KR101997536B1 - Apparatus for testing circuit integrity, Method thereof, and Computer readable storage medium storing the method - Google Patents

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Abstract

Provided are a circuit integrity test device and a method thereof. The circuit integrity test device comprises: an input/output terminal unit (130) having a test probe (233) connected to a terminal of a power equipment circuit; and a comparison calculation unit (120) executing a circuit conduction test mode for the circuit using an output signal obtained from the input/output terminal unit (130) and determining whether the circuit conduction is performed as a result of the execution.

Description

회로 건전성 시험 장치, 이의 방법, 및 이 방법을 저장한 컴퓨터 판독 가능 저장 매체{Apparatus for testing circuit integrity, Method thereof, and Computer readable storage medium storing the method}Apparatus for testing circuit integrity, Method approximately, and Computer readable storage medium storing the method

본 발명은 회로 건전성 시험 장치에 대한 것으로서, 더 상세하게는 인적실수 및 회로결선 오류에 의한 고장발생 개연성을 원천적으로 제거할 수 있는 회로 건전성 시험 장치 및 방법에 대한 것이다.The present invention relates to a circuit integrity test apparatus, and more particularly, to a circuit integrity test apparatus and method capable of eliminating the probability of failure due to human error and circuit connection error.

설비 운전중 경보시험을 하는 경우, ① 설계도면 및 현장확인, ② 단자전압 측정, ③ 안전조치, ④ 현장시험으로 이루어진다. ①에서, 시험대상의 설계 도면을 활용하여 설계 도면의 단자번호, 케이블 소선번호, 및 현장 결선상태 일치여부를 확인한다. 이때 경보시험용 단자번호 파악을 하고 위험회로(트립회로)에 대해서는 안전조치 필요개소를 확인을 한다. ②에서, 도통시험전에 양단 전압 체크로 경보용 접점 48V를 사전에 확인한다. ③에서, 위험단자측에는 물리적 및 시각적 방호를 위하여 단자대 커버 및 절연테이프를 부착한다. 다양한 현장여건에서도 안전조치가 가능하도록 크기별 단자대 커버를 구비하여야 한다. ④에서, 이후 2인 1조로 도통 시험을 하는데 전원단자와 시험할 경보단자를 도통(COM)하여 경보를 발생시킨다. 도통중인 경보/상태신호는 단자결선을 분리하여 복귀경보를 확인한다.In case of alarm test during facility operation, ① design drawing and site check, ② terminal voltage measurement, ③ safety measure, and ④ field test. In ①, use the design drawing of the test object to check whether the terminal number, the cable burnout number, and the site wiring state match the design drawing. At this time, grasp the terminal number for alarm test and check the necessary points for safety measures for the hazardous circuit (trip circuit). In ②, confirm the alarm contact 48V in advance by checking the voltage at both ends before the conduction test. In (3), the terminal block cover and insulating tape are attached to the dangerous terminal side for physical and visual protection. Size-specific terminal block covers are to be provided to ensure safety measures under various site conditions. In ④, after conducting the conduction test in a pair of two people, the power supply terminal and the alarm terminal to be tested are conducted (COM) to generate an alarm. The alarm / status signal in continuity confirms the return alarm by disconnecting the terminal wiring.

이와 같이 감시/경보 시험을 하는데 있어 아래와 같이 설비가 트립(정지) 될 수 있는 2가지 위험요소가 있다. In this monitoring / alarm test, there are two risk factors that can cause the equipment to trip.

도통시험 전에 테스터로 양단 전압을 확인을 하는데 회로의 분류(감시/경보, 트립, 제어)에 따라 단자대 양단의 전압레벨이 아래 표와 같이 차이가 있다. Before the conduction test, check the voltage at both ends with the tester. The voltage level at both ends of the terminal block differs according to the type of circuit (monitoring / alarm, trip, control) as shown in the table below.

구분division 감시watch 경보Warning 제어Control 트립Trip 전압레벨Voltage level 48V48V 48V48V 24V24V 125V125 V

테스터는 전압, 전류, 저항 모드별로 사용 용도에 맞춰 선택적으로 사용을 하는데, 전압모드 대신 전류 및 저항모드로 잘못 사용한다면 회로가 도통이 될 수 있다. 이러한 장비미숙, 착각 개연성을 원천적으로 예방하기 위해서는 도통시험을 위한 전용 테스터가 필요한 실정이다.The tester is used according to the purpose of use by the voltage, current, and resistance mode, and the circuit may become conductive if the current and resistance mode are used incorrectly instead of the voltage mode. In order to prevent such equipment immature and illusion probabilities, a dedicated tester for conduction test is needed.

또한, 전압확인 후 현장시험을 하는데 있어 경보/감시 회로 대신 시험자의 착각에 의해 위험회로(트립회로)를 도통시킨다면 정전을 유발할 수 있다. 이러한 문제점을 예방하기 위해서는 경보 감시회로만 도통이 되는 전용 시험장치가 필요하다.In addition, in conducting field test after checking voltage, if a dangerous circuit (trip circuit) is conducted by the illusion of the tester instead of the alarm / monitoring circuit, power failure may be caused. In order to prevent this problem, a dedicated test apparatus is required in which only the alarm monitoring circuit is turned on.

1. 한국공개특허번호 제10-2000-0054059호1. Korean Patent Publication No. 10-2000-0054059 2. 한국공개특허번호 제10-2007-0037747호2. Korean Patent Publication No. 10-2007-0037747 3. 한국공개특허번호 제10-2016-0037375호3. Korean Patent Publication No. 10-2016-0037375

본 발명은 위 배경기술에 따른 문제점을 해소하기 위해, 인적실수, 회로결선 오류에 의한 고장발생 개연성을 원천적으로 제거할 수 있는 회로 건전성 시험 장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in an effort to provide a circuit integrity test apparatus and method capable of fundamentally eliminating the probability of failure due to human error or circuit connection error, in order to solve the problems according to the background art.

또한, 본 발명은 경보/감시 회로만 도통이되는 회로 건전성 시험 장치 및 방법을 제공하는데 다른 목적이 있다.It is another object of the present invention to provide a circuit health test apparatus and method in which only an alarm / monitoring circuit is conducted.

본 발명은 위에서 제시된 과제를 달성하기 위해, 인적실수, 회로결선 오류에 의한 고장발생 개연성을 원천적으로 제거할 수 있는 회로 건전성 시험 장치를 제공한다.The present invention provides a circuit integrity test apparatus that can eliminate the probability of failure due to human error, circuit connection error in order to achieve the above problems.

상기 회로 건전성 시험 장치는.The circuit integrity test device is.

전력 설비 회로의 단자에 접속되는 테스트용 프로브를 갖는 입출력 단자부; 및An input / output terminal section having a test probe connected to a terminal of the power equipment circuit; And

상기 입출력 단자부로부터 획득되는 출력 신호를 이용하여 상기 회로에 대한 회로 도통 테스트 모드를 실행하고, 실행 결과 회로 도통 여부를 결정하는 비교 계산부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.And a comparison calculator configured to execute a circuit conduction test mode for the circuit using the output signal obtained from the input / output terminal unit, and determine whether the circuit conduction is performed as a result of the execution.

이때, 상기 회로 도통 테스트 모드는 상기 출력 신호에 따른 입력값과 미리 지정되는 특정 기준 영역 정보를 비교하는 것을 특징으로 한다.In this case, the circuit conduction test mode is characterized in that the input value according to the output signal and the specific reference region information specified in advance.

또한, 상기 입력값은 오류를 방지하기 위해 특정 시간 동안 유지되는 것을 특징으로 할 수 있다.In addition, the input value may be maintained for a specific time to prevent an error.

또한, 상기 특정 기준 영역 정보는 도통할 수 있는 지정 전압 레벨의 선택 또는 사용자의 직접 범위 입력에 의해 생성되는 것을 특징으로 할 수 있다.In addition, the specific reference region information may be generated by selecting a specific voltage level that can be conducted or by directly inputting a range by a user.

또한, 상기 비교 계산부는 상기 테스트용 프로브의 양단에 걸리는 단자 전압만을 계측할 수 있도록 전압계로 기능하는 계측 테스트 모드를 추가로 실행하는 것을 특징으로 할 수 있다.The comparison calculation unit may further include a measurement test mode that functions as a voltmeter so that only the terminal voltage applied to both ends of the test probe can be measured.

또한, 상기 도통 테스트 모드 또는 계측 테스트 모드는 모드 선택 스위치에 의해 선택적으로 실행되는 것을 특징으로 할 수 있다.The conduction test mode or metrology test mode may be selectively executed by a mode selection switch.

또한, 상기 회로 건전성 시험 장치는, 상기 회로 도통 여부를 표시하는 디스플레이;를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.The circuit integrity test apparatus may further include a display configured to display whether the circuit is conductive.

또한, 상기 회로 건전성 시험 장치는, 상기 회로 도통 여부를 출력하는 음향 표시기;를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.The circuit integrity test apparatus may further include an acoustic indicator configured to output whether the circuit is conductive.

또한, 상기 회로 건전성 시험 장치는, 상기 회로 도통 여부를 외부를 전송하는 통신 회로;를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.The circuit integrity test apparatus may further include a communication circuit configured to transmit an outside of the circuit conduction.

또한, 상기 입출력 단자부는, 상기 출력 신호를 분배하여 비교 계산부에 공급하는 분배 회로; 및 상기 분배 회로와 연결되며, 상기 회로 도통을 실행하는 스위칭 회로;를 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.The input / output terminal unit may further include: a distribution circuit for distributing the output signal and supplying the output signal to a comparison calculation unit; And a switching circuit connected to the distribution circuit and configured to perform the circuit conduction.

또한, 상기 스위칭 회로는 보조 계전기인 것을 특징으로 할 수 있다.In addition, the switching circuit may be characterized in that the auxiliary relay.

또한, 상기 스위칭 회로는 상기 출력 신호의 유지 시간 동안내 동작하는 것을 특징으로 할 수 있다.In addition, the switching circuit can be characterized in that the operation during the holding time of the output signal.

다른 한편으로, 본 발명의 다른 일실시예는, (a) 비교 계산부가 전력 설비 회로의 단자에 접속되는 테스트용 프로브를 갖는 입출력 단자부로부터 출력 신호를 획득하는 단계; (b) 상기 비교 계산부가 상기 출력 신호를 이용하여 상기 회로에 대한 회로 도통 테스트 모드를 실행하는 단계; 및 (c) 상기 비교 계산부가 실행 결과, 회로 도통 여부를 결정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 방법을 제공한다.On the other hand, another embodiment of the present invention comprises the steps of: (a) obtaining an output signal from an input / output terminal section having a test probe connected to a terminal of a power equipment circuit; (b) the comparison calculation unit executing a circuit conduction test mode for the circuit using the output signal; And (c) determining, by the comparison calculation unit, a result of execution of the circuit conduction or not.

또 다른 한편으로, 본 발명의 또 다른 실시예는, 위에 기술된 회로 건전성 시험 방법을 실행하는 프로그램 코드를 저장한 컴퓨터 판독 가능 매체를 제공한다.On the other hand, another embodiment of the present invention provides a computer readable medium storing program code for executing the circuit health test method described above.

본 발명에 따르면, 도별 전압측정, 동작시험, 상태판정이 동시 가능토록 원스톱(One-Stop) 통합 기능의 상태/감시 시험전용 테스터를 구현함으로써, 인적실수, 회로결선 오류에 의한 고장발생 개연성을 원천적으로 제거할 수 있다.According to the present invention, by implementing a state / monitoring test-only tester with a one-stop integrated function to enable simultaneous voltage measurement, operation test, and state determination, the probability of failure due to human error or circuit wiring error It can be removed at its source.

또한, 본 발명은 운전중인 설비의 상태/경보 시험시 설계 도면의 오류, 시험자의 오판에 의해 고장이 발생할 수 있는 요인을 최소화할 수 있다는 점을 들 수 있다.In addition, the present invention can be minimized the factors that can cause a failure due to errors in the design drawings, the error of the tester during the state / alarm test of the equipment in operation.

또한, 본 발명은 컴팩트(Compact)化하여 언제 어디서든 시험이 가능하도록 휴대성을 구현할 수 있다는 점을 들 수 있다. In addition, the present invention may be implemented in a compact (Portable) to be able to test anytime, anywhere.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 회로 건전성 시험 장치의 구성 블럭도이다.
도 2는 도 1에 도시된 회로 건전성 시험 장치의 회로도이다.
도 3은 일반적인 감시용 접점의 회로도를 보여주는 개념도이다.
도 4는 일반적인 트립용 접점의 회로도를 보여주는 개념도이다.
도 5는 도 1에 도시된 비교 계산부에 전압 입력값을 처리하는 과정을 보여주는 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 인적실수 방지 프로세스를 보여주는 흐름도이다.
도 7은 도 1에 도시된 회로 건전성 시험 장치에 통신 회로를 추가한 구성 블럭도이다.
1 is a block diagram of a circuit integrity test apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a circuit diagram of the circuit integrity test apparatus shown in FIG. 1.
3 is a conceptual diagram showing a circuit diagram of a general monitoring contact.
4 is a conceptual diagram illustrating a circuit diagram of a general trip contact.
FIG. 5 is a flowchart illustrating a process of processing a voltage input value in the comparison calculator shown in FIG. 1.
6 is a flow chart showing a process for preventing accidental failure according to an embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a block diagram of a communication circuit added to the circuit integrity test apparatus shown in FIG. 1.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 도면에서 표시된 구성요소의 크기 및 상대적인 크기는 설명의 명료성을 위해 과장된 것일 수 있다.Advantages and features of the present invention, and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in various different forms, only the embodiments are to make the disclosure of the present invention complete, and those skilled in the art to which the present invention pertains. It is provided to fully inform the scope of the invention, and the invention is defined only by the scope of the claims. The size and relative size of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity of explanation.

명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭하며, “및/또는”은 언급된 아이템들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다.Like reference numerals refer to like elements throughout, and “and / or” includes each and all combinations of one or more of the items mentioned.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시 예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 “포함한다” 및/또는 “구성된다”는 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. In this specification, the singular also includes the plural unless specifically stated otherwise in the phrase. As used herein, the words “comprises” and / or “consisting of” components, steps, operations and / or elements mentioned do not exclude the presence or addition of one or more other components, steps, operations and / or elements. .

비록 제1, 제2 등의 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 대해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소와 구별하기 위하여 사용되는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제 1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.Although used to describe various components such as first and second, these components are of course not limited to these terms. These terms are only used to distinguish one component from another. Therefore, of course, the first component mentioned below may be the second component within the technical spirit of the present invention.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않은 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used in the present specification may be used in a sense that can be commonly understood by those skilled in the art. In addition, the terms defined in the commonly used dictionaries are not ideally or excessively interpreted unless they are specifically defined clearly.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 회로 건전성 시험 장치 및 방법을 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, a circuit integrity test apparatus and method according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 회로 건전성 시험 장치(100)의 구성 블럭도이다. 도 1을 참조하면, 회로 건전성 시험 장치(100)는, 전원 공급기(110), 전원 공급기(110)로부터 전원을 공급받아 동작하는 비교 계산부(120), 전력 설비 회로의 단자에 접속되는 입출력 단자부(130) 등을 포함하여 구성될 수 있다.1 is a block diagram of a circuit integrity test apparatus 100 according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, the circuit integrity test apparatus 100 includes a power supply 110, a comparison calculation unit 120 that operates by receiving power from the power supply 110, and an input / output terminal connected to a terminal of a power equipment circuit. 130 and the like.

전원 공급기(110)는 외부 사용 전원을 공급받아 DC(Direct Current) 전압으로 변환하여 비교 계산부(120)에 공급한다. 물론, 전원 공급기(110)를 충전 배터리로 구성하여 충전하는 것도 가능하다.The power supply 110 receives external use power and converts the DC power into a direct current (DC) voltage and supplies it to the comparison calculator 120. Of course, it is also possible to charge the power supply 110 by configuring a rechargeable battery.

비교 계산부(120)는 상기 입출력 단자부(130)로부터 획득되는 출력 신호를 이용하여 상기 회로에 대한 회로 도통 테스트 모드를 실행하고, 실행 결과 회로 도통 여부를 결정하는 기능을 수행한다.The comparison calculation unit 120 executes a circuit conduction test mode for the circuit by using the output signal obtained from the input / output terminal unit 130 and performs a function of determining whether the circuit conduction is performed as a result.

입출력 단자부(130)는 전력 설비 회로의 단자에 직접 접속시키는 부분이다. 부연하면, 앞단에 테스트용 프로브가 구성되며, 이 테스트용 프로브의 양단이 전력 설비 회로의 단자에 접속된다. 전력 설비 회로는 발전소나 변전소 등에 설치되며, 발전기(generator), 변압기(Transformer), 개폐장치(Switchgear) 등 다양한 전력기기를 포함하고 있다.The input / output terminal portion 130 is a portion directly connected to the terminal of the power equipment circuit. In other words, a test probe is configured at the front end, and both ends of the test probe are connected to terminals of the power equipment circuit. Power facility circuits are installed in power plants, substations, etc., and include various power devices such as generators, transformers, and switchgears.

일반적으로 전력설비 신/증설 후 설비의 개체 특성시험, 타 설비와의 연동시험, 경보동작 시험 및 조작시험 등 여러 시험항목을 통해 설비의 건전성 유무를 확인한다. 그 중 원격 감시/제어 설비 교체시 차단기, 단로기 등 기기 조작시험과 현장설비 경보회로 동작 및 아날로그 값 표시 정상여부를 아래표와 같이 시험한다.In general, the integrity of equipment is verified through various test items such as individual characteristics test of equipment, interlocking test with other equipment, alarm operation test, and operation test after new / expansion of power equipment. Among them, when replacing remote monitoring / control equipment, test the operation of equipment such as breaker and disconnector, the operation of field equipment alarm circuit and normal display of analog values as shown in the table below.

