KR102008349B1 - Light emitting device and light emitting device package - Google Patents

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Abstract

발광 소자는 제1 파장 대역의 제1 광을 생성하는 제1 발광층과, 발광층의 아래에 배치되는 제1 도전형 반도체층과, 발광층의 위에 배치되는 제2 도전형 반도체층과, 제2 도전형 반도체층의 위에 배치되고 제1 광을 이용하여 제2 파장 대역의 제2 광을 생성하는 제2 발광층을 포함한다.The light emitting device includes a first light emitting layer for generating first light in a first wavelength band, a first conductive semiconductor layer disposed under the light emitting layer, a second conductive semiconductor layer disposed over the light emitting layer, and a second conductive type. And a second light emitting layer disposed on the semiconductor layer and generating second light having a second wavelength band using the first light.

Description

발광 소자 및 발광 소자 패키지{Light emitting device and light emitting device package}Light emitting device and light emitting device package

실시예는 발광 소자에 관한 것이다.An embodiment relates to a light emitting device.

실시예는 발광 소자 패키지에 관한 것이다.Embodiments relate to a light emitting device package.

발광 소자를 구비한 발광 소자 패키지에 대한 연구가 활발하게 진행 중이다.Research into light emitting device packages having light emitting devices is being actively conducted.

발광 소자는 예컨대 반도체 물질로 형성되어 전기 에너지를 빛으로 변환하여 주는 반도체 발광 소자 또는 반도체 발광 다이오드이다. The light emitting device is, for example, a semiconductor light emitting device or a semiconductor light emitting diode which is formed of a semiconductor material and converts electrical energy into light.

발광 소자는 형광등, 백열등 등 기존의 광원에 비해 저소비전력, 반영구적인 수명, 빠른 응답속도, 안전성, 환경친화성의 장점을 가진다. 이에 기존의 광원을 반도체 발광 소자로 대체하기 위한 많은 연구가 진행되고 있다. The light emitting device has advantages of low power consumption, semi-permanent life, fast response speed, safety and environmental friendliness compared to conventional light sources such as fluorescent lamps and incandescent lamps. Accordingly, many researches are being conducted to replace the existing light source with a semiconductor light emitting device.

발광 소자는 실내외에서 사용되는 각종 램프, 액정표시장치, 전광판, 가로등 등의 조명 장치의 광원으로서 사용이 증가되고 있는 추세이다.BACKGROUND ART Light emitting devices have been increasingly used as light sources for lighting devices such as various lamps, liquid crystal displays, electronic signs, and street lamps that are used indoors and outdoors.

실시예는 형광체를 형성할 필요가 없는 발광 소자를 제공한다.The embodiment provides a light emitting element that does not need to form a phosphor.

실시예는 구조가 간단한 발과 소자를 제공한다.The embodiment provides a foot and a device with a simple structure.

실시예는 제조 비용을 절감할 수 있는 발광 소자를 제공한다.The embodiment provides a light emitting device capable of reducing manufacturing costs.

실시예는 고 연색지수(CRI: color rendering index)를 얻을 수 있는 발광 소자를 제공한다.The embodiment provides a light emitting device capable of obtaining a high color rendering index (CRI).

실시예는 발광 소자를 포함하는 발광 소자 패키지를 제공한다.An embodiment provides a light emitting device package including a light emitting device.

실시예는 제1도전형 반도체층; 상기 제1도전형 반도체층 상에 제1발광층; 상기 제1발광층 위에 배치되는 제2도전형 반도체층; 상기 제2도전형 반도체층 위에 배치되며 순서대로 적층되는 제1파장 변환층 내지 제3파장 변환층을 포함하는 제2발광층; 상기 제2파장 변환층 및 상기 제3파장 변환층을 관통하는 다수의 제1홀; 및 상기 제3파장 변환층을 관통하는 다수의 제2홀을 포함하고, 상기 제1파장 변환층의 상면이 노출되는 상기 제1홀의 직경은 상기 제2파장 변환층의 상면이 노출되는 상기 제2홀의 직경보다 큰 발광 소자를 포함할 수 있다.
실시예는 상기 다수의 제1홀은 서로 일정한 간격으로 형성되고, 상기 다수의 제2홀은 서로 일정한 간격으로 형성되는 발광 소자를 포함할 수 있다.
실시예는 상기 제1홀 내에 노출된 상기 제1파장 변환층의 상면에는 제1러프니스 구조가 형성되고, 상기 제2홀 내에 노출된 상기 제2파장 변환층의 상면에는 제2러프니스 구조가 형성되는 발광 소자를 포함할 수 있다.
실시예는 상기 제1홀에 의해 노출된 상기 제2파장 변환층 및 상기 제3파장 변환층의 내측면에는 상기 제1러프니스 구조가 형성되고, 상기 제2홀에 의해 노출된 상기 제3파장 변환층의 내측면에는 상기 제2러프니스 구조가 형성되는 발광 소자를 포함할 수 있다.
실시예는 상기 제1홀의 내측면은 제1경사면을 포함하고, 상기 제2홀의 내측면은 제2경사면을 포함하며, 상기 제1홀은 상기 제1파장 변환층의 상면에서 상기 제3파장 변환층의 상면으로 갈수록 직경이 커지며, 상기 제2홀은 상기 제2파장 변환층의 상면에서 상기 제3파장 변환층의 상면으로 갈수록 직경이 커지는 발광 소자를 포함할 수 있다.
An embodiment includes a first conductive semiconductor layer; A first light emitting layer on the first conductive semiconductor layer; A second conductive semiconductor layer disposed on the first light emitting layer; A second light emitting layer disposed on the second conductive semiconductor layer and including first to third wavelength conversion layers stacked in order; A plurality of first holes penetrating the second wavelength conversion layer and the third wavelength conversion layer; And a plurality of second holes penetrating through the third wavelength conversion layer, wherein the diameter of the first hole through which the top surface of the first wavelength conversion layer is exposed is the second surface through which the top surface of the second wavelength conversion layer is exposed. It may include a light emitting device larger than the diameter of the hole.
According to an embodiment, the plurality of first holes may be formed at regular intervals from each other, and the plurality of second holes may include light emitting devices formed at regular intervals from each other.
In an embodiment, a first roughness structure is formed on an upper surface of the first wavelength conversion layer exposed in the first hole, and a second roughness structure is formed on an upper surface of the second wavelength conversion layer exposed in the second hole. It may include a light emitting device to be formed.
In an embodiment, the first roughness structure is formed on inner surfaces of the second wavelength conversion layer and the third wavelength conversion layer exposed by the first hole, and the third wavelength exposed by the second hole. An inner surface of the conversion layer may include a light emitting device in which the second roughness structure is formed.
In an embodiment, the inner side surface of the first hole includes a first sloped surface, the inner side surface of the second hole includes a second sloped surface, and the first hole has the third wavelength conversion on an upper surface of the first wavelength conversion layer. The diameter increases toward the top surface of the layer, and the second hole may include a light emitting device having a diameter increasing toward the top surface of the third wavelength conversion layer from the top surface of the second wavelength conversion layer.

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실시예는 발광 구조물을 성장할 때 파장 변환층도 함께 성장할 수 있으므로, 별도로 형광체를 형성할 필요가 없어 공정이 단순하고 구조가 간단하며 제조 비용을 절감할 수 있다. In the embodiment, when the light emitting structure is grown, the wavelength conversion layer may also be grown, and thus, there is no need to separately form a phosphor, thereby simplifying the process, simplifying the structure, and reducing manufacturing cost.

실시예는 열에 강한 화합물 반도체 재질로 파장 변환층을 형성하여 주어 파장 변환층이 변형되지 않게 되어 원하는 파장 대역의 광을 생성할 수 있으므로, 연색 지수가 향상될 수 있다.According to the embodiment, the wavelength conversion layer is formed of a compound semiconductor material that is resistant to heat so that the wavelength conversion layer is not deformed to generate light having a desired wavelength band, and thus the color rendering index may be improved.

실시예는 파장 변환층에 홀이나 러프니스 구조를 형성하여 주어, 광 추출 효율을 향상시킬 수 있다.The embodiment forms a hole or a roughness structure in the wavelength conversion layer, thereby improving light extraction efficiency.

도 1은 제1 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.
도 2는 도 1의 발광 소자에서 제1 및 제2 광을 생성하는 모습을 도시한 도면이다.
도 3은 제2 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.
도 4는 도 3의 발광소자에서 제1 내지 제4 광을 생성하는 모습을 도시한 도면이다.
도 5는 제3 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.
도 6은 도 5의 발명 소자를 도시한 평면도이다.
도 7은 제4 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.
도 8은 제5 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.
도 9는 제6 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.
도 10은 제7 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 평면도이다.
도 11은 도 10의 발광 소자를 I-I' 라인을 따라 절단한 단면도이다.
도 12는 제8 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.
도 13은 제9 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.
도 14는 제10 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.
도 15는 제11 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.
도 16은 제12 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.
도 17은 실시예에 따른 발광 소자 패키지를 도시한 단면도이다.
1 is a cross-sectional view showing a light emitting device according to the first embodiment.
FIG. 2 is a diagram illustrating a first and second light generation in the light emitting device of FIG. 1.
3 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to a second embodiment.
FIG. 4 is a diagram illustrating the first to fourth light generation in the light emitting device of FIG. 3.
5 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to a third embodiment.
FIG. 6 is a plan view illustrating the invention device of FIG. 5.
7 is a sectional view showing a light emitting device according to the fourth embodiment.
8 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to a fifth embodiment.
9 is a cross-sectional view showing a light emitting device according to a sixth embodiment.
10 is a plan view illustrating a light emitting device according to a seventh embodiment.
FIG. 11 is a cross-sectional view of the light emitting device of FIG. 10 taken along line II ′. FIG.
12 is a sectional view showing a light emitting device according to the eighth embodiment.
13 is a sectional view showing a light emitting device according to the ninth embodiment.
14 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to a tenth embodiment.
15 is a sectional view showing a light emitting device according to the eleventh embodiment.
16 is a cross-sectional view showing a light emitting device according to a twelfth embodiment.
17 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device package according to an embodiment.

발명에 따른 실시 예의 설명에 있어서, 각 구성 요소의 " 상(위) 또는 하(아래)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, 상(위) 또는 하(아래)는 두개의 구성 요소들이 서로 직접 접촉되거나 하나 이상의 또 다른 구성 요소가 두 개의 구성 요소들 사이에 배치되어 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 “상(위) 또는 하(아래)”으로 표현되는 경우 하나의 구성 요소를 기준으로 위쪽 방향뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.In the description of the embodiment according to the invention, in the case where it is described as being formed on the "top" or "bottom" of each component, the top (bottom) or the bottom (bottom) is the two components are mutually It includes both direct contact or one or more other components disposed between and formed between the two components. In addition, when expressed as "up (up) or down (down)" may include the meaning of the down direction as well as the up direction based on one component.

이하의 실시예들에서, 서로 동일한 구성 요소에 대해서는 동일한 도면 부호를 부여하며, 앞서 설명한 특징이나 내용에 대해서는 설명의 중복을 피하기 위해 추가적인 설명을 생략하기로 한다.In the following embodiments, the same reference numerals are assigned to the same components, and further descriptions of the above-described features or contents will be omitted in order to avoid duplication of description.

도 1은 제1 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing a light emitting device according to the first embodiment.

도 1을 참조하면, 제1 실시예에 따른 발광 소자는 기판(11), 발광 구조물(15) 및 파장 변환층(23)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Referring to FIG. 1, the light emitting device according to the first embodiment may include the substrate 11, the light emitting structure 15, and the wavelength conversion layer 23, but the embodiment is not limited thereto.

도 1을 참조하면, 제1 실시예에 따른 발광 소자(10)는 상기 기판(11)과 상기 발광 구조물(15) 사이에 배치된 버퍼층(13)을 더 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 상기 버퍼층(13)은 상기 기판(11)과 상기 발광 구조물(15) 사이의 격자 상수 차이를 완화하여 주는 역할을 할 수 있다. 상기 버퍼층(13)의 격자 상수는 상기 기판(11)의 격자 상수와 상기 발광 구조물(15) 격자 상수 사이일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 상기 격자 상수에 의해 상기 기판(11)과 상기 발광 구조물(15) 사이의 격자 상수 차이가 완화되므로, 상기 발광 구조물(15)이 불량 없이 안정적으로 성장될 수 있다. 따라서, 제1 실시예에 따른 발광 소자(10)는 전기적 및 광학적 특성이 향상될 수 있다.Referring to FIG. 1, the light emitting device 10 according to the first embodiment may further include a buffer layer 13 disposed between the substrate 11 and the light emitting structure 15, but is not limited thereto. . The buffer layer 13 may serve to alleviate the lattice constant difference between the substrate 11 and the light emitting structure 15. The lattice constant of the buffer layer 13 may be between the lattice constant of the substrate 11 and the lattice constant of the light emitting structure 15, but is not limited thereto. Since the difference in lattice constant between the substrate 11 and the light emitting structure 15 is alleviated by the lattice constant, the light emitting structure 15 may be stably grown without defects. Therefore, the light emitting device 10 according to the first embodiment may have improved electrical and optical characteristics.

상기 기판(11)은 발광 구조물(15)을 성장시키는 한편 상기 발광 구조물(15)을 지지하는 역할을 하며, 반도체 물질의 성장에 적합한 물질로 형성될 수 있다. 상기 기판(11)은 상기 발광 구조물(15)과 격자 상수가 유사하고 열적 안정성을 갖는 재질로 형성될 수 있으며, 전도성 기판 또는 절연성 기판일 수 있다. 상기 기판(11)은 사파이어(Al2O3), SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, GaP, InP 및 Ge로 이루어지는 그룹으로부터 선택된 적어도 하나로 형성될 수 있다.The substrate 11 may grow the light emitting structure 15 and support the light emitting structure 15, and may be formed of a material suitable for growth of a semiconductor material. The substrate 11 may be formed of a material having a similar lattice constant and thermal stability to the light emitting structure 15, and may be a conductive substrate or an insulating substrate. The substrate 11 may be formed of at least one selected from the group consisting of sapphire (Al 2 O 3 ), SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, GaP, InP, and Ge.

상기 발광 구조물(15)은 다수의 화합물 반도체층을 포함할 수 있다. 예컨대, 상기 발광 구조물(15)은 제1 도전형 반도체층(17), 발광층(19) 및 제2 도전형 반도체층(21)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The light emitting structure 15 may include a plurality of compound semiconductor layers. For example, the light emitting structure 15 may include, but is not limited to, a first conductive semiconductor layer 17, a light emitting layer 19, and a second conductive semiconductor layer 21.

