KR101770687B1 - The surface treatment agent for communication-connector and mobile communication-connector and Surface treatment method of connector using the same - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a connector surface treatment solution for communication, and a connector surface treatment method for communication using the same. More specifically, the present invention relates to a connector for communication, enabling a tin nickel surface treatment layer manufactured by a pyrophosphate salt bath-electrolytic plating method to be formed on a surface of a connector for communication by using surface treatment solution having a specific composition in order to secure excellent corrosion resistance, rigidity, and PIMD characteristics.

Description

유무선통신 커넥터 표면처리액 및 이를 이용한 통신용 커넥터 표면처리방법{The surface treatment agent for communication-connector and mobile communication-connector and Surface treatment method of connector using the same}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a surface treatment agent for a wire / wireless communication connector and a surface treatment method for a connector for communication using the same.

본 발명은 고효율 및 저비용으로 통신 커넥터의 내식성 향상 및 수동 상호변조왜곡(PIMD;passive Intermodulation distortion) 등의 전기적 특성 개선을 통해 안정적인 통신품을을 확보할 수 있는 유뮤선통신 커넥터 표면처리방법 및 이에 사용되는 유무선통신 커넥터의 표면처리액에 관한 것이다.The present invention relates to a method of treating a surface of a communication connector of a multimedia communication system capable of securing a stable communication product by improving the corrosion resistance of a communication connector with high efficiency and low cost and improving electrical characteristics such as passive intermodulation distortion (PIMD) To a surface treatment liquid of a wire / wireless communication connector.

이동통신기술의 발전을 위한 중요한 요소는 서비스 용량의 증대와 통화품질의 개선이다. 이러한 서비스의 증대와 통화품질의 개선을 위해서는 항시 채널간의 간섭이 중요한 문제이며, 이 간섭문제에 영향을 주는 중요한 인자가 상호변조왜곡(IMD;intermodulation distortion) 현상이다.An important factor for the development of mobile communication technology is increasing service capacity and improving call quality. In order to increase the service and improve the communication quality, inter-channel interference is an important issue at all times. Intermodulation distortion (IMD) is an important factor affecting the interference problem.

IMD 는 두 개 이상의 신호 주파수들이 서로 간섭현상을 일으켜 원하지 않는 기생신호를 발생시키는 것으로, 이와 같은 현상이 수동소자에서 나타날 때 수동상호변조왜곡(PIMD;passive Intermodulation distortion)이라고 한다. PIMD는 능동(Active)소자에서 발생하는 active IMD와는 달리 주로 위성통신과 같은 고전력 통신시스템에서만 고려되어 온 현상으로 상용 이동통신에서는 거의 무시되어져 왔다. 하지만 이동통신 서비스가 확장됨에 따라 인접 기지국간의 간섭이 증가하고 그에 따른 IMD 문제도 증가하여 active IMD 뿐만 아니라 PIMD 에대한 문제도 함께 부상하고 있다.The IMD causes two or more signal frequencies to interfere with each other to generate an undesired parasitic signal, which is referred to as passive intermodulation distortion (PIMD) when such a phenomenon appears in a passive element. PIMD has been considered only in high power communication system such as satellite communication unlike active IMD which occurs in active device, and it has been almost ignored in commercial mobile communication. However, as the mobile communication service is expanded, the interference between neighboring base stations increases and the IMD problem increases accordingly, so that not only the active IMD but also the problem of PIMD are emerging.

중계기, 안테나에 사용되는 RF 부품중의 하나인 통신 커넥터는 주요 장치들간의 케이블 및 시스템간 연결에 직접 사용되고 있다.A communication connector, one of the RF components used in repeaters and antennas, is used directly for cable and system connections between the main devices.

커넥터를 비롯한 RF 부품에서 PIMD 발생원인은 접촉 비선형성(contact nonlinearity)과 재료 비선형성(material nonlinearity)으로 크게 구분할 수 있다. 접촉 비선형성의 원인에는 도체들 사이의 얇은 산화피막에 의한 접합용량, 금속 접촉에서 도체들 사이의 반도체 작용에 의한 터널효과, 금속들 사이의 빈틈 공간과 미소 균열에 의한 micro-discharge, 금속표면의 먼지와 오염물질들, 도금피막의 부식, 변색 등에 연관된 비선형성, 금속결합에서 발생되는 수축저항 등이 있으며, 재료 비선형성의 원인에는 니켈, 철, 코발트 등의 히스테리시스 효과 등 자성재료 및 자성재료의 도금 등이 있다.In RF parts including connectors, the cause of PIMD can be roughly classified into contact nonlinearity and material nonlinearity. The causes of contact nonlinearity include the junction capacitance due to the thin oxide film between the conductors, the tunnel effect due to the semiconductor action between the conductors in the metal contact, the gap between the metals and micro-discharge due to microcracks, And non-linearity related to corrosion of the plating film, discoloration, shrinkage resistance caused by metal bonding, etc. The causes of the material nonlinearity include plating of magnetic materials and magnetic materials such as hysteresis effects of nickel, iron and cobalt .

또 RF 커넥터가 설치되는 지역에 따라 즉 공기 중에 염분을 많이 포함하고 있는 바닷가이거나 각종 오염가스가 배출되는 공업지역에서는 표면이 검게 변색되거나 부식되고, 또 납땜특성이 저하되는 문제점이 있었다.In addition, depending on the area where the RF connector is installed, that is, in an industrial area where the sea contains a lot of salinity in the air or various kinds of polluted gas are discharged, there is a problem that the surface is discolored or corroded and the soldering characteristic is lowered.

또한, 통신용 커넥터의 대부분이 황동, 스텐레스 스틸, 알루미늄 등의 금속 소재를 사용하고 있는데 사용 환경에서의 공기 중 부식이 문제가 되는 경우가 많으며, 이 경우 마이크로파와 같은 고주파의 RF 신호를 처리하는 경우에는, RF 접속부 표면에 고주파 전류가 최대로 되는 표피효과(Skin Effect)가 발생되어 신호처리의 손실을 야기하는데 부식은 이 손실을 더욱 증가시키는 요인이 되는 바, 우수한 내식성이 요구된다.In addition, most of the communication connectors use metal materials such as brass, stainless steel, and aluminum. In many cases, corrosion of the air in a use environment is a problem. In this case, when RF signals of high frequency such as microwave are processed , A skin effect which causes a high frequency current to be maximized on the surface of the RF connection portion is generated and causes loss of signal processing. Corrosion causes a further increase in the loss, which requires excellent corrosion resistance.

이와 같이 RF(radio frequency) 및 고주파 통신에서 통화품질과 서비스 용량에 큰 영향을 미치는 PIMD 를 해결하는 기술을 갖는 커넥터의 개발을 위하여 구리 및 구리합금 등의 원소재 상태의 커넥터에 자성체 금속재료가 아닌 도금 금속이나 합금을 표면처리함으로써 이러한 문제점을 극복할 수 있다.In order to develop a connector having a technology for solving the PIMD which greatly affects the communication quality and the service capacity in the RF (radio frequency) and high frequency communication, the connector of the original material such as the copper and the copper alloy, This problem can be overcome by surface treatment of a plated metal or alloy.

현재까지 이동통신 시스템에 사용되는 커넥터의 표면처리는 대부분 자성체인 전해니켈도금 또는 무전해니켈도금을 하여 사용하고 있으며, 무전해니켈도금의 경우 솔더링(soldering)특성이 나쁘며 가스시험과 염수분무시험에서 변색 및 부식현상이 발생하는 단점이 있고, 전해니켈도금의 경우에는 균일한 도금이 이루어지지 않기 때문에 상기에서 언급한 PIMD 현상으로 통신품질 이상 및 통화단절의 원인이 될 수 있다.Until now, the surface treatment of the connector used in the mobile communication system has been mainly conducted by electrolytic nickel plating or electroless nickel plating, which is a magnetic substance. In the case of electroless nickel plating, the soldering characteristic is poor. In the gas test and the salt spray test There is a disadvantage that discoloration and corrosion occur. In the case of electrolytic nickel plating, since uniform plating is not performed, the above-mentioned PIMD phenomenon may cause abnormal communication quality and cut off of communication.

이와 같은 니켈도금의 문제점을 해결하기 위하여 비자성체 재료의 단일 금속이나 합금으로 다층의 도금을 피복하는 경우가 있으나 이는 공정이 복잡하며, 도금비용도 2 ~ 7배 이상으로 증가하게 되며, 또한 금도금 또는 은도금, 팔라듐 합금 등 귀금속도금을 실시하는 경우 우수한 PIMD 특성은 얻을 수는 있으나 제조비용이 많이 들고, 특히 원재료의 가격 변동이 심하여 원재료의 원활한 수급이 용이하지 않는 문제점이 있었다.In order to solve such a problem of nickel plating, a multilayer plating is coated with a single metal or an alloy of a nonmagnetic material, but the process is complicated and the plating cost is increased to 2 to 7 times or more, Silver plating, palladium alloy, etc., it is possible to obtain excellent PIMD characteristics, but the manufacturing cost is high, and in particular, the price fluctuation of the raw material is so severe that the supply of raw materials is not easy.

그리고, 주석니켈 합금도금은 기존에 염화불화물욕, 산성염화물욕 등 전해도금법을 통해 이루어졌으나, 기존 전해도금법은 환경 오염을 발생시키는 문제가 있다.The tin-nickel alloy plating has conventionally been performed by an electrolytic plating method such as a chlorofluorocarbon bath or an acidic chloride bath, but the conventional electrolytic plating method has a problem of causing environmental pollution.

따라서, 제한적인 자원의 환경을 고려하여 금도금 및 은도금 등의 귀금속 도금을 대체할 경제적인 도금의 필요성이 대두 되고 있다.Therefore, there is a need for economical plating to replace precious metal plating such as gold plating and silver plating in consideration of a limited resource environment.

대한민국 등록특허 10-1162584호(공고일 2012.07.04)Korean Patent No. 10-1162584 (Published on July 4, 2012)

이에 본 발명자들은 상기한 바와 같은 문제점과 필요성의 해결을 위해, 본 발명은 실외에서 노출되어 안정적으로 사용할 수 있는 경제적이고 내식성이 강한 유무선통신 커넥터의 도금 등 표면처리액 및 이를 이용하여 피로인산염욕-전해도금법으로 통신용 커넥터를 표면처리하는 방법을 제안하고자 한다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems and to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a surface treating solution, such as plating of a wire / wireless communication connector, which is economically and corrosion- A method of surface-treating a connector for communication by an electrolytic plating method is proposed.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 유무선통신 커넥터 표면처리액은 니켈전구체 및 주석전구체를 포함하는 전구체, 피로인산칼륨(K2P2O7), 하기 화학식 1로 표시되는 화합물 및 암모늄염을 포함하는 표면처리액을 포함한다.In order to solve the above problems, the surface treatment liquid for wire / wireless communication connector of the present invention comprises a precursor including a nickel precursor and a tin precursor, potassium pyrophosphate (K 2 P 2 O 7 ), a compound represented by the following formula And a surface treatment liquid.

[화학식 1][Chemical Formula 1]

Figure 112016103040515-pat00001
Figure 112016103040515-pat00001

화학식 1에 있어서, R1은 수소원자 또는 C1 ~ C5의 직쇄형 알킬기이고, 상기 R2 및 R3는 독립적으로 수소원자, 하이드록실기, C1 ~ C5의 직쇄형 알킬기, C3 ~ C5의 분쇄형 알킬기 또는 페닐기이다.Wherein R 1 is a hydrogen atom or a straight-chain alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, R 2 and R 3 are independently a hydrogen atom, a hydroxyl group, a straight-chain alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, An alkyl group or a phenyl group.

또한 본 발명은 통신용 커넥터를 표면처리하는 방법에 관한 것으로서, 구리합금 및 알루미늄 합금으로 이루어지는 유무선 커넥터 표면이 이물질 및 유기오염물질을 제거 및 세척하는 전처리단계(1단계); 전처리한 유무선 커넥터 표면을 알카리 세정 및 알칼리 전해 세정을 수행하는 세정단계(2단계); 세정 후 잔존한 알칼리 세정 성분을 중화한 후, 유무선 커넥터 표면을 활성화시키는 표면활성화처리 단계(3단계); 표면활성화 처리된 통신용 커넥터 표면에 하지도금층을 형성시키는 단계(4단계); 하지도금층이 1차로 형성된 통신 커넥터를 중화시키는 단계(5단계); 및 하지도금층을 형성된 통신용 커넥터를 피로인산염욕-전해도금법으로 도금처리하여 하지도금층의 표면 상부에 표면처리층을 형성시키는 단계(6단계);를 포함하는 공정을 수행하여 통신용 커넥터를 표면처리할 수 있다.The present invention also relates to a method of surface-treating a communication connector, wherein a surface of a wired / wireless connector formed of a copper alloy and an aluminum alloy has a pretreatment step (step 1) of removing and cleaning foreign matter and organic contaminants; A cleaning step (step 2) of performing alkaline cleaning and alkaline electrolytic cleaning on the surface of the preprocessed wired / wireless connector; A surface activation treatment step (step 3) of neutralizing the remaining alkali cleaning component after cleaning and then activating the surface of the wired / wireless connector; Forming a ground plating layer on the surface of the surface-activated communication connector (step 4); Neutralizing the communication connector formed with the primary plating layer (step 5); And a step of forming a surface treatment layer on the upper surface of the underlying plating layer by plating the communication connector formed with the underlying plating layer by a pyrophosphoric acid salt-electrolytic plating method (step 6), thereby performing the surface treatment of the connector for communication have.

본 발명의 통신용 커텍터 표면처리액은 통신용 커텍터 표면과의 상용성, 도금성이 우수하여, 통신용 커텍터의 내식성, 경도 및 전류효율을 크게 향상시킬 수 있을 뿐만 아니라, 저비용으로 우수한 PIMD 특성을 가지는 도금층을 제공함으로서 통신 커넥터의 성능저하를 방지함과 아울러 제조비용을 절감할 수 있는 효과가 있다. 또한 이종 금속간의 전위차에 의해 발생하는 Galvanic corrosion 도 기존의 도금방법과 비교하여 훨씬 개선되는 효과가 있다.The surface treatment liquid for a communication connector according to the present invention is excellent in compatibility with a surface of a connector for communication and plating ability and can remarkably improve the corrosion resistance, hardness and current efficiency of a communication connector, and has excellent PIMD characteristics at low cost It is possible to prevent deterioration in the performance of the communication connector and to reduce the manufacturing cost. In addition, the galvanic corrosion caused by the potential difference between dissimilar metals is much improved compared with the conventional plating method.

도 1 및 도 2는 실시예 1에서 표면처리된 통신용 커넥터 사진이다.Figs. 1 and 2 are photographs of a connector for a communication surface treated in Example 1. Fig.

이하, 본 발명의 통신용 커텍터 표면처리방법에 대하여 상세하게 설명을 한다.Hereinafter, the method for processing a surface of a communication connector according to the present invention will be described in detail.

본 발명의 통신용 커넥터 표면처리액은 니켈전구체 및 주석전구체를 포함하는 전구체, 피로인산칼륨(K2P2O7), 폴리아민, 하기 화학식 1로 표시되는 화합물 및 암모늄염을 포함하는 표면처리액을 포함한다.The surface treatment liquid for a connector of the present invention includes a surface treatment liquid containing a precursor including a nickel precursor and a tin precursor, potassium pyrophosphate (K 2 P 2 O 7 ), a polyamine, a compound represented by the following general formula (1) do.

[화학식 1][Chemical Formula 1]

Figure 112016103040515-pat00002
Figure 112016103040515-pat00002

화학식 1에 있어서, R1은 수소원자 또는 C1 ~ C5의 직쇄형 알킬기이고, 바람직하게는 수소원자 또는 C1 ~ C3의 직쇄형 알킬기, 더욱 바람직하게는 수소원자 또는 메틸기이다. 그리고, 상기 R2 및 R3는 독립적으로 수소원자, 하이드록실기, C1 ~ C5의 직쇄형 알킬기, C3 ~ C5의 분쇄형 알킬기 또는 페닐기이며, 바람직하게는 R2 및 R3는 독립적으로 수소원자, 하이드록실기 또는 C1 ~ C2의 직쇄형 알킬기이다.In the general formula (1), R 1 is a hydrogen atom or a straight-chain alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, preferably a hydrogen atom or a straight-chain alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, more preferably a hydrogen atom or a methyl group. R 2 and R 3 are independently a hydrogen atom, a hydroxyl group, a straight-chain alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a branched alkyl group having 3 to 5 carbon atoms, or a phenyl group. Preferably, R 2 and R 3 are independently a hydrogen atom , A hydroxyl group or a straight-chain alkyl group having from 1 to 2 carbon atoms.

본 발명의 상기 표면처리액 조성 중 상기 전구체는 니켈 및 주석 함량이 하기 수학식 1을 만족하도록 니켈전구체 및 주석전구체를 포함하는 것이 바람직한데, 이때, 수학식 1 값이 0.25 미만이면 니켈주석(NiSn) 도금층 내 Ni, Ni3Sn2 및 NiSn의 3상 또는 Ni 및 및 NiSn의 2상 혼합조직이 많이 발생하여 도금층의 내식성이 떨어질 수 있으며, 0.45를 초과하면 도금층 내 주석함량이 상대적으로 너무 많아서 도금층의 전기적 특성이 감소하는 문제가 있을 수 있다.In the surface treatment solution composition of the present invention, the precursor preferably includes a nickel precursor and a tin precursor such that the nickel and tin contents satisfy the following formula (1). When the value of the formula (1) is less than 0.25, nickel tin ) Three phases of Ni, Ni 3 Sn 2 and NiSn in the plating layer, or a two-phase mixed structure of Ni and NiSn are formed in a large amount, and the corrosion resistance of the plating layer may be decreased. When the ratio exceeds 0.45, the content of tin in the plating layer is relatively large, There may be a problem that the electrical characteristics of the semiconductor device are reduced.

[수학식 1][Equation 1]

Sn 함량비 = Sn 몰비/(Sn 몰비+Ni 몰비)Sn content ratio = Sn mol ratio / (Sn mol ratio + Ni mol ratio)

그리고, 상기 니켈전구체는 당업계에서 사용하는 일반적인 것을 사용할 수 있으며, 바람직하게는 유기니켈전구체 또는 NiCl2ㆍ2H2O을 사용할 수 있다.The nickel precursor may be a conventional one used in the art, and preferably an organic nickel precursor or NiCl 2 .2H 2 O may be used.

그리고, 상기 주석전구체는 사용하는 일반적인 것을 사용할 수 있으며, 바람직하게는 유기주석전구체 또는 SnCl2ㆍ6H2O을 사용할 수 있다.The tin precursor may be a commonly used one, and preferably an organotin precursor or SnCl 2 .6H 2 O may be used.

본 발명의 표면처리액 성분 중 상기 피로인산칼륨(K2P2O7)의 함량은 상기 전구체 100 중량부에 대하여, 30 ~ 80 중량부를, 바람직하게는 40 ~ 70 중량부를, 더욱 바람직하게는 45 ~ 65 중량부를 포함할 수 있다. 이때, 피로인산칼륨 함량이 30 중량부 미만이면 전해도금이 잘 이루어지지 않을 수 있고, 80 중량부를 초과하면 오히려 니켈주석 도금층의 내식성이 떨어지는 문제가 있을 수 있다.The content of the potassium pyrophosphate (K 2 P 2 O 7 ) in the surface treatment liquid component of the present invention is 30 to 80 parts by weight, preferably 40 to 70 parts by weight, more preferably 30 to 80 parts by weight, 45 to 65 parts by weight. If the content of potassium pyrophosphate is less than 30 parts by weight, electrolytic plating may not be performed well. If it exceeds 80 parts by weight, corrosion resistance of the nickel tin plating layer may be deteriorated.

또한, 본 발명의 표면처리액 성분 중 상기 화학식 1로 표시되는 화합물은 니켈주석 도금시, 니켈과 반응하여 착염을 형성하여 주석과 니켈의 반응을 돕는 역할을 하는 것으로서, 그 함량은 상기 전구체 100 중량부에 대하여, 300 ~ 500 중량부를, 바람직하게는 350 ~ 450 중량부를, 더욱 바람직하게는 350 ~ 400 중량부를 사용하는 것이 좋다. 이때, 상기 화합물 함량이 300 중량부 미만이면 피로인산염욕-전해도금 진행 시간이 길어질 뿐만 아니라, 도금층 내 Ni, Ni3Sn2 및 NiSn의 3상 또는 Ni 및 및 NiSn의 2상 혼합조직 발생 확률이 증가할 수 있으며, 그 사용량이 500 중량부를 초과하면 미반응 화합물이 많이 발생하고 이로 인해 니켈주석 도금 표면의 광택성이 떨어지는 문제가 있을 수 있다.In the surface treatment liquid component of the present invention, the compound represented by the above formula (1) reacts with nickel to form a complex salt upon nickel tin plating to assist in the reaction between tin and nickel, It is preferable to use 300 to 500 parts by weight, preferably 350 to 450 parts by weight, more preferably 350 to 400 parts by weight, based on 100 parts by weight of the resin. If the content of the compound is less than 300 parts by weight, the time for the pyrophosphate bath-electrolytic plating process is prolonged, and the probability of occurrence of three phases of Ni, Ni 3 Sn 2 and NiSn or two phases of Ni and NiSn in the plating layer If the amount of the metal salt is more than 500 parts by weight, unreacted compounds may be generated in a large amount and the surface of the nickel tin plating may be inferior in gloss.

또한, 표면처리액 성분 중 상기 암모늄염은 니켈주석 도금시, 주석전구체로부터 분리된 주석을 안정화시키는 역할을 하는 것으로서, 암모늄염의 함량은 상기 전구체 100 중량부에 대하여, 350 ~ 600 중량부를, 더욱 바람직하게는 400 ~ 550 중량부를, 더욱 바람직하게는 420 ~ 500 중량부로 포함하는 것이 좋다. 이때, 암모늄염 함량이 350 중량부 미만이면 도금층 내 Ni, Ni3Sn2 및 NiSn의 3상 또는 Ni 및 및 NiSn의 2상 혼합조직 발생 확률이 증가할 수 있으며, 암모늄염 함량이 600 중량부를 초과하면 오히려 피로인산염욕-전해도금 진행 시간이 길어지고, 니켈주석 도금 표면의 광택성이 떨어지는 문제가 있을 수 있다. 그리고, 상기 암모늄염은 하기 화학식 2로 표시되는 암모늄염을 사용하는 것이 반응성면에서 바람직하다.The ammonium salt of the surface treatment solution component stabilizes the tin separated from the tin precursor upon nickel tin plating. The content of the ammonium salt is preferably from 350 to 600 parts by weight, more preferably, Is preferably 400 to 550 parts by weight, more preferably 420 to 500 parts by weight. If the content of the ammonium salt is less than 350 parts by weight, the probability of occurrence of the three phases of Ni, Ni 3 Sn 2 and NiSn or the two phases of Ni and NiSn in the plating layer may increase. If the ammonium salt content exceeds 600 parts by weight, The pyrophosphoric acid bath-electrolytic plating progress time is prolonged, and there may be a problem that the glossiness of the surface of the nickel tin plating is inferior. The ammonium salt is preferably an ammonium salt represented by the following formula (2) in terms of reactivity.

[화학식 2](2)

Figure 112016103040515-pat00003
Figure 112016103040515-pat00003

상기 화학식 2에 있어서, R1 내지 R3는 독립적으로 수소원자 또는 C1 ~ C3의 알킬기이며, 바람직하게는 수소원자 또는 메틸기이다. 그리고, X는 할로겐원자, 바람직하게는 불소원자 또는 염소원자이다.In the general formula (2), R 1 to R 3 are independently a hydrogen atom or a C1 to C3 alkyl group, preferably a hydrogen atom or a methyl group. And X is a halogen atom, preferably a fluorine atom or a chlorine atom.

또한, 본 발명의 표면처리액은 상기 전구체, 피로인산칼륨(K2P2O7), 폴리아민, 하기 화학식 1로 표시되는 화합물 및 암모늄염 외에 폴리아민을 더 포함할 수도 있다. 그리고, 폴리아민의 함량은 상기 전구체 100 중량부에 대하여, 2 ~ 10 중량부를, 바람직하게는 2 ~ 8 중량부를, 더욱 바람직하게는 3 ~ 5 중량부를 사용하는 것이 좋다. 이때, 폴리아민의 함량이 2 중량부 미만이면 이를 투입함으로 인한 효과를 볼 수 없을 수 있고, 10 중량부를 초과하면 니켈과 화학식 1로 표시되는 화합물이 착염을 형성하는 것을 방해할 수 있으므로 상기 범위 내로 사용하는 것이 좋다.The surface treating solution of the present invention may further comprise a polyamine in addition to the precursor, potassium pyrophosphate (K 2 P 2 O 7 ), polyamine, compound represented by the following formula (1) and ammonium salt. The content of the polyamine is preferably 2 to 10 parts by weight, preferably 2 to 8 parts by weight, more preferably 3 to 5 parts by weight based on 100 parts by weight of the precursor. If the content of the polyamine is less than 2 parts by weight, the effect of injecting the polyamine may not be obtained. If the content of the polyamine exceeds 10 parts by weight, the nickel and the compound represented by the formula (1) It is good to do.

이러한 본 발명의 표면처리액은 pH 3.5 ~ 5.5, 바람직하게는 3.7 ~ 5.3, 더욱 바람직하게는 3.8 ~ 5.2일 수 있다.The surface treatment liquid of the present invention may have a pH of 3.5 to 5.5, preferably 3.7 to 5.3, more preferably 3.8 to 5.2.

이하에서는 앞서 설명한 표면처리액을 이용하여 통신용 커넥터를 표면처리하는 방법에 대하여 설명을 한다.Hereinafter, a method of surface-treating a communication connector using the above-described surface treatment liquid will be described.

또한 본 발명은 통신용 커넥터를 표면처리하는 방법에 관한 것으로서, 구리합금 및 알루미늄 합금으로 이루어지는 유무선 커넥터 표면에 존재하는 이물질 및 유기오염물질을 제거 및 세척하는 전처리단계(1단계); 전처리한 유무선 커넥터 표면을 알카리 세정 및 알칼리 전해 세정을 수행하는 세정단계(2단계); 세정 후 잔존한 알칼리 세정 성분을 중화한 후, 유무선 커넥터 표면을 활성화시키는 표면활성화처리 단계(3단계); 표면활성화 처리된 통신용 커넥터 표면에 하지도금층을 형성시키는 단계(4단계); 하지도금층이 1차로 형성된 통신 커넥터를 중화시키는 단계(5단계); 및 하지도금층을 형성된 통신용 커넥터를 피로인산염욕-전해도금법으로 도금처리하여 하지도금층의 표면 상부에 표면처리층을 형성시키는 단계(6단계);를 포함하는 공정을 수행하여 통신용 커넥터를 표면처리할 수 있다.The present invention also relates to a method of surface-treating a communication connector, comprising a pre-treatment step (step 1) of removing and cleaning foreign matter and organic contaminants present on the surface of a wire / wireless connector made of a copper alloy and an aluminum alloy; A cleaning step (step 2) of performing alkaline cleaning and alkaline electrolytic cleaning on the surface of the preprocessed wired / wireless connector; A surface activation treatment step (step 3) of neutralizing the remaining alkali cleaning component after cleaning and then activating the surface of the wired / wireless connector; Forming a ground plating layer on the surface of the surface-activated communication connector (step 4); Neutralizing the communication connector formed with the primary plating layer (step 5); And a step of forming a surface treatment layer on the upper surface of the underlying plating layer by plating the communication connector formed with the underlying plating layer by a pyrophosphoric acid salt-electrolytic plating method (step 6), thereby performing the surface treatment of the connector for communication have.

본 발명에 있어서, 상기 통신용 커넥터는 내식성 확보 및 PIMD 개선을 위해 도금이 수행되는 다양한 종류의 통신용 커넥터에 적용될 수 있을 것이다. 예를 들어, 도시된 DIN Type 커넥터 이외에도 N Type, TNC Type, BNC Type, SMA Type 등 다양한 종류의 통신용 커넥터에 적용될 수 있다.In the present invention, the communication connector may be applied to various types of communication connectors in which plating is performed for securing corrosion resistance and improving PIMD. For example, it can be applied to various types of communication connectors such as N type, TNC type, BNC type, and SMA type in addition to the illustrated DIN type connector.

상기 1단계는 전처리 단계로서, 구리합금 및 알루미늄 합금으로 이루어지는 피도금 소재의 통신용 커넥터 표면의 이물질 및 유기오염물질을 제거 및 세척하는 단계로서, 당업계에서 사용하는 일반적인 방법을 통해서 세척을 수행할 수 있다. 세척 방법에 대하여 좀 더 구체적으로 설명하면, 이물질 및 유기물 제거를 위해 용제탈지 또는 알칼리 침지탈지를 실시할 수 있으며, 침지탈지에 사용되는 용액은 인산소다 10 ~ 20g/ℓ 와 규산소다 30 ~ 50g/ℓ의 혼합용액에 약 5 ~ 15분 동안 침지시켜 처리할 수 있다. 이때 인산소다와 규산소다의 혼합용액의 온도는 40 ~ 70℃ 로 할 수 있다. 그 다음, 다단의 향류수세조에서 차례로 세척할 수 있다.The first step is a pre-treatment step of removing foreign substances and organic contaminants on the surface of the connector for a plated material made of a copper alloy and an aluminum alloy, and can be cleaned by a general method used in the art have. More specifically, the cleaning method may include solvent degreasing or alkali immersion degreasing to remove foreign substances and organic matter, and the solution used for immersion degreasing may be 10-20 g / l of sodium phosphate, 30-50 g / lt; / RTI > solution for about 5 to 15 minutes. In this case, the temperature of the mixed solution of sodium phosphate and sodium silicate may be 40 to 70 ° C. Then, it can be sequentially washed in a multi-stage countercurrent water bath.

상기 2단계는 전처리한 통신용 커넥터를 전해도금 시 도금층의 밀착력을 강화하기 위해 알카리 세정과 알카리 전해 세정을 행하는 단계로서. 이것은 전기분해를 행하여 탈지세정을 증대시키는 효과를 갖도록 하기 위한 것이다. 좀 더 구체적으로 설명하면 알카리 전해 세정은 통신용 커넥터 제품을 음극으로 통전하여 음극전해탈지를 실시하며, 용액은 120g/ℓ 농도의 시안화소다 수용액에서 1 ~ 3분간 처리하고, 온도는 상온(15 ~ 30℃)에서 60℃까지 사용이 가능하다. 그 다음, 다단의 향류수세조에서 차례로 세척한다.The second step is a step of performing alkaline cleaning and alkaline electrolytic cleaning in order to enhance the adhesion of the plating layer during electrolytic plating of the pre-treated communication connector. This is intended to have an effect of increasing degreasing cleaning by performing electrolysis. More specifically, the alkaline electrolytic washing is conducted by electrolytically degreasing the negative electrode by applying a communication connector to a negative electrode. The solution is treated for 1 to 3 minutes in an aqueous solution of sodium cyanide at a concentration of 120 g / l, ℃) to 60 ℃ can be used. Then, in the multi-stage countercurrent water bath, wash sequentially.

상기 3단계는 세정단계에서 세정 후 피도금 소재인 통신용 커넥터이 표면에 잔존한 알칼리성분을 처리하여 중화하고 또 산화피막 및 무기오염물질을 제거하여 도금전 표면을 활성화시키는 단계이다. 이렇게 함으로써 도금층에 도금액이 침투하기 용이하게 되어 커넥터의 품질이 균질화되는 효과를 갖게 하기 위한 것이다. 바람직한 구체적인 일례를 들면, 통신 커넥터를 산활성화조에 1 ~ 2분 동안 넣어 산화피막을 제거할 수 있다. 이때, 산용액은 8 ~ 15% 황산수용액에서, 바람직하게는 8 ~ 12% 황산수용액을 사용하는 것이 바람직하다.Step 3 is a step of treating the alkaline component remaining on the surface of the connector for communication, which is a material to be plated, after cleaning in the cleaning step to neutralize and remove the oxide film and the inorganic contaminants to activate the surface before plating. By doing so, the plating liquid can easily permeate into the plating layer, and the quality of the connector can be homogenized. As a specific preferable example, the oxide film can be removed by putting the communication connector in the acid activation tank for 1 to 2 minutes. At this time, it is preferable to use an aqueous solution of 8 to 15% sulfuric acid, preferably an aqueous solution of 8 to 12% sulfuric acid.

상기 4단계는 도금층의 밀착력 강화를 위해 피도금 소재의 하지도금으로 동도금, 은도금 및/또는 주석도금을 실시하는 단계이며, 이때의 도금조건은 동도금은 45 ~ 55℃에서 1 ~ 3분 동안 실시하는 것이 좋으며, 은도금은 20 ~ 30℃에서 1 ~ 3분 동안 실시하는 것이 좋다.In the step 4, copper plating, silver plating and / or tin plating are performed by undercoating of the plating material in order to enhance adhesion of the plating layer. The copper plating is performed at 45 to 55 ° C for 1 to 3 minutes And silver plating is preferably performed at 20 to 30 ° C for 1 to 3 minutes.

상기 동도금의 경우, 시안화동 20 ~ 50g/ℓ, 시안화소다 40 ~ 65g/ℓ, 가성소다 5 ~ 20g/ℓ, 탄산소다 10 ~ 20g/ℓ 및 로셀염 20 ~ 60g/ℓ을 포함하는 동도금액을 이용하여 하지도금을 수행할 수 있다.In the case of the above copper plating, the copper plating solution containing 20 to 50 g / L of cyanogen chloride, 40 to 65 g / L of cyanide, 5 to 20 g / L of caustic soda, 10 to 20 g / L of sodium carbonate and 20 to 60 g / So that the underlying plating can be performed.

또한, 상기 은도금의 경우, 시안화소다 60 ~ 150g/ℓ 및 시은화은칼륨 1.4 ~ 4.0g/ℓ을 포함하는 은도금액을 이용하여 하지도금을 수행할 수 있다.In the case of silver plating, the base plating may be performed using a silver plating solution containing 60 to 150 g / l of sodium cyanide and 1.4 to 4.0 g / l of potassium silicate.

그리고, 상기 주석도금의 경우, 황산주석 25 ~ 40g/ℓ 및 황산과 광택제 5 ~ 20㎖/ℓ을 포함하는 주석도금액으로 하지도금을 수행할 수 있다.In the case of the tin plating, the underlying plating may be performed using a tin plating solution containing 25 to 40 g / l of tin sulfate and 5 to 20 ml / l of sulfuric acid and a brightener.

그리고, 상기 하지도금액 및 첨가제의 양은 품질요건 및 수요자의 요청에 의해 변경될 수 있다. 다음, 다단의 향류수세조에서 차례로 세척할 수 있다.And, the amount of the soymilk amount and the amount of the additive may be changed according to the quality requirement and the request of the consumer. Then, it can be washed sequentially in a multi-stage countercurrent water bath.

4단계 수행 후, 6단계 수행 전에 상기 하지도금층이 1차로 형성된 통신 커넥터를 중화시키는 공정을 더 수행할 수 있으며, 중화시키기 위해 8 ~ 15% 황산수용액에서, 바람직하게는 8 ~ 12% 황산수용액에서 30 ~ 50초 동안 침지시켜 처리하며, 이때의 온도는 상온(15 ~ 30℃)이다. 다음, 다단의 향류수세조에서 차례로 세척할 수 있다.After the fourth step is performed, before the sixth step, neutralization of the communication connector in which the underlying plating layer is formed first may be further performed. In order to neutralize the neutralization, the neutralization may be carried out in an aqueous solution of 8 to 15% sulfuric acid, preferably in an aqueous solution of 8 to 12% It is immersed for 30 to 50 seconds, and the temperature is room temperature (15 to 30 ° C). Then, it can be washed sequentially in a multi-stage countercurrent water bath.

상기 6단계는 니켈주석 도금층을 형성시키는 공정으로서, 앞서 설명한 본 발명의 통신용 커넥터 표면처리액을 이용하여 하지도금층이 형성된 통신용 커넥터를 기존의 염화불화물욕, 산성염화물욕 등 전해도금법이 아닌 피로인산염욕-전해도금법을 수행하여 니켈주석 도금층을 형성시키는 공정이다. 표면처리액은 앞서 설명한 바와 동일하다. 그리고, 피로인산염욕-전해도금 수행 조건을 설명하면, 온도 70℃ ~ 90℃, 교반속도 200 ~ 800rpm 및 전류밀도 0.25 ~ 2.00A/dm2 조건 하에서, 바람직하게는 온도 75 ~ 88℃, 교반속도 300 ~ 600rpm 및 전류밀도 0.50 ~ 1.50A/dm2 조건 하에서, 하지도금층이 형성된 통신용 커넥터를 상기 통신용 커넥터 표면처리액에 투입하여 수행할 수 있다. 그리고, 피로인산염욕-전해도금 수행시 양극은 니켈도금된 티타늄 전극을 사용하는 것이 바람직하다.The above-mentioned step 6 is a step of forming a nickel tin plating layer. The above-described communication connector in which the base plating layer is formed by using the above-described surface treatment liquid for communication connector of the present invention is applied to a pyrophosphate bath - Electrolytic plating is performed to form a nickel tin plating layer. The surface treatment liquid is the same as described above. The conditions for performing the pyrophosphoric acid bath-electrolytic plating will be described below. Temperature 70 ℃ ~ 90 ℃, under a stirring speed of 200 to 800rpm, and a current density of 0.25 ~ 2.00A / dm 2 conditions, and preferably at a temperature 75 ~ 88 ℃, stirring speed 300 ~ 600rpm and a current density of 0.50 ~ 1.50A / dm 2 Conditions , A communication connector in which a base plating layer is formed can be inserted into the surface treatment liquid of the communication connector. In addition, it is preferable to use a nickel-plated titanium electrode as a positive electrode when performing the pyrophosphoric acid bath-electrolytic plating.

6단계의 표면처리층은 Sn 50 ~ 62 중량% 및 Ni 38 ~ 50 중량%로, 바람직하게는 Sn 53 ~ 60 중량% 및 Ni 40 ~ 47 중량%를 포함할 수 있으며, 물론, Sn, Ni 외에 기타 불가피한 불순물 및 소량의 Ni3Sn2 및/또는 NiSn을 포함할 수도 있다.The surface treatment layer in the sixth step may contain 50 to 62% by weight of Sn and 38 to 50% by weight of Ni, preferably 53 to 60% by weight of Sn and 40 to 47% by weight of Ni. Of course, Other inevitable impurities and a small amount of Ni 3 Sn 2 and / or NiSn.

또한, 본 발명의 표면처리방법은 표면처리한 통신용 커넥터를 변색방지 처리 및 세척을 수행하는 단계(7단계)를 더 수행할 수도 있다. 바람직한 구체적인 일례를 들면, 최종 표면도금이 실시된 통신 커넥터를 5 ~ 10% 농도의 봉공처리제 40 ~ 120초 동안 처리하여 표면도금층의 변색을 방지할 수 있다. 이때 공정온도는 상온(15 ~ 30℃) 내지 50℃로 하는 것이 좋다. 그 다음, 다단의 향류수세조에서 차례로 세척할 수 있다.In addition, the surface treatment method of the present invention may further carry out a step (step 7) of carrying out the surface-treated communication connector for discoloration prevention and cleaning. As a specific preferable example, it is possible to prevent discoloration of the surface plated layer by treating the communication connector subjected to the final surface plating for 40 to 120 seconds with a sealing treatment agent having a concentration of 5 to 10%. At this time, it is preferable to set the process temperature at room temperature (15 to 30 ° C) to 50 ° C. Then, it can be sequentially washed in a multi-stage countercurrent water bath.

또한, 본 발명의 표면처리방법은 에어로 탈수 및 건조를 수행하는 단계(8단계)를 더 포함할 수도 있으며, 이의 방법은 당업계에서 사용하는 일반적인 방법을 사용하여 수행할 수 있다.Further, the surface treatment method of the present invention may further include a step (step 8) of performing air dewatering and drying, and the method may be carried out using a general method used in the art.

이렇게 제조된 본 발명의 통신용 커넥터는 통신용 커넥터 표면에 형성된 평균두께 1 ~ 3㎛의 하지도금층 및 하지도금층 상부에 형성된 평균두께 1 ~ 5㎛의 니켈주석 표면처리층(도금층)을, 바람직하게는 평균두께 1.5 ~ 2.5㎛의 하지도금층 및 하지도금층 상부에 형성된 평균두께 1.5 ~ 3.5㎛의 니켈주석 표면처리층(도금층)을 포함할 수 있다.The communication connector according to the present invention thus manufactured has a base metal plating layer having an average thickness of 1 to 3 占 퐉 formed on the surface of the connector for communication and a nickel tin surface treatment layer (plating layer) having an average thickness of 1 to 5 占 퐉 formed on the base plating layer, And a nickel tin surface treatment layer (plating layer) having an average thickness of 1.5 to 3.5 占 퐉 formed on the underlying plating layer and a base plating layer having a thickness of 1.5 to 2.5 占 퐉.

이때, 하지도금층의 평균두께가 1㎛ 미만이면 내식성 및 주파수 특성이 떨어지는 문제가 있을 수 있다. 그리고, 니켈주석 표면처리층의 평균두께가 1㎛ 미만이면 내식성이 저하되는 문제가 있을 수 있고, 5㎛를 초과하면 도금층이 크렉이 발생해 주파수특성 및 내식성이 저하하는 문제가 있을 수 있으므로 상기 범위 내의 두께를 가지도록 형성시키는 것이 좋다.At this time, if the average thickness of the underlying plated layer is less than 1 탆, corrosion resistance and frequency characteristics may be deteriorated. If the average thickness of the nickel-tin surface treatment layer is less than 1 占 퐉, corrosion resistance may be deteriorated. If the average thickness exceeds 5 占 퐉, cracks may occur in the plating layer to deteriorate frequency characteristics and corrosion resistance. It is preferable that the thickness is formed to be within the thickness.

이하 본 발명을 바람직한 실시예를 참고로 하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein.

[실시예][Example]

실시예 1 : 통신용 커넥터 표면처리액의 제조Example 1: Preparation of connector surface treatment liquid

하기 수학식 1에 의거할 때, Sn 함량비가 0.347을 만족하도록 NiCl2ㆍ2H2O 및 SnCl2ㆍ6H2O을 혼합하여 전구체를 준비하였다.Based on the following formula (1), NiCl 2 .2H 2 O and SnCl 2 .6H 2 O were mixed to prepare a precursor so that the Sn content ratio satisfies 0.347.

[수학식 1][Equation 1]

Sn 함량비 = Sn 몰비/(Sn 몰비+Ni 몰비)Sn content ratio = Sn mol ratio / (Sn mol ratio + Ni mol ratio)

다음으로, 상기 전구체 100 중량부에 대하여, 피로인산칼륨(K2P2O7) 55 중량부, 하기 화학식 1로 표시되는 화합물 370 중량부, 하기 화학식 2로 표시되는 암모늄염 450 중량부 및 폴리아민 3.7 중량부를 혼합하여 pH 4.9 ~ 5.0인 표면처리액을 제조하였다.Subsequently, 55 parts by weight of potassium pyrophosphate (K 2 P 2 O 7 ), 370 parts by weight of a compound represented by the following formula (1), 450 parts by weight of an ammonium salt represented by the following formula (2) Were mixed to prepare a surface treating solution having a pH of 4.9 to 5.0.

[화학식 1][Chemical Formula 1]

Figure 112016103040515-pat00004
Figure 112016103040515-pat00004

화학식 1에 있어서, R1은 메틸기이고, 상기 R2 및 R3는 모두 에틸기이다.In Formula (1), R 1 is a methyl group, and R 2 and R 3 are all an ethyl group.

[화학식 2](2)

Figure 112016103040515-pat00005
Figure 112016103040515-pat00005

상기 화학식 2에 있어서, R1 내지 R3는 메틸기이다. 그리고, X는 염소원자이다.In the general formula (2), R 1 to R 3 are methyl groups. And X is a chlorine atom.

실시예 2 ~ 실시예 3Examples 2 to 3

상기 실시예 1과 동일한 방법으로 통신용 커넥터 표면처리액을 제조하되, 전구체의 Sn 함량비를 하기 표 1과 같이 되도록 전구체를 준비한 후, 이를 이용하여 표면처리액을 제조하여, 실시예 2 및 실시예 3을 각각 실시하였다.A surface treatment liquid for a communication connector was prepared in the same manner as in Example 1 except that the precursor was prepared so that the Sn content ratio of the precursor was as shown in Table 1 and then the surface treatment liquid was prepared using the same, 3 respectively.

구분division Sn
함량비
Sn
Content ratio
전구체
(중량부)
Precursor
(Parts by weight)
피로인산칼륨
(중량부)
Potassium pyrophosphate
(Parts by weight)
화학식1 화합물
(중량부)
Compound (1)
(Parts by weight)
암모늄염
(중량부)
Ammonium salt
(Parts by weight)
폴리아민
(중량부)
Polyamine
(Parts by weight)
pHpH
실시예 1Example 1 0.3470.347 100100 5555 370370 450450 3.73.7 4.9~5.04.9-5.0 실시예 2Example 2 0.2850.285 100100 5555 370370 450450 3.73.7 4.7~4.84.7 to 4.8 실시예 3Example 3 0.4310.431 100100 5555 370370 450450 3.73.7 5.0~5.15.0 to 5.1 실시예 4Example 4 0.3470.347 100100 5555 400400 435435 8.28.2 4.9~5.04.9-5.0 실시예 5Example 5 0.3470.347 100100 6565 445445 500500 3.73.7 5.3~5.45.3 to 5.4 실시예 6Example 6 0.3470.347 100100 4242 350350 380380 3.73.7 4.4~4.54.4 ~ 4.5 비교예 1Comparative Example 1 0.2250.225 100100 5555 370370 450450 3.73.7 4.9~5.04.9-5.0 비교예 2Comparative Example 2 0.5050.505 100100 5555 370370 450450 3.73.7 4.9~5.04.9-5.0 비교예 3Comparative Example 3 0.3470.347 100100 2525 370370 450450 3.73.7 4.9~5.04.9-5.0 비교예 4Comparative Example 4 0.3470.347 100100 100100 370370 450450 3.73.7 4.8~4.94.8 to 4.9 비교예 5Comparative Example 5 0.3470.347 100100 5555 270270 450450 3.73.7 4.7~4.84.7 to 4.8 비교예 6Comparative Example 6 0.3470.347 100100 5555 370370 315315 3.73.7 4.7~4.84.7 to 4.8 비교예 7Comparative Example 7 0.3470.347 100100 5555 370370 650650 3.73.7 5.4~5.55.4 to 5.5 비교예 8Comparative Example 8 0.3470.347 100100 5555 370370 450450 1212 5.4~5.55.4 to 5.5

제조예Manufacturing example 1 :  One : 표면처리된Surface-treated 통신용 커넥터의 제조 Manufacture of communication connector

인산소다 16g/ℓ 및 규산소다 42g/ℓ의 혼합용액에 통신용 커넥터를 52 ~ 54 하에서 10분간 침지시켜서 통신용 커넥터 표면의 이물질을 제거한 후, 이를 꺼내서 향류수세조에서 세척하여 전처리를 수행하였다.The communication connector was immersed in a mixed solution of 16 g / l of sodium phosphate and 42 g / l of sodium silicate for 10 minutes under the condition of 52 to 54 to remove foreign matters on the surface of the communication connector, and then taken out and washed in the countercurrent water bath to perform pretreatment.

다음으로, 전치리한 통신용 커넥터를 음극으로 하여 35 ~ 36의 시안화소다 수용액에 침지시킨 후, 통신용 커텍터에 통전시켜서 2분간 알칼리 전해 세정을 수행하였고, 이를 꺼내서 향류수세조에서 세척하였다.Subsequently, the pre-treated communication connector was immersed in an aqueous solution of 35 to 36 sodium cyanide as a negative electrode, and then subjected to alkaline electrolytic washing for 2 minutes by energizing the communication connector, which was taken out and washed in a countercurrent water bath.

다음으로, 알칼리 전해 세정을 수행한 통신용 커넥터를 중화시킨 다음, 산용액이 담긴 산활성화조에 1분 20초간 넣어서 산화피막을 제거하여 표면활성화처리를 수행하였다. 이때, 상기 산용액은 10 부피% 농도의 황산 수용액이다.Next, the communication connector subjected to the alkali electrolytic cleansing was neutralized and then put in the acid activation tank containing the acid solution for 1 minute and 20 seconds to remove the oxide film, thereby performing the surface activation treatment. At this time, the acid solution is an aqueous sulfuric acid solution having a concentration of 10% by volume.

그리고, 표면활성화처리한 통신용 커넥터를 꺼내어 다단의 향류수세조에서 차례로 세척하였다.Then, the surface-activated communication connector was taken out and washed sequentially in the multi-stage countercurrent water bath.

다음으로, 표면활성화처리한 통신용 커텍터 은 도금엑으로 20 ~ 30℃에서 2분 동안 실시한 후, 이를 주석 도금액으로 재도금처리하여 하지도금을 수행하였다.Next, the surface-activated communication connector was subjected to plating treatment at 20 to 30 ° C for 2 minutes using a plating bath and then re-plating with a tin plating solution.

이때, 은 도금액은 시안화소다 110g/ℓ 및 시은화은칼륨 2.7g/ℓ을 포함하고, 상기 주석 도금액은 황산주석 32g/ℓ, 황산 8㎖/ℓ 및 광택제 11㎖/ℓ을 포함한다.At this time, the silver plating solution contains 110 g / l of sodium cyanide and 2.7 g / l of potassium silicate, and the tin plating solution contains 32 g / l of tin sulfate, 8 ml / l of sulfuric acid and 11 ml /

다음으로, 하지도금시킨 통신용 커넥터를 10 부피% 농도의 황산 수용액(27 ~ 28℃)에 40초간 담궈서 중화처리를 수행한 다음, 다단의 향류수세조에서 세척하였다. 이때, 하지도금층의 총두께는 2.2㎛였다.Next, the grounding-plated communication connector was immersed in a sulfuric acid aqueous solution (27 to 28 DEG C) at a concentration of 10 vol% for 40 seconds to neutralize, and then washed in a multi-stage countercurrent water bath. At this time, the total thickness of the underlying plated layer was 2.2 탆.

다음으로, 하지도금층이 형성된 통신용 커넥터를 실시예 1에서 제조한 통신용 커넥터 표면처리액을 이용하여 피로인산염욕-전해도금을 수행하였다. 이때, 피로인산염욕-전해도금은 온도 82 ~ 83℃, 교반속도 450 ~ 460rpm 및 전류밀도 1.0A/dm2 조건 하에서 수행하였으며, 음극은 구리시트, 양극은 니켈도금된 티타늄 전극을 사용하였다. 형성된 표면처리층은 Sn 55.5 중량% 및 Ni 44.5 중량%였으며, 표면처리층 두께는 2.7㎛였다.Next, the communication connector in which the base plating layer was formed was subjected to the pyrophosphoric acid bath-electrolytic plating using the communication connector surface treatment solution prepared in Example 1. [ At this time, the pyrophosphoric acid bath-electrolytic plating was performed under the conditions of a temperature of 82 to 83 ° C, a stirring rate of 450 to 460 rpm and a current density of 1.0 A / dm 2 , and a copper sheet was used as the cathode and a nickel electrode plated with nickel as the anode. The surface treatment layer formed was 55.5% by weight of Sn and 44.5% by weight of Ni, and the surface treatment layer thickness was 2.7 占 퐉.

다음으로, 피로인산염욕-전해도금을 수행한 통신용 커넥터를 7.8% 농도의 봉공처리제로 40 ~ 42℃ 하에서 90초 동안 처리한 다음, 다단의 향류수세조에서 수세하였다.Next, the communication connector subjected to the pyrophosphoric acid bath-electrolytic plating was treated with a sealing agent at a concentration of 7.8% at 40 to 42 DEG C for 90 seconds and then washed with a multi-stage countercurrent water bath.

다음으로 이를 에어로 탈수 및 건조시켜서 도 1 및 도 2와 사진으로 나타낸 통신용 커넥터를 제조하였다.Next, it was dewatered with air and dried to produce a connector for communication shown in Fig. 1 and Fig. 2 and the photograph.

제조예 2 ~ 제조예 6 및 비교제조예 1 ~ 비교제조예 8Production Example 2 to Production Example 6 and Comparative Production Example 1 to Comparative Production Example 8

상기 제조예 1과 동일한 방법으로 통신용 커넥터를 표면처리하되, 실시예 1의 표면처리액 대신 실시예 2 ~ 6 및 비교제조예 1 ~ 8의 표면처리액을 각각 사용하여 제조예 2 ~ 6 및 비교제조예 1 ~ 8을 차례대로 각각 실시하여, 표면처리된 통신용 커넥터를 제조하였다.The surface of the connector for communication was surface-treated in the same manner as in Production Example 1 except that the surface treatment solutions of Examples 2 to 6 and Comparative Production Examples 1 to 8 were used in place of the surface treatment solution of Example 1, Production Examples 1 to 8 were respectively carried out in order to prepare a surface-treated communication connector.

실험예 1 : 내식성 및 광택성 측정실험Experimental Example 1: Measurement of corrosion resistance and gloss

상기 제조예 및 비교제조예에서 제조한 표면처리된 통신용 커넥터의 내식성 및 광택성을 측정하였다. 이때, 내식성 측정은 KS D 9502에 의한 중성염수분무시험을 통해 수행하였고, 그 결과는 하기 표 2에 나타내었다.The corrosion resistance and gloss of the surface-treated communication connector manufactured in the above Production Examples and Comparative Production Examples were measured. At this time, the corrosion resistance measurement was carried out through a neutral salt spray test according to KS D 9502, and the results are shown in Table 2 below.

중성분무 염수시간Neutral spray brine time 240 시간240 hours 480 시간480 hours 720 시간720 hours 광택성Glossiness 제조예 1Production Example 1 PassPass PassPass PassPass 좋음good 제조예 2Production Example 2 PassPass PassPass PassPass 좋음good 제조예 3Production Example 3 PassPass PassPass PassPass 좋음good 제조예 4Production Example 4 PassPass PassPass PassPass 좋음good 제조예 5Production Example 5 PassPass PassPass PassPass 좋음good 제조예 6Production Example 6 PassPass PassPass PassPass 좋음good 비교제조예 1Comparative Preparation Example 1 PassPass FailFail FailFail 좋음good 비교제조예 2Comparative Production Example 2 PassPass PassPass PassPass 나쁨Poor 비교제조예 3Comparative Production Example 3 FailFail FailFail FailFail 나쁨Poor 비교제조예 4Comparative Production Example 4 PassPass PassPass FailFail 좋음good 비교제조예 5Comparative Preparation Example 5 PassPass PassPass FailFail 나쁨Poor 비교제조예 6Comparative Preparation Example 6 PassPass PassPass FailFail 좋음good 비교제조예 7Comparative Preparation Example 7 PassPass PassPass PassPass 나쁨Poor 비교제조예 8Comparative Preparation Example 8 PassPass PassPass FailFail 나쁨Poor

상기 표 1의 내식성 측정 결과를 살펴보면, 제조예 1 ~ 6은 전반적으로 내식성 및 광택성이 우수한 결과를 보였다. 이에 반해, 전구체 내 Sn 함량비가 0.25 미만인 비교제조예 1의 경우, 니켈주석 도금층 내 Ni, Ni3Sn2 및 NiSn의 3상 또는 Ni 및 NiSn의 2상 혼합조직이 많이 발생하여 도금층의 내식성이 떨어지는 결과를 보였다.As a result of the corrosion resistance measurement of Table 1, Production Examples 1 to 6 showed excellent corrosion resistance and glossiness as a whole. On the other hand, in Comparative Preparation Example 1 in which the Sn content ratio in the precursor was less than 0.25, a three-phase structure of Ni, Ni 3 Sn 2 and NiSn or a two-phase mixed structure of Ni and NiSn in the nickel tin plating layer was generated in many cases, Results.

또한, 피로인산칼륨 사용량이 30 중량부 미만이었던 비교제조예 3의 경우, 전해도금이 잘 이루어지지 않은 결과 내식성이 좋지 못했고, 피로인산칼륨 사용량이 80 중량부를 초과한 비교제조예 4의 경우 오히려 내식성이 떨어지는 결과를 보였다.In Comparative Production Example 3 where the amount of potassium pyrophosphate used was less than 30 parts by weight, the corrosion resistance was poor as a result of poor electrolytic plating. In Comparative Production Example 4 in which the amount of potassium pyrophosphate was more than 80 parts by weight, Showed the result of falling.

또한, 화학식 1로 표시되는 화합물의 사용량이 300 중량부 미만이었던 비교제조예 5 및 암모늄염 사용량이 350 중량부를 미만으로 사용한 비교제조예 6의 경우, 내식성이 좋지 않은 결과를 보였는데, 이는 도금층 내 비교제조예 1과 같이 혼합조직이 발생하여 도금층의 내식성이 떨어진 것으로 판단된다.In Comparative Preparation Example 5 in which the amount of the compound represented by Chemical Formula 1 was less than 300 parts by weight and Comparative Preparation Example 6 in which the amount of ammonium salt was less than 350 parts by weight, the corrosion resistance was poor, It was judged that the mixed structure was formed as in Production Example 1 and the corrosion resistance of the plating layer was deteriorated.

그리고, 폴리아민은 10 중량부 초과 사용한 비교제조예 8의 경우, 폴리아민 과량 사용으로 인해 니켈과 화학식 1로 표시되는 화합물이 착염을 형성하는 것을 방해되어 내식성이 떨어진 결과를 보였다.In Comparative Preparation Example 8 in which the polyamine was used in an amount exceeding 10 parts by weight, nickel and the compound represented by the formula (1) were prevented from forming a complex due to excessive use of the polyamine, and the corrosion resistance was deteriorated.

그리고, 전구체 내 Sn 함량비가 0.45를 초과한 비교제조예 2 및 암모늄염 사용량이 600 중량부를 초과한 비교제조예 7의 경우, 내식성은 우수했으나, 광택성이 좋지 않은 결과를 보였다.Comparative Preparation Example 2 in which the Sn content ratio in the precursor was more than 0.45 and Comparative Preparation Example 7 in which the amount of the ammonium salt was more than 600 parts by weight showed excellent corrosion resistance but poor gloss.

제조예 7 ~ 제조예 8 및 비교제조예 9 ~ 비교제조예 10Production Example 7 to Production Example 8 and Comparative Production Example 9 to Comparative Production Example 10

상기 제조예 1과 동일한 방법으로 하지도금층 형성 및 실시예 1의 표면처리액을 이용하여 피로인산염욕-전해도금 수행 조건을 수행하되, 피로인산염욕-전해도금 수행시, 온도 60 ~ 61℃, 교반속도 480 ~ 490rpm 및 전류밀도 1.45A/dm2 조건 하에서 수행하였으며, 양극은 음극은 구리시트, 양극은 니켈도금된 티타늄 전극을 사용하였다. 형성된 표면처리층은 Sn 57.4 중량% 및 Ni 42.6 중량%였으며, 표면처리층 두께는 3.3㎛였다.In the same manner as in Preparation Example 1, the undercoat layer was formed and the surface treatment solution of Example 1 was used to carry out the pyrophosphoric acid salt bath-electrolytic plating operation. In the pyrophosphoric acid bath-electrolytic plating, A speed of 480 to 490 rpm and a current density of 1.45 A / dm < 2 & gt ;. The positive electrode was a copper sheet, and the positive electrode was a nickel plated titanium electrode. The surface treatment layer formed was 57.4% by weight of Sn and 42.6% by weight of Ni, and the surface treatment layer thickness was 3.3 占 퐉.

또한, 상기 제조예 1과 동일한 방법으로 하지도금층 형성 및 실시예 1의 표면처리액을 이용하여 하기 표 3과 같은 조건으로 피로인산염욕-전해도금 수행 조건을 수행하여 표면처리층을 형성시켜서 제조예 8 및 비교제조예 9 ~ 10을 실시하였다.The surface treatment layer of the base plating layer and the surface treatment solution of Example 1 were subjected to the pyrophosphate salt-bath electroplating under the same conditions as in the following Table 3 to form the surface treatment layer in the same manner as in Preparation Example 1, 8 and Comparative Production Examples 9 to 10 were carried out.

구분division 피로인산염욕-전해도금시, 전류밀도Pyrophosphate Bath - Current Density at Electroplating 표면처리층 내
Sn 및 Ni 중량%
In the surface treatment layer
Sn and Ni wt%
표면처리층
두께
Surface treatment layer
thickness
제조예 1Production Example 1 1.0A/dm2 1.0 A / dm 2 Sn 55.5 중량%
Ni 44.5 중량%
Sn 55.5 wt%
Ni 44.5 wt%
2.7㎛2.7 탆
제조예 7Production Example 7 1.75A/dm2 1.75 A / dm 2 Sn 57.4 중량%
Ni 42.6 중량%
Sn 57.4 wt%
Ni 42.6 wt%
3.3㎛3.3 탆
제조예 8Production Example 8 0.45A/dm2 0.45 A / dm 2 Sn 53.2 중량%
Ni 46.8 중량%
Sn 53.2 wt%
Ni 46.8 wt%
1.8㎛1.8 탆
비교제조예 9Comparative Preparation Example 9 0.20A/dm2 0.20 A / dm 2 Sn 47.3 중량%
Ni 52.7 중량%
Sn 47.3 wt%
Ni 52.7 wt%
0.8㎛0.8 탆
비교제조예 10Comparative Preparation Example 10 2.10A/dm2 2.10A / dm 2 Sn 65.1 중량%
Ni 34.9 중량%
Sn 65.1 wt%
Ni 34.9 wt%
4.1㎛4.1 탆

실험예Experimental Example 2 : 내식성 측정실험 2 2: Corrosion resistance test 2

상기 제조예 1, 제조예 7 ~ 8 및 비교제조예 9 ~ 10에서 제조한 표면처리된 통신용 커넥터의 내식성을 측정하였다. 이때, 내식성 측정은 KS D 9502에 의한 중성염수분무시험을 통해 수행하였고, 그 결과는 하기 표 4에 나타내었다.The corrosion resistance of the surface-treated communication connector manufactured in Production Example 1, Production Examples 7 to 8 and Comparative Production Examples 9 to 10 was measured. At this time, the corrosion resistance measurement was carried out by a neutral salt spray test according to KS D 9502, and the results are shown in Table 4 below.

중성분무 염수시간Neutral spray brine time 240 시간240 hours 480 시간480 hours 720 시간720 hours 제조예 1Production Example 1 PassPass PassPass PassPass 제조예 7Production Example 7 PassPass PassPass PassPass 제조예 8Production Example 8 PassPass PassPass PassPass 비교제조예 9Comparative Preparation Example 9 FailFail FailFail FailFail 비교제조예 10Comparative Preparation Example 10 PassPass PassPass PassPass

내식성 측정 결과, 0.25A/dm2 미만에서 전해도금을 실시한 비교제조예 9의 경우, 표면처리층 두께가 너무 얇게 형성되고, 표면처리층 내 조석 함량이 너무 낮았으며, 내식성도 좋지 않은 결과를 보였다.As a result of the corrosion resistance measurement, 0.25 A / dm 2 , The surface treatment layer thickness was too thin, the tear content in the surface treatment layer was too low, and the corrosion resistance was also poor.

실험예 3 : 상대 PIMD 측정 실험Experimental Example 3: Relative PIMD measurement experiment

상기 제조예 1, 제조예 7 ~ 8 및 비교제조예 10에서 제조한 표면처리된 통신용 커넥터의 PIMD 특성값(-dBc)을 측정하였고, 제조예 1을 기준으로 비교제조예 7 ~ 8 및 비교제조예 9 ~ 10의 상대 PIMD 측정 결과를 하기 표 5에 나타내었다.The PIMD characteristic values (-dBc) of the surface-treated communication connectors prepared in Production Example 1, Production Examples 7 to 8 and Comparative Production Example 10 were measured, and Comparative Production Examples 7 to 8 and Comparative Production Examples The relative PIMD measurement results of Examples 9 to 10 are shown in Table 5 below.

PIMD 특성PIMD characteristics -dBc-dBc 제조예 1Production Example 1 100%100% 제조예 7Production Example 7 105.2%105.2% 제조예 8Production Example 8 98.3%98.3% 비교제조예 10Comparative Preparation Example 10 103.6%103.6%

전류밀도 2.0A/dm2에서 전해도금을 실시한 비교제조예 10의 경우, 제조예 1보다는 PIMD 값이 증가하였으나, 제조예 7과 비교할 때, 오히려 PIMD 값이 낮아지는 결과를 보였다.Electroplating at a current density of 2.0 A / dm 2 In Comparative Production Example 10, the PIMD value was increased rather than that in Production Example 1, but the PIMD value was lowered in comparison with Production Example 7.

상기 실험예 2 및 실험예 3을 통해 피로인산염욕-전해도금 수행시, 적정 전류밀도가 0.25 ~ 2.00A/dm2 하에서 수행하는 것이, 바람직하게는 전류밀도 0.50 ~ 1.50A/dm2 하에서 수행하는 것이 적정함을 확인할 수 있었다.It is preferable to conduct the electrolytic plating at a current density of 0.25 to 2.00 A / dm 2 , preferably at a current density of 0.50 to 1.50 A / dm 2 , in the pyrophosphate bath-electrolytic plating through Experimental Example 2 and Experimental Example 3 It is possible to confirm that it is appropriate.

Claims (10)

삭제delete 삭제delete 구리 합금 및 알루미늄 합금으로 이루어지는 유무선 커넥터의 표면에 존재하는 이물질 및 유기오염물질을 제거 및 세척하는 전처리단계(1단계);
전처리한 유무선 커넥터 표면을 알카리 세정 및 알칼리 전해 세정을 수행하는 세정단계(2단계);
세정 후 잔존한 알칼리 세정 성분을 중화한 후, 유무선 커넥터 표면을 활성화시키는 표면활성화처리 단계(3단계);
표면활성화 처리된 통신용 커넥터 표면에 동도금층, 은도금층 및 주석도금층 중에서 선택된 1종 이상을 포함하는 하지도금층을 형성시키는 단계(4단계);
하지도금층이 1차로 형성된 통신 커넥터를 중화시키는 단계(5단계); 및
하지도금층을 형성된 통신용 커넥터를 피로인산염욕-전해도금법으로 도금처리하여 하지도금층의 표면 상부에 표면처리층을 형성시키는 단계(6단계);를 포함하며,
상기 피로인산염욕-전해도금법은 니켈전구체 및 주석전구체를 포함하는 전구체, 피로인산칼륨(K2P2O7), 하기 화학식 1로 표시되는 화합물 및 암모늄염을 포함하는 표면처리액으로 전해도금을 수행하여 하지도금층 상부에 표면처리층을 형성시키는 것을 특징으로 하는 통신용 커넥터 표면처리방법;
[화학식 1]
Figure 112017011651714-pat00006

화학식 1에 있어서, R1은 수소원자 또는 C1 ~ C5의 직쇄형 알킬기이고, 상기 R2 및 R3는 독립적으로 수소원자, 하이드록실기, C1 ~ C5의 직쇄형 알킬기, C3 ~ C5의 분쇄형 알킬기 또는 페닐기이다.
A pretreatment step (step 1) of removing and cleaning foreign substances and organic contaminants present on the surface of the wire / wireless connector made of copper alloy and aluminum alloy;
A cleaning step (step 2) of performing alkaline cleaning and alkaline electrolytic cleaning on the surface of the preprocessed wired / wireless connector;
A surface activation treatment step (step 3) of neutralizing the remaining alkali cleaning component after cleaning and then activating the surface of the wired / wireless connector;
(Step 4) of forming a ground plating layer containing at least one selected from a copper plating layer, a silver plating layer and a tin plating layer on the surface of the surface-activated communication connector;
Neutralizing the communication connector formed with the primary plating layer (step 5); And
(6) forming a surface treatment layer on the upper surface of the underlying plating layer by plating the communication connector formed with the underlying plating layer with a pyrophosphoric acid salt-electrolytic plating method,
The above-described pyrophosphate bath-electrolytic plating method is carried out by electrolytic plating with a surface treatment solution containing a precursor including a nickel precursor and a tin precursor, potassium pyrophosphate (K 2 P 2 O 7 ), a compound represented by the following formula 1 and an ammonium salt Thereby forming a surface treatment layer on the upper surface of the plating layer;
[Chemical Formula 1]
Figure 112017011651714-pat00006

Wherein R 1 is a hydrogen atom or a straight-chain alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, R 2 and R 3 are independently a hydrogen atom, a hydroxyl group, a straight-chain alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, An alkyl group or a phenyl group.
제3항에 있어서, 상기 피로인산염욕-전해도금법은 온도 70 ~ 90℃, 교반속도 200 ~ 800rpm 및 전류밀도 0.25 ~ 2.00A/dm2 조건에서 수행하는 것을 특징으로 하는 통신용 커넥터 표면처리방법.The method according to claim 3, wherein the pyrophosphoric acid bath-electrolytic plating method is performed at a temperature of 70 to 90 ° C, a stirring speed of 200 to 800 rpm, and a current density of 0.25 to 2.00 A / dm 2 . 제3항에 있어서, 상기 표면처리액의 전구체는 Sn 함량비가 하기 수학식 1을 만족하는 것을 특징으로 하는 통신용 커넥터 표면처리방법;
[수학식 1]
Sn 함량비 = Sn 몰비/(Sn 몰비+Ni 몰비)
상기 수학식 1에서, Sn 함량비는 0.25 ~ 0.45이다.
4. The method according to claim 3, wherein the precursor of the surface treatment liquid has a Sn content ratio satisfying the following formula (1): " (1) "
[Equation 1]
Sn content ratio = Sn mol ratio / (Sn mol ratio + Ni mol ratio)
In the above formula (1), the Sn content ratio is 0.25 to 0.45.
제3항에 있어서, 6단계의 표면처리층은 Sn 50 ~ 62 중량% 및 Ni 38 ~ 50 중량%를 포함하는 것을 특징으로 하는 통신용 커넥터 표면처리방법.4. The method according to claim 3, wherein the surface treatment layer in step 6 comprises 50 to 62% by weight of Sn and 38 to 50% by weight of Ni. 니켈전구체 및 주석전구체를 포함하는 전구체, 피로인산칼륨(K2P2O7), 하기 화학식 1로 표시되는 화합물 및 암모늄염을 포함하는 것을 특징으로 하는 통신용 커넥터 표면처리액;
[화학식 1]
Figure 112016103040515-pat00007

화학식 1에 있어서, R1은 수소원자 또는 C1 ~ C5의 직쇄형 알킬기이고, 상기 R2 및 R3는 독립적으로 수소원자, 하이드록실기, C1 ~ C5의 직쇄형 알킬기, C3 ~ C5의 분쇄형 알킬기 또는 페닐기이다.
A precursor including a nickel precursor and a tin precursor, potassium pyrophosphate (K 2 P 2 O 7 ), a compound represented by the following formula (1), and an ammonium salt;
[Chemical Formula 1]
Figure 112016103040515-pat00007

Wherein R 1 is a hydrogen atom or a straight-chain alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, R 2 and R 3 are independently a hydrogen atom, a hydroxyl group, a straight-chain alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, An alkyl group or a phenyl group.
제7항에 있어서, 폴리아민을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 통신용 커넥터 표면처리액.8. The connector connector surface treatment liquid according to claim 7, further comprising a polyamine. 제7항에 있어서, 상기 전구체는 Sn 함량비가 하기 수학식 1을 만족하도록 니켈전구체 및 주석전구체를 포함하는 것을 특징으로 하는 통신용 커넥터 표면처리액;
[수학식 1]
Sn 함량비 = Sn 몰비/(Sn 몰비+Ni 몰비)
상기 수학식 1에서, Sn 함량비는 0.25 ~ 0.45이다.
8. The connector connector surface treating liquid according to claim 7, wherein the precursor includes a nickel precursor and a tin precursor so that the Sn content ratio satisfies the following formula:
[Equation 1]
Sn content ratio = Sn mol ratio / (Sn mol ratio + Ni mol ratio)
In the above formula (1), the Sn content ratio is 0.25 to 0.45.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101162584B1 (en) * 2012-02-16 2012-07-04 노병호 Plating method of connectors for wireless communication and telecommunication

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