시험종류Test Type 시험내용Exam Content 감시·경보 시험Monitoring and alarm test 현장설비 설비의 상태(ON, OFF), 경보발생시 동작사항 정상 여부를 원격에서 확인 Remotely check the status of on-site facilities (ON, OFF) and normal operation in case of alarm 제어시험Control test 현장에서 설비 조작시 기기 상태 변화의 원격감시 정상여부 및 원격에서 현장기기 조작시 정동작 여부 확인Remote monitoring of device status change when operating equipment on site and normal operation when operating on-site equipment at remote site 계측시험Measurement test 현장에서 취득되는 Analog(kV, A, MW, MVAR 등)의 정상 표시 여부Whether the analog (kV, A, MW, MVAR, etc.) acquired in the field is displayed normally

여기서, VAR는 Volt-Ampere Reactive를 나타낸다. Here, VAR represents Volt-Ampere Reactive.

상기 시험 중 감시/경보시험은 현장설비(GIS(Gas-Insulated Switch), 변압기, 보호 배전반 등)의 상태(ON, OFF) 변화 및 이상발생시 경보 발생여부를 원격(감시실, 급전분소)에서 확인할 수 있는지 점검하는 것을 목적으로 한다. The monitoring / alarm test during the test is to check the status (ON, OFF) of the field equipment (GIS (Gas-Insulated Switch), transformer, protection switchboard, etc.) and alarm in case of abnormality in the remote (monitor room, power supply branch). The purpose is to check if it can.

도 2는 도 1에 도시된 회로 건전성 시험 장치(100)의 회로도이다. 도 2를 참조하면, 전원 공급기(110)는 외부 전원이 인가되면 마이크로프로세서를 구동시키기 위해 적정한 전압으로 변환하는 DC 레귤레이터(212)를 포함한다. 물론, 외부 전원을 차단하기 위한 차단 스위치(211)가 구성될 수 있다.FIG. 2 is a circuit diagram of the circuit integrity test apparatus 100 shown in FIG. 1. Referring to FIG. 2, the power supply 110 includes a DC regulator 212 that converts to an appropriate voltage to drive a microprocessor when external power is applied. Of course, a disconnect switch 211 may be configured to block external power.

비교 계산부(120)는 DC 레귤레이터(212)로부터 안정적인 전원을 공급받아 동작하는 마이크로프로세서 유닛(223)을 포함한다. 마이크로프로세서 유닛(223)은 아두이노(ARDUINO) 프로그램 등을 활용하여 소스 코드가 입력되며, 이러한 소스 코드에 따라 동작, 제어 등을 수행한다. The comparison calculator 120 includes a microprocessor unit 223 that operates by receiving a stable power from the DC regulator 212. The microprocessor unit 223 inputs source code using an ARDUINO program and the like, and performs an operation, control, and the like according to the source code.

또한, 비교 계산부(120)는 도통 테스트 모드 또는 계측 테스트 모드를 선택하는 모드 선택 스위치(221)를 포함할 수 있다. 도통 테스트 모드는 입출력 단자부(130)로부터 획득되는 출력 신호에 따른 입력값과 미리 지정되는 특정 기준 영역 정보를 비교하여 회로 도통 여부를 결정한다. 계측 테스트 모드는 테스트용 프로브(233)의 양단에 걸리는 단자 전압만을 계측할 수 있도록 전압계로 기능한다.In addition, the comparison calculator 120 may include a mode selection switch 221 for selecting a conduction test mode or a measurement test mode. The conduction test mode determines whether circuit conduction is performed by comparing an input value according to an output signal obtained from the input / output terminal unit 130 with specific reference region information specified in advance. The measurement test mode functions as a voltmeter so that only the terminal voltage across the test probe 233 can be measured.

입출력 단자부(130)는, 전력 설비 회로의 단자에 양단(+,-)이 접속되는 테스트용 프로브(233), 출력 신호를 분배하여 비교 계산부(120)에 공급하는 분배 회로(232), 상기 분배 회로(232)와 연결되며, 상기 회로 도통를 실행하는 스위칭 회로(231) 등을 포함하여 구성된다. The input / output terminal unit 130 includes a test probe 233 having both ends (+,-) connected to terminals of the power equipment circuit, a distribution circuit 232 for distributing an output signal and supplying the output signal to the comparison calculation unit 120. It is connected to the distribution circuit 232, and comprises a switching circuit 231 for performing the circuit conduction.

분배 회로(232)는 제1저항(R1) 및 제2저항(R2)으로 구성되며, 테스트용 프로브(233)와 제1저항(R1)사이에 정다이오드가 설치된다.The distribution circuit 232 includes a first resistor R1 and a second resistor R2, and a positive diode is provided between the test probe 233 and the first resistor R1.

스위칭 회로(231)는 보조 계전기(RELAY)가 될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니고, FET(Field Effect Transistor), MOSFET(Metal Oxide Semiconductor FET), IGBT(Insulated Gate Bipolar Mode Transistor), 파워 정류 다이오드 등과 같은 반도체 스위칭 소자, 사이리스터, GTO(Gate Turn-Off) 사이리스터, TRIAC(Triode for alternating current), SCR(Silicon Controlled Rectifier), I.C(Integrated Circuit) 회로 등이 사용될 수 있다. 특히, 반도체 소자의 경우 바이폴라, 전력 MOSFET(Metal Oxide Silicon Field Effect Transistor) 소자 등이 사용될 수 있다. 전력 MOSFET 소자는 고전압 고전류 동작으로 일반 MOSFET와 달리 DMOS(Double-Diffused Metal Oxide Semiconductor) 구조를 갖는다.The switching circuit 231 may be an auxiliary relay (RELAY), but is not limited thereto, and may include a field effect transistor (FET), a metal oxide semiconductor FET (FET), an insulated gate bipolar mode transistor (IGBT), a power rectifying diode, and the like. The same semiconductor switching element, thyristor, gate turn-off (GTO) thyristor, triode for alternating current (TRIAC), silicon controlled rectifier (SCR), integrated circuit (IC) circuit, and the like may be used. In particular, in the case of a semiconductor device, a bipolar, a metal oxide silicon field effect transistor (MOSFET) device, or the like may be used. The power MOSFET device has a double-diffused metal oxide semiconductor (DMOS) structure, unlike ordinary MOSFETs, with high voltage and high current operation.

도통 테스트를 하기 위해 (+), (-) 테스트용 프로브(233)를 전력 설비 회로의 단자대에 접속을 하면 전압 입력값이 전압 분배 회로(Voltage Divider)(232)를 거쳐서 MPU(223)에 입력이 된다. 측정 흔들림에 의한 오류를 방지하기 위해 약 1초 동안 전압 입력값이 유지되어야 하고, 이후 입력된 입력 신호가 MPU(223)에서 설정한 전압치 범위에 있으면 보조 계전기(Relay)의 코일을 여자 시켜서 화살표와 같이 접점이 단락되어 회로가 구성된다. 그러나 입력된 입력 신호가 지정 전압 범위를 벗어나면 양단에 걸리는 저항치가 수MΩ(R1+R2)에 이르기 때문에 회로가 도통되지 않는다. When the positive and negative test probes 233 are connected to the terminal block of the power equipment circuit for the conduction test, the voltage input value is input to the MPU 223 via the voltage divider 232. Becomes In order to prevent errors due to measurement shaking, the voltage input value should be maintained for about 1 second. If the input signal is within the voltage value set by the MPU 223, the coil of the auxiliary relay will be excited and the arrow The contact is short-circuited to form a circuit. However, if the input signal is out of the specified voltage range, the resistance across the circuit will reach several MΩ (R1 + R2), so the circuit will not conduct.

비교 계산부(120)에서 보조 계전기(Relay)가 도통할 수 있는 지정 전압레벨을 설정하기 위해서는 MPU(223)에 직접 입력시킬 수 있고, 또는 선택 스위치(Select Switch)(미도시)를 통해 미리 입력된 전압레벨을 선택할 수도 있다. In order to set a predetermined voltage level at which the auxiliary relay can conduct in the comparison calculation unit 120, it may be directly input to the MPU 223, or may be input in advance through a select switch (not shown). The selected voltage level can also be selected.

회로 건전성 시험 장치(100)는 회로 도통이 이루어지면 이를 사용자가 알 수 있도록 알람기능을 위해 음향으로 출력하는 음향 표시기(250)를 포함할 수 있다. 음향 표시기(250)는 부저(Buzzer)가 될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니고 소형 스피커 등도 가능하다.The circuit integrity test apparatus 100 may include an acoustic indicator 250 that outputs a sound for an alarm function so that a user may know when the circuit conduction is made. The sound indicator 250 may be a buzzer, but is not limited thereto, and a small speaker may also be used.

또한, 회로 건전성 시험 장치(100)는 프로브 양단 전압, 선택된 전압레벨, 도통여부 등 각종 정보를 표시하는 디스플레이(200)를 포함할 수 있다.In addition, the circuit integrity test apparatus 100 may include a display 200 for displaying various types of information such as a voltage across a probe, a selected voltage level, and whether or not to conduct.

디스플레이(200)는 LCD(Liquid Crystal Display), LED(Light Emitting Diode) 디스플레이, PDP(Plasma Display Panel), OLED(Organic LED) 디스플레이, 터치 스크린, 플렉시블 디스플레이 등이 될 수 있다. The display 200 may be a liquid crystal display (LCD), a light emitting diode (LED) display, a plasma display panel (PDP), an organic LED (OLED) display, a touch screen, a flexible display, or the like.

도 3은 일반적인 감시용 접점의 회로도를 보여주는 개념도이다. 도 3을 참조하면, 감시용 접점의 경우 RTU(Remote Terminal Unit)(300)로부터 1번 단자, 2번 단자에 각각 24V, -24V(전위차 48V) 인가가 되고, 86T가 동작을 한 경우에는 전력 설비 회로(310)가 도통이 된다. 이때 32번 단자와 38번 단자 사이의 전압이 0이 되어 폐회로가 구성되어, 86T가 동작 되었다는 경보를 원격으로 RTU로 내보낸다. 만약 86T가 동작이 안 된 경우에는 32번 단자와 38번 단자 사이에 회로가 구성이 되지 않기 때문에 어떠한 경보도 내보내지 않는다. 3 is a conceptual diagram showing a circuit diagram of a general monitoring contact. Referring to FIG. 3, in the case of a monitoring contact, 24V and -24V (potential difference 48V) are respectively applied to terminal 1 and terminal 2 from the RTU (Remote Terminal Unit) 300, and when 86T operates, power is applied. The facility circuit 310 becomes conductive. At this time, the voltage between terminal 32 and terminal 38 becomes zero, and the closed circuit is formed, and the alarm that the 86T is operated is sent to the RTU remotely. If the 86T does not work, no alarm is issued because the circuit is not configured between the 32 and 38 terminals.

도 4는 일반적인 트립용 접점의 회로도를 보여주는 개념도이다. 도 4를 참조하면, 트립 접점의 경우 GIS(가스절연개폐장치)로부터 1번 단자, 61번 단자에 각각 62.5V, -62.5V(전위차 125V) 인가가 되고, 86T가 동작이 되면 회로가 도통이 된다. 이때 1번 단자와 61번 단자 사이의 전압이 0이 되고 폐회로가 구성되어, 125V 전압은 52TC(TRIPCOIL)을 여자를 시켜 GIS(440)의 차단기(441)가 개방 동작을 하게 된다. 4 is a conceptual diagram illustrating a circuit diagram of a general trip contact. Referring to FIG. 4, in the case of a trip contact, 62.5V and -62.5V (potential difference 125V) are applied to terminal 1 and terminal 61 from the GIS (Gas Insulated Switchgear), and the circuit is turned on when 86T is operated. do. At this time, the voltage between terminal 1 and terminal 61 becomes 0 and the closed circuit is configured, and the 125V voltage excites 52TC (TRIPCOIL) so that the circuit breaker 441 of the GIS 440 opens.

도 3 및 도 4를 참조하여 부연하면, 도 3의 경우 감시용 접점은 도통이 되면 경보신호만 원격으로 내보내지만, 도 4의 경우, 트립용 접점에서 도통이 되면 실제로 차단기가 개방이 되는 차이점이 있다. 정상적인 경보시험시에는 도 3의 경우 감시용 접점의 32번 단자와 38번 단자를 도통시켜서 원격으로 경보신호가 올라오는 여부를 통해 회로결선 상태, 경보출력 적정여부 등을 확인한다. 그러나 시험자의 실수로 1번 단자와 61번 단자를 도통 시킨다면 트립코일을 여자를 시켜 차단기가 개방 동작을 하게 되는 것이다. 3 and 4, in the case of FIG. 3, only the alarm signal is sent remotely when the monitoring contact is turned on, but in FIG. 4, the breaker is actually opened when the contact is turned on in the trip contact. have. In the normal alarm test, in case of Fig. 3, the terminal 32 and 38 of the monitoring contact are connected to each other to check the circuit connection status and the appropriateness of the alarm output through the alarm signal coming up remotely. However, if terminal 1 and terminal 61 are inadvertently conducted by the tester, the breaker will open by tripping the trip coil.

따라서, 전압확인 후 현장시험을 하는데 있어 경보/감시 회로 대신 시험자의 착각에 의해 위험회로(트립회로)를 도통시킨다면 정전을 유발할 수 있다. Therefore, in conducting field test after voltage check, if a dangerous circuit (trip circuit) is conducted by the tester's illusion instead of an alarm / monitoring circuit, power failure may be caused.

이러한 문제점을 예방하기 위해서 본 발명의 일실시예에서는 경보/감시회로만 도통이 되게 한다. In order to prevent this problem, in one embodiment of the present invention, only the alarm / monitoring circuit is turned on.

도 5는 도 1에 도시된 비교 계산부(120)에 전압 입력값을 처리하는 과정을 보여주는 흐름도이다. 프로브를 활용하여 시험 단자대에 접촉을 하는데, 손떨림 보정 등 안정적인 시험을 위해 일정시간 동안 접촉이 유지된 후(500ms) 전압측정치가 범위내에 있으면, 보조계전기(Relay)가 500ms 동안 동작하는 원리이다. 5 is a flowchart illustrating a process of processing a voltage input value to the comparison calculator 120 shown in FIG. 1. A probe is used to make contact with the test terminal block. If the voltage measurement is within the range after the contact is maintained for a certain time (500ms) for a stable test such as image stabilization, the relay operates for 500ms.

도 5를 참조하면, 비교 계산부(120)는 입출력 단자부(130)로부터의 전압 입력값을 받아 이를 일정시간 유지를 해야 회로가 동작한다.(단계 S510). Referring to FIG. 5, the comparison calculator 120 receives a voltage input value from the input / output terminal unit 130 and maintains it for a predetermined time to operate the circuit (step S510).

이후, 비교 계산부(120)는 사용자가 지정한 특정 전압영역에 대해서만 마이크로컨트롤러 유닛(223)에서 출력신호를 내보내고, 그 지정 전압영역 외에서는 출력신호를 내보내지 않는다(단계 S520). 부연하면, 사용자가 지정한 특정 전압영역은 최소 전압과 최대 전압으로 설정된다. 따라서, 전압 입력값이 이러한 최소전압과 최대전압 범위내에 있으면 출력신호를 내보내고, 이러한 범위를 벗어나면 출력신호를 내보내지 않는다.Thereafter, the comparison calculator 120 outputs an output signal from the microcontroller unit 223 only to a specific voltage region designated by the user, and does not output an output signal outside the designated voltage region (step S520). In other words, the specific voltage range specified by the user is set to the minimum voltage and the maximum voltage. Therefore, if the voltage input value is within these minimum and maximum voltage ranges, the output signal is emitted. If it is out of this range, no output signal is output.

입출력 단자부(130)는 비교 계산부(120)로부터 출력신호 수신시 보조 계전기가 동작하여 회로가 도통하게 하는 역할을 하고, 지정 전압영역을 벗어나는 전압에 대해서는 동작을 하지 않는다(단계 S530). 물론, 입력값 유지 시간(약 500ms)과 보조 계전기 동작 시간(약 500ms)은 서로 동일하게 설정되는 것이 바람직하나, 서로 다르게 설정하는 것도 가능하다.When the output signal is received from the comparison calculation unit 120, the input / output terminal unit 130 operates the auxiliary relay to conduct the circuit, and does not operate the voltage outside the specified voltage range (step S530). Of course, the input value holding time (about 500 ms) and the auxiliary relay operating time (about 500 ms) are preferably set to be the same, but it is also possible to set differently.

도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 인적실수 방지 프로세스를 보여주는 흐름도이다. 도 6을 참조하면, 2단계 인적실수 방지 프로세스가 구현된다. 첫 번째로 전압모드로 테스터 기능 설정을 해서, 테스터기 전류모드 및 저항모드로 측정시 전류가 흐를 수 있는 요인을 제거한다. 그리고 두 번째로 사전에 지정한 지정전압 범위에서 도통될 수 있도록 회로를 구성한다. 6 is a flow chart showing a process for preventing accidental failure according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 6, a two-step accident prevention process is implemented. First, the tester function is set to voltage mode, eliminating factors that can cause current to flow in the tester current mode and resistance mode. Secondly, the circuit is configured to be conducted in a predetermined voltage range.

도 6을 계속 참조하며, 회로 건전성 시험 장치(100)를 대상 전력 설비 회로측에 설치하고, 양단 전압이 감시/경보회로가 도통할 수 있는 지정전압 범위을 벗어나는지를 확인한다(단계 S610,S620).With continued reference to FIG. 6, the circuit integrity test apparatus 100 is installed on the target power equipment circuit side, and it is checked whether the voltage at both ends thereof is outside the specified voltage range that the monitoring / alarm circuit can conduct (steps S610 and S620).

단계 S620에서 양단 전압이 적정하지 않으면 경보회로가 아님을 인식하여 시험을 중지하고 전력 설비 회로의 설계 도면 및 단자번호를 재확인한다(단계 S621).If the voltage at both ends is not appropriate in step S620, it is recognized that it is not an alarm circuit, the test is stopped, and the design drawing and the terminal number of the power equipment circuit are reconfirmed (step S621).

이와달리, 단계 S620에서 양단 전압이 적정하면, 회로가 지정전압에서 도통하는지를 판단한다(단계 S630). 단계 S630에서 전력 설비 회로가 지정전압을 벗어나는 경우 경보회로가 아님을 인식하여 시험을 중지하고 도면 및 단자번호를 재확인한다(단계 S621).On the other hand, if the voltage at both ends is appropriate in step S620, it is determined whether the circuit is conducted at the specified voltage (step S630). If the power equipment circuit is out of the specified voltage in step S630 to recognize that it is not an alarm circuit, the test is stopped and the drawings and terminal numbers are reconfirmed (step S621).

이와달리, 단계 S630에서 전력 설비 회로가 지정전압범위 내에 있는 경우 자동화 시험을 시작한다(단계 S640). In contrast, when the power equipment circuit is within the specified voltage range in step S630, an automated test is started (step S640).

부연하면, 감시/경보 회로의 전압영역인 48V 대역에서는 도통을 하고, 그 외 트립회로 전압영역인 125V에서는 동작을 하지 않는 것이다. 아울러 디스플레이를 통해, 전압값, 회로 도통여부를 표시하는 기능을 구비하고 회로 정상 동작시에는 부저음을 발생한다. 따라서, 용도별 전압측정, 동작시험, 상태판정이 동시 가능한 One Stop 통합 기능을 구현가능하다.In other words, conduction is conducted in the 48V band which is the voltage region of the monitoring / alarm circuit, and operation is not performed in 125V which is the other trip circuit voltage region. In addition, the display has a function of displaying the voltage value and the circuit conduction, and generates a buzzer sound during the normal operation of the circuit. Therefore, it is possible to implement a one-stop integration function that can simultaneously use voltage measurement, operation test, and status determination.

도 7은 도 1에 도시된 회로 건전성 시험 장치(100)에 통신 회로(710)를 추가한 구성 블럭도이다. 도 7을 참조하면, IoT(Internet of Things) 기술을 접목하여 통신 회로(710)를 통해 시험 내역 및 결과 정보를 자동으로 원격 전송할 수 있다.FIG. 7 is a block diagram in which a communication circuit 710 is added to the circuit integrity test apparatus 100 shown in FIG. 1. Referring to FIG. 7, the test history and the result information may be automatically transmitted through the communication circuit 710 by incorporating IoT (Internet of Things) technology.

통신 회로(710)는 유선 및/또는 무선 통신 네트워크와 연결되어 시험 내역 및 결과 정보를 외부로 전송한다. 네트워크는, 복수의 단말 및 서버들과 같은 각각의 노드 상호 간에 정보 교환이 가능한 연결 구조를 의미하는 것으로, 이러한 네트워크의 일 예에는 3GPP(3rd Generation Partnership Project) 네트워크, LTE(Long Term Evolution) 네트워크, 5GPP(5rd Generation Partnership Project) 네트워크, WIMAX(World Interoperability for Microwave Access) 네트워크, 인터넷(Internet), LAN(Local Area Network), Wireless LAN(Wireless Local Area Network), WAN(Wide Area Network), PAN(Personal Area Network), Wibro(Wireless Broadband), WiFi(Wireless Fidelity), HSDPA(High Speed Downlink Packet Access), 블루투스(Bluetooth) 네트워크, NFC(Near Field Communication) 네트워크, 위성 방송 네트워크, 아날로그 방송 네트워크, DMB(Digital Multimedia Broadcasting) 네트워크 등이 포함되나 이에 한정되지는 않는다. The communication circuit 710 is connected to a wired and / or wireless communication network to transmit test details and result information to the outside. The network refers to a connection structure capable of exchanging information between respective nodes such as a plurality of terminals and servers. Examples of such a network include a 3rd Generation Partnership Project (3GPP) network, a Long Term Evolution (LTE) network, 5th Generation Partnership Project (5GPP) Network, World Interoperability for Microwave Access (WIMAX) Network, Internet, Local Area Network (WLAN), Wireless Local Area Network (WLAN), Wide Area Network (WAN), Personal (PAN) Area Network, Wibro (Wireless Broadband), WiFi (Wireless Fidelity), HSDPA (High Speed Downlink Packet Access), Bluetooth (Bluetooth) Network, Near Field Communication (NFC) Network, Satellite Broadcast Network, Analog Broadcast Network, DMB (Digital) Multimedia Broadcasting) network, etc., but is not limited thereto.

또한, 여기에 개시된 실시형태들과 관련하여 설명된 방법 또는 알고리즘의 단계들은, 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 (명령) 코드, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. In addition, the steps of a method or algorithm described in connection with the embodiments disclosed herein may be embodied in a program instruction form that can be executed by various computer means and recorded in a computer-readable medium. The computer readable medium may include program (instruction) code, data file, data structure, etc. alone or in combination.

상기 매체에 기록되는 프로그램 (명령) 코드는 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프 등과 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD, 블루레이 등과 같은 광기록 매체(optical media) 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 (명령) 코드를 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 반도체 기억 소자가 포함될 수 있다. The program (command) code recorded on the medium may be those specially designed and configured for the present invention, or may be known and available to those skilled in computer software. Examples of computer-readable recording media include magnetic media such as hard disks, floppy disks, and magnetic tapes, optical media such as CD-ROMs, DVDs, Blu-rays, etc., and ROMs and RAMs. Semiconductor memory devices specifically configured to store and execute program (command) code, such as RAM), flash memory, and the like.

여기서, 프로그램 (명령) 코드의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.Here, examples of program (instruction) code include not only machine code generated by a compiler, but also high-level language code that can be executed by a computer using an interpreter or the like. The hardware device described above may be configured to operate as one or more software modules to perform the operations of the present invention, and vice versa.

100: 회로 건전성 시험 장치
110: 전원 공급기
120: 비교 계산부
130: 입출력 단자부
100: circuit health test device
110: power supply
120: comparison calculation unit
130: input and output terminal

Claims (17)

전력 설비 회로의 단자에 접속되는 테스트용 프로브(233)를 갖는 입출력 단자부(130); 및
상기 입출력 단자부(130)로부터 획득되는 출력 신호를 이용하여 상기 회로에 대한 회로 도통 테스트 모드를 실행하고, 실행 결과 회로 도통 여부를 결정하는 비교 계산부(120);를 포함하며,
상기 회로 도통 테스트 모드는 상기 출력 신호에 따른 입력값과 미리 지정되는 특정 기준 영역 정보를 비교하고, 상기 특정 기준 영역 정보는 도통할 수 있는 지정 전압 레벨의 선택 또는 사용자의 직접 범위 입력에 의해 생성되고,
상기 미리 지정되는 특정 기준 영역 정보에 따른 미리 설정되는 지정 전압 영역에서만 도통되는 출력 신호 수신시 계전기가 동작하여 상기 회로가 도통되고, 상기 지정 전압 영역을 벗어나는 전압에 대해서는 동작되지 않는 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 장치.
An input / output terminal section 130 having a test probe 233 connected to a terminal of a power equipment circuit; And
And a comparison calculation unit 120 which executes a circuit conduction test mode for the circuit by using the output signal obtained from the input / output terminal unit 130 and determines whether the circuit conduction is performed as a result.
The circuit conduction test mode compares an input value according to the output signal with predetermined reference region information, and the specific reference region information is generated by selection of a specified voltage level to be conducted or by a direct range input of a user. ,
The circuit is energized when the output signal is conducted only in a predetermined designated voltage region according to the predetermined specific reference region information so that the circuit is energized and is not operated for a voltage outside the specified voltage region. Integrity test device.
삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 입력값은 오류를 방지하기 위해 특정 시간 동안 유지되는 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 장치.
The method of claim 1,
Wherein said input value is maintained for a specified time to prevent errors.
삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 비교 계산부(120)는 상기 테스트용 프로브(233)의 양단에 걸리는 단자 전압만을 계측할 수 있도록 전압계로 기능하는 계측 테스트 모드를 추가로 실행하는 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 장치.
The method of claim 1,
The comparison calculator (120) further comprises a measurement test mode functioning as a voltmeter to measure only the terminal voltage across the test probe (233), characterized in that the circuit integrity test device.
제 5 항에 있어서,
상기 도통 테스트 모드 또는 계측 테스트 모드는 모드 선택 스위치(221)에 의해 선택적으로 실행되는 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 장치.
The method of claim 5,
Wherein the conduction test mode or metrology test mode is selectively executed by a mode selection switch (221).
제 1 항에 있어서,
상기 회로 도통 여부를 표시하는 디스플레이(200);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 장치.
The method of claim 1,
And a display (200) indicating whether the circuit is conductive.
제 1 항에 있어서,
상기 회로 도통 여부를 출력하는 음향 표시기(250);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 장치.
The method of claim 1,
And a sound indicator (250) for outputting the circuit conduction.
제 1 항에 있어서,
상기 회로 도통 여부를 외부를 전송하는 통신 회로(710);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 장치.
The method of claim 1,
And a communication circuit (710) for transmitting externally whether the circuit is connected.
제 1 항에 있어서,
상기 입출력 단자부(130)는, 상기 출력 신호를 분배하여 비교 계산부(120)에 공급하는 분배 회로(232); 및
상기 분배 회로(232)와 연결되며, 상기 회로 도통을 실행하는 스위칭 회로(231);를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 장치.
The method of claim 1,
The input / output terminal unit 130 includes: a distribution circuit 232 for distributing the output signal and supplying the output signal to the comparison calculation unit 120; And
And a switching circuit (231) connected to said distribution circuit (232) for carrying out said circuit conduction.
제 10 항에 있어서,
상기 스위칭 회로(231)는 보조 계전기인 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 장치.
The method of claim 10,
And the switching circuit (231) is an auxiliary relay.
제 10 항에 있어서,
상기 스위칭 회로(231)는 상기 출력 신호의 유지 시간 동안내 동작하는 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 장치.
The method of claim 10,
And the switching circuit (231) operates during the holding time of the output signal.
(a) 비교 계산부(120)가 전력 설비 회로의 단자에 접속되는 테스트용 프로브(233)를 갖는 입출력 단자부(130)로부터 출력 신호를 획득하는 단계;
(b) 상기 비교 계산부(120)가 상기 출력 신호를 이용하여 상기 회로에 대한 회로 도통 테스트 모드를 실행하는 단계; 및
(c) 상기 비교 계산부(120)가 실행 결과, 회로 도통 여부를 결정하는 단계;를 포함하며,
상기 회로 도통 테스트 모드는 상기 출력 신호에 따른 입력값과 미리 지정되는 특정 기준 영역 정보를 비교하고, 상기 특정 기준 영역 정보는 도통할 수 있는 지정 전압 레벨의 선택 또는 사용자의 직접 범위 입력에 의해 생성되고,
상기 미리 지정되는 특정 기준 영역 정보에 따른 미리 설정되는 지정 전압 영역에서만 도통되는 출력 신호 수신시 계전기가 동작하여 상기 회로가 도통되고, 상기 지정 전압 영역을 벗어나는 전압에 대해서는 동작되지 않는 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 방법.
(a) the comparison calculation unit 120 obtaining an output signal from the input / output terminal unit 130 having a test probe 233 connected to the terminal of the power equipment circuit;
(b) the comparison calculation unit 120 executing a circuit conduction test mode for the circuit using the output signal; And
and (c) determining, by the comparison calculation unit 120, a result of the execution of circuit conduction.
The circuit conduction test mode compares an input value according to the output signal with predetermined reference region information, and the specific reference region information is generated by selection of a specified voltage level to be conducted or by a direct range input of a user. ,
The circuit is energized when the output signal is conducted only in a predetermined designated voltage region according to the predetermined specific reference region information so that the circuit is energized and is not operated for a voltage outside the specified voltage region. Health test method.
삭제delete 제 13 항에 있어서,
상기 입력값은 오류를 방지하기 위해 특정 시간 동안 유지되는 것을 특징으로 하는 회로 건전성 시험 방법.
The method of claim 13,
Wherein said input value is maintained for a specified time to prevent errors.
삭제delete 제 13 항 및 제 15 항 중 어느 한 항에 따른 회로 건전성 시험 방법을 실행하는 프로그램 코드를 저장한 컴퓨터 판독 가능 매체.A computer-readable medium storing program code for executing the circuit health test method according to any one of claims 13 and 15.
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