예컨대, 상기 발광층(19)은 상기 제1 도전형 반도체층(17) 상에 배치되고, 상기 제2 도전형 반도체층(21)은 상기 발광층(19) 상에 배치될 수 있다.For example, the emission layer 19 may be disposed on the first conductivity type semiconductor layer 17, and the second conductivity type semiconductor layer 21 may be disposed on the emission layer 19.

상기 제1 도전형 반도체층(17)은 상기 기판(11) 또는 버퍼층(13)에 접할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The first conductive semiconductor layer 17 may be in contact with the substrate 11 or the buffer layer 13, but is not limited thereto.

상기 제2 도전형 반도체층(21)은 상기 파장 변환층(23)에 접할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The second conductivity type semiconductor layer 21 may be in contact with the wavelength conversion layer 23, but is not limited thereto.

도시되지 않았지만, 상기 기판(11) 및 상기 버퍼층(13) 중 하나와 상기 제1 도전형 반도체층(17) 사이에 제3 반도체층이 배치될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Although not shown, a third semiconductor layer may be disposed between one of the substrate 11 and the buffer layer 13 and the first conductive semiconductor layer 17, but is not limited thereto.

상기 제3 반도체층은 도펀트를 포함하거나 포함하지 않을 수 있다. 상기 제3 반도체층은 상기 제1 도전형 반도체층(17)과 동일한 극성의 도펀트를 포함하거나 반대 극성의 도펀트를 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The third semiconductor layer may or may not include a dopant. The third semiconductor layer may include a dopant having the same polarity as that of the first conductive semiconductor layer 17 or may include a dopant having an opposite polarity, but is not limited thereto.

도시되지 않았지만, 상기 제2 도전형 반도체층(21)과 상기 파장 변환층(23) 사이에 제4 반도체층이 배치될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. Although not shown, a fourth semiconductor layer may be disposed between the second conductivity type semiconductor layer 21 and the wavelength conversion layer 23, but the embodiment is not limited thereto.

상기 제4 반도체층은 도펀트를 포함하거나 포함하지 않을 수 있다. 상기 제4 반도체층은 상기 제1 도전형 반도체층(17)과 동일한 극성의 도펀트를 포함하거나 반대 극성의 도펀트를 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The fourth semiconductor layer may or may not include a dopant. The fourth semiconductor layer may include a dopant having the same polarity as that of the first conductive semiconductor layer 17 or may include a dopant having an opposite polarity, but is not limited thereto.

상기 버퍼층(13), 상기 제1 도전형 반도체층(17), 상기 발광층(19), 상기 제2 도전형 반도체층(21), 상기제3 및 제4 반도체층 및 상기 파장 변환층(23)은 II-VI족 또는 III-V족 화합물 반도체 재질로 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 버퍼층(13), 상기 제1 도전형 반도체층(17), 상기 발광층(19), 상기 제2 도전형 반도체층(21), 상기제3 및 제4 반도체층 및 상기 파장 변환층(23)은 InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN, AlInN, GaAs, AlGaAs, GaAsP GaP, InP, GaInP 및 AlGaInP로 이루어지는 그룹으로부터 선택된 적어도 하나를 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The buffer layer 13, the first conductive semiconductor layer 17, the light emitting layer 19, the second conductive semiconductor layer 21, the third and fourth semiconductor layers, and the wavelength conversion layer 23. Silver may be formed of a II-VI or III-V compound semiconductor material. For example, the buffer layer 13, the first conductive semiconductor layer 17, the light emitting layer 19, the second conductive semiconductor layer 21, the third and fourth semiconductor layers, and the wavelength conversion layer ( 23) may include, but is not limited to, at least one selected from the group consisting of InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN, AlInN, GaAs, AlGaAs, GaAsP GaP, InP, GaInP, and AlGaInP.

상기 제1 및 제2 도전형 반도체층(17, 21)은 AlxInyGa(1-x-y)N의 화합물 반도체 재질로 형성될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The first and second conductivity-type semiconductor layers 17 and 21 may be formed of a compound semiconductor material of Al x In y Ga (1-xy) N, but are not limited thereto.

예컨대, 상기 제1 도전형 반도체층(17)은 n형 도펀트를 포함하는 n형 반도체층이고, 상기 제2 도전형 반도체층(21)은 p형 반도체층일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 상기 n형 도펀트는 Si, Ge, Sn 등을 포함하고, 상기 p형 도펀트는 Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등을 포함하지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. For example, the first conductivity type semiconductor layer 17 may be an n type semiconductor layer including an n type dopant, and the second conductivity type semiconductor layer 21 may be a p type semiconductor layer, but is not limited thereto. The n-type dopant includes Si, Ge, Sn and the like, and the p-type dopant includes Mg, Zn, Ca, Sr, Ba and the like, but is not limited thereto.

상기 발광층(19)은 상기 제1 도전형 반도체층(17)을 통해서 주입되는 제1 캐리어, 예컨대 전자와 상기 제2 도전형 반도체층(21)을 통해서 주입되는 제2 캐리어, 예컨대 정공이 서로 결합되어, 상기 발광층(19)의 형성 물질에 따른 에너지 밴드갭(Energy Band Gap)에 상응하는 파장 대역을 갖는 빛을 방출할 수 있다. The emission layer 19 has a first carrier, for example, electrons injected through the first conductivity-type semiconductor layer 17, and a second carrier, for example, holes injected through the second conductivity-type semiconductor layer 21, coupled to each other. The light emitting device may emit light having a wavelength band corresponding to an energy band gap according to the material of the emission layer 19.

다시 말해, 상기 발광층(19)은 상기 제1 도전형 반도체층(17)과 상기 제2 도전형 반도체층(21)으로 공급된 전기적 신호를 빛으로 변환하는 전기적 발광(EL: Electro Luminescence)을 수행할 수 있다.In other words, the light emitting layer 19 performs electroluminescence (EL) for converting electrical signals supplied to the first conductive semiconductor layer 17 and the second conductive semiconductor layer 21 into light. can do.

도시되지 않았지만, 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층(17, 21)으로 전기적 신호를 공급하기 위해 상기 제1 및 제2 반도체층 각각에 전극이 형성될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Although not shown, an electrode may be formed in each of the first and second semiconductor layers to supply an electrical signal to the first and second conductivity-type semiconductor layers 17 and 21, but embodiments are not limited thereto.

상기 발광층(19)은 다중 양자 우물 구조(MQW), 양자점 구조 또는 양자선 구조 중 어느 하나를 포함할 수 있다. 상기 발광층(19)은 우물층과 배리어층을 한 주기로 하여 우물층과 배리어층이 반복적으로 형성될 수 있다. 상기 우물층과 배리어층의 반복주기는 발광 소자의 특성에 따라 변형 가능하므로, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The emission layer 19 may include any one of a multi-quantum well structure (MQW), a quantum dot structure, or a quantum line structure. In the light emitting layer 19, the well layer and the barrier layer may be repeatedly formed with the well layer and the barrier layer as a cycle. Since the repetition period of the well layer and the barrier layer can be modified according to the characteristics of the light emitting device, the present invention is not limited thereto.

상기 발광층(19)은 예를 들면, GaN/InGaN, GaN/AlGaN의 주기, AlGaN/AlGaN의 주기 등으로 형성될 수 있다. 상기 배리어층의 밴드갭은 상기 우물층의 밴드갭보다 크게 형성될 수 있다.The light emitting layer 19 may be formed by, for example, a period of GaN / InGaN, GaN / AlGaN, or a period of AlGaN / AlGaN. The band gap of the barrier layer may be larger than the band gap of the well layer.

상기 발광층(19)은 예컨대 450nm 이하의 단파장 대역의 광을 생성할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The light emitting layer 19 may generate light having a short wavelength band of 450 nm or less, for example, but is not limited thereto.

예컨대, 상기 발광층(19)은 보라색 광이나 자외선 광을 생성할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.For example, the light emitting layer 19 may generate purple light or ultraviolet light, but is not limited thereto.

상기 파장 변환층(23)은 상기 제2 도전형 반도체층(21) 상에 배치될 수 있다. 따라서, 상기 제2 도전형 반도체층(21) 아래에 발광층(19)이 배치되고, 상기 제2 도전형 반도체층(21) 상에 파장 변환층(23)이 배치될 수 있다.The wavelength conversion layer 23 may be disposed on the second conductivity type semiconductor layer 21. Accordingly, the emission layer 19 may be disposed under the second conductivity type semiconductor layer 21, and the wavelength conversion layer 23 may be disposed on the second conductivity type semiconductor layer 21.

상기 파장 변환층(23)은 상기 발광층(19)과 마찬가지로, II-VI족 또는 III-V족 화합물 반도체 재질로 형성될 수 있다.Like the emission layer 19, the wavelength conversion layer 23 may be formed of a II-VI or III-V compound semiconductor material.

상기 파장 변환층(23)은 다중 양자 우물 구조(MQW), 양자점 구조 또는 양자선 구조 중 어느 하나를 포함할 수 있다. 상기 파장 변환층(23)은 우물층과 배리어층을 한 주기로 하여 우물층과 배리어층이 반복적으로 형성될 수 있다. 상기 우물층과 배리어층의 반복주기는 발광 소자의 특성에 따라 변형 가능하므로, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The wavelength conversion layer 23 may include any one of a multi quantum well structure (MQW), a quantum dot structure, or a quantum line structure. In the wavelength conversion layer 23, the well layer and the barrier layer may be repeatedly formed by using the well layer and the barrier layer as one cycle. Since the repetition period of the well layer and the barrier layer can be modified according to the characteristics of the light emitting device, the present invention is not limited thereto.

상기 파장 변환층(23)은 그 위에 전기적 신호가 인가되는 어떠한 반도체층도 존재하지 않으므로, 전기적 발광을 수행할 수 없다.Since the wavelength conversion layer 23 does not have any semiconductor layer to which an electrical signal is applied, the wavelength conversion layer 23 cannot perform electroluminescence.

도 2에 도시한 바와 같이, 상기 파장 변환층(23)은 상기 발광층(19)에서 생성된 광(제1 광이라 함)을 특정 파장으로 변환한 광(제2 광이라 함)을 생성할 수 있다.As illustrated in FIG. 2, the wavelength conversion layer 23 may generate light (called second light) obtained by converting light (called first light) generated in the emission layer 19 to a specific wavelength. have.

상기 발광층(19)의 에너지 밴드갭(Eg1)은 상기 파장 변환층(23)의 에너지 밴드갭(Eg2)보다 클 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 이러한 경우, 상기 파장 변환층(23)은 상기 발광층(19)에서 생성된 제1 파장 대역보다 적어도 큰 제2 파장 대역을 갖는 제2 광을 생성할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The energy bandgap Eg1 of the emission layer 19 may be larger than the energy bandgap Eg2 of the wavelength conversion layer 23, but is not limited thereto. In this case, the wavelength conversion layer 23 may generate second light having a second wavelength band that is at least larger than the first wavelength band generated by the emission layer 19, but is not limited thereto.

예컨대, 상기 파장 변환층(23)은 상기 발광층(19)에서 생성된 제1 파장 대역의 제1 광을 이용하여 청색 파장 대역의 광, 청록색(cyan) 파장 대역의 광, 녹색 파장 대역의 광, 주황색 파장 대역의 광, 분홍색(magenta) 파장 대역 및 적색 파장 대역의 광 중 하나의 제2 광을 생성할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.For example, the wavelength conversion layer 23 may be formed of light of a blue wavelength band, light of a cyan wavelength band, light of a green wavelength band, using the first light of the first wavelength band generated by the light emitting layer 19. A second light of one of the light of the orange wavelength band, the light of the magenta wavelength band, and the light of the red wavelength band may be generated, but is not limited thereto.

상기 청색 파장 대역의 광, 상기 녹색 파장 대역의 광 및 청록색 파장 대역의 광을 생성하기 위해 상기 파장 변환층(23)은 GaN/InGaN 주기를 갖는 다중 양자 우물 구조(MQW)를 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 상기 주황색 파장 대역의 광과 분홍색 파장 대역의 광을 생성하기 위해 상기 파장 변환층(23)은 AlGaInP/GaInP 주기를 갖는 다중 양자 우물 구조를 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 상기 적색 파장 대역의 광을 생성하기 위해 상기 파장 변환층(23)은 AlGaAs/GaAsP 주기를 갖는 다중 양자 우물 구조를 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The wavelength conversion layer 23 may include a multiple quantum well structure (MQW) having a GaN / InGaN period to generate light in the blue wavelength band, light in the green wavelength band, and light in the cyan wavelength band. This is not limitative. The wavelength conversion layer 23 may include a multi-quantum well structure having an AlGaInP / GaInP period to generate light of the orange wavelength band and light of the pink wavelength band, but is not limited thereto. The wavelength conversion layer 23 may include a multi-quantum well structure having an AlGaAs / GaAsP period to generate light in the red wavelength band, but is not limited thereto.

상기 파장 변환층(23)은 제1 광으로부터 제2 광을 생성하여 주는 광학적 발광(PL: Photon Luminescence)을 수행할 수 있다. The wavelength conversion layer 23 may perform optical emission (PL) that generates a second light from the first light.

상기 파장 변환층(23)은 스스로 광을 생성하지 못하고, 제1 광을 이용하여 제2 광을 생성할 수 있다. 상기 파장 변환층(23)이 제2 광을 생성하기 위해서는 제1 광이 필요하다. 다시 말해, 상기 제1 광은 상기 제2 광을 생성하기 위한 여기 광원(exciting light source)일 수 있다. The wavelength conversion layer 23 may not generate light by itself, and may generate second light using the first light. In order for the wavelength conversion layer 23 to generate the second light, the first light is required. In other words, the first light may be an excitation light source for generating the second light.

상기 발광층(19)의 제1 광이 상기 파장 변환층(23)을 투과하도록 하기 위해 상기 파장 변환층(23)의 에너지 밴드갭(Eg2)은 상기 발광층(19)의 제1 광의 파장 대역보다 클 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The energy bandgap Eg2 of the wavelength conversion layer 23 is greater than the wavelength band of the first light of the emission layer 19 so that the first light of the emission layer 19 passes through the wavelength conversion layer 23. However, this is not limitative.

