KR101898341B1 - Ssd 테스트 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 호스트 컨트롤러와 커넥터 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행하는 임피던스 매칭부를 구비하고 임피던스 매칭부는 스위칭부와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 병렬로 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭되도록 하여 내부 임피던스가 서로 다른 SSD를 호환적으로 임피던스 매치하여 테스트를 수행함으로써 테스트 시간 및 비용을 절감할 수 있다.

Description

SSD 테스트 장치{SSD test apparatus}
본 문서는 SSD 테스트 장치에 관한 것으로서, 특히 본 발명은 SSD 테스트 장치에 관한 것으로서, SSD의 종류에 무관하게 임피던스 매칭을 호환적으로 수행할 수 있는 것을 SSD 테스트 장치에 관련된다.
현재 반도체 메모리 기술의 발전에 따라 더욱 빠른 전송 속도를 요구하게 되어 인쇄회로기판(Printed Circuit Board, PCB)의 기술이 반도체 메모리 테스팅 시스템에 중요한 요소가 되었다.
현재까지 대용량의 디지털 미디어 저장장치로서 가장 일반적으로 사용하고 있는 것은 하드디스크(HDD)이다. 그러나 최근 들어 메모리 기능의 반도체 소자 중에서 작은 크기에도 대용량 데이터를 저장할 수 있는 SSD(Solid State Drive)가 각광을 받고 있다.
이러한 SSD의 성능은 SSD 테스트 장치 통해 수행되며 PCIe(PCI Express), SAS, SATA 등의 인터페이스를 통해 SSD와 신호통신이 이루어진다. 현재 SATA/eSATA(serial ATA/external serial ATA) 및 PCIe와 같은 고속 직렬 인터페이스는 가전, 산업 및 의료 애플리케이션에서 데이터를 전달하고 저장하기 위한 사실상의 표준으로 자리잡고 있다. SSD는 적용 인터페이스에 따라 PCIe SSD, SAS SSD, SATA SSD 등으로 나뉠 수 있다.
도 1은 종래의 SSD 테스트 장치를 설명하는 도면이다. 도시된 바와 같이, SSD 테스트 장치(100)는 호스트 컨트롤러(110), 커넥터(200), 임피던스(R1, R2, R3)를 포함하여 구성될 수 있다.
SSD 테스트 장치(100)는 테스팅을 수행하기 위한 PCB일 수 있다. 호스트 컨트롤러(110)는 SSD의 성능을 테스트하기 위해 각종 신호를 발생시켜 SSD 테스트 장치의 내부 부품의 동작을 제어하는 기능을 수행할 수 있다. 커넥터는 SSD(300, 400, 500)를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다. SSD 테스트 장치(100)의 임피던스(R1, R2, R3)는 호스트 컨트롤러(110)와 커넥터(200) 간 전기적인 연결을 위한 신호 전송라인(120)의 저항을 의미할 수 있으며 통상적으로 100Ω으로 설정한다.
SSD는 종류에 따라 SAS SSD(300), SATA SSD(400), PCIe SSD(500)으로 분류될 수 있으며 각각 고유한 내부 임피던스(R1, R2, R3)를 가지고 있다.
아래 표 1은 SSD 종류에 따른 일반적인 내부 임피던스를 나타낸 것이다.
SSD 종류에 따른 일반적인 내부 임피던스
SSD 종류 SAS SATA PCIe
임피던스 100Ω 92Ω 85Ω
도 1의 (a)에 도시된 바와 같이, SSD 테스트 장치(100)가 SAS SSD(300)를 테스트할 경우 SSD 테스트 장치(100)의 임피던스(R1, 130)와 SAS SSD의 임피던스(R1, 310)가 매치되어 문제가 없으나, 만일 SSD 테스트 장치(100)가 SATA SSD 또는 PCIe SSD를 테스트할 경우 임피던스 미스 매치가 발생하게 되고 이로 인해 신호의 왜곡 및 반사가 발생하여 테스트 성능이 저하되는 현상이 초래될 수 있다. 따라서 도 1의 (b)와 (c)에 도시된 바와 같이, SSD 테스트 장치(100)가 SATA SSD(400) 또는 PCIe SSD(500)를 테스트할 경우에는 각각의 내부 임피던스(410, 510)에 매치되는 임피던스(140, 150)를 가지는 신호 전송 라인(120)을 별도로 구비하여야 하는 문제로 인해 SSD의 종류에 따라 SSD 테스트 장치(100)가 별개로 구비되어야 하는 문제가 발생하게 된다.
한국특허공보(공개공보번호: 10-2006-0104392, “변경 가능한 신호 전송 라인 구조를 갖는 반도체 디바이스테스트 장치”)는 반도체 디바이스와 신호 전송라인의 임피던스 특성을 맞추기 위해 단일 전송 라인 구성과 이중 전송 라인 구성이 하나의 테스트 장치 내에서 동시에 구현되는 테스트 장치를 개시하였으나 SSD의 종류에 무관하게 임피던스 매칭을 호환적으로 수행하는 해결 방법에 관한 테스트 장치에 대하여는 개시되어 있지 않다.
본 발명은 SSD 테스트 장치에 관한 것으로서, SSD의 종류에 무관하게 임피던스 매칭을 호환적으로 수행할 수 있는 것을 목적으로 한다.
이러한 목적을 달성하기 위한 일 양상에 따른 SSD 테스트 장치는,
SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치에 있어서,
SSD를 테스트하기 위하여 신호의 송수신을 제어하는 호스트 컨트롤러,
SSD를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공하는 커넥터,
호스트 컨트롤러와 커넥터 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행하는 임피던스 매칭부와,
상기 임피던스 매칭부는 스위칭부와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭되는 SSD 테스트 장치를 구성한다.
본 발명은 하나의 SSD 테스트 장치로 내부 임피던스가 서로 다른 SSD를 호환적으로 임피던스 매치하여 테스트를 수행함으로써 테스트 시간 및 비용을 절감할 수 있다.
도 1은 종래의 SSD 테스트 장치를 설명하는 도면이다.
도 2는 일 실시예에 따른 SSD 테스트 장치를 설명하는 도면이다.
도 3은 또 다른 일 실시예에 따른 SSD 테스트 장치를 설명하는 도면이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 기술되는 바람직한 실시예를 통하여 본 발명을 당업자가 용이하게 이해하고 재현할 수 있도록 상세히 기술하기로 한다. 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명 실시예들의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 본 발명 명세서 전반에 걸쳐 사용되는 용어들은 본 발명 실시예에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서, 사용자 또는 운용자의 의도, 관례 등에 따라 충분히 변형될 수 있는 사항이므로, 이 용어들의 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
또한 전술한, 그리고 추가적인 발명의 양상들은 후술하는 실시예들을 통해 명백해질 것이다. 본 명세서에서 선택적으로 기재된 양상이나 선택적으로 기재된 실시예의 구성들은 비록 도면에서 단일의 통합된 구성으로 도시되었다 하더라도 달리 기재가 없는 한 당업자에게 기술적으로 모순인 것이 명백하지 않다면 상호간에 자유롭게 조합될 수 있는 것으로 이해된다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
도 2는 일 실시예에 따른 SSD 테스트 장치를 설명하는 도면이다. 도시된 바와 같이, SSD 테스트 장치(100)는 호스트 컨트롤러(110), 스위칭부(160), 커넥터(200)를 포함하여 구성될 수 있다.
일 실시예에 따른 SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치(100)에 있어서,
SSD를 테스트하기 위하여 신호의 송수신을 제어하는 호스트 컨트롤러(110);
SSD를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공하는 커넥터(200);
호스트 컨트롤러와 커넥터 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행하는 임피던스 매칭부(160);를 포함하여 구비되고,
상기 임피던스 매칭부(160)는 스위칭부(161)와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 병렬로 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭 될 수 있다.
SSD 테스트 장치(100)는 테스팅을 수행하기 위한 PCB일 수 있다. 호스트 컨트롤러(110)는 SSD 테스트 장치(100) 상에 실장되어 SSD의 성능을 테스트하기 위해 각종 신호를 발생하여 SSD 테스트 장치의 내부 부품의 동작을 제어하는 기능을 수행할 수 있다. 커넥터는 SSD(300, 400, 500)를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다.
커넥터(200)는 호스트 컨트롤러(110)와 SSD(300, 400, 500)를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다.
SSD는 종류에 따라 SAS SSD(300), SATA SSD(400), PCIe SSD(500)으로 분류될 수 있으며 각각 고유한 내부 임피던스(R1, R2, R3)를 가지고 있을 수 있다.
임피던스 매칭부(160)는 호스트 컨트롤러(110)와 커넥터(200) 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행할 수 있다. 상기 임피던스 매칭부(160)는 스위칭부(161)와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스(162, 163, 164)를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭될 수 있다. SAS SSD 매치 임피던스(162), SATA SSD 매치 임피던스(163), PCIe SSD 매치 임피던스(164)가 서로 병렬 연결될 수 있다.
스위칭부(161)은 테스트 대상 SSD의 종류에 따라 선택적으로 ON/OFF 동작할 수 있다. 즉 SSD 테스트 장치(100)가 SAS SSD(300)을 테스트할 경우 스위칭부(161)가 SAS SSD 매치 임피던스(162)를 가지는 신호 전송 라인(120)에 전기적으로 연결(ON)되고, SATA SSD(300)을 테스트할 경우 스위칭부(161)가 SATA SSD 매치 임피던스(163)를 가지는 신호 전송 라인(120)에 전기적으로 연결(ON)되고, PCIe SSD(500)을 테스트할 경우 스위칭부(161)가 PCIe SSD 매치 임피던스(164)를 가지는 신호 전송 라인(120)에 전기적으로 연결(ON)될 수 있다.
호스트 컨트롤러(110)와 스위칭부(161)를 전기적으로 연결하는 신호 전송 라인(120) 구간은 최대한 길이가 짧게 할수록 이 신호 전송 라인(120)으로 발생하는 임피던스를 무시할 수 있어서 바람직할 수 있다.
또 다른 일 실시예에 따른 SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치(100)에 있어서, 상기 복수개의 신호 전송 라인(120)은 각각 직경이 서로 다른 것으로 구성할 수 있다. 즉 복수개의 신호 전송 라인(120)은 별도의 저항소자를 이용하지 않고 직경으로 고유한 임피던스를 설정할 수 있다. 직경이 크면 임피던스가 작고 반대로 직경이 작으면 임피던스가 클 수 있다. 상기 복수개의 신호 전송 라인(120)은 각각 직경이 서로 다르지만 길이는 실질적으로 같을 수 있다.
도 3은 또 다른 일 실시예에 따른 SSD 테스트 장치를 설명하는 도면이다. 도시된 바와 같이, SSD 테스트 장치(100)는 호스트 컨트롤러(110), 스위칭부(160), 커넥터(200) 외에도 제어부(170), 감지부(180)를 더 포함하여 구성될 수 있다.
또 다른 일 실시예에 따른 SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치(100)에 있어서,
SSD를 테스트하기 위하여 신호의 송수신을 제어하는 호스트 컨트롤러(110);
SSD를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공하는 커넥터(200);
호스트 컨트롤러와 커넥터 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행하는 임피던스 매칭부(160);를 포함하여 구비되고,
상기 임피던스 매칭부(160)는 스위칭부(161)와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 병렬로 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭 될 수 있다.
SSD 테스트 장치(100)는 테스팅을 수행하기 위한 PCB일 수 있다. 호스트 컨트롤러(110)는 SSD 테스트 장치(100) 상에 실장되어 SSD의 성능을 테스트하기 위해 각종 신호를 발생하여 SSD 테스트 장치의 내부 부품의 동작을 제어하는 기능을 수행할 수 있다. 커넥터는 SSD(300, 400, 500)를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다.
커넥터(200)는 호스트 컨트롤러(110)와 SSD(300, 400, 500)를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다.
SSD(600)는 종류에 따라 SAS SSD(300), SATA SSD(400), PCIe SSD(500)으로 분류될 수 있으며 각각 고유한 내부 임피던스(R, 610)를 가지고 있을 수 있다. R(610)은 R1, R2 또는 R3일 수 있다.
임피던스 매칭부(160)는 호스트 컨트롤러(110)와 커넥터(200) 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행할 수 있다. 상기 임피던스 매칭부(160)는 스위칭부(161)와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스(162, 163, 164)를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭될 수 있다. SAS SSD 매치 임피던스(162), SATA SSD 매치 임피던스(163), PCIe SSD 매치 임피던스(164)가 서로 병렬 연결될 수 있다.
스위칭부(161)은 테스트 대상 SSD의 종류에 따라 선택적으로 ON/OFF 동작할 수 있다. 즉 SSD 테스트 장치(100)가 SAS SSD(300)을 테스트할 경우 스위칭부(161)가 SAS SSD 매치 임피던스(162)를 가지는 신호 전송 라인(120)에 전기적으로 연결(ON)되고, SATA SSD(300)을 테스트할 경우 스위칭부(161)가 SATA SSD 매치 임피던스(163)를 가지는 신호 전송 라인(120)에 전기적으로 연결(ON)되고, PCIe SSD(500)을 테스트할 경우 스위칭부(161)가 PCIe SSD 매치 임피던스(164)를 가지는 신호 전송 라인(120)에 전기적으로 연결(ON)될 수 있다.
