KR101836233B1 - Polishing pad recovering method using sub plate for polishing pad - Google Patents
Polishing pad recovering method using sub plate for polishing pad Download PDFInfo
- Publication number
- KR101836233B1 KR101836233B1 KR1020110010806A KR20110010806A KR101836233B1 KR 101836233 B1 KR101836233 B1 KR 101836233B1 KR 1020110010806 A KR1020110010806 A KR 1020110010806A KR 20110010806 A KR20110010806 A KR 20110010806A KR 101836233 B1 KR101836233 B1 KR 101836233B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- polishing pad
- auxiliary plate
- rotary table
- polishing
- main body
- Prior art date
Links
- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims abstract description 245
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 79
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 18
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 7
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 claims description 6
- 238000004064 recycling Methods 0.000 abstract description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 38
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 12
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 10
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 7
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 6
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 6
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 6
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 description 5
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 4
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 4
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 4
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 4
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 4
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 210000001520 comb Anatomy 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000013013 elastic material Substances 0.000 description 2
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 2
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 2
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 2
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 244000126211 Hericium coralloides Species 0.000 description 1
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- -1 and for example Substances 0.000 description 1
- 230000004323 axial length Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000005187 foaming Methods 0.000 description 1
- 230000008595 infiltration Effects 0.000 description 1
- 238000001764 infiltration Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000004321 preservation Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 1
- 239000011345 viscous material Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/04—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24D—TOOLS FOR GRINDING, BUFFING OR SHARPENING
- B24D11/00—Constructional features of flexible abrasive materials; Special features in the manufacture of such materials
- B24D11/02—Backings, e.g. foils, webs, mesh fabrics
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24D—TOOLS FOR GRINDING, BUFFING OR SHARPENING
- B24D7/00—Bonded abrasive wheels, or wheels with inserted abrasive blocks, designed for acting otherwise than only by their periphery, e.g. by the front face; Bushings or mountings therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
회전 정반에 대한 연마 패드의 고착력을 충분히 확보하면서, 회전 정반에 대한 연마 패드의 착탈을 용이하게 행하는 것을 가능하게 하고, 특히 회전 정반으로부터 연마 패드를 분리할 때의 연마 패드의 손상을 방지하는 것이 가능하고, 연마 패드의 재이용의 실현에 유리해질 수 있는, 연마 패드용 보조판을 이용하여 연마 패드의 재생 이용을 실현하는 신규의 연마 패드의 재생 방법을 제공한다.It is possible to easily attach and detach the polishing pad to the rotary table while sufficiently securing the fixing force of the polishing pad to the rotary table and to prevent the damage of the polishing pad when the polishing pad is separated from the rotary table Provided is a novel polishing pad regeneration method that realizes recycling use of a polishing pad by using an assisting plate for a polishing pad, which can be advantageous in realizing reuse of the polishing pad.
Description
본 발명은 실리콘 웨이퍼나 반도체 기판, 글라스 기판 등과 같이 높은 평탄 가공 정밀도가 요구되는 피가공물인 기판을 대상으로 하는 연마에 관련된 기술에 관한 것으로, 특히 이러한 기판의 표면을 연마할 때 이용되는 연마 패드의 재사용을 실현 가능하게 하는 기술에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a polishing technique for polishing a substrate, which is a workpiece requiring high flatness precision, such as a silicon wafer, a semiconductor substrate, and a glass substrate, And reusing the data.
잘 알려진 바와 같이, 반도체의 제조 시에는 구성재가 되는 실리콘 웨이퍼 또는 반도체 기판, 글라스 기판 등의 기판의 표면을 평탄화하는 연마 처리가 행해지고 있다. 이러한 연마 처리는 일반적으로 수지재 등으로 이루어진 원판 형상의 연마 패드를 연마기의 회전 정반(定盤) 상에 양면 테이프로 직접 고정시키고, 지립(砥粒)을 포함하는 연마액을 공급하면서, 연마 패드와 기판을 상대적으로 회전 운동시켜 연마를 행함으로써 실시되고 있다.As is well known, a polishing process for flattening the surface of a substrate such as a silicon wafer, a semiconductor substrate, or a glass substrate, which is a constituent material, is performed at the time of manufacturing a semiconductor. Such a polishing process is generally performed by directly fixing a disk-like polishing pad made of a resin material or the like to a rotating table of a polishing machine with a double-sided tape and supplying a polishing liquid containing abrasive grains, And the substrate is relatively rotated to perform polishing.
그리고, 이러한 연마 처리를 실시하기 위한 연마 패드로서는, 일본특허공개공보 제2002-11630호(특허 문헌 1) 등에 기재되어 있는 바와 같이, 발포(發泡) 또는 미발포된 우레탄 등으로 이루어진 수지 패드가 채용되고 있다. 또한, 이러한 연마 패드의 연마 표면에는 대부분의 경우 동심원 형상이나 격자 형상, 방사 형상 등의 홈 가공이 실시되거나, 발포 수지의 기포가 개구되는 등의 것이 실시되고 있다.As described in JP-A-2002-11630 (Patent Document 1) and the like, a polishing pad for carrying out the polishing treatment is a resin pad made of foamed or unfoamed urethane or the like Has been adopted. In most cases, grooves such as concentric circles, lattices, and radial grooves are formed on the polishing surface of the polishing pad, or bubbles of the foamed resin are opened.
그런데, 연마 패드를 이용한 연마 가공을 행하는 경우에는 연마 대상인 기판의 종류 전환 등의 시에 연마 가공에 사용하는 연마 패드를 회전 정반으로부터 분리하여 다른 연마 패드로 교환해야 하는 경우가 있다. 또한, 예를 들면 연마 가공에 따라 열화된 연마 패드를 재사용 등의 목적으로 다른 가공 장치에서 표면 홈 형성 등 재가공하는 경우 등에도 연마 패드를 회전 정반으로부터 분리하는 것이 필요해진다.However, when performing polishing using a polishing pad, there is a case where the polishing pad used for polishing is to be separated from the rotating platen and replaced with another polishing pad when the type of the substrate to be polished is changed or the like. It is also necessary to separate the polishing pad from the rotating platen when, for example, the polishing pad deteriorated by polishing processing is reworked for surface grooving or the like in another processing apparatus for the purpose of reuse or the like.
그런데, 얇은 원판 형상의 수지 패드는 연마 장치의 회전 정반에 대해 점착 테이프로 강고하게 고착되어 있으므로, 이 연마 패드를 회전 정반으로부터 분리할 때, 연마 패드에 대해 휨 또는 접힘, 주름짐, 부서짐 등의 손상이 발생하기 쉽다. 따라서, 이러한 손상이 원인이 되어, 이러한 연마 패드를 수명이 다하지도 않았음에도 불구하고 재사용하지 못하고 폐기해야 하는 경우가 많다고 하는 문제가 있었다.However, since the thin disk-like resin pads are strongly adhered to the rotation table of the polishing apparatus by the adhesive tape, when the polishing pad is separated from the rotary table, the polishing pad is warped or folded, wrinkled, Damage is likely to occur. Accordingly, such damage has been the cause, and there has been a problem that such a polishing pad often needs to be discarded without being able to be reused even though the life of the polishing pad has not expired.
또한, 손상되지 않게 세심한 주위를 기울이면서 연마 패드를 회전 정반으로부터 분리하는 작업은 숙련과 주의를 요하므로, 작업자에게 큰 부담을 준다고 하는 문제도 있었다. 아울러, 연마 패드를 회전 정반으로부터 분리하는 작업에 상당한 시간이 필요해지므로, 고가이면서 귀중한 설비인 연마 장치를 장시간에 걸쳐 정지시켜야 하며, 설비의 가동 시간이 제한되는 문제도 있었다.In addition, the work of separating the polishing pad from the rotating table while tilting the circumference carefully to avoid damage requires skill and care, which also poses a problem of imposing a great burden on the operator. In addition, since it takes a considerable time to separate the polishing pad from the rotary table, it is necessary to stop the polishing apparatus, which is expensive and valuable, for a long time, and the operation time of the apparatus is limited.
또한, 일본특허공개공보 제2001-54859호(특허 문헌 2)에는 연마 패드의 이면에 대해 직접 평판 형상의 지지체층을 일체 형성하고 또한 상기 지지체층을 연마기의 회전 정반에 대해 자력(磁力)이나 부압(負壓) 흡인력으로 흡착 보지(保持)시킴으로써, 연마 패드를 회전 정반으로부터 용이하게 분리할 수 있도록 한 구조가 제안되어 있다. 그러나, 연마 패드에 지지체층을 직접 일체 형성하는 것은 어려울 뿐만 아니라, 설령 연마 패드에 지지체층을 일체 형성할 수 있다고 해도 실용화에는 아직 문제가 있었다.Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-54859 (Patent Document 2) discloses that a flat plate-shaped support layer is directly formed on the back surface of a polishing pad and the support layer is pressed against a rotating plate of a polishing machine, There is proposed a structure in which the polishing pad can be easily separated from the rotary table by suction-holding (holding) by a negative pressure suction force. However, it is difficult to integrally form the support layer directly on the polishing pad, and even if the support layer can be integrally formed on the polishing pad, there is still a problem in practical use.
이러한 특허 문헌 2에는 자력이나 부압 흡인력에 의한 연마 패드의 회전 정반으로의 고착이 예시되어 있으나, 얇은 지지체층에 대해 두꺼운 회전 정반을 개재하여 충분한 자력을 미치는 것은 극히 곤란하며, 또한 부압 흡인도 평판 형상의 지지체층과 회전 정반의 사이에 외부 공간으로부터 확실히 차단된 밀폐 영역을 형성하지 못하여 충분한 흡착력을 미치기 어렵다. 또한, 특허 문헌 2에는 지지체층의 이면을 점착 테이프로 회전 정반에 고착시키는 구조도 개시되어 있으나, 단순히 연마 패드의 이면을 덮는 얇은 평판 형상의 지지체층에서는 충분한 강성(剛性)을 얻지 못하고, 회전 정반으로부터 지지체층을 분리할 때 단일체 구조의 연마 패드와 마찬가지로, 휨 또는 접힘, 주름 등의 손상이 발생될 우려가 있다.In this patent document 2, the fixing of the polishing pad to the rotary table by the magnetic force or the negative pressure suction force is exemplified. However, it is extremely difficult to apply a sufficient magnetic force to the thin support layer through the thick rotary table, It is difficult to form a closed region which is surely blocked from the outer space between the support layer of the support plate and the rotary table, so that it is difficult to achieve a sufficient attraction force. Patent Document 2 discloses a structure in which the back surface of a support layer is fixed to a rotary table with an adhesive tape. However, in the case of a thin flat plate-like support layer simply covering the back surface of the polishing pad, sufficient stiffness can not be obtained, There is a possibility that damage such as warping, folding, wrinkles or the like may occur, as in the case of the polishing pad having a monolithic structure.
또한, 전술한 단일체 구조의 연마 패드와, 특허 문헌 2에 기재된 연마 패드 모두 단순한 원판 형상을 가지고 있으므로, 이를 회전 정반에 대해 정확히 센터링(중심 맞춤)하여 장착하는 작업이 어렵고도 번거럽다고 하는 문제도 있었다.In addition, since both of the above-described monolithic polishing pad and the polishing pad described in Patent Document 2 have a simple disk shape, there is a problem that it is difficult and troublesome to precisely center and align the polishing pad with the rotating platen .
본 발명은 상술한 바와 같은 사정을 배경으로 하여 이루어진 것이며, 회전 정반에 대한 연마 패드의 고착력을 충분히 확보하면서, 회전 정반에 대한 연마 패드의 착탈을 용이하게 행하는 것을 가능하게 하고, 특히 회전 정반으로부터 연마 패드를 분리할 때의 연마 패드의 손상을 방지하는 것이 가능하며, 예를 들면 연마 패드의 재이용의 실현에도 유리해질 수 있는 신규 구조의 연마 패드용 보조판을 제공하는 것에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to make it possible to easily attach and detach a polishing pad to a rotary table while sufficiently securing the fixing force of the polishing pad to the rotary table, It is an object of the present invention to provide an auxiliary plate for a polishing pad of a novel structure which can prevent damage of the polishing pad when the polishing pad is detached and can be advantageous for realization of reuse of the polishing pad, for example.
또한, 이러한 연마 패드용 보조판을 이용해 연마 패드의 재생 이용을 실현하는 연마 패드의 재생 방법을 제공하는 것 및 이러한 연마 패드용 보조판을 이용하여 연마 가공을 실시함으로써, 연마 가공된 기판을 얻도록 한 기판의 제조 방법을 제공하는 것도 본 발명이 목적으로 하는 점이다.It is another object of the present invention to provide a method of regenerating a polishing pad for realizing recycling of a polishing pad by using such an assisting plate for a polishing pad and to provide a method of manufacturing a substrate by which abrasive processing is performed by using such an assisting plate for a polishing pad, It is also an object of the present invention to provide a method for producing the same.
이러한 과제를 해결하기 위해, 연마 패드용 보조판에 관한 본 발명의 제 1 태양은, 연마기의 회전 정반의 상면에 재치(載置)되는 보조판 본체를 구비하고 있고, 상기 보조판 본체의 표면의 중앙 부분에, 반도체 기판 등의 연마에 이용되는 연마 패드가 중첩되어 고착되는 패드 지지면이 구성되어 있으며, 상기 보조판 본체의 외주연부에는, 상기 연마기의 회전 정반의 외주면을 따라 하방으로 돌출되어 상기 회전 정반의 외주에 감합되는 감합 주벽부가 형성됨으로써, 상기 패드 지지면에 고착된 상기 연마 패드를 상기 회전 정반에 대해 착탈 가능하게 장착하는 연마 패드용 보조판에 있다. In order to solve such a problem, a first aspect of the present invention relating to an assisting plate for a polishing pad comprises an assisting plate main body mounted on an upper surface of a turntable of a polishing machine, wherein a center portion of the surface of the assisting plate main body And a polishing pad used for polishing a semiconductor substrate and the like are overlapped and fixed to each other. The outer peripheral edge of the auxiliary plate main body is protruded downward along the outer peripheral surface of the rotary table of the polishing machine, And the abrasive pad fixed to the pad supporting surface is detachably attached to the rotating table.
본 태양의 연마 패드용 보조판에서는, 보조판 본체의 외주연부에 감합 주벽부를 형성한 것에 의해, 이하 (1)~(6)에 기재된 바와 같은 특별한 기술적 효과가 발휘된다. In the auxiliary plate for a polishing pad of the present invention, by forming the fitting circumferential wall portion on the outer peripheral edge portion of the auxiliary plate main body, special technical effects as described in (1) to (6) below are exhibited.
(1) 연마 패드를 보조판 본체의 상면(표면)에 고착시킨 채로, 보조판 본체와 함께 회전 정반에 대해 장착 및 분리할 수 있다. 그리고, 회전 정반으로부터 분리하여 연마 패드를 클리닝이나 재가공 등 하는 경우에도, 연마 패드를 보조판 본체의 표면에 고착시킨 채로 실시할 수 있다. (1) The polishing pad can be mounted and separated with respect to the rotary table together with the auxiliary plate main body, while the polishing pad is fixed to the upper surface (surface) of the auxiliary plate main body. Even when the polishing pad is separated from the rotary table and cleaned or reprocessed, the polishing pad can be stuck to the surface of the auxiliary plate main body.
(2) 감합 주벽부에 의해, 보조판 본체에 대해 극히 효과적인 보강 효과가 발휘될 수 있다. 특히, 감합 주벽부는 연마기의 회전 정반의 상면을 벗어난 외주측에 형성되므로, 회전 정반 상에서 행해지는 연마 등의 가공 작업으로의 악영향을 회피하면서, 감합 주벽부를 각종 형상이나 크기로 형성할 수 있고, 보조판 본체에 대한 효과적인 보강 효과를 향수(享受)하는 것이 가능해진다. 그리고, 상기 (1)에 대해, 연마 패드를 보조판 본체에 고착시킨 채로 취급함으로써, 회전 정반에 대한 연마 패드의 착탈시 또는 연마 패드의 클리닝이나 재가공시 등은 물론 연마 패드의 이송시나 보존시 등에도 연마 패드의 휨 또는 손상을 방지할 수 있어, 양호한 상태로 유지할 수 있다. (2) By the fitting circumferential wall portion, an extremely effective reinforcement effect can be exerted on the auxiliary plate main body. Particularly, since the engaging main wall portion is formed on the outer peripheral side of the rotary table of the polishing machine, it is possible to form the engaging main wall portion in various shapes and sizes while avoiding adverse effects on the machining operation such as polishing performed on the rotary table, It is possible to enjoy an effective reinforcing effect on the main body. In the above (1), by treating the polishing pad with the polishing pad fixed to the main body of the assisting plate, it is possible to prevent the abrasive pad from being detached or attached to the rotating platen, cleaning or reworking of the polishing pad, Warpage or damage of the polishing pad can be prevented, and it is possible to maintain the polishing pad in a good state.
(3) 회전 정반에 감합 주벽부가 감합될 때 회전 정반의 외주면에서 감합 주벽부의 내주면이 안내됨으로써, 연마 패드가 고착된 보조판 본체가, 회전 정반의 표면에 대해 대략 평행 상태를 유지한 채로 중첩시킬 수 있다. 따라서, 감합 주벽부에 의한 보조판 본체에 대한 보강 효과와 더불어, 연마 패드나 보조판 본체의 휨 또는 기울어짐이 방지되어, 회전 정반의 상면에 대해 보조판 본체 및 연마 패드가 고정밀도로 중첩되어 밀착된 안정 지지 상태가 효과적으로 실현될 수 있다. (3) When the fitting peripheral wall is fitted to the rotary table, the inner peripheral surface of the fitting peripheral wall is guided on the outer peripheral surface of the rotary table, so that the auxiliary plate main body to which the polishing pad is fixed can be superimposed on the surface of the rotary table, have. Therefore, it is possible to prevent the polishing pad or the auxiliary plate main body from being warped or inclined in addition to the reinforcing effect on the auxiliary plate main body due to the fitting peripheral wall portion, and the auxiliary plate main body and the polishing pad are superimposed on the upper surface of the rotary table with high accuracy, The state can be effectively realized.
(4) 감합 주벽부의 회전 정반으로의 외측 감합 구조에 기초하여, 감합 주벽부 나아가서는 이에 고착된 연마 패드를 회전 정반에 대해 용이하고도 정확하게 중심 위치 조정하여 장착하는 것이 가능해진다. (4) According to the outer fitting structure of the fitting circumferential wall of the fitting circumferential wall to the outer circumferential surface of the fitting circumferential wall, it is possible to easily and precisely adjust the center position of the fitting circumferential wall, and furthermore,
(5) 상기 (1)~(2)의 기재와 같이, 연마 패드의 손상을 방지할 수 있고, 또한 상기 (3)~(4)의 기재대로 정확한 위치 조정 정밀도를 가지고 신속하게 연마 패드를 회전 정반에 대해 착탈할 수 있는 결과, 연마 패드의 착탈 등의 작업을 위해 고가의 연마 설비의 가동 시간이 불필요하게 제한되는 일이 없어지고, 연마 설비의 가동 효율의 향상, 나아가서는 기판의 생산 효율(연마 작업 효율)의 향상이 달성될 수 있다. (5) As described in (1) to (2) above, damage to the polishing pad can be prevented, and the polishing pad can be quickly rotated As a result of attaching / detaching to / from the base, the operation time of the expensive polishing equipment is not unnecessarily limited for the operation such as attachment / detachment of the polishing pad, improvement of the operation efficiency of the polishing equipment, Polishing operation efficiency) can be achieved.
(6) 상기 (1)~(5)의 상승 효과로서, 예를 들면 연마 패드의 재이용시의 문제도 해결되므로, 특별한 숙련이나 지식이 없어도 연마 패드의 재이용이 실용 레벨로 실현 가능해진다. 즉, 예를 들면 기판의 종류 전환 등의 시에, 일단 회전 정반으로부터 분리한 연마 패드를 재이용하거나, 열화 대책으로서 다른 가공 장치로 표면 홈 형성 등의 재가공하기 위해 일단 회전 정반으로부터 분리한 연마 패드를 재가공 후에 재이용하거나 하는 것 등도 실용화 레벨로 검토할 수 있다.(6) As a synergistic effect of the above (1) to (5), for example, the problem in reusing the polishing pad is also solved, so that reuse of the polishing pad can be realized at a practical level without special skill or knowledge. That is, for example, when the type of substrate is changed, a polishing pad once separated from a rotary table is reused, or a polishing pad which is once separated from a rotary table to reprocess such as surface grooves with another processing device as a deterioration countermeasure Re-use after re-processing can also be examined at practical level.