만일 상기 발광층(19)의 제1 광이 상기 파장 변환층(23)을 투과하지 않도록 하고자 한다면, 상기 파장 변환층(23)의 에너지 밴드갭(Eg2)은 상기 발광층(19)의 제1 광의 파장 대역보다 작도록 할 수 있다.If the first light of the light emitting layer 19 does not want to pass through the wavelength converting layer 23, the energy band gap Eg2 of the wavelength converting layer 23 is the wavelength of the first light of the light emitting layer 19. It can be smaller than the band.

한편, 상기 발광층(19)과 상기 파장 변환층(23) 모두 가시 광선에 해당하는 파장 대역의 광을 생성할 수 있다. 이러한 경우, 상기 발광층(19)에서 생성된 제1 광의 파장 대역은 상기 파장 변화층에서 생성되는 제2 광의 파장 대역보다 작을 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 상기 제2 광은 상기 제1 광으로부터 생성될 수 있다.Meanwhile, both the light emitting layer 19 and the wavelength conversion layer 23 may generate light having a wavelength band corresponding to visible light. In this case, the wavelength band of the first light generated in the light emitting layer 19 may be smaller than the wavelength band of the second light generated in the wavelength changing layer, but is not limited thereto. The second light may be generated from the first light.

예컨대, 상기 제1 광은 청색 파장 대역의 광이고, 상기 제2 광은 녹색 파장 대역의 광, 적색 파장 대역의 광, 주황색 파장 대역의 광, 청록색(cyan) 파장 대역의 광 및 분홍색(magenta) 파장 대역의 광 중 하나의 광을 생성할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.For example, the first light is light in the blue wavelength band, the second light is light in the green wavelength band, light in the red wavelength band, light in the orange wavelength band, light in the cyan wavelength band, and pink (magenta). One of the light in the wavelength band can be generated, but not limited thereto.

제1 실시예에 따르면, 상기 발광층(19)에서 생성되는 제1 광과 상기 파장 변환층(23)에서 생성되는 제2 광을 혼합하여 백색 광(white color light)을 얻을 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.According to the first embodiment, white color light may be obtained by mixing the first light generated in the emission layer 19 and the second light generated in the wavelength conversion layer 23, but the present invention is limited thereto. I never do that.

아울러, 상기 버퍼층(13), 상기 제1 도전형 반도체층(17), 상기 발광층(19), 상기 제2 도전형 반도체층(21), 상기 제3 및 제4 반도체층 및 상기 파장 변환층(23)은 성장 장치(epitaxial apparatus)를 이용하여 일괄적으로 성장될 수 있다. 예컨대, 상기 성장 장치로는 MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition), 화학 증착법(CVD; Chemical Vapor Deposition), 플라즈마 화학 증착법(PECVD; Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition), 분자선 성장법(MBE; Molecular Beam Epitaxy), 수소화물 기상 성장법(HVPE; Hydride Vapor Phase Epitaxy) 등의 방법을 이용하여 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.In addition, the buffer layer 13, the first conductive semiconductor layer 17, the light emitting layer 19, the second conductive semiconductor layer 21, the third and fourth semiconductor layers, and the wavelength conversion layer ( 23 may be grown in a batch using an epitaxial apparatus. For example, the growth apparatus may include metal organic chemical vapor deposition (MOCVD), chemical vapor deposition (CVD), plasma chemical vapor deposition (PECVD), molecular beam growth (MBE), and molecular beam epitaxy (MBE). , Hydride Vapor Phase Epitaxy (HVPE) can be formed using a method such as, but is not limited thereto.

제1 실시예에 따르면, 발광 구조물(15)을 성장할 때 파장 변환층(23)도 함께 성장할 수 있으므로, 별도로 형광체를 형성할 필요가 없어 공정이 단순하고 구조가 간단하며 제조 비용을 절감할 수 있다. According to the first embodiment, when the light emitting structure 15 grows, the wavelength conversion layer 23 may also grow together, so that it is not necessary to form a phosphor separately, so that the process is simple, the structure is simple, and the manufacturing cost can be reduced. .

기존의 형광체는 발광 소자에 의한 열에 의해 변형이 될 수 있고, 이와 같이 형광체가 변형되는 경우, 원하는 파장 대역의 광을 생성하지 못하게 되어 연색 지수가 낮아지게 된다.Existing phosphors may be deformed by heat generated by the light emitting device. When the phosphors are deformed in this way, the color rendering index may be lowered because the phosphors may not generate light of a desired wavelength band.

하지만, 제1 실시예에 따르면, 열에 강한 화합물 반도체 재질로 파장 변환층(23)을 형성하여 주어 파장 변환층(23)이 변형되지 않게 되어 원하는 파장 대역의 광을 생성할 수 있으므로, 연색 지수가 향상될 수 있다.However, according to the first embodiment, since the wavelength conversion layer 23 is formed of a compound semiconductor material that is resistant to heat, the wavelength conversion layer 23 is not deformed, so that light having a desired wavelength band can be generated. Can be improved.

도 3은 제2 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.3 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to a second embodiment.

제2 실시예는 파장 변환층(25a, 25b, 25c)를 제외하고는 제1 실시예와 거의 유사하다. The second embodiment is almost similar to the first embodiment except for the wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c.

제2 실시예에 따른 발광 소자(10A)는 기판(11), 버퍼층(13), 발광 구조물(15) 및 둘 이상의 파장 변환층(25a, 25b, 25c)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The light emitting device 10A according to the second embodiment may include, but is not limited to, a substrate 11, a buffer layer 13, a light emitting structure 15, and two or more wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c. Do not.

상기 발광 구조물(15)은 제1 도전형 반도체층(17), 발광층(19) 및 제2 도전형 반도체층(21)을 포함하지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The light emitting structure 15 includes, but is not limited to, a first conductive semiconductor layer 17, a light emitting layer 19, and a second conductive semiconductor layer 21.

예컨대, 제2 실시예에 따른 발광 소자(10A)는 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.For example, the light emitting device 10A according to the second embodiment may include, but is not limited to, the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c.

상기 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c) 또한 제2 내지 제4 광을 생성하므로, 발광층이라 명명할 수도 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Since the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c also generate second to fourth light, the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c may be called light emitting layers, but the present invention is not limited thereto.

상기 제1 파장 변환층(25a)은 상기 제2 도전형 반도체층(21) 상에 배치되고, 상기 제2 파장 변환층(25b)은 상기 제1 파장 변환층(25a) 상에 배치되며, 상기 제3 파장 변환층(25c)은 상기 제2 파장 변환층(25b) 상에 배치될 수 있다.The first wavelength conversion layer 25a is disposed on the second conductivity type semiconductor layer 21, and the second wavelength conversion layer 25b is disposed on the first wavelength conversion layer 25a. The third wavelength conversion layer 25c may be disposed on the second wavelength conversion layer 25b.

도 4에 도시한 바와 같이, 상기 발광층(19)은 제1 파장 대역의 제1 광을 생성하고, 상기 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c)은 상기 제1 광을 이용하여 제2 내지 제4 파장 대역의 제2 내지 제4 광을 생성할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.As shown in FIG. 4, the light emitting layer 19 generates first light having a first wavelength band, and the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c use the first light. Although it is possible to generate the second to fourth light in the second to fourth wavelength bands, the present invention is not limited thereto.

상기 발광층(19)은 제1 파장 대역의 제1 광을 생성할 수 있는 제1 에너지 밴드갭(Eg1)을 가질 수 있다. 상기 1 파장 변환층(25a)은 제2 파장 대역의 제2 광을 생성할 수 있는 제2 에너지 밴드갭(Eg2)을 생성할 수 있다. 상기 제2 파장 변환층(25b)은 제3 파장 대역의 제3 광을 생성할 수 있는 제3 에너지 밴드갭(Eg3)을 생성할 수 있다. 상기 제3 파장 변환층(25c)은 제4 파장 대역의 제4 광을 생성할 수 있는 제4 에너지 밴드갭(Eg4)을 생성할 수 있다.The emission layer 19 may have a first energy band gap Eg1 capable of generating first light having a first wavelength band. The first wavelength conversion layer 25a may generate a second energy bandgap Eg2 capable of generating second light of a second wavelength band. The second wavelength conversion layer 25b may generate a third energy band gap Eg3 capable of generating third light of a third wavelength band. The third wavelength conversion layer 25c may generate a fourth energy bandgap Eg4 capable of generating fourth light of a fourth wavelength band.

예컨대, 상기 발광층(19)에서 생성된 제1 광은 자외선 광이거나 보라색 광이고, 상기 제1 파장 변환층(25a)에서 생성된 제2 광은 청색 파장 대역의 광이고, 상기 제2 파장 변환층(25b)에서 생성된 제3 광은 녹색 파장 대역의 광이며, 상기 제3 파장 변환층(25c)에서 생성된 제4 광은 적색 파장 대역의 광일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.For example, the first light generated in the light emitting layer 19 is ultraviolet light or purple light, and the second light generated in the first wavelength converting layer 25a is light of a blue wavelength band, and the second wavelength converting layer The third light generated at 25b is light of the green wavelength band, and the fourth light generated from the third wavelength conversion layer 25c may be light of the red wavelength band, but is not limited thereto.

상기 제1 파장 변환층(25a)의 상기 제2 에너지 밴드갭(Eg2)은 상기 발광층(19)의 상기 제1 에너지 밴드갭(Eg1)보다 크고, 상기 제2 파장 변환층(25b)의 상기 제3 에너지 밴드갭(Eg3)은 상기 제1 파장 변환층(25a)의 제2 에너지 밴드갭(Eg2)보다 클 수 있다. 상기 제3 파장 변환층(25c)의 상기 제4 에너지 밴드갭(Eg4)은 상기 제2 파장 변환층(25b)의 상기 제3 에너지 밴드갭(Eg3)보다 클 수 있다.The second energy bandgap Eg2 of the first wavelength conversion layer 25a is greater than the first energy bandgap Eg1 of the emission layer 19, and the second energy bandgap Eg1 of the second wavelength conversion layer 25b is formed. The third energy bandgap Eg3 may be greater than the second energy bandgap Eg2 of the first wavelength conversion layer 25a. The fourth energy bandgap Eg4 of the third wavelength conversion layer 25c may be larger than the third energy bandgap Eg3 of the second wavelength conversion layer 25b.

상기 제2 내지 제4 광은 상기 제1 광을 이용하여 생성될 수 있다. The second to fourth light may be generated using the first light.

상기 발광층(19)에서 생성된 제1 광이 상기 제2 및 제3 파장 변환층(25b, 25c)으로 공급되기 위해서는 상기 제1 광은 상기 제1 파장 변환층(25a)을 투과해야 한다. 이를 위해, 상기 제1 파장 변환층(25a)의 제2 에너지 밴드갭(Eg2)은 상기 제1 광의 제1 파장 대역보다 클 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.In order for the first light generated in the emission layer 19 to be supplied to the second and third wavelength conversion layers 25b and 25c, the first light must pass through the first wavelength conversion layer 25a. To this end, the second energy bandgap Eg2 of the first wavelength conversion layer 25a may be larger than the first wavelength band of the first light, but is not limited thereto.

마찬가지로, 상기 발광층(19)에서 생성된 제1 광이 상기 제3 파장 변환층(25c)으로 공급되기 위해서는 상기 제1 광은 상기 제2 파장 변환층(25b)을 투과해야 한다. 이를 위해, 상기 제2 파장 변환층(25b)의 제3 에너지 밴드갭(Eg3)은 상기 제1 광의 제1 파장 대역보다 클 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. Similarly, in order for the first light generated in the emission layer 19 to be supplied to the third wavelength conversion layer 25c, the first light must pass through the second wavelength conversion layer 25b. To this end, the third energy bandgap Eg3 of the second wavelength conversion layer 25b may be larger than the first wavelength band of the first light, but is not limited thereto.

상기 제1 광이 자외선 광인지 또는 가시 광선인지에 따라 상기 제1 광은 상기 제3 파장 변환층(25c)을 투과하거나 투과하지 않을 수 있다. Depending on whether the first light is ultraviolet light or visible light, the first light may or may not transmit through the third wavelength conversion layer 25c.

예컨대, 상기 제1 광이 가시 광선으로서 백색 광을 구현하는데 이용되는 경우, 상기 제1 광은 상기 제3 파장 변환층(25c)을 투과해야 한다. 이러한 경우, 상기 제3 파장 변환층(25c)의 제4 에너지 밴드갭(Eg4)은 상기 제1 광의 제1 파장 대역보다 클 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.For example, when the first light is used to implement white light as visible light, the first light must pass through the third wavelength conversion layer 25c. In this case, the fourth energy bandgap Eg4 of the third wavelength conversion layer 25c may be larger than the first wavelength band of the first light, but is not limited thereto.

예컨대, 상기 제1 광이 자외선으로서 백색 광을 구현하는데 이용되지 않는 경우, 상기 제1 광은 상기 제3 파장 변환층(25c)을 투과하지 않아도 된다. 이러한 경우, 상기 제3 파장 변환층(25c)의 제4 에너지 밴드갭(Eg4)은 상기 제1 광의 제1 파장 대역보다 작을 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. For example, when the first light is not used to implement white light as ultraviolet light, the first light does not have to pass through the third wavelength conversion layer 25c. In this case, the fourth energy bandgap Eg4 of the third wavelength conversion layer 25c may be smaller than the first wavelength band of the first light, but is not limited thereto.

또는 상기 제1 광이 백색 광을 구현하는데 이용되지 않는 자외선일지라도, 상기 제1 광이 상기 제3 파장 변환층(25c)을 투과할 수도 있다. 이러한 경우, 상기 제3 파장 변환층(25c)의 제4 에너지 밴드갭(Eg4)은 상기 제1 광의 제1 파장 대역보다 클 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Alternatively, the first light may pass through the third wavelength conversion layer 25c even though the first light is ultraviolet light not used to implement white light. In this case, the fourth energy bandgap Eg4 of the third wavelength conversion layer 25c may be larger than the first wavelength band of the first light, but is not limited thereto.

제2 실시예에 따르면, 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c)의 에너지 밴드갭(Eg2 내지 Eg4)이 점차 작아지는 구조를 가짐에 따라, 상기 발광층(19)에서 생성된 제1 광이 손실없이 제3 파장 변환층(25c)으로 공급될 수 있다.According to the second embodiment, as the energy band gaps Eg2 to Eg4 of the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c have a structure that is gradually reduced, the first generated in the emission layer 19 is formed. One light may be supplied to the third wavelength conversion layer 25c without loss.

