KR101790343B1 - Substrate for inspecting a production line of flat panel display, ispection system and method using the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 제조라인의 장비 상태에 대한 정보를 수집하는 평판 표시장치의 제조라인 검사용 기판과 이를 이용한 검사 시스템 및 방법에 관한 것으로, 상기 검사용 기판은 분산 배치되도록 기판 상에 실장된 다수 센서들; 상기 기판 상에 실장된 회로 보드; 및 상기 기판 상에 실장되어 상기 회로 보드에 전원을 공급하는 배터리를 포함한다. 상기 센서들, 상기 회로 보드 및 상기 배터리가 실장된 기판은 FPD 제조라인의 장비들에 투입된다. 상기 회로 보드는 상기 센서들을 통해 수집된 상기 FPD 제조라인의 장비에 대한 정보를 유/무선 인터페이스를 통해 외부로 전송한다. The present invention relates to a substrate for inspection of a manufacturing line of a flat panel display device for collecting information on the state of equipment in a manufacturing line, and an inspection system and method using the same, wherein the inspection substrate includes a plurality of sensors ; A circuit board mounted on the substrate; And a battery mounted on the substrate and supplying power to the circuit board. The sensors, the circuit board, and the substrate on which the battery is mounted are put into the equipment of the FPD manufacturing line. The circuit board transmits information on equipment of the FPD manufacturing line collected through the sensors to the outside through a wired / wireless interface.

Description

평판 표시장치의 제조라인 검사용 기판과 이를 이용한 검사 시스템 및 방법{SUBSTRATE FOR INSPECTING A PRODUCTION LINE OF FLAT PANEL DISPLAY, ISPECTION SYSTEM AND METHOD USING THE SAME}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate for inspecting a manufacturing line of a flat panel display,

본 발명은 제조라인의 장비 상태에 대한 정보를 수집하는 평판 표시장치의 제조라인 검사용 기판과 이를 이용한 검사 시스템 및 방법에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate for inspection of a manufacturing line of a flat panel display device for collecting information on the state of equipment of a manufacturing line, and an inspection system and method using the same.

음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판표시장치(Flat Panel Display, 이하 "FPD"라 함)가 개발되고 있다. 이러한 평판 표시장치는 액정표시장치(Liquid Crystal Display, LCD), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel), 및 무기 전계발광소자와 유기발광다이오드소자(Organic Light Emitting Diode, OLED)를 포함한 전계발광소자(Electroluminescence Device, EL), 전계 방출 표시장치(Field Emission Display), 전기영동 표시장치(Electrophoresis Display) 등이 있다. Various flat panel displays (hereinafter referred to as "FPD") capable of reducing weight and volume, which are disadvantages of cathode ray tubes, have been developed. Such a flat panel display device includes a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), an electroluminescence element including an inorganic electroluminescence element and an organic light emitting diode (OLED) Device, EL, a field emission display, and an electrophoresis display.

FPD 제조 라인에는 세정, 건조, 박막 코팅, 박막 증착, 노광, 현상 등의 공정을 처리하는 각종 장비들을 포함한다. FPD 제조 라인의 장비들이 오동작하거나 최적 공정 범위를 벗어나 동작 하면, 표시패널의 불량을 유발한다. 따라서, 제조 장비에 문제가 발생하면 계측기를 이용하여 그 제조 장비의 동작 상태를 측정하고 분석할 수 있다. 일 예로, 코터(coater)나 노광기의 진동을 측정하기 위한 진동 계측기가 있다. 진동 계측기는 계측 모듈, 케이블, 진동센서 등으로 구성된다. 케이블은 진동 센서와 계측모듈을 전기적으로 연결하고, 진동센서는 제조장비에 부착된다. 그런데, 이러한 계측기는 케이블로 인하여 장비 내부의 동작 상태를 측정할 수 없다. 또한 케이블의 길이가 한정되어 있고 계측기 이동이 자유롭지 못하기 때문에 계측 가능 공간이 좁다. The FPD manufacturing line includes various equipment for processing processes such as cleaning, drying, thin film coating, thin film deposition, exposure, and development. If the equipment of the FPD manufacturing line malfunctions or operates out of the optimal process range, it causes the display panel to fail. Therefore, if a problem occurs in the manufacturing equipment, the operation state of the manufacturing equipment can be measured and analyzed using the measuring machine. For example, there is a vibration meter for measuring vibration of a coater or an exposure apparatus. The vibration measuring instrument is composed of a measuring module, a cable, and a vibration sensor. The cable electrically connects the vibration sensor and the measurement module, and the vibration sensor is attached to the manufacturing equipment. However, these instruments can not measure the operating conditions inside the equipment due to the cable. Also, since the length of the cable is limited and the movement of the meter is not free, the measurementable space is narrow.

장비의 동작 상태를 정확히 이해하기 위해서는 표시패널의 기판이 느끼는 장비 내부 상태를 알 수 있어야 한다. 그런데, 기존의 장비 측정 방법은 장비 내부 상태를 측정할 수 없었다. 따라서, 제조 공정 불량을 줄이기 위해서는 공간제약이 없고 장비 내부의 동작 상태를 측정할 수 있는 방법이 절실히 요구되고 있다.
In order to accurately understand the operation status of the equipment, it is necessary to know the internal state of the substrate felt by the substrate of the display panel. However, the existing equipment measurement method could not measure the internal state of the equipment. Therefore, there is no space limitation in order to reduce the manufacturing process defects, and a method for measuring the operation state inside the equipment is desperately required.

