KR101988286B1 - Apparatus for removing surface defects of wire rod and equipment for manufacturing wire rod having the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 소재 표면흠 제거 장치를 제공한다. 상기 소재 표면흠 제거 장치는, 설정된 이송 경로를 따라, 압연되어 이송되는 소재의 표면에 형성되는 표면흠을 감지하는 표면흠 감지부; 및 상기 표면흠이 감지된 흠집 영역에, 감지된 상기 표면흠의 정보에 해당되는 가열 조건을 이루는 광을 조사하여, 상기 흠집 영역을 용융시킴을 통해 상기 표면흠을 제거하는 표면흠 제거부를 포함한다.The present invention provides a material surface flaw removing device. The material surface flaw removing device may include a surface flaw detection unit configured to detect a surface flaw formed on a surface of a material to be rolled and conveyed along a set transfer path; And a surface flaw removal unit for removing the surface flaw by melting the flaw region by irradiating light that meets a heating condition corresponding to information of the detected surface flaw to the flaw region where the surface flaw is detected. .

Description

소재 표면흠 제거 장치 및 이를 갖는 소재 제조 설비{APPARATUS FOR REMOVING SURFACE DEFECTS OF WIRE ROD AND EQUIPMENT FOR MANUFACTURING WIRE ROD HAVING THE SAME}Apparatus for removing material surface defects and material manufacturing equipment having the same {APPARATUS FOR REMOVING SURFACE DEFECTS OF WIRE ROD AND EQUIPMENT FOR MANUFACTURING WIRE ROD HAVING THE SAME}

본 발명은 소재 표면흠 제거 장치 및 이를 갖는 소재 제조 설비에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 선재와 같은 소재를 압연하는 과정에서 발생되는 표면흠을 제거하여 고품질의 소재를 생산할 수 있는 소재 표면흠 제거 장치 및 이를 갖는 소재 제조 설비에 관한 것이다.The present invention relates to a material surface removal apparatus and a material manufacturing equipment having the same, and more particularly, a material surface defect removal apparatus capable of producing high quality materials by removing surface defects generated during the rolling of a material such as a wire rod. And it relates to a material manufacturing equipment having the same.

일반적으로, 선재를 생산하는 공정은 제선-제강-연속주조-압연-권취-냉각-이송 등의 일련의 단위 공정을 통해 생산된다.Generally, the wire rod production process is produced through a series of unit processes such as steelmaking, steelmaking, continuous casting, rolling, winding, cooling and conveying.

특히, 선재는 중량대비 표면적의 비가 클 뿐만 아니라 후판, 열연과 달리 공형압연을 한다는 점과 최종 압연속도 100 m/sec의 고속으로 변형을 제공하는 공정을 거치기 때문에 표면흠에 취약한 문제를 갖는다.In particular, the wire rod has a problem of being vulnerable to surface defects because it is not only a large ratio of surface area to weight, but also undergoes a rolling process unlike thick plates and hot rolling, and undergoes a process of providing deformation at a high speed of 100 m / sec.

통상의 선제 가공 공정에는 선재 압연 중 고온상태에서 표면흠을 계측하는 장비는 사용되며, 이에 의해 측정된 표면흠 정보를 바탕으로 선재코일 품질을 평가하여 출하 여부를 판단한다.In the conventional wire processing process, equipment for measuring surface defects at high temperature during wire rolling is used, and the quality of wire rod coils is evaluated based on the measured surface defect information to determine whether or not to be shipped.

예컨대 종래의 소재표면 검사장치는 소재의 표면을 검사하는 것으로, 이러한 소재표면 검사장치는 예컨대 제철소의 연속소둔공정에 설치되어 스트립 등의 소재의 표면을 검사한다.For example, a conventional material surface inspection apparatus inspects the surface of a material. Such a material surface inspection apparatus is installed in, for example, a continuous annealing process of a steel mill to inspect the surface of a material such as a strip.

상기와 같은, 소재표면 검사장치는 이동되는 스트립 등의 소재에 접촉되고 마찰되는 지석을 포함한다.As described above, the material surface inspection apparatus includes a grindstone that is in contact with and rubbed on a material such as a strip to be moved.

이에 따라, 소재의 표면에 존재하는 요철흠을 검출한다.Thereby, uneven | corrugated flaw which exists in the surface of a raw material is detected.

즉, 소재 표면보다 튀어나온 부분은 다른 부분보다 지석과 더 많이 마찰이 되고, 소재 표면보다 들어간 부분은 다른 부분보다 지석과 더 적게 마찰 된다.That is, the part protruding from the surface of the material rubs more with the grindstone than the other part, and the part entering the surface with the part less rubs with the grindstone than the other part.

그리고, 이에 따른 표시가 지석과의 마찰에 의해서 소재 표면에 생기는 것으로 소재 표면에 존재하는 요철흠을 검출한다.In addition, since the marking which arises on the surface of a raw material by friction with a grindstone, the unevenness | corrugation which exists in the surface of a raw material is detected.

이와 같이, 종래의 대부분 선재 공장에서는 표면품질에 대한 계측 및 평가를 진행한다.As such, most conventional wire rod mills measure and evaluate surface quality.

그러나, 표면 검사만을 진행하기 때문에 선재 압연 중 표면흠을 검사 또는 계측할 뿐, 실질적으로 압연 공정 중에 발생되는 선재의 표면흠을 실시간으로 제거 및 교정할 수 없는 문제점이 있다.However, since only the surface inspection is performed, the surface defects during the wire rod rolling are only inspected or measured, and there is a problem in that the surface defects of the wire rod generated during the rolling process cannot be removed and corrected in real time.

본 발명과 관련된 선행문헌에는 대한민국 공개특허 공개번호 제10-2011-0130978호(공개일자 : 2011.12.06)가 있으며, 상기 선행문헌에는 원형강 표면 흠 제거장치 및 제거방법에 대한 기술이 개시된다.Prior art related to the present invention is Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-2011-0130978 (published date: 2011.12.06), the prior art discloses a circular steel surface flaw removal apparatus and a technique for the removal method.

본 발명의 목적은, 선재와 같은 소재를 압연하는 과정에서 발생되는 표면흠을 제거하여 고품질의 소재를 생산할 수 있는 소재 표면흠 제거 장치 및 이를 갖는 소재 제조 설비를 제공함에 있다.It is an object of the present invention to provide a material surface removal apparatus and a material manufacturing apparatus having the same that can produce a high quality material by removing the surface defects generated in the process of rolling a material such as wire.

바람직한 실시예에 있어서, 본 발명은 소재 표면흠 제거 장치를 제공한다.In a preferred embodiment, the present invention provides a workpiece surface removal apparatus.

상기 소재 표면흠 제거 장치는, 설정된 이송 경로를 따라, 압연되어 이송되는 소재의 표면에 형성되는 표면흠을 감지하는 표면흠 감지부; 및 상기 표면흠이 감지된 흠집 영역에, 감지된 상기 표면흠의 정보에 해당되는 가열 조건을 이루는 광을 조사하여, 상기 흠집 영역을 용융시킴을 통해 상기 표면흠을 제거하는 표면흠 제거부를 포함한다.The material surface flaw removing device may include a surface flaw detection unit configured to detect a surface flaw formed on a surface of a material to be rolled and conveyed along a set transfer path; And a surface flaw removal unit for removing the surface flaw by melting the flaw region by irradiating light that meets a heating condition corresponding to information of the detected surface flaw to the flaw region where the surface flaw is detected. .

상기 표면흠 감지부는, 상기 이송 경로를 중심으로 하여, 원주 방향을 따라 설정된 간격을 이루어 다수로 배치되는 것이 바람직하다.It is preferable that the surface flaw detection unit is disposed in plural at intervals set along the circumferential direction with respect to the transfer path.

상기 표면흠 제거부는, 상기 이송 경로 상에 배치되며, 상기 광을 설정되는 광 조사 시간 및 광 세기로 조사하는 광 조사부와, 상기 광 조사 시간 및, 상기 광 세기를 설정하고, 상기 광 조사부의 구동을 제어하는 제어기를 포함하는 것이 바람직하다.The surface flaw removal unit is disposed on the transfer path, and sets a light irradiation unit for irradiating the light with a set light irradiation time and light intensity, sets the light irradiation time and the light intensity, and drives the light irradiation unit. It is preferable to include a controller for controlling the.

상기 제어기에는, 감지된 상기 표면흠의 정보에 해당되는 상기 가열 조건이 기 설정되고, 상기 가열 조건은, 상기 광 조사 시간 및, 상기 광의 세기를 포함하는 것이 바람직하다.In the controller, the heating condition corresponding to the detected information of the surface flaw is preset, and the heating condition preferably includes the light irradiation time and the light intensity.

상기 광 조사부는, 상기 이송 경로를 중심으로 하여, 원주 방향을 따라 설정된 간격을 이루어 다수로 배치되는 것이 바람직하다.It is preferable that the light irradiation part is arranged in plural at intervals set along the circumferential direction with respect to the transfer path.

상기 광 조사부는, 상기 이송 경로를 중심으로 하여, 원주 방향을 따라 설치되는 원형의 가이드 프레임과, 상기 가이드 프레임에 간격을 이루어 설치되어, 상기 광을 조사하는 다수의 광 조사기를 구비하는 것이 바람직하다.It is preferable that the said light irradiation part is provided with the circular guide frame provided along the circumferential direction centering on the said conveyance path, and the several light irradiator which is provided at intervals in the said guide frame, and irradiates the said light. .

상기 다수의 광 조사기는, 상기 제어기의 제어에 의해 구동되는 각각의 리니어 모터의 구동에 의해 설정된 범위에서 왕복이동 가능 한 것이 바람직하다.It is preferable that the plurality of light irradiators can be reciprocated in a range set by the driving of each linear motor driven by the control of the controller.

상기 표면흠 제거부는, 상기 소재가 이송되는 중에, 상기 표면흠을 제거하는 것이 바람직하다.It is preferable that the said surface flaw removal part removes the said surface flaw while the said raw material is conveyed.

상기 이송 경로 상에는, 상기 표면홈이 제거되는 소재의 표면을 가압하여 매끄러운 면으로 형성하는 수직 펀치롤 및, 수평 편치롤이 순차적으로 배치되는 것이 바람직하다.On the conveying path, it is preferable that the vertical punch roll and the horizontal flat roll are sequentially arranged to press the surface of the material from which the surface groove is removed to form a smooth surface.

다른 실시예에 있어서, 본 발명은, 상술한 소재 표면흠 제거 장치를 포함하는 소재 제조 설비를 제공한다.In another embodiment, the present invention provides a material manufacturing facility comprising the material surface flaw removal device described above.

본 발명은, 선재와 같은 소재를 압연하는 과정에서 발생되는 표면흠을 제거하여 고품질의 소재를 생산할 수 있는 효과를 갖는다.The present invention has the effect of producing a high-quality material by removing the surface defects generated in the process of rolling a material such as wire.

도 1은 본 발명의 소재 표면흠 제거 장치 및 이를 갖는 소재 제조 설비의 구성을 보여주는 개념도이다.
도 2는 본 발명에 따르는 표면흠 감지부 및 표면흠 제거부?l 구성을 보여주는 블록도이다.
도 3은 본 발명에 따르는 표면흠 감지부의 구성을 보여주는 도면이다.
도 4는 본 발명에 따르는 표면흠 제거부의 구성을 보여주는 도면이다.
도 5는 본 발명에 따르는 수직 펀치롤과 수평 펀치롤을 보여주는 도면들이다.
도 6은 본 발명의 소재 표면흠 제거 장치를 통해 소재의 표면에 형성되는 표면흠을 제거하는 과정을 보여주는 흐름도이다.
도 7은 본 발명에 따르는 표면흠 제거부의 다른 예를 보여주는 도면이다.
도 8은 도 7의 표면흠 제거부의 다른 예를 통해, 표면흠이 제거되는 과정을 보여주는 도면이다.1 is a conceptual diagram showing the configuration of a material surface flaw removal device and a material manufacturing facility having the same of the present invention.
2 is a block diagram showing the surface flaw detection unit and the surface flaw removal unit? L configuration according to the present invention.
3 is a view showing the configuration of a surface flaw detection unit according to the present invention.
4 is a view showing the configuration of the surface flaw removal unit according to the present invention.
5 is a view showing a vertical punch roll and a horizontal punch roll according to the present invention.
6 is a flowchart illustrating a process of removing surface defects formed on the surface of a material through the material surface flaw removing apparatus of the present invention.
7 is a view showing another example of the surface flaw removal unit according to the present invention.
FIG. 8 is a view illustrating a process of removing surface defects through another example of the surface defect removing unit of FIG. 7.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다.DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention.

본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention.

본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.In order to clearly describe the present invention, parts irrelevant to the description are omitted, and like reference numerals designate like elements throughout the specification.

이하에서 기재의 "상부 (또는 하부)" 또는 기재의 "상 (또는 하)"에 임의의 구성이 구비 또는 배치된다는 것은, 임의의 구성이 상기 기재의 상면 (또는 하면)에 접하여 구비 또는 배치되는 것을 의미한다.Hereinafter, any configuration is provided or disposed on the "top (or bottom)" of the substrate or "top (or bottom)" of the substrate, that any configuration is provided or disposed in contact with the top (or bottom) of the substrate Means that.

또한, 상기 기재와 기재 상에 (또는 하에) 구비 또는 배치된 임의의 구성 사이에 다른 구성을 포함하지 않는 것으로 한정하는 것은 아니다.In addition, it is not limited to not including another structure between the said base material and any structure provided or arrange | positioned on (or under) the base material.

이어, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 소재 표면흠 제거 장치를 설명한다. 또한, 본 발명의 소재 제조 설비는 소재 표면흠 제거 장치를 포함하기 때문에, 소재 표면흠 제거 장치의 구성을 설명하면서 동시에 설명하기로 한다.Next, with reference to the accompanying drawings will be described a material surface defect removal apparatus of the present invention. Moreover, since the raw material manufacturing facility of this invention contains a raw material surface flaw removal apparatus, it demonstrates simultaneously, demonstrating the structure of a raw material surface flaw removal apparatus.

도 1은 본 발명의 소재 표면흠 제거 장치 및 이를 갖는 소재 제조 설비의 구성을 보여주는 개념도이다. 도 2는 본 발명에 따르는 표면흠 감지부 및 표면흠 제거부?l 구성을 보여주는 블록도이다.1 is a conceptual diagram showing the configuration of a material surface flaw removal device and a material manufacturing facility having the same of the present invention. 2 is a block diagram showing the surface flaw detection unit and the surface flaw removal unit? L configuration according to the present invention.

