KR101594713B1 - 오버런 검출 장치 및 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 오버런 검출 장치는 코일박스에서 권취되는 코일의 영상을 입력받아 이미지 신호를 생성하는 영상 입력부, 상기 이미지 신호에서 상기 코일의 에지를 검출하기 위한 에지 검출 영역을 설정하는 에지 검출 영역 설정부, 상기 에지 검출 영역에서 상기 코일의 폭에 따른 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출하는 기준 픽셀 위치값 산출부, 상기 에지 검출 영역에서 상기 코일의 에지를 검출하는 에지 검출부 및 상기 오버런 기준 픽셀 위치값과 상기 검출된 에지의 픽셀 위치값을 비교하여 상기 코일박스의 오버런(Overrun) 여부를 판별하는 오버런 판별부를 포함한다.

Description

오버런 검출 장치 및 방법{APPARATUS FOR DETECTING OVERRUN AND METHOD THEREOF}
본 발명은 오버런 검출 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 코일박스는 열연공정에서 조압연기와 사상압연기 사이에 설치되어 코일을 권취하는 장치이다. 이러한 코일 박스는 열연공장의 건설비용을 줄이기 위한 목적으로 개발되어 사용되고 있으며, 열연공장에서 코일박스를 설치하게 되면, 압연 라인의 길이가 줄어들어 공장 건설 비용을 감소시킬 수 있으며, 열 손실을 줄일 수 있고, 코일의 선단부와 후단부 사이의 온도차를 줄여 사상압연기의 소모 전력을 낮출 수 있는 장점이 있다.
이러한 코일박스는 코일을 권취하고 코일을 이송하는 과정에서 설비의 작동 설정 및 상태, 코일의 선단부 및 후단부 트래킹(Tracking)이 안정적인 조업을 위해 중요한 요소로 작용한다.
이러한 코일박스의 장애는 코일의 형상 불량에 의한 진행 장애, 오버런, 코일 지름 및 센서 이상으로 나타나는 코일 선단부 위치 제어 불량 등이 있으며, 상기 장애가 발생하면 라인이 정지된다.
여기서, 오버런 현상은 코일박스에서 권취중 정상적으로 코일을 만들지 못하고 크래들 롤(Cradle Roll) 위에서 아코디언 모양으로 쌓이거나, 권취 중 코일이 완전히 생성되지 않은 채로 튀어 나가버리는 현상을 말하는 것으로 통상적으로 오버런이 발생하면 1시간 이상 라인이 정지되는 대형 장애로 이어지게 된다.
따라서, 오버런 발생 여부를 지속적으로 모니터링 할 수 있으며, 오버런 발생을 조기에 검출함으로써 오버런 발생에 따른 장시간 동안 라인이 정지되는 것을 사전에 방지하기 위해 코일박스에서 권취되는 코일을 감시하여 오버런 현상의 발생 여부를 검출할 수 있는 장치 및 방법이 필요하다.
상기와 같은 오버런 형상을 검출하는 장치 및 방법에 대한 해결책이 전혀 제시되고 있지 않다.
하기의 특허문헌 1은 연연속 열간 압연설비에 관한 것이나, 상술한 문제에 대한 해결책을 제시하지 못하고 있다.
한국 등록특허공보 제10-2003-0028826호
본 발명은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로써, 코일의 폭에 따른 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출하고 이를 권취되는 코일의 픽셀 위치값과 비교 함으로써, 오버런 발생 여부를 판별할 수 있는 오버런 검출 장치 및 그 방법을 제공한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 오버런 검출 장치는 코일박스에서 권취되는 코일의 영상을 입력받아 이미지 신호를 생성하는 영상 입력부, 상기 이미지 신호에서 상기 코일의 에지를 검출하기 위한 에지 검출 영역을 설정하는 에지 검출 영역 설정부, 상기 에지 검출 영역에서 상기 코일의 폭에 따른 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출하는 기준 픽셀 위치값 산출부, 상기 에지 검출 영역에서 상기 코일의 에지를 검출하는 에지 검출부 및 상기 오버런 기준 픽셀 위치값과 상기 검출된 에지의 픽셀 위치값을 비교하여 상기 코일박스의 오버런(Overrun) 여부를 판별하는 오버런 판별부를 포함한다.
일 실시예에서, 상기 오버런 검출 장치는 상기 이미지 신호에 포함된 노이즈를 제거하는 노이즈 제거부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 노이즈 제거부는, 가우시안(Gaussian) 정규 분포를 이용하여 상기 이미지 신호에 포함된 노이즈를 제거할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 오버런 검출 장치는 사용자의 입력에 따라 상기 오버런 기준 픽셀 위치값을 조절하는 오프셋 조절부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 오버런 검출 방법은 코일박스에서 권취되는 코일의 영상을 입력받아 이미지 신호를 생성하는 단계, 상기 이미지 신호에서 상기 코일의 에지를 검출하기 위한 에지 검출 영역을 설정하는 단계, 상기 에지 검출 영역에서 상기 코일의 폭에 따른 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출하는 단계, 상기 에지 검출 영역에서 상기 코일의 에지를 검출하는 단계 및 상기 오버런 기준 픽셀 위치값과 상기 검출된 에지의 픽셀 위치값을 비교하여 상기 코일박스의 오버런(Overrun) 여부를 판별 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 오버런 검출 방법은 상기 이미지 신호를 생성하는 단계 이후에, 상기 이미지 신호에 포함된 노이즈를 제거하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에 의하면, 코일의 폭에 따른 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출하고 이를 권취되는 코일의 픽셀 위치값과 비교하여 오버런 발생 여부를 판별함으로써, 권취되는 코일의 폭의 변화에 상관없이 오버런 발생 여부를 지속적으로 모니터링 할 수 있으며, 오버런 발생을 조기에 검출함으로써 오버런 발생에 따른 장시간 동안 라인이 정지되는 것을 사전에 방지할 수 있어 안정적인 조업이 가능한 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 오버런 검출 장치를 설명하기 위한 구성도이다.
도 2는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 오버런 검출 장치를 설명하기 위한 구성도이다.
도 3은 도 1의 기준 픽셀 위치값 산출부의 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 오버런 검출 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 5는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 오버런 검출 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태들을 설명한다.
그러나, 본 발명의 실시형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시형태는 당해 기술분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다.
본 발명에 참조된 도면에서 실질적으로 동일한 구성과 기능을 가진 구성요소들은 동일한 부호가 사용될 것이며, 도면에서 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 오버런 검출 장치를 설명하기 위한 구성도이며, 도 2는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 오버런 검출 장치를 설명하기 위한 구성도이고, 도 3은 도 1의 기준 픽셀 위치값 산출부의 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
본 실시예에서 사용되는 '~부'라는 용어는 소프트웨어 또는 FPGA(field-programmable gate array) 또는 ASIC과 같은 하드웨어 구성요소를 의미하며, '~부'는 어떤 역할들을 수행한다.
그렇지만 '~부'는 소프트웨어 또는 하드웨어에 한정되는 의미는 아니다. '~부'는 어드레싱할 수 있는 저장 매체에 있도록 구성될 수도 있고 하나 또는 그 이상의 프로세서들을 재생시키도록 구성될 수도 있다.
따라서, 일 예로서 '~부'는 소프트웨어 구성요소들, 객체지향 소프트웨어 구성요소들, 클래스 구성요소들 및 태스크 구성요소들과 같은 구성요소들과, 프로세스들, 함수들, 속성들, 프로시저들, 서브루틴들, 프로그램 코드의 세그먼트들, 드라이버들, 펌웨어, 마이크로코드, 회로, 데이터, 데이터베이스, 데이터 구조들, 테이블들, 어레이들, 및 변수들을 포함한다.
구성요소들과 '~부'들 안에서 제공되는 기능은 더 작은 수의 구성요소들 및 '~부'들로 결합되거나 추가적인 구성요소들과 '~부'들로 더 분리될 수 있다. 뿐만 아니라, 구성요소들 및 '~부'들은 디바이스 또는 보안 멀티미디어카드 내의 하나 또는 그 이상의 CPU들을 재생시키도록 구현될 수도 있다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 오버런 검출 장치(100)는 영상 입력부(110), 에지 검출 영역 설정부(120), 기준 픽셀 위치값 산출부(130), 에지 검출부(140) 및 오버런 판별부(150)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 오버런 검출 장치(100)는, 도 2에서와 같이, 노이즈 제거부(160)를 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 오버런 검출 장치(100)는, 도 2에서와 같이, 오프셋 조절부(170)를 더 포함할 수 있다.
영상 입력부(110)는 코일박스에서 권취되는 코일(1)을 촬영하기 위한 것으로, 상기 코일박스에서 권취되는 코일(1)의 영상을 입력받아 이미지 신호를 생성할 수 있다.
에지 검출 영역 설정부(120)는 영상 입력부(110)에서 생성된 이미지 신호에서 코일(1)의 에지를 검출하기 위한 에지 검출 영역을 설정할 수 있다. 여기서, 에지 검출 영역은 코일(1)의 좌측 또는 우측 에지 중 적어도 하나를 포함하도록 설정될 수 있으며, 일 실시예에서, 에지 검출 영역은, 도 3에서와 같이, 제1 선(2)과 제2 선(3) 사이의 영역으로 설정될 수 있으며, 제1 선(2) 및 제2 선(3)의 위치(픽셀 위치값)는 사용자 입력에 의해 설정될 수 있다.
기준 픽셀 위치값 산출부(130)는 에지 검출 영역 설정부(120)에서 설정된 에지 영역에서 코일(1)의 폭에 따른 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출할 수 있다.
일 실시예에서, 기준 픽셀 위치값 산출부(130)는 기준 코일의 폭과 권취되는 코일의 폭의 차이에 폭변화에 따른 픽셀 위치값의 변화량을 승산하여 상기 기준 코일의 픽셀 위치값과 가산함으로써 권취되는 코일의 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출할 수 있다.
구체적으로, 상기 오버런 기준 픽셀 위치값은 하기의 수학식 1에 의해 산출될 수 있다.
수학식 1.
Figure 112014124692665-pat00001

여기서, P: 오버런 기준 픽셀 위치값, W: 코일의 폭, G: 코일의 폭 변화에 대한 픽셀 위치값 변화 가중치, A: 코일의 폭이 1000 mm 일 때, 에지의 픽셀 위치값을 의미할 수 있다. 여기서, G, A 값은 사전 측정 또는 사용자 입력에 의해 미리 설정된 값일 수 있다.
예들 들면, 이미지 신호에서 코일의 폭이 1000 mm 일 때의 에지의 픽셀 위치값이 460인 경우, 에지 검출 영역 설정부(120)는 도 3에서와 같이 코일(1)의 우측 에지가 포함되도록 제1 선(2)의 픽셀 위치값을 400, 제2 선(3)의 픽셀 위치값을 550으로 설정할 수 있다. 또한, 영상 입력부(110)에 의해 생성되는 이미지 신호에서 코일(1)의 폭이 10 mm 당 픽셀 위치값 변화량이 1이면, 상기 G 값은 0.1로 설정될 수 있다.
여기서, 폭이 800 mm인 코일(1)이 권취되는 경우, 상기 수학식 1에 의해 산출되는 오버런 기준 픽셀 위치값은 440이 될 수 있다. 이는 폭이 1000 mm인 코일이 권취되는 경우보다 좌측으로 20 픽셀만큼 이동한 값임을 알 수 있다. 상기와 같은 조건에서 1200 mm 인 코일이 권취되는 경우, 오버런 기준 픽셀 위치값은 480이 될 수 있다.
여기서, 기준 픽셀 위치값 산출부(130)에서 산출한 오버런 기준 픽셀 위치값은 코일이 권취되기 시작한 시간으로부터 특정 시간이 소요된 시점(예컨데, 3초)을 기준으로 산출될 수 있으며, 에지 검출부(140)는 상기 특정 시간의 코일의 에지를 검출할 수 있다.
에지 검출부(140)는 에지 검출 영역 설정부(120)에 의해 설정된 에지 검출 영역에서 코일의 에지를 검출할 수 있다.
오버런 판별부(150)는 에지 검출부(140)에서 검출한 에지의 픽셀 위치값과 기준 픽셀 위치값 산출부(130)에서 산출한 오버런 기준 픽셀 위치값을 비교하여 오버런 발생 여부를 판단할 수 있다.
구체적으로, 오버런 판별부(150)는 에지 검출부(140)에서 검출한 에지의 픽셀 위치값과 기준 픽셀 위치값 산출부(130)에서 산출한 오버런 기준 픽셀 위치값 보다 큰 경우 오버런이 발생한 것으로 판단할 수 있다.
여기서, 비교되는 픽셀의 위치값들은 픽셀의 가로 좌표값일 수 있다.
즉, 2차원 이미지 영상에서 픽셀 위치값은 가로 좌표값과 세로 좌표값을 가질 수 있으며, 기준 픽셀 위치값 산출부(130)에서 산출되는 오버런 기준 픽셀 위치값과 에지 검출부(140)에서 검출하는 코일의 에지의 픽셀 위치값은 모두 가로 좌표값일 수 있다.
오버런 판별부(150)는 오버런 기준 픽셀 위치값의 가로 좌표값과 에지의 픽셀 위치값의 가로 좌표값을 비교하여 오버런 발생 여부를 판단할 수 있다.
노이즈 제거부(160)는 영상 입력부(110)와 에지 검출 영역 설정부(120) 사이에 배치되어 영상 입력부(110)에서 생성된 이미지 신호에 포함된 노이즈를 제거할 수 있다. 일 실시예에서, 노이즈 제거부(160)는 가우시안 정규 분포를 이용하여 상기 이미지 신호에 포함된 노이즈를 제거할 수 있다.
오프셋 조절부(170)는 사용자의 입력에 따라 기준 픽셀 위치값 산출부(130)에서 산출한 오버런 기준 픽셀 위치값을 조절할 수 있다. 예를 들면, 도 3의 실시예에서, 폭이 800 mm 인 코일이 권취되는 경우, 기준 픽셀 위치값 산출부(130)에 의해 산출되는 오버런 기준 픽셀 위치값은 440일 수 있는데, 오프셋 조절부(170)를 통해 입력되는 오프셋 픽셀 위치값이 25인 경우, 오버런 기준 픽셀 위치값은 465가 될 수 있고, 오버런 판별부(150)는 465를 에지 검출부(140)에 의해 검출된 에지의 픽셀 위치값과 비교하여 오버런 여부를 판별할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 오버런 검출 방법을 설명하기 위한 순서도이며, 도 6은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 오버런 검출 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
이하에서는, 도 5 내지 도 6을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 오버런 검출 방법을 설명한다. 다만, 이하의 오버런 검출 방법은 도 1 내지 도 3을 참조하여 상술한 오버런 검출 장치(100)에서 수행되므로, 상술한 설명과 동일하거나 또는 그에 상응하는 내용에 대해서는 중복적으로 서술하지 아니한다.
도 5 및 도 6을 참조하면, 먼저, 영상 입력장치(110)가 코일박스에서 권취되는 코일의 영상을 입력받아 이미지 신호를 생성할 수 있다(S510, S610).
다음으로, 에지 검출영역 설정부(120)가 코일의 에지를 검출하기 위한 에지 검출 영역을 설정할 수 있다(S520, S630).
다음으로, 기준 픽셀 위치값 산출부(130)가 상기 에지 검출 영역에서 상기 코일의 폭에 따른 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출할 수 있다(S530, S640).
일 실시예에서, 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출하는 단계(S530, S640)는 기준 코일의 폭과 권취되는 코일의 폭의 차이에 폭변화에 따른 픽셀 위치값의 변화량을 승산하여 상기 기준 코일의 픽셀 위치값에 가산함으로써 권취되는 코일의 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출할 수 있으며, 구체적으로, 상기 오버런 기준 픽셀 위치값은 하기의 수학식 1에 의해 산출될 수 있다.
수학식 1.
Figure 112014124692665-pat00002

여기서, P: 오버런 기준 픽셀 위치값, W: 코일의 폭, G: 코일의 폭 변화에 대한 픽셀 위치값 변화 가중치, A: 코일의 폭이 1000 mm 일 때, 에지의 픽셀 위치값을 의미할 수 있다. 여기서, G, A 값은 사전 측정 또는 사용자 입력에 의해 미리 설정된 값일 수 있다.
다음으로, 에지 검출부(140)가 상기 에지 검출 영역에서 상기 코일의 에지를 검출할 수 있다(S540, S650).
여기서, 기준 픽셀 위치값 산출부(130)에서 산출한 오버런 기준 픽셀 위치값은 코일이 권취되기 시작한 시간으로부터 특정 시간이 소요된 시점(예컨데, 3초)을 기준으로 산출될 수 있으며, 에지 검출부(140)는 상기 특정 시간의 코일의 에지를 검출할 수 있다.
다음으로, 오버런 판별부(150)가 상기 오버런 기준 픽셀 위치값과 상기 검출된 에지의 픽셀 위치값을 비교하여 상기 코일박스의 오버런(Overrun) 여부를 판별할 수 있다(S550, S660).
일 실시예에서, 오버런(Overrun) 여부 판별 단계(S550, S660)는 에지 검출부(140)에서 검출한 에지의 픽셀 위치값과 기준 픽셀 위치값 산출부(130)에서 산출한 오버런 기준 픽셀 위치값 보다 큰 경우 오버런이 발생한 것으로 판단할 수 있다.
일 실시예에서, 이미지 신호를 생성하는 단계(S610)와 에지 검출 영역을 설정하는 단계(S630) 사이에 상기 이미지 신호에 포함된 노이즈를 제거하는 단계(S620)를 더 포함할 수 있다.
여기서, 노이즈를 제거하는 단계(S620)는 가우시안(Gaussian) 정규 분포를 이용하여 상기 이미지 신호에 포함된 노이즈를 제거할 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고 후술하는 특허청구범위에 의해 한정되며, 본 발명의 구성은 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 그 구성을 다양하게 변경 및 개조할 수 있다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 쉽게 알 수 있다.
100: 오버런 검출 장치
110: 영상 입력부
120: 에지 검출 영역 설정부
130: 기준 픽셀 위치값 산출부
140; 에지 검출부
150: 오버런 판별부
160: 노이즈 제거부
170: 오프셋 조절부

Claims (6)

  1. 코일박스에서 권취되는 코일의 영상을 입력받아 이미지 신호를 생성하는 영상 입력부;
    상기 이미지 신호에서 상기 코일의 에지를 검출하기 위한 에지 검출 영역을 설정하는 에지 검출 영역 설정부;
    상기 에지 검출 영역에서 상기 코일의 폭에 따른 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출하는 기준 픽셀 위치값 산출부;
    상기 에지 검출 영역에서 상기 코일의 에지를 검출하는 에지 검출부; 및
    상기 오버런 기준 픽셀 위치값과 상기 검출된 에지의 픽셀 위치값을 비교하여 상기 코일박스의 오버런(Overrun) 여부를 판별하는 오버런 판별부;
    를 포함하는 오버런 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 이미지 신호에 포함된 노이즈를 제거하는 노이즈 제거부를 더 포함하는 오버런 검출 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 노이즈 제거부는,
    가우시안(Gaussian) 정규 분포를 이용하여 상기 이미지 신호에 포함된 노이즈를 제거하는 오버런 검출 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    사용자의 입력에 따라 상기 오버런 기준 픽셀 위치값을 조절하는 오프셋 조절부를 더 포함하는 오버런 검출 장치.
  5. 코일박스에서 권취되는 코일의 영상을 입력받아 이미지 신호를 생성하는 단계;
    상기 이미지 신호에서 상기 코일의 에지를 검출하기 위한 에지 검출 영역을 설정하는 단계;
    상기 에지 검출 영역에서 상기 코일의 폭에 따른 오버런 기준 픽셀 위치값을 산출하는 단계;
    상기 에지 검출 영역에서 상기 코일의 에지를 검출하는 단계; 및
    상기 오버런 기준 픽셀 위치값과 상기 검출된 에지의 픽셀 위치값을 비교하여 상기 코일박스의 오버런(Overrun) 여부를 판별 단계;
    를 포함하는 오버런 검출 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 이미지 신호를 생성하는 단계 이후에,
    상기 이미지 신호에 포함된 노이즈를 제거하는 단계를 더 포함하는 오버런 검출 방법.


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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101797376B1 (ko) * 2016-07-18 2017-11-14 주식회사 포스코 코일박스 오버런 방지장치 및 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002181719A (ja) * 2000-12-15 2002-06-26 Nippon Steel Corp 鋼板のエッジ検出装置、鋼板のエッジ検出方法及び記憶媒体
KR20030028826A (ko) 2000-08-29 2003-04-10 가부시키가이샤 니콘 노광방법 및 장치
KR20100077316A (ko) * 2008-12-29 2010-07-08 주식회사 포스코 연연속 열간 압연 공정에서의 접합 형상 검출 및 판정 장치및 방법
JP2012026767A (ja) * 2010-07-20 2012-02-09 Sumitomo Metal Ind Ltd エッジ検出方法及び検出システム、帯材の走行状況測定方法及び測定システム、帯材の走行制御方法及び制御システム、並びに、帯材の製造方法及び製造システム
JP2012206132A (ja) * 2011-03-29 2012-10-25 Kobe Steel Ltd 圧延方法および圧延機

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030028826A (ko) 2000-08-29 2003-04-10 가부시키가이샤 니콘 노광방법 및 장치
JP2002181719A (ja) * 2000-12-15 2002-06-26 Nippon Steel Corp 鋼板のエッジ検出装置、鋼板のエッジ検出方法及び記憶媒体
KR20100077316A (ko) * 2008-12-29 2010-07-08 주식회사 포스코 연연속 열간 압연 공정에서의 접합 형상 검출 및 판정 장치및 방법
JP2012026767A (ja) * 2010-07-20 2012-02-09 Sumitomo Metal Ind Ltd エッジ検出方法及び検出システム、帯材の走行状況測定方法及び測定システム、帯材の走行制御方法及び制御システム、並びに、帯材の製造方法及び製造システム
JP2012206132A (ja) * 2011-03-29 2012-10-25 Kobe Steel Ltd 圧延方法および圧延機

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101797376B1 (ko) * 2016-07-18 2017-11-14 주식회사 포스코 코일박스 오버런 방지장치 및 방법

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