KR101665787B1 - Device and method for calibrating - Google Patents

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Abstract

본 발명은 교정장치에 관한 것으로, 이는 측정모듈의 일측면에서 제1결합부를 매개로 고정되게 설치되고, 일정 높이를 갖는 스탠드; 및 이 스탠드 상에서 제1결합부에 연결되는 제2결합부를 매개로 고정되게 설치되고, 측정모듈의 광 조사기로부터 광이 조사되는 광 조사면과, 이 광 조사면 상에 배치한 광 정렬 판정부를 구비한 정렬판을 포함하여서, 교정작업시 측정시스템의 편차 발생원인을 제거하여 측정 품질을 향상시킬 수 있는 효과가 있게 된다. [0001] The present invention relates to a calibration apparatus, which comprises a stand having a fixed height, fixed on one side of a measurement module via a first coupling unit, And a light alignment section provided on the stand so as to be fixed via a second engagement section connected to the first engagement section and having a light irradiation surface irradiated with light from the light irradiation device of the measurement module and a light alignment determination section arranged on the light irradiation surface It is possible to improve the measurement quality by eliminating the cause of the deviation of the measurement system during the calibration work including one alignment plate.

Description

교정장치 및 교정방법{DEVICE AND METHOD FOR CALIBRATING}[0001] DEVICE AND METHOD FOR CALIBRATING [0002]

본 발명은 교정장치 및 교정방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 교정작업시 측정시스템의 편차 발생원인을 제거하여 측정 품질을 향상시킬 수 있는 교정장치 및 교정방법에 관한 것이다. The present invention relates to a calibration apparatus and a calibration method, and more particularly, to a calibration apparatus and a calibration method capable of improving a measurement quality by eliminating a cause of deviation of a measurement system during a calibration work.

이 부분에 기술된 내용은 단순히 본 발명에 대한 배경 정보를 제공할 뿐 종래기술을 구성하는 것은 아님을 밝혀둔다.It should be noted that the contents described in this section merely provide background information on the present invention and do not constitute the prior art.

강판의 제조가 완료되면, 예컨대 실시간으로 폭을 정확하게 측정하여 제품의 폭을 수요처가 원하는 치수에 맞출 수 있도록 하기 위해 측정시스템을 사용한다. Once the steel sheet has been manufactured, a measurement system is used to accurately measure the width in real time, for example, so that the width of the product can be matched to the desired dimensions of the customer.

도 1은 측정시스템의 구성을 도시한 도면이고, 도 2는 측정모듈의 사시도이다. 이들 도면에 도시된 바와 같이 측정시스템은, 점검 영역과 측정 영역 사이에서 수평이동이 가능한 측정모듈(100), 점검 영역 및 측정 영역에 설치되어 측정모듈(100)을 점검 영역에서 측정 영역으로 또는 반대로 이동시키는 이동유닛(200), 측정모듈(100)로부터 데이터를 수집하여 처리하고 데이터를 송수신하는 제어유닛(300)을 포함하고 있다. Fig. 1 is a view showing a configuration of a measuring system, and Fig. 2 is a perspective view of a measuring module. As shown in these drawings, the measurement system includes a measurement module 100 capable of horizontally moving between a check area and a measurement area, a check area 100 installed in the check area and the measurement area so as to move the measurement module 100 from the check area to the measurement area, And a control unit 300 for collecting and processing data from the measurement module 100 and transmitting and receiving data.

측정모듈(100)은 전후진이 가능한 C형상의 프레임(110), 이 프레임(110)의 상부에 일렬로 정렬되어 강판(1)을 향해 광(2)을 조사하는 적어도 하나의 광 조사기(120), 및 이 광 조사기(120)의 근처에 배치되어 연속으로 진행하는 강판의 표면과 함께 반사되는 광(2)을 촬영하는 적어도 하나의 촬상기(130)를 포함한다. 여기서, 통상 광 조사기(120)로는 레이저 발생기가 채용되며, 촬상기(130)로는 CCD카메라가 사용된다. The measurement module 100 includes a C-shaped frame 110 capable of moving forward and backward, at least one light irradiator 120 arranged in a line on the frame 110 and irradiating the light 2 toward the steel plate 1, And at least one image pickup device 130 which is disposed in the vicinity of the light irradiator 120 and photographs light 2 reflected with the surface of the continuously running steel plate. Here, a laser generator is employed as the normal light irradiator 120, and a CCD camera is used as the image pickup device 130.

한편, 광 조사기(120) 중 레이저 발생기는 반도체 레이저의 특성상 일정한 사용시간이 경과하면 광(2)의 세기가 점차 약해지고, 주변 온도의 영향을 쉽게 받아 저온에서는 광의 세기가 급격히 약해지게 된다. 이에 따라, 수집되는 영상 데이터도 영향을 받아 측정 편차가 발생하기 때문에, 주기적으로 레이저 발생기를 교체해야 한다. On the other hand, the laser generator of the light irradiator 120 has a weak intensity of the light 2 when the use time of the laser is constant over a certain period of time because of the characteristics of the semiconductor laser, and the influence of the ambient temperature is easily affected. Accordingly, since the image data to be collected is also influenced and a measurement deviation occurs, the laser generator must be periodically replaced.

종래에는 광 조사기(120)의 교체 후 광의 라인 및 초점을 교정할 때, 프레임(110)의 표면에 비취지는 광(2)을 이용하여 교정하고 있기 때문에, 실제로 생산하는 제품의 측정에서는 광의 라인이 갖는 높이가 패스라인(Pass Line)이 갖는 높이(4)만큼 높아지게 된다. 결국, 광의 라인 및 초점 등의 정렬 상태가 달라져 측정값에 오차가 포함되게 되고, 이로써 측정 품질을 저하시키는 원인이 되고 있다. Conventionally, when correcting the line and focus of light after replacement of the light irradiator 120, since the light (2) shone on the surface of the frame (110) is corrected using the light (2) The height is increased by the height 4 of the pass line. As a result, the alignment state of the light line, the focus, and the like is changed, and errors are included in the measured values, which causes deterioration of the measurement quality.

또한, 촬상기(130)가 갖는 각 픽셀별 길이(폭)를 산출할 때에도, 조정용 툴을 광의 라인과 평행하게 배치하는 것이 중요하나, 작업자의 감각에만 의존하는 것 이외에는 별다른 수단이 없어서 오차가 발생하는 문제가 있다. 특히, 크기가 다른 복수의 표준시편을 번갈아 측정모듈(100)에 올려놓고 측정값과 표준시편의 표준값을 비교하여 편차가 기준치를 초과하지 않는 경우에 완료된 것으로 판정하게 되는데, 올려놓는 표준시편을 매번 똑같이 광의 라인과 평행하게 배치할 방도가 없다. Even when calculating the length (width) of each pixel of the image sensing device 130, it is important to arrange the adjustment tool in parallel with the line of light. However, since there is no other means other than relying only on the sense of the operator, There is a problem. In particular, a plurality of standard specimens having different sizes are alternately placed on the measurement module 100, and the measured values are compared with the standard values of the standard specimen. When the deviation does not exceed the reference value, it is determined that the standard specimen is completed. There is no way to place them parallel to the line of light equally.

이에 본 발명은 교정작업시 측정시스템의 편차 발생원인을 제거하여 측정 품질을 향상시킬 수 있는 교정장치 및 교정방법을 제공하는 데에 그 주된 목적이 있다. Accordingly, it is a primary object of the present invention to provide a calibration apparatus and a calibration method capable of improving measurement quality by eliminating a cause of deviation of a measurement system during a calibration operation.

본 발명의 일 실시예에 따른 교정장치는, 측정모듈의 일측면에서 제1결합부를 매개로 고정되게 설치되고, 일정 높이를 갖는 스탠드; 및 상기 스탠드 상에서 상기 제1결합부에 연결되는 제2결합부를 매개로 고정되게 설치되고, 상기 측정모듈의 광 조사기로부터 광이 조사되는 광 조사면과, 상기 광 조사면 상에 배치한 광 정렬 판정부를 구비한 정렬판을 포함하고, 상기 제1결합부와 상기 제2결합부는 적어도 한 쌍의 관통홀이고, 상기 제1결합부와 상기 제2결합부는 상기 측정모듈의 일측면에 형성된 결합홀과 연통되고, 고정구가 상기 제2결합부 및 상기 제1결합부를 관통하여 상기 결합홀에 체결되는 것을 특징으로 한다.A calibration device according to an embodiment of the present invention includes a stand having a predetermined height and fixed to the measurement module through a first coupling part, A light irradiation surface on which light is irradiated from the light irradiation unit of the measurement module and which is fixed to the stand via a second coupling portion connected to the first coupling portion, Wherein the first coupling portion and the second coupling portion are at least a pair of through holes and the first coupling portion and the second coupling portion are formed in a coupling hole formed on one side of the measurement module, And the fastener passes through the second engaging part and the first engaging part and is fastened to the engaging hole.

본 발명의 일 실시예에 따른 교정장치에서, 상기 스탠드는 적어도 일측 선단에 적어도 하나의 스토퍼를 포함하는 것을 특징으로 한다. In the calibration apparatus according to an embodiment of the present invention, the stand includes at least one stopper at one end.

본 발명의 일 실시예에 따른 교정방법은, 측정모듈의 일측면에 스탠드를 설치하는 공정; 상기 스탠드의 위에 정렬판을 적층하여 고정하는 공정; 상기 측정모듈의 광 조사기로부터 상기 정렬판의 위로 광을 조사하는 공정; 및 상기 정렬판으로부터 반사되는 광의 라인이 일직선이 되도록 상기 광 조사기의 각도와 초점을 맞추는 공정을 포함하는 것을 특징으로 한다. A calibration method according to an embodiment of the present invention includes: a step of installing a stand on one side of a measurement module; Stacking and fixing an alignment plate on the stand; Irradiating light from the light irradiator of the measurement module above the alignment plate; And focusing the angle of the light irradiator such that a line of light reflected from the alignment plate is a straight line.

이상과 같이 본 발명에 의하면, 교정장치가 실제 제품의 측정 높이에 맞추도록 구성한 스탠드를 구비하여, 이 스탠드 상에 정렬판과 조정용 툴 및 표준시편을 번갈아 또는 순차적으로 올려놓을 수 있게 되는데, 스토퍼에 의해 반복해도 항상 그 위치가 일치하게 됨으로써, 오차를 제거할 수 있어 교정 실패 내지 편차 발생의 원인을 제거할 수 있는 효과가 있게 된다. As described above, according to the present invention, the calibration device is provided with a stand configured to match the measurement height of an actual product, and the alignment plate, the adjustment tool, and the standard specimen can be placed alternately or sequentially on the stand. It is possible to eliminate the error and to eliminate the cause of the correction failure or the occurrence of the deviation.

더구나, 본 발명에 의하면 궁극적으로 측정 품질을 향상시키게 되어 생산 및 품질 관리에 유익한 도움이 되고, 이에 따라 제품의 신뢰도와 상품성을 높일 수 있는 효과를 얻을 수 있다. Moreover, according to the present invention, the measurement quality is ultimately improved, which is beneficial for production and quality control, and therefore, the reliability and merchantability of the product can be improved.

도 1은 측정시스템의 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 측정원리를 설명하기 위해 도시한 측정모듈의 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 교정장치를 도시한 분해 사시도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 교정장치를 도시한 조립 사시도이다.
도 5는 조정용 툴을 도시한 사시도이다.
도 6은 스탠드 상에 조정용 툴이 결합한 상태를 도시한 조립 사시도이다.
도 7은 스탠드 상에 표준시편이 놓인 상태를 도시한 사시도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 교정장치를 적용한 교정방법을 나타낸 순서도이다.1 is a view schematically showing a configuration of a measurement system.
2 is a perspective view of a measurement module shown to illustrate the principle of measurement.
3 is an exploded perspective view showing a calibration apparatus according to an embodiment of the present invention.
4 is an assembled perspective view illustrating a calibration apparatus according to an embodiment of the present invention.
5 is a perspective view showing an adjustment tool.
6 is an assembled perspective view showing a state in which an adjusting tool is coupled on a stand.
7 is a perspective view showing a state where a standard specimen is placed on a stand.
8 is a flowchart illustrating a calibration method using a calibration apparatus according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명이 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명된다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. It should be noted that, in adding reference numerals to the constituent elements of the drawings, the same constituent elements are denoted by the same reference symbols as possible even if they are shown in different drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

도 1 및 도 2를 참조하면, 측정모듈(100)은 강판(1)의 표면 중 시계(Field of View; 3)를 촬상기(130)로 촬영하여, 광 조사기(120)에 의해 강판(1)으로 조사된 후 강판의 표면에서 반사되는 광(2)을 포함한 주변 영상을 수집하게 된다. 1 and 2, the measurement module 100 photographs the field of view 3 of the surface of the steel strip 1 with the image pickup device 130, ), And then collects surrounding images including light (2) reflected from the surface of the steel sheet.

측정 정밀도를 높이기 위하여 복수의 광 조사기(120)와 복수의 촬상기(130)가 강판(1)의 폭 방향으로 직렬로 배치되게 된다. A plurality of light irradiators 120 and a plurality of image pickup devices 130 are arranged in series in the width direction of the steel plate 1 in order to increase the measurement accuracy.

이동유닛(200)은 점검 영역 및 측정 영역에 설치되어 측정모듈(100)을 점검 영역에서 측정 영역으로 또는 반대로 이동시킬 수 있다. The mobile unit 200 may be installed in a check area and a measurement area to move the measurement module 100 from the check area to the measurement area or vice versa.

제어유닛(300)은 미리 설정된 회귀식에 따라 연산하여 수집된 영상 데이터를 처리하고 실제 강판(1)의 폭을 산출할 수 있는데, 여기서 회귀식에 의해 가동 전 교정작업시 촬상기(130)가 갖는 각각의 픽셀(Pixel)이 실제로는 몇 mm인지가 산출되어 있다. The control unit 300 can calculate the width of the actual steel plate 1 by processing the acquired image data by calculating according to a preset regression formula. Here, the regression equation is used to calculate the width Which is actually several millimeters is calculated.

전술한 바와 같이, 광 조사기(120) 중 레이저 발생기는 반도체 레이저의 특성상 일정한 사용시간이 경과하면 광(2)의 세기가 점차 약해지고, 주변 온도의 영향을 쉽게 받아 저온에서는 광의 세기가 급격히 약해지게 된다. 이에 따라, 수집되는 영상 데이터도 영향을 받아 측정 편차가 발생하기 때문에, 주기적으로 레이저 발생기를 교체해야 한다. As described above, since the laser generator of the light irradiator 120 is characterized by the characteristics of the semiconductor laser, the intensity of the light 2 gradually weakens over a certain period of use, and the influence of the ambient temperature is easily affected, . Accordingly, since the image data to be collected is also influenced and a measurement deviation occurs, the laser generator must be periodically replaced.

촬상기(130)의 경우에는 초기 장착시 정밀하게 조정되어 고정되지만, 광 조사기(120)는 교체 후에 광(2)의 라인을 교정하고 조정용 툴과 표준시편을 사용하여 촬상기(130)가 갖는 각 픽셀별 길이(폭)를 산출해 내는 교정작업을 되풀이해야 한다. 이러한 교정작업은 측정시스템의 측정 품질을 결정하는 중요한 과정이다. In the case of the imaging device 130, the light irradiator 120 calibrates the line of light 2 after replacement and fixes it precisely during initial mounting, The calibration operation must be repeated to calculate the length (width) of each pixel. This calibration is an important process for determining the quality of measurement of a measurement system.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 교정장치를 도시한 분해 사시도이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 교정장치를 도시한 조립 사시도이다. 이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 교정장치(500)는, 측정모듈(100; 도 1 및 도 2 참조)의 일측면에서 제1결합부(512)를 매개로 고정되게 설치되고, 일정 높이를 갖는 스탠드(510); 및 이 스탠드(510) 상에 제1결합부(512)에 연결되는 제2결합부(522)를 매개로 고정되게 설치되고, 측정모듈(100)의 광 조사기(120)로부터 광(2)이 조사되는 광 조사면과, 이 광 조사면 상에 배치한 광 정렬 판정부(524)를 구비한 정렬판(520)을 포함하고 있다. FIG. 3 is an exploded perspective view illustrating a calibration apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is an assembled perspective view illustrating a calibration apparatus according to an embodiment of the present invention. As shown in these figures, a calibration device 500 according to an embodiment of the present invention includes a calibration module 500 (shown in Figures 1 and 2) A stand 510 having a predetermined height; And a second coupling part 522 connected to the first coupling part 512 on the stand 510. The light 2 from the light irradiation device 120 of the measurement module 100 And an alignment plate 520 having a light irradiation surface to be irradiated and a light alignment alignment portion 524 disposed on the light irradiation surface.

스탠드(510)는 일정 높이를 가진 대략 사각형 틀 형상의 부재로서, 그 상부에 올려지는 다른 부재들이 이탈하지 않고 평행을 유지하도록 지지하게 된다. 스탠드(510)의 재질은 견고한 금속이나 플라스틱이 바람직하지만, 반드시 이들에만 한정되는 것은 아니다. The stand 510 is a member having a substantially rectangular frame shape having a predetermined height, and other members mounted on the stand 510 are supported to maintain parallelism without detaching. The material of the stand 510 is preferably a solid metal or plastic, but is not limited thereto.

스탠드(510)는 측정모듈(100)을 구성하는 C형상의 프레임(110)의 일측면에 설치된다. 이러한 설치를 위해 제1결합부(512)는 스탠드(510)를 관통하는 적어도 한 쌍의 관통홀로 형성된다. 이들 제1결합부(512)가 프레임(110)의 일측면에 형성된 결합홀(112; 도 2 참조)과 연통되고, 예컨대 나사와 같은 고정구(미도시)가 제1결합부(512)를 관통하여 결합홀(112)에 체결된다. 이로써, 스탠드(510)가 측정모듈(100)의 프레임(110)에 고정되게 설치될 수 있다.The stand 510 is installed on one side of the C-shaped frame 110 constituting the measurement module 100. For this installation, the first engaging portion 512 is formed of at least a pair of through holes passing through the stand 510. [ These first engaging portions 512 are communicated with engaging holes 112 (see FIG. 2) formed on one side of the frame 110 and fasteners (not shown) such as screws are passed through the first engaging portions 512 And is fastened to the coupling hole 112. Thus, the stand 510 can be fixedly mounted on the frame 110 of the measurement module 100.

추가로, 스탠드(510)는 적어도 일측 선단에 적어도 하나의 스토퍼(514)를 포함할 수 있다. 이 스토퍼(514)는 스탠드(510) 상에 놓이는 예를 들어 표준시편(700; 도 7 참조)의 정렬 위치를 위한 기준선을 제공해 주게 된다. In addition, the stand 510 may include at least one stopper 514 at least at one end. This stopper 514 provides a reference line for the alignment position of, for example, the standard specimen 700 (see FIG. 7) that rests on the stand 510.

정렬판(520)은 표면이 평탄하고 변형이 적도록 정밀 가공된 예컨대 알루미늄 등과 같은 금속판으로 이루어진다. 광 조사기(120)로부터 광(2)이 조사되는 광 조사면은 이 정렬판(520)의 상부면으로 된다. The alignment plate 520 is made of a metal plate, such as aluminum or the like, precision-processed so that the surface thereof is flat and less deformed. The light irradiation surface to which the light 2 is irradiated from the light irradiator 120 becomes the upper surface of the alignment plate 520.

또한, 광 정렬 판정부(524)는 일정한 간격으로 배열된 복수의 눈금선을 포함할 수 있다. 이러한 눈금선은 정렬판(520)에 직접 음각으로 새겨지거나, 인쇄되거나, 금속의 곧은 자들에 형성된 후 정렬판(520)에 부착되어도 된다.In addition, the light alignment determination unit 524 may include a plurality of grid lines arranged at regular intervals. These graduation lines may be engraved directly on the alignment plate 520, printed, or attached to the rear alignment plate 520 formed on straight lines of metal.

이러한 정렬판(520)도 스탠드(510) 상에 위치할 때 제1결합부(512)에 연결되는 제2결합부(522)를 구비하는데, 제2결합부(522)는 정렬판(520)을 관통하는 적어도 한 쌍의 관통홀로 형성되게 된다. 이들 제2결합부(522)가 스탠드(510)의 제1결합부(512) 및 프레임(110)의 일측면에 형성된 결합홀(112)과 연통되고, 예컨대 나사와 같은 고정구(미도시)가 제2결합부(522) 및 제1결합부(512)를 관통하여 결합홀(112)에 체결된다. 이로써, 정렬판(520)이 스탠드(510)와 측정모듈(100)의 프레임(110) 상에 고정되게 설치될 수 있다.The alignment plate 520 also has a second engagement portion 522 that is connected to the first engagement portion 512 when the alignment plate 520 is positioned on the stand 510. The alignment portion 520 includes the alignment plate 520, At least a pair of through holes passing through the through hole. These second engaging portions 522 are in communication with the first engaging portions 512 of the stand 510 and the engaging holes 112 formed on one side of the frame 110 and fasteners And is coupled to the coupling hole 112 through the second coupling portion 522 and the first coupling portion 512. Thus, the alignment plate 520 can be fixedly mounted on the stand 510 and the frame 110 of the measurement module 100.

여기서, 실제로 생산하는 제품의 측정에서는 광의 라인(5)이 갖는 높이가 패스라인이 갖는 높이(4; 도 2 참조)만큼 높아지게 되는데, 본 발명의 일 실시예에 따른 교정장치(500)에서 이 높이(4)는 스탠드(510)가 갖는 높이(h)에다 정렬판(520)의 두께(t)를 합한 것과 일치하게 되어, 광의 라인 및 초점 등과 같은 정렬 상태가 달라지는 현상이 방지될 수 있다. 따라서, 측정모듈(100)을 구성하는 C형상의 프레임(110)의 일측면에 스탠드(510)를 설치하고 그 위에 정렬판(520)을 위치시키는 것만으로도 패스라인의 높이(4)를 맞출 수 있게 되는 것이다. Here, in the measurement of a product to be actually produced, the height of the light line 5 is increased by the height 4 (see FIG. 2) of the pass line. In the calibration device 500 according to the embodiment of the present invention, The height h of the stand 510 is equal to the sum of the thickness t of the alignment plate 520 and the alignment state of the light line and the focus can be prevented from varying. Therefore, by merely placing the stand 510 on one side of the C-shaped frame 110 constituting the measurement module 100 and placing the alignment plate 520 thereon, the height 4 of the pass line is adjusted It will be possible.

본 발명의 일 실시예에 따른 교정장치(500)에 조정용 툴이 적용될 수 있는바, 도 5는 조정용 툴을 도시한 사시도이다. 이러한 조정용 툴(600)은 표면이 평탄하고 변형이 적도록 정밀 가공된 예컨대 알루미늄 등과 같은 금속판으로 이루어진 판부재이다. 또한, 조정용 툴(600)은 일정한 간격으로 배열되고 천공된 복수의 슬릿(610)을 포함할 수 있다. 이들 슬릿(610)은 조정용 툴(600)의 길이방향으로 미리 설정되거나 알려진 거리만큼 서로 떨어져 일렬로 정렬될 수 있다. An adjustment tool can be applied to the calibration apparatus 500 according to an embodiment of the present invention, and Fig. 5 is a perspective view showing the adjustment tool. The adjusting tool 600 is a plate member made of a metal plate such as aluminum or the like, which is precision machined so that the surface is flat and less deformed. In addition, the adjustment tool 600 may include a plurality of slits 610 arranged and spaced at regular intervals. These slits 610 may be aligned in a line spaced apart from each other by a predetermined distance or a known distance in the longitudinal direction of the adjustment tool 600. [

이러한 조정용 툴(600)도 스탠드(510) 상에 위치할 때 제1결합부(512)에 연결되는 제3결합부(612)를 구비할 수 있는데, 제3결합부(612)는 조정용 툴(600)을 관통하는 적어도 한 쌍의 관통홀로 형성되게 된다. 이들 제3결합부(612)가 스탠드(510)의 제1결합부(512) 및 프레임(110)의 일측면에 형성된 결합홀(112)과 연통되고, 예컨대 나사와 같은 고정구(미도시)가 제3결합부(612) 및 제1결합부(512)를 관통하여 결합홀(112)에 체결된다. 이로써, 조정용 툴(600)이 스탠드(510)와 측정모듈(100)의 프레임(110) 상에 고정되게 설치될 수 있다.The adjusting tool 600 may also have a third engaging portion 612 connected to the first engaging portion 512 when positioned on the stand 510, 600 formed in the upper surface thereof. These third engaging portions 612 communicate with the first engaging portions 512 of the stand 510 and the engaging holes 112 formed on one side of the frame 110 and fasteners (not shown) such as screws Through the third engaging portion 612 and the first engaging portion 512, and is fastened to the engaging hole 112. This allows the adjustment tool 600 to be fixedly mounted on the stand 510 and the frame 110 of the measurement module 100.

이하에서는 본 발명의 교정장치를 사용하여 이행될 수 있는 교정방법에 대해 설명하기로 한다.Hereinafter, a calibration method that can be implemented using the calibration apparatus of the present invention will be described.

측정시스템 중 측정모듈(100)의 성능을 좌우하는 광 조사기(120) 또는 촬상기(130)의 교체나 위치 변화가 생긴 경우에 반드시 재조정이 필요하다. 이를 위한 교정은, 측정모듈(100)을 점검 영역으로 후진시켜 강판이 없는 상태에서 진행하게 된다. It is necessary to readjust the position of the light irradiator 120 or the image sensing device 130 that changes the performance of the measurement module 100 among the measurement systems. Calibration for this is performed by moving the measurement module 100 back to the inspection area and thereafter without the steel plate.

이러한 교정의 성패는, 광 조사기(120)로부터 조사되는 광의 라인이 일직선으로 정렬된 상태와, 조정용 툴(600) 및 표준시편(700)을 실제 제품과 동일한 높이에 배치하고 반복적으로 측정함으로써 오차를 제거한 상태 등에 의해 결정될 수 있다. Such calibration can be achieved by arranging the lines of light emitted from the light irradiator 120 in a straight line and arranging the adjusting tool 600 and the standard specimen 700 at the same height as the actual product and repeatedly measuring the errors Removed state, or the like.

본 발명의 일 실시예에 따른 교정방법은, 측정모듈(100)의 일측면에 스탠드(510)를 설치하는 공정; 이 스탠드(510)의 위에 정렬판(520)을 적층하여 고정하는 공정; 측정모듈(100)의 광 조사기(120)로부터 정렬판(520)의 광 조사면에 광(2)을 조사하는 공정; 및 정렬판(520)으로부터 반사되는 광의 라인(5)이 일직선으로 정렬되도록 광 조사기(120)의 각도와 초점을 맞추는 공정을 포함하고 있다. A calibration method according to an embodiment of the present invention includes: a step of installing a stand 510 on one side of a measurement module 100; Stacking and fixing the alignment plate 520 on the stand 510; Irradiating the light 2 onto the light irradiation surface of the alignment plate 520 from the light irradiator 120 of the measurement module 100; And a step of focusing the angle of the light irradiator 120 such that the line of light 5 reflected from the alignment plate 520 is aligned in a straight line.

광 조사기(120)로부터 조사되는 광의 라인(5)이 완전하게 일직선으로 되어야 편차가 없게 되는데, 예를 들어 도 4에 도시된 바와 같이 광의 라인이 정렬되지 않을 수 있으므로, 스탠드(510) 상에 올려놓은 정렬판(520)의 광 정렬 판정부(524)를 보면서 광 조사기(120)의 각도와 초점을 맞춤으로써 광의 라인(5)이 일직선으로 되게 한다. The line 5 of light irradiated from the light irradiator 120 has to be completely aligned so that there is no deviation. For example, the line of light may not be aligned as shown in FIG. 4, The line of light 5 is straightened by focusing the angle and focus of the light irradiator 120 while looking at the light alignment determination section 524 of the alignment plate 520 that has been placed.

다음으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 교정방법은, 스탠드(510)의 위에 조정용 툴(600)을 적층하여 고정하는 공정; 측정모듈(100)의 광 조사기(120)로부터 조정용 툴(600)의 위로 광(2)을 조사하는 공정; 측정모듈(100)의 촬상기(130)로 촬영하여 광(2)을 포함한 영상을 수집하는 공정; 및 수집된 영상으로부터 각 픽셀의 길이(폭)를 산출하는 공정을 더 포함한다. Next, a calibration method according to an embodiment of the present invention includes: a step of stacking and fixing an adjustment tool 600 on a stand 510; Irradiating the light (2) from the light irradiator (120) of the measurement module (100) onto the adjustment tool (600); Capturing an image including the light (2) by photographing with an image pickup device (130) of the measurement module (100); And calculating a length (width) of each pixel from the collected image.

도 6에 도시된 바와 같이 조정용 툴(600)을 정렬판(520) 대신에 스탠드(510)의 위에 적층하여 올려놓고서 고정한다. 그 후에 광 조사기(120)로부터 조정용 툴(600)의 위로 광(2)을 조사하게 된다. 이때, 조정용 툴(600)과 광 조사기(120)로부터 조사되는 광의 라인(5)이 평행하게 유지되는 것이 중요한데, 조정용 툴(600)에 가공된 제3결합부(612)가 스탠드(510)의 제1결합부(512)와 연통되어 프레임(110)의 결합홀(112)과 함께 체결되기 때문에 항상 조정용 툴(600)과 광의 라인(5)이 평행하게 위치될 수 있다. 6, the adjustment tool 600 is stacked on the stand 510 instead of the alignment plate 520, and fixed. And then irradiates the light 2 from the light irradiator 120 above the adjusting tool 600. In this case, it is important that the lines 5 of the light emitted from the adjusting tool 600 and the light irradiator 120 are kept parallel to each other. In this case, the third engaging portion 612, which is processed in the adjusting tool 600, The adjustment tool 600 and the line of light 5 can always be positioned in parallel since they are in communication with the first engagement portion 512 and are fastened together with the engagement hole 112 of the frame 110.

각 촬상기(130)의 렌즈 곡률에 의하여 각 픽셀의 값이 촬상기(130)의 중심과 가장자리 등 위치마다 서로 다르게 되며, 더구나 광 조사기 또는 촬상기의 교체나 위치 변화로 인해 광의 라인(5)에 대응되는 픽셀들이 변경되게 된다. 이에 따라, 조정용 툴(600)에서 정렬된 광의 라인(5)이 천공된 슬릿(610)을 통과하는 영상과, 슬릿 없이 막힌 부분에 의해 반사된 영상을 촬상기(130)로 수집하고, 제어유닛(300) 내에 설치된 영상처리 프로그램에 의해서 회귀식에 조정용 툴(600)의 물리적인 치수(Tool Factor)를 대입하는 방식으로 각각의 픽셀마다 갖는 실제 고유한 길이(폭)의 값을 산출하게 된다. The value of each pixel differs depending on the position of the center and the edge of the image sensing device 130 due to the curvature of the lens of each image sensing device 130 and also the line 5 of the light due to the change of the light- The pixels corresponding to the pixels are changed. Thereby, the image of the line 5 of the light aligned in the adjustment tool 600 passes through the perforated slit 610 and the image reflected by the clogged portion without slit is captured by the image pickup device 130, (Width) for each pixel in a manner of substituting the physical dimensions of the adjustment tool 600 into the regression equation by the image processing program installed in the image processing apparatus 300. [

이러한 정렬판 또는 조정용 툴을 사용하는 과정에서, 스탠드(510)는 이들 부재가 패스라인의 높이(4)와 동일한 높이에 유지될 수 있게 함과 동시에, 연통되는 제1결합부(512) 및 스토퍼(514)에 의해 교정이 반복되더라도 이들 부재의 위치가 달라지지 않고 고정되게 하는 역할을 하게 된다. In the course of using such an alignment plate or adjustment tool, the stand 510 allows these members to be maintained at the same height as the height 4 of the pass line, and at the same time, Even if the calibration is repeated by the sensor 514, the position of these members is fixed without being changed.

도 7은 스탠드 상에 표준시편이 놓인 상태를 도시한 사시도이다. 이에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 교정방법은, 스탠드(510)의 위에 표준시편(700)을 올려놓는 공정; 측정모듈(100)의 광 조사기(120)로부터 표준시편(700)의 위로 광(2)을 조사하는 공정; 측정모듈(100)의 촬상기(130)로 촬영하여 광(2)을 포함한 영상을 수집하는 공정; 수집된 영상으로부터 해당 표준시편(700)의 길이(폭)를 산출하는 공정; 및 표준시편(700)의 표준값과 측정된 측정값을 비교하는 공정을 더 포함한다. 7 is a perspective view showing a state where a standard specimen is placed on a stand. As shown therein, the calibration method according to an embodiment of the present invention includes: a step of placing a standard specimen 700 on a stand 510; Irradiating the light (2) from the light irradiator (120) of the measurement module (100) onto the standard specimen (700); Capturing an image including the light (2) by photographing with an image pickup device (130) of the measurement module (100); Calculating a length (width) of the standard specimen 700 from the collected image; And comparing the measured value with a standard value of the standard specimen 700. [

측정모듈(100)의 교정 결과를 검증하기 위해, 공인 기관의 인증을 받은 크기가 다른 복수의 표준시편(700)을 준비한다. 이러한 검증 과정에서 스탠드(510)의 위에 표준시편(700)을 올려놓기 때문에, 스토퍼(514)에 의해 표준시편(700)을 매번 똑같이 광의 라인(5)과 평행하게 배치할 수 있어, 측정시스템의 교정시 발생할 수 있는 오차를 방지하게 되는 장점이 있다. In order to verify the calibration result of the measurement module 100, a plurality of standard specimens 700 different in size certified by the accredited institution are prepared. Since the standard specimen 700 is placed on the stand 510 in this verification process, the standard specimen 700 can be equally placed in parallel with the optical line 5 each time by the stopper 514, There is an advantage that errors that may occur during calibration can be prevented.

조정용 툴 및 복수의 표준시편을 놓고서 반복적으로 측정하여 교정작업을 실시하고, 측정된 측정값과 표준시편이 갖는 표준값 사이의 편차를 비교하면서 기준치를 초과하지 않으면 교정작업을 종료하게 된다.The adjustment tool and the plurality of standard specimens are repeatedly measured and calibrated, and the deviation between the measured value and the standard value of the standard specimen is compared, and the calibration operation is terminated if the reference value is not exceeded.

교정이 완료되면, 측정모듈(100)을 측정 영역으로 전진시켜 지나가는 강판(1)의 폭을 측정한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 교정장치에 의해 전술된 교정방법을 이행하는 순서도가 도 8에 나타나 있다. When the calibration is completed, the measurement module 100 is advanced to the measurement area to measure the width of the steel strip 1 passing through the measurement area. A flowchart for implementing the above-described calibration method by the calibration apparatus according to an embodiment of the present invention is shown in FIG.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예는 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The foregoing description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and various changes and modifications may be made by those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the scope of equivalents should be construed as falling within the scope of the present invention.

100: 측정모듈 110: 프레임
120: 광 조사기 130: 촬상기
500: 교정장치 510: 스탠드
520: 정렬판 600: 조정용 툴
700: 표준시편 100: Measurement module 110: Frame
120: light irradiator 130:
500: calibration device 510: stand
520: alignment plate 600: adjustment tool
700: Standard Specimen

Claims (10)

측정모듈의 일측면에서 제1결합부를 매개로 고정되게 설치되고, 일정 높이를 갖는 스탠드; 및
상기 스탠드 상에서 상기 제1결합부에 연결되는 제2결합부를 매개로 고정되게 설치되고, 상기 측정모듈의 광 조사기로부터 광이 조사되는 광 조사면과, 상기 광 조사면 상에 배치한 광 정렬 판정부를 구비한 정렬판
을 포함하고,
상기 제1결합부와 상기 제2결합부는 적어도 한 쌍의 관통홀이고, 상기 제1결합부와 상기 제2결합부는 상기 측정모듈의 일측면에 형성된 결합홀과 연통되고, 고정구가 상기 제2결합부 및 상기 제1결합부를 관통하여 상기 결합홀에 체결되는 교정장치.A stand having a predetermined height and fixed to the measuring module through a first coupling part; And
A light irradiation surface on which light is irradiated from the light irradiation unit of the measurement module and a light alignment determination unit arranged on the light irradiation surface, the light irradiation determination unit being mounted on the stand via a second coupling unit connected to the first coupling unit, The alignment plate
/ RTI >
Wherein the first engaging portion and the second engaging portion are at least a pair of through holes and the first engaging portion and the second engaging portion are in communication with engagement holes formed in one side surface of the measurement module, And the second coupling portion is coupled to the coupling hole through the first coupling portion. 제1항에 있어서,
상기 스탠드는 적어도 일측 선단에 적어도 하나의 스토퍼를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 교정장치.The method according to claim 1,
Characterized in that the stand further comprises at least one stopper at one end. 제1항에 있어서,
상기 광 정렬 판정부는 일정한 간격으로 배열된 복수의 눈금선인 것을 특징으로 하는 교정장치.The method according to claim 1,
Wherein the light alignment judging section is a plurality of graduation lines arranged at regular intervals. 제3항에 있어서,
상기 눈금선은 상기 정렬판에 음각으로 새겨지거나, 인쇄되거나, 곧은 자에 형성된 후 상기 정렬판에 부착되는 것을 특징으로 하는 교정장치.The method of claim 3,
Wherein said graduation lines are engraved on said alignment plate, printed, or formed on a straight line and then attached to said alignment plate. 제1항에 있어서,
상기 스탠드 상에 상기 정렬판 대신에 조정용 툴이 고정되는 것을 특징으로 하는 교정장치.The method according to claim 1,
Wherein the adjustment tool is fixed on the stand instead of the alignment plate. 제5항에 있어서,
상기 조정용 툴은 일정한 간격으로 배열되고 천공된 복수의 슬릿을 포함한 판부재인 것을 특징으로 하는 교정장치.6. The method of claim 5,
Wherein the adjusting tool is a plate member including a plurality of slits arranged at regular intervals. 제5항에 있어서,
상기 조정용 툴은 상기 제1결합부에 연결되는 제3결합부를 구비하며,
상기 제3결합부는 적어도 한 쌍의 관통홀이고, 상기 제1결합부와 상기 제3결합부는 상기 측정모듈의 일측면에 형성된 결합홀과 연통되고, 고정구가 상기 제3결합부 및 상기 제1결합부를 관통하여 상기 결합홀에 체결되는 것을 특징으로 하는 교정장치.6. The method of claim 5,
Wherein the adjusting tool has a third engaging portion connected to the first engaging portion,
Wherein the third engaging portion is at least a pair of through holes and the first engaging portion and the third engaging portion are in communication with engagement holes formed in one side surface of the measurement module and the fixture is engaged with the third engagement portion and the first engagement portion, And the fastening portion is fastened to the coupling hole. 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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