KR101810500B1 - Batch reactor for composing DIPAS used for manufacturing semiconductor - Google Patents
Batch reactor for composing DIPAS used for manufacturing semiconductor Download PDFInfo
- Publication number
- KR101810500B1 KR101810500B1 KR1020170094223A KR20170094223A KR101810500B1 KR 101810500 B1 KR101810500 B1 KR 101810500B1 KR 1020170094223 A KR1020170094223 A KR 1020170094223A KR 20170094223 A KR20170094223 A KR 20170094223A KR 101810500 B1 KR101810500 B1 KR 101810500B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- liquid
- cooler
- pipe
- monochlorosilane
- wall
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J4/00—Feed or outlet devices; Feed or outlet control devices
- B01J4/001—Feed or outlet devices as such, e.g. feeding tubes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J19/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J19/0053—Details of the reactor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J19/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J19/24—Stationary reactors without moving elements inside
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07F—ACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
- C07F7/00—Compounds containing elements of Groups 4 or 14 of the Periodic System
- C07F7/02—Silicon compounds
- C07F7/025—Silicon compounds without C-silicon linkages
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02109—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
- H01L21/02205—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates the layer being characterised by the precursor material for deposition
- H01L21/02208—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates the layer being characterised by the precursor material for deposition the precursor containing a compound comprising Si
- H01L21/02219—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates the layer being characterised by the precursor material for deposition the precursor containing a compound comprising Si the compound comprising silicon and nitrogen
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/00049—Controlling or regulating processes
- B01J2219/00164—Controlling or regulating processes controlling the flow
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에 관한 것이다.The present invention relates to a batch reactor for synthesis of diisopropylaminosilanes for use in semiconductor manufacturing.
디이소프로필아미노실란(DIPAS, diisoprophylamino silane)은 실리콘-옥사이드 및 실리콘-니트라이드 필름과 같은 실리콘 함유 필름의 침착(deposition)을 위한 전구체로, 반도체 디램의 30nm 이하의 미세 패턴을 구현하기 위한 증착용 전구체 소재로 이용되며, 이러한 디이소프로필아미노실란이 적용된 예로 제시될 수 있는 것이 아래 제시된 특허문헌의 그 것이다.Diisopropylamino silane (DIPAS) is a precursor for the deposition of silicon-containing films, such as silicon-oxide and silicon-nitride films, and is used as a precursor for depositing silicon nitride films, And the diisopropylaminosilane is used as a precursor material, and the following patent documents can be given as examples of such diisopropylaminosilane.
이러한 디이소프로필아미노실란은 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기를 통해 합성될 수 있다.Such diisopropylaminosilane can be synthesized through a batch reactor for synthesis of diisopropylaminosilane used in semiconductor manufacturing.
반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서는, 냉각 자켓에 의해 감싸지고 액상의 디이소프로필아민(DIPA)이 수용된 상태의 반응기 본체 내로 기상의 모노클로로실란(MCS)이 유입되어 반응하면서 디이소프로필아미노실란이 형성된다.In the batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used in semiconductor manufacturing, gaseous monochlorosilane (MCS) is introduced into a reactor body surrounded by a cooling jacket and containing liquid diisopropylamine (DIPA) Diisopropylaminosilane is formed in the reaction.
또한, 반응기 본체 내에서 기화되어 날아가는 물질을 재액화시키기 위한 냉각기가 배관에 의해 반응기 본체에 연결된다.A cooler for re-liquefying the vaporized and flying material in the reactor body is also connected to the reactor body by piping.
그러나, 종래의 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에 의하면, 반응기 본체에 기상의 모노클로로실란 유입 배관이 단수 개만 형성되어 있고, 그에 따라 버블링(bubbling)에 의해 액체와 고체가 함께 상부로 이송되어 반응기 본체 내부 상단이 오염되고 냉각기 연결 라인이 막히는 현상이 발생되는 문제가 있었다.However, according to the batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used in conventional semiconductor manufacturing, only a single number of gaseous monochlorosilane inlet piping is formed in the reactor body, There is a problem that the solid is transferred together to the upper part, the upper end inside the reactor body is contaminated, and the cooler connecting line is clogged.
또한, 종래의 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서는, 기상의 모노클로로실란 유입 배관의 투입구에서 급격한 발열 반응이 발생하여 온도 구배가 발생되고, 유입된 모노클로로실란 중 반응하지 못하는 원료가 발생되어, 반응 수율이 현저히 저하되는 현상이 발생되었고, 이러한 현상을 방지하기 위하여 냉각기를 설치하는데, 그 냉각기 크기가 대형화되어야 해서, 냉각기 설치 비용이 과다해지는 문제가 있었다.Further, in the batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used in conventional semiconductor manufacturing, a rapid exothermic reaction occurs at the inlet of the monochlorosilane inlet pipe in the gaseous phase, and a temperature gradient is generated. In the monochlorosilane And the reaction yield is remarkably lowered. In order to prevent such a phenomenon, a cooler is installed. The size of the cooler must be increased to increase the cost of installing the cooler.
또한, 종래의 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서는, 냉각기에서 재액화된 물질이 냉각기 연결 라인을 따라 다시 반응기 본체 내부로 유입되어 액상 상태로 낙하되는데, 액상의 모노클로로실란이 기상의 모노클로로실란보다 상대적으로 더 격렬하게 반응을 일으키기 때문에, 반응 수율이 현저하게 떨어지게 되는 문제가 있었다.Further, in the batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used in conventional semiconductor manufacturing, the material re-liquefied in the cooler flows back into the reactor main body along the cooler connecting line and falls into a liquid state. In the liquid monochloro There is a problem that the reaction yield is remarkably lowered because the silane reacts more vigorously than monochlorosilane in the gaseous phase.
본 발명은 기상의 모노클로로실란 유입 배관이 단수 개 형성됨에 따라 발생되던 버블링 현상 및 기상의 모노클로로실란 유입 배관의 투입구 부분에서의 급격한 발열 반응 발생을 최소화하고, 디이소프로필아미노실란 수율이 향상될 수 있는 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기를 제공하는 것을 일 목적으로 한다.The present invention minimizes the occurrence of a bubbling phenomenon caused by the formation of a single monochlorosilane inlet pipe in a gaseous phase and a rapid exothermic reaction in the inlet port portion of a monochlorosilane inlet pipe in a gaseous phase and improves the yield of diisopropylaminosilane The present invention provides a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane, which is used in semiconductor manufacturing.
본 발명의 다른 목적은 냉각기에서 재액화된 물질이 냉각기 연결 라인을 따라 다시 반응기 본체 내부로 유입되어 액상 상태로 낙하되는 현상이 방지될 수 있는 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a diisopropylaminosilane synthesis batch system for use in the production of semiconductors, which can prevent the phenomenon that the material re-liquefied in the cooler is introduced into the reactor body along the cooler connection line and dropped into the liquid phase state. Thereby providing a reactor.
