KR101932216B1 - 광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정 방법 및 그 장치 - Google Patents
광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정 방법 및 그 장치 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명의 일실시예에 따른 광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정장치는 패턴광의 광특성을 부분적으로 가변할 대상이나 위치를 인식하고, 블럽 또는 픽셀별로 광량 또는 색상을 조정하여 패턴광을 생성하고, 3차원 형상을 측정하고자 하는 대상물에 생성된 패턴광을 조사하는 프로젝터; 및 패턴광이 조사된 측정 대상물에 대해 촬영하여 측정 대상물의 3차원 형상을 측정하는 카메라;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
Description
도 2는 프로젝터로 줄무늬 패턴광을 측정대상물에 조사한 상태를 도시한 것이다.
도 3은 측정 대상물이 얼굴인 경우에 측정영역을 도시한 것이다.
도 4는 본 발명의 다른 일실시예에 따른 형상측정방법을 나타낸 것이다.
도 5는 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 형상측정방법을 나타낸 것이다.
Claims (13)
- 광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정장치에 있어서,
3차원 형상을 측정하고자 하는 대상물에 생성된 패턴광을 조사하는 프로젝터; 및
측정 대상물에 대한 스캔된 화상을 획득하여 스캔된 화상을 프로젝터로 전송하고, 패턴광이 조사된 측정 대상물에 대해 촬영하여 측정 대상물의 3차원 형상을 측정하는 카메라;를 포함하며,
상기 프로젝터는,
전송받은 스캔된 화상에서 밝기가 기준밝기에 비해 어둡거나 밝아서 노이즈로 인식되는 대상이나 위치를 블럽단위로 계산하고, 가변할 대상이나 위치에 해당되는 블럽을 픽셀단위로 가변할 대상이나 위치를 계산하며,
픽셀단위로 조사되는 패턴광의 광량을 부분적으로 다르게 하여 패턴광을 조사하는 것을 특징으로 하는 광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정장치. - 삭제
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,
측정 대상물은 제1 측정영역과 제2 측정영역으로 구분되고, 상기 제2 측정영역은 제1 측정영역에 비하여 반사도가 더 높은 영역인 것을 특징으로 하는 광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정장치. - 제 4 항에 있어서,
측정대상물에 조사되는 패턴광은 줄무늬 패턴광이고, 패턴광이 조사되는 패턴 영역은 제1 측정영역에 조사되는 제1 패턴 영역과 제2 측정 영역에 조사되는 제2 패턴 영역을 포함하는 것을 특징으로 하는 광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정장치. - 제 5 항에 있어서,
제2 측정영역은 제1 측정영역에 비하여 반사도가 높은 영역이므로 여기에 조사되는 제2 패턴 영역의 밝기(광량)은 제1 패턴 영역 보다 어둡게 되는 것을 특징으로 하는 광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정장치. - 제 1 항에 있어서,
측정 대상물은 제1 측정영역과 제2 측정영역으로 구분되고, 상기 제2 측정영역은 제1 측정영역에 비하여 광에 민감한 영역이고, 제2 측정영역에 조사되는 제2 패턴 영역의 밝기(광량)은 제1 패턴 영역 보다 어둡게 되는 것을 특징으로 하는 광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정장치. - 제 7 항에 있어서,
상기 제2 측정영역은 얼굴의 안구 영역인 것을 특징으로 하는 광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정장치. - 제 1 항, 제 4 항 내지 제8항 중 선택되는 어느 한 항의 광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정장치를 이용한 측정방법에 있어서,
상기 카메라가 측정 대상물에 대한 스캔된 화상을 획득하여 스캔된 화상을 프로젝터로 전송하는 스캔 화상 생성 단계;
상기 프로젝터가 스캔된 화상에서 블럽단위로 패턴광에 밝기를 부분적으로 가변할 대상이나 위치를 1차로 계산하고, 가변할 대상이나 위치에 해당되는 블럽을 픽셀단위로 가변할 대상이나 위치를 2차로 계산하는 패턴광 가변 부분 위치 인식 단계;
패턴광을 가변해야하는 부분의 광량 또는 색상을 조정하는 패턴광 조정 단계;
조정된 패턴광을 생성하고, 3차원 형상을 측정하고자 하는 대상물에 생성된 패턴광을 조사하는 패턴광 조사 단계 ; 및
패턴광이 조사된 측정 대상물에 대해 촬영하고, 촬영된 측정 대상물의 3차원 형상을 측정하는 형상 측정 단계;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정방법.
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JP2015010844A (ja) * | 2013-06-26 | 2015-01-19 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、制御装置、組み付け装置、情報処理方法、及びプログラム |
KR101624120B1 (ko) * | 2015-11-03 | 2016-05-26 | 한국기계연구원 | 3차원 형상 계측용 구조광의 국소 영역별 패턴 광원 조사 시스템 및 방법 |
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