또 다른 일 실시예에 따른 SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치(100)는 SSD가 커넥터에 연결될 경우 SSD로부터 SSD의 종류별 식별 정보를 감지하는 감지부(180)와; 감지부로부터 SSD의 종류별 식별 정보를 수신하여 상기 임피던스 매칭부의 스위칭부에 스위칭 명령(Command)를 제공하는 제어부(170)를 더 포함할 수 있다. 이로 인해 SSD(600)의 종류에 따라 SSD 내부 임피던스(610)가 다른 점을 고려하여 자동으로 임피던스 매칭이 수행될 수 있다.
호스트 컨트롤러(110)와 스위칭부(161)를 전기적으로 연결하는 신호 전송 라인(120) 구간은 최대한 길이가 짧게 할수록 이 신호 전송 라인(120)으로 발생하는 임피던스를 무시할 수 있어서 바람직할 수 있다.
또 다른 일 실시예에 따른 SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치(100)에 있어서 상기 커넥터(200)는 복수개의 SSD를 전기적으로 연결하기 위하여 복수개의 슬롯이 구비될 수 있다. 슬롯은 3개가 구비될 수 있어서 SAS SSD, SATA SSD 및 PCIe SSD를 한꺼번에 연결할 수 있다.
이로 인해 제어부(170)는 감지부(180)로부터 복수개의 SSD의 종류별 식별 정보를 수신 받아 임피던스 매칭부(160)의 스위칭부(161)에 스위칭 명령(Command)을 순차적으로 제공할 수 있다. 예를 들어 감지부가 SAS SSD, SATA SSD 및 PCIe SSD의 연결을 모두 감지한 경우 제어부(170)는 SAS SSD, SATA SSD, PCIe SSD의 순서로 테스팅이 수행되도록 스위칭부(161)에 명령을 제공 할 수 있다.
또 다른 일 실시예에 따른 SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치(100)에 있어서, 상기 복수개의 신호 전송 라인(120)은 각각 직경이 서로 다른 것으로 구성할 수 있다. 즉 복수개의 신호 전송 라인(120)은 별도의 저항소자를 이용하지 않고 직경으로 고유한 임피던스를 설정할 수 있다. 직경이 크면 임피던스가 작고 반대로 직경이 작으면 임피던스가 클 수 있다. 상기 복수개의 신호 전송 라인(120)은 각각 직경이 서로 다르지만 길이는 실질적으로 같을 수 있다.
100 : SSD 테스트 장치 110 : 호스트 컨트롤러
120 : 신호 전송 라인 130,140,150 : 임피던스
160 : 임피던스 매칭부 161 : 스위칭부
162 : SAS SSD 매치 임피던스 163 : SATA SSD 매치 임피던스
164 : PCIe SSD 매치 임피던스 170 : 제어부
180 : 감지부 200 : 커넥터
300 : SAS SSD 400 : SATA SSD
500 : PCIe SSD 310 : SAS SSD의 내부 임피던스
410 : SATA SSD의 내부 임피던스 510 : PCIe SSD의 내부 임피던스
610 : SSD의 내부 임피던스

Claims (6)

  1. SSD를 테스트하기 위한 SSD 테스트 장치에 있어서,
    복수개의 이종 SSD를 테스트하기 위하여 신호의 송수신을 제어하는 호스트 컨트롤러;
    복수개의 슬롯이 구비되어 복수개의 이종 SSD를 전기적으로 연결하기 위한 인터페이스를 제공하는 커넥터;
    호스트 컨트롤러와 커넥터 사이에 전기적으로 연결되어 임피던스 매칭을 수행하는 임피던스 매칭부와;
    상기 임피던스 매칭부는 스위칭부와 SSD의 종류에 따라 대응되는 임피던스를 가지는 복수개의 신호 전송 라인이 병렬로 구비되어, 스위칭부가 복수개의 신호 전송 라인에 선택적으로 스위칭되고, 상기 복수개의 신호 전송 라인은 각각 직경이 서로 다르고 길이가 같은 SSD 테스트 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 이종 SSD의 종류는 SAS, SATA, PCIe인 것을 특징으로 하는 SSD 테스트 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    SSD가 커넥터에 연결될 경우 SSD로부터 SSD의 종류별 식별 정보를 감지하는 감지부와; 감지부로부터 SSD의 종류별 식별 정보를 수신하여 상기 임피던스 매칭부의 스위칭부에 스위칭 명령을 제공하는 제어부를 더 포함하고, 상기 제어부는 상기 임피던스 매칭부의 스위칭부에 스위칭 명령을 순차적으로 제공하는 것을 특징으로 하는 SSD 테스트 장치.
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
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