또한, 본 태양에서, ‘보조판 본체’는 연마 패드를 지지시켜 연마기에 의한 연마 가공 외에 연마 패드 표면으로의 드레싱, 청소, 홈 재형성 등의 각종 처리 시에 요구되는 강도나 강성, 형상 안정성 및 정밀도를 만족하는 것이면 좋고, 그 재질이나 두께 치수는 한정되는 것이 아니다. 특히, 이러한 보조판 본체는 그 단일체로 연마 패드의 지지 강도나 강성 등을 부담하는 것이 아니라, 예를 들면 연마 가공시에는 연마기의 회전 정반 상에 중첩되어 사용됨으로써, 회전 정반에서 이면을 지지받는 것이므로, 단일체에서의 강도나 강성이 그렇게까지 요구되지는 않는다. 따라서, 스텐레스 스틸 등의 금속 외에, 합성 수지나 섬유 강화 수지 등도 보조판 본체의 형성 재료로서 채용될 수 있다. 특히, 합성 수지제의 보조판 본체는 금속제에 비하여 경량으로 가공 또는 취급이 용이하고, 예를 들면 폴리카보네이트 등은 두께 치수 정밀도의 안정성이나 온도 변화에 대한 저왜곡 특성에도 우수하다고 하는 이점이 있다. 또한, 보조판 본체는 연마 패드보다 큰 강성을 구비하고 있는 것이 바람직하다.In addition, in the present embodiment, the 'assisting plate main body' is formed by supporting the polishing pad and polishing it by a polishing machine, as well as strength and rigidity required for various treatments such as dressing, cleaning and grooving on the surface of the polishing pad, , And the material and the thickness dimension are not limited. Particularly, such a support plate main body is supported by the back surface of the rotary table by being used by being superimposed on the rotary table of the polishing machine, for example, at the time of polishing, without having to bear the support strength or rigidity of the polishing pad, Strength or stiffness in a single body is not so required. Therefore, in addition to metal such as stainless steel, synthetic resin, fiber reinforced resin, and the like can also be employed as a material for forming the auxiliary plate main body. Particularly, the auxiliary plate main body made of synthetic resin is advantageous in that it is lightweight and easy to be processed or handled as compared with a metal, and for example, polycarbonate and the like are excellent in stability of thickness dimensional accuracy and low distortion characteristics against temperature change. Further, it is preferable that the auxiliary plate main body has greater stiffness than the polishing pad.
또한, ‘보조판 본체’는 회전 정반의 표면에서 적어도 연마 패드의 재치 영역을 덮는 것이면 좋고, 회전 정반의 표면을 전체에 걸쳐 완전히 덮을 필요는 없다. 구체적으로는, 이러한 보조판 본체에서, 예를 들면 연마 패드의 재치 영역을 외주측으로 벗어난 부분에 적당한 크기, 형상을 가지고, 절결이나 관통창 등이 형성되어 있어도 좋다.The 'auxiliary plate main body' need only cover at least the placement area of the polishing pad on the surface of the rotary table, and it is not necessary to completely cover the surface of the rotary table. Specifically, in this assisting plate main body, for example, a cutout, a penetrating window, or the like may be formed with a suitable size and shape at a portion of the abrasive pad deviated to the outer periphery side.
또한, 본 태양에서, ‘감합 주벽부’는 보조판 본체와 일체 형성되어 있어도 좋고, 별체 형성되어 보조판 본체에 대해 뒤에서부터 고착되어 있어도 좋다. 이러한 감합 주벽부 모두 보조판 본체와 마찬가지로, 각종 재질의 것이 채용될 수 있다. 특히, 감합 주벽부는 보조판 본체 정도의 치수 정밀도가 요구되는 것이 아니며, 예를 들면 둘레 방향 또는 하방으로의 돌출 방향에서 복수의 부재가 조합된 분할 구조에 의해 감합 주벽부를 구성하는 것 등도 가능하다.In this embodiment, the 'fitting peripheral wall' may be integrally formed with the auxiliary plate main body, or may be separately formed and fixed to the auxiliary plate main body from behind. As with the auxiliary plate main body, both of these fitting peripheral wall portions can be made of various materials. Particularly, the fitting circumferential wall portion is not required to have dimensional accuracy as much as that of the supporting plate main body. For example, the fitting circumferential wall portion may be constituted by a divided structure in which a plurality of members are combined in the circumferential direction or the downward protruding direction.
또한, ‘감합 주벽부’는 보조판 본체에 대해 소정의 보강 효과와, 회전 정반에 대한 소정의 위치 결정 효과를 나타낼 수 있는 것이면 좋으므로, 반드시 보조판 본체의 사방에 걸쳐 연속하여 형성되어 있을 필요는 없다. 구체적으로는, 예를 들면 보조판 본체의 외주연부에 있어, 둘레 방향으로 서로 이격되어 형성된 분단 구조를 가지고 감합 주벽부를 형성해도 좋다. 또한, 부분적으로 형상을 다르게 한 감합 주벽부를 형성하는 것도 가능하다.It is not necessary that the " fitting peripheral wall " be formed so as to be capable of exhibiting a predetermined reinforcing effect on the auxiliary plate main body and a predetermined positioning effect on the rotary base plate, . Concretely, for example, the fitting peripheral wall portion may be formed in the outer peripheral edge portion of the auxiliary plate main body with a dividing structure formed so as to be spaced apart from each other in the circumferential direction. It is also possible to form a fitting peripheral wall portion having a partially different shape.
또한, 본 발명의 제 2 태양은, 상기 연마 패드용 보조판에서, 상기 보조판 본체가 중첩되는 상기 회전 정반의 상면에, 상기 회전 정반과 상기 회전 정반 위에 재치되는 상기 보조판 본체와의 중첩면 사이에서의 밀착성을 향상시키는 밀착층이 설치될 수 있다.A second aspect of the present invention is a polishing pad for a polishing pad which is characterized in that on the upper surface of the rotary table on which the auxiliary plate main body is superposed, An adhesion layer for improving adhesion can be provided.
본 태양에서는, 밀착층으로서, 예를 들면 점착 테이프를 채용함으로써, 보조판 본체의 회전 정반에 대한 고착력을 효율적으로 얻을 수 있다. 특히, 보조판 본체는 연마 패드에 비해 면적이 큰 것으로부터, 예를 들면 점착 테이프를 대형화할 수 있고, 이에 따라 고착력의 향상을 더욱 도모하거나, 점착 테이프에서의 단위 면적당 점착력을 작게 설정하여, 분리를 용이하게 하여 이탈 작업성의 향상을 도모할 수도 있다. 또한, 점착 테이프에 의해 고착되는 보조판 본체는 상기 제 8 태양에서 쿠션층을 구비하고 있는 경우에, 보조판 본체를 구성하는 해당 쿠션층으로 된다.In this embodiment, by using, for example, an adhesive tape as the adhesive layer, it is possible to efficiently obtain a fixing force against the rotation plate of the assisting plate main body. Particularly, since the auxiliary plate main body has a larger area than the polishing pad, for example, it is possible to increase the size of the adhesive tape, thereby further improving the fixing force, or setting the adhesive force per unit area in the adhesive tape small, So as to improve the workability of detachment. Further, in the case where the cushion layer is provided in the eighth aspect, the cushion layer constituting the assisting plate main body is an assisting plate main body fixed by the adhesive tape.
또한, 밀착층으로서, 예를 들면 탄성을 가지는 테이프나 필름, 플레이트(실리콘판 등)을 채용하거나, 왁스 등의 점성재나 겔 형상 물질을 도포하여 채용하는 것도 가능하다. 이러한 탄성박층이나 도포층을 채용함으로써, 보조판 본체와 회전 정반과의 밀착성을 향상시켜, 양자간에서의 에어 잔류를 방지하고, 보조판 본체의 회전 정반에 의한 지지 및 보강의 효과를 더욱 향상시킬 수 있다.As the adhesive layer, for example, a tape, a film, a plate (silicon plate or the like) having elasticity, or a viscous material such as wax or a gel material may be applied and employed. By adopting such an elastic thin layer or coating layer, adhesion between the auxiliary plate main body and the rotary table can be improved, air can be prevented from remaining between the auxiliary plate main body and the rotary table, and the effect of support and reinforcement by the rotary table of the auxiliary plate main body can be further improved .
본 발명의 제 3 태양은, 상기 회전 정반과 보조판 본체의 사이의 내부 영역을 외부 공간에 연통시키는 에어 제거용 홀을 채용함으로써, 상기 내부 영역에 갇힌 공기에 의한 스프링백 현상이 회피되어, 회전 정반과 보조판 본체를(내부 영역에 갇힌 공기에 의한 악영향을 받지 않고) 용이하게 밀착시킬 수 있다. 또한, 이 에어 제거용 홀에는 개폐 가능한 덮개를 설치하는 것이 바람직하며, 이러한 덮개에 의해, 에어 제거용 홀을 필요로 하지 않는 상황 하에서 폐색해 둠으로써, 에어 제거용 홀로의 외부로부터의 이물의 침입을 방지할 수 있다.According to the third aspect of the present invention, by adopting the air removing hole for communicating the inner region between the rotary platen and the auxiliary plate main body to the outer space, springback caused by the air trapped in the inner region is avoided, And the auxiliary plate main body can be easily brought into close contact with each other (without being adversely affected by the air trapped in the inner area). In addition, it is preferable to provide a cover which can be opened and closed in the air removing hole. By closing the air removing hole in a situation in which the air removing hole is not required, the foreign substance from the outside into the air removing hole Can be prevented.
본 발명의 제 4 태양은, 상기 보조판 본체는 그 이면측에 쿠션층을 구비하고 있고, 상기 쿠션층이 상기 회전 정반 상에 중첩되도록 할 수 있다.According to a fourth aspect of the present invention, the auxiliary plate main body has a cushion layer on the back side thereof, and the cushion layer can be superimposed on the rotation base plate.
본 태양에서는, 연마 패드의 지지 특성을, 보조판 본체를 개재하여 연마 패드에 미치는 쿠션층의 탄성에 기초하여 조절하는 것이 가능해진다. 즉, 이러한 쿠션층의 탄성이나 보조판 본체의 강도 및 강성을 조절함으로써, 회전 정반에 연마 패드의 지지 특성을 조절할 수 있는 것이며, 이에 따라, 예를 들면 연마 패드에 의한 연마 효율의 면내 균일성의 향상 등이 도모될 수 있다.In this aspect, it becomes possible to adjust the support characteristics of the polishing pad based on the elasticity of the cushion layer on the polishing pad through the auxiliary plate main body. That is, by adjusting the elasticity of the cushion layer and the strength and rigidity of the auxiliary plate body, it is possible to control the support characteristics of the polishing pad on the rotary platen, thereby improving the uniformity of the polishing efficiency by the polishing pad Can be achieved.
특히, 연마 패드에 의한 연마 효율을 연마 패드의 전체 면에서 균일화하는 목적으로, 연마 패드의 이면에 쿠션층을 일체 형성한 2 층식의 연마 패드가 종래부터 제공되고 있다. 이에, 본 태양에서는, 연마 패드에서의 쿠션층을 일부러 사용하지 않고도, 1 층식의 연마 패드에 의해 우수한 연마 효율의 면내 균일성을 얻는 것도 가능해진다. 또는, 2 층식의 연마 패드를 사용할 때, 연마 패드에 설치된 쿠션층을 보조판 본체의 이면에 설치한 쿠션층에서 보충하고, 쿠션층에 의한 효과의 지속을 한층 도모함으로써, 연마 패드를 재이용할 때의 연마 특성의 장기간에 걸친 안정화도 달성될 수 있다.In particular, a two-layer polishing pad having a cushion layer formed integrally on the back surface of a polishing pad has been conventionally provided for the purpose of uniforming the polishing efficiency by the polishing pad on the entire surface of the polishing pad. Thus, in the present embodiment, it is possible to obtain in-plane uniformity of excellent polishing efficiency by a one-layer polishing pad without using the cushion layer intentionally in the polishing pad. Alternatively, when the two-layered polishing pad is used, the cushion layer provided on the polishing pad is replenished by the cushion layer provided on the back surface of the auxiliary plate main body, and the effect of the cushion layer is further maintained, Long term stabilization of the polishing characteristics can also be achieved.
상기 보조판 본체가 이면에 쿠션층을 구비하고 있는 경우에는 상기 밀착층으로서, 예를 들면 이러한 쿠션층에 물 등의 액체를 포함시킴으로써, 쿠션층을 밀착층으로서 이용하는 것도 가능하다. 즉, 이러한 쿠션층이 연속한 내부 기포를 구비하고 있는 다공질재인 경우에는 이를 적극적으로 이용하여 보조판 본체의 회전 정반에 대한 밀착성의 향상을 도모할 수 있다.When the auxiliary plate main body has a cushion layer on the back side, it is also possible to use a cushion layer as an adhesive layer, for example, by including a liquid such as water in the cushion layer as the adhesion layer. That is, when the cushion layer is a porous material having continuous inner bubbles, it can be positively used to improve the adhesion to the rotation plate of the assisting plate body.
본 발명의 제 5 태양은, 상기 제 1부터 제 3까지의 모든 태양을 구비할 수 있다.A fifth aspect of the present invention can include all of the above first to third aspects.
본 발명의 제 6 태양은, 상기 제 1 내지 제 5 중 어느 하나에 기재된 태양에 따른 연마용 보조판을 이용하여, 상기 연마 패드가 사용에 의해 마모된 경우에, 상기 연마 패드용 보조판에 장착된 채의 상태로 상기 연마 패드의 표면에 재생 가공을 실시하는 연마 패드의 재생 방법에 있다.According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an abrasive plate according to any one of the first to fifth aspects, wherein when the abrasive pad is worn by use, And the surface of the polishing pad is subjected to a regenerating process.
이러한 본 발명 방법에 따르면, 연마 패드에 재생 가공을 실시할 때에도, 이면에 고착된 연마 패드용 보조판에 의한 보강 효과가 계속하여 발휘되므로, 연마 패드의 손상이 효과적으로 방지되어, 고정밀도의 재생 가공이 실현 가능해진다.According to this method of the present invention, even when the polishing pad is subjected to the regenerating process, the reinforcing effect by the auxiliary plate for the polishing pad fixed to the back surface is continuously exhibited, so that the damage of the polishing pad is effectively prevented, It becomes feasible.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 연마 패드의 손상을 방지하면서, 연마 패드를 회전 정반에 대해 우수한 작업성을 가지고 착탈할 수 있으며, 그 결과 연마 패드의 착탈 등의 작업을 위해서 고가의 연마 설비의 가동 시간을 불필요하게 제한하는 것도 없어져, 연마 설비의 가동 효율의 향상, 나아가서는 기판의 생산 효율(연마 작업 효율)의 향상이 달성될 수 있다.As described above, according to the present invention, it is possible to attach and detach a polishing pad with excellent workability to a rotary table while preventing damage to the polishing pad, and as a result, It is possible to improve the operation efficiency of the polishing equipment and further improve the production efficiency of the substrate (polishing operation efficiency).
그리고, 그 결과 연마 패드의 재이용에 대해 실용 레벨에서의 실현도 가능해진다.As a result, the polishing pad can be reused at a practical level.
도 1은 본 발명의 일 실시예로서의 연마 패드용 보조판의 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시한 연마 패드용 보조판의 정면도이다.
도 3은 도 1에서의 III - III 단면도이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예로서의 연마 패드용 보조판을 나타내는 도면이며, 도 3에 대응하는 단면도이다.
도 5는 도 1에서의 V-V 단면도이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예로서의 연마 패드용 보조판을 나타내는 도면이며, 도 5에 대응하는 단면도이다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예로서의 연마 패드용 보조판을 나타내는 도면이며, 도 3에 대응하는 단면도이다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예로서의 연마 패드용 보조판을 나타내는 도면이며, 도 3에 대응하는 단면도이다.
도 9는 도 8에 도시된 연마 패드용 보조판에서의 씰 상태를 나타내는 단면도이다.
도 10은 도 9에 도시된 연마 패드용 보조판에서의 부압 흡인부를 나타내는 단면도이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시예로서의 연마 패드용 보조판을 나타내는 단면도이다.
도 12는 본 발명의 다른 실시예로서의 연마 패드용 보조판을 나타내는 단면도이다.
도 13은 본 발명의 다른 실시예로서의 연마 패드용 보조판을 나타내는 평면도이다.
도 14는 도 13에서의 XIV 화살표 부분의 설명도이다.
도 15는 도 14에 도시한 비착부의 다른 태양예를 나타내는 도면이며, 도 14에 대응하는 설명도이다.
도 16은 본 발명의 다른 실시예로서의 연마 패드용 보조판을 나타내는 평면 도이다.
도 17은 도 16에 도시한 연마 패드용 보조판서의 연마 패드에 대한 재생 가공을 설명하기 위한 도면으로서, 도 16에서의 XVII-XVII 단면에 상당하는 설명도이다.
도 18은 도 17에 도시한 연마 패드에 대한 재생 가공의 다른 공정을 설명하기 위한 도면으로서, 도 17에 대응하는 설명도이다.
도 19는 본 발명의 다른 실시예로서의 연마 패드용 보조판을 나타내는 단면 도이다.
도 20은 본 발명의 다른 실시예로서의 연마 패드용 보조판을 나타내는 평면도이다.
도 21은 도 20에 도시한 연마 패드용 보조판의 정면도이다.
도 22는 본 발명의 다른 실시예로서의 연마 패드용 보조판을 나타내는 저면도이다.
도 23은 도 20에 도시한 연마 패드용 보조판의 정면도이다.1 is a plan view of a support plate for a polishing pad according to an embodiment of the present invention.
Fig. 2 is a front view of the assisting plate for the polishing pad shown in Fig. 1. Fig.
3 is a sectional view taken along the line III - III in FIG.
Fig. 4 is a cross-sectional view corresponding to Fig. 3 showing a support plate for a polishing pad according to another embodiment of the present invention. Fig.
5 is a cross-sectional view taken along the line V-V in Fig.
Fig. 6 is a view showing a support plate for a polishing pad according to another embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view corresponding to Fig. 5. Fig.
Fig. 7 is a view showing a support plate for a polishing pad according to still another embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view corresponding to Fig. 3;
8 is a view showing a support plate for a polishing pad according to still another embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view corresponding to Fig.
Fig. 9 is a cross-sectional view showing a seal state in the assisting plate for the polishing pad shown in Fig. 8. Fig.
10 is a cross-sectional view showing the negative pressure suction portion in the assisting plate for the polishing pad shown in Fig.
11 is a cross-sectional view showing an assisting plate for a polishing pad according to another embodiment of the present invention.
12 is a cross-sectional view showing a support plate for a polishing pad according to another embodiment of the present invention.
13 is a plan view showing a support plate for a polishing pad according to another embodiment of the present invention.
FIG. 14 is an explanatory diagram of the arrow XIV in FIG. 13; FIG.
Fig. 15 is a view showing another example of the non-adhered portion shown in Fig. 14, and is an explanatory view corresponding to Fig. 14. Fig.
16 is a plan view showing an assisting plate for a polishing pad according to another embodiment of the present invention.
FIG. 17 is a view for explaining reproduction processing of the polishing pad of the auxiliary platen for polishing pad shown in FIG. 16, which is an explanatory view equivalent to a cross section taken along line XVII-XVII in FIG. 16;
Fig. 18 is a view for explaining another step of regeneration processing for the polishing pad shown in Fig. 17, and is an explanatory diagram corresponding to Fig. 17;
19 is a cross-sectional view showing a support plate for a polishing pad according to another embodiment of the present invention.
20 is a plan view showing a support plate for a polishing pad according to another embodiment of the present invention.
21 is a front view of the assisting plate for the polishing pad shown in Fig.
FIG. 22 is a bottom view showing a support plate for a polishing pad according to another embodiment of the present invention. FIG.
23 is a front view of the assisting plate for the polishing pad shown in Fig.
본 발명의 실시예에 대해 도면을 참조하면서 설명한다. 먼저, 도 1~3에는 본 발명의 일 실시예로서의 연마 패드용 보조판(10)이 도시되어 있다. 이 연마 패드용 보조판(10)은 주지의 연마기의 회전 정반(定盤)(12)에 장착되어 이용된다.Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 to 3 show an
구체적으로, 이러한 연마 패드용 보조판(10)은 얇은 원형 평판 형상을 가지는 보조판 본체(14)를 구비하고 있고, 전부 평탄하게 이루어진 표면(상면)(14a)과 이면(하면)(14b)을 가지고 있다. 이 보조판 본체(14)는 스테인레스 스틸 등의 금속판이나 폴리카보네이트 등의 합성 수지판으로 유리하게 형성된다. 또한, 보조판 본체(14)의 외경 치수는 장착되는 회전 정반(12)의 외경 치수와 같거나 약간 크게 되어 있다. 그리고, 연마 패드용 보조판(10)이 회전 정반(12)에 장착됨으로써, 보조판 본체(14)가 회전 정반(12)의 상면(16)에 중첩되어 재치(載置, mount)된다. 이에 의해, 회전 정반(12)의 상면(16)의 전체가 보조판 본체(14)로 덮이도록 되어 있다.Specifically, the
또한, 보조판 본체(14)의 외주연부에는 둘레 방향으로 연장되는 감합 주벽부(周壁部)(18)가 일체적으로 형성되어 있다. 이 감합 주벽부(18)는 보조판 본체(14)보다 두꺼운 블록 형상 단면(본 실시예에서는 구 형상 단면)을 가지고 둘레 방향으로 연장되어 있고, 본 실시예에서는 둘레 방향의 전체 둘레에 걸쳐 연속하여 연장되는 원환 형상으로 되어 있다. 또한, 감합 주벽부(18)도 보조판 본체(14)와 마찬가지로, 스테인레스 스틸 등의 금속재 외에 합성 수지재 등으로 형성될 수 있다. 특히, 본 실시예에서는 보조판 본체(14)의 외주연부에 대해 감합 주벽부(18)가 일체 형성되어 있다.A fitting
이러한 감합 주벽부(18)는 연마 패드용 보조판(10)이 회전 정반(12)에 장착되어 보조판 본체(14)가 회전 정반(12)의 상면(16)에 중첩될 때, 보조판 본체(14)로부터 하부를 향해 회전 정반(12)의 외주면을 따라 연장되도록 되어 있다. 특히, 본 실시예에서는 감합 주벽부(18)의 내주면(20)이 원통 형상으로 되어 있고, 이 내주면(20)이 회전 정반(12)의 외주면(22)에 대해 감합되어 상호 접촉하거나 또는 작은 간극을 두고 배치되도록 되어 있다. 또한, 회전 정반(12)의 외주면(22)과 감합 주벽부(18)의 내주면(20)과의 사이에 적당한 간극을 형성함으로써, 연마 패드용 보조판의 회전 정반(12)에 대한 착탈이 용이해진다. 또한, 도시하지는 않았으나 감합 주벽부(18)의 내주면(20)의 하방의 개구 단연부(端緣部)에는 하방을 향해 점차 확장되는 테이퍼면이나 면취(面取, chamfer)를 실시함으로써, 감합 주벽부(18)를 회전 정반(12)에 대해 감합시켜 장착하는 작업성의 향상이 도모될 수 있다.The engaging
또한, 보조판 본체(14)의 표면(14a)에는 연마 패드(24)가 중첩되어 장착되어 있다. 이러한 연마 패드(24)는 종래부터 공지의 각종 연마 패드를 채용할 수 있다. 그리고, 이 연마 패드(24)의 이면이 보조판 본체(14)의 표면(14a)에 대해, 종래 공지의 점착 테이프(25)나 적당한 접착제 등을 이용해 고착되어 있다. 또한, 연마 패드(24)의 외경 치수는 일반적으로 규격치로 여겨지지만, 대부분의 경우 장착되는 회전 정반(12)의 상면(16)의 외경 치수보다 작게 설정된다. 본 실시예에서는, 예를 들면 보조판 본체(14)의 표면(14a)을 회전 정반(12)보다 큰 외경 치수로 함으로써, 회전 정반(12)의 외경 치수와 대략 같거나 또는 큰 외경 치수의 연마 패드(24)를 채용하여 장착하는 것도 가능하다.A
즉, 연마 패드용 보조판(10)이 회전 정반(12)에 장착되고, 보조판 본체(14)가 회전 정반(12)의 상면(16)에 중첩됨으로써, 보조판 본체(14)의 표면(14a)에 고착된 연마 패드(24)가 보조판 본체(14)를 개재하여 회전 정반(12)의 상면(16)에 재치되어 고정 상태로 세팅되게 된다. 그리고, 회전 정반(12)의 중심축 회전의 회전 작동에 의해, 회전 정반(12)에 센터링되어 장착된 연마 패드(24)도 동시에 회전하여, 도시하지 않은 기판에 대한 연마 가공을 행하게 된다.The
이때, 예를 들면 도 4에 도시한 바와 같이, 회전 정반(12)의 상면(16)과 보조판 본체(14)와의 사이에 적당한 쿠션층(26)을 형성할 수 있다. 또한, 이러한 쿠션층(26)으로서는, 예를 들면 발포에 의해 어느 정도의 압축성이 부여된 수지 시트나, 일래스터머(elastomer) 시트, 고무 시트 등이 바람직하게 채용될 수 있다. 이러한 쿠션층(26)은 보조판 본체(14)에서의 국부적인 왜곡을 방지하기 위해, 적어도 연마 패드(24)의 고착 영역의 전체에 걸친 크기로, 바람직하게는 보조판 본체(14)의 이면(14b)의 전체에 걸쳐 일정 두께로 존재하도록 형성된다.At this time, a
이러한 쿠션층(26)을 형성함으로써, 연마 패드(24)에 의한 연마 가공시에 기판에 대한 연마 효율의 전체 면에 걸친 균일화를 도모할 수 있게 된다. 또한, 본 발명자가 행한 실험에서는 300 mm의 기판 표면 산화막에 대한 연마 효율의 면내 균일성에 관하여, 연마 개시 초기와 8 시간 후와의 모든 경우에서, 쿠션층(26)을 형성하지 않은 경우에 비해 쿠션층(26)을 형성함으로써 10% 정도의 향상이 달성됨을 확인했다. 또한, 본 발명자가 행한 다른 실험에서는 시판 중인, 쿠션층이 이면에 일체 형성된 더블 구조의 연마 패드(예를 들면, 니타하스(nittahaas)社 제품의 IC1400(상품명))를 사용하고 또한 보조판 본체(14)의 이면(14b)에 쿠션층을 형성하지 않는 경우에는 1분간 연마량의 면내 편차가 대략 1000 옴스트롬인데에 비해, 보조판 본체(14)의 이면(14b)에 쿠션층(26)을 형성함으로써, 1분간당의 연마량의 면내 편차가 수백 옴스트롬 정도까지 억제되는 것을 확인했다.By forming such a
또한, 연마 가공을 행할 때, 연마 패드(24)가 고착된 연마 패드용 보조판(10)은 그 감합 주벽부(18)가 회전 정반(12)의 외주면에 감합되어 있으므로, 연마 가공시에 회전 정반(12)으로부터 연마 패드용 보조판(10), 나아가서는 연마 패드(24)가 탈락되는 문제가 효과적으로 방지된다.Since the fitting
또한, 연마 패드용 보조판(10)은 회전 정반(12)에 대해, 예를 들면 감합 주벽부(18)의 회전 정반(12)에 대한 감합시의 마찰력 등에 기초하여 고정시키는 것도 가능하지만, 바람직하게는 특별한 고착 수단이 채용된다. 이러한 고착 수단으로서는, 예를 들면 점착 테이프나 접착제 등을 채용하는 것도 가능하지만, 도 1 내지 도 3에 도시된 본 실시예에서는, 도 5에 도시한 바와 같이, 고정 볼트(28)가 채용되고 있다.The
이 고정 볼트(28)는 감합 주벽부(18)에서 둘레 상의 복수 개소(바람직하게는 등간격으로 위치하는 3 개소 이상)에서 각각 축 방향으로 관통하여 형성된 볼트 삽입 관통 홀(30)에 삽입 관통하여 장착되어 있다. 또한, 고정 볼트(28)의 헤드부는 감합 주벽부(18)에 형성된 수용 오목부(32) 내에 수용됨으로써, 연마 패드(24)가 장착되는 보조판 본체(14)의 표면(14a)으로부터의 돌출이 방지되고 있다.The fixing
그리고, 볼트 삽입 관통 홀(30)에 삽입 관통된 고정 볼트(28)의 선단(하단)이 모두 회전 정반(12)에 형성된 볼트 홀(32)에 대해 나사 결합됨으로써, 감합 주벽부(18)가 회전 정반(12)에 대해 조여져서 볼트 고정되어 있다. 또한, 도 5에서, 회전 정반(12)의 상면(16)에 대한 보조판 본체(14)의 전체 면에 걸친 밀착성을 유리하게 확보하고 또한 회전 정반(12)에 대한 감합 주벽부(18)의 고정 볼트(28)에 의한 고정력을 효과적으로 확보하기 위해서는 감합 주벽부(18)의 축 방향 하면과 회전 정반(12)과의 축 방향 대향면 사이에는 고정 볼트(28)의 고정 상태에서도 작은 간극이 잔존하도록 설정하거나, 필요에 따라 스프링 워셔 등을 이용하는 것이 바람직하다.The lower end of the fixing
또한, 감합 주벽부(18)를 회전 정반(12)에 대해 고정시키는 고정 수단으로서의 고정 볼트로서는 상술한 바와 같은 감합 주벽부(18)의 축 방향으로 삽입 관통되어 회전 정반(12) 또는 회전 정반(12)에 고정되어 일체적으로 회전 구동되는 별도의 부재에 대해 나사 결합되는 고정 볼트(28) 외에, 예를 들면 도 6에 도시한 바와 같이, 감합 주벽부(18)에 대해 축 직각 방향으로 나사 결합되는 고정 볼트(34)를 채용해도 좋다.The fastening bolt as the fixing means for fixing the fitting
즉, 도 6에 도시한 다른 실시예에서는 감합 주벽부(18)에 대해, 둘레 상의 복수 개소에서 축 직각 방향으로 관통하는 나사 홀(36)이 형성되어 있고, 이들 나사 홀(36)에 대해 각각 고정 볼트(34)가 외주측으로부터 나사 삽입되어 있다. 그리고, 각 고정 볼트(34)의 선단부가 회전 정반(12)의 외주면에 접촉하여 압착되어 있고, 복수의 고정 볼트(34)에 의해 협동하여 축 직각 방향의 조임력에 기초한 고정력이 감합 주벽부(18)와 회전 정반(12)의 사이에 미치도록 되어 있다.That is, in another embodiment shown in Fig. 6, screw holes 36 are formed at a plurality of circumferential positions in the axial direction of the fitting
이 도 6에 도시된 바와 같이, 수평 방향으로 나사 삽입되는 복수 개의 고정 볼트(34)를 채용하면, 회전 정반(12)의 외경에 비해 감합 주벽부(18)의 내경을 소정량만큼 크게 하여 회전 정반(12)에 대한 감합 주벽부(18)의 축 직각 방향의 상대 변위를 허용시킨 상태 하에서, 이들 복수 개의 고정 볼트(34)의 나사 삽입량을 상호 조절함으로써, 회전 정반(12)에 대한 연마 패드용 보조판의 축 직각 방향에서의 상대적인 위치 조정(센터링 등)을 조절하는 것이 가능해진다. 또한, 이러한 복수 개의 고정 볼트(34)를 채용하는 경우에는 각 고정 볼트(34)의 나사 홀(36)에 대한 나사 삽입 위치를 각인(刻印) 등으로 설정해 둠으로써, 회전 정반에 대한 연마 패드용 보조판(10)의 장착시의 센터링을 한층 용이하게 실시하는 것도 가능해진다.6, when the plurality of fixing
또한, 도 7에 도시한 다른 실시예에서는 감합 주벽부(18)의 내주면과 회전 정반(12)의 외주면과의 직경 방향 대향면 사이를 둘레 방향의 전체 둘레에 걸쳐 연속하여 연장되는 탄성재로 이루어진 씰 부재로서의 O링(38)이 장착되어 있다. 또한, 본 실시예에서는 감합 주벽부(18)의 내주면에 장착용 둘레 홈(39)이 형성되어 있고, 이 둘레 홈(39)에 O링(38)의 외주연부가 감함됨으로써, 위치 결정 장착되어 있다. O링(38)을 채용함으로써 감합 주벽부(18)와 회전 정반(12)과의 대향면 사이를 씰링할 수 있다.7, between the inner circumferential surface of the fitting
특히, 본 실시예에서는 연마 패드(24)를 지지하는 보조판 본체(14)와 회전 정반(12)과의 중첩 대향면 사이를 포함하여 존재하는 내부 영역(40)을 외부 공간으로부터 차단하여 밀봉할 수 있다. 이에 의해, 장착 등의 시에 이러한 내부 영역(40)에 이물이 침입하여, 보조판 본체(14)와 회전 정반(12)의 밀착성이 저하되는 등의 문제가 효과적으로 방지된다.Particularly, in this embodiment, the
또한, 이러한 O링(38)은 전체 둘레에 걸쳐 설치되어 있으므로, O링(38)의 탄성에 기초하여 회전 정반(12)에 대한 감합 주벽부(18)의 센터링을 자동적으로 행할 수 있다.The centering of the fitting
또한, 씰 부재로서 상술한 O링(38)을 대신하여, 다른 실시예로서 도 8에 도시한 바와 같이, 탄성재인 환상(環狀) 탄성체(42)를 채용하는 것도 가능하다. 본 실시예에서는 감합 주벽부(18)에 대해, 하부로부터 고정 압압 부재로서 작용하는(본 실시예에서는 둘레 방향의 전체 둘레에 걸쳐 연속한 원환 형상을 가짐) 환상(環狀) 압압 부재(44)가 중첩되어 있다. 그리고, 이들 감합 주벽부(18)와 환상 압압 부재(44)의 축 방향 대향면 사이에는, 내주연부를 둘레 방향의 전체 둘레에 걸쳐 연장되는 환상 탄성체(42)가 끼워지도록 설치되어 있다.Instead of the above-described O-
또한, 이들 감합 주벽부(18) 및 환상 압압 부재(44)에는 둘레 상의 복수 개소에서 축 방향으로 관통하여 조임 볼트(46)가 장착되어 있다. 이 조임 볼트(46)는 헤드부가 감합 주벽부(18)의 표면에 계지(係止)되고, 감합 주벽부(18)에 축 방향으로 움직일 수 있게 삽입되어 있고, 환상 압압 부재(44)에 대해 나사 결합되어 있다. 이에 의해, 조임 볼트(46)를 환상 압압 부재(44)에 대해 조임으로써, 감합 주벽부(18)와 환상 압압 부재(44)에 대해 중첩 방향(축 방향)의 압압력이 미치도록 되어 있다. 또한, 조임 볼트(46)의 선단(하단)은 환상 압압 부재(44)로부터 더욱 하방으로 돌출되어 있고, 이 돌출 선단 부분에 대해 락너트(더블 락너트)(48)가 장착되어 있다. 이 락너트(48)는 조임 볼트(46)로부터 환상 압압 부재(44)가 탈락되는 것을 방지하는 페일 세이프(fail-safe) 기능을 발휘한다.The fitting
그리고, 도 9에 도시한 바와 같이, 이러한 조임 볼트(46)와 조임 너트(48)의 조임력에 의한 축 방향의 압압력으로, 감합 주벽부(18)와 환상 압압 부재(44)가 상호 접근하여 중첩되는 방향으로 압착되어, 이들 양 부재(18, 44) 사이에 개재 장착된 환상 탄성체(42)에 대해 축 방향의 압축력이 미친다. 이에 의해, 환상 탄성체(42)는 (특히, 본 실시예에서는 외주측으로의 탄성 팽출(膨出) 변형이 저지되어 있음과 더불어) 축 방향에서의 압축량에 따라 직경 방향 내방으로 돌출되어 팽출 변형하게 되고, 그 결과 환상 탄성체(42)의 내주연부가 회전 정반(12)의 외주면에 대해 압착되고, 따라서 이러한 부위가 유체 조밀하게 씰링되게 된다.9, the fitting
특히, 이러한 환상 탄성체(42)에 의한 씰 구조에서는 조임 볼트(46)의 조임량을 조절함으로써 환상 탄성체(42)의 회전 정반(12)으로의 조임력을 조절할 수 있으므로, 예를 들면 회전 정반(12)에 대해 연마 패드용 보조판을 착탈할 때에는 환상 탄성체(42)의 회전 정반(12)에 대한 접촉을 해제 또는 경감하여 작업성을 향상시키는 것이 가능해진다. 즉, 환상 탄성체(42)의 회전 정반(12)에 대한 접촉력을 감합 주벽부(18)의 회전 정반(12)에 대한 고정력으로서도 이용할 수 있다.Particularly, in the seal structure using the annular
또한, 도 1 내지 도 3에 도시한 본 실시예에서는 감합 주벽부(18)의 적당한 위치(도 1에서의 X-X 단면을 나타내는 도 10 참조)에 내외로 관통하여 연장되는 압력 유체 통로(50)가 형성되어 있다. 그리고, 이 압력 유체 통로(50)에는 공기압 관로가 착탈 가능하게 접속되도록 되어 있고, 이러한 공기압 관로를 통해 외부의 공기압원으로부터의 공기압이 미칠 수 있도록 되어 있다. 이에 의해, 예를 들면 회전 정반(12)의 상면(16)과 보조판 본체(14)와의 중첩면 사이에 부압력(負壓力)을 미치고, 이들 중첩면에 잔류하는 에어를 적극적으로 흡인시켜, 이러한 중첩면 사이에서의 밀착성의 향상을 도모하는 것도 가능해진다. 또는, 회전 정반(12)의 상면(16)과 보조판 본체(14)와의 중첩면 사이에 정압력(正壓力)을 미치고, 이들의 중첩면에 이격력을 미침으로써 회전 정반(12)으로부터의 연마 패드용 보조판(10)의 이탈 작업성을 향상시키거나, 중첩면 사이로의 이물의 유입을 방지하는 것도 가능해진다.1 to 3, the pressure fluid passage 50 (not shown) extending through the inside and outside of the fitting
특히, 본 발명에서는 이러한 공기압 기구를 설치할 때에는 상기 도 7에 도시된 O링(38)이나 도 8 내지 도 9에 도시된 환상 탄성체(42) 등으로 이루어진 씰 부재를 채용하여, 밀폐된 내부 영역(40)을 구획하고, 이 내부 영역(40)에 대해 공기압이 미치도록 하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 예를 들면 도 10에 도시된 바와 같이, 도 8 내지 도 9에 도시된 것과 같은 환상 탄성체(42)로 이루어진 씰 부재에 의해 밀폐된 내부 영역(40)이 구획된 상태 하에서, 이 내부 영역(40)에 개구되는 압력 유체 통로(50)가 감합 주벽부(18)를 직경 방향으로 관통하여 형성되어 있다.Particularly, in the present invention, when such pneumatic device is installed, a sealing member composed of the O-
이 압력 유체 통로(50)에는 원터치 커넥터(52)가 조립되어 있고, 또한 이러한 원터치 커넥터(52)는 밸브체가 내장된 접속구체(56)를 구비하고 있다. 그리고, 이 접속구체(56)에 대해 외부 관로(58)가 접속되어 있고, 이에 의해 원터치 커넥터(52)를 이용하여 외부 관로(58)가 압력 유체 통로(50)에 대해 용이하게 착탈 가능(접속/이탈 가능)하게 되어 있다. 특히, 원터치 커넥터(52)는 외부 관로(58)를 분리할 때, 내장된 밸브체에 의해 압력 유체 통로(50)가 차단되어, 내부 영역(40)이 밀폐 상태로 유지되도록 되어 있다.A one-
그리고, 압력 유체 통로(50)는 외부 관로(58)를 통해 부압 펌프나 부압 어큐뮬레이터 등의 적당한 부압원(도시하지 않음)에 대해 접속되도록 되어 있다. 또한, 외부 관로(58)에는 개폐 밸브나 전환 밸브가 필요에 따라 설치되고, 이러한 외부 관로(58)를 전환 밸브를 개재하여 부압원과 정압원(예를 들면, 정압 펌프나 정압 아큠레이터 등)에 대해 선택적으로 접속 가능하게 해도 좋다.The
이러한 구조로 이루어진 압력 유체 통로(50)를 구비한 것에서는, 예를 들면 연마 패드용 보조판(10)을 회전 정반(12)에 장착할 때에 외부 관로(58)를 접속구체(56)에 접속시키고, 내부 영역(40)에 부압을 미침으로써 회전 정반(12)의 상면(16)과 보조판 본체(14)를 고도의 밀착 상태에서 중첩시키고 또한 그 후에 외부 관로(58)를 접속구체(56)로부터 분리시킴으로써, 내부 영역(40)의 부압 상태를 유지하면서, 외부 관로(58)에 의한 회전 정반(12)의 회전 작동으로의 악영향 등을 회피하는 것이 가능해진다.In the structure provided with the
또한, 도 11에는 본 발명의 다른 실시예가 도시되어 있다. 즉, 본 실시예에서는, 감합 주벽부(18)의 둘레 상의 복수 개소에 잭 수단으로서의 잭 볼트(60)가 장착되어 있다. 이 잭 볼트(60)는 감합 주벽부(18)를 축 방향으로 관통하여 형성된 관통 나사 홀(62)에 나사 삽입되어 있고, 관통 나사 홀(62)보다 긴 각부(脚部)축 치수로 되어 있다. 그리고, 관통 나사 홀(62)로부터 하방으로 돌출된 잭 볼트(60)의 선단이 회전 정반(12)을 구비한 연마기 본체(64)의 대향 부분에 돌출 설치된 접촉 블록(66)에 대해 접촉되어 있다. 따라서, 감합 주벽부(18)로부터 하방으로 돌출 설치된 된 잭 볼트(60)의 나사 삽입량을 조절하여, 감합 주벽부(18)로부터 하방으로의 잭 볼트(60)의 돌출량을 조절함으로써, 회전 정반(12)의 상면(16)에 대한 보조판 본체(14)의 축 방향에서의 대향면 사이의 거리를 적당하게 조절하는 것이 가능하다.11 shows another embodiment of the present invention. That is, in this embodiment,
따라서, 예를 들면 연마 패드용 보조판(10)을 회전 정반(12)에 장착할 때, 둘레 상에 설치된 복수의 잭 볼트(60)를 조금씩 느슨하게 함으로써 보조판 본체(14)의 수평도를 용이하고 정밀도 좋게 유지하면서, 회전 정반(12)의 상면(16)에 대해 평행 상태를 유지하여 점차 접근시킬 수 있다. 이에 의해, 회전 정반(12)의 상면(16)에 대해 보조판 본체(14)를 이들 대향면 사이로의 부분적인 에어의 봉입이나 상대 경사 등의 문제를 회피하면서, 안정되게 중첩시켜 밀착 상태를 유리하게 얻는 것이 가능해진다.Therefore, for example, when the
또한, 예를 들면 연마 패드용 보조판(10)을 회전 정반(12)으로부터 분리시킬 때, 둘레 상에 설치된 복수의 잭 볼트(60)를 조금씩 조여감으로써 회전 정반(12)의 상면(16)에 접착 등이 이루어진 보조판 본체(14)에 대해 회전 정반(12)으로부터 이격 방향의 힘을 효율적으로 미칠 수 있다. 이에 의해, 예를 들면 점착 테이프 등으로 고착되어 있는 경우에도, 보조판 본체(14)를 회전 정반(12)으로부터 분리시키는 작업을 용이하고 신속하게 실시하는 것이 가능해진다.When the
또한, 잭 볼트(60)의 돌출 선단부가 접촉되는 접촉 블록(66)은 상술한 바와 같이 연마기 본체(64)에 형성하는 것 외에, 도 12에 도시한 바와 같이 회전 정반(12)의 외주면 상으로 돌출되는 접촉 돌출부(68)로서 형성하는 것도 가능하다. 이 접촉 돌출부(68)는 둘레 상의 각 잭 볼트(60)에 대응하는 위치에 또는 둘레 방향의 전체 둘레에 걸쳐 회전 정반(12)의 축 방향 하부에서 외주면 상으로 돌출하여 일체 형성되어 있다.The
또한, 본 발명에서는, 도 13 내지 도 15에 도시한 바와 같이, 연마 패드용 보조판(10)에서의 보조판 본체(14)의 표면(14a)에 대해 연마 패드(24)를 밀착 상태에서 중첩하여 고착시킬 때 연마 패드(24)의 외주연부에서의 적어도 둘레 상의 한 개소에 비착부(非着部)(70)를 형성하는 것이 바람직하다. 도 13 내지 도 15에 도시한 태양에서는, 감합 주벽부(18)의 외주면으로부터 보조판 본체(14)의 표면(14a)을 향해 직경 방향 내방으로 연장되어, 연마 패드(24)의 고착 영역의 외주연부까지 달하는 오목 개소(72)가 상기 비착부(70)에 맞추어 형성되어 있다.13 to 15, in the present invention, the
이러한 오목 개소(72)를 형성함으로써, 연마 패드(24)를 분리할 때 작업자가 손 또는 적당한 공구를 연마 패드(24)의 이면에 걸리도록 삽입하여 작업하기 쉬워진다. 또한, 이 오목 개소(72)가 형성된 부분에서는 연마 패드(24)의 외주연부의 일부 영역에 점착 테이프 등에 의한 고착이 되어 있지 않은 부분(비착부(70))을 형성해 둠으로써, 상기 비착부(70)로부터 연마 패드(24)의 이탈 작업을 한층 용이하게 개시할 수 있다. 또한, 도 13, 14에 기재되어 있는 바와 같이, 감합 주벽부(18)의 상단 부분에만 오목 개소(72)를 형성하는 것 외에, 예를 들면 도 15에 기재된 바와 같이, 감합 주벽부(18)의 외주연부를 축 방향의 전체 길이에 걸쳐 절결하도록 하여 오목 개소(72)를 임의의 형상으로 형성할 수 있다. 또한, 이 오목 개소(72)는 감합 주벽부(18)나 보조판 본체(14)에서의 외면에만 형성되어 있고, 내부에는 관통되어 있지 않기때문에 내부 영역(40)에서의 기밀성은 확보될 수 있다. 또한, 이러한 오목 개소(72)는 연마 패드(24)를 보조판 본체(14)의 표면(14a)에 장착할 때의 에어 제거에 이용하는 것도 가능하다.By forming such recessed
또한, 본 발명에서 채용되는 연마 패드(24)는 특별히 한정되는 것이 아니며, 예를 들면 종래부터 공지의 것은 모두 채용 가능하다. 예를 들면, 도 16에 도시된 바와 같이, 둘레 방향으로 동심적으로 연장되는 복수의 홈(74)이 표면에 형성된 연마 패드도 채용 가능하다.The
특히, 이러한 홈(74)이 표면에 형성된 연마 패드(24)에서는 연마 가공시에 발생된 연마 찌꺼기 등이 홈(74)으로 들어가 낌으로써 제거하기 어려워지는 경우가 있다. 본 발명자가 검토한 바, 연마 패드(24)에서 홈(74)의 깊이 치수는 충분히 남아 있어도, 연마 찌꺼기 등이 홈(74)에 낌으로써 실질적으로 홈(74)의 깊이 치수가 부족하여 연마 성능에 악영향을 미치는 것을 알 수 있었다.Particularly, in the
이에, 연마 패드(24)의 재생 방법의 한 태양으로서 도 17 내지 도 18에 도시된 바와 같이, 연마 패드(24)에 형성된 홈(74)에 대응하는 피치와 크기를 가지는 복수의 가공용 빗살(76)을 구비한 빗 형상의 재생 가공구(78)를 이용하여, 이 각 빗살(76)을 각 홈(74)에 넣으면서 홈(74)을 따라 상대적으로 이동시킴으로써, 홈(74) 내의 부착물을 긁어내도록 하여 제거하는 것이 효과적이다.17 to 18 as an embodiment of the method of regenerating the
또한, 재생 가공구(78)에서의 각 빗살(76)의 형상은 도면에 도시한 4 각형 형상에 한정되지 않고, 그 선단은 연마 패드(24)의 홈(74)의 형상도 고려하여, 원 형상, 사다리꼴 형상, V자 형상 등 임의의 형상이 채용될 수 있다. 또한, 재생 가공구(78)의 빗살(76)의 수도 임의여도 좋고, 예를 들면 1 회로 모든 홈(74)을 파내는 것도 가능하다. 또한, 연마기 상에서 상시 재생 가공구(78)를 장착하고, 그 빗살(76)을 연마 가공에 이용되고 있는 연마 패드(24)의 홈(74)에 삽입시켜둘 수도 있다.The shape of each
또한, 재생 가공구(78)에서의 각 빗살(76)의 크기도, 예를 들면 연마 패드(24)의 홈(74)의 폭 치수보다 작은 빗살 폭 치수로 형성하여, 연마 패드(24)의 홈(74)에 대한 재생 가공구(78)의 빗살(76)의 위치 조정을 용이하게 하고, 연마 패드(24)의 예기치 않은 손상 등을 방지하는 것도 가능하다. 또한, 예시와 같이 톱니 형상의 빗살(76)을 구비한 재생 가공구 외에, 연마 패드(24)의 홈(74)에 넣어지는 선재(線材)를 묶은 브러쉬 형상의 재생 가공구를 채용하는 것 또는 연마 패드(24)의 홈(74)으로부터 연마 찌꺼기 등을 보다 적극적으로 긁어내는 회전식 빗살을 구비한 구조의 재생 가공구 등도 적절히 채용 가능하다.The size of each
상술한 바와 같은 본 발명의 각 실시예로서의 연마 패드용 보조판(10)을 채용하면, 연마 패드(24)의 손상을 방지하면서, 연마 패드(24)를 회전 정반(12)에 대해 우수한 작업성을 가지고 착탈하는 것이 가능해진다. 또한, 그 결과 연마 패드의 재이용도 용이해져, 예를 들면 연마 패드용 보조판(10)에 고착된 채로 연마 패드 가공하여 재이용을 가능하게 할 수 있다. 또한, 회전 정반(12)에 대한 연마 패드(24)의 착탈을 신속하게 행할 수 있기 때문에, 연마 장치의 가동 시간을 효율적으로 확보하는 것도 가능해진다. 그리고, 반도체 기판 등의 제조 공정에서 여러 차례에 걸쳐 연마 패드를 재이용할 수 있으면, 반도체 기판 등의 제조 공정의 대폭적인 코스트 삭감, 연마 패드를 제조하기 위한 자원의 절약, 폐기되는 연마 패드량을 삭감하여 환경 보전에 공헌할 수 있다.The use of the
그런데, 전술한 실시예에서는 연마 패드용 보조판(10)을 회전 정반(12)에 고정시키기 위해 고정 볼트(28)나 부압 흡인 기구(58 등)를 구비하고 있었으나, 예를 들면 씰 부재의 탄성을 이용하여, 필요에 따라 양면 테이프 등의 점착 테이프를 병용함으로써, 연마 패드용 보조판(10)을 회전 정반(12)에 장착하여 고정적으로 조립하는 것도 가능하다.Although the fixing
구체적으로는, 예를 들면 도 19에 도시한 바와 같이, 연마 패드용 보조판(10)의 감합 주벽부(18)에 대해 전술한 도 7과 같은 O링(38)을 장착한다. 또한, 본 실시예에서는 O링(38)이 장착되는 둘레 홈(39)이 개구 폭보다도 안쪽을 향하여 폭 치수가 넓어지는 단면 형상으로 되어 있고, 이 둘레 홈(39)의 개구 폭 치수보다 큰 단면 직경 치수의 O링(38)이 그 반을 넘는 부분에서 감합되어 있다. 이에 의해, O링(38)이 감합 주벽부(18)의 둘레 홈(38)의 개구부로부터 일부를 내주측으로 돌출시킨 상태에서, 둘레 홈(38)으로부터의 이탈이 효과적으로 저지되어, 안정되게 감입 보지(保持)되어 있다. 또한, 개구 폭보다도 안쪽에서 형성되는 둘레 홈(39)은, 예를 들면 개구부로부터 삽입되는 절삭 공구의 경사(개구부로부터의 삽입 방향)를 변경 조절하면서 절삭 가공하는 것 등에 의해 형성할 수 있다.Specifically, for example, as shown in Fig. 19, the O-
또한, 본 실시예의 감합 주벽부(18)는 보조판 본체(14)의 외주연부(82)의 하면에 대해 원환 형상의 분할 블록(84)을 축 방향(도면의 상하 방향)에서 중첩된 분할 구조를 가지고 형성되어 있다. 또한, 감합 주벽부(18)에는 외주면으로 개구하여 직경 방향 내방으로 연장되는 에어 제거용 홀(88)이 형성되어 있고, 이 에어 제거용 홀(88)이 O링(38)으로 밀봉됨으로써, 회전 정반(12)의 상면과 보조판 본체(14)와의 중첩면 사이를 포함하여 구획된 내부 영역(40)에 연통되어 있다. 즉, 이러한 내부 영역(40)은 에어 제거용 홀(88)을 통해 외부 공간에 연통될 수 있다.The engaging
이러한 구조로 이루어진 연마 패드용 보조판에서는 회전 정반(12)의 상방으로부터 중첩시켜 장착할 때, 회전 정반(12)과 보조판 본체(14)와의 대향면 사이에 존재하는 공기가 O링(38)으로 밀봉된 내부 영역(40)에 갇히는 것이 방지되고, 에어 제거용 홀(88)을 통해 신속하게 외부 공간으로 방출될 수 있다. 이에 의해, 보조판 본체(14)의 이면(14b)을 회전 정반(12)의 상면(16)에 대해, 이들 양면 사이로의 공기의 잔류를 효과적으로 방지하면서, 신속하고 안정되게 밀착시키는 것이 가능해진다.In the auxiliary plate for polishing pad having such a structure, air existing between the
그리고, 밀착 상태로 중첩시킨 후에는, O링(38)의 탄성에 기초한 접촉력과 마찰력에 기초하여 연마 패드용 보조판(10)의 감합 주벽부(18)가 회전 정반(12)으로의 외주면에 대해 소정의 고정력을 가지고 설치 상태로 보지될 수 있다. 또한, 본 실시예에서는 이러한 고정력을 한층 안정되게 얻기 위해, 보조판 본체(14)와 회전 정반(12)의 상면이 양면 테이프(점착 테이프)나 접착제 등의 접착층(90)에 의해 고착되어 있다. 또한, 연마 패드(24)를 이용한 연마 가공이나 연마 패드(24)에 대한 재생 가공 등의 시에는 연마 패드용 보조판(10)의 에어 제거용 홀(88)에 대해, 감합 주벽부(18)의 외주측 개구부를 덮는 덮개 부재(91)(도 19에 대해 가상선으로 나타냄)를 장착하는 것이 바람직하다. 이 덮개 부재(91)로 에어 제거용 홀(88)을 덮음으로써, 에어 제거용 홀(88)로의 이물의 침입을 방지할 수 있다.After the overlapping in the close contact state, the engagement
이상, 본 발명의 실시예에 대하여 상술하였으나, 본 발명은 이들 실시예에서의 구체적인 기재에 의해 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 연마 패드용 보조판(10)에서 보조판 본체(14)로의 보강 효과를 더욱 향상시키기 위해, 예를 들면 감합 주벽부(18)에 있어서, 둘레 상에서 부분적으로 또는 전체 둘레에 걸쳐 연장되는 보강 부재를 감합 주벽부(18)로부터 외주측으로 돌출하도록 하여 추가적으로 설치해도 좋다. 또한, 이러한 보강 부재는 감합 주벽부(18)로부터 축 방향 하방으로 돌출하도록 설치하거나, 축 방향 상방으로 돌출하도록 설치해도 좋다. 감합 주벽부(18)는 연마 패드(24)가 재치되는 패드 지지면으로서의 표면(14a)의 중앙 부분으로부터 외주측으로 벗어나 있으므로, 축 방향 상방으로 취출하여 형성하는 것도 가능해진다.Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the specific descriptions in these embodiments. For example, in order to further improve the reinforcing effect of the
또한, 연마 패드용 보조판에서의 보조판 본체(14)는 적어도 연마 패드를 전체 면에 걸쳐 지지할 수 있는 크기와 형상을 구비하고 있으면 좋고, 반드시 회전 정반(12)의 상면(16)을 전체 면에 걸쳐 덮을 필요는 없다. 또한, 연마 패드용 보조판에서의 감합 주벽부(18)도 회전 정반(12)에 대한 위치 결정 작용을 발휘할 수 있는 것이면 좋고, 반드시 둘레 방향의 전체 둘레에 걸쳐 연속하여 형성되어 있을 필요는 없다.The auxiliary plate
예를 들면, 도 20 내지 도 21에 도시한 바와 같이, 보조판 본체(14)의 외주연부를(연마 패드를 지지할 필요가 없는 부분에서) 적당한 크기로 절결한 절결부(94)를 설치하여, 회전 정반(12)의 상면(16)이 부분적으로 노출하는 것과 같은 태양도 채용할 수 있다. 또는, 도 20 내지 도 21 및 도 22 내지 도 23에 도시한 바와 같이, 감합 주벽부(18)를 둘레 상에서 분단된 복수의 분할 구조(96a~96d, 98a~98f)를 가지고 형성하는 것도 가능하다. 또한, 이와 같이 감합 주벽부(18)를 둘레 상에서 분단함으로써, 회전 정반(12)의 상면(16)에 대한 보조판 본체(14)의 중첩면을 비록 외주연부에서도 직접 목시 가능하다고 할 수 있으며, 보조판 본체(14)의 회전 정반(12)에 대한 장착 상태를 목시 확인할 수 있는 등의 이점이 있다. 또한, 절결부(94)의 수나 크기, 형상은 한정되는 것이 아니고, 감합 주벽부(18)의 각 분할 부분의 형상이나 크기, 분할수 등도 한정되는 것이 아니다. 복수의 절결부(94)나 감합 주벽부(18)의 분할 부분에서, 서로 다른 형상이나 크기 등을 설정해도 좋다.For example, as shown in Figs. 20 to 21, the outer peripheral edge portion of the auxiliary plate
10 : 연마 패드용 보조판
12 : 회전 정반
14 : 보조판 본체
14a : 표면
14b : 이면
16 : 상면
18 : 감합 주벽부
20 : 내주면
22 : 외주면
24 : 연마 패드
26 : 쿠션층
28 : 고정 볼트
30 : 볼트 삽입 관통 홀
32 : 볼트 홀
34 : 고정 볼트
36 : 나사 홀
38 : O링(씰 부재)
40 : 내부 영역
42 : 환상 탄성체(씰 부재)
44 : 환상 압압 부재
46 : 조임 볼트
48 : 조임 너트
50 : 압력 유체 통로
52 : 원터치 연결기
56 : 접속구체
58 : 외부 관로
60 : 잭 볼트
62 : 관통 나사 홀
64 : 연마기 본체
66 : 접촉 블록
68 : 접촉 돌출부
70 : 비착부
72 : 오목 개소
74 : 홈
76 : 빗살
78 : 재생 가공구10: Auxiliary plate for polishing pad
12: Rotating Plate
14:
14a: Surface
14b:
16: Upper surface
18:
20: inner peripheral surface
22:
24: Polishing pad
26: Cushion layer
28: Fixing bolt
30: Bolt insertion hole
32: Bolt hole
34: Fixing bolt
36: Screw hole
38: O-ring (seal member)
40: inner area
42: annular elastic body (seal member)
44: annular pressure member
46: Fastening bolt
48: Fastening nut
50: pressure fluid passage
52: One-touch connector
56: connection sphere
58: External conduit
60: Jack Bolt
62: Through hole
64:
66: contact block
68: contact protrusion
70: non-fused portion
72: concave opening
74: Home
76: The comb
78: Regeneration processing section
Claims (4)
상기 보조판 본체의 외주연부에는, 상기 연마기의 회전 정반의 외주면을 따라 하방으로 돌출되어 상기 회전 정반의 외주에 감합되는 감합 주벽부가 형성되어 있는 연마 패드용 보조판을 이용하고,
상기 보조판 본체의 표면의 패드 지지면에 대해, 반도체 기판의 연마에 이용되는 연마 패드를 중첩시켜 고착시키고, 상기 연마 패드용 보조판을 상기 회전 정반에 장착시킴으로써, 상기 회전 정반의 상면에 상기 보조판 본체를 개재하여 상기 연마 패드를 적층 재치시켜 연마에 사용될 수 있도록 하되,
상기 연마 패드가 사용에 의해 마모된 경우에, 상기 연마 패드용 보조판의 상기패드 지지면에 대해 상기 연마 패드를 고착시킨 채의 상태로, 상기 연마 패드의 표면에 재생 가공을 실시하고,
상기 보조판과 상기 회전 정반의 중첩면 사이에서, 밀착성을 향상시키기 위해 에어 제거용 홀을 상기 감합 주벽부에 형성하는 것을 특징으로 하는 연마 패드의 재생 방법.
And an auxiliary plate main body mounted on an upper surface of a rotary table of the polishing machine,
Wherein the outer peripheral edge of the auxiliary plate main body is provided with an engaging peripheral wall protruding downward along the outer peripheral surface of the rotary table of the polishing machine and fitted to the outer periphery of the rotary table,
A polishing pad used for polishing a semiconductor substrate is superimposed on and fixed to the pad supporting surface of the surface of the auxiliary plate main body and the auxiliary plate for the polishing pad is mounted on the rotation table, The polishing pad can be stacked and used for polishing,
The surface of the polishing pad is regenerated while the polishing pad is fixed to the pad supporting surface of the supporting plate for the polishing pad when the polishing pad is worn by use,
And an air removing hole is formed in the engaging main wall part between the superimposed surface of the auxiliary plate and the rotating platen to improve the adhesion.
상기 보조판과 상기 회전 정반의 중첩면 사이에서, 밀착성을 향상시키는 밀착층이 설치되어 있는 연마 패드의 재생 방법.
The method according to claim 1,
Wherein an adhesion layer is provided between the auxiliary plate and the superposed surface of the rotary table to improve the adhesion.
상기 연마 패드의 표면에 동심원 형상의 홈이 형성되어 있고, 상기 재생 가공 시에 상기 홈에 유입된 부착물을 제거하는 연마 패드의 재생 방법.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein a concentric circular groove is formed on the surface of the polishing pad to remove the deposit adhering to the groove during the regeneration processing.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2010-023601 | 2010-02-04 | ||
JP2010023601A JP4680314B1 (en) | 2010-02-04 | 2010-02-04 | Auxiliary plate for polishing pad and method for regenerating polishing pad using the same |
JPJP-P-2010-273239 | 2010-12-08 | ||
JP2010273239A JP5568745B2 (en) | 2010-12-08 | 2010-12-08 | Polishing pad regeneration method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110090844A KR20110090844A (en) | 2011-08-10 |
KR101836233B1 true KR101836233B1 (en) | 2018-03-08 |
Family
ID=44928498
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110010806A KR101836233B1 (en) | 2010-02-04 | 2011-02-07 | Polishing pad recovering method using sub plate for polishing pad |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101836233B1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102674027B1 (en) | 2019-01-29 | 2024-06-12 | 삼성전자주식회사 | Recycled polishing pad |
-
2011
- 2011-02-07 KR KR1020110010806A patent/KR101836233B1/en active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20110090844A (en) | 2011-08-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101755282B1 (en) | Sub plate for polishing pad and method of recovering polishing pad using the same | |
US8992288B2 (en) | Polishing pad auxiliary plate and polishing device equipped with polishing pad auxiliary plate | |
US6193586B1 (en) | Method and apparatus for grinding wafers using a grind chuck having high elastic modulus | |
JPH0697135A (en) | Sealing device of suspension for semiconductor wafar polishing | |
JP6769680B2 (en) | Flange mechanism | |
KR101836233B1 (en) | Polishing pad recovering method using sub plate for polishing pad | |
US7077733B1 (en) | Subpad support with a releasable subpad securing element and polishing apparatus including the subpad support | |
JPH10329013A (en) | Carrier for double polishing and double lapping | |
JP5568745B2 (en) | Polishing pad regeneration method | |
GB2058620A (en) | A method and apparatus for effecting the lapping of wafers of semiconductive material | |
TWI532566B (en) | Auxiliary plate for polishing pad and method for reworking the polishing pad using the same | |
JP2010214579A (en) | Reusable and reproducible polishing pad with auxiliary plate | |
JPH03173129A (en) | Polishing apparatus | |
US20220410340A1 (en) | Polishing head assembly having recess and cap | |
US20120040591A1 (en) | Replaceable cover for membrane carrier | |
KR20150069683A (en) | Apparatus and method dedicated for conditioning pad | |
WO2023176451A1 (en) | Tool assembly, processing device, and glass plate production method | |
KR20110099486A (en) | Adhering and conditioning apparatus of edge polishing pad and edge polishing equipment including the same | |
JP2008238287A (en) | Carrier for double-side polishing device | |
JP2762200B2 (en) | Wafer Chamfer Polishing Buff Form Grooving Machine | |
JPH09102474A (en) | Method and apparatus for chamfering of wafer | |
JPH04118968U (en) | polishing equipment | |
KR20010060746A (en) | Shim for controlling position of retainer ring in CMP system | |
JPS6119553A (en) | Method of grinding wafer | |
JPH0413571A (en) | Shaping method for grinding wheel |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |