KR102026098B1 - Light emitting device, light emitting device package, and light unit - Google Patents

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Abstract

실시 예에 따른 발광소자는, 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 배치된 활성층을 포함하는 발광구조물; 상기 발광구조물 아래에 배치된 반사층; 상기 반사층 아래에 배치된 지지부재; 상기 반사층과 상기 지지부재 사이에 배치되어 상기 반사층과 상기 지지부재를 전기적으로 연결시키는 복수의 범프볼을 포함하는 범프구조물; 을 포함한다.The light emitting device according to the embodiment may include a light emitting structure including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer disposed between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer; A reflective layer disposed under the light emitting structure; A support member disposed below the reflective layer; A bump structure disposed between the reflective layer and the support member and including a plurality of bump balls electrically connecting the reflective layer and the support member; It includes.

Description

발광소자, 발광소자 패키지 및 라이트 유닛{LIGHT EMITTING DEVICE, LIGHT EMITTING DEVICE PACKAGE, AND LIGHT UNIT}Light-Emitting Device, Light-Emitting Device Package and Light Unit {LIGHT EMITTING DEVICE, LIGHT EMITTING DEVICE PACKAGE, AND LIGHT UNIT}

실시 예는 발광소자, 발광소자 패키지 및 라이트 유닛에 관한 것이다.Embodiments relate to a light emitting device, a light emitting device package, and a light unit.

발광소자의 하나로서 발광 다이오드(LED: Light Emitting Diode)가 많이 사용되고 있다. 발광 다이오드는 화합물 반도체의 특성을 이용해 전기 신호를 적외선, 가시광선, 자외선과 같은 빛의 형태로 변환한다.Light emitting diodes (LEDs) are widely used as one of light emitting devices. Light-emitting diodes use the properties of compound semiconductors to convert electrical signals into light, such as infrared, visible and ultraviolet light.

발광소자의 광 효율이 증가됨에 따라 표시장치, 조명기기를 비롯한 다양한 분야에 발광소자가 적용되고 있다.As the light efficiency of light emitting devices increases, light emitting devices have been applied to various fields including display devices and lighting devices.

대한민국 공개특허공보 10-2013-0031674Republic of Korea Patent Application Publication No. 10-2013-0031674

실시 예는 공정 단순화 및 제조 비용을 절감하고 소자의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 발광소자, 발광소자 패키지, 라이트 유닛을 제공한다.The embodiment provides a light emitting device, a light emitting device package, and a light unit that can simplify the process, reduce manufacturing costs, and improve device reliability.

실시 예에 따른 발광소자는, 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 배치된 활성층을 포함하는 발광구조물; 상기 발광구조물 아래에 배치된 반사층; 상기 반사층 아래에 배치된 지지부재; 상기 반사층과 상기 지지부재 사이에 배치되어 상기 반사층과 상기 지지부재를 전기적으로 연결시키는 복수의 범프볼을 포함하는 범프구조물; 을 포함한다.The light emitting device according to the embodiment may include a light emitting structure including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer disposed between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer; A reflective layer disposed under the light emitting structure; A support member disposed below the reflective layer; A bump structure disposed between the reflective layer and the support member and including a plurality of bump balls electrically connecting the reflective layer and the support member; It includes.

실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 몸체; 상기 몸체 위에 배치된 발광소자; 상기 발광소자에 전기적으로 연결된 제1 리드 전극 및 제2 리드 전극; 을 포함하고, 상기 발광소자는, 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 배치된 활성층을 포함하는 발광구조물; 상기 발광구조물 아래에 배치된 반사층; 상기 반사층 아래에 배치된 지지부재; 상기 반사층과 상기 지지부재 사이에 배치되어 상기 반사층과 상기 지지부재를 전기적으로 연결시키는 복수의 범프볼을 포함하는 범프구조물; 을 포함한다.The light emitting device package according to the embodiment includes a body; A light emitting element disposed on the body; A first lead electrode and a second lead electrode electrically connected to the light emitting device; The light emitting device includes: a light emitting structure including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, an active layer disposed between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer; A reflective layer disposed under the light emitting structure; A support member disposed below the reflective layer; A bump structure disposed between the reflective layer and the support member and including a plurality of bump balls electrically connecting the reflective layer and the support member; It includes.

실시 예에 따른 라이트 유닛은, 기판; 상기 기판 위에 배치된 발광소자; 상기 발광소자로부터 제공되는 빛이 지나가는 광학 부재; 를 포함하고, 상기 발광소자는, 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 배치된 활성층을 포함하는 발광구조물; 상기 발광구조물 아래에 배치된 반사층; 상기 반사층 아래에 배치된 지지부재; 상기 반사층과 상기 지지부재 사이에 배치되어 상기 반사층과 상기 지지부재를 전기적으로 연결시키는 복수의 범프볼을 포함하는 범프구조물; 을 포함한다.According to an embodiment, a light unit includes a substrate; A light emitting device disposed on the substrate; An optical member through which light provided from the light emitting device passes; The light emitting device includes: a light emitting structure including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, an active layer disposed between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer; A reflective layer disposed under the light emitting structure; A support member disposed below the reflective layer; A bump structure disposed between the reflective layer and the support member and including a plurality of bump balls electrically connecting the reflective layer and the support member; It includes.

실시 예에 따른 발광소자, 발광소자 패키지, 라이트 유닛은 공정 단순화 및 제조 비용을 절감하고 소자의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.The light emitting device, the light emitting device package, and the light unit according to the embodiment have the advantage of simplifying the process, reducing the manufacturing cost, and improving the reliability of the device.

도 1은 실시 예에 따른 발광소자를 나타낸 도면이다.
도 2 내지 도 6은 실시 예에 따른 발광소자 제조방법을 나타낸 도면이다.
도 7은 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 나타낸 도면이다.
도 8은 실시 예에 따른 표시장치를 나타낸 도면이다.
도 9는 실시 예에 따른 표시장치의 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 10은 실시 예에 따른 조명장치를 나타낸 도면이다.
1 is a view showing a light emitting device according to an embodiment.
2 to 6 illustrate a method of manufacturing a light emitting device according to the embodiment.
7 is a view showing a light emitting device package according to the embodiment.
8 is a diagram illustrating a display device according to an exemplary embodiment.
9 is a diagram illustrating another example of a display device according to an exemplary embodiment.
10 is a view showing a lighting apparatus according to an embodiment.

실시 예의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 "상/위(on)"에 또는 "하/아래(under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, "상/위(on)"와 "하/아래(under)"는 "직접(directly)" 또는 "다른 층을 개재하여 (indirectly)" 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 각 층의 상/위 또는 하/아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다.In the description of an embodiment, each layer (region), region, pattern, or structure is "on" or "under" the substrate, each layer (film), region, pad, or pattern. In the case where it is described as being formed at, "up" and "under" include both "directly" or "indirectly" formed through another layer. do. In addition, the criteria for up / down or down / down each layer will be described with reference to the drawings.

도면에서 각층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시될 수 있다. 또한 각 구성요소의 크기는 실제크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.In the drawings, the thickness or size of each layer may be exaggerated, omitted, or schematically illustrated for convenience and clarity of description. In addition, the size of each component does not necessarily reflect the actual size.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 실시 예들에 따른 발광소자, 발광소자 패키지, 라이트 유닛 및 발광소자 제조방법에 대해 상세히 설명하도록 한다.Hereinafter, a light emitting device, a light emitting device package, a light unit, and a light emitting device manufacturing method according to embodiments will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 실시 예에 따른 발광소자를 나타낸 도면이다.1 is a view showing a light emitting device according to an embodiment.

실시 예에 따른 발광소자는, 도 1에 나타낸 바와 같이, 발광구조물(10), 반사층(20), 범프(bump) 구조물(30), 지지부재(40)를 포함할 수 있다.As shown in FIG. 1, the light emitting device according to the embodiment may include a light emitting structure 10, a reflective layer 20, a bump structure 30, and a support member 40.

상기 발광구조물(10)은 제1 도전형 반도체층(11), 활성층(12), 제2 도전형 반도체층(13)을 포함할 수 있다. 상기 활성층(12)은 상기 제1 도전형 반도체층(11)과 상기 제2 도전형 반도체층(13) 사이에 배치될 수 있다. 상기 활성층(12)은 상기 제1 도전형 반도체층(11) 아래에 배치될 수 있으며, 상기 제2 도전형 반도체층(13)은 상기 활성층(12) 아래에 배치될 수 있다.The light emitting structure 10 may include a first conductive semiconductor layer 11, an active layer 12, and a second conductive semiconductor layer 13. The active layer 12 may be disposed between the first conductive semiconductor layer 11 and the second conductive semiconductor layer 13. The active layer 12 may be disposed under the first conductive semiconductor layer 11, and the second conductive semiconductor layer 13 may be disposed under the active layer 12.

예로서, 상기 제1 도전형 반도체층(11)이 제1 도전형 도펀트로서 n형 도펀트가 첨가된 n형 반도체층으로 형성되고, 상기 제2 도전형 반도체층(13)이 제2 도전형 도펀트로서 p형 도펀트가 첨가된 p형 반도체층으로 형성될 수 있다. 또한 상기 제1 도전형 반도체층(11)이 p형 반도체층으로 형성되고, 상기 제2 도전형 반도체층(13)이 n형 반도체층으로 형성될 수도 있다.For example, the first conductivity type semiconductor layer 11 is formed of an n type semiconductor layer to which an n type dopant is added as a first conductivity type dopant, and the second conductivity type semiconductor layer 13 is a second conductivity type dopant. As a p-type dopant may be formed as a p-type semiconductor layer. In addition, the first conductive semiconductor layer 11 may be formed of a p-type semiconductor layer, and the second conductive semiconductor layer 13 may be formed of an n-type semiconductor layer.

상기 제1 도전형 반도체층(11)은 예를 들어, n형 반도체층을 포함할 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층(11)은 화합물 반도체로 구현될 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층(11)은 예로서 II족-VI족 화합물 반도체 또는 III족-V족 화합물 반도체로 구현될 수 있다. The first conductive semiconductor layer 11 may include, for example, an n-type semiconductor layer. The first conductivity type semiconductor layer 11 may be implemented as a compound semiconductor. The first conductivity type semiconductor layer 11 may be implemented as, for example, a group II-VI compound semiconductor or a group III-V compound semiconductor.

예컨대, 상기 제1 도전형 반도체층(11)은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료로 구현될 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층(11)은, 예를 들어 GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 등에서 선택될 수 있으며, Si, Ge, Sn, Se, Te 등의 n형 도펀트가 도핑될 수 있다.For example, a semiconductor having a compositional formula of the first conductive type semiconductor layer 11 is In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1) It can be implemented with materials. The first conductivity type semiconductor layer 11 may be selected from, for example, GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP, and the like. N-type dopants such as Se and Te may be doped.

상기 활성층(12)은 상기 제1 도전형 반도체층(11)을 통해서 주입되는 전자(또는 정공)와 상기 제2 도전형 반도체층(13)을 통해서 주입되는 정공(또는 전자)이 서로 만나서, 상기 활성층(12)의 형성 물질에 따른 에너지 밴드(Energy Band)의 밴드갭(Band Gap) 차이에 의해서 빛을 방출하는 층이다. 상기 활성층(12)은 단일 우물 구조, 다중 우물 구조, 양자점 구조 또는 양자선 구조 중 어느 하나로 형성될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.In the active layer 12, electrons (or holes) injected through the first conductivity type semiconductor layer 11 and holes (or electrons) injected through the second conductivity type semiconductor layer 13 meet each other. The layer emits light due to a band gap difference of an energy band according to a material forming the active layer 12. The active layer 12 may be formed of any one of a single well structure, a multiple well structure, a quantum dot structure, or a quantum line structure, but is not limited thereto.

상기 활성층(12)은 화합물 반도체로 구현될 수 있다. 상기 활성층(12)은 예로서 II족-VI족 또는 III족-V족 화합물 반도체로 구현될 수 있다.상기 활성층(12)은 예로서 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료로 구현될 수 있다. 상기 활성층(12)이 상기 다중 우물 구조로 구현된 경우, 상기 활성층(12)은 복수의 우물층과 복수의 장벽층이 적층되어 구현될 수 있으며, 예를 들어, InGaN 우물층/GaN 장벽층의 주기로 구현될 수 있다.The active layer 12 may be implemented with a compound semiconductor. The active layer 12 may be implemented by way of example to the Group II -VI group or a group III -V compound semiconductor. The active layer 12 is an example of a In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x It can be implemented with a semiconductor material having a composition formula of ≤ 1, 0 ≤ y ≤ 1, 0 ≤ x + y ≤ 1). When the active layer 12 is implemented as the multi-well structure, the active layer 12 may be implemented by stacking a plurality of well layers and a plurality of barrier layers, for example, an InGaN well layer / GaN barrier layer. Can be implemented in cycles.

상기 제2 도전형 반도체층(13)은 예를 들어, p형 반도체층으로 구현될 수 있다. 상기 제2 도전형 반도체층(13)은 화합물 반도체로 구현될 수 있다. 상기 제2 도전형 반도체층(13)은 예로서 II족-VI족 화합물 반도체 또는 III족-V족 화합물 반도체로 구현될 수 있다. The second conductive semiconductor layer 13 may be implemented with, for example, a p-type semiconductor layer. The second conductivity type semiconductor layer 13 may be implemented as a compound semiconductor. The second conductivity-type semiconductor layer 13 may be implemented by, for example, a group II-VI compound semiconductor or a group III-V compound semiconductor.

예컨대, 상기 제2 도전형 반도체층(13)은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료로 구현될 수 있다. 상기 제2 도전형 반도체층(13)은, 예를 들어 GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 등에서 선택될 수 있으며, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등의 p형 도펀트가 도핑될 수 있다.For example, a semiconductor having a composition formula of the second conductive type semiconductor layer 13 is In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1) It can be implemented with materials. The second conductive semiconductor layer 13 may be selected from, for example, GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP, and the like, and may include Mg, Zn, Ca, P-type dopants such as Sr and Ba may be doped.

한편, 상기 제1 도전형 반도체층(11)이 p형 반도체층을 포함하고 상기 제2 도전형 반도체층(13)이 n형 반도체층을 포함할 수도 있다. 또한, 상기 제2 도전형 반도체층(13) 아래에는 n형 또는 p형 반도체층을 포함하는 반도체층이 더 형성될 수도 있다. 이에 따라, 상기 발광구조물(10)은 np, pn, npn, pnp 접합 구조 중 적어도 어느 하나를 가질 수 있다. 또한, 상기 제1 도전형 반도체층(11) 및 상기 제2 도전형 반도체층(13) 내의 불순물의 도핑 농도는 균일 또는 불균일하게 형성될 수 있다. 즉, 상기 발광구조물(10)의 구조는 다양하게 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.Meanwhile, the first conductive semiconductor layer 11 may include a p-type semiconductor layer, and the second conductive semiconductor layer 13 may include an n-type semiconductor layer. In addition, a semiconductor layer including an n-type or p-type semiconductor layer may be further formed below the second conductive semiconductor layer 13. Accordingly, the light emitting structure 10 may have at least one of np, pn, npn, and pnp junction structures. In addition, the doping concentrations of the impurities in the first conductive semiconductor layer 11 and the second conductive semiconductor layer 13 may be uniformly or non-uniformly formed. That is, the structure of the light emitting structure 10 may be formed in various ways, but is not limited thereto.

또한, 상기 제1 도전형 반도체층(11)과 상기 활성층(12) 사이에는 제1 도전형 InGaN/GaN 슈퍼래티스 구조 또는 InGaN/InGaN 슈퍼래티스 구조가 형성될 수도 있다. 또한, 상기 제2 도전형 반도체층(13)과 상기 활성층(12) 사이에는 제2 도전형의 AlGaN층이 형성될 수도 있다.In addition, a first conductivity type InGaN / GaN superlattice structure or an InGaN / InGaN superlattice structure may be formed between the first conductivity type semiconductor layer 11 and the active layer 12. In addition, a second conductive AlGaN layer may be formed between the second conductive semiconductor layer 13 and the active layer 12.

실시 예에 따른 발광소자는 상기 반사층(20)을 포함할 수 있다. 상기 반사층(20)은 상기 제2 도전형 반도체층(13)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 반사층(20)은 상기 발광구조물(10) 아래에 배치될 수 있다. 상기 반사층(20)은 상기 제2 도전형 반도체층(13) 아래에 배치될 수 있다. 상기 반사층(20)은 상기 발광구조물(10)로부터 입사되는 빛을 반사시켜 외부로 추출되는 광량을 증가시키는 기능을 수행할 수 있다.The light emitting device according to the embodiment may include the reflective layer 20. The reflective layer 20 may be electrically connected to the second conductive semiconductor layer 13. The reflective layer 20 may be disposed under the light emitting structure 10. The reflective layer 20 may be disposed under the second conductive semiconductor layer 13. The reflective layer 20 may perform a function of increasing the amount of light extracted to the outside by reflecting light incident from the light emitting structure 10.

실시 예에 의한 발광소자는, 상기 반사층(20)과 상기 제2 도전형 반도체층(13) 사이에 배치된 오믹접촉층을 더 포함할 수 있다. 상기 오믹접촉층은 상기 제2 도전형 반도체층(13)에 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 오믹접촉층은 상기 발광구조물(10)과 오믹 접촉이 되도록 형성될 수 있다. 상기 오믹접촉층은 상기 발광구조물(10)과 오믹 접촉되는 영역을 포함할 수 있다. 상기 오믹접촉층은 상기 제2 도전형 반도체층과 오믹 접촉되는 영역을 포함할 수 있다. The light emitting device according to the embodiment may further include an ohmic contact layer disposed between the reflective layer 20 and the second conductive semiconductor layer 13. The ohmic contact layer may be in contact with the second conductivity type semiconductor layer 13. The ohmic contact layer may be formed to be in ohmic contact with the light emitting structure 10. The ohmic contact layer may include a region in ohmic contact with the light emitting structure 10. The ohmic contact layer may include a region in ohmic contact with the second conductive semiconductor layer.

상기 오믹접촉층은 예컨대 투명 전도성 산화막으로 형성될 수 있다. 상기 오믹접촉층은 예로서 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), AZO(Aluminum Zinc Oxide), AGZO(Aluminum Gallium Zinc Oxide), IZTO(Indium Zinc Tin Oxide), IAZO(Indium Aluminum Zinc Oxide), IGZO(Indium Gallium Zinc Oxide), IGTO(Indium Gallium Tin Oxide), ATO(Antimony Tin Oxide), GZO(Gallium Zinc Oxide), IZON(IZO Nitride), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Pt, Ag, Ti 중에서 선택된 적어도 하나의 물질로 형성될 수 있다.The ohmic contact layer may be formed of, for example, a transparent conductive oxide film. Examples of the ohmic contact layer include indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), aluminum zinc oxide (AZO), aluminum gallium zinc oxide (AGZO), indium zinc tin oxide (IZTO), and indium aluminum zinc oxide (AZO). ), IGZO (Indium Gallium Zinc Oxide), IGTO (Indium Gallium Tin Oxide), ATO (Antimony Tin Oxide), GZO (Gallium Zinc Oxide), IZON (IZO Nitride), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Pt, Ag, It may be formed of at least one material selected from Ti.

상기 반사층(20)은 고 반사율을 갖는 물질로 형성될 수 있다. 예컨대 상기 반사층(20)은 Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Cu, Au, Hf 중 적어도 하나를 포함하는 금속 또는 합금으로 형성될 수 있다. 또한, 상기 반사층(20)은 상기 금속 또는 합금과 ITO(Indium-Tin-Oxide), IZO(Indium-Zinc-Oxide), IZTO(Indium-Zinc-Tin-Oxide), IAZO(Indium-Aluminum-Zinc-Oxide), IGZO(Indium-Gallium-Zinc-Oxide), IGTO(Indium-Gallium-Tin-Oxide), AZO(Aluminum-Zinc-Oxide), ATO(Antimony-Tin-Oxide) 등의 투광성 전도성 물질을 이용하여 다층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 실시 예에서 상기 반사층(20)은 Ag, Al, Ag-Pd-Cu 합금, 또는 Ag-Cu 합금 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The reflective layer 20 may be formed of a material having a high reflectance. For example, the reflective layer 20 may be formed of a metal or an alloy including at least one of Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Cu, Au, and Hf. In addition, the reflective layer 20 may be formed of indium-tin-oxide (ITO), indium-zinc-oxide (IZO), indium-zinc-tin-oxide (IZTO), and indium-aluminum-zinc- (AZO). Transmissive conductive materials such as Oxide), Indium-Gallium-Zinc-Oxide (IGZO), Indium-Gallium-Tin-Oxide (IGTO), Aluminum-Zinc-Oxide (AZO), and Antimony-Tin-Oxide (ATO) It can be formed in multiple layers. For example, in the exemplary embodiment, the reflective layer 20 may include at least one of Ag, Al, Ag-Pd-Cu alloy, or Ag-Cu alloy.

예를 들면, 상기 반사층(20)은 Ag 층과 Ni 층이 교대로 형성될 수도 있고, Ni/Ag/Ni, 혹은 Ti 층, Pt 층을 포함할 수 있다. 또한, 상기 오믹접촉층은 상기 반사층(20) 아래에 형성되고, 적어도 일부가 상기 반사층(20)을 통과하여 상기 발광구조물(10)과 오믹 접촉될 수도 있다. For example, the reflective layer 20 may be formed by alternately forming an Ag layer and a Ni layer, and may include a Ni / Ag / Ni, Ti layer, or Pt layer. In addition, the ohmic contact layer may be formed under the reflective layer 20, and at least a portion thereof may be in ohmic contact with the light emitting structure 10 by passing through the reflective layer 20.

상기 반사층(20)은 반사 기능을 수행하고 상기 제2 도전형 반도체층(13)과 오믹 접촉하는 영역을 포함할 수 있으며, 오믹 반사층으로 구현될 수 있다. The reflective layer 20 may include a region that performs a reflective function and ohmic contact with the second conductive semiconductor layer 13, and may be implemented as an ohmic reflective layer.

실시 예에 따른 발광소자는 상기 반사층(20) 아래에 배치된 상기 지지부재(40)를 포함할 수 있다. 상기 지지부재(40)는 실시 예에 따른 발광구조물(10)을 지지하며 방열 기능을 수행할 수 있다. 상기 지지부재(40)는 예컨대 전도성 물질로 구현될 수 있다. 상기 지지부재(40)는 예를 들어, Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, Cu-W 또는 불순물이 주입된 반도체 기판(예: Si, Ge, GaN, GaAs, ZnO, SiC, SiGe 등) 중에서 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The light emitting device according to the embodiment may include the support member 40 disposed under the reflective layer 20. The support member 40 may support the light emitting structure 10 according to the embodiment and perform a heat dissipation function. The support member 40 may be made of, for example, a conductive material. The support member 40 may be, for example, a semiconductor substrate in which Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, Cu-W or impurities are implanted (eg, Si, Ge, GaN, GaAs, ZnO, SiC, SiGe, etc.) may be included.

실시 예에 따른 발광소자는 상기 범프구조물(30)을 포함할 수 있다. 상기 범프구조물(30)은 상기 반사층(20)과 상기 지지부재(40) 사이에 배치될 수 있다. 상기 범프구조물(30)은 상기 반사층(20)과 상기 지지부재(40)를 전기적으로 연결시킬 수 있다. 상기 범프구조물(30)은 복수의 범프볼(33)을 포함할 수 있다.The light emitting device according to the embodiment may include the bump structure 30. The bump structure 30 may be disposed between the reflective layer 20 and the support member 40. The bump structure 30 may electrically connect the reflective layer 20 and the support member 40. The bump structure 30 may include a plurality of bump balls 33.

상기 범프구조물(30)은 제1 금속층(31), 상기 범프볼(33), 제2 금속층(35)을 포함할 수 있다. 상기 제1 금속층(30)은 상기 반사층(20) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제2 금속층(35)은 상기 지지부재(40) 위에 배치될 수 있다. 상기 복수의 범프볼(33)은 상기 제1 금속층(31)과 상기 제2 금속층(33) 사이에 배치될 수 있다. 상기 범프볼(33)은 상기 제1 금속층(31)의 일부 영역과 상기 제2 금속층(35)의 일부 영역에 접촉될 수 있다. 상기 제1 금속층(31)과 상기 제2 금속층(35)은 상기 복수의 범프볼(33) 사이에서 서로 이격 되어 배치될 수 있다.The bump structure 30 may include a first metal layer 31, the bump ball 33, and a second metal layer 35. The first metal layer 30 may be disposed under the reflective layer 20. The second metal layer 35 may be disposed on the support member 40. The bump balls 33 may be disposed between the first metal layer 31 and the second metal layer 33. The bump ball 33 may be in contact with a portion of the first metal layer 31 and a portion of the second metal layer 35. The first metal layer 31 and the second metal layer 35 may be spaced apart from each other between the plurality of bump balls 33.

상기 제1 금속층(31)과 상기 제2 금속층(35) 사이에 배치된 상기 범프볼(33)은 예컨대 100 마이크로 미터 내지 200 마이크로 미터의 폭을 가질 수 있다. 상기 제1 금속층(31)과 상기 제2 금속층(35)은 예컨대 2 마이크로 미터 내지 10 마이크로 미터의 두께를 가질 수 있다. 상기 범프볼(33)은 예로서 80 마이크로 미터 내지 100 마이크로 미터의 두께를 가질 수 있다.The bump ball 33 disposed between the first metal layer 31 and the second metal layer 35 may have a width of, for example, 100 micrometers to 200 micrometers. The first metal layer 31 and the second metal layer 35 may have a thickness of, for example, 2 micrometers to 10 micrometers. The bump ball 33 may have a thickness of, for example, 80 micrometers to 100 micrometers.

상기 제1 금속층(31), 상기 범프볼(33), 상기 제2 금속층(35)은 같은 물질로 형성될 수 있다. 또한, 상기 제1 금속층(31), 상기 범프볼(33), 상기 제2 금속층(35)은 서로 다른 물질로 형성될 수도 있다. 상기 제1 금속층(31), 상기 범프볼(33), 상기 제2 금속층(35)은 Au, Ag, Cu, Ni 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, 상기 제1 금속층(31), 상기 범프볼(33), 상기 제2 금속층(35)은 Au, Ag, Cu, Ni 중에서 선택된 적어도 하나를 포함하는 합금으로 형성될 수도 있다.The first metal layer 31, the bump ball 33, and the second metal layer 35 may be formed of the same material. In addition, the first metal layer 31, the bump ball 33, and the second metal layer 35 may be formed of different materials. The first metal layer 31, the bump ball 33, and the second metal layer 35 may include at least one of Au, Ag, Cu, and Ni. In addition, the first metal layer 31, the bump ball 33, and the second metal layer 35 may be formed of an alloy including at least one selected from Au, Ag, Cu, and Ni.

실시 예에 따른 발광소자는 기존 수직형 발광소자에 적용된 본딩층 및 확산방지층을 포함하지 않는다. 기존 수직형 발광소자에서는 상부 발광구조물과 하부 지지부재를 접착시키기 위한 본딩층을 필요로 하였다. 또한 기존 수직형 발광소자에서는 본딩층을 이루는 물질이 발광구조물 방향으로 확산되어 신뢰성이 저하되는 것을 방지하기 위해 확산방지층을 필요로 하였다.The light emitting device according to the embodiment does not include a bonding layer and a diffusion barrier layer applied to the existing vertical light emitting device. Conventional vertical light emitting devices require a bonding layer for bonding the upper light emitting structure and the lower support member. In addition, in the conventional vertical light emitting device, a diffusion barrier layer is required to prevent the material forming the bonding layer from diffusing in the direction of the light emitting structure to lower the reliability.

그러나, 실시 예에 따른 발광소자는 본딩층을 포함하지 않으므로, 본딩층 뿐만 아니라 확산방지층도 포함할 필요가 없다. 실시 예에 따른 발광소자는 상기 범프구조물(30)을 통해 상기 반사층(20)과 상기 지지부재(40)를 연결한다. 이에 따라 종래 발광소자에 적용된 본딩층과 확산방지층을 증착시키는 공정이 필요 없으므로 공정이 간단해지며 재료비도 절감할 수 있다. 또한 실시 예에 의하면 종래 발광소자에서 본딩층을 이루는 물질의 확산에 의해 발생되는 신뢰성 저하 및 불량 발생 문제를 근본적으로 해결할 수 있게 된다.However, since the light emitting device according to the embodiment does not include a bonding layer, it is not necessary to include not only the bonding layer but also the diffusion barrier layer. The light emitting device according to the embodiment connects the reflective layer 20 and the support member 40 through the bump structure 30. Accordingly, since the process of depositing the bonding layer and the diffusion barrier layer applied to the conventional light emitting device is unnecessary, the process can be simplified and the material cost can be reduced. In addition, according to the embodiment it is possible to fundamentally solve the problem of reliability degradation and defects caused by the diffusion of the material constituting the bonding layer in the conventional light emitting device.

예컨대, 상기 범프볼(33)은 범프 본더(bump bonder) 설비를 이용하여 형성될 수 있다. 상기 범프볼(33)은 상기 제1 금속층(31) 또는 상기 제2 금속층(35) 위에 형성될 수 있으며, 전류 및 힘을 가하면서 상기 제1 금속층(31) 또는 상기 제2 금속층(35) 위에 와이어를 녹임으로써 상기 범프볼(33)이 형성될 수 있다.For example, the bump ball 33 may be formed using a bump bonder facility. The bump ball 33 may be formed on the first metal layer 31 or the second metal layer 35, and may be formed on the first metal layer 31 or the second metal layer 35 while applying current and force. The bump ball 33 may be formed by melting a wire.

한편, 상기 제1 도전형 반도체층(11)의 상부 면에 러프니스(roughness)가 형성될 수 있다. 이에 따라 상기 러프니스가 형성된 영역에서 상부 방향으로 추출되는 빛의 광량을 증가시킬 수 있게 된다.Meanwhile, roughness may be formed on an upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 11. Accordingly, it is possible to increase the amount of light extracted in the upper direction in the region where the roughness is formed.

상기 발광구조물(10) 상부에 제1 전극(50)이 배치될 수 있다. 또한 상기 발광구조물(10) 둘레에 보호층(60)이 배치될 수 있다. 상기 보호층(60)은 절연물로 형성될 수 있다. 상기 보호층(60)은 산화물 또는 질화물로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 보호층(60)은 Si02, SixOy, Si3N4, SixNy, SiOxNy, Al2O3, TiO2, AlN 등으로 이루어진 군에서 적어도 하나가 선택되어 형성될 수 있다.The first electrode 50 may be disposed on the light emitting structure 10. In addition, a protective layer 60 may be disposed around the light emitting structure 10. The protective layer 60 may be formed of an insulator. The protective layer 60 may be formed of an oxide or a nitride. For example, the protective layer 60 may be at least one of Si0 2 , Si x O y , Si 3 N 4 , Si x N y , SiO x N y , Al 2 O 3 , TiO 2 , AlN, and the like. Can be selected and formed.

그러면, 도 2 내지 도 6을 참조하여 실시 예에 따른 발광소자 제조방법을 설명한다.Next, a method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 6.

실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 의하면, 도 2에 도시된 바와 같이, 기판(5) 위에 제1 도전형 반도체층(11), 활성층(12), 제2 도전형 반도체층(13)이 형성될 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층(11), 상기 활성층(12), 상기 제2 도전형 반도체층(13)은 발광구조물(10)로 정의될 수 있다.According to the method of manufacturing the light emitting device according to the embodiment, as shown in FIG. 2, the first conductive semiconductor layer 11, the active layer 12, and the second conductive semiconductor layer 13 are formed on the substrate 5. Can be. The first conductive semiconductor layer 11, the active layer 12, and the second conductive semiconductor layer 13 may be defined as a light emitting structure 10.

상기 기판(5)은 예를 들어, 사파이어 기판(Al2O3), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge 중 적어도 하나로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제1 도전형 반도체층(11)과 상기 기판(5) 사이에는 버퍼층이 더 형성될 수 있다.The substrate 5 may be formed of, for example, at least one of sapphire substrate (Al 2 O 3 ), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge, but is not limited thereto. A buffer layer may be further formed between the first conductivity type semiconductor layer 11 and the substrate 5.

예로써, 상기 제1 도전형 반도체층(11)이 제1 도전형 도펀트로서 n형 도펀트가 첨가된 n형 반도체층으로 형성되고, 상기 제2 도전형 반도체층(13)이 제2 도전형 도펀트로서 p형 도펀트가 첨가된 p형 반도체층으로 형성될 수 있다. 또한 상기 제1 도전형 반도체층(11)이 p형 반도체층으로 형성되고, 상기 제2 도전형 반도체층(13)이 n형 반도체층으로 형성될 수도 있다.For example, the first conductivity type semiconductor layer 11 is formed of an n type semiconductor layer to which an n type dopant is added as a first conductivity type dopant, and the second conductivity type semiconductor layer 13 is a second conductivity type dopant. As a p-type dopant may be formed as a p-type semiconductor layer. In addition, the first conductive semiconductor layer 11 may be formed of a p-type semiconductor layer, and the second conductive semiconductor layer 13 may be formed of an n-type semiconductor layer.

상기 제1 도전형 반도체층(11)은 예를 들어, n형 반도체층을 포함할 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층(11)은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료로 형성될 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층(11)은, 예를 들어 InAlGaN, GaN, AlGaN, AlInN, InGaN, AlN, InN 등에서 선택될 수 있으며, Si, Ge, Sn, Se, Te 등의 n형 도펀트가 도핑될 수 있다.The first conductive semiconductor layer 11 may include, for example, an n-type semiconductor layer. The first conductive semiconductor layer 11 is a semiconductor material having a compositional formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1) Can be formed. The first conductive semiconductor layer 11 may be selected from, for example, InAlGaN, GaN, AlGaN, AlInN, InGaN, AlN, InN, and the like, and doped with n-type dopants such as Si, Ge, Sn, Se, Te, or the like. Can be.

상기 활성층(12)은 상기 제1 도전형 반도체층(11)을 통해서 주입되는 전자(또는 정공)와 상기 제2 도전형 반도체층(13a)을 통해서 주입되는 정공(또는 전자)이 서로 만나서, 상기 활성층(12a)의 형성 물질에 따른 에너지 밴드(Energy Band)의 밴드갭(Band Gap) 차이에 의해서 빛을 방출하는 층이다. 상기 활성층(12)은 단일 우물 구조, 다중 우물 구조, 양자점 구조 또는 양자선 구조 중 어느 하나로 형성될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.In the active layer 12, electrons (or holes) injected through the first conductive semiconductor layer 11 and holes (or electrons) injected through the second conductive semiconductor layer 13a meet each other. It is a layer that emits light due to a band gap difference of an energy band according to a material forming the active layer 12a. The active layer 12 may be formed of any one of a single well structure, a multiple well structure, a quantum dot structure, or a quantum line structure, but is not limited thereto.

상기 활성층(12)은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료로 형성될 수 있다. 상기 활성층(12)이 상기 다중 우물 구조로 형성된 경우, 상기 활성층(12)은 복수의 우물층과 복수의 장벽층이 적층되어 형성될 수 있으며, 예를 들어, InGaN 우물층/GaN 장벽층의 주기로 형성될 수 있다.The active layer 12 may be formed of a semiconductor material having a compositional formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1). When the active layer 12 is formed in the multi-well structure, the active layer 12 may be formed by stacking a plurality of well layers and a plurality of barrier layers, for example, at intervals of an InGaN well layer / GaN barrier layer Can be formed.

상기 제2 도전형 반도체층(13)은 예를 들어, p형 반도체층으로 구현될 수 있다. 상기 제2 도전형 반도체층(13)은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료로 형성될 수 있다. 상기 제2 도전형 반도체층(13)은, 예를 들어 InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlInN, AlN, InN 등에서 선택될 수 있으며, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등의 p형 도펀트가 도핑될 수 있다.The second conductive semiconductor layer 13 may be implemented with, for example, a p-type semiconductor layer. The second conductive type semiconductor layer 13 of a semiconductor material having a compositional formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1) Can be formed. The second conductive semiconductor layer 13 may be selected from, for example, InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlInN, AlN, InN, and the like, and dopants such as Mg, Zn, Ca, Sr, and Ba may be doped. Can be.

한편, 상기 제1 도전형 반도체층(11)이 p형 반도체층을 포함하고 상기 제2 도전형 반도체층(13)이 n형 반도체층을 포함할 수도 있다. 또한, 상기 제2 도전형 반도체층(13) 위에는 n형 또는 p형 반도체층을 포함하는 반도체층이 더 형성될 수도 있다. Meanwhile, the first conductive semiconductor layer 11 may include a p-type semiconductor layer, and the second conductive semiconductor layer 13 may include an n-type semiconductor layer. In addition, a semiconductor layer including an n-type or p-type semiconductor layer may be further formed on the second conductive semiconductor layer 13.

이에 따라, 상기 발광구조물(10)은 np, pn, npn, pnp 접합 구조 중 적어도 어느 하나를 가질 수 있다. 또한, 상기 제1 도전형 반도체층(11) 및 상기 제2 도전형 반도체층(13) 내의 불순물의 도핑 농도는 균일 또는 불균일하게 형성될 수 있다. 즉, 상기 발광구조물(10)의 구조는 다양하게 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.Accordingly, the light emitting structure 10 may have at least one of np, pn, npn, and pnp junction structures. In addition, the doping concentrations of the impurities in the first conductive semiconductor layer 11 and the second conductive semiconductor layer 13 may be uniformly or non-uniformly formed. That is, the structure of the light emitting structure 10 may be formed in various ways, but is not limited thereto.

또한, 상기 제1 도전형 반도체층(11)과 상기 활성층(12) 사이에는 제1 도전형 InGaN/GaN 슈퍼래티스 구조 또는 InGaN/InGaN 슈퍼래티스 구조가 형성될 수도 있다. 또한, 상기 제2 도전형 반도체층(13)과 상기 활성층(12) 사이에는 제2 도전형의 AlGaN층이 형성될 수도 있다.In addition, a first conductivity type InGaN / GaN superlattice structure or an InGaN / InGaN superlattice structure may be formed between the first conductivity type semiconductor layer 11 and the active layer 12. In addition, a second conductive AlGaN layer may be formed between the second conductive semiconductor layer 13 and the active layer 12.

다음으로, 도 3에 나타낸 바와 같이, 상기 발광구조물(10) 위에 반사층(20)이 형성될 수 있다. 상기 반사층(20)은 상기 제2 도전형 반도체층(13)에 전기적으로 연결될 수 있다. Next, as shown in FIG. 3, the reflective layer 20 may be formed on the light emitting structure 10. The reflective layer 20 may be electrically connected to the second conductive semiconductor layer 13.

실시 예에 의한 발광소자는, 상기 반사층(20)과 상기 제2 도전형 반도체층(13) 사이에 배치된 오믹접촉층을 더 포함할 수 있다. 상기 오믹접촉층은 상기 제2 도전형 반도체층(13)에 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 오믹접촉층은 상기 발광구조물(10)과 오믹 접촉이 되도록 형성될 수 있다. 상기 오믹접촉층은 상기 발광구조물(10)과 오믹 접촉되는 영역을 포함할 수 있다. 상기 오믹접촉층은 상기 제2 도전형 반도체층과 오믹 접촉되는 영역을 포함할 수 있다. The light emitting device according to the embodiment may further include an ohmic contact layer disposed between the reflective layer 20 and the second conductive semiconductor layer 13. The ohmic contact layer may be in contact with the second conductivity type semiconductor layer 13. The ohmic contact layer may be formed to be in ohmic contact with the light emitting structure 10. The ohmic contact layer may include a region in ohmic contact with the light emitting structure 10. The ohmic contact layer may include a region in ohmic contact with the second conductive semiconductor layer.

상기 오믹접촉층은 예컨대 투명 전도성 산화막으로 형성될 수 있다. 상기 오믹접촉층은 예로서 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), AZO(Aluminum Zinc Oxide), AGZO(Aluminum Gallium Zinc Oxide), IZTO(Indium Zinc Tin Oxide), IAZO(Indium Aluminum Zinc Oxide), IGZO(Indium Gallium Zinc Oxide), IGTO(Indium Gallium Tin Oxide), ATO(Antimony Tin Oxide), GZO(Gallium Zinc Oxide), IZON(IZO Nitride), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Pt, Ag, Ti 중에서 선택된 적어도 하나의 물질로 형성될 수 있다.The ohmic contact layer may be formed of, for example, a transparent conductive oxide film. Examples of the ohmic contact layer include indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), aluminum zinc oxide (AZO), aluminum gallium zinc oxide (AGZO), indium zinc tin oxide (IZTO), and indium aluminum zinc oxide (AZO). ), IGZO (Indium Gallium Zinc Oxide), IGTO (Indium Gallium Tin Oxide), ATO (Antimony Tin Oxide), GZO (Gallium Zinc Oxide), IZON (IZO Nitride), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Pt, Ag, It may be formed of at least one material selected from Ti.

상기 반사층(20)은 고 반사율을 갖는 물질로 형성될 수 있다. 예컨대 상기 반사층(20)은 Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Cu, Au, Hf 중 적어도 하나를 포함하는 금속 또는 합금으로 형성될 수 있다. 또한, 상기 반사층(20)은 상기 금속 또는 합금과 ITO(Indium-Tin-Oxide), IZO(Indium-Zinc-Oxide), IZTO(Indium-Zinc-Tin-Oxide), IAZO(Indium-Aluminum-Zinc-Oxide), IGZO(Indium-Gallium-Zinc-Oxide), IGTO(Indium-Gallium-Tin-Oxide), AZO(Aluminum-Zinc-Oxide), ATO(Antimony-Tin-Oxide) 등의 투광성 전도성 물질을 이용하여 다층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 실시 예에서 상기 반사층(20)은 Ag, Al, Ag-Pd-Cu 합금, 또는 Ag-Cu 합금 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The reflective layer 20 may be formed of a material having a high reflectance. For example, the reflective layer 20 may be formed of a metal or an alloy including at least one of Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Cu, Au, and Hf. In addition, the reflective layer 20 may be formed of indium-tin-oxide (ITO), indium-zinc-oxide (IZO), indium-zinc-tin-oxide (IZTO), and indium-aluminum-zinc- (AZO). Transmissive conductive materials such as Oxide), Indium-Gallium-Zinc-Oxide (IGZO), Indium-Gallium-Tin-Oxide (IGTO), Aluminum-Zinc-Oxide (AZO), and Antimony-Tin-Oxide (ATO) It can be formed in multiple layers. For example, in the exemplary embodiment, the reflective layer 20 may include at least one of Ag, Al, Ag-Pd-Cu alloy, or Ag-Cu alloy.

상기 반사층(20)은 반사 기능을 수행하고 상기 제2 도전형 반도체층(13)과 오믹 접촉하는 영역을 포함할 수 있으며, 오믹 반사층으로 구현될 수 있다. The reflective layer 20 may include a region that performs a reflective function and ohmic contact with the second conductive semiconductor layer 13, and may be implemented as an ohmic reflective layer.

이어서, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 반사층(20) 위에 제1 금속층(31)과 범프볼(33)이 형성될 수 있다. 상기 제1 금속층(31)과 상기 범프볼(33)은 같은 물질로 형성될 수도 있으며, 또한 서로 다른 물질로 형성될 수도 있다.Subsequently, as shown in FIG. 3, a first metal layer 31 and a bump ball 33 may be formed on the reflective layer 20. The first metal layer 31 and the bump ball 33 may be formed of the same material or may be formed of different materials.

상기 범프볼(33)은 예컨대 100 마이크로 미터 내지 200 마이크로 미터의 폭을 가질 수 있다. 상기 제1 금속층(31)은 예컨대 2 마이크로 미터 내지 10 마이크로 미터의 두께를 가질 수 있다. 상기 범프볼(33)은 예로서 80 마이크로 미터 내지 100 마이크로 미터의 두께를 가질 수 있다.The bump ball 33 may have a width of, for example, 100 micrometers to 200 micrometers. The first metal layer 31 may have a thickness of, for example, 2 micrometers to 10 micrometers. The bump ball 33 may have a thickness of, for example, 80 micrometers to 100 micrometers.

상기 제1 금속층(31)과 상기 범프볼(33)은 Au, Ag, Cu, Ni 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, 상기 제1 금속층(31)과 상기 범프볼(33)은 Au, Ag, Cu, Ni 중에서 선택된 적어도 하나를 포함하는 합금으로 형성될 수도 있다.The first metal layer 31 and the bump ball 33 may include at least one of Au, Ag, Cu, and Ni. In addition, the first metal layer 31 and the bump ball 33 may be formed of an alloy including at least one selected from Au, Ag, Cu, and Ni.

예컨대, 상기 범프볼(33)은 범프 본더(bump bonder) 설비를 이용하여 형성될 수 있다. 상기 범프볼(33)은 상기 제1 금속층(31) 위에 형성될 수 있으며, 전류 및 힘을 가하면서 상기 제1 금속층(31) 위에 와이어를 녹임으로써 상기 범프볼(33)이 형성될 수 있다.For example, the bump ball 33 may be formed using a bump bonder facility. The bump ball 33 may be formed on the first metal layer 31, and the bump ball 33 may be formed by melting a wire on the first metal layer 31 while applying current and force.

한편, 도 4에 도시된 바와 같이, 별도의 임시기판(70) 위에 지지부재(40)가 형성되고, 상기 지지부재(40) 위에 제2 금속층(35)이 형성될 수 있다.On the other hand, as shown in Figure 4, the support member 40 is formed on a separate temporary substrate 70, the second metal layer 35 may be formed on the support member 40.

상기 지지부재(40)는 예컨대 전도성 물질로 구현될 수 있다. 상기 지지부재(40)는 예를 들어, Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, Cu-W 또는 불순물이 주입된 반도체 기판(예: Si, Ge, GaN, GaAs, ZnO, SiC, SiGe 등) 중에서 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The support member 40 may be made of, for example, a conductive material. The support member 40 may be, for example, a semiconductor substrate in which Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, Cu-W or impurities are implanted (eg, Si, Ge, GaN, GaAs, ZnO, SiC, SiGe, etc.) may be included.

상기 제2 금속층(35)은 상기 제1 금속층(31)과 같은 물질로 형성될 수 있다. 또한 상기 제2 금속층(35)은 상기 제1 금속층(31)과 다른 물질로 형성될 수 있다. 상기 제2 금속층(35)은 Au, Ag, Cu, Ni 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, 상기 제2 금속층(35)은 Au, Ag, Cu, Ni 중에서 선택된 적어도 하나를 포함하는 합금으로 형성될 수도 있다.The second metal layer 35 may be formed of the same material as the first metal layer 31. In addition, the second metal layer 35 may be formed of a material different from that of the first metal layer 31. The second metal layer 35 may include at least one of Au, Ag, Cu, and Ni. In addition, the second metal layer 35 may be formed of an alloy including at least one selected from Au, Ag, Cu, and Ni.

다음으로, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 범프볼(33)과 상기 제2 금속층(35)이 연결될 수 있다. 상기 제1 금속층(31), 상기 범프볼(33), 상기 제2 금속층(35)은 범프구조물(30)로 정의될 수 있다.Next, as shown in FIG. 5, the bump ball 33 and the second metal layer 35 may be connected. The first metal layer 31, the bump ball 33, and the second metal layer 35 may be defined as bump structures 30.

그리고, 상기 제1 도전형 반도체층(11)으로부터 상기 기판(5)이 제거될 수 있다. 하나의 예로서, 상기 기판(5)은 레이저 리프트 오프(LLO: Laser Lift Off) 공정에 의해 제거될 수 있다. 레이저 리프트 오프 공정(LLO)은 상기 기판(5)의 하면에 레이저를 조사하여, 상기 기판(5)과 상기 제1 도전형 반도체층(11)을 서로 박리시키는 공정이다.In addition, the substrate 5 may be removed from the first conductivity type semiconductor layer 11. As one example, the substrate 5 may be removed by a laser lift off (LLO) process. The laser lift-off process LLO is a process of irradiating a lower surface of the substrate 5 to peel the substrate 5 and the first conductive semiconductor layer 11 from each other.

그리고, 도 6에 도시된 바와 같이, 아이솔레이션 에칭을 수행하여 상기 발광구조물(10)의 측면을 식각하고 상기 반사층(20)의 일부 영역이 노출될 수 있게 된다. 상기 아이솔레이션 에칭은 예를 들어, ICP(Inductively Coupled Plasma)와 같은 건식 식각에 의해 실시될 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. As shown in FIG. 6, the side surface of the light emitting structure 10 may be etched by isolating etching, and a portion of the reflective layer 20 may be exposed. The isolation etching may be performed by dry etching such as, for example, an inductively coupled plasma (ICP), but is not limited thereto.

상기 발광구조물(10)의 상부 면에 러프니스(roughness)가 형성될 수 있다. 상기 발광구조물(10)의 상부 면에 광 추출 패턴이 제공될 수 있다. 상기 발광구조물(10)의 상부 면에 요철 패턴이 제공될 수 있다. 상기 발광구조물(10)에 제공되는 광 추출 패턴은 하나의 예로서 PEC (Photo Electro Chemical) 식각 공정에 의하여 형성될 수 있다. 이에 따라 실시 예에 의하면 외부 광 추출 효과를 상승시킬 수 있게 된다.Roughness may be formed on an upper surface of the light emitting structure 10. A light extraction pattern may be provided on an upper surface of the light emitting structure 10. An uneven pattern may be provided on an upper surface of the light emitting structure 10. The light extraction pattern provided on the light emitting structure 10 may be formed by, for example, a PEC (Photo Electro Chemical) etching process. Accordingly, according to the embodiment, it is possible to increase the external light extraction effect.

다음으로 상기 발광구조물(10) 위에 제1 전극(50)이 형성되고, 상기 발광구조물 둘레에 보호층(60)이 형성될 수 있다. 상기 보호층(60)은 산화물 또는 질화물로 형성될 수 있다. 그리고, 상기 임시기판(70)이 제거될 수 있다. Next, a first electrode 50 may be formed on the light emitting structure 10, and a protective layer 60 may be formed around the light emitting structure. The protective layer 60 may be formed of an oxide or a nitride. In addition, the temporary substrate 70 may be removed.

실시 예에 따른 발광소자는 상기 범프구조물(30)을 포함할 수 있다. 상기 범프구조물(30)은 상기 반사층(20)과 상기 지지부재(40) 사이에 배치될 수 있다. 상기 범프구조물(30)은 상기 반사층(20)과 상기 지지부재(40)를 전기적으로 연결시킬 수 있다. 상기 범프구조물(30)은 복수의 범프볼(33)을 포함할 수 있다.The light emitting device according to the embodiment may include the bump structure 30. The bump structure 30 may be disposed between the reflective layer 20 and the support member 40. The bump structure 30 may electrically connect the reflective layer 20 and the support member 40. The bump structure 30 may include a plurality of bump balls 33.

상기 범프구조물(30)은 제1 금속층(31), 상기 범프볼(33), 제2 금속층(35)을 포함할 수 있다. 상기 제1 금속층(30)은 상기 반사층(20) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제2 금속층(35)은 상기 지지부재(40) 위에 배치될 수 있다. 상기 복수의 범프볼(33)은 상기 제1 금속층(31)과 상기 제2 금속층(33) 사이에 배치될 수 있다. 상기 범프볼(33)은 상기 제1 금속층(31)의 일부 영역과 상기 제2 금속층(35)의 일부 영역에 접촉될 수 있다. 상기 제1 금속층(31)과 상기 제2 금속층(35)은 상기 복수의 범프볼(33) 사이에서 서로 이격 되어 배치될 수 있다.The bump structure 30 may include a first metal layer 31, the bump ball 33, and a second metal layer 35. The first metal layer 30 may be disposed under the reflective layer 20. The second metal layer 35 may be disposed on the support member 40. The bump balls 33 may be disposed between the first metal layer 31 and the second metal layer 33. The bump ball 33 may be in contact with a portion of the first metal layer 31 and a portion of the second metal layer 35. The first metal layer 31 and the second metal layer 35 may be spaced apart from each other between the plurality of bump balls 33.

상기 제1 금속층(31)과 상기 제2 금속층(35) 사이에 배치된 상기 범프볼(33)은 예컨대 100 마이크로 미터 내지 200 마이크로 미터의 폭을 가질 수 있다. 상기 제1 금속층(31)과 상기 제2 금속층(35)은 예컨대 2 마이크로 미터 내지 10 마이크로 미터의 두께를 가질 수 있다. 상기 범프볼(33)은 예로서 80 마이크로 미터 내지 100 마이크로 미터의 두께를 가질 수 있다.The bump ball 33 disposed between the first metal layer 31 and the second metal layer 35 may have a width of, for example, 100 micrometers to 200 micrometers. The first metal layer 31 and the second metal layer 35 may have a thickness of, for example, 2 micrometers to 10 micrometers. The bump ball 33 may have a thickness of, for example, 80 micrometers to 100 micrometers.

상기 제1 금속층(31), 상기 범프볼(33), 상기 제2 금속층(35)은 같은 물질로 형성될 수 있다. 또한, 상기 제1 금속층(31), 상기 범프볼(33), 상기 제2 금속층(35)은 서로 다른 물질로 형성될 수도 있다. 상기 제1 금속층(31), 상기 범프볼(33), 상기 제2 금속층(35)은 Au, Ag, Cu, Ni 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, 상기 제1 금속층(31), 상기 범프볼(33), 상기 제2 금속층(35)은 Au, Ag, Cu, Ni 중에서 선택된 적어도 하나를 포함하는 합금으로 형성될 수도 있다.The first metal layer 31, the bump ball 33, and the second metal layer 35 may be formed of the same material. In addition, the first metal layer 31, the bump ball 33, and the second metal layer 35 may be formed of different materials. The first metal layer 31, the bump ball 33, and the second metal layer 35 may include at least one of Au, Ag, Cu, and Ni. In addition, the first metal layer 31, the bump ball 33, and the second metal layer 35 may be formed of an alloy including at least one selected from Au, Ag, Cu, and Ni.

실시 예에 따른 발광소자는 기존 수직형 발광소자에 적용된 본딩층 및 확산방지층을 포함하지 않는다. 기존 수직형 발광소자에서는 상부 발광구조물과 하부 지지부재를 접착시키기 위한 본딩층을 필요로 하였다. 또한 기존 수직형 발광소자에서는 본딩층을 이루는 물질이 발광구조물 방향으로 확산되어 신뢰성이 저하되는 것을 방지하기 위해 확산방지층을 필요로 하였다.The light emitting device according to the embodiment does not include a bonding layer and a diffusion barrier layer applied to the existing vertical light emitting device. Conventional vertical light emitting devices require a bonding layer for bonding the upper light emitting structure and the lower support member. In addition, in the conventional vertical light emitting device, a diffusion barrier layer is required to prevent the material forming the bonding layer from diffusing in the direction of the light emitting structure to lower the reliability.

그러나, 실시 예에 따른 발광소자는 본딩층을 포함하지 않으므로, 본딩층 뿐만 아니라 확산방지층도 포함할 필요가 없다. 실시 예에 따른 발광소자는 상기 범프구조물(30)을 통해 상기 반사층(20)과 상기 지지부재(40)를 연결한다. 이에 따라 종래 발광소자에 적용된 본딩층과 확산방지층을 증착시키는 공정이 필요 없으므로 공정이 간단해지며 재료비도 절감할 수 있다. 또한 실시 예에 의하면 종래 발광소자에서 본딩층을 이루는 물질의 확산에 의해 발생되는 신뢰성 저하 및 불량 발생 문제를 근본적으로 해결할 수 있게 된다.However, since the light emitting device according to the embodiment does not include a bonding layer, it is not necessary to include not only the bonding layer but also the diffusion barrier layer. The light emitting device according to the embodiment connects the reflective layer 20 and the support member 40 through the bump structure 30. Accordingly, since the process of depositing the bonding layer and the diffusion barrier layer applied to the conventional light emitting device is unnecessary, the process can be simplified and the material cost can be reduced. In addition, according to the embodiment it is possible to fundamentally solve the problem of reliability degradation and defects caused by the diffusion of the material constituting the bonding layer in the conventional light emitting device.

한편, 도 7은 실시 예에 따른 발광소자가 적용된 발광소자 패키지를 나타낸 도면이다.On the other hand, Figure 7 is a view showing a light emitting device package to which the light emitting device according to the embodiment.

도 7을 참조하면, 실시 예에 따른 발광소자 패키지는 몸체(120)와, 상기 몸체(120)에 배치된 제1 리드전극(131) 및 제2 리드전극(132)과, 상기 몸체(120)에 제공되어 상기 제1 리드전극(131) 및 제2 리드전극(132)과 전기적으로 연결되는 실시 예에 따른 발광소자(100)와, 상기 발광소자(100)를 포위하는 몰딩부재(140)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 7, the light emitting device package according to the embodiment may include a body 120, a first lead electrode 131 and a second lead electrode 132 disposed on the body 120, and the body 120. The light emitting device 100 according to the embodiment, which is provided to and electrically connected to the first lead electrode 131 and the second lead electrode 132, and the molding member 140 surrounding the light emitting device 100. It may include.

상기 몸체(120)는 실리콘 재질, 합성수지 재질, 또는 금속 재질을 포함하여 형성될 수 있으며, 상기 발광소자(100)의 주위에 경사면이 형성될 수 있다.The body 120 may include a silicon material, a synthetic resin material, or a metal material, and an inclined surface may be formed around the light emitting device 100.

상기 제1 리드전극(131) 및 제2 리드전극(132)은 서로 전기적으로 분리되며, 상기 발광소자(100)에 전원을 제공한다. 또한, 상기 제1 리드전극(131) 및 제2 리드전극(132)은 상기 발광소자(100)에서 발생된 빛을 반사시켜 광 효율을 증가시킬 수 있으며, 상기 발광소자(100)에서 발생된 열을 외부로 배출시키는 역할을 할 수도 있다.The first lead electrode 131 and the second lead electrode 132 are electrically separated from each other, and provide power to the light emitting device 100. In addition, the first lead electrode 131 and the second lead electrode 132 may increase light efficiency by reflecting light generated from the light emitting device 100, and heat generated from the light emitting device 100. It may also play a role in discharging it to the outside.

상기 발광소자(100)는 상기 몸체(120) 위에 배치되거나 상기 제1 리드전극(131) 또는 제2 리드전극(132) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(100)는 상기 제1 리드전극(131) 및 제2 리드전극(132)과 와이어 방식, 플립칩 방식 또는 다이 본딩 방식 중 어느 하나에 의해 전기적으로 연결될 수도 있다. The light emitting device 100 may be disposed on the body 120 or on the first lead electrode 131 or the second lead electrode 132. The light emitting device 100 may be electrically connected to the first lead electrode 131 and the second lead electrode 132 by any one of a wire method, a flip chip method, and a die bonding method.

상기 몰딩부재(140)는 상기 발광소자(100)를 포위하여 상기 발광소자(100)를 보호할 수 있다. 또한, 상기 몰딩부재(140)에는 형광체가 포함되어 상기 발광소자(100)에서 방출된 광의 파장을 변화시킬 수 있다.The molding member 140 may surround the light emitting device 100 to protect the light emitting device 100. In addition, the molding member 140 may include a phosphor to change the wavelength of light emitted from the light emitting device 100.

실시 예에 따른 발광소자 또는 발광소자 패키지는 복수 개가 기판 위에 어레이될 수 있으며, 상기 발광소자 패키지의 광 경로 상에 광학 부재인 렌즈, 도광판, 프리즘 시트, 확산 시트 등이 배치될 수 있다. 이러한 발광소자 패키지, 기판, 광학 부재는 라이트 유닛으로 기능할 수 있다. 상기 라이트 유닛은 탑뷰 또는 사이드 뷰 타입으로 구현되어, 휴대 단말기 및 노트북 컴퓨터 등의 표시 장치에 제공되거나, 조명장치 및 지시 장치 등에 다양하게 적용될 수 있다. 또 다른 실시 예는 상술한 실시 예들에 기재된 발광소자 또는 발광소자 패키지를 포함하는 조명 장치로 구현될 수 있다. 예를 들어, 조명 장치는 램프, 가로등, 전광판, 전조등을 포함할 수 있다.A plurality of light emitting devices or light emitting device packages may be arranged on a substrate, and an optical member such as a lens, a light guide plate, a prism sheet, and a diffusion sheet may be disposed on an optical path of the light emitting device package. The light emitting device package, the substrate, and the optical member may function as a light unit. The light unit may be implemented in a top view or a side view type, and may be provided in a display device such as a portable terminal and a notebook computer, or may be variously applied to an illumination device and a pointing device. Yet another embodiment may be implemented as a lighting device including the light emitting device or the light emitting device package described in the above embodiments. For example, the lighting device may include a lamp, a street lamp, a signboard, a headlamp.

실시 예에 따른 발광소자는 라이트 유닛에 적용될 수 있다. 상기 라이트 유닛은 복수의 발광소자가 어레이된 구조를 포함하며, 도 8 및 도 9에 도시된 표시 장치, 도 10에 도시된 조명 장치를 포함할 수 있다. The light emitting device according to the embodiment may be applied to the light unit. The light unit may include a structure in which a plurality of light emitting elements are arranged, and may include the display device illustrated in FIGS. 8 and 9 and the illumination device illustrated in FIG. 10.

도 8을 참조하면, 실시 예에 따른 표시 장치(1000)는 도광판(1041)과, 상기 도광판(1041)에 빛을 제공하는 발광 모듈(1031)과, 상기 도광판(1041) 아래에 반사 부재(1022)와, 상기 도광판(1041) 위에 광학 시트(1051)와, 상기 광학 시트(1051) 위에 표시 패널(1061)과, 상기 도광판(1041), 발광 모듈(1031) 및 반사 부재(1022)를 수납하는 바텀 커버(1011)를 포함할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.Referring to FIG. 8, the display device 1000 according to the embodiment includes a light guide plate 1041, a light emitting module 1031 that provides light to the light guide plate 1041, and a reflective member 1022 under the light guide plate 1041. ), An optical sheet 1051 on the light guide plate 1041, a display panel 1061, a light guide plate 1041, a light emitting module 1031, and a reflective member 1022 on the optical sheet 1051. The bottom cover 1011 may be included, but is not limited thereto.

라이트 유닛(1050)은 상기 바텀 커버(1011), 반사시트(1022), 도광판(1041), 광학 시트(1051)를 포함할 수 있다.The light unit 1050 may include the bottom cover 1011, the reflective sheet 1022, the light guide plate 1041, and the optical sheet 1051.

상기 도광판(1041)은 빛을 확산시켜 면광원화 시키는 역할을 한다. 상기 도광판(1041)은 투명한 재질로 이루어지며, 예를 들어, PMMA(polymethyl metaacrylate)와 같은 아크릴 수지 계열, PET(polyethylene terephthlate), PC(poly carbonate), COC(cycloolefin copolymer) 및 PEN(polyethylene naphthalate) 수지 중 하나를 포함할 수 있다. The light guide plate 1041 diffuses light to serve as a surface light source. The light guide plate 1041 is made of a transparent material, for example, acrylic resin-based, such as polymethyl metaacrylate (PMMA), polyethylene terephthlate (PET), polycarbonate (PC), cycloolefin copolymer (COC), and polyethylene naphthalate (PEN) It may include one of the resins.

상기 발광모듈(1031)은 상기 도광판(1041)의 적어도 일 측면에 빛을 제공하며, 궁극적으로는 표시 장치의 광원으로써 작용하게 된다.The light emitting module 1031 provides light to at least one side of the light guide plate 1041, and ultimately serves as a light source of the display device.

상기 발광모듈(1031)은 적어도 하나가 제공될 수 있으며, 상기 도광판(1041)의 일 측면에서 직접 또는 간접적으로 광을 제공할 수 있다. 상기 발광 모듈(1031)은 기판(1033)과 위에서 설명된 실시 예에 따른 발광소자 또는 발광소자 패키지(200)를 포함할 수 있다. 상기 발광소자 패키지(200)는 상기 기판(1033) 위에 소정 간격으로 어레이될 수 있다. At least one light emitting module 1031 may be provided, and may provide light directly or indirectly at one side of the light guide plate 1041. The light emitting module 1031 may include a substrate 1033 and a light emitting device or a light emitting device package 200 according to the embodiment described above. The light emitting device package 200 may be arranged on the substrate 1033 at predetermined intervals.

상기 기판(1033)은 회로패턴을 포함하는 인쇄회로기판(PCB, Printed Circuit Board)일 수 있다. 다만, 상기 기판(1033)은 일반 PCB 뿐 아니라, 메탈 코어 PCB(MCPCB, Metal Core PCB), 연성 PCB(FPCB, Flexible PCB) 등을 포함할 수도 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 발광소자 패키지(200)는 상기 바텀 커버(1011)의 측면 또는 방열 플레이트 위에 제공될 경우, 상기 기판(1033)은 제거될 수 있다. 여기서, 상기 방열 플레이트의 일부는 상기 바텀 커버(1011)의 상면에 접촉될 수 있다.The substrate 1033 may be a printed circuit board (PCB) including a circuit pattern. However, the substrate 1033 may include not only a general PCB but also a metal core PCB (MCPCB, Metal Core PCB), a flexible PCB (FPCB, Flexible PCB) and the like, but is not limited thereto. When the light emitting device package 200 is provided on the side surface of the bottom cover 1011 or the heat dissipation plate, the substrate 1033 may be removed. Here, a part of the heat dissipation plate may contact the upper surface of the bottom cover 1011.

그리고, 상기 다수의 발광소자 패키지(200)는 빛이 방출되는 출사면이 상기 도광판(1041)과 소정 거리 이격되도록 탑재될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 발광소자 패키지(200)는 상기 도광판(1041)의 일측면인 입광부에 광을 직접 또는 간접적으로 제공할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.In addition, the plurality of light emitting device packages 200 may be mounted such that an emission surface from which light is emitted is spaced apart from the light guide plate 1041 by a predetermined distance, but is not limited thereto. The light emitting device package 200 may directly or indirectly provide light to a light incident portion that is one side of the light guide plate 1041, but is not limited thereto.

상기 도광판(1041) 아래에는 상기 반사 부재(1022)가 배치될 수 있다. 상기 반사 부재(1022)는 상기 도광판(1041)의 하면으로 입사된 빛을 반사시켜 위로 향하게 함으로써, 상기 라이트 유닛(1050)의 휘도를 향상시킬 수 있다. 상기 반사 부재(1022)는 예를 들어, PET, PC, PVC 레진 등으로 형성될 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 반사 부재(1022)는 상기 바텀 커버(1011)의 상면일 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The reflective member 1022 may be disposed under the light guide plate 1041. The reflective member 1022 may improve the luminance of the light unit 1050 by reflecting light incident to the lower surface of the light guide plate 1041 and pointing upward. The reflective member 1022 may be formed of, for example, PET, PC, or PVC resin, but is not limited thereto. The reflective member 1022 may be an upper surface of the bottom cover 1011, but is not limited thereto.

상기 바텀 커버(1011)는 상기 도광판(1041), 발광모듈(1031) 및 반사 부재(1022) 등을 수납할 수 있다. 이를 위해, 상기 바텀 커버(1011)는 상면이 개구된 박스(box) 형상을 갖는 수납부(1012)가 구비될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 바텀 커버(1011)는 탑 커버와 결합될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The bottom cover 1011 may accommodate the light guide plate 1041, the light emitting module 1031, the reflective member 1022, and the like. To this end, the bottom cover 1011 may be provided with an accommodating part 1012 having a box shape having an upper surface opened thereto, but is not limited thereto. The bottom cover 1011 may be combined with the top cover, but is not limited thereto.

상기 바텀 커버(1011)는 금속 재질 또는 수지 재질로 형성될 수 있으며, 프레스 성형 또는 압출 성형 등의 공정을 이용하여 제조될 수 있다. 또한 상기 바텀 커버(1011)는 열 전도성이 좋은 금속 또는 비 금속 재료를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The bottom cover 1011 may be formed of a metal material or a resin material, and may be manufactured using a process such as press molding or extrusion molding. In addition, the bottom cover 1011 may include a metal or non-metal material having good thermal conductivity, but is not limited thereto.

상기 표시 패널(1061)은 예컨대, LCD 패널로서, 서로 대향되는 투명한 재질의 제1 및 제2 기판, 그리고 제1 및 제2 기판 사이에 개재된 액정층을 포함한다. 상기 표시 패널(1061)의 적어도 일면에는 편광판이 부착될 수 있으며, 이러한 편광판의 부착 구조로 한정하지는 않는다. 상기 표시 패널(1061)은 광학 시트(1051)를 통과한 광에 의해 정보를 표시하게 된다. 이러한 표시 장치(1000)는 각 종 휴대 단말기, 노트북 컴퓨터의 모니터, 랩탑 컴퓨터의 모니터, 텔레비젼 등에 적용될 수 있다. The display panel 1061 is, for example, an LCD panel and includes a first and second substrates of transparent materials facing each other, and a liquid crystal layer interposed between the first and second substrates. A polarizer may be attached to at least one surface of the display panel 1061, but the polarizer is not limited thereto. The display panel 1061 displays information by light passing through the optical sheet 1051. The display device 1000 may be applied to various portable terminals, monitors of notebook computers, monitors of laptop computers, televisions, and the like.

상기 광학 시트(1051)는 상기 표시 패널(1061)과 상기 도광판(1041) 사이에 배치되며, 적어도 한 장의 투광성 시트를 포함한다. 상기 광학 시트(1051)는 예컨대 확산 시트, 수평 및 수직 프리즘 시트, 및 휘도 강화 시트 등과 같은 시트 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 확산 시트는 입사되는 광을 확산시켜 주고, 상기 수평 또는/및 수직 프리즘 시트는 입사되는 광을 표시 영역으로 집광시켜 주며, 상기 휘도 강화 시트는 손실되는 광을 재사용하여 휘도를 향상시켜 준다. 또한 상기 표시 패널(1061) 위에는 보호 시트가 배치될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The optical sheet 1051 is disposed between the display panel 1061 and the light guide plate 1041 and includes at least one light transmissive sheet. The optical sheet 1051 may include at least one of a sheet such as, for example, a diffusion sheet, a horizontal and vertical prism sheet, and a brightness enhancement sheet. The diffusion sheet diffuses the incident light, the horizontal and / or vertical prism sheet focuses the incident light into the display area, and the brightness enhancement sheet reuses the lost light to improve the brightness. In addition, a protective sheet may be disposed on the display panel 1061, but is not limited thereto.

여기서, 상기 발광 모듈(1031)의 광 경로 상에는 광학 부재로서, 상기 도광판(1041) 및 광학 시트(1051)를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.Here, the light guide plate 1041 and the optical sheet 1051 may be included as an optical member on the optical path of the light emitting module 1031, but are not limited thereto.

도 9는 실시 예에 따른 표시 장치의 다른 예를 나타낸 도면이다. 9 is a diagram illustrating another example of a display device according to an exemplary embodiment.

도 9를 참조하면, 표시 장치(1100)는 바텀 커버(1152), 상기에 개시된 발광소자(100)가 어레이된 기판(1020), 광학 부재(1154), 및 표시 패널(1155)을 포함한다. 상기 기판(1020)과 상기 발광소자 패키지(200)는 발광 모듈(1060)로 정의될 수 있다. 상기 바텀 커버(1152)에는 수납부(1153)를 구비할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.Referring to FIG. 9, the display device 1100 includes a bottom cover 1152, a substrate 1020 on which the light emitting device 100 disclosed above is arranged, an optical member 1154, and a display panel 1155. The substrate 1020 and the light emitting device package 200 may be defined as a light emitting module 1060. The bottom cover 1152 may include an accommodating part 1153, but is not limited thereto.

여기서, 상기 광학 부재(1154)는 렌즈, 도광판, 확산 시트, 수평 및 수직 프리즘 시트, 및 휘도 강화 시트 등에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 도광판은 PC 재질 또는 PMMA(Poly methy methacrylate) 재질로 이루어질 수 있으며, 이러한 도광판은 제거될 수 있다. 상기 확산 시트는 입사되는 광을 확산시켜 주고, 상기 수평 및 수직 프리즘 시트는 입사되는 광을 표시 영역으로 집광시켜 주며, 상기 휘도 강화 시트는 손실되는 광을 재사용하여 휘도를 향상시켜 준다. Here, the optical member 1154 may include at least one of a lens, a light guide plate, a diffusion sheet, horizontal and vertical prism sheets, and a brightness enhancement sheet. The light guide plate may be made of a PC material or a poly methy methacrylate (PMMA) material, and the light guide plate may be removed. The diffusion sheet diffuses the incident light, the horizontal and vertical prism sheets focus the incident light onto the display area, and the brightness enhancement sheet reuses the lost light to improve the brightness.

상기 광학 부재(1154)는 상기 발광 모듈(1060) 위에 배치되며, 상기 발광 모듈(1060)로부터 방출된 광을 면 광원하거나, 확산, 집광 등을 수행하게 된다.The optical member 1154 is disposed on the light emitting module 1060, and performs surface light source, diffusion, condensing, etc. of the light emitted from the light emitting module 1060.

도 10은 실시 예에 따른 조명장치를 나타낸 도면이다.10 is a view showing a lighting apparatus according to an embodiment.

도 10을 참조하면, 실시 예에 따른 조명 장치는 커버(2100), 광원 모듈(2200), 방열체(2400), 전원 제공부(2600), 내부 케이스(2700), 소켓(2800)을 포함할 수 있다. 또한, 실시 예에 따른 조명 장치는 부재(2300)와 홀더(2500) 중 어느 하나 이상을 더 포함할 수 있다. 상기 광원 모듈(2200)은 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 10, the lighting apparatus according to the embodiment may include a cover 2100, a light source module 2200, a radiator 2400, a power supply 2600, an inner case 2700, and a socket 2800. Can be. In addition, the lighting apparatus according to the embodiment may further include any one or more of the member 2300 and the holder 2500. The light source module 2200 may include a light emitting device package according to an embodiment.

예컨대, 상기 커버(2100)는 벌브(bulb) 또는 반구의 형상을 가지며, 속이 비어 있고, 일 부분이 개구된 형상으로 제공될 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 광원 모듈(2200)과 광학적으로 결합될 수 있다. 예를 들어, 상기 커버(2100)는 상기 광원 모듈(2200)로부터 제공되는 빛을 확산, 산란 또는 여기 시킬 수 있다. 상기 커버(2100)는 일종의 광학 부재일 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 방열체(2400)와 결합될 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 방열체(2400)와 결합하는 결합부를 가질 수 있다.For example, the cover 2100 may have a shape of a bulb or hemisphere, may be hollow, and may be provided in an open shape. The cover 2100 may be optically coupled to the light source module 2200. For example, the cover 2100 may diffuse, scatter or excite the light provided from the light source module 2200. The cover 2100 may be a kind of optical member. The cover 2100 may be coupled to the heat sink 2400. The cover 2100 may have a coupling part coupled to the heat sink 2400.

상기 커버(2100)의 내면에는 유백색 도료가 코팅될 수 있다. 유백색의 도료는 빛을 확산시키는 확산재를 포함할 수 있다. 상기 커버(2100)의 내면의 표면 거칠기는 상기 커버(2100)의 외면의 표면 거칠기보다 크게 형성될 수 있다. 이는 상기 광원 모듈(2200)로부터의 빛이 충분히 산란 및 확산되어 외부로 방출시키기 위함이다. An inner surface of the cover 2100 may be coated with a milky paint. The milky paint may include a diffuser to diffuse light. The surface roughness of the inner surface of the cover 2100 may be greater than the surface roughness of the outer surface of the cover 2100. This is for the light from the light source module 2200 to be sufficiently scattered and diffused to be emitted to the outside.

상기 커버(2100)의 재질은 유리(glass), 플라스틱, 폴리프로필렌(PP), 폴리에틸렌(PE), 폴리카보네이트(PC) 등일 수 있다. 여기서, 폴리카보네이트는 내광성, 내열성, 강도가 뛰어나다. 상기 커버(2100)는 외부에서 상기 광원 모듈(2200)이 보이도록 투명할 수 있고, 불투명할 수 있다. 상기 커버(2100)는 블로우(blow) 성형을 통해 형성될 수 있다.The cover 2100 may be made of glass, plastic, polypropylene (PP), polyethylene (PE), polycarbonate (PC), or the like. Here, polycarbonate is excellent in light resistance, heat resistance, and strength. The cover 2100 may be transparent and opaque so that the light source module 2200 is visible from the outside. The cover 2100 may be formed through blow molding.

상기 광원 모듈(2200)은 상기 방열체(2400)의 일 면에 배치될 수 있다. 따라서, 상기 광원 모듈(2200)로부터의 열은 상기 방열체(2400)로 전도된다. 상기 광원 모듈(2200)은 광원부(2210), 연결 플레이트(2230), 커넥터(2250)를 포함할 수 있다.The light source module 2200 may be disposed on one surface of the heat sink 2400. Thus, heat from the light source module 2200 is conducted to the heat sink 2400. The light source module 2200 may include a light source unit 2210, a connection plate 2230, and a connector 2250.

상기 부재(2300)는 상기 방열체(2400)의 상면 위에 배치되고, 복수의 광원부(2210)들과 커넥터(2250)이 삽입되는 가이드홈(2310)들을 갖는다. 상기 가이드홈(2310)은 상기 광원부(2210)의 기판 및 커넥터(2250)와 대응된다.The member 2300 is disposed on an upper surface of the heat dissipator 2400, and has a plurality of light source parts 2210 and guide grooves 2310 into which the connector 2250 is inserted. The guide groove 2310 corresponds to the board and the connector 2250 of the light source unit 2210.

상기 부재(2300)의 표면은 빛 반사 물질로 도포 또는 코팅된 것일 수 있다. 예를 들면, 상기 부재(2300)의 표면은 백색의 도료로 도포 또는 코팅된 것일 수 있다. 이러한 상기 부재(2300)는 상기 커버(2100)의 내면에 반사되어 상기 광원 모듈(2200)측 방향으로 되돌아오는 빛을 다시 상기 커버(2100) 방향으로 반사한다. 따라서, 실시 예에 따른 조명 장치의 광 효율을 향상시킬 수 있다.The surface of the member 2300 may be coated or coated with a light reflective material. For example, the surface of the member 2300 may be coated or coated with a white paint. The member 2300 is reflected on the inner surface of the cover 2100 to reflect the light returned to the light source module 2200 side again toward the cover 2100. Therefore, it is possible to improve the light efficiency of the lighting apparatus according to the embodiment.

상기 부재(2300)는 예로서 절연 물질로 이루어질 수 있다. 상기 광원 모듈(2200)의 연결 플레이트(2230)는 전기 전도성의 물질을 포함할 수 있다. 따라서, 상기 방열체(2400)와 상기 연결 플레이트(2230) 사이에 전기적인 접촉이 이루어질 수 있다. 상기 부재(2300)는 절연 물질로 구성되어 상기 연결 플레이트(2230)와 상기 방열체(2400)의 전기적 단락을 차단할 수 있다. 상기 방열체(2400)는 상기 광원 모듈(2200)로부터의 열과 상기 전원 제공부(2600)로부터의 열을 전달받아 방열한다.The member 2300 may be made of an insulating material, for example. The connection plate 2230 of the light source module 2200 may include an electrically conductive material. Therefore, electrical contact may be made between the radiator 2400 and the connection plate 2230. The member 2300 may be formed of an insulating material to block an electrical short between the connection plate 2230 and the radiator 2400. The radiator 2400 receives heat from the light source module 2200 and heat from the power supply unit 2600 to radiate heat.

상기 홀더(2500)는 내부 케이스(2700)의 절연부(2710)의 수납홈(2719)을 막는다. 따라서, 상기 내부 케이스(2700)의 상기 절연부(2710)에 수납되는 상기 전원 제공부(2600)는 밀폐된다. 상기 홀더(2500)는 가이드 돌출부(2510)를 갖는다. 상기 가이드 돌출부(2510)는 상기 전원 제공부(2600)의 돌출부(2610)가 관통하는 홀을 갖는다. The holder 2500 may block the accommodating groove 2719 of the insulating portion 2710 of the inner case 2700. Therefore, the power supply unit 2600 accommodated in the insulating unit 2710 of the inner case 2700 is sealed. The holder 2500 has a guide protrusion 2510. The guide protrusion 2510 has a hole through which the protrusion 2610 of the power supply unit 2600 passes.

상기 전원 제공부(2600)는 외부로부터 제공받은 전기적 신호를 처리 또는 변환하여 상기 광원 모듈(2200)로 제공한다. 상기 전원 제공부(2600)는 상기 내부 케이스(2700)의 수납홈(2719)에 수납되고, 상기 홀더(2500)에 의해 상기 내부 케이스(2700)의 내부에 밀폐된다. 상기 전원 제공부(2600)는 돌출부(2610), 가이드부(2630), 베이스(2650), 연장부(2670)를 포함할 수 있다.The power supply unit 2600 processes or converts an electrical signal provided from the outside to provide the light source module 2200. The power supply unit 2600 is accommodated in the accommodating groove 2725 of the inner case 2700, and is sealed in the inner case 2700 by the holder 2500. The power supply unit 2600 may include a protrusion 2610, a guide unit 2630, a base 2650, and an extension unit 2670.

상기 가이드부(2630)는 상기 베이스(2650)의 일 측에서 외부로 돌출된 형상을 갖는다. 상기 가이드부(2630)는 상기 홀더(2500)에 삽입될 수 있다. 상기 베이스(2650)의 일 면 위에 다수의 부품이 배치될 수 있다. 다수의 부품은 예를 들어, 외부 전원으로부터 제공되는 교류 전원을 직류 전원으로 변환하는 직류변환장치, 상기 광원 모듈(2200)의 구동을 제어하는 구동칩, 상기 광원 모듈(2200)을 보호하기 위한 ESD(ElectroStatic discharge) 보호 소자 등을 포함할 수 있으나 이에 대해 한정하지는 않는다.The guide part 2630 has a shape protruding outward from one side of the base 2650. The guide part 2630 may be inserted into the holder 2500. A plurality of parts may be disposed on one surface of the base 2650. The plurality of components may include, for example, a DC converter for converting AC power provided from an external power source into DC power, a driving chip for controlling the driving of the light source module 2200, and an ESD for protecting the light source module 2200. (ElectroStatic discharge) protection element and the like, but may not be limited thereto.

상기 연장부(2670)는 상기 베이스(2650)의 다른 일 측에서 외부로 돌출된 형상을 갖는다. 상기 연장부(2670)는 상기 내부 케이스(2700)의 연결부(2750) 내부에 삽입되고, 외부로부터의 전기적 신호를 제공받는다. 예컨대, 상기 연장부(2670)는 상기 내부 케이스(2700)의 연결부(2750)의 폭과 같거나 작게 제공될 수 있다. 상기 연장부(2670)에는 "+ 전선"과 "- 전선"의 각 일 단이 전기적으로 연결되고, "+ 전선"과 "- 전선"의 다른 일 단은 소켓(2800)에 전기적으로 연결될 수 있다.The extension part 2670 has a shape protruding outward from the other side of the base 2650. The extension part 2670 is inserted into the connection part 2750 of the inner case 2700 and receives an electrical signal from the outside. For example, the extension part 2670 may be provided to be equal to or smaller than the width of the connection part 2750 of the inner case 2700. Each end of the "+ wire" and the "-wire" may be electrically connected to the extension 2670, and the other end of the "+ wire" and the "-wire" may be electrically connected to the socket 2800. .

상기 내부 케이스(2700)는 내부에 상기 전원 제공부(2600)와 함께 몰딩부를 포함할 수 있다. 몰딩부는 몰딩 액체가 굳어진 부분으로서, 상기 전원 제공부(2600)가 상기 내부 케이스(2700) 내부에 고정될 수 있도록 한다.The inner case 2700 may include a molding unit together with the power supply unit 2600 therein. The molding part is a part where the molding liquid is hardened, so that the power supply part 2600 can be fixed inside the inner case 2700.

이상에서 실시 예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시 예에 포함되며, 반드시 하나의 실시 예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시 예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시 예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시 예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Features, structures, effects, and the like described in the above embodiments are included in at least one embodiment of the present invention, and are not necessarily limited to only one embodiment. Furthermore, the features, structures, effects, and the like illustrated in the embodiments may be combined or modified with respect to other embodiments by those skilled in the art to which the embodiments belong. Therefore, contents related to such combinations and modifications should be construed as being included in the scope of the present invention.

또한, 이상에서 실시 예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시 예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시 예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.In addition, the above description has been made with reference to the embodiments, which are merely exemplary and are not intended to limit the present invention. Those skilled in the art to which the present invention pertains will be illustrated above in the range without departing from the essential characteristics of the present embodiment. It will be appreciated that various modifications and applications are possible. For example, each component specifically shown in the embodiment can be modified. And differences relating to such modifications and applications will have to be construed as being included in the scope of the invention defined in the appended claims.

10 발광구조물 11 제1 도전형 반도체층
12 활성층 13 제2 도전형 반도체층
20 반사층 30 범프구조물
31 제1 금속층 33 범프볼
35 제2 금속층 40 지지부재
50 제1 전극 60 보호층
70 임시기판
10 Light emitting structure 11 First conductivity type semiconductor layer
12 Active Layer 13 Second Conducting Semiconductor Layer
20 Reflective Layer 30 Bump Structure
31 First Metal Layer 33 Bump Ball
35 Second metal layer 40 Support member
50 First electrode 60 Protective layer
70 Temporary Board

Claims (12)

도전성 기판;
상기 도전성 기판 상에 배치되고, 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 및 상기 제1 도전형 반도체층과 상기 제2 도전형 반도체층 사이에 배치된 활성층을 포함하는 발광구조물;
상기 발광구조물과 상기 도전성 기판 사이에 배치된 반사층;
상기 발광구조물 상에 배치되는 제1 전극; 및
상기 반사층과 상기 도전성 기판 사이에 배치되어 상기 반사층과 상기 도전성 기판을 전기적으로 연결시키는 복수의 범프볼을 포함하는 범프구조물;을 포함하고,
상기 범프구조물은 상기 반사층 저면 상에 배치된 제1 금속층, 상기 도전성 기판 상에 배치된 제2 금속층, 및 상기 제1 금속층과 상기 제2 금속층 사이에 배치된 상기 복수의 범프볼을 포함하고,
상기 범프구조물은 상기 범프볼이 배치된 제1 영역을 포함하고,
상기 도전성 기판, 및 상기 제1 영역의 수평 방향의 폭은 상기 발광구조물 저면의 수평 방향의 폭 이상이고,
상기 제1 전극과 상기 제1 영역은 수직으로 중첩되는 발광소자.
Conductive substrates;
A light emitting structure on the conductive substrate, the light emitting structure including a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer disposed between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer;
A reflective layer disposed between the light emitting structure and the conductive substrate;
A first electrode disposed on the light emitting structure; And
And a bump structure disposed between the reflective layer and the conductive substrate, the bump structure including a plurality of bump balls electrically connecting the reflective layer and the conductive substrate.
The bump structure includes a first metal layer disposed on a bottom surface of the reflective layer, a second metal layer disposed on the conductive substrate, and the plurality of bump balls disposed between the first metal layer and the second metal layer.
The bump structure includes a first area in which the bump ball is disposed,
The width in the horizontal direction of the conductive substrate and the first region is equal to or greater than the width in the horizontal direction of the bottom surface of the light emitting structure,
The light emitting device of claim 1, wherein the first electrode and the first region overlap vertically.
제1항에 있어서,
상기 제1 금속층은 상기 반사층의 저면과 직접 접촉하고, 상기 제2 금속층은 상기 도전성 기판의 상면과 직접 접촉하는 발광소자.
The method of claim 1,
The first metal layer is in direct contact with the bottom surface of the reflective layer, the second metal layer is in direct contact with the top surface of the conductive substrate.
제1항에 있어서,
상기 범프볼은 상기 제1 금속층의 일부 영역과 상기 제2 금속층의 일부 영역에 접촉된 발광소자.
The method of claim 1,
The bump ball is in contact with a portion of the first metal layer and a portion of the second metal layer.
제3항에 있어서,
상기 제1 금속층, 상기 제2 금속층, 상기 범프볼은 같은 물질로 형성된 발광소자.
The method of claim 3,
The first metal layer, the second metal layer, and the bump ball are formed of the same material.
제3항에 있어서,
상기 제1 금속층과 상기 제2 금속층 사이에 배치된 상기 범프볼은 100 마이크로 미터 내지 200 마이크로 미터의 폭을 갖는 발광소자.
The method of claim 3,
The bump ball disposed between the first metal layer and the second metal layer has a width of 100 micrometers to 200 micrometers.
제1항에 있어서,
상기 제1 금속층과 상기 제2 금속층은 2 마이크로 미터 내지 10 마이크로 미터의 두께를 갖는 발광소자.
The method of claim 1,
The first metal layer and the second metal layer has a thickness of 2 micrometers to 10 micrometers.
제5항에 있어서,
상기 범프볼은 80 마이크로 미터 내지 100 마이크로 미터의 두께를 갖는 발광소자.
The method of claim 5,
The bump ball is a light emitting device having a thickness of 80 micrometers to 100 micrometers.
제1항에 있어서,
상기 복수의 범프볼은 서로 이격되고,
상기 제1 금속층과 상기 제2 금속층은 상기 복수의 범프볼 사이에서 서로 이격되어 배치된 발광소자.
The method of claim 1,
The plurality of bump balls are spaced apart from each other,
And the first metal layer and the second metal layer are spaced apart from each other between the plurality of bump balls.
제4항에 있어서,
상기 제1 금속층, 상기 제2 금속층, 상기 범프볼은 Au, Ag, Cu, Ni 중에서 적어도 하나를 포함하는 발광소자.
The method of claim 4, wherein
The first metal layer, the second metal layer, and the bump ball include at least one of Au, Ag, Cu, and Ni.
몸체;
상기 몸체 위에 배치되며, 제1항 내지 제9항 중의 어느 한 항에 의한 발광소자;
상기 발광소자에 전기적으로 연결된 제1 리드 전극 및 제2 리드 전극;을 포함하는 발광소자 패키지.
Body;
A light emitting element disposed on the body and according to any one of claims 1 to 9;
And a first lead electrode and a second lead electrode electrically connected to the light emitting device.
기판;
상기 기판 위에 배치되며, 제1항 내지 제9항 중의 어느 한 항에 의한 발광소자;
상기 발광소자로부터 제공되는 빛이 지나가는 광학 부재;를 포함하는 라이트 유닛.
Board;
A light emitting device disposed on the substrate and according to any one of claims 1 to 9;
And an optical member through which light provided from the light emitting device passes.
제1항에 있어서,
상기 범프볼의 폭은 상기 반사층에서 상기 도전성 기판 방향으로 갈수록 감소하는 발광소자.
The method of claim 1,
The width of the bump ball decreases toward the conductive substrate toward the conductive substrate.
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