본 발명은 측정 공간에 제약이 없고 표시패널의 기판이 느끼는 장비 내부 상태를 측정할 수 있는 평판 표시장치의 제조라인 검사용 기판과 이를 이용한 검사 시스템 및 방법을 제공한다.
The present invention provides a substrate for inspection of a manufacturing line of a flat panel display device which is free from a limitation in a measurement space and can measure the internal state of the substrate felt by the substrate of the display panel, and an inspection system and method using the same.

본 발명의 검사용 기판은 분산 배치되도록 기판 상에 실장된 다수 센서들; 상기 기판 상에 실장된 회로 보드; 및 상기 기판 상에 실장되어 상기 회로 보드에 전원을 공급하는 배터리를 포함한다. 상기 센서들, 상기 회로 보드 및 상기 배터리가 실장된 기판은 FPD 제조라인의 장비들에 투입되거나, 상기 FPD 제조라인을 따라 이동한다. 상기 회로 보드는 상기 센서들을 통해 수집된 상기 FPD 제조라인의 장비에 대한 정보를 유/무선 인터페이스를 통해 외부로 전송한다.
상기 회로 보드는 상기 유/무선 인터페이스를 통해 입력 받은 신호를 외부로 전송하는 신호 송신부, 상기 센서들의 출력신호를 디지털 데이터로 변환하는 센서신호 수신부, 상기 센서신호 수신부로부터 입력된 센서 데이터들을 상기 신호 송신부에 공급하는 제어부, 상기 제어부에 접속된 메모리, 및 광이 수신되면 상기 배터리의 전원을 상기 신호 송신부, 상기 센서신호 수신부, 상기 제어부, 및 상기 메모리에 공급하는 전원 스위칭부를 포함할 수 있다.
본 발명의 검사용 기판은 상기 센서들, 상기 회로보드, 및 상기 배터리를 덮는 투명 보호층을 더 포함할 수 있다.
상기 검사용 기판의 두께는 1.6mm ~ 3.8 mm 사이의 두께를 가질 수 있다.
상기 기판은 유리 기판과 아크릴 기판 중 어느 하나일 수 있다.
상기 기판은 소정 크기의 음각 부분을 포함하고, 상기 회로 보드와 상기 배터리는 상기 기판의 음각 부분에 배치될 수 있다.
상기 센서들 각각은 진동센서, 변위센서, 유량센서, 온도센서, 자기센서, 정전용량 센서, 압력 센서 중 하나 이상의 센서를 포함할 수 있다.
본 발명의 검사 시스템은 분산 배치되도록 기판 상에 실장된 다수 센서들, 상기 기판 상에 실장된 회로 보드, 및 상기 기판 상에 실장되어 상기 회로 보드에 전원을 공급하는 배터리를 포함하고, FPD 제조라인의 장비들에 투입되거나, 상기 FPD 제조라인을 따라 이동하여 상기 FPD 제조라인의 장비에 대한 정보를 수집하는 검사 기판; 및 유/무선 인터페이스를 통해 상기 검사 기판에 연결되어 상기 유/무선 인터페이스로부터 수신된 신호를 분석하여 상기 FPD 제조라인의 장비 이상유무를 판단하는 호스트 시스템을 포함한다.
본 발명의 검사 시스템은 상기 FPD 제조라인의 장비들을 제어하는 컴퓨터를 더 포함하고, 상기 호스트 시스템은 상기 신호 분석 결과에 따라 상기 컴퓨터에 경보 신호를 전송할 수 있다.
본 발명의 검사 방법은 분산 배치되도록 기판 상에 실장된 다수 센서들, 상기 기판 상에 실장된 회로 보드, 및 상기 기판 상에 실장되어 상기 회로 보드에 전원을 공급하는 배터리를 포함하는 검사 기판을 FPD 제조라인의 장비들에 투입하거나, FPD 제조라인을 따라 이동하면서 상기 FPD 제조라인의 장비에 대한 정보를 수집하는 단계; 및 상기 검사 기판에 의해 수집된 정보를 분석하여 상기 FPD 제조라인의 장비 이상유무를 판단하는 단계를 포함한다.
본 발명의 검사 방법은 상기 정보 분석 결과에 따라 상기 FPD 제조라인의 장비들을 제어하는 컴퓨터에 경보 신호를 전송하는 단계를 더 포함할 수 있다.
The inspection substrate of the present invention includes a plurality of sensors mounted on a substrate so as to be dispersedly disposed; A circuit board mounted on the substrate; And a battery mounted on the substrate and supplying power to the circuit board. The sensors, the circuit board, and the board on which the battery is mounted are put into equipment of the FPD manufacturing line or moved along the FPD manufacturing line. The circuit board transmits information on equipment of the FPD manufacturing line collected through the sensors to the outside through a wired / wireless interface.
The circuit board includes a signal transmitter for transmitting a signal received through the wired / wireless interface to the outside, a sensor signal receiver for converting an output signal of the sensors into digital data, A memory connected to the control unit, and a power switching unit for supplying power of the battery to the signal transmitter, the sensor signal receiver, the controller, and the memory when light is received.
The inspection board of the present invention may further include a transparent protective layer covering the sensors, the circuit board, and the battery.
The thickness of the inspection substrate may be between 1.6 mm and 3.8 mm.
The substrate may be either a glass substrate or an acrylic substrate.
The substrate may include an engraved portion of a predetermined size, and the circuit board and the battery may be disposed on the engraved portion of the substrate.
Each of the sensors may include at least one of a vibration sensor, a displacement sensor, a flow sensor, a temperature sensor, a magnetic sensor, a capacitance sensor, and a pressure sensor.
The inspection system of the present invention includes a plurality of sensors mounted on a substrate so as to be dispersedly disposed, a circuit board mounted on the substrate, and a battery mounted on the substrate to supply power to the circuit board, An inspection board that is inserted into the equipment of the FPD manufacturing line or moves along the FPD manufacturing line to collect information on the equipment of the FPD manufacturing line; And a host system connected to the inspection board through a wired / wireless interface and analyzing a signal received from the wired / wireless interface to determine whether the FPD manufacturing line has equipment abnormality.
The inspection system of the present invention may further comprise a computer for controlling the equipment of the FPD production line, and the host system may transmit an alarm signal to the computer according to the signal analysis result.
An inspection method of the present invention is an inspection method comprising an inspection board including a plurality of sensors mounted on a substrate so as to be dispersedly arranged, a circuit board mounted on the board, and a battery for supplying power to the circuit board, Collecting information on the equipment of the FPD manufacturing line by inputting it into the equipment of the manufacturing line or moving along the FPD manufacturing line; And analyzing the information collected by the inspection board to determine whether the FPD manufacturing line is equipped with equipment or not.
The inspection method of the present invention may further include transmitting an alarm signal to a computer controlling equipment of the FPD manufacturing line according to the information analysis result.

