KR101734438B1

KR101734438B1 - 액정표시장치 공통전압 설정 방법 및 기기와, 액정표시장치 제조방법

Info

Publication number: KR101734438B1
Application number: KR1020100103240A
Authority: KR
Inventors: 김성중; 김진환
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2010-10-22
Filing date: 2010-10-22
Publication date: 2017-05-12
Also published as: KR20120041868A

Abstract

본 발명은, 공통전압 검사 범위에 속하며 크기에 따라 순위가 정의된 공통전압들에 대해 순위대로 스캔하여 액정표시장치의 플리커 수준을 측정하는 단계 a)와; 상기 단계 a)를 통해 측정된 제 n-k 순위 내지 제 n 순위의 공통전압에 대한 플리커 수준이, 상기 스캔의 방향으로 상승하는 경향을 가지는지 판단하는 단계 b)와; 상기 단계 b)에서의 판단 결과 플리커 수준이 상승하는 경향을 가지면, 상기 제 n-2 순위의 공통전압을 최적 공통전압으로 검출하고, 상기 단계 b)에서의 판단 결과 플리커 값이 상승하는 경향을 가지지 않으면, 제 n+1 순위의 공통전압을 스캔하여 상기 단계 a)와 단계 b)를 재차 수행하는 단계와; 상기 검출된 최적 공통전압을 상기 액정표시장치의 공통전압으로 설정하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 공통전압 설정 방법을 제공한다.

Description

액정표시장치 공통전압 설정 방법 및 기기와, 액정표시장치 제조방법{Method and device for setting common voltage of liquid crystal display device, and method of fabricating liquid crystal display device}

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 액정표시장치 공통전압 설정 방법 및 기기와, 액정표시장치 제조방법에 관한 것이다.

정보화 사회가 발전함에 따라 화상을 표시하기 위한 표시장치에 대한 요구가 다양한 형태로 증가하고 있으며, 근래에는 액정표시장치(LCD : liquid crystal display), 플라즈마표시장치(PDP : plasma display panel), 유기발광소자(OLED : organic light emitting diode)와 같은 여러가지 평판표시장치(flat display device)가 활용되고 있다.

이들 평판표시장치 중에서, 액정표시장치는 소형화, 경량화, 박형화, 저전력 구동의 장점을 가지고 있어 현재 널리 사용되고 있다.

일반적으로 액정표시장치는, 화소전극에 인가된 데이터전압과 공통전극에 인가된 공통전압의 전압차에 의해 발생된 전계에 따라 액정분자의 배열을 변화시킴으로써 영상을 표시하게 된다.

공통전극에 인가되는 공통전압은, 액정표시장치의 화질 특성 중 하나인 플리커 수준(flicker level)을 고려하여 설정된다. 즉, 최적의 공통전압에서 플리커 수준이 최소값을 갖게 되므로, 해당 액정표시장치의 플리커 수준을 고려하여 공통전압이 설정되게 된다.

액정표시장치는, 제조공정 등의 여러 요인으로 인해, 그 특성에 어느 정도 편차가 발생하게 되며, 최적 공통전압에서도 편차가 발생되는 것이 사실이다. 이에 따라, 액정표시장치들의 최적 공통전압을 측정하여 보면, 일정 범위에서 산포가 발생하게 됨을 확인할 수 있다.

따라서, 종래에는 액정표시장치의 최적 공통전압을 검출함에 있어, 허용 가능한 공통전압의 범위 즉 공통전압 검사 범위 전체를 스캔하게 된다. 즉, 각 액정표시장치에 대해, 공통전압의 검사 범위의 최소값에서부터 최대값까지 모두 스캔하고, 이와 같은 스캔 각각에 대한 플리커 수준을 검출하여, 최소값의 플리커 수준에 대응되는 공통전압을 최적 공통전압으로 검출하게 된다.

이로 인해, 최적 공통전압을 검출함에 있어 많은 시간이 소요되게 된다. 이는 생산성 저하를 유발하게 된다.

본 발명은, 액정표시장치의 최적 공통전압을 검출하는 시간을 감소시켜 생산성을 향상시키는 데 그 과제가 있다.

전술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해, 본 발명은, 공통전압 검사 범위에 속하며 크기에 따라 순위가 정의된 공통전압들에 대해 순위대로 스캔하여 액정표시장치의 플리커 수준을 측정하는 단계 a)와; 상기 단계 a)를 통해 측정된 제 n-k 순위 내지 제 n 순위의 공통전압에 대한 플리커 수준이, 상기 스캔의 방향으로 상승하는 경향을 가지는지 판단하는 단계 b)와; 상기 단계 b)에서의 판단 결과 플리커 수준이 상승하는 경향을 가지면, 상기 제 n-2 순위의 공통전압을 최적 공통전압으로 검출하고, 상기 단계 b)에서의 판단 결과 플리커 값이 상승하는 경향을 가지지 않으면, 제 n+1 순위의 공통전압을 스캔하여 상기 단계 a)와 단계 b)를 재차 수행하는 단계와; 상기 검출된 최적 공통전압을 상기 액정표시장치의 공통전압으로 설정하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 공통전압 설정 방법을 제공한다.

여기서, 상기 공통전압의 순위는, 낮은 값에서 높은 값의 순으로 또는 높은 값에서 낮은 값의 순으로 정의될 수 있다.

상기 검출된 최적 공통전압을 상기 액정표시장치의 공통전압으로 설정하는 단계는, 상기 검출된 최적 공통전압에 대응되는 공통전압 데이터를 추출하는 단계와; 상기 추출된 공통전압 데이터를, 상기 액정표시장치의 저장부에 기록하는 단계를 포함할 수 있다.

다른 측면에서, 본 발명은, 공통전압 검사 범위에 속하며 크기에 따라 순위가 정의된 공통전압들에 대해 순위대로 스캔하여 액정표시장치의 플리커 수준을 측정하는 측정부와; 상기 측정부를 통해 측정된 제 n-k 순위 내지 제 n 순위의 공통전압에 대한 플리커 수준이, 상기 스캔의 방향으로 상승하는 경향을 가지는지 판단하고, 상기 판단 결과 플리커 수준이 상승하는 경향을 가지면, 상기 제 n-2 순위의 공통전압을 최적 공통전압으로 검출하는 검출부와; 상기 검출된 최적 공통전압을 상기 액정표시장치의 공통전압으로 설정하는 설정부를 포함하고, 상기 판단 결과 플리커 값이 상승하는 경향을 가지지 않으면, 제 n+1 순위의 공통전압을 스캔하여 상기 플리커 수준 측정 및 스캔의 방향으로의 상승 경향 판단을 재차 수행하는 액정표시장치의 공통전압 설정 기기를 제공한다.

상기 설정부는, 상기 검출된 최적 공통전압에 대응되는 공통전압 데이터를 추출하고 상기 추출된 공통전압 데이터를 상기 액정표시장치의 저장부에 기록함으로써, 상기 검출된 최적 공통전압을 상기 액정표시장치의 공통전압으로 설정할 수 있다.

또 다른 측면에서, 본 발명은, 액정표시장치에 포함되는 액정패널과, 구동부와, 백라이트를 결합하는 단계와; 공통전압 검사 범위에 속하며 크기에 따라 순위가 정의된 공통전압들에 대해 순위대로 스캔하여 상기 액정표시장치의 플리커 수준을 측정하는 단계 a)와; 상기 단계 a)를 통해 측정된 제 n-k 순위 내지 제 n 순위의 공통전압에 대한 플리커 수준이, 상기 스캔의 방향으로 상승하는 경향을 가지는지 판단하는 단계 b)와; 상기 단계 b)에서의 판단 결과 플리커 수준이 상승하는 경향을 가지면, 상기 제 n-2 순위의 공통전압을 최적 공통전압으로 검출하고, 상기 단계 b)에서의 판단 결과 플리커 값이 상승하는 경향을 가지지 않으면, 제 n+1 순위의 공통전압을 스캔하여 상기 단계 a)와 단계 b)를 재차 수행하는 단계와; 상기 검출된 최적 공통전압을 상기 액정표시장치의 공통전압으로 설정하는 단계를 포함하는 액정표시장치 제조 방법을 제공한다.

본 발명에서는, 플리커 수준이 최초로 상승하는 경향을 찾아 최적 공통전압을 검출할 수 있게 된다. 이로 인해, 그 이후순위의 공통전압에 대해서는, 스캔 및 플리커 수준 검출을 위한 과정이 수행될 필요가 없게 된다.

따라서, 최적 공통전압 검출을 위한 공정 수행 속도가, 전체 공통전압 검사 범위를 스캔하는 종래에 비해, 비약적으로 향상될 수 있게 된다. 이에 따라, 액정표시장치의 생산성은 효과적으로 향상될 수 있게 된다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 공통전압 설정 기기와 액정표시장치를 개략적으로 도시한 도면.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 개략적으로 도시한 도면.
도 3은 도 2의 화소 구조를 개략적으로 도시한 도면.
도 4는 인가된 공통전압에 대한 액정표시장치의 플리커 수준의 관계를 나타낸 도면.
도 5는 본 발명의 실시예에 따라 액정표시장치의 최적 공통전압을 검출하는 방법을 나타낸 흐름도.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 공통전압 설정 기기의 구성의 일예를 개략적으로 도시한 도면.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명한다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 공통전압 설정 기기와 액정표시장치를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 3은 도 2의 화소 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.

도시한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치(200)의 공통전압 설정 기기(100)는, 액정표시장치(200)와 연결되며, 액정표시장치(100)에 인가된 공통전압들에 대한 액정표시장치(200)의 플리커 수준들(FL)을 측정하게 된다. 이와 같은 측정 결과를 기초로, 최적 공통전압(VCO)을 검출하며, 검출된 최적 공통전압(VCO)을 액정표시장치(200)에 설정할 수 있게 된다.

여기서, 공통전압 설정 기기(100)는, 최적 공통전압(VCO)의 검출 및 설정을 위해, 그 대상이 되는 액정표시장치(200)의 관련 동작을 제어할 수 있다.

이와 같은 최적 공통전압(VCO)의 검출 및 설정 방법에 대해서는, 이하에서 상세하게 설명한다.

액정표시장치(200)는, 액정패널(300)과, 구동부와, 백라이트(500)를 포함한다. 구동부는, 타이밍제어부(410)와, 게이트구동부(420)와, 데이터구동부(430)와, 감마전압발생부(440)와, 공통전압발생부(450)와, 저장부(460)를 포함할 수 있다.

액정패널(300)은 영상을 표시하는 표시부에 해당된다. 액정패널(300)에는, 다수의 행라인과 열라인을 따라 매트릭스 형태로 배치된 다수의 화소(P)가 형성되어 있다. 그리고, 행라인 방향을 따라 다수의 게이트배선(GL)이 연장되어 있고, 열라인 방향을 따라 연장된 다수의 데이터배선(DL)이 연장되어 있다.

도 3을 참조하면, 각 화소(P)에는, 대응되는 게이트배선 및 데이터배선(GL, DL)과 연결된 스위칭트랜지스터(T)가 형성되어 있다.

스위칭트랜지스터(T)는 화소전극과 연결되어 있다. 한편, 화소전극에 대응하여 공통전극이 형성된다. 화소전극과 공통전극 각각에 데이터전압과 공통전압(Vcom)이 인가되면, 이들 사이에 전계가 형성된다. 이와 같이 형성된 전계는 액정을 구동하게 된다. 화소전극과 공통전극 그리고 이들 전극 사이에 위치하는 액정은 액정커패시터(Clc)를 구성하게 된다.

여기서, 공통전극에 인가되는 공통전압(Vcom)은, 공통전압 설정 기기(100)를 통해 검출된 최적 공통전압(VCO)에 해당된다.

한편, 각 화소(P)에는, 스토리지커패시터(Cst)가 더욱 구성되며, 이는 화소전극에 인가된 데이터전압을 다음 프레임까지 저장하는 역할을 하게 된다.

여기서, 액정표시장치(200)가 컬러영상을 표시하는 경우에, 예를 들면, 서로 이웃하는 레드(red) 화소(P)와, 그린(green) 화소(P)와, 블루(blue) 화소(P)가 하나의 영상 단위를 구성할 수 있다. 한편, 휘도 향상을 위해, 영상 단위는, 화이트 화소(P)를 더욱 포함할 수 있다.

타이밍제어부(410)는 TV시스템이나 비디오카드와 같은 외부시스템으로부터 제어신호와 영상데이터(Da)를 입력받게 된다. 여기서, 타이밍제어부(410)에 입력되는 제어신호로서, 예를 들면, 수직동기신호, 수평동기신호, 데이터인에이블신호, 데이터클럭신호 등이 입력될 수 있다.

타이밍제어부(410)는 입력된 제어신호를 사용하여, 게이트구동부(420)를 제어하기 위한 게이트제어신호(GCS)와 데이터구동부(430)를 제어하기 위한 데이터제어신호(DCS)를 생성한다.

게이트구동부(420)는, 타이밍제어부(410)로부터 공급되는 게이트제어신호(GCS)에 응답하여, 매 프레임마다 다수의 게이트배선(GL)을 순차적으로 스캔(scan)할 수 있다. 스캔구간 동안에는, 게이트배선(GL)에 턴온전압 예를 들면 게이트하이전압이 인가되며, 이에 따라 게이트배선(GL)에 연결된 스위칭트랜지스터(T)는 턴온된다. 한편, 다음 프레임의 스캔시까지는 게이트배선(GL)에 턴오프전압 예를 들면 게이트로우전압이 인가되며, 이에 따라 게이트배선(GL)에 연결된 스위칭트랜지스터(T)는 턴오프된다.

데이터구동부(430)는, 타이밍제어부(410)로부터 공급되는 데이터제어신호(DCS)에 응답하여, 입력된 디지털형태의 영상데이터(Da)를 아날로그형태의 데이터 즉 데이터전압으로 변환하여, 대응되는 데이터배선(DL)에 데이터전압을 출력하게 된다.

감마전압발생부(440)는, 다수의 감마전압(Vgamma)을 생성하고 이를 데이터구동부(430)에 공급하게 된다. 이와 같이 공급된 감마전압(Vgamma)을 사용하여, 데이터구동부(430)는, 전술한 바와 같이, 데이터전압을 생성하고 이를 대응되는 데이터배선(DL)에 출력하게 된다.

백라이트(500)는, 빛을 액정패널(300)에 공급하는 역할을 하게 된다. 백라이트(500)로서, 냉음극관형광램프(Cold Cathode Fluorescent Lamp: CCFL), 외부전극형광램프(External Electrode Fluorescent Lamp: EEFL), 발광다이오드(Light Emitting Diode: LED)가 사용될 수 있다.

공통전압발생부(450)는, 액정패널(300)의 공통전극에 인가되는 공통전압(Vcom)을 생성하게 된다.

저장부(460)는, 공통전압(Vcom)을 생성하기 위한 데이터 즉 공통전압 데이터(DVC)를 저장하게 된다. 이와 같이 저장부(460)에 저장된 공통전압 데이터(DVC)는, 전원이 인가되어 액정표시장치(200)가 가동되는 경우에, 공통전압발생부(450)에 로드(load)될 수 있다. 이에 따라, 공통전압발생부(450)는, 공통전압 데이터(DVC)를 참조하여, 대응되는 공통전압(Vcom)을 생성할 수 있게 된다.

이와 같은 공통전압 데이터(DVC)는, 공통전압 설정 기기(100)에 의해, 저장부(460)에 기록될 수 있게 된다. 즉, 공통전압 설정 기기(100)에 의해 액정표시장치(200)의 최적 공통전압(VCO)이 검출되면, 검출된 최적 공통전압(VCO)에 대응되는 공통전압 데이터(DVC)가 공통전압 설정 기기(100)로부터 저장부(460)로 전송되어 기록될 수 있게 된다.

한편, 저장부(460)로서, 예를 들면 EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)과 같은 비휘발성 메모리가 사용될 수 있다.

전술한 바와 같이, 공통전압 설정 기기(100)를 통해 검출된 액정표시장치(200)의 최적 공통전압(VCO)이, 액정표시장치(200)의 구동을 위한 공통전압(Vcom)으로서 설정된다.

이하, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 최적 공통전압 검출 및 설정 방법을, 도 4 및 5를 더욱 참조하여, 보다 상세하게 설명한다.

도 4는 인가된 공통전압에 대한 액정표시장치의 플리커 수준의 관계를 나타낸 도면이고, 도 5는 본 발명의 실시예에 따라 액정표시장치의 최적 공통전압을 검출하는 방법을 나타낸 흐름도이다.

도 4는 인가된 공통전압에 대한 액정표시장치(200)의 플리커 수준의 경향을 보여주고 있다. 여기서, 액정표시장치(200)의 최적 공통전압(VCO)의 검출을 위해 액정표시장치(200)에 인가될 수 있는 공통전압의 범위를, 공통전압 검사 범위라고 칭한다.

이와 같은 공통전압 검사 범위에서의 공통전압 대비 플리커 수준을 살펴보면, 플리커 수준이 최소값이 되는 공통전압 즉 최적 공통전압(VCO)을 기준으로, 양방향으로 이동함에 따라 플리커 수준이 상승하는 경향을 갖게 됨을 알 수 있다.

즉, 인가되는 공통전압이, 최적 공통전압(VCO)에서부터 멀어질수록, 플리커 수준은 상승하는 경향을 갖게 되는 것이다.

따라서, 이와 같은 공통전압에 대한 플리커 수준의 이동 경향을 살펴봄으로써, 최적 공통전압(VCO)을 효율적으로 검출할 수 있다.

예를 들면, 최적 공통전압(VCO)을 검출함에 있어, 공통전압 검사 범위에서 최소값에서 최대값 방향으로 순차적으로 공통전압에 대한 스캔을 수행한다고 가정해 보자.

이와 같은 경우에, 최적 공통전압(VCO) 이전의 공통전압들에 대한 플리커 수준은, 스캔 방향으로 하강하는 경향을 갖게 될 것이다.

한편, 최적 공통전압(VCO)부터는, 스캔 방향으로 플리커 수준이 상승하는 경향을 갖게 될 것이다.

따라서, 순차적으로 스캔된 다수의 공통전압에 대한 플리커 수준이 최초로 상승하는 경향을 갖는 경우를 찾게 되면, 이와 같이 순차적으로 스캔된 다수의 공통전압들 중 가장 먼저 스캔된 최선 순위 공통전압이 최소 플리커 수준을 갖는 공통전압에 해당될 것이다. 즉, 이와 같이 최선 순위 공통전압은, 공통전압 검사 범위에 속하는 공통전압들 중, 액정표시장치(200)에 최소 플리커 수준이 발생하도록 하는 최적 공통전압(VCO)에 해당될 것이다.

이처럼, 플리커 수준이 최초로 상승하는 경향을 찾게 되면 최적 공통전압(VCO)을 검출할 수 있게 되는 바, 그 이후에는 공통전압 스캔 및 플리커 수준 검출을 위한 과정은 수행될 필요가 없게 될 것이다.

따라서, 최적 공통전압(VCO) 검출을 위한 공정 수행 속도가, 전체 공통전압 검사 범위를 스캔하는 종래에 비해, 비약적으로 향상될 수 있게 된다. 이에 따라, 액정표시장치(200)의 생산성은 효과적으로 향상될 수 있게 된다.

위와 같이, 최적 공통전압(VCO) 검출 수행 속도를 향상시킬 수 있는 본 발명의 실시예에 따른 최적 공통전압 검출 방법을 도 5를 참조하여 보다 상세하게 설명한다.

도 5를 참조하면, 먼저, 공통전압 검사 범위에 속하는 공통전압에 대해 스캔을 시작하게 된다 (st11). 여기서, 공통전압 검사 범위는, 검사를 수행하는 주체에 의해 사전에 설정될 수 있다. 예를 들면, 검사의 대상이 되는 액정표시장치(200)가 특정 모델인 경우에, 해당 모델의 액정표시장치들에 대해 파악된 최적 공통전압들의 산포를 기반으로, 공통전압 검사 범위가 설정될 수 있을 것이다.

그리고, 공통전압 검사 범위에 속하는 스캔되는 공통전압들 또한 사전에 정의되어 설정될 수 있을 것이다. 예를 들면, 공통전압 검사 범위에는, 제 1 순위 내지 제 N 순위 공통전압이 설정되며, 이들 공통전압들은 순차적으로 스캔될 수 있다. 여기서, 제 1 순위 내지 제 N 순위 공통전압들은, 값의 크기에 따라 공통전압 검사 범위에서 순차적으로 위치하는 검사용 설정 전압들이다.

한편, 스캔 방향이 낮은 값에서 높은 값의 방향인 경우에, 제 1 순위 공통전압은 공통전압 검사 범위의 최소값일 수 있고, 제 N 순위 공통전압은 공통전압 검사 범위의 최대값일 수 있다. 이와는 달리, 스캔 방향이 높은 값에서 낮은 값의 방향인 경우에, 제 1 순위 공통전압은 공통전압 검사 범위의 최대값일 수 있고, 제 N 순위 공통전압은 공통전압 검사 범위의 최소값일 수 있다.

한편, 본 발명의 실시예에서는, 설명의 편의를 위해, 스캔 방향이 낮은 값에서 높은 값의 방향인 경우를 예로 들어 설명한다.

다음으로, 스캔된 공통전압(VC_n)에 대한 액정표시장치(200)의 플리커 수준(FL_n)을 측정하게 된다 (st12). 즉, 스캔된 공통전압(VC_n)은 플리커 수준 검사를 위해 액정표시장치(200)의 공통전극에 인가되며, 이와 같은 공통전압(VC_n)에 대한 플리커 수준(FL_n)을 측정하게 된다. 이를 위해, 액정표시장치(200)의 공통전압 설정 기기(100)는, 플리커 수준 측정을 위한 측정부를 포함할 수 있다. 한편, 이와 같은 측정부로서 광학 검사용 센서가 사용될 수 있다.

다음으로, 스캔된 수(number)인 스캔수(n)에 대한 판단이 수행된다 (st13). 즉, 스캔된 공통전압(VC_n)의 순위에 대한 판단이 수행된다. 이와 관련하여, 스캔수(n)가 설정된 수 예를 들면 k(1 이상의 자연수) 이하인지 그보다 큰지를 판단하게 된다.

만약, k이하인 경우 즉 n≤k인 경우에는 전술한 st11 단계로 돌아가게 되며, 이에 따라 다음번 순위의 공통전압에 대한 스캔 및 플리커 수준 측정이 수행된다.

한편, k보다 큰 경우 즉 n>k인 경우에는 다음 단계인 st14 단계로 진행되게 된다.

이와 같은 스캔수(n)의 판단은, 다음 단계인 st14 단계에서의 플리커 수준의 이동 경향에 대한 판단을 시작할지 여부를 확인하기 위함이다. 즉, 적어도 제 2 순위 공통전압(VC_2)에 대한 플리커 수준(FL_2)을 파악해야만, 플리커 수준의 경향을 파악할 수 있기 때문이다.

전술한 바와 같이, 스캔수(n)가 k 보다 큰 경우에는 st14 단계가 수행되는데, 여기서는 순차적으로 스캔된 k+1개의 공통전압들(VC_n-k 내지 VC_n)에 대한 플리커 수준들이 스캔 방향으로 상승하는 경향을 갖는지 아닌지를 판단하게 된다. 예를 들면, 제 n-k 순위 내지 제 n 순위 공통전압들(VC_n-k 내지 VC_n)에 대한 플리커 수준들(FL_n-k 내지 FL_n)이, 스캔 방향으로 상승하는 경향 즉 FL_n-k < FL_n-k+1 < ... < FL_n 과 같은 관계를 갖는지 아닌지를 판단하게 된다.

여기서, 설명의 편의를 위해, k=2라고 가정해 보자. 이와 같은 경우에, st14 단계에서는, 서로 인접한 3개 순위의 공통전압들(VC_n-2, VC_n-1, VC_n)에 대한 플리커 수준들(FL_n-2, FL_n-1, FL_n)을 사용하게 된다. 즉, 서로 인접한 3개 순위의 공통전압들(VC_n-2, VC_n-1, VC_n)에 대한 플리커 수준들(FL_n-2, FL_n-1, FL_n)이, 상승하는 경향 즉 F_n-2 < F_n-1 < F_n 과 같은 관계를 갖는지 아닌지를 판단하게 되는 것이다.

만약, 서로 인접한 3개 순위의 공통전압들(VC_n-2, VC_n-1, VC_n)에 대한 플리커 수준들(FL_n-2, FL_n-1, FL_n)이 상승하는 경향을 갖지 않게 되면, st11 단계로 돌아가 전술한 과정이 반복되게 된다. 즉, 제 n 순위의 다음번 순위인 제 n+1 순위의 공통전압(VC_n+1)이 스캔되고 이에 대한 플리커 수준(FL_n+1)이 측정되며, 이를 기준으로 서로 인접한 3개 순위의 공통전압들(VC_n-1, VC_n, VC_n+1)에 대한 플리커 수준들(FL_n-1, FL_n, FL_n+1)이 상승하는 경향 즉 FL_n-1 < FL_n < FL_n+1 과 같은 관계를 갖는지 아닌지를 판단하게 된다.

한편, 위와는 달리, 서로 인접한 3개 순위의 공통전압들(VC_n-2, VC_n-1, VC_n)에 대한 플리커 수준들(FL_n-2, FL_n-1, FL_n)이 상승하는 경향 즉 FL_n-2 < F_n-1 < F_n 과 같은 관계를 갖게 되면, 최적 공통전압(VCO)에 대한 검출이 완료되게 된다 (st15). 즉, 서로 인접한 3개 순위의 공통전압들(VC_n-2, VC_n-1, VC_n) 중, 플리커 수준이 가장 낮은 최선 순위의 공통전압(VC_n-k)이 최적 공통전압(VCO)으로 검출되게 된다.

위와 같이, 최적 공통전압(VCO)에 대한 검출이 완료되면, 검출 직전 st14 단계에서 최적 공통전압(VCO) 검출을 위해 사용되었던 공통전압들(VC_n-2, VC_n-1, VC_n) 중 최후 순위의 공통전압(VC_n) 이후 순위의 공통전압들(VC_n+1 내지 VC_N)에 대한 스캔 및 플리커 수준 측정은 중지된다. 즉, 제 n+1 순위부터 제 N 순위 공통전압들(VC_n+1 내지 VC_N)에 대한 스캔 및 플리커 수준 측정이 수행될 필요가 없게 된다.

이에 따라, 앞서 언급한 바와 같이, 최적 공통전압(VCO) 검출을 위한 공정 수행 속도가 비약적으로 향상될 수 있게 된다. 이에 따라, 결과적으로, 액정표시장치(200)의 생산성은 효과적으로 향상될 수 있게 된다.

전술한 바와 같은 과정을 통해 최적 공통전압(VCO)이 검출되게 되면, 공통전압 설정 기기(100)는 해당 액정표시장치(200)에 검출된 최적 공통전압(VCO)을 구동을 위한 공통전압(Vcom)으로서 설정하게 된다.

이와 관련하여 예를 들면, 공통전압 설정 기기(100)는, 최적 공통전압(VCO)에 대응되는 공통전압 데이터(DVC)를 추출하고, 이를 액정표시장치(200)의 저장부(460)에 기록하게 된다.

이에 따라, 액정표시장치(200)가 구동됨에 있어, 공통전압발생부(450)는 저장부(460)에 저장된 공통전압 데이터(DVC)를 참조하여 대응되는 공통전압(Vcom)을 생성하고 이를 공통전극에 공급하게 된다. 이로 인해, 액정표시장치(200)는, 최소의 플리커 수준이 발생하도록 하는 최적 공통전압(VCO)으로 구동될 수 있게 되어, 우수한 화질의 영상을 표시할 수 있게 된다.

이하, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 공통전압 설정 기기(100)의 구성의 일예를 도 6을 더욱 참조하여 설명한다.

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 공통전압 설정 기기의 구성의 일예를 개략적으로 도시한 도면이다.

도 6을 참조하면, 공통전압 설정 기기(100)는, 측정부(110)와, 검출부(120)와, 설정부(130)를 포함할 수 있다.

측정부(110)는 스캔된 공통전압(VC_n)에 의해 액정표시장치(200)에서 발생되는 플리커 수준(FL_n)을 측정하는 구성으로서, 예를 들면 광학 검사용 센서가 사용될 수 있다.

그리고, 검출부(120)는 최적 공통전압(VCO)을 검출하기 위한 구성으로서, 측정부(110)를 통해 측정된 플리커 수준의 이동 경향을 파악하여, 최적 공통전압(VCO)을 검출하게 된다.

또한, 설정부(130)는 검출부(120)를 통해 검출된 최적 공통전압(VCO)을, 해당 액정표시장치(200)에 설정하기 위한 구성에 해당된다. 이와 같은 설정부(130)는, 최적 공통전압(VCO)에 대응되는 공통전압 데이터(DVC)를 추출하고, 이를 해당 액정표시장치(200)에 기록하여 설정할 수 있다.

한편, 공통전압 설정 기기(100)는, 공통전압 검사 범위에 속하는 공통전압들 각각에 대한 공통전압 데이터가 저장된 저장수단(미도시)을 구비할 수 있다. 이에 따라, 설정부(130)는, 최적 공통전압(VCO)에 대응되는 공통전압 데이터를, 저장수단으로부터 추출할 수 있게 된다.

전술한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따르면, 플리커 수준이 최초로 상승하는 경향을 찾아 최적 공통전압을 검출할 수 있게 된다. 이로 인해, 그 이후순위의 공통전압에 대해서는, 스캔 및 플리커 수준 검출을 위한 과정이 수행될 필요가 없게 된다.

한편, 전술한 바와 같은 최적 공통전압 검출 및 설정 과정은, 액정표시장치(200)의 제조 과정에 포함된다. 예를 들면, 액정패널(300)을 제조하고, 제조된 액정패널(300)에 백라이트(500)와 구동부 등의 부품들을 결합하고, 그 후에 전술한 바와 같은 최적 공통전압 검출 및 설정 과정이 수행될 수 있다. 이와 같은 과정을 통해, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치 제조 방법이 수행될 수 있게 된다.

전술한 본 발명의 실시예는 본 발명의 일예로서, 본 발명의 정신에 포함되는 범위 내에서 자유로운 변형이 가능하다. 따라서, 본 발명은, 첨부된 특허청구범위 및 이와 등가되는 범위 내에서의 본 발명의 변형을 포함한다.

100: 공통전압 설정 기기 200: 액정표시장치

Claims

공통전압 검사 범위에 속하며 크기에 따라 순위가 정의된 제 1 순위 내지 제 N 순위의 공통전압들에 대해 순위대로 스캔하여 액정표시장치의 플리커 수준을 측정하는 단계 a)와;
상기 단계 a)를 통해 측정된 제 n-k 순위 내지 제 n 순위의 공통전압에 대한 플리커 수준이, 상기 스캔의 방향으로 상승하는 경향을 가지는지 판단하는 단계 b)와;
상기 단계 b)에서의 판단 결과 플리커 수준이 상승하는 경향을 가지면, 상기 제 n-k 순위의 공통전압을 최적 공통전압으로 검출하고, 상기 제 n 순위 이후 순위의 공통전압들에 대한 스캔 및 플리커 수준 측정을 중단하며,
상기 단계 b)에서의 판단 결과 플리커 값이 상승하는 경향을 가지지 않으면, 제 n+1 순위의 공통전압을 스캔하여 상기 단계 a)와 단계 b)를 재차 수행하는 단계와;
상기 검출된 최적 공통전압을 상기 액정표시장치의 공통전압으로 설정하는 단계를 포함하고,
상기 n은 상기 k 보다 크고 상기 N 미만인 자연수이고, 상기 k는 1 이상인 자연수인
액정표시장치의 공통전압 설정 방법.
제 1 항에 있어서,
상기 공통전압의 순위는, 낮은 값에서 높은 값의 순으로 또는 높은 값에서 낮은 값의 순으로 정의되는
액정표시장치의 공통전압 설정 방법.
제 1 항에 있어서,
상기 검출된 최적 공통전압을 상기 액정표시장치의 공통전압으로 설정하는 단계는,
상기 검출된 최적 공통전압에 대응되는 공통전압 데이터를 추출하는 단계와;
상기 추출된 공통전압 데이터를, 상기 액정표시장치의 저장부에 기록하는 단계를 포함하는
액정표시장치의 공통전압 설정 방법.
공통전압 검사 범위에 속하며 크기에 따라 순위가 정의된 제 1 순위 내지 제 N 순위의 공통전압들에 대해 순위대로 스캔하여 액정표시장치의 플리커 수준을 측정하는 측정부와;
상기 측정부를 통해 측정된 제 n-k 순위 내지 제 n 순위의 공통전압에 대한 플리커 수준이, 상기 스캔의 방향으로 상승하는 경향을 가지는지 판단하고,
상기 판단 결과 플리커 수준이 상승하는 경향을 가지면, 상기 제 n-k 순위의 공통전압을 최적 공통전압으로 검출하는 검출부와;
상기 검출된 최적 공통전압을 상기 액정표시장치의 공통전압으로 설정하는 설정부를 포함하고,
상기 판단 결과 플리커 수준이 상승하는 경향을 가지면, 상기 제 n 순위 이후 순위의 공통전압들에 대한 스캔 및 플리커 수준 측정을 중단하며,
상기 판단 결과 플리커 값이 상승하는 경향을 가지지 않으면, 제 n+1 순위의 공통전압을 스캔하여 상기 플리커 수준 측정 및 스캔의 방향으로의 상승 경향 판단을 재차 수행하며,
상기 n은 상기 k 보다 크고 상기 N 미만인 자연수이고, 상기 k는 1 이상인 자연수인
액정표시장치의 공통전압 설정 기기.
제 4 항에 있어서,
상기 공통전압의 순위는, 낮은 값에서 높은 값의 순으로 또는 높은 값에서 낮은 값의 순으로 정의되는
액정표시장치의 공통전압 설정 기기.
제 4 항에 있어서,
상기 설정부는, 상기 검출된 최적 공통전압에 대응되는 공통전압 데이터를 추출하고 상기 추출된 공통전압 데이터를 상기 액정표시장치의 저장부에 기록함으로써, 상기 검출된 최적 공통전압을 상기 액정표시장치의 공통전압으로 설정하는
액정표시장치의 공통전압 설정 기기.
액정표시장치에 포함되는 액정패널과, 구동부와, 백라이트를 결합하는 단계와;
공통전압 검사 범위에 속하며 크기에 따라 순위가 정의된 제 1 순위 내지 제 N 순위의 공통전압들에 대해 순위대로 스캔하여 상기 액정표시장치의 플리커 수준을 측정하는 단계 a)와;
상기 단계 a)를 통해 측정된 제 n-k 순위 내지 제 n 순위의 공통전압에 대한 플리커 수준이, 상기 스캔의 방향으로 상승하는 경향을 가지는지 판단하는 단계 b)와;
상기 단계 b)에서의 판단 결과 플리커 수준이 상승하는 경향을 가지면, 상기 제 n-k 순위의 공통전압을 최적 공통전압으로 검출하고, 상기 제 n 순위 이후 순위의 공통전압들에 대한 스캔 및 플리커 수준 측정을 중단하며,
상기 단계 b)에서의 판단 결과 플리커 값이 상승하는 경향을 가지지 않으면, 제 n+1 순위의 공통전압을 스캔하여 상기 단계 a)와 단계 b)를 재차 수행하는 단계와;
상기 검출된 최적 공통전압을 상기 액정표시장치의 공통전압으로 설정하는 단계를 포함하고,
상기 n은 상기 k 보다 크고 상기 N 미만인 자연수이고, 상기 k는 1 이상인 자연수인
액정표시장치 제조 방법.
제 7 항에 있어서,
상기 공통전압의 순위는, 낮은 값에서 높은 값의 순으로 또는 높은 값에서 낮은 값의 순으로 정의되는
액정표시장치 제조 방법.
제 7 항에 있어서,
상기 검출된 최적 공통전압을 상기 액정표시장치의 공통전압으로 설정하는 단계는,
상기 검출된 최적 공통전압에 대응되는 공통전압 데이터를 추출하는 단계와;
상기 추출된 공통전압 데이터를, 상기 액정표시장치의 저장부에 기록하는 단계를 포함하는
액정표시장치 제조 방법.