramic capacitor (MLCC) vertical or vertical plane Setting an inspection area for inspecting a surface edge shape difference of the multilayer ceramic capacitor (MLCC); Extracting a gray line profile by converting an RGB image of each pixel included in the inspection area into a gray image while scanning the inspection area in one direction; By using the extracted gray line profile, a gray value belonging to a center reference plane profile area is compared with a highest gray value of a first edge plane profile area belonging to one side, thereby forming a first edge surface gray profile compared to the reference plane gray profile. The edge surface is obtained by comparing the gray value belonging to the center reference plane profile area with the highest gray value of the second edge plane profile area belonging to the other side and obtaining the second angle formed by the second edge plane gray profile relative to the reference plane gray profile. Angle extraction step; And comparing the first angle and the second angle with a reference value, determining that the inspection area is a horizontal plane when the reference angle is greater than or equal to the reference value, and determining that the inspection area is a vertical plane when less than the reference value.

상기 검사 영역을 설정하는 단계는, 적층세라믹콘덴서의 좌우 길이와 상하 폭을 확인한 후 검사 중심(X, Y)를 설정하고, 검사 중심위치(X, Y)를 기준으로 사각의 검사 영역을 설정하되, 사각의 검사 영역은 적층세라믹콘덴서의 좌우 전극 영역 사이에 있는 중앙의 바디 영역에 채워질 수 있도록 바디 영역의 안쪽에 형성되는 것을 특징으로 한다.In the setting of the inspection area, after confirming the left and right length and the vertical width of the laminated ceramic capacitor, the inspection center (X, Y) is set, and the rectangular inspection area is set based on the inspection center position (X, Y). The rectangular inspection region is formed inside the body region so as to be filled in the center body region between the left and right electrode regions of the multilayer ceramic capacitor.

그리고, 상기 사각의 검사 영역에 해당하는 좌우 길이와 상하 폭은 각각 적층세라믹콘덴서의 좌우 길이와 상하 폭에 서로 다른 비율을 적용하여 백분율로 구하는 것을 특징으로 한다.The left and right lengths and the top and bottom widths corresponding to the rectangular inspection area may be obtained as percentages by applying different ratios to the left and right lengths and the top and bottom widths of the laminated ceramic capacitor, respectively.

여기서, 상기 Gray 라인 프로파일을 추출하는 단계는, 상기 사각의 검사 영역 내에 속하는 각 픽셀에 대해 좌우 길이 방향을 따라 좌측에서 우측으로 또는 우측에서 좌측으로 차례로 Gray 이미지 값을 구한 후 해당 열의 Gray 이미지 값을 모두 더하여 평균값을 구하고, 그 다음 열에 대해서도 동일한 방법으로 평균값을 구하는 방식으로 모든 열에 대해 Gray 이미지의 평균값을 구한 다음 이를 이용하여 Gray 라인 프로파일을 추출하는 것을 특징으로 한다.The extracting of the gray line profile may include obtaining gray image values from left to right or right to left along the left and right length directions for each pixel belonging to the rectangular inspection area, and then calculating the gray image values of the corresponding columns. The average value of all the columns is obtained by adding the average value and the average value of the next column. The gray line profile is extracted using the average value of the gray image.

또한, 상기 Gray 라인 프로파일을 추출하는 단계는, 상기 사각의 검사 영역 내에 속하는 각 픽셀에 대해 일측의 전극 영역에서 타측의 전극 영역 방향으로 진행하면서 제일 위쪽 열부터 제일 아래쪽 열까지 열단위 Gray 이미지의 평균값을 차례로 구하고, 이를 이용하여 Gray 라인 프로파일을 추출하는 것을 특징으로 한다.The extracting of the gray line profile may include: an average value of the column-based gray image from the top column to the bottom column while moving from one electrode region to the other electrode region for each pixel belonging to the rectangular inspection region; We obtain in order, and extract the gray line profile using this.

상기 엣지면 각도 추출 단계에서, Gray 라인 프로파일의 중앙에 속하는 소정의 범위를 중앙의 기준면 프로파일 영역으로 설정하고, 일측에 속하는 소정의 범위를 제1 엣지면 프로파일 영역으로 설정하며, 타측에 속하는 소정의 범위를 제2 엣지면 프로파일 영역으로 설정하는 것을 특징으로 한다.In the step of extracting the edge surface angle, a predetermined range belonging to the center of the gray line profile is set as the reference plane profile area at the center, a predetermined range belonging to one side is set as the first edge surface profile area, and a predetermined range belonging to the other side. The range is set to the second edge surface profile area.

나아가, 상기 엣지면 각도 추출 단계는, 제1 엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 이미지 값의 픽셀 위치에서 기준면 프로파일 영역의 중심 픽셀 위치를 뺀 픽셀 사이의 거리와 제1 엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 이미지 값에서 기준면 프로파일 영역의 Gray 이미지 평균값을 뺀 Gray 이미지 값의 차이를 이용하여 제1 각도를 구하고, 제2 엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 이미지 값의 픽셀 위치에서 기준면 프로파일 영역의 중심 픽셀 위치를 뺀 픽셀 사이의 거리와 제2 엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 이미지 값에서 기준면 프로파일 영역의 Gray 이미지 평균값을 뺀 Gray 이미지 값의 차이를 이용하여 제2 각도를 구하는 것을 특징으로 한다.Further, the step of extracting the edge surface angle may include the distance between the pixel minus the center pixel position of the reference surface profile region and the highest gray in the first edge surface profile region from the pixel position of the highest gray image value in the first edge surface profile region. The first angle is obtained using the difference of gray image values minus the average gray image value of the reference plane profile area, and the center pixel position of the reference profile area is determined from the pixel position of the highest gray image value in the second edge surface profile area. The second angle may be obtained by using a difference between the subtracted pixel and the gray image value obtained by subtracting the average gray image value of the reference surface profile region from the highest gray image value in the second edge surface profile region.

상기 판단하는 단계는, 상기 제1 각도 및 제2 각도를 더한 후 평균값을 구하고, 이를 기준값과 비교하여 기준값 이상이면 상기 검사 영역이 수평면이라고 판단하고, 기준값 미만이면 수직면이라고 판단하는 것을 특징으로 한다.The determining may include obtaining an average value after adding the first angle and the second angle, comparing the reference value with a reference value, and determining that the inspection area is a horizontal plane if the reference value is greater than or equal to the reference value.

상기와 같은 구성의 본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 도모할 수 있다. According to the present invention having the above configuration, the following effects can be achieved.

적층세라믹콘덴서의 표면 엣지 형상차를 이용하여 표면이 수직면인지, 수평면인지 모두 판별이 가능하여 원하는 특정면으로 실장하는 공정에 이용이 가능하다.It is possible to determine whether the surface is a vertical plane or a horizontal plane by using the surface edge shape difference of the laminated ceramic capacitor, and thus it can be used for the process of mounting on the desired specific surface.

기존의 자력 정렬 방식과 비교하여 훨씬 높은 정확도로 정렬할 수가 있으며, 영상처리를 위한 소프트웨어의 조건 설정만으로도 적층세라믹콘덴서의 특정면을 판별할 수가 있다.Compared with the conventional magnetic alignment method, the alignment can be performed with much higher accuracy, and the specific surface of the multilayer ceramic capacitor can be determined by setting the conditions of the software for image processing.

나아가, 자석의 힘과 같은 물리적인 힘을 이용하는 방식이 아니기 때문에 적층세라믹콘덴서가 손상될 염려가 없다.Furthermore, there is no possibility of damaging the multilayer ceramic capacitor because it is not a method of using physical force such as the force of the magnet.

도 1은 본 발명에 따른 표면 엣지 형상차를 이용한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법의 순서도
도 2는 본 발명에 따른 표면 엣지 형상차를 이용한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법을 수행하기 위한 MLCC 수직 수평 판별 장치의 블록도
도 3은 적층세라믹콘덴서의 엣지부의 형상차를 이용하면 적층세라믹콘덴서의 수평면과 수직면을 구분하는 예시도
도 4는 본 발명에 따라 Gray 라인 프로파일을 추출하기 위해 설정된 검사 영역의 예시도
도 5는 본 발명에 따라 Gray 라인 프로파일을 추출하기 위한 방법을 나타내는 예시도
도 6은 본 발명에 따라 일측 엣지면과 타측 엣지면의 각도 데이터를 추출하는 방법을 나타내는 예시도
도 7은 본 발명에 따라 추출한 Gray 라인 프로파일을 이용하여 수직면 및 수평면을 판별한 결과를 나타내는 예시도
1 is a flow chart of the vertical and horizontal plane discrimination method of the laminated ceramic capacitor using the surface edge shape difference according to the present invention
2 is a block diagram of an MLCC vertical horizontal discrimination apparatus for performing a vertical and horizontal plane discrimination method of a multilayer ceramic capacitor using a surface edge shape difference according to the present invention.
3 is an exemplary diagram for distinguishing a horizontal plane and a vertical plane of a laminated ceramic capacitor using the shape difference of the edge portion of the laminated ceramic capacitor.
4 is an exemplary view of an inspection area set up to extract a gray line profile in accordance with the present invention.
5 is an exemplary diagram illustrating a method for extracting a gray line profile in accordance with the present invention.
6 is an exemplary view illustrating a method of extracting angle data of one edge surface and the other edge surface according to the present invention.
7 is an exemplary view showing a result of determining a vertical plane and a horizontal plane using a gray line profile extracted according to the present invention.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되는 실시 예를 참조하면 명확해질 것이다.Advantages and features of the present invention, and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with reference to the accompanying drawings.

그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예로 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이다.However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in various different forms.

본 명세서에서 본 실시 예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다.In this specification, the embodiments are provided so that the disclosure of the present invention may be completed and the scope of the present invention may be completely provided to those skilled in the art.

그리고 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.And the present invention is only defined by the scope of the claims.

따라서, 몇몇 실시 예에서, 잘 알려진 구성 요소, 잘 알려진 동작 및 잘 알려진 기술들은 본 발명이 모호하게 해석되는 것을 피하기 위하여 구체적으로 설명되지 않는다.Thus, in some embodiments, well known components, well known operations, and well known techniques are not described in detail in order to avoid obscuring the present invention.

또한, 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭하고, 본 명세서에서 사용된(언급된) 용어들은 실시 예를 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다.In addition, the same reference numerals throughout the specification refer to the same components, and the terminology (discussed) used herein is for the purpose of describing the embodiments are not intended to limit the invention.

본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함하며, '포함(또는, 구비)한다'로 언급된 구성 요소 및 동작은 하나 이상의 다른 구성요소 및 동작의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.As used herein, the singular forms "a", "an" and "the" include plural unless the context clearly dictates otherwise, and the elements and acts referred to as 'comprises' or 'do' not exclude the presence or addition of one or more other components and acts. .

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used in the present specification may be used in a sense that can be commonly understood by those skilled in the art.

또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 정의되어 있지 않은 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.In addition, the terms defined in the commonly used dictionary are not ideally or excessively interpreted unless they are defined.

이하, 첨부된 도면을 참고로 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described a preferred embodiment of the present invention.

도 1 및 도 2를 참고하면, 본 발명에 따른 표면 엣지 형상차를 이용한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법은 적층세라믹콘덴서(MLCC)가 트레이에 실장되어 있는 면이 수평면인지 수직면인지를 표면 엣지 형상차를 이용하여 판단하기 위한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법에 관한 것이다.1 and 2, in the vertical and horizontal plane discrimination method of the multilayer ceramic capacitor using the surface edge shape difference according to the present invention, the surface edge of the multilayer ceramic capacitor (MLCC) mounted on the tray is a horizontal plane or a vertical plane. A vertical and horizontal plane discrimination method of a laminated ceramic capacitor for determining by using a shape difference.

MLCC 수직 수평 판별 장치(100)를 이용하여 본 발명의 각 단계를 수행하며, MLCC 수직 수평 판별 장치(100)는 검사 영역 설정부(110), Gray 라인 프로파일 추출부(120), 엣지면 각도 추출부(130) 및 수평 수직 판단부(140)를 포함한다.Each step of the present invention is performed using the MLCC vertical horizontal discrimination apparatus 100, and the MLCC vertical horizontal discrimination apparatus 100 includes the inspection area setting unit 110, the gray line profile extracting unit 120, and the edge surface angle extraction. The unit 130 and the horizontal vertical determination unit 140 is included.

본 발명의 각 단계를 설명하면 다음과 같다.Each step of the present invention will be described as follows.

먼저, 검사 영역 설정부(110)는 적층세라믹콘덴서(MLCC)의 표면 엣지 형상차를 검사할 검사 영역을 설정한다(S110).First, the inspection region setting unit 110 sets an inspection region to inspect the surface edge shape difference of the multilayer ceramic capacitor MLCC (S110).

도 4를 참고하면, 적층세라믹콘덴서의 좌우 길이(L)와 상하 폭(W)을 확인한 후 검사 중심(X, Y)를 설정하고, 검사 중심위치(X, Y)를 기준으로 사각의 검사 영역을 설정하되, 사각의 검사 영역은 적층세라믹콘덴서의 좌우 전극 영역 사이에 있는 중앙의 바디 영역에 채워질 수 있도록 바디 영역의 안쪽에 형성된다.Referring to Figure 4, after checking the left and right length (L) and the vertical width (W) of the laminated ceramic capacitor set the inspection center (X, Y), the rectangular inspection area based on the inspection center position (X, Y) In this case, the rectangular inspection region is formed inside the body region so as to be filled in the center body region between the left and right electrode regions of the laminated ceramic capacitor.

여기서, 사각의 검사 영역에 해당하는 좌우 길이와 상하 폭은 각각 적층세라믹콘덴서의 좌우 길이(L)와 상하 폭(W)에 서로 다른 비율을 적용하여 백분율로 구한다. 예를 들어, 사각의 검사 영역에 해당하는 좌우 길이는 적층세라믹콘덴서의 좌우 길이(L)의 45%로 설정하고, 사각의 검사 영역에 해당하는 상하 폭은 적층세라믹콘덴서의 상하 폭(W)의 95% 설정할 수 있다.Here, the left and right lengths and the top and bottom widths corresponding to the rectangular inspection area are calculated as percentages by applying different ratios to the left and right lengths L and the top and bottom widths W of the laminated ceramic capacitor, respectively. For example, the left and right lengths corresponding to the rectangular inspection area are set to 45% of the left and right lengths L of the laminated ceramic capacitor, and the upper and lower widths corresponding to the rectangular inspection area are the upper and lower widths W of the laminated ceramic capacitor. 95% can be set.

사각의 검사 영역이 양측의 엣지 부분을 포함해야 하기 때문에 검사 영역의 상하 폭은 적층세라믹콘덴서의 상하 폭(W)과 거의 비슷한 수준으로 설정하는 것이 바람직하고, 검사 영역의 좌우 길이는 중앙의 바디 영역에 들어가야 하기 때문에 적층세라믹콘덴서의 좌우 길이(L) 보다는 훨씬 작게 설정하는 것이 바람직할 것이다.Since the rectangular inspection area should include the edge portions of both sides, it is preferable to set the upper and lower widths of the inspection area to a level substantially similar to the upper and lower widths (W) of the laminated ceramic capacitor, and the left and right lengths of the inspection area are the center body area. It may be desirable to set much smaller than the left and right length (L) of the laminated ceramic capacitor.

표면 엣지 형상차를 검사할 검사 영역을 식으로 나타내면 다음과 같다.The inspection area to inspect the surface edge shape difference is expressed as follows.

- 검출된 MLCC 외곽사이즈(L) x (W)MLCC outline size detected (L) x (W)

- 가로방향 중심점위치(CL) = L/2-Horizontal center point position (CL) = L / 2

- 세로방향 중심점위치(CW) = W/2-Longitudinal center point (CW) = W / 2

- 검사영역(W)과(L)은 MLCC 외곽사이즈(L)과(W)의 사이즈에 대한 백분율로 설정.-Inspection areas (W) and (L) are set as a percentage of the size of MLCC outer size (L) and (W).

- 검사영역(Left) = CL - 검사영역(L)/2-Inspection area (Left) = CL-Inspection area (L) / 2

- 검사영역(Right) = CL + 검사영역(L)/2-Inspection area (Right) = CL + inspection area (L) / 2

- 검사영역(Top) = CW + 검사영역(W)/2-Inspection area (Top) = CW + inspection area (W) / 2

- 검사영역(Bottom) = CW - 검사영역(W)/2-Inspection area (Bottom) = CW-Inspection area (W) / 2

Gray 라인 프로파일 추출부(120)는 검사 영역을 일방향으로 스캔하면서 검사 영역에 포함되는 각 픽셀의 RGB 이미지를 Gray 이미지로 변환하여 Gray 라인 프로파일을 추출한다(S120).The gray line profile extractor 120 extracts the gray line profile by converting the RGB image of each pixel included in the inspection area into a gray image while scanning the inspection area in one direction (S120).

도 5를 참고하면, 사각의 검사 영역 내에 속하는 각 픽셀에 대해 좌우 길이 방향을 따라 좌측에서 우측으로 또는 우측에서 좌측으로 차례로 Gray 이미지 값을 구한 후 해당 열의 Gray 이미지 값을 모두 더하여 평균값을 구하고, 그 다음 열에 대해서도 동일한 방법으로 평균값을 구하는 방식으로 모든 열에 대해 Gray 이미지의 평균값을 구한 다음 이를 이용하여 Gray 라인 프로파일을 추출한다.Referring to FIG. 5, the gray image values are obtained from left to right or right to left along the left and right length directions for each pixel within the rectangular inspection area, and then the gray image values of the corresponding columns are added to obtain an average value. In the same way, the average value of the gray image is obtained for all columns, and then the gray line profile is extracted.

그리고, 사각의 검사 영역 내에 속하는 각 픽셀에 대해 일측의 전극 영역에서 타측의 전극 영역 방향으로 진행하면서 제일 위쪽 열부터 제일 아래쪽 열까지 열단위 Gray 이미지의 평균값을 차례로 구하고, 이를 이용하여 Gray 라인 프로파일을 추출한다.Then, for each pixel belonging to the rectangular inspection area, the average value of the gray image of the column unit is sequentially obtained from the topmost column to the bottommost column while proceeding from one electrode region to the other electrode region. Extract.

도 5를 참고하면, 검사영역(L)에 해당하는 픽셀수가 50개이고 검사영역(W)에 해당하는 픽셀수가 100개라고 한다면 다음과 같은 식에 의해 W영역에 대해서 하나의 프로파일을 추출한다.Referring to FIG. 5, if the number of pixels corresponding to the inspection area L is 50 and the number of pixels corresponding to the inspection area W is 100, one profile is extracted for the W area by the following equation.

Average (W1) = (L₁ + L₂ + L₃ ㆍㆍㆍㆍㆍ + L50)/50Average (W1) = (L₁ + L₂ + L₃ ㆍ ··· + L 50 ) / 50

Average (W2) = (L₁ + L₂ + L₃ ㆍㆍㆍㆍㆍ + L50)/50Average (W2) = (L₁ + L₂ + L₃ ㆍ ··· + L 50 ) / 50

ㆍㆍㆍㆍㆍㆍ ····

Average (W100) = (L₁ + L₂ + L₃ㆍㆍㆍㆍㆍ + L50)/50Average (W100) = (L₁ + L₂ + L₃ ···· + L 50 ) / 50

엣지면 각도 추출부(130)는 추출된 Gray 라인 프로파일을 이용하여 중앙의 기준면 프로파일 영역에 속하는 Gray 값과 일측에 속하는 제1 엣지면 프로파일 영역의 가장 높은 Gray 값을 비교하여 기준면 Gray 프로파일 대비 제1 엣지면 Gray 프로파일이 이루는 제1 각도를 구하고, 중앙의 기준면 프로파일 영역에 속하는 Gray 값과 타측에 속하는 제2 엣지면 프로파일 영역의 가장 높은 Gray 값을 비교하여 기준면 Gray 프로파일 대비 제2 엣지면 Gray 프로파일이 이루는 제2 각도를 구한다(S130).The edge plane angle extractor 130 compares the gray value belonging to the center reference plane profile area with the highest gray value of the first edge plane profile area belonging to one side by using the extracted gray line profile to compare the first gray plane profile with the first gray plane profile. The first angle formed by the edge surface gray profile is calculated, and the gray value belonging to the center reference surface profile area is compared with the highest gray value of the second edge profile area belonging to the other side, and the second edge surface gray profile is compared to the reference gray profile. A second angle is formed to obtain (S130).

도 6을 참고하면, Gray 라인 프로파일의 중앙에 속하는 소정의 범위를 중앙의 기준면 프로파일 영역으로 설정하고, 일측에 속하는 소정의 범위를 제1 엣지면 프로파일 영역으로 설정하며, 타측에 속하는 소정의 범위를 제2 엣지면 프로파일 영역으로 설정한다.Referring to FIG. 6, a predetermined range belonging to the center of the gray line profile is set as the center reference plane profile region, a predetermined range belonging to one side is set as the first edge surface profile region, and a predetermined range belonging to the other side is set. The second edge surface profile area is set.

그리고, 제1 엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 이미지 값의 픽셀 위치에서 기준면 프로파일 영역의 중심 픽셀 위치를 뺀 픽셀 사이의 거리와 제1 엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 이미지 값에서 기준면 프로파일 영역의 Gray 이미지 평균값을 뺀 Gray 이미지 값의 차이를 이용하여 제1 각도(Θ')를 구한다.The distance between the pixel minus the center pixel position of the reference plane profile region from the pixel position of the highest gray image value in the first edge surface profile region and the gray of the reference plane profile region at the highest gray image value in the first edge surface profile region The first angle Θ 'is obtained by using the difference of gray image values minus the image average value.

또한, 제2 엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 이미지 값의 픽셀 위치에서 기준면 프로파일 영역의 중심 픽셀 위치를 뺀 픽셀 사이의 거리와 제2 엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 이미지 값에서 기준면 프로파일 영역의 Gray 이미지 평균값을 뺀 Gray 이미지 값의 차이를 이용하여 제2 각도(Θ")를 구한다.Further, the distance between the pixel minus the pixel position of the highest gray image value in the second edge surface profile area minus the center pixel position of the reference plane profile area and the gray of the reference plane profile area at the highest gray image value in the second edge surface profile area. The second angle Θ "is obtained by using the difference of gray image values minus the image average value.

도 6을 참고하여, 제1 각도(Θ')와 제2 각도(Θ")를 구하는 방법을 식으로 나타내면 다음과 같다.Referring to FIG. 6, a method of obtaining the first angle Θ 'and the second angle Θ "is as follows.

① Ref_Avg(g) = 기준면 프로파일 영역의 평균 Gray 값① Ref_Avg (g) = average gray value of the reference profile area

② Ref(cx) = 기준면 프로파일 영역의 중심 픽셀 위치② Ref (cx) = center pixel position of the reference plane profile area

③ Left_Top(ty) = (L)엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 값③ Left_Top (ty) = (L) The highest gray value in the edge profile area

④ Right_Top(ty) = (R)엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 값Right_Top (ty) = (R) The highest gray value in the edge profile area.

⑤ Left(lx) = (L)엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 값의 픽셀 위치Left (lx) = pixel position of highest gray value in the edge area of the (L) edge

⑥ Right(rx) = (R)엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 값의 픽셀 위치⑥ Right (rx) = (R) edge pixel position of highest gray value in profile area

-. 엣지면 각도 계산 방식-. Edge ground angle calculation method

⑦ Distance Pixels(L) = ⑤ - ②⑦ Distance Pixels (L) = ⑤-②

⑧ Difference Gray Level(L) = ③ - ①⑧ Difference Gray Level (L) = ③-①

제1 각도(Θ')= arctan(⑧, ⑦)First angle Θ '= arctan (⑧, ⑦)

⑨ Distance Pixels(R) = ⑥ - ②⑨ Distance Pixels (R) = ⑥-②

⑩ Difference Gray Level(R) = ④ - ①If Difference Gray Level (R) = ④-①

제2 각도(Θ")= arctan(⑩, ⑨)Second angle Θ "= arctan (⑩, ⑨)

수평 수직 판단부(140)는 제1 각도(Θ') 및 제2 각도(Θ")를 기준값과 비교하여 기준값 이상이면 상기 검사 영역이 수평면이라고 판단하고, 기준값 미만이면 수직면이라고 판단한다(S140).The horizontal and vertical determination unit 140 compares the first angle Θ 'and the second angle Θ "with a reference value and determines that the inspection area is a horizontal plane if the reference value is greater than or equal to the reference value, and determines that the inspection area is a vertical plane if it is less than the reference value (S140). .

여기서, 제1 각도(Θ') 및 제2 각도(Θ")를 더한 후 평균값을 구하고, 이를 기준값과 비교하여 기준값 이상이면 상기 검사 영역이 수평면이라고 판단하고, 기준값 미만이면 수직면이라고 판단한다.Here, an average value is obtained after adding the first angle Θ 'and the second angle Θ ", and compared with the reference value to determine the inspection area as the horizontal plane, and when the reference value is less than the reference value, it is determined as the vertical plane.

도 7을 참고하면, 상기와 같은 방식으로 일측에 속하는 제1 엣지면에 대한 제1 각도(Θ')와 타측에 속하는 제2 엣지면에 대한 제2 각도(Θ")를 구한 결과 값을 보여주고 있다. 각도 평균값이 40.10에 해당하는 좌측 라인 프로파일은 기준값 이상으로서 수평면(TOP)이라고 판단하고, 각도 평균값이 2.52에 해당하는 우측 라인 프로파일은 기준값 미만으로서 수직면(SIDE)이라고 판단한 것을 알 수 있다.Referring to FIG. 7, the result obtained by obtaining the first angle Θ 'with respect to the first edge surface belonging to one side and the second angle Θ "with respect to the second edge surface belonging to the other side in the same manner as described above is shown. It can be seen that the left line profile whose angle average value is 40.10 is determined as the horizontal plane TOP as the reference value or more, and the right line profile whose angle average value is 2.52 is less than the reference value as the vertical plane SIDE.

지금까지 본 발명을 바람직한 실시 예를 참조하여 상세히 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시할 수 있으므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 한다.Although the present invention has been described in detail with reference to the preferred embodiments, those skilled in the art to which the present invention pertains can implement the present invention in other specific forms without changing the technical spirit or essential features, The embodiments are to be understood in all respects as illustrative and not restrictive.

그리고, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 특정되는 것이며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.In addition, the scope of the present invention is specified by the appended claims rather than the detailed description, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts are included in the scope of the present invention. Should be interpreted as

100...MLCC 수직 수평 판별 장치
110...검사 영역 설정부
120...Gray 라인 프로파일 추출부
130...엣지면 각도 추출부
140...수평 수직 판단부
100 ... MLCC Vertical Leveling Unit
110 ... Inspection area setting part
120 ... Gray Line Profile Extractor
130 ... Edge angle extractor
140 ... Horizontal Vertical Judgment

Claims (8)

적층세라믹콘덴서(MLCC)가 트레이에 실장되어 있는 면이 수평면인지 수직면인지를 표면 엣지 형상차를 이용하여 판단하기 위한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법으로서,
적층세라믹콘덴서(MLCC)의 표면 엣지 형상차를 검사할 검사 영역을 설정하는 단계;
상기 검사 영역을 일방향으로 스캔하면서 검사 영역에 포함되는 각 픽셀의 RGB 이미지를 Gray 이미지로 변환하여 Gray 라인 프로파일을 추출하는 단계;
상기 추출된 Gray 라인 프로파일을 이용하여 중앙의 기준면 프로파일 영역에 속하는 Gray 값과 일측에 속하는 제1 엣지면 프로파일 영역의 가장 높은 Gray 값을 비교하여 기준면 Gray 프로파일 대비 제1 엣지면 Gray 프로파일이 이루는 제1 각도를 구하고, 중앙의 기준면 프로파일 영역에 속하는 Gray 값과 타측에 속하는 제2 엣지면 프로파일 영역의 가장 높은 Gray 값을 비교하여 기준면 Gray 프로파일 대비 제2 엣지면 Gray 프로파일이 이루는 제2 각도를 구하는 엣지면 각도 추출 단계; 및
상기 제1 각도 및 제2 각도를 기준값과 비교하여 기준값 이상이면 상기 검사 영역이 수평면이라고 판단하고, 기준값 미만이면 수직면이라고 판단하는 단계;
를 포함하고,
상기 판단하는 단계는,
상기 제1 각도 및 제2 각도를 더한 후 평균값을 구하고, 이를 기준값과 비교하여 기준값 이상이면 상기 검사 영역이 수평면이라고 판단하고, 기준값 미만이면 수직면이라고 판단하는 것을 특징으로 하는 표면 엣지 형상차를 이용한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법.
As a vertical and horizontal plane discrimination method of a laminated ceramic capacitor for determining whether a surface mounted on a tray is a horizontal plane or a vertical plane using a surface edge shape difference,
Setting an inspection area for inspecting a surface edge shape difference of the multilayer ceramic capacitor (MLCC);
Extracting a gray line profile by converting an RGB image of each pixel included in the inspection area into a gray image while scanning the inspection area in one direction;
By using the extracted gray line profile, a gray value belonging to a center reference plane profile area is compared with a highest gray value of a first edge plane profile area belonging to one side, thereby forming a first edge surface gray profile compared to the reference plane gray profile. The edge surface is obtained by comparing the gray value belonging to the center reference plane profile area with the highest gray value of the second edge plane profile area belonging to the other side and obtaining the second angle formed by the second edge plane gray profile relative to the reference plane gray profile. Angle extraction step; And
Comparing the first angle and the second angle with a reference value and determining that the inspection area is a horizontal plane when the reference angle is greater than or equal to a reference value and determining that the inspection area is a vertical plane by less than the reference value;
Including,
The determining step,
The average value is obtained after adding the first angle and the second angle, and compared with the reference value, the average value is determined to be equal to or greater than the reference value, and the test area is determined to be a horizontal plane. Determination of vertical and horizontal planes of ceramic capacitors.
청구항 1에 있어서,
상기 검사 영역을 설정하는 단계는,
적층세라믹콘덴서의 좌우 길이와 상하 폭을 확인한 후 검사 중심(X, Y)를 설정하고, 검사 중심위치(X, Y)를 기준으로 사각의 검사 영역을 설정하되, 사각의 검사 영역은 적층세라믹콘덴서의 좌우 전극 영역 사이에 있는 중앙의 바디 영역에 채워질 수 있도록 바디 영역의 안쪽에 형성되는 것을 특징으로 하는 표면 엣지 형상차를 이용한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법.
The method according to claim 1,
Setting the inspection area,
After checking the left and right length and the vertical width of the laminated ceramic capacitor, set the inspection center (X, Y) and set the rectangular inspection area based on the inspection center position (X, Y), but the rectangular inspection area is the laminated ceramic capacitor. The vertical and horizontal plane discrimination method of the laminated ceramic capacitor using the surface edge shape difference, characterized in that formed on the inside of the body region so as to be filled in the center body region between the left and right electrode regions of the.
청구항 2에 있어서,
상기 사각의 검사 영역에 해당하는 좌우 길이와 상하 폭은 각각 적층세라믹콘덴서의 좌우 길이와 상하 폭에 서로 다른 비율을 적용하여 백분율로 구하는 것을 특징으로 하는 표면 엣지 형상차를 이용한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법.
The method according to claim 2,
The vertical and horizontal lengths of the laminated ceramic capacitor using the surface edge shape difference, which are obtained by applying different ratios to the left and right lengths and the upper and lower widths of the laminated ceramic capacitors, respectively, as a percentage. How to determine the horizontal plane.
청구항 2에 있어서,
상기 Gray 라인 프로파일을 추출하는 단계는,
상기 사각의 검사 영역 내에 속하는 각 픽셀에 대해 좌우 길이 방향을 따라 좌측에서 우측으로 또는 우측에서 좌측으로 차례로 Gray 이미지 값을 구한 후 해당 열의 Gray 이미지 값을 모두 더하여 평균값을 구하고, 그 다음 열에 대해서도 동일한 방법으로 평균값을 구하는 방식으로 모든 열에 대해 Gray 이미지의 평균값을 구한 다음 이를 이용하여 Gray 라인 프로파일을 추출하는 것을 특징으로 하는 표면 엣지 형상차를 이용한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법.
The method according to claim 2,
Extracting the gray line profile,
For each pixel belonging to the rectangular inspection area, gray image values are obtained in order from left to right or right to left along the left and right length directions, and then the average value is obtained by adding up all gray image values of the corresponding column. A method for discriminating vertical and horizontal planes of laminated ceramic capacitors using surface edge shape differences, wherein the average values of gray images are obtained for all columns in such a manner that the average values are obtained.
청구항 2에 있어서,
상기 Gray 라인 프로파일을 추출하는 단계는,
상기 사각의 검사 영역 내에 속하는 각 픽셀에 대해 일측의 전극 영역에서 타측의 전극 영역 방향으로 진행하면서 제일 위쪽 열부터 제일 아래쪽 열까지 열단위 Gray 이미지의 평균값을 차례로 구하고, 이를 이용하여 Gray 라인 프로파일을 추출하는 것을 특징으로 하는 표면 엣지 형상차를 이용한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법.
The method according to claim 2,
Extracting the gray line profile,
For each pixel belonging to the rectangular inspection region, the average value of the gray image of the column unit is sequentially obtained from the uppermost column to the lowermost column while proceeding from one electrode region to the other electrode region, and extracting a gray line profile using the same. A vertical and horizontal plane discrimination method of a laminated ceramic capacitor using a surface edge shape difference.
청구항 1에 있어서,
상기 엣지면 각도 추출 단계에서,
Gray 라인 프로파일의 중앙에 속하는 소정의 범위를 중앙의 기준면 프로파일 영역으로 설정하고, 일측에 속하는 소정의 범위를 제1 엣지면 프로파일 영역으로 설정하며, 타측에 속하는 소정의 범위를 제2 엣지면 프로파일 영역으로 설정하는 것을 특징으로 하는 표면 엣지 형상차를 이용한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법.
The method according to claim 1,
In the edge surface angle extraction step,
A predetermined range belonging to the center of the gray line profile is set as the center reference surface profile area, a predetermined range belonging to one side is set as the first edge surface profile area, and a predetermined range belonging to the other side is set to the second edge surface profile area. The vertical and horizontal plane discrimination method of the laminated ceramic capacitor using the surface edge shape difference, characterized in that set to.
청구항 6에 있어서,
상기 엣지면 각도 추출 단계는,
제1 엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 이미지 값의 픽셀 위치에서 기준면 프로파일 영역의 중심 픽셀 위치를 뺀 픽셀 사이의 거리와 제1 엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 이미지 값에서 기준면 프로파일 영역의 Gray 이미지 평균값을 뺀 Gray 이미지 값의 차이를 이용하여 제1 각도를 구하고,
제2 엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 이미지 값의 픽셀 위치에서 기준면 프로파일 영역의 중심 픽셀 위치를 뺀 픽셀 사이의 거리와 제2 엣지면 프로파일 영역에서 가장 높은 Gray 이미지 값에서 기준면 프로파일 영역의 Gray 이미지 평균값을 뺀 Gray 이미지 값의 차이를 이용하여 제2 각도를 구하는 것을 특징으로 하는 표면 엣지 형상차를 이용한 적층세라믹콘덴서의 수직 및 수평면 판별 방법.
The method according to claim 6,
The edge surface angle extraction step,
The distance between the pixels of the highest gray image value in the first edge profile area minus the center pixel position of the reference profile area and the mean gray image of the reference profile area at the highest gray image value in the first edge profile area Find the first angle using the difference of gray image values minus
The average value of the gray image of the reference profile area at the pixel position of the highest gray image value in the second edge profile area minus the center pixel position of the reference profile area and the highest gray image value in the second edge surface profile area. A method for discriminating vertical and horizontal planes of laminated ceramic capacitors using a surface edge shape difference, wherein the second angle is obtained by using a difference of gray image values obtained by subtracting.
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