본 발명의 일 측면에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기는 액상의 디이소프로필아민(DIPA)이 수용된 반응기 본체; 상기 반응기 본체를 감싸, 상기 반응기 본체 내부를 냉각시켜줄 수 있는 냉각 자켓; 상기 반응기 본체 내부로 기상의 모노클로로실란(MCS)이 유입되는 통로인 원료 유입 배관; 상기 반응기 본체 내에서 임의로 유출되는 상기 모노클로로실란을 재액화시키는 냉각기; 상기 반응기 본체에서 임의로 유출되는 상기 모노클로로실란이 상기 냉각기로 유입되도록, 상기 반응기 본체와 상기 냉각기를 연결하는 냉각기향 배관; 상기 냉각기에서 재액화된 상기 모노클로로실란을 수용하는 수용 탱크; 상기 수용 탱크를 감싸, 상기 수용 탱크에 수용된 액상의 상기 모노클로로실란이 기화되도록 가열하는 히팅 자켓; 상기 냉각기에서 재액화되어 상기 냉각기향 배관을 통해 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 수용 탱크로 유입되도록, 상기 냉각기향 배관에서 분지되어 상기 수용 탱크에 연결되는 탱크향 배관; 상기 탱크향 배관의 입구 부분에서 돌출됨으로써, 상기 냉각기에서 재액화되어 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 탱크향 배관으로 유입되도록 액상의 상기 모노클로로실란을 막아 상기 탱크향 배관으로 유도하는 액상 유도벽체; 상기 냉각기향 배관에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 유도벽체의 전측 부분에 상기 액상 유도벽체와 이격되도록 상기 냉각기향 배관의 내부 상면에서 경사지게 돌출됨으로써, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란을 감속시키면서 액상의 모노클로로실란이 상기 액상 유도벽체로 향하도록 유도하는 액상 방벽체; 상기 냉각기향 배관에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 방벽체의 전측 부분에 상기 액상 방벽체와 이격되도록 상기 냉각기향 배관의 내부 저면에서 일정 높이 상에 경사진 플레이트 형태로 형성됨으로써, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란을 감속시켜주는 액상 감속체; 상기 냉각기향 배관의 상면에 회전 가능하게 연결됨으로써, 상기 액상 유도벽체의 상단과 맞닿을 수 있는 오버플로우 방지 댐퍼; 상기 오버플로우 방지 댐퍼를 회전시켜줄 수 있는 오버플로우 댐퍼 작동 수단; 상기 냉각기향 배관에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 유도벽체의 후면에 배치되어, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란 중 상기 액상 유도벽체를 넘은 것이 있는지를 감지하는 오버플로우 감지 센서; 및 상기 오버플로우 감지 센서에 의한 감지값에 따라 상기 오버플로우 댐퍼 작동 수단을 작동 제어할 수 있는 제어 부재;를 포함하고,
상기 원료 유입 배관은 서로 이격되도록 복수 개로 형성되어, 상기 반응기 본체의 서로 다른 지점에서 상기 반응기 본체 내부로 기상의 상기 모노클로로실란이 유입되도록 하고, 상기 액상 유도벽체의 상단은 상기 냉각기향 배관의 내부 상면과 이격되도록 형성됨으로써, 상기 냉각기향 배관을 따라 상기 냉각기로 유동되던 기상의 상기 모노클로로실란이 상기 액상 유도벽체의 상단과 상기 냉각기향 배관의 내부 상면 사이의 공간을 통해 유동되고, 상기 액상 방벽체의 하단은 상기 냉각기향 배관의 내부 저면과 이격되도록 형성됨으로써, 상기 냉각기향 배관을 따라 상기 냉각기로 유동되던 기상의 상기 모노클로로실란이 상기 액상 방벽체의 하단과 상기 냉각기향 배관의 내부 저면 사이의 공간을 통해 유동되고, 상기 액상 유도벽체의 상단은 상기 액상 방벽체의 하단에 비해 상기 냉각기향 배관의 내부 상면 쪽으로 상대적으로 더 연장된 형태를 이룸으로써, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 액상 방벽체 및 상기 액상 유도벽체에 의해 순차적으로 막혀 상기 탱크향 배관으로 향하도록 유도될 수 있으면서, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 기상의 상기 모노클로로실란은 상기 액상 유도벽체의 상단과 상기 액상 방벽체의 하단을 지그재그로 경유하면서 상기 냉각기로 향하고, 상기 냉각기향 배관에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 감속체와 상기 냉각기향 배관의 내부 저면 사이의 유입구에 비해 상기 액상 감속체와 상기 냉각기향 배관의 내부 저면 사이의 유출구가 상대적으로 더 작아지도록, 상기 액상 감속체가 상기 냉각기향 배관과 점진적으로 근접되는 방향으로 경사지게 형성됨으로써, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 액상 감속체에 부딪혀 감속된 상태로 상기 액상 방벽체 쪽으로 유동되고, 상기 오버플로우 감지 센서에 의해 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란 중 상기 액상 유도벽체를 넘은 것이 있는 것으로 감지되면, 상기 제어 부재는 상기 냉각기향 배관이 막히도록, 상기 오버플로우 방지 댐퍼가 상기 액상 유도벽체의 상단과 맞닿을 수 있게 상기 오버플로우 댐퍼 작동 수단을 작동시키는 것을 특징으로 한다.A batch reactor for synthesizing diisopropylaminosilane for use in semiconductor manufacturing according to one aspect of the present invention comprises a reactor body containing liquid diisopropylamine (DIPA); A cooling jacket that surrounds the reactor body and can cool the inside of the reactor body; A raw material inflow pipe that is a passage through which gaseous monochlorosilane (MCS) flows into the reactor main body; A cooler for re-liquefying the monochlorosilane optionally flowing out of the reactor body; A cooler incense piping connecting the reactor main body and the cooler so that the monochlorosilane optionally flowing out from the reactor main body flows into the cooler; An accommodation tank for containing said monochlorosilane resorbed in said cooler; A heating jacket surrounding the accommodation tank and heating the liquid monochlorosilane contained in the accommodation tank to be vaporized; A tank-oriented piping branched from the cooler incinerator pipe to be connected to the storage tank so that the liquid monochlorosilane that has been re-liquefied in the cooler and flowed through the cooler incinerator pipe flows into the storage tank; The liquid monochlorosilane is protruded from the inlet portion of the tank incinerating pipe so that the liquid monochlorosilane is re-liquefied in the cooler so that the liquid monochlorosilane that has flowed along the cooler incinerating pipe flows into the tank incinerator pipe, A liquid guiding wall leading to the pipe; The cooling liquid flowing into the cooler incandescent tube is guided by the coolant incandescent tube at an inner side of the coolant incandescent tube so as to be spaced apart from the liquid induction wall at a front portion of the liquid guiding wall in a direction of flow of the monochlorosilane in the coolant incendient pipe, A liquid-phase wall for guiding the liquid monochlorosilane to the liquid-phase inducing wall while decelerating the monochlorosilane in the liquid phase; The liquid coolant is introduced into the liquid coolant pipe in the form of an inclined plate at a predetermined height on the inner bottom surface of the cooler coolant pipe so as to be spaced apart from the liquid coolant wall on the front side portion of the liquid coolant wall in the flow direction of the monochlorosilane A liquid decelerator for decelerating the monochlorosilane in the liquid phase which has flowed along the pipe of the cooler by being formed; An overflow preventing damper rotatably connected to the upper surface of the cooler incense pipe so as to abut the upper end of the liquid guide wall; An overflow damper operating means capable of rotating the overflow preventing damper; Wherein the liquid phase inducing wall is disposed on the rear surface of the liquid guiding wall in a direction of flow of the monochlorosilane in the liquid phase in the cooler incandescent piping and passes through the liquid guiding wall in the liquid phase of the monochlorosilane An overflow detection sensor for detecting whether or not there is an abnormality; And a control member capable of operating and controlling the overflow damper operating means according to a sensed value by the overflow sensor,
Wherein a plurality of the raw material inlet pipes are spaced apart from each other such that the vapor phase monochlorosilane flows into the reactor body at different points of the reactor main body and the upper end of the liquid phase inducing wall is connected to the inside The monochlorosilane in the gaseous phase which has flowed to the cooler along the cooler incandescent pipe flows through a space between the upper end of the liquid induction wall and the inner upper surface of the cooler incandescent pipe, The lower end of the wall is formed to be spaced apart from the inner bottom surface of the cooler incinerator pipe so that the monochlorosilane in the gaseous phase that has flowed to the cooler along the cooler incinerator pipe is located between the lower end of the liquid molleton wall and the inner bottom surface of the cooler incinerator pipe , And the upper end of the liquid guide wall Wherein the liquid phase wall and the liquid phase inducing wall are formed in the liquid phase wall and the liquid phase inducing wall by relatively extending toward the inner upper face of the cooler incense pipe relative to the lower end of the upper wall, The monochlorosilane in the gaseous phase that has flowed along the pipe of the cooler can be guided to the tank incinerating pipe by sequentially closing the upper end of the liquid guiding wall and the lower end of the liquid molten wall in a zigzag manner, The liquid decelerator and the inner bottom surface of the cooler incinerator pipe are disposed between the liquid decelerator and the inner bottom surface of the cooler incinerator pipe in a direction opposite to the flow direction of the liquid monochlorosilane in the cooler incinerator pipe So that the outlet of the liquid decelerator is relatively smaller, The liquid monochlorosilane flowing along the cooling pipe is flowed toward the liquid phase wall in a state of being decelerated by colliding against the liquid decelerator, Wherein the control member detects that the overflow preventing damper is blocked by the liquid phase inducing damper so that the overflow preventing damper is closed when the liquid phase inducing damper is detected by the sensor to have crossed the liquid induction wall of the monochlorosilane in liquid phase flowing along the cooler incense pipe, And the overflow damper operating means is operated so as to abut the upper end of the guide wall.
삭제delete
본 발명의 일 측면에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에 의하면, 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기가 반응기 본체, 냉각 자켓 및 복수 개의 원료 유입 배관을 포함함에 따라, 종래 기상의 모노클로로실란 유입 배관이 단수 개 형성됨에 따라 발생되던 버블링 현상 및 기상의 모노클로로실란 유입 배관의 투입구 부분에서의 급격한 발열 반응 발생이 최소화될 수 있고, 디이소프로필아미노실란 수율이 향상될 수 있게 되고, 냉각기에서 재액화된 물질이 수용 탱크 내부로 유입될 수 있어서 그 재액화된 물질이 냉각기향 배관을 따라 다시 반응기 본체 내부로 임의 유입되어 액상 상태로 낙하되는 현상이 방지될 수 있게 되고, 그에 따라 디이소프로필아미노실란 반응 수율이 향상될 수 있게 되는 효과가 있다.According to one aspect of the present invention, there is provided a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane for use in semiconductor manufacturing, wherein a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane for use in semiconductor production comprises a reactor body, a cooling jacket, The inclusion of the inlet pipe minimizes the bubbling phenomenon caused by the formation of a single monochlorosilane inlet pipe in the conventional gas phase and the occurrence of a rapid exothermic reaction in the inlet port portion of the gaseous monochlorosilane inlet pipe, The yield of isopropylaminosilane can be improved and the re-liquefied material in the cooler can be introduced into the receiving tank so that the re-liquefied material flows into the reactor main body again along the pipe of the cooler, Can be prevented, and the reaction yield of diisopropylaminosilane is thereby reduced There is an effect that it can be improved.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기를 개략적으로 보이는 도면.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서 냉각기향 배관과 탱크향 배관이 교차된 부분을 확대한 도면.
도 3은 도 2에 도시된 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서의 유체 흐름을 보이는 도면.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서 재유입 배관의 입구 부분을 확대한 도면.
도 5는 도 4에 도시된 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서의 유체 흐름을 보이는 도면.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서 냉각기향 배관, 탱크향 배관 및 바이패스 배관이 보이도록 확대한 도면.
도 7은 도 6에 도시된 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서 액상 유입 차단 댐퍼가 작동된 모습을 보이는 도면.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Figure 1 is a schematic view of a batch reactor for the synthesis of diisopropylaminosilanes used in the manufacture of semiconductors according to one embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an enlarged view of a cross section of a cooler-incinerator pipe and a tank incinerator pipe in a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used for manufacturing a semiconductor according to an embodiment of the present invention; FIG.
3 is a view showing fluid flow in a batch type reactor for synthesis of diisopropylaminosilane used for manufacturing the semiconductor shown in FIG. 2; FIG.
4 is an enlarged view of an inlet portion of a re-inflow pipe in a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used for manufacturing semiconductors according to an embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a view showing fluid flow in a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane for use in the semiconductor production shown in FIG. 4; FIG.
FIG. 6 is an enlarged view showing a cooler-incinerator pipe, a tank incinerator pipe, and a bypass pipe in a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used for manufacturing semiconductors according to an embodiment of the present invention;
FIG. 7 is a view showing a state in which a liquid phase inflow-inhibiting damper is operated in a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used in the semiconductor manufacturing shown in FIG. 6; FIG.
이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에 대하여 설명한다.Hereinafter, a batch reactor for synthesizing diisopropylaminosilane for use in semiconductor manufacturing according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기를 개략적으로 보이는 도면이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서 냉각기향 배관과 탱크향 배관이 교차된 부분을 확대한 도면이고, 도 3은 도 2에 도시된 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서의 유체 흐름을 보이는 도면이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서 재유입 배관의 입구 부분을 확대한 도면이고, 도 5는 도 4에 도시된 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서의 유체 흐름을 보이는 도면이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서 냉각기향 배관, 탱크향 배관 및 바이패스 배관이 보이도록 확대한 도면이고, 도 7은 도 6에 도시된 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에서 액상 유입 차단 댐퍼가 작동된 모습을 보이는 도면이다.FIG. 1 is a schematic view of a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used in the manufacture of semiconductors according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a cross- FIG. 3 is an enlarged view of a portion of a batch type reactor for synthesizing isopropylaminosilane where a cooler incinerator pipe and a tank incinerator are crossed, and FIG. 3 is an enlarged view of a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane FIG. 4 is an enlarged view of an inlet portion of a re-inflow pipe in a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used for manufacturing a semiconductor according to an embodiment of the present invention, and FIG. Fig. 6 is a view showing the flow of the fluid in the batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used in the semiconductor manufacturing shown in Fig. 4, and Fig. 6 FIG. 7 is an enlarged view showing a cooler incineration pipe, a tank incineration pipe and a bypass pipe in a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used for semiconductor manufacturing according to one embodiment, In which the liquid phase inflow-inhibiting damper is operated in a batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used in the production of the present invention.
도 1 내지 도 7을 함께 참조하면, 본 실시예에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기(100)는 반응기 본체(110)와, 냉각 자켓(115)과, 원료 유입 배관(130)을 포함한다.1 to 7, the
상기 반응기 본체(110)는 외부에 대하여 밀폐된 형태를 이루고, 액상의 디이소프로필아민(DIPA)이 내부에 수용된 것이다.The reactor
상기 냉각 자켓(115)은 상기 반응기 본체(110), 상세히는 상기 반응기 본체(110)의 중부 이하의 하부를 감싸, 상기 반응기 본체(110) 내부를 냉각시켜줄 수 있는 것으로, 별도의 냉각 사이클을 통해 냉기를 공급받아 상기 반응기 본체(110)를 냉각시킬 수 있다.The
상기 원료 유입 배관(130)은 상기 반응기 본체(110) 내부로 기상의 모노클로로실란(MCS)이 유입되는 통로이다.The raw
본 실시예에서는, 상기 원료 유입 배관(130)은 서로 이격되도록 복수 개로 형성되어, 상기 반응기 본체(110)의 상부의 서로 다른 지점에서 상기 반응기 본체(110) 내부로 기상의 상기 모노클로로실란이 유입되도록 한다.In the present embodiment, the raw
상세히는 상기 원료 유입 배관(130)은 기상의 상기 모노클로로실란이 외부에서 공급되는 공급관(131)과, 상기 공급관(131)에서 복수 개로 분지되어 기상의 상기 모노클로로실란을 상기 반응기 본체(110) 내부의 상기 디이소프로필아민 내부로 공급시키는 분지관(132, 133)을 포함한다.In detail, the raw
도면 번호 120은 기상의 상기 모노클로로실란과 액상의 상기 디이소프로필아민을 혼합시켜줄 수 있는 교반 부재로, 상기 교반 부재(120)는 기상의 상기 모노클로로실란과 액상의 상기 디이소프로필아민의 혼합물 속에 잠겨 회전되면서 교반을 수행하는 교반 날개(122)와, 상기 교반 날개(122)를 회전시켜줄 수 있는 모터 등의 교반 수단(121)을 포함한다.
기상의 상기 모노클로로실란이 상기 반응기 본체(110) 내부의 액상의 상기 디이소프로필아민 내부로 공급되고, 상기 교반 부재(120)에 의해 교반됨으로써, 디이소프로필아미노실란이 합성될 수 있게 된다.The monochlorosilane in the gaseous phase is supplied into the diisopropylamine in the liquid phase inside the reactor
한편, 상기 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기(100)는 냉각기(140)와, 냉각기향 배관(150)과, 수용 탱크(180)와, 히팅 자켓(181)과, 탱크향 배관(160)을 더 포함한다.The
상기 냉각기(140)는 상기 반응기 본체(110) 내에서 임의로 유출되는 상기 모노클로로실란을 재액화시키는 것으로, 공냉 방식 등을 통해 상기 모노클로로실란을 재액화시킬 수 있는 열교환기 등이 그 예로 제시될 수 있다.The
상기 냉각기향 배관(150)은 상기 반응기 본체(110)에서 임의로 유출되는 상기 모노클로로실란이 상기 냉각기(140)로 유입되도록, 상기 반응기 본체(110)와 상기 냉각기(140)를 연결하는 것이다.The
상기 수용 탱크(180)는 상기 냉각기(140)에서 재액화된 상기 모노클로로실란을 수용하는 것으로, 외부에 대하여 밀폐된 형태를 이룬다.The
상기 히팅 자켓(181)은 상기 수용 탱크(180)의 중부 이하의 하부를 감싸, 상기 수용 탱크(180)에 수용된 액상의 상기 모노클로로실란이 기화되도록 가열하는 것이다.The
상기 탱크향 배관(160)은 상기 냉각기(140)에서 재액화되어 상기 냉각기향 배관(150)을 통해 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 수용 탱크(180)로 유입되도록, 상기 냉각기향 배관(150)의 저면에서 분지되어 상기 수용 탱크(180)에 연결되는 것이다.The
상기와 같이 구성되면, 상기 냉각기(140)에서 재액화된 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 냉각기향 배관(150)과 상기 탱크향 배관(160)을 순차적으로 경유하면서 상기 수용 탱크(180)로 유입될 수 있고, 그 후 상기 수용 탱크(180) 내에서 상기 히팅 자켓(181)에 의해 기화될 수 있게 된다.The monochlorosilane liquid in the liquid state re-liquefied in the
한편, 상기 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기(100)는 액상 유도벽체(153)와, 액상 방벽체(152)와, 액상 감속체(151)와, 오버플로우 방지 댐퍼(157)와, 오버플로우 댐퍼 작동 수단(156)과, 오버플로우 감지 센서(154)와, 제어 부재(101)를 포함한다.The
상기 액상 유도벽체(153)는 상기 탱크향 배관(160)의 입구 부분에서 돌출됨으로써, 상기 냉각기(140)에서 재액화되어 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 탱크향 배관(160)으로 유입되도록 액상의 상기 모노클로로실란을 막아 상기 탱크향 배관(160)으로 유도하는 것이다.The liquid guiding
상기 냉각기향 배관(150)에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 유도벽체(153)는 상기 탱크향 배관(160)의 입구 부분의 후방에서 돌출되되, 상부로 갈수록 점진적으로 상기 냉각기(140) 쪽을 향하도록 경사진 형태의 플레이트로 형성된다.The liquid guiding
상기 액상 방벽체(152)는 상기 냉각기향 배관(150)에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 유도벽체(153)의 전측 부분에 상기 액상 유도벽체(153)와 이격되도록 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 상면에서 경사지게 돌출됨으로써, 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란을 감속시키면서 액상의 모노클로로실란이 상기 액상 유도벽체(153)로 향하도록 유도하는 것이다.The liquid-containing
상기 액상 감속체(151)는 상기 냉각기향 배관(150)에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 방벽체(152)의 전측 부분에 상기 액상 방벽체(152)와 이격되도록 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 저면에서 일정 높이 상에 경사진 플레이트 형태로 형성됨으로써, 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란을 감속시켜주는 것이다.The
상기 액상 감속체(151)는 복수 개가 서로 이격되어 형성될 수 있다.A plurality of the
상기 오버플로우 방지 댐퍼(157)는 상기 냉각기향 배관(150)의 상면에 회전 가능하게 연결됨으로써, 상기 액상 유도벽체(153)의 상단과 맞닿을 수 있는 것이다.The
상기 오버플로우 댐퍼 작동 수단(156)은 상기 오버플로우 방지 댐퍼(157)를 회전시켜줄 수 있는 것으로, 모터 등이 그 예로 제시될 수 있다.The overflow damper actuating means 156 can rotate the
상기 오버플로우 감지 센서(154)는 상기 냉각기향 배관(150)에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 유도벽체(153)의 후면에 배치되어, 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란 중 상기 액상 유도벽체(153)를 넘은 것이 있는지를 감지하는 것으로, 수분 감지 센서 등이 그 예로 제시될 수 있다.The
도면 번호 155는 상기 냉각기향 배관(150)에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 오버플로우 감지 센서(154) 후방의 상기 냉각기향 배관(150)의 저면에 배치되어, 상기 오버플로우 감지 센서(154)와 함께 수분을 감지하는 추가 감지 센서이다.
상기 오버플로우 감지 센서(154) 단독의 센싱값을 이용하거나, 상기 오버플로우 감지 센서(154) 및 상기 추가 감지 센서(155)의 공통의 센싱값을 이용하여, 상기 제어 부재(101)가 수분의 오버플로우를 판단할 수 있다.Using the sensing value of the
상기 제어 부재(101)는 상기 오버플로우 감지 센서(154)에 의한 감지값에 따라 상기 오버플로우 댐퍼 작동 수단(156)을 작동 제어할 수 있는 것이다.The
본 실시예에서는, 상기 액상 유도벽체(153)의 상단은 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 상면과 이격되도록 형성됨으로써, 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 상기 냉각기(140)로 유동되던 기상의 상기 모노클로로실란이 상기 액상 유도벽체(153)의 상단과 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 상면 사이의 공간을 통해 유동되고, 상기 액상 방벽체(152)의 하단은 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 저면과 이격되도록 형성됨으로써, 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 상기 냉각기(140)로 유동되던 기상의 상기 모노클로로실란이 상기 액상 방벽체(152)의 하단과 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 저면 사이의 공간을 통해 유동되며, 상기 액상 유도벽체(153)의 상단은 상기 액상 방벽체(152)의 하단에 비해 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 상면 쪽으로 상대적으로 더 연장된 형태를 이룸으로써, 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 액상 방벽체(152) 및 상기 액상 유도벽체(153)에 의해 순차적으로 막혀 상기 탱크향 배관(160)으로 향하도록 유도될 수 있으면서, 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 유동되던 기상의 상기 모노클로로실란은 상기 액상 유도벽체(153)의 상단과 상기 액상 방벽체(152)의 하단을 지그재그로 경유하면서 상기 냉각기(140)로 향하게 된다.The upper end of the
또한, 상기 냉각기향 배관(150)에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 감속체(151)와 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 저면 사이의 유입구에 비해 상기 액상 감속체(151)와 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 저면 사이의 유출구가 상대적으로 더 작아지도록, 상기 액상 감속체(151)가 상기 냉각기향 배관(150)과 점진적으로 근접되는 방향으로 경사지게 형성됨으로써, 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 액상 감속체(151)에 부딪혀 감속된 상태로 상기 액상 방벽체(152) 쪽으로 유동된다.The
또한, 상기 오버플로우 감지 센서(154)에 의해 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란 중 상기 액상 유도벽체(153)를 넘은 것이 있는 것으로 감지되면, 상기 제어 부재(101)는 상기 냉각기향 배관(150)이 막히도록, 상기 오버플로우 방지 댐퍼(157)가 상기 액상 유도벽체(153)의 상단과 맞닿을 수 있게 상기 오버플로우 댐퍼 작동 수단(156)을 작동시킨다.Further, when it is detected that the liquid
물론, 상기 오버플로우 방지 댐퍼(157)가 상기 냉각기향 배관(150)의 내면 상부에 밀착되도록 회전되면, 기상의 상기 모노클로로실란이 유동 가능한 상태가 된다.Of course, when the
상기와 같이, 상기 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기(100)가 상기 액상 유도벽체(153), 상기 액상 방벽체(152), 상기 액상 감속체(151), 상기 오버플로우 방지 댐퍼(157), 상기 오버플로우 댐퍼 작동 수단(156), 상기 오버플로우 감지 센서(154) 및 상기 제어 부재(101)를 포함함에 따라, 상기 냉각기향 배관(150)을 향하던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 반응기 본체(110)로 임의로 유입되지 아니하고, 상기 수용 탱크(180) 내부로 수용될 수 있게 된다.As described above, the
도면 번호 183은 상기 수용 탱크(180) 내부의 압력을 감지하는 압력 감지 센서이고, 도면 번호 182는 상기 압력 감지 센서(183)에 의해 감지되는 상기 수용 탱크(180) 내부의 압력을 외부에 표시하는 디스플레이 부재이다.
한편, 상기 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기(100)는 재유입 배관(185)과, 반사 곡면체(186)와, 반사 경사면체(187)와, 반사 유도홀(189)과, 반사 유도벽체(188)를 포함한다.The
상기 재유입 배관(185)은 상기 수용 탱크(180)에서 재기화된 상기 모노클로로실란이 상기 반응기 본체(110)로 재유입되도록, 상기 수용 탱크(180)와 상기 반응기 본체(110)를 연결하는 것이다.The
상기 반사 곡면체(186)는 상기 재유입 배관(185)의 입구 부분에 상기 재유입 배관(185)의 내벽과 일정 간격 이격되도록 형성되되, 상기 재유입 배관(185) 쪽으로 함몰된 곡면 형태로 형성됨으로써, 상기 수용 탱크(180)로부터 상기 재유입 배관(185)으로 유입되는 기상의 상기 모노클로로실란은 통과되고, 상기 수용 탱크(180)로부터 상기 재유입 배관(185)으로 유입되는 액상의 상기 모노클로로실란은 막혀 다시 상기 수용 탱크(180) 내부로 낙하되도록 하는 것이다.The reflective
상기 반사 경사면체(187)는 상기 재유입 배관(185)에서의 기상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 반사 곡면체(186)의 후방에 상기 반사 곡면체(186)와 이격되도록 상기 재유입 배관(185)의 내벽으로부터 돌출되되, 상기 반사 곡면체(186)와 상기 재유입 배관(185)의 내벽 사이의 간격에 비해 상대적으로 더 돌출되고, 상기 반사 곡면체(186)를 향하는 면이 상기 재유입 배관(185)에서의 기상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 점진적으로 상기 재유입 배관(185)을 향하도록 경사진 경사면을 이룸으로써, 상기 반사 곡면체(186)와 상기 재유입 배관(185)의 내벽 사이의 간격을 통해 임의 유입된 액상의 상기 모노클로로실란이 막혀 다시 수용 탱크(180) 내부로 낙하되도록 하는 것이다.The reflection inclined
상기 반사 유도홀(189)은 상기 재유입 배관(185)에서의 기상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 반사 경사면체(187)의 후방의 상기 재유입 배관(185) 저면에 형성됨으로써, 상기 반사 경사면체(187)를 임의로 넘은 액상의 상기 모노클로로실란이 통과되면서 상기 수용 탱크(180) 내부로 낙하되도록 하는 것이다.The
상기 반사 유도벽체(188)는 상기 재유입 배관(185)에서의 기상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 반사 유도홀(189)의 후방의 상기 재유입 배관(185) 저면에서 일정 높이로 돌출됨으로써, 상기 반사 유도홀(189)을 임의로 넘은 액상의 상기 모노클로로실란이 막혀 상기 반사 유도홀(189)로 유도되도록 하는 것이다.The
상기와 같이, 상기 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기(100)가 상기 재유입 배관(185), 상기 반사 곡면체(186), 상기 반사 경사면체(187), 상기 반사 유도홀(189) 및 상기 반사 유도벽체(188)를 포함함에 따라, 상기 수용 탱크(180)에 수용되어 있다가 재기화된 상기 모노클로로실란은 상기 반응기 본체(110)로 재유입되고, 액상의 상기 모노클로로실란이 임의로 상기 반응기 본체(110)로 유입되지 아니하도록 할 수 있다.As described above, the
한편, 상기 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기(100)는 바이패스 배관(170)과, 액상 유입 차단 댐퍼(173)와, 액상 유입 차단 댐퍼 작동 수단(172)과, 액상 유입 감지 센서(171)를 포함한다.The
상기 바이패스 배관(170)은 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란 중 상기 액상 유도벽체(153)를 임의로 넘은 것이 상기 탱크향 배관(160)으로 유입되도록, 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 유도벽체(153)의 후방에서 상기 냉각기향 배관(150)의 저면과 상기 탱크향 배관(160)을 연결하는 것이다.The
상기 액상 유입 차단 댐퍼(173)는 상기 냉각기향 배관(150)에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 유도벽체(153)의 후방의 상기 냉각기향 배관(150)의 상면에 회전 가능하게 연결됨으로써, 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 저면과 맞닿을 수 있는 것이다.The liquid phase
도 6에 도시된 바와 같이, 상기 액상 유입 차단 댐퍼(173)가 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 상면과 맞닿으면, 기상의 상기 모노클로로실란이 유동 가능하고, 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 액상 유입 차단 댐퍼(173)가 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 저면과 맞닿으면, 상기 냉각기향 배관(150)이 막히게 된다.6, when the liquid phase
상기 액상 유입 차단 댐퍼 작동 수단(172)은 상기 액상 유입 차단 댐퍼(173)를 회전시켜줄 수 있는 것으로, 모터 등이 그 예로 제시될 수 있다.The liquid phase inflow preventing damper actuating means 172 can rotate the liquid
상기 액상 유입 감지 센서(171)는 상기 바이패스 배관(170) 상에 배치되어, 상기 바이패스 배관(170)을 따라 액상의 상기 모노클로로실란이 유입되었는지 여부를 감지하는 것으로, 수분 감지 센서 등이 그 예로 제시될 수 있다.The liquid
상기 액상 유입 감지 센서(171)에서 상기 바이패스 배관(170)을 따라 액상의 상기 모노클로로실란이 유입된 것으로 감지되면, 상기 냉각기향 배관(150)에서 상기 반응기 본체(110) 쪽은 막히고 상기 바이패스 배관(170) 쪽만 개방되도록, 상기 액상 유입 차단 댐퍼(173)가 상기 냉각기향 배관(150)의 내부 저면과 맞닿을 수 있게 상기 액상 유입 차단 댐퍼 작동 수단(172)을 작동시킨다.If it is detected by the
상기와 같이, 상기 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기(100)가 상기 바이패스 배관(170), 상기 액상 유입 차단 댐퍼(173), 상기 액상 유입 차단 댐퍼 작동 수단(172) 및 상기 액상 유입 감지 센서(171)를 포함함에 따라, 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 임의로 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 반응기 본체(110)로 유입되는 현상이 완전히 방지될 수 있게 된다.As described above, the
이하에서 도면을 참조하여 본 실시예에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기(100)의 작동에 대하여 설명한다.Hereinafter, the operation of the
먼저, 복수 개의 상기 원료 유입 배관(130)을 통해 복수 지점에서 상기 반응기 본체(110) 내부로 기상의 상기 모노클로로실란이 유입되고, 그에 따라 복수 지점에서 디이소프로필아미노실란 합성 작용이 이루어진다.First, the gaseous monochlorosilane flows into the reactor
그런 과정 중에, 일부 기상의 상기 모노클로로실란이 상승되어 상기 냉각기(140)로 향하게 되면, 상기 냉각기(140)에서 냉각되어 재액화된 상기 모노클로로실란이 상기 냉각기향 배관(150) 및 상기 탱크향 배관(160)을 경유하여, 상기 수용 탱크(180)에 수용된다.During this process, when the monochlorosilane of some gaseous phase is raised to the cooler 140, the monochlorosilane cooled and re-liquefied in the cooler 140 flows into the
상기 수용 탱크(180)에 수용된 액상의 상기 모노클로로실란은 재기화되어, 상기 반응기 본체(110) 내부로 재유입된다.The monochlorosilane in the liquid phase contained in the receiving
상기와 같이, 상기 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기(100)가 상기 반응기 본체(110), 상기 냉각 자켓(115) 및 복수 개의 상기 원료 유입 배관(130)을 포함함에 따라, 종래 기상의 모노클로로실란 유입 배관이 단수 개 형성됨에 따라 발생되던 버블링 현상 및 기상의 모노클로로실란 유입 배관의 투입구 부분에서의 급격한 발열 반응 발생이 최소화될 수 있고, 디이소프로필아미노실란 수율이 향상될 수 있게 되고, 상기 냉각기(140)에서 재액화된 물질이 상기 수용 탱크(180) 내부로 유입될 수 있어서 그 재액화된 물질이 상기 냉각기향 배관(150)을 따라 다시 반응기 본체(110) 내부로 임의 유입되어 액상 상태로 낙하되는 현상이 방지될 수 있게 되고, 그에 따라 디이소프로필아미노실란 반응 수율이 향상될 수 있게 된다.As described above, the
상기에서 본 발명은 특정한 실시예에 관하여 도시되고 설명되었지만, 당업계에서 통상의 지식을 가진 자라면 이하의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 알 수 있을 것이다. 그렇지만 이러한 수정 및 변형 구조들은 모두 본 발명의 권리범위 내에 포함되는 것임을 분명하게 밝혀두고자 한다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it will be understood by those of ordinary skill in the art that various changes in form and detail may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the following claims And can be changed. However, it is intended that the present invention covers the modifications and variations of this invention provided they come within the scope of the appended claims and their equivalents.
본 발명의 일 측면에 따른 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기에 의하면, 기상의 모노클로로실란 유입 배관이 단수 개 형성됨에 따라 발생되던 버블링 현상 및 기상의 모노클로로실란 유입 배관의 투입구 부분에서의 급격한 발열 반응 발생을 최소화하고, 디이소프로필아미노실란 수율이 향상될 수 있으며, 냉각기에서 재액화된 물질이 냉각기 연결 라인을 따라 다시 반응기 본체 내부로 유입되어 액상 상태로 낙하되는 현상이 방지될 수 있으므로, 그 산업상 이용가능성이 높다고 하겠다.According to one aspect of the present invention, there is provided a batch type reactor for synthesizing a diisopropylaminosilane for use in the production of semiconductors, wherein a bubbling phenomenon caused by the formation of a singular number of gaseous monochlorosilane inlet piping and a gaseous monochlorosilane inlet It is possible to minimize the occurrence of an abrupt exothermic reaction in the inlet portion of the pipe, to improve the yield of diisopropylaminosilane, and to allow the material re-liquefied in the cooler to flow back into the reactor body along the cooler connecting line, The development can be prevented, and therefore, it is highly likely to be used industrially.
100 : 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기
110 : 반응기 본체
115 : 냉각 자켓
130 : 원료 유입 배관100: batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used in semiconductor manufacturing
110: reactor body
115: cooling jacket
130: Raw material inflow pipe
Claims (5)
상기 반응기 본체를 감싸, 상기 반응기 본체 내부를 냉각시켜줄 수 있는 냉각 자켓;
상기 반응기 본체 내부로 기상의 모노클로로실란(MCS)이 유입되는 통로인 원료 유입 배관;
상기 반응기 본체 내에서 임의로 유출되는 상기 모노클로로실란을 재액화시키는 냉각기;
상기 반응기 본체에서 임의로 유출되는 상기 모노클로로실란이 상기 냉각기로 유입되도록, 상기 반응기 본체와 상기 냉각기를 연결하는 냉각기향 배관;
상기 냉각기에서 재액화된 상기 모노클로로실란을 수용하는 수용 탱크;
상기 수용 탱크를 감싸, 상기 수용 탱크에 수용된 액상의 상기 모노클로로실란이 기화되도록 가열하는 히팅 자켓;
상기 냉각기에서 재액화되어 상기 냉각기향 배관을 통해 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 수용 탱크로 유입되도록, 상기 냉각기향 배관에서 분지되어 상기 수용 탱크에 연결되는 탱크향 배관;
상기 탱크향 배관의 입구 부분에서 돌출됨으로써, 상기 냉각기에서 재액화되어 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 탱크향 배관으로 유입되도록 액상의 상기 모노클로로실란을 막아 상기 탱크향 배관으로 유도하는 액상 유도벽체;
상기 냉각기향 배관에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 유도벽체의 전측 부분에 상기 액상 유도벽체와 이격되도록 상기 냉각기향 배관의 내부 상면에서 경사지게 돌출됨으로써, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란을 감속시키면서 액상의 모노클로로실란이 상기 액상 유도벽체로 향하도록 유도하는 액상 방벽체;
상기 냉각기향 배관에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 방벽체의 전측 부분에 상기 액상 방벽체와 이격되도록 상기 냉각기향 배관의 내부 저면에서 일정 높이 상에 경사진 플레이트 형태로 형성됨으로써, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란을 감속시켜주는 액상 감속체;
상기 냉각기향 배관의 상면에 회전 가능하게 연결됨으로써, 상기 액상 유도벽체의 상단과 맞닿을 수 있는 오버플로우 방지 댐퍼;
상기 오버플로우 방지 댐퍼를 회전시켜줄 수 있는 오버플로우 댐퍼 작동 수단;
상기 냉각기향 배관에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 유도벽체의 후면에 배치되어, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란 중 상기 액상 유도벽체를 넘은 것이 있는지를 감지하는 오버플로우 감지 센서; 및
상기 오버플로우 감지 센서에 의한 감지값에 따라 상기 오버플로우 댐퍼 작동 수단을 작동 제어할 수 있는 제어 부재;를 포함하고,
상기 원료 유입 배관은 서로 이격되도록 복수 개로 형성되어, 상기 반응기 본체의 서로 다른 지점에서 상기 반응기 본체 내부로 기상의 상기 모노클로로실란이 유입되도록 하고,
상기 액상 유도벽체의 상단은 상기 냉각기향 배관의 내부 상면과 이격되도록 형성됨으로써, 상기 냉각기향 배관을 따라 상기 냉각기로 유동되던 기상의 상기 모노클로로실란이 상기 액상 유도벽체의 상단과 상기 냉각기향 배관의 내부 상면 사이의 공간을 통해 유동되고,
상기 액상 방벽체의 하단은 상기 냉각기향 배관의 내부 저면과 이격되도록 형성됨으로써, 상기 냉각기향 배관을 따라 상기 냉각기로 유동되던 기상의 상기 모노클로로실란이 상기 액상 방벽체의 하단과 상기 냉각기향 배관의 내부 저면 사이의 공간을 통해 유동되고,
상기 액상 유도벽체의 상단은 상기 액상 방벽체의 하단에 비해 상기 냉각기향 배관의 내부 상면 쪽으로 상대적으로 더 연장된 형태를 이룸으로써, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 액상 방벽체 및 상기 액상 유도벽체에 의해 순차적으로 막혀 상기 탱크향 배관으로 향하도록 유도될 수 있으면서, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 기상의 상기 모노클로로실란은 상기 액상 유도벽체의 상단과 상기 액상 방벽체의 하단을 지그재그로 경유하면서 상기 냉각기로 향하고,
상기 냉각기향 배관에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 감속체와 상기 냉각기향 배관의 내부 저면 사이의 유입구에 비해 상기 액상 감속체와 상기 냉각기향 배관의 내부 저면 사이의 유출구가 상대적으로 더 작아지도록, 상기 액상 감속체가 상기 냉각기향 배관과 점진적으로 근접되는 방향으로 경사지게 형성됨으로써, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란이 상기 액상 감속체에 부딪혀 감속된 상태로 상기 액상 방벽체 쪽으로 유동되고,
상기 오버플로우 감지 센서에 의해 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란 중 상기 액상 유도벽체를 넘은 것이 있는 것으로 감지되면, 상기 제어 부재는 상기 냉각기향 배관이 막히도록, 상기 오버플로우 방지 댐퍼가 상기 액상 유도벽체의 상단과 맞닿을 수 있게 상기 오버플로우 댐퍼 작동 수단을 작동시키는 것을 특징으로 하는 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기.A reactor body containing a liquid diisopropylamine (DIPA);
A cooling jacket that surrounds the reactor body and can cool the inside of the reactor body;
A raw material inflow pipe that is a passage through which gaseous monochlorosilane (MCS) flows into the reactor main body;
A cooler for re-liquefying the monochlorosilane optionally flowing out of the reactor body;
A cooler incense piping connecting the reactor main body and the cooler so that the monochlorosilane optionally flowing out from the reactor main body flows into the cooler;
An accommodation tank for containing said monochlorosilane resorbed in said cooler;
A heating jacket surrounding the accommodation tank and heating the liquid monochlorosilane contained in the accommodation tank to be vaporized;
A tank-oriented piping branched from the cooler incinerator pipe to be connected to the storage tank so that the liquid monochlorosilane that has been re-liquefied in the cooler and flowed through the cooler incinerator pipe flows into the storage tank;
The liquid monochlorosilane is protruded from the inlet portion of the tank incinerating pipe so that the liquid monochlorosilane is re-liquefied in the cooler so that the liquid monochlorosilane that has flowed along the cooler incinerating pipe flows into the tank incinerator pipe, A liquid guiding wall leading to the pipe;
The cooling liquid flowing into the cooler incandescent tube is guided by the coolant incandescent tube at an inner side of the coolant incandescent tube so as to be spaced apart from the liquid induction wall at a front portion of the liquid guiding wall in a direction of flow of the monochlorosilane in the coolant incendient pipe, A liquid-phase wall for guiding the liquid monochlorosilane to the liquid-phase inducing wall while decelerating the monochlorosilane in the liquid phase;
The liquid coolant is introduced into the liquid coolant pipe in the form of an inclined plate at a predetermined height on the inner bottom surface of the cooler coolant pipe so as to be spaced apart from the liquid coolant wall on the front side portion of the liquid coolant wall in the flow direction of the monochlorosilane A liquid decelerator for decelerating the monochlorosilane in the liquid phase which has flowed along the pipe of the cooler by being formed;
An overflow preventing damper rotatably connected to the upper surface of the cooler incense pipe so as to abut the upper end of the liquid guide wall;
An overflow damper operating means capable of rotating the overflow preventing damper;
Wherein the liquid phase inducing wall is disposed on the rear surface of the liquid guiding wall in a direction of flow of the monochlorosilane in the liquid phase in the cooler incandescent piping and passes through the liquid guiding wall in the liquid phase of the monochlorosilane An overflow detection sensor for detecting whether or not there is an abnormality; And
And a control member capable of operating and controlling the overflow damper operating means according to a sensed value by the overflow sensor,
Wherein the raw material inflow pipe is formed in a plurality of spaces so as to be spaced apart from each other so that the gaseous monochlorosilane flows into the reactor body at different points of the reactor body,
The upper end of the liquid induction wall is formed to be spaced apart from the upper surface of the cooler incinerator pipe so that the monochlorosilane in the gaseous phase which has flowed to the cooler along the cooler incinerator pipe is connected to the upper end of the liquid guide wall, Flows through a space between the inner upper surfaces,
And the lower end of the liquid wall is spaced apart from the inner bottom of the cooler incinerator pipe so that the monochlorosilane in the gaseous phase that has flowed to the cooler along the cooler incinerator pipe is connected to the lower end of the liquid wall enclosure and the cooler incinerator pipe Flows through a space between the inner bottom surfaces,
Wherein the upper end of the liquid induction wall is relatively extended toward the inner upper surface of the cooler incinerator pipe as compared with the lower end of the liquid wall enclosure so that the liquid monochlorosilane flowing along the cooler incinerator pipe flows into the liquid The monochlorosilane in the gaseous phase which has flowed along the cooler incandescent pipe can be guided toward the tank incinerating pipe by being sequentially clogged by the liquefied wall and the liquid guiding wall, To the cooler while zigzagging the lower end thereof,
Wherein an outlet between the liquid decelerator and an inner bottom surface of the cooler incinerator pipe is relatively larger than an inlet between the liquid decelerator and the inner bottom surface of the cooler incinerator pipe relative to the flow direction of the monochlorosilane in the liquid phase in the cooler incinerator pipe, The liquid phase decelerator is inclined in a direction in which the liquid phase decelerator gradually approaches the cooler incense pipe so that the monochlorosilane in the liquid phase flowing along the cooler incense pipe is decelerated by colliding with the liquid decelerator, Flows toward the wall of the chamber,
Wherein the control member detects that the liquid phase inducing wall has crossed the liquid guiding wall among the liquid monochlorosilane that has flowed along the cooler incense pipe by the overflow detection sensor, Characterized in that the overflow damper operating means is operated so that the damper abuts the upper end of the liquid guide wall.
상기 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기는
상기 수용 탱크에서 재기화된 상기 모노클로로실란이 상기 반응기 본체로 재유입되도록, 상기 수용 탱크와 상기 반응기 본체를 연결하는 재유입 배관;
상기 재유입 배관의 입구 부분에 상기 재유입 배관의 내벽과 일정 간격 이격되도록 형성되되, 상기 재유입 배관 쪽으로 함몰된 곡면 형태로 형성됨으로써, 상기 수용 탱크로부터 상기 재유입 배관으로 유입되는 기상의 상기 모노클로로실란은 통과되고, 상기 수용 탱크로부터 상기 재유입 배관으로 유입되는 액상의 상기 모노클로로실란은 막혀 다시 상기 수용 탱크 내부로 낙하되도록 하는 반사 곡면체;
상기 재유입 배관에서의 기상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 반사 곡면체의 후방에 상기 반사 곡면체와 이격되도록 상기 재유입 배관의 내벽으로부터 돌출되되, 상기 반사 곡면체와 상기 재유입 배관의 내벽 사이의 간격에 비해 상대적으로 더 돌출되고, 상기 반사 곡면체를 향하는 면이 상기 재유입 배관에서의 기상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 점진적으로 상기 재유입 배관을 향하도록 경사진 경사면을 이룸으로써, 상기 반사 곡면체와 상기 재유입 배관의 내벽 사이의 간격을 통해 임의 유입된 액상의 상기 모노클로로실란이 막혀 다시 수용 탱크 내부로 낙하되도록 하는 반사 경사면체;
상기 재유입 배관에서의 기상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 반사 경사면체의 후방의 상기 재유입 배관 저면에 형성됨으로써, 상기 반사 경사면체를 임의로 넘은 액상의 상기 모노클로로실란이 통과되면서 상기 수용 탱크 내부로 낙하되도록 하는 반사 유도홀; 및
상기 재유입 배관에서의 기상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 반사 유도홀의 후방의 상기 재유입 배관 저면에서 일정 높이로 돌출됨으로써, 상기 반사 유도홀을 임의로 넘은 액상의 상기 모노클로로실란이 막혀 상기 반사 유도홀로 유도되도록 하는 반사 유도벽체;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기.The method according to claim 1,
The batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used in the semiconductor production is a
A re-inflow pipe connecting the storage tank and the reactor main body so that the monochlorosilane regenerated in the storage tank is re-introduced into the reactor main body;
Wherein the inlet port of the re-inflow pipe is spaced apart from the inner wall of the re-inflow pipe by a predetermined distance and is formed in a curved shape that is recessed toward the re-inflow pipe, Wherein the chlorosilane is passed through and the monochlorosilane in the liquid phase flowing into the re-inflow pipe from the accommodation tank is clogged and falls back into the accommodation tank;
Wherein the inlet port of the re-inflow pipe is protruded from the inner wall of the re-inflow pipe so as to be spaced apart from the reflective curved body at the rear of the reflective curved body with respect to the flow direction of the monochlorosilane in the re- And the inclined surface inclined so that the surface facing the reflective curved body gradually faces the re-inflow pipe with respect to the flow direction of the monochlorosilane in the gas phase in the re-inflow pipe Wherein the mono-chlorosilane in the liquid phase, which is arbitrarily introduced through the gap between the reflective curved body and the inner wall of the re-inflow pipe, is clogged and falls back into the receiving tank;
And the monochlorosilane liquid in the liquid phase optionally passing through the reflection slope body is passed through the bottom of the re-inflow pipe behind the reflection slope body with reference to the flow direction of the monochlorosilane in the gaseous phase in the re- A reflection inducing hole for dropping into the receiving tank; And
Wherein said monochlorosilane in a liquid state optionally surpasses said reflection inducing hole by protruding at a predetermined height from a bottom surface of said re-inflow pipe behind said reflection inducing hole based on a flow direction of said monochlorosilane in said gaseous phase in said re- And a reflection inducing wall which is clogged and guided to the reflection inducing hole. 2. A batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane as claimed in claim 1,
상기 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기는
상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란 중 상기 액상 유도벽체를 임의로 넘은 것이 상기 탱크향 배관으로 유입되도록, 상기 냉각기향 배관을 따라 유동되던 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 유도벽체의 후방에서 상기 냉각기향 배관과 상기 탱크향 배관을 연결하는 바이패스 배관;
상기 냉각기향 배관에서의 액상의 상기 모노클로로실란의 유동 방향을 기준으로 상기 액상 유도벽체의 후방의 상기 냉각기향 배관의 상면에 회전 가능하게 연결됨으로써, 상기 냉각기향 배관의 내부 저면과 맞닿을 수 있는 액상 유입 차단 댐퍼;
상기 액상 유입 차단 댐퍼를 회전시켜줄 수 있는 액상 유입 차단 댐퍼 작동 수단; 및
상기 바이패스 배관 상에 배치되어, 상기 바이패스 배관을 따라 액상의 상기 모노클로로실란이 유입되었는지 여부를 감지하는 액상 유입 감지 센서;를 포함하고,
상기 액상 유입 감지 센서에서 상기 바이패스 배관을 따라 액상의 상기 모노클로로실란이 유입된 것으로 감지되면, 상기 냉각기향 배관에서 상기 반응기 본체 쪽은 막히고 상기 바이패스 배관 쪽만 개방되도록, 상기 액상 유입 차단 댐퍼가 상기 냉각기향 배관의 내부 저면과 맞닿을 수 있게 상기 액상 유입 차단 댐퍼 작동 수단을 작동시키는 것을 특징으로 하는 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기.The method according to claim 1,
The batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used in the semiconductor production is a
The flow direction of the monochlorosilane in the liquid phase which has flowed along the cooler incom- ing pipe is set to be the reference direction so that the liquid phase inducing wall of the liquid mono- A bypass pipe connecting the cooler incense pipe and the tank incline pipe from the rear of the liquid guide wall;
The cooling liquid flowing through the cooler incinerator tube is connected to the upper surface of the cooler incinerator pipe on the rear side of the liquid guide wall based on the flow direction of the monochlorosilane in the liquid phase in the cooler incinerator pipe, Liquid phase shutoff damper;
A liquid phase inflow preventing damper operating means capable of rotating the liquid inflow preventing damper; And
And a liquid inflow detection sensor disposed on the bypass line for sensing whether the monochlorosilane in the liquid phase has flowed along the bypass line,
The liquid phase inflow-blocking damper is arranged such that the liquid phase inflow-detecting sensor detects that the liquid monochlorosilane flows into the bypass pipe, And the liquid phase inflow-blocking damper actuating means is operated so as to abut the inner bottom surface of the cooler incense pipe.
상기 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기는
상기 수용 탱크 내부의 압력을 감지하는 압력 감지 센서; 및
상기 압력 감지 센서에 의해 감지되는 상기 수용 탱크 내부의 압력을 외부에 표시하는 디스플레이 부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 제조에 사용되는 디이소프로필아미노실란 합성용 배치식 반응기.The method according to claim 1,
The batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane used in the semiconductor production is a
A pressure sensing sensor for sensing a pressure inside the containing tank; And
And a display member for externally displaying a pressure inside the containing tank sensed by the pressure detecting sensor. The batch type reactor for synthesizing diisopropylaminosilane as claimed in claim 1,
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020170094223A KR101810500B1 (en) | 2017-07-25 | 2017-07-25 | Batch reactor for composing DIPAS used for manufacturing semiconductor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020170094223A KR101810500B1 (en) | 2017-07-25 | 2017-07-25 | Batch reactor for composing DIPAS used for manufacturing semiconductor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR101810500B1 true KR101810500B1 (en) | 2017-12-20 |
Family
ID=60931204
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020170094223A KR101810500B1 (en) | 2017-07-25 | 2017-07-25 | Batch reactor for composing DIPAS used for manufacturing semiconductor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101810500B1 (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108586514A (en) * | 2017-12-26 | 2018-09-28 | 浙江博瑞电子科技有限公司 | A kind of diisopropylamine silane synthetic method |
CN113634199A (en) * | 2021-10-19 | 2021-11-12 | 海门瑞一医药科技有限公司 | Be used for pharmaceutical intermediate production and processing to use raw materials input mechanism |
CN115677747A (en) * | 2022-10-27 | 2023-02-03 | 合肥安德科铭半导体科技有限公司 | Preparation method of monoamino substituted silane |
CN117510533A (en) * | 2023-12-29 | 2024-02-06 | 全椒亚格泰电子新材料科技有限公司 | Preparation process and preparation system of diisopropylamine silane |
-
2017
- 2017-07-25 KR KR1020170094223A patent/KR101810500B1/en active IP Right Grant
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108586514A (en) * | 2017-12-26 | 2018-09-28 | 浙江博瑞电子科技有限公司 | A kind of diisopropylamine silane synthetic method |
CN108586514B (en) * | 2017-12-26 | 2020-11-10 | 浙江博瑞电子科技有限公司 | Synthesis method of diisopropylamine silane |
CN113634199A (en) * | 2021-10-19 | 2021-11-12 | 海门瑞一医药科技有限公司 | Be used for pharmaceutical intermediate production and processing to use raw materials input mechanism |
CN113634199B (en) * | 2021-10-19 | 2022-01-18 | 海门瑞一医药科技有限公司 | Be used for pharmaceutical intermediate production and processing to use raw materials input mechanism |
CN115677747A (en) * | 2022-10-27 | 2023-02-03 | 合肥安德科铭半导体科技有限公司 | Preparation method of monoamino substituted silane |
CN117510533A (en) * | 2023-12-29 | 2024-02-06 | 全椒亚格泰电子新材料科技有限公司 | Preparation process and preparation system of diisopropylamine silane |
CN117510533B (en) * | 2023-12-29 | 2024-04-05 | 全椒亚格泰电子新材料科技有限公司 | Preparation process and preparation system of diisopropylamine silane |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101810500B1 (en) | Batch reactor for composing DIPAS used for manufacturing semiconductor | |
CN102543689B (en) | The manufacture method of lining processor, substrate and the manufacture method of semiconductor device | |
US8128073B2 (en) | Method and apparatus to help promote contact of gas with vaporized material | |
US6453992B1 (en) | Temperature controllable gas distributor | |
JP4891267B2 (en) | Carbon nanotube mass synthesis apparatus and mass synthesis method | |
TW202104651A (en) | Reactor system, method of providing gas-phase reactants to surface of substrate, and method of epitaxially growing material layer on the substrate of the surface using said method | |
CN1949458B (en) | Reaction chamber with opposing pockets for gas injection and exhaust | |
KR101390425B1 (en) | Temperature-controlled Purge gate valve for Chemical Vapor Deposition Chamber | |
US8465587B2 (en) | Modern hydride vapor-phase epitaxy system and methods | |
CN111463118B (en) | Substrate processing apparatus, method for manufacturing semiconductor device, and substrate processing method | |
US20130269613A1 (en) | Methods and apparatus for generating and delivering a process gas for processing a substrate | |
EP2363199A1 (en) | Method and apparatus to help promote contact of gas with vaporized material | |
US20130052346A1 (en) | Cvd reactor with gas flow virtual walls | |
JP2005023425A (en) | Arrangement for supplying gas for atomic layer vapor deposition | |
CN102234790B (en) | Precursor delivery system | |
US20170233888A1 (en) | Reactor gas panel common exhaust | |
US6738683B1 (en) | Apparatus and method for cleaning a bell jar in a barrel epitaxial reactor | |
US20080032502A1 (en) | Safety features for semiconductor processing apparatus using pyrophoric precursor | |
TW201031460A (en) | Methods and apparatus for abating electronic device manufacturing process effluent | |
JP5183310B2 (en) | Vapor deposition equipment | |
KR101810499B1 (en) | Batch reactor for composing BDEAS used for manufacturing semiconductor | |
US20010000160A1 (en) | Method for treatment of semiconductor substrates | |
TW202129714A (en) | Temperature zone control system and method of controlling heat transfer within reactant source cabinet | |
KR20080012125A (en) | Safety features for semiconductor processing apparatus using pyrophoric precursor | |
KR100378497B1 (en) | Gas distribution system for a process reactor and method for processing semiconductor substrates |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |