KR101614847B1 - Flexible metal laminate - Google Patents

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Abstract

본 발명은 상이한 함량으로 불소계 수지를 포함하는 제1 및 제2 폴리이미드 수지층을 포함하는 연성 금속 적층판에 관한 것이다. The present invention relates to a flexible metal clad laminate comprising first and second polyimide resin layers containing a fluorine resin in different contents.

Description

연성 금속 적층체{FLEXIBLE METAL LAMINATE}[0001] FLEXIBLE METAL LAMINATE [0002]

본 발명은 연성 금속 적층체에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 낮은 유전율 을 가지면서도 높은 탄성도와 함께 최적화된 열팽창계수를 확보할 수 있는 연성 금속 적층체에 관한 것이다.The present invention relates to a flexible metal laminate, and more particularly, to a flexible metal laminate capable of securing an optimized thermal expansion coefficient with high elasticity while having a low dielectric constant.

최근 전자 기기의 소형화와 고속화 및 다양한 기능들이 결합하는 추세에 맞춰서 전자 기기 내부에서의 신호 전달 속도 또는 전자 기기 외부와의 신호 전달 속도가 빨라지고 있는 실정이다. 이에 따라서, 기존의 절연체보다 유전율과 유전 손실 계수가 더욱 낮은 절연체를 이용한 인쇄 회로 기판이 필요해지고 있다. In recent years, signal transmission speed within the electronic device or signal transmission speed to the outside of the electronic device has been accelerating in accordance with the trend of miniaturization and high speed of electronic devices and the combination of various functions. Accordingly, a printed circuit board using an insulator having a dielectric constant and a dielectric loss coefficient lower than that of an existing insulator is required.

이러한 경향을 반영하듯 최근 연성 인쇄 회로기판에서도 종래의 폴리이미드보다 더욱 유전율이 낮으면서 흡습에 의한 영향을 덜 받는 절연체인 액정 폴리머(LCP, Liquid Crystalline Polymer)를 적용하려는 움직임이 생겨나고 있다. 그러나, LCP를 적용하더라도 실질적으로 LCP의 유전율(Dk=2.9)이 폴리이미드(Dk=3.2)와 크게 다르지 않기 때문에 적용에 따른 개선 정도가 미미하고, 또한 LCP의 내열성이 남땜 공정에서 문제가 될 정도로 낮으며, LCP가 열가소성을 갖기 때문에 레이저를 이용한 Via hole 가공에 있어서 기존의 폴리이미드를 이용했던 PCB 제조 공정과의 호환성이 떨어지는 문제점이 있다. As reflected in this tendency, there is a tendency to apply LCP (Liquid Crystalline Polymer), which is an insulator less susceptible to moisture absorption, than a conventional polyimide even in a flexible printed circuit board. However, even when the LCP is applied, the degree of improvement due to application is insignificant because the dielectric constant (Dk = 2.9) of LCP is substantially not different from that of polyimide (Dk = 3.2) substantially and the heat resistance of the LCP becomes a problem in the soldering process And since the LCP has thermoplasticity, there is a problem that compatibility with the PCB manufacturing process using the conventional polyimide is inferior in the laser hole processing using the laser.

따라서, 이에 대한 해결책으로 기존 연성 회로 기판의 절연체로 사용되고 있는 폴리이미드의 유전율을 낮추는 노력이 실시되어 왔다. 예를 들어, 미국등록특허 제4816516호에 의하면, 폴리이미드와 불소계 고분자를 혼합하여 몰드 성형품을 만드는 내용을 나타내었다. 그러나, 상기 특허는 저유전율이 필요한 전자기기용 제품에 관한 것이 아니라 몰드 성형품에 관한 것으로, 실제 열팽창율이 크고 유리전이온도가 낮은 폴리이미드를 사용하였다. 또한, 인쇄회로기판에 사용하기 위해서는 얇은 박막 형태로 폴리이미드 수지를 가공하여야 하는데, 상기 미국특허에는 얇은 박막 형태로 제조된 동박 적층판에 관한 내용이 나타나 있지 않다. Accordingly, efforts have been made to lower the dielectric constant of polyimide used as an insulator of conventional flexible circuit boards. For example, U.S. Patent No. 4,816,516 discloses a method of molding a molded article by mixing polyimide and a fluorine-based polymer. However, the above patent does not relate to a product for an electronic device requiring a low dielectric constant but relates to a molded product, and polyimide having a large coefficient of thermal expansion and a low glass transition temperature is used. In addition, in order to be used for a printed circuit board, a polyimide resin must be processed in the form of a thin film. The US patent does not disclose a thin-film-type copper-clad laminate.

또한, 미국등록특허 제7026032호에 의하면, 불소계 고분자의 미세 분말을 폴리이미드에 분산시켜 제조되는 제품의 유전율을 낮추는 방법이 개시되어 있다. 상기 미국 특허에는 불소계 고분자 미세 분말이 절연체의 내부 코어에 비하여 외부 표면에 보다 많이 분포하는 내용이 나타나 있다. 그러나, 상기 미국 특허에 기재된 바와 같이, 절연체의 최외각층에 불소계 고분자의 함량이 많기 때문에 외부 표면의 불소계 고분자에 의하여 수분 투과 및 흡수가 낮아져서 전체적인 수분 흡수율을 낮출 수 있으나, 기존의 폴리이미드로 이루어진 연성 동박 적층판이 갖지 않던 문제점이 발생할 수 있다. 예를 들어, 상기 미국 특허에 기재된 폴리이미드 수지는 커버레이와의 접착력이나 프리프레그와의 접착력이 약해지고 ACF와의 접착력도 낮아질 수 있으며, 상기 미국 특허에 기재된 폴리이미드 수지의 열팽창계수(CTE)는 연성 동박 적층판에 적용되기에는 너무 클 뿐만 아니라, 상기 폴리이미드 수지의 표면에는 불소 수지가 외부에 과량으로 존재하게 때문에, PCB 제조 공정 중의 수납 공정에 적용되는 380℃ 내외의 온도에서 불소 수지가 녹을 수 있고 동박 회로가 절연체로부터 박리될 위험이 있다. Further, U.S. Patent No. 7026032 discloses a method of lowering the dielectric constant of a product produced by dispersing a fine powder of a fluorine-based polymer in polyimide. The US patent discloses that the fluorine-based polymer fine powder is more distributed on the outer surface than the inner core of the insulator. However, since the content of the fluorinated polymer is large in the outermost layer of the insulator as described in the above-mentioned U.S. patent, moisture permeation and absorption are lowered by the fluorinated polymer on the outer surface, and the overall water absorption rate can be lowered. However, There is a problem that the copper clad laminate does not exist. For example, the polyimide resin described in the U.S. patent may weaken the adhesive force with the coverlay or the adhesion with the prepreg, and the adhesive force with the ACF may be lowered, and the coefficient of thermal expansion (CTE) of the polyimide resin disclosed in the above- Since the fluoropolymer is present in excess on the surface of the polyimide resin, the fluoropolymer can be melted at a temperature of about 380 ° C, which is applied to the holding process during the PCB manufacturing process There is a risk that the copper foil circuit will peel off from the insulator.

한편, 인쇄 회로 기판 등의 분야에 적용되는 고분자 재료에 불소계 수지가 첨가함에 따라 유전율을 일정 정도 낮출 수는 있으나, 불소계 수지의 함량이 높아질수록 고분자 재료 자체가 브리틀(brittle)해지거나 신율을 낮아지는 문제점이 있었다. 이에 따라, 불소계 수지를 사용하여 낮은 유전율을 가지면서도, 낮은 열팽창계수와 함께 높은 탄성 계수를 갖는 폴리이미드 재료의 개발이 필요한 실정이다.On the other hand, although the permittivity can be lowered to a certain degree by adding a fluorine resin to a polymer material applied to a field of a printed circuit board and the like, the higher the fluorine resin content is, the more the polymer material itself becomes brittle, . Accordingly, it is necessary to develop a polyimide material having a low dielectric constant and a high coefficient of elasticity with a low thermal expansion coefficient using a fluorine resin.

미국등록특허 제4816516호U.S. Patent No. 4,816,516 미국등록특허 제7026032호U.S. Patent No. 7026032

본 발명은 낮은 유전율을 가지면서도 높은 탄성도와 함께 최적화된 열팽창계수를 확보할 수 있는 연성 금속 적층체를 제공하기 위한 것이다. An object of the present invention is to provide a flexible metal laminate capable of securing an optimized thermal expansion coefficient with a high dielectric constant and a low dielectric constant.

본 명세서에는, 불소계 수지 0중량% 내지 20중량%를 포함하는 제1폴리이미드 수지층; 및 불소계 수지 20중량% 내지 70중량%를 포함하는 제2폴리이미드 수지층;을 포함하며, 상기 제1폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 비율에 비하여 상기 제2폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 비율이 10중량% 이상 높은, 연성 금속 적층체가 제공된다. In the present specification, a first polyimide resin layer containing 0% by weight to 20% by weight of a fluorine resin; And a second polyimide resin layer containing 20 to 70% by weight of a fluorine-based resin, wherein the second polyimide resin layer contains a fluorine-based resin in a proportion of a proportion of the fluorine-based resin contained in the first polyimide resin layer Based resin is at least 10% by weight, based on the total weight of the fluorine-containing resin.

이하 발명의 구체적인 구현예에 따른 연성 금속 적층체에 관하여 보다 상세하게 설명하기로 한다.
The flexible metal laminate according to a specific embodiment of the present invention will be described in more detail below.

상술한 바와 같이, 발명의 일 구현예에 따르면, 불소계 수지 0중량% 내지 20중량%를 포함하는 제1폴리이미드 수지층; 및 불소계 수지 20중량% 내지 70중량%를 포함하는 제2폴리이미드 수지층;을 포함하며, 상기 제1폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 비율에 비하여 상기 제2폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 비율이 10중량% 이상 높은, 연성 금속 적층체가 제공될 수 있다. As described above, according to one embodiment of the present invention, there is provided a polyimide resin composition comprising: a first polyimide resin layer containing 0 to 20% by weight of a fluorine resin; And a second polyimide resin layer containing 20 to 70% by weight of a fluorine-based resin, wherein the second polyimide resin layer contains a fluorine-based resin in a proportion of a proportion of the fluorine-based resin contained in the first polyimide resin layer Based resin is 10% by weight or more higher than that of the fluorine-containing resin.

본 발명자들은 상이한 함량으로 불소계 수지를 포함하는 2종의 폴리이미드 수지층을 포함한 연성 금속 적층판이 낮은 유전율을 확보하면서도, 내부에 포함되는 고분자 수지층의 탄성도를 크게 향상시킬 수 있으며, 최적화된 열팽창계수를 갖는다는 점을 실험을 통하여 확인하고 발명을 완성하였다. The present inventors have found that a soft metal laminate including two kinds of polyimide resin layers containing a fluorine resin in different contents can secure a low dielectric constant and can greatly improve the elasticity of the polymer resin layer contained therein, We have confirmed through experiments that we have a coefficient and have completed the invention.

이전에는 연성 금속 적층체에 적용되는 폴리이미드 등의 고분자 수지의 유전율을 낮추기 위해서 불소계 고분자 수지를 첨가하는 방법이 알려져 있으나, 대표적인 불소계 수지인 폴리테트라 플루오로에틸렌(PTFE), 테트라플루오르에틸렌-헥사플루오르프로필렌 공중합체(FEP) 및 퍼플루오로알콕시(PFA)의 열팽창계수가 각각 135ppm, 150ppm 및 230ppm에 달하여 통상적인 폴리이미드가 갖는 열팽창계수인 10 내지 30ppm에 비하여 상당히 크며, 폴리이미드의 유전율을 충분히 낮추기 위해서 상기와 같은 불소계 수지를 10 내지 60wt% 정도 넣어 주어야 하기 때문에 전체적인 열팽창계수가 커질 수 밖에 없었다. 또한, 상기 폴리이미드 및 불소계 수지를 포함하는 고분자 수지층 내에서 불소계 수지의 함량이 커짐에 따라서 상기 고분자 수지층의 신율이 크게 낮아져서 연성 금속 적층체에서 요구되는 탄성도를 충족하지 못하였다. In the past, a method of adding a fluorine-based polymer resin to lower the dielectric constant of a polymer resin such as polyimide applied to a soft metal laminate is known, but a typical fluorine resin such as polytetrafluoroethylene (PTFE), tetrafluoroethylene-hexafluor The thermal expansion coefficients of the propylene copolymer (FEP) and the perfluoroalkoxy (PFA) are 135 ppm, 150 ppm and 230 ppm, respectively, which are considerably larger than the thermal expansion coefficient of 10 to 30 ppm of the conventional polyimide and sufficiently lower the permittivity of the polyimide It is necessary to add about 10 to 60 wt% of the above-mentioned fluororesin, so that the overall thermal expansion coefficient has to be increased. Further, as the content of the fluororesin in the polymer resin layer containing the polyimide and the fluororesin increases, the elongation of the polymer resin layer is significantly lowered and the elasticity required in the fluororesin is not satisfied.

이에 반하여, 상기 일 구현예의 연성 금속 적층체는 불소계 수지를 상대적으로 적게 포함하는 제1폴리이미드 수지층과 불소계 수지를 상대적으로 많이 포함하는 제2폴리이미드 수지층을 각각 1이상 포함하고, 상술한 바와 같이 상기 제1폴리이미드 수지층 및 제2폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 차이가 10중량% 이상임으로 인하여 불소계 수지의 함량을 높여서 상기 일 구현예의 연성 금속 적층체의 유전율을 낮추면서도 높은 탄성도는 확보할 수 있다. On the contrary, the flexible metal laminate of one embodiment includes at least one first polyimide resin layer containing a relatively small amount of a fluorine-based resin and at least one second polyimide resin layer containing a relatively large amount of a fluorine-based resin, The content of the fluororesin in the first polyimide resin layer and the content of the fluororesin in the second polyimide resin layer is at least 10% by weight, so that the content of the fluororesin is increased to lower the permittivity of the flexible metal laminate of one embodiment A high elasticity can be secured.

이는 상기 제1폴리이미드 수지층 및 제2폴리이미드 수지층에 불소계 수지가 상이한 함량 범위로 포함됨에 따라서, 불소계 수지의 함량이 적은 제 1 폴리이미드 수지층이 상대적으로 높은 탄성도와 신율을 최대한 유지하면서, 상대적으로 탄성도와 신율이 낮은 제 2 폴리이미드 수지층을 보호하기 때문이다.This is because the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer contain different amounts of the fluorine resin, the first polyimide resin layer having a small content of the fluorine resin maintains a relatively high elasticity and elongation as much as possible , And protects the second polyimide resin layer having relatively low elasticity and elongation.

상기 제1폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 비율에 비하여 상기 제2폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 비율이 10중량% 이상 높을 수 있으며, 구체적으로 상기 제1폴리이미드 수지층 및 제2폴리이미드 수지층 각각에 포함된 불소계 수지의 함량 비율의 차이가 10중량% 내지 70중량%, 또는 20중량% 내지 60중량%일 수 있다. The content ratio of the fluororesin contained in the second polyimide resin layer may be higher than that of the fluororesin included in the first polyimide resin layer by at least 10% by weight. Specifically, the first polyimide resin layer And the second polyimide resin layer may be 10 wt% to 70 wt%, or 20 wt% to 60 wt%, respectively.

상기 제1폴리이미드 수지층 및 제2폴리이미드 수지층 각각에 포함된 불소계 수지의 함량 비율의 차이가 너무 작으면, 상기 연성 금속 적층체의 탄성도와 신율의 개선 효과가 미미할 수 있다.If the difference in the content ratio of the fluorine resin contained in each of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer is too small, the effect of improving the elasticity and elongation of the flexible metal laminate may be insignificant.

한편, 상기 연성 금속 적층체는 상기 제1폴리이미드 수지층 및 제2폴리이미드 수지층 각각을 적어도 1층 이상 포함할 수 있다. The flexible metal laminate may include at least one of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer.

또한, 상기 제1폴리이미드 수지층의 두께의 총합에 대한 상기 제2폴리이미드 수지층의 두께의 총합의 비율이 0.1 내지 5.0, 또는 0.3 내지 3, 또는 0.5 내지 2일 수 있다. 상기 제 1 폴리이미드 수지층 전체 두께가 너무 얇으면 탄성도와 신율의 개선 효과가 미미할 수 있다. 또한, 불소계 수지의 함량이 상대적으로 작은 상기 제 1 폴리이미드 수지층 전체가 너무 두꺼우면, 상기 연성 금속 적층체에 포함된 불소계 수지의 함량이 낮아지게 되어 낮은 유전율을 확보하기 어렵게 된다. The ratio of the total thickness of the second polyimide resin layer to the total thickness of the first polyimide resin layer may be 0.1 to 5.0, or 0.3 to 3, or 0.5 to 2. If the total thickness of the first polyimide resin layer is too thin, the effect of improving the elasticity and elongation may be insignificant. If the entire first polyimide resin layer having a relatively small content of the fluorine resin is too thick, the content of the fluorine resin contained in the flexible metal laminate becomes low, and it becomes difficult to secure a low dielectric constant.

한편, 상기 연성 금속 적층체에서는 하기 일반식1로 정의되는 불소계 수지 평균 함량이 10 중량% 내지 50중량%, 또는 15중량% 내지 40중량%일 수 있다. On the other hand, in the flexible metal laminate, the average content of the fluorine resin defined by the following general formula 1 may be 10 wt% to 50 wt%, or 15 wt% to 40 wt%.

[일반식1] [Formula 1]

불소계 수지 평균 함량 = [(상기 제1폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 비율 * 상기 제1폴리이미드 수지층의 두께)의 총합 + (상기 제2폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 비율 * 상기 제2폴리이미드 수지층의 두께)의 총합] / (상기 제1폴리이미드 수지층의 두께 및 상기 제2폴리이미드 수지층의 두께의 총합)
The sum of the fluoric resin average content = [(the content ratio of the fluororesin contained in the first polyimide resin layer * the thickness of the first polyimide resin layer) + (the total amount of the fluororesin contained in the second polyimide resin layer Content ratio * total thickness of the second polyimide resin layer)] / (total thickness of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer)

상기 일 구현예의 연성 금속 적층체에서 상기 일반식1로 정의되는 불소계 수지 평균 함량이 너무 낮으면 상기 연성 금속 적층체의 유전율이 크게 높아질 수 있으며, 상기 일반식1로 정의되는 불소계 수지 평균 함량이 너무 높으면 상기 연성 금속 적층체의 신율이 크게 저하되거나 열팽창계수가 크게 높아질 수 있다. If the average content of the fluorine-based resin defined by the general formula 1 in the flexible metal laminate of one embodiment is too low, the dielectric constant of the flexible metal laminate may be greatly increased, and if the average content of the fluorine- The elongation of the soft metal laminate may be significantly reduced or the thermal expansion coefficient may be greatly increased.

상기 일 구현예의 연성 금속 적층체는 상기 일반식1로 정의되는 불소계 수지 평균 함량이 동일한 단일 조성의 폴리이미드 수지층을 사용한 연성 금속 적층체에 비하여 동등 수준의 유전유을 확보하면서도 보다 높은 신율과 낮은 열팽창계수를 가질 수 있어서 보다 우수한 성능 및 높은 신뢰도를 구현할 수 있다. The soft metal laminate of one embodiment has a higher elongation and a lower thermal expansion than the soft metal laminate using a polyimide resin layer having the same average content of the fluorine-based resin having the same average composition as the above-mentioned formula Coefficient, so that it is possible to realize higher performance and higher reliability.

한편, 상기 제1폴리이미드 수지층 및 상기 제2폴리이미드 수지층 각각에 포함되는 불소계 수지는 폴리테트라 플루오로에틸렌(PTFE), 테트라플루오로에틸렌-퍼플루오로알킬비닐에테르 공중합체(PFA), 테트라플루오르에틸렌-헥사플루오르프로필렌 공중합체(FEP), 에틸렌-테트라플루오로에틸렌 코폴리머 수지(ETFE), 테트라플루오로에틸렌- 클로로트리플루오로에틸렌 공중합체(TFE/CTFE) 및 에틸렌-클로로트리플루오로에틸렌 수지(ECTFE)로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상일 수 있다.On the other hand, the fluorine resin contained in each of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer may be at least one selected from the group consisting of polytetrafluoroethylene (PTFE), tetrafluoroethylene-perfluoroalkyl vinyl ether copolymer (PFA) Tetrafluoroethylene-hexafluoropropylene copolymer (FEP), ethylene-tetrafluoroethylene copolymer resin (ETFE), tetrafluoroethylene-chlorotrifluoroethylene copolymer (TFE / CTFE) and ethylene-chlorotrifluoro And ethylene resin (ECTFE).

상기 불소계 수지는 0.05 ㎛ 내지 20㎛, 또는 0.1㎛ 내지 10㎛ 의 최장 직경을 갖는 입자일 수 있다. 상기 불소계 수지의 최장 직경이 너무 작으면 불소계 수지의 표면적이 증가하여 상기 제1폴리이미드 수지층 및 상기 제2폴리이미드 수지층 각각의 물성이 저하될 수 있다. 또한, 상기 불소계 수지의 최장 직경이 너무 크면 제조되는 상기 제1폴리이미드 수지층 및 상기 제2폴리이미드 수지층 각각의 표면 특성이 저하될 수 있다.The fluororesin may be a particle having a longest diameter of 0.05 mu m to 20 mu m, or 0.1 mu m to 10 mu m. If the maximum diameter of the fluororesin is too small, the surface area of the fluororesin increases, and the physical properties of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer may be lowered. In addition, if the maximum diameter of the fluorine resin is too large, the surface characteristics of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer to be produced may be lowered.

한편, 상기 제1폴리이미드 수지층 및 상기 제2폴리이미드 수지층 각각은 0.1㎛ 내지 100㎛, 또는 1㎛ 내지 50㎛의 두께를 가질 수 있다. On the other hand, each of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer may have a thickness of 0.1 mu m to 100 mu m, or 1 mu m to 50 mu m.

상기 제1폴리이미드 수지층 및 상기 제2폴리이미드 수지층 각각이 5,000 내지 500,000의 중량평균분자량을 갖는 폴리이미드 수지를 포함할 수 있다. Each of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer may include a polyimide resin having a weight average molecular weight of 5,000 to 500,000.

상기 폴리이미드 수지의 중량평균분자량이 너무 작으면 연성 금속 적층체 등으로 적용시 요구되는 기계적 물성 등을 충분히 확보할 수 없다. 또한, 상기 폴리이미드 수지의 중량평균분자량이 너무 크면, 상기 폴리이미드 수지층의 탄성도나 기계적 물성이 저하될 수 있다. If the weight average molecular weight of the polyimide resin is too small, it is impossible to sufficiently secure the mechanical properties required in the application of the flexible metal laminate or the like. In addition, if the weight average molecular weight of the polyimide resin is too large, the elasticity and mechanical properties of the polyimide resin layer may be deteriorated.

또한, 상기 제1폴리이미드 수지층 및 상기 제2폴리이미드 수지층 각각이 하기 화학식1의 반복 단위를 포함하는 폴리이미드 수지를 포함할 수 있다.Further, each of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer may include a polyimide resin containing a repeating unit represented by the following formula (1).

[화학식1][Chemical Formula 1]

Figure 112014092604639-pat00001
Figure 112014092604639-pat00001

상기 화학식1에서, Y1은 4가의 방향족 유기 작용기이고, X는2가의 방향족 유기 작용기이다. In the above formula (1), Y 1 is a tetravalent aromatic organic functional group, and X is a divalent aromatic organic functional group.

상기 Y1은 하기 화학식 21 내지 27로 이루어진 군에서 선택된 4가의 작용기를 포함할 수 있다. The Y 1 may include a tetravalent functional group selected from the group consisting of the following formulas (21) to (27).

[화학식21] [Chemical Formula 21]

Figure 112014092604639-pat00002
Figure 112014092604639-pat00002

[화학식22][Chemical Formula 22]

Figure 112014092604639-pat00003
Figure 112014092604639-pat00003

상기 화학식22에서, Y1 은 단일결합, -O-, -CO-, -S-, -SO2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -CONH-, -COO-, -(CH2)n1-, -O(CH2)n2O-, 또는 -OCO(CH2)n3OCO-이고, 상기 n1, n2 및 n3는 각각 1 내지 10의 정수이다.In Formula 22, Y 1 represents a single bond, -O-, -CO-, -S-, -SO 2 -, -C (CH 3 ) 2 -, -C (CF 3 ) 2 -, -CONH-, -COO-, - (CH 2) n1 -, -O (CH 2) n2 O-, or -OCO (CH 2) n3 a OCO-, wherein n1, n2 and n3 is an integer of 1 to 10, respectively.

[화학식23] (23)

Figure 112014092604639-pat00004
Figure 112014092604639-pat00004

상기 화학식23에서, Y2 및 Y3는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 단일결합, -O-, -CO-, -S-, -SO2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -CONH-, -COO-, -(CH2)n1-, -O(CH2)n2O-, 또는 -OCO(CH2)n3OCO-이고, 상기 n1, n2 및 n3는 각각 1 내지 10의 정수이다. Y 2 and Y 3 may be the same or different and each represents a single bond, -O-, -CO-, -S-, -SO 2 -, -C (CH 3 ) 2 -, -C (CF 3) 2 -, -CONH- , -COO-, - (CH 2) n1 - a, -O (CH 2) n2 O- , or -OCO (CH 2) n3 OCO-, wherein n1, n2, and and n3 is an integer of 1 to 10, respectively.

[화학식24]≪ EMI ID =

Figure 112014092604639-pat00005

Figure 112014092604639-pat00005

상기 화학식24에서, Y4, Y5 및 Y6는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 단일결합, -O-, -CO-, -S-, -SO2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -CONH-, -COO-, -(CH2)n1-, -O(CH2)n2O-, 또는 -OCO(CH2)n3OCO-이고, 상기 n1, n2 및 n3는 각각 1 내지 10의 정수이다. In the above formula (24), Y 4 , Y 5 And Y 6 may be the same or different from each other, and respectively a single bond, -O-, -CO-, -S-, -SO 2 -, -C (CH 3) 2 -, -C (CF 3) 2 -, a, -O (CH 2) n2 O- , or -OCO (CH 2) n3 a OCO-, wherein n1, n2 and n3 is 1 to 10 - -CONH-, -COO-, - (CH 2) n1 It is an integer.

[화학식25](25)

Figure 112014092604639-pat00006
Figure 112014092604639-pat00006

[화학식26](26)

Figure 112014092604639-pat00007
Figure 112014092604639-pat00007

[화학식27](27)

Figure 112014092604639-pat00008
Figure 112014092604639-pat00008

상기 화학식 21 내지 27에서, '*'은 결합점(bonding point)을 의미한다. In the above Formulas 21 to 27, '*' means a bonding point.

그리고, 상기 폴리이미드 수지층이 보다 낮은 유전율 및 낮은 수분 흡수율을 가지면서도 높은 탄성도와 함께 최적화된 열팽창계수를 확보하기 위해서, 상기 화학식1의 Y1이 하기 화학식 28 내지 30으로 이루어진 군에서 선택된 4가 작용기인 것이 바람직하다. 상기 Y1은 상기 화학식1의 반복 단위 각각에서 같거나 다를 수 있다. In order that the polyimide resin layer has a lower dielectric constant and a lower water absorption rate, but also has a high elasticity and an optimized thermal expansion coefficient, it is preferable that Y 1 in the formula 1 is a tetravalent group selected from the group consisting of the following formulas Functional group. The Y 1 may be the same or different in each of the repeating units of the formula (1).

[화학식 28](28)

Figure 112014092604639-pat00009
Figure 112014092604639-pat00009

[화학식 29][Chemical Formula 29]

Figure 112014092604639-pat00010
Figure 112014092604639-pat00010

[화학식 30](30)

Figure 112014092604639-pat00011
Figure 112014092604639-pat00011

상기 화학식 28 내지 30에서, '*'은 결합점(bonding point)을 의미한다. In the above Chemical Formulas 28 to 30, '*' means a bonding point.

한편, 상기 화학식1에서, 상기 X는 하기 화학식 31 내지 34로 이루어진 군에서 선택된 2가 작용기일 수 있다. In the above formula (1), X may be a divalent functional group selected from the group consisting of the following formulas (31) to (34).

[화학식31](31)

Figure 112014092604639-pat00012
Figure 112014092604639-pat00012

상기 화학식31에서, R1은 수소, -CH3, -CH2CH3, -CH2CH2CH2CH3, -CF3, -CF2CF3, -CF2CF2CF3, 또는 -CF2CF2CF2CF3 일 수 있다.Wherein R 1 is selected from the group consisting of hydrogen, -CH 3 , -CH 2 CH 3 , -CH 2 CH 2 CH 2 CH 3 , -CF 3 , -CF 2 CF 3 , -CF 2 CF 2 CF 3 , CF 2 CF 2 CF 2 CF 3 Lt; / RTI >

[화학식32](32)

Figure 112014092604639-pat00013
Figure 112014092604639-pat00013

상기 화학식32에서, L1 은 단일결합, -O-, -CO-, -S-, -SO2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -CONH-, -COO-, -(CH2)n1-, -O(CH2)n2O-, -OCH2-C(CH3)2-CH2O- 또는 -OCO(CH2)n3OCO-이고, 상기 n1, n2 및 n3는 각각 1 내지 10의 정수이고, R1및 R2 는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 수소, -CH3, -CH2CH3, -CH2CH2CH2CH3, -CF3, -CF2CF3, -CF2CF2CF3, 또는 -CF2CF2CF2CF3 일 수 있다.Wherein L 1 is a single bond, -O-, -CO-, -S-, -SO 2 -, -C (CH 3 ) 2 -, -C (CF 3 ) 2 -, -CONH-, -COO-, - (CH 2) n1 -, -O (CH 2) and n2 O-, -OCH 2 -C (CH 3) 2 -CH 2 O- , or -OCO (CH 2) n3 OCO-, wherein n1, n2 and n3 is an integer from 1 to 10, R 1 and R 2 may be the same or different from one another, each hydrogen, -CH 3, -CH 2 CH 3 , -CH 2 CH 2 CH 2 CH 3, -CF 3, -CF 2 CF 3, it may be -CF 2 CF 2 CF 3, or -CF 2 CF 2 CF 2 CF 3 .

[화학식33](33)

Figure 112014092604639-pat00014
Figure 112014092604639-pat00014

상기 화학식33에서, L2 및 L3는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 단일결합, -O-, -CO-, -S-, -SO2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -CONH-, -COO-, -(CH2)n1-, -O(CH2)n2O-, -OCH2-C(CH3)2-CH2O- 또는 -OCO(CH2)n3OCO-이고, 상기 n1, n2 및 n3는 각각 1 내지 10의 정수이고, R1 , R2 및 R3 는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 수소, -CH3, -CH2CH3, -CH2CH2CH2CH3, -CF3, -CF2CF3, -CF2CF2CF3, 또는 -CF2CF2CF2CF3 일 수 있다.L 2 and L 3 may be the same or different and each represents a single bond, -O-, -CO-, -S-, -SO 2 -, -C (CH 3 ) 2 -, -C (CF 3) 2 -, -CONH- , -COO-, - (CH 2) n1 -, -O (CH 2) n2 O-, -OCH 2 -C (CH 3) 2 -CH 2 O- or - a OCO (CH 2) n3 OCO-, wherein n1, n2 and n3 is an integer from 1 to 10, R 1, R 2 and R 3 may be the same or different from one another, each hydrogen, -CH 3, -CH 2 CH 3 , -CH 2 CH 2 CH 2 CH 3 , -CF 3 , -CF 2 CF 3 , -CF 2 CF 2 CF 3 , or -CF 2 CF 2 CF 2 CF 3 Lt; / RTI >

[화학식34](34)

Figure 112014092604639-pat00015
Figure 112014092604639-pat00015

상기 화학식34에서, L4, L5 및 L6는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 단일결합, -O-, -CO-, -S-, -SO2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -CONH-, -COO-, -(CH2)n1-, -O(CH2)n2O-, -OCH2-C(CH3)2-CH2O- 또는 -OCO(CH2)n3OCO-이고, 상기 n1, n2 및 n3는 각각 1 내지 10의 정수이고, R1 , R2, R3 및 R4는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 수소, -CH3, -CH2CH3, -CH2CH2CH2CH3, -CF3, -CF2CF3, -CF2CF2CF3, 또는 -CF2CF2CF2CF3 일 수 있다.In the above formula (34), L 4 , L 5 And L 6 may be the same or different from each other, and respectively a single bond, -O-, -CO-, -S-, -SO 2 -, -C (CH 3) 2 -, -C (CF 3) 2 -, -CONH-, -COO-, - (CH 2 ) n1 -, -O (CH 2) n2 O-, -OCH 2 -C (CH 3) 2 -CH 2 O- , or -OCO (CH 2) n3 OCO -, and wherein n1, n2 and n3 is an integer from 1 to 10, R 1, R 2, R 3 and R 4 may be the same or different from one another, each hydrogen, -CH 3, -CH 2 CH 3 , -CH 2 CH 2 CH 2 CH 3 , -CF 3 , -CF 2 CF 3 , -CF 2 CF 2 CF 3 , or -CF 2 CF 2 CF 2 CF 3 Lt; / RTI >

특히, 상기 화학식1의 X이 하기 화학식 35의 2가 작용기인 경우, 상기 폴리이미드 수지층이 보다 낮은 유전율 및 낮은 수분 흡수율을 가질 수 있으며, 또한 높은 탄성도와 함께 최적화된 열팽창계수를 확보할 수 있다. 상기 X는 상기 화학식1의 반복 단위 각각에서 같거나 다를 수 있다. Particularly, when X in the above formula (1) is a divalent functional group of the following formula (35), the polyimide resin layer can have a lower dielectric constant and a lower water absorption rate, and also can secure an optimized thermal expansion coefficient with high elasticity . X may be the same or different in each of the repeating units of the formula (1).

[화학식 35] (35)

Figure 112014092604639-pat00016
Figure 112014092604639-pat00016

상기 화학식35에서, R1 R2 는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 -CH3, -CH2CH3, -CH2CH2CH2CH3, -CF3, -CF2CF3, -CF2CF2CF3, 또는 -CF2CF2CF2CF3 일 수 있다. In the above formula (35), R 1 and R 2 may be the same or different from each other and each represents -CH 3 , -CH 2 CH 3 , -CH 2 CH 2 CH 2 CH 3 , -CF 3 , -CF 2 CF 3 , -CF 2 CF 2 CF 3 , -CF 2 CF 2 CF 2 CF 3 Lt; / RTI >

또한, 상기 연성 금속 적층체는 구리, 철, 니켈, 티타늄, 알루미늄, 은, 금 및 이들의 2종 이상의 합금으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 포함한 금속 박막을 적어도 1개 이상 포함할 수 있다. The flexible metal laminate may include at least one metal thin film including at least one selected from the group consisting of copper, iron, nickel, titanium, aluminum, silver, gold, and two or more alloys thereof.

구체적으로, 상기 연성 금속 적층체는 상기 금속 박막을 1개 포함할 수도 있으며, 상기 연성 금속 적층체는 서로 대향하는 상기 금속 박막 2개를 포함할 수 있고, 이 경우 상기 제1폴리이미드 수지층 및 상기 제2폴리이미드 수지층이 상기 서로 대향하는 금속 박막 2개의 사이에 위치할 수 있다. Specifically, the flexible metal laminate may include one metal thin film, and the soft metal laminate may include two metal thin films opposed to each other. In this case, the first polyimide resin layer and / And the second polyimide resin layer may be positioned between the two metal films facing each other.

상기 금속 박막 표면의 십점 평균조도(Rz)가 0.5㎛ 내지 2.5㎛일 수 있다. 상기 금속 박막 표면의 십점 평균조도가 너무 작으면 상기 폴리미이드 수지층 또는 다공성 고분자 수지층과의 접착력이 낮아질 수 있으며, 상기 금속 박막 표면의 십점 평균조도가 너무 크면 표면 거칠기가 증가하여 고주파 영역에서 전송손실이 커질 수 있다. The ten point average roughness Rz of the surface of the metal thin film may be 0.5 탆 to 2.5 탆. If the 10-point average roughness of the surface of the metal thin film is too small, the adhesion to the polyimide resin layer or the porous polymer resin layer may be lowered. If the 10-point average roughness of the surface of the metal thin film is too large, The transmission loss may become large.

상기 금속 박막은 0.1㎛ 내지 50㎛의 두께를 가질 수 있다. The metal thin film may have a thickness of 0.1 탆 to 50 탆.

본 발명에 따르면, 낮은 유전율을 가지면서도 높은 탄성도와 함께 최적화된 열팽창계수를 확보할 수 있는 연성 금속 적층체가 제공될 수 있다. According to the present invention, it is possible to provide a flexible metal laminate capable of securing an optimized thermal expansion coefficient with a high dielectric constant and a low dielectric constant.

이에 따라, 본 발명은 최근 노트북, 컴퓨터, 휴대폰 등의 기기가 데이터 전송 속도가 증가하면서 초래되는 데이터의 손실율 증가나 인쇄 회로 기판의 후막화, 인쇄 회로 기판에서의 회로의 협폭화에 대한 해결책으로서, 저유전율을 가지면서도 기존의 폴리이미드 절연체가 가지고 있는 고내열성 내화학성, 치수 안정성 등의 특성을 가지고 있는 저유전율 폴리이미드를 제조할 수 있는 방법을 제공한다. Accordingly, it is an object of the present invention to provide a solution to increase the loss rate of data caused by an increase in the data transmission rate of a device such as a notebook computer, a computer, a mobile phone, or the like to increase the thickness of a printed circuit board, There is provided a method of manufacturing a low dielectric constant polyimide having characteristics of high heat resistance, chemical resistance, dimensional stability and the like, which is possessed by a conventional polyimide insulator while having a low dielectric constant.

또한, 이러한 방법에 따라 제조된 저유전율 폴리이미드를 사용하여 저유전율 동박 적층판을 제조할 수 있는 방법을 제공한다. 이에 따라, 임피던스를 매칭하면서도 인쇄 회로 기판을 더욱 얇게 만들 수 있게 됨에 따라서 휴대용 전자 기기를 더욱 얇게 만들 수 있고, 인쇄 회로 기판의 선폭을 넓게 할 수 있으므로 PCB제조 회사의 불량율을 획기적으로 줄일 수 있어서 제조 비용 절감에 크게 기여할 수 있다. A method for manufacturing a low dielectric constant copper-clad laminate using the low dielectric constant polyimide produced according to this method is also provided. Accordingly, since the printed circuit board can be made thinner while matching the impedances, the portable electronic device can be made thinner, and the line width of the printed circuit board can be widened, so that the defective rate of the PCB manufacturing company can be drastically reduced, It can contribute to cost reduction greatly.

발명을 하기의 실시예에서 보다 상세하게 설명한다. 단, 하기의 실시예는 본 발명을 예시하는 것일 뿐, 본 발명의 내용이 하기의 실시예에 의하여 한정되는 것은 아니다.
The invention will be described in more detail in the following examples. However, the following examples are illustrative of the present invention, and the present invention is not limited by the following examples.

[[ 제조예Manufacturing example : : 폴리아믹산Polyamic acid 용액의 제조] Preparation of solution]

제조예1Production Example 1 : 불소계 수지를 포함한 : Containing fluorine resin 폴리아믹산Polyamic acid 용액의 제조( Preparation of solution ( P1P1 ))

1L의 폴리에틸렌 용기(PE bottle)에 질소를 충진하고, 디메틸아세트아미드(Dimethylacetamide, DMAc) 765g, 폴리테트라플루오로에틸렌 마이크로 분말(PTFE micro powder, 입자 크기: 0.1 내지 2.0um) 160g, 분산제로 폴리에스테르계 고분자[산가 26 mg KOH/g, 염기가 1200] 8.0g 및 지름 2mm의 비드(bead) 765g을 넣고, 고속 볼 밀링(ball milling) 기기에서 교반하면서 PTFE를 분산시켰다. 1 L of a polyethylene bottle was filled with nitrogen and charged with 765 g of dimethylacetamide (DMAc), 160 g of polytetrafluoroethylene micropowder (PTFE micro powder, particle size: 0.1 to 2.0 μm) 8.0 g of a polymer (acid value 26 mg KOH / g, base 1200) and 765 g of a bead having a diameter of 2 mm were placed and dispersed while stirring in a high-speed ball milling machine.

500mL의 둥근 바닥 플라스크에 상기 PTFE가 분산된 용액 19.5g, 디메틸아세트아미드 154g, 피로멜리틱 디언하이드리드 12.15g, 2,2′-비스(트리플루오로메틸)-4,4′-디아미노비페닐 17.85g을 넣고, 50℃에서 10시간 동안 질소를 흘려주면서 교반기를 사용하여 교반하면서 반응시켜, 점도 20,000cps정도의 폴리아믹산 용액(P1)을 얻었다. (고형분 중 PTFE 함량 10중량%)
A 500 mL round bottom flask was charged with 19.5 g of the PTFE-dispersed solution, 154 g of dimethylacetamide, 12.15 g of pyromellitic dianhydride, 2,2'-bis (trifluoromethyl) -4,4'-diaminobis 17.85 g of phenyl was added and reacted with stirring with a stirrer while flowing nitrogen at 50 캜 for 10 hours to obtain a polyamic acid solution (P1) having a viscosity of about 20,000 cps. (PTFE content in solid content: 10% by weight)

제조예2Production Example 2 : 불소계 수지를 포함한 : Containing fluorine resin 폴리아믹산Polyamic acid 용액의 제조( Preparation of solution ( P2P2 ))

상기 폴리아믹산 용액의 고형분 중 PTFE의 함량이 40중량%인 점을 제외하고는 제조예1 동일한 방법으로 폴리아믹산 용액(P2)을 제조하였다.
A polyamic acid solution (P2) was prepared in the same manner as in Preparation Example 1, except that the content of PTFE in the solid content of the polyamic acid solution was 40% by weight.

제조예3Production Example 3 : 불소계 수지를 포함한 : Containing fluorine resin 폴리아믹산Polyamic acid 용액의 제조( Preparation of solution ( P3P3 ))

1L의 폴리에틸렌 용기(PE bottle)에 질소를 충진하고, N-메틸피롤리돈 (N-methylpyrrolidone, NMP) 765g, 폴리테트라플루오로에틸렌 마이크로 분말(PTFE micro powder, 입자 크기: 0.1 내지 2.0um) 160g, 분산제로 폴리에스테르계 고분자[산가 26 mg KOH/g, 염기가 1200] 8.0g 및 지름 2mm의 비드(bead) 765g을 넣고, 고속 볼 밀링(ball milling) 기기에서 교반하면서 PTFE를 분산시켰다. (고형분 중 PTFE 함량 5중량%)1 L of a polyethylene bottle was filled with nitrogen and charged with 765 g of N-methylpyrrolidone (NMP), 160 g of polytetrafluoroethylene micropowder (PTFE micro powder, particle size: 0.1 to 2.0 μm) , 8.0 g of a polyester polymer (acid value 26 mg KOH / g, base 1200) as a dispersant and 765 g of a bead having a diameter of 2 mm were placed and dispersed while stirring in a high-speed ball milling machine. (PTFE content in solid content: 5% by weight)

500mL의 둥근 바닥 플라스크에 상기 PTFE가 분산된 용액 9.2g, N-메틸피롤리돈 163g, 3,4,3′,4′-비페닐테트라카르복실릭디안하이드라이드 14.36g, 2,2′-비스(트리플루오로메틸)-4,4′-디아미노비페닐 15.63g을 넣고, 50℃에서 10시간 동안 질소를 흘려주면서 교반기를 사용하여 교반하면서 반응시켜, 점도 18,000cps정도의 폴리아믹산 용액(P3)을 얻었다.
9.2 g of the above PTFE-dispersed solution, 163 g of N-methylpyrrolidone, 14.36 g of 3,4,3 ', 4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2'- And 15.63 g of bis (trifluoromethyl) -4,4'-diaminobiphenyl were charged and reacted with stirring with a stirrer while flowing nitrogen at 50 ° C. for 10 hours to obtain a polyamic acid solution having a viscosity of about 18,000 cps P3).

제조예4Production Example 4 : 불소계 수지를 포함한 : Containing fluorine resin 폴리아믹산Polyamic acid 용액의 제조( Preparation of solution ( P4P4 ))

상기 폴리아믹산 용액의 고형분 중 PTFE의 함량이 30중량%인 점을 제외하고는 제조예3과 동일한 방법으로 폴리아믹산 용액(P4)을 제조하였다.
A polyamic acid solution (P4) was prepared in the same manner as in Preparation Example 3 except that the content of PTFE in the solid content of the polyamic acid solution was 30% by weight.

제조예5Production Example 5 : : 폴리아믹산Polyamic acid 용액의 제조( Preparation of solution ( P5P5 ))

500mL의 둥근 바닥 플라스크에 디메틸아세트아미드 170g, 피로멜리틱 디언하이드리드 12.15g, 2,2′-비스(트리플루오로메틸)-4,4′-디아미노비페닐 17.85g을 넣고, 50℃에서 10시간 동안 질소를 흘려주면서 교반기를 사용하여 교반하면서 반응시켜, 점도 16,000cps정도의 폴리아믹산 용액(P5)을 얻었다. (고형분 중 PTFE 함량 0중량%)
170 g of dimethylacetamide, 12.15 g of pyromellitic dianhydride and 17.85 g of 2,2'-bis (trifluoromethyl) -4,4'-diaminobiphenyl were placed in a 500 mL round bottom flask, The mixture was allowed to react for 10 hours while stirring using a stirrer while flowing nitrogen to obtain a polyamic acid solution (P5) having a viscosity of about 16,000 cps. (0 wt% of PTFE in solid content)

제조예6Production Example 6 : 불소계 수지를 포함한 : Containing fluorine resin 폴리아믹산Polyamic acid 용액의 제조( Preparation of solution ( P6P6 ))

상기 폴리아믹산 용액의 고형분 중 PTFE의 함량이 50중량%인 점을 제외하고는 제조예1과 동일한 방법으로 폴리아믹산 용액(P6)을 제조하였다.
A polyamic acid solution (P6) was prepared in the same manner as in Preparation Example 1 except that the content of PTFE in the solid content of the polyamic acid solution was 50% by weight.

제조예7Production Example 7 : 불소계 수지를 포함한 : Containing fluorine resin 폴리아믹산Polyamic acid 용액의 제조( Preparation of solution ( P7P7 ))

상기 폴리아믹산 용액의 고형분 중 PTFE의 함량이 25중량%인 점을 제외하고는 제조예1과 동일한 방법으로 폴리아믹산 용액(P7)을 제조하였다.
A polyamic acid solution (P7) was prepared in the same manner as in Preparation Example 1 except that the content of PTFE in the solid content of the polyamic acid solution was 25% by weight.

제조예8Production Example 8 : 불소계 수지를 포함한 : Containing fluorine resin 폴리아믹산Polyamic acid 용액의 제조( Preparation of solution ( P8P8 ))

상기 폴리아믹산 용액의 고형분 중 PTFE의 함량이 21.7중량%인 점을 제외하고는 제조예3과 동일한 방법으로 폴리아믹산 용액(P8)을 제조하였다.
A polyamic acid solution (P8) was prepared in the same manner as in Preparation Example 3 except that the content of PTFE in the solid content of the polyamic acid solution was 21.7% by weight.

[[ 실시예Example 1내지1 to 3 및  3 and 비교예Comparative Example 1 내지 3: 연성 금속  1 to 3: soft metal 적층체용For laminate 폴리이미드 수지 필름의 제조] Preparation of polyimide resin film]

[[ 실시예1Example 1 ]]

상기 제조예1에서 제조한 폴리아믹산 용액(P1)을 최종 두께가 20um가 되도록 동박(두께: 12㎛)의 Matte면에 코팅한 후 80℃에서 10분간 건조하였다. 이 위에 다시 제조예2에서 제조한 폴리아믹산 용액(P2)을 최종 두께가 20um가 되도록 코팅한 후 다시 80℃에서 10분간 건조하였다. 상기 건조 제품을 질소 오븐에서 상온에서부터 승온을 시작하여 350℃에서 30분간 경화를 진행하였다. The polyamic acid solution (P1) prepared in Preparation Example 1 was coated on a matte surface of a copper foil (thickness: 12 占 퐉) so as to have a final thickness of 20 占 퐉 and dried at 80 占 폚 for 10 minutes. The polyamic acid solution (P2) prepared in Preparation Example 2 was coated thereon to a final thickness of 20 μm, and dried at 80 ° C. for 10 minutes. The dried product was heated from room temperature in a nitrogen oven and cured at 350 ° C for 30 minutes.

상기 경화가 완료된 후, 상기 동박을 에칭하여 40um의 두께의 폴리이미드 필름을 제조하였다.
After the curing was completed, the copper foil was etched to produce a polyimide film having a thickness of 40 um.

[[ 실시예2Example 2 ]]

상기 제조예3에서 제조한 폴리아믹산 용액(P3)을 최종 두께가 5um가 되도록 동박(두께: 12㎛)의 Matte면에 코팅한 후 80 ℃에서 10분간 건조한 후, 이 위에 제조예4에서 제조한 폴리아믹산 용액(P4)을 최종 두께가 20um가 되도록 코팅한 후 80 ℃에서 10분간 건조하였다. 이 위에 다시 제조예3에서 제조한 폴리아믹산 용액(P3)을 최종 두께가 5um가 되도록 코팅한 후 80 ℃에서 10분간 건조하였다. 상기 건조 제품을 질소 오븐에서 상온에서부터 승온을 시작하여 350 ℃에서 30분간 경화를 진행하였다. The polyamic acid solution (P3) prepared in Preparation Example 3 was coated on a matte surface of a copper foil (thickness: 12 占 퐉) so as to have a final thickness of 5 占 퐉 and dried at 80 占 폚 for 10 minutes. The polyamic acid solution (P4) was coated to a final thickness of 20 mu m and dried at 80 DEG C for 10 minutes. The polyamic acid solution (P3) prepared in Preparation Example 3 was coated thereon to a final thickness of 5 μm, followed by drying at 80 ° C for 10 minutes. The dried product was heated from room temperature in a nitrogen oven and cured at 350 ° C for 30 minutes.

상기 경화가 완료된 후, 상기 동박을 에칭하여 30um의 두께의 폴리이미드 필름을 제조하였다.
After the curing was completed, the copper foil was etched to produce a polyimide film having a thickness of 30 um.

[[ 실시예3Example 3 ]]

동박(두께: 12㎛)의 Matte면에 위에 용액을 최종두께가 5um가 되도록 코팅한 후 80 ℃에서 10분간 건조하는 과정을 네 번 반복하였다. <코팅 용액의 순서: 제조예5에서 제조한 폴리아믹산 용액(P5)- 제조예6에서 제조한 폴리아믹산 용액(P6)- 제조예5에서 제조한 폴리아믹산 용액(P5)- 제조예6에서 제조한 폴리아믹산 용액(P6)임>.The solution was coated on the matte side of the copper foil (thickness: 12 占 퐉) to a final thickness of 5 占 퐉, followed by drying at 80 占 폚 for 10 minutes. &Lt; Preparation of coating solution: Polyamic acid solution (P5) prepared in Preparation Example 5 - Polyamic acid solution (P6) prepared in Preparation Example 6 - Polyamic acid solution (P5) prepared in Preparation Example 5 - One polyamic acid solution (P6).

상기 건조 제품을 질소 오븐에서 상온에서부터 승온을 시작하여 350 ℃에서 30분간 경화를 진행하였다. 상기 경화가 완료된 후, 상기 동박을 에칭하여 20um의 두께의 폴리이미드 필름을 제조하였다.
The dried product was heated from room temperature in a nitrogen oven and cured at 350 ° C for 30 minutes. After the curing was completed, the copper foil was etched to prepare a polyimide film having a thickness of 20 um.

[[ 비교예1Comparative Example 1 ]]

상기 제조예7에서 제조한 폴리아믹산 용액(P7)을 최종 두께가 40um가 되도록 동박(두께: 12㎛)의 Matte면에 코팅한 후 80 ℃에서 10분간 건조한 후, 질소 오븐에서 상온에서부터 승온을 시작하여 350 ℃에서 30분간 경화를 진행하였다. The polyamic acid solution (P7) prepared in Preparation Example 7 was coated on a matte surface of a copper foil (thickness: 12 mu m) so as to have a final thickness of 40 mu and dried at 80 DEG C for 10 minutes. Then, the temperature was elevated from room temperature in a nitrogen oven And curing was carried out at 350 DEG C for 30 minutes.

상기 경화가 완료된 후, 상기 동박을 에칭하여 40um의 두께의 폴리이미드 필름을 제조하였다.
After the curing was completed, the copper foil was etched to produce a polyimide film having a thickness of 40 um.

[[ 비교예2Comparative Example 2 ]]

상기 제조예8에서 제조한 폴리아믹산 용액(P8)을 최종 두께가 30um가 되도록 동박(두께: 12㎛)의 Matte면에 코팅한 후 80 ℃에서 10분간 건조한 후, 질소 오븐에서 상온에서부터 승온을 시작하여 350 ℃에서 30분간 경화를 진행하였다. The polyamic acid solution (P8) prepared in Preparation Example 8 was coated on a matte surface of a copper foil (thickness: 12 μm) so as to have a final thickness of 30 μm, dried at 80 ° C. for 10 minutes, and then heated in a nitrogen oven And curing was carried out at 350 DEG C for 30 minutes.

상기 경화가 완료된 후, 상기 동박을 에칭하여 30um의 두께의 폴리이미드 필름을 제조하였다.
After the curing was completed, the copper foil was etched to produce a polyimide film having a thickness of 30 um.

[[ 비교예3Comparative Example 3 ]]

상기 제조예7에서 제조한 폴리아믹산 용액(P7)을 최종 두께가 20um가 되도록 동박(두께: 12㎛)의 Matte면에 코팅한 후 80 ℃에서 10분간 건조한 후, 질소 오븐에서 상온에서부터 승온을 시작하여 350 ℃에서 30분간 경화를 진행하였다. The polyamic acid solution (P7) prepared in Preparation Example 7 was coated on a matte surface of a copper foil (thickness: 12 mu m) so as to have a final thickness of 20 mu and dried at 80 DEG C for 10 minutes. Then, the temperature was elevated from room temperature in a nitrogen oven And curing was carried out at 350 DEG C for 30 minutes.

상기 경화가 완료된 후, 상기 동박을 에칭하여 20um의 두께의 폴리이미드 필름을 제조하였다.
After the curing was completed, the copper foil was etched to prepare a polyimide film having a thickness of 20 um.

[[ 실험예Experimental Example ]]

상기 실시예 및 비교예에서 얻어진 폴리이미드 필름에 대하여 유전 상수, 신율 및 선열팽창계수를 다음과 같은 측정하여 그 결과를 각각 하기 표1과 표2에 기재하였다.
The dielectric constant, elongation, and coefficient of linear thermal expansion of the polyimide films obtained in the Examples and Comparative Examples were measured as follows, and the results are shown in Tables 1 and 2, respectively.

(1) 유전 상수 측정 방법(1) Method for measuring dielectric constant

실시예 1내지 3 및 비교예 1 내지 3에서 얻어진 폴리이미드 필름을 25℃ 및 50%RH 의 조건에 24시간 방치한 후, Agilent E5071B network analyzer와 QWED私의 SPDR(split-post dielectric resonator)를 이용하여 10GHz에서 측정하였다.The polyimide films obtained in Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1 to 3 were allowed to stand at 25 ° C and 50% RH for 24 hours, and then they were separated by using an Agilent E5071B network analyzer and a QWED SPD (split-post dielectric resonator) And measured at 10 GHz.

(2) 신율 측정 방법(2) Elongation measurement method

실시예 1내지 3 및 비교예 1 내지 3에서 얻어진 폴리이미드 필름을, UTM(universal test machine) 장치를 이용하여, IPC-TM-650, 2.4.19의 기준에 따라 측정하였다.
The polyimide films obtained in Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1 to 3 were measured according to the criteria of IPC-TM-650, 2.4.19 using a universal test machine (UTM) apparatus.

(3) 선열팽창계수(CTE) 측정 방법 (3) Method of measuring coefficient of linear thermal expansion (CTE)

실시예 1내지 3 및 비교예 1 내지 3에서 얻어진 폴리이미드 필름의 선열팽창계수를 IPC TM-650 2.4.24.3의 기준을 바탕으로 100 ℃ 내지 200℃ 측정 조건에서 Mettler사의 TMA/SDTA 840 기기를 이용하여 측정하였다.
The coefficient of linear thermal expansion of the polyimide films obtained in Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1 to 3 was measured using a Mettler TMA / SDTA 840 instrument under the measurement conditions of 100 ° C to 200 ° C based on the criteria of IPC TM-650 2.4.24.3 Respectively.

실시예의 측정 결과Measurement result of the embodiment 실시예 1Example 1 실시예 2Example 2 실시예 3Example 3 두께 및 불소계 수지 함량Thickness and fluorine resin content 제1폴리이미드 수지층The first polyimide resin layer 20um (10중량%)20um (10% by weight) 5um (5중량%)5 um (5 wt%) 5um (0중량%)5 um (0 wt%) 제2폴리이미드 수지층The second polyimide resin layer 20um (40중량%)20um (40% by weight) 20um (30중량%)20um (30% by weight) 5um (50중량%)5 um (50 wt%) 제1폴리이미드 수지층The first polyimide resin layer -- 5um (5중량%)5 um (5 wt%) 5um (0중량%)5 um (0 wt%) 제2폴리이미드 수지층The second polyimide resin layer -- -- 5um (50중량%)5 um (50 wt%) 전체 두께Overall Thickness 40um40um 30um30um 20um20um 전체 필름의 불소계 수지 평균 함량The average content of fluorine-based resin in the entire film 25중량%25 wt% 21.7중량%21.7 wt% 25중량%25 wt% 측정 결과Measurement result 유전 상수Dielectric constant 2.62.6 2.82.8 2.62.6 신율Elongation 10%10% 16%16% 12%12% 선열팽창계수Coefficient of linear thermal expansion 6.5ppm/K6.5ppm / K 5.7ppm/K5.7ppm / K 6.3ppm/K6.3 ppm / K

비교예의 측정 결과Measurement results of the comparative example 비교예 1Comparative Example 1 비교예 2Comparative Example 2 비교예 3Comparative Example 3 두께thickness 40um40um 30um30um 20um20um 불소계 수지 함량Fluorine resin content 25중량%25 wt% 21.7중량%21.7 wt% 25중량%25 wt% 측정 결과Measurement result 유전 상수Dielectric constant 2.62.6 2.82.8 2.62.6 신율Elongation 5%5% 8%8% 5%5% 선열팽창계수Coefficient of linear thermal expansion 7.6ppm/K7.6 ppm / K 7.1ppm/K7.1ppm / K 7.5ppm/K7.5 ppm / K

실시예1과 비교예1, 실시예2와 비교예2, 실시예3과 비교예3을 각각 비교해 보면, 동일 두께 범위에서 전체 불소계 수지의 함량이 같기 때문에 유전 상수는 동일하게 측정되나, 실시예 1 내지 3이 비교예 1 내지 3에 비하여 월등히 높은 신율 및 작은 선열팽창계수가 갖는다는 점이 확인되었다. A comparison between Example 1 and Comparative Example 1, Example 2 and Comparative Example 2, and Example 3 with Comparative Example 3 show that the dielectric constant is measured in the same manner because the total fluorinated resin content is the same in the same thickness range, 1 to 3 had significantly higher elongation and smaller coefficient of linear thermal expansion than those of Comparative Examples 1 to 3.

이에 따라 실시예에서 보다 높은 성능 및 신뢰도를 갖는 연성 금속 적층판이 제공될 수 있다는 점을 알 수 있다. Thus, it can be seen that a flexible metal clad laminate having higher performance and reliability in the embodiment can be provided.

Claims (16)

불소계 수지 0중량% 내지 20중량%를 포함하는 제1폴리이미드 수지층; 및
불소계 수지 20중량% 내지 70중량%를 포함하는 제2폴리이미드 수지층;을 포함하며,
상기 제1폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 비율에 비하여 상기 제2폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 비율이 10중량% 이상 높으며,
상기 불소계 수지는 0.05 ㎛ 내지 20㎛의 최장 직경을 갖는 입자이고,
상기 제1폴리이미드 수지층 및 제2폴리이미드 수지층 각각을 적어도 1층 이상 포함하고,
상기 제1폴리이미드 수지층의 두께의 총합에 대한 상기 제2폴리이미드 수지층의 두께의 총합의 비율이 0.1 내지 5.0인, 연성 금속 적층체.
A first polyimide resin layer containing 0 to 20% by weight of a fluorine resin; And
And a second polyimide resin layer containing 20% by weight to 70% by weight of a fluororesin,
Wherein the content ratio of the fluororesin contained in the second polyimide resin layer is higher than that of the fluororesin contained in the first polyimide resin layer by at least 10 wt%
The fluororesin is a particle having the longest diameter of 0.05 mu m to 20 mu m,
At least one layer of each of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer,
Wherein the ratio of the total thickness of the second polyimide resin layer to the total thickness of the first polyimide resin layer is 0.1 to 5.0.
제1항에 있어서,
상기 제1폴리이미드 수지층 및 제2폴리이미드 수지층 각각에 포함된 불소계 수지의 함량 비율의 차이가 20중량% 내지 60중량%인, 연성 금속 적층체.
The method according to claim 1,
Wherein the difference in the content ratio of the fluororesin contained in each of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer is 20 wt% to 60 wt%.
삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
하기 일반식 1의 불소계 수지 평균 함량이 10 중량% 내지 50중량%인, 연성 금속 적층체:
[일반식1]
불소계 수지 평균 함량 = [(상기 제1폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 비율 * 상기 제1폴리이미드 수지층의 두께)의 총합 + (상기 제2폴리이미드 수지층에 포함된 불소계 수지의 함량 비율 * 상기 제2폴리이미드 수지층의 두께)의 총합] / (상기 제1폴리이미드 수지층의 두께 및 상기 제2폴리이미드 수지층의 두께의 총합)
The method according to claim 1,
A fluorine-based resin having an average content of 10% by weight to 50% by weight in the general formula (1)
[Formula 1]
The sum of the fluoric resin average content = [(the content ratio of the fluororesin contained in the first polyimide resin layer * the thickness of the first polyimide resin layer) + (the total amount of the fluororesin contained in the second polyimide resin layer Content ratio * total thickness of the second polyimide resin layer)] / (total thickness of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer)
제1항에 있어서,
상기 제1폴리이미드 수지층 및 상기 제2폴리이미드 수지층 각각에 포함되는 불소계 수지가 폴리테트라 플루오로에틸렌(PTFE), 테트라플루오로에틸렌-퍼플루오로알킬비닐에테르 공중합체(PFA), 테트라플루오르에틸렌-헥사플루오르프로필렌 공중합체(FEP), 에틸렌-테트라플루오로에틸렌 코폴리머 수지(ETFE), 테트라플루오로에틸렌- 클로로트리플루오로에틸렌 공중합체(TFE/CTFE) 및 에틸렌-클로로트리플루오로에틸렌 수지(ECTFE)로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 포함하는, 연성 금속 적층체.
The method according to claim 1,
Wherein the fluorine resin contained in each of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer is selected from the group consisting of polytetrafluoroethylene (PTFE), tetrafluoroethylene-perfluoroalkyl vinyl ether copolymer (PFA), tetrafluoroethylene (ETFE), tetrafluoroethylene-chlorotrifluoroethylene copolymer (TFE / CTFE), and ethylene-chlorotrifluoroethylene resin (ETFE), ethylene-hexafluoropropylene copolymer (FEP), ethylene-tetrafluoroethylene copolymer resin (ECTFE). &Lt; / RTI &gt;
제1항에 있어서,
상기 불소계 수지의 최장 직경이 0.05 ㎛ 내지 20㎛인, 연성 금속 적층체.
The method according to claim 1,
Wherein the fluororesin has a maximum diameter of 0.05 to 20 占 퐉.
제1항에 있어서,
상기 제1폴리이미드 수지층 및 상기 제2폴리이미드 수지층 각각이 0.01㎛ 내지 100㎛의 두께를 갖는, 연성 금속 적층체.
The method according to claim 1,
Wherein each of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer has a thickness of 0.01 탆 to 100 탆.
제1항에 있어서,
상기 제1폴리이미드 수지층 및 상기 제2폴리이미드 수지층 각각이 5,000 내지 500,000의 중량평균분자량을 갖는 폴리이미드 수지를 포함하는, 연성 금속 적층체.
The method according to claim 1,
Wherein each of the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer comprises a polyimide resin having a weight average molecular weight of 5,000 to 500,000.
제1항에 있어서,
상기 제1폴리이미드 수지층 및 상기 제2폴리이미드 수지층 각각이 하기 화학식1의 반복 단위를 포함하는 폴리이미드 수지를 포함하는, 연성 금속 적층체:
[화학식1]
Figure 112014092604639-pat00017

상기 화학식1에서, Y1은 4가의 방향족 유기 작용기이고, X는2가의 방향족 유기 작용기이다.
The method according to claim 1,
Wherein the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer each comprise a polyimide resin containing a repeating unit represented by the following formula (1):
[Chemical Formula 1]
Figure 112014092604639-pat00017

In the above formula (1), Y 1 is a tetravalent aromatic organic functional group, and X is a divalent aromatic organic functional group.
제10항에 있어서,
상기 Y1은 하기 화학식21 내지 화학식27로 이루어진 군에서 선택된 4가 작용기인, 연성 금속 적층체:
[화학식21]
Figure 112014092604639-pat00018

[화학식22]
Figure 112014092604639-pat00019

상기 화학식22에서, Y1 은 단일결합, -O-, -CO-, -S-, -SO2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -CONH-, -COO-, -(CH2)n1-, -O(CH2)n2O-, 또는 -OCO(CH2)n3OCO-이고, 상기 n1, n2 및 n3는 각각 1 내지 10의 정수이고,
[화학식23]
Figure 112014092604639-pat00020

상기 화학식23에서, Y2 및 Y3는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 단일결합, -O-, -CO-, -S-, -SO2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -CONH-, -COO-, -(CH2)n1-, -O(CH2)n2O-, 또는 -OCO(CH2)n3OCO-이고, 상기 n1, n2 및 n3는 각각 1 내지 10의 정수이고,
[화학식24]
Figure 112014092604639-pat00021

상기 화학식24에서, Y4, Y5 및 Y6는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 단일결합, -O-, -CO-, -S-, -SO2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -CONH-, -COO-, -(CH2)n1-, -O(CH2)n2O-, 또는 -OCO(CH2)n3OCO-이고, 상기 n1, n2 및 n3는 각각 1 내지 10의 정수이고,
[화학식25]
Figure 112014092604639-pat00022

[화학식26]
Figure 112014092604639-pat00023

[화학식27]
Figure 112014092604639-pat00024

상기 화학식 21 내지 27에서, '*'은 결합점(bonding point)을 의미한다.
11. The method of claim 10,
Wherein Y &lt; 1 &gt; is a tetravalent group selected from the group consisting of the following chemical formulas (21) to (27)
[Chemical Formula 21]
Figure 112014092604639-pat00018

[Chemical Formula 22]
Figure 112014092604639-pat00019

In Formula 22, Y 1 represents a single bond, -O-, -CO-, -S-, -SO 2 -, -C (CH 3 ) 2 -, -C (CF 3 ) 2 -, -CONH-, a, -O (CH 2) n2 O- , or -OCO (CH 2) n3 OCO-, and wherein n1, n2 and n3 is an integer from 1 to 10, - -COO-, - (CH 2 ) n1
(23)
Figure 112014092604639-pat00020

Y 2 and Y 3 may be the same or different and each represents a single bond, -O-, -CO-, -S-, -SO 2 -, -C (CH 3 ) 2 -, -C (CF 3) 2 -, -CONH- , -COO-, - (CH 2) n1 - a, -O (CH 2) n2 O- , or -OCO (CH 2) n3 OCO-, wherein n1, n2, and n3 is an integer of 1 to 10,
&Lt; EMI ID =
Figure 112014092604639-pat00021

In the above formula (24), Y 4 , Y 5 And Y 6 may be the same or different from each other, and respectively a single bond, -O-, -CO-, -S-, -SO 2 -, -C (CH 3) 2 -, -C (CF 3) 2 -, a, -O (CH 2) n2 O- , or -OCO (CH 2) n3 a OCO-, wherein n1, n2 and n3 is 1 to 10 - -CONH-, -COO-, - (CH 2) n1 Lt; / RTI &
(25)
Figure 112014092604639-pat00022

(26)
Figure 112014092604639-pat00023

(27)
Figure 112014092604639-pat00024

In the above Formulas 21 to 27, '*' means a bonding point.
제10항에 있어서,
상기 X는 하기 화학식 31 내지 34로 이루어진 군에서 선택된 2가 작용기인, 연성 금속 적층체:
[화학식31]
Figure 112014092604639-pat00025

상기 화학식31에서, R1은 수소, -CH3, -CH2CH3, -CH2CH2CH2CH3, -CF3, -CF2CF3, -CF2CF2CF3, 또는 -CF2CF2CF2CF3 이고,
[화학식32]
Figure 112014092604639-pat00026

상기 화학식32에서, L1 은 단일결합, -O-, -CO-, -S-, -SO2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -CONH-, -COO-, -(CH2)n1-, -O(CH2)n2O-, -OCH2-C(CH3)2-CH2O- 또는 -OCO (CH2)n3OCO-이고, 상기 n1, n2 및 n3는 각각 1 내지 10의 정수이고,
R1및 R2 는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 수소, -CH3, -CH2CH3, -CH2CH2CH2CH3, -CF3, -CF2CF3, -CF2CF2CF3, 또는 -CF2CF2CF2CF3 이고,
[화학식33]
Figure 112014092604639-pat00027

상기 화학식33에서, L2 및 L3는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 단일결합, -O-, -CO-, -S-, -SO2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -CONH-, -COO-, -(CH2)n1-, -O(CH2)n2O-, -OCH2-C(CH3)2-CH2O- 또는 -OCO(CH2)n3OCO-이고, 상기 n1, n2 및 n3는 각각 1 내지 10의 정수이고,
R1 , R2 및 R3 는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 수소, -CH3, -CH2CH3, -CH2CH2CH2CH3, -CF3, -CF2CF3, -CF2CF2CF3, 또는 -CF2CF2CF2CF3 이고,
[화학식34]
Figure 112014092604639-pat00028

상기 화학식34에서, L4, L5 및 L6는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 단일결합, -O-, -CO-, -S-, -SO2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -CONH-, -COO-, -(CH2)n1-, -O(CH2)n2O-, -OCH2-C(CH3)2-CH2O- 또는 -OCO(CH2)n3OCO-이고, 상기 n1, n2 및 n3는 각각 1 내지 10의 정수이고,
R1 , R2, R3 및 R4는 서로 같거나 다를 수 있으며, 각각 수소, -CH3, -CH2CH3, -CH2CH2CH2CH3, -CF3, -CF2CF3, -CF2CF2CF3, 또는 -CF2CF2CF2CF3 이고,
상기 화학식 31 내지 34에서, '*'은 결합점(bonding point)을 의미한다.
11. The method of claim 10,
Wherein X is a divalent functional group selected from the group consisting of the following chemical formulas (31) to (34):
(31)
Figure 112014092604639-pat00025

Wherein R 1 is selected from the group consisting of hydrogen, -CH 3 , -CH 2 CH 3 , -CH 2 CH 2 CH 2 CH 3 , -CF 3 , -CF 2 CF 3 , -CF 2 CF 2 CF 3 , CF 2 CF 2 CF 2 CF 3 ego,
(32)
Figure 112014092604639-pat00026

Wherein L 1 is a single bond, -O-, -CO-, -S-, -SO 2 -, -C (CH 3 ) 2 -, -C (CF 3 ) 2 -, -CONH-, -COO-, - (CH 2) n1 -, -O (CH 2) and n2 O-, -OCH 2 -C (CH 3) 2 -CH 2 O- , or -OCO (CH 2) n3 OCO-, wherein n1, n2 and n3 are each an integer of 1 to 10,
R 1 and R 2, which may be the same or different, are each hydrogen, -CH 3 , -CH 2 CH 3 , -CH 2 CH 2 CH 2 CH 3 , -CF 3 , -CF 2 CF 3 , -CF 2 CF 2 CF 3 , or -CF 2 CF 2 CF 2 CF 3 ego,
(33)
Figure 112014092604639-pat00027

L 2 and L 3 may be the same or different and each represents a single bond, -O-, -CO-, -S-, -SO 2 -, -C (CH 3 ) 2 -, -C (CF 3) 2 -, -CONH- , -COO-, - (CH 2) n1 -, -O (CH 2) n2 O-, -OCH 2 -C (CH 3) 2 -CH 2 O- or - a OCO (CH 2) n3 OCO-, and wherein n1, n2 and n3 is an integer from 1 to 10,
R 1 , R 2 and R 3 may be the same or different and are each hydrogen, -CH 3 , -CH 2 CH 3 , -CH 2 CH 2 CH 2 CH 3 , -CF 3 , -CF 2 CF 3 , - CF 2 CF 2 CF 3 , or -CF 2 CF 2 CF 2 CF 3 ego,
(34)
Figure 112014092604639-pat00028

In the above formula (34), L 4 , L 5 And L 6 may be the same or different from each other, and respectively a single bond, -O-, -CO-, -S-, -SO 2 -, -C (CH 3) 2 -, -C (CF 3) 2 -, -CONH-, -COO-, - (CH 2 ) n1 -, -O (CH 2) n2 O-, -OCH 2 -C (CH 3) 2 -CH 2 O- , or -OCO (CH 2) n3 OCO -, n1, n2 and n3 are each an integer of 1 to 10,
R 1 , R 2 , R 3 and R 4 may be the same or different and are each hydrogen, -CH 3 , -CH 2 CH 3 , -CH 2 CH 2 CH 2 CH 3 , -CF 3 , -CF 2 CF 3 , -CF 2 CF 2 CF 3 , or -CF 2 CF 2 CF 2 CF 3 ego,
In the above Formulas 31 to 34, '*' means a bonding point.
제1항에 있어서,
구리, 철, 니켈, 티타늄, 알루미늄, 은, 금 및 이들의 2종 이상의 합금으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 포함한 금속 박막을 적어도 1개 이상 포함하는, 연성 금속 적층체.
The method according to claim 1,
And at least one metal thin film including at least one selected from the group consisting of copper, iron, nickel, titanium, aluminum, silver, gold, and two or more alloys thereof.
제13항에 있어서,
상기 금속 박막 표면의 십점 평균조도(Rz)가 0.5㎛ 내지 2.5㎛인, 연성 금속 적층체.
14. The method of claim 13,
And a ten-point average roughness (Rz) of the surface of the metal thin film is 0.5 占 퐉 to 2.5 占 퐉.
제13항에 있어서,
상기 금속 박막은 0.1㎛ 내지 50㎛의 두께를 갖는, 연성 금속 적층체.
14. The method of claim 13,
Wherein the metal thin film has a thickness of 0.1 占 퐉 to 50 占 퐉.
제13항에 있어서,
서로 대향하는 상기 금속 박막 2개를 포함하고,
상기 제1폴리이미드 수지층 및 상기 제2폴리이미드 수지층이 상기 서로 대향하는 금속 박막 2개의 사이에 위치하는, 연성 금속 적층체.
14. The method of claim 13,
And two metal thin films facing each other,
Wherein the first polyimide resin layer and the second polyimide resin layer are positioned between two metal thin films facing each other.
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