그럼에도 불구하고, 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c)의 에너지 밴드갭(Eg2 내지 Eg4)이 상기 발광층(19)에서 생성된 제1 광의 제1 파장 대역보다 큰 경우, 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c)의 배치 순서는 변경 가능하다. 예컨대, 상기 제2 도전형 반도체층(21) 상에 제3 파장 변환층(25c)이 배치되고, 상기 제3 파장 변환층(25c) 상에 제1 파장 변환층(25a)이 배치되고, 상기 제1 파장 변환층(25a) 상에 제2 파장 변환층(25b)이 배치될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Nevertheless, when the energy band gaps Eg2 to Eg4 of the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b and 25c are larger than the first wavelength band of the first light generated in the emission layer 19, the first The order of arrangement of the third to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c can be changed. For example, a third wavelength conversion layer 25c is disposed on the second conductivity type semiconductor layer 21, and a first wavelength conversion layer 25a is disposed on the third wavelength conversion layer 25c. Although the second wavelength conversion layer 25b may be disposed on the first wavelength conversion layer 25a, the present invention is not limited thereto.

예컨대, 상기 발광층(19)에서 청색 파장 대역의 광이 생성되는 경우, 상기 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c) 중 2개의 파장 변환층만이 구비될 수 있다. 이러한 경우, 상기 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c) 중 하나의 파장 변환층은 녹색 파장 대역의 광을 생성하며, 상기 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c) 중 다른 파장 변환층은 적색 파장 대역의 광을 생성할 수 있다. 따라서, 청색 파장 대역의 광, 녹색 파장 대역의 광 및 적색 파장 대역의 광의 혼합에 의해 백색 광이 얻어질 수 있다. For example, when light of the blue wavelength band is generated in the emission layer 19, only two wavelength conversion layers of the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c may be provided. In this case, one of the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c generates light of a green wavelength band, and the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c are generated. ), The other wavelength conversion layer may generate light of a red wavelength band. Thus, white light can be obtained by mixing light of the blue wavelength band, light of the green wavelength band, and light of the red wavelength band.

한편, 상기 제1 파장 변환층(25a)에서 생성된 제2 광이 상기 제2 및 제3 파장 변환층(25b, 25c)을 투과하여 외부로 방출되기 위해, 상기 제2 및 제3 파장 변환층(25b, 25c)의 에너지 밴드갭(Eg3, Eg4) 각각은 상기 제2 광의 제2 파장 대역보다 클 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Meanwhile, in order for the second light generated by the first wavelength conversion layer 25a to pass through the second and third wavelength conversion layers 25b and 25c and be emitted to the outside, the second and third wavelength conversion layers Each of the energy bandgaps Eg3 and Eg4 of 25b and 25c may be larger than the second wavelength band of the second light, but is not limited thereto.

상기 제2 파장 변환층(25b)에서 생성된 제3 광이 상기 제3 파장 변환층(25c)을 투과하여 외부로 방출되기 위해, 상기 제3 파장 변환층(25c)의 에너지 밴드갭(Eg4)은 상기 제3 광의 제3 파장 대역보다 클 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The energy bandgap (Eg4) of the third wavelength conversion layer 25c so that the third light generated in the second wavelength conversion layer 25b is transmitted through the third wavelength conversion layer 25c and emitted to the outside. May be larger than the third wavelength band of the third light, but is not limited thereto.

상기 발광층(19) 및 상기 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c)은 서로 동일한 두께를 가지거나 서로 상이한 두께를 가질 수 있다. The emission layer 19 and the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c may have the same thickness or different thicknesses.

상기 발광층(19) 및 상기 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c) 각각의 두께는 색상에 따라 달라질 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The thickness of each of the emission layer 19 and the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c may vary depending on the color, but is not limited thereto.

상기 발광층(19) 및 상기 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c) 각각은 다중 양자 우물 구조(MQW), 양자점 구조 또는 양자선 구조 중 어느 하나를 포함할 수 있다. 상기 발광층(19) 및 상기 제1 내지 제3 파장 변환층(25a, 25b, 25c) 각각은 우물층과 배리어층을 한 주기로 하여 우물층과 배리어층이 반복적으로 형성될 수 있다. 상기 우물층과 배리어층의 반복주기는 발광 소자의 특성에 따라 변형 가능하므로, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Each of the emission layer 19 and the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c may include one of a multi-quantum well structure (MQW), a quantum dot structure, or a quantum line structure. Each of the light emitting layer 19 and the first to third wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c may have a well layer and a barrier layer repeatedly formed with one well layer and a barrier layer as a cycle. Since the repetition period of the well layer and the barrier layer can be modified according to the characteristics of the light emitting device, the present invention is not limited thereto.

상기 우물층의 두께는 3nm 내지 20nm 이하이고 상기 배리어층의 두께는 3nm 내지 20nm 이하일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 상기 우물층의 두께는 상기 배리어층의 두께보다 작을 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The thickness of the well layer may be 3 nm to 20 nm or less, and the thickness of the barrier layer may be 3 nm to 20 nm or less, but is not limited thereto. The thickness of the well layer may be smaller than the thickness of the barrier layer, but is not limited thereto.

제1 및 제2 실시예는 발광층(19)과 적어도 하나 이상의 파장 변환층(23, 25a, 25b, 25c)을 이용하여 백색 광을 생성할 수 있지만, 이에 한정하지 않고 특정 파장 대역의 광을 생성할 수도 있다.The first and second embodiments may generate white light using the light emitting layer 19 and at least one wavelength converting layer 23, 25a, 25b, or 25c, but not limited thereto. You may.

도 5는 제3 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to a third embodiment.

제3 실시예는 다수의 제1 및 제2 홀(27, 29)을 제외하고는 제2 실시예와 거의 유사하다.The third embodiment is almost similar to the second embodiment except for the plurality of first and second holes 27 and 29.

도 5를 참조하면, 제3 실시예에 따른 발광 소자(10B)는 기판(11), 버퍼층(13), 발광 구조물(15), 둘 이상의 파장 변환층(25a, 25b, 25c) 및 다수의 제1 및 제2 홀(27, 29)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Referring to FIG. 5, the light emitting device 10B according to the third exemplary embodiment may include a substrate 11, a buffer layer 13, a light emitting structure 15, two or more wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c and a plurality of light emitting elements. It may include, but is not limited to, the first and second holes 27 and 29.

상기 발광 구조물(15)은 제1 도전형 반도체층(17), 발광층(19) 및 제2 도전형 반도체층(21)을 포함하지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The light emitting structure 15 includes, but is not limited to, a first conductive semiconductor layer 17, a light emitting layer 19, and a second conductive semiconductor layer 21.

상기 제1 홀(27)은 제1 파장 변환층(25a)의 상면이 부분적으로 노출되도록 형성될 수 있다. 상기 제2 홀(29)은 상기 제2 파장 변환층(25b)의 상면이 부분적으로 노출되도록 형성될 수 있다.The first hole 27 may be formed to partially expose the top surface of the first wavelength conversion layer 25a. The second hole 29 may be formed to partially expose the top surface of the second wavelength conversion layer 25b.

상기 제3 파장 변환층(25c)과 상기 제2 파장 변환층(25b)이 제거되어 상기 제1 홀(27)이 형성되고, 상기 제3 파장 변환층(25c)이 제거되어 상기 제2 홀(29)이 형성될 수 있다.The third wavelength conversion layer 25c and the second wavelength conversion layer 25b are removed to form the first hole 27, and the third wavelength conversion layer 25c is removed to remove the second hole ( 29) can be formed.

상기 제1 홀(27)은 상기 제3 파장 변환층(25c)과 상기 제2 파장 변환층(25b)을 관통하여 형성되고, 상기 제2 홀(29)은 상기 제3 파장 변환층(25c)을 관통하여 형성될 수 있다.The first hole 27 is formed through the third wavelength conversion layer 25c and the second wavelength conversion layer 25b, and the second hole 29 is the third wavelength conversion layer 25c. It can be formed through.

도 6에 도시한 바와 같이, 상기 제1 홀(27)에 인접하여 다수의 제1 홀(27) 또는 다수의 제2 홀(29)이 형성될 수 있다. 상기 제2 홀(29)에 인접하여 다수의 제1 홀(27) 또는 다수의 제2 홀(29)이 형성될 수 있다.As illustrated in FIG. 6, a plurality of first holes 27 or a plurality of second holes 29 may be formed adjacent to the first holes 27. A plurality of first holes 27 or a plurality of second holes 29 may be formed adjacent to the second holes 29.

상기 다수의 제1 홀(27)은 서로 간에 일정한 간격으로 형성되거나 서로 간에 랜덤한 간격으로 형성될 수 있다. 상기 다수의 제2 홀(29)은 서로 간에 일정한 간격으로 형성되거나 서로 간에 랜덤한 간격으로 형성될 수 있다. 상기 제1 및 제2 홀(27, 29)은 서로 간에 일정한 간격으로 형성되거나 서로 간에 랜덤한 간격으로 형성될 수 있다.The plurality of first holes 27 may be formed at regular intervals from each other or at random intervals from each other. The plurality of second holes 29 may be formed at regular intervals from each other or at random intervals from each other. The first and second holes 27 and 29 may be formed at regular intervals from each other or at random intervals from each other.

상기 제1 및 제2 홀(27, 29) 각각은 위에서 보았을 때, 원형, 타원형, 삼각형, 사각형, 다각형, 불가사리형 등으로 형성될 수 있다.Each of the first and second holes 27 and 29 may be formed in a circle, an ellipse, a triangle, a rectangle, a polygon, a starfish, or the like when viewed from above.

상기 제1 및 제2 홀(27, 29)은 서로 동일한 직경을 갖거나 서로 상이한 직경을 가질 수 있다. 상기 제1 및 제2 홀(27, 29)은 랜덤한 직경을 가질 수 있다. The first and second holes 27 and 29 may have the same diameter or different diameters. The first and second holes 27 and 29 may have random diameters.

상기 제1 파장 변환층(25a)에서 생성된 제2 광은 상기 제2 및 제3 파장 변환층(25b, 25c)을 경유하여 외부로 방출되는데 반해, 상기 제2 파장 변환층(25b)에서 생성된 제3 광은 상기 제3 파장 변환층(25c)을 경유하여 외부로 방출될 수 있다. 따라서, 상기 제2 파장 변환층(25b)에서 생성된 제3 광보다 상기 제1 파장 변환층(25a)에서 생성된 제2 광이 외부로 방출되기가 더 어려울 수 있다. 이러한 경우, 제2 광의 광량이 제3 광의 광량보다 적게 되어 제2 내지 제4 광의 혼합에 의해 원하는 색광을 얻지 못할 수 있다. The second light generated in the first wavelength converting layer 25a is emitted to the outside via the second and third wavelength converting layers 25b and 25c, whereas the second light is generated in the second wavelength converting layer 25b. The third light may be emitted to the outside via the third wavelength conversion layer 25c. Therefore, it may be more difficult for the second light generated by the first wavelength conversion layer 25a to be emitted to the outside than the third light generated by the second wavelength conversion layer 25b. In this case, the amount of light of the second light may be less than the amount of light of the third light, so that the desired color light may not be obtained by mixing the second to fourth lights.

이러한 문제를 해소하기 위해, 상기 제1 파장 변환층(25a)의 상면이 노출되는 제1 홀(27)의 직경을 상기 제2 파장 변환층(25b)의 상면이 노출되는 제2 홀(29)의 직경보다 크도록 형성될 수 있다. 따라서, 제1홀(27)을 통해 제2 광을 보다 많이 외부로 추출되도록 하여 주어, 상기 제2 내지 제4 광의 광량들을 균일하게 유지하여 원하는 색광을 얻을 수 있을 뿐만 아니라 연색 지수를 향상시킬 수 있다.In order to solve this problem, the diameter of the first hole 27 exposing the top surface of the first wavelength conversion layer 25a is increased by the second hole 29 exposing the top surface of the second wavelength conversion layer 25b. It may be formed to be larger than the diameter of. Therefore, the second light is extracted to the outside through the first hole 27 to the outside, and the desired color light can be obtained by maintaining the light amounts of the second to fourth light uniformly, and the color rendering index can be improved. have.

도 7은 제4 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.7 is a sectional view showing a light emitting device according to the fourth embodiment.

제4 실시예는 제1 및 제2 홀(27, 29) 각각에 제1 및 제2 러프니스 구조(roughness structure)(31, 33)를 형성하는 것을 제외하고는 제3 실시예와 거의 유사하다.The fourth embodiment is almost similar to the third embodiment except that first and second roughness structures 31 and 33 are formed in the first and second holes 27 and 29, respectively. .

도 7을 참조하면, 제4 실시예에 따른 발광 소자(10C)는 기판(11), 버퍼층(13), 발광 구조물(15), 둘 이상의 파장 변환층(25a, 25b, 25c) 및 다수의 제1 및 제2 홀(27, 29)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Referring to FIG. 7, the light emitting device 10C according to the fourth embodiment may include a substrate 11, a buffer layer 13, a light emitting structure 15, two or more wavelength conversion layers 25a, 25b, 25c, and a plurality of light emitting elements. It may include, but is not limited to, the first and second holes 27 and 29.

상기 제1 홀(27) 내에 노출된 상기 제1 파장 변환층(25a)의 상면에 제1 러프니스 구조(31)가 형성되고, 상기 제2 홀(29) 내에 노출된 상기 제2 파장 변환층(25b)의 상면에 제2 러프니스 구조(33)가 형성될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. A first roughness structure 31 is formed on an upper surface of the first wavelength conversion layer 25a exposed in the first hole 27, and the second wavelength conversion layer exposed in the second hole 29. The second roughness structure 33 may be formed on the upper surface of 25b, but is not limited thereto.

상기 제1 및 제2 러프니스 구조(31, 33)에 의해 상기 제1 파장 변환층(25a)의 제2 광과 상기 제2 파장 변환층(25b)의 제3 광이 보다 더 용이하게 추출될 수 있다. The second light of the first wavelength conversion layer 25a and the third light of the second wavelength conversion layer 25b may be more easily extracted by the first and second roughness structures 31 and 33. Can be.

도시되지 않았지만, 상기 제1 홀(27) 내부의 제2 및 제3 파장 변환층(25b, 25c)의 내측면이나 상기 제2 홀(29) 내부의 제3 파장 변환층(25c)의 내측면에도 러프니스 구조가 형성될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Although not shown, an inner surface of the second and third wavelength conversion layers 25b and 25c in the first hole 27 or an inner surface of the third wavelength conversion layer 25c in the second hole 29 are illustrated. Roughness structure may be formed, but the present invention is not limited thereto.

도 8은 제5 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.8 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to a fifth embodiment.

제5 실시예는 제1 및 제2 홀(27, 29)의 내측면이 경사면(35)을 갖는 것을 제외하고는 제3 실시예와 거의 유사하다.The fifth embodiment is almost similar to the third embodiment except that the inner surfaces of the first and second holes 27 and 29 have the inclined surface 35.

도 8을 참조하면, 제5 실시예에 따른 발광 소자(10D)는 기판(11), 버퍼층(13), 발광 구조물(15), 둘 이상의 파장 변환층(25a, 25b, 25c) 및 다수의 제1 및 제2 홀(27, 29)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Referring to FIG. 8, the light emitting device 10D according to the fifth embodiment may include a substrate 11, a buffer layer 13, a light emitting structure 15, two or more wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c and a plurality of materials. It may include, but is not limited to, the first and second holes 27 and 29.

상기 제1 홀(27)의 내측면은 제1 경사면(35)을 가질 수 있다. 상기 제1 경사면(35)은 상기 제2 파장 변환층(25b)의 내측면과 상기 제3 파장 변환층(25c)의 내측면에 형성될 수 있다. 상기 제1 경사면(35)은 상기 제1 파장 변환층(25a)의 상면에 대해 경사지도록 형성될 수 있다. The inner side surface of the first hole 27 may have a first inclined surface 35. The first inclined surface 35 may be formed on an inner surface of the second wavelength conversion layer 25b and an inner surface of the third wavelength conversion layer 25c. The first inclined surface 35 may be formed to be inclined with respect to the top surface of the first wavelength conversion layer 25a.

상기 제2 홀(29)의 내측면은 제2 경사면(36)을 가질 수 있다. 상기 제2 경사면(36)은 상기 제3 파장 변환층(25c)의 내측면에 형성될 수 있다. 상기 제2 경사면(36)은 상기 제2 파장 변환층(25b)의 상면에 대해 경사지도록 형성될 수 있다.The inner side surface of the second hole 29 may have a second inclined surface 36. The second inclined surface 36 may be formed on an inner side surface of the third wavelength conversion layer 25c. The second inclined surface 36 may be formed to be inclined with respect to the top surface of the second wavelength conversion layer 25b.

이에 따라, 상기 제1 홀(27)은 상기 제1 파장 변환층(25a)의 상면으로부터 위로 갈수록 그 직경이 커지는 구조로 형성될 수 있다. 상기 제2 홀(29)은 상기 제2 파장 변환층(25b)의 상면으로부터 위로 갈수록 그 직경이 커지는 구조로 형성될 수 있다.Accordingly, the first hole 27 may have a structure in which the diameter of the first hole 27 becomes larger from the top surface of the first wavelength conversion layer 25a. The second hole 29 may have a structure in which the diameter of the second hole 29 increases from the upper surface of the second wavelength conversion layer 25b.

상기 제1 홀(27)의 상부측의 직경은 상기 제2 홀(29)의 상부측의 직경보다 클 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The diameter of the upper side of the first hole 27 may be larger than the diameter of the upper side of the second hole 29, but is not limited thereto.

상기 제1 및 제2 홀(27, 29)의 내면이 경사지도록 형성됨으로써, 상기 제1 및 제2 홀(27, 29)로 추출된 제2 및 제3 광은 상기 제1 및 제2 홀(27, 29)에 의해 더욱 더 확산되어 외부로 방출될 수 있다. 따라서, 제5 실시예에 따른 발광 소자으로로부터 더욱 더 넓은 방사각으로 광이 방출될 수 있다.Since the inner surfaces of the first and second holes 27 and 29 are inclined, the second and third light extracted into the first and second holes 27 and 29 may be formed in the first and second holes ( 27, 29) can be further diffused and released to the outside. Thus, light can be emitted from the light emitting element according to the fifth embodiment at a much wider emission angle.

도 9는 제6 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.9 is a cross-sectional view showing a light emitting device according to a sixth embodiment.

제6 실시예는 제3 파장 변환층(25c) 상에 제3 러프니스 구조(41)를 형성하는 것을 제외하고는 제4 실시예와 거의 유사하다.The sixth embodiment is almost similar to the fourth embodiment except that the third roughness structure 41 is formed on the third wavelength conversion layer 25c.

도 9를 참조하면, 제6 실시예에 따른 발광 소자(10E)는 기판(11), 버퍼충, 발광 구조물(15), 둘 이상의 파장 변환층(25a, 25b, 25c) 및 다수의 제1 및 제2 홀(27, 29)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Referring to FIG. 9, the light emitting device 10E according to the sixth embodiment may include a substrate 11, a buffer fill, a light emitting structure 15, two or more wavelength conversion layers 25a, 25b, and 25c and a plurality of first and second light emitting devices 10E. The second holes 27 and 29 may be included, but are not limited thereto.

상기 제1 홀(27) 내에 노출된 제1 파장 변환층(25a)의 상면에 제1 러프니스 구조(37)가 형성되고, 상기 제2 홀(29) 내에 노출된 제2 파장 변환층(25b)의 상면에 제2 러프니스 구조(39)가 형성될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. A first roughness structure 37 is formed on an upper surface of the first wavelength conversion layer 25a exposed in the first hole 27, and the second wavelength conversion layer 25b exposed in the second hole 29. The second roughness structure 39 may be formed on the upper surface of the), but is not limited thereto.

아울러, 제3 파장 변환층(25c) 상에 제3 러프니스 구조(41)가 형성될 수 있다. 상기 제1 및 제2 홀(27, 29)을 형성한 다음, 상기 제3 파장 변환층(25c)의 전 영역을 대상으로 식각 공정을 수행할 수 있다. 이러한 식각 공정에 의해 상기 제1 홀(27)에 제1 러프니스 구조(37)가 형성되고, 상기 제2 홀(29)에 제2 러프니스 구조(39)가 형성되며, 상기 제3 파장 변환층(25c) 상에 제3 러프니스 구조(41)가 형성될 수 있다. In addition, a third roughness structure 41 may be formed on the third wavelength conversion layer 25c. After forming the first and second holes 27 and 29, an etching process may be performed on the entire region of the third wavelength conversion layer 25c. By the etching process, a first roughness structure 37 is formed in the first hole 27, a second roughness structure 39 is formed in the second hole 29, and the third wavelength conversion is performed. The third roughness structure 41 may be formed on the layer 25c.

이와 같이, 제1 내지 제3 러프니스 구조(37, 39, 41)에 의해 제1 파장 변환층(25a)의 제2 광, 제2 파장 변환층(25b)의 제3 광 및 제3 파장 변환층(25c)의 제4 광을 보다 용이하게 추출할 수 있다.Thus, the second light of the first wavelength conversion layer 25a, the third light and the third wavelength conversion of the second wavelength conversion layer 25b by the first to third roughness structures 37, 39, 41. The fourth light of the layer 25c can be extracted more easily.

도 10은 제7 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 평면도이고, 도 11은 도 10의 발광 소자를 I-I' 라인을 따라 절단한 단면도이다.FIG. 10 is a plan view illustrating a light emitting device according to a seventh embodiment, and FIG. 11 is a cross-sectional view taken along the line II ′ of the light emitting device of FIG. 10.

제7 실시예는 제1 및 제2 전극(43, 45)을 제외하고 제1 실시예와 거의 유사하다.The seventh embodiment is almost similar to the first embodiment except for the first and second electrodes 43 and 45.

제 7 실시예의 제1 및 제2 전극(43, 45)은 제2 내지 제6 실시예에도 동일하게 적용될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The first and second electrodes 43 and 45 of the seventh embodiment may be similarly applied to the second to sixth embodiments, but the embodiment is not limited thereto.

도 10 및 도 11을 참조하면, 제7 실시예에 따른 발광 소자(10F)는 기판(11), 버퍼층(13), 발광 구조물(15) 및 파장 변환층(23)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.10 and 11, the light emitting device 10F according to the seventh embodiment may include a substrate 11, a buffer layer 13, a light emitting structure 15, and a wavelength conversion layer 23. It does not limit about.

제7 실시예에 따른 발광 소자(10F)는 제1 에지 영역에 형성된 제1 그루브(groove)(42)와 제2 에지 영역에 형성된 제2 그루브(44)를 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The light emitting device 10F according to the seventh exemplary embodiment may include, but is not limited to, a first groove 42 formed in the first edge region and a second groove 44 formed in the second edge region. Do not.

도 10에서는 제1 및 제2 그루브(42, 44) 각각 하나씩 형성되는 것을 도시하고 있지만, 다수의 제1 그루브(42)와 다수의 제2 그루브(44)가 형성될 수도 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Although FIG. 10 illustrates that each of the first and second grooves 42 and 44 is formed one by one, a plurality of first grooves 42 and a plurality of second grooves 44 may be formed, but are not limited thereto. Do not.

상기 제1 그루브(42)는 상기 파장 변환층(23), 제2 도전형 반도체층(21) 및 발광층(19)이 부분적으로 제거되어 상기 제1 도전형 반도체층(17)의 일부 영역이 노출되도록 형성될 수 있다.In the first groove 42, the wavelength conversion layer 23, the second conductive semiconductor layer 21, and the light emitting layer 19 are partially removed to expose a portion of the first conductive semiconductor layer 17. It may be formed to.

상기 제2 그루브(44)는 상기 파장 변환층(23)이 부분적으로 제거되어 상기 제2 도전형 반도체층(21)의 일부 영역이 노출되록 형성될 수 있다.The second groove 44 may be formed so that the wavelength conversion layer 23 is partially removed to expose a portion of the second conductive semiconductor layer 21.

상기 제1 그루브(42)의 상기 제1 도전형 반도체층(17) 상에 제1 전극(43)이 형성되고, 상기 제2 그루브(44)의 상기 제2 도전형 반도체층(21) 상에 제2 전극(45)이 형성될 수 있다.A first electrode 43 is formed on the first conductive semiconductor layer 17 of the first groove 42, and on the second conductive semiconductor layer 21 of the second groove 44. The second electrode 45 may be formed.

상기 제1 및 제2 전극(43, 45)은 전기 전도도가 우수한 도전성 물질일 수 있다. 상기 제1 및 제2 전극(43, 45)은 반사 특성이 우수한 반사 물질로 형성될 수 있다. 상기 제1 및 제2 전극(43, 45)은 오믹 콘택층, 배리어층 및 본딩층을 포함하는 다층 구조를 가질 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 상기 오믹 콘택층은 상기 제1 도전형 반도체층(17) 또는 상기 제2 도전형 반도체층(21)과의 오믹 콘택 특성이 우수한 물질로 형성될 수 있다. 상기 배리어층은 상기 제1 또는 제2 도전형 반도체층(21)의 물질이 상기 본딩층으로 확산되거나 상기 본딩층의 물질이 상기 제1 또는 제2 도전형 반도체층(17, 21)으로 확산되는 것을 방지하여 줄 수 있다. 상기 본딩층은 발광 소자 패키지에서 와이어 본딩시 와이어와의 본딩 특성이 우수한 물질로 형성될 수 있다.The first and second electrodes 43 and 45 may be conductive materials having excellent electrical conductivity. The first and second electrodes 43 and 45 may be formed of a reflective material having excellent reflection characteristics. The first and second electrodes 43 and 45 may have a multilayer structure including an ohmic contact layer, a barrier layer, and a bonding layer, but are not limited thereto. The ohmic contact layer may be formed of a material having excellent ohmic contact characteristics with the first conductive semiconductor layer 17 or the second conductive semiconductor layer 21. The barrier layer may be formed by diffusing a material of the first or second conductivity type semiconductor layer 21 into the bonding layer or spreading a material of the bonding layer into the first or second conductivity type semiconductor layers 17 and 21. This can be prevented. The bonding layer may be formed of a material having excellent bonding characteristics with a wire when wire bonding in a light emitting device package.

상기 제1 및 제2 전극(43, 45)은 예컨대 Al, Ti, Cr, Ni, Pt, Au, W, Cu 및 Mo으로 이루어지는 그룹으로부터 선택된 하나 또는 이들의 적층을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The first and second electrodes 43 and 45 may include, for example, one or a stack thereof, selected from the group consisting of Al, Ti, Cr, Ni, Pt, Au, W, Cu, and Mo, but are not limited thereto. I never do that.

도시되지 않았지만, 상기 제1 및 제2 전극(43, 45) 각각의 하부에 전류가 집중되는 것을 방지하기 위한 전류 차단층이 배치될 수 있다. 상기 전류 차단층은 질화물 계열이나 산화물 계열의 절연 물질로 형성되거나 상기 제1 및 제2 전극(43, 45)보다 전기 전도도가 낮거나 저항이 높은 물질로 형성될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Although not shown, a current blocking layer may be disposed to prevent current from being concentrated under each of the first and second electrodes 43 and 45. The current blocking layer may be formed of a nitride-based or oxide-based insulating material or a material having a lower electrical conductivity or higher resistance than the first and second electrodes 43 and 45, but is not limited thereto.

상기 제1 전극(43)은 상기 발광층(19)과의 전기적인 쇼트를 방지하기 위해 상기 발광층(19)과 이격되어 배치될 수 있다. 아울러, 상기 제1 전극(43)의 상면은 상기 발광층(19)의 배면보다 낮은 위치에 배치될 수 있다.The first electrode 43 may be spaced apart from the light emitting layer 19 to prevent electrical short with the light emitting layer 19. In addition, an upper surface of the first electrode 43 may be disposed at a position lower than a rear surface of the emission layer 19.

상기 발광층(19)에서 생성된 제1 광은 상기 제1 전극(43)의 측면에 의해 반사될 수 있다.The first light generated by the emission layer 19 may be reflected by the side surface of the first electrode 43.

상기 제2 전극(45)이 반사 특성이 우수한 반사 물질로 형성되는 경우, 광의 반사 가능성을 확대시키기 위해 상기 제2 전극(45)의 상면이 상기 파장 변환층(23)의 상면보다 높은 위치에 배치될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 상기 파장 변환층(23)에서 생성된 제2 광은 상기 제2 전극(45)의 측면에 의해 반사될 수 있다.When the second electrode 45 is formed of a reflective material having excellent reflection characteristics, the upper surface of the second electrode 45 is disposed at a position higher than the upper surface of the wavelength conversion layer 23 in order to increase the possibility of reflecting light. However, the present invention is not limited thereto. The second light generated by the wavelength conversion layer 23 may be reflected by the side surface of the second electrode 45.

도 12는 제8 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.12 is a sectional view showing a light emitting device according to the eighth embodiment.

제8 실시예는 전류 스프레딩(current spreading)의 기능을 갖는 제3 및 제4 도전형 반도체층(47, 49)을 제외하고 제7 실시예와 거의 유사하다.The eighth embodiment is almost similar to the seventh embodiment except for the third and fourth conductive semiconductor layers 47 and 49 having the function of current spreading.

제 8 실시예의 제3 및 제4 도전형 반도체층(47, 49)은 제2 내지 제6 실시예에도 동일하게 적용될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The third and fourth conductive semiconductor layers 47 and 49 of the eighth embodiment may be similarly applied to the second to sixth embodiments, but the embodiment is not limited thereto.

도 12를 참조하면, 제8 실시예에 따른 발광 소자(10G)는 기판(11), 버퍼층(13), 발광 구조물(15) 및 파장 변환층(23)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Referring to FIG. 12, the light emitting device 10G according to the eighth embodiment may include a substrate 11, a buffer layer 13, a light emitting structure 15, and a wavelength conversion layer 23, but is not limited thereto. Do not.

상기 발광 구조물(15)은 제1 도전형 반도체층(17), 발광층(19) 및 제2 도전형 반도체층(21)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The light emitting structure 15 may include, but is not limited to, a first conductive semiconductor layer 17, a light emitting layer 19, and a second conductive semiconductor layer 21.

상기 제1 도전형 반도체층(17)은 상기 버퍼층(13) 상에 배치되고, 상기 제2 도전형 반도체층(21)은 발광층(19) 상에 배치될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The first conductivity type semiconductor layer 17 may be disposed on the buffer layer 13, and the second conductivity type semiconductor layer 21 may be disposed on the emission layer 19, but is not limited thereto.

상기 제1 및 제2 도전형 반도체층(17, 21)은 캐리어, 정공 및 전자를 생성하기 위해 도펀트를 포함할 수 있다. 예컨대, 상기 제1 도전형 반도체층(17)은 n형 도펀트를 포함하고, 상기 제2 도전형 반도체층(21)은 p형 도펀트를 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The first and second conductivity-type semiconductor layers 17 and 21 may include dopants to generate carriers, holes, and electrons. For example, the first conductivity type semiconductor layer 17 may include an n-type dopant, and the second conductivity type semiconductor layer 21 may include a p-type dopant, but is not limited thereto.

상기 제3 도전형 반도체층(47)은 상기 버퍼층(13)과 상기 제1 도전형 반도체층(17) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제3 도전형 반도체층(47)은 저항을 최소화하여 전류 스프레딩 기능을 갖도록 하기 위해 상기 제1 도전형 반도체층(17)의 도펀트의 농도보다 적어도 큰 농도를 갖는 도펀트를 포함할 수 있다. 상기 제3 도전형 반도체층(47)의 도펀트는 상기 제1 도전형 반도체층(17)의 도펀트와 동일한 극성을 갖거나 상이한 극성을 가질 수 있다.The third conductive semiconductor layer 47 may be disposed between the buffer layer 13 and the first conductive semiconductor layer 17. The third conductive semiconductor layer 47 may include a dopant having a concentration at least greater than that of the dopant of the first conductive semiconductor layer 17 in order to minimize resistance and have a current spreading function. The dopant of the third conductive semiconductor layer 47 may have the same polarity or different polarity as the dopant of the first conductive semiconductor layer 17.

상기 제3 도전형 반도체층(47)의 저항이 상기 제1 도전형 반도체층(17)의 저항보다 작아지므로, 제1 전극(43)으로 공급된 전류가 곧바로 제1 도전형 반도체층(17)으로 흐르지 않고 제3 도전형 반도체층(47)의 전 영역으로 스프레딩된 후 상기 제1 도전형 반도체층(17)으로 흐른다. 이에 따라, 제1 도전형 반도체층(17)의 전 영역으로 균일한 전류(I)가 흐르게 될 수 있다.Since the resistance of the third conductive semiconductor layer 47 becomes smaller than that of the first conductive semiconductor layer 17, the current supplied to the first electrode 43 is immediately transmitted to the first conductive semiconductor layer 17. After spreading to the entire region of the third conductivity-type semiconductor layer 47 without flowing to the first conductivity-type semiconductor layer 17. As a result, a uniform current I may flow to the entire area of the first conductivity-type semiconductor layer 17.

상기 제4 도전형 반도체층(49)은 상기 제2 도전형 반도체층(21)과 상기 파장 변환층(23) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제4 도전형 반도체층(49)은 저항을 최소화하여 전류 스프레딩 기능을 갖도록 하기 위해 상기 제2 도전형 반도체층(21)의 도펀트의 농도보다 적어도 큰 농도를 갖는 도펀트를 포함할 수 있다. 상기 제4 도전형 반도체층(49)의 도펀트는 상기 제2 도전형 반도체층(21)의 도펀트와 동일한 극성을 갖거나 상이한 극성을 가질 수 있다.The fourth conductive semiconductor layer 49 may be disposed between the second conductive semiconductor layer 21 and the wavelength conversion layer 23. The fourth conductive semiconductor layer 49 may include a dopant having a concentration at least greater than that of the dopant of the second conductive semiconductor layer 21 in order to minimize resistance and have a current spreading function. The dopant of the fourth conductive semiconductor layer 49 may have the same polarity or different polarities as the dopant of the second conductive semiconductor layer 21.

상기 제4 도전형 반도체층(49)의 저항이 상기 제2 도전형 반도체층(21)의 저항보다 작아지므로, 제2 전극(45)으로 공급된 전류가 곧바로 제2 도전형 반도체층(21)으로 흐르지 않고 제4 도전형 반도체층(49)의 전 영역으로 스프레딩된 후 상기 제2 도전형 반도체층(21)으로 흐른다. 이에 따라, 제2 도전형 반도체층(21)의 전 영역으로 균일한 전류(I)가 흐르게 될 수 있다.Since the resistance of the fourth conductive semiconductor layer 49 is smaller than the resistance of the second conductive semiconductor layer 21, the current supplied to the second electrode 45 is immediately transmitted to the second conductive semiconductor layer 21. After spreading to the entire area of the fourth conductivity-type semiconductor layer 49 without flowing to the second conductivity-type semiconductor layer 21. As a result, a uniform current I may flow to the entire region of the second conductivity-type semiconductor layer 21.

제2 전극(45)이 제4 도전형 반도체층(49) 상에 배치될 수 있다.The second electrode 45 may be disposed on the fourth conductive semiconductor layer 49.

도 13은 제9 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.13 is a sectional view showing a light emitting device according to the ninth embodiment.

제9 실시예는 제5 반도체층(53)을 제외하고 제8 실시예와 거의 유사하다.The ninth embodiment is almost similar to the eighth embodiment except for the fifth semiconductor layer 53.

도 13을 참조하면, 제9 실시예에 따른 발광 소자(10H)는 기판(11), 버퍼층(13), 발광 구조물(15) 및 파장 변환층(23)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Referring to FIG. 13, the light emitting device 10H according to the ninth embodiment may include, but is not limited to, a substrate 11, a buffer layer 13, a light emitting structure 15, and a wavelength conversion layer 23. Do not.

상기 발광 구조물(15)은 제1 도전형 반도체층(17), 발광층(19) 및 제2 도전형 반도체층(21)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The light emitting structure 15 may include, but is not limited to, a first conductive semiconductor layer 17, a light emitting layer 19, and a second conductive semiconductor layer 21.

상기 버퍼층(13)과 상기 제1 도전형 반도체층(17) 사이에 제3 도전형 반도체층(47)이 배치되고 상기 제2 도전형 반도체층(21)과 상기 파장 변환층(23) 사이에 제4 도전형 반도체층(51)이 배치될 수 있다.A third conductive semiconductor layer 47 is disposed between the buffer layer 13 and the first conductive semiconductor layer 17, and between the second conductive semiconductor layer 21 and the wavelength conversion layer 23. The fourth conductive semiconductor layer 51 may be disposed.

상기 제3 및 제4 도전형 반도체층(47, 51) 각각은 전류 스프레딩 기능을 갖도록 제1 및 제2 도전형 반도체층(17, 21)의 도펀트 농도보다 큰 도펀트 농도를 가질 수 있다.Each of the third and fourth conductive semiconductor layers 47 and 51 may have a dopant concentration greater than that of the first and second conductive semiconductor layers 17 and 21 to have a current spreading function.

아울러, 상기 제4 도전형 반도체층(51) 아래에 제5 반도체층(53)이 배치될 수 있다. 다시 말해, 상기 제5 반도체층(53)은 상기 제2 도전형 반도체층(21)과 상기 제4 도전형 반도체층(51) 사이에 배치될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.In addition, a fifth semiconductor layer 53 may be disposed under the fourth conductive semiconductor layer 51. In other words, the fifth semiconductor layer 53 may be disposed between the second conductive semiconductor layer 21 and the fourth conductive semiconductor layer 51, but is not limited thereto.

상기 제5 반도체층(53)은 전류가 제4 도전형 반도체층(51)의 전 영역으로 스프레딩되기 전에 제2 도전형 반도체층(21)으로 흐르는 것을 방지하여 주는 역할을 할 수 있다. The fifth semiconductor layer 53 may serve to prevent current from flowing into the second conductive semiconductor layer 21 before being spread to all regions of the fourth conductive semiconductor layer 51.

상기 제5 반도체층(53)은 상기 제4 도전형 반도체층(51)의 저항보다 큰 저항을 가질 수 있다. 상기 제5 반도체층(53)은 도펀트를 포함하거나 포함하지 않을 수 있다. The fifth semiconductor layer 53 may have a resistance larger than that of the fourth conductive semiconductor layer 51. The fifth semiconductor layer 53 may or may not include a dopant.

상기 제5 반도체층(53)의 도펀트는 상기 제2 및 제4 도전형 반도체층(47, 51) 중 하나 또는 모두와 동일한 극성을 가질 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The dopant of the fifth semiconductor layer 53 may have the same polarity as one or both of the second and fourth conductive semiconductor layers 47 and 51, but is not limited thereto.

예컨대, 상기 제2 도전형 반도체층(21)은 p형 도펀트를 포함하고, 상기 제5 반도체층(53)은 도펀트를 포함하지 않고, 상기 제4 도전형 반도체층(51)은 n형 도펀트를 포함할 수 있다.For example, the second conductive semiconductor layer 21 may include a p-type dopant, the fifth semiconductor layer 53 may not include a dopant, and the fourth conductive semiconductor layer 51 may include an n-type dopant. It may include.

예컨대, 상기 제2 도전형 반도체층(21)은 p형 도펀트를 포함하고, 상기 제5 반도체층(53)은 p형 도펀트를 포함하고, 상기 제4 도전형 반도체층(51)은 n형 도펀트를 포함할 수 있다.For example, the second conductive semiconductor layer 21 may include a p-type dopant, the fifth semiconductor layer 53 may include a p-type dopant, and the fourth conductive semiconductor layer 51 may be an n-type dopant. It may include.

예컨대, 상기 제2 도전형 반도체층(21)은 p형 도펀트를 포함하고, 상기 제5 반도체층(53)은 n형 도펀트를 포함하고, 상기 제4 도전형 반도체층(51)은 n형 도펀트를 포함할 수 있다.For example, the second conductivity-type semiconductor layer 21 may include a p-type dopant, the fifth semiconductor layer 53 may include an n-type dopant, and the fourth conductivity-type semiconductor layer 51 may be an n-type dopant. It may include.

상기 제5 반도체층(53)의 도펀트 농도는 상기 제2 및 제4 도전형 반도체층(47, 51) 중 적어도 하나의 도펀트 농도보다 작을 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The dopant concentration of the fifth semiconductor layer 53 may be less than the dopant concentration of at least one of the second and fourth conductivity-type semiconductor layers 47 and 51, but is not limited thereto.

이와 같이, 상기 제5 반도체층(53)의 저항을 상기 제4 도전형 반도체층(51)의 저항보다 크게 하여 줌으로써, 전류가 곧바로 제2 도전형 반도체층(21)으로 흐르지 않고 제4 도전형 반도체층(51)의 전 영역으로 스프레딩될 수 있다.In this way, the resistance of the fifth semiconductor layer 53 is made larger than that of the fourth conductivity-type semiconductor layer 51, so that current does not flow directly into the second conductivity-type semiconductor layer 21, but the fourth conductivity-type. It may be spread to the entire region of the semiconductor layer 51.

상기 제5 반도체층(53)의 저항이 크게 되면, 상기 제4 도전형 반도체층(51)의 전 영역으로 스프레딩된 전류가 제2 도전형 반도체층(21)으로 잘 흐르지 못하게 된다. 이러한 문제는 상기 제5 반도체층(53)의 두께를 최소화하여 터널링 효과(tunnel effect)를 이용하여 전류를 용이하게 제2 도전형 반도체층(21)으로 흐르게 할 수 있다. When the resistance of the fifth semiconductor layer 53 is increased, current spreading to the entire area of the fourth conductivity-type semiconductor layer 51 does not easily flow to the second conductivity-type semiconductor layer 21. This problem may minimize the thickness of the fifth semiconductor layer 53 so that current may easily flow to the second conductivity-type semiconductor layer 21 by using a tunneling effect.

예컨대, 상기 제5 반도체층(53)의 두께는 3nm 내지 8nm일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.For example, the thickness of the fifth semiconductor layer 53 may be 3 nm to 8 nm, but is not limited thereto.

제2 전극(45)이 상기 제4 도전형 반도체층(51) 상에 배치될 수 있다. The second electrode 45 may be disposed on the fourth conductive semiconductor layer 51.

도 14는 제10 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.14 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device according to a tenth embodiment.

제10 실시예는 제4 도전형 반도체층(도 12 및 도 13 참조) 대신에 전극층(55)이 형성되는 것을 제외하고 제8 실시예와 거의 유사하다.The tenth embodiment is almost similar to the eighth embodiment except that the electrode layer 55 is formed instead of the fourth conductivity type semiconductor layer (see FIGS. 12 and 13).

제10 실시예의 전극층(55)은 제2 내지 제6 실시예에도 동일하게 적용될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The electrode layer 55 of the tenth embodiment may be similarly applied to the second to sixth embodiments, but is not limited thereto.

도 14를 참조하면, 제10 실시예에 따른 발광 소자(10I)는 기판(11), 버퍼층(13), 발광 구조물(15) 및 파장 변환층(23)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Referring to FIG. 14, the light emitting device 10I according to the tenth embodiment may include, but is not limited to, a substrate 11, a buffer layer 13, a light emitting structure 15, and a wavelength conversion layer 23. Do not.

상기 발광 구조물(15)은 제1 도전형 반도체층(17), 발광층(19) 및 제2 도전형 반도체층(21)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The light emitting structure 15 may include, but is not limited to, a first conductive semiconductor layer 17, a light emitting layer 19, and a second conductive semiconductor layer 21.

상기 제1 도전형 반도체층(17)은 상기 버퍼층(13) 상에 배치되고, 상기 제2 도전형 반도체층(21)은 발광층(19) 상에 배치될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The first conductivity type semiconductor layer 17 may be disposed on the buffer layer 13, and the second conductivity type semiconductor layer 21 may be disposed on the emission layer 19, but is not limited thereto.

상기 버퍼층(13)과 상기 제1 도전형 반도체층(17) 사이에 제3 도전형 반도체층(47)이 배치될 수 있다.A third conductive semiconductor layer 47 may be disposed between the buffer layer 13 and the first conductive semiconductor layer 17.

아울러, 상기 제2 도전형 반도체층(21)과 상기 파장 변환층(23) 사이에 전극층(55)이 배치될 수 있다. In addition, an electrode layer 55 may be disposed between the second conductivity-type semiconductor layer 21 and the wavelength conversion layer 23.

상기 전극층(55)의 제1 영역 상에 상기 파장 변환층(23)이 배치되고 상기 전극층(55)의 제2 영역 상에 제2 전극(45)이 배치될 수 있다. The wavelength conversion layer 23 may be disposed on the first region of the electrode layer 55, and the second electrode 45 may be disposed on the second region of the electrode layer 55.

상기 전극층(55)은 투명한 도전 물질을 포함할 수 있다. 상기 전극층(55)은 상기 제2 도전형 반도체층(21)과의 오믹 특성이 우수하고 전류 스프레딩 특성이 우수한 물질로 형성될 수 있다. 상기 전극층(55)은 ITO, IZO(In-ZnO), GZO(Ga-ZnO), AZO(Al-ZnO), AGZO(Al-Ga ZnO), IGZO(In-Ga ZnO), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au 및 Ni/IrOx/Au/ITO로 이루어지는 그룹으로부터 선택된 적어도 하나를 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The electrode layer 55 may include a transparent conductive material. The electrode layer 55 may be formed of a material having excellent ohmic characteristics and excellent current spreading characteristics with the second conductivity-type semiconductor layer 21. The electrode layer 55 includes ITO, IZO (In-ZnO), GZO (Ga-ZnO), AZO (Al-ZnO), AGZO (Al-Ga ZnO), IGZO (In-Ga ZnO), IrOx, RuOx, RuOx It may include, but is not limited to, at least one selected from the group consisting of / ITO, Ni / IrOx / Au, and Ni / IrOx / Au / ITO.

도 15는 제11 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.15 is a sectional view showing a light emitting device according to the eleventh embodiment.

제11 실시예는 제1 및 제2 전극 유닛을 제외하고 제1 실시예와 거의 유사하다.The eleventh embodiment is almost similar to the first embodiment except for the first and second electrode units.

제 11 실시예의 제1 및 제2 전극 유닛은 제2 내지 제6 실시예에도 동일하게 적용될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The first and second electrode units of the eleventh embodiment may be similarly applied to the second to sixth embodiments, but the embodiment is not limited thereto.

도 15를 참조하면, 제11 실시예에 따른 발광 소자(10J)는 기판(11), 버퍼층(13), 발광 구조물(15) 및 파장 변환층(23)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Referring to FIG. 15, the light emitting device 10J according to the eleventh embodiment may include a substrate 11, a buffer layer 13, a light emitting structure 15, and a wavelength conversion layer 23, but embodiments of the present disclosure are not limited thereto. Do not.

상기 발광 구조물(15)은 상기 버퍼층(13) 상에 배치된 제1 도전형 반도체층(17), 상기 제1 도전형 반도체층(17) 상에 배치된 발광층(19) 및 상기 발광층(19) 상에 배치된 제2 도전형 반도체층(21)을 포함할 수 있다. The light emitting structure 15 may include a first conductive semiconductor layer 17 disposed on the buffer layer 13, a light emitting layer 19 disposed on the first conductive semiconductor layer 17, and the light emitting layer 19. It may include a second conductivity-type semiconductor layer 21 disposed on.

상기 발광 소자의 일 측면 상에 제1 전극 유닛이 배치되고, 상기 발광 소자의 타 측면 상에 제2 전극 유닛이 배치될 수 있다.The first electrode unit may be disposed on one side of the light emitting device, and the second electrode unit may be disposed on the other side of the light emitting device.

상기 제1 및 제2 전극 유닛은 예컨대 Al, Ti, Cr, Ni, Pt, Au, W, Cu 및 Mo으로 이루어지는 그룹으로부터 선택된 하나 또는 이들의 적층을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The first and second electrode units may include, but are not limited to, one or a stack thereof selected from the group consisting of Al, Ti, Cr, Ni, Pt, Au, W, Cu, and Mo, for example.

상기 파장 변환층(23)이 도펀트를 포함하지 않는다면, 상기 파장 변환층(23)은 전기적 발광이 아닌 광학적 발광이므로, 상기 제2 전극 유닛이 상기 파장 변환층(23)의 측면과 상면의 일부 영역 상에 배치될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 상기 제2 전극 유닛이 상기 파장 변환층(23)의 상면에까지 형성하여 줌으로써, 상기 제2 전극 유닛의 부착력을 강화하여 이탈(peel off)을 방지하여 줄 수 있다.If the wavelength conversion layer 23 does not include a dopant, the wavelength conversion layer 23 may be an optical emission instead of an electrical emission, and thus the second electrode unit may have partial regions on the side and top surfaces of the wavelength conversion layer 23. It may be disposed on, but is not limited thereto. By forming the second electrode unit even on the upper surface of the wavelength conversion layer 23, the adhesive force of the second electrode unit may be strengthened to prevent peel off.

상기 제1 전극 유닛은 상기 제1 도전형 반도체층(17)의 일 측면 상에 배치된 제1 전극(43)과 상기 제1 전극(43)으로부터 상기 기판(11)의 배면의 일부 영역까지 연장되는 제1 연결 전극(57)을 포함할 수 있다. 상기 제1 연결 전극(57)은 상기 버퍼층(13)의 측면과 상기 기판(11)의 측면을 경유하여 상기 기판(11)의 배면으로 연장될 수 있다.The first electrode unit extends from the first electrode 43 and the first electrode 43 disposed on one side of the first conductive semiconductor layer 17 to a partial region of the rear surface of the substrate 11. It may include a first connection electrode 57 to be. The first connection electrode 57 may extend to the rear surface of the substrate 11 via the side surface of the buffer layer 13 and the side surface of the substrate 11.

상기 제2 전극 유닛은 상기 제2 도전형 반도체층(21)의 일 측면 상에 배치된 제2 전극(45)과 상기 제2 전극(45)으로부터 상기 기판(11)의 배면의 일부 영역까지 연장되는 제2 연결 전극(59)을 포함할 수 있다. 상기 제2 연결 전극(59)은 상기 발광층(19)의 측면, 상기 제1 도전형 반도체층(17)의 측면 및 상기 기판(11)의 측면을 경유하여 상기 기판(11)의 배면으로 연장될 수 있다. The second electrode unit extends from the second electrode 45 and the second electrode 45 disposed on one side of the second conductive semiconductor layer 21 to a partial region of the rear surface of the substrate 11. The second connection electrode 59 may be included. The second connection electrode 59 may extend to the rear surface of the substrate 11 via a side surface of the light emitting layer 19, a side surface of the first conductive semiconductor layer 17, and a side surface of the substrate 11. Can be.

상기 기판(11)의 배면 상에서 상기 제1 및 제2 연결 전극(57, 59)은 서로 이격되도록 배치될 수 있다.The first and second connection electrodes 57 and 59 may be spaced apart from each other on the rear surface of the substrate 11.

예컨대, 상기 제1 및 제2 연결 전극(57, 59)은 광의 방출의 방해를 최소화하기 위해 라인 형상으로 형성될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. For example, the first and second connection electrodes 57 and 59 may be formed in a line shape in order to minimize interference of emission of light, but the present invention is not limited thereto.

상기 제1 및 제2 전극(43, 45)은 금속 물질로 형성되고, 상기 제1 및 제2 연결 전극(57, 59)은 제10 실시예의 전극층(55)(도 14 참조)과 같이 ITO와 같은 투명한 도전 물질로 형성될 수도 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.The first and second electrodes 43 and 45 may be formed of a metal material, and the first and second connection electrodes 57 and 59 may be formed of ITO and the same as the electrode layer 55 (see FIG. 14) of the tenth embodiment. It may be formed of the same transparent conductive material, but is not limited thereto.

또는, 상기 제1 및 제2 전극(43, 45)과 상기 제1 및 제2 연결 전극(57, 59)은 ITO와 같은 투명 전극층과 광이 투과할 수 있도록 매우 얇은 두께를 갖는 금속층을 포함할 수도 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 상기 금속층은 광이 투과될 수 있도록 수 nm의 두께를 가질 수 있다. 상기 투명 전극층은 금속층을 지지하는 역할을 하고, 상기 금속층은 전기를 공급하는 역할을 할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. Alternatively, the first and second electrodes 43 and 45 and the first and second connection electrodes 57 and 59 may include a transparent electrode layer such as ITO and a metal layer having a very thin thickness to allow light to pass therethrough. Although it may be, it is not limited to this. The metal layer may have a thickness of several nm to transmit light. The transparent electrode layer may serve to support the metal layer, and the metal layer may serve to supply electricity, but is not limited thereto.

상기 제1 및 제2 전극 유닛이 발광층(19)이나 기판(11)과 접하는 것을 방지하기 위해, 상기 제1 및 제2 전극 유닛과 상기 발광층(19) 사이, 상기 제1 및 제2 전극 유닛과 상기 버퍼층(13) 사이 그리고 상기 제1 및 제2 전극 유닛과 상기 기판(11) 사이에 절연층(61)이 배치될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.In order to prevent the first and second electrode units from contacting the light emitting layer 19 or the substrate 11, between the first and second electrode units and the light emitting layer 19, and between the first and second electrode units. An insulating layer 61 may be disposed between the buffer layer 13 and between the first and second electrode units and the substrate 11, but is not limited thereto.

만일 상기 기판(11)이 절연성이 우수한 사파이어로 형성되는 경우, 상기 절연층(61)은 상기 기판(11)을 제외한 상기 발광층(19)의 측면과 상기 버퍼층(13)의 측면 상에 배치될 수 있다.If the substrate 11 is formed of sapphire having excellent insulation property, the insulating layer 61 may be disposed on the side of the light emitting layer 19 and the side of the buffer layer 13 except for the substrate 11. have.

상기 절연층(61)은 상기 발광 구조물(15), 즉 제1 도전형 반도체층(17), 발광층(19) 및 제2 도전형 반도체층(21)의 측면들의 모든 영역에 형성되거나 상기 제1 및 제2 전극 유닛에 대응되도록 형성될 수도 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. The insulating layer 61 is formed on all regions of side surfaces of the light emitting structure 15, that is, the first conductive semiconductor layer 17, the light emitting layer 19, and the second conductive semiconductor layer 21 or the first conductive semiconductor layer 21. And may be formed to correspond to the second electrode unit, but is not limited thereto.

만일 상기 절연층(61)이 상기 발광 구조물(15)의 측면의 모든 영역에 형성되는 경우, 상기 제1 및 제2 전극 유닛은 상기 절연층(61)을 관통하여 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층(17, 21)의 측면들 상에 전기적으로 연결될 수 있다. If the insulating layer 61 is formed in all regions of the side surface of the light emitting structure 15, the first and second electrode units penetrate the insulating layer 61 to form the first and second conductivity types. It may be electrically connected to the side surfaces of the semiconductor layers 17 and 21.

제11 실시예에 따르면, 제1 및 제2 전극 유닛이 기판(11) 아래에 배치되므로, 발광 소자 패키지를 제조할 때, 제1 및 제2 전극 유닛이 발광 소자 패키지의 제1 및 제2 전극층에 직접 연결되므로 별도의 와이어 본딩 공정이 필요하지 않아 제조 공정이 단순해지고 와이어로 인한 광 효율 저하를 방지할 수 있다.According to the eleventh embodiment, since the first and second electrode units are disposed under the substrate 11, when manufacturing the light emitting device package, the first and second electrode units are the first and second electrode layers of the light emitting device package. Because it is directly connected to the wire, no separate wire bonding process is required, which simplifies the manufacturing process and prevents light efficiency from being reduced due to the wire.

제11 실시예에 따르면, 제1 및 제2 전극 유닛이 기판(11) 아래에 배치되므로, 기존에 발광 소자의 상부에 제1 및 제2 전극이 배치되는 구조에 비해 광 손실 최소화로 인해 광 효율이 향상될 수 있다.According to the eleventh embodiment, since the first and second electrode units are disposed under the substrate 11, the light efficiency is minimized due to the minimization of light loss compared to the structure in which the first and second electrodes are disposed on the light emitting device. This can be improved.

도 16은 제12 실시예에 따른 발광 소자를 도시한 단면도이다.16 is a cross-sectional view showing a light emitting device according to a twelfth embodiment.

제12 실시예는 제1 및 제2 전극 유닛이 발광 구조물(15)을 관통하여 배치되는 것을 제외하고 제11 실시예와 거의 유사하다.The twelfth embodiment is almost similar to the eleventh embodiment except that the first and second electrode units are disposed through the light emitting structure 15.

도 16을 참조하면, 제12 실시예에 따른 발광 소자(10K)는 기판(11), 버퍼층(13), 발광 구조물(15) 및 파장 변환층(23)을 포함할 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.Referring to FIG. 16, the light emitting device 10K according to the twelfth embodiment may include, but is not limited to, a substrate 11, a buffer layer 13, a light emitting structure 15, and a wavelength conversion layer 23. Do not.

제1 및 제2 전극 유닛은 기판(11)과 발광 구조물(15)을 관통하여 배치될 수 있다.The first and second electrode units may be disposed through the substrate 11 and the light emitting structure 15.

에컨대, 상기 제1 전극 유닛은 상기 기판(11)과 상기 버퍼층(13)을 관통하여 상기 제1 도전형 반도체층(17)에 접하도록 배치될 수 있다. 상기 제1 전극 유닛은 상기 제2 도전형 반도체층(21)의 일부분을 관통하여 접할 수도 있다. 이러한 경우, 상기 제1 전극 유닛의 상면과 일부 측면이 상기 제2 도전형 반도체층(21)에 접하므로, 보다 전류 공급이 원활할 수 있다. 상기 제1 전극 유닛은 상기 제1 도전형 반도체층(17)의 두께의 0% 내지 90%의 범위로 상기 제1 도전형 반도체층(17)을 관통할 수 있다. For example, the first electrode unit may be disposed to contact the first conductivity-type semiconductor layer 17 through the substrate 11 and the buffer layer 13. The first electrode unit may be in contact with a portion of the second conductivity-type semiconductor layer 21. In this case, since the upper surface and some side surfaces of the first electrode unit are in contact with the second conductivity-type semiconductor layer 21, the current supply may be smoother. The first electrode unit may penetrate the first conductive semiconductor layer 17 in a range of 0% to 90% of the thickness of the first conductive semiconductor layer 17.

만일 상기 제1 전극 유닛이 상기 제1 도전형 반도체층(17)의 90% 이상을 관통하게 되면, 자칫 발광층(19)과 제1 도전형 반도체층(17) 사이에 전기적인 쇼트가 발생될 수 있을 수 있다. If the first electrode unit penetrates 90% or more of the first conductivity type semiconductor layer 17, an electrical short may occur between the light emitting layer 19 and the first conductivity type semiconductor layer 17. There may be.

상기 제1 전극 유닛이 상기 제1 도전형 반도체층(17)의 0%의 관통이라 함은 상기 제1 전극 유닛이 상기 제1 도전형 반도체층(17)의 배면에 접하는 것이고 상기 제1 도전형 반도체층(17)은 전혀 관통되지 않은 것을 의미할 수 있다.When the first electrode unit penetrates through 0% of the first conductive semiconductor layer 17, the first electrode unit is in contact with the rear surface of the first conductive semiconductor layer 17. The semiconductor layer 17 may mean not penetrating at all.

상기 제1 전극 유닛은 상기 기판(11)의 배면의 일 영역 상에 배치된 제1 전극(63)과 상기 제1 전극(63)으로부터 상기 기판(11) 및 상기 버퍼층(13)을 관통하여 상기 제1 도전형 반도체층(17)에 접하는 제1 연결 전극(57)을 포함할 수 있다.The first electrode unit penetrates the substrate 11 and the buffer layer 13 from the first electrode 63 and the first electrode 63 disposed on a region of the rear surface of the substrate 11. The first connection electrode 57 may be in contact with the first conductive semiconductor layer 17.

상기 제2 전극 유닛은 상기 기판(11)의 배면의 타 영역 상에 배치된 제2 전극(65)과 상기 제2 전극(65)으로부터 상기 기판(11), 상기 버퍼층(13), 상기 제1 도전형 반도체층(17) 및 상기 발광층(19)을 관통하여 상기 제2 도전형 반도체층(21)에 접하는 제2 연결 전극(59)을 포함할 수 있다.The second electrode unit includes the substrate 11, the buffer layer 13, and the first electrode from the second electrode 65 and the second electrode 65 disposed on the other region of the rear surface of the substrate 11. A second connection electrode 59 penetrating the conductive semiconductor layer 17 and the light emitting layer 19 to be in contact with the second conductive semiconductor layer 21 may be included.

상기 제1 및 제2 전극 유닛은 발광층(19) 등과 절연되어야 하므로, 제1 및 제2 전극 유닛이 관통되는 관통홀 내면에 절연층(71)이 형성되고, 그 위에 제1 및 제2 전극 유닛이 형성될 수 있다.Since the first and second electrode units must be insulated from the light emitting layer 19, the insulating layer 71 is formed on an inner surface of the through hole through which the first and second electrode units pass, and the first and second electrode units are disposed thereon. This can be formed.

도 17은 실시예에 따른 발광 소자 패키지를 도시한 단면도이다.17 is a cross-sectional view illustrating a light emitting device package according to an embodiment.

도 17을 참조하면, 실시예에 따른 발광 소자 패키지는 몸체(101)와, 상기 몸체(101)에 설치된 제1 리드 전극(103) 및 제2 리드 전극(105)과, 상기 몸체(101)에 설치되어 상기 제1 리드 전극(103) 및 제2 리드 전극(105)으로부터 전원을 공급받는 제1 실시예 및 제2 실시예들에 따른 발광 소자(10)와, 상기 발광 소자(10)를 포위하는 몰딩부재(113)를 포함한다.Referring to FIG. 17, the light emitting device package according to the embodiment may include a body 101, a first lead electrode 103 and a second lead electrode 105 installed on the body 101, and the body 101. A light emitting device 10 according to the first and second embodiments, which is installed and supplied with power from the first lead electrode 103 and the second lead electrode 105, and surrounds the light emitting device 10. It includes a molding member 113.

상기 몸체(101)는 실리콘 재질, 합성수지 재질, 또는 금속 재질을 포함하여 형성될 수 있으며, 상기 발광 소자(10)의 주위에 경사면이 형성될 수 있다.The body 101 may include a silicon material, a synthetic resin material, or a metal material, and an inclined surface may be formed around the light emitting device 10.

상기 제1 리드 전극(103) 및 제2 리드 전극(105)은 서로 전기적으로 분리되며, 상기 발광 소자(10)에 전원을 제공한다.The first lead electrode 103 and the second lead electrode 105 are electrically separated from each other, and provide power to the light emitting device 10.

또한, 상기 제1 및 제2 리드 전극(103, 105)은 상기 발광 소자(10)에서 발생된 빛을 반사시켜 광 효율을 증가시킬 수 있으며, 상기 발광 소자(10)에서 발생된 열을 외부로 배출시키는 역할을 할 수도 있다.In addition, the first and second lead electrodes 103 and 105 may reflect light generated by the light emitting device 10 to increase light efficiency, and heat generated by the light emitting device 10 to the outside. It can also play a role.

상기 발광 소자(10)는 상기 제1 리드 전극(103), 제2 리드 전극(105) 및 상기 몸체(101) 중 어느 하나 위에 설치될 수 있으며, 와이어 방식, 다이 본딩 방식 등에 의해 상기 제1 및 제2 리드 전극(103, 105)에 전기적으로 연결될 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다.The light emitting device 10 may be installed on any one of the first lead electrode 103, the second lead electrode 105, and the body 101. It may be electrically connected to the second lead electrodes 103 and 105, but is not limited thereto.

실시예에서는 한 개의 와이어(109)를 통해 발광 소자(10)를 상기 제1 및 제2 리드 전극(103, 105) 중 하나의 리드 전극에 전기적으로 연결시키는 것이 예시되어 있으나, 이에 한정하지 않고 2개의 와이어를 이용하여 발광 소자(10)를 상기 제1 및 제2 리드 전극(103, 15)에 전기적으로 연결시킬 수도 있으며, 와이어를 사용하지 않고 발광 소자(10)를 상기 제1 및 제2 리드 전극(103, 105)에 전기적으로 연결시킬 수도 있다.In the embodiment, it is illustrated that the light emitting device 10 is electrically connected to one of the first and second lead electrodes 103 and 105 through one wire 109, but is not limited thereto. The light emitting device 10 may be electrically connected to the first and second lead electrodes 103 and 15 using two wires, and the light emitting device 10 may be connected to the first and second leads without using a wire. It may be electrically connected to the electrodes 103 and 105.

상기 몰딩부재(113)는 상기 발광 소자(10)를 포위하여 상기 발광 소자(10)를 보호할 수 있다. 또한, 상기 몰딩부재(113)에는 형광체가 포함되어 상기 발광 소자(10)에서 방출된 광의 파장을 변화시킬 수 있다.The molding member 113 may surround the light emitting device 10 to protect the light emitting device 10. In addition, the molding member 113 may include a phosphor to change the wavelength of light emitted from the light emitting device 10.

실시예에 따른 발광 소자 패키지(200)는 COB(Chip On Board) 타입을 포함하며, 상기 몸체(101)의 상면은 평평하고, 상기 몸체(101)에는 복수의 발광 소자(10)가 설치될 수도 있다.The light emitting device package 200 according to the embodiment includes a chip on board (COB) type, the upper surface of the body 101 is flat, the plurality of light emitting devices 10 may be installed on the body 101. have.

실시예에 따른 발광 소자(10)나 발광 소자 패키지는 라이트 유닛에 적용될 수 있다. 상기 라이트 유닛은 표시 장치와 조명 장치, 예컨대 조명등, 신호등, 차량 전조등, 전광판, 지시등과 같은 유닛에 적용될 수 있다.The light emitting device 10 or the light emitting device package according to the embodiment may be applied to the light unit. The light unit may be applied to a unit such as a display device and a lighting device, for example, a lighting lamp, a traffic light, a vehicle headlight, an electric sign, an indicator lamp.

10, 10A, 10B, 10C, 10D, 10E: 발광 소자
11: 기판
13: 버퍼층
15: 발광 구조물
17: 제1 도전형 반도체층
19: 발광층
21: 제2 도전형 반도체층
23, 25a, 25b, 25c: 파장 변환층
27, 29: 홀
31, 33, 37, 39, 41: 러프니스 구조
35: 경사면
42, 44: 그루브
43, 45, 63, 65: 전극
47: 제3 도전형 반도체층
49, 51: 제4 도전형 반도체층
53: 제5 반도체층
55: 전극층
57, 59, 67, 69: 연결 전극
61, 71: 절연층
10, 10A, 10B, 10C, 10D, 10E: light emitting element
11: substrate
13: buffer layer
15: light emitting structure
17: first conductive semiconductor layer
19: light emitting layer
21: second conductivity type semiconductor layer
23, 25a, 25b, 25c: wavelength conversion layer
27, 29: hall
31, 33, 37, 39, 41: Roughness structure
35: slope
42, 44: groove
43, 45, 63, 65: electrode
47: third conductive semiconductor layer
49, 51: fourth conductive semiconductor layer
53: fifth semiconductor layer
55: electrode layer
57, 59, 67, 69: connection electrode
61, 71: insulation layer

Claims (25)

제1도전형 반도체층과 상기 제1도전형 반도체층 상에 제1발광층과 상기 제1발광층 위에 배치되는 제2도전형 반도체층을 포함하는 발광구조물;
상기 발광구조물의 상면을 덮는 제1파장 변환층;
상기 제1파장 변환층의 상면을 덮는 제2파장 변환층;
상기 제2파장 변환층의 상면을 덮는 제3파장 변환층;
상기 제2파장 변환층 및 상기 제3파장 변환층을 관통하여 상기 제1파장 변환층의 상면을 노출하는 다수의 제1홀; 및
상기 제3파장 변환층을 관통하여 상기 제2파장 변환층의 상면을 노출하는 다수의 제2홀을 포함하고,
상기 제1홀의 직경은 상기 제2홀의 직경보다 큰 발광 소자.
A light emitting structure including a first conductive semiconductor layer and a second conductive semiconductor layer disposed on the first conductive layer and on the first conductive semiconductor layer;
A first wavelength conversion layer covering an upper surface of the light emitting structure;
A second wavelength conversion layer covering an upper surface of the first wavelength conversion layer;
A third wavelength conversion layer covering an upper surface of the second wavelength conversion layer;
A plurality of first holes passing through the second wavelength conversion layer and the third wavelength conversion layer to expose an upper surface of the first wavelength conversion layer; And
A plurality of second holes penetrating the third wavelength conversion layer and exposing an upper surface of the second wavelength conversion layer;
The diameter of the first hole is larger than the diameter of the second hole.
제1항에 있어서,
상기 다수의 제1홀은 서로 일정한 간격으로 형성되고,
상기 다수의 제2홀은 서로 일정한 간격으로 형성되는 발광 소자.
The method of claim 1,
The plurality of first holes are formed at regular intervals from each other,
The plurality of second holes are formed at regular intervals from each other.
제1항에 있어서,
상기 제1홀 내에 노출된 상기 제1파장 변환층의 상면에는 제1러프니스 구조가 형성되고,
상기 제2홀 내에 노출된 상기 제2파장 변환층의 상면에는 제2러프니스 구조가 형성되는 발광 소자.
The method of claim 1,
A first roughness structure is formed on an upper surface of the first wavelength conversion layer exposed in the first hole,
And a second roughness structure formed on an upper surface of the second wavelength conversion layer exposed in the second hole.
제3항에 있어서,
상기 제1홀에 의해 노출된 상기 제2파장 변환층 및 상기 제3파장 변환층의 내측면에는 상기 제1러프니스 구조가 형성되고,
상기 제2홀에 의해 노출된 상기 제3파장 변환층의 내측면에는 상기 제2러프니스 구조가 형성되는 발광 소자.
The method of claim 3,
The first roughness structure is formed on inner surfaces of the second wavelength conversion layer and the third wavelength conversion layer exposed by the first hole,
And a second roughness structure formed on an inner surface of the third wavelength conversion layer exposed by the second hole.
제1항에 있어서,
상기 제1홀의 내측면은 제1경사면을 포함하고,
상기 제2홀의 내측면은 제2경사면을 포함하며,
상기 제1홀은 상기 제1파장 변환층의 상면에서 상기 제3파장 변환층의 상면으로 갈수록 직경이 커지며,
상기 제2홀은 상기 제2파장 변환층의 상면에서 상기 제3파장 변환층의 상면으로 갈수록 직경이 커지는 발광 소자.

The method of claim 1,
The inner side surface of the first hole includes a first sloped surface,
The inner side surface of the second hole includes a second sloped surface,
The first hole has a diameter that increases from an upper surface of the first wavelength conversion layer to an upper surface of the third wavelength conversion layer.
The second hole is a light emitting device of which the diameter increases from the upper surface of the second wavelength conversion layer to the upper surface of the third wavelength conversion layer.

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012042452A2 (en) * 2010-09-29 2012-04-05 Koninklijke Philips Electronics N.V. Wavelength converted light emitting device

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100826379B1 (en) * 2006-08-08 2008-05-02 삼성전기주식회사 monolithic white light emitting device
EP2380216A2 (en) * 2008-12-24 2011-10-26 3M Innovative Properties Company Light generating device having double-sided wavelength converter

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012042452A2 (en) * 2010-09-29 2012-04-05 Koninklijke Philips Electronics N.V. Wavelength converted light emitting device

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