도 1을 참조 하면, 본 발명의 소재 제조 설비는 이송부(미도시)와, 압연부를 포함한다. 또한, 소재 제조 설비는 본 발명의 소재 표면흠 제거 장치를 포함한다.Referring to Figure 1, the raw material manufacturing equipment of the present invention includes a transfer unit (not shown), and a rolling unit. In addition, the raw material manufacturing facility includes the raw material surface flaw removing apparatus of the present invention.

상기 이송부는 선재와 같은 소재(10)를 이송 경로(a)를 따라 이송시키는 롤 테이블과 같은 장치일 수 있다.The transfer unit may be a device such as a roll table for transferring the material 10 such as wire rod along the transfer path a.

상기 압연부(50)는 이송되는 소재(10)를 요구되는 두께를 이루도록 압연하는 롤러들로 구성될 수 있다.The rolling unit 50 may be composed of rollers for rolling the material 10 to be conveyed to achieve the required thickness.

상기 압연부(50)는 상기 이송 경로(a) 상에 배치된다.The rolling part 50 is disposed on the conveying path (a).

한편, 본 발명의 소재 표면흠 제거 장치는 이송 경로(a) 상에 배치되되, 상기 압연부(50)의 후류에 배치된다.On the other hand, the material surface flaw removing apparatus of the present invention is disposed on the conveying path (a), it is disposed in the wake of the rolling section (50).

상기 소재 표면흠 제거 장치는 크게 표면흠 감지부(100)와, 표면흠 제거부(200)로 구성된다.The material surface flaw removing apparatus is largely composed of a surface flaw detecting unit 100 and a surface flaw removing unit 200.

상기 표면흠 감지부(100)는 압연부(50)의 후류에 배치되며, 압연이 이루어진 소재(10)의 표면에 표면흠이 존재하는지의 여부를 감지한다.The surface flaw detection unit 100 is disposed downstream of the rolling unit 50, and detects whether or not surface flaws exist on the surface of the rolled material 10.

도 3은 본 발명에 따르는 표면흠 감지부의 구성을 보여주는 도면이다.3 is a view showing the configuration of a surface flaw detection unit according to the present invention.

도 1 및 도 3을 감지하면, 본 발명에 따르는 표면흠 감지부(100)는 다수의 감지기(110)와, 고정 프레임(120)으로 구성된다.1 and 3, the surface flaw detection unit 100 according to the present invention includes a plurality of detectors 110 and a fixed frame 120.

상기 고정 프레임(120)은 링 형상으로 형성되며, 그 중앙에는 이송 경로(a)가 관통되는 경로를 형성할 수 있다.The fixed frame 120 is formed in a ring shape, the center may form a path through which the transport path (a) passes.

상기 다수의 감지기(110)는 상기 고정 프레임(120)의 원주 방향을 따라 간격을 이루러 다수의 위치에 고정 설치된다.The plurality of detectors 110 are fixedly installed at a plurality of positions at intervals along the circumferential direction of the fixed frame 120.

물론, 상기 감지기들(110) 각각은 고정 프레임(120)에서 이동 고정될 수 있도록 고정 프레임(120)에 탈착 가능하도록 구성될 수 있다.Of course, each of the detectors 110 may be configured to be detachable from the fixed frame 120 to be fixed to the fixed frame 120.

여기서, 상기 다수의 감지기(110) 각각은 이송되는 소재(10)의 표면에 대한 영상 정보를 취득하는 비전 카메라일 수 있다.Here, each of the plurality of detectors 110 may be a vision camera for acquiring image information on the surface of the material 10 to be transferred.

상기 다수의 감지기(110) 각각은, 소재(10)의 표면에 형성되는 표면흠의 존재를 감지하되, 서로 다른 위치에서 소재의 원주 둘레에 형성되는 표면흠을 실시간으로 감지한다.Each of the plurality of detectors 110 detects the presence of surface defects formed on the surface of the material 10, but detects surface defects formed around the circumference of the material at different locations in real time.

상기 다수의 감지기(110)는 이송되는 소재(10)의 표면 형성되는 표면흠의 존재를 감지하고, 표면흠 정보를 후술되는 제어기(220)로 유선 또는 무선 통신의 방식으로 전송한다.The plurality of detectors 110 detects the presence of surface defects formed on the surface of the material 10 to be transferred, and transmits the surface defect information to the controller 220 to be described later by wire or wireless communication.

여기서, 상기 표면흠 정보는, 표면흠이 발생된 위치 정보, 표면흠의 종류, 흠집 영역(SA)의 면적 등의 정보를 포함하는 것이 좋다.Here, the surface flaw information may include information such as the positional information on which the surface flaw is generated, the type of the surface flaw, the area of the scratch area SA, and the like.

도 4는 본 발명에 따르는 표면흠 제거부의 구성을 보여주는 도면이다.4 is a view showing the configuration of the surface flaw removal unit according to the present invention.

도 1 및 도 4를 참조 하면, 본 발명에 따르는 표면흠 제거부(200)는 소재(10)가 이송되는 이송 경로(a) 상에서 상기 표면흠 감지부(100)의 후류에 배치된다.1 and 4, the surface flaw removal unit 200 according to the present invention is disposed in the wake of the surface flaw detection unit 100 on a transport path a through which the material 10 is transferred.

상기 표면흠 제거부(200)는 상기 표면흠이 감지된 흠집 영역(SA)에, 감지된 상기 표면흠의 정보에 해당되는 가열 조건을 이루는 광을 조사하여, 상기 흠집 영역(SA)을 용융시킴을 통해 상기 표면흠을 제거하는 역할을 한다.The surface flaw removal unit 200 melts the flaw region SA by irradiating a light that meets the heating condition corresponding to the detected surface flaw to the scratch region SA where the surface flaw is detected. It serves to remove the surface blemishes through.

상기 표면흠 제거부(200)는 크게 광 조사부(210)와, 제어기(220)로 구성된다.The surface flaw removal unit 200 is largely composed of a light irradiation unit 210 and a controller 220.

상기 광 조사부(210)는 링 형상의 가이드 프레임(211)과, 다수의 광 조사기(212)로 구성된다.The light irradiator 210 includes a ring-shaped guide frame 211 and a plurality of light irradiators 212.

상기 가이드 프레임(211)의 중앙에는 이송 경로가 관통되는 경로가 형성된다.In the center of the guide frame 211 is formed a path through which the transport path.

상기 다수의 광 조사기(212)는 레이저 광을 조사하는 장치인 것이 좋다.The plurality of light irradiators 212 may be a device for irradiating laser light.

상기 다수의 광 조사기(212)는 가이드 프레임(211)에서 서로 균등 간격을 이루어 다수로 설치된다.The plurality of light irradiators 212 are installed in plural at equal intervals from each other in the guide frame 211.

상기 다수의 광 조사기(212)는 광 조사 위치의 변경을 위해, 가이드 프레임(211)에 탈착 가능하게 설치될 수 있다.The plurality of light irradiators 212 may be detachably installed on the guide frame 211 to change the light irradiation position.

상기 다수의 광 조사기(212)는 제어기(220)와 전기적으로 연결된다.The plurality of light irradiators 212 are electrically connected to the controller 220.

상기 제어기(220)는, 각각의 광 조사기들(212)의 광 조사 동작을 구동한다. 상기 제어기(220)는 상기 레이저 광의 광 조사 시간 및 광 세기를 가변적으로 설정할 수 있다.The controller 220 drives the light irradiation operation of the respective light irradiators 212. The controller 220 may variably set the light irradiation time and the light intensity of the laser light.

상기 광 세기는 제어기(220) 및 광 조사기들(212)과 전기적으로 연결되는 광 출력 조절기(230)를 통해 가변적으로 조절될 수 있다.The light intensity may be variably adjusted through the light output controller 230 electrically connected to the controller 220 and the light irradiators 212.

상기 광 세기에 따라, 소정의 가열 온도를 형성하여 대상물인 소재(10)의 표면이 가열될 수 있다.According to the light intensity, the surface of the material 10 as an object may be heated by forming a predetermined heating temperature.

도 5는 본 발명에 따르는 수직 펀치롤과 수평 펀치롤을 보여주는 도면들이다.5 is a view showing a vertical punch roll and a horizontal punch roll according to the present invention.

도 1 및 도 5(a),(b) 도시되는 수직 펀치롤(300)과 수평 펀치롤(400)은 본 발명에 따르는 표면흠 제거부(200)의 후류에 배치된다.1 and 5 (a) and (b) the vertical punch roll 300 and the horizontal punch roll 400 shown are disposed downstream of the surface flaw removal unit 200 according to the present invention.

상기 수직 펀치롤(300)과 수평 펀치롤(400)은 본 발명에 따르는 표면흠 제거부(200)의 작용에 의해 표면흠이 제거되는 상태로 이송되는 소재(10)의 표면이 매끄러운 면을 이루도록 추가적으로 가공하는 역할을 한다.The vertical punch roll 300 and the horizontal punch roll 400 are formed such that the surface of the material 10 to be transported in a state where the surface flaw is removed by the action of the surface flaw removal unit 200 according to the present invention forms a smooth surface. It also serves to process additionally.

다음은, 상기의 구성을 갖는 본 발명의 소재 표면흠 제거 장치의 작용을 설명한다.Next, the effect | action of the raw material surface flaw removal apparatus of this invention which has the said structure is demonstrated.

도 6은 본 발명의 소재 표면흠 제거 장치를 통해 소재의 표면에 형성되는 표면흠을 제거하는 과정을 보여주는 흐름도이다.6 is a flowchart illustrating a process of removing surface defects formed on the surface of a material through the material surface flaw removing apparatus of the present invention.

도 1 내지 도 6을 참조 하면, 본 발명에 따르는 제어기(220)에는 표면흠 정보에 따르는 가열 조건이 설정된다.1 to 6, the controller 220 according to the present invention is set to the heating conditions according to the surface defect information.

즉, 상기 표면흠 정보는 소재(10)의 표면에 형성되는 표면흠의 위치 및, 흠집 영역(SA)의 면적, 깊이, 표면흠의 종류 등의 정보를 포함하고, 상기 가열 조건은 상기 표면흠 정보에 따라 해당 흠집 영역(SA)이 제거될 수 있는 가열 온도 및 광 조사 시간이 설정된다.That is, the surface flaw information includes information such as the position of the surface flaw formed on the surface of the material 10, the area, the depth of the flaw area SA, the kind of the surface flaw, and the like. According to the information, a heating temperature and a light irradiation time at which the scratch area SA can be removed are set.

상기 가열 온도는 상기 광 출력 조절기(230)의 구동에 따라 가변되는 광 세기 및 광 조사 시간에 비례될 수 있다.The heating temperature may be proportional to light intensity and light irradiation time that vary according to the driving of the light output controller 230.

이어, 선재와 같은 소재(10)는 압연 공정이 이루어지면서 최종단에 배치되는 압연부(50)를 통해 압연이 이루어지면서 이송 경로(a)를 따라 이송된다.Subsequently, the material 10 such as the wire rod is transferred along the transfer path a while rolling is performed through the rolling unit 50 disposed at the final end while the rolling process is performed.

그리고, 상기 압연부(50)의 후류에 배치되는 본 발명에 따르는 감지기들(110)은 소재(10)의 원주 둘레의 표면을 서로 다른 위치에서 영상 정보를 취득하고, 해당 영상 정보에 표면흠이 존재하는 지의 여부에 대한 감지 결과를 제어기(220)로 전송한다.In addition, the detectors 110 according to the present invention disposed downstream of the rolling unit 50 acquire image information at different positions on the surface around the circumference of the raw material 10, and have surface defects on the image information. The detection result of whether there exists is transmitted to the controller 220.

상기 제어기(220)는 이송되는 소재(10)의 표면에 표면흠이 존재하지 않는 경우, 수직 및 수평 펀치롤(300, 400)을 통과하여 표면 매끄러움 처리가 진행되도록 하여 외부로 언로딩할 수 있다.If there is no surface flaw on the surface of the material 10 to be conveyed, the controller 220 may pass through the vertical and horizontal punch rolls 300 and 400 so that the surface smoothing process may be performed and unloaded to the outside. .

반면, 다수의 감지기들(110)에서 소재(10)의 표면흠이 감지되는 경우, 해당 감지기(110)는 표면흠이 감지된 위치 정보 및, 깊이, 표면흠의 종류 등의 정보를 포함하는 표면흠 정보를 제어기(220)로 전송한다.On the other hand, when the surface defects of the material 10 are detected by the plurality of detectors 110, the detector 110 includes a surface including position information where the surface defects are detected, and information such as depth and type of surface defects. The defect information is transmitted to the controller 220.

상기 제어기(220)는 상기 표면흠 정보에 해당되는 가열 조건을 선정한다.The controller 220 selects a heating condition corresponding to the surface defect information.

여기서, 상기 선정된 가열 조건에는 상기 표면흠 정보에 포함되는 흠집 영역(SA)을 제거할 수 있는 가열 온도를 이루는 광 조사 시간 및 광 세기가 포함된다.Here, the selected heating conditions include light irradiation time and light intensity, which form a heating temperature at which the scratch area SA included in the surface scratch information can be removed.

이와 동시에, 상기 제어기(200)는 다수의 광 조사기 중, 상기 표면흠이 발생된 위치에 해당되는 광 조사기(212)를 선정한다.At the same time, the controller 200 selects a light irradiator 212 corresponding to a position where the surface flaw is generated among a plurality of light irradiators.

그리고, 상기 제어기(220)는 선정된 광 조사기(212)를 사용하여, 선정된 가열 조건에 해당되는 광 조사 시간 및 광 세기를 이루도록 설정하여, 레이저 광을 해당 흠집 영역(SA)으로 출사되도록 한다.In addition, the controller 220 sets the light irradiation time and the light intensity corresponding to the selected heating condition by using the selected light irradiator 212 so that the laser light is emitted to the corresponding scratch area SA. .

이에, 소재(10)의 표면에 형성되는 표면흠은, 조사되는 레이저 광에 의해 가열되어 융융되고, 이로 인해 제거될 수 있다.Thus, the surface flaw formed on the surface of the material 10 is heated and melted by the laser light to be irradiated, and can be removed thereby.

그리고, 상기와 같이 표면흠이 제거된 소재(10)는 이송되면서 수직 및 수평 펀치롤(300, 400)을 통과하여 표면 매끄러움 처리가 진행될 수 있다.In addition, as described above, the material 10 from which the surface flaw is removed may pass through the vertical and horizontal punch rolls 300 and 400 while the surface smoothing process may be performed.

한편, 소재(10)의 표면에 형성되는 표면흠이, 조사되는 레이저 광에 의해, 가열과 동시에 융융되는 상태로 형성되어, 제거된 이후에, 별도의 감지기들(110)에 의해, 재차 표면흠이 존재하는 지의 여부를 확인하여, 본 발명에 따르는 광 조사부(210)를 통과하도록 구성할 수 도 있다.On the other hand, after the surface flaw formed on the surface of the material 10 is formed by being melted at the same time as the heating by the irradiated laser light, and removed, the surface flaw is again caused by the separate detectors 110. It may be configured to pass through the light irradiation unit 210 according to the present invention by checking whether or not there exists.

상기의 구성 및 작용에 따라, 본 발명에 따르는 실시예는 선재와 같은 소재를 압연하는 과정에서 발생되는 표면흠을 제거하여 고품질의 소재를 생산할 수 있다.According to the above configuration and action, the embodiment according to the present invention can produce a high-quality material by removing the surface flaw generated in the process of rolling a material such as wire.

즉, 상기 소재가 이송되는 중에, 상기 표면흠을 제거할 수 있다.That is, the surface flaw can be removed while the material is being transferred.

도 7은 본 발명에 따르는 표면흠 제거부의 다른 예를 보여주는 도면이다. 도 8은 도 7의 표면흠 제거부의 다른 예를 통해, 표면흠이 제거되는 과정을 보여주는 도면이다.7 is a view showing another example of the surface flaw removal unit according to the present invention. FIG. 8 is a view illustrating a process of removing surface defects through another example of the surface defect removing unit of FIG. 7.

도 7을 참조 하면, 본 발명에 따르는 다수의 광 조사기(212)는, 상기 제어기(220)의 제어에 의해 구동되는 각각의 리니어 모터(500)의 구동에 의해 설정된 범위에서 왕복이동 가능하도록 구성될 수 있다.Referring to FIG. 7, the plurality of light irradiators 212 according to the present invention may be configured to be reciprocated in a range set by driving of each linear motor 500 driven by the control of the controller 220. Can be.

즉, 각각의 광 조사기(212)는 가이드 프레임(211)에 레일 연결될 수 있고, 각각의 리니어 모터(500)를 구비할 수 있다.That is, each light irradiator 212 may be rail-connected to the guide frame 211, and may be provided with each linear motor 500.

상기 각각의 리니어 모터(500)는 설정된 이동 범위(d) 내에서 해당 광 조사기(212)를 왕복 이동시킬 수 있다.Each linear motor 500 may reciprocate the light irradiator 212 within a set movement range d.

이에, 하나의 광 조사기(212)에서 조사되는 레이저 광은 상기 이동 범위(d) 내에서 왕복 이동되면서 이송되는 소재(10)의 표면에 반복적으로 조사될 수도 있다.Thus, the laser light irradiated from one light irradiator 212 may be repeatedly irradiated onto the surface of the material 10 to be transported while reciprocating within the movement range (d).

따라서, 도 8을 참조 하면, 소재(10)의 표면에 형성되는 표면흠의 흠집 영역(SA)은, 설정되는 이동 범위(d) 내에서 왕복 이동되는 해당 광 조사기(212)에서 조사되는 레이저 광에 반복적으로 노출되어, 일정의 용융 온도에 더 효율적으로 이르고 해당 표면흠은 더 효율적으로 제거될 수 있다.Therefore, referring to FIG. 8, the scratch area SA of the surface flaw formed on the surface of the raw material 10 is irradiated by the corresponding light irradiator 212 reciprocated within the set movement range d. Can be repeatedly exposed to a more efficient melt temperature and the surface defects can be removed more efficiently.

이의 구성은, 하나의 광 조사기(212)에서 조사되는 광 조사 영역의 한계를 벗어나, 광 조사 영역을 확대할 수 있기 때문에, 광범위한 흠집 영역에서의 표면흠을 효율적으로 제거할 수 있는 이점을 가질 수 있다.Since the configuration thereof can extend the light irradiation area beyond the limit of the light irradiation area irradiated by one light irradiator 212, it can have an advantage of efficiently removing surface defects in a wide range of scratch areas. have.

이상, 본 발명의 소재 표면흠 제거 장치 및 이를 갖는 소재 제조 설비에 관한 구체적인 실시예에 관하여 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서는 여러 가지 실시 변형이 가능함은 자명하다.As mentioned above, although the specific Example regarding the raw material surface defect removal apparatus of this invention and the raw material manufacturing facility which has the same was demonstrated, it is obvious that various implementation variations are possible without departing from the scope of the present invention.

그러므로 본 발명의 범위에는 설명된 실시예에 국한되어 전해져서는 안 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be determined by the claims below and equivalents thereof.

즉, 전술된 실시예는 모든 면에서 예시적인 것이며, 한정적인 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 본 발명의 범위는 상세한 설명보다는 후술될 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 그 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.In other words, the foregoing embodiments are to be understood in all respects as illustrative and not restrictive, the scope of the invention being indicated by the following claims rather than the detailed description, and the meaning and scope of the claims and All changes or modifications derived from the equivalent concept should be interpreted as being included in the scope of the present invention.

10 : 소재
100 : 표면흠 감지부
110 : 감지기
120 : 고정 프레임
200 : 표면흠 제거부
210 : 광 조사부
211 : 가이드 프레임
212 : 광 조사기
220 : 제어기
300 : 수직 펀치롤
400 : 수평 펀치롤10: material
100: surface flaw detection unit
110: detector
120: fixed frame
200: surface flaw removal unit
210: light irradiation unit
211: guide frame
212: light irradiator
220: controller
300: vertical punch roll
400: horizontal punch roll

Claims (9)

설정된 이송 경로를 따라, 압연되어 이송되는 소재의 표면에 형성되는 표면흠을 감지하는 표면흠 감지부; 및
상기 표면흠이 감지된 흠집 영역에, 감지된 상기 표면흠의 정보에 해당되는 가열 조건을 이루는 광을 조사하여, 상기 흠집 영역을 용융시킴을 통해 상기 표면흠을 제거하는 표면흠 제거부를 포함하되,
상기 표면흠 제거부는,
상기 이송 경로 상에 배치되며, 상기 광을 설정되는 광 조사 시간 및 광 세기로 조사하는 광 조사부와,
상기 광 조사 시간 및, 상기 광 세기를 설정하고, 상기 광 조사부의 구동을 제어하는 제어기를 포함하되,
상기 제어기에는,
감지된 상기 표면흠의 정보에 해당되는 상기 가열 조건이 기 설정되고,
상기 가열 조건은, 상기 광 조사 시간 및, 상기 광의 세기를 포함하고,
상기 광 조사부는,
상기 이송 경로를 중심으로 하여, 원주 방향을 따라 설정된 간격을 이루어 다수로 배치되고,
상기 광 조사부는,
상기 이송 경로를 중심으로 하여, 원주 방향을 따라 설치되는 원형의 가이드 프레임과,
상기 가이드 프레임에 간격을 이루어 설치되어, 상기 광을 조사하는 다수의 광 조사기를 구비하고,
상기 다수의 광 조사기는,
상기 제어기의 제어에 의해 구동되는 각각의 리니어 모터의 구동에 의해 설정된 범위에서 왕복이동 가능하되,
상기 다수의 광 조사기 각각에서 조사되는 레이저 광은 상기 이동 범위 내에서 왕복 이동되면서 이송되는 소재의 표면에 반복적으로 조사되는 것을 특징으로 하는 소재 표면흠 제거 장치.
A surface flaw detector for detecting a surface flaw formed on the surface of the material to be rolled and conveyed along a set transfer path; And
And a surface flaw removal unit for removing the surface flaw by melting the flaw region by irradiating light that forms a heating condition corresponding to the detected surface flaw information to the flaw region where the surface flaw is detected.
The surface flaw removal unit,
A light irradiation unit disposed on the transport path and configured to irradiate the light at a predetermined light irradiation time and light intensity;
A controller for setting the light irradiation time and the light intensity and controlling the driving of the light irradiation unit;
The controller,
The heating condition corresponding to the detected surface defect information is preset.
The heating condition includes the light irradiation time and the light intensity,
The light irradiation unit,
It is arranged around the conveying path, a plurality of intervals set along the circumferential direction,
The light irradiation unit,
A circular guide frame installed along the circumferential direction around the conveying path;
Installed at intervals in the guide frame, provided with a plurality of light irradiator for irradiating the light,
The plurality of light irradiator,
It is possible to reciprocate in the range set by the driving of each linear motor driven by the control of the controller,
The laser beam irradiated from each of the plurality of light irradiator is irradiated repeatedly on the surface of the material to be transported while reciprocating within the movement range.
제 1항에 있어서,
상기 표면흠 감지부는,
상기 이송 경로를 중심으로 하여, 원주 방향을 따라 설정된 간격을 이루어 다수로 배치되는 것을 특징으로 하는 소재 표면흠 제거 장치.
The method of claim 1,
The surface flaw detection unit,
The material surface flaw removing apparatus, characterized in that arranged in a plurality at intervals set along the circumferential direction around the conveying path.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제 1항에 있어서,
상기 표면흠 제거부는,
상기 소재가 이송되는 중에, 상기 표면흠을 제거하는 것을 특징으로 하는 소재 표면흠 제거 장치.
The method of claim 1,
The surface flaw removal unit,
A material surface flaw removing apparatus, wherein the surface flaw is removed while the material is being transferred.
제 1항에 있어서,
상기 이송 경로 상에는,
상기 표면흠이 제거되는 소재의 표면을 가압하여 매끄러운 면으로 형성하는 수직 펀치롤 및, 수평 편치롤이 순차적으로 배치되는 것을 특징으로 하는 소재 표면흠 제거 장치.
The method of claim 1,
On the transfer path,
The vertical surface punch removal device, characterized in that the vertical punch roll to form a smooth surface by pressing the surface of the material from which the surface flaw is removed, the horizontal flat roll is disposed sequentially.
제 1항, 제2항, 제 7항, 제 8항 중 어느 한 항의 소재 표면흠 제거 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 소재 제조 설비.A material manufacturing facility comprising the material surface flaw removing device according to any one of claims 1, 2, 7, and 8.
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