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본 발명은 FPD 표시패널과 유사한 두께로 제작 가능하고 신호 수집과 신호 송출 기능을 가지는 검사용 기판을 FPD 제조라인에 투입한다. 그 결과, 본 발명은 측정 공간에 제약이 없고 표시패널의 기판이 느끼는 장비 내부 상태를 측정할 수 있다.
The present invention introduces a substrate for inspection having a thickness similar to that of the FPD display panel and having a function of signal collection and signal transmission to the FPD manufacturing line. As a result, the present invention can measure the internal state of the equipment, which is not limited by the measurement space, and can be sensed by the substrate of the display panel.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 평판 표시장치의 제조라인 검사 시스템을 보여 주는 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 검사 기판의 회로 보드 구성을 상세히 보여 주는 도면이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 검사 기판의 단면을 보여 주는 단면도이다.
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 검사 기판의 단면을 보여 주는 단면도이다.
도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 검사 기판의 단면을 보여 주는 단면도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 평판 표시장치의 제조라인 검사 방법을 보여 주는 흐름도이다.
1 is a view showing a manufacturing line inspection system of a flat panel display according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a detailed circuit board configuration of the test board shown in FIG. 1. FIG.
3 is a cross-sectional view showing a cross section of a test substrate according to a first embodiment of the present invention.
4 is a cross-sectional view showing a cross section of a test board according to a second embodiment of the present invention.
5 is a cross-sectional view showing a cross section of a test board according to a third embodiment of the present invention.
6 is a flowchart illustrating a manufacturing line inspection method of a flat panel display according to an embodiment of the present invention.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Reference will now be made in detail to the preferred embodiments of the present invention, examples of which are illustrated in the accompanying drawings. Like reference numerals throughout the specification denote substantially identical components. In the following description, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 평판 표시장치의 제조라인 검사 시스템은 검사 기판(100)과, 호스트 시스템(200)을 포함한다. Referring to FIG. 1, a manufacturing line inspection system for a flat panel display according to an exemplary embodiment of the present invention includes a test substrate 100 and a host system 200.

검사 기판(100)은 기판, 기판 상에 형성된 다수의 센서들(10), 기판 상에 형성된 회로 보드(20), 기판 상에 탑재된 배터리(30) 등을 포함하여 FPD 제조라인의 각종 장비에 투입되어 그 장비의 동작 상태를 센서들로부터 수집된 정보를 유무선 인터페이스를 통해 외부의 호스트 시스템(200)으로 전송한다. The inspection substrate 100 includes a substrate, a plurality of sensors 10 formed on the substrate, a circuit board 20 formed on the substrate, a battery 30 mounted on the substrate, and the like, And transmits information collected from the sensors to the external host system 200 via the wired / wireless interface.

검사 기판(100) 상에 형성된 센서들(10)은 검사 기판(100) 상에 분산 배치된다. 센서들(10)은 진동센서(가속도센서), 변위센서, 유량센서, 온도센서, 자기센서, 정전용량 센서, 압력 센서 중 하나 이상의 센서를 포함하고, 이 이외에 알려진 다양한 종류의 센서들이 추가될 수 있다. 센서들(10)의 종류는 FPD 제조라인의 검사 항목에 따라 선택될 수 있다. FPD 제조라인의 장비는 세정 장비, 건조 장비, 박막 코팅 장비, 박막 증착 장비, 노광 장비, 현상 장비 등의 공정 장비와, 반송 로봇이나 콘베이어와 같은 반송 장비를 포함한다.Sensors 10 formed on the test substrate 100 are dispersed and arranged on the test substrate 100. The sensors 10 include at least one of a vibration sensor (acceleration sensor), a displacement sensor, a flow sensor, a temperature sensor, a magnetic sensor, a capacitance sensor, and a pressure sensor, have. The types of the sensors 10 can be selected according to inspection items of the FPD manufacturing line. Equipment in the FPD manufacturing line includes process equipment such as cleaning equipment, drying equipment, thin film coating equipment, thin film deposition equipment, exposure equipment, development equipment, and transport equipment such as conveying robots and conveyors.

검사 기판(100)은 FPD의 표시패널 기판 두께 이하의 두께로 제작된다. 이 검사 기판(100)은 운용자에 의해 소정 시간 간격으로, 또는 표시패널 제조공정에서 불량이 발견될 때 FPD 제조라인에서 불량을 유발한 특정 장비 내에 투입되거나 실제 표시패널의 제조 공정 순서를 따라 FPD 제조라인을 따라 이동하면서 장비들 각각의 동작 상태를 측정한다.The test substrate 100 is fabricated to a thickness equal to or less than the thickness of the display panel substrate of the FPD. The inspection board 100 is installed in a specific equipment causing a defect in the FPD manufacturing line at a predetermined time interval by the operator or when a defect is found in the manufacturing process of the display panel, Move along the line and measure the operating condition of each of the equipment.

호스트 시스템(200)은 유/무선 인터페이스를 통해 검사 기판(100)으로부터 수신된 신호의 주파수, 진폭 등을 분석하고 그 분석 결과를 미리 설정된 기준값과 비교하여 장비의 이상 유무와 장비 이상점을 판단한다. 여기서, 기준값은 FPD 제조라인을 구성하는 각 장비들이 최적 동작 상태로 동작할 때 얻어진 주파수 특성, 진폭 특성으로서, 호스트 시스템(200)에 미리 저장된다. 다른 실시예로서, 호스트 시스템(200)은 유/무선 인터페이스를 통해 검사 기판(100)로부터 수신된 신호의 주파수, 진폭 등을 분석하고 그 분석 결과를 이전에 수신된 신호와 비교하여 장비의 이상 유무와 장비 이상점을 판단할 수 있다. 장비 이상점은 미리 설정된 기준값이나 이전 신호 특성과 다른 특성을 보여 이상 동작 가능성이 높다고 판단된 장비 위치를 의미한다. The host system 200 analyzes frequency, amplitude, and the like of a signal received from the test board 100 through a wired / wireless interface and compares the analysis result with a preset reference value to determine whether the device is abnormal or a device malfunction point . Here, the reference value is stored in advance in the host system 200 as a frequency characteristic and an amplitude characteristic obtained when each of the devices constituting the FPD manufacturing line operates in the optimum operation state. In another embodiment, the host system 200 analyzes the frequency, amplitude, and the like of a signal received from the test board 100 via a wired / wireless interface and compares the analysis result with previously received signals to determine whether the equipment is abnormal And equipment failure point can be judged. The equipment failure point means a device position determined to have a high possibility of abnormal operation due to a characteristic different from a preset reference value or a previous signal characteristic.

호스트 시스템(200)은 수신된 신호의 분석 결과, 각 장비들의 이상유무, 장비 이상점 등을 데이터 베이스에 저장하여, 장비 검사 이력을 관리한다. 호스트 시스템(200)은 장비들 각각에 대한 검사 항목 별로 예컨대, 장비의 진동, 장비의 변위, 장비의 유량, 장비의 온도, 장비의 정전용량, 장비 내의 압력 등을 데이터 베이스로 관리한다. 나아가, 호스트 시스템(200)은 검사 기판(100)으로부터 수집된 장비들의 정보를 바탕으로 FPD 제조라인이 설치된 공장 건물의 진동, 변위 등을 분석하고 그 결과를 데이터 베이스로 관리할 수 있다. The host system 200 stores the results of the analysis of the received signals, the abnormality of each of the devices, the device abnormality points, and the like in the database to manage the device inspection history. The host system 200 manages the vibration of the equipment, the displacement of the equipment, the flow rate of the equipment, the temperature of the equipment, the capacitance of the equipment, the pressure in the equipment, and the like in a database by inspection items for each of the equipment. Further, the host system 200 can analyze vibration, displacement, and the like of the factory building where the FPD manufacturing line is installed based on the information of the equipment collected from the inspection board 100, and manage the result of the analysis by the database.

호스트 시스템(200)은 FPD 제조라인을 구성하는 각 장비들을 제어하는 컴퓨터들(300)에 연결될 수 있다. 호스트 시스템(200)은 검사 기판(100)으로부터 수신된 신호 분석 및 비교 평가를 통해 오동작 장비의 컴퓨터(300)에 경보신호를 전송할 수 있다. 경보신호를 수신한 컴퓨터(300)는 경보 메시지를 모니터에 표시하고 스피커를 통해 경보음을 발생할 수 있다. 따라서, 운용자는 호스트 시스템(200)으로부터 입력되는 경보신호에 따라 자신이 담당하는 장비의 이상유무를 알 수 있다. The host system 200 may be connected to the computers 300 that control each of the devices constituting the FPD manufacturing line. The host system 200 can send an alarm signal to the malfunctioning machine's computer 300 through signal analysis and comparison evaluation received from the test board 100. The computer 300 receiving the alarm signal may display an alarm message on the monitor and generate an alarm sound through the speaker. Accordingly, the operator can know whether there is an abnormality in the equipment to which the operator is assigned according to the alarm signal input from the host system 200. [

도 2는 검사 기판(100)의 회로 보드(20) 구성을 상세히 보여 주는 도면이다. 2 is a detailed view showing the configuration of the circuit board 20 of the test board 100. As shown in FIG.

도 2를 참조하면, 검사 기판(100)의 회로 보드(20)는 인쇄회로기판(Printed Circuit Board, PCB) 상에 실장된 전원 스위칭부(23), 센서신호 수신부(24), 신호 송신부(25), 제어부(21), 메모리(22) 등을 포함한다. 2, the circuit board 20 of the inspection board 100 includes a power switching unit 23 mounted on a printed circuit board (PCB), a sensor signal receiving unit 24, a signal transmitting unit 25 A control unit 21, a memory 22, and the like.

전원 스위칭부(23)는 포토 다이오드와 같은 광전변환소자를 이용하여 광이 수신되면 배터리(30)로부터의 전압을 제어부(21), 메모리(22), 센서신호 수신부(24), 신호 송신부(25) 등에 공급하여 그 회로들을 구동시킨다. 전원 스위칭부(23)는 광이 수신되면 배터리(30)의 전원을 회로 보드(20)의 회로들에 직접 공급할 수 있고 레귤레이터를 이용하여 배터리(30)의 전원 전압을 적절히 조절하여 회로 보드(20)의 회로에 공급할 수도 있다. 전원 스위칭부(23)는 광이 다시 수신되면 회로 보드에 공급되는 배터리 전원을 차단한다. 따라서, 운용자는 LED(Light Emitting Diode)와 같은 광원을 검사 기판(100)에 조사하여 검사 기판(100)의 전원을 온/오프(ON/OFF) 스위칭할 수 있다. The power supply switching unit 23 outputs a voltage from the battery 30 to the control unit 21, the memory 22, the sensor signal receiving unit 24, the signal transmitting unit 25 ) To drive the circuits. The power switching unit 23 can directly supply the power of the battery 30 to the circuits of the circuit board 20 when the light is received and adjust the power supply voltage of the battery 30 appropriately using the regulator, To the circuit of FIG. The power switching unit 23 turns off the battery power supplied to the circuit board when the light is received again. Accordingly, the operator can turn on / off the power of the test substrate 100 by irradiating the test substrate 100 with a light source such as an LED (Light Emitting Diode).

기존의 딥 스위치(DIP switch)와 같은 물리적 힘으로 동작시키는 스위치의 경우에 두께가 비교적 크기 때문에 검사 기판(100)의 두께를 두껍게 할 수 있다. 또한, 힘으로 동작하는 스위치를 사용하면 스위치 동작시에 가해지는 힘으로 인하여 얇은 검사 기판(100)이 손상될 수 있다. 본 발명은 광으로 검사 기판(100)의 전원을 스위칭함으로써 검사 기판(100)의 두께를 얇게 하고 검사 기판(100)의 손상을 방지할 수 있다. In the case of a switch operating with the same physical force as a conventional DIP switch, the thickness of the test substrate 100 can be increased because of its relatively large thickness. Also, if a switch operated by force is used, the thin test board 100 may be damaged due to the force applied during the switch operation. The present invention can reduce the thickness of the test substrate 100 and prevent the test substrate 100 from being damaged by switching the power source of the test substrate 100 with light.

센서신호 수신부(24)는 센서들(10)의 출력신호를 제어부(21)에서 인식 가능한 디지털 데이터로 변환하여 제어부(21)에 공급한다. The sensor signal receiving unit 24 converts the output signals of the sensors 10 into digital data recognizable by the control unit 21 and supplies the digital data to the control unit 21.

제어부(21)는 중앙처리장치(Central Processing Unit, CPU)로 구현될 수 있다. 제어부(21)는 센서신호 수신부(24)로부터 입력된 센서 데이터들을 신호 송신부(25)에 공급한다. 메모리(22)는 제어부(21)로부터 입력되는 센서 데이터를 일시 저장하고 제어부(21)의 요청시에 저장된 센서 데이터를 제어부(21)에 공급한다. The control unit 21 may be implemented as a central processing unit (CPU). The control unit 21 supplies the sensor data input from the sensor signal receiving unit 24 to the signal transmitting unit 25. The memory 22 temporarily stores the sensor data input from the control unit 21 and supplies the sensor data stored at the request of the control unit 21 to the control unit 21. [

신호 송신부(25)는 제어부(21)로부터 입력되는 센서 데이터를 유/무선 인터페이스 전송 규격에 맞게 변환하여 그 유/무선 인터페이스를 통해 센서 데이터를 외부의 호스트 시스템(200)으로 전송한다. 무선 인터페이스로서 2.4 Ghz 대역의 RF(Radio Frequency) 통신 채널이 이용될 수 있다. The signal transmitter 25 converts the sensor data inputted from the controller 21 according to the transmission standard of the wire / wireless interface and transmits the sensor data to the external host system 200 through the wire / wireless interface. A radio frequency (RF) communication channel of 2.4 GHz band may be used as a wireless interface.

배터리(30)는 얇고 저장용량이 큰 배터리 예를 들면, 리튬 폴리머 배터리로 구현되어 회로보드(20)에 전원을 공급한다.The battery 30 is implemented as a thin and high capacity battery, for example, a lithium polymer battery, to supply power to the circuit board 20.

도 3 및 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 검사 기판(100)의 단면을 보여 주는 단면도들이다. 3 and 4 are cross-sectional views showing a cross section of the test substrate 100 according to the embodiment of the present invention.

도 3 및 도 4를 참조하면, 검사 기판(100)은 회로 보드(20), 배터리(30), 전원선(31) 등이 실장된 기판(40)과, 기판(40) 상에 접착된 보호층(50, 60)을 포함한다. 3 and 4, a test board 100 includes a board 40 on which a circuit board 20, a battery 30, a power line 31 and the like are mounted, Layer 50,60.

FPD 제조라인의 장비에서 FPD 표시패널과 동일하게 인식될 수 있도록, 검사 기판(100)은 FPD 표시패널 기판과 유사한 두께를 가져야 하고 FPD 제조라인에서 사용되는 각종 화학 약품에 의해 손상되지 않도록 내화학성을 가져야 한다. The inspection board 100 must have a thickness similar to that of the FPD display panel substrate so that the equipment of the FPD manufacturing line can recognize the same as the FPD display panel and the chemical resistance of the inspection board 100 is not damaged by various chemicals used in the FPD manufacturing line. Should have.

이를 위하여, 기판(40)은 얇고 내화학성을 갖는 소재로 제작된다. 예컨대, 기판(40)은 1mm ~ 2mm 사이의 두께를 갖는 유리 기판 또는 아크릴 기판이 제작될 수 있다. PCB 상에서 적층되지 않도록 배치된 회로 보드(20)와 배터리(30)의 두께는 0.5mm ~ 1.5mm 사이의 두께를 갖는다. 보호층(50, 60)은 0.1mm ~ 0.3 mm 사이의 두께를 가지며 내화학성을 갖는 투명한 소재로 제작된다. 보호층(50, 60)은 도 3과 같은 실리콘 테이프로 제작되거나, 도 4와 같이 검사 기판(40)의 전면을 기밀 밀봉하는 투명 수지(resin)로 제작될 수 있다. 보호층(50)은 센서들(10), 회로보드(20), 전원선(31), 배터리(30) 등을 덮을 수 있도록 기판(40)에 접착된다. 보호층(50)은 배터리 교환이 가능하도록 탈부착 가능하게 기판(40)에 접착될 수 있다. For this purpose, the substrate 40 is made of a thin and chemical resistant material. For example, the substrate 40 may be a glass substrate or an acrylic substrate having a thickness between 1 mm and 2 mm. The thickness of the circuit board 20 and the battery 30 arranged so as not to be stacked on the PCB has a thickness between 0.5 mm and 1.5 mm. The protective layers 50 and 60 are made of a transparent material having a thickness between 0.1 mm and 0.3 mm and having chemical resistance. The protective layers 50 and 60 may be made of a silicone tape as shown in FIG. 3, or may be made of a transparent resin that hermetically seals the entire surface of the test substrate 40, as shown in FIG. The protective layer 50 is adhered to the substrate 40 so as to cover the sensors 10, the circuit board 20, the power line 31, the battery 30, and the like. The protective layer 50 may be detachably adhered to the substrate 40 so that a battery can be exchanged.

검사 기판(100)의 총 두께(t)는 기판(40), 회로보드(20) 및 배터리(30)의 1.6mm ~ 3.8 mm 사이의 두께를 갖는다. The total thickness t of the test substrate 100 has a thickness between 1.6 mm and 3.8 mm of the substrate 40, the circuit board 20 and the battery 30. [

검사 기판(100)의 두께(t)를 더 줄이기 위하여, 도 5와 같이 기판(40)의 표면을 식각하거나 기계적 가공을 통해 그 표면에 음각을 형성하고 그 음각 부분에 회로 보드(20)와 배터리(30)를 배치할 수도 있다. 기판(40)이 아크릴 기판으로 제작되면, 음각은 NC(Numerically Controlled Lathe) 가공으로 형성될 수 있다. 도 5에서 생략된 센서들(10)은 기판(40)의 음각 부분에 형성되거나 기판(40)의 양각 부분에 배치될 수 있다. 기판(40)이 아크릴 기판으로 제작되면, 음각은 NC(Numerically Controlled Lathe) 가공으로 형성될 수 있다. 검사 기판(100)에 도 5와 같은 구조를 적용하면, 검사 기판(100)의 두께(t)를 기판(40)의 두께로 더 줄일 수 있다. 5, the surface of the substrate 40 is etched or mechanically processed to form a depressed surface on the surface of the substrate 40, and the circuit board 20 and the battery (not shown) (30) may be disposed. When the substrate 40 is made of an acrylic substrate, the engraved angle can be formed by NC (Numerically Controlled Lathe) processing. The sensors 10 omitted in FIG. 5 may be formed on the engraved portion of the substrate 40 or on the raised portion of the substrate 40. When the substrate 40 is made of an acrylic substrate, the engraved angle can be formed by NC (Numerically Controlled Lathe) processing. 5, the thickness t of the test substrate 100 can be further reduced by the thickness of the substrate 40. In this case,

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 평판 표시장치의 제조라인 검사 방법을 보여 주는 흐름도이다. 6 is a flowchart illustrating a manufacturing line inspection method of a flat panel display according to an embodiment of the present invention.

도 6을 참조하면, 본 발명의 평판 표시장치의 제조라인 검사 방법은 FPD 제조라인에 검사 기판(100)을 투입하고, 비접촉 스위칭 방식으로 검사 기판(100)에 전원을 공급한다.(S1 및 S2)Referring to FIG. 6, in the manufacturing line inspection method of the flat panel display device of the present invention, the inspection substrate 100 is supplied to the FPD manufacturing line and power is supplied to the inspection substrate 100 by the non-contact switching method. )

검사 기판(100)에 배치된 센서들(10)로부터 제어부(21)에 신호가 수신되면, 제어부(21)는 센서들(10)로부터 수집된 신호를 호스트 시스템(200)에 전송한다.(S3 및 S4) When a signal is received from the sensors 10 arranged on the inspection board 100 to the control unit 21, the control unit 21 transmits the signals collected from the sensors 10 to the host system 200 (S3 And S4)

호스트 시스템(200)은 검사 기판(100)으로부터 수신된 신호를 분석하고 비교 평가하고 그 결과를 호스트 시스템(200)의 데이터 베이스에 저장한다.(S5) 호스트 시스템(200)은 수신 신호의 분석 및 비교 평가 결과 수신된 신호에서 이상(Abnormal) 신호가 검출되면 그 신호가 감지된 장비의 컴퓨터(300)에 경보 신호를 전송한다.(S6 및 S7)The host system 200 analyzes the signal received from the test substrate 100, compares and evaluates the signal, and stores the result in the database of the host system 200. (S5) The host system 200 analyzes the received signal, If an abnormal signal is detected in the received signal as a result of the comparison, the alarm signal is transmitted to the computer 300 of the detected equipment. (S6 and S7)

검사 기판(100)을 FPD 제조 라인에 투입하여 FPD 제조라인을 검사할 때, FPD 제조 라인에서 고온 장비의 히터는 동작시키지 않는 것이 바람직하다. 이는 검사 기판(100)의 회로 보드(20)와 배터리(30)가 90℃ 이상이 되면 신뢰성이 떨어지고 손상될 수 있기 때문이다. 또한, 검사 기판(100)을 FPD 제조 라인에 투입하여 FPD 제조라인을 검사할 때, 검사 기판(100)에 원치 않는 이물이 증착되거나 검사 기판(100)이 식각되지 않도록 증착 장비와 식각 장비의 챔버 내로 반응 가스를 공급하지 않는 것이 바람직하다. When inspecting the FPD production line by inserting the inspection substrate 100 into the FPD production line, it is preferable that the heater of the high-temperature equipment is not operated in the FPD production line. This is because when the circuit board 20 and the battery 30 of the test board 100 are heated to 90 ° C or higher, the reliability of the circuit board 20 and the battery 30 may deteriorate and be damaged. When inspecting the FPD manufacturing line by inserting the inspection substrate 100 into the FPD manufacturing line, the deposition apparatus and the chamber of the etching apparatus are stacked so that unwanted foreign substances are not deposited on the inspection substrate 100 or the inspection substrate 100 is not etched. It is preferable not to supply the reaction gas into the reaction chamber.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위 내에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명은 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Therefore, the present invention should not be limited to the details described in the detailed description, but should be defined by the claims.

100 : 검사 기판 200 : 호스트 시스템
300 : FPD 제조라인의 장비를 제어하는 컴퓨터
100: test board 200: host system
300: a computer controlling the equipment of the FPD manufacturing line

Claims (11)

분산 배치되도록 기판 상에 실장된 다수 센서들;
상기 기판 상에 실장된 회로 보드; 및
상기 기판 상에 실장되어 상기 회로 보드에 전원을 공급하는 배터리를 포함하고,
상기 센서들, 상기 회로 보드 및 상기 배터리가 실장된 기판은,
FPD 제조라인의 장비들에 투입되거나, 상기 FPD 제조라인을 따라 이동하고,
상기 회로 보드는 상기 센서들을 통해 수집된 상기 FPD 제조라인의 장비에 대한 정보를 유/무선 인터페이스를 통해 외부로 전송하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조라인 검사용 기판.
A plurality of sensors mounted on the substrate so as to be dispersedly disposed;
A circuit board mounted on the substrate; And
And a battery mounted on the substrate and supplying power to the circuit board,
Wherein the sensors, the circuit board, and the battery-
To the equipment of the FPD manufacturing line, to move along the FPD manufacturing line,
Wherein the circuit board transmits information on equipment of the FPD manufacturing line collected through the sensors to the outside via a wire / wireless interface.
제 1 항에 있어서,
상기 회로 보드는,
상기 유/무선 인터페이스를 통해 입력 받은 신호를 외부로 전송하는 신호 송신부;
상기 센서들의 출력신호를 디지털 데이터로 변환하는 센서신호 수신부;
상기 센서신호 수신부로부터 입력된 센서 데이터들을 상기 신호 송신부에 공급하는 제어부;
상기 제어부에 접속된 메모리; 및
광이 수신되면 상기 배터리의 전원을 상기 신호 송신부, 상기 센서신호 수신부, 상기 제어부, 및 상기 메모리에 공급하는 전원 스위칭부를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조라인 검사용 기판.
The method according to claim 1,
The circuit board includes:
A signal transmitter for transmitting a signal received through the wired / wireless interface to the outside;
A sensor signal receiver for converting an output signal of the sensors into digital data;
A controller for supplying sensor data input from the sensor signal receiver to the signal transmitter;
A memory connected to the control unit; And
And a power supply switching unit for supplying power of the battery to the signal transmitter, the sensor signal receiver, the controller, and the memory when light is received.
제 2 항에 있어서,
상기 센서들, 상기 회로보드, 및 상기 배터리를 덮는 투명 보호층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조라인 검사용 기판.
3. The method of claim 2,
Further comprising a transparent protective layer covering the sensors, the circuit board, and the battery.
제 1 항에 있어서,
상기 검사용 기판의 두께는 1.6mm ~ 3.8 mm 사이의 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조라인 검사용 기판.
The method according to claim 1,
Wherein the thickness of the inspection substrate has a thickness between 1.6 mm and 3.8 mm.
제 1 항에 있어서,
상기 기판은
유리 기판과 아크릴 기판 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조라인 검사용 기판.
The method according to claim 1,
The substrate
Wherein the substrate is one of a glass substrate and an acrylic substrate.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 기판은 소정 크기의 음각 부분을 포함하고,
상기 회로 보드와 상기 배터리는 상기 기판의 음각 부분에 배치되는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조라인 검사용 기판.
6. The method according to any one of claims 1 to 5,
Wherein the substrate comprises an engraved portion of a predetermined size,
Wherein the circuit board and the battery are disposed at an engraved portion of the substrate.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 센서들 각각은 진동센서, 변위센서, 유량센서, 온도센서, 자기센서, 정전용량 센서, 압력 센서 중 하나 이상의 센서를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조라인 검사용 기판.
6. The method according to any one of claims 1 to 5,
Wherein each of the sensors includes at least one of a vibration sensor, a displacement sensor, a flow sensor, a temperature sensor, a magnetic sensor, a capacitance sensor, and a pressure sensor.
분산 배치되도록 기판 상에 실장된 다수 센서들, 상기 기판 상에 실장된 회로 보드, 및 상기 기판 상에 실장되어 상기 회로 보드에 전원을 공급하는 배터리를 포함하고, FPD 제조라인의 장비들에 투입되거나, 상기 FPD 제조라인을 따라 이동하여 상기 FPD 제조라인의 장비에 대한 정보를 수집하는 검사 기판; 및
유/무선 인터페이스를 통해 상기 검사 기판에 연결되어 상기 유/무선 인터페이스로부터 수신된 신호를 분석하여 상기 FPD 제조라인의 장비 이상유무를 판단하는 호스트 시스템을 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조라인 검사 시스템.
A plurality of sensors mounted on the substrate so as to be dispersedly disposed on the substrate, a circuit board mounted on the substrate, and a battery mounted on the substrate to supply power to the circuit board, An inspection board moving along the FPD manufacturing line to collect information on equipment of the FPD manufacturing line; And
And a host system connected to the test board through a wired / wireless interface and analyzing signals received from the wired / wireless interface to determine whether the FPD manufacturing line is out of equipment or not. Inspection system.
제 8 항에 있어서,
상기 FPD 제조라인의 장비들을 제어하는 컴퓨터를 더 포함하고,
상기 호스트 시스템은 상기 신호 분석 결과에 따라 상기 컴퓨터에 경보 신호를 전송하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조라인 검사 시스템.
9. The method of claim 8,
Further comprising a computer for controlling the equipment of the FPD manufacturing line,
Wherein the host system transmits an alarm signal to the computer according to a result of the signal analysis.
분산 배치되도록 기판 상에 실장된 다수 센서들, 상기 기판 상에 실장된 회로 보드, 및 상기 기판 상에 실장되어 상기 회로 보드에 전원을 공급하는 배터리를 포함하는 검사 기판을 FPD 제조라인의 장비들에 투입하거나, 상기 FPD 제조라인을 따라 이동하면서 상기 FPD 제조라인의 장비에 대한 정보를 수집하는 단계; 및
상기 검사 기판에 의해 수집된 정보를 분석하여 상기 FPD 제조라인의 장비 이상유무를 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조라인 검사 방법.
A test board including a plurality of sensors mounted on a substrate so as to be dispersedly arranged, a circuit board mounted on the board, and a battery mounted on the board to supply power to the circuit board, Collecting information on equipment of the FPD manufacturing line while moving along the FPD manufacturing line; And
And analyzing the information collected by the inspection board to determine whether the FPD manufacturing line has an equipment abnormality.
제 10 항에 있어서,
상기 정보 분석 결과에 따라 상기 FPD 제조라인의 장비들을 제어하는 컴퓨터에 경보 신호를 전송하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 제조라인 검사 방법.
11. The method of claim 10,
Further comprising transmitting an alarm signal to a computer controlling equipment of the FPD manufacturing line according to the information analysis result.
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