KR101888583B1 - Apparatus for inspecting defect of fubbing cloth and method for inspecting defect the same - Google Patents

Apparatus for inspecting defect of fubbing cloth and method for inspecting defect the same Download PDF

Info

Publication number
KR101888583B1
KR101888583B1 KR1020110123630A KR20110123630A KR101888583B1 KR 101888583 B1 KR101888583 B1 KR 101888583B1 KR 1020110123630 A KR1020110123630 A KR 1020110123630A KR 20110123630 A KR20110123630 A KR 20110123630A KR 101888583 B1 KR101888583 B1 KR 101888583B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
rubbing
unit
rubbing cloth
line scan
scan camera
Prior art date
Application number
KR1020110123630A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20130057739A (en
Inventor
이동재
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020110123630A priority Critical patent/KR101888583B1/en
Publication of KR20130057739A publication Critical patent/KR20130057739A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101888583B1 publication Critical patent/KR101888583B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1337Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers
    • G02F1/13378Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers by treatment of the surface, e.g. embossing, rubbing or light irradiation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136204Arrangements to prevent high voltage or static electricity failures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

본 발명은 불량률 검출 신뢰도를 향상시키고, 러빙 천의 불량을 자동으로 검출할 수 있는 러빙 천의 불량 검사 장치가 개시된다.
개시된 러빙 천의 불량 검사 장치는 러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 검출부 및 검출부에 의해 검출된 2차원 평면형태의 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 시스템을 포함한다.
Disclosed is a rubbing cloth failure inspection apparatus capable of improving the reliability of defect rate detection and automatically detecting failure of rubbing cloth.
A defect inspection apparatus for a rubbing cloth is provided with a detection section for photographing a rubbing cloth surrounding a rubbing unit in a two-dimensional plane shape divided into a plurality of blocks, and a system for determining whether a rubbing cloth in a two- .

Description

러빙 천의 불량 검사 장치 및 이의 검사방법{APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF FUBBING CLOTH AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT THE SAME}Technical Field [0001] The present invention relates to an apparatus for inspecting defective rubbing cloth,

본 발명은 러빙 천의 불량 검사 장치에 관한 것으로, 불량률 검출 신뢰도를 향상시키고, 러빙 천의 불량을 자동으로 검출할 수 있는 러빙 천의 불량 검사 장치 및 이의 검사방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a rubbing cloth defect inspection apparatus, and more particularly, to a rubbing cloth defect inspection apparatus and its inspection method capable of improving the reliability of defect rate detection and automatically detecting defective rubbing cloth.

일반적으로 널리 사용되고 있는 표시장치들 중의 하나인 CRT(cathode ray tube)는 TV를 비롯해서 계측기기, 정보 단말기기 등의 모니터에 주로 이용되고 있으나, CRT 자체의 무게와 크기로 인해 전자 제품의 소형화, 경량화의 대응에 적극적으로 대응할 수 없었다.A CRT (cathode ray tube), which is one of the widely used display devices, is mainly used for monitors such as a TV, a measurement device, and an information terminal device. However, due to the weight and size of the CRT itself, Could not respond positively to the response of

이러한 문제에 대한 해결책으로서, 액정표시장치는 경량화, 박형화, 저소비 전력 구동 등의 특징으로 인해 그 응용범위가 점차 넓어지고 있는 추세에 있다. 이에 따라 액정표시장치는 사용자의 요구에 부응하여 대면적화, 박형화, 저소비전력화의 방향으로 진행되고 있다.As a solution to such a problem, the liquid crystal display device has been gradually widened due to its features such as lightness, thinness, and low power consumption driving. Accordingly, the liquid crystal display device is proceeding in the direction of large-sized, thin, and low power consumption in response to the demand of the user.

액정표시장치는 액정을 투과하는 광의 양을 조절하여 화상을 표시하는 디스플레이 장치로서 박형화 및 저소비전력등의 장점으로 많이 사용되고 있다.2. Description of the Related Art [0002] A liquid crystal display device is a display device that displays an image by adjusting the amount of light transmitted through a liquid crystal, and is widely used because of its advantages such as thinness and low power consumption.

상기 액정표시장치는 CRT와는 달리 스스로 빛을 내는 표시장치가 아니므로, 액정표시패널의 배면에는 화상을 시각적으로 표현하기 위해 광을 제공하는 별도의 광원을 포함한 백라이트 유닛(Backlight Unit)이 구비된다.Unlike a CRT, the liquid crystal display device is not a self-luminous display device. Therefore, a backlight unit including a separate light source for providing light for visually expressing an image is provided on a back surface of the liquid crystal display panel.

상기 액정표시장치의 액정표시패널은 컬러필터가 형성된 상부기판과 박막 트랜지스터를 포함하는 하부기판이 액정층을 사이에 두고 합착된 구조를 가진다.The liquid crystal display panel of the liquid crystal display has a structure in which an upper substrate on which a color filter is formed and a lower substrate including a thin film transistor are bonded together with a liquid crystal layer interposed therebetween.

사익 액정표시장치는 상기 상부기판 및 하부기판에 액정의 배열을 특정 방향으로 배향시킬 필요성이 요구되는데, 통상 액정분자들과 직접 접촉된 상태의 유기고분자막을 ITO 전극 위에 인위적으로 형성시키고 있다. 이러한 유기고분자막을 통상, 배향막이라 일컫는다.In the liquid crystal display device of the present invention, it is necessary to align the liquid crystal alignment in the specific direction on the upper substrate and the lower substrate. In general, the organic polymer film in direct contact with the liquid crystal molecules is artificially formed on the ITO electrode. Such an organic polymer film is generally referred to as an alignment film.

상기 액정표지장치의 제조 공정 중 러빙 공정(rubbing process)은 상기 배향막의 표면에 배향 홈을 형성시키는 공정으로, 레이온, 나이론 등으로 이루어진 러빙 천(Rubbing cloth)을 롤러에 감은 후, 이 롤러를 배향막에 접촉시켜, 배향막의 표면과 마찰시킴으로써, 상기 배향막이 일정 수준 이상의 일축 배향성(uni-directional alignment) 및 일정 범위의 선경사 각(pretilt angle)을 갖는 일련의 배향 홈들을 형성되도록 하는 공정을 의미한다.The rubbing process during the manufacturing process of the liquid crystal display device is a process for forming an alignment groove on the surface of the alignment film. After a rubbing cloth made of rayon, nylon or the like is wound around the roller, And then rubbing against the surface of the alignment film to form a series of alignment grooves having a uni-directional alignment of a certain level or higher and a pretilt angle of a certain range .

러빙 공정에서 대부분 러빙 천(포)의 불량 발생 원인은 러빙 천의 삐침, 러빙 천에 묻은 이물질 또는 불 균일한 러빙 포의 두께 때문에 발생한다.Most of the rubbing cloth defects occur in the rubbing process due to the rubbing of the rubbing cloth, foreign matter adhering to the rubbing cloth, or the thickness of the uneven rubbing cloth.

종래에는 러빙 천의 불량을 검사함에 있어서, 통상 작업자의 경험에 의해 러빙 천의 불량(결함) 유무를 검사하고 있으나, 이러한 방법은 검사가 힘들고 검사에 많은 시간이 소요되는 문제점이 있다. 또, 작업자마다 러빙 천의 불량 유무 판단 기준이 명확하지 않아 러빙 천의 불량 검사의 신뢰도가 떨어지는 문제점이 있다.
Conventionally, in inspecting the failure of the rubbing cloth, the presence or absence of defects (defects) in the rubbing cloth is inspected by the experience of the ordinary operator. However, this method has a problem that it is difficult to inspect and the inspection takes a lot of time. In addition, there is a problem in that reliability of the failure inspection of the rubbing cloth is deteriorated because the criterion for determining whether or not the rubbing cloth is bad is not clear for each operator.

본 발명은 불량률 검출 신뢰도를 향상시키고, 러빙 천의 불량을 자동으로 검출할 수 있는 러빙 천의 불량 검사 장치 및 이의 검사방법을 제공함에 그 목적이 있다.An object of the present invention is to provide a defect inspection apparatus for a rubbing cloth which can improve the reliability of defect rate detection and automatically detect failure of the rubbing cloth and an inspection method thereof.

본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치는,According to an embodiment of the present invention,

러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 검출부; 및 상기 검출부에 의해 검출된 2차원 평면형태의 상기 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 시스템을 포함한다.A detector for photographing the rubbing cloth surrounding the rubbing unit in a two-dimensional plane shape divided into a plurality of blocks; And a system for determining whether the rubbing cloth in the form of a two-dimensional plane detected by the detecting unit is defective for each block.

본 발명의 다른 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법은,According to another aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a defect inspection apparatus for a rubbing cloth,

러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 단계; 및 2차원 평면형태의 촬영된 데이터를 이용하여 상기 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 단계를 포함한다.
Photographing a rubbing cloth surrounding the rubbing unit in a two-dimensional plane shape divided into a plurality of blocks; And determining whether the rubbing cloth is defective on a block-by-block basis using photographed data in a two-dimensional plane form.

본 발명은 러빙 유닛의 러빙 천으로 수직하게 광을 조사하는 광원과, 상기 광원으로부터의 광 조사 방향을 기준으로 서로 대칭되도록 경사지게 배치된 제1 및 제2 라인 스캔 카메라를 이용하여 상기 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할하여 2차원 평면 형태로 촬영하여 블럭 별로 러빙 천의 들뜸, 뭉침, 얼룩, 이물질 및 러빙 천의 양끝단 간격의 불량을 세밀하게 검사하여 작업자에 의해 러빙 천의 불량을 판별하는 일반적인 러빙 천 불량 검사와 대비하여 불량 유무를 판별하는 신뢰도가 향상될 수 있다.The present invention relates to a rubbing method for rubbing a plurality of rubbing cloths by using a light source that vertically illuminates light with a rubbing cloth of a rubbing unit and first and second line scan cameras which are inclined to be symmetrical with respect to a light irradiation direction from the light source, The film is divided into blocks and photographed in a two-dimensional planar shape. In this manner, a normal rubbing cloth for discriminating the failure of the rubbing cloth by the operator by inspecting the loosening of the rubbing cloth per block, the unevenness of the rubbing cloth, the unevenness, The reliability of discriminating the presence or absence of defects can be improved in comparison with the defective inspection.

즉, 본 발명의 러빙 천의 불량 검사 장치는 러빙 천의 불량 유무를 자동으로 판별함으로써, 러빙 천 불량에 의한 공정 Loss를 줄일 수 있고, 검사공정의 시간을 줄여 제조 수율을 향상시킬 수 있다.
In other words, the apparatus for inspecting a rubbing cloth according to the present invention automatically determines whether or not a rubbing cloth is defective, thereby reducing a process loss due to a rubbing cloth failure and reducing the time required for the inspection process, thereby improving the production yield.

도 1은 액정표시패널의 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3은 도 2의 구동부의 구성을 도시한 도면이다.
도 4는 도 2의 검출부의 구성을 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치와 러빙 유닛을 도시한 단면도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치로부터 검출된 러빙 천을 도시한 도면이다.
도 7은 도 6의 A영역을 도시한 도면이다.
1 is a view schematically showing the structure of a liquid crystal display panel.
FIG. 2 is a view schematically showing a defect inspection apparatus for a rubbing cloth according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram showing the configuration of the driving unit of FIG. 2. FIG.
Fig. 4 is a diagram showing the configuration of the detection unit of Fig. 2. Fig.
5 is a cross-sectional view showing a rubbing cloth failure inspection device and a rubbing unit according to an embodiment of the present invention.
6 is a view showing a rubbing cloth detected from a rubbing cloth failure inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a view showing area A in FIG.

본 발명은 러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 검출부; 및 상기 검출부에 의해 검출된 2차원 평면형태의 상기 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 시스템을 포함한다.The present invention relates to an image forming apparatus, comprising: a detecting unit for photographing a rubbing cloth surrounding a rubbing unit in a two-dimensional plane shape divided into a plurality of blocks; And a system for determining whether the rubbing cloth in the form of a two-dimensional plane detected by the detecting unit is defective for each block.

또한, 본 발명은 러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 단계; 및 2차원 평면형태의 촬영된 데이터를 이용하여 상기 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 단계를 포함한다.The present invention also relates to a method of manufacturing a rubbing unit, comprising: photographing a rubbing cloth surrounding the rubbing unit in a two-dimensional plane shape divided into a plurality of blocks; And determining whether the rubbing cloth is defective on a block-by-block basis using photographed data in a two-dimensional plane form.

첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시 예를 상세히 설명하도록 한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Referring to the accompanying drawings, embodiments of the present invention will be described in detail.

본 발명의 일 실시예는 당업자에게 본 발명의 기술 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위함이다. 따라서, 이하에서 설명하는 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 기술 사상을 기초로 다른 실시예들은 얼마든지 추가될 수 있다.One embodiment of the present invention is intended to enable a person skilled in the art to fully understand the technical idea of the present invention. Therefore, the present invention is not limited to the embodiments described below, and other embodiments can be added on the basis of the technical idea of the present invention.

도 1은 액정표시패널의 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.1 is a view schematically showing the structure of a liquid crystal display panel.

도 1에 도시된 바와 같이, 액정표시패널은 일정 공간 이격되어 합착된 어레이 기판(10) 및 컬러필터 기판(20)과, 상기 어레이 기판(10)과 컬러필터 기판(20) 사이에 주입된 액정층(30)으로 구성된다.1, the liquid crystal display panel includes an array substrate 10 and a color filter substrate 20 which are adhered to each other with a predetermined space therebetween, and a liquid crystal layer 20 interposed between the array substrate 10 and the color filter substrate 20, Layer 30 as shown in FIG.

구체적으로 상기 어레이 기판(10)에는 화소 영역(P)을 정의하기 위하여 일정한 간격 이격되어 일방향으로 복수의 게이트 라인(14)이 배열되고, 상기 게이트 라인(14)과 수직한 방향으로 복수의 데이터 라인(16)이 배열된다.Specifically, a plurality of gate lines 14 are arranged in one direction in the array substrate 10 at a predetermined interval to define a pixel region P, and a plurality of gate lines 14 are arranged in a direction perpendicular to the gate lines 14, (16) are arranged.

상기 화소 영역(P)에는 화소전극(18)이 형성되고, 상기 게이트 라인(14)과 데이터 라인(16)이 교차하는 영역에는 상기 게이트 라인(14)의 구동신호에 따라 온/오프되어 상기 데이터 라인(16)의 영상신호를 각 화소전극(18)에 인가하는 복수의 박막 트랜지스터(TFT)가 형성된다.A pixel electrode 18 is formed in the pixel region P and on / off is performed in an area where the gate line 14 and the data line 16 intersect with each other according to a driving signal of the gate line 14, A plurality of thin film transistors (TFT) for applying the video signal of the line 16 to each pixel electrode 18 are formed.

상기 컬러필터 기판(20)에는 상기 화소 영역(P)을 제외한 부분의 빛을 차단하기 위해 블랙 매트릭스 패턴(25)과 상기 화소 영역(P)과 대응되어 컬러를 표현하기 위한 적색, 녹색 및 청색 컬러필터(26a, 26b, 26c)을 포함하는 컬러필터 패턴(26)이 형성된다.The color filter substrate 20 is provided with a black matrix pattern 25 for intercepting light in a portion excluding the pixel region P and red, green, and blue color A color filter pattern 26 including filters 26a, 26b, and 26c is formed.

도면에는 도시되지 않았지만, 상기 컬러필터 기판(20)에는 상기 화소 전극(18)과의 전위차를 형성하기 위한 공통전극(미도시)이 더 형성될 수 있다.Although not shown in the drawing, a common electrode (not shown) for forming a potential difference with the pixel electrode 18 may be further formed on the color filter substrate 20.

도면에는 도시되지 않았지만, 상기 어레이 기판(10) 및 컬러필터 기판(20)에는 서로 마주보는 면 각각에는 액정의 배향을 위한 배향막이 형성된다.Although not shown in the figure, the array substrate 10 and the color filter substrate 20 are each provided with alignment films for alignment of liquid crystals on the surfaces facing each other.

본 발명의 일 실시예에서는 상기 공통전극이 상기 컬러필터 기판(20) 상에 형성되어 수직 전계에 의한 TN방식을 한정하여 설명하고 있지만, 이에 한정하지 않고, 공통전극이 어레이 기판(10) 상에 화소전극(18)과 나란하게 배열된 횡전계 방식도 적용될 수 있다.The common electrode is formed on the color filter substrate 20 to limit the TN mode by the vertical electric field. However, the present invention is not limited to this, and the common electrode may be formed on the array substrate 10 A transverse electric field system arranged in parallel with the pixel electrode 18 may also be applied.

이상의 액정표시패널은 상기 어레이 기판(10)의 박막 트랜지스터(TFT)의 온(on)/오프(off)를 위한 신호가 게이트 라인(14)으로 순차적으로 스캔 인가되어, 데이터 라인(16)의 화상신호가 선택된 화소 영역(P)의 화소전극(18)으로 화상신호가 전달되면 공통전극과 화소전극(18) 사이의 전계에 의해 어레이 기판(10) 및 컬러필터 기판(20) 사이의 액정 분자가 구동되고, 이에 따른 빛의 투과율 변화로 여러 가지 화상을 표시할 수 있다.A signal for turning on / off the thin film transistor (TFT) of the array substrate 10 is sequentially scanned and applied to the gate line 14 so that the image of the data line 16 The liquid crystal molecules between the array substrate 10 and the color filter substrate 20 are separated by the electric field between the common electrode and the pixel electrode 18 when the image signal is transmitted to the pixel electrode 18 of the pixel region P And various images can be displayed by the change of the light transmittance.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 3은 도 2의 구동부의 구성을 도시한 도면이고, 도 4는 도 2의 검출부의 구성을 도시한 도면이다.FIG. 2 is a view schematically showing an apparatus for inspecting a rubbing cloth defect according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a view showing the configuration of the driving unit of FIG. 2, Fig.

도 2 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치는 러빙 유닛(170)의 불량을 검출하기 위한 검출부(150)와, 상기 러빙 유닛(170)의 회전과 상기 검출부(150)의 수평 이동을 제어하는 구동부(130)와, 상기 구동부(130) 및 검출부(150)를 제어하는 시스템(110)을 포함한다.2 to 4, the apparatus for inspecting a rubbing cloth defect according to an embodiment of the present invention includes a detecting unit 150 for detecting a failure of the rubbing unit 170, And a system 110 for controlling the driving unit 130 and the detection unit 150. The driving unit 130 controls the rotation of the driving unit 130 and the horizontal movement of the detecting unit 150. [

상기 구동부(130)는 상기 러빙 유닛(170)의 길이방향으로 수평하게 이송시키는 상기 검출부(150)의 이송유닛(157)을 구동시키는 이송유닛 구동부(131)와, 상기 러빙 유닛(170)의 회전을 위한 러빙유닛 구동부(133)를 더 포함한다.The driving unit 130 includes a conveying unit driving unit 131 that drives the conveying unit 157 of the detecting unit 150 that horizontally conveys the conveying unit 170 in the longitudinal direction of the rubbing unit 170, And a rubbing unit driving unit 133 for the rubbing unit.

상기 구동부(130)는 상기 시스템(110)으로부터의 구동 제어신호(dcs)를 공급받는다.The driving unit 130 receives the driving control signal dcs from the system 110.

상기 이송유닛 구동부(131)는 상기 시스템(110)으로부터의 구동 제어신호(dcs)에 의해 상기 이송유닛(157)을 제어하기 위한 이송유닛 제어신호(mcs)를 이송유닛(157)으로 공급한다.The transfer unit driving unit 131 supplies the transfer unit control signal mcs for controlling the transfer unit 157 to the transfer unit 157 by the drive control signal dcs from the system 110. [

상기 러빙유닛 구동부(133)는 상기 시스템(110)으로부터의 구동 제어신호(dcs)에 의해 러빙 유닛(170)을 제어하기 위한 러빙유닛 제어신호(rcs)를 상기 러빙 유닛(170)으로 공급한다.The rubbing unit driving unit 133 supplies a rubbing unit control signal rcs for controlling the rubbing unit 170 to the rubbing unit 170 by the driving control signal dcs from the system 110. [

상기 검출부(150)는 상기 러빙 유닛(170)의 상부에서 수직으로 광을 조사하는 광원(155)과, 상기 광원(155)으로부터 조사되는 광의 진행방향을 기준으로 서로 대칭되어 상기 광이 조사되는 러빙 유닛(170)의 러빙 천을 촬영하는 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)와, 상기 러빙 유닛(170)의 길이 방향으로 상기 광원(155), 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)를 이동시키는 이송 유닛(157)을 포함한다.The detecting unit 150 may include a light source 155 that vertically illuminates the upper portion of the rubbing unit 170 and a light source 155 that is symmetrical with respect to the traveling direction of the light emitted from the light source 155, First and second line scan cameras 151 and 153 for photographing the rubbing cloth of the unit 170 and the light source 155 and the first and second line scan cameras 151 and 153 in the longitudinal direction of the rubbing unit 170. [ 151, and 153, respectively.

상기 검출부(150)는 상기 시스템(110)으로부터 제1 및 제2 카메라 제어신호(scs1, scs2)와, 광원 제어신호(scs3)를 공급받는다.The detection unit 150 receives the first and second camera control signals scs1 and scs2 and the light source control signal scs3 from the system 110. [

구체적으로 상기 제1 라인 스캔 카메라(151)는 상기 시스템(110)의 제1 카메라 제어신호(scs1)에 의해 구동되고, 상기 제2 라인 스캔 카메라(153)는 상기 시스템(110)의 제2 카메라 제어신호(scs2)에 의해 구동되고, 상기 광원(155)은 상기 시스템(110)의 광원 제어신호(scs3)에 의해 구동된다.More specifically, the first line scan camera 151 is driven by a first camera control signal scs1 of the system 110, and the second line scan camera 153 is driven by a second camera Is driven by the control signal scs2 and the light source 155 is driven by the light source control signal scs3 of the system 110. [

본 발명의 검출부(150)는 광원(155), 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)를 이용하여 상기 러빙 유닛(170)을 다수의 블럭으로 구분되도록 러빙 천을 2차원 평면형태로 촬영하여 상기 시스템(110)으로 촬영된 데이터(ecs)를 공급한다.The detecting unit 150 of the present invention photographs the rubbing cloth in a two-dimensional plane form such that the rubbing unit 170 is divided into a plurality of blocks by using the light source 155, the first and second line scan cameras 151 and 153, And supplies data (ecs) photographed by the system 110. [

상기 시스템(110)에셔는 상기 다수의 블럭별로 상기 러밍 천을 검사하여 들뜸, 뭉침, 얼룩, 이물질 및 러빙 천의 양끝단 간격의 불량을 세밀하게 검사한다.The system 110 inspects the rubbing cloth for each of the plurality of blocks and inspects the defects at both ends of the rubbing cloth, unevenness, unevenness, foreign matter and rubbing cloth.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치와 러빙 유닛을 도시한 단면도이다.5 is a cross-sectional view showing a rubbing cloth failure inspection device and a rubbing unit according to an embodiment of the present invention.

도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천(171)의 불량 검사 장치는 이송 유닛(157)과, 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)와, 광원(155)을 포함한다.5, a defect inspection apparatus for a rubbing cloth 171 according to an embodiment of the present invention includes a transfer unit 157, first and second line scan cameras 151 and 153, a light source 155).

상기 이송 유닛(157)은 러빙 유닛(170)의 길이 방향으로 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)와, 광원(155)을 이동시키는 기능을 가진다.The transfer unit 157 has a function of moving the first and second line scan cameras 151 and 153 and the light source 155 in the longitudinal direction of the rubbing unit 170.

상기 이송 유닛(157)은 중앙부에 상기 광원(155)을 지지하는 제1 지지부(157a)와, 상기 이송 유닛(157)의 양끝단부에 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)을 각각 지지하는 제2 및 제3 지지부(157b, 157c)가 구비된다.The transfer unit 157 includes a first support part 157a for supporting the light source 155 at the center and first and second line scan cameras 151 and 153 at both ends of the transfer unit 157 And second and third supporting portions 157b and 157c, respectively, for supporting the first and second supporting portions.

상기 제1 지지부(157a)는 상기 러빙 유닛(170)과 수직한 방향으로 구비될 수 있으며, 상기 광원(155)을 상기 러빙 유닛(170)과 수평한 방향을 기준으로 수직하게 지지하는 기능을 가진다.The first supporting part 157a may be provided in a direction perpendicular to the rubbing unit 170 and has a function of supporting the light source 155 vertically with respect to a horizontal direction with respect to the rubbing unit 170 .

구체적으로 상기 제1 지지부(157a)는 상기 광원(155)을 상기 러빙 유닛(170)과 수평한 방향을 기준으로 하는 기준선과 이루는 각이 90˚를 가지도록 지지한다.Specifically, the first support part 157a supports the light source 155 such that the angle formed between the light source 155 and the reference line that is parallel to the rubbing unit 170 is 90 degrees.

상기 제2 지지부(157b)는 상기 이송 유닛(157)의 일측 끝단에 구비되어 상기 제1 라인 스캔 카메라(151)를 상기 광원(155)의 광 조사 각도를 기준으로 경사지게 지지한다.The second support part 157b is provided at one end of the transfer unit 157 to support the first line scan camera 151 at an inclined angle with respect to the light irradiation angle of the light source 155. [

상기 제2 지지부(157b)는 상기 제1 라인 스캔 카메라(151)를 상기 러빙 유닛(170)과 수평한 방향을 기준으로 경사지게 배치되도록 지지한다.The second support portion 157b supports the first line scan camera 151 so as to be inclined with respect to a horizontal direction with respect to the rubbing unit 170. [

구체적으로 상기 제2 지지부(157b)는 상기 제1 라인 스캔 카메라(151)를 상기 러빙 유닛(170)과 수평한 방향을 기준으로 하는 기준선과 이루는 각이 40˚ 내지 50˚를 가지도록 지지한다.Specifically, the second support part 157b supports the first line scan camera 151 with an angle of 40 degrees to 50 degrees with a reference line that is parallel to the rubbing unit 170 in the horizontal direction.

상기 제3 지지부(157c)는 상기 이송 유닛(157)의 타측 끝단에 구비되어 상기 제2 라인 스캔 카메라(153)를 상기 광원(155)의 광 조사 각도를 기준으로 경사지게 지지한다.The third support part 157c is provided at the other end of the transfer unit 157 to support the second line scan camera 153 in an inclined relation with respect to the light irradiation angle of the light source 155. [

상기 제3 지지부(157c)는 상기 제2 라인 스캔 카메라(153)를 상기 러빙 유닛(170)과 수평한 방향을 기준으로 경사지게 배치되도록 지지한다.The third support part 157c supports the second line scan camera 153 so as to be inclined with respect to a horizontal direction with respect to the rubbing unit 170. [

구체적으로 상기 제3 지지부(157c)는 상기 제2 라인 스캔 카메라(153)를 상기 러빙 유닛(170)과 수평한 방향을 기준으로 하는 기준선과 이루는 각이 310˚ 내지 320˚를 가지도록 지지한다.Specifically, the third support part 157c supports the second line scan camera 153 with an angle of 310 to 320 degrees with the reference line that is parallel to the rubbing unit 170 in the horizontal direction.

즉, 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)는 상기 제2 및 제3 지지부(157b, 157c)에 의해 서로 대칭되도록 경사지게 배치된다.That is, the first and second line scan cameras 151 and 153 are inclined to be symmetrical to each other by the second and third support portions 157b and 157c.

러빙 유닛(1770)은 러빙 천(171)이 감싸지며, 러빙 천(171)의 불량 검사 공정 시에 회전된다.The rubbing unit 1770 is wrapped around the rubbing cloth 171 and is rotated at the time of the failure checking process of the rubbing cloth 171.

본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천(157)의 불량 검사 장치는 러빙 유닛(170)의 러빙 천(171)으로 수직하게 광을 조사하는 광원(155)과, 상기 광원(155)으로부터의 광 조사 방향을 기준으로 서로 대칭되도록 경사지게 배치된 제1 및 제2 라인 스캔 카메라(151, 153)를 이용하여 상기 러빙 천(171)을 다수의 블럭으로 분할하여 2차원 평면 형태로 촬영하여 블럭 별로 러빙 천(171)의 들뜸, 뭉침, 얼룩, 이물질 및 러빙 천의 양끝단 간격의 불량을 세밀하게 검사하여 작업자에 의해 러빙 천의 불량을 판별하는 일반적인 러빙 천 불량 검사와 대비하여 불량 유무를 판별하는 신뢰도가 향상될 수 있다.The apparatus for inspecting the rubbing cloth 157 according to an embodiment of the present invention includes a light source 155 for vertically emitting light to the rubbing cloth 171 of the rubbing unit 170, The rubbing cloth 171 is divided into a plurality of blocks by using first and second line scan cameras 151 and 153 inclined to be symmetrical with respect to the irradiation direction, The reliability of discriminating the presence or absence of defects in comparison with the normal rubbing cloth defect inspection which discriminates the defect of the rubbing cloth by the operator by inspecting delamination of the fabric 171, bunching, stain, foreign matter and the gap between both ends of the rubbing cloth Can be improved.

즉, 본 발명의 러빙 천(171)의 불량 검사 장치는 러빙 천(171)의 불량 유무를 자동으로 판별함으로써, 러빙 천(171) 불량에 의한 공정 Loss를 줄일 수 있고, 검사공정의 시간을 줄여 제조 수율을 향상시킬 수 있다.In other words, the apparatus for inspecting the rubbing cloth 171 of the present invention automatically determines the presence or absence of defects in the rubbing cloth 171, thereby reducing the process loss due to the failure of the rubbing cloth 171, The production yield can be improved.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치로부터 검출된 러빙 천을 도시한 도면이고, 도 7은 도 6의 A영역을 도시한 도면이다.FIG. 6 is a view showing a rubbing cloth detected from a rubbing cloth defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a view showing area A in FIG.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 러빙 천의 불량 검사 장치로부터 검출된 다수의 블럭(b)으로 분할되어 2차 평면형태로 촬영되어 불량 유무를 자동으로 판별한다.6 is divided into a plurality of blocks (b) detected from a defect inspection apparatus for a rubbing cloth according to an embodiment of the present invention, and is photographed in the form of a second plane to automatically determine whether there is a defect.

러빙 천은 러빙 롤을 감싸는 형태로 상기 러빙 천의 제1 및 제2 끝단(171a, 171b)은 중첩되지 않도록 일정 거리 이격된 간격(g)을 가지며, 본 발명의 러빙 천의 불량 검사 장치는 이물질, 얼룩(190), 들뜸, 뭉침을 포함하여 상기 이격된 간격(g)에 대한 불량을 검사할 수 있다.The rubbing cloth is wrapped around the rubbing roll, and the first and second ends 171a and 171b of the rubbing cloth are spaced apart from each other by a predetermined distance so as not to overlap with each other. In the rubbing cloth defect inspection apparatus of the present invention, It is possible to check defects for the spacing g, including the spots 190, lifting, and bunching.

일반적으로 러빙 천의 제1 및 제2 끝단(171a, 171b)의 이격된 간격(g)은 1.5㎜이상의 경우 러빙 불량이 발생한다.In general, rubbing failure occurs when the spacing g between the first and second ends 171a and 171b of the rubbing cloth is 1.5 mm or more.

따라서, 본 발명의 러빙 천의 불량 검사 장치는 상기 이격된 간격(g)이 1.5㎜이상의 경우 불량 판별한다.Therefore, the defect inspection apparatus of the rubbing cloth according to the present invention judges defective when the spacing distance g is 1.5 mm or more.

본 발명은 러빙 유닛의 러빙 천으로 수직하게 광을 조사하는 광원과, 상기 광원으로부터의 광 조사 방향을 기준으로 서로 대칭되도록 경사지게 배치된 제1 및 제2 라인 스캔 카메라를 이용하여 상기 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할하여 2차원 평면 형태로 촬영하여 블럭 별로 러빙 천의 들뜸, 뭉침, 얼룩, 이물질(190) 및 러빙 천의 양끝단 간격(g)의 불량을 세밀하게 검사하여 작업자에 의해 러빙 천의 불량을 판별하는 일반적인 러빙 천 불량 검사와 대비하여 불량 유무를 판별하는 신뢰도가 향상될 수 있다.The present invention relates to a rubbing method for rubbing a plurality of rubbing cloths by using a light source that vertically illuminates light with a rubbing cloth of a rubbing unit and first and second line scan cameras which are inclined to be symmetrical with respect to a light irradiation direction from the light source, The film is divided into blocks and photographed in the form of a two-dimensional plane to inspect the defects of the rubbing cloth, bunching, unevenness, foreign matter 190 and the gap g at both ends of the rubbing cloth by blocks, The reliability of discriminating the presence or absence of defects can be improved as compared with a normal rubbing cloth defect inspection.

즉, 본 발명의 러빙 천의 불량 검사 장치는 러빙 천의 불량 유무를 자동으로 판별함으로써, 러빙 천 불량에 의한 공정 Loss를 줄일 수 있고, 검사공정의 시간을 줄여 제조 수율을 향상시킬 수 있다.In other words, the apparatus for inspecting a rubbing cloth according to the present invention automatically determines whether or not a rubbing cloth is defective, thereby reducing a process loss due to a rubbing cloth failure and reducing the time required for the inspection process, thereby improving the production yield.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be defined by the claims.

110: 시스템 130: 구동부
131: 이송유닛 구동부 133: 러빙유닛 구동부
150: 검출부 151: 제1 라인 스캔 카메라
153: 제2 라인 스캔 카메라 155: 광원
157: 이송유닛 170: 러빙 유닛
171: 러빙 천
110: system 130:
131: transfer unit driving unit 133: rubbing unit driving unit
150: Detection unit 151: First line scan camera
153: second line scan camera 155: light source
157: transfer unit 170: rubbing unit
171: Rubbing cloth

Claims (14)

러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 검출부; 및
상기 검출부에 의해 검출된 2차원 평면형태의 상기 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 시스템을 포함하며,
상기 검출부는,
상기 러빙 유닛의 상부에서 상기 러빙 천의 표면과 수직한 방향으로 상기 러빙 천의 일 지점에 광을 조사하는 광원;
상기 러빙 천의 표면을 기준으로 상기 광원이 배치된 측에 배치되며, 상기 광의 진행 방향을 기준으로 서로 대칭되게 배치되며, 상기 러빙 천의 상기 일 지점을 촬영하는 제1 라인 스캔 카메라 및 제2 라인 스캔 카메라를 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치.
A detector for photographing the rubbing cloth surrounding the rubbing unit in a two-dimensional plane shape divided into a plurality of blocks; And
And a system for determining whether the rubbing cloth in a two-dimensional planar form detected by the detecting unit is defective for each block,
Wherein:
A light source for irradiating light to one point of the rubbing cloth in a direction perpendicular to a surface of the rubbing cloth at an upper portion of the rubbing unit;
A first line scan camera which is disposed on a side where the light source is disposed with respect to a surface of the rubbing cloth and which is disposed symmetrically with respect to a traveling direction of the light and which photographs the one point of the rubbing cloth, A defect inspection apparatus for a rubbing cloth including a scan camera.
제1 항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 광원, 상기 제1 라인 스캔 카메라 및 상기 제2 라인 스캔 카메라를 상기 러빙 유닛의 길이방향으로 수평하게 이동시키는 이송 유닛을 더 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치.
The method according to claim 1,
Wherein:
Further comprising a transfer unit for horizontally moving the light source, the first line scan camera, and the second line scan camera in the longitudinal direction of the rubbing unit.
제2 항에 있어서,
상기 광원은 상기 러빙 유닛과 수평한 방향으로 정의되는 기준선과 이루는 각이 90˚인 러빙 천의 불량 검사 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the light source has an angle of 90 DEG with a reference line defined in a direction parallel to the rubbing unit.
제2 항에 있어서,
상기 제1 라인 스캔 카메라는 상기 러빙 유닛과 수평한 방향으로 정의되는 기준선과 이루는 각이 40˚ 내지 50˚인 러빙 천의 불량 검사 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the first line scan camera has an angle of 40 [deg.] To 50 [deg.] With a reference line defined in a direction parallel to the rubbing unit.
제2 항에 있어서,
상기 제2 라인 스캔 카메라는 상기 러빙 유닛과 수평한 방향으로 정의되는 기준선과 이루는 각이 310˚ 내지 320˚인 러빙 천의 불량 검사 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the second line scan camera has an angle of 310 to 320 degrees with a reference line defined in a direction parallel to the rubbing unit.
제2 항에 있어서,
상기 이송 유닛은 상기 제1 라인 스캔 카메라 및 상기 제2 라인 스캔 카메라를 서로 대칭되도록 경사지게 지지하는 지지부를 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the transfer unit includes a support for supporting the first line scan camera and the second line scan camera in an inclined manner so as to be symmetrical to each other.
제2 항에 있어서,
상기 이송 유닛을 구동시키는 이송유닛 구동부와, 상기 러빙 유닛을 구동시키는 러빙유닛 구동부를 포함하는 구동부를 더 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치.
3. The method of claim 2,
A transfer unit driving unit for driving the transfer unit, and a driving unit including a rubbing unit driving unit for driving the rubbing unit.
러빙 유닛을 감싸는 러빙 천을 다수의 블럭으로 분할되는 2차원 평면 형태로 촬영하는 단계; 및
2차원 평면형태의 촬영된 데이터를 이용하여 상기 러빙 천을 블럭별로 불량 유무를 판별하는 단계를 포함하며,
상기 촬영하는 단계는,
광원을 이용하여 상기 러빙 유닛의 상부에서 상기 러빙 천의 표면과 수직한 방향으로 상기 러빙 천의 일 지점에 광을 조사하는 단계;
상기 러빙 천의 표면을 기준으로 상기 광원이 배치된 측에 배치되며, 상기 광의 진행 방향을 기준으로 서로 대칭되게 배치된 제1 라인 스캔 카메라 및 제2 라인 스캔 카메라를 이용하여 상기 러빙 천의 상기 일 지점을 촬영하는 단계를 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법.
Photographing a rubbing cloth surrounding the rubbing unit in a two-dimensional plane shape divided into a plurality of blocks; And
And determining whether the rubbing cloth is defective for each block by using the photographed data in a two-dimensional plane form,
Wherein the photographing step comprises:
Irradiating light onto one end of the rubbing cloth in a direction perpendicular to a surface of the rubbing cloth at an upper portion of the rubbing unit using a light source;
A first line scan camera and a second line scan camera disposed on a side where the light source is disposed with respect to a surface of the rubbing cloth and arranged symmetrically with respect to a traveling direction of the light, And a step of photographing a spot of the rubbing cloth.
제8 항에 있어서,
상기 촬영하는 단계는,
이송 유닛을 이용하여 상기 광원, 상기 제1 및 제2 라인 스캔 카메라를 상기 러빙 유닛의 길이방향으로 수평하게 이동시키는 단계를 더 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법.
9. The method of claim 8,
Wherein the photographing step comprises:
And moving the light source, the first and second line scan cameras horizontally in the longitudinal direction of the rubbing unit using the transfer unit.
제9 항에 있어서,
상기 광원은 상기 러빙 유닛과 수평한 방향으로 정의되는 기준선과 이루는 각이 90˚인 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법.
10. The method of claim 9,
Wherein the light source has an angle of 90 DEG with a reference line defined in a direction parallel to the rubbing unit.
제9 항에 있어서,
상기 제1 라인 스캔 카메라는 상기 러빙 유닛과 수평한 방향으로 정의되는 기준선과 이루는 각이 40˚ 내지 50˚인 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법.
10. The method of claim 9,
Wherein the first line scan camera has an angle of 40 to 50 degrees with a reference line defined in a direction parallel to the rubbing unit.
제9 항에 있어서,
상기 제2 라인 스캔 카메라는 상기 러빙 유닛과 수평한 방향으로 정의되는 기준선과 이루는 각이 310˚ 내지 320˚인 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법.
10. The method of claim 9,
Wherein the second line scan camera has an angle of 310 to 320 degrees with a reference line defined in a direction parallel to the rubbing unit.
제9 항에 있어서,
상기 이송 유닛은 상기 제1 라인 스캔 카메라 및 상기 제2 라인 스캔 카메라를 서로 대칭되도록 경사지게 지지하는 지지부를 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법.
10. The method of claim 9,
Wherein the transfer unit includes a support for supporting the first line scan camera and the second line scan camera in an inclined manner so as to be symmetrical with respect to each other.
제9 항에 있어서,
상기 이송 유닛을 구동시키는 이송유닛 구동부와, 상기 러빙 유닛을 구동시키는 러빙유닛 구동부를 포함하는 구동부를 더 포함하는 러빙 천의 불량 검사 장치의 검사방법.
10. The method of claim 9,
Further comprising a driving unit including a conveying unit driving unit for driving the conveying unit and a rubbing unit driving unit for driving the rubbing unit.
KR1020110123630A 2011-11-24 2011-11-24 Apparatus for inspecting defect of fubbing cloth and method for inspecting defect the same KR101888583B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110123630A KR101888583B1 (en) 2011-11-24 2011-11-24 Apparatus for inspecting defect of fubbing cloth and method for inspecting defect the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110123630A KR101888583B1 (en) 2011-11-24 2011-11-24 Apparatus for inspecting defect of fubbing cloth and method for inspecting defect the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20130057739A KR20130057739A (en) 2013-06-03
KR101888583B1 true KR101888583B1 (en) 2018-08-14

Family

ID=48857243

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110123630A KR101888583B1 (en) 2011-11-24 2011-11-24 Apparatus for inspecting defect of fubbing cloth and method for inspecting defect the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101888583B1 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105549271B (en) 2016-03-04 2018-10-30 京东方科技集团股份有限公司 A kind of friction cloth detection method and device

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09257433A (en) * 1996-03-27 1997-10-03 Seiko Epson Corp Method and apparatus for inspection of lie of hairs on rubbing sheet
KR101279520B1 (en) * 2006-06-30 2013-06-28 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus for inspecting defect of rubbing cloth and rubbing apparatus with the same
KR101310084B1 (en) * 2006-11-30 2013-09-23 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus and method for testing rubbing roller
KR20080057457A (en) * 2006-12-20 2008-06-25 엘지디스플레이 주식회사 Rubbing device of an alignment layer for liquid crystal display device
KR100940917B1 (en) * 2008-01-30 2010-02-08 (주)넥스컴글로벌 A remotion device of badness for A rubbing cloth
KR20090108496A (en) * 2008-04-11 2009-10-15 이찬훈 Method of inspecting texture on a rubbing clothes
KR20100062030A (en) * 2008-12-01 2010-06-10 이찬훈 Method of improving thickness and nap length measurement in a rubbing cloth
KR20110073013A (en) * 2009-12-23 2011-06-29 엘지디스플레이 주식회사 Inspecting apparatus for rubbing cloth and rubbing apparatus
KR101050050B1 (en) * 2009-12-31 2011-07-19 유진인스텍 주식회사 Rod defect detection device

Also Published As

Publication number Publication date
KR20130057739A (en) 2013-06-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101286534B1 (en) inspection apparatus of Liquid crystal display apparatus and inspection method using the same
KR101291843B1 (en) Apparatus for inspection of liquid crystal display device and inspecting method thereof
KR101068364B1 (en) inspection equipment of LCD and method for inspecting the same
KR20130051796A (en) Glass inspecting device
US20120105092A1 (en) Defect inspecting apparatus and defect inspecting method
KR20070031141A (en) Method of repair an Liquid Crystal Cell, method of manufacturing Liquid Crystal Display Device using the same, and Liquid Crystal Display repaired using the same
KR102690059B1 (en) Inspecting apparatus for tiled display device and inspecting method thereof
KR101789144B1 (en) Automated testing system for display device
KR101152497B1 (en) Liquid crystal display device
KR101888583B1 (en) Apparatus for inspecting defect of fubbing cloth and method for inspecting defect the same
KR101292570B1 (en) System for testing distortion of liquid crystal display device
KR20150000580A (en) Optical imaging inspection system of inferior liquid crystal display panel using led backlight system
KR101286530B1 (en) A apparatus for testing a substrate of liquid crystal display device and a method for the substrate using the apparatus
KR20070006480A (en) Apparatus for detecting the badness of the seal line and method for detecting the badness of the seal line using the apparatus
KR101726624B1 (en) Substrate for liquid crystal display device
KR101829846B1 (en) Testing apparatus of flexibe printed circuit board
KR101310084B1 (en) Apparatus and method for testing rubbing roller
JP2019158442A (en) Display panel inspection system and display panel inspection method
US8717522B2 (en) Method for fabricating liquid crystal display panel using the same
JP2010185920A (en) Device for inspecting alignment layer, method of inspecting alignment layer, and method for manufacturing electrooptical apparatus
KR20140058710A (en) Vision testing system for display device and inspecting method thereof
KR101207029B1 (en) Array test apparatus
KR101736921B1 (en) Liquid crystal display device and method testing thereof
KR100413922B1 (en) Rubbing apparatus
US9017130B1 (en) Method of attaching polarizing plate

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant