KR101915565B1 - Method andapparatus for sensing operation of electroninc device - Google Patents
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Abstract
Description
본 개시는, 전자 디바이스의 동작을 감지하는 장치 및 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 복수의 전자 디바이스들에게 전원을 공급하는 모선의 전류를 측정함으로써 복수의 전자 디바이스들 중에서 동작하는 전자 디바이스를 판별하는 장치 및 방법에 관한 것이다. 또한, 본 개시는, 모선을 통해 전원을 공급받는 복수의 전자 디바이스들 중에서 동작하는 전자 디바이스를 판별함으로써, 복수의 전자 디바이스들이 사용한 전력량을 측정하는 장치 및 방법에 관한 것일 수 있다.The present disclosure relates to an apparatus and method for sensing the operation of an electronic device, and more particularly, to an electronic device that operates among a plurality of electronic devices by determining the current of a bus that supplies power to a plurality of electronic devices And more particularly, The present disclosure may also relate to an apparatus and method for measuring the amount of power used by a plurality of electronic devices by determining an electronic device that operates among a plurality of electronic devices that are powered via a bus.
최근에너지의 효율적인 이용을 위한 에너지관리에 대한 관심이 커지고 있고, 에너지관리시스템의 설치가 장려되거나 의무화되고 있다. 에너지 관리 시스템은 에너지 사용의 감지, 에너지 사용량의 측정을 필수적으로 포함하며, 이를 위해 다수의 센서 설치가 필요하다. 하지만 대용량 설비를 사용하는 공장이나 대형건물을 제외한 가정 또는 중소형건물에서 각 개별 제품에 모두 센서를 설치하는 것은 경제성이 떨어진다. Recently, there is a growing interest in energy management for efficient use of energy, and the installation of energy management systems is encouraged or required. The energy management system necessarily includes the detection of energy use and the measurement of energy usage, and a number of sensors are required for this purpose. However, it is not economical to install a sensor for each individual product in a home or small to medium-sized building, except for factories that use large capacity facilities or large buildings.
한편, 일반적으로 전자 디바이스는 생산될 때부터 정격 전력이 정해져 있어, 전자 디바이스의 사용 여부만 확인할 수 있으면, 해당 전자 디바이스의 대략적인 전기 사용량을 계산할 수 있다. 따라서, 모든 전자 디바이스 각각에 설치된 센서를 통해 전기 사용량을 측정하는 방법 보다는 전자 디바이스가 동작하는지 여부에 기초하여 대략적인 전기 사용량을 계산하는 방법을 이용함으로써, 에너지 관리 시스템의 센서 설치 비용을 절감할 수 있다.On the other hand, generally, the rated power is determined from the time when the electronic device is produced, and if it is possible to confirm whether or not the electronic device is used, the approximate electricity consumption amount of the electronic device can be calculated. Therefore, by using a method of calculating an approximate electricity usage amount based on whether an electronic device is operated or not rather than a method of measuring electricity usage amount through a sensor installed in each electronic device, the cost of installing the sensor of the energy management system can be reduced have.
복수의 전자 디바이스들 각각에 직접적으로 설치된 센서를 이용하지 않고도 전자 디바이스의 동작 여부를 감지할 수 있는 장치 및 방법을 개시한다.Disclosed is an apparatus and method for detecting whether an electronic device is operating without using a sensor installed directly in each of a plurality of electronic devices.
복수의 전자 디바이스들 각각에 직접적으로 설치된 센서를 이용하지 않고도 복수의 전자 디바이스들이 사용한 전력량을 측정할 수 있는 장치 및 방법을 개시한다.Disclosed is an apparatus and method for measuring the amount of power used by a plurality of electronic devices without using sensors installed directly on each of the plurality of electronic devices.
일 실시예에 따른전자 디바이스의 동작을 감지하는 장치는, 복수의 전자 디바이스들에게 전원을 공급하는 모선(power hub)의 전류를 측정하는 전류 센서, 각 전자 디바이스가 상기 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우에 상기 모선의 전류 변화 패턴을 나타내는 데이터를 저장하는 저장부, 및전자 디바이스가 상기 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우, 상기 전류 센서를 통해 감지된 전류 변화와 상기 저장부에 저장된 데이터를 비교함으로써 상기 복수의 전자 디바이스들 중에서 상기 전자 디바이스를 판별하는 제어부를 포함하고,상기 제어부는, 상기 감지된 전류 변화를 주파수 변환한 결과에 기초하여, 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기 및 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수 중 적어도 하나를 추출하고, 추출된 값을 상기 저장부에 저장된 데이터와 비교함으로써 상기 전자 디바이스를 판별할 수 있다.An apparatus for sensing an operation of an electronic device according to an exemplary embodiment includes a current sensor for measuring a current of a power hub that supplies power to a plurality of electronic devices, A current change detected by the current sensor and data stored in the storage unit when the electronic device is operated with power supplied from the bus line, And a control unit for determining the electronic device among the plurality of electronic devices by comparing the currents of the plurality of electronic devices with each other, Extracts at least one of the corresponding offset frequencies, By comparison with the data stored in the book may be determined, the electronic device.
일 실시예에 따른 복수의 전자 디바이스들이 사용한 전력량을 측정하는 장치에 있어서,상기 복수의 전자 디바이스들에게 전원을 공급하는 모선의 전류를 측정하는 전류 센서, 각 전자 디바이스가 상기 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우에 상기 모선의 전류 변화 패턴을 나타내는 데이터 및 상기 각 전자 디바이스가 단위 시간동안 사용하는 전력량을 저장하는 저장부, 전자 디바이스가 상기 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우, 상기 전류 센서를 통해 감지된 전류 변화와 상기 저장부에 저장된 데이터를 비교함으로써 상기 복수의 전자 디바이스들 중에서 상기 전자 디바이스를 판별하고, 상기 판별된 전자 디바이스의 동작 시간 및 상기 전자 디바이스가 단위 시간동안 사용하는 전력량에 기초하여, 상기 복수의 전자 디바이스들이 사용한 전력량을 결정하는 제어부,및 상기 결정된 전력량을 출력하는 출력부를 포함하고,상기 제어부는, 상기 감지된 전류 변화를 주파수 변환한 결과에 기초하여, 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기 및 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수 중 적어도 하나를 추출하고, 추출된 값을 상기 저장부에 저장된 데이터와 비교함으로써 상기 전자 디바이스를 판별할 수 있다.There is provided an apparatus for measuring the amount of power used by a plurality of electronic devices according to an embodiment, the apparatus comprising: a current sensor for measuring a current of a bus line supplying power to the plurality of electronic devices; A storage unit for storing data representing a current change pattern of the bus and an amount of electric power used by each electronic device for a unit time when the electronic device operates when power is supplied from the bus, The electronic device is discriminated among the plurality of electronic devices by comparing the sensed current change and the data stored in the storage unit, and based on the operation time of the discriminated electronic device and the amount of electric power used by the electronic device for a unit time , The plurality of electronic devices Wherein the control unit includes a control unit for determining the amount of power used and an output unit for outputting the determined amount of power, wherein the control unit is configured to control the current change slope and the predetermined current size based on a result of frequency conversion of the sensed current change And comparing the extracted value with data stored in the storage unit, thereby determining the electronic device.
일 실시예에 따른 전자 디바이스의 동작을 감지하는 방법은, 전류 센서를 이용하여 복수의 전자 디바이스들에게 전원을 공급하는 모선의 전류를 측정하는 단계, 각 전자 디바이스가 상기 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우에 상기 모선의 전류 변화 패턴을 나타내는 데이터를 저장부로부터 획득하는 단계, 및전자 디바이스가 상기 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우, 상기 전류 센서를 통해 감지된 전류 변화와 상기 저장부로부터 획득된 데이터를 비교함으로써 상기 복수의 전자 디바이스들 중에서 상기 전자 디바이스를 판별하는 단계를 포함하고,상기 전자 디바이스를 판별하는 단계는,상기 감지된 전류 변화를 주파수 변환하는 단계, 상기 주파수 변환한 결과에 기초하여, 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기 및 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수 중 적어도 하나를 추출하는 단계, 및상기 추출된 값을 상기 저장부로부터 획득된 데이터와 비교함으로써 상기 전자 디바이스를 판별하는 단계를 포함할 수 있다.A method of sensing an operation of an electronic device according to an embodiment includes the steps of measuring current of a bus line that supplies power to a plurality of electronic devices using a current sensor, The method comprising the steps of: acquiring data representing a current variation pattern of the bus line from the storage unit when the electronic device is operated with power supplied from the bus line; Determining the electronic device from among the plurality of electronic devices by comparing the data obtained by the frequency converting step, wherein the step of determining the electronic device comprises the steps of frequency converting the detected current change, The current change gradient of the predetermined frequency section and the predetermined current amplitude Extracting at least one of an offset frequency corresponding to, and by comparing with the data obtained for the extracted values from the storage unit may include a step for determining the electronic device.
도 1은 일 실시예에 따른전자 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 일 실시예에 따른 전자 장치의 블록도이다.
도 3은 복수의 전자 디바이스들 각각의 전원을 켰다가 껐을 때 일 실시예에 따른 전자 장치에서 감지되는 시간 영역에서의 모선의 전류 변화의 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 복수의 전자 디바이스들 각각의 전원을 켰다가 껐을 때 일 실시예에 따른 전자 장치에서 감지되는 주파수 영역에서의 모선의 전류 변화의 예를 나타내는 도면이다.
도 5는 일 실시예에 따라 전자 디바이스를 판별하기 위해 이용되는 전류 변화 기울기를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 일 실시예에 따라 전자 디바이스를 판별하기 위해 이용되는 오프셋 주파수를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 일 실시예에 따라 전자 디바이스를 판별하기 위해 이용되는 시간 영역에서의 모선의 전류 변화를 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 복수의 전자 디바이스들이 순차적으로 동작하는 경우 감지되는 시간 영역에서의 모선의 전류 변화의 예를 나타내는 도면이다.
도 9는 복수의 전자 디바이스들이 순차적으로 동작하는 경우 감지되는 주파수 영역에서의 모선의 전류 변화의 예를 나타내는 도면이다.
도 10은 일 실시예에 따른 전자 장치의 구체화된 블록도이다.
도 11은일 실시예에 따른 전자 장치가 전자 디바이스의 동작을 감지하는 방법의 흐름도이다.
도 12는 일 실시예에 따른 전자 장치가 전자 디바이스의 동작을 감지하는 방법의 구체적인 흐름도이다.1 is a view for explaining an electronic device according to an embodiment.
2 is a block diagram of an electronic device according to one embodiment.
3 is a diagram showing an example of a current change of a bus line in a time domain detected by an electronic device according to an embodiment when each of a plurality of electronic devices is turned on and off.
4 is a diagram showing an example of a current change of a bus line in a frequency region sensed by an electronic device according to an embodiment when the plurality of electronic devices are turned on and off, respectively.
5 is a diagram for describing a current change gradient used for discriminating an electronic device according to an embodiment.
6 is a diagram for explaining an offset frequency used for discriminating an electronic device according to an embodiment.
Fig. 7 is a diagram for explaining a current change of a bus line in a time domain used for discriminating an electronic device according to an embodiment. Fig.
8 is a diagram showing an example of a current change of a bus line in a time domain when a plurality of electronic devices are sequentially operated.
9 is a diagram showing an example of a current change of a bus line in a frequency region to be sensed when a plurality of electronic devices are sequentially operated.
10 is a block diagram of an embodiment of an electronic device according to an embodiment.
11 is a flowchart of a method for an electronic device according to an embodiment to detect operation of an electronic device.
12 is a specific flowchart of a method of an electronic device according to an embodiment to detect an operation of an electronic device.
이하에서는 도면을 참조하여 다양한 실시예들을 상세히 설명한다. 이하에서 설명되는 실시예들은 여러 가지 상이한 형태로 변형되어 실시될 수도 있다. 실시예들의 특징을 보다 명확히 설명하기 위하여 이하의 실시예들이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 널리 알려져 있는 사항들에 관해서 자세한 설명은 생략한다.Hereinafter, various embodiments will be described in detail with reference to the drawings. The embodiments described below may be modified and implemented in various different forms. In order to more clearly describe the features of the embodiments, a detailed description of known matters to those skilled in the art will be omitted.
한편, 본 명세서에서 어떤 구성이 다른 구성과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 전기적으로 연결되어 있는 경우를 의미한다. 또한, "제1, 제2" 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 구성 요소들은 이 용어들에 의해 한정되어서는 안된다. 이 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로 사용된다. 또한, 어떤 구성이 다른 구성을 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 그 외 다른 구성을 제외하는 것이 아니라 다른 구성들 더 포함할 수도 있다는 것을 의미한다.On the other hand, when a configuration is referred to as "connected" with another configuration in this specification, it means that the configuration is electrically connected. Also, the terms "first, second," and the like may be used to describe various components, but the components should not be limited by these terms. These terms are used for the purpose of distinguishing one component from another. Also, when an element is referred to as "including " another element, it is to be understood that the element may include other elements as well as other elements.
도 1은 일 실시예에 따른 전자 장치를 설명하기 위한 도면이다.1 is a view for explaining an electronic device according to an embodiment.
도 1을 참조하면 전자 장치(20)는 모선(power hub)(10)에 흐르는 전류를 감지함으로써 어떤 전자 디바이스가 모선(10)으로부터 전원을 공급 받아 동작하는지를 판별할 수 있다. Referring to FIG. 1, the
모선(10)은 복수 개의 전자 디바이스들에 전원을 공급하는 전원선을 의미할 수 있다. 일 실시예에서 모선(10)에는 전자 디바이스들과 연결될 수 있는 복수 개의 연결 지점(11, 12, 13)이 존재할 수 있다. 도 1에서는 모선(10)의 일 예로 멀티탭이 도시되어 있으나, 이는 하나의 예시에 불과할 뿐, 이에 한정되지 않고 모선은 복수 개의 전자 디바이스들이 연결되는 다양한 형태의 전원선일 수 있다.The
일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 복수의 전자 디바이스들 각각에 직접적으로 설치된 센서를 이용하지 않고, 전자 디바이스의 동작 여부를 감지할 수 있다. 전자 장치(20)는 전류 센서(21)를 이용하여 모선(10)에 흐르는 전류를 감지할 수 있다. 도 1에서는 전류 센서(21)가 전자 장치(20)의 외부에 위치한 것으로 도시되었으나 이에 한정되지 않는다. 일 실시예에 따른 전자 장치(20)의 내부에 전류 센서(21)가 위치할 수 있으며, 전자 장치(20)와 전류 센서(21)가 무선으로 연결될 수 있다.The
전자 장치(20)는 전류 센서(21)를 통해 감지한 전류를 바탕으로 시간 영역 및/또는 주파수 영역에서 모선(10)의 전류 변화를 분석할 수 있다. 전자 장치(20)는, 분석 결과를 기초로 모선(10)으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 전자 디바이스를 판별할 수 있다.The
일 실시예에 따르면, 전자 디바이스들 각각의 고유의 전력 특성을 미리 파악하고, 각 전자 디바이스의 접점인 모선에 센서를 설치함으로써, 각 전자 디바이스의 동작 여부를 판별할 수 있다. 전자 디바이스의 고유의 전력 특성은, 전자 디바이스가 모선으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우에 나타나는 모선의 전류 변화 패턴을 포함할 수 있다. 예를 들어, 고유 전력 특성은, 전력이 공급되는 순간의 과도 상태의 전류 변화 형태와 위상 잡음을 포함할 수 있다. According to one embodiment, it is possible to determine whether each electronic device is operating by grasping the inherent power characteristic of each electronic device and installing a sensor on a bus line that is a contact point of each electronic device. The inherent power characteristic of the electronic device may include a current change pattern of the bus line that occurs when the electronic device is powered by the power supply from the bus. For example, the inherent power characteristics may include phase transitions and transient forms of current transients at the moment power is supplied.
위상 잡음은 전자 디바이스에게 인가되는 전류의 주파수 주성분의 주변에서 형성된다. 전류의 주파수 주성분이란, 전류 값이 피크값을 나타내는 주파수에 대응하는 성분을 의미할 수 있다.위상 잡음을 주요 사양으로 갖는 회로는 발진회로(Oscillator)가 있으며, 발진회로에서는 ‘위상잡음’을 고유 명사화하여 중심 주파수에서 특정 주파수 대략(Off-Set Frequency)까지의 전압 비율로 정의한다. 중심 주파수는, 전류 값이 피크값을 나타내는 주파수를 의미할 수 있다. 예를 들어, 통상적으로 가정에서 공급되는 전류의 중심 주파수는 60Hz일 수 있다.Phase noise is formed around the frequency-dominant component of the current applied to the electronic device. The main component of the current can be a component corresponding to the frequency at which the current value represents the peak value. The circuit having the phase noise as the main specification has an oscillator, and the oscillation circuit has a "phase noise" And is defined as a voltage ratio from a center frequency to a specific frequency (Off-Set Frequency). The center frequency may mean a frequency at which the current value represents a peak value. For example, the center frequency of the current, which is typically supplied in the home, may be 60 Hz.
일 실시예에 따르면, 중심 주파수 주변의 주파수 성분을 전자 디바이스의 고유 전력 특성으로서 이용할 수 있다. 일 실시예에 따른 전자 장치(20)가 전자 디바이스들의 동작을 감지함에 있어서, 중심 주파수 주변의 주파수 성분만을 추출해서 구별하는 위상 잡음 분석 방법을 이용함으로써 노이즈에 의한 왜곡을 줄일 수 있다. According to one embodiment, frequency components around the center frequency can be used as the inherent power characteristics of the electronic device. In the operation of the
일 실시예에서 전자 장치(20)는 모선(10)의 연결 지점(11, 12, 13)으로부터 소정의 거리 이내에서 모선(10)에 흐르는 전류를 측정할 수 있다. 전자 장치(20)가 모선(10)의 전류를 측정하는 지점이 전자 디바이스가 연결되는 연결 지점(11, 12, 13)에서 멀어질수록 노이즈가 더 커질 가능성이 높으므로, 전자 장치(20)의 전류 센서(21)가 설치되는 위치는 노이즈가 지나치게 발생하지 않는 거리 이내가 되는 것이 바람직할 것이다. 다만, 이는 하나의 예시에 불과할 뿐, 이에 한정되지 않고 전원선의 소재, 분석 방법, 연결되는 전자 디바이스의 종류 등에 따라 전자 장치(20)의 전류 센서(21)가 연결 지점(11, 12, 13)에서 먼 거리에 설치되더라도 무방한 경우도 있다. In one embodiment, the
예를 들어, 주파수 영역에서의 분석은 노이즈를 보다 쉽게 걸러낼 수 있고, 저항값이 낮은 전원선의 경우 거리가 멀어지더라도 노이즈가 발생하지 않을 수도 있으며, 전류 변화 패턴이 매우 독특하여 노이즈가 발생하더라도 어렵지 않게 판별할 수 있는 전자 디바이스도 존재한다. For example, analysis in the frequency domain can filter out noise more easily. In the case of a power line with a low resistance value, noise may not be generated even when the distance is long, and even if noise is generated due to a very unique current change pattern There are electronic devices that can be distinguished easily.
본 개시에 따르면, 복수 개의 전자 디바이스들 각각에 센서를 설치하지 않더라도, 전자 디바이스들이 연결되는 모선(10)에 설치된 센서만을 이용하여 어떤 전자 디바이스가 동작하는지 여부를 판별함으로써 대략적인 전기 사용량을 계산할 수 있다.According to the present disclosure, even if a sensor is not provided in each of a plurality of electronic devices, it is possible to calculate an approximate electricity usage amount by determining whether an electronic device operates using only sensors installed on a
도 2는 일 실시예에 따른 전자 장치(20)의 내부 구성을 나타내는 도면이다. 2 is a diagram showing an internal configuration of an
도 2를 참조하면, 전자 장치(20)는 전류 센서(21), 저장부(22) 및 제어부(23)를 포함할 수 있다. 그러나, 도 2에 도시된 구성 요소 모두보다 많은 구성 요소에 의해 전자 장치(20)가 구현될 수도 있다. 예를 들어, 도 10에 도시된 바와 같이, 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 입력부(24) 및 출력부(25)를 더 포함할 수 있다.2, the
전류 센서(21)는 복수의 전자 디바이스들에게 전원을 공급하는 모선(10)에 흐르는 전류를 측정할 수 있다. 일 실시예에 따른 전류 센서(21)는 큰 전류를 견딜 수 있어야 하고, 설치가 용이해야 한다. 따라서, 전류 센서(21)는 로고스키 코일(Rogowski Coil), 홀 센서(Hall Sensor) 등이 사용될 수 있다.The
로고스키 코일은 측정하고자 하는 전류 변화에 따른 주변 자기장 변화에 의해 유도되는 전류, 즉, 페러데이 법칙에 따른 유도전류를 측정한다. 측정하고자 하는 전류 I 는 각 코일에서, -M dI/dt 에 따라 전압을 유도하고 개별 전압의 합이 Vout이 된다. 오차를 줄이기 위해서는 전선이 코일의 중앙에 있어야 하며, 코일을 많이 감으면 감을수록(N) 전류 감지율이 높아진다. 하지만 동일한 물리적 크기에서 N 이 커질수록 코일간의 커패시턴스가 커져서 고주파 측정 대역폭이 좁아지며, 추가해야 하는 적분기 또한 전류의 급격한 변화의 감지에 제한을 줄 수 있다. 또한 자기장 변화에 유도되는 전류를 측정하기 때문에 DC 전류의 측정은 불가능하다. The Rogowski coil measures the current induced by the change of the peripheral magnetic field according to the current change to be measured, that is, the induced current according to the Faraday's law. The current I to be measured induces a voltage in each coil according to -M dI / dt, and the sum of the individual voltages becomes Vout. In order to reduce the error, the wire must be in the center of the coil. As the coil is wrapped around it, the current detection rate becomes higher (N). However, as N increases at the same physical size, the capacitance between the coils increases, narrowing the high frequency measurement bandwidth, and the integrator to be added can also limit the detection of sudden changes in current. Also, since the current induced in the magnetic field is measured, it is impossible to measure the DC current.
로고스키 코일은 전선 주변의 자기장을 감지하여 전류 변화를 비접촉 방식으로 측정할 수 있으며, 플렉서블(flexible)하고 개방(open)되어 있어 설치가 용이하다. 또한, 로고스키 코일은 통상적으로 1MHz 주파수까지 측정이 가능하며 100kA이상의 전류도 측정이 가능하여 설치의 용이성, 대역폭, 측정 가능 전류크기 등을 고려할 때 전자 장치(20)의 전류 센서(21)로서 사용될 수 있다. The Rogowski coil can sense the magnetic field around the wire and measure the current change in a non-contact manner. It is flexible and easy to install because it is open. In addition, the Rogowski coil can measure up to a frequency of 1 MHz, and can measure a current of 100 kA or more. Therefore, the Rogowski coil can be used as the
홀 센서는 자기장에 의한 전자 흐름의 변화, 즉 로렌츠 힘(Lorentz Force)을 감지하여 AC 전류뿐만 아니라 DC 전류까지 측정할 수 있다. Z축 방향으로 전류가 흐르는 도선에 X축 방향으로 자기장이 존재하는 경우, 로렌츠 힘에 의해 전자 흐름이 바뀌게 되고 이러한 변화를 Y축 방향으로의 전압차를 이용하여 자기장의 크기를 측정할 수 있다. 홀센서는 자기장의 변화 민감하게 반응하는 InAs, GaAs와 같은 Ⅲ-Ⅴ화합물 반도체가 활용된다. Hall sensors can detect changes in the electron flow caused by the magnetic field, that is, the Lorentz force, so that the AC current as well as the DC current can be measured. If there is a magnetic field in the X-axis direction on the conductor through which the current flows in the Z-axis direction, the electron flow is changed by the Lorentz force, and the magnitude of the magnetic field can be measured using the voltage difference in the Y-axis direction. Hall sensors use III-V compound semiconductors, such as InAs and GaAs, which respond sensitively to changes in magnetic field.
홀 센서는 비접촉 방식으로 전류 측정이 가능하며, 설치가 용이하고, 작은 화합물 반도체 기판으로 비교적 저렴하게 구현할 수 있다. 또한, 홀 센서는 통상적으로 수 KHz 주파수까지 측정이 가능하며 수 kA 이상의 전류도 측정이 가능하여 설치의 용이성, 대역폭, 측정 가능 전류크기 등을 고려할 때 전자 장치(20)의 전류 센서(21)로서 사용될 수 있다. 다만, 로렌츠 힘에 전압 변화를 보정(Calibration)하고, 이를 고려하여 측정된 전압을 기초로 전류를 환산해야 하는 데이터 처리가 요구될 수 있다. The Hall sensor can measure the current in a non-contact manner, is easy to install, and can be implemented at a relatively low cost with a small compound semiconductor substrate. In addition, the Hall sensor can measure up to a frequency of several KHz and can measure a current of several kA or more. Therefore, considering the ease of installation, bandwidth, measurable current size, and the like, the
일 실시예에 따르면, 전류 센서(21)는 각 전자 디바이스의 전류 변화만을 보다 명확히 구분하기 위하여, 그 출력단에 캐패시터가 접지 방향으로 션트(Shunt) 연결될 수 있다. 캐패시터의 임피던스(Z)는 Z= 1/jwC 이므로 고주파에서는 접지(Ground)와 유사하게 작용하여 전압이 작아지며, 저주파에서의 전압만 측정될 수 있다.According to one embodiment, the
이때, 캐패시터의 캐패시턴스(capacitance)가 너무 큰 경우, 전류 변화 모서리의 급격한 변화, 즉, 고주파 성분을 확인할 수 없으므로 적절한 캐패시터의 선택이 필요하다. 따라서, 일 실시예에서 캐피시터는 모선(10)에 연결될 수 있는 전자 디바이스들 중 전류 변화 모서리의 변화가 가장 큰 전자 디바이스, 즉, 피크 전류가 가장 명확히 구별되는 전자 디바이스의 전류 변화를 확인하기에 적합한 캐피시터를 선택할 수 있다. At this time, when the capacitance of the capacitor is too large, it is not possible to confirm a sudden change of the current change corner, that is, a high-frequency component, so that it is necessary to select an appropriate capacitor. Thus, in one embodiment, the capitator is suitable for identifying changes in the current of the electronic device having the largest change in current change corner among the electronic devices that can be connected to the
저장부(22)는 각 전자 디바이스가 모선(10)으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우에 모선(10)의 전류 변화 패턴을 나타내는 데이터를 저장할 수 있다. 즉, 저장부(22)는 각 전자 디바이스가 모선(10)에 연결되어 동작하는 경우 또는 모선(10)에 연결된 전자 디바이스의 전원이 ON되는 경우, 모선의 전류 변화 패턴을 나타내는 데이터를 저장할 수 있다. The
예를 들어, 저장부(22)는, 각 전자 디바이스가 모선(10)으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우에 모선(10)의 전류 변화 패턴을 나타내는그래프를 저장하거나, 전류 변화 패턴을 나타내는 특징값을 저장할 수 있다.For example, the
예를 들어, 저장부(22)는, 주파수 영역에서 고유의 전류 변화 패턴을 나타내는 특징값으로서 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기, 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수 중 적어도 하나를 저장할 수 있다.또는, 예를 들어, 저장부(22)는, 시간 영역에서 고유의 전류 변화 패턴을 나타내는 특징값으로서 피크 전류와 정격 전류의 비율, 정격 전류, 및 감지된 전류 변화가 안정화되는 시간중 적어도 하나를 저장할 수 있다. 이러한 데이터는 학습 또는 사용자 입력에 의해 저장될 수도 있고, 외부 장치로부터 수신하여 저장된 것일 수도 있다. For example, the
또한, 저장부(22)는 전자 디바이스가 사용한 전력량을 계산하기 위해 필요한 정보를 저장할 수 있다. 예를 들어, 저장부(22)는, 각 전자 디바이스의 정격 전류, 정격 전압, 및 정격 전력 중 적어도 하나를 저장할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(20)는, 각 전자 디바이스가 단위 시간동안 사용하는 전력량을 저장함으로써, 각 전자 디바이스가 동작한 시간에 기초하여 각 전자 디바이스가 사용한 전력량 및 복수의 전자 디바이스들이 사용한 전력량을 측정할 수 있다.In addition, the
제어부(23)는, 전자 장치(20)의 전반적인 동작을 제어할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 제어부(23)는 모선(10)으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 전자 디바이스를 판별하는 과정의 전반적인 동작을 제어하는 역할을 수행할 수 있다. 또한, 제어부(23)는 복수의 전자 디바이스들이 사용한 전력량을 측정하는 과정의 전반적인 동작을 제어하는 역할을 수행할 수 있다.The
일 실시예에 따르면, 제어부(23)는 전자 장치(20)가 전류 센서(21)를 이용하여 모선(10)에 흐르는 전류를 감지하고, 감지된 전류를 바탕으로 시간 영역 및/또는 주파수 영역에서 모선(10)의 전류 변화를 분석할 수 있다. 제어부(23)는, 분석 결과에 기초하여, 모선(10)으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 전자 디바이스를 판별할 수 있다. 또한, 제어부(23)는 판별된 전자 디바이스의 동작 시간 및 판별된 전자 디바이스가 단위 시간동안 사용하는 전력량에 기초하여, 판별된 전자 디바이스가 사용한 전력량을 결정할 수 있다. 전자 디바이스가 사용한 전력량은, 전자 디바이스의 동작 시간에 전자 디바이스가 단위 시간동안 사용하는 전력량을 곱함으로써 계산될 수 있다.According to one embodiment, the
또한, 제어부(23)는 소정 시간동안 측정된 각 전자 디바이스가 사용한 전력량을 누적함으로써, 복수의 전자 디바이스들이 사용한 전력량을 측정할 수 있다. 제어부(23)는 소정 시간동안 측정된 적어도 하나의 전자 디바이스가 사용한 전력량을 저장부(22)에 저장할 수 있다. Also, the
제어부(23)는 전자 디바이스가 모선(10)으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우, 전류 센서(21)를 통해 감지된 전류 변화와 저장부에 저장된 데이터를 비교할 수 있다. 제어부(23)는, 감지된 전류 변화와 저장부에 저장된 데이터를 비교함으로써, 복수의 전자 디바이스들 중에서 동작하는 전자 디바이스를 판별할 수 있다. The
제어부(23)는, 전자 디바이스가 모선을 통해 전원을 공급받아 동작하는 순간의 과도 상태의 전류 변화를 기초로, 동작하기 시작한 전자 디바이스를 판별할 수 있다. 제어부(23)는, 모선을 통해 공급되는 전류가 제1 정상 상태로부터 제2 정상 상태로 변하는 과도 상태의 전류 변화와 저장부에 저장된 데이터를 비교함으로써 복수의 전자 디바이스들 중에서 동작하고 있는 전자 디바이스를 판별할 수 있다. 제1 정상 상태는, 전자 디바이스가 모선에 연결되어 있지 않거나 전자 디바이스의 전원이 꺼진 상태에 대응할 수 있다. 제2 정상 상태는, 전자 디바이스가 모선에 연결되거나 전자 디바이스의 전원이 켜지고 소정 시간이 지난 후의 상태에 대응할 수 있다.The
도 3은 모선에 연결된 복수의 전자 디바이스들 각각의 전원을 켰다가 껐을 때 일 실시예에 따른 전자 장치에서 감지되는 시간 영역에서의 모선의 전류 변화의 예를 나타내는 도면이다.도 3의 그래프 310, 320, 및 330은 각각 전자 디바이스 A, 전자 디바이스 B, 및 전자 디바이스 C가 동작할 때 모선으로부터 감지된 전류 변화를 도시한다. 3 is a diagram showing an example of a current change of a bus line in a time domain sensed by an electronic device according to an embodiment when each of a plurality of electronic devices connected to a bus line is turned on and off. 320, and 330 illustrate current variations sensed from the bus bar when electronic device A, electronic device B, and electronic device C, respectively, are operating.
도 3은, 각 전자 디바이스가 켜지는 과도 상태에서 모선을 통해 흐르는 전류의 변화 패턴이 상이함을 보여준다. 따라서, 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 각 전자 디바이스가 과도상태일 때 모선으로부터 감지되는 전류 변화 패턴을 각 전자 디바이스의 고유 전력 특성으로서 저장할 수 있다. 전자 장치(20)는, 다양한 전자 디바이스가 연결된 모선의 전류를 측정하고, 저장된 고유 전력 특성을 나타내는 데이터와 측정된 전류를 비교함으로써, 동작하고 있는 각 전자 디바이스를 판별할 수 있다.일 실시예에 따른 전자 장치(20)는,각 전자 디바이스 별 시간 영역에서의 모선(10)의 전류 변화 패턴을 각 전자 디바이스의 고유 특성으로서 저장할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(20)는, 각 전자 디바이스가 과도상태일 때 모선으로부터 감지되는 피크 전류의 크기, 전류가 안정화에도달하는 시간, 전류 변화 모양, 및 정격전류 크기 중 적어도 하나를 저장할 수 있다.Fig. 3 shows that the change patterns of the current flowing through the bus line in the transient state in which each electronic device is turned on are different. Thus, the
도 4는 모선에 연결된 복수의 전자 디바이스들 각각의 전원을 켰다가 껐을 때 일 실시예에 따른 전자 장치가 감지하는 주파수 영역에서의 모선의 전류 변화의 예를 나타내는 도면이다.4 is a diagram showing an example of a current change of a bus line in a frequency region sensed by an electronic device according to an embodiment when the plurality of electronic devices connected to the bus line are turned on and off, respectively.
도 3에서 도시한 시간 영역에서의 전류 변화를 퓨리에 변환한 결과가 그래프410에 도시된다. 그래프 410을 살펴보면, 모선을 통해 공급되는 전류의 중심 주파수인 60Hz 주변에서 각 전자 디바이스의 전류 변화 패턴이 상이하다. 중심 주파수의 주변 영역(411)을 확대하면그래프 420과 같다. 도 4의 그래프 420에서 그래프 401, 402, 및 403은 전자 디바이스 A, 전자 디바이스 B, 및 전자 디바이스 C가 각각 동작할 때 모선으로부터 감지된 전류 변화를 도시한다. 그래프 420을 살펴보면, 디바이스 A(401)와 디바이스 C(403)는 정격 전압이 유사함에도 불구하고, 디바이스 A(401)의 60Hz 주변 주파수 성분이 디바이스 C(403)에 비해 확연히 넓음을 확인할 수 있다. 디바이스 C(403)의 주파수 성분은 디바이스 A(401)와 디바이스 B(402)의 주파수 성분과 확연한 차이가 있다. 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는 각 전자 디바이스 별 주파수 영역에서의 모선(10)의 전류 변화 패턴을 각 전자 디바이스의 고유 특성으로서 저장할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(20)는, 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기 및 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수 중 적어도 하나를 저장할 수 있다.The result of the Fourier transform of the current change in the time domain shown in FIG. 3 is shown in a
도 4에 도시한 바와 같이 각 전자 디바이스는 모선(10)으로부터 전원을 공급 받아 동작할 때주파수 영역에서의 고유의 전류 변화 패턴이 존재한다. 따라서, 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 주파수 영역에서 모선(10)의 전류 변화에 대한 분석을 수행함으로써동작하기 시작한 전자 디바이스가 어떤 전자 디바이스인지 판별할 수 있다. 특히, 주파수 영역에서의 분석은 시간 영역에서의 분석을 통해 판별할 수 없었던 전자 디바이스의 식별을 가능하게 할 수 있다.As shown in FIG. 4, each electronic device has its own current variation pattern in the frequency domain when power is supplied from the
일정한 시간간격으로 주기적으로 변하는 전력은 스펙트럼 분석기(Spetrum Analysor)와 같은 장비로 주파수 영역의 직접 측정이 가능하지만, 비주기적 전력을 주파수 영역에서 분석하기 위해서는 시간 영역에서 측정 결과를 푸리에 변환하는 것이 필요하다. 보다 구체적으로, 시간 영역에서 측정 결과는 일정한 시간 간격으로 샘플링되어 측정되기 때문에, 이산 푸리에 변환(Discrete Fourier Transform)을 수행할 수 있고, 특히, 고속 푸리에 변환(FFT, Fast Fourier Transform)을 수행할 수도 있다. Power that periodically changes at regular time intervals can be directly measured in the frequency domain with equipment such as a spectrum analyzer. However, in order to analyze the aperiodic power in the frequency domain, it is necessary to Fourier-transform the measurement results in the time domain . More specifically, since the measurement results are sampled and measured at regular time intervals in the time domain, it is possible to perform Discrete Fourier Transform (FFT), in particular, to perform Fast Fourier Transform have.
다시 도 2에 대한 설명으로 돌아가면, 제어부(23)는 다양한 방법으로 시간 영역 및 주파수 영역에서 모선(10)의 전류 변화에 대하여 분석한 결과와 저장부(22)에 저장된 전류 변화 패턴을 비교할 수 있다. 예를 들어, 제어부(23)는, 피크 전류의 크기, 전류가 안정화에 도달하는 시간, 정격 전류 크기, 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기 및 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수 중 적어도 하나를 저장된 데이터와 비교할 수 있다. 또는 제어부(23)는 시간 영역 및 주파수 영역에서 모선(10)의 전류 변화를 그래프로 나타내고, 저장부(22)에 저장된 전류 변화 패턴 역시 그래프로 복원하여, 두 그래프 간의 유사도를 계산할 수도 있다. 다만, 이에 한정되지 않고 다양한 방법으로 시간 영역 및 주파수 영역에서 모선(10)의 전류 변화에 대하여 분석 결과와 저장부(22)에 저장된 전류 변화 패턴을 비교할 수 있다.2, the
일 실시예에 따르면, 전자 디바이스의 다양한 고유 전력 특성들 중에서 어떠한 고유 전력 특성에 기초하여, 감지된 모선의 전류 변화와 저장된 전류 변화 패턴을 비교할 것인지는, 사용자의 입력에 의해, 미리 설정된 값에 의해, 또는 학습에 의해 전자 장치(20)가 결정할 수 있다.According to one embodiment, whether to compare the current change of the sensed bus line with the stored current change pattern based on any inherent power characteristic among the various inherent power characteristics of the electronic device is determined by a user's input, Or the
일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 각 전자 디바이스가 모선으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우에, 주파수 영역에서 나타나는 모선(10)의 전류 변화 패턴을 저장부(22)에 저장할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(20)는, 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기 및 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수 중 적어도 하나를 저장할 수 있다. 전자 장치(20)는, 다양한 전자 디바이스들에게 전원을 공급하는 모선의 전류를 측정하고미리 저장된 데이터와 측정된 전류를 비교함으로써, 동작하는 각 전자 디바이스를 판별할 수 있다. The
일 실시예에 따르면 제어부(23)는, 전류 센서(21)를 통해 감지된 모선(10)의 전류 변화를 주파수 변환한 결과에 기초하여, 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기 및 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수 중 적어도 하나를 추출할 수 있다.According to one embodiment, the
일 예로서, 제어부(23)는, 모선을 통해 공급되는 전류의 중심 주파수를 고려하여 결정된 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기를 추출할 수 있다.As an example, the
도 5는 도 4의 그래프(410)에서 중심 주파수의 오른쪽 영역을 확대하여 로그 스케일로 변환한 그래프이다. 도 5를 참조하면, 제어부(23)는 전자 디바이스 A가 모선으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우, 감지된 모선의 전류 변화를 주파수 변환한 그래프(510)로부터 중심 주파수로부터 제1 주파수까지의 전류 변화를 나타내는 기울기(501)를 추출할 수 있다. 또한, 제어부(23)는 전자 디바이스 B, C 각각이 모선으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우, 각각 그래프(520) 및 그래프(530)로부터 중심 주파수로부터 제1 주파수까지의 전류 변화를 나타내는 기울기(502, 503)를 추출할 수 있다. 도 5에 도시된 바와 같이, 각 전자 디바이스가모선으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우, 모선으로부터 감지되는 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기(501, 502, 503)는 상이하다. 따라서, 제어부(23)는, 추출된 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기를 저장부(22)에 미리 저장된 데이터와 비교함으로써 동작하고 있는 전자 디바이스를 판별할 수 있다.5 is a graph obtained by enlarging the right region of the center frequency in the
또한, 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 감지된 모선의 전류 변화 패턴으로부터 복수의 주파수 구간들에 대한 전류 변화 기울기들을 추출할 수 있다. 전자 장치(20)는 추출된 복수의 값들을 이용함으로써, 동작하고 있는 전자 디바이스가 무엇인지 보다 명확히 구분할 수 있다. 예를 들어, 제어부(23)는, 중심 주파수로부터 제1 주파수까지의 전류 변화를 나타내는 제1 기울기 및 제1 주파수로부터 제2 주파수까지의 전류 변화를 나타내는 제2 기울기를 추출할 수 있다. 이 때, 제1 주파수 및 제2 주파수는, 기본값으로 저장된 값이거나 사용자 입력에 의해 지정될 수 있다.In addition, the
도 5를 참조하면, 제어부(23)는 전자 디바이스 A가 모선으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우, 중심 주파수로부터 제1 주파수까지의 전류 변화를 나타내는 기울기(501), 및 제1 주파수로부터 제2 주파수까지의 전류 변화를 나타내는 기울기(511)를 그래프(510)로부터 추출할 수 있다. 또한, 제어부(23)는 전자 디바이스 B가 모선으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우에도, 복수의 주파수 구간들에 대한 기울기들(502, 512)을 그래프(520)로부터 추출할 수 있다. 제어부(23)는 전자 디바이스 C가 모선으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우에도, 복수의 주파수 구간들에 대한 기울기들(503, 513)을 그래프(530)로부터 추출할 수 있다. 제어부(23)는, 복수의 주파수 구간들에 대해서 추출된 기울기 값들을 저장부(22)에 미리 저장된 데이터와 비교함으로써 동작하고 있는 전자 디바이스를 보다 정확하게 판별할 수 있다. Referring to FIG. 5, when the electronic device A receives power from the bus and operates, the
다른 예로서, 제어부(23)는, 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수를 추출할 수 있다. 제어부(23)는, 모선을 통해 공급되는 전류의 중심 주파수와 소정 전류 크기에 대응하는 주파수 간의 차이값을 나타내는 오프셋 주파수를 추출할 수 있다. 소정 전류 크기는, 기본값으로 저장된 값이거나 사용자 입력에 의해 지정된 값일 수 있다.As another example, the
도 6은 도 4의 그래프(410)에서 중심 주파수의 오른쪽 영역을 확대하여 로그 스케일로 변환한 그래프이다. 6 is a graph obtained by enlarging the right area of the center frequency in the
도 6을 참조하면, 제어부(23)는 전자 디바이스 A가 모선으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우, 감지된 모선의 전류 변화를 주파수 변환한 그래프(610)로부터 오프셋 주파수(601)를 추출할 수 있다. 또한, 제어부(23)는, 전자 디바이스 B, C 각각이 모선으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우, 그래프(620) 및 그래프(630) 각각으로부터 오프셋 주파수(602, 603)를 추출할 수 있다. 도 6에 도시된 바와 같이, 각 전자 디바이스가 모선으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우, 모선으로부터 감지되는 전류 변화의 오프셋 주파수(601, 602, 603)는 상이하다. 따라서, 제어부(23)는, 추출된 오프셋 주파수를 저장부(22)에 미리 저장된 데이터와 비교함으로써 동작하고 있는 전자 디바이스를 판별할 수 있다.Referring to FIG. 6, when the electronic device A receives power from the bus, the
도 5 및 도 6을 참조하여 설명한, 중심 주파수 주변의 특정 주파수 변화만을 추출함으로써 전자 디바이스의 동작 여부를 감지하는 위상 잡음 분석 방법은, 노이즈에 의한 왜곡을 덜 받을 수 있다는 장점이 있다.The phase noise analysis method for detecting whether or not the electronic device is operating by extracting only a specific frequency change around the center frequency as described with reference to FIGS. 5 and 6 has an advantage that it can receive less distortion due to noise.
제어부(23)는,감지된 전류 변화로부터 추출된 값을 저장부에 저장된 데이터와 비교함으로써 동작하기 시작한 전자 디바이스를 판별할 수 있다.The
다른 실시예에 따르면, 제어부(23)는, 감지된 전류 변화를 주파수 변환한 결과와 더불어, 감지된 전류 변화를 시간 영역에서 분석한 결과를 더 고려하여, 동작하는 전자 디바이스를 판별할 수 있다.According to another embodiment, the
예를 들어, 제어부(23)는, 감지된 전류 변화를 시간 영역에서 분석한 결과에 기초하여 피크 전류와 정격 전류의 비율, 정격 전류, 및 감지된 전류 변화가 안정화되는 시간 중 적어도 하나를 추출할 수 있다. For example, the
도 7은 전자 디바이스의 전원을 켰다가 껐을 때 일 실시예에 따른 시간 영역에서의 모선의 전류 변화의 예를 나타내는 도면이다. 도 7을 참조하면, 제어부(23)는 전자 디바이스가 모선으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 경우, 모선의 전류 변화로부터 피크 전류(b), 정격 전류(c), 피크 전류와 정격 전류의 비율(b/c), 및 전류 변화가 안정화되는 시간(a)를 추출할 수 있다.7 is a diagram showing an example of a current change of a bus line in a time domain according to an embodiment when the electronic device is turned on and off. 7, when the electronic device is operated by supplying power from the bus, the
제어부(23)는, 시간 영역에서 분석한 결과에 기초하여 추출된 값을 저장부에 저장된 데이터와 비교함으로써 동작하기 시작한 전자 디바이스를 판별할 수 있다.The
일 실시예에 따른 제어부(23)는, 주파수 영역에서의 분석을 통해 동작하고 있는 전자 디바이스를 판별할 수 없는 경우, 모선의 전류 변화에 대한 시간 영역에서의 분석을 수행할 수 있으나, 실시예가 반드시 이에 제한되는 것은 아니다. 예를 들어, 제어부(23)는, 모선의 전류 변화에 대한 주파수 영역에서의 분석과 시간 영역에서의 분석을 병렬적으로 수행하거나, 시간 영역에서의 분석을 먼저 수행한 후 주파수 영역에서의 분석을 수행할 수 있다. 주파수 영역에서의 분석은 푸리에 변환 과정이 포함되어 상대적으로 복잡하고 지연이 발생할 수 있으나 보다 정확한 분석이 가능하다.The
또한, 전자 장치(20)는 전류 센서의 출력단과 접지 사이에 선택적으로 션트 연결되는 캐피시터(미도시)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 캐패시터는 시간 영역에서 모선의 전류 변화에 대하여 분석을 수행 시에만 연결될 수 있다. The
한편, 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는 각 전자 디바이스가 단독으로 전원이 ON되고 OFF되는 경우뿐만 아니라, 순차적으로 켜지는 경우에도 모선의 전류 변화 패턴을 분석함으로써 각 전자 디바이스의 동작 상태를 감지할 수 있다.Meanwhile, the
도 8은 복수의 전자 디바이스들이 모선으로부터 전원을 공급 받아 순차적으로 동작하는 경우, 일 실시예에 따른 전자 장치(20)에서 감지되는 시간 영역에서의 모선의 전류 변화의 예를 나타내는 도면이다.8 is a diagram showing an example of a current change of a bus line in a time domain sensed by the
도 8의 그래프(810)는 전자 디바이스 B와 전자 디바이스 A가 순차적으로 전원이 켜지고 전자 디바이스 A가 전원이 꺼지는 경우의, 시간 영역에서 모선(10)의 전류 변화를 나타낸다. 그래프(811)는 전자 디바이스 B와 전자 디바이스 A가 순차적으로 전원이 켜지고 전자 디바이스 A가 전원이 꺼지는 경우의, 시간 영역에서 전자 디바이스 A 및 전자 디바이스 B의 전류 변화를 나타낸다. 그래프(813)는 시간 영역에서 전자 디바이스 B의 전류 변화를 나타내고, 그래프(815)는 시간 영역에서 전자 디바이스 A의 전류 변화를 나타낸다.The
그래프(811)을 참조하면, 전자 디바이스 A 및 전자 디바이스 B가 동작을 시작하고 종료하는 시점을 알 수 있다. 그래프(811)를 참조하면, 디바이스 B는 3초 정도에 모선(10)에 연결되고 디바이스 A는 8초 정도에 모선(10)에 연결되며 18초 정도에 연결이 해제되는 것을 알 수 있다. Referring to the
도 8을 참조하면 그래프(810)과 그래프(811)의 전류 변화 패턴이 유사함을 알 수 있다. 따라서, 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 모선으로부터 감지된 전류 변화를 분석함으로써, 전자 디바이스 B의 동작 상태가 3초에 변하고, 전자 디바이스 A의 동작 상태가 8 초 및 18초에 변하였음을 판단할 수 있다.Referring to FIG. 8, it can be seen that the current variation patterns of the
도 8의 그래프(820)는 전자 디바이스 B와 전자 디바이스 C가 순차적으로 전원이 켜지고 전자 디바이스 C가 전원이 꺼지는 경우의, 시간 영역에서 모선(10)의 전류 변화를 나타낸다. 그래프(821)는 전자 디바이스 B와 전자 디바이스 C가 순차적으로 전원이 켜지고 전자 디바이스 C가 전원이 꺼지는 경우의, 시간 영역에서 전자 디바이스 B 및 전자 디바이스 C의 전류 변화를 나타낸다.그래프(825)는 시간 영역에서 전자 디바이스 C의 전류 변화를 나타내고, 그래프(823)는 시간 영역에서 전자 디바이스 B의 전류 변화를 나타낸다. The
그래프(821)을 참조하면, 전자 디바이스 B 및 전자 디바이스 C가 동작을 시작하고 종료하는 시점을 알 수 있다. 그래프(821)를 참조하면, 디바이스 B는 3초 정도에 모선(10)에 연결되고 디바이스 C는 9초 정도에 모선(10)에 연결되며 19초 정도에 연결이 해제되는 것을 알 수 있다.Referring to the
도 8을 참조하면 그래프(820)과 그래프(821)의 전류 변화 패턴이 유사함을 알 수 있다. 따라서, 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 모선으로부터 감지된 전류 변화를 분석함으로써, 전자 디바이스 B의 동작 상태가 3초에 변하고, 전자 디바이스 C의 동작 상태가 9 초 및 19초에 변하였음을 판단할 수 있다.Referring to FIG. 8, it can be seen that the current variation patterns of the
일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 모선으로부터 감지된 전류 변화로부터 피크 전류 크기, 안정화에 도달하는 시간, 전류 변화 모양, 및 정격 전류 크기 등을 추출하고, 추출된 값을 저장부(22)에 저장된 데이터와 비교함으로써 전자 디바이스들의 동작 상태를 판별할 수 있다.The
도 9는 복수의 전자 디바이스들이 모선으로부터 전원을 공급 받아 순차적으로 동작하는 경우 감지되는 주파수 영역에서의 모선의 전류 변화의 예를 나타내는 도면이다. 도 9는 전자 디바이스들이 순차적으로 연결된 경우 주파수 영역에서 모선의 전류 변화를 나타내는 도면이다.9 is a diagram showing an example of a current change of a bus line in a frequency region that is sensed when a plurality of electronic devices are sequentially supplied with power from a bus line. 9 is a diagram showing a change in current of a bus line in a frequency domain when electronic devices are sequentially connected.
도 9의 그래프(910, 920)는 도 8의 그래프(810, 820)의 측정 환경에서 션트로 연결되는 캐패시터를 제외하고 측정한 전류 변화를 퓨리에 변환한 결과이다.The
그래프(910)를 살펴보면, 그래프(901)의 60Hz 주변 주파수 성분이 그래프(903)의 60Hz 주변 주파수 성분에 비해 확연히 넓음을 확인할 수 있다. 따라서, 전자 장치(20)는, 그래프(901)에 기초하여 전자 디바이스 A가 동작하는 것으로 판별하고, 그래프(903)에 기초하여 전자 디바이스 B가 동작하는 것으로 판별할 수 있다.Referring to the
또한, 그래프(920)를 살펴보면, 그래프(907)의 60Hz 주변 주파수 성분이 그래프(905)의 60Hz 주변 주파수 성분에 비해 확연히 넓음을 확인할 수 있다. 따라서, 전자 장치(20)는, 그래프(905)에 기초하여 전자 디바이스 C가 동작하는 것으로 판별하고, 그래프(907)에 기초하여 전자 디바이스 B가 동작하는 것으로 판별할 수 있다.In the
한편, 도 10에 도시된 바와 같이, 일 실시예에 따른 전자 디바이스의 동작을 감지하는 장치는, 입력부(24) 및 출력부(25) 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있다.10, the apparatus for sensing the operation of the electronic device according to an embodiment may further include at least one of an
입력부(24)는, 전자 디바이스 판별을 위한 정보를 외부 장치로부터 또는 사용자로부터 수신할 수 있다. 입력부(24)는, 각 전자 디바이스가 상기 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우에 모선의 전류 변화 패턴을 나타내는 데이터를 수신할 수 있다. 예를 들어, 입력부(24)는 사용자 입력을 수신하는 조작 패널(operation panel) 및 화면을 표시하는 디스플레이 패널(display panel) 등을 포함할 수 있다. 구체적으로, 입력부는, 예를 들어, 키보드, 물리 버튼, 터치 스크린, 카메라 또는 마이크 등과 같이 다양한 형태의 사용자 입력을 수신할 수 있는 장치들을 포함할 수 있다.The
입력부(24)는, 전자 디바이스의 다양한 고유 전력 특성들 중에서 어떠한 고유 전력 특성에 기초하여, 감지된 모선의 전류 변화와 저장된 전류 변화 패턴을 비교할 것인지를 결정하는 사용자 입력을 수신할 수 있다.The
출력부(25)는, 전자 장치(20)에서 처리된 정보를 표시하거나 외부 장치에 출력할 수 있다. 예를 들어, 출력부(25)는, 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 것으로 판별된 전자 디바이스를 표시하거나, 적어도 하나의 전자 디바이스가 사용한 전력량을 표시할 수 있다.The
출력부(25)는, 예를 들어, 디스플레이 패널 또는 스피커 등을 포함할 수 있다. 다만, 이에 한정되지 않고 입력부(24) 및 출력부(25)는 다양한 입출력을 지원하는 장치를 포함할 수 있다. 예를 들어, 입력부(24) 및 출력부(25)는 다른 디바이스 또는 네트워크와 유무선 통신을 수행할 수 있다. 입력부(24) 및 출력부(25)는 다양한 유무선 통신 방법 중 적어도 하나를 지원하는 통신 모듈을 포함할 수 있다. 무선 통신은, 예를 들어, Wi-Fi(Wireless Fidelity), Wi-Fi Direct, 블루투스(Bluetooth), UWB(Ultra Wide Band) 또는 NFC(Near Field Communication) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 유선 통신은, 예를 들어, USB 또는 HDMI(High Definition Multimedia Interface) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The
이하에서는, 일 실시예에 따른 전자 장치(20)가 전자 디바이스의 동작을 감지하는 방법을 설명한다. 이하에서 서술하는 방법의 각 단계는, 도 2 및 10과 관련하여 상술한 전자 장치(20)의 각 구성들에 의해 수행될 수 있다.도 11은 일 실시예에 따른 전자 장치(20)가 전자 디바이스의 동작을 감지하는 방법의 흐름도이다.Hereinafter, a method for the
단계 S1110에서 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 전류 센서를 이용하여 복수의 전자 디바이스들 중 적어도 하나의 전자 디바이스에게 전원을 공급하는 모선의 전류를 측정할 수 있다.In step S1110, the
단계 S1120에서 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 각 전자 디바이스가 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우에 모선의 전류 변화 패턴을 나타내는 데이터를 저장부로부터 획득할 수 있다.In step S1120, the
단계 S1130에서 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 복수의 전자 디바이스들 중에서 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 전자 디바이스를 판별할 수 있다. 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는 전자 디바이스가 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우, 전류 센서를 통해 감지된 전류 변화와 저장부로부터 획득된 데이터를 비교함으로써 복수의 전자 디바이스들 중에서 동작하기 시작한 전자 디바이스를 판별할 수 있다. In step S1130, the
일 실시예에 따른 전자 장치(20)는 전류 센서(21)를 통해 감지한 전류를 바탕으로 시간 영역 및/또는 주파수 영역에서 모선(10)의 전류 변화를 분석할 수 있다. 전자 장치(20)는, 분석 결과를 기초로 모선(10)으로부터 전원을 공급 받아 동작하는 전자 디바이스를 판별할 수 있다.The
예를 들어, 전자 장치(20)는, 전류 센서에서 감지된 전류 변화를 주파수 변환할 수 있다. 전자 장치(20)는, 주파수 변환한 결과에 기초하여, 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기 및 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수 중 적어도 하나를 추출할 수 있다. 전자 장치(20)는, 추출된 값을 저장부로부터 획득된 데이터와 비교함으로써 동작하는 전자 디바이스를 판별할 수 있다.For example, the
도 12는 일 실시예에 따른전자 장치(20)가 전자 디바이스의 동작을 감지하는 방법의 구체적인 흐름도이다.12 is a specific flowchart of a method by which the
도 12의 S1210는 도 11의 S1110에 대응하고, 도 12의 S1220는 도 11의 S1120에 대응하고, 도 12의 S1230, S1240, S1250, 및 S1260은 도 11의 S1130에 대응할 수 있다. 서로 대응하는 도 11의 각 단계와 도 12의 각 단계에 대해서는, 각 단계에 대한 설명이 서로 적용될 수 있다. 따라서, 중복되는 동작에 대한 설명은 생략한다.12 corresponds to S1110 in Fig. 11, S1220 in Fig. 12 corresponds to S1120 in Fig. 11, and S1230, S1240, S1250, and S1260 in Fig. 12 correspond to S1130 in Fig. For each step of Fig. 11 corresponding to each other and each step of Fig. 12, explanations of the respective steps may be applied to each other. Therefore, the description of the duplicate operation will be omitted.
단계 S1210에서 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 전류 센서를 이용하여 복수의 전자 디바이스들 중 적어도 하나의 전자 디바이스에게 전원을 공급하는 모선의 전류를 측정할 수 있다.In step S1210, the
단계 S1220에서 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 각 전자 디바이스가 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우에 모선의 전류 변화 패턴을 나타내는 데이터를 저장부로부터 획득할 수 있다.In step S1220, the
단계 S1230에서 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 전류 센서에서 감지된 전류 변화를 주파수 변환할 수 있다. 전자 장치(20)는, 주파수 변환한 결과에 기초하여, 복수 개의 전자 디바이스들 중에서 동작하기 시작한 전자 디바이스를 판별할 수 있다.예를 들어, 전자 장치(20)는, 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기 및 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수 중 적어도 하나를 저장부로부터 획득된 데이터와 비교함으로써 동작하는 전자 디바이스를 판별할 수 있다.In step S1230, the
일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 단계 S1230에서 둘 이상의 전자 디바이스들이 동작하는 전자 디바이스로서 판별되었는지 여부를 판단할 수 있다(S1240). 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 둘 이상의 전자 디바이스들이 동작하는 전자 디바이스로서 판별된 경우, 모선의 전류 변화를 시간 영역에서 분석한 결과를 더 고려하여 동작하기 시작한하나의 전자 디바이스를 판별할 수 있다.(S1250).The
단계 S1230에서 일 실시예에 따른 전자 장치(20)는, 판별된 전자 디바이스의 동작 시간 및 전자 디바이스가 단위 시간동안 사용하는 전력량에 기초하여, 전자 디바이스가 사용한 전력량을 계산할 수 있다. In step S1230, the
일 실시예에 따른 전자 장치(20)는 단계 S1210 내지 S1260을 반복함으로써, 소정 시간동안 측정된 각 전자 디바이스가 사용한 전력량을 누적하여 복수의 전자 디바이스들이 사용한 전력량을 측정할 수 있다. 전자 장치(20)는 소정 시간동안 측정된 적어도 하나의 전자 디바이스가 사용한 전력량을 표시하거나 저장할 수 있다.The
한편, 상술된 실시예들은 컴퓨터에 의하여 실행 가능한 명령어 및 데이터를 저장하는 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체의 형태로 구현될 수 있다. 상기 명령어 및 데이터 중 적어도 하나는 프로그램 코드의 형태로 저장될 수 있으며, 프로세서에 의해 실행되었을 때, 소정의 프로그램 모듈을 생성하여 소정의 동작을 수행할 수 있다. Meanwhile, the above-described embodiments may be embodied in the form of a computer-readable recording medium storing computer-executable instructions and data. At least one of the command and data may be stored in the form of program code, and when executed by the processor, a predetermined program module may be generated to perform a predetermined operation.
컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체란, 예를 들어 하드디스크 등과 같은 마그네틱 저장매체, CD 및DVD 등과 같은 광학적 판독매체 등을 의미할 수 있으며, 네트워크를 통해 접근 가능한 외부 장치에 포함되는 메모리를 의미할 수도 있다. The computer-readable recording medium may be, for example, a magnetic storage medium such as a hard disk, an optical reading medium such as a CD and a DVD, or the like, and may be a memory included in an external device accessible through a network have.
이상과 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It will be understood. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive.
10: 모선
11, 12, 13: 연결 지점
20: 전자 장치
21: 전류 센서
22: 저장부
23: 제어부
24: 입력부
25: 출력부10: Mothership
11, 12, 13: connection point
20: Electronic device
21: Current sensor
22:
23:
24:
25: Output section
Claims (9)
각 전자 디바이스가 상기 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우에 상기 모선의 전류 변화 패턴을 나타내는 데이터를 저장하는 저장부; 및
전자 디바이스가 상기 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우, 상기 전류 센서를 통해 감지된 전류 변화와 상기 저장부에 저장된 데이터를 비교함으로써 상기 복수의 전자 디바이스들 중에서 상기 전자 디바이스를 판별하는 제어부를 포함하고,
상기 제어부는, 상기 감지된 전류 변화를 주파수 변환한 결과에 기초하여, 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기 및 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수 중 적어도 하나를 추출하고, 추출된 값을 상기 저장부에 저장된 데이터와 비교함으로써 상기 전자 디바이스를 판별하고,
상기 제어부는,
상기 모선을 통해 공급되는 전류의 중심 주파수를 고려하여 결정된 상기 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기와 상기 저장부에 저장된 데이터를 비교함으로써 상기 전자 디바이스를 판별하는,전자 디바이스의 동작을 감지하는 장치.A current sensor for measuring a current of a power hub that supplies power to a plurality of electronic devices;
A storage unit for storing data representing a current variation pattern of the bus bar when each electronic device is operated by receiving power from the bus bar; And
And a control unit for discriminating the electronic device among the plurality of electronic devices by comparing the current change sensed by the current sensor and the data stored in the storage unit when the electronic device is operated with power supplied from the bus line ,
Wherein the control unit extracts at least one of a current change slope of a predetermined frequency section and an offset frequency corresponding to a predetermined current size based on a result of frequency conversion of the sensed current change, The electronic device is discriminated by comparing with the data,
Wherein,
And determines the electronic device by comparing the current change gradient of the predetermined frequency section, which is determined in consideration of the center frequency of the current supplied through the bus, with the data stored in the storage section.
상기 제어부는,
상기 중심 주파수로부터 제1 주파수까지의 전류 변화를 나타내는 제1 기울기 및 상기 제1 주파수로부터 제2 주파수까지의 전류 변화를 나타내는 제2 기울기와 상기 저장부에 저장된 데이터를 비교함으로써 상기 전자 디바이스를 판별하는, 전자 디바이스의 동작을 감지하는 장치.The method according to claim 1,
Wherein,
The electronic device is discriminated by comparing a first slope indicative of a current change from the center frequency to a first frequency and a second slope indicative of a current change from the first frequency to a second frequency and data stored in the storage unit , An apparatus for detecting the operation of the electronic device.
상기 제어부는,
상기 모선을 통해 공급되는 전류의 중심 주파수와 상기 소정 전류 크기에 대응하는 주파수 간의 차이값을 나타내는 상기 오프셋 주파수와 상기 저장부에 저장된 데이터를 비교함으로써 상기 전자 디바이스를 판별하는, 전자 디바이스의 동작을 감지하는 장치.The method according to claim 1,
Wherein,
Determining an electronic device by comparing the offset frequency indicative of a difference between a center frequency of a current supplied through the bus and a frequency corresponding to the predetermined current magnitude and data stored in the storage unit; .
각 전자 디바이스가 상기 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우에 상기 모선의 전류 변화 패턴을 나타내는 데이터를 저장부로부터 획득하는 단계; 및
전자 디바이스가 상기 모선으로부터 전원을 공급받아 동작하는 경우, 상기 전류 센서를 통해 감지된 전류 변화와 상기 저장부로부터 획득된 데이터를 비교함으로써 상기 복수의 전자 디바이스들 중에서 상기 전자 디바이스를 판별하는 단계를 포함하고,
상기 전자 디바이스를 판별하는 단계는,
상기 감지된 전류 변화를 주파수 변환하는 단계;
상기 주파수 변환한 결과에 기초하여, 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기 및 소정 전류 크기에 대응하는 오프셋 주파수 중 적어도 하나를 추출하는 단계; 및
상기 추출된 값을 상기 저장부로부터 획득된 데이터와 비교함으로써 상기 전자 디바이스를 판별하는 단계를 포함하며,
상기 전자 디바이스를 판별하는 단계는,
상기 모선을 통해 공급되는 전류의 중심 주파수를 고려하여 결정된 상기 소정 주파수 구간의 전류 변화 기울기와 상기 저장부에 저장된 데이터를 비교함으로써 상기 전자 디바이스를 판별하는 단계를 포함하는, 전자 디바이스의 동작을 감지하는 방법.Measuring a current of a bus line that supplies power to a plurality of electronic devices using a current sensor;
Obtaining data indicating a current change pattern of the bus line from the storage unit when each electronic device is operated by receiving power from the bus line; And
And determining the electronic device among the plurality of electronic devices by comparing the current change sensed by the current sensor and the data obtained from the storage unit when the electronic device is operated by receiving power from the bus bar and,
The step of determining the electronic device includes:
Frequency conversion of the sensed current change;
Extracting at least one of a current change slope of a predetermined frequency section and an offset frequency corresponding to a predetermined current amplitude based on the result of the frequency conversion; And
And discriminating the electronic device by comparing the extracted value with data obtained from the storage unit,
The step of determining the electronic device includes:
And determining the electronic device by comparing the current change slope of the predetermined frequency section determined in consideration of the center frequency of the current supplied through the bus line and the data stored in the storage section Way.
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---|---|---|---|
KR1020180050268A KR101915565B1 (en) | 2018-04-30 | 2018-04-30 | Method andapparatus for sensing operation of electroninc device |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR102111395B1 (en) * | 2020-01-06 | 2020-05-15 | 최영태 | Steam supply device for making bakery and confectionery |
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KR101816095B1 (en) | 2017-08-10 | 2018-01-08 | 영남이공대학교 산학협력단 | An apparatus for sensing electroninc device connection |
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2018
- 2018-04-30 KR KR1020180050268A patent/KR101915565B1/en active IP Right Grant
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