KR101842580B1 - 낮은 수동 상호변조 동축 커넥터 테스트 인터페이스 - Google Patents

낮은 수동 상호변조 동축 커넥터 테스트 인터페이스 Download PDF

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Abstract

동축 RF 테스트 커넥터는, 중심 축에 동축으로 배열되는 내부 컨덕터 및 외부 컨덕터를 포함한다. 외부 컨덕터는 원형 형상 접촉 스프링을 홀딩하기 위한 그루브를 포함한다. 접촉 스프링은 베이스, 및 베이스로부터 연장되는 개개의 접촉 핑거들 간에 갭들이 있는 복수의 아크-형상 접촉 핑거들을 포함한다. 베이스는 접촉 핑거들보다 큰 반경을 갖는다. 접촉 핑거들은, 중심 축에 대해 방사상 방향으로 호환가능 동축 커넥터의 외부 컨덕터에 접촉하기 위한 제 1 접촉 섹션, 및 그루브의 측벽에 용량성으로 커플링하기 위한 제 2 접촉 섹션을 갖는다.

Description

낮은 수동 상호변조 동축 커넥터 테스트 인터페이스
본 발명은 테스트 오브젝트에 대한 쉽고 신속한 연결을 위한 동축 테스트 커넥터(coaxial test connector)에 관한 것이다. 본 발명은 추가로, 자기-정렬(self-aligning) 동축 커넥터, 즉, 커플링 동작 동안 정합(mating) 커넥터에 자동으로 정렬되는 커넥터에 관한 것이다.
전자 디바이스들을 테스트하기 위해, 종종 테스트 어댑터(adapter)들이 사용된다. 이들 테스트 어댑터들은 테스트될 디바이스를 외부 테스트 장비에 연결한다. 증폭기들, 필터들 등과 같은 RF 디바이스들을 테스트하는 경우, 이들은 종종 RF 커넥터들(이들은, 대부분의 경우 동축 커넥터들임)에 의해 연결되어야 한다. 이들은 비교적 엄격한 기계적 공차(tolerance)들을 가지며 정밀한 연결을 요구한다. 테스트될 디바이스에 커넥터들이 수동으로 부착되는 경우, 테스트 어댑터의 커넥터들은 가요성(flexible) 케이블들을 가지며 테스트될 디바이스에 수동으로 부착된다. 테스트될 디바이스와 테스트 어댑터 간의 자동 연결이 요구되는 경우, 기계적 공차들은 심각한 문제들을 야기할 수 있다. 기본적으로, 테스트 어댑터는 정밀한 기계적 공차들로 만들어질 수 있지만, 테스트될 디바이스들은 종종 더 대량으로 제조되며 종종 더 넓은 기계적 공차들을 갖는다. 이것은 커넥터들의 오정렬(misalignment)을 유발할 수 있으며, 이러한 오정렬은 추가로, 커넥터들의 손상 또는 부정확한 테스트 결과들을 유발할 수 있다. 일반적으로, 측정 어댑터의 커넥터들과 테스트될 디바이스의 정합 커넥터들이 모든 평면들 및 방향들에서 정확하게 정렬되어 있는 경우가 바람직할 것이다.
US 2013/130543 A1은 동축 케이블 커넥터에 대한 커넥터 슬리브(sleeve)를 개시한다.
US 3,871,735 A는 실드형 고 전압 커넥터를 개시한다.
US 2013/065415는 블라인드 정합 용량성 커플링 커넥터(blind mate capacitively coupled connector)를 개시한다.
US 2,762,025는 실드형 케이블 연결을 개시한다.
US 6,344,736 B1은 자기-정렬 커넥터를 개시한다. 커넥터 본체(body)는, 커넥터 하우징의 내부 표면에 제공되는 내부 방사상 플랜지(radial flange)와 축방향 스프링(axial spring)에 의해 프레싱(press)되는 와셔(washer) 사이에서, 그의 외부 표면에 제공되는 외부 방사상 플랜지 위에 홀딩(hold)되어, 적어도 축방향으로 그리고 횡방향(transverse) 평면에서 커넥터 본체에 고정되는 센터링 칼라(centering collar)에 삽입되는 정합 커넥터에 정렬될 수 있다.
낮은 수동 상호변조(PIM; low passive intermodulation) 연결을 제공하기 위해, 일반적인 동축 RF 커넥터들에 비교적 높은 접촉력들이 인가된다. 일반적인 사용에서, 이러한 힘들은, 미리결정된 비교적 높은 토크(torque)로 조여지는, 커넥터의 로킹 너트(locking nut)에 의해 인가된다. 테스트 설정에서, 커넥터들을 로킹하는 것은 너무 많은 시간이 소모된다. 커넥터들을 간단히 함께 프레싱하는 것은, 커넥터의 축 방향으로 높은 압력을 생성하는 압력 디바이스를 요구할 것이다. 이것은, 특히 많은 수의 커넥터들을 갖는 디바이스들에서는 거의 실현가능하지 않다.
US 4,374,606은, 외부 컨덕터(conductor)들에 방사상으로 접촉하기 위한 복수의 접촉부들을 갖는 동축 커넥터를 개시한다. 접촉부들은 축 방향으로 슬리브에 의해 홀딩된다. 슬리브는 외부 컨덕터에 슬라이딩 가능하게(slidably) 맞물린다.
US 4,106,839는, 정합 커넥터들의 실드(shield)들을 연결하는 접촉 스프링을 갖는 실드형 다중극 커넥터(shielded multipole connector)를 개시한다.
본 발명에 의해 해결되어야 할 문제는, 비교적 작은 힘들을 인가함으로써 연결 및 연결해제될 수 있는, 낮은 수동 상호변조 그리고 넓은 주파수 범위에서 높은 반사 손실(return loss)을 제공하는 동축 RF 커넥터 인터페이스를 제공하는 것이다. 바람직하게는, 연결은 커넥터의 축 방향으로 상당한 힘들을 인가하지 않고도 유지되어야 한다. 또한, 커넥터는, 테스트 장비에서 요구되는 많은 수의 정합 사이클들에 대하여 긴 수명을 가져야 한다.
이 문제의 해결책들은 독립항에서 설명된다. 종속항들은 본 발명의 추가적인 개선들에 관한 것이다.
본 발명에 따르면, 테스트될 디바이스에 연결되거나 그의 일부일 수 있는, 호환가능 동축 커넥터에 연결하기 위한 제 1 항에 따른 테스트 커넥터가 제공된다. 테스트 커넥터는 적어도 내부 컨덕터 및 외부 컨덕터를 제공하며, 가장 바람직하게는, 둘 모두의 컨덕터들은 원형 단면 및/또는 원통형 형상을 갖고, 이들은 내측 방향으로 테스트 커넥터에 삽입될 수 있다. 외부 컨덕터는, 방사상 방향으로 호환가능 동축 커넥터의 외부 컨덕터를 적어도 부분적으로 인클로징(enclose)하기 위해 원형 형상을 갖는다. 그것은 추가로, 호환가능 동축 커넥터의 외부 컨덕터에 방사상으로 접촉하고 상기 외부 컨덕터에 대략적으로 방사상 접촉력을 어써팅(assert)하기 위해 제공되는 대략적으로 원형 스프링을 홀딩하기 위한 그루브를 제공한다.
접촉 스프링은 핑거 개스킷(finger gasket)이다. 접촉 스프링은 (바람직하게는 개개의 접촉 핑거들 간에 작은 갭이 있는) 복수의 개개의 접촉 핑거들을 갖는다. 접촉 핑거들은, 호환가능 동축 커넥터의 접촉을 개선하기 위해, 그들의 외부 측들에 부가적인 접촉 엘리먼트들 또는 접촉 포인트들을 가질 수 있다. 갭들 중 적어도 대부분 또는 전부의 폭은 핑거들의 폭보다 작고, 바람직하게는 절반과 동일하거나 그보다 작고, 가장 바람직하게는 핑거들의 폭의 1/3보다 작은 것이 바람직하다. 핑거들 중 적어도 대부분 또는 전부의 폭이 1 mm 미만이고 바람직하게는 0.5 mm와 동일 또는 그 미만인 경우가 또한 바람직하다. 또한, 개개의 접촉 핑거들은 공통 베이스(base)의 일부이고, 그에 따라, 공통 베이스에 의해 함께 홀딩된다. 베이스가 테스트 커넥터에 의해 홀딩되고 접촉 핑거들이 호환가능 동축 커넥터의 외부 컨덕터에 대하여 방사상으로 프레싱되는 경우가 바람직하다. 바람직하게는, 접촉 핑거들은 베이스로부터 보우(bow)까지 연장된다.
접촉 핑거들 중 적어도 하나가, 방사상 방향으로 호환가능 동축 커넥터에 접촉하기 위한 제 1 접촉 섹션을 포함한다. 그것은 추가로, 외부 컨덕터에 형성되는 그루브의 측벽에 접촉하기 위한 제 2 접촉 섹션을 포함한다. 바람직하게는 더 낮은 주파수들에서 갈바닉(galvanic) 접촉이 또한 유용할 수 있지만, 제 2 접촉 섹션이 그루브의 측벽과 용량성 접촉을 이룬다. 가장 바람직하게는, 그루브의 측벽은 (내측 방향에 반대인) 외측 방향으로 배향되며, 그에 따라, 호환가능 커넥터로 향하는 방향에 대면한다. 측벽에 대한 접촉에 의해, 테스트 커넥터에 마킹되는, 호환가능 커넥터의 외부 컨덕터로부터 흐르는 전류에 의한 전류 루프를 형성하는 영역이 감소되며, 이는 추가로, 커넥터의 대역폭을 증가시킨다.
도 10은, 큰 전류 루프 영역(241)을 초래하는, 제 2 접촉 섹션(223)에 의한 측벽(58)에 대한 용량성 접촉이 없는 실시예를 도시한다.
추가적인 바람직한 실시예에서, 테스트 커넥터의 외부 컨덕터는, 접촉 스프링을 홀딩하는 그루브의 일부이거나 이를 형성하는 스프링 홀더를 포함할 수 있다. 바람직하게는, 접촉 스프링은 스프링 홀더에 땜납 및/또는 용접된다. 가장 바람직하게는, 접촉 스프링은 자신의 베이스에 의해 스프링 홀더에 땜납 및/또는 용접된다. 땜납은 접촉 스프링의 베이스의 외부에서 방사상으로 스프링 홀더에 적용될 수 있다. 최상의 상호변조 특성들을 위해, 접촉 스프링과 스프링 홀더 간에 하나의 야금(metallurgical) 연결(땜납 연결)만이 존재한다. 축 방향에서 임의의 갈바닉 접촉을 방지하고 본 발명에 따른 용량성 접촉을 제공하기 위해, 스프링 홀더와 접촉 스프링의 보우 간에 절연 디스크가 제공된다. 절연 디스크는, 세라믹들 또는 플라스틱 재료(이는 PTFE 또는 폴리이미드일 수 있음)일 수 있는 적절한 절연 재료를 포함할 수 있다. 또한, 스프링과 스프링 홀더 간에 높은 커플링 용량을 제공하기 위해 절연 디스크가 높은 유전 상수를 갖는 경우가 바람직하다. 테스트 커넥터의 외부 컨덕터에서 스레드와 인터페이싱하는 스레드를 스프링 홀더가 갖는 경우가 바람직하다. 이것은, 스프링 홀더가 바람직하게는 커넥터의 축 방향으로 외부 컨덕터 상에 스크루잉(screw)되는 것을 허용한다.
대안적인 실시예에서, 스프링 홀더는, 테스트 커넥터의 외부 컨덕터에 프레싱, 땜납, 또는 용접될 수 있다.
추가적인 실시예에서, 스프링 홀더는, 접촉 스프링을 홀딩하기 위한 원형 갭 또는 그루브를 제공하는, 테스트 커넥터의 외부 컨덕터의 일부일 수 있다. 이러한 경우에서, 접촉 스프링은, 호환가능 동축 커넥터가 테스트 커넥터에 삽입되는 경우, 테스트 커넥터의 외부 컨덕터와 접촉 스프링 간의 축방향 힘은 접촉 스프링을 변형시키기에 충분히 커서 테스트 커넥터의 외부 컨덕터에 상당한 힘을 추가적으로 어써팅하여 적절한 접촉을 보장하기 위한 형상 및 사이즈를 가져야 한다. 이것은 아크(arc) 형상 핑거들에 의해 달성될 수 있다.
본원에 도시된 실시예들은, 접촉 스프링이 테스트 커넥터에 용이하게 장착될 수 있다는 이점을 갖는다. 접촉 스프링을 테스트 커넥터에 반드시 땜납 또는 용접할 필요는 없다. 접촉 스프링은, 재료 피로(fatigue) 또는 불량한 접촉들로부터 어려움을 겪지 않으면서 많은 수의 정합 사이클들을 견딜 수 있다.
바람직하게는, 베이스는 중심 축에 관하여 접촉 핑거들보다 큰 반경을 갖는다. 따라서, 바람직하게는, 베이스는 본질적으로 접촉 핑거들을 방사상으로 인클로징한다. 이것은, 테스트 커넥터와 호환가능 동축 커넥터의 외부 컨덕터들 간에 매우 컴팩트(compact)한 사이즈 및 짧은 전류 경로들을 초래하며, 이는 또한, 넓은 주파수 범위에서 양호한 임피던스 매칭을, 그리고 그에 따라 높은 리턴 손실을 초래한다.
낮은 임피던스 광대역 접촉을 달성하기 위해, 접촉 핑거들의 수가 10개 초과, 바람직하게는 20개 초과, 가장 바람직하게는 40개를 초과하는 경우가 또한 바람직하다.
호환가능 동축 커넥터에 대한 기계적 접촉 및 그에 따른 기계적 정렬을 제공하기 위한 적어도 하나의 접촉 섹션을 테스트 커넥터의 외부 컨덕터가 갖는 경우가 또한 바람직하다. 스프링 홀더가 적어도 그러한 접촉 섹션을 제공하는 경우가 또한 바람직하다. 바람직하게는, 호환가능 동축 커넥터와 테스트 커넥터의 방사상 정렬을 제공하기 위한 적어도 하나의 방사상 접촉 섹션이 존재한다. 호환가능 동축 커넥터와 테스트 커넥터 간에 축방향 정렬을 제공하기 위한 적어도 하나의 축방향으로 배향된 접촉 섹션이 존재하는 경우가 또한 바람직하다.
추가적인 실시예에서, 테스트 커넥터는, 호환가능 동축 커넥터를 테스트 커넥터에 삽입할 때 호환가능 동축 커넥터를 테스트 커넥터를 향해 안내하기 위한 커넥터 가이드(guide)를 제공한다. 커넥터 가이드가 호환가능 동축 커넥터의 삽입 및 정렬을 단순화하기 위한 콘(cone)-형상 입구 측을 갖는 경우가 또한 바람직하다.
앞서 설명된 실시예들과는 독립적으로, 중심 컨덕터는 수형(male type) 또는 암형(female type) 중 어느 하나일 수 있다.
접촉 스프링이 구리-베릴륨, 황동, 강철과 같은 재료들 중 적어도 하나를 포함하는 경우가 바람직하다.
호환가능 동축 커넥터가 독일 표준 DIN 47223에 명시된 7/16 DIN 커넥터인 경우가 또한 바람직하다.
하기에서, 본 발명은, 도면들을 참조한 실시예의 예들을 통해 일반적인 발명의 개념의 제한 없이 예로서 설명될 것이다.
도 1은 테스트 커넥터 어셈블리의 바람직한 실시예를 도시한다.
도 2는, 호환가능 동축 커넥터가 부착된 테스트 커넥터 어셈블리의 바람직한 실시예를 도시한다.
도 3은 테스트 커넥터의 세부사항을 도시한다.
도 4는, 정합된 호환가능 동축 커넥터와 테스트 커넥터의 단면도를 도시한다.
도 5는 접촉 스프링의 측단면도를 도시한다.
도 6은 접촉 스프링의 평면도를 도시한다.
도 7은 수정된 접촉 스프링을 도시한다.
도 8은, 커넥터들이 정합된 상태에서의 접촉 스프링을 상세히 도시한다.
도 9는, 도 8의 단순화된 버전이다.
도 10은 접촉 영역의 세부사항들을 도시한다.
도 11은 수정된 접촉 영역의 세부사항들을 도시한다.
도 1에서, 테스트 커넥터 어셈블리의 바람직한 실시예가 도시된다. 테스트 커넥터(30)는, 중심 축(29)을 갖고 장착 서스펜션(mounting suspension)(10)(이는, 연결 라인의 기울어짐을 허용할 수 있고 그리고 추가로 중심 축(29)의 방향에서의 변위를 허용할 수 있음)에 의해 홀딩되는 연결 라인(25)에 의해 내부 커넥터(20)에 연결된다. 또한, 다음 도면에 도시되는 호환가능 동축 커넥터(100)의 접촉을 단순화하기 위해 테스트 커넥터의 방향으로 어써팅되는 힘이 존재할 수 있다. 바람직하게는, 테스트 커넥터(30)는 내부 컨덕터(40) 및 외부 컨덕터(50)를 포함한다. 커넥터들이 정합할 때 호환가능 동축 커넥터(100)를 안내하기 위한 커넥터 가이드(60)를 테스트 커넥터(30)가 포함하는 경우가 또한 바람직하다.
도 2에서, 내측 방향으로(페이지의 하단으로부터 페이지의 상단으로, 또는 도면의 좌측에서 우측으로) 부착된 호환가능 동축 커넥터(100)와 함께 테스트 커넥터 어셈블리의 바람직한 실시예가 도시된다. 호환가능 동축 커넥터(100)는 테스트될 디바이스의 하우징 또는 케이블 중 어느 하나에 연결될 수 있다. 호환가능 동축 커넥터(100)는 바람직하게는, 내부 컨덕터(110) 및 외부 컨덕터(120)를 포함한다. 호환가능 동축 커넥터(100)가 더 바람직하게는 외부 스레드를 갖는 외부 하우징(130)을 갖는 경우가 또한 바람직하다. 외부 하우징은 바람직하게는 외부 컨덕터를 인클로징한다.
도 3에서, 테스트 커넥터(30)의 세부사항이 단면도로 도시된다. 중심 축(29)과 정렬된 채로 내부 컨덕터(40)가 배열된다. 이러한 실시예에서, 내부 컨덕터(40)는 수형으로 이루어지지만, 또한 암형으로 이루어질 수 있다. 내부 컨덕터의 특정 타입은 이후 도시될 외부 컨덕터의 접촉과는 무관하다. 내부 컨덕터(40)는, 플라스틱 또는 세라믹 재료로 이루어질 수 있는 홀딩 디스크(41)에 의해 홀딩될 수 있다. 그것은 내부 컨덕터(40)를 외부 컨덕터(50) 내에 센터링한다. 또한, 중심 컨덕터(40)가 슬롯(42) 또는 헥스 드라이브(hex drive) 또는 테스트 커넥터에 대한 중심 컨덕터의 어셈블리를 단순화하기 위한 임의의 유사한 수단을 갖는 경우가 바람직하다. 외부 컨덕터(50)는, 호환가능 동축 커넥터(100)의 외부 컨덕터에 방사상으로 접촉하기 위해 접촉 스프링(55)을 포함한다. 이러한 바람직한 실시예에 도시된 접촉 스프링은, 복수의 접촉 핑거들(56) ― 개개의 접촉 핑거들 사이에 갭들(57)이 있음 ― 을 홀딩하는 베이스(222)를 포함한다. 접촉 핑거들은, 호환가능 동축 커넥터(100)의 접촉을 개선하기 위해, 그들의 외부 측들에 부가적인 접촉 엘리먼트들 또는 접촉 포인트들을 가질 수 있다. 바람직하게는, 외부 컨덕터(50)에서 접촉 스프링(55)을 제위치에 홀딩하기 위해, 바람직하게는 내부 측(32)과 함께 그루브를 형성하는 스프링 홀더(51)가 존재한다. 접촉 스프링(55)은 바람직하게는, 스프링 홀더(51)에 땜납 및/또는 용접된다. 스프링 홀더(51)는 중심 컨덕터의 베이스(31)에 스레드(33)에 의해 프레싱되거나, 용접되거나, 땜납되거나, 또는 부착된다.
대안적인 실시예에서, 스프링 홀더(51)는 외부 컨덕터 베이스(31)에 대한 일 부분일 수 있다. 이러한 경우에서, 스프링 홀더는 접촉 스프링(55)을 홀딩하기 위한 그루브(45)를 형성한다. 외부 컨덕터(50)가 적어도 하나의 기계적 접촉 표면을 갖는 경우가 또한 바람직하다. 가장 바람직하게는, 적어도 하나의 축방향으로 배향된 기계적 접촉 섹션(53)이 존재한다. 방사상으로 배향되는 추가적인 기계적 접촉 섹션(54)이 존재할 수 있다.
도 4에서, 정합된 호환가능 동축 커넥터(100)와 테스트 커넥터(30)의 단면도가 도시된다. 호환가능 동축 커넥터(100)의 중심 컨덕터(110)는 바람직하게는, 원통형 슬리브(이는, 자신의 단부에서 스프링-탄성 속성들을 제공하고 그리고 자신의 내부 접촉 섹션(113)에 의해 접촉 섹션(43)에서 중심 컨덕터(40)에 접촉하기 위한 슬롯들을 가짐)일 수 있는 중심 컨덕터 접촉 엘리먼트(111)를 갖는다. 중심 컨덕터(110)는, 중공(hollow)일 수 있는 내부 공간(112)을 인클로징한다.
호환가능 동축 커넥터의 외부 컨덕터(120)는 바람직하게는, 접촉 영역(122)에서 접촉 스프링(55)에 의해 방사상 방향으로 접촉되는 중공 단부 섹션(121)을 갖는다.
테스트 커넥터(30)에 대한 호환가능 동축 커넥터(100)의 기계적 정렬은, 호환가능 동축 커넥터(100)의 그리고 테스트 커넥터의 외부 컨덕터에서 기계적 접촉 섹션들에 의해 이루어진다. 방사상 정렬을 위해, 호환가능 동축 커넥터(100)의 외부 컨덕터의 외부 섹션(123)은 테스트 커넥터의 외부 컨덕터의 방사상 기계적 접촉 섹션(54)에 접촉할 수 있다. 축방향 정렬은, 테스트 커넥터의 외부 컨덕터의 축방향 기계적 접촉 섹션(53)에 접촉하는 호환가능 동축 커넥터(100)의 축방향 접촉 섹션(133)에 의해 이루어질 수 있다. 바람직하게는, 축방향 접촉 섹션(133)은 하우징(130)의 일부이다. 축방향 접촉 섹션(133)의 에지(edge)에 챔퍼(chamfer)(134)가 존재할 수 있다. 그러한 독립적인 방사상 및 축방향 정렬들은, 커넥터들의 적절하고 재현가능한 정렬을 보장한다. 커넥터들의 정합을 단순화하기 위해, 외부 컨덕터(50)의 외부 측은 챔퍼(52)를 가질 수 있다. 커넥터들의 정합 동안 조기 정렬을 제공하기 위해, 테스트 커넥터(30)에서의 커넥터 가이드(60)는 바람직하게는, 하우징(130) 및/또는 하우징에서의 외부 스레드(131)를 인터페이싱 및/또는 안내하기 위한 인터페이스 섹션(65)을 갖는 콘(61)을 갖는다.
도 5에서, 접촉 스프링(55)의 바람직한 실시예의 측단면도가 도시된다. 접촉 스프링은 베이스(222) 및 그로부터 연장된 복수의 접촉 핑거들(56, 221)을 갖는다. 바람직하게는, 접촉 핑거들은 아크-형상이고, 아크의 단부에 가까운 제 1 접촉 섹션(221), 및 베이스와 제 1 접촉 섹션 간의 제 2 접촉 섹션(223)을 제공한다. 접촉 핑거들의 아크 형상은, 도 4에 도시된 바와 같이, 호환가능 동축 커넥터(100)를 테스트 커넥터 내외로 원활하게 삽입 및 제거하는 것을 허용한다. 복수의 접촉 핑거들 각각은 개별적인 스프링 엘리먼트로서 동작하고, 호환가능 동축 커넥터(100)의 외부 컨덕터에 힘을 제공하며, 그에 따라, 전기적 접촉이 제공된다. 바람직하게는, 아크는 호환가능 동축 커넥터(100)를 외면(avert)하는 개구부를 갖는다.
도 6에서, 직선으로 연장된 상태로 접촉 스프링(55)의 평면도가 도시된다. 베이스(222)는, 그로부터 연장되는 복수의 접촉 핑거들(56)(이들 사이에 갭들(57)이 있음)을 홀딩한다. 베이스는 바람직하게는 어떠한 갭들 또는 슬릿(slit)들도 갖지 않는다. 바람직하게는, 접촉 스프링은 구리-베릴륨, 황동, 강철과 같은 재료들 중 적어도 하나를 포함한다.
도 7에서, 수정된 접촉 스프링(55)이 직선으로 연장된 상태로 도시된다. 여기서, 베이스(222)가 섹션화되고(sectioned), 이는 스프링의 가요성 및 굴곡력(bendability)을 증가시킨다.
도 8에서, 커넥터들이 정합된 상태에서의 접촉 스프링(55)이 상세히 도시된다. 앞서 언급된 바와 같이, 접촉 스프링(55)은, 외부 컨덕터의 베이스(31)와 스프링 홀더(51) 간에(여기서, 접촉 스프링에 대한 그루브가 형성됨) 인클로징된다. 접촉 스프링(55)은, 자신의 베이스(222)와 함께 스프링 홀더(51)에 땜납 및/또는 용접된다. 여기서, 땜납(59)은 접촉 스프링(55)의 베이스(222)의 외부에서 방사상으로 도시된다. 최상의 상호변조 특성들을 위해, 접촉 스프링(55)과 스프링 홀더(51) 간에 하나의 야금 연결(땜납 연결)만이 존재한다. 축 방향에서 어떠한 갈바닉 접촉도 방지하고 용량성 접촉을 제공하기 위해, 스프링 홀더(51)의 측벽(58)과 접촉 스프링의 제 2 접촉 섹션(223) 간에 절연 디스크(230)가 제공될 수 있다. 갈바닉 접촉이 요구되는 경우, 이러한 디스크는 생략될 수 있다. 제 1 접촉 섹션들(221)은 호환가능 동축 커넥터(100)의 외부 컨덕터(120)와 접촉하며, 그에 고도로 전도성인 전기 경로를 생성한다. 접촉 스프링(55)의 설계로 인해, 테스트 커넥터의 외부 컨덕터 베이스(31)를 향해 그리고 호환가능 동축 커넥터(100)의 외부 컨덕터(120)를 향해 높은 접촉력이 생성될 수 있어서, 낮은 수동 상호변조가 초래된다. 바람직하게는, 접촉 스프링(55)의 베이스(222)는 접촉 핑거들(221, 223)보다 더 큰 반경으로 있다. 따라서, 접촉 핑거들은 베이스로부터 내측으로 배향된다.
도 9는 도 7의 단순화된 버전이며, 여기서, 몇몇 에지 라인들은 개별적인 컴포넌트들을 명확하게 하기 위해 제거되어 있다.
도 10은 도 9에 기초하며, 접촉 영역의 추가적인 확장된 세부사항을 도시한다. 여기서, 호환가능 커넥터의 외부 컨덕터(120)로부터 흐르는 전류에 의한 전류 루프를 형성하는 영역(240)이 마킹된다. 그것은, 전류 루프의 인덕턴스와 함께 표면들(54 및 123) 간의 커패시턴스를 갖는 병렬 공진 회로를 형성하여, 커넥터들의 대역폭을 제한한다. 제 2 접촉 섹션(223)에 의한 측벽(58)에 대한 용량성 접촉으로 인해, 이러한 루프 영역은 현저하게 감소될 수 있으며, 이는 커넥터의 대역폭을 추가로 증가시킨다.
도 11은, 큰 전류 루프 영역(241)을 초래하는, 제 2 접촉 섹션(223)에 의한 측벽(58)에 대한 용량성 접촉이 없는 실시예를 도시한다. 그러한 접촉들을 갖는 커넥터는 도 10에 따른 커넥터보다 현저하게 작은 대역폭을 갖는다.
참조 번호들의 리스트
10 장착 서스펜션
20 내부 커넥터
25 연결 라인
29 중심 축
30 테스트 커넥터
31 외부 컨덕터 베이스
32 내부 측
33 스레드
40 내부 컨덕터
41 홀딩 디스크
42 슬롯
43 컨덕터 접촉 섹션
45 그루브
50 외부 컨덕터
51 스프링 홀더
52 챔퍼
53 축방향 기계적 접촉 섹션
54 방사상 기계적 접촉 섹션
55 접촉 스프링
56 접촉 핑거들
57 갭
58 측벽
59 땜납
60 커넥터 가이드
61 콘
65 인터페이스 섹션
100 호환가능 동축 커넥터
110 내부 컨덕터
111 중심 컨덕터 접촉 엘리먼트
112 내부 공간
113 접촉 섹션
120 호환가능 커넥터의 외부 컨덕터
121 원통형 접촉 섹션
122 접촉 영역
123 외부 섹션
130 하우징
131 외부 스레드
133 축방향 접촉 섹션
134 챔퍼
221 제 1 접촉 섹션
222 베이스
223 제 2 접촉 섹션
230 절연 디스크
240 전류 루프의 작은 영역
241 전류 루프의 큰 영역

Claims (11)

  1. 내측 방향으로 호환가능 동축 커넥터(compatible coaxial connector)(100)를 수용하기 위한 개구부를 갖는 동축 RF 테스트 커넥터로서,
    내부 컨덕터(40) 및 외부 컨덕터(50)를 포함하며,
    상기 내부 컨덕터(40) 및 상기 외부 컨덕터(50) 둘 모두는 중심 축(29)에 동축으로 배열되고,
    상기 외부 컨덕터(50)는 원형 형상 접촉 스프링(55)을 홀딩(hold)하기 위한 그루브(groove)(45)를 포함하고,
    상기 접촉 스프링은 개개의 접촉 핑거(contact finger)들 간에 갭(gap)들(57)이 있는 복수의 아크(arc)-형상 접촉 핑거들(56, 221, 223)을 포함하고,
    상기 접촉 핑거들은, 상기 접촉 핑거들을 상기 그루브 내에 부착하기 위한 베이스(222)로부터 연장되고, 상기 접촉 핑거들(56, 221, 223) 중 적어도 하나의 접촉 핑거는, 상기 중심 축(29)에 대해 방사상 방향으로 상기 호환가능 동축 커넥터(100)의 외부 컨덕터(120)에 접촉하기 위한 제 1 접촉 섹션(221)을 갖고,
    상기 베이스(222)와 상기 제 1 접촉 섹션(221) 간에 제 2 접촉 섹션(223)이 제공되고,
    상기 제 2 접촉 섹션(223)은 상기 그루브(45)의 측벽(58)과 용량성 접촉을 이루고, 그리고
    상기 제 2 접촉 섹션(223)과 상기 측벽(58) 간에 유전체 재료로 이루어진 절연 디스크(230)가 있는, 동축 RF 테스트 커넥터.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 접촉 스프링(55)은 상기 외부 컨덕터(50)에 방사상 방향으로 땜납 및/또는 용접되는, 동축 RF 테스트 커넥터.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 측벽(58)은 외측 방향으로 배향되어 상기 호환가능 동축 커넥터로 향하는 방향에 대면하는, 동축 RF 테스트 커넥터.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 베이스(222)는 본질적으로 상기 접촉 핑거들(56, 221, 223)을 방사상으로 인클로징(enclose)하는, 동축 RF 테스트 커넥터.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 외부 컨덕터(50)는 상기 접촉 스프링(55)을 홀딩하기 위한 스프링 홀더(51)를 포함하는, 동축 RF 테스트 커넥터.
  6. 제 1 항에 있어서,
    스프링 홀더(51)는, 상기 스프링 홀더를 상기 외부 컨덕터(50) 상에 스크루잉(screw)하기 위한, 테스트 커넥터의 외부 컨덕터 베이스에 있는 스레드와 반작용(counteract)하는 스레드를 포함하는, 동축 RF 테스트 커넥터.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 접촉 스프링(55)은 구리-베릴륨, 황동, 강철 중 적어도 하나를 포함하는, 동축 RF 테스트 커넥터.
  8. 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 따른 동축 RF 테스트 커넥터(30)를 포함하는 동축 RF 테스트 어셈블리로서,
    장착 서스펜션(10)에 의해 내부 커넥터(20) 및 연결 라인(25)이 홀딩되고,
    상기 연결 라인(25)은 상기 동축 RF 테스트 커넥터(30)와 상기 내부 커넥터(20)를 연결하는, 동축 RF 테스트 어셈블리.
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  10. 삭제
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