KR101748697B1 - Method for inspecting liquid crystal display device - Google Patents

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Abstract

본 발명은 액정표시장치의 검사방법에 관한 것으로, 개시된 발명은 임의의 공통전압을 다수 영역으로 분할하는 단계; 상기 공통전압(Vcom)의 다수의 영역 중에서, 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2) 을 스캐닝하여 이 중앙영역의 공통전압 (Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 단계; 상기 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨을 측정한 후, 이 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전압(Vn-1/2)을 스캐닝하여 이 공통전압에 대한 제2 플리커 레벨을 측정하는 단계; 상기 중앙영역의 제1 플리커 레벨과, 상기 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전극(Vn-1/2)의 제2 플리커 레벨 간의 크기 차이를 서로 비교하는 단계; 상기 제1 및 2 플리커 레벨의 크기를 비교하여 상기 제1 플리커 레벨과 제2 플리커 레벨 간에 어떤 크기 차이를 갖는지를 확인하는 단계; 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 낮은 경우에 낮은 제2 플리커 레벨의 공통전압 이전 영역들에 대해서만 스캐닝을 진행하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정하는 단계; 및 상기 플러커 레벨들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨을 갖는 공통전압을 최적의 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하는 단계를 포함하여 구성된다.The present invention relates to a method of inspecting a liquid crystal display device, the disclosed method including dividing an arbitrary common voltage into a plurality of regions; A common voltage Vn / 2 corresponding to the central region is scanned among a plurality of regions of the common voltage Vcom to measure a first flicker level with respect to the common voltage Vn / 2 of the central region ; The first flicker level for the common voltage Vn / 2 corresponding to the central region is measured and then the common voltage Vn-1/2 of the immediately preceding region of the central region is scanned, Measuring two flicker levels; Comparing magnitude differences between a first flicker level of the central region and a second flicker level of a common electrode (Vn-1/2) immediately before the central region; Comparing magnitudes of the first and second flicker levels to determine a magnitude difference between the first and second flicker levels; Scanning only the pre-common voltage regions of the second low flicker level when the second flicker level is lower than the first flicker level, and measuring a flicker level for common voltages of the respective regions; And setting a common voltage having the lowest flicker level among the flicker levels to an optimum reference common voltage (Vcom).

Description

액정표시장치 검사방법{METHOD FOR INSPECTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method of inspecting a liquid crystal display device,

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 액정표시장치 구동시에 사용되는 기준 공통전압을 검사하는 액정표시장치 검사방법에 관한 것이다. The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display device inspection method for inspecting a reference common voltage used in a liquid crystal display device.

일반적으로, 액정표시장치(Liquid Crystal Display: LCD)는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시한다.2. Description of the Related Art Generally, a liquid crystal display (LCD) displays an image by adjusting the light transmittance of a liquid crystal using an electric field.

이를 위한 액정표시장치는 액정 셀들이 매트릭스 형태로 배열되어진 액정패널과, 상기 액정패널을 구동하기 위한 구동회로로 구성된다. 그리고, 상기 액정패널은 전계 생성 전극이 각각 형성되어 있는 상부기판과 하부기판이 서로 대향되게 배치되고, 두 기판 사이에 광 투과율을 조절하기 위한 액정층이 형성된다.A liquid crystal display device for this purpose comprises a liquid crystal panel in which liquid crystal cells are arranged in a matrix form, and a driving circuit for driving the liquid crystal panel. In the liquid crystal panel, an upper substrate and a lower substrate, on which electric field generating electrodes are respectively formed, are disposed so as to face each other, and a liquid crystal layer for controlling the light transmittance is formed between the two substrates.

이러한 구성으로 이루어지는 종래기술에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압 검사방법에 대해 도 1 내지 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다. A common voltage inspection method for driving a liquid crystal display according to the related art having such a configuration will be described with reference to FIGS. 1 to 3. FIG.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 단위 화소를 등가적으로 나타내는 회로도이다.Fig. 1 is a circuit diagram showing unit pixels of an ordinary liquid crystal display device equivalently.

일반적인 액정표시장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 게이트 라인 (GL)과 데이터 라인(DL)이 교차되고, 상기 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)의 교차부에 액정 셀(Clc)을 구동하기 위한 박막 트랜지스터(TFT)가 형성된다. 또한, 상기 액정표시장치에는 액정셀(Clc)의 전압을 유지하기 위한 스토리지 캐패시터 (Cst)가 형성된다.1, a general liquid crystal display device includes a liquid crystal cell Clc at the intersection of the gate line GL and the data line DL and the intersection of the gate line GL and the data line DL, A thin film transistor (TFT) for driving the TFT is formed. In addition, a storage capacitor Cst for holding the voltage of the liquid crystal cell Clc is formed in the liquid crystal display device.

여기서, 상기 액정 셀(Clc)은 화소전극(11)의 데이터 전압이 인가되고 상부 기판에 형성된 공통전극(12)에 공통전압(Vcom)이 인가될 때, 액정층에 인가되는 전계에 의해 액정분자들의 배열이 바뀌면서 투과되는 빛의 광량을 조절하거나 빛을 차단한다. 그리고, 데이터전압은 액정 셀(Clc)의 구동 전압 특성에 맞게 미리 설정된 감마 전압으로 공급된다.The liquid crystal cell Clc has a structure in which the data voltage of the pixel electrode 11 is applied and the common voltage Vcom is applied to the common electrode 12 formed on the upper substrate, The light amount of the transmitted light is adjusted or the light is blocked. The data voltage is supplied with a gamma voltage set in advance in accordance with the driving voltage characteristic of the liquid crystal cell Clc.

액정표시장치의 구동방법에 있어서, 액정 셀에 동일한 극성의 전압이 지속적으로 인가되면 액정과 표시 화상이 열화되기 때문에, 액정표시장치는 극성이 주기적으로 반전되는 교류 형태의 데이터전압으로 액정 셀을 구동한다.In the method of driving a liquid crystal display device, when a voltage of the same polarity is continuously applied to a liquid crystal cell, the liquid crystal and the display image are deteriorated. Therefore, the liquid crystal display device drives the liquid crystal cell with an alternate data voltage whose polarity is periodically inverted do.

이러한 데이터전압은 공통전극(12)에 인가되는 공통전압(Vcom)을 중심으로 한 프레임마다 극성이 반전된다. 이때, 상기 공통전압(Vcom)은 화소 단위로 구동할 때 화소의 중심 전위가 되므로, 화질 향상을 위해서는 액정패널의 위치와 무관하게 모든 화소에 동일한 수준의 공통전압이 인가되어야 한다.The polarity of the data voltage is inverted every frame around the common voltage Vcom applied to the common electrode 12. [ At this time, since the common voltage Vcom becomes the center potential of the pixel when driven in the pixel unit, a common voltage of the same level should be applied to all the pixels regardless of the position of the liquid crystal panel in order to improve the image quality.

액정표시장치는 제품마다 각기 다른 공통전압(Vcom) (액정구동을 위한 기준전압)을 갖는다. The liquid crystal display device has a common voltage Vcom (reference voltage for liquid crystal driving) that varies from product to product.

제품 별로 적절한 공통전압(Vcom) 레벨을 얻기 위해서는 일정한 스캔 범위 내에서 플리커 레벨(flicker level)를 측정하여 가장 적은 플리커 레벨을 그 제품의 공통전압(Vcom)으로 설정하게 된다.In order to obtain an appropriate common voltage (Vcom) level for each product, the flicker level is measured within a certain scan range to set the lowest flicker level to the common voltage (Vcom) of the product.

도 2는 종래기술에 따른 액정표시장치의 공통전압 검사방법을 설명하기 위한 공통전압 검사 흐름도이다.FIG. 2 is a flowchart of common voltage inspection for explaining a common voltage inspection method of a liquid crystal display according to the related art.

도 3은 종래기술에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압의 각 영역에서의 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 것을 개략적으로 도시한 도면이다. 3 is a diagram schematically showing measurement of a flicker level in each region of a common voltage in driving a liquid crystal display device according to the related art.

도 2 및 3을 참조하면, 종래기술에 따른 액정표시장치의 구동시에 사용되는 기준 공통전압(Vcom)을 설정하기 위해, 제1 단계(S10)로서, 먼저 임의의 공통전압을 다수 영역, 예를 들어 5, 10 또는 20 영역으로 분할한다. 이때, 상기 임의의 공통전압은 5, 10 또는 20 영역으로만 분할하는 것이 아니라, 필요에 따라 선택적으로 분할 범위를 설정할 수 있다. 즉, 상기 임의의 공통전압(Vcom)은, 도 3에 도시된 바와 같이, V1, V2, V3, V4, ----------, Vn-2, Vn-1, Vn으로 분할한다. 여기서, n는 자연수이다.Referring to FIGS. 2 and 3, in order to set a reference common voltage Vcom to be used for driving a liquid crystal display according to the related art, a first step S10 is to first set an arbitrary common voltage to a plurality of areas, It divides into 5, 10 or 20 regions. At this time, the arbitrary common voltage may not be divided into five, ten, or twenty regions, but may be selectively set as needed. That is, the arbitrary common voltage Vcom is divided into V1, V2, V3, V4, Vn-2, Vn-1, and Vn do. Here, n is a natural number.

그 다음, 제2 단계(S20)로서, 상기 공통전압(Vcom)의 다수의 영역 중에서, 제1 영역에 해당하는 공통전압(V1)에서부터 제n영역에 해당하는 공통전압(Vn)을 스캐닝(scan)하여 이 각 영역의 공통전압(V1, V2, --- Vn)에 대한 플리커 레벨 (flicker level)들을 측정한다. Next, as a second step S20, a common voltage Vn corresponding to the n-th region is scanned from the common voltage V1 corresponding to the first region among the plurality of regions of the common voltage Vcom ) To measure flicker levels for the common voltages (V1, V2, --- Vn) of the respective regions.

이어서, 제3 단계(S30)로서, 상기 전체 영역에 해당하는 공통전압(V1, V2, ---, Vn)에 대한 플리커 레벨들을 측정한 후, 이들 플리커 레벨들의 크기를 서로 비교한다.Next, as a third step S30, the flicker levels for the common voltages V1, V2, ---, and Vn corresponding to the entire area are measured, and then the sizes of the flicker levels are compared with each other.

그 다음, 제4 단계(S40)로서, 이들 플리커 레벨들의 크기를 서로 비교한 결과, 상기 플리커 레벨 값들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨 값에 해당하는 공통전압 (Vcom)을 확인하여, 기준 공통전압(Vcom)으로 설정함으로써 액정표시장치 구동시에 사용되는 최적의 기준 공통전압(Vcom) 검사공정을 완료한다.Then, in a fourth step S40, the common voltage Vcom corresponding to the lowest flicker level value among the flicker level values is checked as a result of comparing the sizes of these flicker levels, and the reference common voltage Vcom Thereby completing the inspection process of the optimum reference common voltage Vcom used for driving the liquid crystal display device.

그러나, 종래기술에 따른 액정표시장치의 검사방법에 따르면, 임의의 공통전압을 다수의 영역들로 분할한 다음 전체 영역의 공통전압들을 순차적으로 스캐닝하여 각 영역에 대한 플리커 레벨들을 측정한 다음 이들 플리커 레벨들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨을 찾아 이 플리커 레벨에 해당하는 공통전압을 그 제품의 최적 공통전압(Vcom)으로 설정하게 된다.However, according to the inspection method of a liquid crystal display according to the related art, an arbitrary common voltage is divided into a plurality of regions, the common voltages of the entire region are sequentially scanned to measure flicker levels for each region, And the common voltage corresponding to the flicker level is set to the optimum common voltage Vcom of the product.

따라서, 이렇게 다수의 영역들로 분할된 공통전압의 전 영역에 걸쳐 순차적인 스캐닝을 진행하기 때문에 검사 시간이 오래 걸리게 된다. 즉, 공통전압의 전체영역을 스캐닝하기 때문에 최적의 공통전압(Vcom)이 먼저 확인되어도 계속해서 남은 영역들에 대한 스캐닝을 진행한 이후에 이들 영역의 플리커 레벨을 서로 비교하여 최적의 공통전압(Vcom)을 확인해야 되므로 그만큼 검사 시간이 증가하게 된다.Therefore, since the scanning is sequentially performed over the entire area of the common voltage divided into the plurality of areas, the inspection time becomes long. That is, even if the optimum common voltage Vcom is first checked because the entire area of the common voltage is scanned, after the scanning for the remaining areas continues, the flicker levels of these areas are compared with each other to obtain the optimum common voltage Vcom Therefore, the inspection time is increased accordingly.

이에 본 발명은 상기 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 본 발명의 목적은 액정표시장치의 구동시의 기준 공통전압을 검사하는 시간을 단축시킬 수 있는 액정표시장치 검사방법을 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide a method for inspecting a liquid crystal display device capable of shortening a time for inspecting a reference common voltage at the time of driving a liquid crystal display .

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표시장치 검사방법은 임의의 공통전압을 다수 영역으로 분할하는 단계; 상기 공통전압(Vcom)의 다수의 영역 중에서, 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2) 을 스캐닝하여 이 중앙영역의 공통전압 (Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 단계; 상기 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨을 측정한 후, 이 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전압(Vn-1/2)을 스캐닝하여 이 공통전압에 대한 제2 플리커 레벨을 측정하는 단계; 상기 중앙영역의 제1 플리커 레벨과, 상기 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전극(Vn-1/2)의 제2 플리커 레벨 간의 크기 차이를 서로 비교하는 단계; 상기 제1 및 2 플리커 레벨의 크기를 비교하여 상기 제1 플리커 레벨과 제2 플리커 레벨 간에 어떤 크기 차이를 갖는지를 확인하는 단계; 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 낮은 경우에 낮은 제2 플리커 레벨의 공통전압 이전 영역들에 대해서만 스캐닝을 진행하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정하는 단계; 및 상기 플러커 레벨들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨을 갖는 공통전압을 최적의 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a liquid crystal display device including dividing an arbitrary common voltage into a plurality of regions; A common voltage Vn / 2 corresponding to the central region is scanned among a plurality of regions of the common voltage Vcom to measure a first flicker level with respect to the common voltage Vn / 2 of the central region ; The first flicker level for the common voltage Vn / 2 corresponding to the central region is measured and then the common voltage Vn-1/2 of the immediately preceding region of the central region is scanned, Measuring two flicker levels; Comparing magnitude differences between a first flicker level of the central region and a second flicker level of a common electrode (Vn-1/2) immediately before the central region; Comparing magnitudes of the first and second flicker levels to determine a magnitude difference between the first and second flicker levels; Scanning only the pre-common voltage regions of the second low flicker level when the second flicker level is lower than the first flicker level, and measuring a flicker level for common voltages of the respective regions; And setting a common voltage having the lowest flicker level among the flicker levels as an optimum reference common voltage Vcom.

본 발명에 따른 액정표시장치 검사방법에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.The method for inspecting a liquid crystal display according to the present invention has the following effects.

본 발명에 따른 액정표시장치 검사방법에 따르면, 액정표시장치 구동에 사용되는 임의의 공통전압을 다수 영역으로 분할하여, 이 공통전압의 다수의 영역 중에서 중앙 영역에 해당하는 공통전압을 스캐닝하여 제1 플리커 레벨을 측정한 다음 이 중앙 영역의 이전 영역의 공통전압의 제2 플리커 레벨을 측정하여, 이들 제1 플리커 레벨과 제2 플리커 레벨 간의 어떤 경향성, 즉 제2 플리커 레벨이 제1 플리커 레벨보다 낮은지 또는 높은지의 특성을 확인한 다음 플리커 레벨이 낮은 영역이 있는 방향으로 해당하는 영역들의 플리커 레벨을 측정하여 이들 레벨들 중에서 가장 낮은 레벨을 갖는 영역의 공통전압(Vcom)을 액정표시장치의 구동에 적합한 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하게 된다.According to the method for inspecting a liquid crystal display device according to the present invention, an arbitrary common voltage used for driving a liquid crystal display device is divided into a plurality of regions, a common voltage corresponding to a central region among a plurality of regions of the common voltage is scanned, A second flicker level of a common voltage in a previous area of the central area is measured, and a certain tendency between the first flicker level and the second flicker level, that is, the second flicker level is lower than the first flicker level The flicker level of the corresponding regions is measured in the direction in which the region having the low flicker level is measured and the common voltage Vcom of the region having the lowest level among these levels is measured for driving the liquid crystal display And is set to the reference common voltage Vcom.

따라서, 본 발명에 따른 공통전압 검사방법은 다수의 영역들 중에서 중앙영역의 플리커 레벨과 그 이전 영역 또는 다음 영역을 플리커 레벨을 서로 비교하여 중앙영역의 플리커 레벨보다 낮은 레벨을 갖는 영역의 방향으로 해당하는 영역들의 플리커 레벨을 측정하여 이들 플리커 레벨들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨에 해당하는 공통전압을 최적의 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하기 때문에 기존의 최적 공통전압 검사방법에 비해 공통전압을 검사하는 검사시간이 단축된다.Therefore, in the common voltage inspection method of the present invention, the flicker level of the central region and the previous region or the next region among the plurality of regions are compared with each other to obtain the corresponding flicker level in the direction of the region having a level lower than the flicker level of the central region And the common voltage corresponding to the lowest flicker level among these flicker levels is set to the optimum reference common voltage Vcom. Therefore, the common voltage inspection method Time is shortened.

이로 인해, 최적의 공통전압을 검사하는 시간이 단축됨으로써 생산 라인의 검사 용량(capacity)이 증가하여 생산 용량(capacity)을 늘릴 수 있게 된다.This shortens the time for inspecting the optimum common voltage, thereby increasing the capacity of the production line and increasing the capacity of the production line.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 단위 화소를 등가적으로 나타내는 회로도이다.
도 2는 종래기술에 따른 액정표시장치의 공통전압 검사방법을 설명하기 위한 공통전압 검사 흐름도이다.
도 3은 종래기술에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압의 각 영역에서의 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 것을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압 검사방법을 설명하기 위한 액정표시장치용 어레이기판의 개략적인 평면도이다.
도 5는 본 발명에 따른 액정표시장치의 공통전압 검사방법을 설명하기 위한 공통전압 검사 흐름도이다.
도 6은 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압의 각 영역에서의 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 것을 개략적으로 도시한 도면이다. Fig. 1 is a circuit diagram showing unit pixels of an ordinary liquid crystal display device equivalently.
FIG. 2 is a flowchart of common voltage inspection for explaining a common voltage inspection method of a liquid crystal display according to the related art.
3 is a diagram schematically showing measurement of a flicker level in each region of a common voltage in driving a liquid crystal display device according to the related art.
4 is a schematic plan view of an array substrate for a liquid crystal display device for explaining a common voltage inspection method in driving a liquid crystal display device according to the present invention.
5 is a flowchart of a common voltage test for explaining a common voltage inspection method of a liquid crystal display device according to the present invention.
FIG. 6 is a view schematically showing measurement of a flicker level in each region of the common voltage at the time of driving the liquid crystal display device according to the present invention.

이하 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압 검사방법에 대해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a common voltage inspection method for driving a liquid crystal display device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압 검사방법을 설명하기 위한 액정표시장치용 어레이 기판의 개략적인 평면도이다. 4 is a schematic plan view of an array substrate for a liquid crystal display device for explaining a common voltage inspection method in driving a liquid crystal display device according to the present invention.

여기서, 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압 검사방법은 도 4에 도시된 액정표시장치용 어레이 기판에 한정되는 것은 아니며, 다양한 배선 형태의 Vcom배선 구조를 가진 액정표시장치의 어레이 기판에도 적용 가능함을 밝혀 두기로 한다. Here, the common voltage inspection method for driving a liquid crystal display device according to the present invention is not limited to the array substrate for a liquid crystal display device shown in Fig. 4, and is also applicable to an array substrate of a liquid crystal display device having a Vcom wiring structure of various wiring types It is assumed that it is applicable.

도 4를 참조하면, 화상을 표시하는 표시영역(AA)에는 가로 방향의 게이트 배선(143)과 세로 방향의 데이터 배선(146)이 교차하여 화소영역(P)을 정의하고 있으며, 상기 화소영역(P) 내에는 게이트 배선(143)과 데이터 배선(146)의 교차 부분에는 상기 게이트 배선(143) 및 데이터 배선(146)과 연결된 스위칭 소자인 박막 트랜지스터(Tr)가 형성되어 있다.4, a pixel region P is defined by intersecting a horizontal direction gate wiring 143 and a vertical direction data wiring 146 in a display region AA for displaying an image, and the pixel region P P is formed with a thin film transistor Tr which is a switching element connected to the gate wiring 143 and the data wiring 146 at the intersection of the gate wiring 143 and the data wiring 146.

또한, 상기 화소영역(P)에는 상기 게이트 배선(143)과 평행하게 일정간격 이격하여 가로방향으로 연장된 공통배선(149)이 형성되어 있으며, 상기 공통배선(149)에서 분기한 다수의 공통전극(153)이 세로 방향으로 연장되어 있다.A common wiring 149 extending in the horizontal direction is formed in the pixel region P at a predetermined interval in parallel with the gate wiring 143. A plurality of common electrodes 149 branching from the common wiring 149, (153) extend in the longitudinal direction.

그리고, 상기 화소영역(P)에는 세로 방향을 가지며, 상기 공통전극(153)과 일정간격을 가지고 서로 엇갈리게 배치된 다수의 화소전극(157)이 형성되어 있는데, 상기 화소전극(157)은 박막 트랜지스터(Tr)와 연결되어 있다.A plurality of pixel electrodes 157 are formed in the pixel region P so as to be offset from the common electrodes 153 at regular intervals. The pixel electrodes 157 are formed of a thin film transistor (Tr).

상기 표시영역(AA)의 외측의 비표시영역(NA)에 있어서는, 일측에 상기 표시영역(AA)에 형성된 게이트 배선(143)과 연결되며, 외부의 구동회로와 연결되는 게이트 패드부(GPA)가 형성되어 있으며, 상기 표시영역(AA)의 상측면의 비표시영역(NA)에는 외부의 데이터 구동회로(미도시)와 연결되며, 상기 표시영역(AA) 내에 형성된 데이터 배선(146)과 연결되는 데이터 패드부(DPA)가 형성되어 있다.A gate pad portion GPA which is connected to a gate wiring 143 formed on the display area AA on one side and connected to an external driving circuit in a non-display area NA outside the display area AA, And is connected to an external data driving circuit (not shown) at a non-display area NA of the upper side of the display area AA and connected to a data line 146 formed in the display area AA A data pad unit DPA is formed.

또한, 상기 표시영역(AA)의 외측으로 데이터 패드부(DPA)를 제외한 세 측면에 연결되어 DC 공통전압 인가를 위한 Vcom배선(172)이 형성되어 있으며, 상기 Vcom배선(172)은 각각의 게이트 배선(143)과 평행하게 형성된 공통배선(149)과 연결되어 있다. 이때, 상기 Vcom배선(172)은 데이터 패드부(DPA)의 양끝단 측에 위치한 양끝단을 통해 외부로부터 DC 공통전압이 인가되고 있으며, 상기 게이트 패드부(GPA)가 형성된 기판의 일 측면 비표시영역(NA)에 위치한 Vcom 배선부는 상기 게이트 패드부(GPA)의 다수의 영역에서 외부로부터 DC 공통전압이 인가되고 있다. The Vcom wiring 172 is connected to three sides of the display area AA except for the data pad part DPA for DC common voltage application. And is connected to the common wiring 149 formed in parallel with the wiring 143. At this time, the Vcom wiring 172 is applied with a DC common voltage from the outside through both ends located at both ends of the data pad unit DPA, and a side surface of the substrate on which the gate pad unit GPA is formed is not displayed In the Vcom wiring portion located in the region NA, a DC common voltage is applied from the outside in a plurality of regions of the gate pad portion GPA.

이러한 구성에서, 상기 Vcom배선(172)으로부터의 공통전압(Vcom)은 화소 단위로 구동할 때 화소의 중심 전위가 되므로, 화질 향상을 위해서는 액정패널의 위치와 무관하게 모든 화소에 동일한 수준의 공통전압(Vcom)이 인가되어야 한다. 즉, 액정표시장치는 제품마다 각기 다른 공통전압(Vcom) (액정구동을 위한 기준전압)을 갖기 때문에, 제품별로 적절한 공통전압(Vcom) 레벨을 얻기 위해서는 일정한 스캔 범위 내에서 플리커 레벨(flicker level)을 측정하여 가장 낮은 플리커 레벨을 그 제품의 공통전압(Vcom)으로 설정하게 된다.In this configuration, since the common voltage Vcom from the Vcom wiring 172 becomes the center potential of the pixel when driven in the pixel unit, in order to improve the image quality, the common voltage Vcom is applied to all pixels regardless of the position of the liquid crystal panel (Vcom) should be applied. In other words, since the liquid crystal display device has the common voltage Vcom (reference voltage for liquid crystal driving), which is different for each product, in order to obtain an appropriate common voltage (Vcom) level for each product, a flicker level And the lowest flicker level is set to the common voltage Vcom of the product.

도 5는 본 발명에 따른 액정표시장치의 공통전압 검사방법을 설명하기 위한 공통전압 검사 흐름도이다.5 is a flowchart of a common voltage test for explaining a common voltage inspection method of a liquid crystal display device according to the present invention.

도 6은 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압의 각 영역에서의 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 것을 개략적으로 도시한 도면이다. FIG. 6 is a view schematically showing measurement of a flicker level in each region of the common voltage at the time of driving the liquid crystal display device according to the present invention.

도 5 및 6을 참조하면, 본 발명에 따른 액정표시장치의 구동시에 사용되는 기준 공통전압(Vcom)을 설정하기 위해, 제1 단계(S110)로서, 먼저 임의의 공통전압을 다수 영역, 예를 들어 5, 10 또는 20 영역으로 분할한다. 이때, 상기 임의의 공통전압은 5, 10 또는 20 영역으로만 분할하는 것이 아니라, 필요에 따라 선택적으로 분할 범위를 설정할 수 있다. 즉, 상기 임의의 공통전압(Vcom)은, 도 6에 도시된 바와 같이, V1, V2, ---, Vn-1/2, Vn/2,-------, Vn-2, Vn-1, Vn으로 분할한다. 여기서, n는 자연수이다. 이때, 상기 임의의 공통전압은 적어도 5 영역 이상으로 분할하는 것이 바람직하지만, 반드시 이에 한정하는 것은 아니다.Referring to FIGS. 5 and 6, in order to set a reference common voltage Vcom to be used for driving a liquid crystal display device according to the present invention, a first step (S110) It divides into 5, 10 or 20 regions. At this time, the arbitrary common voltage may not be divided into five, ten, or twenty regions, but may be selectively set as needed. That is, as shown in FIG. 6, the arbitrary common voltage Vcom is set to V1, V2, ---, Vn-1/2, Vn / 2, Vn-1, and Vn. Here, n is a natural number. At this time, it is preferable that the arbitrary common voltage is divided into at least five regions, but it is not limited thereto.

그 다음, 제2 단계(S120)로서, 상기 공통전압(Vcom)의 다수의 영역 중에서, 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2)을 스캐닝(scan)하여 이 중앙영역의 공통전압 (Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨(flicker level)을 측정한다. Next, as a second step S120, a common voltage Vn / 2 corresponding to the central region is scanned among a plurality of regions of the common voltage Vcom to generate a common voltage Vn / 2 < / RTI > is measured for the first flicker level.

이어서, 제3 단계(S130)로서, 상기 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨을 측정한 후, 이 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전압 (Vn-1/2) 또는 다음 영역의 공통전압(Vn+1/2)을 스캐닝하여 이 공통전압에 대한 제2 플리커 레벨을 측정한다. 여기서는 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전압 (Vn-1/2)에 대해서만 설명하기로 한다. Next, in a third step S130, the first flicker level for the common voltage Vn / 2 corresponding to the central region is measured, and then the common voltage Vn-1/2 ) Or the common voltage (Vn + 1/2) of the next area is scanned to measure the second flicker level with respect to this common voltage. Here, only the common voltage (Vn-1/2) of the immediately preceding region of the central region will be described.

그 다음, 제4 단계(S140)로서, 상기 중앙영역의 제1 플리커 레벨과, 상기 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전극(Vn-1/2)의 제2 플리커 레벨 간의 크기 차이를 서로 비교한다.Next, as a fourth step (S140), the magnitude differences between the first flicker level of the central region and the second flicker level of the common electrode (Vn-1/2) immediately before the central region are compared with each other .

이어서, 제5 단계(S150)로서, 상기 제1 및 2 플리커 레벨의 크기 차이를 비교하여 상기 제1 플리커 레벨과 제2 플리커 레벨 간에 어떤 크기 차이를 갖는지를 확인하여, 상기 중앙영역의 공통전압(Vn/2)에서의 제1 플리커 레벨과 상기 이전 영역의 공통전압(Vn-1/2)에서의 제2 플리커 레벨 간의 크기 차이를 확인한다. Next, in a fifth step S150, a size difference between the first flicker level and the second flicker level is compared to check what size difference therebetween is between the first flicker level and the second flicker level, and the common voltage Vn / 2) and the second flicker level at the common voltage (Vn-1/2) of the previous region.

그 다음, 제 6 단계(S160)로서, 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 낮은 경우에, 낮은 제2 플리커 레벨의 공통전압 이하의 영역들에 대해서만 스캐닝을 진행하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정한다. 이때, 상기 낮은 제2 플리커 레벨의 공통전압 이하의 영역들은 제2 플리커 레벨을 갖는 공통전압(Vn-1/2)에 해당하는 영역 이전 영역들을 나타낸다. 즉, 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 낮은 경우에, 공통전압 (Vn-1/2) 이전의 영역인 공통전압(Vn-2/2)에서 부터 공통전압(V1) 까지의 영역을 스캐닝하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정하는 것이다.Then, in a sixth step (S160), when the second flicker level is lower than the first flicker level, scanning is performed only for regions below the common voltage of the second flicker level, so that the common voltage Lt; RTI ID = 0.0 > flicker < / RTI > At this time, regions below the common voltage of the second low flicker level represent areas before the region corresponding to the common voltage (Vn-1/2) having the second flicker level. That is, when the second flicker level is lower than the first flicker level, a region from the common voltage (Vn-2/2) which is the region before the common voltage (Vn-1/2) To measure the flicker level with respect to the common voltages of the respective regions.

한편, 이와 반대로, 제 7 단계(S170) 및 제 8단계(S180)로서, 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 높은 경우에, 공통전압(Vn/2)의 중앙영역의 다음 영역들의 공통전압들에 대해서만 스캐닝을 진행하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정한다. 이때, 상기 공통전압(Vn/2)의 중앙영역의 다음 영역들의 공통전압들은 중앙영역의 공통전압(Vn/2)의 다음 영역의 공통전압 (Vn+1/2)에서 부터 최종 영역의 공통전압(Vn)을 나타낸다. 따라서, 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 높은 경우에, 중앙영역의 다음 영역인 공통전압(Vn+1/2)에서 부터 최종 공통전압(Vn)을 스캐닝하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정하는 것이다.On the other hand, when the second flicker level is higher than the first flicker level in the seventh step (S170) and the eighth step (S180), the following regions of the central region of the common voltage (Vn / 2) Scanning is performed only for the common voltages to measure the flicker level for the common voltages in each region. At this time, the common voltages of the following regions in the central region of the common voltage Vn / 2 are the common voltage (Vn + 1/2) of the next region of the common voltage (Vn / 2) (Vn). Therefore, when the second flicker level is higher than the first flicker level, the final common voltage Vn is scanned from the common voltage Vn + 1/2, which is the next area of the center area, The flicker level is measured.

이어서, 제 6 단계(S160)에서와 같이, 공통전압(Vn-1/2)의 이전 영역인 공통전압(Vn-2/2)에서 부터 공통전압(V1)까지의 영역들을 스캐닝하여 이들 각각에 대한 플리커 레벨들을 측정하거나, 또는 제 8단계(S180)에서와 같이 공통전압(Vn/2)의 다음 영역인 공통전압(Vn+1/2)에서 부터 공통전압(Vn)까지의 영역들을 스캐닝하여 이들 각각에 대한 플리커 레벨들을 측정한다.Subsequently, as in the sixth step S160, regions from the common voltage Vn-2/2, which is the previous region of the common voltage Vn-1/2, to the common voltage V1 are scanned, Or the regions from the common voltage Vn + 1/2, which is the next region of the common voltage Vn / 2 to the common voltage Vn, as in the eighth step S180, Measure the flicker levels for each of these.

그 다음, 제 9 단계(S190)로서, 상기 다수 영역들에서의 플리커 레벨 값들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨 값에 해당하는 공통전압(Vcom)을 확인하여, 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 기준 공통전압(Vcom)으로 설정함으로써 액정표시장치 구동시에 사용되는 최적의 기준 공통전압(Vcom) 검사공정을 완료한다.Next, as a ninth step (S190), the common voltage Vcom corresponding to the lowest flicker level value among the flicker level values in the multiple areas is checked, and the common voltage Vcom corresponding to the reference common Voltage Vcom to complete the inspection process of the optimum reference common voltage Vcom used for driving the liquid crystal display device.

이상에서와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 기준 공통전압 검사방법에 따르면, 액정표시장치 구동에 사용되는 임의의 공통전압을 다수 영역으로 분할하여, 이 공통전압의 다수의 영역 중에서 중앙 영역에 해당하는 공통전압을 스캐닝하여 제1 플리커 레벨을 측정한 다음 이 중앙 영역의 이전 영역의 공통전압의 제2 플리커 레벨을 측정하여, 이들 제1 플리커 레벨과 제2 플리커 레벨 간의 어떤 경향성, 즉 제2 플리커 레벨이 제1 플리커 레벨보다 낮은지 또는 높은지의 특성을 확인한 다음 플리커 레벨이 낮은 영역이 있는 방향으로 해당하는 영역들의 플리커 레벨을 측정하여 이들 레벨들 중에서 가장 낮은 레벨을 갖는 영역의 공통전압 (Vcom)을 액정표시장치의 구동에 적합한 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하게 된다.As described above, according to the reference common voltage inspection method in driving the liquid crystal display device according to the present invention, an arbitrary common voltage used for driving the liquid crystal display device is divided into a plurality of regions, and among the plurality of regions of the common voltage, Scanning the common voltage corresponding to the region to measure the first flicker level and then measure the second flicker level of the common voltage in the previous region of the central region to determine any tendency between the first flicker level and the second flicker level, The second flicker level is determined to be lower or higher than the first flicker level. Then, the flicker level of the corresponding region is measured in the direction in which the region having the lower flicker level is measured. The common voltage (Vcom) to be the reference common voltage Vcom suitable for driving the liquid crystal display device.

따라서, 본 발명에 따른 공통전압 검사방법은 다수의 영역들 중에서 중앙영역의 플리커 레벨과 그 이전 영역 또는 다음 영역을 플리커 레벨을 서로 비교하여 중앙영역의 플리커 레벨보다 낮은 레벨을 갖는 영역의 방향으로 해당하는 영역들의 플리커 레벨을 측정하여 이들 플리커 레벨들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨에 해당하는 공통전압을 최적의 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하기 때문에 기존의 최적 공통전압 검사방법에 비해 공통전압을 검사하는 검사시간이 단축된다.Therefore, in the common voltage inspection method of the present invention, the flicker level of the central region and the previous region or the next region among the plurality of regions are compared with each other to obtain the corresponding flicker level in the direction of the region having a level lower than the flicker level of the central region And the common voltage corresponding to the lowest flicker level among these flicker levels is set to the optimum reference common voltage Vcom. Therefore, the common voltage inspection method Time is shortened.

이로 인해, 최적의 공통전압을 검사하는 시간이 단축됨으로써 생산 라인의 검사 용량(capacity)이 증가하여 생산 용량(capacity)을 늘릴 수 있게 된다.This shortens the time for inspecting the optimum common voltage, thereby increasing the capacity of the production line and increasing the capacity of the production line.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, You will understand.

따라서, 이상에서 기술한 실시 예들은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려 주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아니 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Therefore, it should be understood that the above-described embodiments are provided so that those skilled in the art can fully understand the scope of the present invention, The invention is only defined by the scope of the claims.

43: 게이트 배선 46: 데이터배선
49: 공통배선 53: 공통전극
62: 화소전극 72: Vcom배선
AA: 표시영역 NA: 비표시영역
GPA: 게이트 패드부 DPA: 데이터패드부43: gate wiring 46: data wiring
49: common wiring 53: common electrode
62: pixel electrode 72: Vcom wiring
AA: display area NA: non-display area
GPA: Gate pad part DPA: Data pad part

Claims (4)

액정표시장치의 구동시에 사용되는 기준 공통전압(Vcom)을 설정하기 위해, 임의의 공통전압을 다수 영역으로 분할하는 단계;
상기 공통전압(Vcom)의 다수의 영역 중에서, 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2)을 스캐닝하여 이 중앙영역의 공통전압(Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 단계;
상기 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨을 측정한 후, 이 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전압(Vn-1/2)을 스캐닝하여 이 공통전압에 대한 제2 플리커 레벨을 측정하는 단계;
상기 중앙영역의 공통전압(Vn/2)의 제1 플리커 레벨과, 상기 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전압(Vn-1/2)의 제2 플리커 레벨 간의 크기 차이를 서로 비교하는 단계;
상기 제1 및 2 플리커 레벨의 크기를 비교하여 상기 제1 플리커 레벨과 제2 플리커 레벨 간의 크기 차이를 확인하는 단계;
상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 작은 경우에 작은 제2 플리커 레벨의 공통전압(Vn-1/2) 이전 영역들의 공통전압들(Vn-2/2, ----, V1)에 대해서만 스캐닝을 진행하여 상기 이전 영역들의 공통전압들(Vn-2/2, ----, V1)에 대한 플리커 레벨들을 측정하는 단계; 및
상기 이전 영역들의 공통전압들(Vn-2/2, ----, V1)의 상기 플러커 레벨들의 크기를 비교하여 가장 낮은 플리커 레벨을 갖는 공통전압을 최적의 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하는 단계를 포함하여 구성되는 액정표시장치의 검사방법.Dividing an arbitrary common voltage into a plurality of regions to set a reference common voltage (Vcom) used for driving the liquid crystal display;
A common voltage Vn / 2 corresponding to the central region is scanned among a plurality of regions of the common voltage Vcom to measure a first flicker level with respect to the common voltage Vn / 2 of the central region ;
The first flicker level for the common voltage Vn / 2 corresponding to the central region is measured and then the common voltage Vn-1/2 of the immediately preceding region of the central region is scanned, Measuring two flicker levels;
Comparing magnitude differences between a first flicker level of the common voltage (Vn / 2) of the central region and a second flicker level of a common voltage (Vn-1/2) of a region immediately preceding the central region;
Comparing magnitudes of the first and second flicker levels to identify magnitude differences between the first and second flicker levels;
(Vn-2/2, - - - - V1) of the regions before the common voltage (Vn-1/2) of the second flicker level of the small second flicker level when the second flicker level is smaller than the first flicker level, (Vn-2/2, - - - - V1) of the previous areas by scanning only for the common areas (Vn-2 / And
The common voltage having the lowest flicker level is set to the optimum reference common voltage Vcom by comparing the sizes of the flusher levels of the common voltages Vn-2/2, The method comprising the steps of: 제1항에 있어서, 상기 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨을 측정한 후, 이 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전압(Vn-1/2)을 스캐닝하여 이 공통전압에 대한 제2 플리커 레벨을 측정하는 대신에, 이 중앙영역의 바로 다음 영역의 공통전압(Vn+1/2)을 스캐닝하여 이 공통전압에 대한 제2 플리커 레벨을 측정하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 검사방법.2. The method of claim 1, further comprising: measuring a first flicker level for a common voltage (Vn / 2) corresponding to the central region and then scanning a common voltage (Vn-1/2) Scanning the common voltage (Vn + 1/2) of the immediately next region of the central region instead of measuring the second flicker level with respect to the common voltage, and measuring the second flicker level with respect to the common voltage Of the liquid crystal display device. 제2항에 있어서, 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 낮은 경우에 낮은 제2 플리커 레벨의 공통전압의 다음 영역들((Vn+2/2, ----, Vn)에 대해서만 스캐닝을 진행하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 검사방법.3. The method according to claim 2, wherein when the second flicker level is lower than the first flicker level, only for the next regions (Vn + 2/2, ..., Vn) of the common voltage of the second low flicker level And performing scanning to measure a flicker level with respect to the common voltages of the respective regions. 제1항에 있어서, 상기 임의의 공통전압은 적어도 5 영역 이상으로 분할하는 액정표시장치의 검사방법.The inspection method of a liquid crystal display device according to claim 1, wherein said arbitrary common voltage is divided into at least five regions.
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